JP2003505907A - 集積回路 - Google Patents
集積回路Info
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H11/00—Networks using active elements
- H03H11/02—Multiple-port networks
- H03H11/40—Impedance converters
- H03H11/42—Gyrators
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H11/00—Networks using active elements
- H03H11/02—Multiple-port networks
- H03H11/04—Frequency selective two-port networks
- H03H11/08—Frequency selective two-port networks using gyrators
Landscapes
- Networks Using Active Elements (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Preparation Of Compounds By Using Micro-Organisms (AREA)
- Pharmaceuticals Containing Other Organic And Inorganic Compounds (AREA)
- Nitrogen Condensed Heterocyclic Rings (AREA)
Abstract
(57)【要約】
本発明は、ジャイロコア(好ましくはMOS装置)の各トランジスタがそれに関連した直列フィードバックもった集積ジャイレータ構造に関する。本発明はMOSトランジスタにおけるチャネル遅延の影響を広い帯域にわたって補償できるようにする。
Description
【0001】
(技術分野)
本発明は集積回路に関し、特に集積アナログ・フィルタ回路に関する。
【0002】
(発明の背景)
集積回路において、非常に低いインダクタンスのものを除き、インダクタを実
現することは極めて困難である。その結果一般に、非常に高い周波数の場合を除
き、(抵抗とキャパシタをもった)RCフィルタを用いることが出来るのみであ
る。
現することは極めて困難である。その結果一般に、非常に高い周波数の場合を除
き、(抵抗とキャパシタをもった)RCフィルタを用いることが出来るのみであ
る。
【0003】
他の方法として、能動フィルタがしばしば使用される。そのような装置は、ト
ランジスタのような相互コンダクタンス要素をキャパシタと組合して使用するも
ので、これらは互いに組み合わされて積分回路(integrator)またはジャイレー
タ(gyrator)を形成し、インダクタのインピーダンスを模擬することができる
。
ランジスタのような相互コンダクタンス要素をキャパシタと組合して使用するも
ので、これらは互いに組み合わされて積分回路(integrator)またはジャイレー
タ(gyrator)を形成し、インダクタのインピーダンスを模擬することができる
。
【0004】
非常に高い周波数のフィルタにおける使用のための集積ジャイレータ構造は、
固体回路のIEEEジャーナル、27巻、2号、1992年2月に記載のナウタ
(Nauta)による“非常に高い周波数に対するCMOS相互コンダクタンス−C
フィルタ技術(A CMOS Transconductance-C Filter Technique for very High F
requencies)”に提案されている。著者のその回路についての第一次の解析は、
提案のジャイレータは安定に動作する、と結論した。
固体回路のIEEEジャーナル、27巻、2号、1992年2月に記載のナウタ
(Nauta)による“非常に高い周波数に対するCMOS相互コンダクタンス−C
フィルタ技術(A CMOS Transconductance-C Filter Technique for very High F
requencies)”に提案されている。著者のその回路についての第一次の解析は、
提案のジャイレータは安定に動作する、と結論した。
【0005】
著者はまた、非常に高い周波数におけるフィルタのため制御可能なQ−値を与
えるQ−同調ループを提案した。
えるQ−同調ループを提案した。
【0006】
(発明の概要)
本発明は、従来構造の前記第一次の解析は結果的にその構造の不完全な理解に
なるという認識から導かれたものである。
なるという認識から導かれたものである。
【0007】
特に、MOSトランジスタのより詳しい解析により各MOSトランジスタは該
トランジスタのチャネル内の荷電粒子の作用による遅延要素を付加することが分
かった。更に詳細には、該チャネルの荷電の非疑似静的挙動(non-quasi-static
behaviour)がデバイスの相互コンダクタンスの周波数特性に寄生極(parastic
pole)として近似できる遅延を付加する。トランジスタのチャネル遅延は、特
に(所要のフィルタ特性を与えるためにしばしば必要になる)高次のフィルタの
場合、または(チャネルの遅延が一層問題となる)より高い周波数においてジャ
イレータを不安定にする可能性がある。
トランジスタのチャネル内の荷電粒子の作用による遅延要素を付加することが分
かった。更に詳細には、該チャネルの荷電の非疑似静的挙動(non-quasi-static
behaviour)がデバイスの相互コンダクタンスの周波数特性に寄生極(parastic
pole)として近似できる遅延を付加する。トランジスタのチャネル遅延は、特
に(所要のフィルタ特性を与えるためにしばしば必要になる)高次のフィルタの
場合、または(チャネルの遅延が一層問題となる)より高い周波数においてジャ
イレータを不安定にする可能性がある。
【0008】
更に、チャネルの遅延は従来技術のQ−同調ループが意図するように機能しな
いことを意味する。
いことを意味する。
【0009】
本発明は、トランジスタのチャネル遅延を考慮して従来技術の不備を取り除く
ことを意図する。
ことを意図する。
【0010】
特に、本発明は1つの態様においてトランジスタのチャネル遅延を考慮に含め
た集積回路装置の設計に関する。
た集積回路装置の設計に関する。
【0011】
他の態様において、本発明はトランジスタのチャネル遅延が直列フィードバッ
クの手段により補償される集積回路装置に関する。
クの手段により補償される集積回路装置に関する。
【0012】
更に他の態様において、本発明はチャネル遅延を考慮した設計方法に関する。
【0013】
(好ましい実施例の詳細な説明)
図1はジャイレータセル2を示す。ジャイレータセルのコアはループに配列さ
れた4つのCMOSインバータ回路4、6、8、10を含み、各インバータの出
力は次のインバータの入力に接続される。ジャイレータは第1、第2の差動入力
i_1,i_2と第1、第2の差動出力o_1,o_2をもつ。セルはまたインバータ
14、16、18、20を含む入力コモンモード・フィードバック回路12とイ
ンバータ24、26、28、30を含む出力コモンモード・フィードバック回路
22を含む。
れた4つのCMOSインバータ回路4、6、8、10を含み、各インバータの出
力は次のインバータの入力に接続される。ジャイレータは第1、第2の差動入力
i_1,i_2と第1、第2の差動出力o_1,o_2をもつ。セルはまたインバータ
14、16、18、20を含む入力コモンモード・フィードバック回路12とイ
ンバータ24、26、28、30を含む出力コモンモード・フィードバック回路
22を含む。
【0014】
一般に、ジャイレータは正の相互コンダクタンスと負の相互コンダクタンスを
含む。図1のセルにおいては、負の相互コンダクタンスは差動信号を用い、1対
の線を交差することにより形成される。安定性の問題となる交差結合構造を形成
するのは上記線の交差である。従って、本発明はいかなる交差結合構造にも適用
される。
含む。図1のセルにおいては、負の相互コンダクタンスは差動信号を用い、1対
の線を交差することにより形成される。安定性の問題となる交差結合構造を形成
するのは上記線の交差である。従って、本発明はいかなる交差結合構造にも適用
される。
【0015】
ここでの解析はジャイレータの関連において述べる、従って特にジャイレータ
から形成されるフィルタに関する。しかしながら、同じ解析は積分回路にも適用
され、従って積分回路から形成されるフィルタにも適用される。それ故本発明は
そのような装置を含む。
から形成されるフィルタに関する。しかしながら、同じ解析は積分回路にも適用
され、従って積分回路から形成されるフィルタにも適用される。それ故本発明は
そのような装置を含む。
【0016】
本発明による装置において、図2に示されるような従来のCMOSインバータ
が好適に使用され、以下の記載は主としてそのような装置に関する。しかしなが
ら、その解析はバイポーラやバイCMOS装置にも適用され、従ってそのような
装置から形成されるフィルタにも適用される。それ故、本発明はそのような装置
を含む。
が好適に使用され、以下の記載は主としてそのような装置に関する。しかしなが
ら、その解析はバイポーラやバイCMOS装置にも適用され、従ってそのような
装置から形成されるフィルタにも適用される。それ故、本発明はそのような装置
を含む。
【0017】
本発明は、装置の特性の第1次的解析、例えばMOSトランジスタの場合にお
いてMOSの相互アドミタンス(transadmittance)は純粋に導電性(conductiv
e)と見做した解析は不適当である、という認識からなされる。それ故、非疑似
静的チャネル遅延(nonquasi-static channel delay)を考慮した別の解析が提
案される。
いてMOSの相互アドミタンス(transadmittance)は純粋に導電性(conductiv
e)と見做した解析は不適当である、という認識からなされる。それ故、非疑似
静的チャネル遅延(nonquasi-static channel delay)を考慮した別の解析が提
案される。
【0018】
従って、チャネル遅延を模擬したMOS相互アドミタンスは下記の如く近似さ
れる。
れる。
【0019】
【数1】
【0020】
ここで、従来の表示法が使用される。すなわち、gmは装置(device)の相互
コンダクタンス、Cgsは装置のゲート・ソース容量、τgm=2/(εωT),Cm =2Cgs/ε,ここでωTはトランジット角周波数(transit angular frequency
)、すなわち電流ゲインが1のときの角周波数であり、εはチャネルのエルモア
定数(Elmore constant)であり、ε=5である。
コンダクタンス、Cgsは装置のゲート・ソース容量、τgm=2/(εωT),Cm =2Cgs/ε,ここでωTはトランジット角周波数(transit angular frequency
)、すなわち電流ゲインが1のときの角周波数であり、εはチャネルのエルモア
定数(Elmore constant)であり、ε=5である。
【0021】
このようにして、この解析はチャネル遅延の影響について異なる可能性の近似
を与える。第1の可能性は指数関数を使用する純粋の遅延をとることである。し
かし、その結果の関数は解析に用いるには難しい。第2の可能性は複素平面(co
mplex plane)の右半分にゼロを与える最終近似(final approximation)を使用
することである。第3の可能性は極(pole)を与える中間近似を用いることであ
る。第2、第3の可能性のモデルは極とゼロ時定数が同じであるとするなら同じ
位相遅れを与え、この安定性解析の態様は満足できる。複素平面の右半分のゼロ
は相互アドミタンスの振幅に高帯域特性を与え、一方極をもった中間近似は相互
アドミタンスに低帯域特性を与える。後者はより現実的であり、従って今後はこ
のモデルを使用する。
を与える。第1の可能性は指数関数を使用する純粋の遅延をとることである。し
かし、その結果の関数は解析に用いるには難しい。第2の可能性は複素平面(co
mplex plane)の右半分にゼロを与える最終近似(final approximation)を使用
することである。第3の可能性は極(pole)を与える中間近似を用いることであ
る。第2、第3の可能性のモデルは極とゼロ時定数が同じであるとするなら同じ
位相遅れを与え、この安定性解析の態様は満足できる。複素平面の右半分のゼロ
は相互アドミタンスの振幅に高帯域特性を与え、一方極をもった中間近似は相互
アドミタンスに低帯域特性を与える。後者はより現実的であり、従って今後はこ
のモデルを使用する。
【0022】
本発明の1つの有利な実施例において、ジャイレータコアの各MOSトランジ
スタはそれに付加された直列のフィードバックをもつ。図3はトランジスタ42
とフィードバック回路44を示す。特に、フィードバック回路44はフィードバ
ック抵抗Rf(抵抗rfをもつ)とキャパシタCf(キャパシタンスcfをもつ)
の並列結合を含み、その並列結合はトランジスタのソース端子に直列に接続され
る。フィードバック回路のインピーダンスをrf‖cf=zf=rf/(1+s.τ f )と定義すると(‖は並列の意味)、閉ループ伝達アドミタンスGTは下記で与
えられる。
スタはそれに付加された直列のフィードバックをもつ。図3はトランジスタ42
とフィードバック回路44を示す。特に、フィードバック回路44はフィードバ
ック抵抗Rf(抵抗rfをもつ)とキャパシタCf(キャパシタンスcfをもつ)
の並列結合を含み、その並列結合はトランジスタのソース端子に直列に接続され
る。フィードバック回路のインピーダンスをrf‖cf=zf=rf/(1+s.τ f )と定義すると(‖は並列の意味)、閉ループ伝達アドミタンスGTは下記で与
えられる。
【0023】
【数2】
【0024】
gm.rf≫1の極限において、GTは低周波数において1/zfに近似する。従っ
て、GTは左半分平面ゼロ(left half-plane zero)をもち、初期位相進み(ini
tial phase advance)となる。フィードバック無しでは、位相遅れがあるので、
これは少なくとも特定の周波数以下において、位相遅れを最小化することのでき
る平衡条件を見つけることができることを示唆する。
て、GTは左半分平面ゼロ(left half-plane zero)をもち、初期位相進み(ini
tial phase advance)となる。フィードバック無しでは、位相遅れがあるので、
これは少なくとも特定の周波数以下において、位相遅れを最小化することのでき
る平衡条件を見つけることができることを示唆する。
【0025】
このようにして、チャネル遅れについて適当な近似を選択することにより、広
い帯域にわたりそれを補償することができる。その結果の設計は集積回路装置の
基礎として使用できる。
い帯域にわたりそれを補償することができる。その結果の設計は集積回路装置の
基礎として使用できる。
【0026】
図4、5はパラメータTとzの異なる値に対して伝達アドミタンス(transfer
admittance)の大きさと位相のそれぞれの値のプロットA−Gを示す。ここに、
T= gm.rf, τf=1/z, τgm=1である。適当なループ・ゲインは実質的な相互
アドミタンスの帯域の拡大となり、他の寄生誘導位相遅れ(parasitic-induced
phase lag)を補償するのに望ましいある位相進みを与えることが分かる。
admittance)の大きさと位相のそれぞれの値のプロットA−Gを示す。ここに、
T= gm.rf, τf=1/z, τgm=1である。適当なループ・ゲインは実質的な相互
アドミタンスの帯域の拡大となり、他の寄生誘導位相遅れ(parasitic-induced
phase lag)を補償するのに望ましいある位相進みを与えることが分かる。
【0027】
本発明の実際の適用において重要なことは、特性パラメータ(gm, rf, τgm
及びτfのような)が異なる温度、供給電圧において全ての製造装置において一
定の関係をもたねばならないことである。図6はICにおいてこれを達成する方
法を示す。特に、3極管特性領域で作動するMOSトランジスタ50がフィード
バック・インピーダンスとして使用される。この場合、rf=1/gd, cf=cgdで
ある。好適にトランジスタ50のゲートに接続されたバイアス電圧はジャイレー
タセルの供給電圧の変化に追従する。IEEE固体回路ジャーナル(IEEE Journ
al of Solid State Circuits),27巻、第2号1992年2月の“非常に高い
周波数におけるCMOS相互コンダクタンス−Cフィルタ技術(A CMOS Transco
nductance-C Filter Technique for Very High Frequencies)”で、ナウタ(Na
uta)により提案されたジャイレータ構造の場合においては、例えばジャイレー
タセルの供給電圧は同調回路から与えられ、処理、温度、供給電圧の変化に依存
した電圧を与える。従って、もしバイアス電圧がジャイレータセル同調電圧の変
化に追従するなら、処理、温度、供給電源の通常の変化にわたって、rf∝1/gm 及びτf∝τgmが保証される。
及びτfのような)が異なる温度、供給電圧において全ての製造装置において一
定の関係をもたねばならないことである。図6はICにおいてこれを達成する方
法を示す。特に、3極管特性領域で作動するMOSトランジスタ50がフィード
バック・インピーダンスとして使用される。この場合、rf=1/gd, cf=cgdで
ある。好適にトランジスタ50のゲートに接続されたバイアス電圧はジャイレー
タセルの供給電圧の変化に追従する。IEEE固体回路ジャーナル(IEEE Journ
al of Solid State Circuits),27巻、第2号1992年2月の“非常に高い
周波数におけるCMOS相互コンダクタンス−Cフィルタ技術(A CMOS Transco
nductance-C Filter Technique for Very High Frequencies)”で、ナウタ(Na
uta)により提案されたジャイレータ構造の場合においては、例えばジャイレー
タセルの供給電圧は同調回路から与えられ、処理、温度、供給電圧の変化に依存
した電圧を与える。従って、もしバイアス電圧がジャイレータセル同調電圧の変
化に追従するなら、処理、温度、供給電源の通常の変化にわたって、rf∝1/gm 及びτf∝τgmが保証される。
【0028】
このようにして、ジャイレータまたは他の交差結合構造におけるチャネル遅延
を補償できる回路が提供される。さらに、そのような補償を達成する集積回路を
設計する方法が提供される。
を補償できる回路が提供される。さらに、そのような補償を達成する集積回路を
設計する方法が提供される。
【図1】
本発明によるジャイレータの概念的ブロック図面。
【図2】
図1の回路におけるインバータの回路図。
【図3】
図1の回路に使用されるフィードバック回路をもったトランジスタを示す回路
図。
図。
【図4】
本発明による装置の伝達アドミタンスの大きさの周波数に対するプロットを示
す図面。
す図面。
【図5】
本発明による装置の伝達アドミタンスの位相の周波数に対するプロットを示す
図面。
図面。
【図6】
図1の回路に使用されるフィードバック回路をもったトランジスタを示す回路
図。
図。
【手続補正書】特許協力条約第34条補正の翻訳文提出書
【提出日】平成13年6月25日(2001.6.25)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項2】 ループに配列された4つのMOSインバータを含み、1対の
入力端子と1対の出力端子をもった、請求項1に記載の集積回路ジャイレータ。
入力端子と1対の出力端子をもった、請求項1に記載の集積回路ジャイレータ。
【請求項3】 交差結合構造をもった、請求項1に記載の集積回路ジャイレ
ータ。
ータ。
【請求項4】 前記MOS集積回路における各MOS装置に関連した直列の
フィードバックをもった、請求項1に記載の集積回路ジャイレータ。
フィードバックをもった、請求項1に記載の集積回路ジャイレータ。
【請求項5】 前記直列フィードバックが、それぞれのトランジスタに直列
に接続された抵抗器とキャパシタの並列組合せにより形成される、請求項1に記
載の集積回路ジャイレータ。
に接続された抵抗器とキャパシタの並列組合せにより形成される、請求項1に記
載の集積回路ジャイレータ。
【請求項6】 抵抗器とキャパシタの並列組合せの各々がそれぞれのトラン
ジスタのソース端子に接続されている、請求項5に記載の集積回路ジャイレータ
。
ジスタのソース端子に接続されている、請求項5に記載の集積回路ジャイレータ
。
【請求項7】 前記直列フィードバックが前記それぞれの装置に接続された
別のMOSトランジスタにより設けられ、前記別のMOSトランジスタの各々が
3極管特性領域で作動するようにバイアス電圧が印加される、請求項1に記載の
集積回路ジャイレータ。
別のMOSトランジスタにより設けられ、前記別のMOSトランジスタの各々が
3極管特性領域で作動するようにバイアス電圧が印加される、請求項1に記載の
集積回路ジャイレータ。
【請求項8】 処理、温度、及び供給電圧の変化を補償するため、前記バイ
アス電圧が前記ジャイレータに供給される同調電圧の変化に追従する、請求項7 に記載の集積回路ジャイレータ。
アス電圧が前記ジャイレータに供給される同調電圧の変化に追従する、請求項7 に記載の集積回路ジャイレータ。
【請求項9】 複数のMOSトランジスタを含む交差結合構造を少なくとも
1つ備えた集積回路アナログ・フィルタを設計する方法において、 前記MOSトランジスタの少なくともあるもののチャネル遅延を調べること、
及び前記トランジスタに関連して直列フィードバックを付加して広い帯域にわた
ってそれを補償すること、を含む前記方法。
1つ備えた集積回路アナログ・フィルタを設計する方法において、 前記MOSトランジスタの少なくともあるもののチャネル遅延を調べること、
及び前記トランジスタに関連して直列フィードバックを付加して広い帯域にわた
ってそれを補償すること、を含む前記方法。
【請求項10】 前記方法に従って、集積回路構造を実現することを更に含
む、請求項9に記載の方法。
む、請求項9に記載の方法。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY,
DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I
T,LU,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ
,CF,CG,CI,CM,GA,GN,GW,ML,
MR,NE,SN,TD,TG),AP(GH,GM,K
E,LS,MW,MZ,SD,SL,SZ,TZ,UG
,ZW),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,
RU,TJ,TM),AE,AG,AL,AM,AT,
AU,AZ,BA,BB,BG,BR,BY,BZ,C
A,CH,CN,CR,CU,CZ,DE,DK,DM
,DZ,EE,ES,FI,GB,GD,GE,GH,
GM,HR,HU,ID,IL,IN,IS,JP,K
E,KG,KP,KR,KZ,LC,LK,LR,LS
,LT,LU,LV,MA,MD,MG,MK,MN,
MW,MX,MZ,NO,NZ,PL,PT,RO,R
U,SD,SE,SG,SI,SK,SL,TJ,TM
,TR,TT,TZ,UA,UG,UZ,VN,YU,
ZA,ZW
Claims (18)
- 【請求項1】 少なくともその中のトランジスタのいくつかと関連した直列
のフィードバックをもった集積回路ジャイレータ。 - 【請求項2】 ループに配列された複数のインバータを含む、請求項1に記
載の集積回路ジャイレータ。 - 【請求項3】 1対の入力端子と1対の出力端子をもった、請求項2に記載
の集積回路ジャイレータ。 - 【請求項4】 交差結合構造をもった、請求項2に記載の集積回路ジャイレ
ータ。 - 【請求項5】 前記インバータがMOSインバータである、請求項2に記載
の集積回路ジャイレータ。 - 【請求項6】 前記MOS集積回路における各MOS装置に関連した直列の
フィードバックをもった、請求項5に記載の集積回路ジャイレータ。 - 【請求項7】 前記直列フィードバックが、それぞれのトランジスタに直列
に接続された抵抗器とキャパシタの並列組合せにより形成される、請求項1に記
載の集積回路ジャイレータ。 - 【請求項8】 前記トランジスタがMOS装置であり、抵抗器とキャパシタ
の並列組合せの各々がそれぞれのトランジスタのソース端子に接続されている、
請求項7に記載の集積回路ジャイレータ。 - 【請求項9】 前記トランジスタがMOS装置であり、前記直列フィードバ
ックが前記それぞれの装置に接続された別のMOSトランジスタにより設けられ
、前記別のMOSトランジスタの各々が3極管特性領域で作動するようにバイア
ス電圧が印加される、請求項1に記載の集積回路ジャイレータ。 - 【請求項10】 前記バイアス電圧がジャイレータの供給電圧の変化に追従
する、請求項9に記載の集積回路ジャイレータ。 - 【請求項11】 複数のトランジスタを含む交差結合構造を少なくとも1つ
備えた集積回路アナログ・フィルタを設計する方法において、 前記トランジスタの少なくともあるもののチャネル遅延を調べること、及び前
記トランジスタに関連して直列フィードバックを付加して広い帯域にわたってそ
れを補償すること、を含む前記方法。 - 【請求項12】 前記方法に従って、集積回路構造を実現することを更に含
む、請求項11に記載の方法。 - 【請求項13】 少なくともその中のトランジスタのいくつかと関連して直
列のフィードバックをもった、交差結合の集積回路トランジスタ構造。 - 【請求項14】 少なくともその中のトランジスタのいくつかと関連して直
列のフィードバックをもった、交差結合のMOS構造。 - 【請求項15】 少なくともその中のトランジスタのいくつかと関連して直
列のフィードバックをもった、MOSジャイレータ。 - 【請求項16】 複数のMOSインバータを含むジャイレータ・コアを含み
、前記ジャイレータ・コアのトランジスタの少なくともあるものに関連したフィ
ードバックをもった、MOSジャイレータ。 - 【請求項17】 複数の積分回路を含み、前記積分回路がその中のトランジ
スタの少なくともあるものに関連した直列フィードバックをもった、集積回路ア
ナログ・フィルタ。 - 【請求項18】 複数のジャイレータを含み、前記ジャイレータがその中の
トランジスタの少なくともあるものに関連した直列フィードバックもった、集積
回路アナログ・フィルタ。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB9916808A GB2352102B (en) | 1999-07-16 | 1999-07-16 | Integrated circuit |
GB9916808.0 | 1999-07-16 | ||
PCT/EP2000/006344 WO2001006648A1 (en) | 1999-07-16 | 2000-07-05 | Integrated circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003505907A true JP2003505907A (ja) | 2003-02-12 |
Family
ID=10857439
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001510984A Pending JP2003505907A (ja) | 1999-07-16 | 2000-07-05 | 集積回路 |
Country Status (14)
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