JP2004046481A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

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    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02DCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
    • Y02D10/00Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management

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  • Memory System Of A Hierarchy Structure (AREA)

Abstract

【課題】低コストで高速、低消費電力なメモリシステムを提供すること。
【解決手段】メモリ装置120とメモリコントローラ110を含むメモリシステム101である。前記メモリコントローラ110は、キャッシュのタグ部として機能するキャッシュタグメモリ114と、キャッシュタグメモリに保持されているタグアドレス及びアクセスアドレスに基づきキャッシュヒットか否か判断し、判断結果信号148を出力する回路112とを含み、前記メモリ装置120は、キャッシュのデータ部として機能するキャッシュデータメモリ126と、前記判断結果信号148を受け、前記判断結果信号148がキャッシュヒットを示している場合には、メモリ装置120のキャッシュデータメモリ126に対しデータをアクセスする回路とを含む。
【選択図】    図2

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明はメモリ装置とメモリコントローラを含むメモリシステムに関する。
【0002】
【背景技術及び発明が解決しようとする課題】
現状のダイナミックラムやフラッシュメモリはコマンドを受けつけた後に遅いメモリセルからデータを読み出すために遅く、大容量のメモリセルアクセスするために消費電力も大きい。特にダイナミックRAMにおいては、メモリをアクセスするたびにセンスアンプが起動されていたので、消費電力が大きくなる。
【0003】
またスタティックRAMは、ダイナミックRAMに比べ高速動作が可能であるが製造コストが高くなり、基板面積も大きくなってしまうという問題点があった。
【0004】
本発明は以上のような技術的課題に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、低コストで高速、低消費電力なメモリシステムを提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】
(1)本発明は、メモリ装置とメモリコントローラを含むメモリシステムであって、
前記メモリコントローラは、
キャッシュのタグ部として機能するキャッシュタグメモリと、
キャッシュタグメモリに保持されているタグアドレス及びアクセスアドレスに基づきキャッシュヒットか否か判断し、判断結果信号を出力する回路とを含み、
前記メモリ装置は、
キャッシュのデータ部として機能するキャッシュデータメモリと、
前記判断結果信号を受け、前記判断結果信号がキャッシュヒットを示している場合には、メモリ装置のキャッシュデータメモリに対しデータをアクセスする回路とを含むことを特徴とする。
【0006】
前記メモリ装置は、前記判断結果信号がキャッシュミスであることを示している場合にはメモリ装置のメモリセルアレイに対しデータをアクセスするようにしてもよい。
【0007】
またアクセス要求がライトアクセス要求である場合に、前記判断結果信号がキャッシュヒットを示している場合には、メモリ装置のキャッシュデータメモリに対しアクセスデータを書き込むと同時に、メモリ装置のメモリセルアレイにアクセスデータを書き込む回路とを含むようにしてもよい。
【0008】
また前記判断結果信号がキャッシュミスであることを示している場合にはメモリ装置のメモリセルアレイに対しデータをアクセスするとともに、アクセスデータをメモリ装置のキャッシュデータメモリに対し格納する回路をメモリ装置が含むようにし、格納結果を反映してメモリコントローラのキャッシュタグメモリを更新する回路をメモリコントローラが含むようにしてもよい。
【0009】
ここで例えばキャッシュタグメモリとキャッシュデータメモリの両方をキャッシュ装置に持たせるとメモリコントローラからメモリ装置に対し常にロウアドレスとカラムアドレスの2つのアドレスを渡すため2クロック必要となり動作が遅くなる。
【0010】
ところが本発明によればキャッシュヒット時にはメモリコントローラからメモリ装置に対しカラムアドレスのみ出力することでメモリ装置のキャッシュデータメモリからデータを読み出すことが出来る。従ってより高速なメモリアクセスを実現することが出来る。
【0011】
またメモリコントローラにキャッシュタグメモリとキャッシュデータメモリの両方を実装すると、メモリコントローラの実装面積がおおきくなり高価になる。
【0012】
ところが本発明によればキャッシュデータメモリをコストの低いメモリ装置のほうに持たせることによりメモリコントローラの実装面積の増加と製造コストの増加を防止することが出来る。
【0013】
また本発明によればリード要求でキャッシュヒットの場合にはメモリセルアレイを読む必要がないので、高速なアクセス処理を行うことが出来る。またメモリセルアレイに比べキャッシュデータメモリが小さいので、読み出し時の消費電力が少なくて済む。
【0014】
特にメモリセルアレイがDRAMで構成されている場合には、リード要求でキャッシュヒットの場合にセンスアンプメモリセルアレイを読む必要がないため、消費電力を低く押さえることが出来る。
【0015】
このように本発明によれば低コストで高速、低消費電力なメモリシステム、半導体集積回路装置を提供することが出来る。
【0016】
(2)本発明のメモリシステムは、
前記メモリ装置が、
アクセス要求がライトアクセス要求である場合に、前記判断結果信号がキャッシュヒットを示している場合には、メモリ装置のキャッシュデータメモリに対しアクセスデータを書き込むと同時に、メモリ装置のメモリセルアレイにアクセスデータを書き込む回路と、
前記判断結果信号がキャッシュミスであることを示している場合にはメモリ装置のメモリセルアレイに対しデータをアクセスするとともに、アクセスデータをメモリ装置のキャッシュデータメモリに対し格納する回路とをさらに含み、
前記メモリコントローラが、
キャッシュデータメモリの更新状況を反映してキャッシュタグメモリを更新する回路を含むことを特徴とする。
【0017】
(3)本発明のメモリシステムは、
メモリコントローラの前記キャッシュタグメモリ及びメモリ装置のキャッシュデータメモリをスタティックRAMで構成し、メモリ装置のメモリセルアレイをダイナミックRAMで構成することを特徴とする。
【0018】
本発明によればDRAMで構成されたメモリセルアレイの読み出しを回数を減らすことがえきるため、センスアンプの作動回数が減り消費電力を低く抑えることができ、またヒット時にはSRAMから読み出せるので高速動作が可能になる。
【0019】
(4)本発明のメモリシステムは、
前記メモリ装置のメモリセルアレイはダイナミックRAMで構成され、
前記判断結果信号に基づいて、前記メモリセルアレイのリフレッシュのタイミングを制御する回路を含むことを特徴とする。
【0020】
例えばメモリセルアレイがリフレッシュのタイミングをとるためのリフレッシュカウンターを制御するようにしてもよい。
【0021】
本発明によれば、メモリ装置のメモリセルアレイにアクセスしていないタイミングでリフレッシュをおこなうことが出来るので、メモリアクセスの高速化を図ることが出来る。
【0022】
(5)本発明のメモリシステムは、
前記メモリ装置のメモリセルアレイをダイナミックRAM、ROM、フラッシュROMのいずれかを用いて構成することを特徴とする。
【0023】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好適な実施形態について図面を用いて詳細に説明する。
【0024】
図1は、従来のメモリシステムのメモリコントローラとメモリ装置の構成を示すブロック図である。
【0025】
従来のメモリシステム1は、メモリコントローラ10とメモリ装置20を含む。メモリコントローラ10は、メモリ装置へのアクセス要求を受け、メモリ装置に対するアクセスをコントロールする。
【0026】
メモリコントローラ10は、図示しないCPUやDMAコントローラからのメモリアクセスによりアクセスアドレスSysAddr30、アクセスデータSysData32、リードライト種別SysRD/WR34を受け、メモリアクセスアドレスMemAddr40、メモリアクセスデータMemDeta42、ロウアドレスセット信号RAS44、カラムアドレストセット信号CAS46をメモリ装置20に向け出力する。 ロウアドレスセット信号RAS44は、メモリアクセスアドレスMemAddr40の信号にロウアドレスがセットされていることを示す信号である。カラムドレスセット信号RAS46は、メモリアクセスアドレスMemAddr40の信号にカラムアドレスがセットされていることを示す信号である。
【0027】
メモリ装置20は、物理的に情報が記憶されているメモリブロック(メモリセルアレイ)24と、メモリコントローラから通知されたアドレスMemaddr40に基づきメモリブロック(メモリセルアレイ)24の物理的な行と列を特定し読み書きするためデコーダ・I/O回路22とを含む。
【0028】
ここでメモリブロック(メモリセルアレイ)24はダイナミックRAMで構成されている。またデコーダ・I/O回路22は、メモリブロック(メモリセルアレイ)24のリフレッシュのタイミングを制御するためのリフレッシュ信号Tref50を出力し、これに基づきメモリブロック(メモリセルアレイ)24のリフレッシュ制御が行われる。
【0029】
またデコーダ・I/O回路22は、メモリブロック(メモリセルアレイ)24に対し、ロウアドレスRowA52,カラムアドレスColA54を出力し、リード要求の場合にはアクセスデータdData156を受け取る。またライト要求の場合にはアクセスデータdData156をメモリブロック(メモリセルアレイ)に対し出力してデータの書き込みを行う。
【0030】
図2は、本実施の形態のメモリシステムのメモリコントローラとメモリ装置の構成を示すブロック図である。
【0031】
本実施の形態のメモリシステム101は、メモリコントローラ110とメモリ装置120を含む。メモリコントローラ110は、メモリ装置120へのアクセス要求を受け、メモリ装置120に対するアクセスをコントロールする。
【0032】
メモリコントローラ110は、図示しないCPUやDMAコントローラからのメモリアクセスによりアクセスアドレスSysAddr30、アクセスデータSysData132、リードライト種別SysRD/WR134を受けとる。
【0033】
また本実施の形態のメモリコントローラ110は、コントロール回路112とキャッシュタグメモリ114とを含む。キャッシュタグメモリ114は、コントロール回路と共にキャッシュのタグ部として機能する。
【0034】
コントロール回路112はアクセスアドレスSysAddr130、リードライト種別SysRD/WR134に基づき、キャッシュタグメモリ114にタグドレス(下位アドレス)Tagaddr162,リードライト種別TagRdWr164を出力する。
【0035】
コントロール回路112は、リードライト種別TagRdWr164を「リード」にしてタグドレス(下位アドレス)Tagaddr162を出力することで、タグアドレスに対応する欄(タグ部)に格納されているタグデータ(上位アドレス)TagDeta162を受け取ることが出来る。そして、タグデータ(上位アドレス)TagDeta162をアクセスアドレスSysAddr130と比較し、キャッシュヒットか否か判断する。タグデータを上位アドレスとし、タグドレスを下位アドレスとするアドレスがアクセスアドレスSysAddr130に一致していたらキャッシュヒットとなる。
【0036】
そしてコントロール回路112は、ヒットミス信号Hit/Miss148、メモリアクセスアドレスMemAddr140、メモリアクセスデータMemDeta142、ロウアドレスセット信号RAS144、カラムアドレスセット信号CAS146をメモリ装置120に向け出力する。
【0037】
ヒットミス信号Hit/Miss148が、ヒットを示している場合にはアクセスしたいデータがキャッシュ装置のキャッシュデータメモリ126にあることを示し、ヒットミス信号Hit/Miss148がミスを示している場合にはアクセスしたいデータがキャッシュ装置のキャッシュデータメモリ126にないことを示している。
【0038】
ロウアドレスセット信号RAS144は、メモリアクセスアドレスMemAddr140の信号にロウアドレスがセットされていることを示す信号である。カラムドレス信号RAS146は、メモリアクセスアドレスMemAddr140の信号にカラムアドレスがセットされていることを示す信号である。
【0039】
ここでアクセスアドレスがキャッシュヒットした場合にはヒットミス信号Hit/Miss148がヒットを表す信号(例えば’H’レベルの信号)になり、キャッシュミスした場合にはヒットミス信号Hit/Miss148がミスを表す信号(例えば’L’レベルの信号)になるようにしてもよい。
【0040】
またリード要求でアクセスアドレスがキャッシュヒットした場合にはヒットミス信号Hit/Miss148がヒットを表す信号(例えば’H’レベルの信号)になり、それ以外の場合にはヒットミス信号Hit/Miss148がミスを表す信号(例えば’L’レベルの信号)になるようにしてもよい。
【0041】
またキャッシュヒットした場合には、メモリアクセスアドレスMemAddr140としてデータRAMのアドレスを出力するようにしてもよい。
【0042】
メモリ装置120は、物理的に情報が記憶されているメモリブロック(メモリセルアレイ)124と、メモリコントローラから通知されたアドレスMemaddr140に基づきメモリブロック(メモリセルアレイ)124の物理的な行と列を特定し読み書きするためデコーダ・I/O回路122と、キャッシュデータを記憶するキャッシュデータメモリ126とを含む。
【0043】
ここでメモリブロック(メモリセルアレイ)124ダイナミックRAMで構成されている。またキャッシュデータメモリ126とデコーダ・I/O回路122は、キャッシュのデータ部として機能する。
【0044】
メモリ装置120のデコーダ・I/O回路122は、メモリアクセスアドレスMemAddr140、メモリアクセスデータMemDeta142、ロウアドレスセット信号RAS144、カラムアドレストセット信号CAS146を受けデコード処理やメモリブロック(メモリセルアレイ)124のリフレッシュ制御やキャッシュデータメモリ126からの読み出し処理を行う。
【0045】
デコーダ・I/O回路122は、キャッシュヒットしていることを示すヒットミス信号Hit/Miss148を受け取ると、キャッシュデータメモリ126に対し、リードライト種別sRdWr174を「リード」にしてタグドレス(下位アドレス)sAddr172を出力することで、タグドレスに対応する欄(データ部)に格納されているキャッシュデータsDeta170を受け取る。そして、キャッシュデータsDeta170をMemData142としてメモリコントローラ110に向け出力する。
【0046】
またデコーダ・I/O回路122は、キャッシュミスしていることを示すヒットミス信号Hit/Miss148を受け取るとセンスアンプを起動し、メモリブロック(メモリセルアレイ)124に対し、ロウアドレスRowA52,カラムアドレスColA54を出力し、アクセスデータdData156を受け取る。またライト要求の場合にはアクセスデータdData156をメモリブロック(メモリセルアレイ)124に対し出力してデータのアクセスを行う。
【0047】
さらにデコーダ・I/O回路122は、所定のタイミングでメモリブロック(メモリセルアレイ)124に対し、リフレッシュタイミング制御信号Tref150を出力する。なお、メモリリードの場合にキャッシュヒットしている場合には、リードデータをキャッシュデータ回路126から受け取ると同時にメモリブロック(メモリセルアレイ)124のリフレッシュされるようにメモリブロック(メモリセルアレイ)124に対し、リフレッシュタイミング制御信号Tref150を出力する。
【0048】
図3は、本実施の形態のメモリシステムがキャッシュヒットか否か判断する処理の一例について説明するためのフローチャート図である。
【0049】
メモリアクセス有りの場合には以下の処理を行う(ステップS10)。メモリアクセス有りの場合とは、例えばメモリコントローラが、CPUやDMAコントローラからのアクセスアドレスSysAddr130やアクセスデータSysData132やリードライト種別SysRD/WR134を受けとった場合である。
【0050】
まずメモリコントローラのコントロール回路は、アクセスアドレスの下位ビットで構成するキャッシュタグメモリのデータを読み出す(ステップS20)。
【0051】
そしてよみだしたタグデータとアクセスアドレスの上位ビットを比較し、一致している場合には、ヒットミス信号Hit/Miss148を’H’にしてヒット時の動作を開始する(ステップS30,S40)。
【0052】
また不一致の場合には、ヒットミス信号Hit/Miss148を’L’にしてミスヒット時の動作を開始する(ステップS30,S50)。
【0053】
図4は、本実施の形態のメモリシステムのメモリアクセスの処理の一例について説明するためのフローチャート図である。
【0054】
メモリアクセス有りの場合には以下の処理を行う(ステップS110)。メモリアクセス有りの場合とは、例えばメモリコントローラが、CPUやDMAコントローラからのアクセスアドレスSysAddr130やアクセスデータSysData132やリードライト種別SysRD/WR134を受けとった場合である。
【0055】
まずメモリコントローラのコントロール回路はキャッシュタグ回路にアクセスしてタグアドレスを読み出し、タグアドレスとアクセスアドレスに基づきキャッシュヒットか否か判断する。例えば図3のフリーチャート図の処理を行いキャッシュヒットか否か判断するようにしてもよい。
【0056】
次にキャッシュヒットかつリード要求である場合には、ヒットミス信号Hit/Miss148を’H’にして、キャッシュデータアドレスをキャッシュデータメモリに出力しリードデータを受け取ると同時にリフレッシュ動作を行う(ステップ、S120、S130,S140)。例えばキャッシュ装置のデコーダ・I/O回路122がリードデータを受け取ると同時にリフレッシュ制御タイミング信号を出力することでメモリブロック(メモリセルアレイ)のリフレッシュ動作を行うようにしてもよい。
【0057】
またキャッシュヒットかつライト要求である場合には、ヒットミス信号Hit/Missを’L’にして、ロウアドレスをメモリブロック(メモリセルアレイ)に出力し、メモリブロック(メモリセルアレイ)の該当列をアクティブにする(ステップS120、S130,S150)。
【0058】
そしてカラムアドレスをメモリブロック(メモリセルアレイ)に出力し、ライトデータをメモリブロック(メモリセルアレイ)に書き込むと同時に、キャッシュメモリアドレスを演算し、キャッシュデータメモリに書き込み、メモリコントローラのタグメモリも更新する(ステップS130,S150)。
【0059】
またキャッシュミスである場合には、ヒットミス信号Hit/Missを’L’にして、ロウアドレスをメモリブロック(メモリセルアレイ)に出力し、メモリブロック(メモリセルアレイ)の該当列をアクティブにする(ステップS120、S170)。
【0060】
そしてキャッシュミスであって、リード要求である場合にはカラムアドレスをメモリブロックに出力しアクセスデータをメモリブロックから受け取り、キャッシュデータメモリにも書き込み、タグメモリも更新する(ステップS180,S190)。
【0061】
またキャッシュミスであって、ライト要求である場合にはカラムアドレスをメモリブロックに出力しアクセスデータをメモリブロックに書き込み、キャッシュデータメモリにも書き込み、タグメモリも更新する(ステップS180,S200)。
【0062】
なお、本発明は本実施形態に限定されず、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。
【0063】
例えば本実施の形態では、メモリブロックがDRAMである場合を例にとり説明したがこれに限られない。たとえばメモリブロックが、SRAMや、ROM、フラッシュROM等DRAM以外である場合でもよい。
【0064】
また本実施の形態では、キャッシュタグメモリ又はキャッシュデータメモリがSRAMで構成されている場合を例にとり説明したがこれに限られない。例えばキャッシュタグメモリ及びキャッシュデータメモリが、DRAMや、ROM、フラッシュROM等SRAM以外である場合でもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来のメモリシステムのメモリコントローラとメモリ装置の構成を示すブロック図である。
【図2】本実施の形態のメモリシステムのメモリコントローラとメモリ装置の構成を示すブロック図である。
【図3】本実施の形態のメモリシステムがキャッシュヒットか否か判断する処理の一例について説明するためのフローチャート図である。
【図4】本実施の形態のメモリシステムのメモリアクセスの処理の一例について説明するためのフローチャート図である。
【符号の説明】
101  メモリシステム
110  メモリコントローラ
112  コントロール回路
114  キャッシュタグメモリ
120  メモリ装置
122  デコーダ・I/O回路
124  メモリブロック(メモリセルアレイ)
126  キャッシュデータメモリ

Claims (5)

  1. メモリ装置とメモリコントローラを含むメモリシステムであって、
    前記メモリコントローラは、
    キャッシュのタグ部として機能するキャッシュタグメモリと、
    キャッシュタグメモリに保持されているタグアドレス及びアクセスアドレスに基づきキャッシュヒットか否か判断し、判断結果信号を出力する回路とを含み、
    前記メモリ装置は、
    キャッシュのデータ部として機能するキャッシュデータメモリと、
    前記判断結果信号を受け、前記判断結果信号がキャッシュヒットを示している場合には、メモリ装置のキャッシュデータメモリに対しデータをアクセスする回路とを含むことを特徴とするメモリシステム。
  2. 請求項1において、
    前記メモリ装置は、
    アクセス要求がライトアクセス要求である場合に、前記判断結果信号がキャッシュヒットを示している場合には、メモリ装置のキャッシュデータメモリに対しアクセスデータを書き込むと同時に、メモリ装置のメモリセルアレイにアクセスデータを書き込む回路と、
    前記判断結果信号がキャッシュミスであることを示している場合にはメモリ装置のメモリセルアレイに対しデータをアクセスするとともに、アクセスデータをメモリ装置のキャッシュデータメモリに対し格納する回路とをさらに含み、
    前記メモリコントローラは、
    キャッシュデータメモリの更新状況を反映してキャッシュタグメモリを更新する回路を含むことを特徴とするメモリシステム。
  3. 請求項1乃至2のいずれかにおいて、
    メモリコントローラの前記キャッシュタグメモリ及びメモリ装置のキャッシュデータメモリをスタティックRAMで構成し、メモリ装置のメモリセルアレイをダイナミックRAMで構成することを特徴とするメモリシステム。
  4. 請求項1乃至3のいずれかにおいて、
    前記メモリ装置のメモリセルアレイはダイナミックRAMで構成され、
    前記判断結果信号に基づいて、前記メモリセルアレイのリフレッシュのタイミングを制御する回路を含むことを特徴とするメモリシステム。
  5. 請求項1乃至4のいずれかにおいて、
    前記メモリ装置のメモリセルアレイをダイナミックRAM、ROM、フラッシュROMのいずれかを用いて構成することを特徴とするメモリシステム。
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JP2005235182A (ja) * 2004-02-16 2005-09-02 Samsung Electronics Co Ltd 不揮発性メモリを制御するためのコントローラ

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