JP2003329425A - 表面形状測定方法及びその装置 - Google Patents

表面形状測定方法及びその装置

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JP2003329425A JP2002136786A JP2002136786A JP2003329425A JP 2003329425 A JP2003329425 A JP 2003329425A JP 2002136786 A JP2002136786 A JP 2002136786A JP 2002136786 A JP2002136786 A JP 2002136786A JP 2003329425 A JP2003329425 A JP 2003329425A
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照己 鎌田
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、被測定物自体の模様や汚れに左右
されずに段差等の急激な形状変化が存在する被測定物の
表面形状を測定できる表面形状測定方法及びその装置を
提供することを目的とする。 【解決手段】 本発明の表面形状測定方法は、モアレ縞
の位相を走査し、その走査時に生じるモアレ縞強度変化
の周期を測定し、測定したモアレ縞強度変化の周期に基
づいて被測定物の表面形状を測定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は表面形状測定方法及
びその装置に関し、特にレンズ等の部品表面の欠陥検査
やロボットビジョンに用いられる三次元的な表面形状測
定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】三次元測定法の一つの手法としてモアレ
法が挙げられる。このモアレ法には、格子投影型と実体
格子型があり、様々な分野において広く利用されてい
る。格子投影型のモアレ法とは、図17に示すように、
投影用と観察用とに、それぞれ小さな格子G1,G2を
配置し、投影用の格子G1をレンズL1により物体に投
影し、物体形状に応じて変形した格子線をレンズL2を
通じてもう一つの観察用の格子G2上に結像させ、縞等
高線を基準面から所定距離のところに生じさせるように
したものである。次に、実体格子型のモアレ法とは、図
18に示すように、基準面に一つの格子Gを設置し、レ
ンズL1の位置に点光源Sを、レンズL2の位置に観察
眼eを置いて、格子Gの点光源Sによる影を物体上に落
し、物体形状に応じて変形した格子Gの影を形成させて
これを格子Gを通して観察眼eから観察することによ
り、この格子Gと変形した格子の影とによって生じるモ
アレ縞を観測する方法をいう。
【0003】例えば特開平6−160046号公報(以
下従来例1と称す)では格子投影型のモアレ法により、
長尺材の歪みを検出している。また、得られたモアレ縞
から物体の3次元形状を計測することも可能である。図
19において、光源S及び観察点Sと格子面までの
距離をl、格子のピッチをS、光源と観察点との距離を
dとする。同一平面内にある格子GとGはいずれも
ピッチSをもつが、格子は面内で互いにεだけずれてい
る(格子ピッチの位相でいえば2πε/S)ものとする
と、強度がゆっくり変化するモアレ縞の項は、
【0004】
【数1】
【0005】と表せられる。形成されるモアレ縞(等高
線)は、格子面を基準(0次)として、格子面から離れ
るに従い、順に1次、2次とカウントされる次数を持
つ。そこで縞次数Nのモアレ縞をcoS2πNと置くこ
とによって得られる。その結果、第N次のモアレ等高線
は基準面からhだけ離れた次の位置、
【0006】
【数2】
【0007】に形成されることになる。これは位置の座
標xを含んでおらず、Nによって(xにかかわりなく)
定める固有の値となっている。すなわち、等高線が形成
されていることを示す。
【0008】図20のような構成をとった場合、S
点光源として、Sの位置に観察点をおき、また1枚の
連続した(したがってε=0となる)格子を配したもの
に相当する(実体格子型)。ε=0であるので(2)式
から、
【0009】
【数3】
【0010】が成り立つ。ただし、等高線といいながら
厳密には、その間隔Δh=hN+1−hは一定では
なく、次数Nによって異なってしまうが、一般的にはd
≫NSとみなして、Δh=Sl/dと近似できることが
多い。このような原理に基づいて物体の3次元形状を計
算できる。
【0011】更に、高精度な計算方法として、位相シフ
ト法を応用した例が報告されている。まず、位相シフト
法の原理について説明する。図21に示すように、位相
変調された縞画像Iは、 I=I(θ)=a(x、y)+b(x、y)coS(Φ(x、
y)+θ)) (ただし、a:バイアス、b:振幅、θ:操作可能な位
相、Φ:高さに相当する位相値である。)と表せる。こ
こで求めたいのは各点(x、y)における位相Φ(x、
y)である。バイアスや振幅は、表面の反射率や汚れな
どで変化する未知数成分なので、位相θを0、π/2、
πと変化させた3つの縞画像I、I、Iは、 I= I(0)=a(x、y)+b(x、y)co
S(Φ(x、y)+θ)) I=I(π/2)=a(x、y)−b(x、y)Si
n(Φ(x、y)+θ)) I= I(π)=a(x、y)−b(x、y)co
S(Φ(x、y)+θ)) を生成する。その結果、
【0012】
【数4】
【0013】となる。この(4)式により位相を算出す
れば反射率や汚れ成分を除去して、各点の位相Φ(x、
y)を求めることができる。
【0014】また、特許第2,887,517号明細書
(以下従来例2と称す)では、格子面の垂直移動と光源
又は観察点の水平移動を、同時に行うことにより、各次
数の縞の位相がほぼ揃った状態で測定対象に対する縞位
相をシフトさせ、複数枚の縞画像を位相シフト法の原理
に基いて処理することにより高い計測精度を実現させて
いる。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来例1
の方法では対象物を直観的に把握することはできるが、
凹凸の判定がし難い、急激な形状変化があった場合、モ
アレ縞が密になり区別できなくなる等の問題が生じる。
あるいは被測定物自体に模様や色の違いがあった場合、
色情報とモアレ縞による強度情報を分離できなくなると
いった問題も生じる。
【0016】また、従来例2によれば、これらの形状演
算において求められる位相はπの間に折りたたまれて計
算される。もし物体形状に段差のような急激な形状変化
が存在した場合、モアレ縞の位相π以上変化しまい、そ
の飛びがπの何倍なのか特定できないため正確な形状を
計算することができない。
【0017】本発明はこれらの問題点を解決するための
ものであり、被測定物自体の模様や汚れに左右されずに
段差等の急激な形状変化が存在する被測定物の表面形状
を測定できる表面形状測定方法及びその装置を提供する
ことを目的とする。
【0018】
【課題を解決するための手段】前記問題点を解決するた
めに、平面格子の影を光源から出た光によって、被測定
物表面上に投影し、影を格子又は当該格子と別の格子を
通して観察点で得て、平面格子の影によって生じるモア
レ縞を利用して被測定物の表面形状を測定する、本発明
の表面形状測定方法によれば、モアレ縞の位相を走査
し、その走査時に生じるモアレ縞強度変化の周期を測定
し、測定したモアレ縞強度変化の周期に基づいて被測定
物の表面形状を測定する。よって、モアレ縞強度変化の
周期から高さを測定するので、模様や汚れ等があっても
影響なく被測定物の表面形状を測定できる。
【0019】また、別の発明としての表面形状測定装置
は、モアレ縞を発生させるための光源と、格子パターン
と、モアレ縞の強度を測定する光電変換素子と、モアレ
縞の位相を走査させるモアレ縞位相走査手段と、モアレ
縞位相走査による被測定物上のモアレ縞強度変化の周期
を演算するモアレ縞強度変化周期演算手段と、モアレ縞
強度変化の周期の違いに基づいて被測定物の形状データ
を算出する形状演算手段と有することに特徴がある。
【0020】更に、任意の測定物に対して測定したモア
レ縞強度が1周期変化するモアレ縞走査量と測定物の高
さとの関係を示す対応表を用いて被測定物の表面形状を
測定することにより、形状データの算出を高速化でき
る。
【0021】また、別の発明としての表面形状測定装置
は、モアレ縞を発生させるための光源と、格子パターン
と、モアレ縞の強度を測定する光電変換素子と、モアレ
縞の位相を走査させるモアレ縞位相走査手段と、モアレ
縞位相走査による縞強度変化が1周期分変化するのに要
したモアレ縞走査量を演算するモアレ縞強度変化周期演
算手段と、予め作成しておいた、任意の測定物に対して
測定したモアレ縞強度が1周期変化するモアレ縞走査量
と測定物の高さとの関係を示す対応表を記憶する対応表
記憶手段と、該対応表に対応させて被測定物の形状デー
タを算出する形状演算手段とを有することに特徴があ
る。よって、形状データの算出を高速化できる。
【0022】更に、任意の測定物に対して測定したモア
レ縞強度が1周期変化するのに要したモアレ縞走査量と
モアレ縞次数との関係を示す対応表を用いて被測定物の
モアレ縞次数を決定し、決定したモアレ縞次数を基に被
測定物体上のモアレ縞の位相を算出し、被測定物の表面
形状を測定することにより、測定精度を向上させること
ができる。
【0023】また、別の発明としての表面形状測定装置
は、モアレ縞を発生させるための光源と、格子パターン
と、モアレ縞の強度を測定する光電変換素子と、モアレ
縞の位相を走査させるモアレ縞位相走査手段と、モアレ
縞位相走査によるモアレ縞強度が1周期するのに要した
モアレ縞走査量を演算するモアレ縞強度変化周期演算手
段と、予め作成しておいた、任意の測定物に対して測定
したモアレ縞強度が1周期変化するのに要したモアレ縞
走査量とモアレ縞次数との関係を示す対応表を記憶する
対応表記憶手段と、該対応表に対応させて被測定物のモ
アレ縞次数を決定する縞次数決定手段と、決定したモア
レ縞次数を用いて被測定物体上のモアレ縞位相を演算す
る位相演算手段と、モアレ縞位相に基づいて被測定物の
形状データを算出する形状演算手段とを有すること特徴
がある。よって、測定精度を向上させることができる。
【0024】更に、任意の測定物に対して測定したモア
レ縞強度が1周期変化するのに要したモアレ縞走査量を
測定し、さらにモアレ縞強度が少なくとも2周期以上変
化するのに要したモアレ縞走査量を測定した後、それら
の測定量から被測定物体上のモアレ縞次数と位相を算出
し、被測定物の表面形状を測定することにより、予め対
応表を作成しておかなくてもモアレ縞次数と位相を算出
することができる。
【0025】また、別の発明としての表面形状測定装置
は、モアレ縞を発生させるための光源と、格子パターン
と、モアレ縞の強度を測定する光電変換素子と、モアレ
縞強度の位相を走査させるためのモアレ縞位相走査手段
と、モアレ縞位相走査によりモアレ縞強度変化が1周期
及び少なくとも2周期以上変化に要したモアレ縞走査量
を算出する縞強度変化周期演算手段と、演算結果から被
測定物体上のモアレ縞次数及び位相を演算する縞次数−
位相演算手段と、モアレ縞次数及び位相に基づいて被測
定物の形状データを算出する形状演算手段とを有するこ
とに特徴がある。よって、予め対応表を作成しておかな
くてもモアレ縞次数と位相を算出することができる。
【0026】更に、モアレ縞位相走査手段が、光源、格
子パターン及び光電変換素子を含む光学系全体を格子パ
ターンと垂直方向に移動させるための光学系移動手段を
有することにより、モアレ縞の位相を走査させることが
でき、モアレ縞強度変化の周期から三次元形状測定が可
能となる。
【0027】また、モアレ縞位相走査手段が、被測定物
体を格子パターンと垂直方向に移動させるための被測定
物移動手段を有していることにより、モアレ縞の位相を
走査させることができ、モアレ縞強度変化の周期から三
次元形状測定が可能となる。
【0028】更に、モアレ縞位相走査手段が、格子パタ
ーンを移動させるための格子パターン移動手段を有して
いることにより、モアレ縞の位相を走査させることがで
き、モアレ縞強度変化の周期から三次元形状測定が可能
となる。
【0029】また、モアレ縞位相走査手段が、格子パタ
ーンのピッチを変化させるための格子パターンピッチ変
更手段を有していることにより、モアレ縞の位相を走査
させることができ、モアレ縞強度変化の周期から三次元
形状測定が可能となる。
【0030】更に、モアレ縞位相走査手段が、光源と光
電変換素子間の距離を変化させるための光源−光電素子
間距離変更手段を有していることにより、モアレ縞の位
相を走査させることができ、モアレ縞強度変化の周期か
ら三次元形状測定が可能となる。
【0031】
【発明の実施の形態】本発明の表面形状測定方法は、モ
アレ縞の位相を走査し、その走査時に生じるモアレ縞強
度変化の周期を測定し、測定したモアレ縞強度変化の周
期に基づいて被測定物の表面形状を測定する。
【0032】
【実施例】図1は本発明の第1の実施例に係る表面形状
測定方法の原理を示す概略図である。同図において、上
記(3)式や図20で示したように、モアレ光学系では
縞次数Nにより縞間隔Δhが異なる。例えばS=8
3.3μm(12本/mm)、L=200mm、d=70
mmとした場合、図1の(a)のような位置にモアレ縞
等高線が形成される。ここで、モアレ次数n=2、3、
4の位置に段差ABCがある被測定物を考える。図1の
(a)の状態では、ABC面上には明るいモアレ縞が形
成されていることになる。次に、光源、観察点、格子パ
ターンの相対位置関係は維持したまま、モアレ光学系全
体を図1の(b)に示すように、図中下方向にΔh
(=239.423μm)だけ移動させるとする。そ
の結果、図1の(b)に示すような位置にモアレ縞等高
線がシフトする。光学系移動中のABC各段差面上での
モアレ縞強度変化を模式的に図2に示す。図2ではΔh
(=239.423μm)を50分割して移動させ、
各移動時におけるモアレ縞強度を測定した場合を想定し
て表している。B面上ではモアレ縞強度がちょうど1周
期する。一方A面上では、光学系をΔh(=239.
423μm)移動させた場合、モアレ縞強度は1周期以
上変化している。逆にC面上では、まだ1周期分の強度
変化を示していない。これは縞次数Nにより縞間隔Δh
が異なるためである。このように、モアレ縞の位置、
言いかえればモアレ縞の位相を意図的に変化させた場
合、その時生じるモアレ縞強度変化の周期と物体の高さ
を1:1に対応させることが可能である。光学系を移動
させる代わりに、被測定物を移動させても同様である。
つまり、モアレ縞の位相を変化させるには、モアレ光学
系と被測定物との相対距離を変化させればよい。あるい
は、モアレ光学系のパラメータ(d,S,l)のいずれ
かを変化させてもモアレ縞の位相を変化させることが可
能である。よって、モアレ光学系のパラメータ(d,
S,l)いずれかを変化させて、測定したい個所でモア
レ縞の強度を測定した場合、そのモアレ縞強度が1周期
するのに要するモアレ光学系パラメータの変化量と物体
の高さを1:1に対応させることが可能である。
【0033】図3は第1の実施例の表面形状測定方法を
実現する表面形状測定装置の構成を示すブロック図であ
る。表面形状測定装置100は、光源11、格子パター
ン12及びモアレ縞の強度を観測するための光電変換素
子13を有するモアレ光学系14と、例えばモアレ光学
系14と被測定物20を相対的に図中上下に移動させて
モアレ光学系14と被測定物20の相対距離を変化させ
てモアレ縞の位相を走査するモアレ縞位相走査手段15
と、モアレ縞における変化する周期を演算するモアレ縞
強度変化周期演算手段16と、演算された周期に基づい
て被測定物の形状を演算する形状演算手段17とを含ん
で構成されている。ここでは、格子パターン12を1枚
だけ用いる実体格子型モアレ光学系を例に取ったが、格
子投影型のモアレ光学系でもよい。そして、このような
構成を有する表面形状測定装置100によれば、モアレ
縞位相走査手段15によりモアレ光学系14と被測定物
20の相対距離を変化させてモアレ縞強度の位相を走査
させながら、一定の間隔で被測定物20上のモアレ縞強
度を光電変換素子13で測定する。その結果、図2のよ
うな信号が得られるので、モアレ縞強度変化周期演算手
段16でモアレ縞強度変化が1周期変化する相対距離の
変化量を演算する。更に、その変化量の違いから形状測
定手段17を用いて被測定物20の形状データに変換す
る。あるいは、モアレ縞位相走査手段15によりモアレ
光学系14内のパラメータ(d,S,l)のいずれかを
変化させてモアレ縞の位相を変化させた場合は、縞変化
周期演算手段16でモアレ縞強度変化が1周期変化する
パラメータの変化量を演算する。更に、その変化量の違
いから形状測定手段17を用いて被測定物の形状データ
に変換する。図4は本発明の第2の実施例に係る表面形
状測定方法の原理を示す概略図である。ここでは、凸状
の被測定物のD面の高さを測定する方法について説明す
る。同図において、D面は初期設定において縞次数nと
n+1の間に存在し、次数nからの位相をφとすると、
D面の初期位置は、
【0034】
【数5】
【0035】と表される。もともと初期設定において次
数n−1とnの間の位相φ位置にあった縞がモアレ光学
系の移動により、D面に移動したときにD面上の縞が1
周期する。ここでモアレ光学系の移動により縞強度が1
周期したときの、求めたい高さ方向におけるモアレ縞の
移動量を図4のようにF(n,φ)とすると下記の
(6)式が成り立つ。この場合、モアレ光学系の移動量
とモアレ縞の移動量は同じである。
【0036】
【数6】
【0037】そして、n=1,2,…、φを必要な分解
能で設定して、被測定物体上のあらゆる高さについてF
(n,φ)を算出して、(縞強度が1周期変化するモ
アレ光学系の移動量)−(高さ)の関係を示す対応表を
作成しておく。hやΔhはモアレ光学系のパラメー
タ(d,S,l)と次数nから決定できる。測定の際
は、縞強度が1周期変化するモアレ光学系の移動量(測
定値)を、対応表と比較し最も近い高さを、その測定個
所の形状データとする。被測定物を移動させてモアレ縞
位相を走査した場合も同じ対応表が使える。つまり、モ
アレ光学系と被測定物の相対距離を変化させることによ
りモアレ縞を走査した場合は同じ対応表が使える。ある
いは、モアレ光学系パラメータを変化させた場合は、そ
の変化量が求めたい高さ方向におけるモアレ縞の移動量
(n,φ)と同じとはならない。そのためF(n,
φ)を測定値から直接得られないが、ある変換式を用い
て関連付けることが可能である。その場合は、縞強度が
1周期変化するモアレ光学系パラメータの変化量を、変
換式を用いて、求めたい高さ方向におけるモアレ縞移動
量F(n,φ)に変換して、先の対応表から縞次数を決
定する。あるいはその変換式を用いて、予め(縞強度が
1周期変化するモアレ光学系パラメータの変化量)−
(高さ)の関係を示す対応表を予め作成しておいてもよ
い。
【0038】図5は第2の実施例の表面形状測定方法を
実現する表面形状測定装置の構成を示すブロック図であ
る。同図において、図3と同じ参照符号は同じ構成要素
を示す。異なる構成要素として、(縞強度が1周期変化
する相対距離の変化量)−(高さ)の関係を示す対応表
を格納している対応表記憶手段18を有している。ここ
でも格子パターン12を1枚だけ用いる実体格子型モア
レ光学系を例に取ったが、格子投影型のモアレ光学系で
もよい。モアレ縞位相走査手段15はモアレ光学系14
と被測定物20の相対距離を変化させることにより、モ
アレ縞強度の位相を走査させる。そして、モアレ縞強度
の位相を走査させながら、一定の間隔で被測定物体20
上のモアレ縞強度を光電変換素子13で測定する。その
結果、図2のような信号が得られる。そこで、モアレ縞
強度変化周期演算手段16でモアレ縞強度変化が1周期
分変化する相対距離の変化量を演算する。そして、対応
表記憶手段18に記憶しておいた(縞強度が1周期変化
する相対距離の変化量)−(高さ)の関係を示す対応表
から被測定物20上の形状データを形状演算手段17で
形状データを求める。あるいはモアレ縞位相走査手段1
5によりモアレ光学系14のパラメータ(d,S,l)
を変化させてモアレ縞位相を走査させた場合は、モアレ
縞強度変化周期演算手段16でモアレ縞強度変化が1周
期分変化するモアレ光学系14のパラメータ(d,S,
l)の変化量を演算する。そして、(縞強度が1周期変
化するモアレ光学系のパラメータ(d,S,l)の変化
量)−(高さ)の関係を示す対応表から被測定物20上
の形状データを形状演算手段17で形状データを求め
る。
【0039】次に、本発明の第3の実施例に係る表面形
状測定方法について説明すると、モアレ光学系を移動さ
せて、モアレ縞の位相を走査させた場合、(6)式をΔ
=hn+1−hを用いて整理すると、
【0040】
【数7】
【0041】となる。ここでF(n,φ)は求めたい高
さ方向におけるモアレ縞1周期分の移動量(図4参照)
であり、この場合、モアレ縞強度が1周期するのに要す
るモアレ光学系の移動量と同じであり測定値として得ら
れる。また、hは(3)式を用いてモアレ光学系のパ
ラメータ(d,S,l)から算出できるので、縞次数n
がわかれば位相φが分りD面の高さに換算できる。縞次
数nの特定は予め対応表を作成しておけば容易に特定で
きる。測定面が縞次数nとn+1の間にあった場合、F
(n,φ)はΔhn−1以上Δh以下になる。Δh
はモアレ光学系のパラメータ(d,S,l)から予めわ
かるので、(縞強度が1周期変化するモアレ光学系の移
動量)−(縞次数)の関係を示す対応表を作っておけ
ば、測定値であるF(n,φ)からその面がどの次数の
間にあったか特定できる。縞次数nが特定できれば
(7)式及び測定値F(n,φ)から位相φを算出し、
高さに変換すれば良い。光学系の代わりに被測定物を移
動させた場合も同じである。あるいは、モアレ光学系パ
ラメータを変化させた場合、その変化量が求めたい高さ
方向におけるモアレ縞の移動量F(n,φ)と同じとは
ならない。そのためF(n,φ)を測定値から直接得ら
れないが、ある変換式を用いて関連付けることが可能で
ある。その場合は、縞強度が1周期変化するモアレ光学
系パラメータの変化量を、変換式を用いて、求めたい高
さ方向におけるモアレ縞移動量F(n,φ)に変換し
て、先の対応表から縞次数を決定する。あるいはその変
換式を用いて、予め(縞強度が1周期変化するモアレ光
学系パラメータの変化量)−(縞次数)の関係を示す対
応表を予め作成しておいてもよい。
【0042】図6は第3の実施例の表面形状測定方法を
実現する表面形状測定装置の構成を示すブロック図であ
る。同図において、図5と同じ参照符号は同じ構成要素
を示す。異なる構成要素として、予め作成しておいた
(縞強度が1周期変化する相対距離の変化量)−(縞次
数)の関係を示す対応表を記憶する対応表記憶手段19
と、当該対応表から被測定物上のモアレ縞次数を決定す
る縞次数決定手段21と、位相演算手段22とを有す
る。モアレ縞を発生させるための光源11及び格子パタ
ーン12、モアレ縞の強度を観測するための光電変換素
子13によりモアレ光学系14が形成される。ここでも
格子パターン12を1枚だけ用いる実体格子型モアレ光
学系を例に取ったが、格子投影型のモアレ光学系でもよ
い。モアレ縞位相走査手段15は、モアレ光学系14と
被測定物20の相対距離を変化させることにより、モア
レ縞強度の位相を走査させる。そして、モアレ縞強度の
位相を走査させながら、一定の間隔で被測定物体20上
のモアレ縞強度を光電変換素子13で測定する。その結
果、図2のような信号が得られる。そこで、モアレ縞強
度変化周期演算手段16でモアレ縞強度変化が1周期分
変化する相対距離の変化量、つまり縞強度が1周期変化
する縞の移動量をF(n,φ)を演算する。更に、その
結果を受け予め作成しておいた(縞強度が1周期変化す
る相対距離の変化量)−(縞次数)の関係を示す対応表
から被測定物20上のモアレ縞次数を縞次数決定手段2
1で決定し、その決定した縞次数を用いて被測定物20
上のモアレ縞位相を位相演算手段22で演算し、形状演
算手段17で形状データに変換する。あるいはモアレ縞
位相走査手段15によりモアレ光学系14のパラメータ
(d,S,l)を変化させてモアレ縞位相を走査させた
場合は、モアレ縞強度変化周期演算手段16でモアレ縞
強度変化が1周期分変化するモアレ光学系14のパラメ
ータ(d,S,l)の変化量を演算する。そして、予め
作成して対応表記憶手段21に記憶しておいた(縞強度
が1周期変化するモアレ光学系のパラメータ(d,S,
l)の変化量)−(縞次数)の関係を示す対応表から被
測定物20上の形状データを形状演算手段17で形状デ
ータを求める。
【0043】次に、本発明の第4の実施例に係る表面形
状測定方法について説明する。第1の実施例で示した縞
が1周期変化する縞の移動量F(n,φ)に続き、図7
に示すように、縞が2周期変化する縞の移動量F
(n,φ)を求める。モアレ光学系を移動させてモアレ
縞の位相を走査させた場合、F(n,φ)、F(n,
φ)はモアレ縞強度が1周期あるいは2周期変化するの
に要するモアレ光学系の移動量と同じであり測定値とし
て得られる。この場合、
【0044】
【数8】
【0045】と表せる。Δh=hn+1−hを用い
て整理すると、
【0046】
【数9】
【0047】F(n,φ)を表す(7)式とこの(9)
式において、未知数は縞次数nと位相φであるので、2
つの方程式を解けば解が得られる。次数nと位相φが求
められれば、被測定物の高さに換算できる。ここでは2
周期分の移動量から方程式を解いたが更に多くの周期を
表す移動量から縞次数nと位相φを解くことにより精度
を向上させることも可能である。あるいは、モアレ光学
系パラメータを変化させた場合、その変化量が求めたい
高さ方向におけるモアレ縞の移動量F(n,φ)、F
(n,φ)と同じとはならない。そのためF(n,φ)、
(n,φ)を測定値から直接得られないが、ある変換
式を用いて関連付けることが可能である。
【0048】図8は第4の実施例の表面形状測定方法を
実現する表面形状測定装置の構成を示すブロック図であ
る。同図において、図6と同じ参照符号は同じ構成要素
を示す。異なる構成要素として、縞強度が1周期変化す
る縞の移動量F(n,φ)及び縞強度が2周期変化する
縞の移動量F(n,φ)を演算するモアレ縞強度変化周
期演算手段23と、該モアレ縞強度変化周期演算手段2
3による演算結果から上記(7)式及び(9)式を演算
する縞次数−位相演算手段24とを有している。ここで
も格子パターン12を1枚だけ用いる実体格子型モアレ
光学系を例に取ったが、格子投影型のモアレ光学系でも
よい。モアレ縞位相走査手段15はモアレ光学系14と
被測定物20の相対距離を変化させることにより、モア
レ縞強度の位相を走査させる。そして、モアレ縞強度の
位相を走査させながら、一定の間隔で被測定物20上の
モアレ縞強度を光電変換素子13で測定する。その結
果、図2のような信号が得られる。そこで、モアレ縞強
度変化周期演算手段23でモアレ縞強度変化が1周期分
変化する相対距離の変化量、つまり縞強度が1周期変化
する縞の移動量F(n,φ)及びモアレ縞強度変化が2
周期分変化する相対距離の変化量、つまり縞強度が2周
期変化する縞の移動量F(n,φ)を演算する。更に、
その結果から縞次数−位相演算手段24で(7),
(9)式の方程式を解くことにより被測定物20上のモ
アレ縞次数と位相を算出し、さらに形状演算手段17で
形状データに変換する。あるいはモアレ縞位相走査手段
15によりモアレ光学系のパラメータ(d,S,l)を
変化させてモアレ縞位相を走査させた場合は、モアレ縞
強度変化周期演算手段23でモアレ縞強度変化が1周期
分変化するモアレ光学系14のパラメータ(d,S,
l)の変化量をモアレ縞の移動量F(n,φ)に換算
し、続いてモアレ縞強度変化が2周期分変化するモアレ
光学系14のパラメータ(d,S,l)の変化量をモア
レ縞の移動量F(n,φ)に換算する。更に、その結果
から縞次数−位相演算手段24で(7),(9)式の方
程式を解くことにより被測定物20上のモアレ縞次数と
位相を算出し、さらに形状演算手段17で形状データに
変換する。
【0049】ここで、モアレ縞の位相を走査するために
モアレ光学系全体を移動させる実施例について説明す
る。本実施例の構成を示す図9に示すように、光学系移
動手段25を用いて光学系全体を移動させることにより
モアレ縞強度の位相を走査させ、一定の間隔で被測定物
20上のモアレ縞強度を光電変換素子13で測定する。
その結果、図2のような信号が得られるので、モアレ縞
強度変化周期演算手段16でモアレ縞強度変化の周期を
演算する。さらにその周期の違いから形状測定手段17
を用いて被測定物20の形状データに変換する。
【0050】また、モアレ縞の位相を走査するために被
測定物を移動させる実施例について説明する。本実施例
の構成を示す図10に示すように、被測定物移動手段2
6を用いて被測定物20を移動させることによりモアレ
縞強度の位相を走査させ、一定の間隔で被測定物20上
のモアレ縞強度を光電変換素子13で測定する。その結
果、図2のような信号が得られる。この場合、図2の横
軸は被測定物20の移動量である。この信号から、モア
レ縞強度変化周期演算手段16でモアレ縞強度変化の周
期を演算する。さらにその周期の違いから形状測定手段
17を用いて被測定物20の形状データに変換する。
【0051】次に、モアレ縞の位相を変化させるために
格子パターンの位置を光軸方向にΔlだけ変化させる実
施例を図11に示す。移動前のn+1次のモアレ縞等高
線は上記(3)式から
【0052】
【数10】
【0053】となる。ただし、図11において、光源と
観察点は格子から同距離にあり、光源と観察点の間の距
離をd、格子と観察点、光源の間の距離をl、格子のピ
ッチをS、格子の移動量をΔlとする。
【0054】次に、格子パターンを移動させてモアレ縞
をシフトさせることを考えると、シフト後の第n次の縞
までの距離h'は、
【0055】
【数11】
【0056】となる。従って、図11に示すように格子
移動前の第n次と第n+1次のモアレ縞間の位相Φ
位置に、格子移動後の第n次のモアレ縞があると仮定す
ると、
【0057】
【数12】
【0058】が成立する。この(12)式に(10),
(11)式を代入し整理すると、
【0059】
【数13】
【0060】を得る。この(13)式により格子移動量
Δlと位相シフト量Φの関係が明らかになった。ここ
で、S=83.3μm、l=200mm、d=70m
m、格子移動前の縞次数n=3の縞を正確に2πシフト
させることを考える。つまり、n=3、Φ=2πとす
る。以上のパラメータを(13)式に代入すると、Δl
=3=239.138μmとなる。このΔlによる格
子移動前後のモアレ縞等高線の位置を図12の(b)に
示す。また、格子移動前の縞次数n=4の縞を正確に2
πシフトさせるとするとn=4、Φ=2πとし(1
3)式に代入すると、Δln=4=239.425μm
となる。このように物体の高さにより縞強度が1周期す
る格子パターン移動量Δlが異なる。
【0061】次に、モアレ次数n=3、4、5の位置に
段差ABCがある物体を考える。左側の状態では、AB
C面上には明るいモアレ縞が形成されていることにな
る。次に、格子パターンをΔln=3(=239.13
8μm)だけ移動させるとする。その結果、図12の
(a)のような位置にモアレ縞等高線がシフトする。格
子移動中のABC各段差面上でのモアレ縞強度変化を模
式的に図13に示す。ここではΔln=3を50分割し
て移動させ、各移動時におけるモアレ縞強度を測定した
場合を想定して表している。B面上ではモアレ縞強度が
ちょうど1周期する。一方A面上では、格子パターンを
Δln=3移動させた場合、モアレ縞強度はまだ1周期
していない。逆にC面上では、1周期分以上の強度変化
を示す。このように、格子パターンの位置を変化させ、
モアレ縞の位相を意図的に変化させる場合、その時生じ
るモアレ縞強度変化の周期と物体の高さを1:1に対応
させることが可能である。n=1,2,…、φを必要な
分解能で設定して、縞1周期の変化を示す格子移動量Δ
(n,φ)と物体高さの関係を示す対応表を作成し
ておけば、容易に形状データが得られる。第2の実施例
ではΔl(n,φ)を、求めたい高さ方向のモアレ縞
の移動量F(n,φ)に換算してから対応表を使用する
場合を説明したが、(縞1周期の変化を示す格子の移動
量Δl(n,φ))−(高さ)の関係を示す対応表を
直接作成する方法に関して図14を用いて補足する。所
定の位置から格子パターンをΔl(n,φ)だけ移動
させたととき、D面上の縞強度が1周期したとする。D
面が格子移動前にn次とn+1次の間の位相φの縞上に
存在したとする。このとき図14より、
【0062】
【数14】
【0063】と表せる。h、Δh、h'n-1、Δ
h'n-1はモアレ光学系のパラメータ(S,l,d)及
び測定値Δl(n,φ)を用いて表せる。よって任意
の縞次数nとその間の位相φに対して、縞強度が1周期
する格子パターン移動量Δl(n,φ)を計算で求め
ることができる。n=1,2,…、φを必要な分解能で
設定して、被測定物上のあらゆる高さについてΔl
算出しておく。測定の際は、測定値であるΔl(n,
φ)を、対応表と比較し最も近い高さを、その測定個所
の形状データとする。また、先にも説明したように縞次
数によりΔl(n,φ)は異なるので、第2の実施例
で示したように先ず被測定物体が存在する縞次数をまず
特定し、そのあとにその縞次数と測定したΔl(n,
φ)を(14)式の等式に代入して位相φを求めること
も可能である。更に、第3の実施例のように、縞強度が
1周期変化するΔl(n,φ)及び縞強度が2周期変
化するΔl(n,φ)を求めておき、連立方程式から
縞次数nと位相φを算出しても良い。装置構成としては
図5、図6、図8のモアレ縞位相走査手段15に、格子
パターンを移動可能な機構を用いることになる。
【0064】次に、図15に示すように、位相をシフト
させるために格子パターンのピッチをΔSだけ変化させ
ることも可能である。変化前のn+1次のモアレ縞等高
線は上記(3)式から
【0065】
【数15】
【0066】となる。ただし、図15において、光源と
観察点は格子から同距離にあり、光源と観察点の間の距
離をd、格子と観察点、光源の間の距離をl、格子のピ
ッチをS、格子パターンのピッチ変化量をΔSとする。
【0067】次に、格子パターンピッチを変化させてモ
アレ縞をシフトさせる実施例について説明すると、シフ
ト後の第n次の縞までの距離h'は、
【0068】
【数16】
【0069】となる。従って、図14に示すように格子
パターンピッチ変化前の第n次と第n+1次のモアレ縞
間の位相Φの位置に、格子パターンピッチ変化後の第
n次のモアレ縞があると仮定すると、
【0070】
【数17】
【0071】が成立する。この(17)式に(15),
(16)式を代入し整理すると、
【0072】
【数18】
【0073】を得る。この(18)式により格子パター
ンのピッチ変化量ΔSと位相シフト量Φの関係が明ら
かになった。ここで、S=83.3μm(12本/m
m)、l=200mm、d=70mm、格子移動前の縞
次数n=3の縞を正確に2πシフトさせることを考え
る。つまり、n=3、Φ=2πとする。以上のパラメ
ータを(17)式に代入すると、ΔS=27.8μmと
なる。このΔSによる格子移動前後のモアレ縞等高線の
位置を図16に示す。このようにモアレ縞の位相を走査
させることが可能である。格子に液晶などを用いてピッ
チSを変化させながら測定を行うといった構成が考えら
れる。
【0074】また、上記式(3)からわかるように、光
源と観察点との距離dを変化させることによってもモア
レ縞の位相を走査させることが可能である。そこで、図
5、図6、図8のモアレ縞位相走査手段に、距離dを変
化させられる機構を用いる。あるいは距離dが異なる光
源を多数設けて切り替えながら測定することも可能であ
る。距離dを変えることによりモアレ縞強度の位相を走
査させ、一定の間隔で被測定物上のモアレ縞強度を光電
変換素子で測定する。その結果、図2のような信号が得
られるので、第1〜第4の実施例の表面形状測定方法で
高さを測定できる。
【0075】なお、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、特許請求の範囲内の記載であれば多種の変
形や置換可能であることは言うまでもない。
【0076】
【発明の効果】以上説明したように、平面格子の影を光
源から出た光によって、被測定物表面上に投影し、影を
格子又は当該格子と別の格子を通して観察点で得て、平
面格子の影によって生じるモアレ縞を利用して被測定物
の表面形状を測定する、本発明の表面形状測定方法によ
れば、モアレ縞の位相を走査し、その走査時に生じるモ
アレ縞強度変化の周期を測定し、測定したモアレ縞強度
変化の周期に基づいて被測定物の表面形状を測定する。
よって、モアレ縞強度変化の周期から高さを測定するの
で、模様や汚れ等があっても影響なく被測定物の表面形
状を測定できる。
【0077】また、別の発明としての表面形状測定装置
は、モアレ縞を発生させるための光源と、格子パターン
と、モアレ縞の強度を測定する光電変換素子と、モアレ
縞の位相を走査させるモアレ縞位相走査手段と、モアレ
縞位相走査による被測定物上のモアレ縞強度変化の周期
を演算するモアレ縞強度変化周期演算手段と、モアレ縞
強度変化の周期の違いに基づいて被測定物の形状データ
を算出する形状演算手段と有することに特徴がある。
【0078】更に、任意の測定物に対して測定したモア
レ縞強度が1周期変化するモアレ縞走査量と測定物の高
さとの関係を示す対応表を用いて被測定物の表面形状を
測定することにより、形状データの算出を高速化でき
る。
【0079】また、別の発明としての表面形状測定装置
は、モアレ縞を発生させるための光源と、格子パターン
と、モアレ縞の強度を測定する光電変換素子と、モアレ
縞の位相を走査させるモアレ縞位相走査手段と、モアレ
縞位相走査による縞強度変化が1周期分変化するのに要
したモアレ縞走査量を演算するモアレ縞強度変化周期演
算手段と、予め作成しておいた、任意の測定物に対して
測定したモアレ縞強度が1周期変化するモアレ縞走査量
と測定物の高さとの関係を示す対応表を記憶する対応表
記憶手段と、該対応表に対応させて被測定物の形状デー
タを算出する形状演算手段とを有することに特徴があ
る。よって、形状データの算出を高速化できる。
【0080】更に、任意の測定物に対して測定したモア
レ縞強度が1周期変化するのに要したモアレ縞走査量と
モアレ縞次数との関係を示す対応表を用いて被測定物の
モアレ縞次数を決定し、決定したモアレ縞次数を基に被
測定物体上のモアレ縞の位相を算出し、被測定物の表面
形状を測定することにより、測定精度を向上させること
ができる。
【0081】また、別の発明としての表面形状測定装置
は、モアレ縞を発生させるための光源と、格子パターン
と、モアレ縞の強度を測定する光電変換素子と、モアレ
縞の位相を走査させるモアレ縞位相走査手段と、モアレ
縞位相走査によるモアレ縞強度が1周期するのに要した
モアレ縞走査量を演算するモアレ縞強度変化周期演算手
段と、予め作成しておいた、任意の測定物に対して測定
したモアレ縞強度が1周期変化するのに要したモアレ縞
走査量とモアレ縞次数との関係を示す対応表を記憶する
対応表記憶手段と、該対応表に対応させて被測定物のモ
アレ縞次数を決定する縞次数決定手段と、決定したモア
レ縞次数を用いて被測定物体上のモアレ縞位相を演算す
る位相演算手段と、モアレ縞位相に基づいて被測定物の
形状データを算出する形状演算手段とを有すること特徴
がある。よって、測定精度を向上させることができる。
【0082】更に、任意の測定物に対して測定したモア
レ縞強度が1周期変化するのに要したモアレ縞走査量を
測定し、さらにモアレ縞強度が少なくとも2周期以上変
化するのに要したモアレ縞走査量を測定した後、それら
の測定量から被測定物体上のモアレ縞次数と位相を算出
し、被測定物の表面形状を測定することにより、予め対
応表を作成しておかなくてもモアレ縞次数と位相を算出
することができる。
【0083】また、別の発明としての表面形状測定装置
は、モアレ縞を発生させるための光源と、格子パターン
と、モアレ縞の強度を測定する光電変換素子と、モアレ
縞強度の位相を走査させるためのモアレ縞位相走査手段
と、モアレ縞位相走査によりモアレ縞強度変化が1周期
及び少なくとも2周期以上変化に要したモアレ縞走査量
を算出する縞強度変化周期演算手段と、演算結果から被
測定物体上のモアレ縞次数及び位相を演算する縞次数−
位相演算手段と、モアレ縞次数及び位相に基づいて被測
定物の形状データを算出する形状演算手段とを有するこ
とに特徴がある。よって、予め対応表を作成しておかな
くてもモアレ縞次数と位相を算出することができる。
【0084】更に、モアレ縞位相走査手段が、光源、格
子パターン及び光電変換素子を含む光学系全体を格子パ
ターンと垂直方向に移動させるための光学系移動手段を
有することにより、モアレ縞の位相を走査させることが
でき、モアレ縞強度変化の周期から三次元形状測定が可
能となる。
【0085】また、モアレ縞位相走査手段が、被測定物
体を格子パターンと垂直方向に移動させるための被測定
物移動手段を有していることにより、モアレ縞の位相を
走査させることができ、モアレ縞強度変化の周期から三
次元形状測定が可能となる。
【0086】更に、モアレ縞位相走査手段が、格子パタ
ーンを移動させるための格子パターン移動手段を有して
いることにより、モアレ縞の位相を走査させることがで
き、モアレ縞強度変化の周期から三次元形状測定が可能
となる。
【0087】また、モアレ縞位相走査手段が、格子パタ
ーンのピッチを変化させるための格子パターンピッチ変
更手段を有していることにより、モアレ縞の位相を走査
させることができ、モアレ縞強度変化の周期から三次元
形状測定が可能となる。
【0088】更に、モアレ縞位相走査手段が、光源と光
電変換素子間の距離を変化させるための光源−光電素子
間距離変更手段を有していることにより、モアレ縞の位
相を走査させることができ、モアレ縞強度変化の周期か
ら三次元形状測定が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例に係る表面形状測定方法
の原理を示す概略図である。
【図2】光学系移動中のABC各段差面上でのモアレ縞
強度変化を示す図である。
【図3】第1の実施例の表面形状測定方法を実現する表
面形状測定装置の構成を示すブロック図である。
【図4】本発明の第2の実施例に係る表面形状測定方法
の原理を示す概略図である。
【図5】第2の実施例の表面形状測定方法を実現する表
面形状測定装置の構成を示すブロック図である。
【図6】本発明の第3の実施例の表面形状測定方法を実
現する表面形状測定装置の構成を示すブロック図であ
る。
【図7】本発明の第4の実施例に係る表面形状測定方法
の原理を示す概略図である。
【図8】第4の実施例の表面形状測定方法を実現する表
面形状測定装置の構成を示すブロック図である。
【図9】モアレ光学系全体を移動させる実施例の構成を
示すブロック図である。
【図10】被測定物を移動させる実施例の構成を示すブ
ロック図である。
【図11】格子パターンの位置を光軸方向に変化させる
実施例の構成を示す図である。
【図12】格子移動前後のモアレ縞等高線の位置を示す
図である。
【図13】格子移動中のABC各段差面上でのモアレ縞
強度変化を示す図である。
【図14】対応表を直接作成する様子を示す図である。
【図15】格子パターンのピッチを変化させた様子を示
す図である。
【図16】格子移動前後のモアレ縞等高線の位置を示す
図である。
【図17】格子投影型のモアレ法を説明する図である。
【図18】実体格子型のモアレ法を説明する図である。
【図19】格子投影型のモアレ法により長尺材の歪みを
検出する様子を示す図である。
【図20】格子投影型のモアレ法により長尺材の歪みを
検出する別の様子を示す図である。
【図21】位相変調されたモアレ縞画像を示す図であ
る。
【符号の説明】
11;光源、12;格子パターン、13;光電変換素
子、14;モアレ光学系、15;モアレ縞位相走査手
段、16,23;モアレ縞強度変化周期演算手段、1
7;形状演算手段、18,19;対応表記憶手段、2
0;被測定物、21;縞次数決定手段、22;位相演算
手段、24;縞次数−位相演算手段、25;光学系移動
手段、26;被測定物移動手段。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中山 攻 東京都大田区中馬込1丁目3番6号 株式 会社リコー内 Fターム(参考) 2F065 AA53 BB05 BB22 CC22 FF08 LL41 MM14 MM24 MM28 UU05

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 平面格子の影を光源から出た光によっ
    て、被測定物表面上に投影し、前記影を格子又は当該格
    子と別の格子を通して観察点で得て、平面格子の影によ
    って生じるモアレ縞を利用して被測定物の表面形状を測
    定する表面形状測定方法において、 モアレ縞の位相を走査し、その走査時に生じるモアレ縞
    強度変化の周期を測定し、測定したモアレ縞強度変化の
    周期に基づいて被測定物の表面形状を測定することを特
    徴とする表面形状測定方法。
  2. 【請求項2】 モアレ縞を発生させるための光源と、格
    子パターンと、モアレ縞の強度を測定する光電変換素子
    と、モアレ縞の位相を走査させるモアレ縞位相走査手段
    と、モアレ縞位相走査による被測定物上のモアレ縞強度
    変化の周期を演算するモアレ縞強度変化周期演算手段
    と、モアレ縞強度変化の周期の違いに基づいて被測定物
    の形状データを算出する形状演算手段と有することを特
    徴とする表面形状測定装置。
  3. 【請求項3】 任意の測定物に対して測定したモアレ縞
    強度が1周期変化するモアレ縞走査量と測定物の高さと
    の関係を示す対応表を用いて被測定物の表面形状を測定
    する請求項1記載の表面形状測定方法。
  4. 【請求項4】 モアレ縞を発生させるための光源と、格
    子パターンと、モアレ縞の強度を測定する光電変換素子
    と、モアレ縞の位相を走査させるモアレ縞位相走査手段
    と、モアレ縞位相走査によるモアレ縞強度変化が1周期
    分変化するのに要したモアレ縞走査量を演算するモアレ
    縞強度変化周期演算手段と、予め作成しておいた、任意
    の測定物に対して測定したモアレ縞強度が1周期変化す
    るモアレ縞走査量と測定物の高さとの関係を示す対応表
    を記憶する対応表記憶手段と、該対応表に対応させて被
    測定物の形状データを算出する形状演算手段とを有する
    ことを特徴とする表面形状測定装置。
  5. 【請求項5】 任意の測定物に対して測定したモアレ縞
    強度が1周期変化するのに要したモアレ縞走査量とモア
    レ縞次数との関係を示す対応表を用いて被測定物のモア
    レ縞次数を決定し、決定したモアレ縞次数を基に被測定
    物体上のモアレ縞の位相を算出し、被測定物の表面形状
    を測定する請求項1記載の表面形状測定方法。
  6. 【請求項6】 モアレ縞を発生させるための光源と、格
    子パターンと、モアレ縞の強度を測定する光電変換素子
    と、モアレ縞の位相を走査させるモアレ縞位相走査手段
    と、モアレ縞位相走査によるモアレ縞強度が1周期する
    のに要したモアレ縞走査量を演算するモアレ縞強度変化
    周期演算手段と、予め作成しておいた、任意の測定物に
    対して測定したモアレ縞強度が1周期変化するのに要し
    たモアレ縞走査量とモアレ縞次数との関係を示す対応表
    を記憶する対応表記憶手段と、該対応表に対応させて被
    測定物のモアレ縞次数を決定する縞次数決定手段と、決
    定したモアレ縞次数を用いて被測定物体上のモアレ縞位
    相を演算する位相演算手段と、モアレ縞位相に基づいて
    被測定物の形状データを算出する形状演算手段とを有す
    ることを特徴とする表面形状測定装置。
  7. 【請求項7】 任意の測定物に対して測定したモアレ縞
    強度が1周期変化するのに要したモアレ縞走査量を測定
    し、さらにモアレ縞強度が少なくとも2周期以上変化す
    るのに要したモアレ縞走査量を測定した後、それらの測
    定量から被測定物体上のモアレ縞次数と位相を算出し、
    被測定物の表面形状を測定する請求項1記載の表面形状
    測定方法。
  8. 【請求項8】 モアレ縞を発生させるための光源と、格
    子パターンと、モアレ縞の強度を測定する光電変換素子
    と、モアレ縞強度の位相を走査させるためのモアレ縞位
    相走査手段と、モアレ縞位相走査によりモアレ縞強度変
    化が1周期及び少なくとも2周期以上変化に要したモア
    レ縞走査量を算出する縞強度変化周期演算手段と、演算
    結果から被測定物体上のモアレ縞次数及び位相を演算す
    る縞次数−位相演算手段と、モアレ縞次数及び位相に基
    づいて被測定物の形状データを算出する形状演算手段と
    を有することを特徴とする表面形状測定装置。
  9. 【請求項9】 前記モアレ縞位相走査手段が、前記光
    源、前記格子パターン及び前記光電変換素子を含む光学
    系全体を前記格子パターンと垂直方向に移動させるため
    の光学系移動手段を有する請求項2,4,6,8のいず
    れかに記載の表面形状測定装置。
  10. 【請求項10】 前記モアレ縞位相走査手段が、前記被
    測定物体を前記格子パターンと垂直方向に移動させるた
    めの被測定物移動手段を有している請求項2,4,6,
    8のいずれかに記載の表面形状測定装置。
  11. 【請求項11】 前記モアレ縞位相走査手段が、前記格
    子パターンを移動させるための格子パターン移動手段を
    有している請求項2,4,6,8のいずれかに記載の表
    面形状測定装置。
  12. 【請求項12】 前記モアレ縞位相走査手段が、前記格
    子パターンのピッチを変化させるための格子パターンピ
    ッチ変更手段を有している請求項2,4,6,8のいず
    れかに記載の表面形状測定装置。
  13. 【請求項13】 前記モアレ縞位相走査手段が、前記光
    源と前記光電変換素子間の距離を変化させるための光源
    −光電素子間距離変更手段を有している請求項2,4,
    6,8のいずれかに記載の表面形状測定装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006349606A (ja) * 2005-06-20 2006-12-28 Yaskawa Electric Corp 反射型光ギャップセンサ
JP2009128030A (ja) * 2007-11-20 2009-06-11 Tokyo Univ Of Agriculture & Technology 格子投影型モアレ装置、及び形状測定方法
JP2016102910A (ja) * 2014-11-28 2016-06-02 凸版印刷株式会社 表示装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006349606A (ja) * 2005-06-20 2006-12-28 Yaskawa Electric Corp 反射型光ギャップセンサ
JP4595697B2 (ja) * 2005-06-20 2010-12-08 株式会社安川電機 反射型光ギャップセンサ
JP2009128030A (ja) * 2007-11-20 2009-06-11 Tokyo Univ Of Agriculture & Technology 格子投影型モアレ装置、及び形状測定方法
JP2016102910A (ja) * 2014-11-28 2016-06-02 凸版印刷株式会社 表示装置

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