JP2003500315A - 糸を清掃する方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 本発明は、糸における欠陥が切取られ、かつ清掃限界が、切取る必要のない欠陥から切取るべき欠陥を分離する、糸を清掃する方法及び装置に関する。最終製品におけるその作用がさらに正確に予測可能であるように、清掃限界の改善され、簡単化されかつ迅速な設定を可能にするために、清掃限界から出発して、最終製品（３３）における欠陥（３４−３６）の表示を発生し、これらの表示が、最終製品における欠陥の作用を視覚化する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】 本発明は、糸における欠陥が切取られ、かつ清掃限界が、切取る必要のない欠
陥から切取るべき欠陥を分離する、糸を清掃する方法及び装置に関する。

【０００２】 糸清掃器とも称するこのような装置において、制御装置に設定値を入力し、こ
れらの設定値がこのような清掃曲線を確定することによって、製造限界を手動で
設定することは、通常のことである。

【０００３】 この方法は、複雑な徹底テストによってしか良好な清掃限界を見付けることが
できないので、きわめて複雑である。このことは、第１の清掃限界によって糸を
製造し、かつ続いて糸及びそれにより製造された製品の品質をテストし、それか
ら新しい改善された清掃限界の設定のための報告を見付けなければならないとい
うことを意味する。最後に見付けられた清掃限界は、例えばロータ紡績機又はス
プール機における複数の制御装置においても設定しなければならない。

【０００４】 ヨーロッパ特許第０８７７１０８号明細書によれば、清掃限界が自動的に設定
される、前記のような方法及び装置が公知である。そのために糸の太さ偏差の太
さ及び長さに対する値を測定しかつ収集することによって、第１の糸区間からま
ず糸欠陥を検出する。この時、これらの値は、適当なプログラムを含む計算機、
例えばいわゆるＰＣによって整理し、かつダイヤグラムに記録することができ、
その際、欠陥の太さに対する値及び長さに対する所属の値は、長さ／太さダイヤ
グラムに記入される。このダイヤグラムにおいて一方の軸線に沿って、糸におけ
る欠陥の種々の長さに対する値範囲が、かつ他方の軸線に沿って糸における欠陥
の太さに対する値範囲がプロットされている。このようにして四角形の区分が生
じ、これらの区分は、それぞれ欠陥の長さに対する上側及び下側限界、及び太さ
に対する上側及び下側限界によって区画されている。この時、それぞれの太さ及
び長さ範囲に対して検出された欠陥の数が判定され、かつこの範囲内の欠陥密度
が得られるようにするために、このダイヤグラムにおける区分において、糸にお
いて検出された欠陥が記入できる。糸における正確な測定の際、平均値から又は
所定の値からの太さの小さな偏差も検出されるので、これらの小さな偏差に対し
てきわめて多くの値が、したがってきわめて大きな欠陥密度も得られる。このよ
うな値は、いわゆる“糸本体”に算入することができる。これらの値は、実際に
は単に糸の通常の構造を再現しているだけなので、実際の欠陥には所属しない。
所定の程度を越えた太さの偏差だけが注目に値する。１次近似において欠陥密度
は、欠陥の強さ又は意味に対する尺度と解することができ、しかも相応する欠陥
の障害がわずかなほど、欠陥密度は高くなるように解することができる。したが
って最適な清掃限界は、欠陥ダイヤグラムにおける同じ欠陥密度又は同じ欠陥強
さの点を結ぶようにする。この清掃限界上にある欠陥は、それぞれ同じ障害にな
る。この方法においてオペレータは、ＰＣにおける清掃器切断の数をあらかじめ
与え、かつこのようにして最適な清掃限界を得る。オペレータが、得られた曲線
に同意していれば、彼は、これを糸清掃器のための制御装置のメモリにロードし
、かつそれにより今後これが作業する。

【０００５】 この公知の方法の欠点は、糸における切断の許容される回数に対する値から出
発して清掃限界が決められるという点にある。このようにして場合によってはこ
こでも糸及び結果製品の品質をテストしなければならず、かつそれから清掃限界
をもう一度整合しなければならない。

【０００６】 この時、特許請求の範囲に特徴を示したような本発明は、これらの欠点を回避
し、かつ清掃限界の改善された、簡単化されたかつ迅速な設定を可能にするので
、糸におけるその作用が一層正確にも予測できる、方法及び装置を提供するとい
う課題を解決する。

【０００７】 このことは、次のようにして達成される。すなわち糸に沿った長さ、太さ及び
位置に対して糸清掃器の制御装置によってそれぞれの糸欠陥について検出された
値が、新種の方法において評価される。ここでは太さとは、欠陥半径、欠陥横断
面又は欠陥質量のような選択的な大きさを称する。清掃限界のグラフ表示は必要
ない。その代わりにシミュレーションされた糸欠陥のセットが画像にして表示さ
れ、その際、画像は、次になお詳細に説明するように、種々の形を有することが
できる。いずれにせよ画像は、同じ清掃限界上にある欠陥だけを常に示す。しか
しその際、欠陥は、異なった形及び長さを有することがある。この清掃限界上に
ありかつ表示される欠陥に対して：これは、糸の清掃の後になおここに残る、し
たがって清掃によって取り除かれない糸におけるもっとも障害となる欠陥である
ことが成り立つ。しかしすでにわずかに強力な欠陥は、切取られる。画像におけ
る欠陥として、シミュレーションされた欠陥画像が示される。あらかじめ与えら
れた長さ及び太さを有するそれぞれの欠陥に対して、欠陥の画像又は表示がシミ
ュレーションされ、かつ／又はあらかじめ記憶されなければならない。その長さ
及び太さに対する値対によって特徴づけられる欠陥は、実際に種々の形を有する
ので、それどころか可能な形の変形を考慮するために、１つの欠陥に対して多数
の画像又は表示を記憶することが望ましい。シミュレーションのための基礎とし
て、パターンテーブルが利用され、これらのパターンテーブルは、これらの種々
の形の変形における定義された長さ及び太さを有する糸欠陥を示す。糸欠陥の表
示のために、少なくとも３つの可能性が存在する。第１に欠陥を備えた個々の糸
区間を、ほぼ実際の大きさで示すことができる。第２に糸欠陥を含むパターン組
織からなる小さな断片を表示することができ、かつ第３に一層大きな組織断片を
示すことができ、ここではとくに組織内における欠陥の２次元的な分布が認識可
能になる。

【０００８】 それ故に本発明による装置は、紡績及びスプール機に取付けられたそれ自体周
知の糸清掃器からなり、かつ計算機（ＰＣ）を有し、この計算機は、そのメモリ
内に欠陥の表示及び欠陥を分類するプログラムを有する。計算機は、欠陥の例を
表示する手段も有し、かつ欠陥のあらかじめ記憶された表示又は入力データから
欠陥を表示するためのプログラムを含んでいる。なるべくこれは、選択可能な区
分も有し、これらの区分を介して清掃限界の計算を起動することができる。

【０００９】 本発明によって達成される利点は、とくに次の点にある。すなわち清掃限界の
設定を大幅に簡単化することができ、かつこのようにして比較的低い能力のオペ
レータによっても実行することができる。加えて行なわれた設定の作用は、きわ
めて正確に認識することができる。しかしとりわけそれにより清掃限界は、最終
製品の所望の品質によって作用を及ぼし、かつ決めることができる。例えば織物
又は編物の表面の多かれ少なかれ均一な構造に現われるこの品質は、糸のための
清掃限界を決める際に直接考慮することができる。欠陥の表示は、最終製品にお
ける欠陥の種類又は欠陥の分布の作用を強調することができる。

【００１０】 次に本発明を例によりかつ添付の図面を引用して詳細に説明する。

【００１１】 図１は、長手方向に動くテスト部材、ここでは糸１を示しており、この糸は、
糸清掃器３の測定範囲又は測定ギャップ２を通過する。これは、線４を介して評
価ユニット５に接続されており、この評価ユニットは、他方においてバス６を介
して制御装置７に接続されている。ただし評価ユニットは糸清掃器の一部であっ
てもよい。制御装置７に別のバス８を介して別の評価ユニットが、したがって別
の糸清掃器が接続されていてもよい。制御装置７は、バス又はイーザネット（Ｅ
ｔｈｅｒｎｅｔ）（ＬＡＮ）等のようなネットワーク９を介して計算機１０に接
続されており、この計算機は、例えば表示手段を有する通常のＰＣであってもよ
い。このようにしてこの計算機は、画像スクリーン１１、入力キーボード１２及
びプロセッサ１３のような周知の要素も有する。計算機１０内に種々のプログラ
ムが記憶されており、例えば組織シミュレーションを行なうプログラム、第１の
清掃限界を確定するプログラム、及び欠陥画像を発生しかつ所定の欠陥画像を記
憶するプログラムが記憶されている。組織シミュレーションを行なうプログラム
は、例えばＵＳＴＥＲ ＥＸＰＥＲＴなる名称において市販で入手することがで
き、かつその概要において米国特許第５６７１０６１号明細書にも記載されてい
る。清掃限界を確定するプログラムは、ＺＥＬＬＷＥＧＥＲ ＵＳＴＥＲ社から
ＣＡＹなる名称で販売され、かつその概要においてヨーロッパ特許第０８７７１
０８号明細書から公知である。糸における典型的な欠陥画像は、ＵＳＴＥＲ Ｃ
ＬＡＳＳＩＭＡＴにより公知であり、かつ例えば刊行物“ＵＳＴＥＲ Ｎｅｗｓ
Ｂｕｌｌｅｔｉｎ”第２９号、１９８１年８月、第４、６及び１５頁に示され
ている。

【００１２】 図２は、糸のような最終製品における欠陥に対する例を示しており、これらの
欠陥は、同じ清掃限界上にあることができ、したがって同じ程度に不所望であり
又は許容され、したがって清掃限界の点にも対応することができる。欠陥１４は
短い太い位置と称し、欠陥１７は長いがそれよりわずかな太さを有する太い位置
と称する。欠陥１５及び１６は、その程度においてその間のどこかにある。

【００１３】 図３は、図２と類似の欠陥を示すが、これらの欠陥は、全体的に一層わずかな
太さを有し、したがってわずかな障害にしかならない。この表示は、欠陥の様式
を強調している。

【００１４】 図４は、図２と同じ欠陥１４ないし１７を示すが、面組織からの断片において
示している。

【００１５】 図５は、図３と同じ欠陥１８ないし２１を示すが、環境内において示している
。

【００１６】 図６は、織物又は編物のウエブ２５を示しており、ここにおいて糸欠陥は、参
照符号２６ないし２９によって表示されている。

【００１７】 図７は、織物又は編物のウエブ３０を示しており、ここにおいて糸欠陥は、参
照符号３１及び３２によって表示されている。この表示は、最終製品における欠
陥の分布を強調している。

【００１８】 図８は、画像スクリーン上にこれがどのように構成できるかの表示を示してい
る。３３によって織物又は編物のような最終製品のウエブが示されており、これ
は、例えば３４、３５及び３６によって示すような視覚化された糸欠陥を有する
。その右の区分３７において、これらの糸欠陥は、拡大されかつ同じ高さに示さ
れているので、その性質を認識することができる。区分３８に、同一の欠陥に対
して５つの異なった変形が示されている。これらすべての欠陥は、その形が互い
に相違しているとはいえ、同じく障害と感じられるので、同じ区分に分類される
。区分３９及び４０は、例えばマウスによって選択可能である。区分３９の選択
は、清掃限界を厳しくし、かつ区分４０の選択は、これを一層寛容にする。

【００１９】 本発明の動作は次のとおりである：

【００２０】 糸製造の開始前又はその時又は所定の製品ロットに対して、清掃限界があらか
じめ与えられる。このことは、例えばヨーロッパ特許第０８７７１０８号明細書
から公知のように行なわれる。いずれの場合にも、この清掃限界は、結局計算機
１０内にあらかじめ記憶されていなければならず、又は適当なプログラムによっ
て検出しなければならない。この時、画像スクリーン１１において最終製品に、
したがって糸に、織物又は編物２５、３０に、図２、４又は６の１つに並んで又
は上下に示すように、例えばこの清掃限界に対応付けることができる糸欠陥が示
される。オペレータは、図２、４又は６に示すような例えば３つの表示を選択す
ることができ、かつこの時、糸において示された欠陥がまだ許容できるか又はで
きないかどうかを判定することができる。これが許容できるとき、彼は、その清
掃限界を場合によってはあまりに鈍感に設定していた。彼は、入力キーボード１
２において相応する入力を行ない、又はマウスを介して画像スクリーン１１にお
いて区分３９（図８）を選択することによって、これを厳しくすることができる
。それからプロセッサ１３は、さらに多くの欠陥を切取る新しい清掃限界を計算
し、かつ画像スクリーン１１に例えば図３、５及び７に示すような欠陥の新しい
画像が生じる。その逆の様式において清掃限界は、例えば区分４０を選択するこ
とによって、さらに寛容に設定することもできる。監視のためにそれぞれの清掃
限界に対して、予期される清掃器切断の数を表示区分に表示することもできる。
欠陥のシミュレーションが求められた品質特徴を認識することができるとすぐに
、清掃限界の確保、及び清掃器３を制御するために制御装置７へのダウンロード
が行なわれる。この時、このようにして最適化された清掃限界によって糸の製造
を始めることができる。

【００２１】 すでに述べたように、計算機１０内に糸欠陥の画像を記憶することができる。
これらの画像は、そのためにディジタル化されかつ記憶された写真のような実際
の写像に相当することができる。このようにしてあらかじめ与えられる画像の数
は制限されているので、２つの画像から周知の画像処理アルゴリズムによる補間
によって、あらかじめ記憶されていない糸欠陥を示す別の画像を発生することが
できる。なぜならこれらは、あらかじめ記憶された画像に対してあまりにもわず
かな相違を有するからである。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明による装置の略図である。

【図２】 表示の区分における欠陥の表示である。

【図３】 表示の区分における欠陥の表示である。

【図４】 表示の区分における欠陥の表示である。

【図５】 表示の区分における欠陥の表示である。

【図６】 表示の区分における欠陥の表示である。

【図７】 表示の区分における欠陥の表示である。

【図８】 ＰＣの画像スクリーンにおける表示の図である。

【手続補正書】特許協力条約第３４条補正の翻訳文提出書

【提出日】平成１３年２月２６日（２００１．２．２６）

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】全文

【補正方法】変更

【補正の内容】

【発明の名称】 糸を清掃する方法及び装置

【特許請求の範囲】

【発明の詳細な説明】

【０００１】 本発明は、糸における欠陥が切取られ、かつ清掃限界が、切取る必要のない欠
陥から切取るべき欠陥を分離する、糸を清掃する方法及び装置に関する。

【０００２】 糸清掃器とも称するこのような装置において、制御装置に設定値を入力し、こ
れらの設定値がこのような清掃曲線を確定することによって、製造限界を手動で
設定することは、通常のことである。

【０００３】 この方法は、複雑な徹底テストによってしか良好な清掃限界を見付けることが
できないので、きわめて複雑である。このことは、第１の清掃限界によって糸を
製造し、かつ続いて糸及びそれにより製造された製品の品質をテストし、それか
ら新しい改善された清掃限界の設定のための報告を見付けなければならないとい
うことを意味する。最後に見付けられた清掃限界は、例えばロータ紡績機又はス
プール機における複数の制御装置においても設定しなければならない。

【０００４】 スイス国特許第４７７５７３号明細書によれば、清掃すべき欠陥種類の選択が
、横断面及び長さにしたがって典型的な糸欠陥を分類する画像テーブル上に置か
れる曲線の選択によって行なわれる、電子糸清掃器が公知である。

【０００５】 ヨーロッパ特許第０８７７１０８号明細書によれば、清掃限界が自動的に設定
される、前記のような方法及び装置が公知である。そのために糸の太さ偏差の太
さ及び長さに対する値を測定しかつ収集することによって、第１の糸区間からま
ず糸欠陥を検出する。この時、これらの値は、適当なプログラムを含む計算機、
例えばいわゆるＰＣによって整理し、かつダイヤグラムに記録することができ、
その際、欠陥の太さに対する値及び長さに対する所属の値は、長さ／太さダイヤ
グラムに記入される。このダイヤグラムにおいて一方の軸線に沿って、糸におけ
る欠陥の種々の長さに対する値範囲が、かつ他方の軸線に沿って糸における欠陥
の太さに対する値範囲がプロットされている。このようにして四角形の区分が生
じ、これらの区分は、それぞれ欠陥の長さに対する上側及び下側限界、及び太さ
に対する上側及び下側限界によって区画されている。この時、それぞれの太さ及
び長さ範囲に対して検出された欠陥の数が判定され、かつこの範囲内の欠陥密度
が得られるようにするために、このダイヤグラムにおける区分において、糸にお
いて検出された欠陥が記入できる。糸における正確な測定の際、平均値から又は
所定の値からの太さの小さな偏差も検出されるので、これらの小さな偏差に対し
てきわめて多くの値が、したがってきわめて大きな欠陥密度も得られる。このよ
うな値は、いわゆる“糸本体”に算入することができる。これらの値は、実際に
は単に糸の通常の構造を再現しているだけなので、実際の欠陥には所属しない。
所定の程度を越えた太さの偏差だけが注目に値する。１次近似において欠陥密度
は、欠陥の強さ又は意味に対する尺度と解することができ、しかも相応する欠陥
の障害がわずかなほど、欠陥密度は高くなるように解することができる。したが
って最適な清掃限界は、欠陥ダイヤグラムにおける同じ欠陥密度又は同じ欠陥強
さの点を結ぶようにする。この清掃限界上にある欠陥は、それぞれ同じ障害にな
る。この方法においてオペレータは、ＰＣにおける清掃器切断の数をあらかじめ
与え、かつこのようにして最適な清掃限界を得る。オペレータが、得られた曲線
に同意していれば、彼は、これを糸清掃器のための制御装置のメモリにロードし
、かつそれにより今後これが作業する。

【０００６】 この公知の方法の欠点は、糸における切断の許容される回数に対する値から出
発して清掃限界が決められるという点にある。このようにして場合によってはこ
こでも糸及び結果製品の品質をテストしなければならず、かつそれから清掃限界
をもう一度整合しなければならない。

【０００７】 この時、特許請求の範囲に特徴を示したような本発明は、これらの欠点を回避
し、かつ清掃限界の改善された、簡単化されたかつ迅速な設定を可能にするので
、糸におけるその作用が一層正確にも予測できる、方法及び装置を提供するとい
う課題を解決する。

【０００８】 このことは、次のようにして達成される。すなわち糸に沿った長さ、太さ及び
位置に対して糸清掃器の制御装置によってそれぞれの糸欠陥について検出された
値が、新種の方法において評価される。ここでは太さとは、欠陥半径、欠陥横断
面又は欠陥質量のような選択的な大きさを称する。清掃限界のグラフ表示は必要
ない。その代わりにシミュレーションされた糸欠陥のセットが画像にして表示さ
れ、その際、画像は、次になお詳細に説明するように、種々の形を有することが
できる。いずれにせよ画像は、同じ清掃限界上にある欠陥だけを常に示す。しか
しその際、欠陥は、異なった形及び長さを有することがある。この清掃限界上に
ありかつ表示される欠陥に対して：これは、糸の清掃の後になおここに残る、し
たがって清掃によって取り除かれない糸におけるもっとも障害となる欠陥である
ことが成り立つ。しかしすでにわずかに強力な欠陥は、切取られる。画像におけ
る欠陥として、シミュレーションされた欠陥画像が示される。あらかじめ与えら
れた長さ及び太さを有するそれぞれの欠陥に対して、欠陥の画像又は表示がシミ
ュレーションされ、かつ／又はあらかじめ記憶されなければならない。その長さ
及び太さに対する値対によって特徴づけられる欠陥は、実際に種々の形を有する
ので、それどころか可能な形の変形を考慮するために、１つの欠陥に対して多数
の画像又は表示を記憶することが望ましい。シミュレーションのための基礎とし
て、パターンテーブルが利用され、これらのパターンテーブルは、これらの種々
の形の変形における定義された長さ及び太さを有する糸欠陥を示す。糸欠陥の表
示のために、少なくとも３つの可能性が存在する。第１に欠陥を備えた個々の糸
区間を、ほぼ実際の大きさで示すことができる。第２に糸欠陥を含むパターン組
織からなる小さな断片を表示することができ、かつ第３に一層大きな組織断片を
示すことができ、ここではとくに組織内における欠陥の２次元的な分布が認識可
能になる。

【０００９】 それ故に本発明による装置は、紡績及びスプール機に取付けられたそれ自体周
知の糸清掃器からなり、かつ計算機（ＰＣ）を有し、この計算機は、そのメモリ
内に欠陥の表示及び欠陥を分類するプログラムを有する。計算機は、欠陥の例を
表示する手段も有し、かつ欠陥のあらかじめ記憶された表示又は入力データから
欠陥を表示するためのプログラムを含んでいる。なるべくこれは、選択可能な区
分も有し、これらの区分を介して清掃限界の計算を起動することができる。

【００１０】 本発明によって達成される利点は、とくに次の点にある。すなわち清掃限界の
設定を大幅に簡単化することができ、かつこのようにして比較的低い能力のオペ
レータによっても実行することができる。加えて行なわれた設定の作用は、きわ
めて正確に認識することができる。しかしとりわけそれにより清掃限界は、最終
製品の所望の品質によって作用を及ぼし、かつ決めることができる。例えば織物
又は編物の表面の多かれ少なかれ均一な構造に現われるこの品質は、糸のための
清掃限界を決める際に直接考慮することができる。欠陥の表示は、最終製品にお
ける欠陥の種類又は欠陥の分布の作用を強調することができる。

【００１１】 次に本発明を例によりかつ添付の図面を引用して詳細に説明する。

【００１２】 図１は、長手方向に動くテスト部材、ここでは糸１を示しており、この糸は、
糸清掃器３の測定範囲又は測定ギャップ２を通過する。これは、線４を介して評
価ユニット５に接続されており、この評価ユニットは、他方においてバス６を介
して制御装置７に接続されている。ただし評価ユニットは糸清掃器の一部であっ
てもよい。制御装置７に別のバス８を介して別の評価ユニットが、したがって別
の糸清掃器が接続されていてもよい。制御装置７は、バス又はイーザネット（Ｅ
ｔｈｅｒｎｅｔ）（ＬＡＮ）等のようなネットワーク９を介して計算機１０に接
続されており、この計算機は、例えば表示手段を有する通常のＰＣであってもよ
い。このようにしてこの計算機は、画像スクリーン１１、入力キーボード１２及
びプロセッサ１３のような周知の要素も有する。計算機１０内に種々のプログラ
ムが記憶されており、例えば組織シミュレーションを行なうプログラム、第１の
清掃限界を確定するプログラム、及び欠陥画像を発生しかつ所定の欠陥画像を記
憶するプログラムが記憶されている。組織シミュレーションを行なうプログラム
は、例えばＵＳＴＥＲ ＥＸＰＥＲＴなる名称において市販で入手することがで
き、かつその概要において米国特許第５６７１０６１号明細書にも記載されてい
る。清掃限界を確定するプログラムは、ＺＥＬＬＷＥＧＥＲ ＵＳＴＥＲ社から
ＣＡＹなる名称で販売され、かつその概要においてヨーロッパ特許第０８７７１
０８号明細書から公知である。糸における典型的な欠陥画像は、ＵＳＴＥＲ Ｃ
ＬＡＳＳＩＭＡＴにより公知であり、かつ例えば刊行物“ＵＳＴＥＲ Ｎｅｗｓ
Ｂｕｌｌｅｔｉｎ”第２９号、１９８１年８月、第４、６及び１５頁に示され
ている。

【００１３】 図２は、糸のような最終製品における欠陥に対する例を示しており、これらの
欠陥は、同じ清掃限界上にあることができ、したがって同じ程度に不所望であり
又は許容され、したがって清掃限界の点にも対応することができる。欠陥１４は
短い太い位置と称し、欠陥１７は長いがそれよりわずかな太さを有する太い位置
と称する。欠陥１５及び１６は、その程度においてその間のどこかにある。

【００１４】 図３は、図２と類似の欠陥を示すが、これらの欠陥は、全体的に一層わずかな
太さを有し、したがってわずかな障害にしかならない。この表示は、欠陥の様式
を強調している。

【００１５】 図４は、図２と同じ欠陥１４ないし１７を示すが、面組織からの断片において
示している。

【００１６】 図５は、図３と同じ欠陥１８ないし２１を示すが、環境内において示している
。

【００１７】 図６は、織物又は編物のウエブ２５を示しており、ここにおいて糸欠陥は、参
照符号２６ないし２９によって表示されている。

【００１８】 図７は、織物又は編物のウエブ３０を示しており、ここにおいて糸欠陥は、参
照符号３１及び３２によって表示されている。この表示は、最終製品における欠
陥の分布を強調している。

【００１９】 図８は、画像スクリーン上にこれがどのように構成できるかの表示を示してい
る。３３によって織物又は編物のような最終製品のウエブが示されており、これ
は、例えば３４、３５及び３６によって示すような視覚化された糸欠陥を有する
。その右の区分３７において、これらの糸欠陥は、拡大されかつ同じ高さに示さ
れているので、その性質を認識することができる。区分３８に、同一の欠陥に対
して５つの異なった変形が示されている。これらすべての欠陥は、その形が互い
に相違しているとはいえ、同じく障害と感じられるので、同じ区分に分類される
。区分３９及び４０は、例えばマウスによって選択可能である。区分３９の選択
は、清掃限界を厳しくし、かつ区分４０の選択は、これを一層寛容にする。

【００２０】 本発明の動作は次のとおりである：

【００２１】 糸製造の開始前又はその時又は所定の製品ロットに対して、清掃限界があらか
じめ与えられる。このことは、例えばヨーロッパ特許第０８７７１０８号明細書
から公知のように行なわれる。いずれの場合にも、この清掃限界は、結局計算機
１０内にあらかじめ記憶されていなければならず、又は適当なプログラムによっ
て検出しなければならない。この時、画像スクリーン１１において最終製品に、
したがって糸に、織物又は編物２５、３０に、図２、４又は６の１つに並んで又
は上下に示すように、例えばこの清掃限界に対応付けることができる糸欠陥が示
される。オペレータは、図２、４又は６に示すような例えば３つの表示を選択す
ることができ、かつこの時、糸において示された欠陥がまだ許容できるか又はで
きないかどうかを判定することができる。これが許容できるとき、彼は、その清
掃限界を場合によってはあまりに鈍感に設定していた。彼は、入力キーボード１
２において相応する入力を行ない、又はマウスを介して画像スクリーン１１にお
いて区分３９（図８）を選択することによって、これを厳しくすることができる
。それからプロセッサ１３は、さらに多くの欠陥を切取る新しい清掃限界を計算
し、かつ画像スクリーン１１に例えば図３、５及び７に示すような欠陥の新しい
画像が生じる。その逆の様式において清掃限界は、例えば区分４０を選択するこ
とによって、さらに寛容に設定することもできる。監視のためにそれぞれの清掃
限界に対して、予期される清掃器切断の数を表示区分に表示することもできる。
欠陥のシミュレーションが求められた品質特徴を認識することができるとすぐに
、清掃限界の確保、及び清掃器３を制御するために制御装置７へのダウンロード
が行なわれる。この時、このようにして最適化された清掃限界によって糸の製造
を始めることができる。

【００２２】 すでに述べたように、計算機１０内に糸欠陥の画像を記憶することができる。
これらの画像は、そのためにディジタル化されかつ記憶された写真のような実際
の写像に相当することができる。このようにしてあらかじめ与えられる画像の数
は制限されているので、２つの画像から周知の画像処理アルゴリズムによる補間
によって、あらかじめ記憶されていない糸欠陥を示す別の画像を発生することが
できる。なぜならこれらは、あらかじめ記憶された画像に対してあまりにもわず
かな相違を有するからである。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明による装置の略図である。

【図２】 表示の区分における欠陥の表示である。

【図３】 表示の区分における欠陥の表示である。

【図４】 表示の区分における欠陥の表示である。

【図５】 表示の区分における欠陥の表示である。

【図６】 表示の区分における欠陥の表示である。

【図７】 表示の区分における欠陥の表示である。

【図８】 ＰＣの画像スクリーンにおける表示の図である。

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 糸における欠陥が切取られ、かつ清掃限界が、切取る必要の
   ない欠陥から切取るべき欠陥を分離する、糸を清掃する方法において、清掃限界
   から出発して、最終製品（１，２５，３０）における欠陥（１４−２１，２６−
   ２９，３１，３２）の表示を発生し、これらの表示が、最終製品における欠陥の
   作用を視覚化することを特徴とする、糸を清掃する方法。
2. 【請求項２】 表示される欠陥が、製造の後にまだ最終製品に残ったもっと
   も障害となる欠陥であることを特徴とする、請求項１に記載の方法。
3. 【請求項３】 表示として糸における欠陥が示されることを特徴とする、請
   求項１に記載の方法。
4. 【請求項４】 表示として面組織における欠陥が示されることを特徴とする
   、請求項１に記載の方法。
5. 【請求項５】 表示が欠陥の種類を強調することを特徴とする、請求項４に
   記載の方法。
6. 【請求項６】 表示が、最終製品における欠陥の分布の作用を強調すること
   を特徴とする、請求項５に記載の方法。
7. 【請求項７】 糸清掃器（３）、欠陥例を表示する手段を有するここに接続
   された計算機（１０）を特徴とする、請求項１に記載の方法を実施する装置。
8. 【請求項８】 計算機が、欠陥のあらかじめ記憶された表示を利用すること
   を特徴とする、請求項７に記載の装置。
9. 【請求項９】 計算機が、欠陥画像を発生するプログラムを有することを特
   徴とする、請求項７に記載の装置。
10. 【請求項１０】 ここに選択可能な区分（３９，４０）が設けられており、
    これらの区分によって清掃限界の計算が起動可能であることを特徴とする、請求
    項７に記載の装置。