JP2003526921A - 基板熱管理システム - Google Patents

基板熱管理システム

Info

Publication number
JP2003526921A
JP2003526921A JP2001566181A JP2001566181A JP2003526921A JP 2003526921 A JP2003526921 A JP 2003526921A JP 2001566181 A JP2001566181 A JP 2001566181A JP 2001566181 A JP2001566181 A JP 2001566181A JP 2003526921 A JP2003526921 A JP 2003526921A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
heat
wafer
thermal management
heat source
temperature
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001566181A
Other languages
English (en)
Inventor
ディクラン バビキアン
Original Assignee
シリコン ヴァレイ グループ インコーポレイテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by シリコン ヴァレイ グループ インコーポレイテッド filed Critical シリコン ヴァレイ グループ インコーポレイテッド
Publication of JP2003526921A publication Critical patent/JP2003526921A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67098Apparatus for thermal treatment
    • H01L21/67103Apparatus for thermal treatment mainly by conduction
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67098Apparatus for thermal treatment
    • H01L21/67109Apparatus for thermal treatment mainly by convection
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • H01L21/67248Temperature monitoring

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Control Of Temperature (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 本発明は、広範な温度範囲に亘る効率的、迅速、制御可能、及び、一様な熱管理のための基板熱管理システムである。本熱管理システムは、熱源、熱シンク、及び、熱拡散器を統合する。本発明によると、該熱拡散器は、ウェーハ表面に対して静止して置かれ、ウェーハ表面に対して同じく静止している熱源及び熱シンクと結合される。該熱源は、異なる熱量を供給して熱拡散器に隣接する表面に亘って制御可能な温度場を形成するようになっている複数の区域を含む。該熱シンクは、温度制御可能な熱搬送媒体を含む。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】 (技術分野) 本発明は、一般にウェーハ処理の分野に関し、特に集積回路製造の間の半導体
ウェーハの迅速かつ一様な加熱と冷却に関する。
【0002】 (背景技術) ウェーハ表面に亘る温度の一様性は、製作に使用される評価工程が一般に温度
に依存するため、多くの集積回路製作段階における重要な要素である。特定の処
理においては、熱的な非一様性は、回路素子の臨界寸法の大きさを設計目標に対
して拡大し、悪影響を及ぼす可能性がある。すなわち、より小さな集積回路臨界
寸法への傾向が続くので、ウェーハ熱管理システムに対する温度の一様性の要求
は、ますます厳しくなることになる。
【0003】 例えば、以前の規格と比較して、直径数百ミリメートルのウェーハに亘る現在
の0.1℃の温度一様性要件は、温度一様性の50%の増加を表している。ウェ
ーハの加熱及び冷却ユニットは、通常約20℃から摂氏数百度までの広範な処理
作動温度に亘り、ウェーハ間で一貫した方法でそのような温度一様性の性能指数
を達成する必要がある。作動温度範囲に亘る迅速な熱の管理はまた、処理の経済
性からも必要である。
【0004】 ウェーハ処理技術においては、広範な温度範囲に亘る効率的、迅速、制御可能
、及び、一様な熱管理に対する厳しい要件は、集積装置において十分に満たされ
ていない。密接に関連する技術の例においては、別々の装置が加熱と冷却の機能
を実行するが、それは、互いに対して反対側に置かれた別々の加熱ユニット及び
冷却ユニットの単なる組合せである。これらの装置では、ウェーハは、加熱素子
と冷却素子との間に挿入され、素子間で移動される。
【0005】 そのような装置の例が図1に示されている。図1には、半導体ウェーハ110
、加熱表面120、及び、冷却面130が示されている。ウェーハと相互作用す
る高温の熱源及び低温の熱シンクは一体化されていない。それらは、むしろ、物
理的に分離されるか、又は、それ以外の方法で互いに熱的に隔離されている。半
導体ウェーハを加熱又は冷却するために、ウェーハは、目標とする機能に応じて
加熱表面及び冷却面の間の空間に機械的に移動される。これは、加熱及び冷却の
両方の機能を実行する一体型熱管理装置と比べて、製造工程の流れ及びクリーン
ルームの床スペースの利用にとって非効率的である。 すなわち、関連技術の限界のために、広範な温度範囲に亘る効率的、迅速、制
御可能、及び、一様な熱管理の方法に対する必要性が存在する。更に、定常状態
条件及び過渡的条件の両方の間に高性能をもたらし、製造環境内での容易な使用
に非常に適した装置に対する必要性が存在する。
【0006】 (発明の開示) 本発明は、広範な温度範囲に亘る効率的、迅速、制御可能、及び、一様な熱管
理のための基板熱管理システムである。 本熱管理システムの1つの目的は、熱源、熱シンク、及び、熱拡散器を統合す
ることである。本発明によれば、熱拡散器は、ウェーハ表面に対して静止して置
かれ、ウェーハ表面に対して同様に静止している熱源及び熱シンクに結合される
。熱シンクは、温度制御可能な熱搬送媒体を含む。
【0007】 本熱管理システムの別の目的は、熱源内の区域の非一様な制御によってウェー
ハ表面に亘る熱の非一様性を最小にすることである。本発明によれば、熱拡散器
は、ウェーハ表面に対して静止して置かれ、ウェーハ表面に対して同様に静止し
ている熱源及び熱シンクと結合される。熱源は、異なる熱量を供給して熱拡散器
に隣接する表面に亘って制御可能な温度場を形成するようになっている複数の区
域を含む。熱シンクは、温度制御可能な熱搬送媒体を含む。
【0008】 (発明を実施するための最良の形態) 他の特許の教示と異なり、本発明は、基板熱管理システムの熱源及び熱シンク
を一体化する。基板と相互作用する加熱ユニット及び冷却ユニットの一体化は、
広い温度範囲に亘る効率的、迅速、制御可能、及び、一様な温度管理を可能にす
るという、単なる熱源及び熱シンクの組合せ以上の付帯的な利点を有する。この
目標とする高い性能は、定常状態及び過渡期の両方の条件中で達成され、本シス
テムの装置は、製造環境内で容易に使用するのに極めて好適である。
【0009】 図2は、本発明の一実施形態による組立体を示す分解図である。この組立体は
、図2に示したもの、又は、大気圧以下のエンクロージャや大気圧以上のエンク
ロージャのような複数の装置を更に含むシステム構成要素であってもよい。しか
し、典型的な実施形態は、室内条件で作動するようになっている。 図2には、ウェーハ200、ウェーハ表面210、熱リザーバ220、熱拡散
器230、加熱表面235、熱源240、熱シンク245、電源250、制御装
置260、及び、オプションの断熱材270及び275が示されている。好まし
い実施形態は、Cu又はAlなどの等方性熱伝導率を有する材料で作られた熱拡
散器と、実質的にKapton(登録商標)で作られた断熱材270とを含む。
代替の実施形態は、非等方性熱伝導率を有する材料で作られた熱拡散器を含む。
一般に、ウェーハ表面に垂直な熱拡散器の厚さは、約0.100インチ未満であ
る。
【0010】 図2において、ウェーハは、ウェーハ表面210と加熱表面235との間の隙
間に亘って加熱される。隙間は、一般に幅が数百ミクロンであり、室内空気、窒
素、ヘリウム、又は、他の目標とする物理特性を有する気体が充填される。代替
実施形態では、隙間の幅が異なり、熱伝導率が空気よりも比較的大きな気体を有
する。熱リザーバ220、熱拡散器230、熱源240、及び、熱シンク245
は、各々、付随する熱質量Mr、Md、Ms、及び、Mskを有する。加熱表面と、
熱拡散器に隣接する熱源の表面とは、各々、付随する温度場Td及びTsを有する
。熱源、熱リザーバ、及び、熱拡散器は一体化され、熱伝導によって不可分に連
通している。一般に、熱シンク245は、一定温度であり得る制御可能な温度を
有する多量の流れる流体材料である。すなわち、熱シンク及び熱リザーバは、一
般に伝導及び対流熱伝達によって不可分に連通している。熱シンクの他の実施形
態は流れる流体に限定されず、例えば静止流体又は固体などである。
【0011】 図2において、熱シンク245は、熱管理システムの下限温度を決める。熱シ
ンクの熱質量Mskは、他の構成要素の熱質量よりもかなり大きくてもよい。異な
る実施形態では、Mskは、Mdよりも少なくとも10倍、又は、少なくとも102 倍、又は、少なくとも103倍、又は、少なくとも104倍大きい。好ましい実施
形態では、熱シンクは、工場の冷却水供給によってもたらされる一定温度の熱シ
ンクである。熱シンクの比較的大きな熱質量の熱リザーバ220への連続した結
合のために、熱リザーバは、実質的に一定かつ実質的に一様な温度の熱リザーバ
であり得る。熱リザーバの特定の実施形態では、温度の一様性を更に向上させる
機能である「infra」を含んでもよい。
【0012】 図3は、熱源240の特定実施形態を示す略図である。図3には、加熱素子3
10、加熱区域320、温度センサ325、カバー材料330、熱源表面340
、電源350、及び、制御装置360が示されている。図2に示すように、熱源
240は、熱リザーバ220と熱拡散器230とに結合される。熱源の特定実施
形態は、熱源の過熱を防ぐために、熱リザーバ及び熱シンクへの作動中の連続し
た熱結合を必要とするであろう。カバー材料330は、一般に絶縁体である。特
定実施形態は、Kapton(登録商標)などの熱抵抗性カバー材料を含む。好
ましい実施形態では、熱源と熱リザーバとの熱結合は不可分である。
【0013】 一般的に、熱源240は、図2に示す他の構成要素の熱質量と比べて比較的小
さな熱質量Msを有する電気抵抗ヒータである。異なる実施形態では、比(Ms
d)は、約10-1未満、又は、約10-2未満、又は、約10-3未満、又は、約
10-4未満である。熱源の特定実施形態は、熱源表面340上に表面温度場Ts
を生成するために少なくとも1つのヒータ区域320に包含された大きさがミリ
メートルよりも小さい金属電気抵抗加熱素子310を有するヒータである。その
ような抵抗ヒータの例としては、米国ミネソタ州ミネアポリス所在のミンコ・プ
ロダクツ・インコーポレーテッド製のThermofoil(登録商標)ヒータ
がある。一般に、熱源は、定格が100ワット/平方インチ未満であり、ポリマ
ーカバー材料を含んでもよい。ウェーハ200と垂直な方向の熱源の厚さ(図2
参照)は、一般に0.05インチ未満である。熱源の熱質量は、一般に熱拡散器
の熱質量の約1/10未満である。
【0014】 加熱区域320内の加熱素子310の特定の形態及び分布、及び、独立に制御
可能な加熱区域の数及び配置により、制御装置360が熱源240の表面上の表
面温度場Tsを調節することが可能になる。更に、熱源の電気抵抗加熱素子に供
給される電力量を制御することにより、カバー材料330と熱源が結合された別
の素子との間のインタフェースに亘って滑らかに変化し得る制御可能なエネルギ
束がもたらされる(図2参照)。熱源に埋め込まれた少なくとも1つの温度セン
サ325を使用して、Tsのフィードバック制御が達成される。特定の実施形態
では、センサ及び区域の数は同じでもよい。典型的な実施形態では、Tsを1℃
未満の範囲で一様であるように制御することができる。代替実施形態は、制御可
能に非一様なTsを有してもよい。一般に、熱源と熱シンクとの間の温度差は約
200〜300℃であるが、この数値は限定ではない。
【0015】 図2に示すように、熱源240は、ウェーハ200に面する熱拡散器230に
結合される。好ましい実施形態では、熱源及び拡散器は直接接触している。熱拡
散器は、受動的に作用し、熱が拡散器を通過する時にTs勾配のマグニチュード
を低減して加熱表面235に実質的に一様な温度場をもたらす。Tsの勾配は、
熱源240の構造に固有の長さのスケールから生じ、ウェーハの非一様な加熱を
もたらす可能性がある。加熱表面上の実質的に一様な温度場Tdは、次に、一般
に数百ミクロンの非常に狭い隙間に亘ってウェーハ表面210を加熱するように
作用する。
【0016】 図4は、本発明の一実施形態に対する熱の時間応答曲線を表すグラフである。
ウェーハ温度410と加熱表面235(図2参照)の温度との両方が示されてい
る。本実施形態は、8℃の一定温度での熱シンク、45ワット/平方インチのエ
ネルギ束を供給する熱源、及び、0.060インチ厚のアルミニウム熱拡散器を
含む。0.006インチの空隙が、温度拡散器とウェーハとの間にある。一般的
に、好ましい実施形態は、ウェーハを約60秒を超えない時間間隔で加熱又は冷
却する設計温度範囲に及んでいる。熱速度は、通常、0.5℃/秒よりも大きい
。図4では、ウェーハは、室温から150℃まで60秒未満の時間で加熱され、
150℃から室温まで約60秒間で冷却されている。典型的な実施形態では、冷
却時間は、同じ温度範囲に亘り約25%以内の範囲で加熱時間に相当する。
【0017】 図5は、本発明の一実施形態に対する熱拡散器230(図2参照)による温度
勾配の平滑化を示すグラフである。図5は、一群の温度プロフィールを含んでい
る。温度プロフィールは、熱拡散器材料内の様々な深さに対して円形熱拡散器の
半径に沿ったものである。熱源240から近位及び遠位のプロフィールが、それ
ぞれ510及び520で示されている。この実施形態では、熱源は、0.030
インチ〜0.060インチの間隔で配置された0.040インチ幅の電気抵抗ス
トリップで構成されている。熱拡散器は、0.040インチ厚のAlである。熱
拡散器とウェーハとの間には、0.006インチの空隙がある。図5に示すよう
に、加熱表面235での温度プロフィールは、約0.15℃以内の範囲で一様で
ある。
【0018】 図6は、過渡的作動の間の時間間隔に亘る本発明の一実施形態に対する熱拡散
器230(図2参照)による温度勾配の平滑化を示すグラフである。図6は、一
群の温度プロフィールを含む。温度プロフィールは、25ミリ秒の時間間隔に亘
り、熱拡散器材料内の様々な深さに対して円形熱拡散器の半径に沿ったものであ
る。熱源240から近位及び遠位のプロフィールは、それぞれ610及び620
で示されている。すなわち、図6における熱源から遠位のプロフィールは、加熱
表面235(図2参照)上の温度プロフィールである。図6の実施形態では、熱
源は、0.020インチの間隔で配置された0.020インチ幅の電気抵抗スト
リップで構成されている。熱拡散器は、0.040インチ厚のAlである。熱拡
散器とウェーハとの間には、0.006インチの空隙がある。図6に示すように
、加熱表面235での温度プロフィール620は、過渡的な時間間隔に亘って極
めて一様である。
【0019】 図7A〜図7Dは、対流熱伝達を使用することによって熱リザーバと熱源との
インタフェース(図2参照)での一様な温度場を形成するのに適する本発明の特
定の態様を示す略図である。熱シンクは、通常、液体の水のような流れている単
相流体である。代替実施形態では、静止している固体熱シンク又は気体熱シンク
が使用されてもよい。熱シンクの温度は、通常、約−40℃を超える。図7Aは
、関連技術分野からの装置の上面概略図である。図7Aには、熱リザーバ700
、流体入口701、及び、流体出口702が示されている。流体は、入口701
から入り出口702から出るが、異なる流体要素は、熱リザーバ内で異なる滞留
時間を経過する。この異なる滞留時間は、流体の有限熱伝導率に起因する熱リザ
ーバ内の流体の小さな温度勾配をもたらすことができる。流体の温度勾配は、熱
リザーバ表面上の有害な温度勾配を導く場合がある。
【0020】 本発明によると、熱リザーバの内部構造は、その内部の流体要素の滞留時間を
等しくする。更に、熱リザーバ構造は、内部流体の流れ場を加速する、又は、非
一様流を確立するように設計される。これは、熱リザーバ内の実質的に一様な流
体温度と、残りの熱管理装置(図2参照)に面する熱リザーバ表面上の対応する
実質的に一様な温度場とを達成する。 一様な温度の流体は、熱リザーバを通る流体質量流量と流体速度とを変化させ
ることによって形成される。熱リザーバの内部構造は、一様な流体温度をもたら
すために流体要素の中への一様な有効熱流束を確立する方法で流体速度を変化さ
せる。上記において、有効熱流束は、伝導及び対流からの寄与で構成される。熱
リザーバ内の一様温度流体により、残りの熱管理装置に面する熱リザーバ表面上
に実質的に一様な温度場がもたらされる。
【0021】 図7Bは、一実施形態の上面の略図であり、熱リザーバ220、オリフィス7
15、入口701、出口702、及び、プレナム710が示されている。流体は
、入口からプレナムへ入る。プレナムから出口までの流体の流れは、プレナムと
出口との間の圧力勾配によって動かされる。流れの対称性は、各流体要素が流れ
の場に実質的に同じ時間滞留することを可能にする。 図7Cは、図7Bの実施形態の断面を示す略図である。図7Cは、熱リザーバ
内の実質的に一様な流体温度を達成するために内部流体の流れ場の加速を可能に
する熱リザーバ構造の態様を示している。図7Cには、入口701、出口702
、プレナム710、オリフィス715、典型的な流線750及び760、断面積
765、インタフェース面790、及び、オプションの第2熱拡散器780が示
されている。図7Cにおいて、流体は、入口からプレナムに入り、オリフィスを
通過して典型的な流線に沿って出口まで流れるまでプレナムに滞留する。
【0022】 熱リザーバ220内で熱シンク245として働く流体が休止している場合、伝
導の原動力である温度勾配が減少するので、流体の温度は、インタフェース面7
90を横切る熱流束の作用の下で上昇する傾向にあることになる。同様に、流体
要素が図7Aに示すように熱リザーバを通って移動する時、流体要素が熱リザー
バに滞留する間のその温度のいかなる上昇も、伝導に起因する熱周囲から流体要
素への熱の流束を減少させる傾向にあることになる。すなわち、熱リザーバへの
一様な熱流束入力に対して、流体への非一様な伝導熱流束が生じる。
【0023】 対流熱伝達のマグニチュードは、流速及び温度勾配に依存する。熱リザーバの
流体流れの速度が一様な場合、対流に起因する熱流束は、伝導に起因する熱流束
と類似の方法でスケーリングされることになる。しかし、流速が熱リザーバ内で
変化する場合、対流に起因する熱流束が非一様になる可能性がある。次に組合せ
で作用すると、非一様な伝導熱流束及び非一様な対流熱流束は、一様な温度流体
をもたらすであろう。
【0024】 本発明によれば、断面積765の変化は、熱リザーバの流体速度の変化を引き
起こす。流路断面積の変化が流体流れを加速又は減速することは公知である。流
体速度が熱リザーバ内で非一様であるために、流体に対する有効熱流束は、一様
な流体温度をもたらすであろう。熱リザーバ内の一様な温度を有する流体により
、インタフェース面790での温度場もまた実質的に一様であり得る。また、熱
拡散器230(図2参照)と類似の特性を有するオプションの第2熱拡散器78
0が熱リザーバに隣接して結合されてもよく、あらゆる残りの温度の非一様性を
更に減少させるように働くであろう。
【0025】 図7D〜図7Fは、一実施形態に対する熱リザーバ部分組立体の構成要素の図
である。この実施形態においては、複数のオリフィス715を包含するリング7
70が、少なくとも1つの入口701及び出口702を有する本体792に置か
れている。カバー791が本体にボルト締めされ、部分組立体を密封してプレナ
ム710を形成する。本実施形態においては、本体表面793の形態が実質的に
流路断面積の変化を決める。 本発明が上述の実施形態に限定されないことは当業者には直ちに明白であろう
。本発明の範囲から逸脱することなく異なる構成及び実施形態を創出することが
でき、それらが特許請求の範囲に含まれるように意図されている。
【図面の簡単な説明】
【図1】 典型的な従来技術の装置を示す図である。
【図2】 本発明の組立体の一実施形態を示す分解図である。
【図3】 図2に示す装置と共に使用される熱源の一実施形態を示す略図である。
【図4】 本発明の特定の実施形態に対する熱の時間応答を示すグラフである。
【図5】 熱拡散器による温度勾配の平滑化を示すグラフである。
【図6】 過渡的作動の間の時間間隔に亘る熱拡散器による温度勾配の平滑化を示すグラ
フである。
【図7A】 対流熱伝達の使用によって熱リザーバに一様な温度場を形成するのに適する本
発明の態様を示す略図である。
【図7B】 対流熱伝達の使用によって熱リザーバに一様な温度場を形成するのに適する本
発明の態様を示す略図である。
【図7C】 対流熱伝達の使用によって熱リザーバに一様な温度場を形成するのに適する本
発明の態様を示す略図である。
【図7D】 対流熱伝達の使用によって熱リザーバに一様な温度場を形成するのに適する本
発明の態様を示す略図である。
【図7E】 対流熱伝達の使用によって熱リザーバに一様な温度場を形成するのに適する本
発明の態様を示す略図である。
【図7F】 対流熱伝達の使用によって熱リザーバに一様な温度場を形成するのに適する本
発明の態様を示す略図である。
【手続補正書】
【提出日】平成14年9月24日(2002.9.24)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項56】 ウェーハ温度は、約1℃/秒の割合で変化することを特徴
とする請求項8に記載のウェーハ熱管理装置。
【手続補正書】
【提出日】平成14年11月8日(2002.11.8)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】

Claims (56)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ウェーハ表面に対して静止して置かれ、拡散器熱質量Md
    前記ウェーハ表面を加熱する加熱表面上に温度場Tdとを有する熱拡散器と、 前記ウェーハ表面に対して静止して置かれ、Mdに等しいか又はそれ以下の熱
    源熱質量Msと前記熱拡散器に隣接する表面上にTdと異なる温度場Tsとを有す
    る熱源と、 前記ウェーハ表面に対して静止して置かれ、制御可能な温度Tskを有する熱搬
    送媒体を含み、固体材料に亘る又は液体材料及び固体材料に亘る熱伝達によって
    前記熱源及び熱拡散器に熱的に結合された熱シンクと、 前記熱源に接続された少なくとも1つの制御可能な電源と、 を含むことを特徴とするウェーハ熱管理装置。
  2. 【請求項2】 ウェーハ表面に対して静止して置かれ、リザーバ熱質量Mr
    を有し、熱搬送能力を備えた媒体を内部に包含する熱リザーバと、 前記熱リザーバ及びウェーハ表面に対して静止して置かれ、Mr未満の拡散器
    熱質量Mdと前記ウェーハ表面を加熱する加熱表面上に温度場Tdとを有する熱拡
    散器と、 前記熱拡散器と前記熱リザーバとの間に挿入され、Mdに等しいか又はそれ以
    下の熱源熱質量Msと前記熱拡散器に隣接する表面上にTdと異なる温度場Ts
    を有する熱源と、 制御可能な温度Tskを有する熱搬送媒体を含み、前記熱リザーバにより実質的
    に包含され、固体材料に亘る又は液体材料及び固体材料に亘る熱伝達によって前
    記熱源、熱リザーバ、及び、熱拡散器と熱的に結合された熱シンクと、 前記熱源に接続された少なくとも1つの制御可能な電源と、 を含むことを特徴とするウェーハ熱管理装置。
  3. 【請求項3】 ウェーハ表面に対して静止して置かれ、拡散器熱質量Md
    前記ウェーハ表面を加熱する加熱表面上に温度場Tdとを有する熱拡散器と、 異なる熱量を与えるようになっている複数の区域を含み、前記ウェーハ表面に
    対して静止して置かれ、Mdに等しいか又はそれ以下の熱源熱質量Msと前記熱拡
    散器に隣接する表面上にTdと異なる制御可能な温度場Tsとを有する熱源と、 処理を受けているウェーハに対して静止して置かれ、制御可能な温度Tskを有
    する熱搬送媒体から成り、固体材料に亘る又は液体材料及び固体材料に亘る熱伝
    達によって前記熱源及び熱拡散器と熱的に結合された熱シンクと、 前記熱源に接続された少なくとも1つの制御可能な電源と、 を含むことを特徴とするウェーハ熱管理装置。
  4. 【請求項4】 前記熱源と前記熱シンクとの間に挿入された少なくとも1つ
    の断熱材を更に含むことを特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  5. 【請求項5】 前記熱源と前記ウェーハとの間に挿入された少なくとも1つ
    の断熱材を更に含むことを特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  6. 【請求項6】 前記熱源と前記ウェーハとの間に挿入された少なくとも1つ
    の断熱材と、前記熱源と前記熱シンクとの間に挿入された少なくとも1つの断熱
    材とを更に含むことを特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  7. 【請求項7】 前記断熱材は、実質的にKapton(登録商標)材料から
    作られることを特徴とする請求項4又は請求項5のいずれか1項に記載のウェー
    ハ熱管理装置。
  8. 【請求項8】 Md/Msk<0.1であることを特徴とする請求項1に記載
    のウェーハ熱管理装置。
  9. 【請求項9】 Md/Msk<0.01であることを特徴とする請求項1に記
    載のウェーハ熱管理装置。
  10. 【請求項10】 Md/Msk<0.001であることを特徴とする請求項1
    に記載のウェーハ熱管理装置。
  11. 【請求項11】 前記熱拡散器は、等方性熱伝導率を有する材料から作られ
    ることを特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  12. 【請求項12】 前記熱拡散器は、実質的にAl又はCuから作られること
    を特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  13. 【請求項13】 前記熱拡散器は、非等方性熱伝導率を有する材料から作ら
    れることを特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  14. 【請求項14】 前記熱拡散器の前記ウェーハ表面に垂直な方向の厚さは、
    0.100インチ未満であることを特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理
    装置。
  15. 【請求項15】 前記熱拡散器の前記ウェーハ表面に垂直な方向の厚さは、
    0.050インチ未満であることを特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理
    装置。
  16. 【請求項16】 前記熱拡散器の前記ウェーハ表面に垂直な方向の厚さは、
    0.025インチ未満であることを特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理
    装置。
  17. 【請求項17】 前記熱拡散器の厚さは、0.100インチ未満であること
    を特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  18. 【請求項18】 前記熱源は、前記熱源内に埋め込まれた少なくとも1つの
    温度センサを含むことを特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  19. 【請求項19】 前記熱源は、金属電気抵抗素子を含むことを特徴とする請
    求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  20. 【請求項20】 前記熱源は、50ワット/平方インチ未満の定格を有する
    熱源であることを特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  21. 【請求項21】 前記熱源は、40ワット/平方インチ未満の定格を有する
    熱源であることを特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  22. 【請求項22】 前記熱源は、20ワット/平方インチ未満の定格を有する
    熱源であることを特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  23. 【請求項23】 前記熱源は、10ワット/平方インチ未満の定格を有する
    熱源であることを特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  24. 【請求項24】 前記熱源は、区域に分配された複数の独立制御可能な電気
    抵抗加熱素子を含むことを特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  25. 【請求項25】 前記区域は、不揃いの温度場を有することを特徴とする請
    求項24に記載のウェーハ熱管理装置。
  26. 【請求項26】 前記熱源は、ポリマー材料から成ることを特徴とする請求
    項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  27. 【請求項27】 前記熱源は、前記ウェーハと垂直な方向に0.040イン
    チ未満の厚みを有することを特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  28. 【請求項28】 前記熱源は、前記ウェーハと垂直な方向に0.030イン
    チ未満の厚みを有することを特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  29. 【請求項29】 前記熱源は、前記ウェーハと垂直な方向に0.020イン
    チ未満の厚みを有することを特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  30. 【請求項30】 Ms/Mdが約0.1以下であることを特徴とする請求項1
    に記載のウェーハ熱管理装置。
  31. 【請求項31】 Ms/Mdが約0.01以下であることを特徴とする請求項
    1に記載のウェーハ熱管理装置。
  32. 【請求項32】 Ms/Mdが約0.001以下であることを特徴とする請求
    項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  33. 【請求項33】 前記熱シンクは、半導体熱シンクであることを特徴とする
    請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  34. 【請求項34】 前記半導体熱シンクは、熱電チップであることを特徴とす
    る請求項33に記載のウェーハ熱管理装置。
  35. 【請求項35】 前記熱シンクは、液体熱シンクであることを特徴とする請
    求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  36. 【請求項36】 前記熱シンクは、水であることを特徴とする請求項35に
    記載のウェーハ熱管理装置。
  37. 【請求項37】 前記熱シンクは、ガス状熱シンクであることを特徴とする
    請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  38. 【請求項38】 前記熱シンクは、約0℃を超える温度を有することを特徴
    とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  39. 【請求項39】 前記熱シンクは、約−30℃を超える温度を有することを
    特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  40. 【請求項40】 前記熱拡散器と前記ウェーハとの間の隙間は、空気を含有
    することを特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  41. 【請求項41】 前記熱拡散器と前記ウェーハとの間の隙間は、類似の熱力
    学的条件での空気の熱伝導率よりも大きい熱伝導率を有する気体を含有すること
    を特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  42. 【請求項42】 前記ウェーハを囲む大気圧以上のチャンバを更に含むこと
    を特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  43. 【請求項43】 前記ウェーハを囲む大気圧以下のチャンバを更に含むこと
    を特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  44. 【請求項44】 請求項1に記載のウェーハ熱管理装置を少なくとも1つ含
    むことを特徴とするウェーハ処理システム。
  45. 【請求項45】 室内条件の開放環境で作動するようになっている、請求項
    1に記載のウェーハ熱管理装置を少なくとも1つ含むことを特徴とするウェーハ
    処理システム。
  46. 【請求項46】 前記熱シンクは、流体媒体を含み、 前記流体媒体は、前記熱リザーバの少なくとも1つの通路を通って流れる、 ことを特徴とする請求項2に記載のウェーハ熱管理装置。
  47. 【請求項47】 前記熱リザーバは、前記流体媒体のためのプレナムと複数
    の入口オリフィスとを含むことを特徴とする請求項46に記載のウェーハ熱管理
    装置。
  48. 【請求項48】 流体通路の断面積は、その通路に沿って変化することを特
    徴とする請求項46に記載のウェーハ熱管理装置。
  49. 【請求項49】 前記熱源と前記熱リザーバとの間に挿入された第2の熱拡
    散器を更に含むことを特徴とする請求項2に記載のウェーハ熱管理装置。
  50. 【請求項50】 前記熱シンクの温度は、制御可能かつ実質的に一定の温度
    であることを特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  51. 【請求項51】 前記熱源は、1℃未満の範囲内で空間的に一様な熱源であ
    ることを特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  52. 【請求項52】 前記熱源温度場Tsは、非一様であることを特徴とする請
    求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  53. 【請求項53】 熱源及び熱シンク間の温度差は、約200℃であることを
    特徴とする請求項1に記載のウェーハ熱管理装置。
  54. 【請求項54】 前記熱シンク温度及び熱源温度により制限される範囲のウ
    ェーハ温度は、約60秒以下の時間間隔で達成されることを特徴とする請求項5
    3に記載のウェーハ熱管理装置。
  55. 【請求項55】 ウェーハ温度は、約5秒以下の時間間隔で約21℃から約
    25℃まで変化することを特徴とする請求項53に記載のウェーハ熱管理装置。
  56. 【請求項56】 ウェーハ温度は、約1℃/秒の割合で変化することを特徴
    とする請求項8に記載のウェーハ熱管理装置。
JP2001566181A 2000-03-07 2001-02-27 基板熱管理システム Pending JP2003526921A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/519,963 US6472643B1 (en) 2000-03-07 2000-03-07 Substrate thermal management system
US09/519,963 2000-03-07
PCT/US2001/006281 WO2001067505A2 (en) 2000-03-07 2001-02-27 Substrate thermal management system

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008109410A Division JP2008252102A (ja) 2000-03-07 2008-04-18 基板熱管理システム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003526921A true JP2003526921A (ja) 2003-09-09

Family

ID=24070603

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001566181A Pending JP2003526921A (ja) 2000-03-07 2001-02-27 基板熱管理システム
JP2008109410A Pending JP2008252102A (ja) 2000-03-07 2008-04-18 基板熱管理システム

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008109410A Pending JP2008252102A (ja) 2000-03-07 2008-04-18 基板熱管理システム

Country Status (7)

Country Link
US (1) US6472643B1 (ja)
EP (2) EP1261984B1 (ja)
JP (2) JP2003526921A (ja)
KR (1) KR100752408B1 (ja)
AT (1) ATE354174T1 (ja)
DE (1) DE60126589T2 (ja)
WO (1) WO2001067505A2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008252102A (ja) * 2000-03-07 2008-10-16 Asml Holding Nv 基板熱管理システム
CN101907899A (zh) * 2010-08-03 2010-12-08 南京航空航天大学 自动铺放成型中预浸料红外辐射加热的动态温度控制方法
US9824904B2 (en) 2001-04-30 2017-11-21 Lam Research Corporation Method and apparatus for controlling spatial temperature distribution

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6414276B1 (en) 2000-03-07 2002-07-02 Silicon Valley Group, Inc. Method for substrate thermal management
WO2002089531A1 (en) * 2001-04-30 2002-11-07 Lam Research, Corporation Method and apparatus for controlling the spatial temperature distribution across the surface of a workpiece support
KR100479947B1 (ko) * 2002-06-28 2005-03-30 참이앤티 주식회사 웨이퍼 가열장치
US7846254B2 (en) * 2003-05-16 2010-12-07 Applied Materials, Inc. Heat transfer assembly
KR101343720B1 (ko) 2003-07-28 2013-12-20 가부시키가이샤 니콘 노광 장치 및 디바이스 제조 방법, 그리고 노광 장치의제어 방법
US8384874B2 (en) 2004-07-12 2013-02-26 Nikon Corporation Immersion exposure apparatus and device manufacturing method to detect if liquid on base member
CN105204296B (zh) 2004-08-03 2018-07-17 株式会社尼康 曝光装置的控制方法、曝光装置及元件制造方法
US20070190685A1 (en) * 2006-02-10 2007-08-16 Ralph Ebbutt Cooling facility and method for integrated circuit
US7808227B2 (en) * 2006-07-07 2010-10-05 Univation Technologies, Llc Systems and methods for detecting impurities in reactor systems
US7838800B2 (en) * 2006-09-25 2010-11-23 Tokyo Electron Limited Temperature controlled substrate holder having erosion resistant insulating layer for a substrate processing system
US7723648B2 (en) * 2006-09-25 2010-05-25 Tokyo Electron Limited Temperature controlled substrate holder with non-uniform insulation layer for a substrate processing system

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0325882A (ja) * 1989-06-23 1991-02-04 Tokyo Erekutoron Kyushu Kk 加熱装置
JPH05209278A (ja) * 1992-01-30 1993-08-20 Nec Corp プラズマ気相成長装置
JPH1167619A (ja) * 1997-08-08 1999-03-09 Yuasa Seisakusho:Kk 基板加熱装置
WO1999018602A1 (en) * 1997-10-08 1999-04-15 Applied Materials, Inc. Foam-based heat exchanger with heating element
JPH11121149A (ja) * 1997-10-09 1999-04-30 Ushio Inc 面状加熱装置
JPH11204402A (ja) * 1998-01-12 1999-07-30 Tokyo Electron Ltd 熱処理装置
WO1999045745A1 (en) * 1998-03-05 1999-09-10 Fsi International, Inc. Combination bake/chill apparatus incorporating low thermal mass, thermally conductive bakeplate

Family Cites Families (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3783822A (en) * 1972-05-10 1974-01-08 J Wollam Apparatus for use in deposition of films from a vapor phase
US4518848A (en) * 1981-05-15 1985-05-21 Gca Corporation Apparatus for baking resist on semiconductor wafers
FR2631165B1 (fr) * 1988-05-05 1992-02-21 Moulene Daniel Support conditionneur de temperature pour petits objets tels que des composants semi-conducteurs et procede de regulation thermique utilisant ce support
JPH06103670B2 (ja) * 1989-04-04 1994-12-14 三菱電機株式会社 半導体ウェハ加熱装置
US5151871A (en) * 1989-06-16 1992-09-29 Tokyo Electron Limited Method for heat-processing semiconductor device and apparatus for the same
JP2737010B2 (ja) * 1989-08-01 1998-04-08 キヤノン株式会社 露光装置
US5001423A (en) * 1990-01-24 1991-03-19 International Business Machines Corporation Dry interface thermal chuck temperature control system for semiconductor wafer testing
US5452177A (en) * 1990-06-08 1995-09-19 Varian Associates, Inc. Electrostatic wafer clamp
US5252807A (en) 1990-07-02 1993-10-12 George Chizinsky Heated plate rapid thermal processor
US5624590A (en) * 1993-04-02 1997-04-29 Lucent Technologies, Inc. Semiconductor processing technique, including pyrometric measurement of radiantly heated bodies and an apparatus for practicing this technique
US5595241A (en) 1994-10-07 1997-01-21 Sony Corporation Wafer heating chuck with dual zone backplane heating and segmented clamping member
US5517594A (en) * 1994-10-17 1996-05-14 Relman, Inc. Thermal reactor optimization
US5686779A (en) * 1995-03-01 1997-11-11 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army High sensitivity temperature sensor and sensor array
US5715361A (en) * 1995-04-13 1998-02-03 Cvc Products, Inc. Rapid thermal processing high-performance multizone illuminator for wafer backside heating
US5551985A (en) * 1995-08-18 1996-09-03 Torrex Equipment Corporation Method and apparatus for cold wall chemical vapor deposition
US5538758A (en) 1995-10-27 1996-07-23 Specialty Coating Systems, Inc. Method and apparatus for the deposition of parylene AF4 onto semiconductor wafers
US5775416A (en) 1995-11-17 1998-07-07 Cvc Products, Inc. Temperature controlled chuck for vacuum processing
JPH09213781A (ja) * 1996-02-01 1997-08-15 Tokyo Electron Ltd 載置台構造及びそれを用いた処理装置
US5730803A (en) 1996-02-23 1998-03-24 Applied Materials, Inc. Apparatus and method for transferring heat from a hot electrostatic chuck to an underlying cold body
JPH09260474A (ja) * 1996-03-22 1997-10-03 Sony Corp 静電チャックおよびウエハステージ
US6046439A (en) * 1996-06-17 2000-04-04 Mattson Technology, Inc. System and method for thermal processing of a semiconductor substrate
US5885353A (en) * 1996-06-21 1999-03-23 Micron Technology, Inc. Thermal conditioning apparatus
US5948283A (en) * 1996-06-28 1999-09-07 Lam Research Corporation Method and apparatus for enhancing outcome uniformity of direct-plasma processes
WO1998005060A1 (en) 1996-07-31 1998-02-05 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Multizone bake/chill thermal cycling module
US5811762A (en) 1996-09-25 1998-09-22 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Heater assembly with dual temperature control for use in PVD/CVD system
US5954982A (en) * 1997-02-12 1999-09-21 Nikon Corporation Method and apparatus for efficiently heating semiconductor wafers or reticles
US5855675A (en) * 1997-03-03 1999-01-05 Genus, Inc. Multipurpose processing chamber for chemical vapor deposition processes
US6107608A (en) * 1997-03-24 2000-08-22 Micron Technology, Inc. Temperature controlled spin chuck
JP3665826B2 (ja) * 1997-05-29 2005-06-29 Smc株式会社 基板熱処理装置
US5983644A (en) * 1997-09-29 1999-11-16 Applied Materials, Inc. Integrated bake and chill plate
US6091060A (en) 1997-12-31 2000-07-18 Temptronic Corporation Power and control system for a workpiece chuck
JP3453069B2 (ja) * 1998-08-20 2003-10-06 東京エレクトロン株式会社 基板温調装置
US6270580B2 (en) 1999-04-12 2001-08-07 Advanced Micro Devices, Inc. Modified material deposition sequence for reduced detect densities in semiconductor manufacturing
US6472643B1 (en) * 2000-03-07 2002-10-29 Silicon Valley Group, Inc. Substrate thermal management system

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0325882A (ja) * 1989-06-23 1991-02-04 Tokyo Erekutoron Kyushu Kk 加熱装置
JPH05209278A (ja) * 1992-01-30 1993-08-20 Nec Corp プラズマ気相成長装置
JPH1167619A (ja) * 1997-08-08 1999-03-09 Yuasa Seisakusho:Kk 基板加熱装置
WO1999018602A1 (en) * 1997-10-08 1999-04-15 Applied Materials, Inc. Foam-based heat exchanger with heating element
JPH11121149A (ja) * 1997-10-09 1999-04-30 Ushio Inc 面状加熱装置
JPH11204402A (ja) * 1998-01-12 1999-07-30 Tokyo Electron Ltd 熱処理装置
WO1999045745A1 (en) * 1998-03-05 1999-09-10 Fsi International, Inc. Combination bake/chill apparatus incorporating low thermal mass, thermally conductive bakeplate

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008252102A (ja) * 2000-03-07 2008-10-16 Asml Holding Nv 基板熱管理システム
US9824904B2 (en) 2001-04-30 2017-11-21 Lam Research Corporation Method and apparatus for controlling spatial temperature distribution
CN101907899A (zh) * 2010-08-03 2010-12-08 南京航空航天大学 自动铺放成型中预浸料红外辐射加热的动态温度控制方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2001067505A3 (en) 2002-04-18
DE60126589D1 (de) 2007-03-29
ATE354174T1 (de) 2007-03-15
WO2001067505A2 (en) 2001-09-13
KR20030009383A (ko) 2003-01-29
EP1770759A3 (en) 2007-05-02
EP1261984B1 (en) 2007-02-14
US6472643B1 (en) 2002-10-29
DE60126589T2 (de) 2007-11-22
EP1770759A2 (en) 2007-04-04
JP2008252102A (ja) 2008-10-16
EP1261984A2 (en) 2002-12-04
KR100752408B1 (ko) 2007-08-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2008252102A (ja) 基板熱管理システム
JP4741562B2 (ja) 基板熱管理の方法
US7311782B2 (en) Apparatus for active temperature control of susceptors
US6018616A (en) Thermal cycling module and process using radiant heat
US20190326138A1 (en) Ceramic wafer heater with integrated pressurized helium cooling
US7952049B2 (en) Method for multi-step temperature control of a substrate
EP1868724B1 (en) Thermocycling of a block comprising multiple sample
KR100880132B1 (ko) 작업편 지지체의 표면을 가로지르는 공간 온도 분포를제어하기 위한 방법 및 장치
US20110284505A1 (en) Apparatus and method for temperature control of a semiconductor substrate support
KR20080114795A (ko) 멀티 존 기판 온도 제어 시스템 및 그 조작 방법
EP3160649A2 (en) Floating thermal contact enabled pcr
US20190326139A1 (en) Ceramic wafer heater having cooling channels with minimum fluid drag
JP2020080365A (ja) ウェハーステージ、半導体製造装置、ウェハーステージの製造方法
EP0603411A4 (en) Heel support for an overtaking and rewinder.
US6508062B2 (en) Thermal exchanger for a wafer chuck
JP2006064365A (ja) 温度調節装置
JP2005214782A (ja) マイクロ流体デバイス反応用温度調節器
US6735378B1 (en) Pressure controlled heat source and method for using such for RTP
WO1999018602A1 (en) Foam-based heat exchanger with heating element
WO2021216520A1 (en) Thermal interface for thermal leveler

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060710

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061005

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20061005

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20061005

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061124

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20061124

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061129

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070109

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20061025

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20070322

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070522

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20070803

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20070822

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070830

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070907

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20070925

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071010

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20071011

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071022

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20071221

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080418

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20080501

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20080808