JP2003296940A - 光ディスク装置 - Google Patents
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- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
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- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
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- G11B19/20—Driving; Starting; Stopping; Control thereof
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
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- G11B7/00736—Auxiliary data, e.g. lead-in, lead-out, Power Calibration Area [PCA], Burst Cutting Area [BCA], control information
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 相変化型光ディスク装置において、記録速度
の最適化を図る。 【解決手段】 ＣＤ−ＲＷなどの光ディスク１０に対
し、ある回転速度でテストデータを記録する。その後、
コントローラ３０は回転制御部３１を駆動して４倍速、
６倍速、８倍速、１０倍速、１２倍速等と回転速度を変
化させてテストデータを消去し、その消去性能を算出す
る。消去性能から十分テストデータが消去されたと判定
できる最大回転速度を選択する。データのオーバーライ
ト記録は選択した回転速度で行う。
の最適化を図る。 【解決手段】 ＣＤ−ＲＷなどの光ディスク１０に対
し、ある回転速度でテストデータを記録する。その後、
コントローラ３０は回転制御部３１を駆動して４倍速、
６倍速、８倍速、１０倍速、１２倍速等と回転速度を変
化させてテストデータを消去し、その消去性能を算出す
る。消去性能から十分テストデータが消去されたと判定
できる最大回転速度を選択する。データのオーバーライ
ト記録は選択した回転速度で行う。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は光ディスク装置、特
に非晶質状態（アモルファス状態）と結晶状態との遷移
を利用した相変化型の光ディスク装置に関する。
に非晶質状態（アモルファス状態）と結晶状態との遷移
を利用した相変化型の光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、記録膜を非晶質状態（アモル
ファス状態）と結晶状態との間で遷移させ、両状態間の
反射率変化を利用してデータを記録する相変化型光ディ
スク装置が知られている。具体的には、初期状態として
記録膜全面を加熱して結晶化させておき、記録パワーの
レーザ光を照射して記録膜を融点以上に加熱急冷するこ
とで非晶質状態に変化させてデータを記録する。また、
消去パワーのレーザ光を照射して記録膜を結晶化温度以
上に加熱除冷して結晶状態に戻しデータを消去する。
ファス状態）と結晶状態との間で遷移させ、両状態間の
反射率変化を利用してデータを記録する相変化型光ディ
スク装置が知られている。具体的には、初期状態として
記録膜全面を加熱して結晶化させておき、記録パワーの
レーザ光を照射して記録膜を融点以上に加熱急冷するこ
とで非晶質状態に変化させてデータを記録する。また、
消去パワーのレーザ光を照射して記録膜を結晶化温度以
上に加熱除冷して結晶状態に戻しデータを消去する。
【０００３】このような相変化型光ディスク装置では、
データの重ね書き（オーバライト）もレーザ光のパワー
変調により容易に実現される。すなわち、データを記録
する際に消去パワーに記録パワーを重畳させ、先行する
消去パワーで既記録データを消去し、後続する記録パワ
ーでデータを記録すればオーバライトが実現する。通
常、記録パワーは光ディスクの記録膜感度のバラツキ等
を考慮して光ディスクの所定エリアを用いたＯＰＣ（Op
timum Power Control）により最適化され、消去パワー
は最適化された記録パワーに対して一定の比率となるよ
うに設定される。
データの重ね書き（オーバライト）もレーザ光のパワー
変調により容易に実現される。すなわち、データを記録
する際に消去パワーに記録パワーを重畳させ、先行する
消去パワーで既記録データを消去し、後続する記録パワ
ーでデータを記録すればオーバライトが実現する。通
常、記録パワーは光ディスクの記録膜感度のバラツキ等
を考慮して光ディスクの所定エリアを用いたＯＰＣ（Op
timum Power Control）により最適化され、消去パワー
は最適化された記録パワーに対して一定の比率となるよ
うに設定される。
【０００４】オーバライトにおいては、Ｓ／Ｎを向上さ
せるために消去パワーのレーザ光で既記録データを確実
に消去できることが必要である。したがって、記録パワ
ーに対して一定の比率とする他、消去パワー自体も光デ
ィスクに応じて最適化する技術が提案されている。
せるために消去パワーのレーザ光で既記録データを確実
に消去できることが必要である。したがって、記録パワ
ーに対して一定の比率とする他、消去パワー自体も光デ
ィスクに応じて最適化する技術が提案されている。
【０００５】例えば、特開平１０−１８８２８６号公報
には、光ディスクのあるトラックにテスト信号を記録
し、そのトラック上をパワーＰｅのＤＣレーザでトレー
スし、再生した信号のマーク部分の消去の様子を調べて
最適消去パワーを設定することが記載されている。消去
パワーが小さすぎると消え残りが生じ、消去パワーが大
きすぎるとアモルファス状態に遷移してしまうため、両
者の中間のパワーから最適な消去パワーを選択してい
る。
には、光ディスクのあるトラックにテスト信号を記録
し、そのトラック上をパワーＰｅのＤＣレーザでトレー
スし、再生した信号のマーク部分の消去の様子を調べて
最適消去パワーを設定することが記載されている。消去
パワーが小さすぎると消え残りが生じ、消去パワーが大
きすぎるとアモルファス状態に遷移してしまうため、両
者の中間のパワーから最適な消去パワーを選択してい
る。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、近年、
高速記録化要求が高まっており、消去パワーの最適化の
みではこのような要求に必ずしも応えられない問題があ
った。すなわち、例えば公称４倍速の光ディスクにおい
ても４倍速以上、例えば８倍速や１０倍速で記録したい
と欲するユーザも多く、光ディスク装置としても４倍速
以上で記録できれば好都合である。最適化した消去パワ
ーを用いてオーバライトした場合、４倍速では既記録デ
ータを消去できてもそれ以上の速度では確実に消去でき
る保証はなく、記録品質が劣化してしまう。記録速度
（ディスク回転速度）が増大すると、それだけ記録膜が
加熱される時間が短くなり、結晶化温度以上に一定時間
維持して結晶化することが困難となるからである。
高速記録化要求が高まっており、消去パワーの最適化の
みではこのような要求に必ずしも応えられない問題があ
った。すなわち、例えば公称４倍速の光ディスクにおい
ても４倍速以上、例えば８倍速や１０倍速で記録したい
と欲するユーザも多く、光ディスク装置としても４倍速
以上で記録できれば好都合である。最適化した消去パワ
ーを用いてオーバライトした場合、４倍速では既記録デ
ータを消去できてもそれ以上の速度では確実に消去でき
る保証はなく、記録品質が劣化してしまう。記録速度
（ディスク回転速度）が増大すると、それだけ記録膜が
加熱される時間が短くなり、結晶化温度以上に一定時間
維持して結晶化することが困難となるからである。
【０００７】本発明は、上記従来技術の有する課題に鑑
みなされたものであり、その目的は、相変化型光ディス
ク装置において記録速度の最適化を行い、これにより高
速記録（高速オーバライト）が可能な光ディスク装置を
提供することにある。
みなされたものであり、その目的は、相変化型光ディス
ク装置において記録速度の最適化を行い、これにより高
速記録（高速オーバライト）が可能な光ディスク装置を
提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、非晶質（アモルファス）状態と結晶状態
の遷移を用いてデータをオーバライトする光ディスク装
置であって、光ディスクの所定エリアにテストデータを
記録する手段と、前記光ディスクの回転速度を変化させ
て一定の消去パワーで前記テストデータを消去する手段
と、消去後の前記テストデータの消去比に基づき設定さ
れた最適記録速度でデータをオーバライトする手段とを
有することを特徴とする。
に、本発明は、非晶質（アモルファス）状態と結晶状態
の遷移を用いてデータをオーバライトする光ディスク装
置であって、光ディスクの所定エリアにテストデータを
記録する手段と、前記光ディスクの回転速度を変化させ
て一定の消去パワーで前記テストデータを消去する手段
と、消去後の前記テストデータの消去比に基づき設定さ
れた最適記録速度でデータをオーバライトする手段とを
有することを特徴とする。
【０００９】前記消去比は、消去前テストデータの再生
ＲＦレベルに対する消去後テストデータの再生ＲＦレベ
ルの比とすることができる。
ＲＦレベルに対する消去後テストデータの再生ＲＦレベ
ルの比とすることができる。
【００１０】また、前記最適記録速度は、前記消去比が
所定値以上である記録速度のうちの最大値とすることが
できる。
所定値以上である記録速度のうちの最大値とすることが
できる。
【００１１】このように、本発明ではオーバライト時の
消去性能により記録速度が制限されることに鑑み、種々
の回転速度でテストデータを消去して消去比を算出し、
消去比に基づいて最適記録速度を設定する。速度が大き
過ぎると記録膜を一定時間以上結晶化温度に維持するこ
とができなくなり消去性能が低下する。そこで、十分な
消去性能が得られる最大記録速度を探索することで、光
ディスクの有する性能を最大限利用した高速オーバライ
ト記録が可能となる。
消去性能により記録速度が制限されることに鑑み、種々
の回転速度でテストデータを消去して消去比を算出し、
消去比に基づいて最適記録速度を設定する。速度が大き
過ぎると記録膜を一定時間以上結晶化温度に維持するこ
とができなくなり消去性能が低下する。そこで、十分な
消去性能が得られる最大記録速度を探索することで、光
ディスクの有する性能を最大限利用した高速オーバライ
ト記録が可能となる。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、図面に基づき本発明の実施
形態について説明する。
形態について説明する。
【００１３】＜第１実施形態＞
＜基本構成＞図１には本実施形態に係る相変化型光ディ
スク装置の構成ブロック図が示されている。ＣＤ−ＲＷ
やＤＶＤ−ＲＷ等の光ディスク１０は、スピンドルモー
タ１１により回転駆動される。スピンドルモータ１１は
回転制御部３１により制御され、所定の回転数となるよ
うに制御される。本実施形態では、回転数は固定ではな
く、光ディスク１０毎に最適化される。
スク装置の構成ブロック図が示されている。ＣＤ−ＲＷ
やＤＶＤ−ＲＷ等の光ディスク１０は、スピンドルモー
タ１１により回転駆動される。スピンドルモータ１１は
回転制御部３１により制御され、所定の回転数となるよ
うに制御される。本実施形態では、回転数は固定ではな
く、光ディスク１０毎に最適化される。
【００１４】ピックアップ（ＰＵ）１２は、光ディスク
１０に対向配置され、光ディスク１０の表面にレーザ光
を照射するレーザダイオード（ＬＤ）を含む。レーザダ
イオードは、レーザダイオード駆動回路（ＬＤＤ）３２
により駆動され、データを記録する際には消去パワーと
記録パワーが重畳したレーザ光を照射する。すなわち、
記録パワーに先立つ消去パワーにて既記録データを消去
し、後続する記録パワーでデータを記録する。また、ピ
ックアップ１２は光ディスク１０から反射したレーザ光
を電気信号に変換するフォトディテクタを有し、再生信
号をサーボ検出部１４及びＲＦ検出部２０に出力する。
１０に対向配置され、光ディスク１０の表面にレーザ光
を照射するレーザダイオード（ＬＤ）を含む。レーザダ
イオードは、レーザダイオード駆動回路（ＬＤＤ）３２
により駆動され、データを記録する際には消去パワーと
記録パワーが重畳したレーザ光を照射する。すなわち、
記録パワーに先立つ消去パワーにて既記録データを消去
し、後続する記録パワーでデータを記録する。また、ピ
ックアップ１２は光ディスク１０から反射したレーザ光
を電気信号に変換するフォトディテクタを有し、再生信
号をサーボ検出部１４及びＲＦ検出部２０に出力する。
【００１５】サーボ検出部１４は、ピックアップ１２か
らの信号に基づきトラッキングエラー信号及びフォーカ
スエラー信号を生成してそれぞれトラッキング制御部１
６及びフォーカス制御部１８に出力する。トラッキング
制御部１６は、トラッキングエラー信号に基づきピック
アップ１２を光ディスク１０のトラック方向に駆動して
オントラック状態とする。また、フォーカス制御部１８
はフォーカスエラー信号に基づきピックアップ１２をフ
ォーカス方向に駆動してオンフォーカス状態とする。４
分割フォトディテクタの場合、半径方向に分割されたデ
ィテクタの差分からトラッキングエラー信号が生成さ
れ、４分割フォトディテクタの対角和の差分からフォー
カスエラー信号が生成される。もちろん、他の方式も可
能である。
らの信号に基づきトラッキングエラー信号及びフォーカ
スエラー信号を生成してそれぞれトラッキング制御部１
６及びフォーカス制御部１８に出力する。トラッキング
制御部１６は、トラッキングエラー信号に基づきピック
アップ１２を光ディスク１０のトラック方向に駆動して
オントラック状態とする。また、フォーカス制御部１８
はフォーカスエラー信号に基づきピックアップ１２をフ
ォーカス方向に駆動してオンフォーカス状態とする。４
分割フォトディテクタの場合、半径方向に分割されたデ
ィテクタの差分からトラッキングエラー信号が生成さ
れ、４分割フォトディテクタの対角和の差分からフォー
カスエラー信号が生成される。もちろん、他の方式も可
能である。
【００１６】ＲＦ検出部２０は、ピックアップ１２から
の信号を増幅して再生ＲＦ信号を生成し、信号処理部２
２及びデコーダ２６に出力する。
の信号を増幅して再生ＲＦ信号を生成し、信号処理部２
２及びデコーダ２６に出力する。
【００１７】信号処理部２２は、ＯＰＣを実行して記録
パワーの最適化を図るとともに、最適記録速度を算出す
べく再生ＲＦ信号のレベルから消去比を算出してコント
ローラ３０に出力する。ＯＰＣは、従来技術と同様にβ
値やジッタに基づき実行され、β値やジッタ値はコント
ローラ３０に供給される。また、消去比は、消去後の再
生ＲＦ信号のレベルと消去前の再生ＲＦ信号のレベルの
比で定義され、算出された消去比はコントローラ３０に
供給される。なお、信号処理部２２で再生ＲＦ信号のレ
ベルのみを検出してコントローラ３０に出力し、コント
ローラ３０で入力したレベル値に基づいてβ値やジッタ
値、消去比を算出するように構成することもできる。
パワーの最適化を図るとともに、最適記録速度を算出す
べく再生ＲＦ信号のレベルから消去比を算出してコント
ローラ３０に出力する。ＯＰＣは、従来技術と同様にβ
値やジッタに基づき実行され、β値やジッタ値はコント
ローラ３０に供給される。また、消去比は、消去後の再
生ＲＦ信号のレベルと消去前の再生ＲＦ信号のレベルの
比で定義され、算出された消去比はコントローラ３０に
供給される。なお、信号処理部２２で再生ＲＦ信号のレ
ベルのみを検出してコントローラ３０に出力し、コント
ローラ３０で入力したレベル値に基づいてβ値やジッタ
値、消去比を算出するように構成することもできる。
【００１８】デコーダ２６は、イコライザや二値化器を
備え、再生ＲＦ信号の所定周波数、具体的には３Ｔ信号
の振幅をブーストして二値化し、二値化信号を復調して
コントローラ３０に出力する。復調は、図示しないＰＬ
Ｌ回路で同期クロック信号を生成して信号を抽出するこ
とで実行される。なお、コントローラ３０に出力された
復調データは図示しないコンピュータ等の上位装置に出
力される。
備え、再生ＲＦ信号の所定周波数、具体的には３Ｔ信号
の振幅をブーストして二値化し、二値化信号を復調して
コントローラ３０に出力する。復調は、図示しないＰＬ
Ｌ回路で同期クロック信号を生成して信号を抽出するこ
とで実行される。なお、コントローラ３０に出力された
復調データは図示しないコンピュータ等の上位装置に出
力される。
【００１９】コントローラ３０は、サーボ検出部１４や
ＲＦ検出部２０等の各部の動作を制御する。データ記録
時には、上位装置から供給された記録データを符号化し
てＬＤＤ３２を駆動し、設定された記録ストラテジでパ
ワー変調しデータを記録する。具体的には、マークの部
分で記録パワーＰｗのマルチパルスとし、スペースの部
分で消去パワーＰｅとなるように駆動する。
ＲＦ検出部２０等の各部の動作を制御する。データ記録
時には、上位装置から供給された記録データを符号化し
てＬＤＤ３２を駆動し、設定された記録ストラテジでパ
ワー変調しデータを記録する。具体的には、マークの部
分で記録パワーＰｗのマルチパルスとし、スペースの部
分で消去パワーＰｅとなるように駆動する。
【００２０】さらに、コントローラ３０は、回転制御部
３１に制御信号を供給してスピンドルモータ１１の回転
速度を調整する。従来においては、例えば光ディスク１
０の公称速度が４倍速である場合、４倍速となるように
回転制御部３１で制御するが、本実施形態においては光
ディスク１０の回転速度を種々変化させて最適記録速度
を探索する。最適記録速度は、各記録速度における消去
比に基づき設定される。データ記録時には結晶状態から
アモルファス状態に遷移させるため、パワーを上げれば
高速化に対応できるが、消去時にはアモルファス状態を
結晶化状態に戻すために一定時間以上結晶化温度を維持
する必要があることから高速化に限界がある。オーバラ
イトでは消去してからデータを記録するため、消去性能
によってオーバライト速度が規定されることになる。本
実施形態ではこのことに着目し、十分な消去性能が得ら
れる最大速度を探索し、この速度でオーバライトを行う
のである。
３１に制御信号を供給してスピンドルモータ１１の回転
速度を調整する。従来においては、例えば光ディスク１
０の公称速度が４倍速である場合、４倍速となるように
回転制御部３１で制御するが、本実施形態においては光
ディスク１０の回転速度を種々変化させて最適記録速度
を探索する。最適記録速度は、各記録速度における消去
比に基づき設定される。データ記録時には結晶状態から
アモルファス状態に遷移させるため、パワーを上げれば
高速化に対応できるが、消去時にはアモルファス状態を
結晶化状態に戻すために一定時間以上結晶化温度を維持
する必要があることから高速化に限界がある。オーバラ
イトでは消去してからデータを記録するため、消去性能
によってオーバライト速度が規定されることになる。本
実施形態ではこのことに着目し、十分な消去性能が得ら
れる最大速度を探索し、この速度でオーバライトを行う
のである。
【００２１】＜回転速度（オーバライト速度）最適化処
理＞図２には、本実施形態の処理フローチャートが示さ
れている。まず、光ディスク１０の所定領域に記録され
ているディスク情報を再生して取得し（Ｓ１０１）、基
準となる記録パワー及び消去パワー並びに記録ストラテ
ジを設定する（Ｓ１０２）。なお、ディスク情報として
メーカ名が記録されている場合、コントローラ３０のメ
モリに各メーカ毎の基準記録パワーや消去パワー、記録
ストラテジを記録しておき、取得したメーカに対応する
パラメータを読み出して設定することもできる。光ディ
スク１０の基準回転速度もこのとき取得する。
理＞図２には、本実施形態の処理フローチャートが示さ
れている。まず、光ディスク１０の所定領域に記録され
ているディスク情報を再生して取得し（Ｓ１０１）、基
準となる記録パワー及び消去パワー並びに記録ストラテ
ジを設定する（Ｓ１０２）。なお、ディスク情報として
メーカ名が記録されている場合、コントローラ３０のメ
モリに各メーカ毎の基準記録パワーや消去パワー、記録
ストラテジを記録しておき、取得したメーカに対応する
パラメータを読み出して設定することもできる。光ディ
スク１０の基準回転速度もこのとき取得する。
【００２２】基準となる記録パワー、消去パワー、記録
ストラテジ及び回転速度を設定した後、これらのパラメ
ータを用いて光ディスク１０のＰＣＡエリアにおいて５
フレーム分だけテストデータを記録する（Ｓ１０３）。
記録時の回転速度を例えば４倍速とする。５フレーム分
テストデータを記録した後、このテストデータを再生
し、その再生ＲＦ信号のレベルを測定してコントローラ
３０のメモリに格納する（Ｓ１０４）。なお、テストデ
ータを記録する際の消去パワーは任意に設定してもよ
い。その理由は、光ディスク１０への最初の記録時には
既記録データが存在していないので消去性能が問題とな
らないからである。したがって、テストデータ記録時に
は、単に記録パワーのみで行ってもよい。
ストラテジ及び回転速度を設定した後、これらのパラメ
ータを用いて光ディスク１０のＰＣＡエリアにおいて５
フレーム分だけテストデータを記録する（Ｓ１０３）。
記録時の回転速度を例えば４倍速とする。５フレーム分
テストデータを記録した後、このテストデータを再生
し、その再生ＲＦ信号のレベルを測定してコントローラ
３０のメモリに格納する（Ｓ１０４）。なお、テストデ
ータを記録する際の消去パワーは任意に設定してもよ
い。その理由は、光ディスク１０への最初の記録時には
既記録データが存在していないので消去性能が問題とな
らないからである。したがって、テストデータ記録時に
は、単に記録パワーのみで行ってもよい。
【００２３】テストデータを記録してそのＲＦ信号のレ
ベルを測定した後、コントローラ３０は回転制御部３１
を制御して速度を４倍速、６倍速、８倍速、１０倍速及
び１２倍速の５段階に変化させて５フレームに渡って記
録されたテストデータを各回転速度で１フレームずつ消
去していく（Ｓ１０５）。消去パワーはＳ１０２で設定
された基準消去パワーである。消去は、基準消去パワー
のＤＣレーザ光で行うことができる。テストデータそれ
ぞれについて異なる消去速度で消去した後、各フレーム
の消去後の再生ＲＦ信号のレベルを測定する（Ｓ１０
６）。コントローラ３０は、４倍速、６倍速、８倍速、
１０倍速及び１２倍速で消去した場合の消去比をそれぞ
れ算出してメモリに記憶する。消去比は、消去比＝（消
去時ＲＦレベル）／（記録時ＲＦレベル）で算出され
る。消去時ＲＦレベルは消去後の再生ＲＦレベルの意で
あり、記録時ＲＦレベルは消去前のＲＦレベルの意であ
る。この式から明らかなように、テストデータが十分消
去されると消去比は小さくなり、消去されずに消え残り
が存在すると消去比は大きくなる。コントローラ３０
は、各回転速度における消去比を算出し、これら５個の
消去比を所定のしきい値Ｋと大小比較する（Ｓ１０
７）。しきい値Ｋは１より小さく、例えば０．０５等と
設定される。回転速度が過大であって消え残りが生じて
いる場合には消去比が大きくなってしきい値Ｋ以上とな
る。一方、十分に消去されている場合には消去比が小さ
くなってしきい値Ｋより小さくなる。コントローラ３０
は、消去比が所定のしきい値Ｋより小さくなる回転速度
のうち、最大回転速度を選択する。
ベルを測定した後、コントローラ３０は回転制御部３１
を制御して速度を４倍速、６倍速、８倍速、１０倍速及
び１２倍速の５段階に変化させて５フレームに渡って記
録されたテストデータを各回転速度で１フレームずつ消
去していく（Ｓ１０５）。消去パワーはＳ１０２で設定
された基準消去パワーである。消去は、基準消去パワー
のＤＣレーザ光で行うことができる。テストデータそれ
ぞれについて異なる消去速度で消去した後、各フレーム
の消去後の再生ＲＦ信号のレベルを測定する（Ｓ１０
６）。コントローラ３０は、４倍速、６倍速、８倍速、
１０倍速及び１２倍速で消去した場合の消去比をそれぞ
れ算出してメモリに記憶する。消去比は、消去比＝（消
去時ＲＦレベル）／（記録時ＲＦレベル）で算出され
る。消去時ＲＦレベルは消去後の再生ＲＦレベルの意で
あり、記録時ＲＦレベルは消去前のＲＦレベルの意であ
る。この式から明らかなように、テストデータが十分消
去されると消去比は小さくなり、消去されずに消え残り
が存在すると消去比は大きくなる。コントローラ３０
は、各回転速度における消去比を算出し、これら５個の
消去比を所定のしきい値Ｋと大小比較する（Ｓ１０
７）。しきい値Ｋは１より小さく、例えば０．０５等と
設定される。回転速度が過大であって消え残りが生じて
いる場合には消去比が大きくなってしきい値Ｋ以上とな
る。一方、十分に消去されている場合には消去比が小さ
くなってしきい値Ｋより小さくなる。コントローラ３０
は、消去比が所定のしきい値Ｋより小さくなる回転速度
のうち、最大回転速度を選択する。
【００２４】図３には、回転速度（倍速単位）に対する
消去比の変化が示されている。回転速度が増大するほど
記録膜を結晶化温度以上に維持することが困難となるの
で消去比が増大する。図に示すように４倍速、６倍速、
８倍速及び１０倍速において所定のしきい値Ｋより小さ
い消去比が得られ、１２倍速で所定のしきい値Ｋを越え
た場合、コントローラ３０はしきい値より小さい回転速
度で最大である１０倍速を選択して最適回転速度とす
る。
消去比の変化が示されている。回転速度が増大するほど
記録膜を結晶化温度以上に維持することが困難となるの
で消去比が増大する。図に示すように４倍速、６倍速、
８倍速及び１０倍速において所定のしきい値Ｋより小さ
い消去比が得られ、１２倍速で所定のしきい値Ｋを越え
た場合、コントローラ３０はしきい値より小さい回転速
度で最大である１０倍速を選択して最適回転速度とす
る。
【００２５】再び図２に戻り、以上のように消去比に基
づき最適回転速度（記録速度）を選択した後、コントロ
ーラ３０はＯＰＣ動作を実行する（Ｓ１０８）。すなわ
ち、ＰＣＡエリアの残りのフレームを用いて記録パワー
を種々変化させつつテストデータを記録し、各テストデ
ータの再生信号のβ値やジッタ値に基づき最適記録パワ
ーを設定する。また、消去パワーはＳ１０２で設定した
基準消去パワーをそのまま用いることができる。なお、
ＯＰＣで最適化された記録パワーに対して一定の係数を
乗じて消去パワーを再設定してもよい。消去パワーが多
少変更されたとしても消去性能に大きな影響はなく、Ｓ
１０７で選択した最適回転速度は有効である。以上のよ
うにして記録パワーを最適化した後、Ｓ１０７にて設定
された最適記録速度でデータを記録（オーバライト）す
る（Ｓ１０９）。
づき最適回転速度（記録速度）を選択した後、コントロ
ーラ３０はＯＰＣ動作を実行する（Ｓ１０８）。すなわ
ち、ＰＣＡエリアの残りのフレームを用いて記録パワー
を種々変化させつつテストデータを記録し、各テストデ
ータの再生信号のβ値やジッタ値に基づき最適記録パワ
ーを設定する。また、消去パワーはＳ１０２で設定した
基準消去パワーをそのまま用いることができる。なお、
ＯＰＣで最適化された記録パワーに対して一定の係数を
乗じて消去パワーを再設定してもよい。消去パワーが多
少変更されたとしても消去性能に大きな影響はなく、Ｓ
１０７で選択した最適回転速度は有効である。以上のよ
うにして記録パワーを最適化した後、Ｓ１０７にて設定
された最適記録速度でデータを記録（オーバライト）す
る（Ｓ１０９）。
【００２６】このように、本実施形態においてはオーバ
ライト時の記録速度を最適化するため、例えば公称４倍
速の光ディスクに対してもそれ以上の記録速度で確実に
オーバライトすることが可能となり、高速記録要求にも
対応することができる。
ライト時の記録速度を最適化するため、例えば公称４倍
速の光ディスクに対してもそれ以上の記録速度で確実に
オーバライトすることが可能となり、高速記録要求にも
対応することができる。
【００２７】＜第２実施形態＞以上、本発明の実施形態
について説明したが、本発明はこれに限定されるもので
はなく種々の変更が可能である。
について説明したが、本発明はこれに限定されるもので
はなく種々の変更が可能である。
【００２８】例えば、第１実施形態ではＳ１０２で記録
パワー及び消去パワーを設定してテストデータを記録し
ているが、まずＰＣＡエリアの所定フレームだけ用いて
ＯＰＣを実行して記録パワー及び消去パワーを最適化
し、最適化した記録パワー及び消去パワーを用いてＳ１
０３〜Ｓ１０７の処理を行うこともできる。消去パワー
を最適化する際に、最適記録パワーに１より小さい所定
の係数を乗して算出する他、従来技術のように消去パワ
ーを種々変化させて消去性能を測定し最適化してもよ
い。本発明の要旨は消去パワーの最適化ではなく、ある
消去パワーにおいてオーバライト可能な最大回転速度を
探索することであり、任意のパワー最適化技術を用いる
ことができる。
パワー及び消去パワーを設定してテストデータを記録し
ているが、まずＰＣＡエリアの所定フレームだけ用いて
ＯＰＣを実行して記録パワー及び消去パワーを最適化
し、最適化した記録パワー及び消去パワーを用いてＳ１
０３〜Ｓ１０７の処理を行うこともできる。消去パワー
を最適化する際に、最適記録パワーに１より小さい所定
の係数を乗して算出する他、従来技術のように消去パワ
ーを種々変化させて消去性能を測定し最適化してもよ
い。本発明の要旨は消去パワーの最適化ではなく、ある
消去パワーにおいてオーバライト可能な最大回転速度を
探索することであり、任意のパワー最適化技術を用いる
ことができる。
【００２９】＜第３実施形態＞第１実施形態では、消去
比として（消去時ＲＦレベル）／（記録時ＲＦレベル）
を用いているが、もちろんこれは一例にすぎず、消去性
能を評価できる任意の式を定義できる。例えば、消去比
＝（記録時ＲＦレベル）／（消去時ＲＦレベル）でもよ
く、この場合には消去が行われるほど「消去比」が大き
くなるから所定のしきい値以上となる最大回転速度を選
択すればよいことになる。また、消去性能を評価する際
に再生ＲＦ信号のレベルではなく他の物理量を用いても
よい。例えば、第１実施形態ではテストデータをＤＣレ
ーザ光で消去しているが、消去パワーに記録パワーを重
畳させてテストデータを他のテストデータでオーバライ
トし、オーバライト後のエラーレートやＳ／Ｎ等を測定
して消去性能を評価してもよい。
比として（消去時ＲＦレベル）／（記録時ＲＦレベル）
を用いているが、もちろんこれは一例にすぎず、消去性
能を評価できる任意の式を定義できる。例えば、消去比
＝（記録時ＲＦレベル）／（消去時ＲＦレベル）でもよ
く、この場合には消去が行われるほど「消去比」が大き
くなるから所定のしきい値以上となる最大回転速度を選
択すればよいことになる。また、消去性能を評価する際
に再生ＲＦ信号のレベルではなく他の物理量を用いても
よい。例えば、第１実施形態ではテストデータをＤＣレ
ーザ光で消去しているが、消去パワーに記録パワーを重
畳させてテストデータを他のテストデータでオーバライ
トし、オーバライト後のエラーレートやＳ／Ｎ等を測定
して消去性能を評価してもよい。
【００３０】＜第４実施形態＞第１実施形態では、公称
４倍速の光ディスク１０に対して４倍速、６倍速、８倍
速、１０倍速及び１２倍速と変化させて消去比を算出し
ているが、公称速度に対してその前後に回転速度を変化
させることも可能である。例えば、公称１０倍速の光デ
ィスクに対して６倍速、８倍速、１０倍速、１２倍速と
４段階に変化させる等である。光ディスク１０の記録膜
には感度バラツキが存在し、公称の回転速度でオーバラ
イトできない光ディスク１０も理論上存在し得る。この
ような場合、従来においてはディスクエラーとして記録
不能とされているが、公称値よりも小さい回転速度で消
去性能を評価することで、従来では記録不能とされた光
ディスク１０に対してもオーバライトできる可能性が生
じ、光ディスク１０に対する装置の汎用性が増大する。
４倍速の光ディスク１０に対して４倍速、６倍速、８倍
速、１０倍速及び１２倍速と変化させて消去比を算出し
ているが、公称速度に対してその前後に回転速度を変化
させることも可能である。例えば、公称１０倍速の光デ
ィスクに対して６倍速、８倍速、１０倍速、１２倍速と
４段階に変化させる等である。光ディスク１０の記録膜
には感度バラツキが存在し、公称の回転速度でオーバラ
イトできない光ディスク１０も理論上存在し得る。この
ような場合、従来においてはディスクエラーとして記録
不能とされているが、公称値よりも小さい回転速度で消
去性能を評価することで、従来では記録不能とされた光
ディスク１０に対してもオーバライトできる可能性が生
じ、光ディスク１０に対する装置の汎用性が増大する。
【００３１】＜第５実施形態＞第１実施形態ではテスト
データを記録する際、光ディスク１０の公称速度で記録
しているが、テストデータの記録時においても各フレー
ム毎に４倍速、６倍速、８倍速、１０倍速及び１２倍速
でテストデータを記録することもできる。この場合、４
倍速で記録したテストデータを４倍速で消去し、６倍速
で記録したテストデータを６倍速で消去し、８倍速で記
録したテストデータを８倍速で消去する・・・等とな
る。オーバライト時には消去と記録が同一回転速度で実
行されるため、このような態様も好適であろう。各倍速
でテストデータを記録する際、公称速度に対する各倍速
の比率に応じてテストデータの記録パワーを変化させて
もよい。
データを記録する際、光ディスク１０の公称速度で記録
しているが、テストデータの記録時においても各フレー
ム毎に４倍速、６倍速、８倍速、１０倍速及び１２倍速
でテストデータを記録することもできる。この場合、４
倍速で記録したテストデータを４倍速で消去し、６倍速
で記録したテストデータを６倍速で消去し、８倍速で記
録したテストデータを８倍速で消去する・・・等とな
る。オーバライト時には消去と記録が同一回転速度で実
行されるため、このような態様も好適であろう。各倍速
でテストデータを記録する際、公称速度に対する各倍速
の比率に応じてテストデータの記録パワーを変化させて
もよい。
【００３２】＜第６実施形態＞第１実施形態では、４倍
速、６倍速、８倍速、１０倍速、１２倍速の中からしき
い値Ｋより消去比が小さい最大回転速度を選択している
が、図３に示されるよな関係から直線補間により最大回
転数を算出することもできる。すなわち、回転速度と消
去比の関係をプロットしていき、消去比がしきい値に等
しくなる最大回転速度を算出してこれを最適回転速度に
設定するのである。
速、６倍速、８倍速、１０倍速、１２倍速の中からしき
い値Ｋより消去比が小さい最大回転速度を選択している
が、図３に示されるよな関係から直線補間により最大回
転数を算出することもできる。すなわち、回転速度と消
去比の関係をプロットしていき、消去比がしきい値に等
しくなる最大回転速度を算出してこれを最適回転速度に
設定するのである。
【００３３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば相
変化型光ディスク装置において記録速度（オーバーライ
ト速度）の最適化を図ることができ、これにより高速記
録化が可能となる。
変化型光ディスク装置において記録速度（オーバーライ
ト速度）の最適化を図ることができ、これにより高速記
録化が可能となる。
【図１】 実施形態の構成ブロック図である。
【図２】 実施形態の処理フローチャートである。
【図３】 回転速度と消去比との関係を示すグラフ図で
ある。
ある。
１０ 光ディスク、１２ ピックアップ（ＰＵ）、２０
ＲＦ検出部、３０コントローラ、３１ 回転制御部、
３２ レーザダイオード駆動回路（ＬＤＤ）。
ＲＦ検出部、３０コントローラ、３１ 回転制御部、
３２ レーザダイオード駆動回路（ＬＤＤ）。
Claims (3)
- 【請求項１】 非晶質状態と結晶状態の遷移を用いてデ
ータをオーバライトする光ディスク装置であって、 光ディスクの所定エリアにテストデータを記録する手段
と、 前記光ディスクの回転速度を変化させて一定の消去パワ
ーで前記テストデータを消去する手段と、 消去後の前記テストデータの消去比に基づき設定された
最適記録速度でデータをオーバライトする手段と、 を有することを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の装置において、 前記消去比は、消去前テストデータの再生ＲＦレベルに
対する消去後テストデータの再生ＲＦレベルの比である
ことを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項３】 請求項１記載の装置において、 前記最適記録速度は、前記消去比が所定値以上である記
録速度のうちの最大値であることを特徴とする光ディス
ク装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002098681A JP3956743B2 (ja) | 2002-04-01 | 2002-04-01 | 光ディスク装置 |
| US10/405,755 US7035184B2 (en) | 2002-04-01 | 2003-03-31 | Optical disk apparatus with optimal erasing speed |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002098681A JP3956743B2 (ja) | 2002-04-01 | 2002-04-01 | 光ディスク装置 |
Publications (2)
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|---|---|
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Family
ID=28449825
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002098681A Expired - Fee Related JP3956743B2 (ja) | 2002-04-01 | 2002-04-01 | 光ディスク装置 |
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| JP (1) | JP3956743B2 (ja) |
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| JP4055073B2 (ja) * | 2003-05-13 | 2008-03-05 | ソニー株式会社 | 光ディスクの記録方法および光ディスク記録装置 |
| JP2005100549A (ja) * | 2003-09-26 | 2005-04-14 | Pioneer Electronic Corp | 情報記録装置及び方法、情報記録再生装置及び方法、並びにコンピュータプログラム |
| WO2005043515A1 (ja) * | 2003-10-31 | 2005-05-12 | Pioneer Corporation | 情報記録装置及び方法、コンピュータプログラム、並びに情報記録媒体 |
| JP2005285254A (ja) * | 2004-03-30 | 2005-10-13 | Mitsubishi Electric Corp | 光ディスクの記録方法及び光ディスク |
| JP4424211B2 (ja) * | 2004-04-09 | 2010-03-03 | 日本ビクター株式会社 | 情報記録媒体の記録方法及び記録装置 |
| JP2008519381A (ja) | 2004-11-04 | 2008-06-05 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 光記録装置が使用している方法，光記録装置，及び当該方法と当該装置とを使用する光記録媒体。 |
| KR100652387B1 (ko) * | 2004-11-30 | 2006-12-01 | 삼성전자주식회사 | 차지 펌프를 이용한 광디스크 재생/기록 장치의 기록테스트 장치 및 방법 |
| TWI309413B (en) * | 2005-05-17 | 2009-05-01 | Via Tech Inc | Optimum power calibration method and optical disk drive |
| KR101150986B1 (ko) * | 2005-07-04 | 2012-06-08 | 삼성전자주식회사 | 최적 기록 파워 결정을 위한 광디스크 구동장치 및 그제어방법 |
| JP2007095178A (ja) * | 2005-09-29 | 2007-04-12 | Hitachi-Lg Data Storage Inc | 光ディスク装置及びそのオーバーライト制御方法 |
| KR100672112B1 (ko) * | 2005-10-11 | 2007-01-19 | 주식회사 히타치엘지 데이터 스토리지 코리아 | 광디스크장치의 오피씨 수행방법 |
| US20090046565A1 (en) * | 2006-02-20 | 2009-02-19 | Hajime Yuzurihara | Method for determining optimum laser beam power and otical recording medium |
| JP4500792B2 (ja) * | 2006-09-14 | 2010-07-14 | 株式会社日立製作所 | 再生パワー学習方法 |
| US8159913B2 (en) * | 2006-10-17 | 2012-04-17 | Hitachi, Ltd. | Optical disc recording apparatus and recording power control method |
| US20090067304A1 (en) * | 2007-09-06 | 2009-03-12 | Mediatek Inc. | Optical recording apparatus and control methods thereof |
| US8300506B1 (en) * | 2010-06-23 | 2012-10-30 | Marvell International Ltd. | Overwrite parameter determination for optical drive |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62267926A (ja) * | 1986-05-16 | 1987-11-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 消去可能な光デイスク装置 |
| JPH10188286A (ja) | 1996-12-19 | 1998-07-21 | Sony Corp | 相変化ディスクの記録再生装置におけるレーザの消去パワー設定方法及び相変化ディスクの記録再生装置 |
| JP2002245624A (ja) * | 2001-02-14 | 2002-08-30 | Tdk Corp | 光記録方法、光記録装置および光記録媒体 |
| JP2002298356A (ja) * | 2001-03-30 | 2002-10-11 | Yamaha Corp | 光ディスク記録方法及び装置並びに光ディスク |
| JP4017837B2 (ja) * | 2001-05-22 | 2007-12-05 | 株式会社日立製作所 | 情報記録方法及び光ディスク装置 |
| US6853610B2 (en) * | 2002-02-13 | 2005-02-08 | Benq Corporation | Determination of recording power of radiation beam for recording information onto recording medium |
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2002
- 2002-04-01 JP JP2002098681A patent/JP3956743B2/ja not_active Expired - Fee Related
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2003
- 2003-03-31 US US10/405,755 patent/US7035184B2/en not_active Expired - Fee Related
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|---|---|
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| US7035184B2 (en) | 2006-04-25 |
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