JP2004046992A - 光ピックアップ装置の出力モニタ用光学系及び光学部品 - Google Patents
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Abstract
【課題】偏光ビームスプリッタの偏光分離膜に特殊な偏光分離特性を持たせることなく、また、レーザダイオードの取り付け精度や波長板の光軸方位精度を求めることなく、簡便に調整ができ、かつレーザーダイオードからの出射光を所望レベル分離させることができる出射光モニター用光学系及び光学部品を提供する。
【解決手段】光ピックアップ装置の光源の出射光量をモニタするための光学系装置において、位相差Δが0°<Δ<180°若しくは180°<Δ<360°であって、かつ、光源から出射した直線偏光の偏波面と約45°の光軸方位で配置された位相差板と、前記光源から出射したレーザ光の進行方向に垂直な第1の偏光成分の大部分を反射し、該第1の偏光成分と直交する第2の偏光成分の大部分を透過する偏光分離手段とを備えた。
【選択図】 図1
【解決手段】光ピックアップ装置の光源の出射光量をモニタするための光学系装置において、位相差Δが0°<Δ<180°若しくは180°<Δ<360°であって、かつ、光源から出射した直線偏光の偏波面と約45°の光軸方位で配置された位相差板と、前記光源から出射したレーザ光の進行方向に垂直な第1の偏光成分の大部分を反射し、該第1の偏光成分と直交する第2の偏光成分の大部分を透過する偏光分離手段とを備えた。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は光ピックアップ装置等において、光源であるレーザダイオード等からの出射光をモニターする光学系及びそれに用いる光学部品に関する。
【従来の技術】
DVDやCDなどの光ディスク(媒体)に記録された情報を読み出したり、或いは光ディスク等に情報を記録するために光ピックアップ装置が用いられ、該光ピックアップ装置では光源から出射したレーザ光の一部をモニタし、光ディスクに適切な光強度でレーザ光照射が行われるような構造となっている。
例えば、特開2002−185073号公報に開示されているように、光源から出射したレーザ光の10%程度を分離し、該分離光を光検出器で検知して、光源の駆動制御を行うが、光源からの出射光を分離させるため、偏光ビームスプリッタ(PBS)が用いられるのが一般的である。この偏光ビームスプリッタは、例えば図5に示すようにS偏光の90%を反射、10%を透過させるよう偏光ビームスプリッタの偏光分離膜に透過・反射特性を備えている。
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、S偏光を100%反射し、P偏光を100%透過させるような一般的な偏光ビームスプリッタとは異なり、所望の比率の偏光分離機能を偏光ビームスプリッタの膜に持たせる場合、膜の設計そのものが困難であると共に、製造歩留まりが悪く、高価になるという問題点や、透過・反射特性に波長依存性が生じてしまうという問題点がある。
また、図6(a)、(b)に示すように所望の波長において偏光分離膜にP偏光の透過率を100%、S偏光の透過率0%(反射が100%)の機能を持たせた一般的な偏光ビームスプリッタを用いると共に、光源であるレーザダイオードの取り付け角を調整し、例えば、出射光軸中心に約18°回転させることにより、レーザダイオードの出射光に10%程度のP偏光を発生させ、偏光ビームスプリッタから10%程度の透過光をモニタ用PDに導く構造も考えられている。
しかし、この構造の場合、レーザダイオードの取り付け精度が±2°程度必要となり、組み立てが難しくなるという問題点がある。
更に、図6(a)に示した特性の偏光分離膜を偏光ビームスプリッタに備え、レーザダイオードを光軸周り回転させる代わりに、図7に示すようにλ/2板をレーザダイオードと偏光ビームスプリッタとの間であって、該λ/2板の光軸方位をレーザダイオードからの出射光の偏波面に対し9°回転させて配置することにより、λ/2板出射光の偏波面を18°回転させ、相対的にP偏光を10%程度発生させる方法もあるが、λ/2板の光軸方位精度が±1°必要となり、波長板の作製が困難になるという問題点があった。
本発明は上記問題点に鑑みなされたものであって、本発明の目的は、光ピックアップ装置のレーザダイオードからの出射光をモニタするため、偏光ビームスプリッタの偏光分離膜に特殊な偏光分離特性を持たせることなく、また、レーザダイオードの取り付け精度や波長板の光軸方位精度を求めることなく、簡便に調整ができ、かつレーザーダイオードからの出射光を所望レベル分離させることができる出射光モニター用光学系及び光学部品を提供することである。
【課題を解決するための手段】
この目的を達成するため、本発明に係る出射光モニタ用光学系の請求項1記載の発明は、光ピックアップ装置の光源の出射光量をモニタするための光学系装置において、位相差Δが0°<Δ<180°若しくは180°<Δ<360°であって、かつ、光源から出射した直線偏光の偏波面と約+45°又は約−45°の光軸方位で配置された位相差板と、前記光源から出射したレーザ光の進行方向に垂直な第1の偏光成分の大部分を反射し、該第1の偏光成分と直交する第2の偏光成分の大部分を透過する偏光分離手段とを備えた。
これにより、光源から出射した直線偏光を所望の位相差Δである位相差板により楕円偏光に変換し、該楕円偏光を偏光ビームスプリッタに導き、偏光ビームスプリッタに入射した光の一部を出力モニター用光検出器に導くにあたり、前記位相差板の光軸方位と光源から出射した直線偏光の偏波面とのなす角θを約45°に設定したので、位相差板の位相差公差、光軸方位精度に十分な余裕を確保することができ、光ピックアップ装置の組み立て調整を容易に行うことができる。
本発明に係る出射光モニタ用光学系の請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明に加え、前記偏光分離手段における第2の偏光成分の透過光量A、前記位相差板の位相差Δ、前記偏光分離手段の第2の偏光成分の透過率T、該位相差板の光軸と入射光の偏波面とのなす角θとの関係
A=4T sin2θ cos 2θ sin 2(Δ/2)
に基づき、前記位相差板の位相差Δを決定した。
本発明に係る出射光モニタ用光学系の請求項3記載の発明は、請求項1又は2記載の発明に加え、前記位相差板の光軸と入射光の偏波面とのなす角θを約+45°若しくは約−45°とし、光源から出射したレーザ光光量と、該偏光分離手段における第2の偏光成分の透過光量Aとの必要とする比に応じて前記位相差板の位相差Δを設定した。
本発明に係る出射光モニタ用光学系の請求項4記載の発明は、請求項1、2又は3記載の発明に加え、前記第2偏光成分の透過率Tが約99%、位相差板の光軸と入射光の偏波面とのなす角θが約+45°若しくは約−45°、光源から出射したレーザ光光量と、該偏光分離手段における第2の偏光成分の透過光量Aとの比が10%±2%としたとき、前記位相差板の位相差を37.3°±3°に設定した。
請求項2〜4記載の発明により、偏光分離手段の偏光分離特性、該偏光分離手段から出力モニタ用光検出器に導かれる光量Aに基づき位相差板の位相差Δを決定するので、位相差板の位相差公差や光軸方位精度を考慮しても、所望の光量Aを得ることができる出力モニタ用光学系を提供することができる。
本発明に係る出射光モニタ用光学系の請求項5記載の発明は、請求項1〜4記載の出力モニタ用光学系に用いる前記位相差板と前記偏光分離手段とを貼り合わせ、一体化したことを特徴とする。
これにより、光ピックアップ装置を組み立てる際の部品点数を低減し、組み立てを容易にすることができる。
【発明の実施の形態】
以下、図面に示した実施例に基づき、本発明を詳細に説明する。図1は本発明に係る出射光モニタ用光学系を適用した光ピックアップ装置の構成を示す図であり、1は直線偏光(例えば、S偏光)を出射するレーザダイオード、2は出力モニタ用光学系を構成する位相差板、3は所望の波長においてP偏光の透過率がほぼ100%、S偏光の透過率がほぼ0%の機能を有する偏光分離膜3aを備えたごく一般的な偏光ビームスプリッタ(偏光分離手段)、4は出力モニタ用光検出器、5は光ディスク、6は集光レンズ、7は光ディスク5からの反射光を検知する光検出器、8はλ/4板である。
なお、請求項において、第1の偏光部分とはS偏光を意味し、第2の偏光部分とはP偏光を意味するが、但し、レーザダイオード1から出射した直線偏光はP偏光でもよく、その場合には第1の偏光部分はP偏光を意味し、第2の偏光部分はS偏光を意味する。また、レーザダイオード1から出射した直線偏光がP偏光の場合、偏光ビームスプリッタ3における反射光を出力モニタ用光検出器に導き、透過光を光ディスクに導く必要がある。
このように構成した光ピックアップ装置の光学系において、レーザダイオード1から出射した光は位相差板2に入射し、直線偏光が楕円偏光に変換され偏光ビームスプリッタ3に入射し、該偏光ビームスプリッタ3では入射した楕円偏光のうち、S偏光成分が偏光分離膜3aにて反射し、λ/4板8、集光レンズ6を介して光ディスク5に集光する。一方、偏光ビームスプリッタ3に入射した楕円偏光のうち、P偏光成分は偏光分離膜3aを透過して、出射光モニタ用光検出器4で受光される。一方、光ディスク5の情報が記録されたトラックからの反射光は集光レンズ6、λ/4板8、偏光ビームスプリッタ3を透過し、光検出器7に入射する。
偏光ビームスプリッタ3を透過する透過光光量Aは、偏光ビームスプリッタ3(偏光分離膜)のP偏光の透過率T、位相差板2の位相差Δ、位相差板の光軸と入射光の偏波面とのなす角θとの関係にて決定し、次式にて表すことができる。
A=4T sin2θ cos 2θ sin 2(Δ/2)
また、透過光光量Aを微分した第一次導関数は、
dA/dθ=2 sinθcosθ(cos 2(θ)−sin 2(θ))
となり、透過光光量Aの位相差板の光軸と入射光の偏波面とのなす角θに対する変化量が最も少なくなる変極点はdA/dθ=0であるから、
θ=n×π/4(nは整数)
となる。
この条件の下では、nが偶数の場合には透過光光量Aがゼロとなり、出力モニタ用光学系として機能しないが、nが奇数の場合には透過光光量Aがθに対し変化が最も少なくなり、そのときの出力モニタ光量は
A=T sin2(Δ/2)
となり、Δを変化させることにより透過光光量Aを調整することができる。
なお、レーザダイオード1から出射した直線偏光の偏波面と位相差板2の光軸とのなす角θと、位相差板2における位相差Δとの変化による偏光ビームスプリッタ3における透過光量を検討すると、図2に示すような関係となる。
同図から明らかなように、位相差板2の位相差Δを180°(λ/2板)とし、θを45°とすると、位相差板2に入射した光は全て入射直線偏光とその偏波面が90°ずれ(S偏光→P偏光)、レーザダイオード1を出射した光の殆どが透過するが、位相差板2の位相差Δを45°とし、θを45°とすると、レーザダイオード1を出射した光は直線偏光から楕円偏光となり、偏光ビームスプリッタ3において、約15%が透過し、残りの85%の光量が反射することが分かる。
すなわち、光源から出射したレーザ光光量に対して所望の透過光量となるよう位相差板2の位相差Δを調整すると共に、入射直線偏光と位相差板2との光軸とのなす角θを45°に設定することにより、位相差板2の光軸方位が多少ずれても、透過光量Aの変化量が小さく、所望の透過光量をえることが可能となる。なお、この場合、位相差Δは0°を越え、180°未満か、若しくは180°を越え、360°未満であれば入射直線偏光は楕円偏光に変換されるので、所望のP偏光透過率である偏光分離膜を有する偏光ビームスプリッタ3で透過する光を得ることができる。
例えば、偏光ビームスプリッタ3の偏光分離膜のP偏光透過率Tを99%とし、一般的な光ピックアップに用いられるレーザダイオード出射光の10%±2%を出力モニタ用の光検出器に導く場合、位相差板2の位相差Δ及び入射直線偏光と位相差板2との光軸とのなす角θを以下の通り設定すれば良い。
Δ=37.3°±3°、θ=45°±5°
図3は位相差Δを37.3°、34.3°、40.3°において、θをそれぞれ25°〜65°まで変化させた場合の透過光量Aとレーザダイオード出射光との比率を表した図であり、同図に示すように、位相差Δがいずれの場合であっても、θが45°±5°以内であれば、レーザダイオード出射光の10%±2%を出力モニタ用の光検出器に導くことが可能であることが分かる。
このように、レーザダイオード出射光の10%±2%を出力モニタ用の光検出器に導くのであれば、位相差板2の位相差公差は±3°、光軸方位精度は±5°を確保することができる。したがって、位相差板2の光軸方位精度は通常±2°で製作することができるので、位相差板2の組み立て精度として±3°を確保することができ、組み立て調整を容易に行なえる。すなわち、入射直線偏光と位相差板2との光軸とのなす角θを45°近傍に設定しているので、図2に示したように位相板光軸方位角θが多少ずれても透過光量の変化が少なく(θ依存性が小さい)、組み立て精度に余裕を持たせることが可能となる。
なお、上記実施例においては、位相差板2と偏光ビームスプリッタ3とを独立した光学部品として記載したが、図4(a)、(b)に示すように位相差板2と偏光ビームスプリッタ3とを貼り合わせ、一体化しても良い。この場合、光ピックアップ装置を組み立てる際の部品点数を低減し、組み立てを容易にすることができる。
また、上記実施例においては、レーザダイオード1から直線偏光が出射することを想定して説明を行ったが、レーザダイオード1からの出射光の偏光成分にゆらぎが生じる場合や、複数の偏光成分を出射する光源を用いる場合には、これら光源からの出射光を偏光板に入射せしめ、所望の偏光成分のみを位相差板2に導く構成としても良い。
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係る請求項1記載の発明では、光源から出射した直線偏光を所望の位相差Δである位相差板により楕円偏光に変換し、該楕円偏光を偏光ビームスプリッタに導き、偏光ビームスプリッタに入射した光の一部を出力モニター用光検出器に導くにあたり、前記位相差板の光軸方位と光源から出射した直線偏光の偏波面とのなす角θを約45°に設定したので、位相差板の位相差公差、光軸方位精度に十分な余裕を確保することができ、光ピックアップ装置の組み立て調整を容易に行うことができる。
本発明に係る請求項2〜4記載の発明では、請求項1記載の発明による効果に加え、偏光分離手段の偏光分離特性、該偏光分離手段から出力モニタ用光検出器に導かれる光量Aに基づき位相差板の位相差Δを決定するので、位相差板の位相差公差や光軸方位精度を考慮しても、所望の光量Aを得ることができる出力モニタ用光学系を提供することができる。
本発明に係る請求項5記載の発明では、位相差板と偏光ビームスプリッタとを貼り合わせ、一体化したので、光ピックアップ装置を組み立てる際の部品点数を低減し、組み立てを容易にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る出射光モニタ用光学系を適用した光ピックアップ装置の構成を示す図。
【図2】直線偏光の偏波面と位相差板の光軸とのなす角θと、位相差板における位相差Δとの変化による偏光ビームスプリッタにおける透過光量の変化を示す図。
【図3】透過光量Aとレーザダイオード出射光との比率を示した図。
【図4】位相差板と偏光ビームスプリッタとを貼り合わせ、一体化した光学部品を示す図。
【図5】偏光ビームスプリッタの偏光分離膜特性を示す図。
【図6】(a)は偏光ビームスプリッタの偏光分離膜特性を示す図、(b)は従来の出力モニタ用光学系の構成を示す図。
【図7】従来の出力モニタ用光学系の構成を示す図。
【符号の説明】
1 光源
2 位相差板
3 偏光ビームスプリッタ(偏光分離手段)
4 出力モニタ用光検出器
5 光ディスク
6 集光レンズ
7 光検出器
8 λ/4板
本発明は光ピックアップ装置等において、光源であるレーザダイオード等からの出射光をモニターする光学系及びそれに用いる光学部品に関する。
【従来の技術】
DVDやCDなどの光ディスク(媒体)に記録された情報を読み出したり、或いは光ディスク等に情報を記録するために光ピックアップ装置が用いられ、該光ピックアップ装置では光源から出射したレーザ光の一部をモニタし、光ディスクに適切な光強度でレーザ光照射が行われるような構造となっている。
例えば、特開2002−185073号公報に開示されているように、光源から出射したレーザ光の10%程度を分離し、該分離光を光検出器で検知して、光源の駆動制御を行うが、光源からの出射光を分離させるため、偏光ビームスプリッタ(PBS)が用いられるのが一般的である。この偏光ビームスプリッタは、例えば図5に示すようにS偏光の90%を反射、10%を透過させるよう偏光ビームスプリッタの偏光分離膜に透過・反射特性を備えている。
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、S偏光を100%反射し、P偏光を100%透過させるような一般的な偏光ビームスプリッタとは異なり、所望の比率の偏光分離機能を偏光ビームスプリッタの膜に持たせる場合、膜の設計そのものが困難であると共に、製造歩留まりが悪く、高価になるという問題点や、透過・反射特性に波長依存性が生じてしまうという問題点がある。
また、図6(a)、(b)に示すように所望の波長において偏光分離膜にP偏光の透過率を100%、S偏光の透過率0%(反射が100%)の機能を持たせた一般的な偏光ビームスプリッタを用いると共に、光源であるレーザダイオードの取り付け角を調整し、例えば、出射光軸中心に約18°回転させることにより、レーザダイオードの出射光に10%程度のP偏光を発生させ、偏光ビームスプリッタから10%程度の透過光をモニタ用PDに導く構造も考えられている。
しかし、この構造の場合、レーザダイオードの取り付け精度が±2°程度必要となり、組み立てが難しくなるという問題点がある。
更に、図6(a)に示した特性の偏光分離膜を偏光ビームスプリッタに備え、レーザダイオードを光軸周り回転させる代わりに、図7に示すようにλ/2板をレーザダイオードと偏光ビームスプリッタとの間であって、該λ/2板の光軸方位をレーザダイオードからの出射光の偏波面に対し9°回転させて配置することにより、λ/2板出射光の偏波面を18°回転させ、相対的にP偏光を10%程度発生させる方法もあるが、λ/2板の光軸方位精度が±1°必要となり、波長板の作製が困難になるという問題点があった。
本発明は上記問題点に鑑みなされたものであって、本発明の目的は、光ピックアップ装置のレーザダイオードからの出射光をモニタするため、偏光ビームスプリッタの偏光分離膜に特殊な偏光分離特性を持たせることなく、また、レーザダイオードの取り付け精度や波長板の光軸方位精度を求めることなく、簡便に調整ができ、かつレーザーダイオードからの出射光を所望レベル分離させることができる出射光モニター用光学系及び光学部品を提供することである。
【課題を解決するための手段】
この目的を達成するため、本発明に係る出射光モニタ用光学系の請求項1記載の発明は、光ピックアップ装置の光源の出射光量をモニタするための光学系装置において、位相差Δが0°<Δ<180°若しくは180°<Δ<360°であって、かつ、光源から出射した直線偏光の偏波面と約+45°又は約−45°の光軸方位で配置された位相差板と、前記光源から出射したレーザ光の進行方向に垂直な第1の偏光成分の大部分を反射し、該第1の偏光成分と直交する第2の偏光成分の大部分を透過する偏光分離手段とを備えた。
これにより、光源から出射した直線偏光を所望の位相差Δである位相差板により楕円偏光に変換し、該楕円偏光を偏光ビームスプリッタに導き、偏光ビームスプリッタに入射した光の一部を出力モニター用光検出器に導くにあたり、前記位相差板の光軸方位と光源から出射した直線偏光の偏波面とのなす角θを約45°に設定したので、位相差板の位相差公差、光軸方位精度に十分な余裕を確保することができ、光ピックアップ装置の組み立て調整を容易に行うことができる。
本発明に係る出射光モニタ用光学系の請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明に加え、前記偏光分離手段における第2の偏光成分の透過光量A、前記位相差板の位相差Δ、前記偏光分離手段の第2の偏光成分の透過率T、該位相差板の光軸と入射光の偏波面とのなす角θとの関係
A=4T sin2θ cos 2θ sin 2(Δ/2)
に基づき、前記位相差板の位相差Δを決定した。
本発明に係る出射光モニタ用光学系の請求項3記載の発明は、請求項1又は2記載の発明に加え、前記位相差板の光軸と入射光の偏波面とのなす角θを約+45°若しくは約−45°とし、光源から出射したレーザ光光量と、該偏光分離手段における第2の偏光成分の透過光量Aとの必要とする比に応じて前記位相差板の位相差Δを設定した。
本発明に係る出射光モニタ用光学系の請求項4記載の発明は、請求項1、2又は3記載の発明に加え、前記第2偏光成分の透過率Tが約99%、位相差板の光軸と入射光の偏波面とのなす角θが約+45°若しくは約−45°、光源から出射したレーザ光光量と、該偏光分離手段における第2の偏光成分の透過光量Aとの比が10%±2%としたとき、前記位相差板の位相差を37.3°±3°に設定した。
請求項2〜4記載の発明により、偏光分離手段の偏光分離特性、該偏光分離手段から出力モニタ用光検出器に導かれる光量Aに基づき位相差板の位相差Δを決定するので、位相差板の位相差公差や光軸方位精度を考慮しても、所望の光量Aを得ることができる出力モニタ用光学系を提供することができる。
本発明に係る出射光モニタ用光学系の請求項5記載の発明は、請求項1〜4記載の出力モニタ用光学系に用いる前記位相差板と前記偏光分離手段とを貼り合わせ、一体化したことを特徴とする。
これにより、光ピックアップ装置を組み立てる際の部品点数を低減し、組み立てを容易にすることができる。
【発明の実施の形態】
以下、図面に示した実施例に基づき、本発明を詳細に説明する。図1は本発明に係る出射光モニタ用光学系を適用した光ピックアップ装置の構成を示す図であり、1は直線偏光(例えば、S偏光)を出射するレーザダイオード、2は出力モニタ用光学系を構成する位相差板、3は所望の波長においてP偏光の透過率がほぼ100%、S偏光の透過率がほぼ0%の機能を有する偏光分離膜3aを備えたごく一般的な偏光ビームスプリッタ(偏光分離手段)、4は出力モニタ用光検出器、5は光ディスク、6は集光レンズ、7は光ディスク5からの反射光を検知する光検出器、8はλ/4板である。
なお、請求項において、第1の偏光部分とはS偏光を意味し、第2の偏光部分とはP偏光を意味するが、但し、レーザダイオード1から出射した直線偏光はP偏光でもよく、その場合には第1の偏光部分はP偏光を意味し、第2の偏光部分はS偏光を意味する。また、レーザダイオード1から出射した直線偏光がP偏光の場合、偏光ビームスプリッタ3における反射光を出力モニタ用光検出器に導き、透過光を光ディスクに導く必要がある。
このように構成した光ピックアップ装置の光学系において、レーザダイオード1から出射した光は位相差板2に入射し、直線偏光が楕円偏光に変換され偏光ビームスプリッタ3に入射し、該偏光ビームスプリッタ3では入射した楕円偏光のうち、S偏光成分が偏光分離膜3aにて反射し、λ/4板8、集光レンズ6を介して光ディスク5に集光する。一方、偏光ビームスプリッタ3に入射した楕円偏光のうち、P偏光成分は偏光分離膜3aを透過して、出射光モニタ用光検出器4で受光される。一方、光ディスク5の情報が記録されたトラックからの反射光は集光レンズ6、λ/4板8、偏光ビームスプリッタ3を透過し、光検出器7に入射する。
偏光ビームスプリッタ3を透過する透過光光量Aは、偏光ビームスプリッタ3(偏光分離膜)のP偏光の透過率T、位相差板2の位相差Δ、位相差板の光軸と入射光の偏波面とのなす角θとの関係にて決定し、次式にて表すことができる。
A=4T sin2θ cos 2θ sin 2(Δ/2)
また、透過光光量Aを微分した第一次導関数は、
dA/dθ=2 sinθcosθ(cos 2(θ)−sin 2(θ))
となり、透過光光量Aの位相差板の光軸と入射光の偏波面とのなす角θに対する変化量が最も少なくなる変極点はdA/dθ=0であるから、
θ=n×π/4(nは整数)
となる。
この条件の下では、nが偶数の場合には透過光光量Aがゼロとなり、出力モニタ用光学系として機能しないが、nが奇数の場合には透過光光量Aがθに対し変化が最も少なくなり、そのときの出力モニタ光量は
A=T sin2(Δ/2)
となり、Δを変化させることにより透過光光量Aを調整することができる。
なお、レーザダイオード1から出射した直線偏光の偏波面と位相差板2の光軸とのなす角θと、位相差板2における位相差Δとの変化による偏光ビームスプリッタ3における透過光量を検討すると、図2に示すような関係となる。
同図から明らかなように、位相差板2の位相差Δを180°(λ/2板)とし、θを45°とすると、位相差板2に入射した光は全て入射直線偏光とその偏波面が90°ずれ(S偏光→P偏光)、レーザダイオード1を出射した光の殆どが透過するが、位相差板2の位相差Δを45°とし、θを45°とすると、レーザダイオード1を出射した光は直線偏光から楕円偏光となり、偏光ビームスプリッタ3において、約15%が透過し、残りの85%の光量が反射することが分かる。
すなわち、光源から出射したレーザ光光量に対して所望の透過光量となるよう位相差板2の位相差Δを調整すると共に、入射直線偏光と位相差板2との光軸とのなす角θを45°に設定することにより、位相差板2の光軸方位が多少ずれても、透過光量Aの変化量が小さく、所望の透過光量をえることが可能となる。なお、この場合、位相差Δは0°を越え、180°未満か、若しくは180°を越え、360°未満であれば入射直線偏光は楕円偏光に変換されるので、所望のP偏光透過率である偏光分離膜を有する偏光ビームスプリッタ3で透過する光を得ることができる。
例えば、偏光ビームスプリッタ3の偏光分離膜のP偏光透過率Tを99%とし、一般的な光ピックアップに用いられるレーザダイオード出射光の10%±2%を出力モニタ用の光検出器に導く場合、位相差板2の位相差Δ及び入射直線偏光と位相差板2との光軸とのなす角θを以下の通り設定すれば良い。
Δ=37.3°±3°、θ=45°±5°
図3は位相差Δを37.3°、34.3°、40.3°において、θをそれぞれ25°〜65°まで変化させた場合の透過光量Aとレーザダイオード出射光との比率を表した図であり、同図に示すように、位相差Δがいずれの場合であっても、θが45°±5°以内であれば、レーザダイオード出射光の10%±2%を出力モニタ用の光検出器に導くことが可能であることが分かる。
このように、レーザダイオード出射光の10%±2%を出力モニタ用の光検出器に導くのであれば、位相差板2の位相差公差は±3°、光軸方位精度は±5°を確保することができる。したがって、位相差板2の光軸方位精度は通常±2°で製作することができるので、位相差板2の組み立て精度として±3°を確保することができ、組み立て調整を容易に行なえる。すなわち、入射直線偏光と位相差板2との光軸とのなす角θを45°近傍に設定しているので、図2に示したように位相板光軸方位角θが多少ずれても透過光量の変化が少なく(θ依存性が小さい)、組み立て精度に余裕を持たせることが可能となる。
なお、上記実施例においては、位相差板2と偏光ビームスプリッタ3とを独立した光学部品として記載したが、図4(a)、(b)に示すように位相差板2と偏光ビームスプリッタ3とを貼り合わせ、一体化しても良い。この場合、光ピックアップ装置を組み立てる際の部品点数を低減し、組み立てを容易にすることができる。
また、上記実施例においては、レーザダイオード1から直線偏光が出射することを想定して説明を行ったが、レーザダイオード1からの出射光の偏光成分にゆらぎが生じる場合や、複数の偏光成分を出射する光源を用いる場合には、これら光源からの出射光を偏光板に入射せしめ、所望の偏光成分のみを位相差板2に導く構成としても良い。
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係る請求項1記載の発明では、光源から出射した直線偏光を所望の位相差Δである位相差板により楕円偏光に変換し、該楕円偏光を偏光ビームスプリッタに導き、偏光ビームスプリッタに入射した光の一部を出力モニター用光検出器に導くにあたり、前記位相差板の光軸方位と光源から出射した直線偏光の偏波面とのなす角θを約45°に設定したので、位相差板の位相差公差、光軸方位精度に十分な余裕を確保することができ、光ピックアップ装置の組み立て調整を容易に行うことができる。
本発明に係る請求項2〜4記載の発明では、請求項1記載の発明による効果に加え、偏光分離手段の偏光分離特性、該偏光分離手段から出力モニタ用光検出器に導かれる光量Aに基づき位相差板の位相差Δを決定するので、位相差板の位相差公差や光軸方位精度を考慮しても、所望の光量Aを得ることができる出力モニタ用光学系を提供することができる。
本発明に係る請求項5記載の発明では、位相差板と偏光ビームスプリッタとを貼り合わせ、一体化したので、光ピックアップ装置を組み立てる際の部品点数を低減し、組み立てを容易にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る出射光モニタ用光学系を適用した光ピックアップ装置の構成を示す図。
【図2】直線偏光の偏波面と位相差板の光軸とのなす角θと、位相差板における位相差Δとの変化による偏光ビームスプリッタにおける透過光量の変化を示す図。
【図3】透過光量Aとレーザダイオード出射光との比率を示した図。
【図4】位相差板と偏光ビームスプリッタとを貼り合わせ、一体化した光学部品を示す図。
【図5】偏光ビームスプリッタの偏光分離膜特性を示す図。
【図6】(a)は偏光ビームスプリッタの偏光分離膜特性を示す図、(b)は従来の出力モニタ用光学系の構成を示す図。
【図7】従来の出力モニタ用光学系の構成を示す図。
【符号の説明】
1 光源
2 位相差板
3 偏光ビームスプリッタ(偏光分離手段)
4 出力モニタ用光検出器
5 光ディスク
6 集光レンズ
7 光検出器
8 λ/4板
Claims (5)
- 光ピックアップ装置の光源の出射光量をモニタするための光学系装置において、
位相差Δが0°<Δ<180°若しくは180°<Δ<360°であって、かつ、光源から出射した直線偏光の偏波面と約+45°又は約−45°の光軸方位で配置された位相差板と、
前記光源から出射したレーザ光の進行方向に垂直な第1の偏光成分の大部分を反射し、該第1の偏光成分と直交する第2の偏光成分の大部分を透過する偏光分離手段とを備えたことを特徴とする出力モニタ用光学系。 - 前記偏光分離手段における第2の偏光成分の透過光量A、前記位相差板の位相差Δ、前記偏光分離手段の第2の偏光成分の透過率T、該位相差板の光軸と入射光の偏波面とのなす角θとの関係
A=4T sin2θ cos 2θ sin 2(Δ/2)
に基づき、前記位相差板の位相差Δを決定したことを特徴とする請求項1記載の出力モニタ用光学系。 - 前記位相差板の光軸と入射光の偏波面とのなす角θを約+45°若しくは約−45°とし、光源から出射したレーザ光光量と、該偏光分離手段における第2の偏光成分の透過光量Aとの必要とする比に応じて前記位相差板の位相差Δを設定したことを特徴とする請求項1又は2記載の出力モニタ用光学系。
- 前記第2偏光成分の透過率Tが約99%、位相差板の光軸と入射光の偏波面とのなす角θが約+45°若しくは約−45°、光源から出射したレーザ光光量と、該偏光分離手段における第2の偏光成分の透過光量Aとの比が10%±2%としたとき、前記位相差板の位相差を37.3°±3°に設定したことを特徴とする請求項1、2或いは3記載の出力モニタ用光学系。
- 前記位相差板と前記偏光分離手段とを貼り合わせ、一体化したことを特徴とする請求項1〜4記載の出力モニタ用光学系に用いる光学部品。
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JP2002204699A JP2004046992A (ja) | 2002-07-12 | 2002-07-12 | 光ピックアップ装置の出力モニタ用光学系及び光学部品 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2010170601A (ja) * | 2009-01-21 | 2010-08-05 | Konica Minolta Opto Inc | 偏光ビームスプリッタ、光ピックアップおよび位相板 |
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CN113448105A (zh) * | 2021-04-29 | 2021-09-28 | 西安交通大学 | 一种线性约束的激光横向高阶模式分束单元及系统 |
-
2002
- 2002-07-12 JP JP2002204699A patent/JP2004046992A/ja active Pending
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