JP2003270594A - 可変分散等化装置 - Google Patents

可変分散等化装置

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JP2003270594A JP2002075858A JP2002075858A JP2003270594A JP 2003270594 A JP2003270594 A JP 2003270594A JP 2002075858 A JP2002075858 A JP 2002075858A JP 2002075858 A JP2002075858 A JP 2002075858A JP 2003270594 A JP2003270594 A JP 2003270594A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 グレーティングに付与する温度勾配を低く抑
えながら、大きな分散可変幅が得られる可変分散等化装
置を提供する。 【解決手段】 この可変分散等化装置は、グレーティン
グの長手方向に沿ってブラッグ波長を変化させたチャー
プグレーティング2を有する光導波路と、前記チャープ
グレーティングの前記ブラッグ波長を変化させて波長分
散を制御する波長分散制御装置とを備え、前記チャープ
グレーティングの長さは、60mm以上、80mm以下
の範囲内であると共に、前記チャープグレーティングの
両端部での中央部に対する屈折率変調の比は5%以下で
ある。好ましくは、前記チャープグレーティングは、屈
折率変調の包絡線が所定のsinc型関数又は所定のス
ーパーガウス型関数の形状を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、超高速光通信シス
テムにおける分散補償技術に関し、特にチャープグレー
ティングを用いた可変分散等化装置に関する。
【0002】
【従来の技術】光ファイバケーブルを伝送路に用いた光
通信システムでは、光ファイバの波長分散(単に分散と
もいい、以下、「分散」と称す)により光パルスが歪む
ため、信号の劣化を生じる。これは波長の異なる光パル
スの波束の群速度が異なるためで、光パルスの波束があ
る一定距離を伝搬するのに要する時間、すなわち群遅延
時間(単位:ps)が異なるためである。この群遅延時
間の波長に対する割合が分散(単位:ps/nm)であ
る。通常の光ファイバに用いられるシングルモードファ
イバ(SMF)では、波長1550nm近辺で伝送路1
kmあたりで生じる分散は、約16ps/(nm・k
m)の値を有する。これは波長が1nm異なる光パルス
が1kmのシングルモードファイバを伝搬するのに要す
る群遅延時間の差が16psという意味で、例えば波長
が1nm異なる光パルスが100kmの光ファイバを伝
搬した場合の群遅延時間は100倍の1600psとな
る。
【0003】一方、変調された光パルスは、変調方式や
ビットレートにより決まる幾つかの線スペクトルの広が
りを持ち、その包絡線はガウス分布型となる。例えばR
Z(return−to−zero)変調方式では、そ
れぞれの線スペクトルの間隔は、ビットレート(伝送速
度)が10Gbit/sの場合には0.08nmである
が、ビットレート40Gbit/sの場合には0.32
nmとなる。すなわち線スペクトルの広がりはビットレ
ートに比例して増大する。またNRZ(nonretu
rn−to−zero)変調方式では、RZ変調方式の
半分の線スペクトル広がりとなる。このようにビットレ
ートが高くなるに従い、光パルスの成分である線スペク
トルの間隔が広がるため、光ファイバ伝送路を伝搬した
ときの群遅延時間の差が大きくなり光パルスの歪みが増
大する。光パルスが受ける光ファイバ伝送路の分散の影
響はビットレートの二乗に比例して大きくなる。このた
めに光ファイバ伝送路の分散を打ち消す分散を有するデ
バイスを伝送路に挿入し、全体として分散を零に近づけ
る技術が分散補償技術であり、特に40Gbit/s以
上のビットレートでは伝送路の分散を精密に零に近づけ
る必要がある。
【0004】このような分散を補償するデバイスとし
て、チャープグレーティングを用いた可変分散等化器が
ある。図16は、例えば、特開2000−137197
号公報あるいは特開2000−244394号公報に示
された従来の可変分散等化器の構成を示す断面図であ
る。この可変分散等化器60は、図17に示すように、
光ファイバ50に所定の長さのグレーティング51が形
成されている。また、光ファイバ50のグレーティング
51を形成した周囲にグレーティング51の長手方向に
所定の割合で膜厚を変化させた抵抗膜からなるヒータ5
3が形成されている。さらに、ヒータ53の両端には一
対の電極54,55が設けられている。このグレーティ
ング51は、紫外レーザー光を位相マスクを通して光フ
ァイバに照射して、位相マスクによる紫外レーザー光の
干渉縞により屈折率変調が形成されている。このグレー
ティング51としては、グレーティングピッチが長手方
向に一定なユニフォームグレーティング、またはグレー
ティングピッチが長手方向に一次関数的に変化するチャ
ープグレーティングが用いられる。グレーティング51
の周囲に形成されたヒータ53は、その両端に設けられ
た電極54,55に電力を印加すると、グレーティング
51の長手方向に一次関数的な発熱を生じるように抵抗
膜の厚さが調整されて形成されている。そこで、ヒータ
53の両端に設けた電極54,55に電力を印加するこ
とにより、グレーティング51に温度が一次関数的に変
化する温度勾配を印加することができる。その結果、グ
レーティング51の等価屈折率が印加温度に比例して変
化する。等価屈折率は実効屈折率とも呼ばれ、光ファイ
バを伝搬する光が受ける等価的な屈折率で、コアとクラ
ッドの屈折率と光の伝搬経路との相互作用からなる屈折
率である。なお、厳密に言えば温度変化によってグレー
ティング51のグレーティングピッチも変化するが、等
価屈折率の変化に比べ影響が小さい。グレーティング5
1で反射する光の波長(ブラッグ波長)は、グレーティ
ングピッチΛと等価屈折率Neffの積の2倍となるた
め、ヒータ53による温度勾配に比例してブラッグ波長
の変化率、すなわちチャープ率を変化させることがで
き、ヒータ53に印加する電力によってグレーティング
51の波長分散を可変することができる。
【0005】このような可変分散等化器について、以下
のような先行技術文献がある。従来の可変分散等化器に
ついて、B.J.Eggleton等によって、Jou
rnal of Lightwave Technol
ogy,Vol.18,No.10,1418頁〜14
32頁(2000年10月発行)、あるいはIEEEP
hotonics Technology Lette
rs,Vol.11,No.7,854頁〜856頁
(1999年7月発行)にさらに詳細に示されている。
グレーティング11に、グレーティング長75mmでグ
レーティングピッチが一定のユニフォームグレーティン
グを標準的なアポダイゼーションで形成し、ヒータ13
に印加する電圧を7〜13Vまで変化させることで、グ
レーティング11の分散を−2200〜−500ps/
nmまで変化させている。しかし、40Gbit/sの
システムでは少なくとも0.8nm以上の帯域が必要で
あるため、ユニフォームグレーティングよりもむしろチ
ャープグレーティングを用いた方が適していると述べら
れている。彼等はグレーティングピッチが1cmあたり
0.175nmの割合で変化するチャープグレーティン
グを用いて、分散可変幅が220ps/nmの可変分散
等化器を実現しており、分散可変幅200ps/nm以
上を得るために、室温で25℃〜175℃の温度勾配を
印加したと述べられている。
【0006】一方、本発明者等によって別の従来の可変
分散等化器(第2の従来例)が、IEEE Photo
nics Technology Letters,V
ol.13,No.8,827頁〜829頁(2001
年8月発行)に示されている。これはチャープグレーテ
ィングを32個の薄膜ヒータ上に設置し、32個の薄膜
ヒータの温度をそれぞれ独立に制御することにより、チ
ャープグレーティングに直線的な温度勾配を印加して、
チャープグレーティングの分散を可変するものである。
ここでは、グレーティング長40mmで、6次のスーパ
ーガウス型のアポダイゼーションで形成したチャープグ
レーティングを使用している。ここで本発明者等は、一
次関数的に変化する0〜60℃の温度勾配を設け、分散
可変幅が100ps/nm以上の可変分散等化器を実現
し、40Gbit/sの光信号伝送を行っている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上述のようにチャープ
グレーティングに一次関数的に変化する温度勾配を印加
し、その温度勾配を制御することにより分散を可変する
可変分散等化器は、簡単に分散を可変制御できるデバイ
スとして有用である。しかし、上記第1の従来の可変分
散等化器では、200ps/nm以上の分散可変幅を得
るためには、室温に加えて175℃(室温25℃のと
き、200℃)もの温度を印加する必要がある。このよ
うな高温を印加することは、グレーティングを構成する
光ファイバの信頼性を悪化させ、さらにグレーティング
周辺部を高温に耐えるような構成にしなければらないと
いう問題点があった。一方、上記第2の従来の可変分散
等化器では60℃という低い温度で100ps/nmの
分散可変幅を実現しているが、分散可変幅をさらに大き
くするためにはさらに温度勾配を大きくする必要があ
る。しかも、分散可変幅は温度勾配に比例して大きくな
るものではないため、40Gbit/sのビットレート
で必要とされる200ps/nm以上の分散可変幅を得
るにはかなり高い温度が必要になるといった問題点があ
った。
【0008】そこで、本発明の目的は、グレーティング
に付与する温度勾配を低く抑えながら、大きな分散可変
幅が得られる可変分散等化装置を提供することである。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明に係る可変分散等
化装置は、グレーティングの長手方向に沿ってブラッグ
波長を変化させたチャープグレーティングを有する光導
波路と、前記チャープグレーティングの前記ブラッグ波
長を変化させて波長分散を制御する波長分散制御装置と
を備え、前記チャープグレーティングの長さは、60m
m以上、80mm以下の範囲内であると共に、前記チャ
ープグレーティングの両端部での中央部に対する屈折率
変調の比は5%以下であることを特徴とする。
【0010】また、本発明に係る可変分散等化装置は、
前記可変分散等化装置であって、前記チャープグレーテ
ィングは、屈折率変調の包絡線N(X)が、次式(1) N(X)=sinc(X) (1) [ただし、X=(x−(L/2))/(L/2)、(こ
こで、Lは前記チャープグレーティングの長さ、xは前
記チャープグレーティングの一方の端部を原点O(x=
0)としたときの前記チャープグレーティングに沿って
原点Oからの距離xである)、sinc(X)=sin
(X)/X、 a≧17.3、nは任意定数である]を
満足することを特徴とする。
【0011】さらに、本発明に係る可変分散等化装置
は、前記可変分散等化装置であって、前記チャープグレ
ーティングは、屈折率変調の包絡線N(X)が、次式
(2) N(X)=exp(−(X/b)2n) (2) [ただし、X=(x−(L/2))/(L/2)(ここ
で、Lは前記チャープグレーティングの長さ、xは前記
チャープグレーティングの一方の端部を原点O(x=
0)としたときの前記チャープグレーティングに沿って
原点Oからの距離xである)、b≦(1.7
3)1/n、nは任意定数である]を満足することを特
徴とする。
【0012】またさらに、本発明に係る可変分散等化装
置は、前記可変分散等化装置であって、前記チャープグ
レーティングは、屈折率変調の包絡線N(X)の次数n
が、4〜30の範囲内の実数であることを特徴とする。
【0013】また、本発明に係る可変分散等化装置は、
前記可変分散等化装置であって、前記波長分散制御装置
は、チャープグレーティングの長手方向に対する温度分
布を制御する温度分布制御装置であることを特徴とす
る。
【0014】さらに、本発明に係る可変分散等化装置
は、前記可変分散等化装置であって、前記温度分布制御
装置は、チャープグレーティングの長手方向に沿って正
又は負の温度勾配を付与可能なことを特徴とする。
【0015】またさらに、本発明に係る可変分散等化装
置は、前記可変分散等化装置であって、前記チャープグ
レーティングは、グレーティングの両端でのそれぞれの
グレーティングピッチが0.4nm〜0.7nmの範囲
内の差を有することを特徴とする。
【0016】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態に係る可変分
散等化装置について、添付図面を用いて説明する。な
お、実質的に同一の部材には同一の符号を付している。
【0017】実施の形態1.本発明の実施の形態1に係
る可変分散等化装置について、図1を用いて説明する。
なお、図1の(a)は、この可変分散等化装置の構成を
示すブロック図であり、(b)は、(a)のA−A’線
に沿った断面図である。この可変分散等化装置は、チャ
ープグレーティング2を有するチャープファイバグレー
ティング2aと、該チャープグレーティング2に配置さ
れた波長分散制御装置とを備える。この波長分散制御装
置は、チャープグレーティング2の近傍に設けられたヒ
ータ3、電極5、ヒータ制御装置6及びインタフェース
7からなる。このチャープグレーティング2は、屈折率
変調によりグレーティングの長手方向に沿ってブラッグ
波長を変化させている。具体的には、グレーティングピ
ッチを長手方向に一次関数的に変化させてブラッグ波長
を一次関数的に変化させている。なお、ブラッグ波長を
変化させる方法はこれに限られない。また、波長分散制
御装置によってブラッグ波長を変化させて波長分散を制
御する。さらに、チャープグレーティングの長さを60
mm以上、80mm以下の範囲内とすると共に、チャー
プグレーティング2の両端部での中央部に対する屈折率
変調の比を5%以下としている。これによって群遅延特
性でのリップルの発生を抑制し、伝送品質を維持するこ
とができる。
【0018】なお、この可変分散等化装置は、ハードウ
エア構成として2つの部分からなると考えることができ
る。この場合には、この可変分散等化装置は、図1の
(a)に示すように、チャープファイバグレーティング
2aとヒータ3と電極5とを備える可変分散等化器1
と、ヒータ制御装置6及びインタフェース7からなる制
御部とからなる。
【0019】さらに、この可変分散等化装置のチャープ
グレーティングにおける屈折率変調の包絡線、即ち、ア
ポダイズの形状について種々検討を行なったところ、s
inc関数型とスーパーガウス関数型の2つが好ましい
ことを見出した。このアポダイズに関する条件としては
次の2つである。 (1)まず、チャープグレーティングの群遅延特性はア
ポダイズの影響を受けるため、アポダイズの中央付近で
は屈折率変調の大きさが均一な方がよい。 (2)また、チャープグレーティングの両端では屈折率
変調の大きさが滑らかにゼロになる必要がある。例え
ば、チャープグレーティングの両端で屈折率変調の大き
さが急激にゼロになったり、ゼロまで小さくならなかっ
た場合には、群遅延特性にリップル(群遅延リップル)
を生じ伝送品質を劣化させてしまう。そこで、Cos関
数型,Tanh関数型など種々のアポダイズを検討した
結果、以下の式(3)で表されるSinc関数型と、式
(4)で表わされるスーパーガウス関数型が、群遅延リ
ップルの発生を抑え、グレーティング中央付近で屈折率
変調の大きさを均一にすることが出来ることを見出し
た。
【0020】(a)Sinc関数型[N(X):屈折率
変調の包絡線] N(X)=sinc(X) (3) ただし、 X=(x−(L/2))/(L/2)、 sinc(X)=sin(X)/X、 a≧17.3、 nは任意定数である。ここで、Lは前記チャープグレー
ティングの長さ、xは前記チャープグレーティングの一
方の端部を原点O(x=0)としたときの前記チャープ
グレーティングに沿って原点Oからの距離xである。
【0021】(b)スーパーガウス関数型[N(X):
屈折率変調の分布] N(X)=exp(−(X/b)2n) (4) ただし、 X=(x−(L/2))/(L/2)、 b≦(1.73)1/n、 nは任意定数である。ここで、Lは前記チャープグレー
ティングの長さ、xは前記チャープグレーティングの一
方の端部を原点O(x=0)としたときの前記チャープ
グレーティングに沿って原点Oからの距離xである。
【0022】また、上記式(3)、(4)で定数aおよ
び定数bの値は、グレーティングの両端(x=0、L)
で中央部(x=L/2)に対する屈折率変調の大きさの
比が5%以下になる値である。この定数aの値の範囲に
ついて、図4から図7を用いて説明する。図4は、式
(3)のsinc関数型の屈折率変調の包絡線N(X)
=sinc(X)について、定数aの値を種々変え
た場合の屈折率変調の包絡線を示すグラフである。ま
た、図5は、図4のチャープグレーティング2の端部
(x=0)での拡大図である。図6は、定数aを変化さ
せた場合の波長とアイ開口ペナルティ(Eye Ope
ning Penalty)との関係を示すグラフであ
る。図7は、定数aと帯域内アイ開口ペナルティの平均
値との関係を示すグラフである。このアイ開口ペナルテ
ィとは伝送後の光信号の品質を評価する方法の一つで、
いわゆるアイパターンにおいてアイ(Eye)の開き度
合をdB単位で示したものであり、この値が小さいほど
伝送後の光信号に品質劣化が生じていないことを示す。
このアイ開口ペナルティは、例えば、光信号をフォトダ
イオードで光電変換した電気信号をオシロスコープに入
力して測定することができる。
【0023】図4及び図5に示すように、定数aの値が
大きくなるにつれて上記条件の(2)に示すように、屈
折率変調の大きさは端部で滑らかに0となることがわか
る。この場合、おおよそ端部で中央部に対する屈折率変
調の大きさの比が5%となる包絡線の形状が好ましい。
また、図6及び図7に示すように、定数aが大きくなる
につれて帯域内アイ開口ペナルティの平均値をほぼゼロ
となる。この場合、おおよそ0.05dB以下が好まし
い。そこで、上記2つの条件から、定数aの値は、約1
5以上が好ましい。具体的には、以下に示すように、前
者の条件から定数aの範囲を算出することができる。
【0024】以下に、チャープグレーティングの端部で
中央部に対する屈折率変調の大きさの比が5%以下とな
る定数aの範囲を求める。ここで、グレーティングの長
さLを80mm、次数nを10とした。まず、チャープ
グレーティングの端部(x=0)に対応するXの値を求
める。対応するXの値は、 X=(0−(L/2))/(L/2)=−1 である。そこで端部での屈折率変調の大きさN(−1)
は、下記式で得られる。 N(−1)=sinc{(−1)} ここで、 sinc{(−1)}=sin{(−1)}/
{(−1)} であるので、このnが偶数又は奇数のいずれであっても sinc{(−1)}=0.84147 である。そこで、端部での屈折率変調の大きさN(−
1)は、 N(−1)=sinc{(−1)}=(0.841
47) が得られる。
【0025】一方、屈折率変調の最大値は、チャープグ
レーティングの中央部(x=L/2)であり、このとき
のXは、下記式で得られる。 X=((L/2)−(L/2))/(L/2)=0 そこで、チャープグレーティングの中央部での屈折率変
調の大きさN(0)は、 N(0)=sinc(0)={sin(0)/
(0)}=1=1 となる。
【0026】そこで、チャープグレーティングの端部
(x=0)での中央部に対する屈折率変調の大きさの比
が5%以下となるaの値の条件は、下記式の範囲であ
る。 N(−1)≦0.05×N(0) (0.84147)≦0.05 さらに、両辺の対数をとり、整理すると、 a・log(0.84147)≦log(0.05) a≧log(0.05)/log(0.84147) a≧17.356 (5) の関係式が得られる。よって、定数aは17.3以上で
あることが条件となる。
【0027】なお、チャープグレーティングの屈折率変
調の包絡線が式(4)に示すようなスーパーガウス型関
数の場合には、チャープグレーティングの端部での中央
部に対する屈折率変調の大きさの比が5%以下となる場
合について、上記と同様にして計算すればよい。この場
合には、定数bの範囲は、 b≦(1.73)1/n (6) の関係式を満たす範囲である。
【0028】なお、上記式(3)及び(4)を満足する
チャープグレーティングのアポダイズを形成する方法と
しては、例えば、紫外光の照射量を制御することによっ
て行うことができる。具体的には、紫外光レーザを位相
マスクを介して光ファイバに照射してチャープグレーテ
ィングを作製するにあたって、紫外光の強度と照射時間
との積算値が上記式(3)、(4)を満足するように複
数回走査させることによって所望の屈折率変調の包絡線
を形成することができる。なお、屈折率変調の制御方法
は上述の場合に限定されない。
【0029】次に、チャープグレーティングの屈折率変
調の大きさの測定方法を図8を用いて説明する。即ち、
チャープグレーティングの屈折率変調は、以下の手順で
測定することができる。 (a)光ファイバの外部側面からチャープグレーティン
グの所定箇所に対してレーザ光を照射する。レーザ光源
としては、例えば、He−Neレーザ光源21を用いる
ことができる。なお、レーザ光を照射する範囲は1mm
以下の範囲が好ましい。さらに好ましくは0.1mm以
下の範囲である。 (b)グレーティング2で反射されるレーザ光の強度を
ディテクタ22で測定する。 (c)グレーティング2で反射されるレーザ光は、入射
角度θが下記式を満足する場合に反射光の強度が大きく
なる。 レーザ光の波長λ=2・Neff・Λ・sinθ ここでΛはグレーティングピッチであり、Neffはグ
レーティングを形成した光ファイバの等価屈折率であ
る。そこで、入射角度θを変化させて、反射されるレー
ザ光の強度が最大になる角度θで、反射されたレーザ光
の光強度を測定する。この光強度はグレーティングのレ
ーザ光を入射した部分の屈折率変調の大きさに比例す
る。また、等価屈折率Neffは通常グレーティングに
沿って一定であるため、反射されるレーザ光の強度が最
大になる角度θを測定することでその場所のグレーティ
ングピッチΛを測定することが出来る。また、等価屈折
率N ffがグレーティングに沿って一定でない場合で
あっても、他の方法で等価屈折率Neffの分布を測定
し、反射されるレーザ光の強度が最大になる角度θを測
定することでグレーティングピッチΛを測定することが
できる。なお、屈折率変調の大きさは、反射される光の
強度に比例するので、等価屈折率Neffやグレーティ
ングピッチΛには依存しない。 (d)チャープグレーティング2に沿ってレーザ光を照
射する箇所を移動させて、上記(a)から(c)の手順
を繰り返して、チャープグレーティング2に沿って屈折
率変調の大きさ、グレーティングピッチΛの変化を測定
することができる。なお、屈折率変調の測定は上記方法
に限られない。
【0030】さらに、この可変分散等化装置におけるチ
ャープグレーティング2の屈折率変調の包絡線は、具体
的には、下記式(7)に示すSinc関数型となるよう
に形成した。この屈折率変調の包絡線は一般にアポダイ
ズまたはアポダイゼーションと呼ばれる。 N(X)=sinc60(X) (7) ただし、 X=(x−30)/30、 sinc(X)=sin(X)/X、 ここで、xはグレーティングの一端を0mmとしたとき
の位置(mm)である。
【0031】このチャープグレーティング2は、上記式
(3)において、定数aを60、次数nを6とし、グレ
ーティング長Lを60mmとした場合に該当する。ま
た、このチャープグレーティング2は、光ファイバにグ
レーティングピッチが線形に0.08nm/cmの割合
で変化するように形成されている。
【0032】さらに、この可変分散等化装置の波長分散
制御装置の構成について説明する。この波長分散制御装
置は、光導波路のチャープグレーティング近傍に設けら
れた複数の温度可変手段を制御し、ブラッグ波長を変化
させてチャープグレーティングの分散を制御する。具体
的には、この波長分散制御装置は、光導波路に温度分布
を付与する温度分布付与手段、即ち、ヒータ及びその制
御回路等で構成される。即ち、この波長分散制御装置
は、図1のブロック図に示すように、光導波路のグレー
ティング近傍に設けたヒータ3に電極部5を介して制御
信号を印加する制御部であるヒータ制御回路6、インタ
ーフェース回路7からなる。この波長分散制御装置で
は、設定しようとする分散をインターフェース回路7に
入力すると、このインターフェース回路7からの制御信
号に基づいてヒータ制御回路6を介して各薄膜ヒータ3
,3,…,3にそれぞれ独立に電力を印加して、
グレーティングに所定の温度分布を与える。
【0033】さらに、この可変分散等化装置によって波
長分散制御する光導波路の構成について説明する。この
光導波路2aは、図1の(b)の断面図に示すように、
グレーティングピッチが線形に変化するチャープグレー
ティング2が形成されたコア11と該コア11の周囲を
覆うクラッド12とからなる光ファイバ2aである。こ
の光ファイバは、熱伝導率の低い基板4上に配置されて
いる。この熱伝導率の低い基板4としては、例えば、石
英,ガラスなどのセラミックスやポリイミドなどの樹脂
からなる基板を用いることができる。また、薄膜ヒータ
,3、…、3は、この光ファイバ2aと基板4
との間に配置されている。なお、電極部51a
2a,…,5Na,51b,52b,…,5Nbは、
薄膜ヒータ3,3,…,3と同時に薄膜プロセス
により形成される。この電極部51a,52a,…,5
Na,51b,52b,…,5Nbは、薄膜ヒータと同
じ材質であるが線幅を十分広くして抵抗値を小さくして
いる。そのため、各電極部5では、薄膜ヒータ3に比較
し温度上昇は無視できるほど小さい。さらに上部に銅や
銀など電気伝導率の高い金属薄膜を形成すればさらに高
効率化できる。この電極部51a,52a,…,5Na
はリード線によってヒータ制御回路6に接続され、一
方、電極部51b,52b,…,5Nbはリード線によ
ってグランド(GND)に接続される。また、チャープ
グレーティング2の一端には光信号入出力部となる光フ
ァイバ8が設けられている。なお、チャープグレーティ
ング2の上にはチャープグレーティング2を保護し、薄
膜ヒータ3への密着を補助する保護部材(不図示)を設
けてもよい。また、ヒータ制御回路6、インターフェー
ス回路7などの構成や動作はこれに限られるものではな
い。例えば、ヒータ制御回路6では、制御信号をD−A
変換器によってアナログ電圧や電流に変換することな
く、パルス電圧または電流を時間分割でデジタル的に印
加してもよい。また、光導波路として、光ファイバでは
なく平面光波回路(Planar Lightwave Circuit:以下P
LCと称す)を用いた場合においても同様の構成とする
ことができる。
【0034】次に、この可変分散等化装置の動作につい
て説明する。図2はチャープグレーティングを有する可
変分散等化装置の動作について説明する図であり、図3
は可変分散等化装置を構成する波長分散制御装置のヒー
タの温度分布と群遅延時間の関係を示す図である。光フ
ァイバ8より入力された波長λの光は、チャープグレ
ーティング2のグレーティングピッチΛと等価屈折率N
effが次式(8)を満足する場合に反射される。 λ=2・Neff・Λ (8)
【0035】そこで、図2に示すように、入出力側でグ
レーティングピッチが広く、入出力側から右に行くほど
グレーティングピッチが密になっているチャープグレー
ティング2に入力される光がどのように反射されるかを
考えてみる。この場合には、波長の長い光λ
longは、入出力側に近いalongの位置で反射さ
れ、一方、波長の短い光λshortは、入出力側から
遠いashortの位置で反射される。このため、波長
の短い光λshortは波長の長い光λlongよに比
べてより長い距離を伝搬するため群遅延時間は長くな
る。このようにチャープグレーティングでは波長の違い
によって群遅延時間が異なり、所定の分散を得ることが
できる。そこで、光ファイバ伝送路とは逆の符号の分散
を伝送路に付与することで分散等化を行うことができ
る。
【0036】しかし、光ファイバ伝送路の分散は距離や
温度などの周囲環境によって変化し、一定ではないの
で、光ファイバ伝送路の分散に応じて分散等化デバイス
の分散を変化させる必要がある。このためにグレーティ
ングに温度分布を与えて、等価屈折率Neffを変化さ
せて各波長の光を反射する位置を変化させて分散を可変
にしている。この可変分散等化装置の分散を変化させる
例を、図3の(a)のグレーティング位置による温度分
布と、(b)の波長と群遅延時間との関係に示した。こ
のように、グレーティング近傍に設けたヒータでグレー
ティングに与える温度分布によって分散は変化する。
【0037】具体的には、図3の(a)のグレーティン
グ位置による温度分布のグラフにおいて、直線aは薄膜
ヒータ3,3,…,3の各温度が一定で、チャー
プグレーティングの等価屈折率Neffがグレーティン
グの長手方向に対して一定である場合である。この場
合、上記のように温度制御しない場合と同様であり、チ
ャープグレーティングで反射される光の波長は、グレー
ティングピッチΛに比例する。従って波長の短い光λ
shortは波長の長い光λlongより長い距離を伝搬するた
め群遅延時間が長くなる。このときの波長に対する群遅
延時間の関係を示すと図4の(b)に示す直線aのよう
になる。また、このヒータ3の温度分布を図4の(a)
の直線bに示すように入出力側に近い側で高温にし、入
出力側から遠い側で低温にすると、入出力側に近い側の
等価屈折率が大きくなり、入出力側から遠い側の等価屈
折率が小さくなる。従って波長の長い光λlongは、図3
に示すように、blongの場所で反射され、一方、波長の
短い光λshortはbshortの場所で反射されて、波長に対
する群遅延時間の関係は図4の(b)の直線bのように
なる。同様にヒータ3の温度分布を図4の(a)の直線
cのようにすると、波長に対する群遅延時間の関係は図
4の(b)の直線cのように傾きが大きくなる。分散は
群遅延時間の傾き、即ち群遅延時間の波長微分であるの
で、以上のようにヒータの温度分布を変化することで分
散可変を実現することができる。
【0038】図9は、この可変分散等化装置のチャープ
グレーティングに−50℃,±0℃,+50℃の3通り
の温度勾配を印加したときの群遅延特性および損失特性
(振幅特性)を示すグラフである。この図7の群遅延特
性に示すように、それぞれの温度勾配における分散値
は、−50℃:−670ps/nm、±0℃:−425
ps/nm、+50℃:−310ps/nmである。こ
のようにチャープグレーティングに±50℃、すなわち
絶対値で50℃の温度勾配を印加するだけで、分散値を
−670ps/nmから−310ps/nmまで可変
し、360ps/nmの分散可変幅を得ることができ
た。このようにグレーティングの長手方向に対して異な
る正負の符号の温度勾配を付与することによって、従来
の可変分散等化器のように同一方向の符号の温度勾配を
付与するより、小さな温度勾配の絶対値で大きな可変分
散幅を得ることができる。また、低消費電力および最高
温度を抑制できる。
【0039】ここで、温度勾配の符号+または−は、チ
ャープグレーティングのチャープ率を大きくする場合を
符号+とし、チャープ率を小さくする場合を符号−とし
ている。即ち、この図9に示したチャープグレーティン
グは入出力側のグレーティングピッチΛが大きく、入出
力側から遠ざかるに従って小さくなるため、入出力側か
ら見ればグレーティングピッチのチャープ率が減少する
チャープグレーティングである。そこで、チャープグレ
ーティングの入出力側で温度が高く、入出力側から遠ざ
かるに従い温度が低くなる温度勾配は、入出力側から見
れば温度勾配は負であるが、チャープグレーティングの
チャープ率と同じ変化率を示すので、この場合の温度勾
配の符号を+とした。一方、チャープグレーティングの
入出力側は温度が低く、入出力側から遠ざかるに従い温
度が高くなる温度勾配はチャープグレーティングのチャ
ープ率と異なる変化率を示すため、この場合の温度勾配
の符号を−とした。すなわちこのチャープグレーティン
グのチャープ率を大きくする方向の温度勾配が+符号
で、チャープ率を小さくする方向の温度勾配が−符号で
ある。なお、±0℃とはチャープグレーティングに温度
勾配を設けていないことを示す。
【0040】図10は、この可変分散等化装置を用いて
43Gbit/sのNRZ変調された光信号を伝送した
ときのアイ開口ペナルティ(Eye Opening
Penalty)を示したものである。このアイ開口ペ
ナルティとは伝送後の光信号の品質を評価する方法の一
つで、いわゆるアイパターンにおいてアイの開き度合を
dB単位で示したものであり、この値が小さいほど伝送
後の光信号に品質劣化が生じていないことを示す。この
アイ開口ペナルティは、例えば、光信号をフォトダイオ
ードで光電変換した電気信号をオシロスコープに入力し
て測定することができる。図10より、光信号の波長1
550.9nm付近で、温度勾配が−50℃,±0℃,
+50℃の全てにおいて、アイ開口ペナルティがほぼ0
dBとなっていることが分かる。これは伝送品質が全く
劣化していないことを示しており、この可変分散等化装
置が±50℃の温度勾配変化で360ps/nmの分散
可変幅を得ると共に、43Gbit/sのNRZ変調さ
れた光信号伝送に使用可能であることを示している。図
10から分かるように、アイ開口ペナルティが小さい波
長帯域は分散値の絶対値が最も大きい場合に狭くなる。
【0041】図11は、温度勾配が−50℃(分散値:
−670ps/nm)のときの、アイ開口ペナルティと
損失特性および分散特性を同一グラフ上に示したもので
ある。分散特性は群遅延特性を波長で微分して求められ
る。なお、ここでは測定ノイズの影響を抑えるため、さ
らに群遅延時間を波長で微分して求めた分散特性を0.
1nmの波長範囲で移動平均して示した。図11から分
かるように、アイ開口ペナルティが最小となる波長は、
損失特性の1dB帯域の中心の波長より少し短波長で、
○で囲んだAの部分でアイ開口ペナルティが大きくなっ
て伝送品質が劣化している。これは分散特性の○で囲ん
だBの部分で分散が大きく変化しているためである。こ
のことから、この種のチャープグレーティングを用いた
可変分散等化装置では、従来必要な帯域幅として損失特
性の1dB帯域を元に設計されていたが、損失特性の1
dB帯域ではなく、分散特性の分散が平坦な帯域を元に
設計する必要があることが分かる。
【0042】図12は、チャープグレーティング2に+
40℃、±0℃、−40℃の3通りの温度勾配を印加し
た場合における、グレーティング長と分散平坦帯域幅及
び分散可変幅との関係を示すグラフである。なお、グレ
ーティング長は、40mmから100mmまでの間で検
討した。また、グレーティングのアポダイズは式(7)
で示したものを用いた。ここで分散平坦帯域幅は、−4
0℃の温度勾配を印加したときの分散特性で、分散の変
動値が±10ps/nmに収まる帯域幅を示したもので
ある。また、分散可変幅は−40℃の温度勾配を印加し
たときの分散値と、+40℃の温度勾配を印加したとき
の分散値の差である。これらをグレーティングピッチの
チャープ率を幾つか変えて求めグラフ化したものであ
る。図12より分散平坦帯域幅に対する分散可変幅はグ
レーティング長が長くなるに従って大きくなるのではな
く、70〜80mmで最大値となり、それ以上グレーテ
ィング長が長くなっても大きな分散可変幅が得られない
ことが分かる。
【0043】図13は、図12の分散平坦帯域幅0.4
nmの分散可変幅をグレーティング長に対して示したグ
ラフである。図13より分散可変幅はグレーティング長
50mm以上で急激に増大し、70mmで最大値を示
し、それ以上長くなると徐々に小さくなることが分か
る。グレーティング長が長くなるに従って分散可変幅が
徐々に減少するのは、グレーティング長が長くなるほど
損失特性がシャープな形状になり、その影響が分散特性
の平坦な部分を減少させるためである。図13よりグレ
ーティング長60mmとグレーティング長100mmで
は、分散平坦帯域幅0.4nmに対してほぼ同じ分散可
変幅が得られるが、グレーティングの両端で絶対値40
℃の温度勾配を印加する場合、グレーティング長100
mmは、グレーティング長60mmの10/6倍の消費
電力を必要とするため、グレーティング長60mmの方
が好ましい。従って、消費電力を大きくせず、大きい分
散可変幅を得るにはグレーティング長を60〜80mm
の範囲内の長さとすればよい。以上は温度勾配を±40
℃印加した場合について述べたが、温度勾配はこれに限
らず他の温度勾配でも同様にグレーティング長60〜8
0mmが最適なグレーティング長であった。
【0044】以上のように、この可変分散等化装置によ
れば、屈折率変調の包絡線を式(3)で表されるSin
c関数型、または式(4)表されるスーパーガウス関数
型とし、グレーティング長を60〜80mmとすること
で、伝送後の光信号を劣化させることなく、小さな温度
勾配で大きな分散可変幅が得られる。
【0045】実施の形態2.本発明の実施の形態2に係
る可変分散等化装置について説明する。この可変分散等
化装置は、実施の形態1に係る可変分散等化装置と比較
すると、チャープグレーティングは、式(3)に示すs
inc関数型の屈折率変調の包絡線において、次数nを
4〜30の範囲を満足している点で相違する。このよう
に式(3)で次数nを4〜30の範囲とすることによっ
てアイ開口ペナルティ0.5dB以下の波長範囲を広く
とることができる。
【0046】次に、この可変分散等化装置におけるチャ
ープグレーティングの屈折率変調の包絡線に関する上記
式(3)および式(4)における次数nについての検討
結果を説明する。図14は、チャープグレーティング
に、−50℃の温度勾配を印加した場合の次数nと、4
3Gbit/sのNRZ変調光信号を伝送したときのア
イ開口ペナルティが0.5dB以下の波長範囲の関係を
示したものである。なお、屈折率変調の包絡線は、式
(3)のSinc関数で表されるアポダイズで、グレー
ティング長を60mm、定数aを60とした。この図1
4から次数nが4〜30でアイ開口ペナルティ0.5d
B以下の波長範囲は最も広くなることが分かる。次数n
が小さい場合はグレーティング中央部での屈折率変調の
大きさが均一な部分が短くなり群遅延特性が直線ではな
くなり分散が平坦な領域が減少する。一方、次数nが3
0より大きくなると屈折率変調がグレーティングの両端
で急激にゼロになるため、群遅延特性に群遅延リップル
が生じ、やはり分散が平坦な領域が減少し、アイ開口ペ
ナルティ0.5dB以下の波長範囲が狭くなる。
【0047】このように次数nを4〜30の範囲とする
ことによってアイ開口ペナルティが0.5dB以下とな
る波長範囲を最も広くすることができる。なお、上記の
パラメータに限るものではなく、定数aが他の値でも同
様の結果が得られた。またグレーティング長が60mm
以外の場合にも同様の結果が得られた。さらに式(4)
に示したスーパーガウス関数型のアポダイズを用いたチ
ャープグレーティングでも、定数bやグレーティング長
に関わらず同様の結果を得ることができる。
【0048】以上に述べたように、この可変分散等化装
置によれば、チャープグレーティングの屈折率変調の包
絡線を式(3)で表されるSinc関数型、または式
(4)表されるスーパーガウス関数型とし、次数nを4
〜30とし、グレーティング長を60〜80mmとして
いる。これによって、伝送後の光信号を劣化させること
なく、小さな温度勾配で大きな分散可変幅が得られる。
【0049】実施の形態3.本発明の実施の形態3に係
る可変分散等化装置について説明する。この可変分散等
化装置は、実施の形態1及び2に係る可変分散等化装置
と比較すると、チャープグレーティングの両端部のグレ
ーティングピッチの差を0.4nm〜0.7nmの範囲
内としている点で相違する。これによって分散平坦帯域
幅を必要な幅以上獲得し、分散可変幅を十分大きくする
ことができる。
【0050】次に、この可変分散等化装置において、チ
ャープグレーティング2のグレーティングピッチのチャ
ープ率と分散可変幅および分散平坦帯域幅の関係につい
て説明する。図15は、チャープグレーティングにおい
て、チャープグレーティング両端のグレーティングピッ
チの差に対する、±40℃の温度勾配を印加したときの
分散可変幅および分散平坦帯域幅の関係を示すグラフで
ある。なお、このチャープグレーティングは、グレーテ
ィングピッチが長手方向に一次関数的に変化する。ま
た、チャープグレーティングの屈折率変調の包絡線は式
(3)で示すSinc関数型とし、定数aは60,次数
nは6とした。ここで分散平坦帯域幅は分散の変動が±
10ps/nmの範囲に収まる波長帯域である。図15
よりチャープグレーティング両端のグレーティングピッ
チの差が大きくなるほど、分散平坦帯域幅は広くなる
が、分散可変幅は大きく出来ないことが分かる。一方、
チャープグレーティング両端のグレーティングピッチの
差が小さくなるほど、分散可変幅は大きくなるが、分散
平坦帯域幅は狭くなることが分かる。この傾向は印加す
る温度勾配の大きさによらず、同様の傾向を示す。温度
勾配の大きさとしては、消費電力や高温に対する信頼性
を考慮すると、±30℃〜±60℃以下に抑えることが
好ましい。従って、分散平坦帯域幅を必要な幅以上獲得
し、分散可変幅を十分大きくするには、チャープグレー
ティングの両端のグレーティングピッチの差を0.4n
m〜0.7nmとすればよい。
【0051】以上のように屈折率変調の包絡線を式
(3)で表されるSinc関数型、または式(4)表さ
れるスーパーガウス関数型とし、グレーティング長を6
0〜80mmとし、チャープグレーティング両端のグレ
ーティングピッチの差を0.4nm〜0.7nmとする
ことで、伝送後の光信号を劣化させることなく、小さな
温度勾配で大きな分散可変幅が得られる。
【0052】実施の形態4.本発明の実施の形態4に係
る可変分散等化装置について説明する。この可変分散等
化装置は、実施の形態1から3に係る可変分散等化装置
と比較すると、波長分散制御装置がチャープグレーティ
ングのチャープ率を増加させるか又は減少させるかのい
ずれか一方のみ、即ち、同一符号の温度勾配のみを付与
する点で相違する。これによって装置の構成を簡易化す
ることができる。
【0053】この可変分散等化装置によれば、屈折率変
調の包絡線を式(3)で表されるSinc関数型、また
は式(4)表されるスーパーガウス関数型とし、グレー
ティング長を60〜80mmとすることで、伝送後の光
信号を劣化させることなく、小さな温度勾配で大きな分
散可変幅が得られる。なお、この場合には温度勾配を正
負両方向に印加する場合に比べ、同一分散可変幅を得る
には2倍の温度勾配を要する。
【0054】実施の形態5.本発明の実施の形態5に係
る可変分散等化装置について説明する。この可変分散等
化装置は、実施の形態1から4に係る可変分散等化装置
と比較すると、波長分散制御装置は、機械的応力を印加
してチャープグレーティングを伸ばし、チャープ率を変
化させて分散を制御する点で相違する。このように、機
械的応力によっても波長分散を制御することができる。
なお、波長分散制御装置は、上記温度分布制御装置や、
上記機械的応力印加手段の他、電界を印加して分散を制
御してもよい。これらの場合においても、可変分散等化
装置における屈折率変調の包絡線を所定のSinc関数
型、または所定のスーパーガウス関数型とし、グレーテ
ィング長を60〜80mmとすることで、伝送後の光信
号を劣化させることなく、小さな応力印加や電界印加で
大きな分散可変幅が得られる。
【0055】
【発明の効果】本発明に係る可変分散等化装置によれ
ば、チャープグレーティングを有する光導波路と、ブラ
ッグ波長を変化させて分散を制御する波長分散制御装置
とを備える。この波長分散制御装置によってブラッグ波
長を変化させて波長分散を制御することができる。また
この可変分散等化装置では、チャープグレーティングの
長さを60mm以上、80mm以下の範囲内とすると共
に、チャープグレーティングの両端部での中央部に対す
る屈折率変調の比を5%以下としている。これによって
群遅延特性でのリップルの発生を抑制し、伝送品質を維
持することができる。
【0056】また、本発明に係る可変分散等化装置によ
れば、チャープグレーティングは、屈折率変調の包絡線
N(X)が所定のSinc関数型である。そこで、伝送
後の光信号を劣化させることなく、小さな温度勾配で大
きな分散可変幅を得ることができる。
【0057】さらに、本発明に係る可変分散等化装置に
よれば、チャープグレーティングは、屈折率変調の分布
N(X)が所定のスーパーガウス関数型である。そこ
で、伝送後の光信号を劣化させることなく、小さな温度
勾配で大きな分散可変幅を得ることができる。
【0058】またさらに、本発明に係る可変分散等化装
置によれば、チャープグレーティングは、屈折率変調の
包絡線N(X)の次数nが4〜30の実数である。そこ
で、アイ開口ペナルティが0.5dB以下の波長範囲を
広くできると共に、伝送後の光信号を劣化させることな
く、小さな温度勾配で大きな分散可変幅を得ることがで
きる。
【0059】また、本発明に係る可変分散等化装置によ
れば、上記波長分散制御装置は、温度分布制御装置であ
るので、分散可変を容易に行うことができ、小さな温度
勾配で大きな分散可変幅を得ることができる。
【0060】さらに、本発明に係る可変分散等化装置に
よれば、上記波長分散制御装置は、グレーティングの長
手方向に正又は負の温度勾配を付与できる。そこで、最
高温度を抑制しながら大きな分散可変幅を得ることがで
きる。
【0061】またさらに、本発明に係る可変分散等化装
置によれば、上記チャープグレーティングの両端でグレ
ーティングピッチが0.4nm〜0.7nmの差を有す
るので、小さな温度勾配で大きな分散可変幅を得ること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 (a)は、本発明の実施の形態1に係る可変
分散等化装置の構成図であり、(b)は、(a)の可変
分散等化装置のA−A’線に沿った断面図である。
【図2】 本発明の実施の形態1に係る可変分散等化装
置の動作について説明する概略図である。
【図3】 本発明の実施の形態1に係る可変分散等化装
置のヒータの温度分布(a)と群遅延時間の関係(b)
を示すグラフである。
【図4】 チャープグレーティングのアポダイゼーショ
ンがsinc関数型である場合の定数aによるアポダイ
ゼーションの変化を示すグラフである。
【図5】 図4のグレーティングの端部についての拡大
図である。
【図6】 sinc関数型の包絡線で定数aを変化させ
た場合の波長とアイ開口ペナルティとの関係を示すグラ
フである。
【図7】 図6で定数aと帯域内アイ開口ペナルティの
平均値との関係を示すグラフである。
【図8】 グレーティングでの屈折率変調を測定する原
理を示す概略図である。
【図9】 本発明の実施の形態1に係る可変分散等化装
置のチャープグレーティングに−50℃,±0℃,+5
0℃の3通りの温度勾配を印加したときの群遅延特性お
よび損失特性を示すグラフである。
【図10】 本発明の実施の形態1に係る可変分散等化
装置を用いて43Gbit/sのNRZ変調された光信
号を伝送したときのアイ開口ペナルティを示すグラフで
ある。
【図11】 温度勾配が−50℃(分散値:−670p
s/nm)のときの、アイ開口ペナルティと損失特性お
よび分散特性をそれぞれ示すグラフである。
【図12】 ±40℃の温度勾配を印加したときに実現
される分散平坦帯域幅と分散可変幅の関係を示したもの
で、グレーティング長をパラメータとして40mmから
100mmまで検討したグラフである。
【図13】 図12の分散平坦帯域幅0.4nmが得ら
れる分散可変幅と、グレーティング長との関係を示すグ
ラフである。
【図14】 本発明の実施の形態2に係る可変分散等化
装置において、−50℃の温度勾配を印加した場合にお
ける、sinc関数の次数nと43Gbit/sのNR
Z変調光信号を伝送したときのアイ開口ペナルティが
0.5dB以下の波長範囲の関係を示したグラフであ
る。
【図15】 本発明の実施の形態3に係る可変分散等化
装置に、チャープグレーティング両端のグレーティング
ピッチの差に対する、±40℃の温度勾配を印加したと
きの分散可変幅及び分散平坦帯域幅との関係を示したグ
ラフである。
【図16】 従来の可変分散等化器を示す概略図であ
る。
【符号の説明】
1 可変分散等化器、2 チャープグレーティング、2
a チャープファイバグレーティング、3 ヒータ、4
基板、5 リード線、6 ヒータ制御回路、7インタ
ーフェース回路、8 光ファイバ、10 チャープファ
イバグレーティング、11 コア、12 クラッド、2
1 He−Neレーザ光源、22 ディテクタ、50
ファイバ、51 グレーティング、52 屈折率摂動、
53 ヒータ、54、55 電極、56 電源、60
可変分散補償グレーティング
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H04B 10/28 (72)発明者 高林 正和 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 吉新 喜市 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 松野 繁 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 星崎 潤一郎 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 並木 亮介 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 Fターム(参考) 2H049 AA34 AA59 AA62 2H050 AC82 AC84 AD00 2H079 AA06 AA12 BA06 CA04 CA24 EA09 EB27 KA08 5K002 BA02 CA01 DA02 FA01

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 グレーティングの長手方向に沿ってブラ
    ッグ波長を変化させたチャープグレーティングを有する
    光導波路と、 前記チャープグレーティングの前記ブラッグ波長を変化
    させて波長分散を制御する波長分散制御装置とを備え、 前記チャープグレーティングの長さは、60mm以上、
    80mm以下の範囲内であると共に、 前記チャープグレーティングの両端部での中央部に対す
    る屈折率変調の比は5%以下であることを特徴とする可
    変分散等化装置。
  2. 【請求項2】 前記チャープグレーティングは、屈折率
    変調の包絡線N(X)が、次式 N(X)=sinc(X) [ただし、X=(x−(L/2))/(L/2)、(こ
    こで、Lは前記チャープグレーティングの長さ、xは前
    記チャープグレーティングの一方の端部を原点O(x=
    0)としたときの前記チャープグレーティングに沿って
    原点Oからの距離xである)、sinc(X)=sin
    (X)/X、 a≧17.3、 nは任意定数である]
    を満足することを特徴とする請求項1に記載の可変分散
    等化装置。
  3. 【請求項3】 前記チャープグレーティングは、屈折率
    変調の包絡線N(X)が、次式 N(X)=exp(−(X/b)2n) [ただし、X=(x−(L/2))/(L/2)(ここ
    で、Lは前記チャープグレーティングの長さ、xは前記
    チャープグレーティングの一方の端部を原点O(x=
    0)としたときの前記チャープグレーティングに沿って
    原点Oからの距離xである)、b≦(1.7
    3)1/n、nは任意定数である]を満足することを特
    徴とする請求項1に記載の可変分散等化装置。
  4. 【請求項4】 前記チャープグレーティングは、屈折率
    変調の包絡線N(X)の次数nが、4〜30の範囲内の
    実数であることを特徴とする請求項2又は3に記載の可
    変分散等化装置。
  5. 【請求項5】 前記波長分散制御装置は、チャープグレ
    ーティングの長手方向に対する温度分布を制御する温度
    分布制御装置であることを特徴とする請求項1から4の
    いずれか一項に記載の可変分散等化装置。
  6. 【請求項6】 前記温度分布制御装置は、チャープグレ
    ーティングの長手方向に沿って正又は負の温度勾配を付
    与可能なことを特徴とする請求項1から4のいずれか一
    項に記載の可変分散等化装置。
  7. 【請求項7】 前記チャープグレーティングは、グレー
    ティングの両端でのそれぞれのグレーティングピッチが
    0.4nm〜0.7nmの範囲内の差を有することを特
    徴とする請求項1から6のいずれか一項に記載の可変分
    散等化装置。
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