JP2003347860A - 差動出力バッファ、差動入力バッファ、半導体集積回路、及び回路基板 - Google Patents

差動出力バッファ、差動入力バッファ、半導体集積回路、及び回路基板

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JP2003347860A
JP2003347860A JP2002155245A JP2002155245A JP2003347860A JP 2003347860 A JP2003347860 A JP 2003347860A JP 2002155245 A JP2002155245 A JP 2002155245A JP 2002155245 A JP2002155245 A JP 2002155245A JP 2003347860 A JP2003347860 A JP 2003347860A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 差動信号を受信した際の、クロスポイント電
位の基準電圧からのずれが大きければ差動入力バッファ
等が誤動作する。HH又はLL検出で制御トリガ信号を
抑止しても動作周波数が高ければ検出回路自体が誤動作
を引き起こす。 【解決手段】 差動出力バッファ10は、正側出力バッ
ファ11P、負側出力バッファ11Nを含み、各出力バ
ッファは出力段、可変ディレイゲート114、固定ディ
レイゲート115を有し114、115の出力でトラン
ジスタ112、113のゲートを制御し、差動入力バッ
ファブロック20は正側、負側の出力を受ける差動入力
バッファ21と、正側信号と基準電圧31を入力とする
差動入力バッファ22、負側信号と基準電圧を入力とす
る差動入力バッファ23、位相比較器28を有し、比較
結果を制御クロック、データとし可変ディレイゲート1
14の遅延を増加させ、クロスポイント電位を基準電圧
に合わせる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は正負の一組の信号を
送信する差動出力バッファ、これを受信する差動入力バ
ッファ、少なくともこれらの何れかを含む半導体集積回
路、回路基板に関し、特に差動信号のクロスポイント電
位を基準電圧に自動調整する為の差動出力バッファ、差
動入力バッファ、少なくともこれらの何れかを含む半導
体集積回路、回路基板に関する。
【0002】
【従来の技術】図14の点線ブロックを除いた部分は、
コンピューター等のLSI間を正負一組の差動形式で伝
送する例を示したものである。入力側LSI200の差
動入力バッファ21は正負一組の差動入力信号の電圧が
交差する点(クロスポイント電位)を検知して動作する
が、信号が、同時にLowレベル(又はHighレベル)
になるなど、信号間の電位差が、差動入力バッファ21
で検出できる限界以下になった場合、出力信号は僅かな
ノイズによって誤動作してしまう。
【0003】これは、出力側LSI100側の電源がO
FFしている場合にも起こりうる。即ち、出力バッファ
回路のトランジスタの特性や回路構成、電源ノイズなど
によって、交差する点がずれるためである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】交差する点がずれるの
は避けられないため、差動入力バッファ21で受信した
信号を内部論理で使用する際に、フリップフロップ(F
F)でラッチするタイミングを考慮したり、一定以上の
時間検出した場合にのみ有効とすることが考えられる。
【0005】しかし、差動形式で受信する信号がストロ
ーブ信号の様にそれ自体が入力側の回路動作のトリガと
なる制御信号であればFFでのサンプリングタイミング
を調整するというわけにはいかず、クロスポイントのず
れが大きくなった場合の誤動作が直接機能障害となると
いう問題がある。
【0006】又、図14に示す様に、基準電圧Vref
と、正負一組の差動信号両方を比較し、両方がHigh
又はLowであることを検出する回路(HH検出回路、
または、LL検出回路)を設けて誤動作期間の差動入力
バッファ21の出力信号を抑止する(#ディスエイブル
による抑止)ことも考えられる。
【0007】しかし、動作周波数の向上により、タイミ
ング設計が厳しくなり、クロスポイントのずれが大きく
なった場合、HH又はLL検出回路自体が誤動作を引き
起こす問題があった。
【0008】また、バス接続された信号線では、正負両
方の信号がHighになった場合は、バスが使用されて
いない状態を示す意味を持たせてこれを機能上の論理に
も使用したいという要求もあるが上記誤動作のため使用
できない。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の第1の差動出力
バッファは、ポジティブ側出力バッファとこれと逆極性
の信号を出力するネガティブ側出力バッファとを含む差
動出力バッファであって、前記ポジティブ側出力バッフ
ァ及びネガティブ側出力バッファのそれぞれは、オンオ
フ制御のレベルが互いに逆転した二つのトランジスタが
トーテムポール接続された出力段と、外部から増減指示
を受けて遅延時間を変更出来る可変遅延回路と、遅延時
間が一定の固定遅延回路とを有し、前記ポジティブ側出
力バッファは、送信する信号のポジティブ出力を受け、
これを前記可変遅延回路及び前記固定遅延回路に入力
し、可変遅延回路出力で前記出力段の一方のトランジス
タのオンオフ制御を行い、固定遅延回路出力で前記出力
段の他方のトランジスタのオンオフ制御を行い、前記ネ
ガティブ側出力バッファは、送信する信号のネガティブ
出力を受け、ポジティブ側出力バッファと同様に出力段
のトランジスタのオンオフ制御を行うことを特徴とす
る。
【0010】本発明の第2の差動出力バッファは、前記
第1の差動出力バッファであって、前記ポジティブ側出
力バッファ及び前記ネガティブ側出力バッファにおい
て、前記出力段のトーテムポール出力を内部出力とし、
これでオンオフ制御されるトランジスタを設け、このト
ランジスタを各バッファの出力トランジスタとしたこと
を特徴とする。
【0011】本発明の第3の差動出力バッファは、前記
第1、又は第2の差動出力バッファであって、前記ポジ
ティブ側出力バッファ及び前記ネガティブ側出力バッフ
ァにおいて、前記固定遅延回路を別に設けるのでなく、
前記可変遅延回路の遅延用のゲート列の途中の所定ゲー
トからの出力を固定遅延出力とし、これで前記出力段の
他方のトランジスタのオンオフを制御することを特徴と
する。
【0012】本発明の第4の差動出力バッファは、ポジ
ティブ側出力バッファとこれと逆極性の信号を出力する
ネガティブ側出力バッファとを含む差動出力バッファで
あって、前記ポジティブ側出力バッファ及びネガティブ
側出力バッファのそれぞれは、入力された信号の立ち上
がり及び立ち下がりの微分出力を作成する回路と、外部
から増減指示を受けて遅延時間を変更出来る可変遅延回
路と、遅延時間が一定の固定遅延回路と、セットリセッ
ト出来る状態記憶素子と、オンオフ制御レベルが互いに
逆転した二つのトランジスタがトーテムポール接続され
た出力段とを有し、前記ポジティブ側出力バッファは、
送信する信号のポジティブ出力が入力され、微分回路の
一方の出力を可変遅延回路、他方の出力を固定遅延回路
に入力し、固定遅延回路出力及び可変遅延回路出力で前
記状態記憶素子をセット、リセットし、状態記憶素子の
出力で前記出力段の両方のトランジスタのスイッチ動作
を行ない、前記ネガティブ側出力バッファは、送信する
信号のネガティブ出力が入力され、ポジティブ側出力バ
ッファと同様に出力段の両方のトランジスタのスイッチ
動作を行なうことを特徴とする。
【0013】本発明の第5の差動出力バッファは、ポジ
ティブ側出力バッファとこれと逆極性の信号を出力する
ネガティブ側出力バッファとを含む差動出力バッファで
あって、前記ポジティブ側出力バッファ及びネガティブ
側出力バッファのそれぞれは、入力された信号の立ち上
がり及び立ち下がりの微分出力を作成する回路と、外部
から増減指示を受けて遅延時間を変更出来る可変遅延回
路と、遅延時間が一定の固定遅延回路と、セットリセッ
ト出来る状態記憶素子と、出力トランジスタとを有し、
前記ポジティブ側出力バッファは、送信する信号のポジ
ティブ出力が入力され、微分回路の一方の出力を可変遅
延回路、他方の出力を固定遅延回路に入力し、固定遅延
回路出力及び可変遅延回路出力で状態記憶素子をセッ
ト、リセットし、状態記憶素子の出力で出力トランジス
タのスイッチ動作を行ない、前記ネガティブ側出力バッ
ファは、送信する信号のネガティブ出力が入力され、ポ
ジティブ側出力バッファと同様に出力トランジスタのス
イッチ動作を行なうことを特徴とする。
【0014】本発明の第6の差動出力バッファは、前記
第1乃至第5の何れかの差動出力バッファであって、前
記ポジティブ側出力バッファ及び前記ネガティブ側出力
バッファの可変遅延回路が、複数のゲートがカスケード
接続されたゲート列と、外部からの増減指示により値を
増減するカウンタと、前記ゲート列の各ゲート出力の
内、前記カウンタ値に応じた出力を選択するセレクタと
を備えることを特徴とする。
【0015】本発明の第1の差動入力バッファブロック
は、ポジティブ側信号とネガティブ側信号から構成され
る差動信号を入力する第1の差動入力バッファと、前記
差動信号のポジティブ側信号と外部から供給される基準
電圧とを入力とする第2の差動入力バッファと、前記差
動信号のネガティブ側信号と前記基準電圧とを入力とす
る第3の差動入力バッファと、前記第2の差動入力バッ
ファ出力、前記第3の差動入力バッファ出力がハイ/ロ
ウレベルの内、予め定められたレベルの方向に切り替わ
る際に、前記第2の差動入力バッファ出力の切り替わり
タイミングと前記第3の差動入力バッファ出力の切り替
わりタイミングの時間差が有れば、前後関係に応じ、前
記差動信号の内、前記定められたレベルの方向に切り替
わる側の信号の出力元に、前記定められ方向への切替タ
イミングを遅延或いは早期化する様に指示する位相比較
手段とを、有することを特徴とする。
【0016】本発明の第2の差動入力バッファブロック
は、ポジティブ側信号とネガティブ側信号から構成され
る差動信号を入力する第1の差動入力バッファと、前記
差動信号のポジティブ側信号と外部から供給される基準
電圧とを入力とする第2の差動入力バッファと、前記差
動信号のネガティブ側信号と前記基準電圧とを入力とす
る第3の差動入力バッファと、前記第1の差動入力バッ
ファ出力が一方の電位の方向に切り替わる際に、先行し
て前記第2の差動入力バッファ出力が切り替わることを
検出すると、前記ポジティブ側信号の出力元に前記一方
の電位方向に対応した切り替え開始タイミングの遅延を
指示し、前記第1の差動入力バッファ出力が他方の電位
に切り替わる際に、前記第3の差動入力バッファ出力が
先行して切り替わることを検出すると、前記ネガティブ
側信号の出力元に前記一方の電位方向に対応した切り替
えタイミングの遅延を指示する位相比較手段とを有する
ことを特徴とする。
【0017】本発明の第3の差動入力バッファブロック
は、ポジティブ側信号とネガティブ側信号から構成され
る差動信号を入力する第1の差動入力バッファと、前記
差動信号のポジティブ側信号と外部から供給される基準
電圧とを入力とする第2の差動入力バッファと、前記差
動信号のネガティブ側信号と前記基準電圧とを入力とす
る第3の差動入力バッファと、前記第1の差動入力バッ
ファ出力が一方の電位の方向に切り替わる際の先行す
る、前記第2の差動入力バッファ出力の切り替わり、或
いは前記第3の差動入力バッファ出力の切り替わりを検
出すると、前記ポジティブ側信号の出力元に前記一方の
電位方向に対応した切り替えタイミングの遅延、或いは
早期化を指示し、前記第1の差動入力バッファ出力が他
方の電位に切り替わる際の先行する、前記第3の差動入
力バッファ出力の切り替わり、或いは前記第2の差動入
力バッファ出力の切り替わることを検出すると、前記ネ
ガティブ側信号の出力元に前記一方の電位方向に対応し
た切り替えタイミングの遅延、或いは早期化を指示する
位相比較手段とを有することを特徴とする。
【0018】本発明の半導体集積回路は、前記第1乃至
第6の何れかの差動出力バッファと、前記第1乃至第3
の何れかの差動入力バッファブロックを半導体基板上に
集積したことを特徴とする。
【0019】本発明の第1の回路基板は、前記第1乃至
第6の何れかの差動出力バッファを含む集積回路と、前
記第1乃至第3の何れかの差動入力バッファブロックを
含む他の集積回路と、基準電圧回路とを実装し、前記集
積回路のポジティブ側出力バッファ、ネガティブ側出力
バッファの各出力を前記他の集積回路の差動入力バッフ
ァブロックへの差動信号とし、他集積回路の差動入力バ
ッファブロックからの切り替え開始タイミングに関する
指示を差動出力バッファへの遅延時間制御指示としたこ
とを特徴とする。
【0020】本発明の第2の回路基板は、前記第2、第
3、第5、第6の何れかの差動出力バッファを含む第1
の集積回路と、前記第1乃至第3の何れかの差動入力バ
ッファブロックを含む第2〜第Nの集積回路と、基準電
圧回路とを実装し、前記第1の集積回路からのポジティ
ブ側出力バッファ、ネガティブ側出力バッファの各出力
を前記第2〜第Nの集積回路への差動信号とし、前記第
2〜第Nの集積回路の内の一つの集積回路の切り替え開
始タイミングに関する指示を第1の集積回路への遅延時
間制御指示としたことを特徴とする。
【0021】
【発明の実施の形態】次に、本発明の第1の実施形態に
ついて図面を参照して詳細に説明する。図5に示す様に
集積回路1、2間でストローブ信号を正負でバランス伝
送する例で説明する。
【0022】図1を参照し、差動出力バッファ10は、
同一の構成である2つの出力バッファ11P、11Nを
持っており、それぞれストローブ(P)、ストローブ
(N)の2つの信号を出力する。ここでP、Nはそれぞ
れPositive、Negativeを意味する。
【0023】出力バッファ11Nの入力端子には、出力
バッファ11Pへの入力信号ストローブをインバータ1
6で反転したものが入力され、二つのバッファは相補的
に動作する。
【0024】出力バッファ11Pの出力段はトーテムポ
ール接続されたPチャネルトランジスタ112とNチャ
ネルトランジスタ113により構成され、この出力段の
前段には、可変ディレイゲート114と固定ディレイゲ
ート115がある。固定ディレイゲート115は可変デ
ィレイゲートの遅延時間の中央に設定することで、立ち
上がり波形の出力遅延値を、立下り側に対して相対的に
マイナスにも出来るように構成されている。
【0025】差動入力バッファブロック20は、ストロ
ーブ(P)、(N)を入力とした差動入力バッファ21
と、ストローブ(P)と外部基準電圧(Vref)31
を入力とした差動入力バッファ22と、ストローブ
(N)と外部基準電圧(Vref)31を入力とした差
動入力バッファ23と、位相比較器28を含む。
【0026】位相比較器28は差動入力バッファ21の
出力(P−N信号)と差動入力バッファ22の出力(P
−Vref信号)及び差動入力バッファ23の出力(N
−Vref信号)の位相を比較し、比較結果信号で出力
バッファ11P、11Nの可変ディレイゲート114の
ディレイ値が自動調整される。
【0027】図2は可変ディレイゲート114の構成例
を示したブロック図である。可変ディレイゲート114
は数ビット(例えば3ビット)の2進カウンタ1142
とカスケード接続された複数個(例えば8個)のバッフ
ァゲート1141−1〜1141−8と2進カウンタ1
142の値に応じバッファゲート1141−1〜114
1−8出力のいづれかを選択するセレクタ1143から
構成される。
【0028】2進カウンタ1142は初期クリア信号で
リセットされクロックの立ち上がりで制御データ(アッ
プ指示)がHighであればインクリメントされる。又
カウンタ値が0ではバッファゲート1141−1が選択
され7ではバッファゲート1141−8が選択される。
【0029】詳細図を示していないが固定ディレイゲー
ト115はバッファゲート4段より構成されている。
又、図3に示す様に固定ディレイゲート115を別に設
けることなく可変ディレイゲートの中央付近のディレイ
ゲートより固定出力を引き出す様にしてもよい。
【0030】図4は位相比較器28の構成例を示したブ
ロック図で、タイミング入力の立ち上がりエッジでデー
タがセットされるフリップフロップ(以下FFと省略)
281、285と、これらの動作時間相当の遅延を持つ
バッファ282、286とインバータ283、284を
含む。
【0031】次に、本実施形態の動作について図面を参
照して説明する。この発明では、差動入力バッファブロ
ック20側で、P−N信号とP−Vref信号の位相
差、P−N信号とN−Vref信号の位相差を比較する
ことで、差動出力バッファ10の出力であるストローブ
(P)とストローブ(N)信号のクロスポイント電位と
Vref電位との差を検出する。
【0032】次に検出した情報に基づき、出力バッファ
11P、11Nそれぞれの可変ディレイゲート114の
遅延時間を調整し、ストローブ(P)とストローブ
(N)の立ち上がりタイミングを変化させ、最終的にP
−N信号波形のクロスポイントの電位をVref電位に
合わせる。
【0033】図6のタイムチャートに沿って、また図1
〜4を参照しつつ詳しく説明する。差動入力バッファ2
1は、ストローブ(P)、ストローブ(N)を受けてク
ロスポイントでスイッチング動作し、信号 P−Nを出
力する。一方、差動入力バッファ22は、ストローブ
(P)とVrefとのクロスポイント電位によって動作
し、 P−Vref信号を出力する。同様に差動入力バ
ッファ23はストローブ(N)とVrefとからN−V
ref信号を出力する。
【0034】位相比較器28は、P−N信号の立ち上が
り時のP−Vref信号値をFF281で捕らえること
で、結果として2つの信号間の位相を比較する。即ち、
ストローブ(P)の立ち上がり時に、ストローブ(P)
とストローブ(N)のクロスポイント(以下単に、スト
ローブのクロスポイント)がVrefよりも高い場合
は、P−N信号立ち上がりよりもP−Vref信号立ち
上がりのタイミングが早くなりFF281がHになるこ
とで検出する。
【0035】同様にP−N信号の立ち下がり時(ストロ
ーブ(N)の立ち上がり時)にN−Vref信号値をF
F285で捕らえることで、結果として2つの信号間の
位相を比較する。即ち、P−N信号の立ち下がり時に、
ストローブのクロスポイントがVrefよりも高い場合
は、P−N信号立ち下がりよりもN−Vref信号立ち
上がりのタイミングが早くなりFF285がHになるこ
とで検出する。
【0036】図6に示す様にストローブ(P)の立ち上
がり動作時間(立ち上がりに要する時間)がストーブ
(N)の立ち下がり動作時間より短いにも拘わらず動作
開始タイミングが後でない場合はクロスポイント電位が
Vrefより高くなる。そしてP−VREF信号が立ち
上がってからP−N信号が立ち上がり、その後N−VR
EF信号が立ち下がることになる。
【0037】従ってP−N信号の立ち上がりタイミング
でFF281がHigh(以下Hと省略)にセットされ
制御データ(P)はHとなり、制御クロック(P)と同
期して、出力バッファ11Pの可変ディレイゲート11
4に入力される。
【0038】逆にストローブのクロスポイントがVre
fよりも低い場合は、図7に示す様にP−Vref信号
の立ち上がりはP−N信号立ち上がりより後になり、F
F281がLow(以下Lと省略)にセットされ制御デ
ータ(P)はLとなり、同様に可変ディレイゲート11
4に入力される。
【0039】図2に移り、可変ディレイゲート114の
2進カウンタ1142は制御クロックの立ち上がりで制
御データ(P)がHであればカウント値をインクリメン
トする。カウンタ値は選択信号として出力され、セレク
タ1143へ入力される。セレクタ1143は2進カウ
ンタ1142の値が1つ大きくなると、データ出力の遅
延時間が1ステップ遅い信号を選ぶ様に変化する。
【0040】よって、ストローブのクロスポイントがV
refよりも高い場合は、可変ディレイゲート114が
遅い方に1ステップ変化し、出力バッファ11Pの立ち
上がりのタイミングが遅い方向にずれ、結果としてスト
ローブのクロスポイント電位が低い方向へ調整される。
【0041】図6のタイムチャートに戻り、ストローブ
(P)信号の立ち下がりでは、クロスポイント電位がV
ref電位より高い場合は、N−Vref信号の立ち上
がりがP−N信号立ち下がりより先行する。図4の位相
比較器28のFF285はこれを捕らえHにセットさ
れ、制御データ(N)がHになる。
【0042】出力バッファ11Nの可変ディレイゲート
114は制御クロック(N)、Hとなった制御データ
(N)を受け、内部のカウンタをインクリメントし、出
力バッファ11Nの立ち上がりのタイミングが遅い方向
にずれ、結果として立ち下がり時ストローブのクロスポ
イント電位が低い方向へ調整される。
【0043】本実施例では差動出力バッファ10の初期
設定(集積回路1の電源投入時リセット等)でストロー
ブ(P)、(N)の立ち上がりタイミング(トランジス
タ112のオンタイミング)をストローブ(N)、
(P)の立ち下がりタイミングより早くしておき、上記
2進カウンタのインクリメント動作を数回繰り返して、
最終的に全てのクロスポイント電位をVref電位に近
づけ、以降インクリメントは行われず其の状態が保たれ
る。
【0044】次に本実施形態の第2実施例について図面
を参照し説明する。図8は本実施例の全体構成を示した
ブロック図である。位相比較器29が差動出力バッファ
12P、12Nのそれぞれに制御データ(U)及び制御
データ(D)を送出するところが前記図1の構成と相違
している。ここでU、Dはカウントアップ、ダウンを意
味している。
【0045】又、ディレイゲート114Bについては図
9に示す様に前記固定出力を可変ディレイゲートより引
き出す一体型の構成例としている。そして2進カウンタ
1142BはUP、DOWN入力を持ち、制御クロック
入力の立ち上がりエッジで制御データ(U)がHであれ
ばインクリメントし、制御データ(D)がHであればデ
クリメントする。
【0046】又、初期クリアでは固定出力と対応する
「3」をプリセットする。しかし差動出力バッファ10
Aを含む集積回路1の製造プロセス等においてトランジ
スタ112、113のオン動作時間の大小傾向が一定で
既知であれば中心値「3」に対しクロスポイント電位が
Vrefに近くなる様事前補正した値をプリセットする
ことを否定しない。
【0047】図10は位相比較器29の詳細構成を示し
たブロック図である。位相比較器29は、RSフリップ
フロップ291、FF292、293とAND−OR回
路294、295、296とインバータ297、298
と遅延バッファ2991〜2994から構成されてい
る。
【0048】FF291はP−N信号を受けFF化或い
はラッチ化するFFである。AND−OR回路294は
P−N信号の立ち上がりや立ち下がりで所定時間(FF
291の動作時間とバッファ2991、或いはバッファ
2992の遅延時間の和相当)Hになる内部クロックパ
ルスを作成する回路である。
【0049】FF292は2進カウンター1142Bの
インクリメントを指示するFFで制御機能的には前記F
F281とFF282を纏めたFFである。FF293
はLowにセットされた場合同様にデクリメントを指示
するFFである。
【0050】AND−OR回路295はバッファ299
2がHの時、即ちP−N信号の立ち上りの前から立ち上
がり後の所定時間迄の間、P−Vref信号をFF29
1のデータ入力として選択し、バッファ2991がHの
時、即ちP−N信号が立ち下がり前から立ち下がり後の
所定時間迄の間、N−Vref信号をFF292のデー
タ入力として選択するセレクタである。
【0051】AND−OR回路296はバッファ299
2がHの時にN−Vref信号をFF293のデータ入
力として選択し、バッファ2991がHの時にP−Vr
ef信号をFF291のデータ入力として選択するセレ
クタである。
【0052】次に本実施例の動作について前記第1実施
例と異なるところを説明する。図8を参照し、初期設定
後ストローブが立ち上がると出力バッファ12Pでは、
Nチャネルトランジスタ113がオフし、Pチャネルト
ランジスタ112がオンする。出力バッファ12Nでは
Pチャネルトランジスタ112がオフし、Nチャネルト
ランジスタ113がオンする。
【0053】このストローブ(P)信号、ストローブ
(N)信号が伝送され差動入力バッファ21、22、2
3が動作する。P−N信号、P−Vref信号が立ち上
がり、N−Vref信号が立ち下がる。この際図6に示
す様に差動入力バッファ21でのクロスポイント電位が
Vref電位より高ければ、P−Vref信号立ち上が
り、P−N信号立ち上がり、N−Vref信号立ち下が
りの順となる。又、前記電位差に応じた時間差となる。
【0054】図10を参照し、位相比較器29ではAN
D−OR回路294からの内部クロックパルスがHにな
る前からAND−OR回路295、296ではそれぞれ
立ち上がったP−Vref信号、未だH状態のN−Vr
ef信号が選択されており内部クロックの立ち上がりエ
ッジでFF292がHにセットされ、FF293もHが
継続される。バッファ2993と2994の動作時間の
和はAND−OR回路294とFF292の動作時間の
和より若干大きくなる様にしており、制御データ(U)
がH、制御データ(D)がLとなってから制御クロック
(P)がHとなる。
【0055】図9を参照し、出力バッファ12Pのディ
レイゲート114Bは制御クロック(P)の立ち上がり
で制御データ(U)がHであるので2進カウンター11
42Bはインクリメントされ「4」となりPチャネルト
ランジスタ112の制御タイミングが1ステップ遅らせ
る。
【0056】ストローブ(P)信号が立ち下がった際の
クロスポイント電位もVrefより高ければ、N−Vr
ef信号立ち上がり、P−N信号立ち下がり、P−Vr
ef信号立ち下がりの順となる。位相比較器29ではF
F292、293の入力としてN−Vref信号、P−
Vref信号が選択されており、内部クロックの立ち上
がりエッジでそれぞれHとなり、制御データ(U)のみ
Hとした後に制御クロック(N)を立ち上げる。そして
出力バッファ12Nのディレイゲート114Bの2進カ
ウンター1142Bはインクリメントされ「4」となり
Pチャネルトランジスタ112の制御タイミングが1ス
テップ遅らせる。
【0057】上記調整動作が何回か行われると、クロス
ポイント電位がVrefに近くなりP−Vref信号立
ち上がりからP−N信号立ち上がり迄の時間、又N−V
ref信号立ち上がりからP−N信号立ち下がり迄の時
間が極めて小さくなる。従ってFF292において内部
クロック立ち上がりエッジに対するデータ入力のセット
アップタイムが満たされずHにセットされなくなる。従
って、制御データ(U)、制御データ(D)共Lのまま
となり、2進カウンター1142Bも値が保たれる。
【0058】次に、初期設定後にストローブ(P)信号
立ち上がり、ストローブ(N)信号立ち下がりを受けた
際の差動入力バッファ21での、クロスポイント電位が
Vref電位より低ければ、図7に示す様にN−Vre
f信号立ち下がり、P−N信号立ち上がり、P−Vre
f信号立ち上がりの順となる。図10の位相比較器29
ではFF292、293の入力としてP−Vref信
号、N−Vref信号が選択されており、それぞれLに
セットされる。従って制御データ(U)、(D)をL、
Hとした後に制御クロック(P)が立ち上げられる。こ
れにより出力バッファ12Pのディレイゲート114B
の2進カウンター1142Bがデクリメントされ「2」
となる。
【0059】次のストローブ(N)信号立ちがりでのク
ロスポイント電位もVref電位より低ければ、図7に
示す様にP−Vref信号立ち下がり、P−N信号立ち
下がり、N−Vref信号立ち上がりの順となる。位相
比較器29のFF292、293には未だL状態のN−
Vref信号、先行してLとなったP−Vref信号が
入力される。従ってFF292、293は共にLにセッ
トされ、制御クロック(N)の立ち上がりエッジで出力
バッファ12Nの2進カウンター1142Bをデクリメ
ントさせる。
【0060】この場合も、クロスポイント電位がVre
fに近くなりN−Vref信号立ち下がりからP−N信
号立ち上がり迄の時間、又P−Vref信号立ち下がり
からP−N信号立ち下がり迄の時間が極めて小さくな
る。従ってFF293において内部クロック立ち上がり
エッジに対するデータ入力のセットアップタイムが満た
されずLowセットされなくなり、以降2進カウンター
1142Bも値が保たれる。
【0061】次に、本発明の第2の実施形態について図
面を参照して説明する。図11を参照し、差動出力バッ
ファ10Bのストローブ(P)出力、ストローブ(N)
出力をオープンドレイン型にした点が前記第1の実施形
態と異なる。
【0062】オープンドレイン出力バッファ13Pは前
記出力バッファ11Pの出力の後ろにインバータ116
とトランジスタ117を設けトランジスタ117のドレ
インを出力する。オープンドレイン出力バッファ13N
もオープンドレイン出力バッファ13Pと同じ構成であ
る。尚、Pチャネルトランジスタ112やNチャネルト
ランジスタ113は内部駆動であるので駆動能力を小さ
くしたものでよい。
【0063】ストローブ(P)信号、ストローブ(N)
信号には出力電圧を得るための終端抵抗33、34を接
続する。受け側は前記の差動入力バッファブロック20
とする。
【0064】又、図示してないが複数の差動入力バッフ
ァブロック20を駆動する例もある。この場合、差動出
力バッファ10Bへの調整用の信号(制御クロック
(P)、制御データ(P)、制御クロック(N)、制御
データ(N))は、受信する差動信号波形が受信側を代
表する差動入力バッファブロック20の一つから戻す様
にすればよい。
【0065】次に、本発明の第3の実施形態について図
面を参照して説明する。本実施形態では図1の二つの出
力バッファの各々を図12(1)に示す様に構成する。
即ち、Pチャネルトランジスタ112とNチャネルトラ
ンジスタ113のゲート信号を別にすることなく、IN
(ストローブ或いは#ストローブ)の立ち上がりから前
記ゲート信号の立ち下がり(出力オン指示)迄の動作時
間を調整出来る様可変とし、INの立ち下がりから前記
ゲート信号の立ち上がり(出力オフ指示)迄の動作時間
を固定(前記動作時間の中央値)とする。
【0066】出力バッファ14PはIN信号の立ち上が
り及び立ち下がり微分を作成するディレイゲート(固
定)119及び排他論理和ゲート120と、ANDゲー
ト121、122と可変ディレイゲート114と固定デ
ィレイゲート115とRSフリップフロップ118と出
力段のPチャネルトランジスタ112とNチャネルトラ
ンジスタ113から構成される。
【0067】図13のタイムチャートを参照し、出力バ
ッファ14Pの動作を説明する。IN信号とこれの遅れ
信号(IN’)との排他論理和信号は、IN信号の立ち
上がり及び立ち下がり微分信号(E)となる。この信号
をINによりゲートしINの立ち上がり微分信号(A)
が出力され、IN’によりゲートした信号はINの立ち
下がり微分信号(B)となる。
【0068】従って、IN信号が立ち上がると可変ディ
レイゲート114の遅延値に依存した時間後にRS−F
F118へのリセットパルスがオンし(セットパルスは
オフのまま)、RS−FF118出力(Q)がLとなり
Nチャネルトランジスタ113がオフし、Pチャネルト
ランジスタ112がオンし出力が立ち上がる。
【0069】IN信号が立ち下がると固定時間後にRS
−FF118へのセットパルスがオンし(リセットパル
スはオフのまま)、RS−FF118出力(Q)がHと
なりPチャネルトランジスタ112がオフし、Nチャネ
ルトランジスタ113がオンし出力が立ち下がる。
【0070】出力バッファ14P、14Nをこの様に構
成することで出力バッファ出力段のスイッチング動作時
に瞬間的に流れる貫通電流の増加を回避できる。
【0071】次に図12(2)は上記貫通電流増加を回
避したオープンドレイン出力バッファ15Pの例であ
り、出力バッファの出力段をオープンドレイントランジ
スタ117としたものであり、他は出力バッファ14P
と同様である。動作についてもこれと同様である。
【0072】出力バッファの出力を複数に供給しないの
であれば、オープンドレイントランジスタ117の代わ
りにドレインやコレクタが抵抗等を通じVDDやVCC
に接続されたトランジスタとする構成でもよい。
【0073】前記図5には差動出力バッファを含む集積
回路1から差動入力バッファブロックを含む集積回路2
への伝送を示したが、受信側を複数の集積回路としても
よい。又、差動出力バッファと一つ以上の差動入力バッ
ファブロックを一つの集積回路のサブストレートに集積
したICであってもよい。
【0074】上記第1及び第2の実施形態の例では、出
力バッファの出力段のPチャネルトランジスタ112に
接続されるディレイゲートを可変にしているが、同様の
方法でNチャネルトランジスタ113側のディレイゲー
トを可変してもよい(差動入力バッファブロックの位相
比較器でストローブ(P)信号、ストローブ(N)信号
の立下り時の位相差を検出し、ポジティブ側出力バッフ
ァ、ネガティブ側出力バッファに立ち下がりタイミング
の遅延/早期化を指示することで実現出来る)。
【0075】上記第1、第2及び第3の実施形態の例に
おいて、調整によって発振が起きないよう、フィードバ
ックの係数は最適にとる必要があるが、このために可変
ディレイゲート114の調整ステップを十分小さくとる
方法の他に、制御クロック(P)、(N)の途中に分周
回路を挿入して、n回に1回だけ可変ディレイゲート1
14の調整を行うようにする方法もある。また、Vre
fを可変するとクロスポイントを最適な値に設定でき
る。
【0076】
【発明の効果】以上説明した様に本発明によればLSI
製造ばらつきや回路構成やノイズによって生じる、差動
信号のクロスポイント電位の基準電位からのずれを自動
補正するので、ずれに起因する設計、製造後の誤動作を
回避する効果を有する。
【0077】又、本発明の第3実施形態によれば出力バ
ッファ出力段のスイッチング動作時の貫通電流の増加を
伴わずに差動信号のクロスポイント電位の基準電位から
のずれを自動補正出来る。
【0078】又、差動信号の受信側に供給する基準電位
設定を調整出来るようにすればより広範囲の回路的な誤
動作を回避出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態の全体の回路構成を示す
ブロック図。
【図2】図1の可変ディレイゲート114の構成例を示
したブロック図。
【図3】図1の可変ディレイゲート114と固定ディレ
イゲート115をまとめ固定遅延出力付きの可変ディレ
イゲート114Aとした場合の構成を示すブロック図。
【図4】図1の位相比較器28の構成例を示したブロッ
ク図。
【図5】本発明の第1実施形態の全体の金物構成を示し
た図。
【図6】本発明の第1実施形態の動作やタイミングを示
すタイムチャートでストローブのクロスポイントがVr
efよりも高い場合のチャート。
【図7】本発明の第1実施形態で、ストローブのクロス
ポイントがVrefよりも低い場合のタイミングを示す
タイムチャート。
【図8】本発明の第1実施形態の第2実施例の全体構成
を示したブロック図である。
【図9】図8のディレイゲート114Bの構成を示すブ
ロク図。
【図10】図8の位相比較器29の詳細構成を示したブ
ロック図。
【図11】本発明の第2実施形態の全体の回路構成を示
すブロック図。
【図12】(1)は本発明の第3実施形態の出力バッフ
ァ14Pの構成を示すブロック図で、(2)はオープン
ドレイン出力バッファ15Pの構成を示すブロック図。
【図13】本発明の第3実施形態の出力バッファ14P
の動作を示すタイムチャート。
【図14】従来のLSI間を正負一組の差動形式で伝送
する例を含む図。
【符号の説明】
1、2 集積回路 10、10A、10B 差動出力バッファ 112 Pチャネルトランジスタ 113 Nチャネルトランジスタ 114 可変ディレイゲート 1141−1〜1141−8 バッファゲート 1142、1142B 2進カウンタ 1143 セレクタ 114B ディレイゲート 115 固定ディレイゲート 116 インバータ 117 オープンドレイントランジスタ 118 RSフリップフロップ 119 ディレイゲート(固定) 11P、11N 出力バッファ 120 排他論理和ゲート 121 ANDゲート 12P、12N 出力バッファ 13P、13N オープンドレイン出力バッファ 14P 出力バッファ 15P オープンドレイン出力バッファ 16 インバータ 20 差動入力バッファブロック 21 差動入力バッファ 22 差動入力バッファ 23 差動入力バッファ 28、29 位相比較器 31 基準電圧回路 33、34 終端抵抗
フロントページの続き Fターム(参考) 5J001 BB00 BB21 CC03 DD04 DD09 5J056 AA01 AA04 BB37 CC00 CC04 CC05 CC09 CC17 DD12 DD29 EE06 FF01 FF07 FF09 GG08 KK01 5J091 AA01 CA00 FA19 HA09 HA17 HA25 KA00 KA02 KA03 KA04 KA11 KA15 KA33 KA35 KA36 MA08 TA01 TA06 UW09 5J500 AA01 AC00 AF19 AH09 AH17 AH25 AK00 AK02 AK03 AK04 AK11 AK15 AK33 AK35 AK36 AM08 AT01 AT06 WU09

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ポジティブ側出力バッファとこれと逆極
    性の信号を出力するネガティブ側出力バッファとを含む
    差動出力バッファであって、前記ポジティブ側出力バッ
    ファ及びネガティブ側出力バッファのそれぞれは、オン
    オフ制御のレベルが互いに逆転した二つのトランジスタ
    がトーテムポール接続された出力段と、外部から増減指
    示を受けて遅延時間を変更出来る可変遅延回路と、遅延
    時間が一定の固定遅延回路とを有し、前記ポジティブ側
    出力バッファは、送信する信号のポジティブ出力を受
    け、これを前記可変遅延回路及び前記固定遅延回路に入
    力し、可変遅延回路出力で前記出力段の一方のトランジ
    スタのオンオフ制御を行い、固定遅延回路出力で前記出
    力段の他方のトランジスタのオンオフ制御を行い、前記
    ネガティブ側出力バッファは、送信する信号のネガティ
    ブ出力を受け、ポジティブ側出力バッファと同様に出力
    段のトランジスタのオンオフ制御を行うことを特徴とす
    る差動出力バッファ。
  2. 【請求項2】 前記ポジティブ側出力バッファ及び前記
    ネガティブ側出力バッファにおいて、前記出力段のトー
    テムポール出力を内部出力とし、これでオンオフ制御さ
    れるトランジスタを設け、このトランジスタを各バッフ
    ァの出力トランジスタとしたことを特徴とする請求項1
    記載の差動出力バッファ。
  3. 【請求項3】 前記ポジティブ側出力バッファ及び前記
    ネガティブ側出力バッファにおいて、前記固定遅延回路
    を別に設けるのでなく、前記可変遅延回路の遅延用のゲ
    ート列の途中の所定ゲートからの出力を固定遅延出力と
    し、これで前記出力段の他方のトランジスタのオンオフ
    を制御することを特徴とする請求項1、又は2記載の差
    動出力バッファ。
  4. 【請求項4】 ポジティブ側出力バッファとこれと逆極
    性の信号を出力するネガティブ側出力バッファとを含む
    差動出力バッファであって、前記ポジティブ側出力バッ
    ファ及びネガティブ側出力バッファのそれぞれは、入力
    された信号の立ち上がり及び立ち下がりの微分出力を作
    成する回路と、外部から増減指示を受けて遅延時間を変
    更出来る可変遅延回路と、遅延時間が一定の固定遅延回
    路と、セットリセット出来る状態記憶素子と、オンオフ
    制御レベルが互いに逆転した二つのトランジスタがトー
    テムポール接続された出力段とを有し、前記ポジティブ
    側出力バッファは、送信する信号のポジティブ出力が入
    力され、微分回路の一方の出力を可変遅延回路、他方の
    出力を固定遅延回路に入力し、固定遅延回路出力及び可
    変遅延回路出力で前記状態記憶素子をセット、リセット
    し、状態記憶素子の出力で前記出力段の両方のトランジ
    スタのスイッチ動作を行ない、前記ネガティブ側出力バ
    ッファは、送信する信号のネガティブ出力が入力され、
    ポジティブ側出力バッファと同様に出力段の両方のトラ
    ンジスタのスイッチ動作を行なうことを特徴とする差動
    出力バッファ。
  5. 【請求項5】 ポジティブ側出力バッファとこれと逆極
    性の信号を出力するネガティブ側出力バッファとを含む
    差動出力バッファであって、前記ポジティブ側出力バッ
    ファ及びネガティブ側出力バッファのそれぞれは、入力
    された信号の立ち上がり及び立ち下がりの微分出力を作
    成する回路と、外部から増減指示を受けて遅延時間を変
    更出来る可変遅延回路と、遅延時間が一定の固定遅延回
    路と、セットリセット出来る状態記憶素子と、出力トラ
    ンジスタとを有し、前記ポジティブ側出力バッファは、
    送信する信号のポジティブ出力が入力され、微分回路の
    一方の出力を可変遅延回路、他方の出力を固定遅延回路
    に入力し、固定遅延回路出力及び可変遅延回路出力で状
    態記憶素子をセット、リセットし、状態記憶素子の出力
    で出力トランジスタのスイッチ動作を行ない、前記ネガ
    ティブ側出力バッファは、送信する信号のネガティブ出
    力が入力され、ポジティブ側出力バッファと同様に出力
    トランジスタのスイッチ動作を行なうことを特徴とする
    差動出力バッファ。
  6. 【請求項6】 前記ポジティブ側出力バッファ及び前記
    ネガティブ側出力バッファの可変遅延回路が、複数のゲ
    ートがカスケード接続されたゲート列と、外部からの増
    減指示により値を増減するカウンタと、前記ゲート列の
    各ゲート出力の内、前記カウンタ値に応じた出力を選択
    するセレクタとを備えることを特徴とする請求項1乃至
    5の何れかに記載の差動出力バッファ。
  7. 【請求項7】 ポジティブ側信号とネガティブ側信号か
    ら構成される差動信号を入力する第1の差動入力バッフ
    ァと、前記差動信号のポジティブ側信号と外部から供給
    される基準電圧とを入力とする第2の差動入力バッファ
    と、前記差動信号のネガティブ側信号と前記基準電圧と
    を入力とする第3の差動入力バッファと、前記第2の差
    動入力バッファ出力、前記第3の差動入力バッファ出力
    がハイ/ロウレベルの内、予め定められたレベルの方向
    に切り替わる際に、前記第2の差動入力バッファ出力の
    切り替わりタイミングと前記第3の差動入力バッファ出
    力の切り替わりタイミングの時間差が有れば、前後関係
    に応じ、前記差動信号の内、前記定められたレベルの方
    向に切り替わる側の信号の出力元に、前記定められ方向
    への切替タイミングを遅延或いは早期化する様に指示す
    る位相比較手段とを、有することを特徴とする差動入力
    バッファブロック。
  8. 【請求項8】 ポジティブ側信号とネガティブ側信号か
    ら構成される差動信号を入力する第1の差動入力バッフ
    ァと、前記差動信号のポジティブ側信号と外部から供給
    される基準電圧とを入力とする第2の差動入力バッファ
    と、前記差動信号のネガティブ側信号と前記基準電圧と
    を入力とする第3の差動入力バッファと、前記第1の差
    動入力バッファ出力が一方の電位の方向に切り替わる際
    に、先行して前記第2の差動入力バッファ出力が切り替
    わることを検出すると、前記ポジティブ側信号の出力元
    に前記一方の電位方向に対応した切り替え開始タイミン
    グの遅延を指示し、前記第1の差動入力バッファ出力が
    他方の電位に切り替わる際に、前記第3の差動入力バッ
    ファ出力が先行して切り替わることを検出すると、前記
    ネガティブ側信号の出力元に前記一方の電位方向に対応
    した切り替えタイミングの遅延を指示する位相比較手段
    とを、有することを特徴とする差動入力バッファブロッ
    ク。
  9. 【請求項9】 ポジティブ側信号とネガティブ側信号か
    ら構成される差動信号を入力する第1の差動入力バッフ
    ァと、前記差動信号のポジティブ側信号と外部から供給
    される基準電圧とを入力とする第2の差動入力バッファ
    と、前記差動信号のネガティブ側信号と前記基準電圧と
    を入力とする第3の差動入力バッファと、前記第1の差
    動入力バッファ出力が一方の電位の方向に切り替わる際
    の先行する、前記第2の差動入力バッファ出力の切り替
    わり、或いは前記第3の差動入力バッファ出力の切り替
    わりを検出すると、前記ポジティブ側信号の出力元に前
    記一方の電位方向に対応した切り替えタイミングの遅
    延、或いは早期化を指示し、前記第1の差動入力バッフ
    ァ出力が他方の電位に切り替わる際の先行する、前記第
    3の差動入力バッファ出力の切り替わり、或いは前記第
    2の差動入力バッファ出力の切り替わることを検出する
    と、前記ネガティブ側信号の出力元に前記一方の電位方
    向に対応した切り替えタイミングの遅延、或いは早期化
    を指示する位相比較手段とを、有することを特徴とする
    差動入力バッファブロック。
  10. 【請求項10】 請求項1乃至6の何れかに記載の差動
    出力バッファと、請求項7、8、又は9記載の差動入力
    バッファブロックを半導体基板上に集積したことを特徴
    とする半導体集積回路。
  11. 【請求項11】 請求項1乃至6の何れかに記載の差動
    出力バッファを含む集積回路と、請求項7、8、又は9
    記載の差動入力バッファブロックを含む他の集積回路
    と、基準電圧回路とを実装し、前記集積回路のポジティ
    ブ側出力バッファ、ネガティブ側出力バッファの各出力
    を前記他の集積回路の差動入力バッファブロックへの差
    動信号とし、他集積回路の差動入力バッファブロックか
    らの切り替え開始タイミングに関する指示を差動出力バ
    ッファへの遅延時間制御指示としたことを特徴とする回
    路基板。
  12. 【請求項12】 請求項2、3、5、又は6に記載の差
    動出力バッファを含む第1の集積回路と、請求項7、
    8、又は9記載の差動入力バッファブロックを含む第2
    〜第Nの集積回路と、基準電圧回路とを実装し、前記第
    1の集積回路からのポジティブ側出力バッファ、ネガテ
    ィブ側出力バッファの各出力を前記第2〜第Nの集積回
    路への差動信号とし、前記第2〜第Nの集積回路の内の
    一つの集積回路の切り替え開始タイミングに関する指示
    を第1の集積回路への遅延時間制御指示としたことを特
    徴とする回路基板。
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Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007081923A (ja) * 2005-09-15 2007-03-29 Oki Electric Ind Co Ltd 差動出力回路
US7342424B2 (en) 2005-03-31 2008-03-11 Hynix Semiconductor Inc. Data input buffer in semiconductor device
KR100863021B1 (ko) 2007-06-27 2008-10-13 주식회사 하이닉스반도체 입력 회로
JP2009094922A (ja) * 2007-10-11 2009-04-30 Nec Corp 情報処理装置、信号伝送回路及び信号伝送方法
US7911244B2 (en) 2007-11-30 2011-03-22 Sony Corporation Differential drive circuit and communication device
US7999611B2 (en) 2009-05-15 2011-08-16 Hynix Semiconductor Inc. Differential amplifying device
JP2012169905A (ja) * 2011-02-15 2012-09-06 Nippon Soken Inc 送信ドライバ回路
US8350604B2 (en) 2009-06-09 2013-01-08 Hynix Semiconductor Inc. Clock receiver in semiconductor integrated circuit and method of controlling the same
JP2014007458A (ja) * 2012-06-21 2014-01-16 Nec Engineering Ltd 受信回路
JP2016072770A (ja) * 2014-09-29 2016-05-09 株式会社ソシオネクスト 受信回路
JP2021077926A (ja) * 2019-11-05 2021-05-20 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置及びその動作方法

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7342424B2 (en) 2005-03-31 2008-03-11 Hynix Semiconductor Inc. Data input buffer in semiconductor device
JP2007081923A (ja) * 2005-09-15 2007-03-29 Oki Electric Ind Co Ltd 差動出力回路
US7956650B2 (en) 2007-06-27 2011-06-07 Hynix Semiconductor Inc. Input circuit of semiconductor integrated circuit
KR100863021B1 (ko) 2007-06-27 2008-10-13 주식회사 하이닉스반도체 입력 회로
US7705634B2 (en) 2007-06-27 2010-04-27 Hynix Semiconductor Inc. Input circuit of semiconductor integrated circuit
JP2009094922A (ja) * 2007-10-11 2009-04-30 Nec Corp 情報処理装置、信号伝送回路及び信号伝送方法
US7911244B2 (en) 2007-11-30 2011-03-22 Sony Corporation Differential drive circuit and communication device
US7999611B2 (en) 2009-05-15 2011-08-16 Hynix Semiconductor Inc. Differential amplifying device
US8350604B2 (en) 2009-06-09 2013-01-08 Hynix Semiconductor Inc. Clock receiver in semiconductor integrated circuit and method of controlling the same
JP2012169905A (ja) * 2011-02-15 2012-09-06 Nippon Soken Inc 送信ドライバ回路
JP2014007458A (ja) * 2012-06-21 2014-01-16 Nec Engineering Ltd 受信回路
JP2016072770A (ja) * 2014-09-29 2016-05-09 株式会社ソシオネクスト 受信回路
JP2021077926A (ja) * 2019-11-05 2021-05-20 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置及びその動作方法

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