JP2003516083A - プロセス、電圧、および温度に対してフィルタ回路を自動的に同調させる方法および回路 - Google Patents
プロセス、電圧、および温度に対してフィルタ回路を自動的に同調させる方法および回路Info
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H11/00—Networks using active elements
- H03H11/02—Multiple-port networks
- H03H11/04—Frequency selective two-port networks
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03J—TUNING RESONANT CIRCUITS; SELECTING RESONANT CIRCUITS
- H03J2200/00—Indexing scheme relating to tuning resonant circuits and selecting resonant circuits
- H03J2200/10—Tuning of a resonator by means of digitally controlled capacitor bank
Landscapes
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 プロセス、電圧、および温度の変動を補償するためにフィルタ回路を自動的に同調させる回路および方法が開示される。
【解決手段】 このフィルタ回路は1以上のNビットキャパシタアレイを含む。この回路は、校正回路および同調回路を含む。この校正回路は、抵抗器と、N個の入力データビットを受信するように校正される少なくともN個のキャパシタを有するキャパシタアレイを含む。少なくともN個のキャパシタの各々は入力データビットと関連している。この校正回路は、入力データビットに応じて入力電圧信号を積分し、キャパシタの各々を同調させるために出力信号を発生するように構成される。この同調回路は、キャパシタアレイを同調させるために入力データビットを校正回路に供給するように結合され、N個のキャパシタの各々に対するデータビット値を決定して設定することによって出力信号に応じてN個のキャパシタを逐次同調させるように構成される。同調回路は、他の残りのキャパシタを同調させるために同調データビット値を関連キャパシタに供給する。全データビットが同調される場合、これらのデータビットは、プロセス、電圧、および温度の変動を補償するためにフィルタ回路に供給される。
Description
【0001】
(発明の背景)
(1.発明の分野)
本発明は一般に同調回路の分野に関するものである。より詳細には、本発明は
、プロセス、電圧、および温度の変動に対してフィルタ回路を同調させる同調回
路に関するものである。
、プロセス、電圧、および温度の変動に対してフィルタ回路を同調させる同調回
路に関するものである。
【0002】
(2.関連技術の説明)
最近の集積回路(IC)チップは、しばしば好ましくない信号を取り除くため
にフィルタ回路を含んでいる。例えば、ビデオ信号処理では、エイリアス防止フ
ィルタは、好ましくない雑音成分を関心のあるベースバンド信号を歪ませること
から取り除くために連続時間アナログ信号のディジタル化より前に用いられるこ
とが多い。ビデオ信号処理用途のためのエイリアス防止フィルタは、一般的には
大きな固定部と並列に2進重み付けキャパシタを有するキャパシタのアレイを含
んでいる。このキャパシタアレイは、実際にディジタル信号をアナログ等価物に
変換するキャパシタディジタル/アナログ変換器(DAC)である。
にフィルタ回路を含んでいる。例えば、ビデオ信号処理では、エイリアス防止フ
ィルタは、好ましくない雑音成分を関心のあるベースバンド信号を歪ませること
から取り除くために連続時間アナログ信号のディジタル化より前に用いられるこ
とが多い。ビデオ信号処理用途のためのエイリアス防止フィルタは、一般的には
大きな固定部と並列に2進重み付けキャパシタを有するキャパシタのアレイを含
んでいる。このキャパシタアレイは、実際にディジタル信号をアナログ等価物に
変換するキャパシタディジタル/アナログ変換器(DAC)である。
【0003】
従来のフィルタでは、キャパシタDACは、一般的に抵抗器―キャパシタ(R
C)フィルタ形態で1つあるいはそれ以上の抵抗器と併用される。当技術で周知
であるように、単一チップ上のキャパシタおよび抵抗器の使用は、プロセス、電
圧、および/または温度の変動によりRC積変化を生じる。例えば、フィルタの
キャパシタおよび抵抗器は、一般的には製造工程中に固有のプロセスの変動によ
りチップの仕様書に正確に合わせて製造されない。同様に、チップの供給電圧の
変動はRC積変化に影響を及ぼす。同様に、ICチップは、動作中熱を発生し、
それによってRC積値をずらす。
C)フィルタ形態で1つあるいはそれ以上の抵抗器と併用される。当技術で周知
であるように、単一チップ上のキャパシタおよび抵抗器の使用は、プロセス、電
圧、および/または温度の変動によりRC積変化を生じる。例えば、フィルタの
キャパシタおよび抵抗器は、一般的には製造工程中に固有のプロセスの変動によ
りチップの仕様書に正確に合わせて製造されない。同様に、チップの供給電圧の
変動はRC積変化に影響を及ぼす。同様に、ICチップは、動作中熱を発生し、
それによってRC積値をずらす。
【0004】
理解できるように、このようなRC積の変動はフィルタの性能に悪影響を及ぼ
す。特に、能動RCフィルタ遮断周波数は受動フィルタ素子のRC積に逆比例に
従う。フィルタ抵抗器およびキャパシタの正規の変動は±50%以上のRC積変
化を生じる。このようなRC積の変化はフィルタ遮断特性の変動を生じ、それに
よって不安定な結果としばしば予測できない結果をもたらす。プロセス、電圧、
および/または温度の変動によって引き起こされるRC積変化を補償するために
、従来の技術は、一般的には、複雑で、高価なソフトウェアおよび/またはハー
ドウェアを使用することによってフィルタのキャパシタDACを同調させた。
す。特に、能動RCフィルタ遮断周波数は受動フィルタ素子のRC積に逆比例に
従う。フィルタ抵抗器およびキャパシタの正規の変動は±50%以上のRC積変
化を生じる。このようなRC積の変化はフィルタ遮断特性の変動を生じ、それに
よって不安定な結果としばしば予測できない結果をもたらす。プロセス、電圧、
および/または温度の変動によって引き起こされるRC積変化を補償するために
、従来の技術は、一般的には、複雑で、高価なソフトウェアおよび/またはハー
ドウェアを使用することによってフィルタのキャパシタDACを同調させた。
【0005】
前述のことから見て、必要されるものは、プロセス、電圧、および温度の変動
に対する一定のRC特性を提供するためにRC回路を自動的に同調させる回路お
よび方法である。
に対する一定のRC特性を提供するためにRC回路を自動的に同調させる回路お
よび方法である。
【0006】
(発明の概要)
大まかに言って、本発明は、プロセス、電圧、および温度の変動に対して一定
のRC特性を提供するフィルタ回路を自動的に同調させる回路および方法を提供
することによってこれらの要求を満たす。本発明は、製法、装置、システム、機
器、あるいは方法を含む多数の方法で実施できることを理解すべきである。
のRC特性を提供するフィルタ回路を自動的に同調させる回路および方法を提供
することによってこれらの要求を満たす。本発明は、製法、装置、システム、機
器、あるいは方法を含む多数の方法で実施できることを理解すべきである。
【0007】
一実施形態では、本発明は、プロセス、電圧、および温度の変動を補償するた
めにフィルタ回路を同調させる回路を提供する。このフィルタ回路は1つあるい
はそれ以上のNビットキャパシタアレイを含む。この回路は校正回路および同調
回路を含む。この校正回路は、抵抗器と、N個の入力データビットを受信するよ
うに校正される少なくともN個のキャパシタを有するキャパシタアレイとを含ん
でいる。このキャパシタは、好ましくは2N個のキャパシタを含むが、わずかN
個の2進の重み付けキャパシタを有してもよい。N個のキャパシタの各々は入力
データビットに関連している。この校正回路は、入力データビットに応じて入力
電圧信号を積分し、キャパシタの各々を同調させるために出力信号を発生するよ
うに構成される。同調回路は、キャパシタアレイを同調させるために入力データ
ビットを校正回路に供給するように結合され、N個のキャパシタの各々に対する
データビット値を決定して設定することによって出力信号に応じてN個のキャパ
シタを逐次同調させるように構成される。この同調回路は、他の残りのキャパシ
タを同調させるために同調データビット値を関連キャパシタに供給する。全デー
タビットが同調される場合、これらのビットは、プロセス、電圧、および温度の
変動を補償するためにフィルタ回路に供給される。
めにフィルタ回路を同調させる回路を提供する。このフィルタ回路は1つあるい
はそれ以上のNビットキャパシタアレイを含む。この回路は校正回路および同調
回路を含む。この校正回路は、抵抗器と、N個の入力データビットを受信するよ
うに校正される少なくともN個のキャパシタを有するキャパシタアレイとを含ん
でいる。このキャパシタは、好ましくは2N個のキャパシタを含むが、わずかN
個の2進の重み付けキャパシタを有してもよい。N個のキャパシタの各々は入力
データビットに関連している。この校正回路は、入力データビットに応じて入力
電圧信号を積分し、キャパシタの各々を同調させるために出力信号を発生するよ
うに構成される。同調回路は、キャパシタアレイを同調させるために入力データ
ビットを校正回路に供給するように結合され、N個のキャパシタの各々に対する
データビット値を決定して設定することによって出力信号に応じてN個のキャパ
シタを逐次同調させるように構成される。この同調回路は、他の残りのキャパシ
タを同調させるために同調データビット値を関連キャパシタに供給する。全デー
タビットが同調される場合、これらのビットは、プロセス、電圧、および温度の
変動を補償するためにフィルタ回路に供給される。
【0008】
もう一つの実施形態では、本発明は、抵抗器および1つあるいはそれ以上のN
ビットのキャパシタアレイを有する回路のプロセス、電圧、および/または温度
の変動を補償する方法を提供する。この方法は、(a)結合されるNビットのキ
ャパシタアレイおよび抵抗器を有する校正回路を提供することであって、Nビッ
トキャパシタアレイがキャパシタのセットを有し、キャパシタのセットが各サブ
セットが入力データビットに関連しているN個のサブセットのキャパシタを有す
ることと;(b)入力電圧信号およびN個の入力データビットをNビットキャパ
シタアレイに供給することであって、1入力ビットがN個のサブセットのキャパ
シタの各々のためのものであることと;(c)入力電圧信号を入力データビット
に応じて積分し、キャパシタの各々を同調させるために出力信号を発生し;およ
び(d)N個のサブセットのキャパシタの各々に対するデータビット値を決定し
て設定することによって出力電圧信号に応じてN個のサブセットのキャパシタを
連続して同調させることとを含み、データビットが関連のサブセットのキャパシ
タに対して同調される場合、同調データビット値は他の残りのサブセットのキャ
パシタを同調させるために関連のサブセットのキャパシタに供給される。キャパ
シタアレイは、好ましくは2N個のキャパシタを含むが、わずかN個の2進重み
付けキャパシタを有してもよい。
ビットのキャパシタアレイを有する回路のプロセス、電圧、および/または温度
の変動を補償する方法を提供する。この方法は、(a)結合されるNビットのキ
ャパシタアレイおよび抵抗器を有する校正回路を提供することであって、Nビッ
トキャパシタアレイがキャパシタのセットを有し、キャパシタのセットが各サブ
セットが入力データビットに関連しているN個のサブセットのキャパシタを有す
ることと;(b)入力電圧信号およびN個の入力データビットをNビットキャパ
シタアレイに供給することであって、1入力ビットがN個のサブセットのキャパ
シタの各々のためのものであることと;(c)入力電圧信号を入力データビット
に応じて積分し、キャパシタの各々を同調させるために出力信号を発生し;およ
び(d)N個のサブセットのキャパシタの各々に対するデータビット値を決定し
て設定することによって出力電圧信号に応じてN個のサブセットのキャパシタを
連続して同調させることとを含み、データビットが関連のサブセットのキャパシ
タに対して同調される場合、同調データビット値は他の残りのサブセットのキャ
パシタを同調させるために関連のサブセットのキャパシタに供給される。キャパ
シタアレイは、好ましくは2N個のキャパシタを含むが、わずかN個の2進重み
付けキャパシタを有してもよい。
【0009】
さらにもう一つの実施形態では、プロセス、電圧、および/または温度の変動
を補償するためにフィルタ回路を同調させる方法が提供される。このフィルタ回
路は、少なくともN個のキャパシタを含み、抵抗器に結合されるキャパシタアレ
イを含む。N個のキャパシタの各々は入力データビットに関連している。この方
法では、入力電圧信号およびN個の入力データビットはNビットキャパシタアレ
イに供給され、1つの入力データビットは各キャパシタのためのものである。こ
の入力電圧信号は、キャパシタの各々を同調させるために出力信号を発生するよ
うに入力データビットに応じて積分される。N個のキャパシタは、N個のキャパ
シタの各々に対するデータビット値を決定して設定することによって出力電圧に
応じて連続して同調される。データビットが関連キャパシタに対して同調される
場合、同調データビット値は他の残りのキャパシタを同調させるために関連キャ
パシタに供給される。
を補償するためにフィルタ回路を同調させる方法が提供される。このフィルタ回
路は、少なくともN個のキャパシタを含み、抵抗器に結合されるキャパシタアレ
イを含む。N個のキャパシタの各々は入力データビットに関連している。この方
法では、入力電圧信号およびN個の入力データビットはNビットキャパシタアレ
イに供給され、1つの入力データビットは各キャパシタのためのものである。こ
の入力電圧信号は、キャパシタの各々を同調させるために出力信号を発生するよ
うに入力データビットに応じて積分される。N個のキャパシタは、N個のキャパ
シタの各々に対するデータビット値を決定して設定することによって出力電圧に
応じて連続して同調される。データビットが関連キャパシタに対して同調される
場合、同調データビット値は他の残りのキャパシタを同調させるために関連キャ
パシタに供給される。
【0010】
好ましくは、データビットは、最上位ビットから最下位ビットまでの連続近似
方法を使用して連続して同調される。データビットを最上位ビットから最下位ビ
ットまで連続して設定することによって、積分出力信号の電圧範囲は、目標電圧
が積分時間trefの終わりに達するまで二等分によって連続して狭くされる。
このように発生された同調データビットは、フィルタ回路の性能がプロセス、電
圧、および温度とはほぼ無関係であるように効果的に定RC積を供給する。本発
明の他の態様および長所は、本発明の原理を例として示す添付図面とともに行わ
れる下記の詳細な説明から明らかになる。
方法を使用して連続して同調される。データビットを最上位ビットから最下位ビ
ットまで連続して設定することによって、積分出力信号の電圧範囲は、目標電圧
が積分時間trefの終わりに達するまで二等分によって連続して狭くされる。
このように発生された同調データビットは、フィルタ回路の性能がプロセス、電
圧、および温度とはほぼ無関係であるように効果的に定RC積を供給する。本発
明の他の態様および長所は、本発明の原理を例として示す添付図面とともに行わ
れる下記の詳細な説明から明らかになる。
【0011】
(好ましい実施形態の詳細な説明)
本発明は、プロセス、電圧、および温度の変動に対する一定RC特性を供給す
るようにフィルタ回路を自動的に同調させる回路および方法に対して記載されて
いる。しかしながら、本発明はいくつかあるいは全てのこれらの特定の詳細なし
に実施されてもよいことは当業者に明らかである。他の例では、周知の回路、シ
ステム、およびプロセス動作は、本発明を不必要に不明瞭にしないように詳細に
記載されていない。
るようにフィルタ回路を自動的に同調させる回路および方法に対して記載されて
いる。しかしながら、本発明はいくつかあるいは全てのこれらの特定の詳細なし
に実施されてもよいことは当業者に明らかである。他の例では、周知の回路、シ
ステム、およびプロセス動作は、本発明を不必要に不明瞭にしないように詳細に
記載されていない。
【0012】
本発明は、フィルタ回路の遮断周波数を定特性に近づくように同調させる同調
回路および方法を提供する。本発明の同調回路および方法は、連続近似アルゴリ
ズムを実施し、校正回路を使用してキャパシタDACの最適設定を決定する。次
に、最適設定は、フィルタ抵抗器およびキャパシタ素子のプロセス、電圧、およ
び温度の変動を補償するためにフィルタ回路に供給される。
回路および方法を提供する。本発明の同調回路および方法は、連続近似アルゴリ
ズムを実施し、校正回路を使用してキャパシタDACの最適設定を決定する。次
に、最適設定は、フィルタ抵抗器およびキャパシタ素子のプロセス、電圧、およ
び温度の変動を補償するためにフィルタ回路に供給される。
【0013】
図1は、本発明の一実施形態による1つあるいはそれ以上のフィルタ回路10
4を同調させるチューナ回路102を示す。チューナ回路102は、ライン10
8を介して基準電圧Vref、ライン110を介してクロック信号CLK、およ
びライン112上のリセット信号RESETを受信する。これらの信号に応じて
、チューナ回路102は、チューナ回路102内の校正回路(図示せず)を同調
させ、同調データワードb[3:0]を発生する。次に、チューナ回路102は
、データバス106を介して同調データワードb[3:0]をフィルタ回路10
4に供給する。下記に詳述されるように、同調データワードb[3:0]は、プ
ロセス、電圧、および/または温度の変動を補償するように決定されて設定され
る。
4を同調させるチューナ回路102を示す。チューナ回路102は、ライン10
8を介して基準電圧Vref、ライン110を介してクロック信号CLK、およ
びライン112上のリセット信号RESETを受信する。これらの信号に応じて
、チューナ回路102は、チューナ回路102内の校正回路(図示せず)を同調
させ、同調データワードb[3:0]を発生する。次に、チューナ回路102は
、データバス106を介して同調データワードb[3:0]をフィルタ回路10
4に供給する。下記に詳述されるように、同調データワードb[3:0]は、プ
ロセス、電圧、および/または温度の変動を補償するように決定されて設定され
る。
【0014】
図2は、本発明の一実施形態によるフィルタ回路104のより詳細な概略図を
示す。このフィルタ回路104は、一対の抵抗器Rf1およびRf2と、一対の
キャパシタアレイ202と、演算増幅器(オペアンプ)204とを含んでいる。
抵抗器Rf1およびRf2はノード206で直列に結合される。抵抗器Rf2は
、ノード208でオペアンプ204の入力ノードに結合される。このオペアンプ
204は出力ノード210で出力を発生する。図示されたフィルタ回路104は
ローパスフィルタであるけれども、本発明は、ハイパスフィルタ、バンドパスフ
ィルタ、およびオールパスフィルタのようないかなる適当な種類のフィルタにも
適用される。
示す。このフィルタ回路104は、一対の抵抗器Rf1およびRf2と、一対の
キャパシタアレイ202と、演算増幅器(オペアンプ)204とを含んでいる。
抵抗器Rf1およびRf2はノード206で直列に結合される。抵抗器Rf2は
、ノード208でオペアンプ204の入力ノードに結合される。このオペアンプ
204は出力ノード210で出力を発生する。図示されたフィルタ回路104は
ローパスフィルタであるけれども、本発明は、ハイパスフィルタ、バンドパスフ
ィルタ、およびオールパスフィルタのようないかなる適当な種類のフィルタにも
適用される。
【0015】
継続して図2を参照すると、キャパシタアレイ202の中の1つはノード20
6および210に結合されるのに対して、他のキャパシタアレイ202はオペア
ンプの入力ノード208に結合される。両方のキャパシタアレイ202は、同調
データワードb[3:0]を受信するようにデータバス106に結合される。本
発明は4ビットのデータワードを使用して示されているけれども、本発明は、1
よりも大きいかあるいは等しい任意の適当な整数のビットのデータバスも使用で
きる。
6および210に結合されるのに対して、他のキャパシタアレイ202はオペア
ンプの入力ノード208に結合される。両方のキャパシタアレイ202は、同調
データワードb[3:0]を受信するようにデータバス106に結合される。本
発明は4ビットのデータワードを使用して示されているけれども、本発明は、1
よりも大きいかあるいは等しい任意の適当な整数のビットのデータバスも使用で
きる。
【0016】
動作において、入力電圧は抵抗器Rf1に印加される場合、フィルタ回路は、
入力電圧Vinをフィルタリングし、フィルタ回路104の伝達関数に従って出
力ノード210でフィルタリング出力電圧を発生する。下記に詳述されるように
、キャパシタアレイ202に印加された同調ワードb[3:0]の同調ビットに
よって、伝達関数のRC積はプロセス、電圧、および/または温度の変動に対し
てほぼ一定にすることができる。RC積は一定のままであるので、伝達関数も周
波数の関数としてほぼ一定のままである。
入力電圧Vinをフィルタリングし、フィルタ回路104の伝達関数に従って出
力ノード210でフィルタリング出力電圧を発生する。下記に詳述されるように
、キャパシタアレイ202に印加された同調ワードb[3:0]の同調ビットに
よって、伝達関数のRC積はプロセス、電圧、および/または温度の変動に対し
てほぼ一定にすることができる。RC積は一定のままであるので、伝達関数も周
波数の関数としてほぼ一定のままである。
【0017】
一実施形態では、フィルタ回路104は、下記のようにバターワースサレンお
よびケイの4次フィルタのs領域伝達関数によって記述できる。
よびケイの4次フィルタのs領域伝達関数によって記述できる。
【0018】
【数1】
ここで、Kはフィルタの利得であり、sは2πf・jに等しい。分かるように
、RC積が一定のままである場合、フィルタ特性および遮断周波数は一定のまま
である。フィルタのRC積はプロセス、電圧、および温度によって決まるので、
RC積が変動に対して一定量でない場合、遮断周波数は実質的に変動してもよい
。したがって、フィルタのRC積がキャパシタンスを調整することによって一定
に同調できる場合、遮断周波数は一定であってもよい。
、RC積が一定のままである場合、フィルタ特性および遮断周波数は一定のまま
である。フィルタのRC積はプロセス、電圧、および温度によって決まるので、
RC積が変動に対して一定量でない場合、遮断周波数は実質的に変動してもよい
。したがって、フィルタのRC積がキャパシタンスを調整することによって一定
に同調できる場合、遮断周波数は一定であってもよい。
【0019】
図3は、本発明の一実施形態によるチューナ回路102のより詳細な概略図を
示している。チューナ回路102は、同調論理回路302と、タイミング論理回
路304と、校正回路306とを含んでいる。このタイミング論理回路304お
よび同調論理回路302は、共に校正回路306を制御する同調回路を含む。タ
イミング論理回路304は、クロック信号CLKおよびリセット信号RESET
を受信する。CLK信号およびRESET信号に応じて、タイミング論理回路3
04は他のリセット信号RSTを発生する。リセット信号RSTは、校正回路3
06をリセットするように供給される。
示している。チューナ回路102は、同調論理回路302と、タイミング論理回
路304と、校正回路306とを含んでいる。このタイミング論理回路304お
よび同調論理回路302は、共に校正回路306を制御する同調回路を含む。タ
イミング論理回路304は、クロック信号CLKおよびリセット信号RESET
を受信する。CLK信号およびRESET信号に応じて、タイミング論理回路3
04は他のリセット信号RSTを発生する。リセット信号RSTは、校正回路3
06をリセットするように供給される。
【0020】
さらに、タイミング論理回路304は、時間信号trefおよびスタート信号
STARTを発生する。時間信号trefは、いつ信号をサンプリングするかを
示すために、好ましくは等しい時間間隔で周期的に発生される。例えば、tre
fがアサートされる場合、比較器308は、サンプリングするためにRESUL
T信号をチューニング論理回路302に出力する。一方、START信号は、同
調動作の開始を示すために同調論理回路302に供給される。同調論理回路30
2は、同調のために入力データビットを校正回路306に連続して供給する。
STARTを発生する。時間信号trefは、いつ信号をサンプリングするかを
示すために、好ましくは等しい時間間隔で周期的に発生される。例えば、tre
fがアサートされる場合、比較器308は、サンプリングするためにRESUL
T信号をチューニング論理回路302に出力する。一方、START信号は、同
調動作の開始を示すために同調論理回路302に供給される。同調論理回路30
2は、同調のために入力データビットを校正回路306に連続して供給する。
【0021】
連続して図3を参照すると、校正回路306は、積分器307と、比較器30
8と、キャパシタアレイ310と、抵抗器R1と、乗算器312と、インバータ
314とを含んでいる。乗算器312は、比較器308の負の入力ポートに結合
される。インバータ314および抵抗器R1は直列に結合される。抵抗器R1は
、加算ノード318で積分器307の負の入力ポートに結合される。積分器30
7の出力は、ノード320で比較器308の正の入力ポートに結合される。キャ
パシタアレイ310は、ノード318および320で積分器307に並列に結合
される。スイッチ316は、ノード318および320にも結合され、積分器を
リセットするためにリセット信号RSTをタイミング論理回路304から受信す
るように構成される。この積分器307は、演算増幅器のような任意の適当な積
分装置を使用して実行されてもよい。
8と、キャパシタアレイ310と、抵抗器R1と、乗算器312と、インバータ
314とを含んでいる。乗算器312は、比較器308の負の入力ポートに結合
される。インバータ314および抵抗器R1は直列に結合される。抵抗器R1は
、加算ノード318で積分器307の負の入力ポートに結合される。積分器30
7の出力は、ノード320で比較器308の正の入力ポートに結合される。キャ
パシタアレイ310は、ノード318および320で積分器307に並列に結合
される。スイッチ316は、ノード318および320にも結合され、積分器を
リセットするためにリセット信号RSTをタイミング論理回路304から受信す
るように構成される。この積分器307は、演算増幅器のような任意の適当な積
分装置を使用して実行されてもよい。
【0022】
この形態では、キャパシタアレイ310は、入力データビットをデータバス3
18を介して同調論理回路302から受信する。下記により詳細に記載されてい
るように、同調論理回路302は、キャパシタアレイ310のキャパシタを逐次
同調させるために入力データビットを連続して供給する。動作において、基準電
圧Vrefが入力ノード322に印加される場合、乗算器312は、入力基準電
圧Vrefを定数kと乗算し、比較器308の負の入力ポートに入力するために
他の基準電圧kVrefを発生する。
18を介して同調論理回路302から受信する。下記により詳細に記載されてい
るように、同調論理回路302は、キャパシタアレイ310のキャパシタを逐次
同調させるために入力データビットを連続して供給する。動作において、基準電
圧Vrefが入力ノード322に印加される場合、乗算器312は、入力基準電
圧Vrefを定数kと乗算し、比較器308の負の入力ポートに入力するために
他の基準電圧kVrefを発生する。
【0023】
一方、インバータ314は、そのとき抵抗器R1に供給される基準電圧Vre
fを受信し、反転する。分かるように、加算ノード318に流れ込む電流iは、
このようにVref/R1に等しい。積分器307は、電流iを時間の関数とし
て積分し、(Vref/RC)*tとして規定される積分出力電圧Vintを発
生し、ここでRは抵抗器R1の抵抗値であり、Cはキャパシタアレイ310のキ
ャパシタンス値であり、tは時間である。次に、積分出力電圧Vintは比較器
308の正の入力ノードに供給される。比較器308は、入力電圧kVrefお
よびVintを比較し、時間trefで比較の結果を示す出力信号RESULT
を発生する。時間trefは、好ましくは整数のクロックサイクルであり、相互
作用時間を示す。すなわち、trefは、積分が開始されてから、比較器がラッ
チされるまでの時間である。クロックは、精度基準であり、時間の関数としてV
intの傾斜を設定する。
fを受信し、反転する。分かるように、加算ノード318に流れ込む電流iは、
このようにVref/R1に等しい。積分器307は、電流iを時間の関数とし
て積分し、(Vref/RC)*tとして規定される積分出力電圧Vintを発
生し、ここでRは抵抗器R1の抵抗値であり、Cはキャパシタアレイ310のキ
ャパシタンス値であり、tは時間である。次に、積分出力電圧Vintは比較器
308の正の入力ノードに供給される。比較器308は、入力電圧kVrefお
よびVintを比較し、時間trefで比較の結果を示す出力信号RESULT
を発生する。時間trefは、好ましくは整数のクロックサイクルであり、相互
作用時間を示す。すなわち、trefは、積分が開始されてから、比較器がラッ
チされるまでの時間である。クロックは、精度基準であり、時間の関数としてV
intの傾斜を設定する。
【0024】
図示された実施形態では、比較器308は、タイミング論理回路304からの
tref信号に応じて出力信号RESULTを出力する。tref信号は、比較
器308をトリガーして、比較結果を示すRESULT信号をチューニング論理
回路302に出力する。チューニング論理回路302は、その信号に応答して、
キャパシタアレイ310を同調するために入力データビットを設定する。タイミ
ング論理回路304からのリセット信号RSTは、比較器308から出力信号を
出力する際に積分器307をリセットするようにスイッチ316を制御する。同
時に、同調論理回路は、次のキャパシタを同調させるために入力データビットの
次のセットをキャパシタアレイ310に供給する。一旦全ビットが同調されると
、同調論理回路302は、バス318を介して同調ビット値を4ビットラッチ3
22に供給する。ラッチ322は、同調データワードを記憶し、このデータをデ
ータバス106を介してフィルタ回路104に供給する。
tref信号に応じて出力信号RESULTを出力する。tref信号は、比較
器308をトリガーして、比較結果を示すRESULT信号をチューニング論理
回路302に出力する。チューニング論理回路302は、その信号に応答して、
キャパシタアレイ310を同調するために入力データビットを設定する。タイミ
ング論理回路304からのリセット信号RSTは、比較器308から出力信号を
出力する際に積分器307をリセットするようにスイッチ316を制御する。同
時に、同調論理回路は、次のキャパシタを同調させるために入力データビットの
次のセットをキャパシタアレイ310に供給する。一旦全ビットが同調されると
、同調論理回路302は、バス318を介して同調ビット値を4ビットラッチ3
22に供給する。ラッチ322は、同調データワードを記憶し、このデータをデ
ータバス106を介してフィルタ回路104に供給する。
【0025】
一実施形態では、出力信号RESULTは2つの論理状態の中の1つを有する
ことを理解すべきである。すなわち、VintがkVrefよりも大きい場合、
RESULTは単に論理「1」である。しかしながら、VintがkVrefよ
りも大きくない場合、RESULTは論理「0」である。キャパシタを同調させ
るために論理信号RESULTを使用することによって、ハードウェアおよびソ
フトウェアによるチューニング論理回路の設計を実質的に簡易にすることができ
る。
ことを理解すべきである。すなわち、VintがkVrefよりも大きい場合、
RESULTは単に論理「1」である。しかしながら、VintがkVrefよ
りも大きくない場合、RESULTは論理「0」である。キャパシタを同調させ
るために論理信号RESULTを使用することによって、ハードウェアおよびソ
フトウェアによるチューニング論理回路の設計を実質的に簡易にすることができ
る。
【0026】
図4は、本発明の一実施形態によるキャパシタアレイ310のより詳細な回路
図を示している。キャパシタアレイは、ノード318および320の両端間に並
列に結合された複数のキャパシタC0、C1、C2、C3、およびCiを含む。
4つのキャパシタC0、C1、C2、C3は、データビット桁を示す2進重み付
けキャパシタである。各キャパシタは、入力データと関連し、入力データを同調
論理回路302から受信する。キャパシタC0〜C3は2進データワードを示す
。例えば、キャパシタC0は、最下位ビット桁b[0]に関連し、キャパシタC
1は第2ビット桁b[1]に関連し、キャパシタC2は第3ビット桁b[2]に
関連し、キャパシタC3は最上位ビットb[3]に関連している。一実施形態で
は、フィルタ回路104のキャパシタアレイ202は、キャパシタアレイと同じ
キャパシタ配置を有する。このように、キャパシタアレイ310に対する同調ビ
ット値は、フィルタ回路104のキャパシタアレイ202のために使用できる。
図を示している。キャパシタアレイは、ノード318および320の両端間に並
列に結合された複数のキャパシタC0、C1、C2、C3、およびCiを含む。
4つのキャパシタC0、C1、C2、C3は、データビット桁を示す2進重み付
けキャパシタである。各キャパシタは、入力データと関連し、入力データを同調
論理回路302から受信する。キャパシタC0〜C3は2進データワードを示す
。例えば、キャパシタC0は、最下位ビット桁b[0]に関連し、キャパシタC
1は第2ビット桁b[1]に関連し、キャパシタC2は第3ビット桁b[2]に
関連し、キャパシタC3は最上位ビットb[3]に関連している。一実施形態で
は、フィルタ回路104のキャパシタアレイ202は、キャパシタアレイと同じ
キャパシタ配置を有する。このように、キャパシタアレイ310に対する同調ビ
ット値は、フィルタ回路104のキャパシタアレイ202のために使用できる。
【0027】
各キャパシタをビット桁に関連づけるために、キャパシタC0、C1、C2、
およびC3は2進重み付けキャパシタンス値によって特徴付けられる。図示され
た実施形態では、例えば、キャパシタC1は、キャパシタC0のキャパシタンス
値の2倍のキャパシタンス値を有する。同様に、キャパシタC2は、キャパシタ
C0のキャパシタンス値の4倍あるいはキャパシタC1のキャパシタンス値の2
倍である。同様に、キャパシタC3はキャパシタC0のキャパシタンス値の8倍
を有する。キャパシタCiは、キャパシタアレイ310に備えられ、固定キャパ
シタンス値を与え、キャパシタアレイ310のキャパシタンス範囲を狭める。本
発明は4入力データビットをキャパシタに供給するために4ビットデータバスを
使用して示されているけれども、当業者は、本発明は任意の数のデータビット、
データバスおよびキャパシタに同様に適していることを容易に理解する。例えば
、8つのデータビットは、8ビットデータバスを介して8つのキャパシタのスイ
ッチを制御するために設けられてもよい。
およびC3は2進重み付けキャパシタンス値によって特徴付けられる。図示され
た実施形態では、例えば、キャパシタC1は、キャパシタC0のキャパシタンス
値の2倍のキャパシタンス値を有する。同様に、キャパシタC2は、キャパシタ
C0のキャパシタンス値の4倍あるいはキャパシタC1のキャパシタンス値の2
倍である。同様に、キャパシタC3はキャパシタC0のキャパシタンス値の8倍
を有する。キャパシタCiは、キャパシタアレイ310に備えられ、固定キャパ
シタンス値を与え、キャパシタアレイ310のキャパシタンス範囲を狭める。本
発明は4入力データビットをキャパシタに供給するために4ビットデータバスを
使用して示されているけれども、当業者は、本発明は任意の数のデータビット、
データバスおよびキャパシタに同様に適していることを容易に理解する。例えば
、8つのデータビットは、8ビットデータバスを介して8つのキャパシタのスイ
ッチを制御するために設けられてもよい。
【0028】
キャパシタアレイ310のキャパシタC0、C1、C2、およびC3は、スイ
ッチ402、404、406、および408のそれぞれによって制御される。ス
イッチ402、404、406、408は、順にチューニング論理回路からの入
力データビットb[0]、b[1]、b[2]、およびb[3]のそれぞれによ
って制御される。例えば、入力データビット値がゼロである場合、スイッチは開
いて、関連キャパシタは非作動である。しかしながら、ビット値が1である場合
、関連キャパシタは作動される。
ッチ402、404、406、および408のそれぞれによって制御される。ス
イッチ402、404、406、408は、順にチューニング論理回路からの入
力データビットb[0]、b[1]、b[2]、およびb[3]のそれぞれによ
って制御される。例えば、入力データビット値がゼロである場合、スイッチは開
いて、関連キャパシタは非作動である。しかしながら、ビット値が1である場合
、関連キャパシタは作動される。
【0029】
一実施形態では、キャパシタアレイ310は、CLSBキャパシタのセットを
使用して実行されてもよい。キャパシタC0は、20すなわち1つのキャパシタ
CLSBであってもよく、キャパシタC1は、21すなわち2つのCLSBキャ
パシタであってもよく、キャパシタC2は、22すなわち4つのCLSBキャパ
シタであってもよく、キャパシタC3は23すなわち8つのCLSBキャパシタ
であってもよい。一方、キャパシタC1、C2およびC3は図4に示された割り
当てられたキャパシタンスに対応する単一キャパシタであってもよい。
使用して実行されてもよい。キャパシタC0は、20すなわち1つのキャパシタ
CLSBであってもよく、キャパシタC1は、21すなわち2つのCLSBキャ
パシタであってもよく、キャパシタC2は、22すなわち4つのCLSBキャパ
シタであってもよく、キャパシタC3は23すなわち8つのCLSBキャパシタ
であってもよい。一方、キャパシタC1、C2およびC3は図4に示された割り
当てられたキャパシタンスに対応する単一キャパシタであってもよい。
【0030】
図5は、本発明の一実施形態による構成回路306を同調させる典型的な連続
近似方法を示す。動作502において、インデックス変数nはN−1に設定する
。これはインデックス変数nを入力データビットの最上位ビット、すなわち3に
設定する効果を有する。次に、動作504において、すべてのビットb[n:0
]をゼロに設定することによって、Nに対する全てのデータビット0がクリアさ
れる。次に、動作506において、インデックス変数nに対応するビットは同調
のために1に設定する。インデックス変数nに対応するビットのセットは、キャ
パシタアレイ310の対応するキャパシタを選択し、作動する効果を有する。そ
のように作動される選択キャパシタの場合、積分器307は、動作508におい
て、抵抗器R1の抵抗値Rおよびキャパシタアレイ310のキャパシタンス値に
応じて電流iを積分する。
近似方法を示す。動作502において、インデックス変数nはN−1に設定する
。これはインデックス変数nを入力データビットの最上位ビット、すなわち3に
設定する効果を有する。次に、動作504において、すべてのビットb[n:0
]をゼロに設定することによって、Nに対する全てのデータビット0がクリアさ
れる。次に、動作506において、インデックス変数nに対応するビットは同調
のために1に設定する。インデックス変数nに対応するビットのセットは、キャ
パシタアレイ310の対応するキャパシタを選択し、作動する効果を有する。そ
のように作動される選択キャパシタの場合、積分器307は、動作508におい
て、抵抗器R1の抵抗値Rおよびキャパシタアレイ310のキャパシタンス値に
応じて電流iを積分する。
【0031】
時間trefで、比較器308は、動作510で、VintおよびkVref
を比較し、VintがkVrefよりも大きいかどうかを決定する。大きい場合
、同調論理回路302は、動作514においてビットnを「1」のディジタル値
に設定する。さもなければ、同調論理回路302は、動作512においてビット
nを「0」のディジタル値に設定する。ビットnはこのように決定され、同調さ
れる。
を比較し、VintがkVrefよりも大きいかどうかを決定する。大きい場合
、同調論理回路302は、動作514においてビットnを「1」のディジタル値
に設定する。さもなければ、同調論理回路302は、動作512においてビット
nを「0」のディジタル値に設定する。ビットnはこのように決定され、同調さ
れる。
【0032】
ビットnを同調させた後、インデックス変数nは、動作516において、1だ
け減分され、同調させるために次のビットを選択する。これは、ビットb[3]
が丁度同調された場合、次のビットb[2]の選択を可能にする。インデックス
変数nを最上位ビットに設定し、次にnを減分することは、最上位ビットb[3
]から最下位ビットb[0]まで一つずつデータビットを同調させる効果を有す
る。しかしながら、本発明も、最下位ビットから最上位ビットまでのデータビッ
トを同調させることによって適用されてもよいことに注目すべきである。
け減分され、同調させるために次のビットを選択する。これは、ビットb[3]
が丁度同調された場合、次のビットb[2]の選択を可能にする。インデックス
変数nを最上位ビットに設定し、次にnを減分することは、最上位ビットb[3
]から最下位ビットb[0]まで一つずつデータビットを同調させる効果を有す
る。しかしながら、本発明も、最下位ビットから最上位ビットまでのデータビッ
トを同調させることによって適用されてもよいことに注目すべきである。
【0033】
次のビットを選択する前に、動作518において、インデックス変数nがゼロ
よりも小さいかどうかが決定される。nの値がゼロよりも小さくない場合、これ
は、1つあるいはそれ以上のデータビットがなお設定される必要があることを意
味する。この場合、この方法は、チューニングのために次のビットが「1」に設
定される動作506にまで戻る。しかしながら、nの値がゼロよりも小さい場合
、全ビットが同調されたことを意味する。したがって、この方法は、動作520
で終了する。
よりも小さいかどうかが決定される。nの値がゼロよりも小さくない場合、これ
は、1つあるいはそれ以上のデータビットがなお設定される必要があることを意
味する。この場合、この方法は、チューニングのために次のビットが「1」に設
定される動作506にまで戻る。しかしながら、nの値がゼロよりも小さい場合
、全ビットが同調されたことを意味する。したがって、この方法は、動作520
で終了する。
【0034】
図5のフローチャートに示されるように、データビットのチューニングは、本
来キャパシタに対応するデータビットに対する二等分動作を連続して実行するこ
とを含む。図6は、時間の関数として典型的な積分出力電圧Vintのグラフ6
00を示している。積分器307は、積分出力電圧Vintが傾斜を持って上方
に上昇するように時間0で積分を始める。時間trefでVintがkVref
に等しいポイント610で終わるライン608は目標チューニングポイント61
0を示している。すなわち、目標チューニングポイント610は、kVrefラ
イン606が時間trefを横切る場所である。
来キャパシタに対応するデータビットに対する二等分動作を連続して実行するこ
とを含む。図6は、時間の関数として典型的な積分出力電圧Vintのグラフ6
00を示している。積分器307は、積分出力電圧Vintが傾斜を持って上方
に上昇するように時間0で積分を始める。時間trefでVintがkVref
に等しいポイント610で終わるライン608は目標チューニングポイント61
0を示している。すなわち、目標チューニングポイント610は、kVrefラ
イン606が時間trefを横切る場所である。
【0035】
グラフ600は、2つのVintライン602および604を示す。Vint
ライン602は、Vint602の傾斜が目標ライン608よりも大きい場合を
示すのに対して、Vintライン604は、Vintライン604の傾斜が目標
ライン608よりも小さい場所である。これら2つのVintライン602およ
び604は、Vint範囲の上限および下限をそれぞれ示している。前述のよう
に、比較器308は、時間trefのVint値とkVref値とを比較する。
Vintは、Vintライン602におけるようにkVrefよりも大きい場合
、関連キャパシタのキャパシタンス値があまりにも小さいことを意味する。した
がって、キャパシタに対するデータビットは「1」に設定する。一方、Vint
がVintライン604におけるようにkVrefよりも小さい場合、これは、
関連キャパシタのキャパシタンス値があまりにも大きいことを意味する。したが
って、キャパシタに対するデータビットは「0」に設定される。
ライン602は、Vint602の傾斜が目標ライン608よりも大きい場合を
示すのに対して、Vintライン604は、Vintライン604の傾斜が目標
ライン608よりも小さい場所である。これら2つのVintライン602およ
び604は、Vint範囲の上限および下限をそれぞれ示している。前述のよう
に、比較器308は、時間trefのVint値とkVref値とを比較する。
Vintは、Vintライン602におけるようにkVrefよりも大きい場合
、関連キャパシタのキャパシタンス値があまりにも小さいことを意味する。した
がって、キャパシタに対するデータビットは「1」に設定する。一方、Vint
がVintライン604におけるようにkVrefよりも小さい場合、これは、
関連キャパシタのキャパシタンス値があまりにも大きいことを意味する。したが
って、キャパシタに対するデータビットは「0」に設定される。
【0036】
最上位ビットから最下位ビットまでのデータビットを連続して設定することに
よって、Vintの範囲は、目標ポイントに到達するまで二等分によって連続し
て狭められる。このように発生された同調データビットは、同調データビットが
その後に供給されるフィルタ回路の性能が実質的にプロセス、電圧、および温度
とは無関係であるように定RC積を効果的に提供する。
よって、Vintの範囲は、目標ポイントに到達するまで二等分によって連続し
て狭められる。このように発生された同調データビットは、同調データビットが
その後に供給されるフィルタ回路の性能が実質的にプロセス、電圧、および温度
とは無関係であるように定RC積を効果的に提供する。
【0037】
下記の表1は、キャパシタアレイ310のキャパシタC0、C1、C2、およ
びC3に供給される連続入力データビットを示している。ここで、b[n]は同
調ビット値を示し、時間は図5のフローチャートのループを通るパスを示してい
る。
びC3に供給される連続入力データビットを示している。ここで、b[n]は同
調ビット値を示し、時間は図5のフローチャートのループを通るパスを示してい
る。
【0038】
【表1】
図7は、典型的なプロセス、電圧、および温度のセットでデータビットb[3
:0]の同調を示す典型的なグラフ700を示している。時間trefは、積分
の開始と比較器のラッチとの時間間隔である。各tref時間間隔で、積分器出
力電圧Vintは、k*Vrefと比較され、対応するデータビットを設定する
。データビットは連続して同調されるので、積分出力電圧Vintは、Vint
がk*Vrefに等しい同調ポイント716に徐々に近づく。これは、図6に以
前に示されるようにRCを一定に設定する効果を有する。このグラフでは、傾斜
mは、1/RC=△V/△T=kVref/trefに比例する。チューナの積
分器は、同調が完了される場合、Vintがt=trefでkVrefに等しい
ようにCを同調させることによって傾斜を一定に設定する。
:0]の同調を示す典型的なグラフ700を示している。時間trefは、積分
の開始と比較器のラッチとの時間間隔である。各tref時間間隔で、積分器出
力電圧Vintは、k*Vrefと比較され、対応するデータビットを設定する
。データビットは連続して同調されるので、積分出力電圧Vintは、Vint
がk*Vrefに等しい同調ポイント716に徐々に近づく。これは、図6に以
前に示されるようにRCを一定に設定する効果を有する。このグラフでは、傾斜
mは、1/RC=△V/△T=kVref/trefに比例する。チューナの積
分器は、同調が完了される場合、Vintがt=trefでkVrefに等しい
ようにCを同調させることによって傾斜を一定に設定する。
【0039】
本発明はいくつかの好ましい実施形態に関して記載されているが、本発明の範
囲内にある変更、変形、および均等物がある。本発明の方法、装置、およびシス
テムとも実施する代替の方法があることにも注目すべきである。したがって、添
付される特許請求の範囲は、本発明の真の精神および範囲内にあるような全ての
このような変更、変形、および均等物を含むように解釈ざるべきであることが意
図される。
囲内にある変更、変形、および均等物がある。本発明の方法、装置、およびシス
テムとも実施する代替の方法があることにも注目すべきである。したがって、添
付される特許請求の範囲は、本発明の真の精神および範囲内にあるような全ての
このような変更、変形、および均等物を含むように解釈ざるべきであることが意
図される。
本発明は、添付図面とともに下記の詳細な説明によって容易に理解され、同じ
参照番号は同じ構造要素を示している。
参照番号は同じ構造要素を示している。
【図1】
本発明の一実施形態による1つあるいはそれ以上のフィルタ回路を同調させる
同調器回路を示す。
同調器回路を示す。
【図2】
本発明の一実施形態によるフィルタ回路のより詳細な概略図を示す。
【図3】
本発明の一実施形態によるチューナ回路のより詳細な概略図を示す。
【図4】
本発明の一実施形態による典型的なキャパシタアレイのより詳細な回路図を示
す。
す。
【図5】
本発明の一実施形態による典型的な連続近似方法を示す。
【図6】
時間の関数として典型的な積分出力電圧Vintのグラフを示す。
【図7】
典型的なプロセス、電圧、および温度のセットでデータビットb[3:0]の
同調を示す典型的なグラフを示す。
同調を示す典型的なグラフを示す。
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フロントページの続き
(81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY,
DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I
T,LU,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ
,CF,CG,CI,CM,GA,GN,GW,ML,
MR,NE,SN,TD,TG),AP(GH,GM,K
E,LS,MW,MZ,SD,SL,SZ,TZ,UG
,ZW),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,
RU,TJ,TM),AE,AG,AL,AM,AT,
AU,AZ,BA,BB,BG,BR,BY,BZ,C
A,CH,CN,CR,CU,CZ,DE,DK,DM
,DZ,EE,ES,FI,GB,GD,GE,GH,
GM,HR,HU,ID,IL,IN,IS,JP,K
E,KG,KP,KR,KZ,LC,LK,LR,LS
,LT,LU,LV,MA,MD,MG,MK,MN,
MW,MX,MZ,NO,NZ,PL,PT,RO,R
U,SD,SE,SG,SI,SK,SL,TJ,TM
,TR,TT,TZ,UA,UG,UZ,VN,YU,
ZA,ZW
Fターム(参考) 5J098 AA11 AA14 AB02 AC02 AC18
AC28 AD18 CA01 CA02 CA08
5K058 AA17 AA18 AA19 EA07 GA11
【要約の続き】
調される場合、これらのデータビットは、プロセス、電
圧、および温度の変動を補償するためにフィルタ回路に
供給される。
Claims (25)
- 【請求項1】 プロセス、電圧、および温度の変動を補償するためにフィルタ回路を同調させ
る回路であって、前記フィルタ回路が、1つあるいはそれ以上のNビットキャパ
シタアレイを含むものにおいて、 抵抗器および少なくともN個のキャパシタを有するキャパシタアレイを含む校
正回路であって、前記キャパシタアレイの前記少なくともN個のキャパシタが、
N個の入力データビットを受信するように構成され、前記少なくともN個のキャ
パシタの各々が入力データビットに関連づけられ、前記校正回路が、前記入力デ
ータビットに応じて入力電圧信号を積分し、前記キャパシタの各々を同調させる
出力信号を発生するように構成される前記校正回路と、 前記入力データビットを前記校正回路に供給するように結合され、前記キャパ
シタアレイを同調させる同調回路と、を備え、前記同調回路が、前記少なくとも
N個のキャパシタの各々に対するデータビット値を決定し、かつ設定することに
よって前記出力信号に応じてN個のキャパシタを逐次同調させるように構成され
、前記同調回路が、同調データビット値を他の残りのキャパシタに同調させるた
めに前記関連キャパシタに供給することを特徴とする回路。 - 【請求項2】 前記抵抗器および前記キャパシタアレイがRC積値を規定し、かつ前記同調回
路が、プロセス、電圧、および/あるいは温度に対する定RC積値を供給するよ
うに前記少なくともN個のキャパシタのための同調データビットを発生すること
を特徴とする請求項1記載の回路。 - 【請求項3】 前記同調回路が、基準時間信号を前記校正回路に供給し、特定の持続期間前記
入力電圧信号を積分し、かつ前記少なくともN個のキャパシタの各々を同調させ
る積分の持続期間が同じであることを特徴とする請求項1記載の回路。 - 【請求項4】 前記校正回路がさらに、 前記抵抗器および前記キャパシタに結合され、前記入力電圧信号を積分し、出
力電圧信号を発生する積分器と、 前記出力電圧信号を受信し、かつ基準電圧信号と比較するように結合された比
較器とを備え、前記比較器が、前記比較の結果を示す出力信号を発生し、前記比
較器が、前記出力信号を前記少なくともN個のキャパシタの各々に対する前記デ
ータビット値を設定する前記同調回路に供給することを特徴とする請求項1記載
の回路。 - 【請求項5】 前記同調回路がさらに、 タイミング信号を前記校正回路に供給するタイミング論理回路を備え、前記タ
イミング信号が、前記校正回路をリセットするリセット信号および前記出力信号
を発生するタイミング信号を含み、前記リセット信号およびタイミング信号が前
記積分のタイマ間隔を規定することを特徴とする請求項4記載の回路。 - 【請求項6】 タイミング回路がさらに、 前記入力データビットを前記キャパシタアレイに供給するように結合される同
調論理回路を備え、前記同調論理回路が前記出力信号を前記比較器から受信する
ように結合され、前記同調論理回路が、前記比較器からの前記出力信号に応じて
前記少なくともN個のキャパシタを逐次同調させることを特徴とする請求項5記
載の回路。 - 【請求項7】 前記少なくともN個のキャパシタに関連した前記データビットが、最上位ビッ
トおよび最下位ビットを有するNビットの2進ワードを示し、かつ前記同調回路
が、前記最上位ビットから前記最下位ビットまでの前記N個のキャパシタに対す
る前記データビット値を連続して同調させることを特徴とする請求項1記載の回
路。 - 【請求項8】 前記同調回路が、前記出力電圧信号が前記基準電圧信号よりも大きいことを前
記出力信号が示す場合、「1」のディジタル値に同調されるデータビットを設定
し、さもなければ「0」のディジタル値に同調される前記データビットを設定す
ることによって前記データビット値を同調させることを特徴とする請求項7記載
の回路。 - 【請求項9】 前記同調データビット値が、1つあるいはそれ以上のキャパシタアレイを有す
る1つあるいはそれ以上のフィルタ回路に供給されることを特徴とする請求項7
記載の回路。 - 【請求項10】 抵抗器および1つあるいはそれ以上のNビットのキャパシタアレイを有する回
路のプロセス、電圧、および/または温度の変動を補償する方法であって、 結合されたNビットキャパシタアレイおよび抵抗器を有する校正回路を設け、
前記Nビットキャパシタアレイが、N個のサブセットのキャパシタを含むキャパ
シタのセットを有し、前記N個のサブセットのキャパシタの各々が入力データビ
ットに関連づけられ、 入力電圧信号およびN個の入力データビットを前記Nビットのキャパシタアレ
イに供給することであって、1入力データビットが、N個のサブセットのキャパ
シタの各々に対するものであり、 前記入力データビットに応じて前記入力電圧信号を積分し、前記キャパシタの
各々を同調させる出力信号を発生し、 前記キャパシタの各々に対するデータビット値を決定し、かつ設定することに
よって前記出力電圧信号に応じてN個のサブセットのキャパシタを連続して同調
させ、前記データビットが関連のサブセットのキャパシタに対して同調された場
合、前記同調データビット値が他の残りのサブセットのキャパシタを同調させる
ために前記関連キャパシタに供給されることを特徴とする方法。 - 【請求項11】 前記抵抗器および前記キャパシタアレイがRC積値を規定し、かつ前記キャパ
シタに対する同調データビットが、プロセス、電圧、および/または温度に対す
る定RC積値を供給するように発生されることを特徴とする請求項10記載の方
法。 - 【請求項12】 前記入力電圧信号が、特定の持続期間積分され、かつ前記キャパシタの各々を
同調させる積分の特定の持続期間が同じであることを特徴とする請求項10の方
法。 - 【請求項13】 前記入力電圧信号を積分する動作がさらに、 前記入力電圧信号を積分し、積分出力電圧信号を発生し、 前記出力電圧信号を基準電圧信号と比較し、かつ 前記比較の結果を示す前記出力信号を発生することとを含むことを特徴とする
請求項10記載の方法。 - 【請求項14】 前記入力電圧信号を積分する動作がさらに、 前記入力電圧信号の積分を開始するためにスタート信号を供給し、かつ 前記積分を停止するためにタイミング信号を供給するものであり、前記スター
ト信号およびタイミング信号が積分の間隔を規定することを特徴とする請求項1
3記載の方法。 - 【請求項15】 前記サブセットのキャパシタに関連した前記データビットが、最上位ビットお
よび最下位ビットを有するNビットの2進ワードを示し、かつ前記セットのキャ
パシタに対する前記データビット値が、前記最上位ビットから前記最下位ビット
まで連続して同調されることを特徴とする請求項14記載の方法。 - 【請求項16】 さらに、 前記同調データビット値を1つあるいはそれ以上のNビットのキャパシタアレ
イを有するフィルタ回路に供給し、プロセス、電圧、および/あるいは温度の変
動を補償することを含むことを特徴とする請求項15記載の方法。 - 【請求項17】 前記データビットが、前記出力電圧信号が前記基準電圧信号よりも大きいこと
を前記出力信号が示す場合、「1」のディジタル値を割り当て、さもなければ「
0」のディジタル値を前記データビットに割り当てることによってに同調される
ことを特徴とする請求項7記載の方法。 - 【請求項18】 プロセス、電圧、および/または温度の変動を補償するためにフィルタ回路を
同調させる方法であって、前記フィルタ回路が、少なくともN個のキャパシタを
含み、かつ抵抗器に結合されるキャパシタアレイを含み、N個のキャパシタの各
々が入力データビットに関連するものにおいて、 入力電圧信号およびN個の入力データビットを前記Nビットのキャパシタアレ
イに供給することであって、1入力データビットが、各キャパシタに対するもの
であり、 前記入力データビットに応じて前記入力電圧信号を積分し、前記キャパシタの
各々を同調させる出力信号を発生し、 前記少なくともN個のキャパシタの各々に対するデータビット値を決定し、か
つ設定することによって前記出力電圧信号に応じて前記少なくともN個のキャパ
シタを連続して同調させることとを含み、前記データビットが関連キャパシタに
対して同調された場合、前記同調データビット値が他の残りのサブセットのキャ
パシタを同調させるために前記関連キャパシタに供給されることを特徴とする方
法。 - 【請求項19】 前記抵抗器および前記キャパシタアレイがRC積値を規定し、かつ前記少なく
ともN個のキャパシタに対する同調データビットが、プロセス、電圧、および/
または温度に対する定RC積値を供給するように発生されることを特徴とする請
求項18記載の方法。 - 【請求項20】 前記入力電圧信号を積分する動作がさらに、 前記入力電圧信号を積分し、積分出力電圧信号を発生し、 前記出力電圧信号を基準電圧信号と比較し、かつ 前記比較の結果を示す前記出力信号を発生することとを含むことを特徴とする
請求項19記載の方法。 - 【請求項21】 前記入力電圧信号を積分する動作がさらに、 前記入力電圧信号の積分を開始するためにスタート信号を供給し、かつ 前記積分を停止するためにタイミング信号を供給するものであり、前記スター
ト信号およびタイミング信号が積分の間隔を規定することを特徴とする請求項2
0記載の方法。 - 【請求項22】 前記少なくともN個のキャパシタに関連した前記データビットが、最上位ビッ
トおよび最下位ビットを有するNビットの2進ワードを示し、かつ前記少なくと
もN個のキャパシタに対する前記データビット値が、前記最上位ビットから前記
最下位ビットまで連続して同調されることを特徴とする請求項20記載の方法。 - 【請求項23】 さらに、 前記同調データビット値を1つあるいはそれ以上のNビットのキャパシタアレ
イを有するフィルタ回路に供給し、プロセス、電圧、および/あるいは温度の変
動を補償することを含むことを特徴とする請求項22記載の方法。 - 【請求項24】 前記データビットが、前記出力電圧信号が前記基準電圧信号よりも大きいこと
を前記出力信号が示す場合、「1」のディジタル値を割り当て、さもなければ「
0」のディジタル値を前記データビットに割り当てることによってに同調される
ことを特徴とする請求項22記載の方法。 - 【請求項25】 前記キャパシタアレイが2N個のキャパシタを含むことを特徴とする請求項1
8記載の方法。
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---|---|---|---|
US09/452,368 US6417727B1 (en) | 1999-11-30 | 1999-11-30 | Circuit for automatically tuning filter circuits over process, voltage, and temperature |
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Family Applications (1)
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---|---|---|---|
JP2001542462A Pending JP2003516083A (ja) | 1999-11-30 | 2000-08-10 | プロセス、電圧、および温度に対してフィルタ回路を自動的に同調させる方法および回路 |
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Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008535316A (ja) * | 2005-03-25 | 2008-08-28 | フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド | デジタル時定数トラッキング技術及び装置 |
JP2010016591A (ja) * | 2008-07-03 | 2010-01-21 | Renesas Technology Corp | 半導体集積回路 |
JP2011515832A (ja) * | 2008-02-28 | 2011-05-19 | ペレグリン セミコンダクター コーポレーション | 集積回路素子内でキャパシタをデジタル処理で同調するときに用いられる方法及び装置 |
JP2013541308A (ja) * | 2010-10-29 | 2013-11-07 | クゥアルコム・インコーポレイテッド | パッケージインダクタンス補償型調整可能キャパシタ回路 |
US8963611B2 (en) | 2009-06-19 | 2015-02-24 | Qualcomm Incorporated | Power and impedance measurement circuits for a wireless communication device |
US9000847B2 (en) | 2009-08-19 | 2015-04-07 | Qualcomm Incorporated | Digital tunable inter-stage matching circuit |
US9143172B2 (en) | 2009-06-03 | 2015-09-22 | Qualcomm Incorporated | Tunable matching circuits for power amplifiers |
US9559639B2 (en) | 2009-08-19 | 2017-01-31 | Qualcomm Incorporated | Protection circuit for power amplifier |
US9948281B2 (en) | 2016-09-02 | 2018-04-17 | Peregrine Semiconductor Corporation | Positive logic digitally tunable capacitor |
US10236872B1 (en) | 2018-03-28 | 2019-03-19 | Psemi Corporation | AC coupling modules for bias ladders |
US10505530B2 (en) | 2018-03-28 | 2019-12-10 | Psemi Corporation | Positive logic switch with selectable DC blocking circuit |
US10886911B2 (en) | 2018-03-28 | 2021-01-05 | Psemi Corporation | Stacked FET switch bias ladders |
US11476849B2 (en) | 2020-01-06 | 2022-10-18 | Psemi Corporation | High power positive logic switch |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1182778A1 (en) * | 2000-07-21 | 2002-02-27 | Semiconductor Ideas to The Market (ItoM) BV | Receiver comprising a digitally controlled capacitor bank |
DE10121517A1 (de) * | 2001-05-03 | 2002-11-14 | Infineon Technologies Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Einstellen eines aktiven Filters |
US6661281B2 (en) * | 2001-11-29 | 2003-12-09 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Method for reducing current surge using multi-stage ramp shunting |
US6917252B1 (en) | 2003-04-28 | 2005-07-12 | Adam S. Wyszynski | Fully integrated automatically-tuned RF and IF active bandpass filters |
US7486338B1 (en) | 2003-04-28 | 2009-02-03 | Wyszynski Adam S | Fully integrated terrestrial TV tuner architecture |
DE10321200B3 (de) * | 2003-05-12 | 2005-02-03 | Infineon Technologies Ag | Einrichtung und Verfahren zur Kalibrierung von R/C-Filterschaltungen |
US7339442B2 (en) * | 2005-07-07 | 2008-03-04 | Freescale Semiconductor, Inc. | Baseband RC filter pole and on-chip current tracking system |
US7446592B2 (en) * | 2005-07-22 | 2008-11-04 | Freescale Semiconductor, Inc. | PVT variation detection and compensation circuit |
US7495465B2 (en) * | 2005-07-22 | 2009-02-24 | Freescale Semiconductor, Inc. | PVT variation detection and compensation circuit |
US7388419B2 (en) * | 2005-07-22 | 2008-06-17 | Freescale Semiconductor, Inc | PVT variation detection and compensation circuit |
DE102006005778A1 (de) * | 2006-02-03 | 2007-08-16 | Atmel Germany Gmbh | Verfahren und Schaltung zum Ableichen eines RC-Gliedes |
KR100714554B1 (ko) * | 2006-05-24 | 2007-05-07 | 삼성전기주식회사 | 필터 캘리브레이션 회로 |
US7937058B2 (en) * | 2006-10-18 | 2011-05-03 | Freescale Semiconductor, Inc. | Controlling the bandwidth of an analog filter |
US7477098B2 (en) * | 2007-02-08 | 2009-01-13 | Mediatek Singapore Pte Ltd | Method and apparatus for tuning an active filter |
US20080191794A1 (en) * | 2007-02-08 | 2008-08-14 | Mediatek Inc. | Method and apparatus for tuning an active filter |
US8260246B1 (en) * | 2007-06-15 | 2012-09-04 | Marvell International Ltd. | Data rate tracking filter |
US20090074120A1 (en) * | 2007-09-12 | 2009-03-19 | Nanoamp Solutions Inc. | Auto-calibration for a filter |
US20090213523A1 (en) * | 2008-02-08 | 2009-08-27 | Jlas Properties, Llc | Selectable size AC motor run capacitor |
JP2010135614A (ja) * | 2008-12-05 | 2010-06-17 | Fujitsu Ltd | 可変容量素子 |
TW201123713A (en) | 2009-09-11 | 2011-07-01 | Microsemi Corp | Circuit and method for temperature and process independent transimpedance amplifier arrangement |
US8912854B2 (en) | 2013-01-04 | 2014-12-16 | International Business Machines Corporation | Structure for an inductor-capacitor voltage-controlled oscillator |
US9237045B2 (en) * | 2013-03-15 | 2016-01-12 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | System and method for internal AC coupling with active DC restore and adjustable high-pass filter for a PAM 2/4 receiver |
US9065324B2 (en) * | 2013-10-23 | 2015-06-23 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Electronic device with PVT delay compensation and related method |
US10833631B2 (en) | 2018-01-26 | 2020-11-10 | Mediatek Inc. | Amplifier bandwidth calibration of continuous time circuit |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5059836A (en) * | 1988-12-09 | 1991-10-22 | Dallas Semiconductor Corporation | Differential-time-constant bandpass filter using the analog properties of digital circuits |
US5187445A (en) * | 1991-10-28 | 1993-02-16 | Motorola, Inc. | Tuning circuit for continuous-time filters and method therefor |
US5416438A (en) * | 1992-03-18 | 1995-05-16 | Nec Corporation | Active filter circuit suited to integration on IC chip |
US5663675A (en) | 1995-06-07 | 1997-09-02 | American Microsystems, Inc. | Multiple stage tracking filter using a self-calibrating RC oscillator circuit |
US6055168A (en) * | 1998-03-04 | 2000-04-25 | National Semiconductor Corporation | Capacitor DC-DC converter with PFM and gain hopping |
-
1999
- 1999-11-30 US US09/452,368 patent/US6417727B1/en not_active Expired - Lifetime
-
2000
- 2000-08-10 EP EP00952745A patent/EP1163720A1/en not_active Withdrawn
- 2000-08-10 AU AU65389/00A patent/AU6538900A/en not_active Abandoned
- 2000-08-10 WO PCT/US2000/022131 patent/WO2001041306A1/en active Application Filing
- 2000-08-10 JP JP2001542462A patent/JP2003516083A/ja active Pending
Cited By (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008535316A (ja) * | 2005-03-25 | 2008-08-28 | フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド | デジタル時定数トラッキング技術及び装置 |
US11258440B2 (en) | 2008-02-28 | 2022-02-22 | Psemi Corporation | Method and apparatus for use in digitally tuning a capacitor in an integrated circuit device |
JP2011515832A (ja) * | 2008-02-28 | 2011-05-19 | ペレグリン セミコンダクター コーポレーション | 集積回路素子内でキャパシタをデジタル処理で同調するときに用いられる方法及び装置 |
US9293262B2 (en) | 2008-02-28 | 2016-03-22 | Peregrine Semiconductor Corporation | Digitally tuned capacitors with tapered and reconfigurable quality factors |
US8638159B2 (en) | 2008-02-28 | 2014-01-28 | Peregrine Semiconductor Corporation | Devices and methods for improving voltage handling and/or bi-directionality of stacks of elements when connected between terminals |
US8669804B2 (en) | 2008-02-28 | 2014-03-11 | Peregrine Semiconductor Corporation | Devices and methods for improving voltage handling and/or bi-directionality of stacks of elements when connected between terminals |
US9496849B2 (en) | 2008-02-28 | 2016-11-15 | Peregrine Semiconductor Corporation | Devices and methods for improving voltage handling and/or bi-directionality of stacks of elements when connected between terminals |
US9024700B2 (en) | 2008-02-28 | 2015-05-05 | Peregrine Semiconductor Corporation | Method and apparatus for use in digitally tuning a capacitor in an integrated circuit device |
US9106227B2 (en) | 2008-02-28 | 2015-08-11 | Peregrine Semiconductor Corporation | Devices and methods for improving voltage handling and/or bi-directionality of stacks of elements when connected between terminals |
US9197194B2 (en) | 2008-02-28 | 2015-11-24 | Peregrine Semiconductor Corporation | Methods and apparatuses for use in tuning reactance in a circuit device |
JP2016028458A (ja) * | 2008-02-28 | 2016-02-25 | ペレグリン セミコンダクター コーポレーション | 集積回路素子内でキャパシタをデジタル処理で同調するときに用いられる方法及び装置 |
JP2010016591A (ja) * | 2008-07-03 | 2010-01-21 | Renesas Technology Corp | 半導体集積回路 |
US9143172B2 (en) | 2009-06-03 | 2015-09-22 | Qualcomm Incorporated | Tunable matching circuits for power amplifiers |
US8963611B2 (en) | 2009-06-19 | 2015-02-24 | Qualcomm Incorporated | Power and impedance measurement circuits for a wireless communication device |
US9000847B2 (en) | 2009-08-19 | 2015-04-07 | Qualcomm Incorporated | Digital tunable inter-stage matching circuit |
US9559639B2 (en) | 2009-08-19 | 2017-01-31 | Qualcomm Incorporated | Protection circuit for power amplifier |
JP2013541308A (ja) * | 2010-10-29 | 2013-11-07 | クゥアルコム・インコーポレイテッド | パッケージインダクタンス補償型調整可能キャパシタ回路 |
US9948281B2 (en) | 2016-09-02 | 2018-04-17 | Peregrine Semiconductor Corporation | Positive logic digitally tunable capacitor |
US10236872B1 (en) | 2018-03-28 | 2019-03-19 | Psemi Corporation | AC coupling modules for bias ladders |
US10505530B2 (en) | 2018-03-28 | 2019-12-10 | Psemi Corporation | Positive logic switch with selectable DC blocking circuit |
US10862473B2 (en) | 2018-03-28 | 2020-12-08 | Psemi Corporation | Positive logic switch with selectable DC blocking circuit |
US10886911B2 (en) | 2018-03-28 | 2021-01-05 | Psemi Corporation | Stacked FET switch bias ladders |
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