JP2004012863A - 測距・測光装置およびカメラ - Google Patents
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Abstract
【課題】測距系と測光系とを撮影系とは光学的に独立に設けた系において、小型でローコスト、高検出精度の測距・測光装置が必要である。
【解決手段】撮影レンズを透過する光束とは別の光束を用いて被写体距離の検出を行うとともに、撮影レンズを透過する光束とは別の光束を用いて測光を行う測距・測光装置において、測距センサーと測光センサーとを同一基板上に配置し、かつ互いに独立に設けられた複数の測距レンズと測光レンズとを一体形成し、測距レンズを含む測距光学系を結像系とし、測光レンズを含む測光光学系を非結像系とする。
【選択図】 図1
【解決手段】撮影レンズを透過する光束とは別の光束を用いて被写体距離の検出を行うとともに、撮影レンズを透過する光束とは別の光束を用いて測光を行う測距・測光装置において、測距センサーと測光センサーとを同一基板上に配置し、かつ互いに独立に設けられた複数の測距レンズと測光レンズとを一体形成し、測距レンズを含む測距光学系を結像系とし、測光レンズを含む測光光学系を非結像系とする。
【選択図】 図1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、自動焦点調節機能(AF)および自動露出調整機能(AE)を有したカメラに用いられる測距・測光装置に関するものであり、更に詳しくは、撮影レンズを透過する光束とは別の光束を用いて被写体距離の検出(測距)と測光とを行う測距・測光装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、撮影レンズを透過する光束以外の光束を利用して、測距および測光を行うカメラにおいては、特開平9−203927号公報にて提案されているように、カメラの正面から見て、撮影レンズに対して測距系および測光系がそれぞれ上下左右のある位置に配置されている。
【0003】
また、米国特許第5,302,997号では、測距系と測光系を一体化構造にして撮影レンズに対して斜め上方向に配置することが開示されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記特開平9−203927号公報にて提案の構成の場合、測距系と測光系とを独立に設けてカメラに配置していたために、その分のスペースが必要であり、部品点数もそれぞれ独立に必要であるため、カメラが大型化したり、部品点数が多いためにコスト高になるといった問題がある。
【0005】
また、上記米国特許5,302,997号にて開示のものでは、測距系と測光系とを一体化構造として部品を一体化させてはいるが、同実施例の場合、体積的にはほとんど独立に設けた場合と変わらないため、測距系と測光系のスペースを確保するために、カメラが大型化する問題がある。
【0006】
また、測距系のセンサーと測光系のセンサーとが隣接して配置されているため、測距光学系を透過した光束が測光センサーに入射しやすく、測光誤差が生じるおそれがある。また、逆に、測光光学系を透過した光束が測距センサーに入射して測距誤差が増加するおそれがある。
【0007】
さらに、ローコスト化するためには、比例縮小的に受光センサーの基板の寸法やレンズの焦点距離を小さくする必要があるが、これにより測距光学系の基線長を短くすると、測距精度が低下したり、レンズの焦点距離が短くなりすぎたりして、レンズを成型するための型の加工の難易度が高くなったり、レンズのコバ厚を確保する必要性により焦点距離を短くした分すべてが小型化に寄与しなくなったりするという問題がある。
【0008】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、測距系と測光系とを撮影系とは光学的に独立に設けた系において、小型でローコストの構成を可能とする測距・測光装置およびこれを備えたカメラを提供することを目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明では、撮影レンズを透過する光束とは別の光束を用いて被写体距離の検出を行うとともに、撮影レンズを透過する光束とは別の光束を用いて測光を行う測距・測光装置において、測距センサーと測光センサーとを同一基板上に配置し、かつ互いに独立に設けられた複数の測距レンズと測光レンズとを一体形成し、測距レンズを含む測距光学系を結像系とし、測光レンズを含む測光光学系を非結像系としている。
【0010】
これにより、測距レンズと測光レンズとが一体構造となっていることから生ずる光学的な(すなわち、焦点距離、レンズバックフォーカス等の)制約や測距レンズに対する測光レンズの必要画角からくる制約(一般に必要最大画角が測光光学系の方が広いため、焦点距離を短くする必要がある)を緩和することができ、小型でローコストの測距・測光装置を実現することが可能とする。
【0011】
なお、測距レンズの焦点距離をfAF、測光レンズの焦点距離をfAEとしたときに、
−0.5<fAF/fAE<0.6 …(1)
なる条件を満足するようにするとよい。
【0012】
上記条件式(1)において、下限を超えると測光レンズの発散力が強くなりすぎるため、測光レンズの有効部が大型化したり、測距系に対して測光系のFnoが暗くなりすぎるため、光量不足が生じたりする。また、上限を超えると、測光レンズの正の焦点距離が短くなってくるため、レンズの型の加工難易度が高くなったり、測距レンズとのバックフォーカスの差が大きくなってレンズ間の段差が大きくなったりする。
【0013】
また、測距レンズの実行Fナンバー(センサー側から見た開口角から換算される等価円形状絞り時のFナンバー)をAF.Fnoとし、測光レンズの実効FナンバーをAE.Fnoとしたときに、
1.2<AE.Fno/AF.Fno<4.0 …(2)
なる条件を満足するようにするのが好ましい。
【0014】
上記条件式(2)において、下限を超えると、相対的に測光系が明るくなることによるレンズ面の有効部確保のために基線長が伸びて系全体が大型化してくる。また、上限を超えると、測光センサーの受光部の大きさの制約条件より、センサー基板の小型化や最適配置が難しくなってくる。
【0015】
更に、測距レンズの基線長直交方向における測距センサーの受光面中心と測光センサーの受光面中心との距離をXとし、測光センサーの受光面の基線長直交方向の幅をYとしたときに、
0.05<X/Y<2.0 …(3)
なる条件を満足するようにしてもよい。
【0016】
装置を小型化、ローコスト化するためには、受光センサーの基板寸法を小さくするするのが有効であるが、AF性能を確保するためには、基線長方向の長さを確保する必要がある。上記条件式(3)は、基線長直交方向の基板寸法を小さくした場合の測距センサーの受光面中心と測光センサーの受光面中心とをずらすのが有効であることを示すものである。
【0017】
上記条件式(3)の下限を超えると、基線長直交方向に対して、測距センサーおよび測光センサーの受光部の配置の対称性がよくなってくるために、測距用のラインセンサーの横にAF信号処理回路を配置した場合、測光センサーの受光部および、その処理回路のレイアウトの関係上、基板が大型化してしまう。また、上限を越えると、一体レンズの有効部で測距系と測光系とで非対称性が大きくなってしまうことより、レンズ全体が大型化してしまったり、測距系と測光系とのパララックスが大きくなることによる問題が発生する。
【0018】
同一半導体プロセスで同一基板上に製作された受光センサーの場合、受光の分光感度特性はほとんど同一となる。必要な分光感度特性は測距系の場合、より感度を得ようとすると、視感度領域から赤外領域の広範囲に対して、測光系では視感度領域のみであり、赤外領域に感度を有した場合、測定誤差となってしまう。
【0019】
このような分光感度を補正するには、非結像系である測光光学系中に入れるのが好ましい。これは、非結像系に入れたほうが、挿入された部材による面精度やピントズレの影響が結像系よりも影響が小さいためである。更に、単一レンズであることや必要な分光感度領域が狭いほうが有利である。
【0020】
上述した系において、測距光学系および測光光学系のうち少なくとも一方の基線長直交方向の実効Fナンバーを、基線長方向の実効Fナンバーよりも小さく(明るく)したほうがよい。
【0021】
これは短い基線長の状態で、測距光学系および測光光学系の双方のFナンバーを明るくしようとした場合、測距のための光束と測光のための光束の基線長方向の干渉を小さくするための条件である。これにより、より小型で感度の高い系が構成可能となる。
【0022】
さらに、基線長をZとしたとき、
0.7<Z/fAF<1.2 …(4)
なる条件を満足するのがよい。
【0023】
下記条件式(4)において、下限を超えると、レンズ上の光束分離が困難となり、ゴーストフレアーの影響が大きくなって性能の低下が著しくなる。また、上限を超えると、測距光学系の結像性能がきびしくなったり、小型化が困難となったりする。
【0024】
【発明の実施の形態】
図1には、本発明の第1実施形態である測距・測光装置の構成を示している。本装置は図12に示すカメラ20に搭載される。測距・測光装置10は撮影レンズ21の上方近傍に配置され、カメラ20に搭載された演算処理回路(図示せず)は、それぞれのセンサーからの情報をもとにして被写体距離や測光量を演算し、撮影レンズ21を被写体に合焦するように制御すると同時に、被写体の露出量が所定の値になるようにカメラを制御する。
【0025】
図2において、22はファインダー対物窓であり、23はストロボ発光窓である。
【0026】
図1において、1,2は一対の測距(以下、AFという)レンズであり、これらAFレンズ1,2の光学的なレンズ面形状は同じであり、本実施形態において、図1の左側の面は非球面であり、右側の面は球面で構成されている。
【0027】
3は測光(以下、AEという)レンズであり、AFレンズ1,2のちょうど中間に配置されている。換言すると、AEレンズ3に対してAFレンズ1とAFレンズ2とは対称な位置関係となっている。
【0028】
また、AEレンズ3は、図1の左側の面も右側の面も球面で構成されている。
【0029】
ここで、レンズ1,2,3は同じ材質の樹脂より一体化されて形成されており、具体的には射出成形で一体成形される。
【0030】
4はレンズ1,2,3に対してそれぞれ設けられた開口絞りであり、本実施形態では、レンズホルダー5に一対成形されている。従って、ホルダー5はその一部にレンズからの光束を制限する開口絞りを有することと、レンズを保持、固定する役割を有している。
【0031】
6はAF系、AE系の受光センサーが形成されている基板面(つまりは、センサー受光面)の位置を表しており、AFレンズ1,2を含むAF光学系は、センサー受光面6上に被写体像の焦点がほぼ合うように設定されている。また、AE光学系は、センサー受光面6で被写体像が相当ぼけた状態になるように設定されている。
【0032】
この状態をAEのセンサー側から被写体側への逆投影で考えると、センサー受光面のある点からの光束は被写体側で発散するような状態(AE光束7)の投影関係になっており、このような関係に設定することにより小さなAEセンサーの受光面にもかかわらず、AEレンズ3の焦点距離を短くせずに、被写体側の広い範囲を測光することを可能としている。
【0033】
図2には、センサー受光面6上でのセンサー素子の配置を模式的に示している。図2において、8と9はAF用の一次元ラインセンサーであり、ラインセンサー8はAFレンズ1からの光束を、ラインセンサー9はAFレンズ2からの光束を受光するためのものである。
【0034】
ラインセンサー8,9の近傍には、それぞれAF信号処理回路11,12が配置され、それぞれのラインセンサーからの電気信号の情報を処理する。
【0035】
10はAEセンサー(の受光面)であり、AEレンズ3からの光束を受光する。これらセンサー8,9,10およびAF信号処理回路11,12は同一基板上に構成されており、該基板上にはその他に、図示していないが、電源回路、信号増幅回路、AE信号処理回路等の多くの回路が隙間なく配置されている。
【0036】
ここで、AFラインセンサー8,9とAEセンサー10の基線長方向に対して直交する方向(以下、基線長直交方向という:図2の左右方向)の配置をみると、それら受光面の中心位置は同一直線状に配列されるのではなく、距離Xだけずれている。これは、基板の小型化を考えた場合、基線長方向に関してはAF必要精度の関係上、基線長はラインセンサーの画素ピッチとの関係よりほぼ決まってしまい、基線長方向の基板短縮は性能確保をするためには難しいからである。
【0037】
また、基線長直交方向に関しては、AF、AEセンサーの受光面の寸法形状が異なること、および受光センサーに付随する大きな周辺回路の配置を考えると、AEまたはAFセンサーを基板の中央からある程度ずらして配置した方が基板面積を小さくする上で好ましいからでもある。
【0038】
図3には、図1に示した開口絞り4の形状を示しており、40はレンズホルダー5を正面から見たときの開口絞り4の形状を表している。3つの開口部のうち41と42の開口部は、AFレンズ1,2用の開口絞りであり、43の開口部はAEレンズ3用の開口部である。
【0039】
ここで、開口部41,42の形状は長方形であり、基線長方向(図3における上下方向)の開口寸法に対して基線長直交方向の開口寸法の方を大きく設定している。
【0040】
この目的としては、基線長を長くせずにレンズ面の面積を有効活用してレンズを明るくできる理由のほかに、測距に使用するラインセンサーでは、必要とする画角特性において、レンズ性能が必要な方向はラインセンサーの長手方向であるため、ラインセンサーの長手方向に直交する方向のレンズのFナンバーをラインセンサーの長手方向のFナンバーより明るく設定した方がよいからである。
【0041】
たとえば、同じ円形開口での実効Fナンバーのものに対して比較すると、コマ収差等の光学性能を良好にすることができる。
【0042】
また、AEレンズ3用の開口部43の開口形状は正方形となっている。これは、非結像系のAE光学系で広角の測光をするためには、開口絞りを比較的センサーの近傍に配置するのがよいが、このときの開口絞りの形状が測光する被写体の画角と相関をもつことになる、すなわち開口部の広い方向がより広い範囲を測光することになる。したがって、できるだけ測光したい画面の形状に開口絞りの形状を合わせるのが好ましいが、この実施形態では、レンズの基線長方向の大きさのバランスを考慮して正方形形状にしている。
【0043】
基線長方向において、レンズ面上でAF用の光束とAE用の光束とが近接してくると、有効画角以外の光束が隣接しているレンズ面やセンサーに入射して、ゴースト、フレアー成分となり、それが測距誤差や測光誤差となる。また、AF用の開口部41,42に対してAE用の開口部43の中心の位置は、AEセンサーに対応して基線長直交方向にある量シフトしている。
【0044】
図4には、本実施形態のレンズを光軸方向から見た時の形状を示している。AFレンズ1,2の基線長方向のFナンバーより、基線長直交方向のFナンバーの方を明るくするために、レンズ形状は基線長直交方向が基線長方向よりも長くなるように設定している。また、AFレンズ1,2に対してAEレンズ3の光軸位置は、AEセンサー10に対応して基線長直交方向にある量シフトしている。
【0045】
本実施形態の数値実施例は、後に示す数値実施例1である。
【0046】
(第2実施形態)
図5には、本発明の第2実施形態である測距・測光装置の構成を示している。
【0047】
なお、第1実施形態と共通する構成要素には、第1実施形態と同符号を付している。
【0048】
本実施形態の数値実施例は、後に示す数値実施例2である。
(第3実施形態)
図6から図11には、本発明の第3実施形態である測距・測光装置の構成を示している。
【0049】
なお、第1実施形態と共通する構成要素には、第1実施形態と同符号を付している。
【0050】
本実施形態の数値実施例は、後に示す数値実施例3である。
(数値実施例1)
AFレンズ
焦点距離f=5.0mm 基線長4.5mm
開口絞り位置 r2より0.4mm
開口絞り寸法 1.10x2.84mm(矩形)
実効Fno 1.82(Fno基線長方向3.30、基線長直交方向1.28)
r1 非球面 d 2.00 n 1.52996 νd 55.8
r2 −14.72523 bf 3.883
非球面係数(r1)
R=3.07924
B=−3.83139E−3
C=2.54803E−4
D=−1.70287E−4
E=1.33859E−5
但し、非球面形状は下記関係式で定義されるものを示す。
【0051】
但し、h=√(Y2+Z2)
測光レンズ
焦点距離f=32.22mm
開口絞り位置 r2より1.4mm
開口絞り寸法 0.82x0.82mm(矩形)
実効Fno 3.12(Fno基線長方向3.52、基線長直交方向3.52)
(センサー側よりみたときの射出瞳の張る角度で定義)
受光面サイズ0.9x0.60mm
シフト量X=0.40mm
r1 4.00 d 1.60 n 1.52996 νd 55.8
r2 4.50 bf 4.283
(数値実施例2)
AFレンズ
焦点距離f=4.0mm 基線長4.0mm
開口絞り位置 r2より0.32mm
開口絞り寸法 0.90x1.86mm(矩形)
実効Fno 2.0(Fno基線長方向3.24、基線長直交方向1.57)
r1 非球面 d 1.60 n 1.52996 νd 55.8
r2 −11.78018 bf 3.10
非球面係数(r1)
R=2.4634
B=−7.48318E−3
C=7.77597E−4
D=−8.11994E−4
E=9.97325E−5
測光レンズ
焦点距離f=−35.6mm
開口絞り位置 r2より1.12mm
開口絞り寸法 0.50x0.87mm(矩形)
実効Fno 3.10(Fno基線長方向4.61、基線長直交方向2.65)
(センサー側よりみたときの射出瞳の張る角度で定義)
受光面サイズ 0.8x0.50mm
シフト量X=0.70mm
r1 4.80 d 1.18 n 1.52996 νd 55.8
r2 3.50 bf 3.426
(数値実施例3)
AFレンズ
焦点距離f=5.0mm 基線長4.5mm
開口絞り位置 r2より0.40mm
開口絞り寸法 0.90x2.84mm(矩形)
実効Fno 2.0(Fno基線長方向4.0、基線長直交方向1.27)
r1 非球面 d 2.00 n 1.52996 νd 55.8
r2 −14.72523 bf 3.88
非球面係数(r1)
R=3.07924
B=−3.83139E−3
C=2.54803E−4
D=−1.70287E−4
E=1.33859E−5
測光レンズ
焦点距離f=38.78mm
開口絞り位置 r2より0.40mm
開口絞り寸法 1.10x1.10mm(矩形)
実効Fno 3.13(Fno基線長方向3.53、基線長直交方向3.53)
(センサー側よりみたときの射出瞳の張る角度で定義)
受光面サイズ 0.6x0.40mm
シフト量X=0.15mm
r1 4.00 d 1.55 n 1.52996 νd 55.8
r2 4.30 bf 4.283
本実施形態では、小型化、ローコスト化、合焦精度および露出量の検出精度を向上させるために、前述した条件式(1)〜(4)を満たすことが好ましい。
【0052】
ここで、上記数値実施例1から3における条件式(1)〜(4)の値を表1に示す。
【0053】
【表1】
【0054】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、測距光学系と測光光学系とを1つの装置として構成しても、それぞれの光学系を明るく、結像性能が良好で、ゴーストフレアー等に対して強くなることにより、測距および測光において精度が高く信頼性の高い測距・測光装置を実現することができる。
【0055】
また、一体構造としていることや、小型のローコストセンサー基板を使用することができるため、装置全体の小型化およびローコスト化に有効である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態の基線長方向断面を示す図。
【図2】上記第1実施形態の基板上の素子配置を示す図。
【図3】上記第1実施形態の開口絞り形状を示す図。
【図4】上記第1実施形態のレンズ正面を示す図。
【図5】本発明の第2実施形態の基線長方向断面を示す図。
【図6】本発明の第3実施形態の基線長断面を示す図。
【図7】上記第3実施形態の基板上の素子配置を示す図。
【図8】上記第3実施形態の開口絞り形状を示す図。
【図9】上記第3実施形態のレンズ正面を示す図。
【図10】上記第3実施形態のAFレンズの基線長直交断面を示す図。
【図11】上記第3実施形態のAEレンズの基線長直交断面を示す図。
【図12】本発明の第1実施形態を説明するための図。
【符号の説明】
1,2 AFレンズ
3 AEレンズ
4 開口絞り
5 レンズホルダー
6 センサー受光面(基板面)
7 AE光束
8,9 AF用一次元ラインセンサー
10 AEセンサー
11,12 AF信号処理回路
41,42 AF用開口部
43 AE用開口部
【発明の属する技術分野】
本発明は、自動焦点調節機能(AF)および自動露出調整機能(AE)を有したカメラに用いられる測距・測光装置に関するものであり、更に詳しくは、撮影レンズを透過する光束とは別の光束を用いて被写体距離の検出(測距)と測光とを行う測距・測光装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、撮影レンズを透過する光束以外の光束を利用して、測距および測光を行うカメラにおいては、特開平9−203927号公報にて提案されているように、カメラの正面から見て、撮影レンズに対して測距系および測光系がそれぞれ上下左右のある位置に配置されている。
【0003】
また、米国特許第5,302,997号では、測距系と測光系を一体化構造にして撮影レンズに対して斜め上方向に配置することが開示されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記特開平9−203927号公報にて提案の構成の場合、測距系と測光系とを独立に設けてカメラに配置していたために、その分のスペースが必要であり、部品点数もそれぞれ独立に必要であるため、カメラが大型化したり、部品点数が多いためにコスト高になるといった問題がある。
【0005】
また、上記米国特許5,302,997号にて開示のものでは、測距系と測光系とを一体化構造として部品を一体化させてはいるが、同実施例の場合、体積的にはほとんど独立に設けた場合と変わらないため、測距系と測光系のスペースを確保するために、カメラが大型化する問題がある。
【0006】
また、測距系のセンサーと測光系のセンサーとが隣接して配置されているため、測距光学系を透過した光束が測光センサーに入射しやすく、測光誤差が生じるおそれがある。また、逆に、測光光学系を透過した光束が測距センサーに入射して測距誤差が増加するおそれがある。
【0007】
さらに、ローコスト化するためには、比例縮小的に受光センサーの基板の寸法やレンズの焦点距離を小さくする必要があるが、これにより測距光学系の基線長を短くすると、測距精度が低下したり、レンズの焦点距離が短くなりすぎたりして、レンズを成型するための型の加工の難易度が高くなったり、レンズのコバ厚を確保する必要性により焦点距離を短くした分すべてが小型化に寄与しなくなったりするという問題がある。
【0008】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、測距系と測光系とを撮影系とは光学的に独立に設けた系において、小型でローコストの構成を可能とする測距・測光装置およびこれを備えたカメラを提供することを目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明では、撮影レンズを透過する光束とは別の光束を用いて被写体距離の検出を行うとともに、撮影レンズを透過する光束とは別の光束を用いて測光を行う測距・測光装置において、測距センサーと測光センサーとを同一基板上に配置し、かつ互いに独立に設けられた複数の測距レンズと測光レンズとを一体形成し、測距レンズを含む測距光学系を結像系とし、測光レンズを含む測光光学系を非結像系としている。
【0010】
これにより、測距レンズと測光レンズとが一体構造となっていることから生ずる光学的な(すなわち、焦点距離、レンズバックフォーカス等の)制約や測距レンズに対する測光レンズの必要画角からくる制約(一般に必要最大画角が測光光学系の方が広いため、焦点距離を短くする必要がある)を緩和することができ、小型でローコストの測距・測光装置を実現することが可能とする。
【0011】
なお、測距レンズの焦点距離をfAF、測光レンズの焦点距離をfAEとしたときに、
−0.5<fAF/fAE<0.6 …(1)
なる条件を満足するようにするとよい。
【0012】
上記条件式(1)において、下限を超えると測光レンズの発散力が強くなりすぎるため、測光レンズの有効部が大型化したり、測距系に対して測光系のFnoが暗くなりすぎるため、光量不足が生じたりする。また、上限を超えると、測光レンズの正の焦点距離が短くなってくるため、レンズの型の加工難易度が高くなったり、測距レンズとのバックフォーカスの差が大きくなってレンズ間の段差が大きくなったりする。
【0013】
また、測距レンズの実行Fナンバー(センサー側から見た開口角から換算される等価円形状絞り時のFナンバー)をAF.Fnoとし、測光レンズの実効FナンバーをAE.Fnoとしたときに、
1.2<AE.Fno/AF.Fno<4.0 …(2)
なる条件を満足するようにするのが好ましい。
【0014】
上記条件式(2)において、下限を超えると、相対的に測光系が明るくなることによるレンズ面の有効部確保のために基線長が伸びて系全体が大型化してくる。また、上限を超えると、測光センサーの受光部の大きさの制約条件より、センサー基板の小型化や最適配置が難しくなってくる。
【0015】
更に、測距レンズの基線長直交方向における測距センサーの受光面中心と測光センサーの受光面中心との距離をXとし、測光センサーの受光面の基線長直交方向の幅をYとしたときに、
0.05<X/Y<2.0 …(3)
なる条件を満足するようにしてもよい。
【0016】
装置を小型化、ローコスト化するためには、受光センサーの基板寸法を小さくするするのが有効であるが、AF性能を確保するためには、基線長方向の長さを確保する必要がある。上記条件式(3)は、基線長直交方向の基板寸法を小さくした場合の測距センサーの受光面中心と測光センサーの受光面中心とをずらすのが有効であることを示すものである。
【0017】
上記条件式(3)の下限を超えると、基線長直交方向に対して、測距センサーおよび測光センサーの受光部の配置の対称性がよくなってくるために、測距用のラインセンサーの横にAF信号処理回路を配置した場合、測光センサーの受光部および、その処理回路のレイアウトの関係上、基板が大型化してしまう。また、上限を越えると、一体レンズの有効部で測距系と測光系とで非対称性が大きくなってしまうことより、レンズ全体が大型化してしまったり、測距系と測光系とのパララックスが大きくなることによる問題が発生する。
【0018】
同一半導体プロセスで同一基板上に製作された受光センサーの場合、受光の分光感度特性はほとんど同一となる。必要な分光感度特性は測距系の場合、より感度を得ようとすると、視感度領域から赤外領域の広範囲に対して、測光系では視感度領域のみであり、赤外領域に感度を有した場合、測定誤差となってしまう。
【0019】
このような分光感度を補正するには、非結像系である測光光学系中に入れるのが好ましい。これは、非結像系に入れたほうが、挿入された部材による面精度やピントズレの影響が結像系よりも影響が小さいためである。更に、単一レンズであることや必要な分光感度領域が狭いほうが有利である。
【0020】
上述した系において、測距光学系および測光光学系のうち少なくとも一方の基線長直交方向の実効Fナンバーを、基線長方向の実効Fナンバーよりも小さく(明るく)したほうがよい。
【0021】
これは短い基線長の状態で、測距光学系および測光光学系の双方のFナンバーを明るくしようとした場合、測距のための光束と測光のための光束の基線長方向の干渉を小さくするための条件である。これにより、より小型で感度の高い系が構成可能となる。
【0022】
さらに、基線長をZとしたとき、
0.7<Z/fAF<1.2 …(4)
なる条件を満足するのがよい。
【0023】
下記条件式(4)において、下限を超えると、レンズ上の光束分離が困難となり、ゴーストフレアーの影響が大きくなって性能の低下が著しくなる。また、上限を超えると、測距光学系の結像性能がきびしくなったり、小型化が困難となったりする。
【0024】
【発明の実施の形態】
図1には、本発明の第1実施形態である測距・測光装置の構成を示している。本装置は図12に示すカメラ20に搭載される。測距・測光装置10は撮影レンズ21の上方近傍に配置され、カメラ20に搭載された演算処理回路(図示せず)は、それぞれのセンサーからの情報をもとにして被写体距離や測光量を演算し、撮影レンズ21を被写体に合焦するように制御すると同時に、被写体の露出量が所定の値になるようにカメラを制御する。
【0025】
図2において、22はファインダー対物窓であり、23はストロボ発光窓である。
【0026】
図1において、1,2は一対の測距(以下、AFという)レンズであり、これらAFレンズ1,2の光学的なレンズ面形状は同じであり、本実施形態において、図1の左側の面は非球面であり、右側の面は球面で構成されている。
【0027】
3は測光(以下、AEという)レンズであり、AFレンズ1,2のちょうど中間に配置されている。換言すると、AEレンズ3に対してAFレンズ1とAFレンズ2とは対称な位置関係となっている。
【0028】
また、AEレンズ3は、図1の左側の面も右側の面も球面で構成されている。
【0029】
ここで、レンズ1,2,3は同じ材質の樹脂より一体化されて形成されており、具体的には射出成形で一体成形される。
【0030】
4はレンズ1,2,3に対してそれぞれ設けられた開口絞りであり、本実施形態では、レンズホルダー5に一対成形されている。従って、ホルダー5はその一部にレンズからの光束を制限する開口絞りを有することと、レンズを保持、固定する役割を有している。
【0031】
6はAF系、AE系の受光センサーが形成されている基板面(つまりは、センサー受光面)の位置を表しており、AFレンズ1,2を含むAF光学系は、センサー受光面6上に被写体像の焦点がほぼ合うように設定されている。また、AE光学系は、センサー受光面6で被写体像が相当ぼけた状態になるように設定されている。
【0032】
この状態をAEのセンサー側から被写体側への逆投影で考えると、センサー受光面のある点からの光束は被写体側で発散するような状態(AE光束7)の投影関係になっており、このような関係に設定することにより小さなAEセンサーの受光面にもかかわらず、AEレンズ3の焦点距離を短くせずに、被写体側の広い範囲を測光することを可能としている。
【0033】
図2には、センサー受光面6上でのセンサー素子の配置を模式的に示している。図2において、8と9はAF用の一次元ラインセンサーであり、ラインセンサー8はAFレンズ1からの光束を、ラインセンサー9はAFレンズ2からの光束を受光するためのものである。
【0034】
ラインセンサー8,9の近傍には、それぞれAF信号処理回路11,12が配置され、それぞれのラインセンサーからの電気信号の情報を処理する。
【0035】
10はAEセンサー(の受光面)であり、AEレンズ3からの光束を受光する。これらセンサー8,9,10およびAF信号処理回路11,12は同一基板上に構成されており、該基板上にはその他に、図示していないが、電源回路、信号増幅回路、AE信号処理回路等の多くの回路が隙間なく配置されている。
【0036】
ここで、AFラインセンサー8,9とAEセンサー10の基線長方向に対して直交する方向(以下、基線長直交方向という:図2の左右方向)の配置をみると、それら受光面の中心位置は同一直線状に配列されるのではなく、距離Xだけずれている。これは、基板の小型化を考えた場合、基線長方向に関してはAF必要精度の関係上、基線長はラインセンサーの画素ピッチとの関係よりほぼ決まってしまい、基線長方向の基板短縮は性能確保をするためには難しいからである。
【0037】
また、基線長直交方向に関しては、AF、AEセンサーの受光面の寸法形状が異なること、および受光センサーに付随する大きな周辺回路の配置を考えると、AEまたはAFセンサーを基板の中央からある程度ずらして配置した方が基板面積を小さくする上で好ましいからでもある。
【0038】
図3には、図1に示した開口絞り4の形状を示しており、40はレンズホルダー5を正面から見たときの開口絞り4の形状を表している。3つの開口部のうち41と42の開口部は、AFレンズ1,2用の開口絞りであり、43の開口部はAEレンズ3用の開口部である。
【0039】
ここで、開口部41,42の形状は長方形であり、基線長方向(図3における上下方向)の開口寸法に対して基線長直交方向の開口寸法の方を大きく設定している。
【0040】
この目的としては、基線長を長くせずにレンズ面の面積を有効活用してレンズを明るくできる理由のほかに、測距に使用するラインセンサーでは、必要とする画角特性において、レンズ性能が必要な方向はラインセンサーの長手方向であるため、ラインセンサーの長手方向に直交する方向のレンズのFナンバーをラインセンサーの長手方向のFナンバーより明るく設定した方がよいからである。
【0041】
たとえば、同じ円形開口での実効Fナンバーのものに対して比較すると、コマ収差等の光学性能を良好にすることができる。
【0042】
また、AEレンズ3用の開口部43の開口形状は正方形となっている。これは、非結像系のAE光学系で広角の測光をするためには、開口絞りを比較的センサーの近傍に配置するのがよいが、このときの開口絞りの形状が測光する被写体の画角と相関をもつことになる、すなわち開口部の広い方向がより広い範囲を測光することになる。したがって、できるだけ測光したい画面の形状に開口絞りの形状を合わせるのが好ましいが、この実施形態では、レンズの基線長方向の大きさのバランスを考慮して正方形形状にしている。
【0043】
基線長方向において、レンズ面上でAF用の光束とAE用の光束とが近接してくると、有効画角以外の光束が隣接しているレンズ面やセンサーに入射して、ゴースト、フレアー成分となり、それが測距誤差や測光誤差となる。また、AF用の開口部41,42に対してAE用の開口部43の中心の位置は、AEセンサーに対応して基線長直交方向にある量シフトしている。
【0044】
図4には、本実施形態のレンズを光軸方向から見た時の形状を示している。AFレンズ1,2の基線長方向のFナンバーより、基線長直交方向のFナンバーの方を明るくするために、レンズ形状は基線長直交方向が基線長方向よりも長くなるように設定している。また、AFレンズ1,2に対してAEレンズ3の光軸位置は、AEセンサー10に対応して基線長直交方向にある量シフトしている。
【0045】
本実施形態の数値実施例は、後に示す数値実施例1である。
【0046】
(第2実施形態)
図5には、本発明の第2実施形態である測距・測光装置の構成を示している。
【0047】
なお、第1実施形態と共通する構成要素には、第1実施形態と同符号を付している。
【0048】
本実施形態の数値実施例は、後に示す数値実施例2である。
(第3実施形態)
図6から図11には、本発明の第3実施形態である測距・測光装置の構成を示している。
【0049】
なお、第1実施形態と共通する構成要素には、第1実施形態と同符号を付している。
【0050】
本実施形態の数値実施例は、後に示す数値実施例3である。
(数値実施例1)
AFレンズ
焦点距離f=5.0mm 基線長4.5mm
開口絞り位置 r2より0.4mm
開口絞り寸法 1.10x2.84mm(矩形)
実効Fno 1.82(Fno基線長方向3.30、基線長直交方向1.28)
r1 非球面 d 2.00 n 1.52996 νd 55.8
r2 −14.72523 bf 3.883
非球面係数(r1)
R=3.07924
B=−3.83139E−3
C=2.54803E−4
D=−1.70287E−4
E=1.33859E−5
但し、非球面形状は下記関係式で定義されるものを示す。
【0051】
但し、h=√(Y2+Z2)
測光レンズ
焦点距離f=32.22mm
開口絞り位置 r2より1.4mm
開口絞り寸法 0.82x0.82mm(矩形)
実効Fno 3.12(Fno基線長方向3.52、基線長直交方向3.52)
(センサー側よりみたときの射出瞳の張る角度で定義)
受光面サイズ0.9x0.60mm
シフト量X=0.40mm
r1 4.00 d 1.60 n 1.52996 νd 55.8
r2 4.50 bf 4.283
(数値実施例2)
AFレンズ
焦点距離f=4.0mm 基線長4.0mm
開口絞り位置 r2より0.32mm
開口絞り寸法 0.90x1.86mm(矩形)
実効Fno 2.0(Fno基線長方向3.24、基線長直交方向1.57)
r1 非球面 d 1.60 n 1.52996 νd 55.8
r2 −11.78018 bf 3.10
非球面係数(r1)
R=2.4634
B=−7.48318E−3
C=7.77597E−4
D=−8.11994E−4
E=9.97325E−5
測光レンズ
焦点距離f=−35.6mm
開口絞り位置 r2より1.12mm
開口絞り寸法 0.50x0.87mm(矩形)
実効Fno 3.10(Fno基線長方向4.61、基線長直交方向2.65)
(センサー側よりみたときの射出瞳の張る角度で定義)
受光面サイズ 0.8x0.50mm
シフト量X=0.70mm
r1 4.80 d 1.18 n 1.52996 νd 55.8
r2 3.50 bf 3.426
(数値実施例3)
AFレンズ
焦点距離f=5.0mm 基線長4.5mm
開口絞り位置 r2より0.40mm
開口絞り寸法 0.90x2.84mm(矩形)
実効Fno 2.0(Fno基線長方向4.0、基線長直交方向1.27)
r1 非球面 d 2.00 n 1.52996 νd 55.8
r2 −14.72523 bf 3.88
非球面係数(r1)
R=3.07924
B=−3.83139E−3
C=2.54803E−4
D=−1.70287E−4
E=1.33859E−5
測光レンズ
焦点距離f=38.78mm
開口絞り位置 r2より0.40mm
開口絞り寸法 1.10x1.10mm(矩形)
実効Fno 3.13(Fno基線長方向3.53、基線長直交方向3.53)
(センサー側よりみたときの射出瞳の張る角度で定義)
受光面サイズ 0.6x0.40mm
シフト量X=0.15mm
r1 4.00 d 1.55 n 1.52996 νd 55.8
r2 4.30 bf 4.283
本実施形態では、小型化、ローコスト化、合焦精度および露出量の検出精度を向上させるために、前述した条件式(1)〜(4)を満たすことが好ましい。
【0052】
ここで、上記数値実施例1から3における条件式(1)〜(4)の値を表1に示す。
【0053】
【表1】
【0054】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、測距光学系と測光光学系とを1つの装置として構成しても、それぞれの光学系を明るく、結像性能が良好で、ゴーストフレアー等に対して強くなることにより、測距および測光において精度が高く信頼性の高い測距・測光装置を実現することができる。
【0055】
また、一体構造としていることや、小型のローコストセンサー基板を使用することができるため、装置全体の小型化およびローコスト化に有効である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態の基線長方向断面を示す図。
【図2】上記第1実施形態の基板上の素子配置を示す図。
【図3】上記第1実施形態の開口絞り形状を示す図。
【図4】上記第1実施形態のレンズ正面を示す図。
【図5】本発明の第2実施形態の基線長方向断面を示す図。
【図6】本発明の第3実施形態の基線長断面を示す図。
【図7】上記第3実施形態の基板上の素子配置を示す図。
【図8】上記第3実施形態の開口絞り形状を示す図。
【図9】上記第3実施形態のレンズ正面を示す図。
【図10】上記第3実施形態のAFレンズの基線長直交断面を示す図。
【図11】上記第3実施形態のAEレンズの基線長直交断面を示す図。
【図12】本発明の第1実施形態を説明するための図。
【符号の説明】
1,2 AFレンズ
3 AEレンズ
4 開口絞り
5 レンズホルダー
6 センサー受光面(基板面)
7 AE光束
8,9 AF用一次元ラインセンサー
10 AEセンサー
11,12 AF信号処理回路
41,42 AF用開口部
43 AE用開口部
Claims (8)
- 撮影レンズを透過する光束とは別の光束を用いて被写体距離の検出を行うとともに、前記撮影レンズを透過する光束とは別の光束を用いて測光を行う測距・測光装置であって、
測距センサーと測光センサーとが同一基板上に配置され、かつ互いに独立に設けられた複数の測距レンズと測光レンズとが一体形成されており、
前記測距レンズを含む測距光学系は結像系であり、前記測光レンズを含む測光光学系は非結像系であることを特徴とする測距・測光装置。 - 前記測距レンズの焦点距離をfAFとし、前記測光レンズの焦点距離をfAEとしたとき、
−0.5<fAF/fAE<0.6
なる条件を満足することを特徴とする請求項1に記載の測距・測光装置。 - 前記測距レンズの実行FナンバーをAF.Fnoとし、前記測光レンズの実効FナンバーをAE.Fnoとしたとき、
1.2<AE.Fno/AF.Fno<4.0
なる条件を満足することを特徴とする請求項1に記載の測距・測光装置。 - 前記測距レンズの基線長直交方向における前記測距センサーの受光面中心と測光センサーの受光面中心との距離をXとし、前記測光センサーの受光面の基線長直交方向の幅をYとしたとき、
0.05<X/Y<2.0
なる条件を満足することを特徴とする請求項1に記載の測距・測光装置。 - 前記測距光学系に対して、前記測光光学系中に分光感度を補正する手段を有することを特徴とする請求項1に記載の測距・測光装置。
- 前記測距光学系又は前記測光光学系の基線長直交方向の実効Fナンバーが、それぞれの基線長方向の実効Fナンバーよりも小さいことを特徴とする請求項1に記載の測距・測光装置。
- 前記測距レンズの焦点距離をfAFとし、前記測距光学系の基線長をZとしたとき、
0.7<Z/fAF<1.2
なる条件を満足することを特徴とする請求項1に記載の測距・測光装置。 - 請求項1から7のいずれかに記載の測距・測光装置を備えたことを特徴とするカメラ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002167006A JP2004012863A (ja) | 2002-06-07 | 2002-06-07 | 測距・測光装置およびカメラ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2002167006A JP2004012863A (ja) | 2002-06-07 | 2002-06-07 | 測距・測光装置およびカメラ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004012863A true JP2004012863A (ja) | 2004-01-15 |
Family
ID=30434380
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002167006A Pending JP2004012863A (ja) | 2002-06-07 | 2002-06-07 | 測距・測光装置およびカメラ |
Country Status (1)
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JP (1) | JP2004012863A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7385680B2 (en) | 2004-06-03 | 2008-06-10 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Camera module |
EP2431781A2 (en) | 2010-09-15 | 2012-03-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Ranging apparatus, lens system, and imaging apparatus |
-
2002
- 2002-06-07 JP JP2002167006A patent/JP2004012863A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US7385680B2 (en) | 2004-06-03 | 2008-06-10 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Camera module |
EP2431781A2 (en) | 2010-09-15 | 2012-03-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Ranging apparatus, lens system, and imaging apparatus |
US8670657B2 (en) | 2010-09-15 | 2014-03-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Ranging apparatus, lens system, and imaging apparatus |
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