JP2004022885A - Al−SiC系複合体および放熱部品 - Google Patents
Al−SiC系複合体および放熱部品 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004022885A JP2004022885A JP2002177244A JP2002177244A JP2004022885A JP 2004022885 A JP2004022885 A JP 2004022885A JP 2002177244 A JP2002177244 A JP 2002177244A JP 2002177244 A JP2002177244 A JP 2002177244A JP 2004022885 A JP2004022885 A JP 2004022885A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- heat
- sic
- silicon carbide
- radiating
- aluminum
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1304—Transistor
- H01L2924/1305—Bipolar Junction Transistor [BJT]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1304—Transistor
- H01L2924/1305—Bipolar Junction Transistor [BJT]
- H01L2924/13055—Insulated gate bipolar transistor [IGBT]
Landscapes
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
【課題】放熱用凸部を有するAl−SiC系複合体において、特に溶融金属含浸法の製造工程の中で型を解体して型から抜き出す際に、放熱用凸部の基部から折損すること、および放熱用凸部が傾くことを防止できるAl−SiC系複合体およびそれからなる放熱部品を提供する。
【解決手段】主に炭化ケイ素からなる多孔体にアルミニウムを主成分とする金属を含浸して形成されたAl−SiC複合本体部と、Al−SiC複合本体部に含浸アルミニウムで一体形成された放熱用凸部を有するAl−SiC系複合体であって、放熱用凸部の基部の部分に位置する該炭化ケイ素からなる多孔体に突出部を設ける。
【選択図】 図1
【解決手段】主に炭化ケイ素からなる多孔体にアルミニウムを主成分とする金属を含浸して形成されたAl−SiC複合本体部と、Al−SiC複合本体部に含浸アルミニウムで一体形成された放熱用凸部を有するAl−SiC系複合体であって、放熱用凸部の基部の部分に位置する該炭化ケイ素からなる多孔体に突出部を設ける。
【選択図】 図1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、主に炭化ケイ素(SiC)からなる多孔体に、アルミニウム(Al)を主成分とする金属を含浸して形成したアルミニウムと炭化ケイ素の複合体(Al−SiC系複合体)に関する。本発明のAl−SiC系複合体は、低熱膨張、高熱伝導特性を有し、放熱基板、ヒートシンク、パッケージなど半導体装置に用いられる放熱部品に好適なものである。
【0002】
【従来の技術】
近年、産業機器の分野では、半導体スイッチングデバイスを用いて大きな電力を最適な電力に効率よく交換制御する大電力モジュール装置の開発が進んでいる。例えば、電動車輌用インバータとして高電圧、大電流動作が可能なIGBTモジュールがある。このような大電力モジュール化に伴い、半導体チップから発生する熱も増大している。半導体チップは熱に弱く、発熱が大きくなれば半導体回路の誤動作や破壊を招くことになる。そこで、半導体チップなど電子部品を搭載するための回路基板の裏面にヒートシンクなどの放熱部品を設けて、放熱部品を介して半導体チップから発生した熱を外部に発散させ、半導体回路の動作を安定にすることが行われている。電子部品を搭載するための回路基板としては、窒化ケイ素(Si3N4)、窒化アルミニウム(AlN)、酸化アルミニウム(Al2O3)などの絶縁性を有するセラミックス基板が主に用いられている。
【0003】
従来の放熱部品用材料として、銅(Cu)、モリブデン(Mo)、タングステン(W)などがある。モリブデンやタングステンからなる放熱部品は高価であり、また金属の比重が大きいため放熱部品の重量が重くなり、放熱部品の軽量化が望まれる用途には好ましくない。
【0004】
また、銅からなる放熱部品は、放熱部品と接合されるセラミックス基板との熱膨張係数の差が大きいので、放熱部品とセラミックス基板との加熱接合時や、使用中の熱サイクルにより、はんだ層の破壊、熱流路の遮断、セラミックス基板の割れを生じやすい。
【0005】
銅などの従来材に替わる放熱部品用材料として、アルミニウムまたはアルミニウム合金中に炭化ケイ素を分散させた低熱膨張・高熱伝導特性を有するAl−SiC系複合体が注目されている(特公平7−26174号、特開昭64−83634号等参照)。Al−SiC系複合体は、粉末冶金法、高圧鋳造法、真空鋳造法、溶融金属含浸法などにより製造される。Al−SiC系複合体の熱膨張係数をセラミックス基板の熱膨張係数に近づけようとすると、熱膨張係数の低い炭化ケイ素の含有比率を上げることが必要である。しかしながら、粉末冶金法、高圧鋳造法、真空鋳造法では、その製造法の特質上、炭化ケイ素の含有量を40体積%以上にすることが困難である。また、ネットシェイプ成形することが難しい、大型の加圧装置を必要とするため製造コストが高くなるという欠点がある。
【0006】
溶融金属含浸法は、炭化ケイ素粉末あるいは炭化ケイ素繊維で形成された多孔体(プリフォーム)を用い、この多孔体を型内の空間に配置し、アルミニウムインゴットを接触させて、窒素雰囲気中で加圧もしくは非加圧で加熱溶融したアルミニウムを型内の空間に流し込むことによって、炭化ケイ素の多孔体に含浸させ、冷却して作製するものである。この製造方法によれば、炭化ケイ素の含有量を20〜90体積%の範囲で選択できる。また、炭化ケイ素多孔体の形状の自由度が高く、複雑な形状の製品をネットシェイプ成形できる利点を有する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
冷却効率を高めるための放熱ピンまたは放熱フィン(本発明ではこれらを放熱用凸部という)を具備させた放熱基板が用いられている。図6は従来のIGBTモジュールの一例を示す断面図である。図6において、1は窒化ケイ素からなるセラミックス基板であり、その上面に銅からなる回路板2、下面に銅板3をろう付けなどにより接着して、セラミックス回路基板4が構成される。セラミックス基板1の回路板2には複数の半導体チップ5をはんだにより実装しワイヤーで配線する。
【0008】
6はAl−SiC系複合体からなる放熱基板であり、その上面にめっきを施し、はんだ7によりセラミックス回路基板4を接着する。8は放熱用凸部(放熱ピン)9を有するヒートシンクでありアルミニウムなどで製作される。そして、放熱基板6とヒートシンク8とをグリス10で接着して、両部品をねじ11により締結固定する。
【0009】
この種のIGBTモジュールでは、熱伝導率が比較的低いグリス10を放熱基板6とヒートシンク8との間に介在させるため、熱抵抗が増加し、回路基板全体の放熱効率が低下する。また、放熱基板6とヒートシンク8を別々に製作し、さらにグリス10を必要とするため、モジュールの製作が煩雑となり製造コストを高めてしまうという問題があった。
【0010】
そこで、この問題を解決する公知例として、例えば特開2000−336438号公報には、気孔径7〜50μmである多孔質セラミックス焼結体の気孔内にマトリックスとなる金属の溶湯を加圧含浸することにより形成された、セラミックス焼結体である骨格構造体とマトリックス金属とからなる複合構造を有する金属−セラミックス複合材料であって、複合材料の片側の板面に、マトリックス金属と同一材種の金属からなる放熱フィンを一体的に形成することが開示されている。
【0011】
図5は前記公知例同様の形態を示すもので、放熱用凸部(放熱ピン)を一体形成した従来のAl−SiC系複合体からなる放熱部品の断面図を示す。図5において、Al−SiC系複合体12は、主に炭化ケイ素からなる多孔体にアルミニウムを主成分とする金属を含浸して形成されたAl−SiC複合本体部13と、Al−SiC複合本体部13の表面に形成された含浸アルミニウムと実質的に同種のアルミニウムからなるアルミニウム被覆層14と、Al−SiC複合本体部13の片側の主面に形成された含浸アルミニウムと実質的に同種のアルミニウムからなる放熱用凸部(放熱ピン)15を有するヒートシンク17とから構成されている。
【0012】
この従来構造では、Al−SiC複合本体部13と放熱ピン15の接合部が強度的に弱くなるため、特にAl−SiC系複合体を溶融金属含浸法で製造する工程において、加熱溶融したアルミニウムを型内の空間に流し込んだ後、型を解体して型から抜き出す際に、放熱ピン15の基部16から折損しやすかった。また、折損をまぬがれても放熱ピン15が斜めに傾き曲りやすく、放熱ピン15同士の相隣間隔が所定の距離に確保されず、期待する放熱特性が得られないという問題があった。また、放熱ピン同様、放熱フィンを形成する場合も同じ問題があった。
【0013】
したがって、本発明の目的は、放熱ピンや放熱フィンなどの放熱用凸部を有するAl−SiC系複合体において、特に溶融金属含浸法の製造工程の中で型を解体して型から抜き出す際に、放熱用凸部の基部から折損すること、および放熱用凸部が傾くことを防止できるAl−SiC系複合体およびそれからなる放熱部品を提供することである。
【0014】
【課題を解決するための手段】
本発明の第1形態のAl−SiC系複合体は、主に炭化ケイ素からなる多孔体にアルミニウムを主成分とする金属を含浸して形成されたAl−SiC複合本体部と、Al−SiC複合本体部に含浸アルミニウムで一体形成された放熱用凸部を有するAl−SiC系複合体であって、放熱用凸部の基部の部分に位置する該炭化ケイ素からなる多孔体に突出部を設けたことを特徴とする。
【0015】
また、本発明の第2形態のAl−SiC系複合体は、主に炭化ケイ素からなる多孔体にアルミニウムを主成分とする金属を含浸して形成されたAl−SiC複合本体部と、Al−SiC複合本体部に含浸アルミニウムで一体形成された放熱用凸部を有するAl−SiC系複合体であって、放熱用凸部の基部の部分に位置する該炭化ケイ素からなる多孔体に、放熱用凸部の基部の幅より大きい開口幅をもつ凹部を設けたことを特徴とする。
【0016】
さらに、本発明の第3形態のAl−SiC系複合体は、主に炭化ケイ素からなる多孔体にアルミニウムを主成分とする金属を含浸して形成されたAl−SiC複合本体部と、Al−SiC複合本体部に含浸アルミニウムで一体形成された放熱用凸部を有するAl−SiC系複合体であって、放熱用凸部の基部の部分に位置する該炭化ケイ素からなる多孔体に、凹部を設けるとともに、該凹部に放熱用凸部形成用の主に炭化ケイ素からなる多孔体を嵌め合わせるように配置させたことを特徴とする。
【0017】
また本発明は、前記本発明のAl−SiC系複合体からなる放熱部品であることを特徴とする。さらに、本発明のAl−SiC系複合体からなる放熱部品を具備する半導体モジュール装置であることを特徴とする。
【0018】
本発明のAl−SiC系複合体は、主に炭化ケイ素からなる多孔体にアルミニウムを主成分とする金属を含浸して形成されたAl−SiC複合本体部と、Al−SiC複合本体部に含浸アルミニウムで一体形成された放熱用凸部を有する。放熱用凸部の基部の部分に位置している主に炭化ケイ素からなる多孔体に突出部を設けることにより、放熱用凸部の基部への応力集中を従来構造に比べ緩和でき、含浸成形後における放熱用凸部の基部近傍の強度を一層高めることができる。
【0019】
また、放熱用凸部の基部の部分に位置している炭化ケイ素の多孔体に、放熱用凸部の基部の幅より大きい開口幅をもつ凹部を設ける。すなわち、放熱用凸部の基部に対向する側の開口幅を、放熱用凸部の基部の幅より大きくした凹部を設けることにより、放熱用凸部の基部への応力集中を従来構造に比べ緩和することができる。
【0020】
また、別に放熱ピン形成用の棒状の炭化ケイ素多孔体を用意して、放熱用凸部の基部の部分に位置している炭化ケイ素多孔体に凹部を設けるとともに、その凹部に放熱用凸部形成用の炭化ケイ素多孔体を嵌め合わせることにより、含浸成形後、放熱用凸部の内部にAl−SiC複合本体部が生成されるので、放熱用凸部全体が強固になる。
【0021】
これら本発明の第1〜第3形態のAl−SiC系複合体によれば、放熱用凸部の基部近傍の強度を高めることができ、特に溶融金属含浸法による製造する工程において、加熱溶融したアルミニウムを型内の空間に流し込んだ後、型を解体して型から抜き出す際に、放熱用凸部が基部から折損したり、斜めに傾いたりすることを防止できる。
【0022】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
【0023】
図1は本発明の第1形態のAl−SiC系複合体の断面図を示す。図1において、Al−SiC系複合体12は、主に炭化ケイ素からなる多孔体にアルミニウムを主成分とする金属を含浸して形成されたAl−SiC複合本体部13と、Al−SiC複合本体部13の表面に形成された含浸アルミニウムと実質的に同種のアルミニウムからなるアルミニウム被覆層14と、Al−SiC複合本体部13の片側の主面に一体形成された含浸アルミニウムと実質的に同種のアルミニウムからなる放熱用凸部15を有するヒートシンク17とから構成されている。
【0024】
含浸によってAl−SiC複合本体部13を形成する炭化ケイ素からなる多孔体において、含浸と同時に形成される放熱用凸部15の基部16に対向する位置に、放熱用凸部15の先端部18に向かって連続的に延びている突出部19を設けている。突出部19は放熱用凸部15の内部に収まる形状であればいかなる形状でもよい。
【0025】
図2は本発明の第2形態のAl−SiC系複合体の断面図を示す。図2において、本発明の第2形態の特徴を除いて図1と同様の構成である。含浸によってAl−SiC複合本体部13を形成する炭化ケイ素からなる多孔体において、含浸と同時に形成される放熱用凸部15の基部16に対向する位置に、放熱用凸部15の基部16の幅より大きい開口幅をもつ凹部20を設けている。凹部20は応力集中を緩和するため、できるだけ角部のない半円状に近い形状が望ましい。
【0026】
図3は本発明の第3形態のAl−SiC系複合体の断面図を示す。図3において、本発明の第3形態の特徴を除いて図1と同様の構成である。含浸によってAl−SiC複合本体部13を形成する炭化ケイ素からなる多孔体において、含浸と同時に形成される放熱用凸部15の基部16に対向する位置に、凹部21を設けている。また、22は放熱用凸部形成用のAl−SiC複合本体部であり、凹部21に放熱用凸部形成用の炭化ケイ素からなる多孔体を嵌め合わせて配置した後、含浸と同時に形成される。
【0027】
ここで、本発明の第1形態のAl−SiC系複合体の製造方法について説明する。なお、本発明の第2形態および第3形態のAl−SiC系複合体の製造方法もこれと同様である。まず、平均粒径60μm、純度98%以上の炭化ケイ素粉末に結合剤、保形剤の溶媒を加え、これを攪拌機で混合して炭化ケイ素のスラリーを得た。このスラリーを、図1に示したAl−SiC複合本体部13の形状にほぼ相似する空間部を有する金型に注入して成形後、冷却して脱型した。これを乾燥して炭化ケイ素の含有量が60体積%となる炭化ケイ素の多孔体を作製した。得られた炭化ケイ素の多孔体の放熱用凸部の基部に対向する位置には、放熱用凸部の先端部に向かって連続的に延びている突出部19が形成された。
【0028】
ついで、図4に示すように、この炭化ケイ素の多孔体23を、型24の内壁との間に所定の隙間を確保した状態で、型24内に装入した。この型24には、多孔体23が装入される空間部に連通した放熱用凸部形成用の空間部25が、多孔体23の主面と直交する向きに形成されている。そして、多孔体23を装入した型24内に加熱溶融したAl−7重量%Siのアルミニウム合金を圧入した。このアルミニウム合金溶湯は多孔体23に含浸されるとともに放熱用凸部形成用の空間部25内に充満される。これにより、放熱用凸部を溶湯含浸と同時に、またAl−SiC系複合体と連続一体的に形成できる。
【0029】
また、アルミニウム合金溶湯を含浸させる際に、溶湯が炭化ケイ素の多孔体23と型24の内壁との隙間を通り、アルミニウム被覆層が形成された。含浸完了、冷却後、型24を解体して型24から抜き出して、Al−SiC系複合体を作製した。
【0030】
Al−SiC系複合体を型24から抜き出す際に、形成された放熱用凸部が基部から折損することはなく、また斜めに傾くこともなく放熱用凸部同士の相隣間隔が所定の距離に確保できた。
【0031】
このようにして得られたAl−SiC系複合体のAl−SiC複合本体部からサンプルを切り出し、特性を調べたところ、熱膨張係数は8×10−6/K、熱伝導率は190W/(m・K)であり、良好な低熱膨張・高熱伝導特性を有していた。
【0032】
また、本発明のAl−SiC系複合体からなる放熱部品をセラミックス回路基板に接合したモジュールを、−40℃〜室温〜+125℃を1サイクルとして1000サイクルの冷熱サイクル試験にかけた結果、放熱部品とセラミックス基板の接合面が剥離することがなく、熱抵抗を抑えられることを確認できた。
【0033】
【発明の効果】
本発明の放熱ピンや放熱フィンなどの放熱用凸部を有するAl−SiC系複合体によれば、特に溶融金属含浸法の製造工程の中で型を解体して型から抜き出す際に、放熱用凸部の基部から折損すること、および放熱用凸部が傾くことを防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1形態のAl−SiC系複合体の断面図を示す。
【図2】本発明の第2形態のAl−SiC系複合体の断面図を示す。
【図3】本発明の第3形態のAl−SiC系複合体の断面図を示す。
【図4】本発明の第1形態のAl−SiC系複合体の製造方法を説明するための断面図を示す。
【図5】従来のAl−SiC系複合体からなる放熱部品の断面図を示す。
【図6】従来のIGBTモジュールの一例の断面図を示す。
【符号の説明】
1 セラミックス基板、 2 回路板、 3 銅板、
4 セラミックス回路基板、 5 半導体チップ、 6 放熱基板、 7 はんだ、
8 ヒートシンク、 9 放熱用凸部、 10 グリス、 11 ねじ、
12 Al−SiC系複合体、 13 Al−SiC複合本体部、
14 アルミニウム被覆層、 15 放熱用凸部、 16 基部、
17 ヒートシンク、 18 先端部、 19 突出部、 20 凹部、
21 凹部、 22 Al−SiC複合本体部、
23 炭化ケイ素の多孔体、 24 型、 25 放熱用凸部形成用の空間部
【発明の属する技術分野】
本発明は、主に炭化ケイ素(SiC)からなる多孔体に、アルミニウム(Al)を主成分とする金属を含浸して形成したアルミニウムと炭化ケイ素の複合体(Al−SiC系複合体)に関する。本発明のAl−SiC系複合体は、低熱膨張、高熱伝導特性を有し、放熱基板、ヒートシンク、パッケージなど半導体装置に用いられる放熱部品に好適なものである。
【0002】
【従来の技術】
近年、産業機器の分野では、半導体スイッチングデバイスを用いて大きな電力を最適な電力に効率よく交換制御する大電力モジュール装置の開発が進んでいる。例えば、電動車輌用インバータとして高電圧、大電流動作が可能なIGBTモジュールがある。このような大電力モジュール化に伴い、半導体チップから発生する熱も増大している。半導体チップは熱に弱く、発熱が大きくなれば半導体回路の誤動作や破壊を招くことになる。そこで、半導体チップなど電子部品を搭載するための回路基板の裏面にヒートシンクなどの放熱部品を設けて、放熱部品を介して半導体チップから発生した熱を外部に発散させ、半導体回路の動作を安定にすることが行われている。電子部品を搭載するための回路基板としては、窒化ケイ素(Si3N4)、窒化アルミニウム(AlN)、酸化アルミニウム(Al2O3)などの絶縁性を有するセラミックス基板が主に用いられている。
【0003】
従来の放熱部品用材料として、銅(Cu)、モリブデン(Mo)、タングステン(W)などがある。モリブデンやタングステンからなる放熱部品は高価であり、また金属の比重が大きいため放熱部品の重量が重くなり、放熱部品の軽量化が望まれる用途には好ましくない。
【0004】
また、銅からなる放熱部品は、放熱部品と接合されるセラミックス基板との熱膨張係数の差が大きいので、放熱部品とセラミックス基板との加熱接合時や、使用中の熱サイクルにより、はんだ層の破壊、熱流路の遮断、セラミックス基板の割れを生じやすい。
【0005】
銅などの従来材に替わる放熱部品用材料として、アルミニウムまたはアルミニウム合金中に炭化ケイ素を分散させた低熱膨張・高熱伝導特性を有するAl−SiC系複合体が注目されている(特公平7−26174号、特開昭64−83634号等参照)。Al−SiC系複合体は、粉末冶金法、高圧鋳造法、真空鋳造法、溶融金属含浸法などにより製造される。Al−SiC系複合体の熱膨張係数をセラミックス基板の熱膨張係数に近づけようとすると、熱膨張係数の低い炭化ケイ素の含有比率を上げることが必要である。しかしながら、粉末冶金法、高圧鋳造法、真空鋳造法では、その製造法の特質上、炭化ケイ素の含有量を40体積%以上にすることが困難である。また、ネットシェイプ成形することが難しい、大型の加圧装置を必要とするため製造コストが高くなるという欠点がある。
【0006】
溶融金属含浸法は、炭化ケイ素粉末あるいは炭化ケイ素繊維で形成された多孔体(プリフォーム)を用い、この多孔体を型内の空間に配置し、アルミニウムインゴットを接触させて、窒素雰囲気中で加圧もしくは非加圧で加熱溶融したアルミニウムを型内の空間に流し込むことによって、炭化ケイ素の多孔体に含浸させ、冷却して作製するものである。この製造方法によれば、炭化ケイ素の含有量を20〜90体積%の範囲で選択できる。また、炭化ケイ素多孔体の形状の自由度が高く、複雑な形状の製品をネットシェイプ成形できる利点を有する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
冷却効率を高めるための放熱ピンまたは放熱フィン(本発明ではこれらを放熱用凸部という)を具備させた放熱基板が用いられている。図6は従来のIGBTモジュールの一例を示す断面図である。図6において、1は窒化ケイ素からなるセラミックス基板であり、その上面に銅からなる回路板2、下面に銅板3をろう付けなどにより接着して、セラミックス回路基板4が構成される。セラミックス基板1の回路板2には複数の半導体チップ5をはんだにより実装しワイヤーで配線する。
【0008】
6はAl−SiC系複合体からなる放熱基板であり、その上面にめっきを施し、はんだ7によりセラミックス回路基板4を接着する。8は放熱用凸部(放熱ピン)9を有するヒートシンクでありアルミニウムなどで製作される。そして、放熱基板6とヒートシンク8とをグリス10で接着して、両部品をねじ11により締結固定する。
【0009】
この種のIGBTモジュールでは、熱伝導率が比較的低いグリス10を放熱基板6とヒートシンク8との間に介在させるため、熱抵抗が増加し、回路基板全体の放熱効率が低下する。また、放熱基板6とヒートシンク8を別々に製作し、さらにグリス10を必要とするため、モジュールの製作が煩雑となり製造コストを高めてしまうという問題があった。
【0010】
そこで、この問題を解決する公知例として、例えば特開2000−336438号公報には、気孔径7〜50μmである多孔質セラミックス焼結体の気孔内にマトリックスとなる金属の溶湯を加圧含浸することにより形成された、セラミックス焼結体である骨格構造体とマトリックス金属とからなる複合構造を有する金属−セラミックス複合材料であって、複合材料の片側の板面に、マトリックス金属と同一材種の金属からなる放熱フィンを一体的に形成することが開示されている。
【0011】
図5は前記公知例同様の形態を示すもので、放熱用凸部(放熱ピン)を一体形成した従来のAl−SiC系複合体からなる放熱部品の断面図を示す。図5において、Al−SiC系複合体12は、主に炭化ケイ素からなる多孔体にアルミニウムを主成分とする金属を含浸して形成されたAl−SiC複合本体部13と、Al−SiC複合本体部13の表面に形成された含浸アルミニウムと実質的に同種のアルミニウムからなるアルミニウム被覆層14と、Al−SiC複合本体部13の片側の主面に形成された含浸アルミニウムと実質的に同種のアルミニウムからなる放熱用凸部(放熱ピン)15を有するヒートシンク17とから構成されている。
【0012】
この従来構造では、Al−SiC複合本体部13と放熱ピン15の接合部が強度的に弱くなるため、特にAl−SiC系複合体を溶融金属含浸法で製造する工程において、加熱溶融したアルミニウムを型内の空間に流し込んだ後、型を解体して型から抜き出す際に、放熱ピン15の基部16から折損しやすかった。また、折損をまぬがれても放熱ピン15が斜めに傾き曲りやすく、放熱ピン15同士の相隣間隔が所定の距離に確保されず、期待する放熱特性が得られないという問題があった。また、放熱ピン同様、放熱フィンを形成する場合も同じ問題があった。
【0013】
したがって、本発明の目的は、放熱ピンや放熱フィンなどの放熱用凸部を有するAl−SiC系複合体において、特に溶融金属含浸法の製造工程の中で型を解体して型から抜き出す際に、放熱用凸部の基部から折損すること、および放熱用凸部が傾くことを防止できるAl−SiC系複合体およびそれからなる放熱部品を提供することである。
【0014】
【課題を解決するための手段】
本発明の第1形態のAl−SiC系複合体は、主に炭化ケイ素からなる多孔体にアルミニウムを主成分とする金属を含浸して形成されたAl−SiC複合本体部と、Al−SiC複合本体部に含浸アルミニウムで一体形成された放熱用凸部を有するAl−SiC系複合体であって、放熱用凸部の基部の部分に位置する該炭化ケイ素からなる多孔体に突出部を設けたことを特徴とする。
【0015】
また、本発明の第2形態のAl−SiC系複合体は、主に炭化ケイ素からなる多孔体にアルミニウムを主成分とする金属を含浸して形成されたAl−SiC複合本体部と、Al−SiC複合本体部に含浸アルミニウムで一体形成された放熱用凸部を有するAl−SiC系複合体であって、放熱用凸部の基部の部分に位置する該炭化ケイ素からなる多孔体に、放熱用凸部の基部の幅より大きい開口幅をもつ凹部を設けたことを特徴とする。
【0016】
さらに、本発明の第3形態のAl−SiC系複合体は、主に炭化ケイ素からなる多孔体にアルミニウムを主成分とする金属を含浸して形成されたAl−SiC複合本体部と、Al−SiC複合本体部に含浸アルミニウムで一体形成された放熱用凸部を有するAl−SiC系複合体であって、放熱用凸部の基部の部分に位置する該炭化ケイ素からなる多孔体に、凹部を設けるとともに、該凹部に放熱用凸部形成用の主に炭化ケイ素からなる多孔体を嵌め合わせるように配置させたことを特徴とする。
【0017】
また本発明は、前記本発明のAl−SiC系複合体からなる放熱部品であることを特徴とする。さらに、本発明のAl−SiC系複合体からなる放熱部品を具備する半導体モジュール装置であることを特徴とする。
【0018】
本発明のAl−SiC系複合体は、主に炭化ケイ素からなる多孔体にアルミニウムを主成分とする金属を含浸して形成されたAl−SiC複合本体部と、Al−SiC複合本体部に含浸アルミニウムで一体形成された放熱用凸部を有する。放熱用凸部の基部の部分に位置している主に炭化ケイ素からなる多孔体に突出部を設けることにより、放熱用凸部の基部への応力集中を従来構造に比べ緩和でき、含浸成形後における放熱用凸部の基部近傍の強度を一層高めることができる。
【0019】
また、放熱用凸部の基部の部分に位置している炭化ケイ素の多孔体に、放熱用凸部の基部の幅より大きい開口幅をもつ凹部を設ける。すなわち、放熱用凸部の基部に対向する側の開口幅を、放熱用凸部の基部の幅より大きくした凹部を設けることにより、放熱用凸部の基部への応力集中を従来構造に比べ緩和することができる。
【0020】
また、別に放熱ピン形成用の棒状の炭化ケイ素多孔体を用意して、放熱用凸部の基部の部分に位置している炭化ケイ素多孔体に凹部を設けるとともに、その凹部に放熱用凸部形成用の炭化ケイ素多孔体を嵌め合わせることにより、含浸成形後、放熱用凸部の内部にAl−SiC複合本体部が生成されるので、放熱用凸部全体が強固になる。
【0021】
これら本発明の第1〜第3形態のAl−SiC系複合体によれば、放熱用凸部の基部近傍の強度を高めることができ、特に溶融金属含浸法による製造する工程において、加熱溶融したアルミニウムを型内の空間に流し込んだ後、型を解体して型から抜き出す際に、放熱用凸部が基部から折損したり、斜めに傾いたりすることを防止できる。
【0022】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
【0023】
図1は本発明の第1形態のAl−SiC系複合体の断面図を示す。図1において、Al−SiC系複合体12は、主に炭化ケイ素からなる多孔体にアルミニウムを主成分とする金属を含浸して形成されたAl−SiC複合本体部13と、Al−SiC複合本体部13の表面に形成された含浸アルミニウムと実質的に同種のアルミニウムからなるアルミニウム被覆層14と、Al−SiC複合本体部13の片側の主面に一体形成された含浸アルミニウムと実質的に同種のアルミニウムからなる放熱用凸部15を有するヒートシンク17とから構成されている。
【0024】
含浸によってAl−SiC複合本体部13を形成する炭化ケイ素からなる多孔体において、含浸と同時に形成される放熱用凸部15の基部16に対向する位置に、放熱用凸部15の先端部18に向かって連続的に延びている突出部19を設けている。突出部19は放熱用凸部15の内部に収まる形状であればいかなる形状でもよい。
【0025】
図2は本発明の第2形態のAl−SiC系複合体の断面図を示す。図2において、本発明の第2形態の特徴を除いて図1と同様の構成である。含浸によってAl−SiC複合本体部13を形成する炭化ケイ素からなる多孔体において、含浸と同時に形成される放熱用凸部15の基部16に対向する位置に、放熱用凸部15の基部16の幅より大きい開口幅をもつ凹部20を設けている。凹部20は応力集中を緩和するため、できるだけ角部のない半円状に近い形状が望ましい。
【0026】
図3は本発明の第3形態のAl−SiC系複合体の断面図を示す。図3において、本発明の第3形態の特徴を除いて図1と同様の構成である。含浸によってAl−SiC複合本体部13を形成する炭化ケイ素からなる多孔体において、含浸と同時に形成される放熱用凸部15の基部16に対向する位置に、凹部21を設けている。また、22は放熱用凸部形成用のAl−SiC複合本体部であり、凹部21に放熱用凸部形成用の炭化ケイ素からなる多孔体を嵌め合わせて配置した後、含浸と同時に形成される。
【0027】
ここで、本発明の第1形態のAl−SiC系複合体の製造方法について説明する。なお、本発明の第2形態および第3形態のAl−SiC系複合体の製造方法もこれと同様である。まず、平均粒径60μm、純度98%以上の炭化ケイ素粉末に結合剤、保形剤の溶媒を加え、これを攪拌機で混合して炭化ケイ素のスラリーを得た。このスラリーを、図1に示したAl−SiC複合本体部13の形状にほぼ相似する空間部を有する金型に注入して成形後、冷却して脱型した。これを乾燥して炭化ケイ素の含有量が60体積%となる炭化ケイ素の多孔体を作製した。得られた炭化ケイ素の多孔体の放熱用凸部の基部に対向する位置には、放熱用凸部の先端部に向かって連続的に延びている突出部19が形成された。
【0028】
ついで、図4に示すように、この炭化ケイ素の多孔体23を、型24の内壁との間に所定の隙間を確保した状態で、型24内に装入した。この型24には、多孔体23が装入される空間部に連通した放熱用凸部形成用の空間部25が、多孔体23の主面と直交する向きに形成されている。そして、多孔体23を装入した型24内に加熱溶融したAl−7重量%Siのアルミニウム合金を圧入した。このアルミニウム合金溶湯は多孔体23に含浸されるとともに放熱用凸部形成用の空間部25内に充満される。これにより、放熱用凸部を溶湯含浸と同時に、またAl−SiC系複合体と連続一体的に形成できる。
【0029】
また、アルミニウム合金溶湯を含浸させる際に、溶湯が炭化ケイ素の多孔体23と型24の内壁との隙間を通り、アルミニウム被覆層が形成された。含浸完了、冷却後、型24を解体して型24から抜き出して、Al−SiC系複合体を作製した。
【0030】
Al−SiC系複合体を型24から抜き出す際に、形成された放熱用凸部が基部から折損することはなく、また斜めに傾くこともなく放熱用凸部同士の相隣間隔が所定の距離に確保できた。
【0031】
このようにして得られたAl−SiC系複合体のAl−SiC複合本体部からサンプルを切り出し、特性を調べたところ、熱膨張係数は8×10−6/K、熱伝導率は190W/(m・K)であり、良好な低熱膨張・高熱伝導特性を有していた。
【0032】
また、本発明のAl−SiC系複合体からなる放熱部品をセラミックス回路基板に接合したモジュールを、−40℃〜室温〜+125℃を1サイクルとして1000サイクルの冷熱サイクル試験にかけた結果、放熱部品とセラミックス基板の接合面が剥離することがなく、熱抵抗を抑えられることを確認できた。
【0033】
【発明の効果】
本発明の放熱ピンや放熱フィンなどの放熱用凸部を有するAl−SiC系複合体によれば、特に溶融金属含浸法の製造工程の中で型を解体して型から抜き出す際に、放熱用凸部の基部から折損すること、および放熱用凸部が傾くことを防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1形態のAl−SiC系複合体の断面図を示す。
【図2】本発明の第2形態のAl−SiC系複合体の断面図を示す。
【図3】本発明の第3形態のAl−SiC系複合体の断面図を示す。
【図4】本発明の第1形態のAl−SiC系複合体の製造方法を説明するための断面図を示す。
【図5】従来のAl−SiC系複合体からなる放熱部品の断面図を示す。
【図6】従来のIGBTモジュールの一例の断面図を示す。
【符号の説明】
1 セラミックス基板、 2 回路板、 3 銅板、
4 セラミックス回路基板、 5 半導体チップ、 6 放熱基板、 7 はんだ、
8 ヒートシンク、 9 放熱用凸部、 10 グリス、 11 ねじ、
12 Al−SiC系複合体、 13 Al−SiC複合本体部、
14 アルミニウム被覆層、 15 放熱用凸部、 16 基部、
17 ヒートシンク、 18 先端部、 19 突出部、 20 凹部、
21 凹部、 22 Al−SiC複合本体部、
23 炭化ケイ素の多孔体、 24 型、 25 放熱用凸部形成用の空間部
Claims (5)
- 主に炭化ケイ素からなる多孔体にアルミニウムを主成分とする金属を含浸して形成されたAl−SiC複合本体部と、Al−SiC複合本体部に含浸アルミニウムで一体形成された放熱用凸部を有するAl−SiC系複合体であって、放熱用凸部の基部の部分に位置する該炭化ケイ素からなる多孔体に突出部を設けたことを特徴とするAl−SiC系複合体。
- 主に炭化ケイ素からなる多孔体にアルミニウムを主成分とする金属を含浸して形成されたAl−SiC複合本体部と、Al−SiC複合本体部に含浸アルミニウムで一体形成された放熱用凸部を有するAl−SiC系複合体であって、放熱用凸部の基部の部分に位置する該炭化ケイ素からなる多孔体に、放熱用凸部の基部の幅より大きい開口幅をもつ凹部を設けたことを特徴とするAl−SiC系複合体。
- 主に炭化ケイ素からなる多孔体にアルミニウムを主成分とする金属を含浸して形成されたAl−SiC複合本体部と、Al−SiC複合本体部に含浸アルミニウムで一体形成された放熱用凸部を有するAl−SiC系複合体であって、放熱用凸部の基部の部分に位置する該炭化ケイ素からなる多孔体に、凹部を設けるとともに、該凹部に放熱用凸部形成用の主に炭化ケイ素からなる多孔体を嵌め合わせるように配置させたことを特徴とするAl−SiC系複合体。
- 請求項1〜3のいずれかに記載のAl−SiC系複合体からなることを特徴とする放熱部品。
- 請求項1〜3のいずれかに記載の放熱部品を具備することを特徴とする半導体モジュール装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002177244A JP2004022885A (ja) | 2002-06-18 | 2002-06-18 | Al−SiC系複合体および放熱部品 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002177244A JP2004022885A (ja) | 2002-06-18 | 2002-06-18 | Al−SiC系複合体および放熱部品 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004022885A true JP2004022885A (ja) | 2004-01-22 |
Family
ID=31175327
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002177244A Pending JP2004022885A (ja) | 2002-06-18 | 2002-06-18 | Al−SiC系複合体および放熱部品 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2004022885A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109309062A (zh) * | 2017-07-27 | 2019-02-05 | 比亚迪股份有限公司 | 一种散热元件及其制备方法和igbt模组 |
CN116768646A (zh) * | 2022-03-17 | 2023-09-19 | 日本碍子株式会社 | Si-SiC类复合结构体的制造方法 |
-
2002
- 2002-06-18 JP JP2002177244A patent/JP2004022885A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109309062A (zh) * | 2017-07-27 | 2019-02-05 | 比亚迪股份有限公司 | 一种散热元件及其制备方法和igbt模组 |
CN116768646A (zh) * | 2022-03-17 | 2023-09-19 | 日本碍子株式会社 | Si-SiC类复合结构体的制造方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6917638B2 (en) | Heat radiator for electronic device and method of making it | |
KR100957078B1 (ko) | 전기적으로 절연된 전력 장치 패키지 | |
JP2004128451A (ja) | 低膨張材料の製造方法及び低膨張材料を用いた半導体装置 | |
JP4404602B2 (ja) | セラミックス−金属複合体およびこれを用いた高熱伝導放熱用基板 | |
JP3449683B2 (ja) | セラミックス回路基板とその製造方法 | |
JP2004022964A (ja) | Al−SiC系複合体およびそれを用いた放熱部品、半導体モジュール装置 | |
JP2005005528A (ja) | 半導体素子搭載用モジュール | |
JP2004022885A (ja) | Al−SiC系複合体および放熱部品 | |
JP5842457B2 (ja) | ヒートスプレッダ及びその製造方法、半導体装置、電子装置 | |
JP2000277953A (ja) | セラミックス回路基板 | |
JP2003318316A (ja) | セラミックス回路基板 | |
JP2004087927A (ja) | セラミック回路基板 | |
JP2003306730A (ja) | Al−SiC系複合体および放熱部品 | |
JP2005019875A (ja) | 放熱板、放熱モジュール、半導体実装モジュール、及び半導体装置 | |
JP2004296726A (ja) | 放熱部材および半導体素子収納用パッケージおよび半導体装置 | |
JP4265247B2 (ja) | 高放熱性合金、放熱板、半導体素子用パッケージ、およびこれらの製造方法 | |
JP2002299532A (ja) | Al−SiC系複合体および放熱部品 | |
JP2004083964A (ja) | 銅系放熱板及びその製造方法 | |
JP2004200567A (ja) | 放熱体及びその製造方法、パワーモジュール用基板、パワーモジュール | |
JP2001284509A (ja) | Al−SiC複合体 | |
JP2001053203A (ja) | 放熱板 | |
JP2004003023A (ja) | 複合材料とその製造方法及び用途 | |
JP2003188295A (ja) | 半導体素子収納パッケージ用放熱板及び光通信モジュールパッケージ用放熱板 | |
JP4668432B2 (ja) | 電子機器搭載用基板、ベース板一体型セラミックス回路基板、及び、それらの製法 | |
KR20140017824A (ko) | 복합체 및 기판 |