JP2003270295A - Inspection device for electronic component - Google Patents

Inspection device for electronic component

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JP2003270295A
JP2003270295A JP2002071073A JP2002071073A JP2003270295A JP 2003270295 A JP2003270295 A JP 2003270295A JP 2002071073 A JP2002071073 A JP 2002071073A JP 2002071073 A JP2002071073 A JP 2002071073A JP 2003270295 A JP2003270295 A JP 2003270295A
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container
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electronic component inspecting device which enables efficient utilization of its installation space. <P>SOLUTION: The electronic component inspecting device has a container arrangement region where containers for housing electronic components are arranged along an orbit vertically, an inspection region where an inspection portion is arranged, a container housing portion arrangement region where container housing portions for housing containers are arranged, a component conveying portion for conveying electronic components, and a container conveying portion for conveying containers between the container arrangement region and the container housing portion. The inspection of an electronic component is performed by conveying the electronic component between the container arrangement region and the inspection region by the conveying portion. Since the containers are arranged vertically in the container arrangement region, and both containers arranged vertically can be used by moving the containers as occasion demands, an installation space for the device is efficiently utilized. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品を検査す
る電子部品検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic component inspection device for inspecting electronic components.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体デバイス等の電子部品を検査する
電子部品検査装置が用いられている。例えば、特開平1
0−148507号(先行技術)には、アンローダ部、
ローダ部、空トレイ部、加熱部、2つのソート部、IC
ソケット、デバイス搬送機構等から構成されるテストハ
ンドラが開示されている。アンローダ部、ローダ部、ソ
ート部にはデバイスを収納するトレイが設置されてい
る。第1のソート部、アンローダ部、ローダ部、空トレ
イ部はX方向に並び、これらからY方向に離間してIC
ソケットが配置される。また、第2のソート部、および
加熱部が第1のソート部等からY方向に離間して並んで
配置される。このテストハンドラでは、ローダ部上のデ
バイスをデバイス搬送機構により加熱部に搬送し、さら
に加熱されたデバイスをICソケットに搬送して検査を
行う。検査が終了したデバイスのうち合格品はアンロー
ダ部に、不合格品は第1または第2のソート部にそれぞ
れデバイス搬送機構により搬送される。
2. Description of the Related Art Electronic component inspection apparatuses for inspecting electronic components such as semiconductor devices have been used. For example, JP-A-1
0-148507 (prior art) includes an unloader section,
Loader section, empty tray section, heating section, two sorting sections, IC
A test handler including a socket, a device transport mechanism, etc. is disclosed. The unloader section, the loader section, and the sorting section have trays for storing devices. The first sorting unit, the unloader unit, the loader unit, and the empty tray unit are arranged in the X direction, and are separated from these in the Y direction to form the IC.
Sockets are placed. In addition, the second sorting unit and the heating unit are arranged side by side in the Y direction with a space from the first sorting unit and the like. In this test handler, the device on the loader unit is carried to the heating unit by the device carrying mechanism, and the heated device is carried to the IC socket for inspection. Among the devices that have been inspected, the acceptable products are transported to the unloader unit, and the rejected products are transported to the first or second sorting unit by the device transport mechanism.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記先
行技術では、アンローダ部、ローダ部、空トレイ部、加
熱部、2つのソート部、ICソケットの全てが平面的に
配置されているため、装置の設置効率が良いとはいい難
い。本発明はこのような課題を解決するためになされた
もので、装置の設置面積を効率的に利用可能な電子部品
検査装置を提供することを目的としている。
However, in the above prior art, since the unloader section, the loader section, the empty tray section, the heating section, the two sorting sections, and the IC socket are all arranged in a plane, It is hard to say that installation efficiency is good. The present invention has been made to solve such a problem, and an object of the present invention is to provide an electronic component inspection apparatus that can efficiently use the installation area of the apparatus.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明に係る電子部品検査装置は、軌道と、電子部品
を収納する複数の容器を前記軌道に沿って、かつ上下に
配置する容器配置領域と、前記軌道に近接して配置さ
れ、電子部品を検査する検査部を配置する検査領域と、
前記容器を重ねて収納する容器収納部を配置する容器収
納部配置領域と、前記軌道上に設置され、かつ電子部品
を吸着する吸着ノズルを装着する吸着ヘッドと、該吸着
ノズルを上下に昇降するノズル昇降部と、該吸着ノズル
を前記軌道に沿って移動するノズル移動部とを有し、前
記容器配置領域と前記検査領域との間で電子部品を搬送
する部品搬送部と、前記容器配置領域と前記容器収納部
との間で前記容器を搬送する容器搬送部と、を具備する
ことを特徴とする。電子部品検査装置が、電子部品を収
納する容器を軌道に沿って、かつ上下に配置する容器配
置領域、検査部を配置する検査領域、容器を収納する容
器収納部を配置する容器収納部配置領域、電子部品を搬
送する部品搬送部と、容器配置領域と容器収納部との間
で容器を搬送する容器搬送部とを有し、電子部品が容器
配置領域と検査領域との間を部品搬送部により搬送され
ることで電子部品の検査が行われる。容器配置領域に容
器が上下に配置され、必要に応じて容器を移動すること
で、上下に配置された容器の双方が利用できることか
ら、装置の設置面積が効率的に活用される。
In order to achieve the above object, an electronic component inspection apparatus according to the present invention is a container in which a track and a plurality of containers for storing electronic parts are arranged vertically along the track. An arrangement area and an inspection area which is arranged in the vicinity of the track and in which an inspection unit for inspecting an electronic component is arranged,
A container housing portion arrangement region for arranging a container housing portion for accommodating the containers in a stack, a suction head mounted on the track and equipped with a suction nozzle for sucking an electronic component, and vertically moving the suction nozzle. A component transfer unit that has a nozzle elevating unit and a nozzle moving unit that moves the suction nozzle along the trajectory, and a component transfer unit that transfers an electronic component between the container placement region and the inspection region, and the container placement region. And a container transport unit that transports the container between the container storage unit and the container storage unit. The electronic component inspection device has a container arrangement region in which containers for storing electronic components are arranged vertically along a track, an inspection region in which an inspection unit is arranged, and a container accommodation unit arrangement region in which a container accommodation unit for accommodating containers is arranged. A component transporting section for transporting electronic components, and a container transporting section for transporting a container between a container placement area and a container storage section, and an electronic component between the container placement area and an inspection area The electronic component is inspected by being transported by. The containers are vertically arranged in the container arrangement region, and by moving the containers as needed, both the containers arranged vertically can be used, so that the installation area of the device is efficiently utilized.

【0005】[0005]

【発明の実施の形態】(第1実施形態)以下、本発明の
第1の実施の形態を図面を参照して詳細に説明する。図
1は本発明の第1の実施形態に係る電子部品検査装置1
0を表す斜視図である。また、図2〜4それぞれは電子
部品検査装置10を図1のZ、X、Y軸方向それぞれか
ら見た状態を表す上面図、側面図、および正面図であ
る。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION (First Embodiment) A first embodiment of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is an electronic component inspection apparatus 1 according to the first embodiment of the present invention.
It is a perspective view showing 0. 2 to 4 are a top view, a side view, and a front view showing the electronic component inspection apparatus 10 as viewed from the Z, X, and Y axis directions of FIG. 1, respectively.

【0006】電子部品検査装置10は、電子部品Dの搬
送および検査を行う装置であり、図1〜4に示されるよ
うに、電子部品Dを搬送する電子部品搬送ユニット10
0と電子部品Dを検査する電子部品検査ユニット200
とを組み合わせて構成されている。ここで、電子部品検
査装置10とは、後述する検査用ソケット152a、1
53bが設置された検査板153が取り付けられる前の
状態の、あるいは検査板153が取り付けられた状態の
主に検査対象部品を搬送する電子部品搬送ユニット10
0を言う。あるいはさらに、電子部品搬送ユニット10
0に加え、検査用ソケット152a、153b及び電子
部品搬送ユニット100の制御部190とそれぞれ信号
線で連結され、電子部品の検査を実行し、検査結果デー
タを制御部190やその他に出力し、あるいは記憶し、
あるいはさらに表示する電子部品の検査制御に関わる装
置である電子部品検査ユニット200を含む装置を言
う。電子部品Dは、IC等半導体デバイスを含む電子部
品一般である。また、後述するトレイとはそれぞれ本願
で言う容器のことを言う。
The electronic component inspection device 10 is a device for conveying and inspecting the electronic component D, and as shown in FIGS. 1 to 4, the electronic component conveying unit 10 for conveying the electronic component D.
0 and electronic component inspection unit 200 for inspecting electronic component D
It is configured by combining and. Here, the electronic component inspection apparatus 10 means inspection sockets 152a, 1 to be described later.
The electronic component transfer unit 10 that mainly transfers the inspection target component before the inspection plate 153 with the 53b installed is attached or with the inspection plate 153 attached.
Say 0. Alternatively or additionally, the electronic component carrying unit 10
In addition to 0, the inspection sockets 152a, 153b and the control unit 190 of the electronic component carrying unit 100 are connected by signal lines, respectively, to inspect electronic components and output inspection result data to the control unit 190 and others, or Remember
Alternatively, it refers to a device including an electronic component inspection unit 200 which is a device related to inspection control of electronic components to be displayed. The electronic component D is a general electronic component including a semiconductor device such as an IC. Further, the trays described below refer to the containers referred to in the present application.

【0007】(電子部品搬送ユニット100の構成)電
子部品搬送ユニット100は、主に基台110、2本の
X軸ロボット120a、120b、トレイ配置領域13
0、ストッカー配置領域140、検査領域150、部品
搬送機構160a〜160d,X方向トレイ搬送機構1
70a,170b、Y方向トレイ搬送機構180a
(1)、180a(2),180b(1)、180b
(2)、制御部190、カバー300から構成される。
(Structure of Electronic Component Transport Unit 100) The electronic component transport unit 100 is mainly composed of a base 110, two X-axis robots 120a and 120b, and a tray arrangement area 13.
0, stocker placement area 140, inspection area 150, component transfer mechanisms 160a to 160d, X-direction tray transfer mechanism 1
70a, 170b, Y-direction tray transfer mechanism 180a
(1), 180a (2), 180b (1), 180b
(2) The control unit 190 and the cover 300 are included.

【0008】基台110は、上面が略矩形状、底面が略
L字型状をなし、検査領域150の下方に略直方体状の
空間111を有する。この空間111には、電子部品搬
送ユニット100との接続のため電子部品検査ユニット
200が挿入される。空間111がX,Y方向双方の側
面で開口していることから、電子部品検査ユニット20
0の挿入はX、Y方向のいずれからでも行える。
The base 110 has a substantially rectangular upper surface and a substantially L-shaped bottom surface, and has a substantially rectangular parallelepiped space 111 below the inspection region 150. The electronic component inspection unit 200 is inserted into the space 111 for connection with the electronic component transport unit 100. Since the space 111 is open on both side surfaces in the X and Y directions, the electronic component inspection unit 20
Insertion of 0 can be performed from either the X or Y direction.

【0009】X軸ロボット120a、120bは、部品
搬送機構160a〜160dをX軸方向に移動させるた
めの軌道として機能するものであり、基台110の上面
上にX方向に沿って互いに略平行に設置されている。こ
のX軸ロボット120a、120bそれぞれ上を部品搬
送機構160a、160bおよび部品搬送機構160
c、160dが移動し、電子部品Dの搬送を行う。後述
するように2つのX軸ロボット120a、120bを用
いることにより、検査効率の向上が図られる。X軸ロボ
ット120a,120bは、移動可能に取り付けられる
部品搬送機構160a〜160dから見れば、軌道と見
なすことができ、一方部品搬送機構160a〜160d
を軌道上に配置される部品搬送部と見なすことができ
る。X軸ロボット120a,120bは、固定磁石で形
成されるX軸レールと、このX軸レールに沿って移動可
能とされる移動磁石からなるリニアモータや、サーボモ
ータに連結されるネジ軸と、ネジ軸とX軸レールに嵌合
し、回り止めされつつX軸レールに沿って移動可能とさ
れる移動ナットからなる単軸ロボット等からなる。な
お、X軸レールを本願で言う軌道と見なすこともでき
る。
The X-axis robots 120a and 120b function as orbits for moving the component transfer mechanisms 160a to 160d in the X-axis direction, and are substantially parallel to each other along the X-direction on the upper surface of the base 110. is set up. The component transfer mechanisms 160a and 160b and the component transfer mechanism 160 are placed on the X-axis robots 120a and 120b, respectively.
c and 160d move to carry the electronic component D. As will be described later, the inspection efficiency can be improved by using the two X-axis robots 120a and 120b. The X-axis robots 120a and 120b can be regarded as tracks when viewed from the component transfer mechanisms 160a to 160d that are movably attached, while the component transfer mechanisms 160a to 160d can be considered.
Can be regarded as a component transport unit arranged on the track. The X-axis robots 120a and 120b include an X-axis rail formed of fixed magnets, a linear motor including a moving magnet that can move along the X-axis rail, a screw shaft connected to a servo motor, and a screw. It is a single-axis robot or the like that is fitted to the shaft and the X-axis rail and is configured to move along the X-axis rail while being prevented from rotating. The X-axis rail can also be regarded as the track referred to in the present application.

【0010】(トレイ配置領域130の詳細)トレイ配
置領域130は、基台110上のX軸ロボット120
a、120b間に設定され、トレイT(Ta(1),T
a(2)、Tb(1),Tb(2))が配置される略矩
形状の領域である。トレイ配置領域130のY方向長さ
は、トレイTのY方向の1辺の長さより大きくその2倍
より小さい範囲で適宜に設定することができる。
(Details of Tray Arrangement Area 130) The tray arrangement area 130 is an X-axis robot 120 on the base 110.
a tray 120 (Ta (1), T
This is a substantially rectangular area in which a (2), Tb (1), and Tb (2) are arranged. The length of the tray placement area 130 in the Y direction can be appropriately set within a range larger than the length of one side of the tray T in the Y direction and smaller than twice the length.

【0011】トレイTは、電子部品Dを収納するための
容器であり、その上面に電子部品Dそれぞれを区分して
載置するための構造(例えば、窪み、突起)が形成され
ている。ここでは、一例として縦に10個、横に5個の
電子部品Dを収納可能なものを示している。なお、トレ
イTは、検査済みの電子部品Dを収納する検査済品用ト
レイ(合格品用、不合格品用)、電子部品Dを収納しな
い空トレイ、検査前の電子部品Dを収納する未検査品用
トレイに区分される。トレイ配置領域130は、トレイ
配置領域130a,130bに区分され、そのそれぞれ
にトレイTa(Ta(1)、Ta(2))およびトレイ
Tb(Tb(1)、Tb(2))が上下に重ねて配置さ
れている。このようにトレイTを上下に配置することで
装置の設置面積を有効に利用できる。ここで、括弧内の
数字は最上段から数えたトレイTの段数を表している。
下段のトレイT(2)(Ta(2)、Tb(2))を利
用するときには、Y方向トレイ搬送機構180(1)
(180a(1)、180b(1))で上段のトレイT
(1)(Ta(1)、Tb(1))を適宜に搬送し、下
段のトレイT(2)(Ta(2)、Tb(2))の上面
を露出させる。これにより下段のトレイTへの電子部品
Dの収納、取り出しが可能となる。なお、上段のトレイ
Tは下段のトレイTの位置に拘わらず電子部品Dの収
納、取り出しが可能である。
The tray T is a container for accommodating the electronic components D, and has a structure (for example, a recess or a protrusion) for separately mounting the electronic components D on the upper surface thereof. Here, as an example, a device that can store 10 electronic components D vertically and 5 electronic components D horizontally is shown. The tray T is a tray for inspected products (for acceptable products and rejected products) that stores the inspected electronic components D, an empty tray that does not store the electronic components D, and an unfilled tray that stores the electronic components D before the inspection. Divided into inspection product trays. The tray placement area 130 is divided into tray placement areas 130a and 130b, and the tray Ta (Ta (1), Ta (2)) and the tray Tb (Tb (1), Tb (2)) are vertically stacked on each. Are arranged. By arranging the trays T in the vertical direction in this manner, the installation area of the device can be effectively used. Here, the numbers in parentheses represent the number of trays T counted from the top.
When using the lower tray T (2) (Ta (2), Tb (2)), the Y-direction tray transport mechanism 180 (1) is used.
(180a (1), 180b (1)) upper tray T
(1) (Ta (1), Tb (1)) is appropriately conveyed, and the upper surfaces of the lower trays T (2) (Ta (2), Tb (2)) are exposed. As a result, the electronic component D can be stored in and taken out from the lower tray T. The upper tray T can store and take out the electronic component D regardless of the position of the lower tray T.

【0012】図5にトレイ配置領域130とストッカー
配置領域140の対応関係を示す。トレイ配置領域13
0a、130bが後述する検査用ソケット152a,1
52bも含めて一列に配置されている。また、ストッカ
ー配置領域140がトレイ配置領域130a、130b
に対応してストッカー配置領域140a、140bに区
分されている。トレイTa,TbはX軸ロボット120
a、120bに沿って一列に配置される。トレイTa,
Tbを一列に並べていることから、Y方向に関するスペ
ースを節約すること(電子部品検査装置10の小型化)
が可能となる。
FIG. 5 shows the correspondence between the tray arrangement area 130 and the stocker arrangement area 140. Tray placement area 13
0a and 130b are test sockets 152a and 1 to be described later.
They are arranged in a line including 52b. In addition, the stocker placement area 140 is the tray placement areas 130a and 130b.
Are divided into stocker placement areas 140a and 140b. The trays Ta and Tb are the X-axis robot 120.
They are arranged in a line along a and 120b. Tray Ta,
Saving the space in the Y direction because Tb are arranged in a line (miniaturization of electronic component inspection apparatus 10)
Is possible.

【0013】後述するように、部品搬送機構160a〜
160dによって未検査品用のトレイTから電子部品D
が検査領域150に搬送され検査が行われる。検査され
た電子部品Dは、部品搬送機構160a〜160dによ
って検査済品用トレイTに検査の合格、不合格に応じて
区分して収納される。なお、X方向にのみ移動可能な部
品搬送機構160a〜160dにより電子部品Dを未検
査品用のトレイTから吸着、あるいは検査済品用のトレ
イTへ装着する場合には、トレイT中のY方向所望の位
置で吸着、あるいは装着できるよう、Y方向トレイ搬送
機構180で各トレイTがY方向に移動するようにす
る。このため、トレイ配置領域130は、トレイT自体
の大きさに限定することなく、例えば、トレイTのY方
向の長さの2倍未満とされる。
As will be described later, the component transfer mechanism 160a-
The electronic parts D from the tray T for uninspected products by 160d
Are conveyed to the inspection area 150 and are inspected. The inspected electronic components D are separately stored in the inspected product tray T by the component transport mechanisms 160a to 160d according to whether the inspection passes or fails. When the electronic components D are sucked from the tray T for uninspected products or mounted on the tray T for inspected products by the component transfer mechanisms 160a to 160d movable only in the X direction, Y in the tray T is set. Each tray T is moved in the Y direction by the Y-direction tray transport mechanism 180 so that it can be sucked or mounted at a desired position in the direction. Therefore, the tray placement area 130 is not limited to the size of the tray T itself, and is, for example, less than twice the length of the tray T in the Y direction.

【0014】ここで、トレイ配置領域130上において
部品搬送機構160a〜160dが電子部品Dを吸着、
離着(=トレイTへの装着)する領域を部品吸着離着領
域と言うことにすると、X方向にのみ移動可能な部品搬
送機構160a〜160dでは、X方向には全トレイT
に渡るがY方向に極めて狭い領域が部品吸着離着領域と
なる。一方、同様後述するように、X方向Y方向の両方
向に移動可能な部品搬送機構160a〜160dにより
電子部品Dを吸着、離着する場合において、トレイTを
Y方向に移動しないものにおいては、部品吸着離着領域
は、トレイTのY方向の長さとなる。さらに、電子部品
Dの吸着あるいは離着の際に、トレイTがY方向に移動
可能、且つ部品搬送機構160a〜160dもX方向Y
方向の両方向に移動可能とされる場合では、部品吸着離
着領域は、Y方向にはトレイTのY方向の長さの2倍未
満、最小では極めて幅の狭いものまで可能であり、トレ
イ配置領域130は、トレイTのY方向の長さ以上、2
倍未満が可能とされる。
Here, the component transfer mechanisms 160a to 160d pick up the electronic component D on the tray arrangement area 130,
When the area for attachment / detachment (= attachment to the tray T) is referred to as a component adsorption / desorption area, in the component transfer mechanisms 160a to 160d that are movable only in the X direction, all the trays T in the X direction.
The region that is extremely narrow in the Y direction is the component adsorption / desorption region. On the other hand, as will be described later, when the electronic component D is sucked and unloaded by the component transfer mechanisms 160a to 160d that are movable in both the X and Y directions, if the tray T does not move in the Y direction, The adsorption / desorption area has the length of the tray T in the Y direction. Further, the tray T is movable in the Y direction when the electronic component D is adsorbed or detached, and the component transport mechanisms 160a to 160d are also in the X direction Y.
In the case of being movable in both directions, the component adsorption / desorption area can be less than twice the length of the tray T in the Y direction in the Y direction, and can be extremely narrow at the minimum. The area 130 is longer than the length of the tray T in the Y direction, 2
Less than double is possible.

【0015】(トレイTの配置)以下、トレイTの配置
につき、さらに詳しく述べる。本実施形態では、トレイ
配置領域130にトレイをどのように配置するかは適宜
に設定することができる。トレイTの配置の例として、
図6の配置11、12が考えられる。 (1)図6の配置11,12では空トレイTを下段に配
置している。これは空トレイTの移動頻度が比較的小さ
いからである。既に述べたように、下段に配置したトレ
イTにアクセスするには下段のトレイTの上方のスペー
スを空けるよう上段のトレイTを移動する必要があるこ
とから、利用頻度の低いトレイTを下段にした方が検査
速度に対する影響が少ない。即ち、検査済品トレイT
(合格品用、不合格品用)が検査済みの電子部品Dで一
杯になったときのみに空トレイTが供給される。また未
検査品用トレイTから全ての電子部品Dが搬送されたと
きにのみ空トレイTが回収される。これに対して、他の
トレイに対する電子部品Dの搬入、搬出はより頻繁に行
われる。 (2)図6の配置11,12では不合格品用トレイTを
下段に配置している。通例は歩留まりが50%以上なの
で、不合格品用トレイTを下段に配置しても検査速度が
低下する畏れが少ないからである。もし、歩留まりが5
0%より小さければ、合格品用トレイTを下段にした方
が検査速度の低下が少ない。 (3)以上の理由から、図6の配置11,12では空ト
レイTおよび不合格品用トレイTを下段に配置してい
る。 以下、本実施形態におけるトレイTの配置が、図6の配
置11であるとして説明を行う。
(Arrangement of Tray T) The arrangement of the tray T will be described in more detail below. In the present embodiment, how to arrange the trays in the tray arrangement area 130 can be set appropriately. As an example of the arrangement of the tray T,
The arrangements 11, 12 of FIG. 6 are conceivable. (1) In the arrangements 11 and 12 of FIG. 6, the empty tray T is arranged in the lower stage. This is because the frequency of movement of the empty tray T is relatively low. As described above, in order to access the lower tray T, it is necessary to move the upper tray T so as to leave a space above the lower tray T. It has less influence on the inspection speed. That is, the inspected product tray T
The empty tray T is supplied only when the tested electronic parts D are filled (for the acceptable products and the rejected products). Further, the empty tray T is collected only when all the electronic components D are conveyed from the tray T for uninspected products. On the other hand, loading and unloading of the electronic component D with respect to another tray is performed more frequently. (2) In the arrangements 11 and 12 of FIG. 6, the tray T for rejected products is arranged in the lower stage. This is because the yield is usually 50% or more, and even if the rejected product tray T is arranged in the lower stage, there is little fear that the inspection speed will decrease. If the yield is 5
If it is smaller than 0%, the lowering of the tray for acceptable products T causes less decrease in the inspection speed. (3) For the above reason, in the arrangements 11 and 12 of FIG. 6, the empty tray T and the rejected product tray T are arranged in the lower stage. Hereinafter, the arrangement of the tray T in the present embodiment will be described as the arrangement 11 of FIG.

【0016】既述のようにトレイTは、Y方向トレイ搬
送機構180によって、互いに独立してY方向に移動す
ることができる。トレイTをY方向に移動することで、
部品搬送機構160をY方向に(ほとんどあるいは全
く)動かすことなく、トレイT内の所望の場所で電子部
品Dを着脱することが可能となる。即ち、トレイTに収
納された電子部品Dの全ての検査が可能であり、検査済
みの電子部品DをトレイTの全ての収納場所に収納でき
る。トレイT上全体を効率よく利用することで、電子部
品Dの個数に対して用意するトレイTの個数を少なくす
ることができる。また、部品搬送機構160による電子
部品Dの移動とY方向トレイ搬送機構180によるトレ
イTの移動を同時に行うことができる。この結果、検査
速度の向上がもたらされる。
As described above, the tray T can be moved in the Y direction independently of each other by the Y-direction tray transport mechanism 180. By moving the tray T in the Y direction,
It is possible to attach / detach the electronic component D at a desired position in the tray T without moving the component transport mechanism 160 in the Y direction (almost or at all). That is, all the electronic components D stored in the tray T can be inspected, and the inspected electronic components D can be stored in all the storage locations of the tray T. By efficiently using the entire tray T, it is possible to reduce the number of trays T to be prepared with respect to the number of electronic components D. Further, the electronic component D can be moved by the component transfer mechanism 160 and the tray T can be moved by the Y-direction tray transfer mechanism 180 at the same time. As a result, the inspection speed is improved.

【0017】トレイTの移動は、未検査品用トレイT
(本実施形態ではトレイTb(1))上から電子部品D
の全てが搬送されたとき、および検査済品用トレイ(本
実施形態ではトレイTa(1)、Ta(2))が検査済
みの電子部品Dで一杯になったときにも行われる。すな
わち、空となった未検査用トレイTb(1)が空トレイ
Tb(2)の位置へ移動され、電子部品Dで一杯とされ
た検査済品用トレイTa (1)、Ta(2)がY方向トレイ搬送機構180でス
トッカー配置領域140へ搬出された後、空トレイTb
(2)が検査済品トレイTa(1)、Ta(2)位置へ
移動される。この移動はX方向トレイ搬送機構170に
よって行われ、この際必要に応じ上段のトレイT(1)
をY方向トレイ搬送機構180(1)で搬送して下段の
トレイT(2)へのアクセスを可能とする。なお、X方
向トレイ搬送機構170に替えて、後述する吸着ヘッド
165を用いて行っても差し支えない。このようにする
と、吸着ヘッド165が電子部品Dの搬送とトレイTの
搬送の双方を行うこととなり、装置の製作コストを低減
できる(X方向トレイ搬送機構170を省略が可能)。
The tray T is moved by the tray T for uninspected products.
(Tray Tb (1) in this embodiment) From above the electronic component D
Is carried out, and also when the inspected product trays (trays Ta (1) and Ta (2) in this embodiment) are filled with the inspected electronic components D. That is, the empty untested tray Tb (1) is moved to the position of the empty tray Tb (2), and the inspected product trays Ta (1) and Ta (2) filled with the electronic component D are After being carried out to the stocker placement area 140 by the Y-direction tray transport mechanism 180, the empty tray Tb
(2) is moved to the inspected product tray Ta (1), Ta (2) position. This movement is performed by the X-direction tray transport mechanism 170, and at this time, the upper tray T (1) is used as necessary.
Are transported by the Y-direction tray transport mechanism 180 (1) to enable access to the lower tray T (2). The suction head 165, which will be described later, may be used instead of the X-direction tray transport mechanism 170. By doing so, the suction head 165 carries out both the carrying of the electronic component D and the carrying of the tray T, and the manufacturing cost of the apparatus can be reduced (the X-direction tray carrying mechanism 170 can be omitted).

【0018】(ストッカー配置領域140の詳細)スト
ッカー配置領域140は、基台110の上面上において
X軸ロボット120bに沿って設定され、トレイTを重
ねた状態で収納するストッカー141(141a
(1)、141a(2)、141b(1)、141b
(2))を配置する略矩形の領域である。ここで、括弧
内の数字1、2がそれぞれ基台110上面の上方、下方
それぞれに設置されるストッカー141を表している。
本実施形態ではストッカー配置領域140がストッカー
配置領域140a、140bに区分され、そのそれぞれ
にストッカー141a(1)、141a(2)およびス
トッカー141b(1)、141b(2)が上下に重ね
て着脱自在に配置される。図7,8は、上方用ストッカ
ー141(1)(141a(1)、141b(1))、
下方用ストッカー141(2)(141a(2)、14
1b(2))をそれぞれ拡大して表す正面図および側面
図である。図7,8において(A)が正面図であり
(B)が側面図である。なお、ストッカー141はトレ
イTを収納するものであるから本願における容器収納部
として機能する。従って、ストッカー配置領域140は
容器収納部配置領域として機能することになる。
(Details of Stocker Arrangement Area 140) The stocker arrangement area 140 is set along the X-axis robot 120b on the upper surface of the base 110, and the stockers 141 (141a) for accommodating the trays T in a stacked state.
(1), 141a (2), 141b (1), 141b
This is a substantially rectangular area in which (2)) is arranged. Here, the numbers 1 and 2 in parentheses indicate the stockers 141 installed above and below the upper surface of the base 110, respectively.
In the present embodiment, the stocker placement area 140 is divided into stocker placement areas 140a and 140b, and the stockers 141a (1) and 141a (2) and the stockers 141b (1) and 141b (2) are vertically stacked and detachable. Is located in. 7 and 8 show the upper stocker 141 (1) (141a (1), 141b (1)),
Lower stocker 141 (2) (141a (2), 14
1b (2)) is an enlarged front view and side view, respectively. 7 and 8, (A) is a front view and (B) is a side view. Since the stocker 141 stores the tray T, it functions as a container storage unit in the present application. Therefore, the stocker placement area 140 functions as a container storage section placement area.

【0019】既述のように、ストッカー配置領域140
は、ストッカー配置領域140a、140bに区分さ
れ、ストッカー141a(1)、141a(2)、スト
ッカー141b(1)、141b(2)はそれぞれこの
区分された領域に上下に重ねて配置されている。そし
て、この区分された領域は、トレイ配置領域130a、
130bと対応している。ストッカー141a(1),
141a(2)およびストッカー141b(1),14
1b(2)は、それぞれ上下に重ねてX方向に一列に配
置され、かつその内部にトレイTを多段に積み重ねて収
納している。この結果、装置の設置面積が有効に利用さ
れる。
As described above, the stocker placement area 140
Are divided into stocker placement areas 140a and 140b, and the stockers 141a (1), 141a (2), stockers 141b (1), 141b (2) are arranged one above the other in the vertical direction. The divided area is the tray arrangement area 130a,
It corresponds to 130b. Stocker 141a (1),
141a (2) and stockers 141b (1), 14
1b (2) are stacked vertically and arranged in a line in the X direction, and the trays T are stacked and stored in multiple stages inside. As a result, the installation area of the device is effectively used.

【0020】A.上方用ストッカー141(1)の構成 ストッカー141(1)は、4つの支柱143(1),
底部144(1),4つのトレイ分離フック145
(1),トレイ昇降機構146(1)から構成され、そ
の内部にY方向トレイ搬送機構180が進入するトレイ
搬送機構進入領域147(1)が形成されている。
A. Configuration of the upper stocker 141 (1) The stocker 141 (1) includes four columns 143 (1),
Bottom 144 (1), four tray separation hooks 145
(1), the tray elevating mechanism 146 (1), and the tray conveying mechanism entry region 147 (1) into which the Y-direction tray conveying mechanism 180 enters is formed therein.

【0021】支柱143(1)は、断面が略L字状の柱
であり、トレイTの4隅に対応してX−Yの2軸方向に
おいてトレイTの移動を防止する。底部144(1)
は、支柱143(1)に接続され、略矩形の底板および
4つの側板より構成され、その内部にトレイ搬送機構進
入領域147(1)を有する。また、底部144(1)
はY方向トレイ搬送機構180がトレイ搬送機構進入領
域147(1)への進入、退出が可能なように、そのY
正方向側に開閉可能な扉を備える。ストッカー141
(1)の天井部142(1)は、ストッカー141
(1)の天井として脱着不能とされるが、ストッカー1
41(1)へのトレイTの挿入、搬出の作業をストッカ
ー141(1)の上方から実施する場合には脱着可能と
される。
The pillar 143 (1) is a pillar having a substantially L-shaped cross section, and prevents the tray T from moving in the two axial directions of XY corresponding to the four corners of the tray T. Bottom 144 (1)
Is connected to the column 143 (1), is composed of a substantially rectangular bottom plate and four side plates, and has a tray transport mechanism entry region 147 (1) therein. Also, the bottom portion 144 (1)
The Y-direction tray transport mechanism 180 allows the tray transport mechanism 180 to enter and leave the tray transport mechanism entry area 147 (1).
A door that can be opened and closed is provided on the positive side. Stocker 141
The ceiling part 142 (1) of (1) is the stocker 141.
As the ceiling of (1), it is not removable, but stocker 1
When the tray T is inserted into and removed from the stocker 141 (1) from above the stocker 141 (1), the tray T is removable.

【0022】トレイ分離フック145(1)は底部14
4(1)に設置され、ストッカー141(1)内の最下
段のトレイTの互いに対向する側面に対応して配置され
る。具体的には、トレイTの対向する側面に凹部が形成
されており、トレイ分離フック145(1)がトレイT
の凹部内に挿入されることで、最下段のトレイTが下方
に(Z負方向に)落下することを防止する。トレイ分離
フック145(1)には図示しない駆動機構が接続さ
れ、トレイTの側面凹部へのトレイ分離フック145
(1)の挿入、取り出しを行う。この挿入、取り出しに
よってトレイTのZ方向の固定およびその解除が行われ
る。
The tray separating hook 145 (1) has a bottom portion 14
4 (1), and are arranged corresponding to the side surfaces of the lowermost tray T in the stocker 141 (1) that face each other. Specifically, a concave portion is formed on the opposite side surface of the tray T, and the tray separating hook 145 (1) is attached to the tray T.
The tray T in the lowermost stage is prevented from dropping downward (in the negative Z direction) by being inserted into the concave portion of the. A drive mechanism (not shown) is connected to the tray separating hook 145 (1), and the tray separating hook 145 is inserted into the side surface recess of the tray T.
Insert and remove (1). By this insertion and removal, the tray T is fixed in the Z direction and released.

【0023】トレイ昇降機構146(1)は、トレイT
を載置する平板(トレイ載置板)を上下に昇降すること
で、トレイTをストッカー141内上下に昇降する機構
である。トレイ載置板の昇降は支柱143(1)に設け
られた昇降手段(図示せず)によって行われる。昇降手
段を底部144(1)でなく支柱143(1)に設けた
のは、ストッカー141(1)の直ぐ下方にストッカー
141(2)を設置できるようにするためである。トレ
イ昇降機構146(1)は、トレイTが載置されていな
いY方向トレイ搬送機構180がトレイ搬送機構進入領
域147(1)内に位置する状態で、トレイ載置板の上
昇及び下降が可能である。さらに、Y方向トレイ搬送機
構180のトレイ側を切欠き、コの字状の形状にするこ
とで、トレイ昇降機構146(1)がトレイ載置板を上
昇させている状態で、トレイTが載置されていないY方
向トレイ搬送機構180をトレイ搬送機構進入領域14
7(1)内に移動可能とすることができ、トレイ昇降機
構146(1)のトレイ載置板を先行して上昇させるこ
とで、ストッカー141(1)内からのトレイTの搬出
時間を短くできる。トレイ搬送機構進入領域147
(1)は、底部144(1)内、かつトレイ分離フック
145(1)より下方に設定された略直方体状の空間で
あり、Y方向トレイ搬送機構180がY正方向から出入
りする。
The tray elevating mechanism 146 (1) is a tray T
It is a mechanism for vertically moving the tray T up and down in the stocker 141 by vertically moving a flat plate (tray mounting plate) on which the tray is mounted. The raising and lowering of the tray mounting plate is performed by the raising and lowering means (not shown) provided on the column 143 (1). The elevating means is provided not on the bottom part 144 (1) but on the column 143 (1) so that the stocker 141 (2) can be installed immediately below the stocker 141 (1). The tray elevating mechanism 146 (1) is capable of raising and lowering the tray mounting plate in a state where the Y-direction tray transport mechanism 180 on which the tray T is not placed is located in the tray transport mechanism entry area 147 (1). Is. Further, the tray side of the Y-direction tray transport mechanism 180 is notched so as to have a U-shape, so that the tray T is mounted while the tray lifting mechanism 146 (1) is raising the tray mounting plate. If the Y-direction tray transfer mechanism 180 that is not placed is placed in the tray transfer mechanism entry area 14
7 (1), and the tray loading plate of the tray lifting mechanism 146 (1) is raised in advance to shorten the carry-out time of the tray T from the stocker 141 (1). it can. Tray transport mechanism entry area 147
(1) is a substantially rectangular parallelepiped space set inside the bottom portion 144 (1) and below the tray separating hook 145 (1), and the Y-direction tray transport mechanism 180 moves in and out from the Y positive direction.

【0024】B.下方用ストッカー141(2)の構成 ストッカー141(2)は、蓋部142(2),4つの
支柱143(2),底部144(2),4つのトレイ分
離フック145(2),トレイ昇降機構146(2)か
ら構成され、その内部にY方向トレイ搬送機構180が
進入するトレイ搬送機構進入領域147(2)が形成さ
れている。このうち、蓋部142(2)と,トレイ分離
フック145(2)、およびトレイ搬送機構進入領域1
47(2)は基台110上面より上方に設置される。
B. Structure of lower stocker 141 (2) The stocker 141 (2) includes a lid 142 (2), four columns 143 (2), a bottom 144 (2), four tray separating hooks 145 (2), and a tray lifting mechanism. 146 (2), and a tray transport mechanism entry region 147 (2) into which the Y-direction tray transport mechanism 180 enters is formed therein. Of these, the lid portion 142 (2), the tray separation hook 145 (2), and the tray transport mechanism entry region 1
47 (2) is installed above the upper surface of the base 110.

【0025】蓋部142(2)は、外形が略直方体状で
あり、その下方が開口している。また、内部にトレイ搬
送機構進入領域147(2)を有し、トレイ配置領域1
30側の側面にトレイ搬送機構進入領域147(2)に
通じる開口を有する。さらに、2対のトレイ分離フック
145(2)が接続されている。支柱143(2)は、
蓋部142(2)の4隅に接続され、断面が略L字状の
柱であり、トレイTの4隅に対応してX軸−Y軸の2方
向においてトレイTを保持する。底部144(2)は、
支柱143(2)に接続され、略矩形の底板および4つ
の側板より構成される。なお、この側板を除外し、底部
144(2)たる底板に支柱143(2)が直接接続さ
れても差し支えない。
The outer shape of the lid portion 142 (2) is a substantially rectangular parallelepiped shape, and its lower portion is open. Further, it has a tray transport mechanism entry area 147 (2) inside, and the tray arrangement area 1
The side surface on the side of 30 has an opening communicating with the tray transport mechanism entrance area 147 (2). Further, two pairs of tray separation hooks 145 (2) are connected. The pillar 143 (2) is
It is a pillar that is connected to the four corners of the lid portion 142 (2) and has a substantially L-shaped cross section, and holds the tray T in two directions of the X axis and the Y axis corresponding to the four corners of the tray T. The bottom 144 (2) is
It is connected to the column 143 (2) and is composed of a substantially rectangular bottom plate and four side plates. It should be noted that the side plate may be excluded, and the support 143 (2) may be directly connected to the bottom plate which is the bottom portion 144 (2).

【0026】トレイ分離フック145(2)は蓋部14
2(2)に設置され、トレイ搬送機構進入領域147
(2)内にトレイTを支持するように、トレイTの互い
に対向する側面に対応して配置される。トレイ分離フッ
ク145(2)がトレイTの凹部内に挿入されること
で、トレイTが固定される。トレイ分離フック145
(2)には図示しない駆動機構が接続され、トレイTの
側面凹部へのトレイ分離フック145(2)の挿入、取
り出しを行う。この挿入、取り出しによってトレイTの
固定およびその解除が行われる。
The tray separating hook 145 (2) has a lid portion 14
2 (2), the tray transport mechanism entrance area 147
(2) The tray T is arranged so as to support the tray T in the inside, corresponding to the side surfaces of the tray T facing each other. The tray T is fixed by inserting the tray separating hook 145 (2) into the recess of the tray T. Tray separation hook 145
A drive mechanism (not shown) is connected to (2), and the tray separating hook 145 (2) is inserted into and removed from the side surface recess of the tray T. By this insertion and removal, the tray T is fixed and released.

【0027】トレイ昇降機構146(2)は、積層した
トレイTを載置する平板(トレイ載置板)を有し、これ
を上下に昇降することで、積層したトレイTをストッカ
ー141(2)内上下に昇降する機構である。トレイ搬
送機構進入領域147(2)は、蓋部142(2)内に
設定された略直方体状の空間であり、Y方向トレイ搬送
機構180が蓋部142(2)側面の開口部を通じてY
正方向から出入りする。
The tray elevating mechanism 146 (2) has a flat plate (tray mounting plate) on which the stacked trays T are mounted, and the stacking tray T is moved up and down to move the stacked trays T to the stocker 141 (2). It is a mechanism that moves up and down inside. The tray transport mechanism entry area 147 (2) is a substantially rectangular parallelepiped space set in the lid portion 142 (2), and the Y-direction tray transport mechanism 180 passes through the opening on the side surface of the lid portion 142 (2) to Y-direction.
Enter and exit from the normal direction.

【0028】ストッカー141内からトレイ配置領域1
30へのトレイTの移動は、以下の手順によって行われ
る。ここで、図9、10はそれぞれストッカー141
(1)、141(2)内それぞれにおけるトレイTの移
動状態を表す模式図である。 A.上方用ストッカー141(1)におけるトレイTの
移動 まず、ストッカー141(1)でのトレイTの移動を説
明する。 (1)トレイ昇降機構146(1)がトレイ載置板を上
昇させ、これをストッカー141(1)内の最下段のト
レイT底面に押しつけた状態でトレイ分離フック145
(1)を解除する(トレイ分離フック145(1)をト
レイT側面の凹部内から取り出す)(図9(A)参
照)。 (2)トレイ昇降機構146(1)を動作させトレイT
をトレイT一枚分下降し(トレイ載置板を降下する)、
トレイ分離フック145(1)に対応するトレイを最下
段から2つ目のトレイにする。 (3)トレイ分離フック145(1)を動作し、最下段
から2つ目のトレイTを固定する(トレイ分離フック1
45(1)を最下段から2つ目のトレイTの側面の凹部
に挿入する)(図9(B)参照)。
From inside the stocker 141 to the tray arrangement area 1
The movement of the tray T to the 30 is performed by the following procedure. Here, FIGS. 9 and 10 show stockers 141, respectively.
It is a schematic diagram showing the movement state of the tray T in each of (1) and 141 (2). A. Movement of Tray T in Upper Stocker 141 (1) First, movement of the tray T in the stocker 141 (1) will be described. (1) The tray lifting mechanism 146 (1) raises the tray placing plate and presses the tray placing plate against the bottom surface of the tray T in the stocker 141 (1), and then the tray separating hook 145.
(1) is released (the tray separating hook 145 (1) is taken out from the concave portion on the side surface of the tray T) (see FIG. 9A). (2) Operate the tray elevating mechanism 146 (1) to operate the tray T
Is lowered by one tray T (the tray mounting plate is lowered),
The tray corresponding to the tray separation hook 145 (1) is the second tray from the bottom. (3) The tray separating hook 145 (1) is operated to fix the second tray T from the bottom (tray separating hook 1
45 (1) is inserted into the concave portion on the side surface of the second tray T from the lowermost stage) (see FIG. 9 (B)).

【0029】(4)トレイ昇降機構146(1)を動作
させ、最下段のトレイTを降下する。このとき、最下段
から2番目のトレイTはトレイ分離フック145(1)
によって固定されている。 (5)トレイ昇降機構146(1)によるトレイTの降
下を継続させ、最下段のトレイTをトレイ搬入機構進入
領域147(1)まで降下する。このときまでに、トレ
イ搬入機構進入領域147(1)内にY方向トレイ搬送
機構180を進入しているようにする。さらに、トレイ
昇降機構146(1)上のトレイTはトレイ搬入機構進
入領域147内のY方向トレイ搬送機構180上に降
下、載置される(図9(C)参照)。 (6)Y方向トレイ搬送機構180上に載置されたトレ
イTは、Y方向トレイ搬送機構180がトレイ搬送機構
進入領域147(1)から退出することで、ストッカー
141(1)内から搬出され、トレイ配置領域130に
配置される。
(4) The tray elevating mechanism 146 (1) is operated to lower the tray T at the lowermost stage. At this time, the second tray T from the bottom is the tray separation hook 145 (1).
Is fixed by. (5) Continue lowering the tray T by the tray elevating mechanism 146 (1), and lower the lowest tray T to the tray loading mechanism entry area 147 (1). By this time, the Y-direction tray transport mechanism 180 is supposed to have entered the tray loading mechanism entry area 147 (1). Further, the tray T on the tray elevating mechanism 146 (1) is lowered and placed on the Y-direction tray transport mechanism 180 in the tray loading mechanism entry area 147 (see FIG. 9C). (6) The tray T placed on the Y-direction tray transport mechanism 180 is carried out from the stocker 141 (1) by the Y-direction tray transport mechanism 180 exiting from the tray transport mechanism entry area 147 (1). , Are placed in the tray placement area 130.

【0030】トレイ配置領域130からストッカー14
1(1)へのトレイTの移動、載置は、以下の手順によ
って行われる。 (1)トレイTはY方向トレイ搬送機構180上に載置
されている。Y方向トレイ搬送機構180がトレイ配置
領域130からトレイ搬送機構進入領域147(1)内
に進入することで、ストッカー141(1)内にトレイ
Tが搬入される(図9(C)参照)。 (2)トレイ昇降機構146(1)がトレイ載置板を上
昇する。この結果、Y方向トレイ搬送機構180上に載
置されたトレイTがトレイ昇降機構146(1)に引き
渡される。トレイ昇降機構146(1)のトレイ載置板
をさらに上昇させ、これに載置されたストッカーTをス
トッカー141(1)内の最下段のトレイT底面に接触
させる(図9(B)参照)。
From the tray arrangement area 130 to the stocker 14
The movement and placement of the tray T to 1 (1) are performed by the following procedure. (1) The tray T is placed on the Y-direction tray transport mechanism 180. When the Y-direction tray transport mechanism 180 enters the tray transport mechanism entry area 147 (1) from the tray arrangement area 130, the tray T is loaded into the stocker 141 (1) (see FIG. 9C). (2) The tray elevating mechanism 146 (1) raises the tray mounting plate. As a result, the tray T placed on the Y-direction tray transport mechanism 180 is delivered to the tray elevating mechanism 146 (1). The tray placing plate of the tray elevating mechanism 146 (1) is further raised, and the stocker T placed on this is brought into contact with the bottom surface of the bottom tray T in the stocker 141 (1) (see FIG. 9 (B)). ..

【0031】(3)トレイ昇降機構146(1)によっ
てトレイTを接触させた状態でトレイ分離フック145
(1)を解除する(トレイ分離フック145(1)をト
レイT側面の凹部内から取り出す)。 (4)トレイ昇降機構146(1)を動作させトレイT
をトレイT一枚分上昇し、トレイ昇降機構146(1)
上に載置されたトレイTをトレイ分離フック145
(1)に対応させる(図9(A)参照)。 (5)トレイ分離フック145(1)を動作し、トレイ
昇降機構146(1)上に載置されたトレイTを固定す
る。かくして、トレイ配置領域130上のトレイTがス
トッカー141(1)内の最下段に収納、固定される。
以上のようにして、トレイ配置領域130上のトレイT
がストッカー141(1)内の最下段に収納、固定され
る。
(3) Tray separating mechanism 146 (1) with the tray T in contact with the tray separating hook 145.
(1) is released (the tray separating hook 145 (1) is taken out from the concave portion on the side surface of the tray T). (4) Operate the tray elevating mechanism 146 (1) to operate the tray T
The tray T by one tray, and the tray lifting mechanism 146 (1)
The tray T placed on the tray is attached to the tray separating hook 145.
It corresponds to (1) (see FIG. 9A). (5) The tray separating hook 145 (1) is operated to fix the tray T placed on the tray elevating mechanism 146 (1). Thus, the tray T on the tray arrangement area 130 is stored and fixed in the lowermost stage in the stocker 141 (1).
As described above, the tray T on the tray arrangement area 130 is
Is stored and fixed at the bottom of the stocker 141 (1).

【0032】B.下方用ストッカー141(2)のにお
けるトレイTの移動 ストッカー141(2)内からトレイ配置領域130へ
のトレイTの移動は、以下の手順によって行われる。 (1)トレイ昇降機構146(2)がトレイ載置板を上
昇させ、トレイ搬送機構進入領域147(2)内で最上
層のトレイTの側面がトレイ分離フック145(2)に
対向した状態にする(図10(A)参照)。なお、トレ
イ搬入機構進入領域147(2)内にはY方向トレイ搬
送機構180が進入していないものとする。 (2)トレイ分離フック145(2)を動作させ、最上
層のトレイTをトレイ搬送機構進入領域147(2)内
で固定する。
B. Movement of Tray T in Lower Stocker 141 (2) The movement of the tray T from the inside of the stocker 141 (2) to the tray arrangement area 130 is performed by the following procedure. (1) The tray elevating mechanism 146 (2) raises the tray placing plate so that the side surface of the uppermost tray T in the tray transporting mechanism entry area 147 (2) faces the tray separating hook 145 (2). (See FIG. 10A). It is assumed that the Y-direction tray transport mechanism 180 has not entered the tray loading mechanism entry area 147 (2). (2) The tray separating hook 145 (2) is operated to fix the uppermost tray T in the tray transport mechanism entrance area 147 (2).

【0033】(3)トレイ昇降機構146(2)がその
トレイ載置板を降下させる。この結果、積層されたトレ
イが降下し、トレイ分離フック145(2)に固定され
たトレイTはトレイ搬送機構進入領域147内に保持さ
れる。(図10(B)参照)。 (4)トレイ搬入機構進入領域147(2)内にY方向
トレイ搬送機構180を進入させ、トレイ分離フック1
45(2)を解除して、Y方向トレイ搬送機構180上
にトレイTを載置する(図10(C)参照)。Y方向ト
レイ搬送機構180上に載置されたトレイTはトレイ載
置部183(2)に固定され、Y方向トレイ搬送機構1
80がトレイ搬送機構進入領域147(2)から退出す
ることで、ストッカー141(2)内から搬出され、ト
レイ配置領域130に配置される。
(3) The tray elevating mechanism 146 (2) lowers the tray mounting plate. As a result, the stacked trays are lowered, and the tray T fixed to the tray separating hook 145 (2) is held in the tray transport mechanism entrance area 147. (See FIG. 10B). (4) The Y-direction tray transfer mechanism 180 is moved into the tray carry-in mechanism entrance area 147 (2), and the tray separation hook 1
45 (2) is released, and the tray T is placed on the Y-direction tray transport mechanism 180 (see FIG. 10C). The tray T placed on the Y-direction tray transfer mechanism 180 is fixed to the tray mounting portion 183 (2), and the Y-direction tray transfer mechanism 1
When 80 is withdrawn from the tray transport mechanism entry area 147 (2), it is carried out from the stocker 141 (2) and placed in the tray placement area 130.

【0034】トレイ配置領域130からストッカー14
1(2)内へのトレイTの移動、載置は、以下の手順に
よって行われる。 (1)トレイTはY方向トレイ搬送機構180上に載置
されている。Y方向トレイ搬送機構180がトレイ配置
領域130からトレイ搬送機構進入領域147(2)内
に進入することで、ストッカー141(2)内にトレイ
Tが搬入される(図10(C)参照)。 (2)Y方向トレイ搬送機構180のトレイ固定部18
4(2)によるトレイTの固定を解除すると共に、トレ
イ分離フック145(2)を動作させてトレイTを固定
する。その後、Y方向トレイ搬送機構180がトレイ搬
送機構進入領域147(2)内から退出する(図10
(B)参照)。 (3)トレイ昇降機構146(2)がトレイ載置板を上
昇し、これに載置された積層されたトレイTをトレイ分
離フック145(2)で固定されたトレイT底面に接触
させる。さらに、トレイ分離フック145(2)を解除
し、ストッカー141(2)内のトレイの全てがトレイ
昇降機構146(2)のトレイ載置板上に載置された状
態にする。(図10(A)参照)。
From the tray arrangement area 130 to the stocker 14
The movement and placement of the tray T in 1 (2) are performed by the following procedure. (1) The tray T is placed on the Y-direction tray transport mechanism 180. When the Y-direction tray transport mechanism 180 enters the tray transport mechanism entry area 147 (2) from the tray arrangement area 130, the tray T is loaded into the stocker 141 (2) (see FIG. 10C). (2) The tray fixing portion 18 of the Y-direction tray transport mechanism 180
The fixing of the tray T by 4 (2) is released, and the tray separating hook 145 (2) is operated to fix the tray T. Then, the Y-direction tray transport mechanism 180 exits from the tray transport mechanism entry area 147 (2) (FIG. 10).
(See (B)). (3) The tray elevating mechanism 146 (2) moves up the tray mounting plate to bring the stacked trays T mounted thereon into contact with the bottom surface of the tray T fixed by the tray separating hooks 145 (2). Further, the tray separating hook 145 (2) is released so that all the trays in the stocker 141 (2) are placed on the tray placing plate of the tray elevating mechanism 146 (2). (See FIG. 10A).

【0035】(4)トレイ昇降機構146(2)がその
トレイ載置板を降下して、積層されたトレイTをストッ
カー141(2)内下方に移動する。以上のようにし
て、トレイ配置領域130上のトレイTがストッカー1
41(2)内の最上段に載置される。
(4) The tray elevating mechanism 146 (2) lowers the tray mounting plate and moves the stacked trays T downward in the stocker 141 (2). As described above, the tray T on the tray arrangement area 130 is placed in the stocker 1
It is placed at the top of 41 (2).

【0036】(検査領域150の詳細)検査領域150
は、基台110の上面上X軸ロボット120a、120
b間かつトレイ配置領域130のX方向延長上に設定さ
れた略矩形状の領域であり、その下方に電子部品検査ユ
ニット200が配置される。ここで、図11,12はそ
れぞれ検査領域150を拡大して表す上面図、および断
面図である。検査領域150には、2つの部品位置確認
カメラ151a,151bおよび検査部となる2つの検
査用ソケット152a,152bが配置される。部品位
置確認カメラ151a、151bは基台110上に設置
され、検査用ソケット152a,152bは検査板15
3上に設置され、検査板153を介して基台110に着
脱される。
(Details of Inspection Area 150) Inspection Area 150
Is an X-axis robot 120a, 120 on the upper surface of the base 110.
It is a substantially rectangular area set between b and on the extension of the tray arrangement area 130 in the X direction, and the electronic component inspection unit 200 is arranged below it. Here, FIGS. 11 and 12 are a top view and a cross-sectional view showing the inspection region 150 in an enlarged manner, respectively. In the inspection area 150, two component position confirmation cameras 151a and 151b and two inspection sockets 152a and 152b which are inspection units are arranged. The component position confirmation cameras 151a and 151b are installed on the base 110, and the inspection sockets 152a and 152b are the inspection plates 15
3 and is attached to and detached from the base 110 via the inspection plate 153.

【0037】部品位置確認カメラ151a,151b
は、部品搬送機構160で搬送される電子部品Dの位置
を確認するための撮像カメラであり、ラインセンサ、C
CDカメラ、ビジュンカメラ等から構成される。電子部
品Dの平面的(場合により一軸方向上の)の画像情報を
入手可能であれば特に構成は限定されない。部品位置確
認カメラ151a,151bは検査領域150上にY方
向に沿って、かつY方向中心に対称に並んで配置され、
それぞれその上方を通過する電子部品Dの画像を撮影す
る。撮影された画像を画像処理することで、部品搬送機
構160に対する電子部品Dの位置が検出される。この
結果、部品搬送機構160で電子部品Dを吸着したとき
の電子部品Dの位置ズレ(X,Y,R方向)を検知し、
検査用ソケット152への電子部品Dの接続の際に電子
部品Dの位置を補正して接続の確実性を向上できる。即
ち、電子部品Dの電極と検査用ソケット152の電極と
をより確実に接触、連結することが可能となる。
Parts position confirmation cameras 151a, 151b
Is an image pickup camera for confirming the position of the electronic component D transported by the component transport mechanism 160, and includes a line sensor, C
It consists of a CD camera, a bijoun camera, etc. The configuration is not particularly limited as long as planar image information (on one axis direction in some cases) of the electronic component D can be obtained. The component position confirmation cameras 151a and 151b are arranged on the inspection area 150 along the Y direction and symmetrically arranged in the center of the Y direction.
An image of the electronic component D passing above each is captured. By subjecting the captured image to image processing, the position of the electronic component D with respect to the component transport mechanism 160 is detected. As a result, the positional deviation (X, Y, R directions) of the electronic component D when the electronic component D is sucked by the component transport mechanism 160 is detected,
When connecting the electronic component D to the inspection socket 152, the position of the electronic component D can be corrected to improve the reliability of the connection. That is, the electrodes of the electronic component D and the electrodes of the inspection socket 152 can be contacted and connected more reliably.

【0038】部品位置確認カメラ151a,151b
は、電子部品Dの外観の検査に用いることも可能であ
る。この検査は、電子部品Dの位置の確認と同様、部品
位置確認カメラ151a,151b上を電子部品Dを吸
着した部品搬送機構160が通過する際に行える。この
ようにして、電子部品検査装置10は電子部品Dの電気
的検査に加えて、容易に外観検査を行える。さらには、
電子部品Dが表面にコードを表示するものにおいては、
コードを部品位置確認カメラ151a、151bで読み
取ることで電子部品Dそのものから種別を判断すること
もできる(多機能検査)。
Parts position confirmation cameras 151a, 151b
Can also be used to inspect the external appearance of the electronic component D. This inspection can be performed when the component transfer mechanism 160 that has picked up the electronic component D passes over the component position confirmation cameras 151a and 151b, similarly to the confirmation of the position of the electronic component D. In this way, the electronic component inspection device 10 can easily perform the visual inspection in addition to the electrical inspection of the electronic component D. Moreover,
In the case where the electronic component D displays the code on the surface,
The type can also be determined from the electronic component D itself by reading the code with the component position confirmation cameras 151a and 151b (multifunctional inspection).

【0039】検査用ソケット152a,152bは電子
部品Dおよび電子部品検査ユニット200双方との電気
的な接続により、電子部品検査ユニット200による電
子部品Dの電気的な検査を可能とする電気的な接続部材
である。検査用ソケット152a,152bは、検査領
域150上のY方向中心にX方向に並んで設置されてい
る。検査板153は検査用ソケット152a,152b
が接続された略平板であり、基台110に対して脱着可
能とされる。
The inspection sockets 152a and 152b are electrically connected to both the electronic component D and the electronic component inspection unit 200, so that the electronic component D can be electrically inspected by the electronic component inspection unit 200. It is a member. The inspection sockets 152a and 152b are installed side by side in the X direction at the center of the inspection region 150 in the Y direction. The inspection plate 153 includes inspection sockets 152a and 152b.
Is a substantially flat plate connected to and detachable from the base 110.

【0040】ここで、検査領域150における部品位置
確認カメラ151と検査用ソケット152との配置の詳
細について説明する。本実施形態では部品位置確認カメ
ラ151および検査用ソケット152はいずれも2つで
あり、検査用ソケット152がX方向に並んでいるが、
これらの個数、配置を変えることも可能である。図1
3,14は部品位置確認カメラ151と検査用ソケット
152の配置例を模式的に表す上面図である。図13は
部品位置確認カメラ151が2つ、図14は部品位置確
認カメラ151が1つの場合を表す。図13,14の
(A)〜(C)に表すように部品位置確認カメラ151
が1つまたは2つ、検査用ソケット152が2つまたは
4つの組み合わせがあり得る。この内、図13(A)が
図11で示した本実施形態における配置に対応する。検
査用ソケット152の個数が多いと多くの電子部品Dの
同時並行的な検査が行いやすくなる。また、部品位置確
認カメラ151を複数備えると、複数の電子部品Dの位
置を同時に確認することが可能となる。これらの個数お
よび配置は部品搬送機構160の個数や配置等に応じて
適宜に選択することが好ましい。本実施形態では、検査
用ソケット152をトレイTの略中央をX方向に延長し
た方向に配置することで、部品搬送機構160のY方向
の移動量の低減を可能としている。
The arrangement of the component position confirmation camera 151 and the inspection socket 152 in the inspection area 150 will be described in detail. In the present embodiment, there are two component position confirmation cameras 151 and two inspection sockets 152, and the inspection sockets 152 are arranged in the X direction.
It is also possible to change the number and arrangement of these. Figure 1
Reference numerals 3 and 14 are top views schematically showing an arrangement example of the component position confirmation camera 151 and the inspection socket 152. FIG. 13 shows the case where there are two component position confirmation cameras 151, and FIG. 14 shows the case where there is one component position confirmation camera 151. As shown in (A) to (C) of FIGS.
There may be a combination of one or two and two or four test sockets 152. Of these, FIG. 13A corresponds to the arrangement in the present embodiment shown in FIG. If the number of the inspection sockets 152 is large, it becomes easy to perform simultaneous and parallel inspection of many electronic components D. In addition, if a plurality of component position confirmation cameras 151 are provided, it becomes possible to confirm the positions of a plurality of electronic components D at the same time. It is preferable to appropriately select the number and arrangement of these components according to the number and arrangement of the component transport mechanism 160. In the present embodiment, the inspection sockets 152 are arranged in the direction in which the approximate center of the tray T is extended in the X direction, so that the movement amount of the component transport mechanism 160 in the Y direction can be reduced.

【0041】基台110に対する検査板153の取り付
け方向は一定としたまま、図13、14の(A)、
(B)の2種の検査板153の取り付け種別を、後述す
る検査位置確認カメラ154で認識するか、不図示の入
力装置で制御装置190に入力するようにする。なお、
図13、14の(A)、(B)に示すように、検査板1
53の取り付ける方向を変えることで、検査用ソケット
152の列の並ぶ方向がX方向からY方向へと変化する
ようにしても良い。検査用ソケット152a,152b
の取付方向は、取付方向検知手段となる検査位置確認カ
メラ154によって検知するか、データ入力する。図1
1,12に示すように、検査板153に開口部155が
形成され、基台110にこの開口部155と対応する開
口検知部156が設けられている。この開口検知部15
6は例えば光センサ、リミットスイッチから構成され、
開口部155が対応する位置に配置されているか否かを
検知する。
While the mounting direction of the inspection plate 153 with respect to the base 110 is fixed, (A) of FIGS.
The type of attachment of the two types of inspection plates 153 of (B) is recognized by the inspection position confirmation camera 154 described later, or is input to the control device 190 by an input device (not shown). In addition,
As shown in (A) and (B) of FIGS.
The direction in which the rows of the inspection sockets 152 are arranged may be changed from the X direction to the Y direction by changing the mounting direction of the 53. Inspection sockets 152a, 152b
The mounting direction of is detected by the inspection position confirmation camera 154 serving as a mounting direction detecting means, or data is input. Figure 1
As shown in FIGS. 1 and 12, an opening 155 is formed in the inspection plate 153, and the base 110 is provided with an opening detector 156 corresponding to the opening 155. This opening detector 15
6 includes, for example, an optical sensor and a limit switch,
It is detected whether or not the opening 155 is arranged at the corresponding position.

【0042】既に述べたように、検査板153は、その
開口部155が開口検知部156上に配置される方向
と、その開口部155が開口検知部156上に配置され
ない方向の2方向に接続できる。開口検知部156を光
センサで構成し開口検知部156に対応した発光部15
8を用いることで検査板153と基台110の対応関係
を検知できる。即ち、発光部158から開口検知部15
6に向かう光が検査板153によって遮られるか否か
で、開口部155と開口検知部156との対応関係を検
知できる。なお、この光源158は開口検知部156の
上方に適宜設置することができる。また、検査板153
の上面の開口部155に設置することも可能である。
As described above, the inspection plate 153 is connected in two directions, that is, the direction in which the opening 155 is arranged on the opening detection part 156 and the direction in which the opening 155 is not arranged on the opening detection part 156. it can. The aperture detector 156 is composed of an optical sensor, and the light emitter 15 corresponding to the aperture detector 156 is provided.
By using 8, the correspondence between the inspection plate 153 and the base 110 can be detected. That is, from the light emitting unit 158 to the opening detection unit 15
Correspondence between the opening 155 and the opening detector 156 can be detected depending on whether or not the light directed to the light source 6 is blocked by the inspection plate 153. The light source 158 can be appropriately installed above the aperture detector 156. Also, the inspection plate 153
It is also possible to install it in the opening 155 on the upper surface of the.

【0043】また、開口検知部156をリミットスイッ
チで構成し、このリミットスイッチのオン、オフにより
開口部155を検知することもできる。リミットスイッ
チ上に開口部155が位置すればリミットスイッチがオ
フ状態となり、リミットスイッチ上に開口部155がな
けば検査板153によってリミットスイッチが押されて
オン状態となる。なお、このときには開口部155は検
査板153を貫通した孔で構成する必要はなく、リミッ
トスイッチの先端が挿入できる凹部とすれば足りる。
It is also possible to configure the opening detection section 156 with a limit switch and detect the opening 155 by turning this limit switch on and off. If the opening 155 is located on the limit switch, the limit switch is turned off, and if the opening 155 is not located on the limit switch, the inspection plate 153 pushes the limit switch to turn it on. At this time, the opening 155 does not need to be formed by a hole penetrating the inspection plate 153, and may be a recess into which the tip of the limit switch can be inserted.

【0044】(部品搬送機構160の詳細)部品搬送機
構(搬送アーム)160a〜160dは、電子部品Dを
吸着、搬送する。ここで、部品搬送機構160a、16
0bはX軸ロボット120aに、部品搬送機構160
c、160dはX軸ロボット120b上に設置されてい
る。部品搬送機構160a、160bと部品搬送機構1
60c、160dとが、異なるX軸ロボット120a,
120b上に設置されていることから、X方向に互いに
独立して電子部品Dを搬送することができる。この結
果、電子部品Dの検査効率が向上する。
(Details of Component Conveying Mechanism 160) The component conveying mechanisms (conveying arms) 160a to 160d adsorb and convey the electronic component D. Here, the component transport mechanisms 160a, 16
0b is the X-axis robot 120a, and the parts transfer mechanism 160
c and 160d are installed on the X-axis robot 120b. Component transport mechanisms 160a and 160b and component transport mechanism 1
60c and 160d are different from the X-axis robot 120a,
Since the electronic components D are installed on the 120b, the electronic components D can be independently transported in the X direction. As a result, the inspection efficiency of the electronic component D is improved.

【0045】図15,16はそれぞれ部品搬送機構16
0を拡大して表した上面図および側面図である。図1
5,16に示すように部品搬送機構160a〜160d
はそれぞれ、X方向駆動部161、Y方向駆動部16
2、Z方向駆動部163、R方向駆動部164、吸着ヘ
ッド165、吸着ノズル166から構成される。部品搬
送機構160a、160cには、X方向トレイ搬送機構
170が、部品搬送機構160bの吸着ヘッド165b
には検査位置確認カメラ154が接続されている。
15 and 16 respectively show a component transfer mechanism 16
FIG. 3 is an enlarged top view and a side view of FIG. Figure 1
5 and 16, as shown in FIGS.
Are the X-direction drive unit 161 and the Y-direction drive unit 16 respectively.
2, a Z-direction drive unit 163, an R-direction drive unit 164, a suction head 165, and a suction nozzle 166. The component transfer mechanisms 160a and 160c include an X-direction tray transfer mechanism 170 and a suction head 165b of the component transfer mechanism 160b.
An inspection position confirmation camera 154 is connected to the.

【0046】X方向駆動部161は、X軸ロボット12
0上をX方向に移動することで、吸着ヘッド165のX
方向の移動を可能とする。Y方向駆動部162は、X方
向駆動部161に接続され、Y方向駆動基体1621、
Y方向駆動体1622から構成される。Y方向駆動基体
1621に対してY方向駆動体1622をY方向に伸縮
することで、吸着ヘッド165のY方向の移動を可能と
する。また、部品搬送機構160a、160bと部品搬
送機構160c、160dがX方向において近接する場
合に、Y方向駆動部162により吸着ヘッド165をY
方向に移動し、互いの干渉(接触)を防止できる。Z方
向駆動部163は、Y方向駆動体1622の端部に接続
され、Z方向駆動基体1631、Z方向駆動体1632
から構成される。Z方向駆動基体1631に対してZ方
向駆動体1632をZ方向に上下動することで、吸着ヘ
ッド165のZ方向の移動を可能とする。なお、Z方向
への上下動はY方向駆動部162のようにボールネジ、
ボールナット機構、あるいは油圧シリンダ機構、リニア
モータ機構等の駆動体によっても行える。この逆にY方
向駆動部162において、Z方向駆動部163のよう
に、部材同士のズレ運動に基づいて吸着ヘッド165を
Y方向に移動させることも可能である。
The X-direction drive unit 161 is the X-axis robot 12
0 in the X direction, the suction head 165 moves in the X direction.
Allows movement in any direction. The Y-direction driving unit 162 is connected to the X-direction driving unit 161, and the Y-direction driving base 1621,
It is composed of a Y-direction driver 1622. By expanding and contracting the Y-direction drive body 1622 in the Y-direction with respect to the Y-direction drive base body 1621, the suction head 165 can be moved in the Y-direction. Further, when the component transport mechanisms 160a and 160b and the component transport mechanisms 160c and 160d are close to each other in the X direction, the Y-direction drive unit 162 moves the suction head 165 to the Y direction.
It can move in the directions and prevent mutual interference (contact). The Z-direction drive unit 163 is connected to an end of the Y-direction drive body 1622, and is provided with a Z-direction drive base body 1631 and a Z-direction drive body 1632.
Composed of. By moving the Z-direction drive body 1632 up and down with respect to the Z-direction drive base body 1631 in the Z direction, the suction head 165 can be moved in the Z direction. It should be noted that the vertical movement in the Z direction is performed by a ball screw, like the Y direction drive unit 162.
It can also be performed by a driving body such as a ball nut mechanism, a hydraulic cylinder mechanism, or a linear motor mechanism. On the contrary, in the Y-direction drive unit 162, like the Z-direction drive unit 163, the suction head 165 can be moved in the Y direction based on the displacement movement of the members.

【0047】R方向駆動部164は、Z方向駆動体16
32の上端に接続され、Z軸を回転軸とする吸着ヘッド
165の回転(R方向回転:X−Y平面内での左右回
転)を行う。吸着ヘッド165は、ヘッド本体165
1、吸着ノズル支持部材1652から構成される。ヘッ
ド本体1651は、Z方向駆動体1632の下端に接続
され、X方向駆動部161、Y方向駆動部162、Z方
向駆動部163によって、X軸、Y軸、Z方向への移動
のそれぞれを独立に行うことができる。吸着ノズル支持
部材1652は、ヘッド本体1651の下端に接続さ
れ、吸着ノズル166を支持する。吸着ノズル支持部材
1652は、R方向駆動部164によってヘッド本体1
651に対して回転する。なお、これらの移動に際して
はX方向駆動部161、Y方向駆動部162、Z方向駆
動部163、R方向駆動部164の移動量をエンコーダ
等で検知し、制御部190にフィードバックすること
で、より適切な制御が可能になる。
The R-direction drive section 164 is the Z-direction drive body 16
The suction head 165, which is connected to the upper end of 32 and has the Z axis as the rotation axis, rotates (rotation in the R direction: left / right rotation in the XY plane). The suction head 165 is a head body 165.
1. Adsorption nozzle support member 1652. The head main body 1651 is connected to the lower end of the Z-direction driving body 1632, and the X-direction driving unit 161, the Y-direction driving unit 162, and the Z-direction driving unit 163 independently move the X-axis, the Y-axis, and the Z-direction. Can be done. The suction nozzle support member 1652 is connected to the lower end of the head body 1651 and supports the suction nozzle 166. The suction nozzle support member 1652 is attached to the head body 1 by the R-direction drive unit 164.
Rotate with respect to 651. It should be noted that when these are moved, the movement amount of the X-direction drive unit 161, the Y-direction drive unit 162, the Z-direction drive unit 163, and the R-direction drive unit 164 is detected by an encoder or the like and is fed back to the control unit 190, so that Appropriate control is possible.

【0048】吸着ノズル166は、吸着ヘッド165に
着脱自在に接続され、図示しない吸引機構により先端に
負圧あるいは正圧の空気圧を作用させ、電子部品Dの吸
着、離着(装着)、あるいは装着保持を行う。吸着ヘッ
ド165は電子部品Dの形状に応じて、交換して使用す
ることもできる。吸着ノズル166は、R方向駆動部1
64によりR方向に回転される。また吸着ノズル166
は、吸着ヘッド165に接続されていることから、X方
向駆動部161、Y方向駆動部162、Z方向駆動部1
63によりX,Y,Z方向に移動される。なお、以下に
おいて、表現の都合上、これらの移動、回転を吸着ヘッ
ド165の移動と称する場合がある(ヘッド本体165
1はR方向駆動部164による回転運動を行うわけでは
ないが)。Z方向駆動部163が吸着ノズル166を上
下に昇降させるノズル昇降部となり、X方向駆動部16
1が吸着ノズル166をX軸ロボット120の不図示の
X軸レール即ち軌道に沿って移動させるノズル移動部と
なり、部品搬送機構160a〜160dが部品搬送部と
なる。
The suction nozzle 166 is detachably connected to the suction head 165, and a negative or positive air pressure is applied to the tip of the suction head 165 by a suction mechanism (not shown) to suck, desorb (mount), or mount the electronic component D. Hold. The suction head 165 can be replaced and used depending on the shape of the electronic component D. The suction nozzle 166 is provided in the R-direction drive unit 1.
It is rotated in the R direction by 64. In addition, the suction nozzle 166
Are connected to the suction head 165, the X-direction drive unit 161, the Y-direction drive unit 162, and the Z-direction drive unit 1 are connected.
63 is moved in the X, Y, and Z directions. In the following, for convenience of expression, these movements and rotations may be referred to as movements of the suction head 165 (head main body 165).
1 does not perform the rotational movement by the R-direction drive unit 164.) The Z-direction drive unit 163 serves as a nozzle elevating unit that moves the suction nozzle 166 up and down.
1 is a nozzle moving unit that moves the suction nozzle 166 along an X-axis rail, that is, a track (not shown) of the X-axis robot 120, and the component transport mechanisms 160a to 160d are component transport units.

【0049】検査位置確認カメラ154は、吸着ヘッド
165bの側面に設置され、検査用ソケット152、ト
レイT、および検査板153上に識別用コードがある場
合にはこの識別用コードの画像を上方から撮影できる。
検査位置確認カメラ154は、ラインセンサ、CCDカ
メラ、ビジュンカメラ等から構成され、電子部品Dの平
面的(場合により一軸方向)の画像情報を入手可能であ
れば特に構成は限定されない。撮影された画像を画像処
理することで、検査用ソケット152やトレイTの位
置、および識別用コードが検出される。なお、検査位置
確認カメラ154を部品搬送機構160a〜160dの
それぞれに配置する場合には、検査位置確認カメラ15
4でトレイT上の未検査の電子部品Dの位置を確認し、
確認された位置に対応して吸着ノズル166の位置を補
正できる。即ち、電子部品Dを吸着したときの吸着ノズ
ル166に対する電子部品Dの位置ズレ(X,Y,R方
向)を低減できる。この結果、吸着ノズル166への電
子部品Dの吸着不良を防止し、検査効率の向上を図れ
る。また、検査用ソケット152の位置を確認し、電子
部品Dを検査用ソケット152に接続(装着)する際に
電子部品Dの位置を補正できる。この結果、検査用ソケ
ット152への電子部品Dの装着不良を防止して、検査
の確実性を向上することができる。
The inspection position confirmation camera 154 is installed on the side surface of the suction head 165b, and when an identification code is present on the inspection socket 152, the tray T, and the inspection plate 153, the image of the identification code is viewed from above. You can shoot.
The inspection position confirmation camera 154 includes a line sensor, a CCD camera, a view camera, and the like, and the configuration is not particularly limited as long as the planar (in some cases, uniaxial direction) image information of the electronic component D can be obtained. By subjecting the captured image to image processing, the positions of the inspection socket 152 and the tray T, and the identification code are detected. When the inspection position confirmation camera 154 is arranged in each of the component transport mechanisms 160a to 160d, the inspection position confirmation camera 15
Confirm the position of the uninspected electronic component D on the tray T in 4,
The position of the suction nozzle 166 can be corrected corresponding to the confirmed position. That is, it is possible to reduce the positional deviation (X, Y, R directions) of the electronic component D with respect to the suction nozzle 166 when the electronic component D is sucked. As a result, defective suction of the electronic component D onto the suction nozzle 166 can be prevented, and the inspection efficiency can be improved. Further, the position of the inspection socket 152 can be confirmed, and the position of the electronic component D can be corrected when the electronic component D is connected (mounted) to the inspection socket 152. As a result, it is possible to prevent defective mounting of the electronic component D in the inspection socket 152 and improve the reliability of the inspection.

【0050】(X方向トレイ搬送機構170の詳細)図
15、16に示されるように、X方向トレイ搬送機構1
70(170a,170b)は、Z方向トレイ駆動部1
71、トレイ吸着部172から構成される。Z方向トレ
イ駆動部171は、Y方向駆動基体1621に接続され
X方向駆動部161によりX方向に移動可能であると共
に、トレイ吸着部172を上下に昇降する。トレイ吸着
部172は、X方向駆動部161およびZ方向トレイ駆
動部171により、XおよびZ方向に移動可能な平板形
状であり、その下面に図示しない吸着孔が1個あるいは
複数形成されている。トレイ吸着部172には図示しな
い吸着機構に接続され、吸着孔からのエアの吸引およぶ
吸引の停止を行うことで、トレイTの吸着、離着を行う
ことができる。なお、トレイ吸着部172によるトレイ
Tの吸着、離着は吸着ノズル166による電子部品Dの
吸着、離着と互いに独立して行うことができる。
(Details of X-direction tray transport mechanism 170) As shown in FIGS.
70 (170a, 170b) is the Z-direction tray drive unit 1
71 and a tray suction section 172. The Z direction tray drive unit 171 is connected to the Y direction drive base body 1621 and is movable in the X direction by the X direction drive unit 161, and also moves the tray suction unit 172 up and down. The tray suction portion 172 has a flat plate shape that can be moved in the X and Z directions by the X-direction drive portion 161 and the Z-direction tray drive portion 171, and one or a plurality of suction holes (not shown) are formed on the lower surface thereof. A suction mechanism (not shown) is connected to the tray suction portion 172, and suction and desorption of the tray T can be performed by stopping suction and suction of air from the suction holes. It should be noted that the tray suction unit 172 can perform suction and desorption of the tray T independently of suction and desorption of the electronic component D by the suction nozzle 166.

【0051】X方向トレイ搬送機構170により、トレ
イ配置領域130上のトレイTを搬送することができ
る。この搬送は以下のように行われる。 (1)X方向駆動部161によって、トレイ吸着部17
2をX方向に移動し、搬送したいトレイTの上方に搬送
する。 (2)Z方向トレイ駆動部171により、トレイ吸着部
172を降下させ、その下面を搬送したいトレイTの上
面に接触または近接させる。 (3)トレイ吸着部172を動作させ、トレイ吸着部1
72にトレイTを吸着する。 (4)Z方向トレイ駆動部171により、トレイ吸着部
172を上昇する。トレイ吸着部172に吸着したトレ
イTは、トレイ吸着部172と共に上昇する。
The X-direction tray transfer mechanism 170 can transfer the tray T on the tray placement area 130. This transportation is performed as follows. (1) The tray suction unit 17 is driven by the X-direction drive unit 161.
2 is moved in the X direction and is conveyed above the tray T to be conveyed. (2) The Z-direction tray drive unit 171 lowers the tray suction unit 172 to bring the lower surface thereof into contact with or close to the upper surface of the tray T to be transported. (3) The tray suction unit 172 is operated to operate the tray suction unit 1
The tray T is adsorbed to 72. (4) The Z-direction tray drive unit 171 raises the tray suction unit 172. The tray T sucked by the tray suction portion 172 rises together with the tray suction portion 172.

【0052】(5)X方向駆動部161によって、トレ
イTを吸着したトレイ吸着部172をX方向の搬送目標
位置上に移動する。 (6)Z方向トレイ駆動部171によって、トレイTを
吸着したトレイ吸着部172を降下し、トレイTの下面
をトレイ配置領域130に接触または近接させる。 (7)トレイ吸着部172によるトレイTの吸着を解除
(離着)し、Z方向トレイ駆動部171によってトレイ
吸着部172を上昇する。この結果、トレイ吸着部17
2から離着したトレイTは搬送された場所にそのまま配
置された状態となる。
(5) The X-direction drive unit 161 moves the tray suction unit 172, which has sucked the tray T, to the transport target position in the X-direction. (6) The Z-direction tray drive unit 171 lowers the tray adsorption unit 172 that has adsorbed the tray T, and brings the lower surface of the tray T into contact with or close to the tray arrangement area 130. (7) The suction of the tray T by the tray suction portion 172 is released (attached / detached), and the tray suction portion 172 is raised by the Z-direction tray drive portion 171. As a result, the tray suction unit 17
The tray T detached from No. 2 is placed in the same position as it was transported.

【0053】(Y方向トレイ搬送機構180の詳細)Y
方向トレイ搬送機構180a(180a(1)、180
a(2))、180b(180b(1)、180b
(2))はそれぞれ、トレイ配置領域130a、130
bとストッカー配置領域140a、140b間でトレイ
TをY方向に搬送するための機構である。ここで、括弧
内の数字はトレイの上段、下段(トレイT(1)、T
(2))と対応する。本実施形態では、Y方向トレイ搬
送機構180a(1)、180a(2)、180b
(1)、180b(2)がそれぞれ、ストッカー141
a(1)、141a(2)、141b(1)、141b
(2)と対応している。但し、後の実施形態で示すよう
に、Y方向トレイ搬送機構180の上段、下段とストッ
カー141の上方、下方の対応関係は常に成立するとは
限らない。Y方向トレイ搬送機構180は図7,8に示
すようにシャフト181,移動部182,トレイ載置部
183,一対のトレイ固定部184から構成され、本願
における容器搬送部として機能する。シャフト181
は、略円柱状の棒にネジ溝が形成されたボールネジであ
り、トレイ配置領域130からストッカー配置領域14
0(具体的には、ストッカー141内のトレイ搬送機構
進入領域147)を結ぶ方向に沿って配置されている。
シャフト181は図示しないサーボモータからなる回転
機構に接続され、この回転機構を作動することでシャフ
ト181がその軸を中心として回転する。なお、この回
転に際しては回転機構の動作量をエンコーダ等で検知
し、制御部190にフィードバックすることで、的確な
制御が容易に行える。移動部182は略平板状であり、
ボールナット部を有する。このボールナット部はシャフ
ト181によって貫通されている。シャフト181が回
転することで、シャフト181と移動部182とのボー
ルネジとボールナットの噛み合わせにより、シャフト1
81の軸に沿って移動部182が前後に移動する。
(Details of Y-direction tray transport mechanism 180) Y
Directional tray transport mechanism 180a (180a (1), 180
a (2)), 180b (180b (1), 180b
(2)) indicates tray placement areas 130a and 130, respectively.
This is a mechanism for transporting the tray T in the Y direction between b and the stocker placement areas 140a and 140b. The numbers in parentheses are the upper and lower trays (tray T (1), T
Corresponds to (2)). In this embodiment, the Y-direction tray transport mechanism 180a (1), 180a (2), 180b.
(1) and 180b (2) are stocker 141, respectively.
a (1), 141a (2), 141b (1), 141b
Corresponds to (2). However, as shown in a later embodiment, the correspondence between the upper stage and the lower stage of the Y-direction tray transport mechanism 180 and the upper and lower sides of the stocker 141 is not always established. As shown in FIGS. 7 and 8, the Y-direction tray transfer mechanism 180 includes a shaft 181, a moving part 182, a tray mounting part 183, and a pair of tray fixing parts 184, and functions as a container transfer part in the present application. Shaft 181
Is a ball screw in which a thread groove is formed on a substantially columnar rod, and from the tray arrangement area 130 to the stocker arrangement area 14
0 (specifically, the tray transport mechanism entry area 147 in the stocker 141) is arranged along the direction in which it connects.
The shaft 181 is connected to a rotating mechanism composed of a servo motor (not shown), and by operating this rotating mechanism, the shaft 181 rotates about its axis. It should be noted that during this rotation, the operation amount of the rotating mechanism is detected by an encoder or the like and is fed back to the control unit 190, whereby accurate control can be easily performed. The moving portion 182 has a substantially flat plate shape,
Has a ball nut part. The ball nut portion is penetrated by the shaft 181. The rotation of the shaft 181 causes the shaft 181 and the moving portion 182 to mesh with each other by the ball screw and the ball nut.
The moving unit 182 moves back and forth along the axis 81.

【0054】トレイ載置部183は、略矩形状の平板か
らなりトレイTを載置する。トレイ載置部183は、そ
の一端近傍の下面において移動部182の一辺と接続さ
れ、移動部182と共にシャフト181の軸に沿って移
動する。トレイ載置部183の上面側の4辺にそれぞれ
配置される、略矩形断面形状の棒状部材からなる。4辺
のトレイ固定部184の内、X方向の2辺の内少なくと
も一方が図示しない移動装置によりX方向に移動可能と
される。その結果、トレイ固定部184のX方向の間隔
を適宜に制御することができ、トレイ載置部183上の
トレイTをその両側面で押圧、固定することができる。
なおさらに、4辺のトレイ固定部184の内、Y方向の
2辺の内少なくとも一方が図示しない移動装置によりY
方向に移動可能とし、Y方向の大きさの異なるトレイT
を搬送可能としても良い。
The tray mounting portion 183 is composed of a substantially rectangular flat plate and mounts the tray T thereon. The tray placing portion 183 is connected to one side of the moving portion 182 on the lower surface near one end thereof and moves along with the moving portion 182 along the axis of the shaft 181. The tray mounting portion 183 is formed of rod-shaped members each having a substantially rectangular cross-section and arranged on each of the four sides on the upper surface side. Among the four sides of the tray fixing portion 184, at least one of the two sides in the X direction can be moved in the X direction by a moving device (not shown). As a result, the distance between the tray fixing portions 184 in the X direction can be appropriately controlled, and the tray T on the tray placing portion 183 can be pressed and fixed by both side surfaces thereof.
Furthermore, among the tray fixing portions 184 on the four sides, at least one of the two sides in the Y direction is moved by a moving device (not shown).
Trays T that can move in different directions and have different sizes in the Y direction
May be allowed to be transported.

【0055】Y方向トレイ搬送機構180は、トレイT
をストッカー141からトレイ配置領域130あるいは
その逆に移動する場合に用いることができる。これに加
えて、Y方向トレイ搬送機構180は、トレイ配置領域
130内でトレイTを移動することで、吸着ヘッド16
5のY方向の移動量を低減することができる。このとき
の移動は、それぞれのトレイTを独立に、あるいは一体
として行うことができる。
The Y-direction tray transport mechanism 180 includes a tray T
Can be used when moving from the stocker 141 to the tray placement area 130 or vice versa. In addition to this, the Y-direction tray transport mechanism 180 moves the tray T in the tray placement area 130, and thereby the suction head 16 is moved.
The amount of movement of No. 5 in the Y direction can be reduced. At this time, the trays T can be moved independently or integrally.

【0056】(制御部の詳細)制御部190は、基台1
10内に設けられ、CPU181,ROM182,RA
M183,通信コントローラ194,I/Oコントロー
ラ195,モーションコントローラ196,画像コント
ローラ197から構成され、電子部品搬送ユニット10
0の駆動を制御すると共に、電子部品検査ユニット20
0の不図示の制御部との通信を行う。
(Details of Control Unit) The control unit 190 includes the base 1
CPU 181, ROM 182, RA provided in
The electronic component transport unit 10 includes an M183, a communication controller 194, an I / O controller 195, a motion controller 196, and an image controller 197.
0 drive control and electronic component inspection unit 20
Communication with a control unit (not shown) of 0 is performed.

【0057】CPU191は、ROM192,RAM1
93に記憶されたソフトウェアに基づき、通信コントロ
ーラ194,I/Oコントローラ195,モーションコ
ントローラ196,画像コントローラ197を通じて電
子部品搬送ユニット100の駆動制御、電子部品検査ユ
ニット200との通信を行う。このソフトウェアは、検
査の対象となる電子部品Dと検査用ソケット152の組
み合わせおよび電子部品検査ユニット200からの信号
に応じて、電子部品DおよびトレイTの搬送を実施し、
電子部品検査ユニット200は、電子部品Dに対応する
検査内容のソフトウェアに基づき検査を実施する。
The CPU 191 has a ROM 192 and a RAM 1
Based on the software stored in 93, drive control of the electronic component transport unit 100 and communication with the electronic component inspection unit 200 are performed through the communication controller 194, I / O controller 195, motion controller 196, and image controller 197. This software carries the electronic component D and the tray T according to a combination of the electronic component D to be inspected and the inspection socket 152 and a signal from the electronic component inspection unit 200,
The electronic component inspection unit 200 performs the inspection based on the software of the inspection content corresponding to the electronic component D.

【0058】ROM192、RAM193はそれぞれ、
固定的、一時的な情報の記憶を行う記憶手段であり、例
えば電子部品搬送ユニット100の動作手順、内容を表
すソフトウェア、電子部品搬送ユニット100の状況を
表す情報等が記憶される。この情報には、吸着ヘッド1
65がトレイT上の電子部品Dを吸着した際の部品吸着
情報、検査用ソケット152に電子部品Dを装着した際
の部品装着情報等が含められる。吸着ヘッド165によ
る電子部品Dの吸着、離着に際してこれらの情報を参照
することで、より確実な誤動作の排除が可能となる。
The ROM 192 and the RAM 193 are respectively
It is a storage means for storing fixed and temporary information, and stores, for example, an operation procedure of the electronic component carrying unit 100, software indicating the contents, information indicating the status of the electronic component carrying unit 100, and the like. This information includes suction head 1
It includes component suction information when the electronic component D on the tray T is suctioned by 65, component mounting information when the electronic component D is mounted on the inspection socket 152, and the like. By referring to these pieces of information when the suction head 165 suctions and detaches the electronic component D, it is possible to more reliably eliminate the malfunction.

【0059】記憶手段(ROM192、RAM193)
は、I/Oコントローラ195が開口検知部156から
受け取った検査用ソケット152の取付方向の情報、お
よびこの取付方向に対応して吸着ヘッド165を回転ま
たは移動するためのソフトウェアを記憶する。即ち、検
査用ソケット152に対応するように吸着ヘッド165
を回転または移動し、検査用ソケット152に対する電
子部品Dの装着を確実に行う。なお、吸着ヘッド165
の回転は吸着ヘッド165の移動中に行うのが検査の効
率上好ましい(検査速度の低下防止)。
Storage means (ROM 192, RAM 193)
Stores the information on the mounting direction of the inspection socket 152 received by the I / O controller 195 from the opening detection unit 156, and the software for rotating or moving the suction head 165 corresponding to this mounting direction. That is, the suction head 165 is provided so as to correspond to the inspection socket 152.
Is rotated or moved to securely mount the electronic component D in the inspection socket 152. The suction head 165
It is preferable that the rotation is performed during the movement of the suction head 165 in terms of the efficiency of inspection (prevention of decrease in inspection speed).

【0060】通信コントローラ194は、電子部品検査
ユニット200との間で、例えば検査用ソケット152
に電子部品Dが正しく載置されているか否かの情報、あ
るいはさらに電子部品Dの種別情報を電子部品検査ユニ
ット200へ出力し、電子部品検査ユニット200によ
る電子部品Dの検査結果を表す検査結果情報を電子部品
検査ユニット200から入力し、また電子部品搬送ユニ
ット100の状態を表す装置状態情報等の入出力を行
う。このようにして、電子部品Dの搬送、検査に際して
電子部品搬送ユニット100と電子部品検査ユニット2
00間での情報のやり取りが行われる。通信コントロー
ラ194(電子部品搬送ユニット100)と電子部品検
査ユニット200間での通信は有線、無線等種々の方法
で行うことができる。例えば作業者が信号カプラーを接
続することで、電子部品搬送ユニット100と電子部品
検査ユニット200との通信が可能となる。また、電子
部品検査ユニット200を電子部品搬送ユニット100
下部の空間111に挿入するときに、電子部品検査ユニ
ット200と電子部品搬送ユニット100双方の信号カ
プラーが自動的に接続されるようにしても差し支えな
い。
The communication controller 194 communicates with the electronic component inspection unit 200, for example, the inspection socket 152.
Information indicating whether the electronic component D is correctly placed on the electronic component D, or further type information of the electronic component D is output to the electronic component inspection unit 200, and the inspection result indicating the inspection result of the electronic component D by the electronic component inspection unit 200 Information is input from the electronic component inspection unit 200, and device state information indicating the state of the electronic component transport unit 100 is input / output. In this way, when the electronic component D is transported and inspected, the electronic component transport unit 100 and the electronic component inspection unit 2
Information is exchanged between 00s. Communication between the communication controller 194 (electronic component transport unit 100) and the electronic component inspection unit 200 can be performed by various methods such as wired and wireless. For example, a worker connects the signal coupler to enable communication between the electronic component transport unit 100 and the electronic component inspection unit 200. In addition, the electronic component inspection unit 200 is replaced with the electronic component transport unit 100.
When inserting into the lower space 111, the signal couplers of both the electronic component inspection unit 200 and the electronic component transport unit 100 may be automatically connected.

【0061】I/Oコントローラ195とモーションコ
ントローラ196はそれぞれ、部品搬送機構160、X
方向トレイ搬送機構170、Y方向トレイ搬送機構18
0、ストッカー141の駆動を行う図示しない駆動ユニ
ットに接続される。なお、この駆動ユニットはX方向駆
動部161、Y方向駆動部162、Z方向駆動部16
3、R方向駆動部164等に接続される。
The I / O controller 195 and the motion controller 196 are respectively the parts transport mechanism 160, X
Directional tray transport mechanism 170, Y-direction tray transport mechanism 18
0, the stocker 141 is connected to a drive unit (not shown). The drive unit includes an X-direction drive unit 161, a Y-direction drive unit 162, and a Z-direction drive unit 16.
3, connected to the R direction drive unit 164.

【0062】I/Oコントローラ195は、部品搬送機
構160等からその状態を表す状態情報を入力し、モー
ションコントローラ196は部品搬送機構160等に動
作内容を指示する動作指令を出力する。この結果、部品
搬送機構160による電子部品Dの吸着、離着、搬送、
X方向トレイ搬送機構170によるトレイTの吸着、離
着、搬送、Y方向トレイ搬送機構180によるトレイT
の固定、固定解除、搬送、ストッカー141からのトレ
イTの搬入、搬出の制御等が行われる。また、I/Oコ
ントローラ195は、検査用ソケット152の取付方向
の情報を開口検知部156から受け取る。この情報は吸
着ヘッド165を検査用ソケット152に対応するよう
に回転または移動し、検査用ソケット152に対する電
子部品Dの装着を確実に行うために用いられる。
The I / O controller 195 inputs the state information indicating the state from the component transfer mechanism 160 and the like, and the motion controller 196 outputs an operation command for instructing the operation content to the component transfer mechanism 160 and the like. As a result, the component transfer mechanism 160 sucks, desorbs, conveys the electronic component D,
Adsorption, detachment, and conveyance of the tray T by the X-direction tray conveyance mechanism 170, and tray T by the Y-direction tray conveyance mechanism 180
Control, release of fixation, conveyance, loading and unloading of the tray T from the stocker 141, and the like. Further, the I / O controller 195 receives information on the mounting direction of the inspection socket 152 from the opening detection unit 156. This information is used to rotate or move the suction head 165 so as to correspond to the inspection socket 152 and securely mount the electronic component D on the inspection socket 152.

【0063】画像コントローラ197は、部品位置確認
カメラ151a,151b、検査位置確認カメラ154
に接続され、これらへの撮像を指示する撮像指令の出
力、これらからの撮像結果(画像情報)の入力等を行
う。撮像された画像情報は、CPU191によって画像
処理が行われ、吸着ヘッド165の位置、吸着ヘッド1
65に対する電子部品Dの位置、検査用ソケット152
やトレイTの位置、および検査用ソケット152やトレ
イTに対する電子部品Dの位置等が検出される。なお、
電子回路検査用の信号の入出力を制御する電子部品検査
ユニット200側の不図示の制御部と、主に電子部品搬
送ユニット100側を制御する制御部190を一体化
し、電子部品検査ユニット200側に配置しても良い。
あるいは電子部品搬送ユニット100側に配置しても良
い。
The image controller 197 includes the component position confirmation cameras 151a and 151b and the inspection position confirmation camera 154.
Is connected to, and outputs an imaging command for instructing imaging to these, and inputs an imaging result (image information) from them. The image information of the captured image is subjected to image processing by the CPU 191, and the position of the suction head 165, the suction head 1
Position of electronic component D with respect to 65, socket 152 for inspection
The position of the tray T, the position of the electronic component D with respect to the inspection socket 152 or the tray T, and the like are detected. In addition,
A control unit (not shown) on the electronic component inspection unit 200 side that controls the input / output of signals for electronic circuit inspection and a control unit 190 that mainly controls the electronic component transport unit 100 side are integrated to form an electronic component inspection unit 200 side. It may be placed in.
Alternatively, it may be arranged on the electronic component carrying unit 100 side.

【0064】(電子部品検査ユニット200の詳細)電
子部品検査ユニット200は検査用ソケット152に電
気的に接続され、電子部品Dの電気的な検査を行う。電
子部品検査ユニット200内には、電子部品Dを検査す
るための測定器等が設置され、これらの測定器は検査用
ソケット152に電気的に接続されている。この結果、
電子部品検査ユニット200は、検査用ソケット152
を介して電子部品Dの検査を行うことができる。電子部
品検査ユニット200は、基台110の空間111に
X,Yの2方向いずれからでも挿入できる。空間111
が電子部品搬送ユニット100の側面の2方向で開口し
ているためである。この結果、電子部品搬送ユニット1
00と電子部品検査ユニット200の接続が容易になっ
ている。
(Details of Electronic Component Inspection Unit 200) The electronic component inspection unit 200 is electrically connected to the inspection socket 152 and electrically inspects the electronic component D. Measuring devices and the like for inspecting the electronic component D are installed in the electronic component inspection unit 200, and these measuring devices are electrically connected to the inspection socket 152. As a result,
The electronic component inspection unit 200 includes an inspection socket 152.
The electronic component D can be inspected via the. The electronic component inspection unit 200 can be inserted into the space 111 of the base 110 from both X and Y directions. Space 111
Is open in two directions on the side surface of the electronic component carrying unit 100. As a result, the electronic component transport unit 1
00 and the electronic component inspection unit 200 are easily connected.

【0065】(電子部品検査装置10の動作)次に電子
部品検査装置10の全体的な動作につき説明する。図1
7は電子部品検査装置10の動作手順を表すタイミング
チャートであり、図18〜25は図17に示された動作
手順に従って動作したときの電子部品検査装置10の状
態を表す上面図であり、図11が検査領域150を示
す。ここで、図17の横軸は時間であり、縦軸はX、
Y、Z、R方向それぞれについての駆動命令の出力状態
を表す。ここに示されたX,Y,Z,Rの添え字a,
b,c,dはそれぞれ、部品搬送機構160a〜160
dに対応する。なお、図17に示された時間範囲内では
吸着ヘッド165c、165dがX、R方向への移動を
行わないことから、図17ではXc、Xd、Rc、Rd
についての記載を省略している。
(Operation of Electronic Component Inspection Device 10) Next, the overall operation of the electronic component inspection device 10 will be described. Figure 1
7 is a timing chart showing an operation procedure of the electronic component inspection apparatus 10, and FIGS. 18 to 25 are top views showing a state of the electronic component inspection apparatus 10 when operating according to the operation procedure shown in FIG. Reference numeral 11 indicates an inspection area 150. Here, the horizontal axis of FIG. 17 is time, the vertical axis is X,
The output states of the drive commands in the Y, Z, and R directions are shown. The subscript a of X, Y, Z, and R shown here,
b, c, and d are component transfer mechanisms 160a to 160, respectively.
Corresponds to d. In addition, since the suction heads 165c and 165d do not move in the X and R directions within the time range shown in FIG. 17, the Xc, Xd, Rc, and Rd in FIG.
Is omitted.

【0066】(1)時刻t0(図18参照) 時刻t0においては電子部品D1,D2が検査用ソケッ
ト152a,152bに接続され、検査が行われてい
る。ここで、吸着ヘッド165a、165bはそれぞ
れ、検査用ソケット152a,152bに接続された電
子部品D1,D2を検査用ソケット152a,152b
へそれぞれ押圧した状態となっている。一方、吸着ヘッ
ド165c、165dはそれぞれ、未検査品である電子
部品D3,D4を吸着した状態でそれぞれ、吸着ヘッド
165a、165bのY負方向に位置する。 (2)時刻t1〜t2 時刻t1において、電子部品D1,D2の検査が終了す
る。吸着ノズル166a,166bの吸着孔のエア圧が
正圧から負圧に変化されるとともに、吸着ヘッド165
a、165bそれぞれがZ正方向に上昇する。この結
果、吸着ヘッド165a、165bに吸着された電子部
品D1,D2それぞれが検査用ソケット152a,15
2bから離間する。
(1) Time t0 (see FIG. 18) At time t0, the electronic components D1 and D2 are connected to the inspection sockets 152a and 152b and are inspected. Here, the suction heads 165a and 165b respectively connect the electronic components D1 and D2 connected to the inspection sockets 152a and 152b to the inspection sockets 152a and 152b.
It is in the state of pressing respectively. On the other hand, the suction heads 165c and 165d are respectively located in the negative Y direction of the suction heads 165a and 165b in a state of sucking the electronic components D3 and D4 which are not inspected. (2) Time t1 to t2 At time t1, the inspection of the electronic components D1 and D2 ends. The air pressure in the suction holes of the suction nozzles 166a and 166b is changed from positive pressure to negative pressure, and the suction head 165
Each of a and 165b rises in the positive Z direction. As a result, the electronic components D1 and D2, which are sucked by the suction heads 165a and 165b, are detected by the inspection sockets 152a and 15a.
Separated from 2b.

【0067】(3)時刻t2〜t3(図19参照) 吸着ヘッド165a〜165dが揃ってY軸正方向に移
動する。この結果、吸着ヘッド165a、165bに代
わって吸着ヘッド165c、165dが検査用ソケット
152a,152bの上方に位置することになる。 (4)時刻t3〜t4 時刻t3において吸着ヘッド165a,165bがX軸
負方向に移動を開始する。また、吸着ヘッド165c、
165dが揃って降下する。吸着ヘッド165c、16
5dが降下し、吸着ノズル166c、166dの先端へ
不図示の吸着孔のエア圧が負圧から正圧に変化されるこ
とで、吸着ヘッド165c、165dに吸着された電子
部品D3,D4は、検査用ソケット152a,152b
に接続保持され、時刻t4において電子部品D3,D4
の検査が開始される。
(3) Times t2 to t3 (see FIG. 19) The suction heads 165a to 165d are moved together in the Y-axis positive direction. As a result, instead of the suction heads 165a and 165b, the suction heads 165c and 165d are located above the inspection sockets 152a and 152b. (4) Time t3 to t4 At time t3, the suction heads 165a and 165b start moving in the negative direction of the X axis. In addition, the suction head 165c,
All 165d descend. Suction heads 165c, 16
5d descends, and the air pressure in the suction holes (not shown) is changed from negative pressure to positive pressure at the tips of the suction nozzles 166c and 166d. Inspection sockets 152a, 152b
Connected to the electronic components D3 and D4 at time t4.
Inspection is started.

【0068】(5)時刻t5〜t6(図20参照) 吸着ヘッド165a,165bは、X方向に移動した結
果、吸着ヘッド165c、165dとX方向にずれた状
態になる。このとき吸着ヘッド165bが吸着ヘッド1
65cのX方向位置を通過した後、吸着ヘッド165
a,165bをY軸負方向に戻すよう移動する。ここ
で、吸着ヘッド165a、165bをY軸負方向に最大
限位置させ、吸着ヘッド165c、165dをY軸正方
向に最大限位置させた状態で、吸着ヘッド165a、1
65bと、吸着ヘッド165c、165dとを相対的に
X軸方向反対方向に移動させる時、ヘッドの干渉が生じ
る。吸着ヘッド165a,165bの組または吸着ヘッ
ド165c、165dの組の一方がY方向で検査用ソケ
ット152a,152bの位置上にあるときに、他方の
吸着ヘッド165(165c,165dまたは165
a,165b)をX方向に移動すると干渉(接触)が生
じる領域をヘッド干渉エリアといい、図18〜25にお
いてAiとして図示している。即ち、時刻t5〜t6に
おける吸着ヘッド165a,165bのY軸負方向への
移動はヘッド干渉エリアAi外において行われる。この
ようにして吸着ヘッド165a,165bと吸着ヘッド
165c、165dの干渉(接触)が回避される。
(5) Times t5 to t6 (see FIG. 20) As a result of the movement of the suction heads 165a and 165b in the X direction, the suction heads 165c and 165d are displaced from each other in the X direction. At this time, the suction head 165b becomes the suction head 1.
After passing the X direction position of 65c, the suction head 165
a and 165b are moved so as to return to the Y-axis negative direction. Here, the suction heads 165a and 165b are maximally positioned in the Y-axis negative direction, and the suction heads 165c and 165d are maximally positioned in the Y-axis positive direction.
When 65b and the suction heads 165c and 165d are relatively moved in the opposite directions in the X-axis direction, head interference occurs. When one of the suction heads 165a and 165b or the suction heads 165c and 165d is on the position of the inspection sockets 152a and 152b in the Y direction, the other suction head 165 (165c, 165d or 165).
The area where interference (contact) occurs when (a, 165b) is moved in the X direction is called a head interference area, which is shown as Ai in FIGS. That is, the movement of the suction heads 165a and 165b in the negative Y-axis direction at times t5 to t6 is performed outside the head interference area Ai. In this way, the interference (contact) between the suction heads 165a, 165b and the suction heads 165c, 165d is avoided.

【0069】(6)時刻t7〜t8(図21参照) 時刻t7において、吸着ヘッド165a、165bの電
子部品Dがともに合格品のとき、吸着ヘッド165a,
165bがそれぞれ合格品用トレイTa(1)上への移
動を完了しX方向への移動を停止する。さらに、吸着ヘ
ッド165a,165bが降下する。なお、判り易さの
ために、ここでは2つの電子部品D1,D2を収納する
トレイTa(1)上の位置はX方向に充分離れている場
合を考えている。即ち、吸着ヘッド165a,165b
同士の干渉が問題とならず、吸着ヘッド165a,16
5bを同時に降下することができる。その後、吸着ヘッ
ド165a,165bは上昇する。なお、この上昇に先
立って、電子部品D1、D2を離着することでこれらを
検査済品用トレイT1,T2内に収納する。
(6) Times t7 to t8 (see FIG. 21) At time t7, when the electronic components D of the suction heads 165a and 165b are both acceptable products, the suction heads 165a, 165a,
165b completes the movement onto the acceptable product tray Ta (1) and stops the movement in the X direction. Further, the suction heads 165a and 165b descend. For the sake of clarity, it is assumed here that the positions on the tray Ta (1) for housing the two electronic components D1 and D2 are sufficiently separated in the X direction. That is, the suction heads 165a and 165b
The mutual interference does not pose a problem, and the suction heads 165a, 16a
5b can be descended at the same time. Then, the suction heads 165a and 165b rise. Prior to this ascent, the electronic components D1 and D2 are detached and attached to be housed in the inspected product trays T1 and T2.

【0070】一般的には吸着ヘッド165a,165
b同士の干渉が問題となる。このため、電子部品D1、
D2の双方が合格品の場合に以下のような手順で電子部
品D1,D2の収納が行われる。一方のヘッドをX方向
に移動しトレイTa(1)上に位置させ、Z軸方向に下
降、電子部品D離着、その後上昇を行い、その後他方の
ヘッドをX方向に移動しトレイTa(1)上に位置さ
せ、Z軸方向に下降、電子部品D離着、その後上昇を行
う。この他方のヘッドのX方向移動と同時に、一方のヘ
ッドをトレイTa(1)上から退避させて、他方のヘッ
ドとの干渉を避けるようにする。 電子部品D1,D2の一方または双方が不合格品の場
合には、不合格品の収納の際にY方向トレイ搬送機構1
80a(1)によりトレイTa(1)が移動され、不合
格品用のトレイTa(2)の上面が露出される。そし
て、トレイTa(2)に不合格品の電子部品Dを吸着し
た吸着ヘッド165が降下して、不合格品の電子部品D
を収納する。
Generally, suction heads 165a, 165
Interference between b is a problem. Therefore, the electronic component D1,
When both D2 are acceptable products, the electronic components D1 and D2 are stored in the following procedure. One head is moved in the X direction and positioned on the tray Ta (1), and is lowered in the Z axis direction, the electronic component D is attached / detached, and then raised, and then the other head is moved in the X direction to move the tray Ta (1). ), And descends in the Z-axis direction, detaches and attaches the electronic component D, and then ascends. Simultaneously with the movement of the other head in the X direction, one head is retracted from the tray Ta (1) to avoid interference with the other head. When one or both of the electronic components D1 and D2 are rejected products, the Y-direction tray transport mechanism 1 is stored when the rejected products are stored.
The tray Ta (1) is moved by 80a (1), and the upper surface of the tray Ta (2) for rejected products is exposed. Then, the suction head 165 that has adsorbed the rejected electronic component D onto the tray Ta (2) descends, and the rejected electronic component D is dropped.
To store.

【0071】(7)時刻t8〜t10 時刻t8において吸着ヘッド165a,165bが未検
査品用トレイTb(1)に向かってX軸正方向への移動
を開始する。X軸正方向への移動中の時刻t9〜t10
において、吸着ヘッド165bは、Y方向、およびR方
向の基準位置に移動する。同時にY方向トレイ搬送機構
180が作動しトレイTb(1)をY方向に移動する。
なおY方向の基準位置Y0は部品位置確認カメラ151
a,151bの中間点で、図18〜25においてY0と
して表されている。 (8)時刻t10〜t12(図22参照) 時刻t10において、吸着ヘッド165bが、トレイT
b(1)の上方に到達する。その後、吸着ヘッド165
bが、トレイTb(1)に向かってZ3まで降下する。
この結果、吸着ノズル166bがトレイTb(1)に収
納された電子部品D6の上面に接触または近接する。さ
らに、吸着ヘッド165bが上昇する。この上昇に先立
ち、吸着ヘッド165bは吸着ノズル166bによって
電子部品D6を吸着しておく。この結果、吸着ヘッド1
65bは電子部品D6を保持したまま上昇する。時刻t
10bから吸着ヘッド165a、165bがX方向に移
動して、時刻t11に吸着ヘッド165aがトレイTb
(1)上方に到達する。時刻t11からt12の間にお
いて吸着ノズル166bの場合と同様に、吸着ノズル1
66aによって電子部品Dが吸着される。時刻t12に
おいて、吸着ヘッド165aが、検査用ソケット152
aに向かってX軸正方向への移動を開始する。なお、吸
着ヘッド165a,165bがそれぞれ吸着しようとす
る電子部品DのトレイTb(1)上の位置がX方向に充
分離れている場合には、検査済みの電子部品Dをトレイ
Ta(1)に収納する場合と同様に、吸着ヘッド165
a,165bをそれぞれ同時に下降、吸着、上昇させる
ことができ、吸着のための時間を短縮することができ
る。
(7) Time t8 to t10 At time t8, the suction heads 165a and 165b start moving in the positive direction of the X-axis toward the untested product tray Tb (1). Time t9 to t10 during movement in the X-axis positive direction
In, the suction head 165b moves to the reference position in the Y direction and the R direction. At the same time, the Y-direction tray transport mechanism 180 operates to move the tray Tb (1) in the Y-direction.
The reference position Y0 in the Y direction is the component position confirmation camera 151.
The midpoint between a and 151b is represented as Y0 in FIGS. (8) Time t10 to t12 (see FIG. 22) At time t10, the suction head 165b moves the tray T
Reach above b (1). After that, the suction head 165
b descends to Z3 toward the tray Tb (1).
As a result, the suction nozzle 166b contacts or approaches the upper surface of the electronic component D6 housed in the tray Tb (1). Furthermore, the suction head 165b rises. Prior to this rise, the suction head 165b sucks the electronic component D6 by the suction nozzle 166b. As a result, the suction head 1
65b rises while holding the electronic component D6. Time t
The suction heads 165a and 165b move in the X direction from 10b, and the suction head 165a moves to the tray Tb at time t11.
(1) Reach above. Between the times t11 and t12, as in the case of the suction nozzle 166b, the suction nozzle 1
The electronic component D is adsorbed by 66a. At time t12, the suction head 165a moves the inspection socket 152
The movement in the positive direction of the X axis is started toward a. When the positions on the tray Tb (1) of the electronic component D to be sucked by the suction heads 165a and 165b are sufficiently separated in the X direction, the inspected electronic component D is placed on the tray Ta (1). Like the case of storing, the suction head 165
It is possible to simultaneously lower, adsorb, and raise a and 165b, respectively, and it is possible to shorten the time for adsorption.

【0072】(9)時刻t13〜t15(図23参照) X方向への移動中の時刻t13〜t14において、吸着
ヘッド165a,165bは、Y軸正方向に移動する。
このY方向移動は、ヘッド干渉エリアAi内での吸着ヘ
ッド165間の干渉を防止するためのものであり、ヘッ
ド干渉エリアAiに入る前に行われる。その後、吸着ヘ
ッド165a,165bが、X方向への移動中に、部品
位置確認カメラ151aの上方を通過する。具体的には
吸着ヘッド165b,165aの順で部品位置確認カメ
ラ151a上を通過し、この通過の際に部品位置確認カ
メラ151aによる撮像が行われ、撮像された画像情報
に基づき電子部品D5,D6の位置(吸着ヘッド165
a,165bに対する)が確認される。 (10)時刻t15〜t16 確認された電子部品D5,D6の位置に基づき、X方向
への移動中の時刻t15〜t16において、吸着ヘッド
165a,165bのY方向、R方向の位置を修正す
る。これは電子部品D5,D6の検査用ソケット152
a,152bへの接続を確実に行うためである。電子部
品D5,D6がトレイT3に収納されていたときの載置
位置のズレにより、吸着ヘッド165a,165bが電
子部品D5,D6を吸着したときに吸着位置に誤差が生
じることがあり、この誤差を解消する。
(9) Times t13 to t15 (see FIG. 23) At times t13 to t14 during movement in the X direction, the suction heads 165a and 165b move in the Y axis positive direction.
This movement in the Y direction is for preventing interference between the suction heads 165 within the head interference area Ai, and is performed before entering the head interference area Ai. Then, the suction heads 165a and 165b pass above the component position confirmation camera 151a while moving in the X direction. Specifically, the suction heads 165b and 165a pass on the component position confirmation camera 151a in this order, and at the time of this passage, an image is captured by the component position confirmation camera 151a, and the electronic components D5 and D6 are based on the captured image information. Position (suction head 165
a, 165b) is confirmed. (10) Times t15 to t16 Based on the confirmed positions of the electronic components D5 and D6, the positions of the suction heads 165a and 165b in the Y and R directions are corrected at times t15 to t16 during movement in the X direction. This is an inspection socket 152 for electronic parts D5 and D6.
This is for reliable connection to the a and 152b. An error may occur in the suction position when the suction heads 165a and 165b suction the electronic components D5 and D6 due to the displacement of the mounting position when the electronic components D5 and D6 are stored in the tray T3. To eliminate.

【0073】(11)時刻t17〜t18(図24参
照) 時刻t17において、吸着ヘッド165a,165bの
X方向の移動が完了する。また、電子部品D3,D4の
検査が終了する。時刻t17〜t18において、吸着ヘ
ッド165c,165dが電子部品D3,D4を吸着し
て上昇する。 (12)時刻t18〜t19(図25参照) 吸着ヘッド165a,165b、吸着ヘッド165c,
165dが一斉にY軸負方向に移動する。この結果、吸
着ヘッド165a,165bが検査用ソケット152
a,152bの上方に位置するようになる。時刻t15
〜t16において吸着ヘッド165a,165b位置が
補正されているので、電子部品D5,D6が検査用ソケ
ット152a,152bとの接続に対応した位置(上
方)になる。
(11) Time t17 to t18 (see FIG. 24) At time t17, the movement of the suction heads 165a and 165b in the X direction is completed. In addition, the inspection of the electronic components D3 and D4 is completed. From time t17 to t18, the suction heads 165c and 165d suction the electronic components D3 and D4 and move up. (12) Time t18 to t19 (see FIG. 25) Suction heads 165a, 165b, suction head 165c,
165d moves in the Y-axis negative direction all at once. As a result, the suction heads 165a and 165b are attached to the inspection socket 152.
It comes to be located above a and 152b. Time t15
Since the positions of the suction heads 165a and 165b are corrected from t16 to t16, the electronic components D5 and D6 are at the positions (upward) corresponding to the connection with the inspection sockets 152a and 152b.

【0074】(13)時刻t19〜t20 吸着ヘッド165a,165bが降下して電子部品D
5,D6が検査用ソケット152a,152bに接続さ
れる。その後、時刻t20において電子部品D5,D6
の検査が開始される。ここでの動作は、吸着ヘッド16
5a,165bと吸着ヘッド165c,165dの役割
が交換したことを除き、基本的に時刻t3〜t4のとき
と同様である。 (14)時刻t20以降 その後は、電子部品D5,D6の検査が継続する。そし
て、吸着ヘッド165a,165bと吸着ヘッド165
c,165dの役割が交換したことを除き、時刻t4以
降と対応する動作が繰り返し継続される。
(13) Time t19 to t20 The suction heads 165a and 165b are lowered and the electronic component D is moved.
5, D6 are connected to the inspection sockets 152a, 152b. Then, at time t20, the electronic components D5 and D6 are
Inspection is started. The operation here is performed by the suction head 16
5a, 165b and the suction heads 165c, 165d are basically replaced with each other, except that the roles of the suction heads 165c, 165d are exchanged. (14) After time t20, the inspection of the electronic components D5 and D6 continues. Then, the suction heads 165a and 165b and the suction head 165
Except that the roles of c and 165d are exchanged, the operation corresponding to after time t4 is repeatedly continued.

【0075】以上の電子部品検査装置10の動作におい
ては、検査用ソケット152がX方向に並んだ場合につ
いて説明し、検査用板513の取付方向の検知および検
知された取付方向に基づく吸着ヘッド165の位置の制
御については記載を省略している。実際には、検査位置
確認カメラ154,開口検知部156等による検査用ソ
ケット152の種類、および取付方向の検知が行われ
る。そして、検知された検査用ソケット152の種類、
および取付方向に対応して吸着ヘッド165が移動され
る。この結果、時刻t3,t19において吸着ヘッド1
65が検査用ソケット152a,152bの上方に位置
するようになる。なお、検査用ソケット152の種類、
および取付方向の検知は、電子部品検査装置10の動作
開始時に1回のみ行えば足りる。
In the operation of the electronic component inspection apparatus 10 described above, the case where the inspection sockets 152 are lined up in the X direction will be described. The description of the control of the position of is omitted. Actually, the type of the inspection socket 152 and the mounting direction are detected by the inspection position confirmation camera 154, the opening detection unit 156, and the like. Then, the type of the detected inspection socket 152,
And the suction head 165 is moved corresponding to the mounting direction. As a result, at the times t3 and t19, the suction head 1
65 is located above the inspection sockets 152a and 152b. In addition, the type of the inspection socket 152,
The detection of the mounting direction may be performed only once when the operation of the electronic component inspection apparatus 10 is started.

【0076】以上の電子部品検査装置10では、2本の
X軸ロボット120a,120bそれぞれに部品搬送機
構160が設置されている。このため、検査用ソケット
152による電子部品Dの検査をほぼ連続して行える。
具体的には、時刻t1〜t4および時刻t17〜t20
における電子部品Dの入れ替え時間を除き、電子部品D
が検査用ソケット152に接続され、検査が行われてい
る。
In the electronic component inspection apparatus 10 described above, the component transfer mechanism 160 is installed in each of the two X-axis robots 120a and 120b. Therefore, the inspection of the electronic component D by the inspection socket 152 can be performed almost continuously.
Specifically, times t1 to t4 and times t17 to t20
Except for the replacement time of electronic parts D in
Is connected to the inspection socket 152, and the inspection is performed.

【0077】(第2実施形態)図26は本発明の第2の
実施形態に係る電子部品検査装置2000を表す側面図
である。電子部品検査装置2000は、図26に示され
るように、電子部品Dを搬送する電子部品搬送ユニット
2100で、あるいはさらに電子部品Dを検査する電子
部品検査ユニット200とを組み合わせて構成される。
ここで、ストッカー2121(1)(2141a
(1)、2141b(1))およびストッカー2121
(2)(2141a(2)、2141b(2))は第1
実施形態におけるストッカー141(1)、141
(2)に対応する。第1実施形態ではストッカー141
(1)がストッカー141(2)上に重ねられた状態な
のに対して、本実施形態では2121(1)が基台11
0上に直接設置されている。また、ストッカー2121
(2)がトレイ配置領域130において基台110の下
方に設置され、ストッカー2121(2)内のトレイT
に吸着ヘッド165がアクセスできるように、その蓋部
の上方に開口部を有する。このようにストッカー214
1(1)、2141(2)を上下に重ねなくても装置の
設置面積を有効に活用することができる。
(Second Embodiment) FIG. 26 is a side view showing an electronic component inspection apparatus 2000 according to a second embodiment of the present invention. As shown in FIG. 26, the electronic component inspection apparatus 2000 is configured with an electronic component transport unit 2100 that transports the electronic component D, or in combination with the electronic component inspection unit 200 that further inspects the electronic component D.
Here, the stocker 2121 (1) (2141a
(1), 2141b (1)) and stocker 2121
(2) (2141a (2), 2141b (2)) is the first
Stocker 141 (1), 141 in the embodiment
Corresponds to (2). In the first embodiment, the stocker 141
While (1) is in a state of being stacked on the stocker 141 (2), 2121 (1) is the base 11 in this embodiment.
It is installed directly on 0. Also, stocker 2121
(2) is installed below the base 110 in the tray arrangement area 130, and the tray T in the stocker 2121 (2) is
The suction head 165 has an opening above the lid so that the suction head 165 can be accessed. Stocker 214
It is possible to effectively utilize the installation area of the device without stacking 1 (1) and 2141 (2) vertically.

【0078】ストッカーの配置にはこのほかにも種々の
パターンがあり得る。図27,28は、ストッカーを配
置する箇所を示す側面図および上面図である。ストッカ
ーを配置する領域としてストッカー配置領域141
(1)、140(2)、140(3)(それぞれ、トレ
イ配置領域130の前方、トレイ配置領域130上、ト
レイ配置領域130の後方)がある。ここでストッカー
配置領域141(1)が第1の実施形態におけるストッ
カー配置領域141に対応する。また、ストッカー14
1を基台110の上方、下方のいずれかに配置するかに
よってストッカー141の配置を区分することができ
る。以上のように、ストッカーをストッカー配置領域1
41(1)、140(2)、140(3)のいずれに配
置するか、さらに基台110の上方、下方のいずれかに
配置するかが区分される。なお、ストッカー配置領域1
40(2)はトレイ配置領域130と一致するので、基
台110の上方にストッカーを配置する場合は除かれて
いる。
There may be various patterns other than this in the arrangement of the stocker. 27 and 28 are a side view and a top view showing a location where the stocker is arranged. Stocker placement area 141 as an area for placing stockers
(1), 140 (2), 140 (3) (in front of the tray placement area 130, on the tray placement area 130, and behind the tray placement area 130, respectively). Here, the stocker arrangement area 141 (1) corresponds to the stocker arrangement area 141 in the first embodiment. Also, stocker 14
The stocker 141 can be arranged according to whether the No. 1 is arranged above or below the base 110. As described above, the stocker is placed in the stocker placement area 1
41 (1), 140 (2), 140 (3), and further above or below the base 110 are classified. In addition, stocker placement area 1
Since 40 (2) coincides with the tray arrangement area 130, the case where the stocker is arranged above the base 110 is excluded.

【0079】図29はストッカーの配置例を表す表であ
る。2つのストッカーをトレイ配置領域141(1)、
140(2)、140(3)、また基台110の上方、
下方いずれに配置されるかが示されている。さらにそれ
ぞれのストッカーが上段、下段いずれのトレイT(T
(1):上段、T(2):下段)を収納するかの組み合
わせ例として配置21〜27が示されている。この内、
配置21、22がそれぞれ第1の実施形態、第2の実施
形態で示したストッカーの配置に対応する。このように
上段、下段のトレイTを供給するストッカーには種々の
組み合わせがあり、このいずれを用いても第1の実施形
態における図6に示したトレイTの配置を実現すること
ができる。なお、トレイ配置領域130a,130bで
ストッカーの配置を異ならせても差し支えない。
FIG. 29 is a table showing an arrangement example of stockers. Two stockers are placed in the tray placement area 141 (1),
140 (2), 140 (3) and above the base 110,
It is shown which one is located below. Furthermore, each stocker has trays T (T
Arrangements 21 to 27 are shown as a combination example of whether (1): upper row and T (2): lower row are stored. Of this,
The arrangements 21 and 22 correspond to the arrangements of the stockers shown in the first and second embodiments, respectively. As described above, there are various combinations of stockers for supplying the upper and lower trays T, and any of them can be used to realize the arrangement of the trays T shown in FIG. 6 in the first embodiment. It should be noted that the stocker placement may be different between the tray placement areas 130a and 130b.

【0080】(第3実施形態)図30は本発明の第3の
実施形態に係る電子部品検査装置3000を表す斜視図
である。電子部品検査装置3000は、図30に示され
るように、電子部品Dを搬送する電子部品搬送ユニット
3100で、あるいはさらに電子部品Dを検査する電子
部品検査ユニット200とを組み合わせて構成される。
ここで、トレイ配置領域130には、トレイTa
(1),Ta(2)、トレイTb(1),Tb(2)に
加えて加熱部Hが配置されている。なお、本実施形態で
は加熱部Hが配置されている領域にトレイTは配置され
ていないので、ストッカー配置領域140cに加熱部H
の位置(トレイ配置領域130c)に対応するストッカ
ーは存在しない。
(Third Embodiment) FIG. 30 is a perspective view showing an electronic component inspection apparatus 3000 according to a third embodiment of the present invention. As shown in FIG. 30, the electronic component inspection apparatus 3000 is configured with an electronic component transport unit 3100 that transports the electronic component D, or in combination with the electronic component inspection unit 200 that further inspects the electronic component D.
Here, in the tray arrangement area 130, the tray Ta is
In addition to (1), Ta (2), trays Tb (1), Tb (2), a heating unit H is arranged. In this embodiment, since the tray T is not arranged in the area where the heating section H is arranged, the heating section H is arranged in the stocker arrangement area 140c.
There is no stocker corresponding to the position (tray placement area 130c).

【0081】加熱部Hは、電子部品Dを加熱するための
ものであり、必要に応じてストッカー配置領域140と
トレイ配置領域130間を移動する。加熱部Hのストッ
カー配置領域140とトレイ配置領域130間での移動
には、加熱部搬送機構Hmが用いられる。加熱部Hは略
平板状であり、部品搬送機構160によって電子部品D
を載置することで、電子部品Dの加熱を行える。この加
熱は通例未検査の電子部品DをトレイTから取り出し検
査用ソケット152に接続する前に行われる。加熱され
た電子部品Dの電気的特性を検査することで、室温より
高温の環境下で電子部品Dの検査を行える。
The heating section H is for heating the electronic component D, and moves between the stocker placement area 140 and the tray placement area 130 as required. To move the heating section H between the stocker placement area 140 and the tray placement area 130, the heating section transport mechanism Hm is used. The heating unit H has a substantially flat plate shape, and the electronic component D is driven by the component transfer mechanism 160.
The electronic component D can be heated by mounting. This heating is usually performed before taking out the uninspected electronic component D from the tray T and connecting it to the inspection socket 152. By inspecting the electrical characteristics of the heated electronic component D, the electronic component D can be inspected in an environment higher than room temperature.

【0082】加熱部搬送機構Hmにより、加熱部Hはト
レイ配置領域130内を適宜に移動できる。これによ
り、加熱部H上のX方向のみでなくY方向の広い範囲に
多数の電子部品Dが載置可能となり、熱容量が大きな電
子部品Dを長い時間加熱部H上に滞留させて、確実に所
望の温度での検査が可能となる。加熱部搬送機構Hm
は、略円柱状の棒にネジ溝が形成されたボールネジであ
り、トレイ配置領域130からストッカー配置領域14
0を結ぶ方向に沿って配置されている。加熱部搬送機構
Hmは図示しないサーボモータからなる回転機構に接続
され、この回転機構を作動することでボールネジたる加
熱部搬送機構Hmがその軸を中心として回転する。な
お、この回転に際しては回転機構の動作量をエンコーダ
等で検知し、制御部190にフィードバックすること
で、的確な制御が容易に行える。加熱部搬送機構Hm
は、加熱部Hに形成されたボールナット部を貫通してい
る。加熱部搬送機構Hmが回転することで、加熱部搬送
機構Hmと加熱部Hとのボールネジとボールナットの噛
み合わせにより、加熱部搬送機構Hmの軸に沿って加熱
部Hが前後に移動する。なお、加熱時間が短い場合に
は、加熱部Hに多くの電子部品Dを載置滞留しておく必
要はないので、加熱部Hを最下段に配置し、加熱部Hの
Y方向移動のための加熱部搬送機構Hmを除外すること
ができ、コストの低減を図れる。加熱部Hを上段に配置
する場合でも、加熱部搬送機構Hmを空気シリンダで構
成し、トレイ配置領域130の内側と外側の2箇所を往
復移動させるようにでき、コストの低減を図れる。
The heating section transport mechanism Hm allows the heating section H to move appropriately within the tray arrangement area 130. As a result, a large number of electronic components D can be placed in a wide range not only in the X direction but also in the Y direction on the heating unit H, and the electronic components D having a large heat capacity are retained on the heating unit H for a long time to ensure the reliability. Inspection at a desired temperature becomes possible. Heating unit transport mechanism Hm
Is a ball screw in which a thread groove is formed on a substantially columnar rod, and from the tray arrangement area 130 to the stocker arrangement area 14
They are arranged along the direction connecting 0s. The heating section transport mechanism Hm is connected to a rotation mechanism composed of a servo motor (not shown), and by operating this rotation mechanism, the heating section transport mechanism Hm, which is a ball screw, rotates about its axis. It should be noted that during this rotation, the operation amount of the rotating mechanism is detected by an encoder or the like and is fed back to the control unit 190, whereby accurate control can be easily performed. Heating unit transport mechanism Hm
Penetrates the ball nut portion formed in the heating portion H. As the heating section transport mechanism Hm rotates, the heating section transport mechanism Hm and the heating section H mesh with the ball screw and the ball nut, so that the heating section H moves back and forth along the axis of the heating section transport mechanism Hm. Note that when the heating time is short, it is not necessary to place and retain many electronic components D in the heating unit H, so the heating unit H is arranged at the lowermost stage so that the heating unit H moves in the Y direction. The heating section transport mechanism Hm can be excluded, and the cost can be reduced. Even when the heating unit H is arranged in the upper stage, the heating unit transfer mechanism Hm can be configured by an air cylinder, and can be reciprocally moved to two positions inside and outside the tray arrangement region 130, and the cost can be reduced.

【0083】以上のようにトレイTに加えて、あるいは
トレイTに替えて、トレイ配置領域130に加熱部Hを
配置することができる。これを一般的に表したのが図3
1である。図31では、トレイ配置領域130をトレイ
配置領域130a〜130cに区分し、この区分された
領域それぞれにトレイTa〜Tc(トレイTに加熱部H
をも含める)を配置している。トレイ配置領域130a
〜130cに対応して、ストッカー配置領域140がス
トッカー配置領域140a〜140cに区分されてい
る。なお、ここでは第1の実施形態と同様に、トレイT
が上段、下段にそれぞれトレイT(1)、T(2)とし
て上下に配置されているものとする。図32はトレイ配
置領域130a〜130cへのトレイT(加熱部Hを含
む)の配置例を表す表である。図32の配置31,32
はそれぞれ図6で示したトレイにトレイ配置領域130
cへの加熱部Hを加えて配置したものである。既述のよ
うにストッカー配置領域140a、140bへのストッ
カーの配置は図29の配置21〜27を適用できる。な
お、加熱部Hの一部を括弧内で示しているのはこの箇所
に加熱部Hを配置する場合としない場合の2通りが含ま
れる意である。即ち、この括弧を外した場合にはトレイ
配置領域130内に複数の加熱部Hが配置可能となる。
例えば、電子部品Dの熱容量が大きくその加熱に時間が
かかる場合に複数の加熱部Hを用いることで加熱時間の
短縮が可能となる。
As described above, in addition to the tray T or in place of the tray T, the heating portion H can be arranged in the tray arrangement area 130. This is generally shown in Figure 3.
It is 1. In FIG. 31, the tray arranging area 130 is divided into tray arranging areas 130a to 130c, and the trays Ta to Tc (the heating unit H on the tray T is divided into the divided areas).
Are also included). Tray placement area 130a
~ 130c, the stocker placement area 140 is divided into stocker placement areas 140a to 140c. Note that, here, as in the first embodiment, the tray T
Are arranged as trays T (1) and T (2) at the top and bottom, respectively. FIG. 32 is a table showing an arrangement example of the trays T (including the heating section H) in the tray arrangement areas 130a to 130c. Arrangement 31, 32 of FIG.
Are placed in the tray placement area 130 shown in FIG.
The heating part H is added to c. As described above, the placements 21 to 27 of FIG. 29 can be applied to the placement of the stockers in the stocker placement areas 140a and 140b. In addition, a part of the heating part H is shown in parentheses, which means that there are two cases, that is, the case where the heating part H is arranged at this position and the case where the heating part H is not arranged. That is, when the parentheses are removed, a plurality of heating units H can be arranged in the tray arrangement area 130.
For example, when the heat capacity of the electronic component D is large and it takes time to heat the electronic component D, the heating time can be shortened by using the plurality of heating units H.

【0084】(第4実施形態)図33は本発明の第4の
実施形態に係る電子部品検査装置4000を表す斜視図
である。電子部品検査装置4000は、図33に示され
るように、電子部品Dを搬送する電子部品搬送ユニット
4100で、あるいはさらに電子部品Dを検査する電子
部品検査ユニット200とを組み合わせて構成される。
ここで、トレイ配置領域130には上段、中段、下段の
上下3段のトレイTa(1)〜Ta(3)および上段、
下段の上下2段のトレイTb(1)、加熱部Hが配置さ
れている。トレイTa(1)〜Ta(3)、Tb(1)
はそれぞれストッカー141a(1)、141a
(2)、2141b(2)、141b(1)に対応す
る。3つのストッカーを用いることで、トレイTa
(1)〜Ta(3)を3段に配置することができる。加
熱部Hには特にストッカーは必要ないが、ストッカー1
41b(1)のトレイ搬送機構進入領域(図示せず)内
に加熱部Hを収納可能としても差し支えない。なお、こ
のときには加熱部搬送機構Hmにより加熱部Hが移動さ
れる。
(Fourth Embodiment) FIG. 33 is a perspective view showing an electronic component inspection apparatus 4000 according to a fourth embodiment of the present invention. As shown in FIG. 33, the electronic component inspection device 4000 is configured with an electronic component transport unit 4100 that transports the electronic component D, or in combination with the electronic component inspection unit 200 that further inspects the electronic component D.
Here, in the tray arrangement area 130, three upper and lower trays Ta (1) to Ta (3) and an upper stage, a middle stage, and a lower stage,
The lower and upper two trays Tb (1) and the heating unit H are arranged. Tray Ta (1) to Ta (3), Tb (1)
Are stockers 141a (1) and 141a, respectively.
(2), 2141b (2), 141b (1). By using three stockers, the tray Ta
(1) to Ta (3) can be arranged in three stages. The heating section H does not require a stocker, but the stocker 1
It does not matter if the heating part H can be housed in the tray transfer mechanism entrance region (not shown) of 41b (1). At this time, the heating unit transport mechanism Hm moves the heating unit H.

【0085】以上のトレイTの3段の配置を一般化して
考える。図34は、トレイ配置領域130a,130b
のそれぞれにトレイTa(1)〜Ta(3)、トレイT
b(1)〜Tb(3)を3段に配置する場合のトレイT
の配置例を表す表である。なお、ここではトレイTを一
般化し、加熱部Hをも含んで考えている。図34の配置
41が図33で表した第4の実施形態に係るトレイTの
配置に対応する。なお、配置42では加熱部Hを複数配
置することで、電子部品Dが熱容量が大きい場合につい
ての加熱の迅速化を図っている。さらに、ストッカーの
配置を一般化して考える。図35は図31で示したスト
ッカー配置領域140(1)〜141(3)へのストッ
カーの配置例を表したもので、3段のトレイの配置を可
能としている。図35の配置101が図33で表した第
4の実施形態に係るストッカーの配置に対応する。な
お、この配置101〜114のいずれでも図34で示し
た配置41,42のトレイの配置を実現することが可能
である。以上のようにトレイTおよびストッカーの配置
には種々のパターンがあり、いずれにしろトレイTの上
下の配置を可能として、装置の設置面積を有効に活用す
ることが可能となる。
The above-mentioned three-stage arrangement of the tray T is generalized and considered. FIG. 34 shows the tray placement areas 130a and 130b.
To each of the trays Ta (1) to Ta (3) and the tray T.
Tray T when arranging b (1) to Tb (3) in three stages
3 is a table showing an arrangement example of FIG. In addition, here, the tray T is generalized to include the heating unit H. The arrangement 41 of FIG. 34 corresponds to the arrangement of the tray T according to the fourth embodiment shown in FIG. In the arrangement 42, a plurality of heating units H are arranged to speed up heating when the electronic component D has a large heat capacity. Furthermore, generalize the layout of stockers. FIG. 35 shows an example of arranging the stockers in the stocker arranging regions 140 (1) to 141 (3) shown in FIG. 31, which enables the arrangement of three trays. The arrangement 101 of FIG. 35 corresponds to the arrangement of the stocker according to the fourth embodiment shown in FIG. It should be noted that any of the arrangements 101 to 114 can realize the arrangement of trays 41 and 42 shown in FIG. As described above, there are various patterns for the arrangement of the tray T and the stocker. In any case, the tray T can be arranged vertically and the installation area of the apparatus can be effectively utilized.

【0086】(第5実施形態)図36は本発明の第5の
実施形態に係る電子部品検査装置5000を表す上面図
である。電子部品検査装置5000は、図36に示され
るように、電子部品Dを搬送する電子部品搬送ユニット
5100で、あるいはさらに電子部品Dを検査する電子
部品検査ユニット5200とを組み合わせて構成され
る。本実施形態では、トレイTa(上段:Ta(1)、
下段:Ta(2))、トレイTb(上段:Tb(1)、
下段:Tb(2))が検査領域150を挟むように配置
されている。即ち、トレイ配置領域130a、130b
が区分されている。
(Fifth Embodiment) FIG. 36 is a top view showing an electronic component inspection device 5000 according to a fifth embodiment of the present invention. As shown in FIG. 36, the electronic component inspection device 5000 is configured with an electronic component transport unit 5100 that transports the electronic component D, or in combination with an electronic component inspection unit 5200 that further inspects the electronic component D. In the present embodiment, the tray Ta (upper stage: Ta (1),
Lower: Ta (2), Tray Tb (upper: Tb (1),
Lower row: Tb (2) is arranged so as to sandwich the inspection region 150. That is, the tray placement areas 130a and 130b
Are classified.

【0087】本実施形態では、基台5110の中央近傍
に検査領域150が配置され、トレイ配置領域130,
ストッカー配置領域140は検査領域150を挟んでト
レイ配置領域130a、130b、およびストッカー配
置領域140a、140bに区分して配置されている。
この結果、X軸ロボット120aの部品搬送機構160
a,160b,X軸ロボット120bの部品搬送機構1
60c,160dをそれぞれ効率よく動作することが可
能となり、検査効率が向上する。
In the present embodiment, the inspection area 150 is arranged near the center of the base 5110, and the tray arrangement area 130,
The stocker placement area 140 is divided into tray placement areas 130a and 130b and stocker placement areas 140a and 140b with the inspection area 150 interposed therebetween.
As a result, the component transfer mechanism 160 of the X-axis robot 120a
a, 160b, component transfer mechanism 1 of X-axis robot 120b
The 60c and 160d can be efficiently operated, respectively, and the inspection efficiency is improved.

【0088】基台2110の底部は略コの字型の形状を
しており、電子部品検査ユニット2200は、通常Y方
向から基台5110の空間5111(図示せず)内に挿
入されることになる。基台5110の底部が略コの字型
の形状をしており、基台5110の4隅で重量を支える
ことが可能となっているため、機械的な力(例えば地
震)が加えられた場合でも転倒しにくく安定性が向上す
る。仮想線で示したように、他のトレイTをトレイ配置
領域130a、130b側のいずれかまたは双方に配置
することも可能である。4つの吸着ヘッド165を有効
に活用して、検査速度の向上を図ることができる。
The bottom of the base 2110 has a substantially U shape, and the electronic component inspection unit 2200 is normally inserted into the space 5111 (not shown) of the base 5110 from the Y direction. Become. When a mechanical force (for example, an earthquake) is applied because the bottom of the base 5110 has a substantially U-shape and it is possible to support the weight at the four corners of the base 5110. However, it is hard to fall and stability is improved. As shown by the phantom line, another tray T can be placed on either or both of the tray placement areas 130a and 130b. It is possible to effectively utilize the four suction heads 165 to improve the inspection speed.

【0089】(第6実施形態)図37は本発明の第6の
実施形態に係る電子部品検査装置6000を上面から見
た状態を表す上面図である。電子部品検査装置6000
は、図37に示されるように、電子部品Dを搬送する電
子部品搬送ユニット6100で、あるいはさらに電子部
品Dを検査する電子部品検査ユニット200とを組み合
わせて構成され、図示しないカバーで覆われている。電
子部品搬送ユニット6100は、基台110、2本のX
軸ロボット120a、120b、トレイ配置領域13
0、ストッカー配置領域140、検査領域150、部品
搬送機構3160a、3160b,X方向トレイ搬送機
構3170、Y方向トレイ搬送機構180a〜180
d、制御部から構成されている。なお、X軸ロボット1
20a、120bは、単なる軌道からなるX軸レールと
してもよい。
(Sixth Embodiment) FIG. 37 is a top view showing a state of an electronic component inspection apparatus 6000 according to a sixth embodiment of the present invention as viewed from above. Electronic component inspection device 6000
37 is configured by an electronic component transport unit 6100 that transports the electronic component D as shown in FIG. 37, or in combination with an electronic component inspection unit 200 that further inspects the electronic component D, and is covered by a cover (not shown). There is. The electronic component carrying unit 6100 includes a base 110 and two Xs.
Axis robots 120a and 120b, tray arrangement area 13
0, stocker placement area 140, inspection area 150, component transfer mechanisms 3160a and 3160b, X-direction tray transfer mechanism 3170, and Y-direction tray transfer mechanisms 180a to 180.
d, a control unit. The X-axis robot 1
20a and 120b may be X-axis rails formed by simple tracks.

【0090】図38,39は、部品搬送機構3160を
拡大して表した上面部および側面図である。図38,3
9に示すように、本実施形態では、部品搬送機構316
0a、3160bが2本のX軸ロボット120a、X軸
ロボット120bの間それぞれ上に対応して設置される
一対のX方向駆動部3161を結ぶY軸ロボット316
2を基礎として構成される。即ち、部品搬送機構316
0は、一対のX方向駆動部3161、不図示の軌道とY
方向駆動装置を有し、アーム部材に一体化されたY軸ロ
ボット3162、Z方向駆動部3163、R方向駆動部
3165、吸着ヘッド本体3166、吸着ノズル支持部
材3167,吸着ノズル3168から構成される。
38 and 39 are a top view and a side view showing the component transport mechanism 3160 in an enlarged manner. Figures 38 and 3
In the present embodiment, as shown in FIG.
0a and 3160b connect the two X-axis robots 120a and 120b, and the Y-axis robot 316 which connects a pair of X direction drive parts 3161 installed correspondingly above.
It is constructed on the basis of 2. That is, the component transfer mechanism 316
0 is a pair of X-direction drive units 3161, a track (not shown) and Y
A Y-axis robot 3162 having a direction driving device and integrated with an arm member, a Z-direction driving unit 3163, an R-direction driving unit 3165, a suction head main body 3166, a suction nozzle supporting member 3167, and a suction nozzle 3168.

【0091】部品搬送機構3160aには、X方向トレ
イ搬送機構3170が、部品搬送機構3160bの吸着
ヘッド本体3166には、検査位置確認カメラ154が
接続されている。Z方向駆動部3163、吸着ヘッド本
体3166等からなる吸着ヘッドはY軸ロボット316
2上を不図示の軌道に沿って移動する。この結果、吸着
ノズル3168(吸着ヘッド)は、X方向駆動部316
1、Y方向駆動部、Z方向駆動部3163、R方向駆動
部3165によりX,Y,Z、R方向の移動(回転)を
行うことができる。以上のようにX軸ロボット312
0,Y軸ロボット3162の組み合わせを用いて部品搬
送機構3160を構成することも可能である。
An X-direction tray transfer mechanism 3170 is connected to the component transfer mechanism 3160a, and an inspection position confirmation camera 154 is connected to the suction head body 3166 of the component transfer mechanism 3160b. The suction head including the Z-direction drive unit 3163 and the suction head body 3166 is a Y-axis robot 316.
It moves on 2 along a trajectory not shown. As a result, the suction nozzle 3168 (suction head) moves in the X-direction drive unit 316.
The 1, Y-direction drive unit, Z-direction drive unit 3163, and R-direction drive unit 3165 can move (rotate) in the X, Y, Z, and R directions. As described above, the X-axis robot 312
It is also possible to configure the component transfer mechanism 3160 using a combination of 0 and Y axis robots 3162.

【0092】(その他の実施形態)本発明の実施形態は
上記実施形態には限られず拡張、変更できる。拡張、変
更された実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。 (1)上記実施形態では、部品位置確認カメラ等でトレ
イT上の電子部品の位置を確認し、吸着ヘッドで吸着し
たときにおける吸着ヘッドと電子部品Dの位置関係の誤
差を補正して、電子部品Dの検査用ソケット152への
接続の確実性を向上している。これに代えて、自動的に
電子部品Dの位置を修正する部品位置調節機構を設けて
も差し支えない。図40(A)、(B)は部品位置調節
機構400の一例を拡大して示す上面図および断面図で
ある。なお、部品位置調節機構400は、電子部品搬送
ユニットの基台上いずれに設けても差し支えないが、加
熱部H上に設置するのが検査効率の観点から好ましい部
品位置調節機構400を用いると電子部品Dの位置が調
節されることから、部品位置確認カメラ等の部品位置確
認手段を省略することが可能になる。
(Other Embodiments) The embodiments of the present invention are not limited to the above-mentioned embodiments, and can be expanded and modified. Extended and modified embodiments are also included in the technical scope of the present invention. (1) In the above-described embodiment, the position of the electronic component on the tray T is confirmed with a component position confirmation camera or the like, and the error in the positional relationship between the suction head and the electronic component D when the suction head sucks is corrected to obtain The reliability of connection of the component D to the inspection socket 152 is improved. Instead of this, a component position adjusting mechanism that automatically corrects the position of the electronic component D may be provided. 40 (A) and 40 (B) are an enlarged top view and a sectional view showing an example of the component position adjusting mechanism 400. The component position adjusting mechanism 400 may be provided on any base of the electronic component carrying unit, but it is preferable to install the component position adjusting mechanism 400 on the heating unit H from the viewpoint of inspection efficiency. Since the position of the component D is adjusted, the component position confirmation means such as the component position confirmation camera can be omitted.

【0093】図40に示す部品位置調節機構400は、
位置基準部401およびガイド部402から構成され
る。位置基準部401は、電子部品検査装置10の所定
の座標(X,Y,R)に対して位置決めされ、かつ電子
部品Dの外形に対応して形成された凹部である。この例
での位置基準部401は、電子部品Dの外形が平板矩形
状であるとして、底面が矩形状の略直方体状の凹部から
構成されている。ガイド部402は、位置基準部401
に電子部品Dを導くガイドの役割を有し、電子部品Dの
外形より少し大きく形成された凹部から構成される。こ
の例では、位置基準部401の底面の4つの頂点に向か
う辺を有する略4角推台状の凹部から構成される。
The parts position adjusting mechanism 400 shown in FIG.
It is composed of a position reference unit 401 and a guide unit 402. The position reference portion 401 is a recessed portion that is positioned with respect to predetermined coordinates (X, Y, R) of the electronic component inspection device 10 and is formed corresponding to the outer shape of the electronic component D. The position reference portion 401 in this example is formed of a substantially rectangular parallelepiped recess having a rectangular bottom surface, assuming that the outer shape of the electronic component D is a flat plate rectangular shape. The guide portion 402 is the position reference portion 401.
It has a role of a guide for guiding the electronic component D to, and is composed of a concave portion formed slightly larger than the outer shape of the electronic component D. In this example, the position reference portion 401 is composed of a substantially rectangular trapezoidal recess having sides facing four apexes.

【0094】図41に部品位置調節機構4210による
位置調節のメカニズムを示す。部品搬送機構160の吸
着ノズル166により電子部品Dを吸着し、部品位置調
節機構400上に搬送する(図41(A)参照)。電子
部品DがトレイT上に配置されていたときの位置の誤差
を反映して、電子部品Dは部品搬送機構160に対して
位置の誤差が生じている可能性がある。その後、吸着ノ
ズル166を降下して電子部品Dを離着し、部品位置調
節機構400のガイド部402内に載置(あるいは落
下)する。部品位置調節機構400上に載置された電子
部品Dは重力によりガイド部402によって位置基準部
401に導かれ、基準の位置に到達し、位置の調節が行
われる(図41(B)参照)。その後に、部品搬送機構
160が位置の調節が行われた電子部品Dを吸着するこ
とで、部品搬送機構160に対する電子部品Dの位置が
補正される(図41(C)参照)。このため、その後の
電子部品Dの検査用ソケットへの装着等が確実に行われ
る。
FIG. 41 shows the mechanism of position adjustment by the parts position adjusting mechanism 4210. The electronic component D is sucked by the suction nozzle 166 of the component transport mechanism 160 and is transported onto the component position adjusting mechanism 400 (see FIG. 41 (A)). There is a possibility that the electronic component D has a positional error with respect to the component transport mechanism 160, reflecting the positional error when the electronic component D is placed on the tray T. After that, the suction nozzle 166 is lowered to detach and attach the electronic component D, and the electronic component D is placed (or dropped) in the guide portion 402 of the component position adjusting mechanism 400. The electronic component D placed on the component position adjusting mechanism 400 is guided by the guide unit 402 to the position reference unit 401 by gravity, reaches the reference position, and the position is adjusted (see FIG. 41 (B)). . After that, the component transport mechanism 160 sucks the electronic component D whose position has been adjusted, and the position of the electronic component D with respect to the component transport mechanism 160 is corrected (see FIG. 41C). Therefore, the subsequent mounting of the electronic component D in the inspection socket is reliably performed.

【0095】図42は、他の例に係る部品位置調節機構
410を拡大して表す断面図および上面図である。部品
位置調節機構410は、2つの位置基準壁411、41
2から構成される。位置基準壁411、412は、電子
部品検査装置10の所定の座標(X,Y,R)に対して
位置決めされ、かつ電子部品Dの外形に対応して形成さ
れた壁(凸部)である。この例での位置基準壁411、
412は、電子部品Dの外形が平板矩形状であるとし
て、その2つの側面の形状に対応した基準面を有する。
FIG. 42 is an enlarged sectional view and a top view showing a component position adjusting mechanism 410 according to another example. The component position adjusting mechanism 410 includes two position reference walls 411 and 41.
It consists of two. The position reference walls 411 and 412 are walls (projections) that are positioned with respect to predetermined coordinates (X, Y, R) of the electronic component inspection device 10 and are formed corresponding to the outer shape of the electronic component D. . The position reference wall 411 in this example,
412 has an outer shape of the electronic component D as a flat plate rectangular shape, and has reference surfaces corresponding to the shapes of the two side surfaces thereof.

【0096】図43に部品位置調節機構410による位
置調節のメカニズムを示す。部品搬送機構160により
電子部品Dを移動しし、部品位置調節機構410上に搬
送する。その後、部品位置調節機構4210の位置基準
壁411、412の隅の近傍に電子部品Dを載置する
(図43(A)参照)。部品搬送機構160はさらに電
子部品Dの一側面が位置基準壁411の基準面に押し当
てられるように、電子部品Dの位置を調節する(図43
(B)参照)。さらに電子部品Dの一側面が位置基準壁
411の基準面に押し当てられた状態を保持しつつ、電
子部品Dの他の側面が位置基準壁412の基準面に押し
当てられた状態になるように、電子部品Dを移動する。
この結果、電子部品Dは位置基準壁411、412に基
づき位置の調節が行われる。その後に、部品搬送機構1
60が位置の調節が行われた電子部品Dを吸着すること
で、部品搬送機構160に対する電子部品Dの位置が補
正され、その後の電子部品Dの検査用ソケットへの装着
等が確実に行われる。
FIG. 43 shows the mechanism of position adjustment by the component position adjusting mechanism 410. The electronic component D is moved by the component conveying mechanism 160 and is conveyed onto the component position adjusting mechanism 410. After that, the electronic component D is placed near the corners of the position reference walls 411 and 412 of the component position adjusting mechanism 4210 (see FIG. 43 (A)). The component transfer mechanism 160 further adjusts the position of the electronic component D so that one side surface of the electronic component D is pressed against the reference surface of the position reference wall 411 (FIG. 43).
(See (B)). Further, while keeping one side surface of the electronic component D pressed against the reference surface of the position reference wall 411, the other side surface of the electronic component D is pressed against the reference surface of the position reference wall 412. Then, the electronic component D is moved.
As a result, the position of the electronic component D is adjusted based on the position reference walls 411 and 412. After that, the component transport mechanism 1
The position of the electronic component D with respect to the component transport mechanism 160 is corrected by the suction of the electronic component D whose position has been adjusted by 60, and the subsequent mounting of the electronic component D in the inspection socket is reliably performed. .

【0097】(2)X軸ロボット即ち構成要素となる軌
道が一本のみでも差し支えない。複数のトレイT(未検
査品用、検査済品用、空トレイ)、さらには検査用ソケ
ットをX軸に沿って一列に配置することで、Y方向につ
いての装置の設置面積および電子部品Dの移動量の軽減
を図ることができる。
(2) The X-axis robot, that is, the number of trajectories as the constituent elements is only one. By arranging a plurality of trays T (for uninspected products, tested products, empty trays) and further inspection sockets in a line along the X-axis, the installation area of the device in the Y direction and the electronic components D The amount of movement can be reduced.

【0098】(3)上記の実施形態では基本的に、一本
のX軸ロボットの軌道上に部品搬送機構を2つ設置して
いたが、一本のX軸ロボットの軌道上に1つあるいは3
つ以上の部品搬送機構を設置しても差し支えない。ま
た、X軸ロボットの軌道となるX軸レール上をどのよう
な手段で構成するかも適宜に設定できる。図44は、X
軸レールと部品搬送機構の対応関係の例を表す模式図で
ある。図44(A)では、X軸レール511上に2つの
部品搬送機構512a,512bが設置されてX軸ロボ
ットが構成されている。これは、第1の実施形態に対応
する構成であり、例えばリニアモータを用いて実現する
ことができる。図44(B)では、X軸レール521
a,521b上それぞれに部品搬送機構522a、52
2bが設置されてX軸ロボットが構成され、例えばリニ
アモータを用いて実現できる。図44(C)では、X軸
レール531a,531b上それぞれに部品搬送機構5
32a、532bが設置されている。ここでは、ボール
ネジを用いて、X軸ロボット531a,531bを構成
している。部品搬送機構532a、532bはこのボー
ルネジを回転することで、ボールネジたるX軸レール5
31a,531b上それぞれを移動する。図44(D)
では、X軸レール541上に基体542が設置され、そ
の基体542上に部品搬送機構543a、543bが設
置されている。部品搬送機構543a、543bは相対
移動手段544によって、基体542上においてX軸方
向での互いの相対的な位置を変化することができる。こ
こで、X軸レール541および相対移動手段544は、
例えばボールネジで構成できる。これらのボールネジを
回転することで、X軸レール541上の基体542の移
動および部品搬送機構543a、543bの相対的な位
置の変化が独立に行える。なお、X軸レール541およ
び相対移動手段544をリニアモータにより構成しても
差し支えない。
(3) In the above embodiment, basically, two component transfer mechanisms were installed on the trajectory of one X-axis robot. Three
It is safe to install more than one parts transport mechanism. Further, it is also possible to appropriately set what kind of means is used to configure the X-axis rail on the trajectory of the X-axis robot. Figure 44 shows X
It is a schematic diagram showing the example of the correspondence of an axial rail and a component conveyance mechanism. In FIG. 44 (A), two component transfer mechanisms 512a and 512b are installed on the X-axis rail 511 to configure an X-axis robot. This is a configuration corresponding to the first embodiment, and can be realized by using, for example, a linear motor. In FIG. 44 (B), the X-axis rail 521
a and 521b on the component transfer mechanisms 522a and 522a, respectively.
2b is installed to configure an X-axis robot, which can be realized using, for example, a linear motor. In FIG. 44C, the component transfer mechanism 5 is provided on each of the X-axis rails 531a and 531b.
32a and 532b are installed. Here, X-axis robots 531a and 531b are configured using ball screws. By rotating this ball screw, the component transfer mechanisms 532a and 532b rotate the X-axis rail 5 that is a ball screw.
It moves on each of 31a and 531b. FIG. 44 (D)
In, the base 542 is installed on the X-axis rail 541, and the component transfer mechanisms 543a and 543b are installed on the base 542. The component transfer mechanisms 543a and 543b can change their relative positions in the X-axis direction on the base 542 by the relative movement means 544. Here, the X-axis rail 541 and the relative movement means 544 are
For example, a ball screw can be used. By rotating these ball screws, the movement of the base body 542 on the X-axis rail 541 and the relative position change of the component transfer mechanisms 543a and 543b can be independently performed. The X-axis rail 541 and the relative movement means 544 may be configured by a linear motor.

【0099】(4)部品搬送機構をY方向に駆動可能な
Y軸ロボットを用いて構成することもできる。Y軸ロボ
ットはそのヘッド部分をY方向に駆動することができる
ものである。具体的には、Y軸レールとそのレール上に
Y方向に移動可能なヘッドからY軸ロボットを構成でき
る。ヘッドの移動は、サーバモータ、リニアモータ、ボ
ールネジ等適宜の手段を用いることができる。固定部と
可動部、可動部可動手段でY軸ロボットを構成すること
も可能である。可動部可動手段により可動部を固定部に
対して移動する。
(4) The component transfer mechanism may be constructed by using a Y-axis robot that can be driven in the Y direction. The Y-axis robot can drive its head portion in the Y direction. Specifically, a Y-axis robot can be composed of a Y-axis rail and a head movable on the rail in the Y direction. An appropriate means such as a server motor, a linear motor, or a ball screw can be used to move the head. It is also possible to configure the Y-axis robot with the fixed part, the movable part, and the movable part movable means. The movable portion is moved by the movable portion moving means with respect to the fixed portion.

【0100】Y軸ロボットをX軸レール上に駆動可能
に設置することで、そのヘッドをX,Y軸双方に移動す
ることが可能となる。従って、Y軸ロボットのヘッドに
吸着ノズルを上下動、および回動可能に支持すること
で、吸着ノズルのX,Y,Z,R方向全てへの移動が可
能となる。
By arranging the Y-axis robot so that it can be driven on the X-axis rail, the head can be moved in both the X and Y axes. Therefore, by supporting the suction nozzle on the head of the Y-axis robot so as to be vertically movable and rotatable, the suction nozzle can be moved in all the X, Y, Z, and R directions.

【0101】この逆にY軸ロボットのヘッド上にX軸
レールを設置することも可能である。X軸レール上に吸
着ノズルを上下動、および回動可能に支持する吸着ヘッ
ドを設置することで、吸着ノズルのX,Y,Z,R方向
全てへの移動が可能となる。この場合、X軸レールに沿
ってトレイ、検査用ソケットを一列に配置することで、
Y軸ロボットをY方向に短くすることが可能となり、装
置のY方向の占有面積を低減できる。
Conversely, it is also possible to install the X-axis rail on the head of the Y-axis robot. By installing a suction head that supports the suction nozzle on the X-axis rail so as to be vertically movable and rotatable, the suction nozzle can be moved in all X, Y, Z, and R directions. In this case, by arranging the tray and the inspection sockets in a line along the X-axis rail,
The Y-axis robot can be shortened in the Y direction, and the area occupied by the device in the Y direction can be reduced.

【0102】Y軸ロボットを用いた場合においてもX
軸レールは1本、2本のいずれの構成をもとることがで
きる。X軸レールが1本の場合には、ストッカーとX軸
レール間の距離を低減し、トレイの移動量を小さくでき
る。X軸レールが2本の場合には、そのそれぞれ上に設
置された吸着ヘッド間の干渉の防止のため、Y軸ロボッ
トにより2つのX軸レール間の距離が適宜に調節され
る。このとき、X軸レールの一方のみをY軸ロボットで
支持してもよい。X軸レール上の吸着ヘッドの一方のみ
をY軸ロボットでY方向に移動しても、吸着ヘッド同士
の干渉防止を行える。
Even when a Y-axis robot is used, X
The shaft rail can take either one or two configurations. When the number of X-axis rails is one, the distance between the stocker and the X-axis rail can be reduced, and the tray movement amount can be reduced. When there are two X-axis rails, the distance between the two X-axis rails is appropriately adjusted by the Y-axis robot in order to prevent interference between the suction heads installed on each of them. At this time, only one of the X-axis rails may be supported by the Y-axis robot. Even if only one of the suction heads on the X-axis rail is moved in the Y direction by the Y-axis robot, interference between the suction heads can be prevented.

【0103】(5)上記実施形態では、トレイ配置領域
上に空トレイも含めたトレイを配置しているが、空トレ
イをこの領域に配置しないことも可能である。この場合
には、空トレイを収納するストッカーとトレイ配置領域
(未検査品用トレイ配置領域、検査済品用トレイ配置領
域)との間で、必要に応じて空トレイの搬送を行う。こ
の搬送には、吸着ノズルを用いることができる。この場
合には、電子部品を吸着、搬送する吸着ノズル以外にト
レイを専用に吸着、搬送する吸着ノズルを付加するのが
好ましい。
(5) In the above embodiment, the trays including the empty trays are arranged in the tray arrangement area, but the empty trays may not be arranged in this area. In this case, the empty tray is carried between the stocker for storing the empty tray and the tray arrangement area (the tray arrangement area for the uninspected product, the tray arrangement area for the inspected product) as necessary. A suction nozzle can be used for this conveyance. In this case, it is preferable to add a suction nozzle for exclusively sucking and transporting the tray in addition to a suction nozzle for sucking and transporting the electronic component.

【0104】(6)上記実施形態では、吸着ヘッドに単
一の吸着ノズルを配置していたが、2以上の吸着ノズル
を配置してもよい。また、検査用ソケットを1つ、また
は3つ以上としても差し支えない。 (7)X軸レールが2本の場合に、それぞれのレールに
設置された部品搬送機構160に対応して、トレイT上
の領域をY方向に2つに区分してもよい。この区分され
た領域それぞれにそれぞれのX軸レールに設置された部
品搬送機構が分担して電子部品の搬送を行う。このよう
にすると、部品搬送機構160のY方向の移動量を低減
できる。また、電子部品の搬送の際にトレイをY方向ト
レイ搬送機構によってトレイ配置領域内で移動すること
には、その移動量を低減できる。いずれにしてもY方向
における装置のサイズの低減が可能となる。
(6) In the above embodiment, a single suction nozzle is arranged on the suction head, but two or more suction nozzles may be arranged. Further, the number of inspection sockets may be one, or three or more. (7) When the number of X-axis rails is two, the area on the tray T may be divided into two in the Y direction corresponding to the component transport mechanism 160 installed on each rail. The component transfer mechanism installed on each X-axis rail shares the respective divided regions to transfer the electronic components. By doing so, the amount of movement of the component transport mechanism 160 in the Y direction can be reduced. In addition, the amount of movement can be reduced by moving the tray within the tray arrangement area by the Y-direction tray transfer mechanism during the transfer of the electronic component. In any case, the size of the device in the Y direction can be reduced.

【0105】(8)上記実施形態では、搬送ユニットと
検査ユニットとの間で通信を行っていたが、この通信を
不要とすることもできる。例えば、検査位置確認カメラ
154によって検査用ソケットを監視し、検査用ソケッ
トへの電子部品の装着が確認されたことをトリガーとし
て、電子部品検査装置による電子部品の搬送および検査
を開始することができる。また、検査用ソケット上に検
査ソケットの種別、検査内容を表すマークを形成してお
くと、検査位置確認カメラによりこのマークを読み取
り、適切な検査を選択することができる。この検査内容
は、検査対象の電子部品の種別、検査手順等が挙げられ
る。搬送ユニットにこのマークと検査内容の対応関係を
表すテーブルを備えておけば、このテーブルを参照する
ことで、適切な検査内容を選択できる。
(8) In the above-mentioned embodiment, communication is performed between the transport unit and the inspection unit, but this communication may be unnecessary. For example, the inspection position confirmation camera 154 can monitor the inspection socket, and when the mounting of the electronic component in the inspection socket is confirmed as a trigger, the electronic component inspection apparatus can start the transportation and inspection of the electronic component. . If a mark indicating the type of the inspection socket and the inspection content is formed on the inspection socket, the inspection position confirmation camera can read the mark and select an appropriate inspection. Examples of the inspection content include the type of electronic component to be inspected, inspection procedure, and the like. If the transport unit is provided with a table showing the correspondence between this mark and the inspection content, the appropriate inspection content can be selected by referring to this table.

【0106】(9)上記実施形態では、2本のX軸ロボ
ットそれぞれ上の吸着ヘッド間での干渉(接触)防止の
ための吸着ヘッドのY方向への移動は、検査領域で行わ
れているが、この干渉防止のための移動は装置上のどこ
でも行うことができる。2つの吸着ヘッドの干渉は、ト
レイ配置領域で行うこともできる。またこの移動は、2
つの吸着ヘッドがX方向に関して交差する際における干
渉防止に用いることもできる。例えば、2つの吸着ヘッ
ドが互いにX軸の逆方向に移動するときに、いずれかあ
るいは双方の吸着ヘッドをY方向に移動させ(Y方向に
離間させ)、衝突することなくすれ違うことができる。
(9) In the above embodiment, the movement of the suction heads in the Y direction for preventing interference (contact) between the suction heads on each of the two X-axis robots is performed in the inspection area. However, this movement to prevent interference can be performed anywhere on the device. The interference between the two suction heads can be performed in the tray arrangement area. This move is 2
It can also be used to prevent interference when two suction heads intersect in the X direction. For example, when two suction heads move in the opposite directions of the X axis, either or both suction heads can be moved in the Y direction (separated in the Y direction) and can pass each other without collision.

【0107】(10)上記実施形態で検査用ソケットの
取付方向検知は、検査板に形成された孔を基台側のセン
サ(例えば、光センサ、リミットスイッチ)で検出する
ことによって行っている。これに代えて他の手段で検査
用ソケットの取付方向を検知することもできる。
(10) In the above embodiment, the mounting direction of the inspection socket is detected by detecting the hole formed in the inspection plate by the sensor (eg, optical sensor, limit switch) on the base side. Instead of this, the mounting direction of the inspection socket can be detected by other means.

【0108】例えば、検査板にマーク(例えば、点
状、十字状)を形成しておき、検査位置確認カメラによ
って検査板上のマークを確認することで、検査板、ひい
ては検査用ソケットの取付方向、さらには必要に応じて
位置(X,Y方向座標)を検知できる。この場合には、
検査板の位置を検知することも可能なので、基台に対す
る検査板の取付誤差にも対応可能となり、検査用ソケッ
トへの電子部品Dの接続をより確実に行える。
For example, by forming a mark (for example, a dot shape or a cross shape) on the inspection plate and confirming the mark on the inspection plate by the inspection position confirmation camera, the mounting direction of the inspection plate, and thus the inspection socket, can be improved. Further, the position (coordinates in the X and Y directions) can be detected if necessary. In this case,
Since it is also possible to detect the position of the inspection plate, it is possible to cope with the mounting error of the inspection plate with respect to the base, and the electronic component D can be connected to the inspection socket more reliably.

【0109】検査用ソケットに(例えば、点状、十字
状)を形成しておき、検査位置確認カメラによって検査
用ソケット上のマークを確認することで検査用ソケット
の取付方向を検知することもできる。この場合には、検
査用ソケット自体の方向および位置(X,Y方向座標)
を直接的に検知できるので、検査用ソケットへの電子部
品Dの接続をより確実に行える。
It is also possible to detect the mounting direction of the inspection socket by forming (for example, dot-shaped or cross-shaped) on the inspection socket and confirming the mark on the inspection socket with the inspection position confirmation camera. . In this case, the direction and position of the inspection socket itself (X, Y direction coordinates)
Can be detected directly, so that the electronic component D can be more reliably connected to the inspection socket.

【0110】このような、検査板、検査用ソケットに
形成するマークは、1つでもよいが、2つ以上とするこ
ともできる。例えば、2つのマークを検査板、検査用ソ
ケットのいずれかに形成し、これを検査位置確認カメラ
で撮像し、2つのマークの座標に基づき検査用ソケット
の位置、方向を検知できる。この場合には、異なる位置
に配置されたマークを用いることで、より正確に検査用
ソケットの位置、方向を検知できる。
The number of marks formed on the inspection plate and the inspection socket may be one, but may be two or more. For example, two marks can be formed on either the inspection plate or the inspection socket, and the position and direction of the inspection socket can be detected based on the coordinates of the two marks by capturing an image of the two marks on the inspection position confirmation camera. In this case, by using marks arranged at different positions, the position and direction of the inspection socket can be detected more accurately.

【0111】検査用ソケットの位置、方向は、以上の
ような取付方向検知手段を設けることなく、入力手段
(入力スイッチ、マウス、キーボード等)を用いて作業
者が入力することも可能である。このときの入力手段は
制御部190に対して検査用ソケットの取付方向を教示
する取付方向教示手段として機能する。この取付方向教
示手段は何らかの手段で検査用ソケットの取付方向を教
示すれば足りることから、検査用ソケットの取付位置を
検知する取付位置検知手段を包含することになる。
The position and direction of the inspection socket can be input by an operator using input means (input switch, mouse, keyboard, etc.) without providing the mounting direction detecting means as described above. The input unit at this time functions as a mounting direction teaching unit that teaches the control unit 190 the mounting direction of the inspection socket. Since this attachment direction teaching means only needs to teach the attachment direction of the inspection socket by some means, it includes attachment position detection means for detecting the attachment position of the inspection socket.

【0112】[0112]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば装
置の設置面積を効率的に利用可能な電子部品検査装置を
提供することが容易になる。
As described above, according to the present invention, it becomes easy to provide an electronic component inspection apparatus which can efficiently use the installation area of the apparatus.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の第1の実施形態に係る電子部品検査
装置を表す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing an electronic component inspection device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 第1の実施形態に係る電子部品検査装置を図
1のZ軸方向から見た状態を表す上面図である。
FIG. 2 is a top view showing a state in which the electronic component inspection device according to the first embodiment is viewed from the Z-axis direction in FIG.

【図3】 第1の実施形態に係る電子部品検査装置を図
1のX軸方向から見た状態を表す側面図である。
FIG. 3 is a side view showing a state in which the electronic component inspection device according to the first embodiment is viewed from the X-axis direction in FIG. 1.

【図4】 第1の実施形態に係る電子部品検査装置を図
1のY軸方向から見た状態を表す正面図である。
FIG. 4 is a front view showing a state in which the electronic component inspection device according to the first embodiment is viewed from the Y-axis direction in FIG. 1.

【図5】 トレイ配置領域とストッカー配置領域の対応
関係を表す模式図である。
FIG. 5 is a schematic diagram showing a correspondence relationship between a tray arrangement area and a stocker arrangement area.

【図6】 トレイ配置領域におけるトレイTの配置例を
表す表である。
FIG. 6 is a table showing an arrangement example of trays T in a tray arrangement area.

【図7】 上方のストッカーを拡大して表す正面図およ
び側面図である。
FIG. 7 is a front view and a side view showing an upper stocker in an enlarged manner.

【図8】 下方のストッカーを拡大して表す正面図およ
び側面図である。
FIG. 8 is a front view and a side view showing a lower stocker in an enlarged manner.

【図9】 上方のストッカー内におけるトレイTの移動
状態を表す模式図である。
FIG. 9 is a schematic diagram showing a moving state of the tray T in the upper stocker.

【図10】 下方のストッカー内におけるトレイTの移
動状態を表す模式図である。
FIG. 10 is a schematic diagram showing a moving state of the tray T in the lower stocker.

【図11】 検査領域を拡大した状態を表す上面図断面
図である。
FIG. 11 is a cross-sectional top view showing a state in which the inspection region is enlarged.

【図12】 検査領域を拡大した状態を表す断面図であ
る。
FIG. 12 is a cross-sectional view showing a state in which an inspection region is enlarged.

【図13】 部品位置確認カメラと検査用ソケットの配
置例を模式的に表す上面図である。
FIG. 13 is a top view schematically showing an arrangement example of a component position confirmation camera and an inspection socket.

【図14】 部品位置確認カメラと検査用ソケットの配
置例を模式的に表す上面図である。
FIG. 14 is a top view schematically showing an arrangement example of a component position confirmation camera and an inspection socket.

【図15】 部品搬送機構を拡大して表した状態を表す
上面図である。
FIG. 15 is a top view showing a state in which a component transport mechanism is shown in an enlarged manner.

【図16】 部品搬送機構を拡大して表した状態を表す
側面図である。
FIG. 16 is a side view showing a state in which the component transport mechanism is shown in an enlarged manner.

【図17】 電子部品検査装置の動作手順を表すタイミ
ングチャートである。
FIG. 17 is a timing chart showing an operation procedure of the electronic component inspection device.

【図18】 図17のタイミングチャートに示された動
作手順に従って動作したときの電子部品検査装置の状態
を表す上面図である。
FIG. 18 is a top view showing a state of the electronic component inspection device when it operates according to the operation procedure shown in the timing chart of FIG. 17.

【図19】 図17のタイミングチャートに示された動
作手順に従って動作したときの電子部品検査装置の状態
を表す上面図である。
FIG. 19 is a top view showing a state of the electronic component inspection device when operated according to the operation procedure shown in the timing chart of FIG.

【図20】 図17のタイミングチャートに示された動
作手順に従って動作したときの電子部品検査装置の状態
を表す上面図である。
20 is a top view showing a state of the electronic component inspection device when operated according to the operation procedure shown in the timing chart of FIG.

【図21】 図17のタイミングチャートに示された動
作手順に従って動作したときの電子部品検査装置の状態
を表す上面図である。
FIG. 21 is a top view showing a state of the electronic component inspection device when it operates according to the operation procedure shown in the timing chart of FIG.

【図22】 図17のタイミングチャートに示された動
作手順に従って動作したときの電子部品検査装置の状態
を表す上面図である。
22 is a top view showing a state of the electronic component inspection device when operated according to the operation procedure shown in the timing chart of FIG.

【図23】 図17のタイミングチャートに示された動
作手順に従って動作したときの電子部品検査装置の状態
を表す上面図である。
23 is a top view showing a state of the electronic component inspection device when it operates according to the operation procedure shown in the timing chart of FIG.

【図24】 図17のタイミングチャートに示された動
作手順に従って動作したときの電子部品検査装置の状態
を表す上面図である。
FIG. 24 is a top view showing a state of the electronic component inspection device when operating according to the operation procedure shown in the timing chart of FIG.

【図25】 図17のタイミングチャートに示された動
作手順に従って動作したときの電子部品検査装置の状態
を表す上面図である。
25 is a top view showing a state of the electronic component inspection device when it operates according to the operation procedure shown in the timing chart of FIG.

【図26】 本発明の第2の実施形態に係る電子部品検
査装置を正面から見た状態を表す正面図である。
FIG. 26 is a front view showing a state of the electronic component inspection device according to the second embodiment of the present invention seen from the front.

【図27】 ストッカーを配置する箇所を表す側面図で
ある。
FIG. 27 is a side view showing a location where a stocker is arranged.

【図28】 ストッカーを配置する箇所を表す上面図で
ある。
FIG. 28 is a top view showing a portion where a stocker is arranged.

【図29】 ストッカー配置領域へのストッカーの配置
例を表す表である。
FIG. 29 is a table showing an arrangement example of stockers in a stocker arrangement area.

【図30】 第3の実施形態に係る電子部品検査装置の
部品搬送機構を表す斜視図である。
FIG. 30 is a perspective view showing a component transfer mechanism of an electronic component inspection device according to a third embodiment.

【図31】 トレイ配置領域とストッカー配置領域の対
応関係を表す模式図である。
FIG. 31 is a schematic diagram showing a correspondence relationship between a tray arrangement area and a stocker arrangement area.

【図32】 トレイ配置領域へのトレイの配置例を表す
表である。
FIG. 32 is a table showing an example of arrangement of trays in a tray arrangement area.

【図33】 本発明の第4の実施形態に係る電子部品検
査装置を表す斜視図である。
FIG. 33 is a perspective view showing an electronic component inspection device according to a fourth embodiment of the present invention.

【図34】 トレイ配置領域へのトレイの配置例を表す
表である。
FIG. 34 is a table showing an arrangement example of trays in a tray arrangement area.

【図35】 ストッカー配置領域へのストッカーの配置
例を表す表である。
FIG. 35 is a table illustrating an arrangement example of stockers in a stocker arrangement area.

【図36】 第5の実施形態に係る電子部品検査装置を
表す上面図である。
FIG. 36 is a top view showing an electronic component inspection device according to a fifth embodiment.

【図37】 第6の実施形態に係る電子部品検査装置を
表す上面図である。
FIG. 37 is a top view showing an electronic component inspection device according to a sixth embodiment.

【図38】 第6の実施形態に係る電子部品検査装置の
部品搬送機構を拡大して表した状態を表す上面図であ
る。
FIG. 38 is a top view showing a state in which a component transport mechanism of the electronic component inspection device according to the sixth embodiment is enlarged and represented.

【図39】 第6の実施形態に係る電子部品検査装置の
部品搬送機構を拡大して表した状態を表す側面図であ
る。
FIG. 39 is a side view showing an enlarged state of the component transport mechanism of the electronic component inspection device according to the sixth embodiment.

【図40】 部品位置調節機構の一例を拡大して表す上
面図および断面図である。
FIG. 40 is a top view and a cross-sectional view showing an example of the component position adjusting mechanism in an enlarged manner.

【図41】 図40に示した部品位置調節機構による位
置調節のメカニズムを示す模式図である。
41 is a schematic diagram showing a mechanism of position adjustment by the component position adjusting mechanism shown in FIG. 40. FIG.

【図42】 部品位置調節機構の他の例を拡大して表す
上面図および断面図である。
42A and 42B are a top view and a cross-sectional view showing another example of the component position adjusting mechanism in an enlarged manner.

【図43】 図42に示した部品位置調節機構による位
置調節のメカニズムを示す模式図である。
43 is a schematic view showing a mechanism of position adjustment by the component position adjusting mechanism shown in FIG. 42.

【図44】 X軸レールと部品搬送機構の対応関係の例
を表す模式図である。
FIG. 44 is a schematic diagram showing an example of a correspondence relationship between an X-axis rail and a parts transport mechanism.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…電子部品検査装置、 100…電子部品搬送ユニ
ット、 110…基台、111…空間、 153…検査
板、 120…X軸ロボット、 130…トレイ配置領
域、 140…ストッカー配置領域、 141…ストッ
カー、 142…蓋部、 143…支柱、 144…底
部、 145…トレイ分離フック、 146…トレイ昇
降機構、 147…トレイ搬送機構進入領域、 150
…検査領域、 151…部品位置確認カメラ、 152
…検査用ソケット、 153…検査板、 154…検査
位置確認カメラ、 155…開口部、 156…開口検
知部、 160…部品搬送機構、 161…X方向駆動
部、 162…Y方向駆動部、 1621…Y方向駆動
基体、 1622…Y方向駆動体、 163…Z方向駆
動部、 1631…Z方向駆動基体、 1632…Z方
向駆動体、 164…R方向駆動部、 165…吸着ヘ
ッド、 1651…ヘッド本体、 1652…吸着ノズ
ル支持部材、 166…吸着ノズル、 170…X方向
トレイ搬送機構、 171…Z方向トレイ駆動部、 1
72…トレイ吸着部、 180…Y方向トレイ搬送機
構、 181…シャフト、 182…移動部、 183
…トレイ載置部、 184…トレイ固定部、 190…
制御部、 191…CPU、 192…ROM、 19
3…RAM、 194…通信コントローラ、 195…
I/Oコントローラ、 196…モーションコントロー
ラ、 197…画像コントローラ、 200…電子部品
検査ユニット、 300…カバー
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Electronic component inspection apparatus, 100 ... Electronic component conveyance unit, 110 ... Base, 111 ... Space, 153 ... Inspection plate, 120 ... X-axis robot, 130 ... Tray arrangement area, 140 ... Stocker arrangement area, 141 ... Stocker, 142 ... Lid part, 143 ... Strut, 144 ... Bottom part, 145 ... Tray separating hook, 146 ... Tray lifting mechanism, 147 ... Tray transport mechanism entry area, 150
... inspection area, 151 ... parts position confirmation camera, 152
... socket for inspection, 153 ... inspection plate, 154 ... inspection position confirmation camera, 155 ... opening, 156 ... opening detection section, 160 ... component transfer mechanism, 161 ... X direction drive section, 162 ... Y direction drive section, 1621 ... Y direction drive base, 1622 ... Y direction drive, 163 ... Z direction drive, 1631 ... Z direction drive, 1632 ... Z direction drive, 164 ... R direction drive, 165 ... Adsorption head, 1651 ... Head body, 1652 ... Suction nozzle support member, 166 ... Suction nozzle, 170 ... X-direction tray transport mechanism, 171 ... Z-direction tray drive unit, 1
72 ... Tray suction section, 180 ... Y direction tray transport mechanism, 181 ... Shaft, 182 ... Moving section, 183
... Tray mounting part, 184 ... Tray fixing part, 190 ...
Control unit, 191 ... CPU, 192 ... ROM, 19
3 ... RAM, 194 ... Communication controller, 195 ...
I / O controller, 196 ... Motion controller, 197 ... Image controller, 200 ... Electronic component inspection unit, 300 ... Cover

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 軌道と、 電子部品を収納する複数の容器を前記軌道に沿って、か
つ上下に配置する容器配置領域と、 前記軌道に近接して配置され、電子部品を検査する検査
部を配置する検査領域と、 前記容器を重ねて収納する容器収納部を配置する容器収
納部配置領域と、 前記軌道上に設置され、かつ電子部品を吸着する吸着ノ
ズルを装着する吸着ヘッドと、該吸着ノズルを上下に昇
降するノズル昇降部と、該吸着ノズルを前記軌道に沿っ
て移動するノズル移動部とを有し、前記容器配置領域と
前記検査領域との間で電子部品を搬送する部品搬送部
と、 前記容器配置領域と前記容器収納部との間で前記容器を
搬送する容器搬送部と、を具備することを特徴とする電
子部品検査装置。
1. An orbit, a container placement region in which a plurality of containers for storing electronic components are arranged vertically along the orbit, and an inspection unit which is placed close to the orbit and inspects electronic components. An inspection area to be arranged, a container housing portion arrangement area for arranging a container housing portion for accommodating and stacking the container, a suction head mounted on the track and equipped with a suction nozzle for sucking an electronic component, and the suction A component transfer unit that has a nozzle lift unit that moves the nozzle up and down, and a nozzle moving unit that moves the suction nozzle along the trajectory, and transfers an electronic component between the container placement region and the inspection region. And a container transporting unit that transports the container between the container placement region and the container storage unit.
【請求項2】 前記容器収納部が、複数互いに上下に配
置されていることを特徴とする請求項1記載の電子部品
検査装置。
2. The electronic component inspection apparatus according to claim 1, wherein a plurality of the container storages are arranged above and below each other.
【請求項3】 前記容器収納部配置領域が、前記容器配
置領域を挟む2つの領域に区分されていることを特徴と
する請求項1記載の電子部品検査装置。
3. The electronic component inspection apparatus according to claim 1, wherein the container housing portion arrangement region is divided into two regions sandwiching the container arrangement region.
【請求項4】 前記容器収納部を前記容器配置領域の下
方に配置したことを特徴とする請求項1記載の電子部品
検査装置。
4. The electronic component inspection apparatus according to claim 1, wherein the container housing portion is arranged below the container arrangement area.
【請求項5】 前記複数の容器が、未検査の電子部品を
収納する未検査品用容器、検査に合格した電子部品を収
納する合格品用容器、および検査に不合格であった電子
部品を収納する不合格品用容器、および電子部品を収納
していない空容器のいずれかに区分され、 前記複数の容器収納部が、前記未検査品用容器を収納す
る未検査品用容器収納部、前記合格品用容器を収納する
合格品用容器収納部、前記不合格品用容器を収納する不
合格品用容器収納部、および前記空容器を収納する空容
器収納部のいずれかに区分されている、ことを特徴とす
る請求項1記載の電子部品検査装置。
5. A container for an uninspected product that stores an uninspected electronic component, a container for an acceptable product that stores an electronic component that has passed the inspection, and an electronic component that has failed the inspection. Containers for rejected products to be stored, and are classified into either empty containers that do not store electronic parts, the plurality of container storage units, uninspected product container storage unit for storing the uninspected product container, It is divided into one of an acceptable product container storage unit for storing the acceptable product container, a reject product container storage unit for storing the reject product container, and an empty container storage unit for storing the empty container. The electronic component inspection apparatus according to claim 1, wherein
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