JP2003283311A - エッジ検出回路 - Google Patents

エッジ検出回路

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JP2003283311A
JP2003283311A JP2002077785A JP2002077785A JP2003283311A JP 2003283311 A JP2003283311 A JP 2003283311A JP 2002077785 A JP2002077785 A JP 2002077785A JP 2002077785 A JP2002077785 A JP 2002077785A JP 2003283311 A JP2003283311 A JP 2003283311A
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Akito Tsukamoto
章人 塚本
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】異なるクロック系で動作する回路からの入力信
号の変化を自己のクロック系で検出するエッジ検出回路
において、入力信号パルスのHレベル期間およびLレベ
ル期間に比べて周期が小さな高い周波数のクロックを必
要としないエッジ検出回路を提供する。 【解決手段】入力信号のエッジで動作するカウンタ5
と、クロック信号で動作しカウンタの最上位ビット出力
を入力するフリップフロップ1と、クロック信号で動作
しフリップフロップ1の出力を入力するフリップフロッ
プ2と、フリップフロップ1、2の出力の不一致を検出
してエッジ検出信号とする排他的論理和回路3と、を備
える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、異なるクロック系
で動作する回路から送られる信号の変化を自己のクロッ
ク系で検出するエッジ検出回路に関する。
【0002】
【従来の技術】異なるクロック系で動作する回路から送
られる信号の変化を検出し、これにより何らかの動作を
起動するには、検出対象の信号を自己のクロック系で同
期させた上で、その変化を検出しなければならない。
【0003】図8は、このような目的の従来の技術によ
るエッジ検出回路の構成を示すブロック図である。図8
では、非同期に与えられる書き込みパルスWRと書き込
みデータDATAを受け取りメモリにデータを書き込む
制御回路に使用されたエッジ検出回路を示している。図
8において、1および2はDフリップフロップ、4はク
ロック発生回路、6は書き込みデータレジスタ、9はメ
モリ、23はANDゲート、24はメモリ制御回路であ
る。
【0004】Dフリップフロップ1および2はクロック
発生回路4から供給されるクロックCLKで動作し、書
き込みパルスWRをDフリップフロップ1で同期させ、
その出力をDフリップフロップ2で1クロック周期だけ
遅延させる。ANDゲート23は、Dフリップフロップ
1および2の出力から同期された書き込みパルスの立ち
上がりを検出し、検出信号DETを出力する。
【0005】一方、書き込みデータDATAは書き込み
パルスWRにより書き込みデータレジスタ6に保持さ
れ、メモリ制御回路24で検出信号DETから書き込み
エネイブル信号が生成されると、書き込みデータレジス
タ6に保持されたデータがメモリ9に書き込まれる。図
9は、図8の回路において書き込みパルスWRをクロッ
クCLKに同期させ、その立ち上がりを検出する様子を
示す波形図である。図9において、Q1、Q2はそれぞ
れDフリップフロップ1、Dフリップフロップ2の出力
を示す。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記ような従来のエッ
ジ検出回路では、クロック周期は書き込みパルスWRの
H(High)レベル期間およびL(Low)レベル期
間よりも短いことが要求される。特に連続して書き込み
が行われる際には、書き込みパルスWRのHレベル期間
が短くなる場合が多く、通常は書き込みパルスのHレベ
ル期間およびLレベル期間に対して数倍以上のサンプリ
ングが可能な高い周波数のクロック信号が要求される。
このように、高い周波数のクロックを使用することが要
求されるため、消費電力を低減できないという問題があ
る。
【0007】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、異なるクロック系で動作する回路から送られる信号
の変化を自己のクロック系で検出するエッジ検出回路に
おいて、検出対象信号パルスのHレベル期間およびLレ
ベル期間に対して数倍以上のサンプリングが可能な高い
周波数のクロックを必要としないことで、消費電力を低
減できるエッジ検出回路を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に、本発明の請求項1に係るエッジ検出回路は、入力信
号のエッジで動作するカウンタ(カウンタ5)と、クロ
ック信号で動作し前記カウンタの最上位ビット出力を入
力する第1のフリップフロップ(Dフリップフロップ
1)と、同じクロック信号で動作し第1のフリップフロ
ップの出力を入力する第2のフリップフロップ(Dフリ
ップフロップ2)と、第1のフリップフロップの出力と
第2のフリップフロップの出力との不一致を検出する排
他的論理和回路(排他的論理和回路3)と、を具備する
ものである。
【0009】請求項1記載のエッジ検出回路によれば、
非同期に与えられる入力信号をカウンタにより周期を長
くした上でクロックで同期し、排他的論理和回路により
同期された信号の変化を検出し、これを入力信号のカウ
ンタの周期に応じたエッジ検出信号とすることができる
ので、クロック周期は入力信号と同程度の周期とするこ
とが可能になる。そのためクロック周波数は従来の数分
の1程度にまで低減でき、消費電力低減に大きな効果を
得ることができる。
【0010】本発明の請求項2に係るエッジ検出回路
は、請求項1記載のエッジ検出回路において、前記入力
信号はメモリ書き込み要求信号であり、排他的論理和回
路の出力からメモリ書き込み制御信号を生成する手段
(Dフリップフロップ8、アドレスカウンタ10)と、
カウンタの最上位ビットにより交互に選択されメモリ書
き込み要求信号に応じてデータが書き込まれるダブルバ
ッファ(レジスタ13)と、ダブルバッファの出力を交
互に選択してメモリに書き込む手段(セレクタ11)
と、を具備するものである。
【0011】請求項2記載のエッジ検出回路によれば、
カウンタの周期に応じたワード幅の書き込みデータをダ
ブルバッファに保持し、カウンタにより周期を長くした
メモリ書き込み要求信号を同期したエッジ検出信号によ
りメモリ書き込み制御信号を生成し、ダブルバッファの
データをメモリに書き込むことができるので、書き込み
速度より遅い速度で動作する回路であってもデータを受
け取りメモリに書き込むことが可能になり、消費電力低
減に大きな効果を得ることができる。
【0012】本発明の請求項3に係るエッジ検出回路
は、請求項1記載のエッジ検出回路において、前記入力
信号はメモリ読み出し要求信号であり、前記排他的論理
和回路の出力からメモリ読み出し制御信号を生成する手
段(Dフリップフロップ8、アドレスカウンタ10)
と、メモリからの読み出しデータを交互に保持するダブ
ルバッファ(レジスタ15)と、カウンタの最上位ビッ
トによりダブルバッファの出力を交互に選択する手段
(セレクタ14)と、を具備するものである。
【0013】請求項3記載のエッジ検出回路によれば、
カウンタにより周期を長くしたメモリ読み出し要求信号
を同期したエッジ検出信号からメモリ読み出し制御信号
を生成し、カウンタの周期に応じたワード幅のメモリか
らの読み出しデータをダブルバッファに保持し、カウン
タ値による制御で1ワードずつ取り出すことができるの
で、読み出し速度よりも遅いクロックで動作する回路で
あっても読み出しパルスRDに合わせてデータを出力す
ることが可能になり、消費電力を低減することができ
る。
【0014】本発明の請求項4に係るエッジ検出回路
は、請求項1記載のエッジ検出回路において、前記入力
信号により入力データをアドレス指定されたレジスタに
書き込む機能を有し、前記カウンタは2分周カウンタで
あり、前記排他的論理和回路の出力を前記アドレス指定
されたレジスタへの書き込み検出信号として用いるよう
に構成されるものである。
【0015】請求項4記載のエッジ検出回路によれば、
2分周したレジスタ書き込み信号を同期したエッジ検出
信号から、レジスタにデータが書き込まれたことを検知
することができるので、書き込まれたデータを内部クロ
ックで動作する回路で使用するための制御が可能にな
る。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。 (実施の形態1)図1は本発明の実施の形態1に係るエ
ッジ検出回路の構成を示すブロック図である。ここで
は、非同期に与えられる書き込みパルスWRと書き込み
データDATAを受け取りメモリにデータを書き込む制
御回路に使用されたエッジ検出回路を示している。図1
において、1および2はDフリップフロップ、3は排他
的論理和回路、4はクロック発生回路、5は2分周カウ
ンタ、6はダブルバッファ構成の書き込みデータレジス
タ、9はメモリ、24はメモリ制御回路である。
【0017】2分周カウンタ5は書き込みパルスWRの
エッジで動作し、書き込みパルスWRを2分周した信号
DIVを出力する。Dフリップフロップ1および2はク
ロック発生回路4から供給されるクロックCLKで動作
し、信号DIVをDフリップフロップ1で同期させ、そ
の出力をDフリップフロップ2で1クロック周期だけ遅
延させる。排他的論理和回路3は、Dフリップフロップ
1の出力Q1とDフリップフロップ2の出力Q2との排
他的論理和により信号DIVの変化を検出し、検出信号
DETを出力する。
【0018】一方、書き込みデータレジスタ6は書き込
みパルスWRにより動作し、2分周カウンタ5により交
互に選択されるダブルバッファに書き込みデータDAT
Aを保持する。検出信号DETには信号DIVの変化、
すなわち、立ち上がりと立下りが検出されているので、
メモリ制御回路24で検出信号DETから書き込みエネ
イブル信号を生成し、書き込みデータレジスタ6のダブ
ルバッファに保持されたデータを順次メモリ9に書き込
むことができる。
【0019】ここで、書き込みデータレジスタ6のダブ
ルバッファは、書き込みパルスWRによるデータの書き
込みと、そのデータをメモリに書き込む動作とを分離す
る役割を果たしている。
【0020】図2は、本実施の形態におけるエッジ検出
回路の動作を示す波形図である。図2に示すように、原
理的にはクロック周期は書き込み周期と同じ周期とする
ことが可能である。そのためクロック周波数は従来の数
分の1程度にまで低減でき、消費電力低減に大きな効果
を得ることができる。
【0021】(実施の形態2)上記実施の形態1では2
分周カウンタ5を用いた実施例を示したが、書き込み速
度より遅い速度で動作する回路であってもデータを受け
取りメモリに書き込むことを可能にするために、カウン
タの段数を増やすことができる。このカウンタの変化を
クロック信号で検出することにより、カウンタの段数と
書き込みパルスWRの周期で計算される周波数までクロ
ック周波数を下げることが可能になる。
【0022】図3は本発明の実施の形態2に係るエッジ
検出回路の構成を示すブロック図である。ここでは、非
同期に与えられる書き込みパルスWRと書き込みデータ
DATAを受け取り、書き込み周期より長い周期でデー
タをまとめてメモリに書き込む制御回路に使用されたエ
ッジ検出回路を示している。
【0023】図3において、1、2、8はDフリップフ
ロップ、3は排他的論理和回路、4はクロック発生回
路、7は8分周カウンタ、9はメモリ、10はアドレス
カウンタ、11はセレクタ、12は4段シフトレジス
タ、13はダブルバッファ構成の書き込みデータレジス
タである。ここで、メモリ9の書き込みデータ幅は4ワ
ードとし、書き込みデータレジスタ13のダブルバッフ
ァのデータ幅も4ワードとする。
【0024】8分周カウンタ7は書き込みパルスWRの
エッジで動作し、書き込みパルスWRを8分周した信号
DIVを出力する。Dフリップフロップ1および2はク
ロック発生回路4から供給されるクロックCLKで動作
し、信号DIVをDフリップフロップ1で同期させ、そ
の出力をDフリップフロップ2で1クロック周期だけ遅
延させる。排他的論理和回路3は、Dフリップフロップ
1の出力Q1とDフリップフロップ2の出力Q2との排
他的論理和により信号DIVの変化を検出し、検出信号
DETを出力する。
【0025】4段シフトレジスタ12は書き込みパルス
WRにより4ワードまでの書き込みデータDATAを保
持する。4段シフトレジスタ12に4ワード分のデータ
が揃ったところで、そのデータを8分周カウンタ7の最
上位ビットにより交互に選択されるダブルバッファ構成
の書き込みデータレジスタ13に転送する。
【0026】検出信号DETには信号DIVの変化、す
なわち、立ち上がりと立下りが検出されているので、こ
れから4ワード単位のデータ書き込みタイミングを得る
ことができる。具体的には、Dフリップフロップ8で検
出信号DETを反転させて書き込みエネイブル信号を生
成し、また、検出信号DETによりアドレスカウンタ1
0のカウント制御を行い、書き込みデータレジスタ6に
保持された4ワードのデータを、セレクタ11でダブル
バッファを交互に選択しメモリ9に書き込むことができ
る。
【0027】ここで、書き込みデータレジスタ13のダ
ブルバッファは、書き込みパルスWRによるデータの書
き込みと、そのデータをメモリに書き込む動作とを分離
する役割を果たしている。
【0028】図4は、本実施の形態におけるエッジ検出
回路を用いたメモリ書き込み動作を示す波形図である。
上記説明から明らかなように、本実施の形態は、例え
ば、必ずメモリの連続アドレスに書き込みを行うデータ
バッファ用途など、4ワード分のデータをまとめて書き
込むことが可能であるという条件下で有効となる。この
ような条件下で、書き込み速度より遅い速度で動作する
回路であってもデータを受け取りメモリに書き込むこと
が可能になり、消費電力低減に大きな効果を得ることが
できる。
【0029】(実施の形態3)上記実施の形態2では、
書き込み速度より遅い速度で動作する回路においてデー
タを受け取りメモリに書き込むことを可能にする実施例
を示したが、同様の手法を用いて遅い速度で動作するメ
モリから早い速度で動作する回路に読み出しデータを渡
すことが可能である。
【0030】図5は本発明の実施の形態3に係るエッジ
検出回路の構成を示すブロック図である。ここでは、非
同期に与えられる読み出しパルスRDに応じて、読み出
し周期より長い周期でメモリからデータを読み出す制御
回路に使用されたエッジ検出回路を示している。
【0031】図5において、1、2、8はDフリップフ
ロップ、3は排他的論理和回路、4はクロック発生回
路、7は8分周カウンタ、9はメモリ、10はアドレス
カウンタ、14はセレクタ、15はダブルバッファ構成
の読み出しデータレジスタである。ここで、メモリ9の
読み出しデータ幅は4ワードとし、読み出しデータレジ
スタ15のダブルバッファのデータ幅も4ワードとす
る。
【0032】8分周カウンタ7は読み出しパルスRDの
エッジで動作し、読み出しパルスRDを8分周した信号
DIVを出力する。Dフリップフロップ1および2はク
ロック発生回路4から供給されるクロックCLKで動作
し、信号DIVをDフリップフロップ1で同期させ、そ
の出力をDフリップフロップ2で1クロック周期だけ遅
延させる。排他的論理和回路3は、Dフリップフロップ
1の出力Q1とDフリップフロップ2の出力Q2との排
他的論理和により信号DIVの変化を検出し、検出信号
DETを出力する。
【0033】検出信号DETには信号DIVの変化、す
なわち、立ち上がりと立下りが検出されているので、こ
れから4ワード単位のデータ読み出しタイミングを得る
ことができる。具体的には、Dフリップフロップ8で検
出信号DETを反転させて読み出しエネイブル信号を生
成し、また、検出信号DETによりアドレスカウンタ1
0のカウント制御を行い、メモリ9から読み出したデー
タをアドレスカウンタ10の最下位ビットにより読み出
しデータレジスタ15のダブルバッファに交互に格納す
る。
【0034】セレクタ14はカウンタ7により制御さ
れ、8分周カウンタ7の最上位ビットにより読み出しデ
ータレジスタ15のダブルバッファの出力を交互に選択
し、8分周カウンタ7の下位2ビットにより4ワードの
データを順に選択し、選択された1ワードをデータ出力
DOとする。
【0035】ここで、読み出しデータレジスタ15のダ
ブルバッファは、メモリからのデータの読み出しと、そ
のデータを選択して外部に出力する動作とを分離する役
割を果たしている。
【0036】図6は、本実施の形態におけるエッジ検出
回路を用いたメモリ読み出し動作を示す波形図である。
上記説明から明らかなように、本実施の形態はメモリが
4ワード幅であることを前提としている。このような条
件下で、読み出し速度よりも遅いクロックで動作する回
路であっても読み出しパルスRDに合わせてデータを出
力することが可能になり、消費電力を低減することがで
きる。
【0037】(実施の形態4)また本発明は、異なるク
ロック系からデータを受け取るレジスタにデータが書き
込まれたことを検知するために応用することができる。
外部からアドレス信号で指定されてデータが書き込まれ
るレジスタを内部クロックで動作する回路で使用するた
めには、何らかの方法でクロックに同期させる必要があ
る。
【0038】図7は本発明の実施の形態4に係るエッジ
検出回路の構成を示すブロック図である。ここでは、ア
ドレス信号で指定されたレジスタに対して書き込みパル
スWRにより非同期にデータが書き込まれたときに、こ
れを検知するために使用されたエッジ検出回路を示して
いる。図7において、1、2、20はDフリップフロッ
プ、3は排他的論理和回路、4はクロック発生回路、1
6はアドレスデコーダ、17、18、19はセレクタ、
21、22はレジスタである。
【0039】このように構成された回路において、アド
レスデコーダ16の出力により選択されたレジスタ22
は、書き込みパルスWDにより入力データDATAを取
り込む。同時に、書き込みパルスWDはDフリップフロ
ップ20を反転させる。このDフリップフロップ20
は、アドレスデコーダ16の出力によりセレクタ17が
選択されているときは書き込みパルスWDの2分周カウ
ンタの働きをする。
【0040】Dフリップフロップ1および2はクロック
発生回路4から供給されるクロックCLKで動作し、D
フリップフロップ20の出力をDフリップフロップ1で
同期させ、その出力をDフリップフロップ2で1クロッ
ク周期だけ遅延させる。排他的論理和回路3は、Dフリ
ップフロップ1の出力Q1とDフリップフロップ2の出
力Q2との排他的論理和によりDフリップフロップ20
の出力の変化を検出する。
【0041】この検出信号によりレジスタ22にデータ
が書き込まれたことを検知することができるので、セレ
クタ19を制御してレジスタ22の出力を内部のレジス
タ21に取り込むことができる。このようにして、書き
込まれたデータを内部クロックで動作する回路で使用す
ることができる。この構成により、レジスタに書き込ま
れる周期と同等の周期のクロックでレジスタへの書き込
みを検出することができる。
【0042】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
異なるクロック系で動作する回路から送られる信号の変
化を自己のクロック系で検出するエッジ検出回路におい
て、非同期に与えられる入力信号をカウンタにより周期
を長くした上でクロックで同期し、その同期された信号
の変化を検出して入力信号のエッジ検出信号とすること
ができるので、クロック周期は入力信号と同程度の周期
とすることが可能になる。そのためクロック周波数は従
来の数分の1程度にまで低減でき、消費電力低減に大き
な効果を得ることができる。
【0043】さらに本発明によれば、カウンタの周期に
応じたワード幅の読み出しデータあるいは書き込みデー
タを保持するダブルバッファを用意し、カウンタにより
周期を長くしたメモリ読み出し要求信号あるいは書き込
み要求信号を同期したエッジ検出信号によりメモリ読み
出し制御信号あるいは書き込み制御信号を生成し、メモ
リに対して読み書きすることができるので、読み出し速
度あるいは書き込み速度より遅い速度で動作する回路で
あってもデータの受け渡しが可能になり、消費電力低減
に大きな効果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1に係るエッジ検出回路の
構成を示すブロック図である。
【図2】実施の形態1におけるエッジ検出回路の動作を
示す波形図である。
【図3】本発明の実施の形態2に係るエッジ検出回路の
構成を示すブロック図である。
【図4】実施の形態2におけるエッジ検出回路の動作を
示す波形図である。
【図5】本発明の実施の形態3に係るエッジ検出回路の
構成を示すブロック図である。
【図6】実施の形態3におけるエッジ検出回路の動作を
示す波形図である。
【図7】本発明の実施の形態4に係るエッジ検出回路の
構成を示すブロック図である。
【図8】従来の技術によるエッジ検出回路の構成を示す
ブロック図である。
【図9】従来の技術によるエッジ検出回路の動作を示す
波形図である。
【符号の説明】
1、2、8、20 Dフリップフロップ 3 排他的論理和回路 4 クロック発生回路 5 2分周カウンタ 6、13 書き込みデータレジスタ 7 8分周カウンタ 9 メモリ 10 アドレスカウンタ 11、14、17、18、19 セレクタ 12 4段シフトレジスタ 15 読み出しデータレジスタ 16 アドレスデコーダ 21、22 レジスタ 23 ANDゲート 24 メモリ制御回路

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力信号のエッジで動作するカウンタ
    と、 クロック信号で動作し前記カウンタの最上位ビット出力
    を入力する第1のフリップフロップと、 前記クロック信号で動作し前記第1のフリップフロップ
    の出力を入力する第2のフリップフロップと、 前記第1のフリップフロップの出力と前記第2のフリッ
    プフロップの出力との不一致を検出する排他的論理和回
    路と、を具備することを特徴とするエッジ検出回路。
  2. 【請求項2】 前記排他的論理和回路の出力からメモリ
    書き込み制御信号を生成する手段と、前記カウンタの最
    上位ビットにより交互に選択され前記入力信号に応じて
    データが書き込まれるダブルバッファと、前記ダブルバ
    ッファの出力を交互に選択してメモリに書き込む手段
    と、を具備し、前記入力信号がメモリ書き込み要求信号
    であることを特徴とする請求項1記載のエッジ検出回
    路。
  3. 【請求項3】 前記排他的論理和回路の出力からメモリ
    読み出し制御信号を生成する手段と、メモリからの読み
    出しデータを交互に保持するダブルバッファと、前記カ
    ウンタの最上位ビットにより前記ダブルバッファの出力
    を交互に選択する手段と、を具備し、前記入力信号がメ
    モリ読み出し要求信号であることを特徴とする請求項1
    記載のエッジ検出回路。
  4. 【請求項4】 前記入力信号により入力データをアドレ
    ス指定されたレジスタに書き込む機能を有する回路にお
    いて、前記カウンタは2分周カウンタであり、前記排他
    的論理和回路の出力を前記アドレス指定されたレジスタ
    への書き込み検出信号として用いることを特徴とする請
    求項1記載のエッジ検出回路。
  5. 【請求項5】 非同期に与えられる入力信号をカウンタ
    により周期を長くした上でクロックで同期するステップ
    と、 同期された信号の変化を検出するステップと、 検出された信号の変化を用いて前記入力信号のカウンタ
    の周期に応じたエッジ検出を行うステップと、を含むエ
    ッジ検出方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009282808A (ja) * 2008-05-23 2009-12-03 Fujitsu Ltd 半導体回路設計支援プログラム

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009282808A (ja) * 2008-05-23 2009-12-03 Fujitsu Ltd 半導体回路設計支援プログラム
US8386989B2 (en) 2008-05-23 2013-02-26 Fujitsu Limited Semiconductor circuit design support technique

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