JP2003334754A - パッドレス研磨装置及び方法 - Google Patents

パッドレス研磨装置及び方法

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JP2003334754A
JP2003334754A JP2002141168A JP2002141168A JP2003334754A JP 2003334754 A JP2003334754 A JP 2003334754A JP 2002141168 A JP2002141168 A JP 2002141168A JP 2002141168 A JP2002141168 A JP 2002141168A JP 2003334754 A JP2003334754 A JP 2003334754A
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Japan
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polishing
tape
particles
polished
padless
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JP2002141168A
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English (en)
Inventor
Noriaki Yokoi
紀昭 横井
Mitsuru Saito
満 斎藤
Yasuyuki Yokota
靖之 横田
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Nihon Micro Coating Co Ltd
Original Assignee
Nihon Micro Coating Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】定盤の表面の検査や定盤の交換を行う必要がな
く、研磨対象物の表面を再現性よく均一に研磨できる装
置及び方法を提供することである。 【解決手段】テープ20を表面平坦な定盤11の表面上
に送り出し、このテープ20の表面に研磨液を供給し、
この上に保持具18に保持した研磨対象物Wの表面を押
し付け、ヘッド10を回転させる。研磨対象物Wを保持
した保持具18を回転させ得る。テープ20は定盤11
の表面上に適宜に送り出される。研磨液として、分散液
中に弾性粒子31と研磨粒子32を分散した研磨スラリ
ー30、又は弾性粒子42の表面に研磨粒子43を複数
固定した複合粒子41を分散した研磨スラリー40が使
用される。テープ20の表面に、弾性粒子31又は複合
粒子41を保持する凹部21、22を有する。凹部2
1、22の深さは、弾性粒子31、42の平均粒径の1
/5倍〜2倍の範囲にある。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、金属、ガラス、セ
ラミックス、サファイア、プラスチックス等の材料から
なる研磨対象物の表面を研磨する装置及び方法に関し、
特に、半導体ウエハ、半導体デバイスウエハ、磁気ハー
ドディスク基板、液晶パネル用のガラス基板など、表面
に高い平滑性と平坦性が要求される研磨対象物の表面を
パッドレス研磨するのに適した装置及び方法に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】テレ
ビ、ビデオカメラ、コンピュータなどの電子機器には、
機能の制御や情報の記憶、表示などのため、半導体デバ
イス、磁気ハードディスク、液晶パネルなどが部品とし
て使用されている。
【0003】このような部品は、各種部品に用いられる
基板の表面に研磨を施した後、多層配線工程や被膜工程
など、各種部品の製造工程で要求される様々な工程、さ
らに検査工程を経て、半導体デバイス、磁気ハードディ
スク、液晶パネルなどとして製品化されている。
【0004】そして、基板の表面に施される配線や被膜
などの製造段階で要求される一連の工程は、設計段階で
予定される部品性能や機能を発揮させるため、ナノメー
トル単位の精度で行わなければならず、このため、各工
程には高い精度が要求されており、研磨工程において
も、基板の表面を平滑で平坦に研磨することが要求され
ている。
【0005】<パッド研磨> このような研磨対象物の
表面の研磨は、スウェードシート、織布シート、不織布
シート又は発泡体シートからなる研磨パッドを使用する
パッド研磨により行われている。
【0006】パッド研磨は、表面に研磨パッドを張り付
けた定盤を回転し、この研磨パッドの表面に、研磨粒子
を含有した研磨スラリーを供給し、この上に、研磨対象
物の表面を押し付けて行う、という一般に広く利用され
ている研磨技術である(例えば、特開2000−239
651公報を参照)。
【0007】しかし、研磨パッドとして使用される織布
シートには織り目があり、また、不織布シートには表面
上の糸の密度に斑があるため、研磨対象物の表面が局所
的に粗くなったり、うねりが生じ、研磨対象物の表面を
均一に研磨できない。
【0008】また、発泡体シートでは、発泡体シート中
の気泡空隙の分布が不均一であるため、研磨対象物の表
面に作用するシートの弾力性が局所的に変化し、上記の
織布、不織布シートと同様、基板の表面が局所的に粗く
なったり、うねりが生じ、研磨対象物の表面を均一に研
磨できない。
【0009】発泡体シートでは、さらに、長期間使用す
ると、表面の気泡空隙が研磨クズにより目詰まりし、研
磨対象物の表面が局所的に粗くなったり、うねりが生
じ、研磨対象物の表面を均一に研磨できなくなる。この
ため、定期的に、発泡体シートの表面部分をダイヤモン
ド砥石などで削除するコンディショニングと称する作業
が行われているが、コンディショニング時にダイヤモン
ド砥石から脱落したダイヤモンド粒子が研磨対象物の表
面に作用し、研磨対象物の表面にスクラッチを形成して
しまう。
【0010】また、パッド研磨では、研磨パッドの張り
換えに時間と手間を要する。
【0011】<パッドレス研磨> このため、近年、研
磨パッドを使用せずに、弾性粒子と研磨粒子とを分散し
た研磨スラリーを定盤の表面に“直接”供給し、この上
に研磨対象物の表面を押し付け、定盤と研磨対象物とを
相対的に移動させて研磨対象物の表面の研磨を行う研磨
技術が開発された(表題「パッドレス研磨の試み」、2
000年度研磨粒子加工学会予稿集、第48〜48頁、
平成12年9月12〜14日学会発表、東京大学生産技
術研究所、盧毅申、谷泰弘、柳原聖、共著を参照)。こ
の研磨技術は、研磨パッドを不要としたことから、「パ
ッドレス研磨」又は「パッドレスポリッシング」と呼ば
れる。パッドレス研磨では、研磨中、研磨粒子が弾性粒
子の表面に仮付着され、この研磨粒子が研磨対象物の表
面に弾力的に作用するので、研磨パッドが不要となり、
研磨パッドの張り換えやコンディショニングなどの作業
がなくなり、研磨作業にかかる能率が飛躍的に向上し
た。
【0012】このパッドレス研磨では、上記したパッド
研磨に使用される表面平坦な金属製の定盤を使用する
と、定盤の表面に供給した研磨スラリー中の弾性粒子が
定盤の表面と研磨対象物の表面との間に均一に安定して
保持され難く、また定盤の表面が、研磨対象物の表面と
同様、研磨スラリー中の研磨粒子により研磨され、定盤
の表面にうねりが生じ、研磨対象物の表面を均一に研磨
できない。
【0013】このため、定盤を長時間使用できず、定盤
の交換を短時間で行わなければならなかった。
【0014】そこで、研磨スラリー中の弾性粒子を定盤
の表面と研磨対象物の表面との間に安定して保持させる
とともに、研磨スラリーによる定盤の表面の研磨を防止
するために、表面に粗面加工を施したセラミック層を定
盤の表面部分に形成することが提案され(特願2001
−208718、出願人は本件出願人と同一である)、
この定盤が、パッドレス研磨に使用されている。
【0015】しかし、このようなパッドレス研磨では、
研磨スラリー中の弾性粒子を定盤の表面と研磨対象物の
表面との間に安定して保持できるようになったが、依
然、定盤の表面が、研磨対象物の表面と同様、研磨スラ
リー中の研磨粒子により研磨され、定盤の表面にうねり
が生じ、研磨対象物の表面を均一に研磨できず、定盤の
表面の状態を定期的に検査し、この検査結果によって、
定盤の交換を行わなければならず、定盤の検査や交換に
時間とコストがかかる、という問題がある。
【0016】このため、パッドレス研磨の分野におい
て、定盤の表面の検査や定盤の交換を行う必要がなく、
研磨対象物の表面を再現性よく均一に研磨できる新規な
研磨技術の開発が技術的な課題となっている。
【0017】本発明は、上記課題を解決するためになさ
れたものであり、したがって、本発明の目的は、定盤の
表面の検査や定盤の交換を行う必要がなく、研磨対象物
の表面を再現性よく均一に研磨できる新規なパッドレス
研磨装置及び方法を提供することである。
【0018】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明のパッドレス研磨装置は、平坦な表面を有する定盤
と、研磨テープを定盤の表面上に送り出すテープ送出部
と、定盤の表面上に送り出された研磨テープを巻き取る
テープ巻取部とから構成されるヘッドを有する。このヘ
ッドは、モータなどの手段により回転される。研磨テー
プは、定盤の表面上に適宜に送り出すことができる。
【0019】本発明のパッドレス研磨装置は、研磨対象
物を保持し、定盤の表面上に送り出された研磨テープの
表面に研磨対象物の表面を押し付けるための保持具と、
定盤の表面上の研磨テープの表面に研磨液を供給するた
めのノズルとを有する。この保持具は、モータなどの手
段により回転され得る。
【0020】研磨対象物の表面の研磨は、上記本発明の
パッドレス研磨装置を使用して行われ、研磨テープを定
盤の表面上に送り出し、この研磨テープの表面に、ノズ
ルを通じて研磨液を供給し、保持具に保持した研磨対象
物の表面を押し付け、ヘッドを回転させることによって
行われる。ここで、研磨対象物を保持した保持具を回転
させてもよい。
【0021】研磨対象物の表面を化学的機械的に研磨す
るため、研磨液は、研磨対象物の表面と化学的に反応す
る薬液を含み得る。
【0022】本発明に従った研磨対象物の表面の研磨
は、上記本発明のパッドレス研磨装置を使用して行われ
る。
【0023】本発明のパッドレス研磨の第一の態様で
は、研磨液として、平均粒径1μm〜100μmの弾性
粒子と、この弾性粒子よりも小さい第一の研磨粒子とを
分散液中に分散した第一の研磨スラリーが使用される。
第一の研磨粒子の平均粒径は、弾性粒子の平均粒径の1
/500倍〜1/10倍の範囲にある。また、研磨テー
プとして、表面に弾性粒子を保持する凹部を有するテー
プが使用される。この凹部の深さは、弾性粒子の平均粒
径の1/5倍以上の範囲、好適に1/5倍〜2倍の範囲
にある。
【0024】本発明のパッドレス研磨の第二の態様で
は、研磨液として、平均粒径1μm〜100μmの弾性
粒子の表面に、弾性粒子よりも小さい第一の研磨粒子を
複数固定した複合粒子を、分散液中に分散した第二の研
磨スラリーが使用される。この第二の研磨スラリーは、
弾性粒子よりも小さい第二の研磨粒子をさらに含んでも
よく、複合粒子と第二の研磨粒子は、分散液中に分散さ
れる。この第二の研磨粒子の平均粒径は、弾性粒子の平
均粒径の1/500倍〜1/10倍の範囲にある。研磨
テープとして、表面に複合粒子を保持する凹部を有する
テープが使用される。この凹部の深さは、弾性粒子の平
均粒径の1/5倍以上の範囲、好適に1/5倍〜2倍の
範囲にある。
【0025】これら本発明のパッドレス研磨の第一及び
第二の態様では、表面に弾性粒子又は複合粒子を保持す
る凹部を有するテープとして、ポリエステル、ポリエチ
レンテレフタレートなどの合成樹脂からなるテープが使
用される。上記の深さの凹部は、サンドブラストなどの
研磨工具を使用してテープの表面を研磨し、テープの表
面に形成してもよいし、レーザー、バイトなどを使用し
て、テープの表面に、直線形状、曲線形状又はこれら形
状を組み合わせた形状の模様を描くように形成されても
よい。
【0026】また、表面に弾性粒子又は複合粒子を保持
する凹部を有するテープとして、ポリエステル、ポリエ
チレンテレフタレートなどの合成樹脂からなるベーステ
ープの表面に、ポリエステル、ポリウレタンなどからな
る樹脂バインダーで、弾性粒子の平均粒径の1/2倍〜
5倍の範囲の平均粒径の粒子を固定した層を形成したテ
ープが使用され得る。
【0027】本発明に従うと、定盤の表面上に送り出さ
れた研磨テープの表面に弾性粒子又は複合粒子が保持さ
れるので、ヘッドの回転に起因した遠心力により、弾性
粒子又は複合粒子が研磨テープの表面上を容易に移動す
ることがなく、研磨スラリーが、研磨テープの表面と研
磨対象物の表面との間に安定して均一に分布される。ま
た、研磨テープが定盤の表面上に適宜に送り出されるの
で、定盤や研磨テープの表面の状態を検査する必要がな
く、また定盤の交換を行う必要もない。
【0028】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態は、半導体ウ
エハ、半導体デバイスウエハ、磁気ハードディスク基
板、液晶パネル用のガラス基板など、表面に高い平滑性
と平坦性が要求される研磨対象物の表面をパッドレス研
磨するのに適したパッドレス研磨装置及び方法である。
【0029】<パッドレス研磨装置> 本発明のパッド
レス研磨装置は、図1(a)及び(b)に示すように、
平坦な表面を有する定盤11と、表面に凹部を有する研
磨テープ20を定盤11の表面上に送り出すテープ送出
部15と、定盤11の表面上に送り出された研磨テープ
20を巻き取るテープ巻取部14とから構成されるヘッ
ド10を有する。
【0030】定盤11は、柱12を介して、支持台13
上に固定される。テープ送出部14及びテープ巻取部1
5は、それぞれ、ローラ16、17から構成される。こ
れらローラ16、17は、定盤11の下方の支持台13
上に固定される。ローラ16には、使用前の研磨テープ
20が巻き付けられている。ローラ17は、モータ(図
示せず)に連結され、このモータを駆動することによ
り、ローラ17を回転させ、ローラ16から研磨テープ
20を送り出し、この研磨テープ20を定盤11の表面
上を矢印Tの方向に移動させた後、この使用済みの研磨
テープ20がローラ17に巻き取られる。研磨テープ2
0は、連続的又は間欠的に、定盤11の表面上に送り出
され、ローラ17に巻き取らせることができる。また、
研磨テープ20は、研磨後の研磨テープ20の表面の状
態に応じて、適宜に、定盤11の表面上に送り出され、
ローラ17に巻き取られる。このように、研磨テープ2
0が定盤11の表面上に適宜に送り出されるので、定盤
11や研磨テープ20の表面の状態を検査する必要がな
く、また定盤11の交換を行う必要もない。
【0031】ヘッド10は、モータ、ベルト(図示せ
ず)などの手段50により、回転軸Aに関して矢印Rの
方向に回転される。
【0032】図示のように、本発明のパッドレス研磨装
置は、研磨対象物Wを保持し、定盤11の表面上に送り
出された研磨テープ20の表面に研磨対象物Wの表面を
押し付けるための保持具18をさらに有する。保持具1
8は、その下方に、研磨対象物Wを保持する平坦な表面
を有する。保持具18は、この平坦な表面に研磨対象物
Wをワックス、水で濡らした吸着パッドなどで貼り付け
て保持し得る。また、保持具18は、その下方の平坦な
表面に、外部の真空ポンプ(図示せず)に連通する通気
孔を有し、この真空ポンプを駆動することにより、保持
具18の下方の平坦な表面に研磨対象物Wを吸着して保
持し得る。
【0033】保持具18は、モータ、ベルト(図示せ
ず)などの手段60により、矢印rの方向に回転され
る。
【0034】研磨液は、定盤11の表面上の研磨テープ
20の表面にノズル19を通じて供給される。
【0035】<パッドレス研磨方法> 研磨対象物Wの
表面の研磨は、図1(a)及び(b)に示すパッドレス
研磨装置を使用して行われ、研磨テープ20を定盤11
の表面上に送り出し、この研磨テープ20の表面にノズ
ル19を通じて研磨液を供給し、この上に、保持具18
に保持した研磨対象物Wの表面を押し付け、ヘッド10
を矢印Rの方向に回転させることによって行われる。こ
こで、研磨対象物Wを保持した保持具18を矢印rの方
向に回転させてもよい。ヘッド10の回転数は、10r
pm〜1000rpm、好適に30rpm〜100rp
mの範囲にあり、保持具18の回転数は、10rpm〜
1000rpm、好適に30rpm〜100rpmの範
囲にあり、研磨液の供給量は、1ml/分〜100ml
/分、好適に5ml/分〜50ml/分の範囲にある。
研磨テープ20は、研磨後の研磨テープ20の表面の状
態に応じて、適宜に、定盤11の表面上に送り出すこと
ができる。
【0036】研磨対象物Wの表面を化学的機械的に研磨
するため、研磨液は、研磨対象物Wの表面と化学的に反
応する薬液を含み得る。
【0037】このような薬液は、研磨対象物Wの表面を
構成する材料に従って適宜に選定できる。例えば、研磨
対象物Wの表面を構成する材料が二酸化珪素である場
合、水酸化カリウム、テトラメチルアンモニウムハイド
ロオキサイド、フッ酸、フッ化物などが使用される。研
磨対象物Wの表面がタングステンである場合、硝酸鉄、
ヨウ素酸カリウムなどが使用される。研磨対象物Wの表
面が銅である場合、グリシン、キナルジン酸、過酸化水
素、ベンゾトリアゾールなどが使用される。
【0038】<第一の態様> 本発明のパッドレス研磨
の第一の態様では、研磨液として、図2(a)に示すよ
うな第一の研磨スラリー30が使用される。
【0039】第一の研磨スラリー30は、分散液33中
に、平均粒径1μm〜100μmの弾性粒子31と、こ
の弾性粒子31よりも小さい第一の研磨粒子32とを分
散したものである。
【0040】弾性粒子31として、ポリウレタン系、ポ
リアミド系、ポリオレフィン系、ポリイミド系、ポリエ
ステル系又はポリアクリル系の樹脂からなる球状のポリ
マー粒子から選択される一種又は二種以上の、平均粒径
1μm〜100μmの範囲にある粒子が使用される。球
状のポリマー粒子として、ウレタン、ナイロン、ポリオ
レフィン、ポリイミド、ポリエステル、アクリル等から
なる弾性を有する粒子から選択される一種又は二種以上
の、上記の平均粒径の粒子が使用される。
【0041】第一の研磨粒子32として、シリカ、アル
ミナ、ダイヤモンド、酸化セリウムなどからなる粒子か
ら選択される一種又は二種以上の粒子が使用される。第
一の研磨粒子32の平均粒径は、弾性粒子31の平均粒
径の1/500〜1/10の範囲にある。弾性粒子31
と、第一の研磨粒子32との重量比は、1:100以下
の範囲にある。
【0042】分散液33として、水、又はグリコール
類、アルコール類などを含有する水ベースの水溶液が使
用される。
【0043】第一の研磨スラリー30は、分散液33中
に第一の研磨粒子32を分散し、これに弾性粒子31を
加え、攪拌することによって製造される。化学的機械的
研磨を行うため、研磨対象物Wの表面と化学的に反応す
る上記の薬液を添加してもよい。
【0044】研磨テープ20として、表面に弾性粒子3
1を保持する凹部21を有するテープ20(図1
(a))が使用される。この凹部21の深さは、弾性粒
子31の平均粒径の1/5倍以上の範囲、好適に1/5
倍〜2倍の範囲にある。
【0045】このように表面に弾性粒子31を保持する
凹部21を有するテープ20として、ポリエステル、ポ
リエチレンテレフタレートなどの合成樹脂からなるテー
プが使用され得る。
【0046】このテープ20の表面の凹部21は、サン
ドブラストなどの研磨工具でテープ20の表面を研磨
し、テープ20の表面に形成してもよいし、レーザー、
バイトなどを使用して、テープ20の表面に、直線形
状、曲線形状又はこれら形状を組み合わせた形状の模様
を描くように形成されてもよい。
【0047】また、表面に弾性粒子31を保持する凹部
21を有するテープ20として、ポリエステル、ポリエ
チレンテレフタレートなどの合成樹脂からなるベーステ
ープの表面に、ポリエステル、ポリウレタンなどからな
る樹脂バインダーで、弾性粒子31の平均粒径の1/2
倍〜5倍の範囲の平均粒径の粒子を固定した層を形成し
たテープ20が使用され得る。この粒子として、シリ
カ、アルミナ、ダイヤモンド又は酸化セリウムからなる
粒子から選択される一種又は二種以上の粒子が使用され
得る。また、この粒子として、ポリウレタン系、ポリア
ミド系、ポリオレフィン系、ポリイミド系、ポリエステ
ル系又はポリアクリル系の樹脂からなる球状のポリマー
粒子から選択される一種又は二種以上の粒子、又はガラ
スビーズが使用され得る。球状のポリマー粒子として、
ウレタン、ナイロン、ポリオレフィン、ポリイミド、ポ
リエステル、アクリル等からなる弾性を有する粒子から
選択される一種又は二種以上の粒子が使用され得る。
【0048】ここで、一般に、上述したようにしてテー
プ20の表面に凹部21を形成すると、図2(a)に示
すように、深い凹部22が局所的に形成される。しか
し、このように深い凹部22であっても、この凹部22
内に複数個の弾性粒子31が取り込まれ、これらが積み
重なることにより、弾性粒子31がテープ20の表面に
保持される。
【0049】第一の態様によると、図2(a)に示すよ
うに、研磨中、弾性粒子31は、研磨テープ20の表面
の凹部21、22に保持され、分散液33中に浮遊して
いる第一の研磨粒子32が、弾性粒子31の表面に仮付
着し、弾性粒子31の表面に仮付着した第一の研磨粒子
32が、保持具18に保持された研磨対象物Wの表面に
弾力的に作用する。また、弾性粒子31は、研磨テープ
20の凹部21、22に保持されるので、ヘッド(図1
の符号10)の回転に起因した遠心力により、弾性粒子
31が研磨テープ20の表面上を容易に移動することが
なく、第一の研磨スラリー30が、研磨テープ20の表
面と研磨対象物Wの表面との間に安定して均一に分布さ
れ、したがって、研磨対象物Wの表面は、均一に研磨さ
れる。
【0050】<第二の態様> 本発明のパッドレス研磨
の第二の態様では、研磨液として、図2(b)に示すよ
うな第二の研磨スラリー40が使用される。
【0051】第二の研磨スラリー40は、分散液45中
に、平均粒径1μm〜100μmの弾性粒子42の表面
に、弾性粒子42よりも小さい第一の研磨粒子43を複
数固定した複合粒子41を分散したものである。
【0052】第二の研磨スラリー40に使用される複合
粒子41は、図3(a)に示すように、ゾル中に分散し
た弾性粒子42の表面にゲル膜(金属酸化物の膜)44
を形成し、このゲル膜44を介して、弾性粒子42の表
面に第一の研磨粒子43を複数固定することによって製
造される。また、図3(b)に示すように、ゾル中に分
散した第一の研磨粒子43の表面にゲル膜(金属酸化物
の膜)44を形成し、このゲル膜44を介して、弾性粒
子42の表面に第一の研磨粒子43を複数固定すること
によって製造される(特願2000−312663を参
照)。このようにして複合粒子を製造する技術を「ゾル
ゲル法」という。
【0053】さらに、図3(c)に示す複合粒子41
は、弾性粒子42と第一の研磨粒子43との混合粒子を
攪拌し、この攪拌の際に、この混合粒子に機械的な衝撃
を与えることによって第一の研磨粒子43を弾性粒子4
2の表面に複数固定させることによって製造され得る
(特願2000−329648を参照)。
【0054】弾性粒子42として、上記の弾性粒子31
と同様に、ポリウレタン系、ポリアミド系、ポリオレフ
ィン系、ポリイミド系、ポリエステル系又はポリアクリ
ル系の樹脂からなる球状のポリマー粒子から選択される
一種又は二種以上の粒子が使用される。球状のポリマー
粒子として、ウレタン、ナイロン、ポリオレフィン、ポ
リイミド、ポリエステル、アクリル等からなる弾性を有
する平均粒径1〜100μmの粒子から選択される一種
又は二種以上の粒子が使用される。
【0055】弾性粒子42の表面に複数固定される第一
の研磨粒子43として、シリカ、アルミナ、ダイヤモン
ド、酸化セリウムなどからなる粒子から選択される一種
又は二種以上の粒子が使用される。第一の研磨粒子43
の平均粒径は、弾性粒子42の平均粒径の1/500倍
〜1/10倍の範囲にある。弾性粒子42と第一の研磨
粒子43との重量比は、100:0.1〜100:50
の範囲にある。
【0056】分散液45として、上記の分散液33と同
様に、水、又はグリコール類、アルコール類などを含有
する水ベースの水溶液が使用される。
【0057】第二の研磨スラリー40は、分散液45中
に複合粒子41を分散することによって製造される。化
学的機械的研磨を行うため、研磨対象物Wの表面と化学
的に反応する上記の薬液を添加してもよい。
【0058】ここで、図2(b)に示すように、第二の
研磨スラリー40は、弾性粒子42よりも小さい第二の
研磨粒子46をさらに含んでもよく、複合粒子41と第
二の研磨粒子46が、分散液45に分散される。
【0059】第二の研磨粒子46として、シリカ、アル
ミナ、ダイヤモンド、酸化セリウムなどからなる粒子か
ら選択される一種又は二種以上の粒子が使用される。第
二の研磨粒子46の種類は、第一の研磨粒子43と同一
の種類であってもよいし、また異なる種類であってもよ
い。第二の研磨粒子46の平均粒径は、弾性粒子42の
平均粒径の1/500倍〜1/10倍の範囲にあり、第
一の研磨粒子43と同一の平均粒径であってもよいし、
また異なる平均粒径であってもよい。複合粒子41と、
第二の研磨粒子46との重量比は、1:100以下の範
囲にある。
【0060】研磨テープ20として、表面に複合粒子4
1を保持する凹部21を有するテープ20(図2
(b))が使用される。この凹部21の深さは、弾性粒
子42の平均粒径の1/5倍以上の範囲、好適に1/5
倍〜2倍の範囲にある。
【0061】このように表面に複合粒子41を保持する
凹部21を有するテープ20として、上記第一の態様で
使用されるテープ20(図1(a))と同様に、ポリエ
ステル、ポリエチレンテレフタレートなどの合成樹脂か
らなるテープが使用され、このテープ20の表面の凹部
21は、サンドブラストなどの研磨工具で、テープ20
の表面を研磨して、テープ20の表面に形成してもよい
し、レーザー、バイトなどを使用して、テープ20の表
面に、直線形状、曲線形状又はこれら形状を組み合わせ
た形状の模様を描くように形成されてもよい。
【0062】また、表面に複合粒子41を保持する凹部
21を有するテープ20として、上記第一の態様で使用
されるテープ20(図1(a))と同様に、ポリエステ
ル、ポリエチレンテレフタレートなどの合成樹脂からな
るベーステープの表面に、ポリエステル、ポリウレタン
などからなる樹脂バインダーで、弾性粒子42の平均粒
径の1/2倍〜5倍の範囲の平均粒径の粒子を固定した
層を形成したテープが使用され得る。この粒子として、
シリカ、アルミナ、ダイヤモンド又は酸化セリウムから
なる粒子から選択される一種又は二種以上の粒子が使用
され得る。また、この粒子として、ポリウレタン系、ポ
リアミド系、ポリオレフィン系、ポリイミド系、ポリエ
ステル系又はポリアクリル系の樹脂からなる球状のポリ
マー粒子から選択される一種又は二種以上の粒子、又は
ガラスビーズが使用され得る。球状のポリマー粒子とし
て、ウレタン、ナイロン、ポリオレフィン、ポリイミ
ド、ポリエステル、アクリル等からなる弾性を有する粒
子から選択される一種又は二種以上の粒子が使用され得
る。
【0063】ここで、一般に、上述したようにしてテー
プ20の表面に凹部21を形成すると、図2(b)に示
すように、深い凹部22が局所的に形成される。しか
し、このように深い凹部22であっても、この凹部22
内に複数個の弾性粒子31が取り込まれ、これらが積み
重なることにより、複合粒子41がテープ20の表面に
保持される。
【0064】第二の態様によると、図2(b)に示すよ
うに、研磨中、複合粒子41は、研磨テープ20の凹部
21、22に保持され、弾性粒子42の表面の第一の研
磨粒子43が、保持具18に保持された研磨対象物Wの
表面に弾力的に作用する。また、分散液45中に浮遊し
ている第二の研磨粒子46が、複合粒子41の表面に仮
付着し、複合粒子41の表面に仮付着した第二の研磨粒
子46が、保持具18に保持された研磨対象物Wの表面
に弾力的に作用する。
【0065】また、複合粒子41は、研磨テープ20の
凹部21に保持されるので、ヘッド(図1の符号10)
の回転に起因した遠心力により、複合粒子41が研磨テ
ープ20の表面上を容易に移動することがなく、第二の
研磨スラリー40が、研磨テープ20の表面と研磨対象
物Wの表面との間に安定して均一に分布され、したがっ
て、研磨対象物Wの表面は、均一に研磨される。
【0066】<実施例> 図1(a)及び(b)に示す
装置を使用して、4インチシリコンウエハの表面のパッ
ドレス研磨を行った。研磨条件は、下記の表1に示すと
おりであった。シリコンウエハの研磨は、枚様式におこ
なわれ、研磨テープは、1枚のウエハを研磨するごとに
送り出され、各ウエハは、定盤の表面上に送り出された
新しい研磨テープの表面で行われた。
【表1】
【0067】研磨スラリーの製造: 実施例に使用した
研磨スラリーは、下記のようにして製造した。
【0068】平均粒径5μmの球状のナイロン粒子の表
面に、平均粒径30nmのシリカ粒子を固定した複合粒
子を製造した。この複合粒子は、株式会社奈良機械製作
所製のハイブリダイゼーションシステム(商品名)を使
用して製造され、平均粒径5μmの球状のナイロン粒子
(100重量部)と、平均粒径30nmのシリカ粒子
(5重量部)との混合粒子を攪拌し、この攪拌の際に、
この混合粒子に機械的な衝撃を与えることによってシリ
カ粒子をナイロン粒子の表面に複数固定させて製造し
た。
【0069】次に、平均粒径30nmのシリカ粒子を分
散したコロイダルシリカ(商品名:スノーテックス3
0、日産化学工業株式会社)(15重量%)を純水(8
3重量%)に分散させ、これに、上記の複合粒子(2重
量%)を加え、攪拌した。
【0070】化学的機械的研磨を行うために、さらに水
酸化カリウムを添加し、実施例に使用する研磨スラリー
(pH11)を製造した。
【0071】研磨テープ: 研磨テープとして、平均粒
径5μmのアルミナ粒子をポリエステル系の樹脂バイン
ダーで固定した研磨層をポリエステルテープの表面に形
成したものを使用した。研磨テープの表面は、平均深さ
2.5μmの凹部を有する。
【0072】<研磨結果> 各ウエハは、平均表面粗さ
約7Åの鏡面に研磨され、その表面にはスクラッチが見
られず、再現性よく均一に研磨された。
【0073】
【発明の効果】本発明が以上のように構成されるので、
以下のような効果を奏する。
【0074】定盤の表面上に送り出された研磨テープの
表面に弾性粒子又は複合粒子が保持されるので、ヘッド
の遠心力が、研磨テープの表面に供給された研磨スラリ
ーに作用しても、研磨スラリー中の弾性粒子又は複合粒
子が研磨テープの表面上を容易に移動することなく、研
磨対象物の表面と研磨テープの表面との間に安定して均
一に分布する。
【0075】また、研磨テープが定盤の表面上に適宜に
送り出されるので、定盤や研磨テープの表面の状態を検
査する必要がなく、また定盤の交換を行う必要もない。
【0076】弾性粒子の表面に仮付着した研磨粒子、又
は複合粒子の表面に固定した研磨粒子が、研磨対象物の
表面に弾力的に作用する。
【0077】したがって、定盤の表面の検査や定盤の交
換を行う必要がなく、研磨対象物の表面を再現性よく均
一に研磨できる、という効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1(a)は、本発明のパッドレス研磨装置の
側面図であり、図1(b)は、図1(a)のパッドレス
研磨装置の平面図である。
【図2】図2(a)は、本発明のパッドレス研磨の第一
の態様に従って研磨対象物の表面を研磨しているところ
を示し、図2(b)は、本発明のパッドレス研磨の第二
の態様に従って研磨対象物の表面を研磨しているところ
を示す。
【図3】図3(a)、(b)及び(c)は、それぞれ、
複合粒子の一部破断図である。
【符号の説明】
10・・・ヘッド 11・・・定盤 12・・・柱 13・・・支持台 14・・・テープ送出部 15・・・テープ巻取部 16、17・・・ローラ 18・・・保持具 19・・・ノズル 20・・・研磨テープ 21、22・・・凹部 30・・・第一の研磨スラリー 31・・・弾性粒子 32・・・第一の研磨粒子 33・・・分散液 40・・・第二の研磨スラリー 41・・・複合粒子 42・・・弾性粒子 43・・・第一の研磨粒子 44・・・ゲル膜 45・・・分散液 46・・・第二の研磨粒子 W・・・基板 R・・・ヘッド回転方向 r・・・保持具回転方向 T・・・研磨テープ送出方向
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/304 622 H01L 21/304 622D 622F (72)発明者 横田 靖之 東京都昭島市武蔵野三丁目4番1号日本ミ クロコーティング株式会社内 Fターム(参考) 3C058 AA07 AA09 CA05 CA06 CB02 CB03 DA02 DA17

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】平坦な表面を有する定盤、研磨テープを前
    記定盤の表面上に送り出すテープ送出部、前記定盤の表
    面上に送り出された前記研磨テープを巻き取るテープ巻
    取部、から成るヘッド、 研磨対象物を保持し、前記定盤の前記表面上に送り出さ
    れた前記研磨テープの表面に前記研磨対象物の表面を押
    し付けるための保持具、 前記定盤の表面上の前記研磨テープの表面に研磨液を供
    給するためのノズル、及び前記ヘッドを回転させるため
    の手段、から成り、 前記研磨液として、分散液中に、平均粒径1μm〜10
    0μmの弾性粒子と、前記弾性粒子よりも小さい第一の
    研磨粒子とを分散した研磨スラリーが使用され、 前記研磨テープとして、表面に前記弾性粒子を保持する
    凹部を有するテープが使用される、ところのパッドレス
    研磨装置。
  2. 【請求項2】平坦な表面を有する定盤、研磨テープを前
    記定盤の表面上に送り出すテープ送出部、前記定盤の表
    面上に送り出された前記研磨テープを巻き取るテープ巻
    取部、から成るヘッド、 研磨対象物を保持し、前記定盤の前記表面上に送り出さ
    れた前記研磨テープの表面に前記研磨対象物の表面を押
    し付けるための保持具、 前記定盤の表面上の前記研磨テープの表面に研磨液を供
    給するためのノズル、及び前記ヘッドを回転させるため
    の手段、から成り、 前記研磨液として、分散液中に、平均粒径1μm〜10
    0μmの前記弾性粒子の表面に前記弾性粒子よりも小さ
    い第一の研磨粒子を複数固定した複合粒子を分散した研
    磨スラリーが使用され、 前記研磨テープとして、表面に前記複合粒子を保持する
    凹部を有するテープが使用される、ところのパッドレス
    研磨装置。
  3. 【請求項3】前記凹部の深さが、前記弾性粒子の平均粒
    径の1/5倍〜2倍の範囲にある、請求項1又は2のパ
    ッドレス研磨装置。
  4. 【請求項4】前記保持具を回転させるための手段、から
    さらに成る請求項1又は2のパッドレス研磨装置。
  5. 【請求項5】前記研磨液が、前記研磨対象物の表面と化
    学的に反応する薬液を含み、前記研磨対象物の表面が化
    学的機械的に研磨される、ところの請求項1又は2のパ
    ッドレス研磨装置。
  6. 【請求項6】前記研磨液が、前記弾性粒子よりも小さい
    第二の研磨粒子をさらに含み、前記第二の研磨粒子が、
    前記分散液中に分散される、ところの請求項2のパッド
    レス研磨装置。
  7. 【請求項7】請求項1〜6のいずれか1のパッドレス研
    磨装置を使用して研磨対象物の表面をパッドレス研磨す
    る方法であって、 前記研磨テープを前記定盤の表面上に送り出す工程、 前記定盤の表面上の前記研磨テープの表面に前記研磨液
    を供給する工程、 前記保持具に前記研磨対象物を保持し、前記定盤の表面
    上に送り出された前記研磨テープの表面に前記研磨対象
    物の表面を押し付ける工程、及び前記ヘッドを回転させ
    る工程、から成る方法。
  8. 【請求項8】前記保持具を回転させる工程からさらに成
    る請求項7の方法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005131779A (ja) * 2003-10-09 2005-05-26 Yasuhiro Tani 研磨用複合素材工具プレート
US7919815B1 (en) 2005-02-24 2011-04-05 Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. Spinel wafers and methods of preparation
JP2016165769A (ja) * 2015-03-09 2016-09-15 有限会社進功ブラスト工業所 遊離砥粒加工用研磨工具、その製造方法および遊離砥粒研磨装置
JP2017035778A (ja) * 2016-09-29 2017-02-16 株式会社フェムテック 表面加工装置及び方法

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