JP2003280547A - 表示装置のエージング方法および製造方法 - Google Patents
表示装置のエージング方法および製造方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 有機発光ダイオードによる表示装置は、ダイ
オードの初期劣化が大きく、エージングの長時間化、非
効率化を招く。 【解決手段】 ＲＧＢそれぞれの画素について、それぞ
れ所定の発光目標値を実験から求める。この目標値はそ
れぞれの色の画素が初期劣化を終えるまでの輝度の時間
積分値である。ＲＧＢいずれも最大輝度で発光させたと
き、これらの画素はそれぞれ時間ｔ１、ｔ２、ｔ０で初
期劣化を終える。エージングは色ごとにその時間を終了
時間として行う。目標値は輝度の時間微分値であっても
よい。
オードの初期劣化が大きく、エージングの長時間化、非
効率化を招く。 【解決手段】 ＲＧＢそれぞれの画素について、それぞ
れ所定の発光目標値を実験から求める。この目標値はそ
れぞれの色の画素が初期劣化を終えるまでの輝度の時間
積分値である。ＲＧＢいずれも最大輝度で発光させたと
き、これらの画素はそれぞれ時間ｔ１、ｔ２、ｔ０で初
期劣化を終える。エージングは色ごとにその時間を終了
時間として行う。目標値は輝度の時間微分値であっても
よい。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、表示装置のエージ
ング技術に関する。本発明はとくに、発光素子を備えた
表示パネルのエージング技術とその技術を用いた製造技
術に関する。
ング技術に関する。本発明はとくに、発光素子を備えた
表示パネルのエージング技術とその技術を用いた製造技
術に関する。
【０００２】
【従来の技術】製品の信頼性試験のひとつにエージング
試験がある。この試験は、製品の品質管理を目的として
所定の環境下で連続通電をする。表示パネルの場合は一
般に、所定の周囲温度、試験電圧、試験画像において、
各画素が所望の表示状態になることを確認する。
試験がある。この試験は、製品の品質管理を目的として
所定の環境下で連続通電をする。表示パネルの場合は一
般に、所定の周囲温度、試験電圧、試験画像において、
各画素が所望の表示状態になることを確認する。
【０００３】ここ数年、有機ＥＬ（エレクトロルミネッ
センス）パネルの実用化が進み、液晶パネルはと異なる
観点からのエージングの必要性が認識されはじめてい
る。有機ＥＬ素子、すなわち有機発光ダイオードは、実
装後、初期通電にてかなりの劣化をする性質があり、エ
ージングは動作確認にとどまらず、この初期劣化を取り
除く意味をあわせもつ。素子の劣化は輝度の低下の形を
とる。初期劣化の除去が不十分なまま出荷されると、ユ
ーザが特定の画面パターンをある程度長時間表示したと
きそのパターンに応じた劣化が進み、いわゆる焼き付き
が生じる。
センス）パネルの実用化が進み、液晶パネルはと異なる
観点からのエージングの必要性が認識されはじめてい
る。有機ＥＬ素子、すなわち有機発光ダイオードは、実
装後、初期通電にてかなりの劣化をする性質があり、エ
ージングは動作確認にとどまらず、この初期劣化を取り
除く意味をあわせもつ。素子の劣化は輝度の低下の形を
とる。初期劣化の除去が不十分なまま出荷されると、ユ
ーザが特定の画面パターンをある程度長時間表示したと
きそのパターンに応じた劣化が進み、いわゆる焼き付き
が生じる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明者は有機発光ダ
イオードの劣化が発光色ごとに異なることから、従来の
液晶パネル同様の画面パターンによる試験では、以下の
課題が生じうることを認識した。
イオードの劣化が発光色ごとに異なることから、従来の
液晶パネル同様の画面パターンによる試験では、以下の
課題が生じうることを認識した。
【０００５】１．所定の色の素子について初期劣化が十
分にとれない状態で出荷される。 ２．１．の防止のために長時間エージングをすれば出荷
タイミングが遅れ、製品の市場競争力を殺ぐ。
分にとれない状態で出荷される。 ２．１．の防止のために長時間エージングをすれば出荷
タイミングが遅れ、製品の市場競争力を殺ぐ。
【０００６】本発明はこの認識をもとになされ、その目
的は、複数タイプの画素または表示素子を備えた表示装
置向きのエージング方法とそれを用いた表示装置の製造
方法の提供にある。別の目的は、表示装置のエージング
時間の短縮にある。さらに別の目的は、エージング時間
決定の根拠の客観化と、エージングの効率化にある。さ
らに別の目的は、表示装置の初期劣化の十分な除去にあ
る。
的は、複数タイプの画素または表示素子を備えた表示装
置向きのエージング方法とそれを用いた表示装置の製造
方法の提供にある。別の目的は、表示装置のエージング
時間の短縮にある。さらに別の目的は、エージング時間
決定の根拠の客観化と、エージングの効率化にある。さ
らに別の目的は、表示装置の初期劣化の十分な除去にあ
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明のある態様は表示
装置のエージング方法に関する。この方法は、特性の異
なる複数タイプの画素を備えた表示装置について、その
タイプごとに試験条件を変えて発光せしめる。以下、
「画素」は画像の要素と、それを実現する素子の両義に
用いる。
装置のエージング方法に関する。この方法は、特性の異
なる複数タイプの画素を備えた表示装置について、その
タイプごとに試験条件を変えて発光せしめる。以下、
「画素」は画像の要素と、それを実現する素子の両義に
用いる。
【０００８】「タイプ」は色に限る必要はなく、同じ色
でも素子の材質や構造が違う場合も含む。色や材質が同
じであっても、素子の駆動方法、すなわち駆動回路、駆
動タイミング、駆動電圧などが異なれば違うタイプと考
えてもよい。
でも素子の材質や構造が違う場合も含む。色や材質が同
じであっても、素子の駆動方法、すなわち駆動回路、駆
動タイミング、駆動電圧などが異なれば違うタイプと考
えてもよい。
【０００９】「試験条件」は試験時間または通電時間、
試験電圧、設定するデータ、表示のオンオフのデューテ
ィなど種々の項目およびそれらの組合せが考えられる。
いずれにせよ、タイプごとに条件を変えることにより、
異なるタイプでも初期劣化の終了タイミングを合わせ込
み、または試験条件に基づいてエージングによる初期劣
化の除去をより確実たらしめることができる。
試験電圧、設定するデータ、表示のオンオフのデューテ
ィなど種々の項目およびそれらの組合せが考えられる。
いずれにせよ、タイプごとに条件を変えることにより、
異なるタイプでも初期劣化の終了タイミングを合わせ込
み、または試験条件に基づいてエージングによる初期劣
化の除去をより確実たらしめることができる。
【００１０】本発明の別の態様もエージング方法であ
り、それぞれが異なる色を実現する複数タイプの画素を
備えた表示装置について、そのタイプごとに定めた発光
目標値に到達するまで、タイプごとに画素の発光を制御
する。「発光目標値」は、例えば発光輝度の時間積分値
であり、タイプごとに画素の初期劣化を終了させること
を目的として設定されてもよい。「発光目標値」は発光
輝度の時間変化率、すなわち時間微分値であってもよ
い。なお、「タイプごとに定めた」とは、すべてのタイ
プについて同じ設定値となることを妨げるものでない。
り、それぞれが異なる色を実現する複数タイプの画素を
備えた表示装置について、そのタイプごとに定めた発光
目標値に到達するまで、タイプごとに画素の発光を制御
する。「発光目標値」は、例えば発光輝度の時間積分値
であり、タイプごとに画素の初期劣化を終了させること
を目的として設定されてもよい。「発光目標値」は発光
輝度の時間変化率、すなわち時間微分値であってもよ
い。なお、「タイプごとに定めた」とは、すべてのタイ
プについて同じ設定値となることを妨げるものでない。
【００１１】本発明のさらに別の態様は表示装置の製造
方法であり、アセンブリ工程とエージング工程を含む。
アセンブリ工程では、それぞれが異なる色を実現する複
数タイプの画素を有する表示装置を完成または半完成せ
しめ、エージング工程では、タイプごとに定めた発光目
標値に到達するまで、タイプごとに画素の発光を制御す
る。「半完成」とは、エージングが有効な程度に組み上
がった状態をいう。タイプごとの制御により、エージン
グの内容または時間を最適化することができ、製品の品
質または製造効率の改善が実現する。
方法であり、アセンブリ工程とエージング工程を含む。
アセンブリ工程では、それぞれが異なる色を実現する複
数タイプの画素を有する表示装置を完成または半完成せ
しめ、エージング工程では、タイプごとに定めた発光目
標値に到達するまで、タイプごとに画素の発光を制御す
る。「半完成」とは、エージングが有効な程度に組み上
がった状態をいう。タイプごとの制御により、エージン
グの内容または時間を最適化することができ、製品の品
質または製造効率の改善が実現する。
【００１２】なお、以上の構成要素の任意の組合せ、本
発明の表現を方法、装置、システム、コンピュータプロ
グラムなどの間で変換したものもまた、本発明の態様と
して有効である。
発明の表現を方法、装置、システム、コンピュータプロ
グラムなどの間で変換したものもまた、本発明の態様と
して有効である。
【００１３】
【発明の実施の形態】図１は画素の初期劣化を示す。横
軸ｔは有機ＥＬ表示装置の画素の駆動時間、縦軸Ｙは画
素の実際の輝度を示す。Ｒ、Ｇ、Ｂはそれぞれ赤、緑、
青の画素に対応する。これらの初期輝度は正規化され、
同じ値としてプロットされている。
軸ｔは有機ＥＬ表示装置の画素の駆動時間、縦軸Ｙは画
素の実際の輝度を示す。Ｒ、Ｇ、Ｂはそれぞれ赤、緑、
青の画素に対応する。これらの初期輝度は正規化され、
同じ値としてプロットされている。
【００１４】前述のごとく、有機発光ダイオードは色ご
とに初期劣化の特性が違い、ここでは青、緑、赤の順に
劣化の総量が大きいとしているが、その総量とは関係な
く、それぞれの色について初期劣化がとれるまでの駆動
時間（以下単に必要時間という）が異なる。問題は必要
時間の違いである。
とに初期劣化の特性が違い、ここでは青、緑、赤の順に
劣化の総量が大きいとしているが、その総量とは関係な
く、それぞれの色について初期劣化がとれるまでの駆動
時間（以下単に必要時間という）が異なる。問題は必要
時間の違いである。
【００１５】図中ｔ０、ｔ１、ｔ２はそれぞれ、青、
赤、緑の画素に関する必要時間である。初期劣化を早く
終了させるべく、エージング試験ではいずれの画素につ
いても最大輝度データを設定すると仮定する。
赤、緑の画素に関する必要時間である。初期劣化を早く
終了させるべく、エージング試験ではいずれの画素につ
いても最大輝度データを設定すると仮定する。
【００１６】画素の色ごとの必要時間は、それぞれの画
素について実験から求まる「発光目標値」から決まる。
発光目標値は発光輝度の時間積分値である。発光輝度は
そのときどきに実際に発光している輝度（以下、現在輝
度という）と考えてもよいし、データとして設定しにい
く理想的な輝度と考えてもよい。前者とすれば、現在輝
度Ｙ（ｔ）の時間積分、すなわち、 ∫Ｙ（ｔ）ｄｔ （式１） が色ごとに定まる所定値になるｔを実験から定めればよ
く、ここではそれがｔ０等となる。
素について実験から求まる「発光目標値」から決まる。
発光目標値は発光輝度の時間積分値である。発光輝度は
そのときどきに実際に発光している輝度（以下、現在輝
度という）と考えてもよいし、データとして設定しにい
く理想的な輝度と考えてもよい。前者とすれば、現在輝
度Ｙ（ｔ）の時間積分、すなわち、 ∫Ｙ（ｔ）ｄｔ （式１） が色ごとに定まる所定値になるｔを実験から定めればよ
く、ここではそれがｔ０等となる。
【００１７】図２は表示装置の製造方法を示す。種々の
部品は製造工程へ投入され、アセンブリ工程（Ｓ１）で
完成または半完成に至る。つづいて表示装置はエージン
グ工程（Ｓ２）へ投入され、しかる後、製造工程が終わ
る。エージング工程では、表示装置をテストするための
ホストコンピュータ（図示せず）にエージングを含む製
品テストのためのプログラム（以下単にテストプログラ
ムという）が実装される。表示装置がコンピュータ本体
と一体化された製品、たとえばノート型パーソナルコン
ピュータのような製品の場合、ホストコンピュータは各
製品が兼ねる。テストプログラムはその製品のメモリに
実装される。
部品は製造工程へ投入され、アセンブリ工程（Ｓ１）で
完成または半完成に至る。つづいて表示装置はエージン
グ工程（Ｓ２）へ投入され、しかる後、製造工程が終わ
る。エージング工程では、表示装置をテストするための
ホストコンピュータ（図示せず）にエージングを含む製
品テストのためのプログラム（以下単にテストプログラ
ムという）が実装される。表示装置がコンピュータ本体
と一体化された製品、たとえばノート型パーソナルコン
ピュータのような製品の場合、ホストコンピュータは各
製品が兼ねる。テストプログラムはその製品のメモリに
実装される。
【００１８】エージング工程では、色ごとに式１で定ま
る必要時間に至るまで最大輝度で連続駆動を行う。図１
の場合、青の画素の必要時間が最短でｔ０であるため、
ｔ＝ｔ０に至ったとき青の画素に設定する輝度データを
ゼロとし、以降、青の画素は発光させない。同様に、ｔ
＝ｔ１に至ったとき赤の画素に設定する輝度データをゼ
ロとし、以降、赤の画素は発光させない。最後に、ｔ＝
ｔ２に至ったときエージング試験を終了する。
る必要時間に至るまで最大輝度で連続駆動を行う。図１
の場合、青の画素の必要時間が最短でｔ０であるため、
ｔ＝ｔ０に至ったとき青の画素に設定する輝度データを
ゼロとし、以降、青の画素は発光させない。同様に、ｔ
＝ｔ１に至ったとき赤の画素に設定する輝度データをゼ
ロとし、以降、赤の画素は発光させない。最後に、ｔ＝
ｔ２に至ったときエージング試験を終了する。
【００１９】以上の結果、いずれの画素も初期劣化がほ
ぼ終わり、以降ユーザの使用による画素の輝度低下が目
立たなくなる。除去しきれなかった劣化による輝度低下
は同程度になっているため、連続使用によってホワイト
バランスが崩れる不具合が減る。なお、エージング試験
が終わった時点でホワイトバランスがとれるよう表示制
御系のパラメータを予め設定しておくことになる。これ
も実験から決まる。
ぼ終わり、以降ユーザの使用による画素の輝度低下が目
立たなくなる。除去しきれなかった劣化による輝度低下
は同程度になっているため、連続使用によってホワイト
バランスが崩れる不具合が減る。なお、エージング試験
が終わった時点でホワイトバランスがとれるよう表示制
御系のパラメータを予め設定しておくことになる。これ
も実験から決まる。
【００２０】図３はパネル型の表示装置１０とそれをテ
ストするホストコンピュータ２０の構成を示す。ホスト
コンピュータ２０は表示装置１０に表示信号を送出する
表示コントローラ２２と、それを含みホストコンピュー
タ２０全体を制御するＣＰＵ２４とメモリ２６を含む。
このメモリ２６にテストプログラムがロードされ、エー
ジングテストがなされる。
ストするホストコンピュータ２０の構成を示す。ホスト
コンピュータ２０は表示装置１０に表示信号を送出する
表示コントローラ２２と、それを含みホストコンピュー
タ２０全体を制御するＣＰＵ２４とメモリ２６を含む。
このメモリ２６にテストプログラムがロードされ、エー
ジングテストがなされる。
【００２１】以上、実施の形態によれば、画素の色によ
らず、初期劣化がとれた状態で出荷できる。また、その
ために必要なエージング時間を客観的に最適化できるた
め効率がよい。
らず、初期劣化がとれた状態で出荷できる。また、その
ために必要なエージング時間を客観的に最適化できるた
め効率がよい。
【００２２】以上、本発明を実施の形態をもとに説明し
た。この実施の形態は例示であり、それらの各構成要素
や各処理プロセスの組合せにいろいろな変形例が可能な
こと、またそうした変形例も本発明の範囲にあることは
当業者に理解されるところである。そうした例を挙げ
る。
た。この実施の形態は例示であり、それらの各構成要素
や各処理プロセスの組合せにいろいろな変形例が可能な
こと、またそうした変形例も本発明の範囲にあることは
当業者に理解されるところである。そうした例を挙げ
る。
【００２３】実施の形態ではすべての画素を最高輝度で
試験したが、必要時間が揃うよう輝度データを調整して
もよい。図１の場合、青と赤の画素はともに緑の画素よ
り早く試練が終わるため、それらの輝度データを少し下
げることにより、３色の画素ともほぼ同時にエージング
を終了させることができる。
試験したが、必要時間が揃うよう輝度データを調整して
もよい。図１の場合、青と赤の画素はともに緑の画素よ
り早く試練が終わるため、それらの輝度データを少し下
げることにより、３色の画素ともほぼ同時にエージング
を終了させることができる。
【００２４】実施の形態では、時間に関する輝度の積分
値を考えたが、時間に関する輝度の微分値を発光目標値
にすることもできる。たとえば、青、赤、緑の画素の輝
度をそれぞれ一定時間Δｔごとに測定し、 ｛（前回の輝度）−（今回の輝度）｝／Δｔ の絶対値（以下、劣化率ともよぶ）が所定値以下になっ
た色の画素から順にエージングを終了してもよい。この
ことにより、劣化の時間変化がある程度フラットになっ
たときエージングが終了でき、初期劣化を完了させる目
的に沿う。なお、劣化率は画素タイプごとに定めてもよ
いし、すべてのタイプについて同一設定であってもよ
い。
値を考えたが、時間に関する輝度の微分値を発光目標値
にすることもできる。たとえば、青、赤、緑の画素の輝
度をそれぞれ一定時間Δｔごとに測定し、 ｛（前回の輝度）−（今回の輝度）｝／Δｔ の絶対値（以下、劣化率ともよぶ）が所定値以下になっ
た色の画素から順にエージングを終了してもよい。この
ことにより、劣化の時間変化がある程度フラットになっ
たときエージングが終了でき、初期劣化を完了させる目
的に沿う。なお、劣化率は画素タイプごとに定めてもよ
いし、すべてのタイプについて同一設定であってもよ
い。
【００２５】この方法をとる場合、図３の構成に対し
て、図示しない輝度測定器が追加される。この輝度測定
器は表示装置１０のパネル面に近接配置され、その輝度
を所定時間毎に測定する。測定値はホストコンピュータ
２０に送られ、劣化率と前述の所定値の比較が行われ
る。
て、図示しない輝度測定器が追加される。この輝度測定
器は表示装置１０のパネル面に近接配置され、その輝度
を所定時間毎に測定する。測定値はホストコンピュータ
２０に送られ、劣化率と前述の所定値の比較が行われ
る。
【００２６】実施の形態では有機発光ダイオードの表示
装置を採り上げたが、これは当然別種の表示装置であっ
てもよく、その場合、発光目標値は異なるパラメータを
もとに定めてもよい。
装置を採り上げたが、これは当然別種の表示装置であっ
てもよく、その場合、発光目標値は異なるパラメータを
もとに定めてもよい。
【００２７】エージング試験中は表示装置の発熱を抑え
るために当該装置を冷却してもよい。別の観点として、
初期劣化が早く終わるよう雰囲気条件の設定をしてもよ
い。
るために当該装置を冷却してもよい。別の観点として、
初期劣化が早く終わるよう雰囲気条件の設定をしてもよ
い。
【００２８】
【発明の効果】本発明によれば、効率的かつ効果的なエ
ージング技術とそれを用いた表示装置の製造技術を提供
できる。
ージング技術とそれを用いた表示装置の製造技術を提供
できる。
【図１】 有機発光ダイオードを用いた表示装置の初期
劣化を示す図である。
劣化を示す図である。
【図２】 実施の形態に係る表示装置の製造工程を示す
図である。
図である。
【図３】 表示装置とそれを試験するホストコンピュー
タの構成図である。
タの構成図である。
１０ 表示装置、 ２０ ホストコンピュータ。
フロントページの続き
(72)発明者 森 幸夫
大阪府守口市京阪本通２丁目５番５号 三
洋電機株式会社内
(72)発明者 山下 敦弘
大阪府守口市京阪本通２丁目５番５号 三
洋電機株式会社内
(72)発明者 棚瀬 晋
大阪府守口市京阪本通２丁目５番５号 三
洋電機株式会社内
(72)発明者 井上 益孝
大阪府守口市京阪本通２丁目５番５号 三
洋電機株式会社内
Ｆターム(参考） 2F076 AA06 AA07 AA14
3K007 AB11 AB18 DB03 FA04
5G435 AA19 BB05 CC12 KK00 KK05
LL06 LL07 LL08
Claims (5)
- 【請求項１】 特性の異なる複数タイプの画素を備えた
表示装置について、前記タイプごとに試験条件を変えて
発光せしめることを特徴とする、表示装置のエージング
方法。 - 【請求項２】 それぞれが異なる色を実現する複数タイ
プの画素を備えた表示装置について、前記タイプごとに
定めた発光目標値に到達するまで、前記タイプごとに画
素の発光を制御することを特徴とする、表示装置のエー
ジング方法。 - 【請求項３】 前記発光目標値は発光輝度の時間積分値
であり、前記タイプごとに画素の初期劣化を終了させる
ことを目的として設定されることを特徴とする請求項２
に記載の方法。 - 【請求項４】 前記発光目標値は発光輝度の時間微分値
であり、前記タイプごとに画素の初期劣化を終了させる
ことを目的として設定されることを特徴とする請求項２
に記載の方法。 - 【請求項５】 アセンブリ工程とエージング工程を含
み、 アセンブリ工程では、それぞれが異なる色を実現する複
数タイプの画素を有する表示装置を完成または半完成せ
しめ、 エージング工程では、前記タイプごとに定めた発光目標
値に到達するまで、前記タイプごとに画素の発光を制御
することを特徴とする、表示装置の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002084283A JP3813525B2 (ja) | 2002-03-25 | 2002-03-25 | 表示装置のエージング方法および製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002084283A JP3813525B2 (ja) | 2002-03-25 | 2002-03-25 | 表示装置のエージング方法および製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003280547A true JP2003280547A (ja) | 2003-10-02 |
| JP3813525B2 JP3813525B2 (ja) | 2006-08-23 |
Family
ID=29231707
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002084283A Expired - Lifetime JP3813525B2 (ja) | 2002-03-25 | 2002-03-25 | 表示装置のエージング方法および製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3813525B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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