JP2003282470A - 基板の熱処理装置 - Google Patents

基板の熱処理装置

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JP2003282470A
JP2003282470A JP2002087029A JP2002087029A JP2003282470A JP 2003282470 A JP2003282470 A JP 2003282470A JP 2002087029 A JP2002087029 A JP 2002087029A JP 2002087029 A JP2002087029 A JP 2002087029A JP 2003282470 A JP2003282470 A JP 2003282470A
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heat
substrate
furnace
cooling
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Yoshihiro Koyama
芳弘 小山
Kozo Terajima
幸三 寺嶋
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 熱処理が終了した基板を熱処理炉内において
より速やかに冷却することができ、常に一定の冷却効果
が得られて基板間での処理の均一性を確保することがで
きる装置を提供する。 【解決手段】 熱処理炉10の光入射窓12とランプハ
ウス18のランプ20との間にシャッター板24を配設
し、熱処理時はシャッター板を退避位置に保持し、熱処
理が終了してランプへの給電停止と同時もしくはその直
前にシャッター板を退避位置から作動位置へ高速で移動
させ、ランプの余熱による熱処理炉内のウエハWへの熱
輻射をシャッター板で遮断する。退避位置に冷却板32
を配設し、作動位置から退避してきたシャッター板を冷
却する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、熱処理炉内へ半
導体ウエハ、液晶表示装置用ガラス基板、プラズマディ
スプレイパネル(PDP)用ガラス基板、フォトマスク
用ガラス基板、光ディスク用基板等の基板を1枚ずつ搬
入し光照射により基板を加熱して熱処理する基板の熱処
理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体デバイスの製造工程においては、
ランプアニール装置やCVD装置などのように、熱処理
炉内へ基板、例えば半導体ウエハを1枚ずつ搬入し基板
に光を照射するなどしてウエハを加熱し熱処理する枚葉
式の熱処理装置が、各種の工程で広く使用されている。
【0003】ところで、半導体デバイスの高集積化を図
るためには、デバイスの微細化と共に高速動作化は重要
な因子である。例えばダイオードの高速動作化には、P
N接合の深さを浅くする必要があるので、ウエハに注入
されたB、As、P等のイオンを、それが拡散しない状
態で電気的に活性化させる必要がある。そのためには、
ウエハをイオンの活性化温度まで高速で昇温(例えば1
50℃/秒)させ、昇温後に、イオンが拡散しない温度
までウエハを急速に冷却させる装置が必要になる。
【0004】ランプアニール装置は、上記のような必要
性から開発されたものであるが、このランプアニール装
置におけるウエハの冷却には、従来、加熱源であるラン
プを消灯させて自然冷却する方法が採られていた。しか
しながら、ウエハを自然冷却させる方法では、イオンの
拡散が抑制される程度にウエハを急速に冷却させること
は困難である。このような問題を解消する方法として、
ランプの消灯と同時もしくはその直前に熱処理炉の炉壁
とランプとの間にシャッター板を介在させることによ
り、ランプの消灯直後の余熱による熱処理炉内のウエハ
への熱輻射を遮断する、といった方法が提案されてい
る。図3に、その方法を実施するために使用されるラン
プアニール装置の構成例を示す。
【0005】図3は、ランプアニール装置の概略構成を
示す模式的断面図である。このランプアニール装置は、
半導体ウエハWの搬入および搬出を行なうための開口
(開口は、紙面の手前側の壁面に設けられており図示さ
れていない)を有する熱処理炉10を備えている。熱処
理炉10の開口は、シャッタ(図示せず)によって開閉
自在に閉塞される。熱処理炉10の内部には、炭化珪素
(SiC)などによって形成されたウエハ支持リング1
4が配設され、ウエハ支持リング14は、石英ガラスで
形成されたウエハ支持円筒ホルダ16の上端部に水平姿
勢で固着されている。そして、熱処理炉10内へ搬入さ
れた半導体ウエハWは、ウエハ支持リング14上に水平
姿勢で支持されるようになっている。
【0006】熱処理炉10の少なくとも上部の炉壁は、
光入射窓12となっている。光入射窓12の上部には、
それと対向して平行にランプハウス18が設置されてい
る。ランプハウス18には、ハロゲンランプ等のランプ
20が配設されており、ランプ20の背面側にはリフレ
クタ22が配設されている。ランプ20は、この例では
棒状ランプであり、互いに平行に配列された一群のラン
プ20で加熱用光源が構成されている。
【0007】光入射窓12は、赤外線透過性を有する材
料、例えば石英ガラスによって形成され、ランプハウス
18のランプ20から照射された輻射光を効率良く透過
させる。この光入射窓12とランプハウス18との間に
は、シャッター板24が配設されている。シャッター板
24は、図示しない支持・移動機構により、水平方向へ
移動可能に支持されており、図3に実線で示す作動位置
と光入射窓12とランプハウス18との間から外れた二
点差線で示す退避位置との間を往復移動させられ、特に
退避位置から作動位置へは素早く移動させられるように
なっている。このシャッター板24は、素早く移動させ
ることができるように、例えばアルミニウム、チタン等
の軽量素材で形成される。また、シャッター板24の移
動機構を制御するコントローラ(図示せず)が設けられ
ており、ウエハWの熱処理が終了してランプハウス18
のランプ20への電力供給が停止させられると同時もし
くはその直前に、コントローラからの制御信号により移
動機構が駆動され、シャッター板24が退避位置から作
動位置へ高速で移動させられる。そして、光入射窓12
とランプハウス18との間にシャッター板24が差し入
れられることにより、ランプ20の消灯直後の余熱によ
る熱処理炉10内のウエハWへの熱輻射が遮断され、こ
の結果、特に高温側においてウエハWの温度が速やかに
降下する。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】図3に示した装置で
は、シャッター板24によってランプ20の消灯直後に
おける余熱によるウエハWへの熱輻射は遮断されるが、
シャッター板24自体が熱処理炉10の周囲の温度を下
げることはない。また、連続して複数枚のウエハWの熱
処理を行っているうちに、シャッター板24がランプ2
0の消灯直後の余熱によって加熱され、シャッター板2
4の温度が次第に上昇する。この結果、シャッター板2
4から熱処理炉10内のウエハWへの熱輻射の影響によ
り、ウエハWの冷却効果が薄れる、といった問題を生じ
る。また、シャッター板24の温度変化に伴ってウエハ
Wの冷却効果が変化することにより、ウエハWの処理結
果に差を生じ、ウエハWの処理の均一性が損なわれる、
といった問題が発生する。
【0009】この発明は、以上のような事情に鑑みてな
されたものであり、熱処理が終了した基板を熱処理炉内
においてより速やかに冷却することができ、また、常に
一定の冷却効果が得られて、基板間での処理の均一性を
確保することができる基板の熱処理装置を提供すること
を目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】請求項1に係る発明は、
少なくとも上部の炉壁が光透過性材料で形成され、内部
に基板が搬入されて保持される熱処理炉と、この熱処理
炉内に保持された基板の少なくとも上面に対向して配設
され、前記光透過性材料で形成された炉壁を通して基板
に光を照射して加熱する加熱手段と、を備えた基板の熱
処理装置であって、前記熱処理炉の炉壁とその炉壁に対
向する前記加熱手段との間に配設され、加熱手段から熱
処理炉内の基板への熱輻射を遮断する余熱遮断手段と、
この余熱遮断手段を、前記熱処理炉の炉壁と前記加熱手
段との間に介在する作動位置とその作動位置から退避し
た退避位置との間で往復移動させる移動手段と、前記加
熱手段の駆動停止と同時もしくはその直前に前記余熱遮
断手段を退避位置から作動位置へ移動させるように前記
移動手段を制御する制御手段と、前記退避位置に配設さ
れ、前記作動位置から退避してきた前記余熱遮断手段を
冷却する冷却手段と、をさらに備えたことを特徴とす
る。
【0011】請求項2に係る発明は、請求項1記載の熱
処理装置において、前記余熱遮断手段がシャッター板で
あることを特徴とする。
【0012】請求項3に係る発明は、請求項1または請
求項2記載の熱処理装置において、前記冷却手段が、前
記余熱遮断手段と接触または近接して余熱遮断手段を冷
却する冷却板であることを特徴とする。
【0013】請求項4に係る発明は、請求項1または請
求項2記載の熱処理装置において、前記冷却手段が、前
記余熱遮断手段に対し冷却用気体を吹き付けて余熱遮断
手段を冷却する気体吹付けノズルであることを特徴とす
る。
【0014】請求項5に係る発明は、請求項1ないし請
求項4のいずれかに記載の熱処理装置において、前記加
熱手段が、前記熱処理炉の炉壁と平行に配置されるとと
もに互いに平行に並列した一群の棒状ランプと、前記熱
処理炉の炉壁と平行にかつ前記一群の棒状ランプと炉壁
との間に配置されるとともに互いに平行にかつ前記一群
の棒状ランプと直交するように並列した他の一群の棒状
ランプとを備えて構成されたことを特徴とする。
【0015】請求項1に係る発明の熱処理装置において
は、加熱手段により、熱処理炉内に保持された基板に光
が照射されて加熱され、基板が熱処理される。熱処理が
終了すると直ちに、加熱手段の駆動が停止するととも
に、制御手段により移動手段が制御されて、加熱手段の
駆動停止と同時もしくはその直前に余熱遮断手段が退避
位置から作動位置へ移動させられる。そして、余熱遮断
手段が熱処理炉の炉壁と加熱手段との間に介在すること
により、加熱手段の駆動停止直後の余熱による熱処理炉
内の基板への熱輻射が遮断される。この結果、特に高温
側において基板の温度が速やかに降下する。この後、余
熱遮断手段は、作動位置から退避位置へ移動させられ
る。そして、加熱手段の余熱によって余熱遮断手段の温
度が上昇していても、次の基板が熱処理炉内へ搬入され
て熱処理されている間に退避位置において冷却手段によ
って余熱遮断手段が冷却される。
【0016】次の基板の熱処理が終了すると、冷却され
た余熱遮断手段が再び退避位置から作動位置へ移動させ
られる。このように、冷却された余熱遮断手段が熱処理
炉の炉壁と加熱手段との間に置かれることにより、余熱
遮断手段自体が熱処理炉の周囲の熱を奪って熱処理炉の
温度が下げられる。このため、熱処理炉内の基板の温度
がより速やかに降下することとなる。また、作動位置へ
移動する時の余熱遮断手段は、冷却手段によって常に一
定温度に冷却されているので、連続して複数枚の基板の
熱処理を行っても、余熱遮断手段から熱処理炉内の基板
への熱輻射の影響が出ることはなく、基板の冷却効果が
薄れたり冷却効果が変化したりすることがない。
【0017】請求項2に係る発明の熱処理装置では、シ
ャッター板が熱処理炉の炉壁と加熱手段との間に介在す
ることにより、加熱手段の余熱による基板への熱輻射が
遮断される。
【0018】請求項3に係る発明の熱処理装置では、退
避位置において余熱遮断手段に冷却板が接触または近接
することにより、余熱遮断手段が熱を奪われて冷却され
る。
【0019】請求項4に係る発明の熱処理装置では、退
避位置において余熱遮断手段に対し気体吹付けノズルか
ら冷却用気体が吹き付けられることにより、余熱遮断手
段が熱を奪われて冷却される。
【0020】請求項5に係る発明の熱処理装置では、加
熱手段からの輻射熱量を大きくすることが可能である
が、加熱手段の駆動停止直後の余熱による余熱遮断手段
への熱輻射が増大して余熱遮断手段の温度上昇が大きく
なっても、冷却手段によって余熱遮断手段は一定温度に
冷却される。そして、冷却された余熱遮断手段により、
高温側において基板の温度を速やかに降下させることが
可能である。
【0021】
【発明の実施の形態】以下、この発明の好適な実施形態
について図1および図2を参照しながら説明する。
【0022】図1は、この発明の実施形態の1例を示
し、半導体ウエハ等の基板の熱処理装置の1つであるラ
ンプアニール装置の概略構成を示す模式的断面図であ
る。このランプアニール装置において基板の熱処理を行
う主要部の構成および動作は、図3に関して説明した上
記装置と同様であるので、図1においても(後述する図
2においても)図3で使用した符号を同一部材に付し
て、ここでは重複する説明を省略する。
【0023】このランプアニール装置においても、ラン
プハウス18に、ハロゲンランプ等のランプ20が配設
されており、ランプ20の背面側にはリフレクタ22が
配設されているが、この装置では、互いに平行に配列さ
れた一群の棒状のランプ20と、互いにかつ前記一群の
ランプ20と直交するように配列された他の一群の棒状
のランプ20とで加熱用光源が構成されている。
【0024】このランプアニール装置において、シャッ
ター板24を、図1に実線で示す作動位置と光入射窓1
2とランプハウス18との間から外れた二点差線で示す
退避位置との間で往復移動させる移動機構として、例え
ばリニアモータ26が使用される。移動機構についての
詳しい説明および図示は省略するが、シャッター板24
は、互いに平行に配設された一対のリニアガイド(図示
せず)に水平方向へ移動可能に支持されており、リニア
モータ26は、リニアガイドの外側にそれと平行に配設
されたリアクションレール28と、シャッター板24に
連接されシャッター板24と一体的に移動する固定子3
0とから構成されている。また、リニアモータ26を制
御するコントローラ(図示せず)が設けられており、半
導体ウエハWの熱処理が終了してランプハウス18のラ
ンプ20への電力供給が停止させられると同時もしくは
その直前に、コントローラからの制御信号によりリニア
モータ26が駆動され、シャッター板24が退避位置か
ら作動位置へ高速で移動させられるようになっている。
また、シャッター板24の停止位置の制御は、例えばエ
ンコーダ(図示せず)を用いて行われる。なお、シャッ
ター板24の移動機構は、シャッター板24を高速で退
避位置から作動位置へ移動させることができればどのよ
うなものでもよく、例えば回転モータと一対のプーリと
ワイヤとで移動機構を構成するようにしてもよい。
【0025】この装置では、退避位置に冷却板32が配
設されている。冷却板32は、例えば、内部に形成され
た通路に冷却水が流される水冷プレート、電子冷熱板、
ヒートシンクなどである。冷却板32は、退避位置に移
動してきたシャッター板24に接触または近接する上方
位置(実線で示した位置)とシャッター板24から離間
した下方位置(二点鎖線で示した位置)との間で往復移
動自在に支持され、図示しない昇降機構によって上下方
向へ移動させられる。
【0026】上記した構成を有するランプアニール装置
において、ウエハWの熱処理は、ランプハウス18のラ
ンプ20からウエハWに光が照射されてウエハWが加熱
され、通常通り行われる。この熱処理の期間中、シャッ
ター板24は、退避位置に保持されて、熱処理炉10上
部の光入射窓12とランプハウス18のランプ20との
間が全面的に開放される。ウエハWの熱処理が終了し
て、ランプ20への給電が停止されると、それと同時も
しくはその直前に、コントローラからの制御信号により
リニアモータ26が駆動され、シャッター板24が二点
鎖線で示した退避位置から実線で示した作動位置へ素早
く移動させられる。そして、シャッター板24によって
ランプ20の余熱による熱輻射が遮断されることによ
り、熱処理炉10内のウエハWにランプ20の輻射熱が
伝達されなくなる。このため、熱処理終了直後における
特に高温側において、ウエハWの温度が速やかに降下す
ることになる。その後の適当な時期に、シャッター板2
4は、作動位置から退避位置へ移動させられる。
【0027】シャッター板24が作動位置から退避位置
へ移動してくると、冷却板32が二点鎖線で示した下方
位置から実線で示した上方位置へ移動し、シャッター板
24に冷却板32が接触または近接する。そして、ラン
プ20の余熱によってシャッター板24の温度が上昇し
ていても、次のウエハWが熱処理炉10内へ搬入されて
熱処理されている間に冷却板32によってシャッター板
24が冷却される。
【0028】次のウエハWの熱処理が終了すると、一定
温度に冷却されたシャッター板24は、再び退避位置か
ら作動位置へ移動させられる。そして、上記したように
シャッター板24によってランプ20の余熱によるウエ
ハWへの熱輻射が遮断されるとともに、冷却されたシャ
ッター板24自体が熱処理炉10の周囲の熱を奪って熱
処理炉10の温度が下げられる。このため、熱処理炉1
0内のウエハWの温度がより速やかに降下する。また、
冷却板32の温度が一定となるように温度調節しておく
ことにより、作動位置へ移動する時のシャッター板24
は、常に一定温度に冷却された状態となるので、連続し
て複数枚のウエハWの熱処理を行っても、シャッター板
24から熱処理炉10内のウエハWへの熱輻射の影響が
出ることはなく、ウエハWの冷却効果が薄れたり冷却効
果が変化したりすることはない。
【0029】次に、図2は、シャッター板24を冷却す
る手段の別の構成例を示す模式的断面図である。このラ
ンプアニール装置では、退避位置に、シャッター板24
の上・下両面に対向するように気体吹付けノズル34が
それぞれ配設されている。そして、作動位置から退避位
置へ移動してきたシャッター板24に対し、その上・下
両面へ各気体吹付けノズル34から冷却用気体、例えば
乾燥空気、窒素ガス、ヘリウムガスなどがそれぞれ吹き
付けられることにより、シャッター板24が冷却される
ようになっている。それ以外の構成は、図2に示した装
置と同様である。
【0030】なお、上記した実施形態では、1枚のシャ
ッター板24を一方から作動位置へ進出させ一方の退避
位置へ退出させるようにしているが、この発明は、一対
のシャッター板を互いに反対方向へ移動させる構成の装
置にも適用することができる。また、上記した実施形態
では、熱処理炉10の上部炉壁を、石英ガラス板からな
る光入射窓12とし、その光入射窓12に対向してラン
プハウス18を配設した構成のランプアニール装置につ
いて説明したが、この発明は、熱処理炉の炉壁全体が石
英ガラスで形成され、熱処理炉の上部炉壁および下部炉
壁にそれぞれ対向してランプハウスを配設した構成のラ
ンプアニール装置についても、同様に適用可能である。
この場合には、熱処理炉の上部炉壁および下部炉壁と各
ランプハウスとの間に、それぞれシャッター板を配設す
る。
【0031】
【発明の効果】請求項1に係る発明の基板の熱処理装置
を使用すると、熱処理が終了した基板を熱処理炉内にお
いてより速やかに冷却することができ、また、常に一定
の冷却効果が得られて、基板間での処理の均一性を確保
することができる。
【0032】請求項2に係る発明の熱処理装置では、シ
ャッター板により加熱手段の余熱による基板への熱輻射
を確実に遮断することができる。
【0033】請求項3に係る発明の熱処理装置では、冷
却板を一定温度に保持しておくことにより、退避位置に
おいて余熱遮断手段を確実に一定温度に冷却することが
できる。
【0034】請求項4に係る発明の熱処理装置では、気
体吹付けノズルから吹き出す冷却用気体の温度を一定に
保っておくことにより、退避位置において余熱遮断手段
を確実に一定温度に冷却することができる。
【0035】請求項5に係る発明の熱処理装置では、加
熱手段からの輻射熱量を大きくすることが可能である
が、加熱手段の駆動停止直後の余熱による余熱遮断手段
への熱輻射が増大して余熱遮断手段の温度上昇が大きく
なっても、冷却手段によって一定温度に冷却された余熱
遮断手段により、高温側において基板の温度を速やかに
降下させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施形態の1例を示し、ランプアニ
ール装置の概略構成を示す模式的断面図である。
【図2】この発明の別の実施形態を示し、ランプアニー
ル装置の概略構成を示す模式的断面図である。
【図3】従来のランプアニール装置の概略構成を示す模
式的断面図である。
【符号の説明】
W 半導体ウエハ 10 熱処理炉 12 光入射窓 14 ウエハ支持リング 16 ウエハ支持円筒ホルダ 18 ランプハウス 20 ランプ 24 シャッター板 26 リニアモータ 32 冷却板 34 気体吹付けノズル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 寺嶋 幸三 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天神 北町1番地の1 大日本スクリーン製造株 式会社内 Fターム(参考) 5F045 BB08 DP02 EK24

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも上部の炉壁が光透過性材料で
    形成され、内部に基板が搬入されて保持される熱処理炉
    と、 この熱処理炉内に保持された基板の少なくとも上面に対
    向して配設され、前記光透過性材料で形成された炉壁を
    通して基板に光を照射して加熱する加熱手段と、を備え
    た基板の熱処理装置であって、 前記熱処理炉の炉壁とその炉壁に対向する前記加熱手段
    との間に配設され、加熱手段から熱処理炉内の基板への
    熱輻射を遮断する余熱遮断手段と、 この余熱遮断手段を、前記熱処理炉の炉壁と前記加熱手
    段との間に介在する作動位置とその作動位置から退避し
    た退避位置との間で往復移動させる移動手段と、 前記加熱手段の駆動停止と同時もしくはその直前に前記
    余熱遮断手段を退避位置から作動位置へ移動させるよう
    に前記移動手段を制御する制御手段と、 前記退避位置に配設され、前記作動位置から退避してき
    た前記余熱遮断手段を冷却する冷却手段と、をさらに備
    えたことを特徴とする基板の熱処理装置。
  2. 【請求項2】 前記余熱遮断手段がシャッター板である
    請求項1記載の基板の熱処理装置。
  3. 【請求項3】 前記冷却手段が、前記余熱遮断手段と接
    触または近接して余熱遮断手段を冷却する冷却板である
    請求項1または請求項2記載の基板の熱処理装置。
  4. 【請求項4】 前記冷却手段が、前記余熱遮断手段に対
    し冷却用気体を吹き付けて余熱遮断手段を冷却する気体
    吹付けノズルである請求項1または請求項2記載の基板
    の熱処理装置。
  5. 【請求項5】 前記加熱手段が、前記熱処理炉の炉壁と
    平行に配置されるとともに互いに平行に並列した一群の
    棒状ランプと、前記熱処理炉の炉壁と平行にかつ前記一
    群の棒状ランプと炉壁との間に配置されるとともに互い
    に平行にかつ前記一群の棒状ランプと直交するように並
    列した他の一群の棒状ランプとを備えて構成された請求
    項1ないし請求項4のいずれかに記載の基板の熱処理装
    置。
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