JP2003318134A - Dicing device and method thereof - Google Patents

Dicing device and method thereof

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JP2003318134A
JP2003318134A JP2002117817A JP2002117817A JP2003318134A JP 2003318134 A JP2003318134 A JP 2003318134A JP 2002117817 A JP2002117817 A JP 2002117817A JP 2002117817 A JP2002117817 A JP 2002117817A JP 2003318134 A JP2003318134 A JP 2003318134A
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JP
Japan
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vibration
work
dicing
processing
blade
Prior art date
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Application number
JP2002117817A
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Japanese (ja)
Inventor
Yasuyuki Sakatani
康之 酒谷
Kazuya Fukuoka
一也 福岡
Tomoaki Hiruta
倫明 蛭田
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Tokyo Seimitsu Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Seimitsu Co Ltd
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Publication date
Application filed by Tokyo Seimitsu Co Ltd filed Critical Tokyo Seimitsu Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a dicing device for mass production and a method thereof that suppresses the wafer of a highly brittle material such as Si (silicon) and LT (lithium-tantalate) at a minimum chipping and stably performs groove and cut machining. <P>SOLUTION: The vibration parameter of a vibrator (a vibration generating means) 51 are stored into a plurality of storing means 62 for vibrating work in advance, and a machining program is generated with the program generating means 64 of a controller 60 by calling an optimum vibration parameter responding to the kind of the work. Consequently, the wafer of the highly brittle material such as Si (silicon) and LT (lithium-tantalate) is stably machined for groove and cutting with suppressing chipping at a minimum, independently on the intuition of an operator. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体や電子部品
材料等のワークに溝加工や切断加工を行うダイシング装
置、及びダイシング方法に関するもので、特にワークに
振動を加えながら溝加工や切断加工を行うダイシング装
置、及びダイシング方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a dicing apparatus and a dicing method for grooving and cutting a workpiece such as a semiconductor or an electronic component material, and particularly to grooving or cutting while applying vibration to the workpiece. The present invention relates to a dicing device and a dicing method to be performed.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体や電子部品材料等のワークに溝加
工や切断加工を行うダイシング装置においては、高速で
回転するブレードと称する薄型砥石で研削水や冷却水を
かけながらワークを加工する。このダイシング装置で
は、前記ブレードを保持したスピンドルがY軸方向のイ
ンデックス送りとZ軸方向の切込み送りとがなされ、ワ
ークを載置したワークテーブルがX方向に研削送りされ
るようになっている。
2. Description of the Related Art In a dicing device for grooving or cutting a work such as a semiconductor or electronic component material, a work is processed by applying a grinding water or a cooling water with a thin grindstone called a blade rotating at a high speed. In this dicing device, the spindle holding the blade is index-feeded in the Y-axis direction and cut-feeded in the Z-axis direction, and the work table on which the work is placed is ground-feeded in the X-direction.

【0003】一方、半導体装置の材料であるSi(シリ
コン)や、携帯電話等に用いられるフィルタの材料であ
るLТ(リチュウムタンタレート)等のウエーハは、高
脆性材料であるため、溝加工や切断加工にあたって加工
溝の縁部にチッピングが発生し易い。このチッピング
は、加工品質の低下をきたし、ダイシングされたチップ
を不良にし、加工歩留まりを悪化させるなどの問題とな
っていた。
On the other hand, wafers such as Si (silicon), which is a material for semiconductor devices, and LТ (lithium tantalate), which is a material for filters used in mobile phones and the like, are highly brittle materials, and therefore, they are grooved or cut. When processing, chipping is likely to occur at the edge of the processed groove. The chipping causes problems such as deterioration of processing quality, defective dicing chips, and deterioration of processing yield.

【0004】このため、従来は、ブレードを保持したス
ピンドルの振動を極力抑えると共に、ワークを載置した
ワークテーブルの振動も極力抑え、ワークの種類、ワー
クの厚み又は切込み量、切込み幅に応じて、スピンドル
の回転数、研削スピード、研削水の流量等の研削条件を
カットアンドトライで最良の組み合わせを模索しながら
加工していた。
Therefore, conventionally, the vibration of the spindle holding the blade is suppressed as much as possible, and the vibration of the work table on which the work is placed is also suppressed as much as possible, depending on the kind of work, the work thickness or the cut amount, and the cut width. , The number of revolutions of the spindle, the grinding speed, the flow rate of grinding water, and other grinding conditions were cut and tried while searching for the best combination.

【0005】また、これとは逆に、ブレード又はワーク
に超音波振動を加えながら研削する方法も試みられてい
た。
On the contrary, a method of grinding while applying ultrasonic vibration to the blade or the work has been attempted.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかし、この振動を加
える方法も、系統的な研究がなされていないため、相変
わらずカットアンドトライでオペレータの勘に頼って、
模索しながら加工する域を脱していなかった。
However, since the method for applying this vibration has not been systematically studied, the operator still has to use cut and try, depending on the intuition.
I did not get out of the area to process while searching.

【0007】また、このような研削条件の各項目は、夫
々がクリチカルに作用し合い、ある時はチッピングの少
ない加工ができても、次の時にはまたチッピングが生じ
てしまうなど、なかなか安定した加工ができず、とても
量産に供せられる装置及び方法ではなかった。
In addition, each item of the grinding conditions as described above is such that each of them acts critically, and the machining with a small amount of chipping can be performed at one time, but the chipping will occur again at the next time. However, it was not a device and method for mass production.

【0008】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たもので、Si(シリコン)やLТ(リチュウムタンタ
レート)等の高脆性材料のウエーハを、チッピングを極
力抑え、安定して溝加工や切断加工を行うことのできる
量産用のダイシング装置、及びダイシング方法を提供す
ることを目的とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and is capable of stably grooving a wafer of a highly brittle material such as Si (silicon) or LТ (lithium tantalate) while suppressing chipping as much as possible. An object of the present invention is to provide a mass-production dicing device and a dicing method capable of performing cutting processing.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明は前記目的を達成
するために、請求項1に記載の発明は、回転するブレー
ドでワークに溝加工や切断加工を行うダイシング装置で
あって、前記ワーク又はブレードに振動を加えながら前
記加工を行うダイシング装置において、前記振動を発生
させる振動発生手段と、複数の振動パラメータを記憶す
る記憶手段と、ワークの種類に応じて振動パラメータを
選択し、この選択された振動パラメータに基づいて前記
振動発生手段を振動させるコントローラと、を有してい
ることを特徴としている。
In order to achieve the above-mentioned object, the present invention is a dicing apparatus for carrying out groove processing and cutting processing on a work by means of a rotating blade, wherein the work is Alternatively, in a dicing device that performs the processing while applying vibration to a blade, a vibration generation unit that generates the vibration, a storage unit that stores a plurality of vibration parameters, and a vibration parameter is selected according to the type of work, and this selection is made. And a controller for vibrating the vibration generating means based on the generated vibration parameter.

【0010】また、請求項2に記載の発明は、前記請求
項1に記載のダイシング装置において、前記振動パラメ
ータは、振動の方向、振動周波数、及び振動の強さであ
ることを特徴としている。
The invention according to claim 2 is the dicing apparatus according to claim 1, wherein the vibration parameters are a vibration direction, a vibration frequency, and a vibration intensity.

【0011】更に、請求項3に記載の発明は、回転する
ブレードでワークに溝加工や切断加工を行うダイシング
方法であって、前記ワークに振動を加えながら前記加工
を行うダイシング方法において、予め複数の振動パラメ
ータを記憶手段に記憶させておき、前記複数の振動パラ
メータの中から、ワークの種類に対応した振動パラメー
タを選択し、この選択された振動パラメータに基づいて
前記振動発生手段を振動させて、前記ワークを加工する
ことを特徴としている。
Further, a third aspect of the present invention is a dicing method for performing groove processing or cutting processing on a work with a rotating blade, wherein the dicing method performs the processing while applying vibration to the work. Is stored in the storage means, a vibration parameter corresponding to the type of work is selected from the plurality of vibration parameters, and the vibration generating means is vibrated based on the selected vibration parameter. It is characterized in that the work is processed.

【0012】本発明によれば、ワークを振動させるため
の振動パラメータを予め複数記憶しておき、ワークの種
類に応じて最適な振動パラメータを呼び出して前記振動
発生手段を振動させるので、オペレータの勘に頼ること
なく、Si(シリコン)やLТ(リチュウムタンタレー
ト)等の高脆性材料のウエーハを、チッピングを極力抑
え、安定して溝加工や切断加工を行うことができる。
According to the present invention, a plurality of vibration parameters for vibrating the work are stored in advance, and the optimum vibration parameter is called according to the type of the work to vibrate the vibration generating means. It is possible to perform stable grooving and cutting processing on a wafer made of a highly brittle material such as Si (silicon) or LT (lithium tantalate) without depending on the above, while suppressing chipping as much as possible.

【0013】これは、本願発明者がダイシング装置でワ
ークを加工中、ワークの振動を計測し、フーリエ解析し
て分析した膨大な実験結果から、振動周波数の範囲と強
さ、及び振動の方向が加工部に発生するチッピングと大
きく関連し、振動を極力抑えた場合よりも好結果を生む
条件が存在すること、即ち、ある特定の周波数の振動を
適切な強さで加えることにより、チッピングの発生を制
御できることを発見し、本発明を生み出したものであ
る。
This is because the inventor of the present application measured the vibration of the work while processing the work with the dicing device and analyzed it by Fourier analysis, showing that the range and strength of the vibration frequency and the direction of the vibration were There is a condition that is closely related to chipping that occurs in the processed part and that produces better results than when suppressing vibration as much as possible, that is, chipping occurs by adding vibration of a certain specific frequency with appropriate strength. It was discovered that the above can be controlled, and the present invention was created.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下添付図面に従って本発明に係
るダイシング装置とダイシング方法の好ましい実施の形
態について詳説する。尚、各図において同一部材には同
一の番号又は符号を付してある。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Preferred embodiments of a dicing apparatus and a dicing method according to the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. In each drawing, the same members are given the same numbers or reference numerals.

【0015】先ず最初に、本発明に係るダイシング装置
の構成について説明する。図1は本発明に係るダイシン
グ装置の加工部を示す斜視図である。ダイシング装置1
0は、図1に示す加工部の他に、図示しないスピン洗浄
装置、搬送装置、ロードポート、顕微鏡、アライメント
装置、モニターテレビ、操作・表示部、表示灯、及び図
3に示すコントローラ等から構成されている。
First, the structure of the dicing apparatus according to the present invention will be described. FIG. 1 is a perspective view showing a processing portion of a dicing apparatus according to the present invention. Dicing machine 1
In addition to the processing unit shown in FIG. 1, 0 is composed of a spin cleaning device, a transfer device, a load port, a microscope, an alignment device, a monitor TV, an operation / display unit, an indicator lamp, a controller shown in FIG. Has been done.

【0016】加工部は、ワークに溝加工や切断加工を行
う部分である。スピン洗浄装置は加工後のワークを洗浄
する装置で、ワークを回転させながら洗浄水を噴射して
ワークに付着しているコンタミを除去する。搬送装置
は、ワークをダイシング装置各部へ搬送する装置で、ロ
ードポートは、多数枚のワークを収納したカセットをダ
イシング装置外部との間で受渡しを行う部分である。
The processing portion is a portion for performing groove processing and cutting processing on the work. The spin cleaning device is a device for cleaning the processed work, and sprays cleaning water while rotating the work to remove contaminants adhering to the work. The transfer device is a device that transfers a work to each part of the dicing device, and the load port is a part that transfers a cassette containing a large number of works to the outside of the dicing device.

【0017】顕微鏡はワークのアライメントや加工状態
を評価するために、ワークの表面を観察する部材で、観
察画像はCCDカメラを介してモニターテレビの画面で
観察することができる。アライメント装置はワーク表面
のパターン画像を処理してワークを自動アライメントす
る。操作・表示部にはダイシング装置10の各部の操作
を行うスイッチや表示手段が設けられている。コントロ
ーラはダイシング装置10の各動作をコントロールする
部分で、マイクロプロセッサ、メモリ、及び入出力回路
等で構成され、ダイシング装置10の図示しない架台内
部に格納されている。 表示灯は、ダイシング装置10の
稼動中、加工終了、待機中、及び警報等を表示するもの
で、離れたところからでも判明できるように高い位置に
設けられている。
The microscope is a member for observing the surface of the work in order to evaluate the alignment and processing state of the work, and the observed image can be observed on the screen of the monitor television via the CCD camera. The alignment device processes the pattern image on the surface of the work to automatically align the work. The operation / display unit is provided with switches and display means for operating each unit of the dicing device 10. The controller is a part that controls each operation of the dicing device 10, and is composed of a microprocessor, a memory, an input / output circuit and the like, and is stored inside a pedestal (not shown) of the dicing device 10. The indicator light is for displaying the operation of the dicing device 10, the end of processing, the standby, an alarm, etc., and is provided at a high position so that it can be seen from a distance.

【0018】図1に示すように、ダイシング装置10の
加工部では、ワークの溝加工や切断加工を行うブレード
21が高周波モータ内臓のエアーベアリングスピンドル
(以下スピンドルと称する)22に取付けられ、30,
000rpm〜60,000rpmの高速で回転され
る。このブレード21は薄い円盤状で、ダイヤモンド砥
粒やCBN砥粒をニッケルで電着した電着ブレードや、
樹脂で結合したレジンブレードが用いられる。 またブレ
ード21には不図示の研削ノズルから研削水が加工ポイ
ントに供給される。
As shown in FIG. 1, in the processing portion of the dicing apparatus 10, a blade 21 for performing groove processing and cutting processing of a work is attached to an air bearing spindle (hereinafter referred to as a spindle) 22 incorporated in a high frequency motor.
It is rotated at a high speed of 000 rpm to 60,000 rpm. This blade 21 is a thin disk shape, and is an electrodeposition blade in which diamond abrasive grains or CBN abrasive grains are electrodeposited with nickel,
Resin-bonded resin blades are used. Further, grinding water is supplied to the blade 21 from a grinding nozzle (not shown) at a processing point.

【0019】また、この加工部にはYガイドベース31
があり、Yガイドベース31にはYガイドレール32、
32が設けられ、Yテーブル33がこのYガイドレール
32、32によってY方向に案内され、図示しない駆動
機構によってY方向にインデックス送りされるようにな
っている。更にYテーブル33にはZガイドレール4
1、41に案内され、図示しない駆動機構によってZ方
向に切込み送りされるZテーブル42が設けられてい
る。Zテーブル42には把持機構26を介してスピンド
ル22が取付けられている。このような機構により、ス
ピンドル22に取付けられたブレード21は、回転と、
Y方向のインデックス送り、及びZ方向の切込み送りと
がなされるようになっている。
Further, the Y guide base 31 is provided in this processing portion.
There is a Y guide rail 32 on the Y guide base 31,
32 is provided, the Y table 33 is guided in the Y direction by the Y guide rails 32, 32, and is index-fed in the Y direction by a drive mechanism (not shown). Furthermore, the Z guide rail 4 is attached to the Y table 33.
A Z table 42 is provided which is guided by Nos. 1 and 41 and is cut and fed in the Z direction by a drive mechanism (not shown). The spindle 22 is attached to the Z table 42 via a gripping mechanism 26. With such a mechanism, the blade 21 attached to the spindle 22 rotates,
Index feed in the Y direction and cut feed in the Z direction are performed.

【0020】スピンドル22の下方には後述する機構に
よってX方向に研削送りされるXテーブル25が設けら
れ、Xテーブル25には図のθ方向に回転するθテーブ
ル24が載置され、θテーブル24にはワークテーブル
23が取付けられている。 加工されるワークはこのワー
クテーブル23の上面に吸着固定され、θテーブル24
によってθ回転されるとともに、Xテーブル25によっ
て図の矢印X方向に研削送りされるようになっている。
また、Xテーブル25には、ワークを載置したワークテ
ーブル23を振動させるための振動発生手段として、発
振器51が取付けられている。
Below the spindle 22, there is provided an X table 25 which is ground and fed in the X direction by a mechanism which will be described later. On the X table 25, there is mounted a θ table 24 which rotates in the θ direction in the figure. A work table 23 is attached to the. The workpiece to be processed is adsorbed and fixed on the upper surface of the work table 23, and
Is rotated by .theta., And is fed by grinding by the X table 25 in the direction of arrow X in the figure.
An oscillator 51 is attached to the X table 25 as a vibration generating means for vibrating the work table 23 on which the work is placed.

【0021】図2は、Xテーブル25の駆動機構を表わ
した斜視図である。図2に示すように、Xテーブル25
は、四隅に取付けられたリニアガイド27A、27A、
…によってガイドレール27、27に沿ってX方向に案
内される。また、Xテーブル25は、ACサーボモータ
28にカップリングを介して連結されたボールネジ29
(図2ではボールネジ29は蛇腹で覆われているので見
えていない)とボールナット(図示せず)で連結され、
ACサーボモータ28の駆動によってX方向に研削送り
される。ACサーボモータ28はドライバ52によって
回転駆動される。
FIG. 2 is a perspective view showing a drive mechanism of the X table 25. As shown in FIG. 2, the X table 25
Are linear guides 27A, 27A attached to the four corners,
Is guided in the X direction along the guide rails 27, 27 by. In addition, the X table 25 includes a ball screw 29 connected to the AC servo motor 28 via a coupling.
(In FIG. 2, the ball screw 29 is not visible because it is covered with a bellows) and a ball nut (not shown) are connected,
The AC servo motor 28 is driven to feed by grinding in the X direction. The AC servomotor 28 is rotationally driven by the driver 52.

【0022】Xテーブル25の上面に取付けられた発振
器51は、例えば超音波発振器等で、振動周波数(H
z)や振動の強さ(dB)が任意に制御されるようにな
っている。
The oscillator 51 mounted on the upper surface of the X table 25 is, for example, an ultrasonic oscillator, and has a vibration frequency (H
z) and the strength of vibration (dB) are controlled arbitrarily.

【0023】図3は、ダイシング装置10のコントロー
ラ60の構成を表わしたブロック図である。コントロー
ラ60は、CPU61、記憶手段62、データ入出力部
63、プログラム生成手段64、制御部65等から構成
され、夫々がバスラインで接続されている。また、制御
部65は、スピンドル制御手段65A、X制御手段65
B、Y制御手段65C、Z制御手段65D、θ制御手段
65E等から構成されている。
FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of the controller 60 of the dicing apparatus 10. The controller 60 is composed of a CPU 61, a storage unit 62, a data input / output unit 63, a program generation unit 64, a control unit 65, etc., and each is connected by a bus line. Further, the control unit 65 includes a spindle control unit 65A and an X control unit 65.
It is composed of B, Y control means 65C, Z control means 65D, θ control means 65E and the like.

【0024】CPU61はコントローラ60の中心的処
理機能を担い、各種の処理を行う。記憶手段62は、発
振器51の振動の方向、振動周波数(Hz)、及び振動
の強さ(dB)等の振動パラメータを複数記憶すると共
に、各種データを記憶する。データ入出力部63は外部
からのデータを入力すると共に、外部へデータを発信す
る。プログラム生成手段64は、振動パラメータを含む
加工プログラムを作成する。制御部65は、スピンドル
制御手段65A、X制御手段65B、Y制御手段65
C、Z制御手段65D、及びθ制御手段65E等を介し
てダイシング装置10の各部の動作を制御する。
The CPU 61 has a central processing function of the controller 60 and performs various kinds of processing. The storage unit 62 stores a plurality of vibration parameters such as the vibration direction of the oscillator 51, the vibration frequency (Hz), and the vibration intensity (dB), and also stores various data. The data input / output unit 63 inputs data from the outside and transmits the data to the outside. The program generation means 64 creates a machining program including vibration parameters. The control unit 65 includes a spindle control unit 65A, an X control unit 65B, and a Y control unit 65.
The operation of each part of the dicing device 10 is controlled via the C, Z control means 65D, the θ control means 65E and the like.

【0025】図4は、Xテーブル25に加速度センサを
取付けて、振動を計測し、得られたデータをフーリエ解
析した3つの振動パターンA、B、Cを模式的に表わし
たものである。横軸は振動周波数(Hz)を、縦軸は振
動の強さ(dB)を示している。例えば、振動パターン
AはSi(シリコン)の加工に最適で、振動パターンB
はLТ(リチュウムタンタレート)の加工に最適なパタ
ーンとして用いられる。尚、このグラフは振動パターン
の1例を示す概念図で、振動パターンは3つに限らず、
ワークの種類に応じて最適なパターンが実験的に求めら
れている。
FIG. 4 schematically shows three vibration patterns A, B and C in which an acceleration sensor is attached to the X table 25, vibration is measured, and the obtained data is Fourier analyzed. The horizontal axis represents the vibration frequency (Hz), and the vertical axis represents the vibration intensity (dB). For example, the vibration pattern A is optimal for processing Si (silicon), and the vibration pattern B
Is used as an optimum pattern for processing LТ (lithium tantalate). In addition, this graph is a conceptual diagram showing an example of a vibration pattern, and the number of vibration patterns is not limited to three,
The optimum pattern is experimentally sought according to the type of work.

【0026】次に、このように構成されたダイシング装
置10の加工部の作用について説明する。尚、ダイシン
グ装置10全体の動作については既知であるので、説明
は省略する。先ず加工に先立って、オペレータによって
ワークの種類、ワークのサイズ、加工深さ、インデック
スサイズ、スピンドル回転数、研削送り速度等の加工条
件、及びアライメント条件等が、操作・表示部から入力
される。
Next, the operation of the processing portion of the dicing apparatus 10 thus constructed will be described. Since the operation of the entire dicing device 10 is known, the description thereof will be omitted. First, prior to machining, the operator inputs the machining conditions such as the type of the workpiece, the size of the workpiece, the machining depth, the index size, the spindle rotation speed, the grinding feed speed, and the alignment condition from the operation / display unit.

【0027】ダイシング装置10のコントローラ60で
は、入力された加工条件からプログラム生成手段64に
よって加工プログラムが生成される。ワークを振動させ
るための振動パラメータについては、ワークの種類に応
じて最適な振動パターンが選択されて記憶手段62から
呼び出され、加工プログラムに組込まれる。
In the controller 60 of the dicing apparatus 10, the machining program is generated by the program generating means 64 from the inputted machining conditions. With respect to the vibration parameter for vibrating the work, an optimum vibration pattern is selected according to the type of the work, is called from the storage unit 62, and is incorporated into the machining program.

【0028】この振動パターンは、各種ワークに対して
チッピング抑制効果の高い最適振動パラメータが実験的
に求められ、記憶手段62に予め記憶されている。ワー
クがSi(シリコン)の場合には、例えば、振動の方向
はX方向(研削送り方向)、振動周波数200KHz、
振動の強さ3. 0dBなどとして記憶される。
With respect to this vibration pattern, optimum vibration parameters having a high chipping suppressing effect on various works are experimentally obtained, and are stored in the storage means 62 in advance. When the work is Si (silicon), for example, the vibration direction is the X direction (grinding feed direction), the vibration frequency is 200 KHz,
The strength of vibration is stored as 3.0 dB.

【0029】加工プログラムが生成されると、ダイシン
グ装置10の各部は制御部65によって、この加工プロ
グラムに従って動作制御される。
When the machining program is generated, the operation of each unit of the dicing device 10 is controlled by the control unit 65 in accordance with the machining program.

【0030】先ず、加工されるワークはワークテーブル
23に吸着載置され、図示しないアライメント装置によ
って加工ラインがX方向と一致するようにアライメント
される。次に、ブレード21はスピンドル22によって
高速回転されると共に、Yテーブル33のインデックス
送りによって加工位置に位置決めされ、Zテーブル42
の切込み送りによって必要な切込み位置に位置決めされ
る。
First, the work to be processed is placed on the work table 23 by suction, and is aligned by an alignment device (not shown) so that the processing line coincides with the X direction. Next, the blade 21 is rotated at a high speed by the spindle 22 and positioned at the processing position by the index feed of the Y table 33.
It is positioned at the required cutting position by the cutting feed of.

【0031】ここで加工されるワークはXテーブル25
によって図の矢印X方向に研削送りされ加工ラインに沿
って加工される。この時、Xテーブル25に取付けられ
た発振器51がプログラムされた振動パターンで振動
し、ワークテーブル23に吸着載置されたワークに振動
を与える。次にブレード21は次の加工位置にインデッ
クス送りされ、次の溝が加工される。
The work processed here is the X table 25.
By means of grinding feed in the direction of arrow X in the figure, and processing is performed along the processing line. At this time, the oscillator 51 attached to the X-table 25 vibrates in a programmed vibration pattern, and vibrates the work placed on the work table 23 by suction. Next, the blade 21 is index-fed to the next processing position and the next groove is processed.

【0032】このようにして全てのラインが加工される
と、ワークはθテーブル24によって90°回転され、
先程のラインと直交するラインが同様にして加工され
る。以上が加工部における作用であるが、加工されたワ
ークは、最適な振動パターンで振動されながら研削加工
されるので、加工溝の周縁に発生するチッピングは極力
抑えられている。
When all the lines are processed in this way, the work is rotated 90 ° by the θ table 24,
A line orthogonal to the above line is processed in the same manner. The above is the operation in the processing part, but since the processed work is ground while being vibrated in an optimum vibration pattern, chipping that occurs at the peripheral edge of the processing groove is suppressed as much as possible.

【0033】尚、本実施の形態では、Xテーブル25に
取付けられた発振器51の振動によってワークを振動さ
せていたが、振動発生手段はこれに限らず、Xテーブル
25を駆動するACサーボモータ28の駆動パラメータ
である速度補正ゲインを制御して振動を発生させてもよ
く、また、θテーブル24の駆動モータの制御パラメー
タを制御して、最適な振動を発生させるようにしてもよ
い。
In this embodiment, the work is vibrated by the vibration of the oscillator 51 attached to the X table 25. However, the vibration generating means is not limited to this, and the AC servo motor 28 for driving the X table 25 is used. The vibration may be generated by controlling the speed correction gain, which is the drive parameter of No. 2, or the optimum vibration may be generated by controlling the control parameter of the drive motor of the θ table 24.

【0034】また、ワークを振動させる代わりにブレー
ドを振動させるようにしてもよく、更に、ワークとブレ
ードとの両方を振動させるようにしてもよい。
Further, instead of vibrating the work, the blade may be vibrated, and both the work and the blade may be vibrated.

【0035】[0035]

【発明の効果】以上説明したように、ダイシング装置に
おいてワークにある特定の周波数の振動を適切な強さで
加えることにより、チッピングの発生を制御できるが、
本発明によれば、ワークを振動させるための振動パラメ
ータを予め複数記憶しておき、ワークの種類に応じて最
適な振動パラメータを呼び出して加工プログラムを生成
するので、オペレータの勘に頼ることなく、Si(シリ
コン)やLТ(リチュウムタンタレート)等の高脆性材
料のウエーハを、チッピングを極力抑え、安定して溝加
工や切断加工を行うことができる。
As described above, the occurrence of chipping can be controlled by applying vibration of a specific frequency to the work with appropriate strength in the dicing machine.
According to the present invention, a plurality of vibration parameters for vibrating the workpiece are stored in advance, and a machining program is generated by calling the optimal vibration parameter according to the type of the workpiece, without depending on the intuition of the operator. Wafers made of highly brittle materials such as Si (silicon) and LT (lithium tantalate) can be stably subjected to groove processing and cutting processing while suppressing chipping as much as possible.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施の形態に係るダイシング装置の加
工部の構造を示す斜視図
FIG. 1 is a perspective view showing a structure of a processing portion of a dicing device according to an embodiment of the present invention.

【図2】Xテーブルの駆動機構を示す斜視図FIG. 2 is a perspective view showing a drive mechanism of an X table.

【図3】ダイシング装置のコントローラの構成を示すブ
ロック図
FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a controller of the dicing device.

【図4】振動パターンを示す模式的グラフFIG. 4 is a schematic graph showing a vibration pattern.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…ダイシング装置、21…ブレード、22…スピン
ドル、23…ワークテーブル、25…Xテーブル、51
…発振器(振動発生手段)、60…コントローラ、62
…記憶手段、64…プログラム生成手段
10 ... Dicing device, 21 ... Blade, 22 ... Spindle, 23 ... Work table, 25 ... X table, 51
... Oscillator (vibration generating means), 60 ... Controller, 62
... storage means, 64 ... program generation means

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 蛭田 倫明 東京都三鷹市下連雀9丁目7番1号 株式 会社東京精密内   ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Noriaki Ebisu             9-7 Shimorenjaku, Mitaka City, Tokyo Stocks             Company Tokyo Seimitsu

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】回転するブレードでワークに溝加工や切断
加工を行うダイシング装置であって、 前記ワーク又はブレードに振動を加えながら前記加工を
行うダイシング装置において、 前記振動を発生させる振動発生手段と、 複数の振動パラメータを記憶する記憶手段と、 ワークの種類に応じて振動パラメータを選択し、この選
択された振動パラメータに基づいて前記振動発生手段を
振動させるコントローラと、 を有していることを特徴とするダイシング装置。
1. A dicing apparatus for performing groove processing or cutting processing on a work with a rotating blade, wherein the dicing apparatus performs the processing while applying vibration to the work or blade, and a vibration generating unit for generating the vibration. A storage unit that stores a plurality of vibration parameters, and a controller that selects a vibration parameter according to the type of work and vibrates the vibration generation unit based on the selected vibration parameter. Characteristic dicing equipment.
【請求項2】前記振動パラメータは、振動の方向、振動
周波数、及び振動の強さであることを特徴とする請求項
1に記載のダイシング装置。
2. The dicing apparatus according to claim 1, wherein the vibration parameters are a vibration direction, a vibration frequency, and a vibration intensity.
【請求項3】回転するブレードでワークに溝加工や切断
加工を行うダイシング方法であって、 前記ワークに振動を加えながら前記加工を行うダイシン
グ方法において、 予め複数の振動パラメータを記憶手段に記憶させてお
き、 前記複数の振動パラメータの中から、ワークの種類に対
応した振動パラメータを選択し、 この選択された振動パラメータに基づいて前記振動発生
手段を振動させて、前記ワークを加工することを特徴と
するダイシング方法。
3. A dicing method for grooving or cutting a workpiece with a rotating blade, wherein the dicing method performs the machining while applying vibration to the workpiece, wherein a plurality of vibration parameters are stored in a storage means in advance. A vibration parameter corresponding to the type of work is selected from the plurality of vibration parameters, and the vibration generating means is vibrated based on the selected vibration parameter to machine the work. And dicing method.
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