JP2003294852A - 異物特定装置 - Google Patents
異物特定装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 被検査物に含まれる異物がどのようなもので
あるかを特定する。 【解決手段】 非検査物４を搬送するベルトコンベヤ２
に、金属検出機１０とＸ線検査装置６とが設けられてい
る。金属検出機１０及びＸ線検査装置６の検査結果を異
物特定部８に入力し、両検査結果に基づいて被検査物４
に含まれる異物を特定する。
あるかを特定する。 【解決手段】 非検査物４を搬送するベルトコンベヤ２
に、金属検出機１０とＸ線検査装置６とが設けられてい
る。金属検出機１０及びＸ線検査装置６の検査結果を異
物特定部８に入力し、両検査結果に基づいて被検査物４
に含まれる異物を特定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、検査ラインを搬送
される被検査物に異物が混入しているか否かを検査する
装置に関し、特にその異物を特定することができるもの
に関する。
される被検査物に異物が混入しているか否かを検査する
装置に関し、特にその異物を特定することができるもの
に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、検査ラインを搬送される被検査物
に異物が混入しているか否かを検査する装置としては、
例えば金属検出機が使用されている。金属検出機は、磁
界を発生し、この磁界中を被検査物が通過する際に、非
検査物に金属が含まれていると、磁界に乱れが生じるこ
とから、被検査物に金属が含まれているか否かを検査す
るものである。
に異物が混入しているか否かを検査する装置としては、
例えば金属検出機が使用されている。金属検出機は、磁
界を発生し、この磁界中を被検査物が通過する際に、非
検査物に金属が含まれていると、磁界に乱れが生じるこ
とから、被検査物に金属が含まれているか否かを検査す
るものである。
【０００３】また、検査装置としては、Ｘ線検査装置も
ある。これは、検査ラインを搬送される被検査物にＸ線
を照射することによって、異物が含まれているか否かを
検査するものである。
ある。これは、検査ラインを搬送される被検査物にＸ線
を照射することによって、異物が含まれているか否かを
検査するものである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、金属検出機で
は、異物として金属しか検出することができない。しか
も、被検査物が、電気抵抗の小さい製品、例えば塩分濃
度が高く、水を多く含んだ物や、ベイキング直後の熱い
食品の場合には、プロダクトエフェクトと称される現象
によって、検出感度が低下する。Ｘ線検査装置は、Ｘ線
の被検査物への透過状態から異物の混入を判断するもの
で、被検査物と異物との間にＸ線の透過状態を変える要
素が無ければ、異物を検出することができない。また、
異物が密度の低いものであるほど、検出しにくくなる。
例えば、アルミニウムや鉄さびは金属検出機では検出す
ることが可能であるが、Ｘ線検査装置では検出が不可能
であり、また被検査物がばらけたもので、密度差がある
と、検出感度が低下する。
は、異物として金属しか検出することができない。しか
も、被検査物が、電気抵抗の小さい製品、例えば塩分濃
度が高く、水を多く含んだ物や、ベイキング直後の熱い
食品の場合には、プロダクトエフェクトと称される現象
によって、検出感度が低下する。Ｘ線検査装置は、Ｘ線
の被検査物への透過状態から異物の混入を判断するもの
で、被検査物と異物との間にＸ線の透過状態を変える要
素が無ければ、異物を検出することができない。また、
異物が密度の低いものであるほど、検出しにくくなる。
例えば、アルミニウムや鉄さびは金属検出機では検出す
ることが可能であるが、Ｘ線検査装置では検出が不可能
であり、また被検査物がばらけたもので、密度差がある
と、検出感度が低下する。
【０００５】本発明は、金属検出機及びＸ線検査装置の
長所を組み合わせ、異物がどのようなものであるかを特
定することができる異物特定装置を提供することを目的
とする。
長所を組み合わせ、異物がどのようなものであるかを特
定することができる異物特定装置を提供することを目的
とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明による異物特定装
置は、非検査物を搬送する搬送手段を有している。この
搬送手段によって搬送される前記被検査物に金属が含ま
れているか否かを検査し、その検査結果を出力する金属
検出手段が設けられている。前記搬送手段によって搬送
される前記被検査物にＸ線を照射して、前記被検査物に
異物が含まれているか否かを検査し、その検査結果を出
力するＸ線検査手段が設けられている。前記金属検出手
段及びＸ線検査手段の検査結果が特定手段にそれぞれ入
力される。特定手段は、両検査結果に基づいて前記被検
査物に含まれる異物を特定する。
置は、非検査物を搬送する搬送手段を有している。この
搬送手段によって搬送される前記被検査物に金属が含ま
れているか否かを検査し、その検査結果を出力する金属
検出手段が設けられている。前記搬送手段によって搬送
される前記被検査物にＸ線を照射して、前記被検査物に
異物が含まれているか否かを検査し、その検査結果を出
力するＸ線検査手段が設けられている。前記金属検出手
段及びＸ線検査手段の検査結果が特定手段にそれぞれ入
力される。特定手段は、両検査結果に基づいて前記被検
査物に含まれる異物を特定する。
【０００７】このように構成された特定装置によれば、
被検査物に異物が含まれている場合に、金属検出手段及
びＸ線検査手段の双方の検査結果を参照して、その異物
がどのようなものであるかを特定することができる。例
えば、前記金属検出手段及び前記Ｘ線検査手段の検査結
果が共に異物ありとの検査結果のとき、金属検出手段が
異物ありと判定しているので、当該異物が金属であると
特定する。また、前記金属検出手段が異物ありの検査結
果で、かつ前記Ｘ線検査手段が異物なしの検査結果のと
き、Ｘ線検査手段では検出不能なアルミニウムまたは鉄
さびが異物である可能性が高いので、これらアルミニウ
ムまたは鉄さびであると特定する。このように、金属検
出手段及びＸ線検査手段の２つの検査手段を用い、その
検査結果を総合して判断しているので、異物の特定が可
能である。
被検査物に異物が含まれている場合に、金属検出手段及
びＸ線検査手段の双方の検査結果を参照して、その異物
がどのようなものであるかを特定することができる。例
えば、前記金属検出手段及び前記Ｘ線検査手段の検査結
果が共に異物ありとの検査結果のとき、金属検出手段が
異物ありと判定しているので、当該異物が金属であると
特定する。また、前記金属検出手段が異物ありの検査結
果で、かつ前記Ｘ線検査手段が異物なしの検査結果のと
き、Ｘ線検査手段では検出不能なアルミニウムまたは鉄
さびが異物である可能性が高いので、これらアルミニウ
ムまたは鉄さびであると特定する。このように、金属検
出手段及びＸ線検査手段の２つの検査手段を用い、その
検査結果を総合して判断しているので、異物の特定が可
能である。
【０００８】前記特定手段は、前記金属検出手段に組み
込むことが可能で、或いはＸ線検査手段に組み込みが可
能である。このようにいずれかの検査手段に特定手段を
組み込むことが可能であるので、装置全体を小型化する
ことができる。
込むことが可能で、或いはＸ線検査手段に組み込みが可
能である。このようにいずれかの検査手段に特定手段を
組み込むことが可能であるので、装置全体を小型化する
ことができる。
【０００９】
【発明の実施の形態】本発明の第１の実施の形態を図１
乃至図３に示す。この実施の形態では、搬送手段、例え
ばベルトコンベヤ２によって、被検査物４が矢印で示す
ように一定の方向に搬送されている。
乃至図３に示す。この実施の形態では、搬送手段、例え
ばベルトコンベヤ２によって、被検査物４が矢印で示す
ように一定の方向に搬送されている。
【００１０】ベルトコンベヤ２の適当な箇所に、Ｘ線検
査装置６が配置されている。このＸ線検査装置６は、ベ
ルトコンベヤ２を搬送される１つの被検査物４に、所定
量のＸ線を照射し、そのＸ線の透過状態に基づいて、被
検査物４に異物が含まれているか否かを判定するもので
ある。この判定結果、例えば異物ありまたは異物無しの
判定結果は、異物特定部８に送信される。
査装置６が配置されている。このＸ線検査装置６は、ベ
ルトコンベヤ２を搬送される１つの被検査物４に、所定
量のＸ線を照射し、そのＸ線の透過状態に基づいて、被
検査物４に異物が含まれているか否かを判定するもので
ある。この判定結果、例えば異物ありまたは異物無しの
判定結果は、異物特定部８に送信される。
【００１１】また、ベルトコンベヤ２の別の箇所には、
金属検出機１０が設けられている。この金属検出機１０
は、ベルトコンベヤ２上を搬送される被検査物４に所定
の磁界を印加し、もし被検査物４中に金属製の異物が含
まれているなら、生じる磁界の乱れに基づいて、異物と
しての金属の有無を判定するものである。この判定結
果、例えば金属ありまたは金属無しの判定結果は、異物
特定部８に送信される。
金属検出機１０が設けられている。この金属検出機１０
は、ベルトコンベヤ２上を搬送される被検査物４に所定
の磁界を印加し、もし被検査物４中に金属製の異物が含
まれているなら、生じる磁界の乱れに基づいて、異物と
しての金属の有無を判定するものである。この判定結
果、例えば金属ありまたは金属無しの判定結果は、異物
特定部８に送信される。
【００１２】Ｘ線検査装置６は、上述したように、被検
査物と異物との間にＸ線の透過状態を変える要素が無け
れば、たとえ異物が存在していても、その異物を検出す
ることができず、また、異物が密度の低いものであるほ
ど、検出しにくくなる。例えば、アルミニウムや鉄さび
の検出が不可能である。また、金属検出機１０は、異物
として金属以外のものを検出することができない。ま
た、Ｘ線検査装置６及び金属検出機１０は、金属に対す
る感度を調整可能である。
査物と異物との間にＸ線の透過状態を変える要素が無け
れば、たとえ異物が存在していても、その異物を検出す
ることができず、また、異物が密度の低いものであるほ
ど、検出しにくくなる。例えば、アルミニウムや鉄さび
の検出が不可能である。また、金属検出機１０は、異物
として金属以外のものを検出することができない。ま
た、Ｘ線検査装置６及び金属検出機１０は、金属に対す
る感度を調整可能である。
【００１３】これらＸ線検査装置６及び金属検出機１０
の検査結果が供給されている異物特定部８は、図２に示
すように、ＣＰＵ１２を有している。このＣＰＵ１２に
実行させるプログラムがメモリ１４に記憶され、さらに
ＣＰＵ１２がプログラムを実行するためのワーキングエ
リアとしてもメモリ１４は使用されている。入出力回路
１６を介して、Ｘ線検査装置６及び金属検出機１０の検
査結果が、ＣＰＵ１２に供給される。また、ＣＰＵ１２
に対して種々の設定を行うために、設定装置１８が設け
られている。
の検査結果が供給されている異物特定部８は、図２に示
すように、ＣＰＵ１２を有している。このＣＰＵ１２に
実行させるプログラムがメモリ１４に記憶され、さらに
ＣＰＵ１２がプログラムを実行するためのワーキングエ
リアとしてもメモリ１４は使用されている。入出力回路
１６を介して、Ｘ線検査装置６及び金属検出機１０の検
査結果が、ＣＰＵ１２に供給される。また、ＣＰＵ１２
に対して種々の設定を行うために、設定装置１８が設け
られている。
【００１４】この異物特定部８では、例えばＸ線検査装
置６及び金属検出機１０の金属に対する感度を同一に設
定している場合、図３に示すように、Ｘ線検査装置６及
び金属検出機１０が共に異物を検出した場合、異物が金
属であると特定する。また、Ｘ線検査装置６が異物を非
検出であって、金属検出機１０が検出している場合、異
物がアルミニウムまたは鉄さびであると特定する。ま
た、Ｘ線検出装置６が異物を検出し、金属検出機１０が
非検出の場合、金属以外の異物であると特定する。な
お、Ｘ線検査装置６及び金属検出機１０が共に異物を非
検出の場合、異物は存在しないと判定する。
置６及び金属検出機１０の金属に対する感度を同一に設
定している場合、図３に示すように、Ｘ線検査装置６及
び金属検出機１０が共に異物を検出した場合、異物が金
属であると特定する。また、Ｘ線検査装置６が異物を非
検出であって、金属検出機１０が検出している場合、異
物がアルミニウムまたは鉄さびであると特定する。ま
た、Ｘ線検出装置６が異物を検出し、金属検出機１０が
非検出の場合、金属以外の異物であると特定する。な
お、Ｘ線検査装置６及び金属検出機１０が共に異物を非
検出の場合、異物は存在しないと判定する。
【００１５】Ｘ線検査装置６の方が金属検出機１０より
も、金属に対する感度を高く設定している場合、図３に
示すように、Ｘ線検査装置６及び金属検出機１０が共に
異物を検出した場合、異物は金属であると特定する。Ｘ
線検査装置６は異物を検出していないが、金属検出機１
０が異物を検出している場合、異物はアルミニウムまた
は鉄さびであると特定する。Ｘ線検査装置６が異物を検
出しているが、金属検出機１０が異物を検出していない
場合、異物を特定することができないが、異物があると
判定する。
も、金属に対する感度を高く設定している場合、図３に
示すように、Ｘ線検査装置６及び金属検出機１０が共に
異物を検出した場合、異物は金属であると特定する。Ｘ
線検査装置６は異物を検出していないが、金属検出機１
０が異物を検出している場合、異物はアルミニウムまた
は鉄さびであると特定する。Ｘ線検査装置６が異物を検
出しているが、金属検出機１０が異物を検出していない
場合、異物を特定することができないが、異物があると
判定する。
【００１６】Ｘ線検査装置６の方が金属検出機１０より
も、金属に対する感度を低く設定している場合、図３に
示すように、Ｘ線検査装置６及び金属検出機１０が共に
異物を検出した場合、異物は金属であると特定する。Ｘ
線検査装置６は異物を検出していないが、金属検出機１
０が異物を検出している場合、異物は金属、アルミニウ
ムまたは鉄さびであると特定する。Ｘ線検査装置６が異
物を検出し、金属検出機１０が異物を検出していない場
合、異物は金属以外のものであると特定する。
も、金属に対する感度を低く設定している場合、図３に
示すように、Ｘ線検査装置６及び金属検出機１０が共に
異物を検出した場合、異物は金属であると特定する。Ｘ
線検査装置６は異物を検出していないが、金属検出機１
０が異物を検出している場合、異物は金属、アルミニウ
ムまたは鉄さびであると特定する。Ｘ線検査装置６が異
物を検出し、金属検出機１０が異物を検出していない場
合、異物は金属以外のものであると特定する。
【００１７】このように、Ｘ線検査装置６及び金属検出
機１０の金属に対する感度の相違によって特定のパター
ンが若干異なるが、異物が金属であるか、アルミニウム
または鉄さび、金属以外の異物のように、異物を特定す
ることができる。
機１０の金属に対する感度の相違によって特定のパター
ンが若干異なるが、異物が金属であるか、アルミニウム
または鉄さび、金属以外の異物のように、異物を特定す
ることができる。
【００１８】第２の実施の形態は、図４に示すように、
金属検出機１０ａに、異物特定部８が内蔵されているも
のである。他の構成は、第１の実施の形態と同様である
ので、同等部分には同一符号を付して、その説明を省略
する。
金属検出機１０ａに、異物特定部８が内蔵されているも
のである。他の構成は、第１の実施の形態と同様である
ので、同等部分には同一符号を付して、その説明を省略
する。
【００１９】第３の実施の形態は、図５に示すように、
Ｘ線検査装置６ａに、異物特定部８が内蔵されているも
のである。他の構成は、第１の実施の形態と同様である
ので、同等部分には同一符号を付して、その説明を省略
する。
Ｘ線検査装置６ａに、異物特定部８が内蔵されているも
のである。他の構成は、第１の実施の形態と同様である
ので、同等部分には同一符号を付して、その説明を省略
する。
【００２０】第２及び第３の実施の形態のように、金属
検出機やX線検査装置に異物特定部１０を内蔵させる
と、金属検出機、X線検査装置及び異物特定部からなる
異物特定装置を小型化することができる。
検出機やX線検査装置に異物特定部１０を内蔵させる
と、金属検出機、X線検査装置及び異物特定部からなる
異物特定装置を小型化することができる。
【００２１】上記の各実施の形態としては、搬送手段と
してベルトコンベヤ２を使用したが、これに限ったもの
ではなく、例えばチェーンコンベヤ等も使用することが
できる。
してベルトコンベヤ２を使用したが、これに限ったもの
ではなく、例えばチェーンコンベヤ等も使用することが
できる。
【００２２】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、金属検
出手段と、X線検査手段との検査結果を照合することに
よって、異物の種類を特定することができるので、どの
ような異物が混入しているかが判明しているので、製造
ラインにおいて異物が混入しないようするための対策を
素早くとることができる。
出手段と、X線検査手段との検査結果を照合することに
よって、異物の種類を特定することができるので、どの
ような異物が混入しているかが判明しているので、製造
ラインにおいて異物が混入しないようするための対策を
素早くとることができる。
【図１】本発明の第１の実施の形態の異物特定装置の概
略構成図である。
略構成図である。
【図２】図１の異物特定装置において使用する異物特定
部の詳細なブロック図である。
部の詳細なブロック図である。
【図３】図１の異物特定装置におけ金属検出機及びX線
検査装置における検査結果の組み合わせを示す図であ
る。
検査装置における検査結果の組み合わせを示す図であ
る。
【図４】本発明の第２の実施の形態の異物特定装置の概
略構成図である。
略構成図である。
【図５】本発明の第３の実施の形態の異物特定装置の概
略構成図である。
略構成図である。
【符号の説明】
２ ベルトコンベヤ（搬送手段）
４ 被検査物
６ X線検査装置（X線検査手段）
８ 異物特定部（異物特定手段）
１０ 金属検出機（金属検出手段）
Claims (4)
- 【請求項１】 非検査物を搬送する搬送手段と、 この搬送手段によって搬送される前記被検査物に金属が
含まれているか否かを検査し、その検査結果を出力する
金属検出手段と、 前記搬送手段によって搬送される前記被検査物にＸ線を
照射して、前記被検査物に異物が含まれているか否かを
検査し、その検査結果を出力するＸ線検査手段と、 前記金属検出手段及びＸ線検査手段の検査結果がそれぞ
れ入力され、両検査結果に基づいて前記被検査物に含ま
れる異物を特定する特定手段とを、具備する異物特定装
置。 - 【請求項２】 請求項１記載の異物特定装置において、
前記特定手段は、前記金属検出手段及び前記Ｘ線検査手
段の検査結果が共に異物ありとの検査結果のとき、当該
異物が金属であると特定し、前記金属検出手段が異物あ
りの検査結果で、かつ前記Ｘ線検査手段が異物なしの検
査結果のとき、当該異物が少なくともアルミニウムまた
は鉄さびであると特定する異物特定装置。 - 【請求項３】 請求項１記載の異物判定装置において、
前記特定手段が、前記金属検出手段に組み込まれている
異物特定装置。 - 【請求項４】 請求項１記載の異物判定装置において、
前記特定手段が、前記Ｘ線検査手段に組み込まれている
異物特定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002099716A JP3993009B2 (ja) | 2002-04-02 | 2002-04-02 | 異物特定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002099716A JP3993009B2 (ja) | 2002-04-02 | 2002-04-02 | 異物特定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003294852A true JP2003294852A (ja) | 2003-10-15 |
| JP3993009B2 JP3993009B2 (ja) | 2007-10-17 |
Family
ID=29241019
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002099716A Expired - Fee Related JP3993009B2 (ja) | 2002-04-02 | 2002-04-02 | 異物特定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3993009B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005043149A1 (ja) * | 2003-10-30 | 2005-05-12 | Tok Engineering Co., Ltd. | ハイブリッド型異物検知装置とそのトレサビリティ用システム |
| JP2007114092A (ja) * | 2005-10-21 | 2007-05-10 | Ishida Co Ltd | 検査システム及び検査装置 |
| WO2017057715A1 (ja) * | 2015-10-01 | 2017-04-06 | 株式会社イシダ | 異物検査装置及び異物検査システム |
-
2002
- 2002-04-02 JP JP2002099716A patent/JP3993009B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005043149A1 (ja) * | 2003-10-30 | 2005-05-12 | Tok Engineering Co., Ltd. | ハイブリッド型異物検知装置とそのトレサビリティ用システム |
| KR100794907B1 (ko) * | 2003-10-30 | 2008-01-14 | 토크 엔지니어링 가부시키가이샤 | 하이브리드형 이물검지장치 및 그 트레이서빌리티용 시스템 |
| JP2007114092A (ja) * | 2005-10-21 | 2007-05-10 | Ishida Co Ltd | 検査システム及び検査装置 |
| WO2017057715A1 (ja) * | 2015-10-01 | 2017-04-06 | 株式会社イシダ | 異物検査装置及び異物検査システム |
| JP6157775B1 (ja) * | 2015-10-01 | 2017-07-05 | 株式会社イシダ | 異物検査装置及び異物検査システム |
| EP3358341A4 (en) * | 2015-10-01 | 2019-07-03 | Ishida Co., Ltd. | FOREIGN BODY INSPECTION DEVICE AND FOREIGN BODY INSPECTION SYSTEM |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3993009B2 (ja) | 2007-10-17 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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