JP2003282273A - Display device, its manufacturing method, and electronic equipment - Google Patents

Display device, its manufacturing method, and electronic equipment

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JP2003282273A
JP2003282273A JP2002079511A JP2002079511A JP2003282273A JP 2003282273 A JP2003282273 A JP 2003282273A JP 2002079511 A JP2002079511 A JP 2002079511A JP 2002079511 A JP2002079511 A JP 2002079511A JP 2003282273 A JP2003282273 A JP 2003282273A
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JP
Japan
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layer
light emitting
cathode layer
emitting region
display device
Prior art date
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Withdrawn
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JP2002079511A
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Japanese (ja)
Inventor
Shuichi Takei
周一 武井
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a display device and electronic equipment improving environment resistance such as moisture resistance and oxidation resistance of a luminescent region and improving display characteristics and reliability. <P>SOLUTION: This display device is characterized in that the luminescent layer is sandwiched between a positive electrode layer and a negative electrode layer, a pixel part 110 including the luminescent layer is provided with the luminescent region 111 having an organic EL (electroluminescent) layer, and a dummy region 112 formed in the peripheral part of the luminescent region 111, and a negative layer 50 is formed of two-layer structure of a Ca negative electrode layer 50a covering the luminescent region 111 and the dummy region 112, and an Al negative electrode layer 50b covering the Ca negative electrode layer 50a. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、耐湿性、耐酸化性
等の耐環境性に優れ、表示特性等の経時変化が小さく信
頼性に優れた表示装置とその製造方法及び電子機器に関
するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a display device which is excellent in environmental resistance such as moisture resistance and oxidation resistance, has little change over time in display characteristics and the like, and is excellent in reliability, a manufacturing method thereof, and electronic equipment. is there.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、エレクトロルミネッセンス(以
下、ELと略記する)表示装置等の光学表示装置におい
ては、基板上に複数の回路素子、陽極、EL物質等の電
気光学物質、陰極等が積層された構成を具備しているも
のがある。具体的には、発光物質を含む発光層を陽極及
び陰極の電極層で挟んだ構成を具備しており、陽極側か
ら注入された正孔と、陰極側から注入された電子とを蛍
光能を有する発光層内で再結合し、励起状態から失括す
る際に発光する現象を利用している。
2. Description of the Related Art Conventionally, in an optical display device such as an electroluminescence (hereinafter abbreviated as EL) display device, a plurality of circuit elements, an anode, an electro-optical material such as an EL material, a cathode and the like are laminated on a substrate. Some have a different configuration. Specifically, it has a structure in which a light-emitting layer containing a light-emitting substance is sandwiched between electrode layers of an anode and a cathode, and a hole injected from the anode side and an electron injected from the cathode side have a fluorescent ability. It utilizes the phenomenon that light is recombined in the light-emitting layer that it has and emits light when it is collapsed from the excited state.

【0003】例えば、有機EL物質を用いた有機EL装
置においては、有機EL膜と直接界面を形成して電子注
入の役割を果たす陰極材料として、Ca金属等が用いら
れている。このCa金属等の陰極材料は、蒸着法あるい
はスパッタ法等により成膜されるのが通例であり、例え
ば、フルカラーディスプレイ等においては、工程及び装
置の簡便性等の理由から同一のパターンのマスクが用い
られることが多く、特に、陰極が多層構造の場合は、各
層の陰極パターンは同一になる。
For example, in an organic EL device using an organic EL substance, Ca metal or the like is used as a cathode material which directly forms an interface with the organic EL film and plays a role of electron injection. The cathode material such as Ca metal is usually formed by a vapor deposition method, a sputtering method, or the like. For example, in a full-color display or the like, a mask having the same pattern is used because of the simplicity of the process and the device. Often used, especially when the cathode has a multi-layer structure, the cathode pattern of each layer is the same.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の有機
EL装置においては、特にフルカラーディスプレイ等に
おいて顕著であるが、多層構造の陰極で各層の陰極パタ
ーンが同一である場合、陰極の端面が外気もしくは封止
エリアに直接露出することとなり、この露出部分から大
気中の酸素や水分が内部に侵入し、電気的特性が劣化す
るという問題点があった。
By the way, in a conventional organic EL device, particularly in a full color display or the like, when the cathode pattern of each layer is the same in a cathode having a multilayer structure, the end face of the cathode is exposed to the outside air or Since it is exposed directly to the sealing area, oxygen and moisture in the atmosphere penetrate into the inside from this exposed portion, and there is a problem that the electrical characteristics deteriorate.

【0005】また、従来の有機EL装置では、発光領域
の周辺部にダミー領域(非発光領域)が形成されている
が、陰極材料としてCa金属等を蒸着する場合に、発光
領域と同一のパターンを有するマスクを用いて蒸着する
と、マスクと基板上の陰極形成位置との間隔によっては
発光領域にCa金属等の陰極材料が蒸着されないおそれ
がある。このように、マスクのパターン精度により発光
領域の一部に陰極材料が蒸着されない部分が生じるとい
う問題点があった。また、発光領域上の陰極のパターン
精度により、電流、電圧の面内バラツキが周辺部に多く
発生した場合、陰極の周辺部に対応する発光領域に輝度
むらが生じるおそれがある。
Further, in the conventional organic EL device, a dummy region (non-light emitting region) is formed in the peripheral portion of the light emitting region, but when Ca metal or the like is deposited as the cathode material, the same pattern as the light emitting region is formed. When the vapor deposition is performed using the mask having the above, the cathode material such as Ca metal may not be vapor deposited in the light emitting region depending on the distance between the mask and the cathode forming position on the substrate. As described above, there is a problem that the cathode material is not vapor-deposited in a part of the light emitting region due to the pattern accuracy of the mask. Further, due to the pattern accuracy of the cathode on the light emitting region, when a large amount of in-plane variation of current and voltage occurs in the peripheral portion, there is a possibility that uneven brightness may occur in the light emitting region corresponding to the peripheral portion of the cathode.

【0006】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
であって、発光領域の耐湿性、耐酸化性等の耐環境性を
向上させるとともに、表示特性及び信頼性を向上させる
ことが可能な表示装置とその製造方法及び電子機器を提
供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above problems, and it is possible to improve the environment resistance such as the humidity resistance and the oxidation resistance of the light emitting region and to improve the display characteristics and the reliability. An object of the present invention is to provide a display device, a manufacturing method thereof, and an electronic device.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の表示装置は、陽極層と陰極層との間に発光
層が挟持され、該発光層を含む画素部を有する発光領域
と、該発光領域の周辺部に形成された非発光領域とを備
えてなる表示装置において、前記陰極層は、前記発光領
域を覆うとともに、前記非発光領域の少なくとも前記発
光領域側の内周部を覆うように形成されていることを特
徴とする。
In order to solve the above-mentioned problems, a display device of the present invention has a light emitting region in which a light emitting layer is sandwiched between an anode layer and a cathode layer, and a pixel portion including the light emitting layer is provided. And a non-light emitting region formed in the peripheral portion of the light emitting region, wherein the cathode layer covers the light emitting region and at least an inner peripheral portion of the non light emitting region on the light emitting region side. It is characterized in that it is formed so as to cover.

【0008】この表示装置では、前記陰極層を、前記発
光領域を覆うとともに、前記非発光領域の少なくとも前
記発光領域側の内周部を覆うように形成したことによ
り、マスクのパターン精度に係わらず、発光領域全域が
陰極層により覆われることとなり、この発光領域に外部
から大気中の酸素や水分が侵入するおそれがなくなり、
表示特性、信頼性が向上する。また、発光領域の一部に
マスクのパターン精度等に起因する陰極材料が形成され
ない領域が生じる等の問題が生じるおそれがなくなり、
製造工程上の製造歩留まりが向上し、表示装置の製品と
しての価格を低下させることが可能になる。
In this display device, the cathode layer is formed so as to cover the light emitting region and at least the inner peripheral portion of the non-light emitting region on the light emitting region side, regardless of the pattern accuracy of the mask. , The entire light emitting region is covered with the cathode layer, and there is no possibility that oxygen and moisture in the atmosphere will enter the light emitting region from the outside.
Display characteristics and reliability are improved. Further, there is no possibility of causing a problem such as a region where the cathode material is not formed due to the pattern accuracy of the mask in a part of the light emitting region,
The manufacturing yield in the manufacturing process is improved, and the price of the display device as a product can be reduced.

【0009】本発明の表示装置は、前記陰極層を、少な
くとも第1の陰極層と、該第1の陰極層上に形成された
第2の陰極層とを備えたものとし、前記第1の陰極層
を、前記発光領域を覆うとともに、前記非発光領域の少
なくとも前記発光領域側の内周部を覆うように形成し、
前記第2の陰極層を、前記第1の陰極層を覆うように形
成することを特徴とする。
In the display device of the present invention, the cathode layer includes at least a first cathode layer and a second cathode layer formed on the first cathode layer, and the first cathode layer is provided. A cathode layer is formed so as to cover the light emitting region and to cover at least the inner peripheral portion of the non-light emitting region on the light emitting region side,
It is characterized in that the second cathode layer is formed so as to cover the first cathode layer.

【0010】この表示装置では、前記陰極層を、少なく
とも第1の陰極層と第2の陰極層とを備えた2層構造と
することにより、発光領域全域を2層構造の陰極層によ
り覆うことで、この発光領域への外部からの大気中の酸
素や水分の侵入が効果的に防止され、表示特性、信頼性
がさらに向上する。
In this display device, the cathode layer has a two-layer structure including at least a first cathode layer and a second cathode layer, so that the entire light emitting region is covered with the cathode layer having a two-layer structure. Thus, invasion of oxygen and moisture in the atmosphere into the light emitting region from the outside is effectively prevented, and the display characteristics and reliability are further improved.

【0011】本発明の表示装置は、前記第1の陰極層
を、前記発光領域及び前記非発光領域を覆うように形成
し、前記第2の陰極層を、前記第1の陰極層を覆うよう
に形成することを特徴とする。
In the display device of the present invention, the first cathode layer is formed so as to cover the light emitting region and the non-light emitting region, and the second cathode layer is formed so as to cover the first cathode layer. It is characterized in that it is formed.

【0012】この表示装置では、前記第1の陰極層に
て、前記発光領域及び前記非発光領域を覆うことによ
り、発光領域及び非発光領域全体が2層構造の陰極層で
覆われることとなり、この発光領域への外部からの大気
中の酸素や水分の侵入がさらに効果的に防止され、表示
特性、信頼性が格段に向上する。
In this display device, by covering the light emitting region and the non-light emitting region with the first cathode layer, the entire light emitting region and the non-light emitting region are covered with the cathode layer having a two-layer structure, Invasion of atmospheric oxygen and moisture from the outside into the light emitting region is more effectively prevented, and display characteristics and reliability are significantly improved.

【0013】前記第1の陰極層を、Ca金属またはCa
を主成分とするCa基合金とし、前記第2の陰極層を、
Al金属またはAlを主成分とするAl基合金とするの
が好ましい。前記発光層は、電気光学物質を含む発光本
体層を備えていることが好ましい。前記電気光学物質
は、有機EL物質であることが好ましい。
The first cathode layer is made of Ca metal or Ca.
And a Ca-based alloy containing as a main component, the second cathode layer,
It is preferable to use an Al metal or an Al-based alloy containing Al as a main component. The light emitting layer preferably comprises a light emitting body layer containing an electro-optic material. The electro-optical material is preferably an organic EL material.

【0014】本発明の表示装置の製造方法は、陽極層と
陰極層との間に発光層が挟持され、該発光層を含む画素
部を有する発光領域と、該発光領域の周辺部に形成され
た非発光領域とを備えてなる表示装置の製造方法であっ
て、前記陰極層を、前記発光領域を覆うとともに、前記
非発光領域の少なくとも前記発光領域側の内周部を覆う
ように形成することを特徴とする。
According to the method of manufacturing a display device of the present invention, a light emitting layer is sandwiched between an anode layer and a cathode layer, and a light emitting region having a pixel portion including the light emitting layer and a peripheral portion of the light emitting region are formed. And a non-light emitting region, wherein the cathode layer is formed to cover the light emitting region and at least an inner peripheral portion of the non-light emitting region on the light emitting region side. It is characterized by

【0015】この製造方法では、前記陰極層を、前記発
光領域を覆うとともに、前記非発光領域の少なくとも前
記発光領域側の内周部を覆うように形成することによ
り、発光領域全域を陰極層により確実に覆うことが可能
になり、発光領域に外部から大気中の酸素や水分が侵入
するおそれがなく、しかも表示特性、信頼性が向上した
表示装置を容易に作製することが可能になる。また、マ
スクのパターン精度に係わらず、発光領域の一部にマス
クのパターン精度等に起因する陰極材料が形成されない
領域が生じる等の問題が生じるおそれがなくなり、製造
工程上の製造歩留まりが向上し、表示装置の製造コスト
を低減することが可能になる。
In this manufacturing method, the cathode layer is formed so as to cover the light emitting region and at least the inner peripheral portion of the non-light emitting region on the light emitting region side, so that the entire light emitting region is covered by the cathode layer. Since it is possible to reliably cover the light emitting region, it is possible to easily manufacture a display device in which there is no possibility that oxygen and moisture in the atmosphere will enter the light emitting region from the outside and which has improved display characteristics and reliability. In addition, regardless of the pattern accuracy of the mask, there is no risk of problems such as a region where the cathode material is not formed due to the pattern accuracy of the mask in a part of the light emitting region, and the manufacturing yield in the manufacturing process is improved. Therefore, the manufacturing cost of the display device can be reduced.

【0016】本発明の表示装置の製造方法は、前記陰極
層を、少なくとも第1の陰極層と、該第1の陰極層上に
形成される第2の陰極層とにより構成し、前記第1の陰
極層を、前記発光領域を覆うとともに、前記非発光領域
の少なくとも前記発光領域側の内周部を覆うように形成
し、前記第2の陰極層を、前記第1の陰極層を覆うよう
に形成することを特徴とする。
In the method for manufacturing a display device of the present invention, the cathode layer comprises at least a first cathode layer and a second cathode layer formed on the first cathode layer, and the first cathode layer is formed. Of the cathode layer is formed so as to cover the light emitting region and at least the inner peripheral portion of the non-light emitting region on the side of the light emitting region, and the second cathode layer covers the first cathode layer. It is characterized in that it is formed.

【0017】この製造方法では、前記第2の陰極層を、
前記第1の陰極層を覆うように形成することにより、前
記発光領域を2層構造の陰極層で確実に覆うことで、発
光領域への外部からの大気中の酸素や水分の侵入を効果
的に防止し、しかも、表示特性、信頼性をさらに向上さ
せた表示装置を容易に作製することが可能になる。
In this manufacturing method, the second cathode layer is
By forming the cathode layer so as to cover the first cathode layer, the cathode region having a two-layer structure is surely covered with the cathode region, so that oxygen and moisture in the atmosphere from the outside can be effectively introduced into the emission region. In addition, it is possible to easily manufacture a display device that has further improved display characteristics and reliability.

【0018】本発明の表示装置の製造方法は、前記第1
の陰極層を、前記発光領域及び前記非発光領域を覆うよ
うに形成し、前記第2の陰極層を、前記第1の陰極層を
覆うように形成することを特徴とする。
The method of manufacturing a display device according to the present invention is the first method described above.
Is formed so as to cover the light emitting region and the non-light emitting region, and the second cathode layer is formed so as to cover the first cathode layer.

【0019】この製造方法では、発光領域及び非発光領
域全体を2層構造の陰極層で覆うことで、発光領域への
外部からの大気中の酸素や水分の侵入をさらに効果的に
防止し、しかも、表示特性、信頼性を格段に向上させた
表示装置を容易に作製することが可能になる。
In this manufacturing method, by covering the entire light emitting region and the non-light emitting region with a cathode layer having a two-layer structure, invasion of atmospheric oxygen and moisture from the outside into the light emitting region can be more effectively prevented. In addition, it becomes possible to easily manufacture a display device having significantly improved display characteristics and reliability.

【0020】本発明の電子機器は、本発明の表示装置を
備えたことを特徴とする。表示部に本発明の表示装置を
用いた電子機器としては、例えば、携帯電話機、移動体
情報端末、時計、ワープロ、パソコン等の情報処理装置
等を例示することができる。このように電子機器の表示
部に、本発明の表示装置を採用することで、表示特性、
信頼性に優れた電子機器を提供することが可能となる。
The electronic equipment of the present invention is characterized by including the display device of the present invention. Examples of electronic devices using the display device of the present invention in the display unit include information processing devices such as mobile phones, mobile information terminals, watches, word processors, and personal computers. Thus, by adopting the display device of the present invention in the display unit of the electronic device, the display characteristics,
It is possible to provide an electronic device with excellent reliability.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】本発明の表示装置とその製造方法
及び電子機器の各実施の形態について、図面を参照して
説明する。なお、係る実施の形態は、本発明の一態様を
示すものであり、この発明を限定するものではなく、本
発明の技術的思想の範囲内で任意に変更可能である。な
お、以下に示す各図においては、各層や各部材を図面上
で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材ご
とに縮尺を異ならせてある。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of a display device, a method of manufacturing the same, and electronic equipment of the present invention will be described with reference to the drawings. It should be noted that such an embodiment represents one aspect of the present invention and does not limit the present invention, and can be arbitrarily modified within the scope of the technical idea of the present invention. In each drawing shown below, the scales are different for each layer and each member in order to make each layer and each member recognizable in the drawing.

【0022】「第1の実施形態」本発明の第1の実施形
態として、電気光学物質の一例たる電界発光型物質、中
でも有機エレクトロルミネッセンス(EL)材料を用い
た有機EL表示装置について説明する図1は、本実施形
態に係る有機EL表示装置の構成を模式的に示す平面
図、図2は図1のA−B線に沿う断面図、図3は図2の
要部拡大断面図、図4は図1のC−D線に沿う断面図で
ある。これらの図に示した有機EL表示装置101は、
スイッチング素子として薄膜トランジスタ(TFT:Th
in Film Transistor)を用いたアクティブマトリクス方
式の有機EL表示装置である。
[First Embodiment] As a first embodiment of the present invention, a diagram for explaining an organic electroluminescence (EL) display device using an electroluminescent substance which is an example of an electro-optical substance, and in particular, an organic electroluminescence (EL) material. 1 is a plan view schematically showing the configuration of the organic EL display device according to the present embodiment, FIG. 2 is a sectional view taken along the line AB of FIG. 1, and FIG. 4 is a sectional view taken along the line C-D in FIG. 1. The organic EL display device 101 shown in these figures is
As a switching element, a thin film transistor (TFT: Th
It is an organic EL display device of an active matrix system using an in film transistor.

【0023】有機EL表示装置101は、画素電極23
(図2参照)にデータ信号を書き込むか否かを制御する
スイッチング手段としてのTFT(図3に示すTFT2
4であって、画素用TFTともいう)に加え、走査線駆
動回路80及び検査回路90を構成するスイッチング手
段の駆動手段たるTFT(駆動回路用TFTともいう)
が基板20上に形成されている。また、この有機EL表
示装置101の画素部110は、パネル表示に寄与する
発光領域となる実画素領域111と、実画素領域111
の周辺部に形成された表示に寄与しない非発光領域であ
るダミー領域112とを備えている。
The organic EL display device 101 has a pixel electrode 23.
(See FIG. 2) TFT (TFT2 shown in FIG. 3 as a switching means for controlling whether or not to write a data signal.
4, which is also referred to as a pixel TFT), and a TFT (also referred to as a drive circuit TFT) that is a drive unit of a switching unit included in the scanning line drive circuit 80 and the inspection circuit 90.
Are formed on the substrate 20. Further, the pixel section 110 of the organic EL display device 101 includes an actual pixel area 111, which is a light emitting area that contributes to panel display, and an actual pixel area 111.
And a dummy region 112 which is a non-light emitting region which does not contribute to the display and which is formed in the peripheral portion of.

【0024】有機EL表示装置101は、図2及び図4
に示すように、相互に対向するアクティブマトリクス基
板20と、封止基板(対向基板)30とが封止樹脂40
を介して貼り合わされるとともに、両基板20,30と
封止樹脂40とに囲まれた領域に、乾燥剤45が挿入さ
れた構成となっており、さらに両基板20,30間に形
成された空間にはN2ガスが充填されてN2ガス充填層4
6を形成している。これらアクティブマトリクス基板2
0及び封止基板30は、ガラス、石英、プラスチックと
いった光透過性を有する絶縁性の板状部材が用いられ
る。
The organic EL display device 101 is shown in FIGS.
As shown in FIG. 3, the active matrix substrate 20 and the sealing substrate (counter substrate) 30 facing each other are formed of a sealing resin 40.
It is configured such that the desiccant 45 is inserted into a region surrounded by both the substrates 20 and 30 and the sealing resin 40 while being bonded to each other via the substrate 20, and further formed between the substrates 20 and 30. the space is filled with N 2 gas N 2 gas-filled layer 4
6 is formed. These active matrix substrates 2
0 and the sealing substrate 30 are made of a light-transmissive insulating plate member such as glass, quartz, or plastic.

【0025】また、アクティブマトリクス基板20上に
は、図3に示すように、陽極(画素電極)23と、この
陽極23から正孔を注入/輸送可能な正孔注入/輸送層
70と、電気光学物質の一つである有機EL物質を備え
る有機EL層(以下、発光層ともいう)60とがこの順
に形成され、さらに有機EL層60の上層には、有機E
L層60に対して電子を注入し易くする緩衝層たるバッ
ファ層222を介して陰極層50が形成されている。
As shown in FIG. 3, on the active matrix substrate 20, an anode (pixel electrode) 23, a hole injection / transport layer 70 capable of injecting / transporting holes from the anode 23, and an electric layer. An organic EL layer (hereinafter, also referred to as a light emitting layer) 60 including an organic EL material, which is one of optical materials, is formed in this order, and an organic EL layer 60 is formed on the organic EL layer 60.
The cathode layer 50 is formed via a buffer layer 222 which is a buffer layer that facilitates injection of electrons into the L layer 60.

【0026】この陰極層50は、図1、図2及び図4に
示すように、実画素領域111及びダミー領域112の
総面積より広い面積とされてこれら実画素領域111及
びダミー領域112を覆うように形成された略矩形状の
カルシウム(Ca)陰極層50a(第1の陰極層)と、
このCa陰極層50aより広い面積とされて該Ca陰極
層50aを覆うように形成された略矩形状のアルミニウ
ム(Al)陰極層50b(第2の陰極層)とからなる2
層構造とされている。
As shown in FIGS. 1, 2 and 4, the cathode layer 50 has a larger area than the total area of the actual pixel region 111 and the dummy region 112 and covers the actual pixel region 111 and the dummy region 112. A substantially rectangular calcium (Ca) cathode layer 50a (first cathode layer) formed as described above,
A substantially rectangular aluminum (Al) cathode layer 50b (second cathode layer) formed to cover the Ca cathode layer 50a in a larger area than the Ca cathode layer 50a;
It has a layered structure.

【0027】Ca陰極層50aは、Ca金属またはCa
を主成分とするCa基合金により構成されている。Ca
基合金としては、例えば、Caを90重量%、Mgを1
0重量%含有するCa−Mg合金、Ca及びそれ以外の
アルカリ土類金属(Mg,Sr,Ba等)との合金が好
適に用いられる。このCa陰極層50aは、Ca金属ま
たはCa基合金を蒸発源とする蒸着法、またはCa金属
またはCa基合金のターゲット材を用いたスパッタリン
グ法、あるいはCa含有有機ガスを反応性ガスとして用
いるCVD法等により成膜することができる。
The Ca cathode layer 50a is made of Ca metal or Ca.
It is composed of a Ca-based alloy containing as a main component. Ca
As the base alloy, for example, 90% by weight of Ca and 1% of Mg
A Ca-Mg alloy containing 0 wt% and an alloy with Ca and other alkaline earth metals (Mg, Sr, Ba, etc.) are preferably used. The Ca cathode layer 50a is formed by a vapor deposition method using Ca metal or a Ca-based alloy as an evaporation source, a sputtering method using a target material of a Ca metal or a Ca-based alloy, or a CVD method using a Ca-containing organic gas as a reactive gas. And the like.

【0028】Al陰極層50bは、Al金属またはAl
を主成分とするAl基合金により構成されている。Al
基合金としては、例えば、Alを97重量%、Crを3
重量%含有するAl−Cr合金が好適に用いられる。こ
のAl陰極層50bは、Al金属またはAl基合金を蒸
発源とする蒸着法、またはAl金属またはAl基合金の
ターゲット材を用いたスパッタリング法、あるいはAl
含有有機ガスを反応性ガスとして用いるCVD法等によ
り成膜することができる。なお、ここでは第2の陰極層
としてAl陰極層50bを用いたが、Al以外の金属
層、例えば、Ag層、Mg−Ag合金層等を用いても同
様の効果を得ることができる。
The Al cathode layer 50b is made of Al metal or Al.
It is composed of an Al-based alloy containing as a main component. Al
As the base alloy, for example, 97 wt% Al and 3 Cr
An Al-Cr alloy containing wt% is preferably used. The Al cathode layer 50b is formed by a vapor deposition method using Al metal or an Al-based alloy as an evaporation source, a sputtering method using a target material of Al metal or an Al-based alloy, or Al.
A film can be formed by a CVD method using the contained organic gas as a reactive gas. Although the Al cathode layer 50b is used as the second cathode layer here, the same effect can be obtained by using a metal layer other than Al, such as an Ag layer or a Mg-Ag alloy layer.

【0029】ここで、図1に示すように、画素用TFT
24(図3参照)を駆動するための走査線駆動回路80
は、アクティブマトリクス基板20上に設けられてい
る。一方、データ線駆動回路100はデータドライバI
Cとして外付けで設けられている。もちろん、同一アク
ティブマトリクス基板20にデータ線駆動回路100を
設けることも可能である。また、検査回路90は、この
有機EL表示装置101の作動状況を検査するための回
路であって、例えば該検査結果を外部に出力するための
検査情報出力手段を備えている。
Here, as shown in FIG. 1, a pixel TFT
24 (see FIG. 3) for scanning line drive circuit 80
Are provided on the active matrix substrate 20. On the other hand, the data line driving circuit 100 includes the data driver I
It is provided externally as C. Of course, the data line drive circuit 100 can be provided on the same active matrix substrate 20. The inspection circuit 90 is a circuit for inspecting the operation status of the organic EL display device 101, and includes, for example, inspection information output means for outputting the inspection result to the outside.

【0030】これら走査線駆動回路80及びデータ線駆
動回路100は、走査線及びデータ線に導通する信号の
出力制御を行う走査制御手段及びデータ制御手段として
構成され、これら走査線及びデータ線が上記画素用TF
T24(図3参照)に接続されている。すなわち、走査
線駆動回路80及びデータ線駆動回路100からの作動
指令信号に基づいて画素用TFT24(図3参照)が作
動し、該画素用TFT24が画素電極23への通電制御
を行っている。
The scanning line drive circuit 80 and the data line drive circuit 100 are configured as a scanning control means and a data control means for controlling the output of a signal conducted to the scanning line and the data line. TF for pixels
It is connected to T24 (see FIG. 3). That is, the pixel TFT 24 (see FIG. 3) operates based on the operation command signals from the scanning line drive circuit 80 and the data line drive circuit 100, and the pixel TFT 24 controls the energization of the pixel electrode 23.

【0031】走査線駆動回路80及び検査回路90の駆
動電圧は、所定の電源部から駆動電圧導通部310(図
2参照)及び駆動電圧導通部340(図4参照)を介し
て印加されている。また、これら走査線駆動回路80及
び検査回路90への駆動制御信号及び駆動電圧は、この
有機EL表示装置101の作動制御を司る所定のメイン
ドライバ等から駆動制御信号導通部320(図2参照)
及び駆動電圧導通部350(図4参照)を介して送信及
び印加されるようになっている。なお、この場合の駆動
制御信号とは、走査線駆動回路80及び検査回路90が
信号を出力する際の制御に関連するメインドライバ等か
らの指令信号である。
The drive voltages of the scanning line drive circuit 80 and the inspection circuit 90 are applied from a predetermined power source section through the drive voltage conducting section 310 (see FIG. 2) and the drive voltage conducting section 340 (see FIG. 4). . The drive control signal and the drive voltage to the scanning line drive circuit 80 and the inspection circuit 90 are supplied from a predetermined main driver or the like which controls the operation of the organic EL display device 101 to the drive control signal conducting section 320 (see FIG. 2).
And is transmitted and applied via the drive voltage conducting unit 350 (see FIG. 4). The drive control signal in this case is a command signal from the main driver or the like related to control when the scanning line drive circuit 80 and the inspection circuit 90 output signals.

【0032】ここで、表示領域内において実画素部11
1に対応して設けられた画素用TFT24の近傍の構成
について、図3に基づき説明する。図3に示すように、
アクティブマトリクス基板20の表面には、SiO2
主体とする下地保護層281を下地として、その上層に
はシリコン層241が形成されている。このシリコン層
241の表面は、SiO2及び/又はSiNを主体とす
るゲート絶縁層282によって覆われている。
Here, in the display area, the actual pixel portion 11
The configuration in the vicinity of the pixel TFT 24 provided corresponding to No. 1 will be described with reference to FIG. As shown in FIG.
On the surface of the active matrix substrate 20, a base protective layer 281 composed mainly of SiO 2 is used as a base, and a silicon layer 241 is formed thereover. The surface of the silicon layer 241 is covered with a gate insulating layer 282 mainly composed of SiO 2 and / or SiN.

【0033】そして、このシリコン層241のうち、ゲ
ート絶縁層282を挟んでゲート電極242と重なる領
域がチャネル領域241aとされている。なお、このゲ
ート電極242は走査線の一部である。一方、シリコン
層241を覆い、ゲート電極242が形成されたゲート
絶縁層282の表面は、SiO2を主成分とする第1層
間絶縁層283によって覆われている。なお、本実施形
態において、「主体」とする成分とは、構成成分のうち
最も含有率の高い成分を指すこととする。
A region of the silicon layer 241 that overlaps with the gate electrode 242 with the gate insulating layer 282 sandwiched therebetween serves as a channel region 241a. The gate electrode 242 is a part of the scanning line. On the other hand, the surface of the gate insulating layer 282 which covers the silicon layer 241 and on which the gate electrode 242 is formed is covered with the first interlayer insulating layer 283 whose main component is SiO 2 . In addition, in the present embodiment, the “main component” component refers to a component having the highest content rate among the constituent components.

【0034】また、シリコン層241のうち、チャネル
領域241aのソース側には低濃度ソース領域241b
及び高濃度ソース領域241Sが設けられる一方、チャ
ネル領域241aのドレイン側には低濃度ドレイン領域
241c及び高濃度ドレイン領域241Dが設けられ
て、いわゆるLDD(Light Doped Drain)構造となっ
ている。これらのうち、高濃度ソース領域241Sは、
ゲート絶縁層282と第1層間絶縁層283とに亙って
開孔するコンタクトホール243aを介して、ソース電
極243に接続されている。このソース電極243は、
上述したデータ線(図3における紙面垂直方向に延在す
る)の一部として構成される。一方、高濃度ドレイン領
域241Dは、ゲート絶縁層282と第1層間絶縁層2
83とに亙って開孔するコンタクトホール244aを介
して、ソース電極243と同一層からなるドレイン電極
244に接続されている。
In the silicon layer 241, a low concentration source region 241b is formed on the source side of the channel region 241a.
While the high-concentration source region 241S is provided, the low-concentration drain region 241c and the high-concentration drain region 241D are provided on the drain side of the channel region 241a to form a so-called LDD (Light Doped Drain) structure. Of these, the high concentration source region 241S is
It is connected to the source electrode 243 through a contact hole 243a which is opened over the gate insulating layer 282 and the first interlayer insulating layer 283. The source electrode 243 is
It is configured as a part of the data line described above (extending in the direction perpendicular to the paper surface of FIG. 3). On the other hand, the high-concentration drain region 241D includes the gate insulating layer 282 and the first interlayer insulating layer 2
The drain electrode 244, which is formed of the same layer as the source electrode 243, is connected to the drain electrode 244 via a contact hole 244a which is opened over the area 83.

【0035】ソース電極243及びドレイン電極244
が形成された第1層間絶縁層283の上層は、例えばア
クリル系の樹脂成分を主体とする第2層間絶縁層284
によって覆われている。この第2層間絶縁層284は、
アクリル系の絶縁膜以外の材料、例えば、SiN、Si
2等を用いることもできる。そして、ITOからなる
画素電極23が、この第2層間絶縁層284の面上に形
成されるとともに、当該第2層間絶縁層284に設けら
れたコンタクトホール23aを介してドレイン電極24
4に接続されている。すなわち、画素電極23は、ドレ
イン電極244を介して、シリコン層241の高濃度ド
レイン領域241Dに接続されている。
Source electrode 243 and drain electrode 244
The upper layer of the first interlayer insulating layer 283 on which is formed is, for example, a second interlayer insulating layer 284 mainly composed of an acrylic resin component.
Is covered by. The second interlayer insulating layer 284 is
Materials other than acrylic insulating film, such as SiN and Si
O 2 or the like can also be used. Then, the pixel electrode 23 made of ITO is formed on the surface of the second interlayer insulating layer 284, and the drain electrode 24 is formed through the contact hole 23 a provided in the second interlayer insulating layer 284.
4 is connected. That is, the pixel electrode 23 is connected to the high concentration drain region 241D of the silicon layer 241 via the drain electrode 244.

【0036】なお、走査線駆動回路80及び検査回路9
0に含まれるTFT(駆動回路用TFT)、すなわち、
例えばこれらの駆動回路のうち、シフトレジスタに含ま
れるインバータを構成するNチャネル型又はPチャネル
型のTFTは、画素電極23と接続されていない点を除
いて上記TFT24と同様の構造とされている。
The scanning line drive circuit 80 and the inspection circuit 9
TFT included in 0 (TFT for drive circuit), that is,
For example, of these drive circuits, the N-channel type or P-channel type TFT which constitutes the inverter included in the shift register has the same structure as the TFT 24 except that it is not connected to the pixel electrode 23. .

【0037】画素電極23は、図2及び図4に示すよう
に、紙面左右方向及び紙面垂直方向に相互に離間して表
示領域に対応するように形成されている。また、画素電
極23が形成された第2層間絶縁層284の表面は、画
素電極23と、例えばSiO 2等の親液性材料を主体と
する親液性制御層25と、アクリルやポリイミド等から
なる有機バンク層221とによって覆われている。そし
て、画素電極23には親液性制御層25に設けられた開
口部25a、及び有機バンク221に設けられた開口部
221aの開口内部に、正孔注入/輸送層70と、有機
EL層60とが画素電極23側からこの順で積層されて
いる。なお、本実施形態における親液性制御層25の
「親液性」とは、少なくとも有機バンク層221を構成
するアクリル、ポリイミド等の材料と比べて親液性が高
いことを意味するものとする。
The pixel electrode 23 is formed as shown in FIGS.
Are separated from each other in the horizontal direction of the paper and in the direction perpendicular to the paper.
It is formed so as to correspond to the display area. Also, the pixel
The surface of the second interlayer insulating layer 284 on which the pole 23 is formed is
Elementary electrode 23 and, for example, SiO 2Lyophilic materials such as
From the lyophilic control layer 25 and acrylic or polyimide
Is covered with the organic bank layer 221. That
The pixel electrode 23 has an opening provided on the lyophilic control layer 25.
Mouth 25a and opening provided in the organic bank 221
Inside the opening of 221a, the hole injection / transport layer 70 and the organic
The EL layer 60 is laminated in this order from the pixel electrode 23 side.
There is. In addition, the lyophilic control layer 25 in the present embodiment
“Lyophile” means at least the organic bank layer 221.
Higher lyophilicity than materials such as acrylic and polyimide
It means no.

【0038】正孔注入/輸送層70と、有機EL層60
との上層は、バッファ層222と、カルシウム層50a
及びアルミニウム層50bの2層構造である陰極層50
とによって覆われている。有機EL表示装置101は、
基本的に以上の構成を備えているが、図2では、封止基
板30を用いて乾燥剤45を使用することにより高寿命
化を図った構成となっている。
Hole injection / transport layer 70 and organic EL layer 60
And the upper layer of the buffer layer 222 and the calcium layer 50a.
And a cathode layer 50 having a two-layer structure of an aluminum layer 50b.
Covered by and. The organic EL display device 101 is
Basically, the above configuration is provided, but in FIG. 2, the life is extended by using the desiccant 45 with the sealing substrate 30.

【0039】本実施形態の有機EL表示装置101は、
図5に示すように、カラー表示を行うべく、各有機EL
層60が、その発光波長帯域が光の三原色にそれぞれ対
応して形成されている。例えば、発光波長帯域が赤色に
対応した赤色用有機EL層60Rを備える赤色表示領域
Rと、緑色に対応した緑色用有機EL層60Gを備える
緑色表示領域Gと、青色に対応した青色用有機EL層6
0Bを備える青色表示領域Bとをドット毎に備え、これ
ら表示領域R,G,Bをもって1画素が構成されてい
る。また、各色表示領域の境界には、金属クロムをスパ
ッタリング等にて成膜したBM(ブラックマトリクス)
が、有機バンク層221と親液性化制御層25との間に
位置して形成されている。
The organic EL display device 101 of this embodiment is
As shown in FIG. 5, each organic EL is used for color display.
The layer 60 is formed so that its emission wavelength band corresponds to each of the three primary colors of light. For example, a red display region R including a red organic EL layer 60R whose emission wavelength band corresponds to red, a green display region G including a green organic EL layer 60G corresponding to green, and a blue organic EL corresponding to blue. Layer 6
A blue display area B including 0B is provided for each dot, and these display areas R, G, and B form one pixel. In addition, BM (black matrix) formed by depositing metallic chromium on the boundary of each color display region by sputtering or the like.
Are formed between the organic bank layer 221 and the lyophilic control layer 25.

【0040】各色発光領域R,G,Bにおいては、図5
に示すように、各バッファ層222R,222G,22
2Bの構成主体成分が、それぞれCaF2,BaF2,L
iFとされ、各色発光領域毎にその構成主体成分が異な
るものとされている。したがって、各色発光領域毎に単
位時間当りの電子注入量が異なる構成とされ、発光波長
帯域の異なる各色領域毎に輝度、発光効率のバランスが
とれた構成とされている。
In the respective color light emitting regions R, G and B, as shown in FIG.
, Each buffer layer 222R, 222G, 22
The main constituent components of 2B are CaF 2 , BaF 2 , and L, respectively.
iF, and the constituent main component is different for each color light emitting region. Therefore, the amount of electrons injected per unit time is different for each color light emitting region, and the luminance and the luminous efficiency are balanced for each color region having a different emission wavelength band.

【0041】例えば、相対的に短波長の発光領域である
青色発光領域Bでは、電子注入量を相対的に多くするこ
とが可能な構成主体成分、例えばLiFを青色用バッフ
ァ層222Bとして用い、相対的に長波長の発光領域で
ある緑色発光領域Gでは、電子注入量を相対的に少なく
することが可能な構成主体成分、例えばBaF2を緑色
用バッファ層222Gとして用い、さらに相対的に長波
長の発光領域である赤色発光領域Rでは、電子注入量を
さらに相対的に少なくすることが可能な構成主体成分、
例えばCaF2を赤色用バッファ層222Rとして、各
色発光領域毎に電子注入率(単位時間当りの電子注入
量)のバランスをとっている。したがって、各色発光領
域毎に過剰の電子注入を抑制することができ、ひいては
各色発光領域R,G,Bにおける有機EL層60の寿命
のバラツキを抑えることが可能となり、EL表示装置1
01の寿命を向上させることが可能となる。
For example, in the blue light emitting region B, which is a light emitting region of a relatively short wavelength, a constituent main component capable of relatively increasing the amount of electron injection, such as LiF, is used as the blue buffer layer 222B, In the green emission region G, which is a long-wavelength emission region, a constituent main component capable of relatively reducing the amount of electron injection, for example, BaF 2 is used as the green buffer layer 222G, and a relatively long wavelength emission region is used. In the red light emitting region R, which is the light emitting region of, the constituent main component capable of further reducing the amount of electron injection,
For example, CaF 2 is used as the red buffer layer 222R to balance the electron injection rate (electron injection amount per unit time) for each color light emitting region. Therefore, it is possible to suppress excessive electron injection for each color light emitting region, and it is possible to suppress variation in the life of the organic EL layer 60 in each color light emitting region R, G, B, and thus the EL display device 1
It is possible to improve the life of No. 01.

【0042】また、本実施形態では、図5に示すよう
に、バッファ層222を画素全面、すなわち各ドットに
跨って形成しているが、例えば図6に示すように、各有
機バンク層221の間に形成される凹状区画領域223
のみに、すなわち画素電極23に所定の膜厚で積層して
形成することも可能である。この場合、各バッファ層2
22R,222G,222Bを簡便に蒸着させることが
可能である。
Further, in the present embodiment, as shown in FIG. 5, the buffer layer 222 is formed over the entire surface of the pixel, that is, over each dot. However, for example, as shown in FIG. 6, each of the organic bank layers 221 is formed. Recessed partition area 223 formed between
It is also possible to form it only, that is, by stacking it on the pixel electrode 23 with a predetermined film thickness. In this case, each buffer layer 2
22R, 222G, 222B can be easily deposited.

【0043】また、バッファ層222においては、各色
発光領域R,G,Bについて異なる構成主体成分とする
ことにより、各色毎に輝度、発光効率のバランスをとる
ものとしているが、例えば、各色発光領域の全てにおい
て、NaF、BaF2、SrF2、MgF2のいずれかに
て、同一成分、同一膜厚のバッファ層とすることで、各
色毎に輝度、発光効率のバランスをとることもできる。
この場合、比較的電子注入率の小さいNaF、Ba
2、SrF2、MgF2のいずれかを各色のバッファ層
に用いたため、特に赤色発光領域R、緑色発光領域Gに
おける有機EL層60の寿命が向上する。
In the buffer layer 222, the luminance and luminous efficiency are balanced for each color by using different constituent main components for the respective color luminous areas R, G, B. For example, for each color luminous area In all of the above, by using NaF, BaF 2 , SrF 2 , or MgF 2 as the buffer layer having the same component and the same film thickness, it is possible to balance the luminance and the light emission efficiency for each color.
In this case, NaF and Ba, which have a relatively low electron injection rate,
Since any one of F 2 , SrF 2 , and MgF 2 is used for the buffer layer of each color, the life of the organic EL layer 60 is improved particularly in the red light emitting region R and the green light emitting region G.

【0044】次に、本実施形態に係る有機EL表示装置
101の製造プロセスの一例について、図7ないし図1
1を参照しつつ説明する。なお、図7ないし図11に示
す各断面図は、図1中のA−B線の断面図に対応してお
り、各製造工程順に示している。
Next, an example of the manufacturing process of the organic EL display device 101 according to this embodiment will be described with reference to FIGS.
This will be described with reference to 1. The sectional views shown in FIGS. 7 to 11 correspond to the sectional view taken along the line AB in FIG. 1 and are shown in the order of respective manufacturing steps.

【0045】まず、図7(a)に示すように、絶縁性を
有する石英基板やガラス基板などからなるアクティブマ
トリクス基板20の表面に、シリコン酸化膜などからな
る下地保護層281を形成する。次に、この下地保護層
281上に、ICVD法、プラズマCVD法などを用い
てアモルファスシリコン層501を形成した後、レーザ
アニール法又は急速加熱法により結晶粒を成長させてポ
リシリコン層とする。
First, as shown in FIG. 7A, a base protective layer 281 made of a silicon oxide film or the like is formed on the surface of an active matrix substrate 20 made of an insulating quartz substrate or glass substrate. Next, an amorphous silicon layer 501 is formed on the base protective layer 281 by using the ICVD method, the plasma CVD method, or the like, and then a crystal grain is grown by a laser annealing method or a rapid heating method to form a polysilicon layer.

【0046】次いで、図7(b)に示すように、ポリシ
リコン層をフォトリソグラフィ法によりパターニング
し、島状のシリコン層241,251及び261を形成
する。これらのうちシリコン層241は、表示領域内に
形成され、画素電極23に接続されるTFT(画素用T
FT)24を構成するものであり、シリコン層251,
261は、走査線駆動回路80に含まれるPチャネル型
及びNチャネル型のTFT(駆動回路用TFT)をそれ
ぞれ構成するものである。
Then, as shown in FIG. 7B, the polysilicon layer is patterned by photolithography to form island-shaped silicon layers 241, 251 and 261. Of these, the silicon layer 241 is formed in the display area and is connected to the pixel electrode 23.
FT) 24, the silicon layer 251,
Reference numerals 261 respectively constitute P-channel type TFTs and N-channel type TFTs (driving circuit TFTs) included in the scanning line driving circuit 80.

【0047】次に、プラズマCVD法、熱酸化法などに
より、シリコン層241,251及び261、及び下地
保護層281の全面に厚さが約30nm〜200nmの
シリコン酸化膜からなるゲート絶縁層282を形成す
る。ここで、熱酸化法を利用してゲート絶縁層282を
形成する際には、シリコン層241,251及び261
の結晶化も行い、これらのシリコン層をポリシリコン層
とすることができる。
Next, a gate insulating layer 282 made of a silicon oxide film having a thickness of about 30 nm to 200 nm is formed on the entire surfaces of the silicon layers 241, 251 and 261 and the base protection layer 281 by plasma CVD method, thermal oxidation method or the like. Form. Here, when the gate insulating layer 282 is formed by using the thermal oxidation method, the silicon layers 241, 251 and 261 are formed.
Can also be crystallized to form these silicon layers as polysilicon layers.

【0048】また、シリコン層241,251及び26
1にチャネルドープを行う場合には、例えば、このタイ
ミングで約1×1012cm-2のドーズ量でボロンイオン
を打ち込む。その結果、シリコン層241,251及び
261は、不純物濃度(活性化アニール後の不純物にて
算出)が約1×1017cm-3の低濃度P型のシリコン層
となる。
Also, the silicon layers 241, 251 and 26
In the case of performing channel doping on No. 1, for example, boron ions are implanted with a dose amount of about 1 × 10 12 cm −2 at this timing. As a result, the silicon layers 241, 251 and 261 become low-concentration P-type silicon layers having an impurity concentration (calculated by impurities after activation annealing) of about 1 × 10 17 cm −3 .

【0049】次に、Pチャネル型TFT、Nチャネル型
TFTのチャネル層の一部にイオン注入選択マスクを形
成し、この状態でリンイオンを約1×1015cm-2のド
ーズ量でイオン注入する。その結果、パターニング用マ
スクに対してセルフアライン的に高濃度不純物が導入さ
れて、図7(c)に示すように、シリコン層241及び
261中に高濃度ソース領域241S及び261S並び
に高濃度ドレイン領域241D及び261Dが形成され
る。
Next, an ion implantation selection mask is formed on a part of the channel layers of the P-channel TFT and the N-channel TFT, and phosphorus ions are ion-implanted in this state at a dose amount of about 1 × 10 15 cm -2. . As a result, self-aligned high-concentration impurities are introduced into the patterning mask, and as shown in FIG. 7C, the high-concentration source regions 241S and 261S and the high-concentration drain regions are formed in the silicon layers 241 and 261. 241D and 261D are formed.

【0050】次に、図7(c)に示すように、ゲート絶
縁層282の表面全体に、ドープドシリコンやシリサイ
ド膜、或いはアルミニウム膜やクロム膜、タンタル膜と
いう金属膜からなるゲート電極形成用導電層502を形
成する。この導電層502の厚さは概ね500nm程度
である。その後、パターニング法により、図7(d)に
示すように、Pチャネル型の駆動回路用TFTを形成す
るゲート電極252、画素用TFTを形成するゲート電
極242、Nチャネル型の駆動回路用TFTを形成する
ゲート電極262を形成する。また、駆動制御信号導通
部320(350)、陰極電源配線の第1層121も同
時に形成する。なお、この場合、駆動制御信号導通部3
20(350)はダミー領域112に配設するものとさ
れている。
Next, as shown in FIG. 7C, on the entire surface of the gate insulating layer 282, for forming a gate electrode made of a doped silicon or silicide film, or a metal film such as an aluminum film, a chromium film or a tantalum film. The conductive layer 502 is formed. The conductive layer 502 has a thickness of about 500 nm. Then, as shown in FIG. 7D, a gate electrode 252 for forming a P-channel type driving circuit TFT, a gate electrode 242 for forming a pixel TFT, and an N-channel type driving circuit TFT are patterned by a patterning method. The gate electrode 262 to be formed is formed. Further, the drive control signal conducting portion 320 (350) and the first layer 121 of the cathode power supply wiring are also formed at the same time. In this case, the drive control signal conducting section 3
20 (350) is arranged in the dummy area 112.

【0051】続いて、図7(d)に示すように、ゲート
電極242,252及び262をマスクとして用い、シ
リコン層241,251及び261に対してリンイオン
を約4×1013cm-2のドーズ量でイオン注入する。そ
の結果、ゲート電極242,252及び262に対して
セルフアライン的に低濃度不純物が導入され、図7
(c)及び(d)に示すように、シリコン層241及び
261中に低濃度ソース領域241b及び261b、並
びに低濃度ドレイン領域241c及び261cが形成さ
れる。また、シリコン層251中に低濃度不純物領域2
51S及び251Dが形成される。
Subsequently, as shown in FIG. 7D, using the gate electrodes 242, 252 and 262 as a mask, phosphorus ions are applied to the silicon layers 241, 251 and 261 at a dose of about 4 × 10 13 cm -2 . Ion implantation in a quantity. As a result, low-concentration impurities are introduced into the gate electrodes 242, 252, and 262 in a self-aligned manner.
As shown in (c) and (d), low concentration source regions 241b and 261b and low concentration drain regions 241c and 261c are formed in the silicon layers 241 and 261. In addition, in the silicon layer 251, the low concentration impurity region 2
51S and 251D are formed.

【0052】次に、図8(e)に示すように、Pチャネ
ル型の駆動回路用TFT252以外の部分を覆うイオン
注入選択マスク503を形成する。このイオン注入選択
マスク503を用いて、シリコン層251に対してボロ
ンイオンを約1.5×1015cm-2のドーズ量でイオン
注入する。結果として、Pチャネル型駆動回路用TFT
を構成するゲート電極252もマスクとして機能するた
め、シリコン層252中にセルフアライン的に高濃度不
純物がドープされる。従って、低濃度不純物領域251
S及び251Dはカウンタードープされ、P型チャネル
型の駆動回路用TFTのソース領域及びドレイン領域と
なる。
Next, as shown in FIG. 8E, an ion implantation selection mask 503 is formed to cover a portion other than the P-channel drive circuit TFT 252. Using this ion implantation selection mask 503, boron ions are ion-implanted into the silicon layer 251 at a dose of about 1.5 × 10 15 cm −2 . As a result, a TFT for a P-channel drive circuit
Since the gate electrode 252 forming the gate electrode 252 also functions as a mask, the high-concentration impurity is self-alignedly doped into the silicon layer 252. Therefore, the low concentration impurity region 251
S and 251D are counter-doped and serve as a source region and a drain region of a P-type channel TFT for a drive circuit.

【0053】次いで、図8(f)に示すように、アクテ
ィブマトリクス基板20の全面に亙って第1層間絶縁層
283を形成するとともに、フォトリソグラフィ法を用
いて当該第1層間絶縁層283をパターニングすること
によって、各TFTのソース電極及びドレイン電極に対
応する位置にコンタクトホールCを形成する。
Next, as shown in FIG. 8F, a first interlayer insulating layer 283 is formed over the entire surface of the active matrix substrate 20, and the first interlayer insulating layer 283 is formed by using a photolithography method. By patterning, the contact hole C is formed at a position corresponding to the source electrode and the drain electrode of each TFT.

【0054】次に、図8(g)に示すように、第1層間
絶縁層283を覆うように、アルミニウム、クロム、タ
ンタル等の金属からなる導電層504を形成する。この
導電層504の厚さは概ね200nmないし800nm
程度である。この後、導電層504のうち、各TFTの
ソース電極及びドレイン電極が形成されるべき領域24
0a、駆動電圧導通部310(340)が形成されるべ
き領域310a、陰極電源配線の第2層が形成されるべ
き領域122aを覆うようにパターニング用マスク50
5を形成するとともに、当該導電層504をパターニン
グして、図9(h)に示すソース電極243,253,
263、ドレイン電極244,254,264を形成す
る。
Next, as shown in FIG. 8G, a conductive layer 504 made of a metal such as aluminum, chromium, or tantalum is formed so as to cover the first interlayer insulating layer 283. The thickness of this conductive layer 504 is approximately 200 nm to 800 nm.
It is a degree. After that, in the conductive layer 504, the regions 24 where the source and drain electrodes of each TFT are to be formed
0a, the region 310a in which the drive voltage conducting portion 310 (340) is to be formed, and the region 122a in which the second layer of the cathode power supply wiring is to be formed are patterned mask 50.
5 is formed, and the conductive layer 504 is patterned to form the source electrodes 243, 253, shown in FIG.
263 and drain electrodes 244, 254 and 264 are formed.

【0055】次いで、図9(i)に示すように、これら
が形成された第1層間絶縁層283を覆う第2層間絶縁
層284を、例えばアクリル系樹脂などの高分子材料に
よって形成する。この第2層間絶縁層284は、約1〜
2μm程度の厚さに形成されることが望ましい。なお、
SiN、SiO2により第2層間絶縁膜を形成する事も
可能であり、SiNの膜厚としては200nm、SiO
2の膜厚としては800nmに形成することが望まし
い。
Next, as shown in FIG. 9I, a second interlayer insulating layer 284 covering the first interlayer insulating layer 283 on which they are formed is formed of a polymer material such as acrylic resin. The second interlayer insulating layer 284 has a thickness of about 1 to
It is desirable to be formed to a thickness of about 2 μm. In addition,
It is also possible to form the second interlayer insulating film from SiN and SiO 2 , and the film thickness of SiN is 200 nm,
The film thickness of 2 is preferably 800 nm.

【0056】次いで、図9(j)に示すように、第2層
間絶縁層284のうち、画素用TFTのドレイン電極2
44に対応する部分をエッチングにより除去してコンタ
クトホール23aを形成する。その後、アクティブマト
リクス基板20の全面を覆うようにITO等の透明電極
材料からなる透明導電膜を形成する。そして、この透明
導電膜をパターニングすることにより、図10(k)に
示すように、第2層間絶縁層284のコンタクトホール
23aを介してドレイン電極244と導通する画素電極
23を形成すると同時に、ダミー領域のダミーパターン
26も形成する、なお、図2では、これら画素電極2
3、ダミーパターン26を総称して画素電極23として
いる。
Next, as shown in FIG. 9J, the drain electrode 2 of the pixel TFT in the second interlayer insulating layer 284.
The portion corresponding to 44 is removed by etching to form the contact hole 23a. After that, a transparent conductive film made of a transparent electrode material such as ITO is formed so as to cover the entire surface of the active matrix substrate 20. Then, by patterning this transparent conductive film, as shown in FIG. 10K, the pixel electrode 23 that is electrically connected to the drain electrode 244 through the contact hole 23 a of the second interlayer insulating layer 284 is formed, and at the same time, the dummy electrode is formed. A dummy pattern 26 in the area is also formed. In FIG.
3. The dummy pattern 26 is collectively referred to as the pixel electrode 23.

【0057】ダミーパターン26は、第2層間絶縁層2
84を介して下層のメタル配線へ接続しない構成とされ
ている。すなわち、ダミーパターン26は、島状に配置
され、表示領域に形成されている画素電極23の形状と
ほぼ同一の形状を有している。もちろん、表示領域に形
成されている画素電極23の形状とは異なる構造で有っ
ても良い。なお、この場合、ダミーパターン26は少な
くとも上記駆動電圧導通部310(340)の上方に位
置するものを含むものとされている。
The dummy pattern 26 is the second interlayer insulating layer 2
It is configured not to be connected to the metal wiring in the lower layer via 84. That is, the dummy pattern 26 is arranged in an island shape and has a shape substantially the same as the shape of the pixel electrode 23 formed in the display region. Of course, the shape may be different from the shape of the pixel electrode 23 formed in the display area. In this case, the dummy pattern 26 includes at least the dummy pattern 26 located above the drive voltage conducting portion 310 (340).

【0058】次いで、図10(l)に示すように、画素
電極23、ダミーパターン26上、及び第2層間絶縁膜
上に絶縁層たる親液性制御層25を形成する。なお、画
素電極23においては一部が開口する態様にて絶縁層
(親液性制御層)25を形成し、該開口部25a(図3
も参照)において画素電極23からの正孔移動が可能と
されている。逆に、開口部25aを設けないダミーパタ
ーン26においては、絶縁層(親液性制御層)25が正
孔移動遮蔽層となって正孔移動が生じないものとされて
いる。
Next, as shown in FIG. 10L, a lyophilic control layer 25 as an insulating layer is formed on the pixel electrode 23, the dummy pattern 26 and the second interlayer insulating film. Note that the insulating layer (lyophilic control layer) 25 is formed in such a manner that a part of the pixel electrode 23 is open, and the opening 25a (see FIG. 3) is formed.
(See also), holes can be moved from the pixel electrode 23. On the contrary, in the dummy pattern 26 having no opening 25a, the insulating layer (lyophilic control layer) 25 serves as a hole movement blocking layer and does not cause hole movement.

【0059】次いで、図10(l)に示すように、親液
性制御層25において、異なる2つの画素電極23の間
に位置して形成された凹状部にBM(ブラックマトリク
ス)を形成する。具体的には、親液性制御層25の上記
凹状部に対して、金属クロムを用いスパッタリング法に
て成膜する。
Next, as shown in FIG. 10L, BM (black matrix) is formed in the concave portion formed between the two different pixel electrodes 23 in the lyophilic control layer 25. Specifically, metal chrome is used to form a film on the concave portion of the lyophilic control layer 25 by a sputtering method.

【0060】次いで、図10(m)に示すように、親液
性制御層25の所定位置、詳しくは上記BMを覆うよう
に有機バンク層221を形成する。具体的な有機バンク
層の形成方法としては、例えばアクリル樹脂、ポリイミ
ド樹脂等のレジストを溶媒に溶かしたものを、スピンコ
ート法、ディップコート法等の各種塗布法により塗布し
て有機質層を形成する。なお、有機質層の構成材料は、
後述するインクの溶媒に溶解せず、しかもエッチング等
によってパターニングし易いものであればどのようなも
のでもよい。
Next, as shown in FIG. 10 (m), an organic bank layer 221 is formed so as to cover a predetermined position of the lyophilic control layer 25, specifically, the BM. As a specific method for forming the organic bank layer, for example, a resist such as an acrylic resin or a polyimide resin dissolved in a solvent is applied by various coating methods such as a spin coating method and a dip coating method to form an organic layer. . The constituent material of the organic layer is
Any material may be used as long as it does not dissolve in the ink solvent described below and is easily patterned by etching or the like.

【0061】次いで、有機質層をフォトリソグラフィ技
術等により同時にエッチングして、有機質物のバンク開
口部221aを形成し、開口部221aに壁面を備えた
有機バンク層(隔壁部)221を形成する。なお、この
場合、有機バンク層221は少なくとも上記駆動制御信
号導通部320(350)の上方に位置するものを含む
ものとされる。
Next, the organic layer is simultaneously etched by a photolithography technique or the like to form a bank opening 221a of an organic material, and an organic bank layer (partition wall) 221 having a wall surface in the opening 221a is formed. In this case, the organic bank layer 221 is assumed to include at least one located above the drive control signal conducting portion 320 (350).

【0062】次いで、有機バンク層221の表面に、親
液性を示す領域と、撥液性を示す領域とを形成する。本
実施形態においてはプラズマ処理工程により、各領域を
形成するものとしている。具体的には、該プラズマ処理
工程は、予備加熱工程と、有機バンク層221の上面及
び開口部221aの壁面並びに画素電極23の電極面
(画素電極の表面)23c、親液性制御層25の上面を
親液性にする親インク化工程と、有機バンク層の上面及
び開口部の壁面を撥液性にする撥インク化工程と、冷却
工程とを具備している。
Next, on the surface of the organic bank layer 221, a lyophilic region and a lyophobic region are formed. In this embodiment, each region is formed by a plasma treatment process. Specifically, the plasma treatment step includes a preheating step, an upper surface of the organic bank layer 221, a wall surface of the opening 221a, an electrode surface of the pixel electrode 23 (surface of the pixel electrode) 23c, and a lyophilic control layer 25. An ink-repellent process for making the upper surface lyophilic, an ink-repellent process for making the upper surface of the organic bank layer and the wall surface of the opening lyophobic, and a cooling process are provided.

【0063】すなわち、基材(バンク等を含む基板2
0)を所定温度、例えば70〜80℃程度に加熱し、次
いで親インク化工程として大気雰囲気中で酸素を反応ガ
スとするプラズマ処理(O2プラズマ処理)を行う。次
いで、撥インク化工程として大気雰囲気中で4フッ化メ
タンを反応ガスとするプラズマ処理(CF4プラズマ処
理)を行い、その後、プラズマ処理のために加熱された
基材を室温まで冷却することで、親液性及び撥液性が所
定箇所に付与されることとなる。
That is, the base material (the substrate 2 including the bank, etc.)
0) is heated to a predetermined temperature, for example, about 70 to 80 ° C., and then plasma treatment (O 2 plasma treatment) using oxygen as a reaction gas is performed in the atmosphere as an ink-philic step. Next, as an ink repellent process, plasma treatment (CF 4 plasma treatment) using tetrafluoromethane as a reaction gas is performed in the air atmosphere, and then the substrate heated for plasma treatment is cooled to room temperature. Thus, the lyophilic property and the lyophobic property are imparted to a predetermined place.

【0064】なお、このCF4プラズマ処理において
は、画素電極23の電極面23c及び親液性制御層25
についても多少の影響を受けるが、画素電極23の材料
であるITO(Indium Tin Oxide)及び絶縁層(親液性
制御層)25の構成材料であるSiO2,TiO2等はフ
ッ素に対する親和性に乏しいため、親インク化工程で付
与された水酸基がフッ素基で置換されることがなく、親
液性が保たれる。
In the CF 4 plasma treatment, the electrode surface 23c of the pixel electrode 23 and the lyophilic control layer 25 are formed.
However, ITO (Indium Tin Oxide) which is the material of the pixel electrode 23 and SiO 2 and TiO 2 which are the constituent materials of the insulating layer (lyophilic control layer) 25 have an affinity for fluorine. Since it is scarce, the hydroxyl group added in the ink-philic step is not replaced with a fluorine group, and the lyophilic property is maintained.

【0065】次いで、図11(n)に示す正孔注入/輸
送層70(図3も参照)を形成するべく正孔注入/輸送
層形成工程が行われる。正孔注入/輸送層形成工程で
は、インクジェット法により、正孔注入/輸送層材料を
含む組成物インクを電極面23c上に吐出した後に、乾
燥処理及び熱処理を行い、電極23上に正孔注入/輸送
層70を形成する。なお、この正孔注入/輸送層形成工
程以降は、正孔注入/輸送層70及び有機EL層60の
酸化を防止すべく、窒素雰囲気、アルゴン雰囲気等の不
活性ガス雰囲気で行うことが好ましい。
Next, a hole injecting / transporting layer forming step is performed to form the hole injecting / transporting layer 70 (see also FIG. 3) shown in FIG. 11 (n). In the hole injecting / transporting layer forming step, after the composition ink containing the hole injecting / transporting layer material is ejected onto the electrode surface 23c by an inkjet method, a drying process and a heat treatment are performed to inject the hole into the electrode 23. / Form the transport layer 70. After the step of forming the hole injecting / transporting layer, it is preferable to carry out in an inert gas atmosphere such as a nitrogen atmosphere or an argon atmosphere in order to prevent the hole injecting / transporting layer 70 and the organic EL layer 60 from being oxidized.

【0066】例えば、インクジェットヘッド(図示略)
に正孔注入/輸送層材料を含む組成物インクを充填し、
インクジェットヘッドの吐出ノズルを親液性制御層25
に形成された上記開口部25a内に位置する電極面23
cに対向させ、インクジェットヘッドと基材(基板2
0)とを相対移動させながら、吐出ノズルから1滴当た
りの液量が制御された液滴を電極面23cに吐出する。
次に、吐出後の液滴を乾燥処理して組成物インクに含ま
れる極性溶媒を蒸発させることにより、正孔注入/輸送
層70が形成される。
For example, an inkjet head (not shown)
Filled with a composition ink containing a hole injection / transport layer material,
The ejection nozzle of the inkjet head is used as the lyophilic control layer 25.
Electrode surface 23 located in the opening 25a formed in the
c to face the inkjet head and the substrate (substrate 2
0) is relatively moved, and a droplet whose liquid amount per droplet is controlled is ejected from the ejection nozzle to the electrode surface 23c.
Next, the hole injection / transport layer 70 is formed by drying the discharged droplets to evaporate the polar solvent contained in the composition ink.

【0067】組成物インクとしては、例えば、ポリエチ
レンジオキシチオフェン等のポリチオフェン誘導体と、
ポリスチレンスルホン酸等の混合物を、イソプロピルア
ルコール等の極性溶媒に溶解させたものを用いることが
できる。ここで、吐出された液滴は、親インク処理され
た電極面23c上に広がり、絶縁層(親液性制御層)2
5の開口部25a内に満たされる。その一方で、撥イン
ク処理された有機バンク層221の上面では、液滴がは
じかれて付着しない。従って、液滴が所定の吐出位置か
らはずれて有機バンク層221の上面に吐出されたとし
ても、該上面が液滴で濡れることがなく、弾かれた液滴
が親液性制御層25の開口部25a内に転がり込む。な
お、正孔注入/輸送層70の材料としては、例えば、ポ
リエチレンジオキシチオフェン等のポリチオフェン誘導
体とポリスチレンスルホン酸等の混合物を用いることが
できる。
As the composition ink, for example, a polythiophene derivative such as polyethylenedioxythiophene,
A mixture of polystyrene sulfonic acid or the like dissolved in a polar solvent such as isopropyl alcohol can be used. Here, the ejected droplets spread on the electrode surface 23c that has been subjected to the ink-philic treatment, and the insulating layer (lyophilic control layer) 2
5 is filled in the opening 25a. On the other hand, droplets are repelled and do not adhere to the upper surface of the organic bank layer 221 that has been subjected to the ink repellent treatment. Therefore, even if the droplets are ejected from the predetermined ejection position onto the upper surface of the organic bank layer 221, the upper surface is not wetted by the droplets and the repelled droplets are opened in the lyophilic control layer 25. Rolls into the portion 25a. As the material of the hole injecting / transporting layer 70, for example, a mixture of polythiophene derivative such as polyethylenedioxythiophene and polystyrene sulfonic acid can be used.

【0068】次いで、図11(n)に示すように、有機
EL層(発光層)60(図3も参照)を形成すべく発光
層形成工程が行われる。発光層形成工程では、上記と同
様のインクジェット法により、発光層用材料を含む組成
物インクを正孔注入/輸送層70上に吐出した後に乾燥
処理及び熱処理して、有機バンク層221に形成された
開口部221a内に有機EL層60を形成する。
Next, as shown in FIG. 11 (n), a light emitting layer forming step is performed to form an organic EL layer (light emitting layer) 60 (see also FIG. 3). In the light emitting layer forming step, the composition ink containing the light emitting layer material is ejected onto the hole injecting / transporting layer 70 by the same inkjet method as described above, and then dried and heat-treated to form the organic bank layer 221. The organic EL layer 60 is formed in the opening 221a.

【0069】この発光層形成工程では、正孔注入/輸送
層70の再溶解を防止するために、発光層形成の際に用
いる組成物インクの溶媒として、正孔注入/輸送層70
に対して不溶な無極性溶媒を用いる。この発光層形成工
程としては、例えばインクジェットヘッド(図示略)
に、青色(B)発光層の材料を含有する組成物インクを
充填し、インクジェットヘッドの吐出ノズルを絶縁層
(親液性制御層)25の開口部25a内に位置する正孔
注入/輸送層70に対向させ、インクジェットヘッドと
基材とを相対移動させながら、吐出ノズルから1滴当た
りの液量が制御された液滴として吐出し、この液滴を正
孔注入/輸送層70上に吐出する。
In this light emitting layer forming step, in order to prevent the redissolving of the hole injecting / transporting layer 70, the hole injecting / transporting layer 70 is used as a solvent for the composition ink used in forming the light emitting layer.
A non-polar solvent insoluble in is used. In this light emitting layer forming step, for example, an inkjet head (not shown)
A hole injecting / transporting layer in which the composition ink containing the material of the blue (B) light emitting layer is filled, and the ejection nozzle of the inkjet head is located in the opening 25a of the insulating layer (lyophilic control layer) 25. The droplets are discharged from the discharge nozzle as droplets whose liquid amount is controlled while facing the ink jet head and the base material relative to each other, and the droplets are discharged onto the hole injection / transport layer 70. To do.

【0070】有機EL層60を構成する発光材料として
は、ポリフルオレン系誘導体、ポリフェニレン誘導体、
ポリビニルカルバゾール、ポリチオフェン誘導体、ペリ
レン系色素、クマリン系色素、ローダミン系色素、ある
いはこれらの高分子材料に、例えば、ルブレン、ペリレ
ン、9,10−ジフェニルアントラセン、テトラフェニ
ルブタジエン、ナイルレッド、クマリン6、キナクリド
ン等をドープすることにより用いることができる。一
方、無極性溶媒としては、正孔注入/輸送層70に対し
て不溶なものが好ましく、例えば、シクロヘキシルベン
ゼン、ジハイドロベンゾフラン、トリメチルベンゼン、
テトラメチルベンゼン等を用いることができる。
As the light emitting material forming the organic EL layer 60, polyfluorene derivatives, polyphenylene derivatives,
Polyvinylcarbazole, polythiophene derivatives, perylene-based dyes, coumarin-based dyes, rhodamine-based dyes, or polymeric materials thereof, such as rubrene, perylene, 9,10-diphenylanthracene, tetraphenylbutadiene, Nile red, coumarin 6, quinacridone Etc. can be used by doping. On the other hand, the non-polar solvent is preferably one that is insoluble in the hole injecting / transporting layer 70, such as cyclohexylbenzene, dihydrobenzofuran, trimethylbenzene,
Tetramethylbenzene or the like can be used.

【0071】吐出された液滴は、正孔注入/輸送層70
上に広がって親液性制御層25の開口部25a内に満た
される。その一方で、撥インク処理された有機バンク層
221上面では、液滴が弾かれて付着しない。これによ
り、液滴が所定の吐出位置からはずれて有機バンク層2
21上面に吐出されたとしても、該上面が液滴で濡れる
ことがなく、液滴が上記親液性制御層25の開口部25
a内に転がり込み、さらに有機バンク層221の開口部
221a内に吐出・充填される。次いで、吐出後の液滴
を乾燥処理することにより組成物インクに含まれる無極
性溶媒を蒸発させ、有機EL層60が形成される。な
お、各色の有機EL層60R,60G,60Bは、それ
ぞれ各色発光領域R,G,B(図5参照)に対応して液
滴が滴下される。
The discharged droplets are the hole injection / transport layer 70.
It spreads upward and is filled in the opening 25a of the lyophilic control layer 25. On the other hand, on the upper surface of the organic bank layer 221, which has been subjected to the ink repellent treatment, the droplets are repelled and not attached. As a result, the liquid droplets deviate from the predetermined ejection position and the organic bank layer 2
21 Even if the liquid is ejected onto the upper surface, the upper surface is not wetted by the liquid droplet, and the liquid droplet does not wet the opening 25 of the lyophilic control layer 25.
It rolls into the inside of a and is further discharged and filled in the opening 221a of the organic bank layer 221. Next, the discharged liquid droplets are dried to evaporate the non-polar solvent contained in the composition ink, whereby the organic EL layer 60 is formed. It should be noted that droplets are dropped on the organic EL layers 60R, 60G, and 60B of the respective colors so as to correspond to the light emitting regions R, G, and B (see FIG. 5) of the respective colors.

【0072】ここで、正孔注入/輸送層70、有機EL
層60をそれぞれインクジェットプロセスにより形成す
るが、この際、インクジェットヘッドは発光ドット間の
ピッチにより傾き方向を制御している。すなわち、イン
クジェットヘッドに形成されているノズルのピッチと、
発光ドットのピッチとは必ずしも一致しないため、ヘッ
ドを傾けて配置することにより発光ドットのピッチに合
うように調整するのである。
Here, the hole injection / transport layer 70, the organic EL
Each of the layers 60 is formed by an inkjet process. At this time, the inkjet head controls the inclination direction by the pitch between the light emitting dots. That is, the pitch of the nozzles formed in the inkjet head,
Since the pitch does not always match the pitch of the light emitting dots, the head is tilted to adjust the pitch of the light emitting dots.

【0073】次いで、図11(n)に示すように、有機
EL層60上にバッファ層222を形成する。本実施形
態においては、上述した有機EL層60の各色毎に異な
る構成成分のバッファ層を蒸着により成膜している。具
体的には、赤色用有機EL層60R上に、CaF2を構
成主体成分とする赤色用バッファ層222Rを、緑色用
有機EL層60G上に、BaF2を構成主体成分とする
緑色用バッファ層222Gを、青色用有機EL層60B
上に、LiFを構成主体成分とする青色用バッファ層2
22Bを形成する。なお、有機バンク層221の全面
に、各色用有機EL層に対応して各色バッファ層222
を形成するものとしてもよい。
Next, as shown in FIG. 11N, the buffer layer 222 is formed on the organic EL layer 60. In the present embodiment, the buffer layers having different constituents for each color of the organic EL layer 60 described above are formed by vapor deposition. Specifically, a red buffer layer 222R containing CaF 2 as a main constituent is provided on the red organic EL layer 60R, and a green buffer layer containing BaF 2 as a main constituent is provided on the green organic EL layer 60G. 222G to the blue organic EL layer 60B
A blue buffer layer 2 containing LiF as a main constituent
22B is formed. In addition, on the entire surface of the organic bank layer 221, a buffer layer 222 for each color corresponding to the organic EL layer for each color is formed.
May be formed.

【0074】次いで、図11(o)に示すように、陰極
層50を形成すべく陰極層形成工程が行われる。この陰
極層形成工程においては、バッファ層222及び有機バ
ンク層221の全面に、陰極層50となるCa陰極層5
0a及びAl陰極層50bを順次積層する。
Next, as shown in FIG. 11 (o), a cathode layer forming step is performed to form the cathode layer 50. In this cathode layer forming step, the Ca cathode layer 5 serving as the cathode layer 50 is formed on the entire surfaces of the buffer layer 222 and the organic bank layer 221.
0a and the Al cathode layer 50b are sequentially laminated.

【0075】まず、Ca陰極層50aを成膜する。より
具体的には、Ca金属またはCa基合金を蒸発源とする
蒸着法、またはCa金属またはCa基合金のターゲット
材を用いたスパッタリング法、あるいはCa含有有機ガ
スを反応性ガスとして用いるCVD法等によりCa陰極
層50aを成膜する。このCa陰極層50aは、実画素
領域111及びダミー領域112を完全に覆うように形
成する必要があるので、その占有面積は、これら実画素
領域111及びダミー領域112の総面積より広い面積
となる。
First, the Ca cathode layer 50a is formed. More specifically, a vapor deposition method using Ca metal or a Ca-based alloy as an evaporation source, a sputtering method using a target material of a Ca metal or a Ca-based alloy, a CVD method using a Ca-containing organic gas as a reactive gas, or the like. Thus, the Ca cathode layer 50a is formed. Since the Ca cathode layer 50a needs to be formed so as to completely cover the actual pixel region 111 and the dummy region 112, the occupied area thereof is larger than the total area of the actual pixel region 111 and the dummy region 112. .

【0076】次いで、Al陰極層50bを成膜する。よ
り具体的には、Al金属またはAl基合金を蒸発源とす
る蒸着法、またはAl金属またはAl基合金のターゲッ
ト材を用いたスパッタリング法、あるいはAl含有有機
ガスを反応性ガスとして用いるCVD法等によりAl陰
極層50bを成膜する。このAl陰極層50bは、実画
素領域111及びダミー領域112を覆っているCa陰
極層50aを完全に覆うように形成する必要があるの
で、その占有面積は、Ca陰極層50aより広い面積と
なる。
Next, the Al cathode layer 50b is formed. More specifically, a vapor deposition method using Al metal or an Al-based alloy as an evaporation source, a sputtering method using a target material of Al metal or an Al-based alloy, a CVD method using an Al-containing organic gas as a reactive gas, and the like. Thus, the Al cathode layer 50b is formed. Since the Al cathode layer 50b needs to be formed so as to completely cover the Ca cathode layer 50a covering the actual pixel region 111 and the dummy region 112, the occupied area is larger than that of the Ca cathode layer 50a. .

【0077】以上により、実画素領域111及びダミー
領域112を覆うように形成されたCa陰極層50a
と、このCa陰極層50aを覆うように形成されたAl
陰極層50bとからなる2層構造の陰極層50を形成す
ることができる。なお、Al金属またはAl基合金から
なる陰極材料に替えて、例えば、Ag、Mg−Ag合金
等の陰極材料を用いれば、Ag陰極層、Mg−Ag陰極
層等を形成することができる。
As described above, the Ca cathode layer 50a formed so as to cover the actual pixel region 111 and the dummy region 112.
And Al formed so as to cover the Ca cathode layer 50a.
The cathode layer 50 having a two-layer structure including the cathode layer 50b can be formed. If a cathode material such as Ag or Mg-Ag alloy is used instead of the cathode material made of Al metal or Al-based alloy, the Ag cathode layer, the Mg-Ag cathode layer, etc. can be formed.

【0078】最後に、図11(o)に示すように、封止
基板30を形成すべく封止工程を行う。この封止工程で
は、封止基板30の内側に乾燥剤45を挿入しつつ、該
封止基板30とアクティブマトリクス基板20とを接着
剤40にて封止する。なお、この封止工程は、窒素、ア
ルゴン、ヘリウム等の不活性ガス雰囲気中で行うことが
好ましい。大気中で行うと、反射層にピンホール等の欠
陥が生じていた場合に、この欠陥部分から水や酸素等が
陰極層50に侵入して、該陰極層50が酸化される惧れ
がある。以上のような製造プロセスにより、本実施形態
に係る有機EL表示装置101を得ることができる。
Finally, as shown in FIG. 11 (o), a sealing step is performed to form the sealing substrate 30. In this sealing step, the sealing substrate 30 and the active matrix substrate 20 are sealed with the adhesive 40 while the desiccant 45 is inserted inside the sealing substrate 30. The sealing process is preferably performed in an atmosphere of an inert gas such as nitrogen, argon or helium. When performed in the atmosphere, when a defect such as a pinhole occurs in the reflective layer, water, oxygen or the like may enter the cathode layer 50 from this defect portion and the cathode layer 50 may be oxidized. . The organic EL display device 101 according to the present embodiment can be obtained by the manufacturing process as described above.

【0079】本実施形態の有機EL表示装置101によ
れば、マスクのパターン精度に係わらず、発光領域全域
が陰極層により覆われるので、正孔注入/輸送層70や
有機EL層60に外部から大気中の酸素や水分が侵入す
るおそれがなく、表示特性、信頼性を向上させることが
できる。また、発光領域の一部にマスクのパターン精度
等に起因する陰極材料が形成されない領域が生じる等の
問題が生じるおそれがないので、製造工程上の製造歩留
まりを向上させることができ、表示装置の製造コストを
低減することができる。
According to the organic EL display device 101 of the present embodiment, the entire light emitting region is covered with the cathode layer regardless of the pattern accuracy of the mask, so that the hole injection / transport layer 70 and the organic EL layer 60 are externally applied. Oxygen and water in the atmosphere are not likely to enter, and display characteristics and reliability can be improved. Further, since there is no possibility of causing a problem such as a region where the cathode material is not formed due to the pattern accuracy of the mask in a part of the light emitting region, it is possible to improve the manufacturing yield in the manufacturing process, The manufacturing cost can be reduced.

【0080】また、陰極層50を、Ca陰極層50aと
Al陰極層50bとからなる2層構造としたので、正孔
注入/輸送層70や有機EL層60に対して外部からの
大気中の酸素や水分の侵入を効果的に防止することがで
き、表示特性、信頼性をさらに向上させることができ
る。
Further, since the cathode layer 50 has a two-layer structure consisting of the Ca cathode layer 50a and the Al cathode layer 50b, the hole injecting / transporting layer 70 and the organic EL layer 60 are exposed to the atmosphere from the outside. Invasion of oxygen and moisture can be effectively prevented, and display characteristics and reliability can be further improved.

【0081】本実施形態の有機EL表示装置101の製
造方法によれば、正孔注入/輸送層70や有機EL層6
0に対して外部からの大気中の酸素や水分の侵入のおそ
れがなく、しかも、表示特性、信頼性が向上した表示装
置を容易に作製することができる。また、マスクのパタ
ーン精度に係わらず、発光領域の一部にマスクのパター
ン精度等に起因する陰極材料が形成されない領域が生じ
る等の問題が生じるおそれがなくなり、製造工程上の製
造歩留まりを向上させることができ、表示装置の製造コ
ストを低減することができる。
According to the method of manufacturing the organic EL display device 101 of this embodiment, the hole injection / transport layer 70 and the organic EL layer 6 are formed.
With respect to 0, there is no possibility of invasion of oxygen and moisture in the atmosphere from the outside, and a display device having improved display characteristics and reliability can be easily manufactured. Further, regardless of the pattern accuracy of the mask, there is no possibility of causing a problem such as a region where the cathode material is not formed due to the pattern accuracy of the mask in a part of the light emitting region, thereby improving the manufacturing yield in the manufacturing process. Therefore, the manufacturing cost of the display device can be reduced.

【0082】「第2の実施形態」図12は、本実施形態
に係る有機EL表示装置の構成を模式的に示す平面図、
図13は図12のE−F線に沿う断面図、図14は図1
2のG−H線に沿う断面図である。これらの図に示した
有機EL表示装置501は、スイッチング素子として薄
膜トランジスタ(TFT:Thin Film Transistor)を用
いたアクティブマトリクス方式の有機EL表示装置であ
る。
[Second Embodiment] FIG. 12 is a plan view schematically showing the structure of an organic EL display device according to this embodiment.
13 is a sectional view taken along the line EF of FIG. 12, and FIG. 14 is FIG.
It is sectional drawing which follows the GH line of FIG. The organic EL display device 501 shown in these figures is an active matrix organic EL display device using a thin film transistor (TFT) as a switching element.

【0083】本実施形態に係る有機EL表示装置501
が、上述した第1実施形態の有機EL表示装置101と
異なる点は、陰極層の形状であり、その他の点は全く同
様の構成である。本実施形態の陰極層502は、略矩形
状のCa陰極層502a(第1の陰極層)と、このCa
陰極層502aを覆うように形成された略矩形状のAl
陰極層502b(第2の陰極層)とからなる2層構造と
されている。
Organic EL display device 501 according to the present embodiment
However, the difference from the organic EL display device 101 of the first embodiment described above is the shape of the cathode layer, and the other points are exactly the same. The cathode layer 502 of the present embodiment includes a substantially rectangular Ca cathode layer 502a (first cathode layer) and this Ca layer.
Al having a substantially rectangular shape formed so as to cover the cathode layer 502a.
It has a two-layer structure including a cathode layer 502b (second cathode layer).

【0084】Ca陰極層502aは、実画素領域111
を覆うとともに、ダミー領域112の実画素領域111
側の内周部を覆うように形成され、その面積は、実画素
領域111の面積よりは広く、かつ、実画素領域111
及びダミー領域112の総面積よりは狭いとされてい
る。Al陰極層502bは、Ca陰極層502aを覆う
とともに、Ca陰極層502aの外側に位置するダミー
領域112の一部を覆うように形成され、その面積は、
Ca陰極層502aの面積よりは広く、かつ、実画素領
域111及びダミー領域112の総面積よりは狭いとさ
れている。
The Ca cathode layer 502a is formed on the actual pixel region 111.
The real pixel area 111 of the dummy area 112
Is formed so as to cover the inner peripheral portion on the side, and the area thereof is larger than the area of the actual pixel region 111 and the actual pixel region 111.
The area is smaller than the total area of the dummy region 112. The Al cathode layer 502b is formed so as to cover the Ca cathode layer 502a and a part of the dummy region 112 located outside the Ca cathode layer 502a, and the area thereof is
The area is larger than the area of the Ca cathode layer 502a and smaller than the total area of the actual pixel area 111 and the dummy area 112.

【0085】本実施形態の有機EL表示装置101にお
いても、上述した第1実施形態の有機EL表示装置10
1と同様の効果を奏することができる。しかも、Ca陰
極層502aを覆うようにAl陰極層502bを形成し
たので、正孔注入/輸送層70や有機EL層60に対し
て外部からの大気中の酸素や水分の侵入をさらに効果的
に防止することができ、表示特性、信頼性を格段に向上
させることができる。
Also in the organic EL display device 101 of this embodiment, the organic EL display device 10 of the first embodiment described above is also used.
The same effect as that of No. 1 can be obtained. Moreover, since the Al cathode layer 502b is formed so as to cover the Ca cathode layer 502a, oxygen and moisture in the atmosphere from the outside can be more effectively introduced into the hole injection / transport layer 70 and the organic EL layer 60. It is possible to prevent this, and display characteristics and reliability can be significantly improved.

【0086】「第3の実施形態」以下、第1または第2
の実施形態の有機EL表示装置を備えた電子機器の具体
例について図15に基づき説明する。図15(a)は、
携帯電話の一例を示した斜視図である。図15(a)に
おいて、符号1000は携帯電話本体を示し、符号10
01は前記の有機EL表示装置を用いた表示部を示して
いる。図15(b)は、腕時計型電子機器の一例を示し
た斜視図である。図15(b)において、符号1100
は時計本体を示し、符号1101は前記の有機EL表示
装置を用いた表示部を示している。図15(c)は、ワ
ープロ、パソコンなどの携帯型情報処理装置の一例を示
した斜視図である。図15(c)において、符号120
0は情報処理装置、符号1201はキーボードなどの入
力部、符号1202は前記の有機EL表示装置を用いた
表示部、符号1203は情報処理装置本体を示してい
る。
[Third Embodiment] Hereinafter, the first or second embodiment
Specific examples of electronic devices including the organic EL display device of the embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 15A shows
It is a perspective view showing an example of a mobile phone. In FIG. 15A, reference numeral 1000 indicates a mobile phone body, and reference numeral 10
Reference numeral 01 denotes a display unit using the above organic EL display device. FIG. 15B is a perspective view showing an example of a wrist watch type electronic device. In FIG. 15B, reference numeral 1100
Indicates a watch body, and reference numeral 1101 indicates a display unit using the organic EL display device. FIG. 15C is a perspective view showing an example of a portable information processing device such as a word processor or a personal computer. In FIG. 15C, reference numeral 120
Reference numeral 120 is an information processing apparatus, reference numeral 1201 is an input unit such as a keyboard, reference numeral 1202 is a display unit using the organic EL display device, and reference numeral 1203 is an information processing apparatus main body.

【0087】図15(a)〜(c)に示すそれぞれの電
子機器は、前記の第1または第2の実施形態の有機EL
表示装置を用いた表示部を備えたものであり、先の第1
または第2の実施形態の有機EL表示装置の特徴を有す
るので、表示特性、信頼性が向上するとともに、製造コ
ストが低減された電子機器となる。これらの電子機器を
製造するには、第1の実施形態の有機EL表示装置10
1または第2の実施形態の有機EL表示装置501を、
携帯電話、携帯型情報処理装置、腕時計型電子機器等の
各種電子機器の表示部に組み込むことにより製造され
る。
Each of the electronic devices shown in FIGS. 15 (a) to 15 (c) is the organic EL device of the first or second embodiment.
A display unit using a display device is provided.
Alternatively, since the organic EL display device has the characteristics of the second embodiment, the electronic device has improved display characteristics and reliability and reduced manufacturing cost. In order to manufacture these electronic devices, the organic EL display device 10 according to the first embodiment is used.
The organic EL display device 501 of the first or second embodiment is
It is manufactured by being incorporated in the display section of various electronic devices such as a mobile phone, a portable information processing device, and a wristwatch type electronic device.

【0088】[0088]

【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明の
表示装置によれば、陽極層と陰極層との間に発光層が挟
持され、該発光層を含む画素部を有する発光領域と、該
発光領域の周辺部に形成された非発光領域とを備え、前
記陰極層は、前記発光領域を覆うとともに、前記非発光
領域の少なくとも前記発光領域側の内周部を覆うように
形成されているので、発光領域への大気中の酸素や水分
の侵入を防止することができ、表示特性、信頼性を向上
させることができる。また、発光領域の一部にマスクの
パターン精度等に起因する陰極材料が形成されない領域
が生じる等の問題が生じるおそれがなく、製造工程上の
製造歩留まりを向上させることができ、表示装置の製品
としての価格を低減することができる。
As described above in detail, according to the display device of the present invention, the light emitting layer is sandwiched between the anode layer and the cathode layer, and the light emitting region having the pixel portion including the light emitting layer is provided. A non-light emitting region formed in the peripheral portion of the light emitting region, wherein the cathode layer is formed to cover the light emitting region and at least an inner peripheral portion of the non light emitting region on the light emitting region side. Therefore, invasion of oxygen and moisture in the atmosphere into the light emitting region can be prevented, and display characteristics and reliability can be improved. Further, there is no possibility of causing a problem such as a region where the cathode material is not formed due to the pattern accuracy of the mask in a part of the light emitting region, and it is possible to improve the manufacturing yield in the manufacturing process. The price can be reduced.

【0089】また、前記陰極層を、少なくとも第1の陰
極層と第2の陰極層との2層構造とすれば、発光領域全
域を2層構造の陰極層により覆うことで、この発光領域
への大気中の酸素や水分の侵入を効果的に防止すること
ができ、表示特性、信頼性をさらに向上させることがで
きる。
Further, if the cathode layer has a two-layer structure of at least a first cathode layer and a second cathode layer, the entire emission region is covered with the cathode layer having a two-layer structure, so that this emission region is reached. It is possible to effectively prevent the invasion of oxygen and moisture in the atmosphere, and further improve the display characteristics and reliability.

【0090】本発明の表示装置の製造方法によれば、前
記陰極層を、前記発光領域を覆うとともに、前記非発光
領域の少なくとも前記発光領域側の内周部を覆うように
形成するので、発光領域に外部から大気中の酸素や水分
が侵入するおそれがなく、しかも表示特性、信頼性が向
上した表示装置を容易に作製することができる。また、
マスクのパターン精度に係わらず、発光領域の一部にマ
スクのパターン精度等に起因する陰極材料が形成されな
い領域が生じる等の問題が生じるおそれがなくなり、製
造工程上の製造歩留まりを向上させ、表示装置の製造コ
ストを低減することができる。
According to the method of manufacturing a display device of the present invention, the cathode layer is formed so as to cover the light emitting region and at least the inner peripheral portion of the non-light emitting region on the light emitting region side. It is possible to easily fabricate a display device in which there is no possibility that oxygen or moisture in the atmosphere will enter the region from the outside and which has improved display characteristics and reliability. Also,
Regardless of the pattern accuracy of the mask, there is no risk of problems such as a region where the cathode material is not formed due to the pattern accuracy of the mask in a part of the light emitting region, improving the manufacturing yield in the manufacturing process, and displaying The manufacturing cost of the device can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の第1の実施形態に係る有機EL表示
装置の構成を示す平面図である。
FIG. 1 is a plan view showing a configuration of an organic EL display device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 図1のA−B線に沿う断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line AB of FIG.

【図3】 図2の要部を拡大した断面図である。3 is an enlarged cross-sectional view of a main part of FIG.

【図4】 図1のC−D線に沿う断面図である。FIG. 4 is a cross-sectional view taken along the line CD of FIG.

【図5】 図1の有機EL表示装置のバッファ層の構成
を示す説明図である。
5 is an explanatory diagram showing a structure of a buffer layer of the organic EL display device of FIG.

【図6】 バッファ層の構成の変形例を示す説明図であ
る。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing a modified example of the configuration of the buffer layer.

【図7】 本発明の第1の実施形態に係る有機EL表示
装置の製造方法を示す過程図である。
FIG. 7 is a process chart showing the manufacturing method of the organic EL display device according to the first embodiment of the present invention.

【図8】 本発明の第1の実施形態に係る有機EL表示
装置の製造方法を示す過程図である。
FIG. 8 is a process chart showing the manufacturing method of the organic EL display device according to the first embodiment of the present invention.

【図9】 本発明の第1の実施形態に係る有機EL表示
装置の製造方法を示す過程図である。
FIG. 9 is a process chart showing the manufacturing method of the organic EL display device according to the first embodiment of the present invention.

【図10】 本発明の第1の実施形態に係る有機EL表
示装置の製造方法を示す過程図である。
FIG. 10 is a process chart showing the manufacturing method of the organic EL display device according to the first embodiment of the present invention.

【図11】 本発明の第1の実施形態に係る有機EL表
示装置の製造方法を示す過程図である。
FIG. 11 is a process chart showing the manufacturing method of the organic EL display device according to the first embodiment of the present invention.

【図12】 本発明の第2の実施形態に係る有機EL表
示装置の構成を示す平面図である。
FIG. 12 is a plan view showing a configuration of an organic EL display device according to a second embodiment of the present invention.

【図13】 図12のE−F線に沿う断面図である。13 is a cross-sectional view taken along the line EF of FIG.

【図14】 図12のG−H線に沿う断面図である。14 is a cross-sectional view taken along the line GH in FIG.

【図15】 本発明の第3の実施形態の電子機器を示す
斜視図である。
FIG. 15 is a perspective view showing an electronic device according to a third embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

20 アクティブマトリクス基板 23 陽極層 50 陰極層 50a Ca陰極層(第1の陰極層) 50b Al陰極層(第2の陰極層) 60 有機EL層(発光層) 101 有機EL表示装置 501 有機EL表示装置 502 陰極層 502a Ca陰極層(第1の陰極層) 502b Al陰極層(第2の陰極層) 20 Active matrix substrate 23 Anode layer 50 cathode layer 50a Ca cathode layer (first cathode layer) 50b Al cathode layer (second cathode layer) 60 organic EL layer (light emitting layer) 101 Organic EL display device 501 organic EL display device 502 cathode layer 502a Ca cathode layer (first cathode layer) 502b Al cathode layer (second cathode layer)

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 陽極層と陰極層との間に発光層が挟持さ
れ、該発光層を含む画素部を有する発光領域と、該発光
領域の周辺部に形成された非発光領域とを備えてなる表
示装置において、 前記陰極層は、前記発光領域を覆うとともに、前記非発
光領域の少なくとも前記発光領域側の内周部を覆うよう
に形成されていることを特徴とする表示装置。
1. A light emitting layer is sandwiched between an anode layer and a cathode layer, the light emitting region having a pixel portion including the light emitting layer, and a non-light emitting region formed in a peripheral portion of the light emitting region. In the display device described above, the cathode layer is formed so as to cover the light emitting region and at least an inner peripheral portion of the non-light emitting region on the light emitting region side.
【請求項2】 前記陰極層は、少なくとも第1の陰極層
と、該第1の陰極層上に形成された第2の陰極層とを備
え、 前記第1の陰極層は、前記発光領域を覆うとともに、前
記非発光領域の少なくとも前記発光領域側の内周部を覆
うように形成され、 前記第2の陰極層は、前記第1の陰極層を覆うように形
成されていることを特徴とする請求項1記載の表示装
置。
2. The cathode layer includes at least a first cathode layer and a second cathode layer formed on the first cathode layer, and the first cathode layer includes the light emitting region. The second cathode layer is formed to cover at least the inner peripheral portion of the non-light emitting area on the light emitting area side, and the second cathode layer is formed to cover the first cathode layer. The display device according to claim 1.
【請求項3】 前記第1の陰極層は、前記発光領域及び
前記非発光領域を覆うように形成され、 前記第2の陰極層は、前記第1の陰極層を覆うように形
成されていることを特徴とする請求項2記載の表示装
置。
3. The first cathode layer is formed so as to cover the light emitting region and the non-light emitting region, and the second cathode layer is formed so as to cover the first cathode layer. The display device according to claim 2, wherein:
【請求項4】 前記第1の陰極層は、Ca金属またはC
aを主成分とするCa基合金からなり、前記第2の陰極
層は、Al金属またはAlを主成分とするAl基合金か
らなることを特徴とする請求項2または3記載の表示装
置。
4. The first cathode layer comprises Ca metal or C
4. The display device according to claim 2, wherein the display device is made of a Ca-based alloy containing a as a main component, and the second cathode layer is made of Al metal or an Al-based alloy containing Al as a main component.
【請求項5】 前記発光層は、電気光学物質を含む発光
本体層を備えていることを特徴とする請求項1ないし4
のいずれか1項記載の表示装置。
5. The light emitting layer comprises a light emitting body layer containing an electro-optic material.
The display device according to claim 1.
【請求項6】 前記電気光学物質が、有機EL物質であ
ることを特徴とする請求項5記載の表示装置。
6. The display device according to claim 5, wherein the electro-optical material is an organic EL material.
【請求項7】 陽極層と陰極層との間に発光層が挟持さ
れ、該発光層を含む画素部を有する発光領域と、該発光
領域の周辺部に形成された非発光領域とを備えてなる表
示装置の製造方法であって、 前記陰極層を、前記発光領域を覆うとともに、前記非発
光領域の少なくとも前記発光領域側の内周部を覆うよう
に形成することを特徴とする表示装置の製造方法。
7. A light emitting layer is sandwiched between an anode layer and a cathode layer, the light emitting region having a pixel portion including the light emitting layer, and a non-light emitting region formed in the peripheral portion of the light emitting region. A method of manufacturing a display device, wherein the cathode layer is formed so as to cover the light emitting region and to cover at least the inner peripheral portion of the non-light emitting region on the light emitting region side. Production method.
【請求項8】 前記陰極層を、少なくとも第1の陰極層
と、該第1の陰極層上に形成される第2の陰極層とによ
り構成し、 前記第1の陰極層を、前記発光領域を覆うとともに、前
記非発光領域の少なくとも前記発光領域側の内周部を覆
うように形成し、 前記第2の陰極層を、前記第1の陰極層を覆うように形
成することを特徴とする請求項7記載の表示装置の製造
方法。
8. The cathode layer is composed of at least a first cathode layer and a second cathode layer formed on the first cathode layer, and the first cathode layer is the light emitting region. And forming the second cathode layer so as to cover at least the inner peripheral portion of the non-light emitting region on the light emitting region side, and the second cathode layer so as to cover the first cathode layer. A method of manufacturing a display device according to claim 7.
【請求項9】 前記第1の陰極層を、前記発光領域及び
前記非発光領域を覆うように形成し、 前記第2の陰極層を、前記第1の陰極層を覆うように形
成することを特徴とする請求項8記載の表示装置の製造
方法。
9. The first cathode layer is formed so as to cover the light emitting region and the non-light emitting region, and the second cathode layer is formed so as to cover the first cathode layer. The method for manufacturing a display device according to claim 8, wherein the display device is manufactured.
【請求項10】 請求項1ないし6のいずれか1項記載
の表示装置を備えていることを特徴とする電子機器。
10. An electronic apparatus comprising the display device according to claim 1. Description:
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Cited By (5)

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