JP2003266773A - 画像形成装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ２本の光ビームの主、副方向の繋ぎ目のずれ
調整を高精度かつ容易に行うこと。 【解決手段】 感光体上に２本の光ビームを繋げて主走
査方向に分割して走査する画像形成装置において、各光
ビ−ムに対応して光ビームの基準位置を検出する同期検
知手段と、同期検知手段から、画像書き出し位置までの
間にドットを点灯させかつドット点灯位置と画像書き出
し位置を移動させる光ビ−ム点灯手段と、点灯されたド
ットの位置を検出する手段と、を有し、一方の光ビーム
画像書き出し位置を特定の位置に決め、他方の光ビーム
画像書き出し位置は２本の光ビームの繋がり状態から点
灯位置を調整し、調整後の値が予め決められた値から外
れている場合は先に決めた光ビーム画像書き出し位置を
後者の光ビームの調整後の位置に関連づけて変更し、再
度後者の光ビームの書き出し位置を光ビームの繋がり状
態から点灯位置を調整する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、複数の光ビームを
用いる画像形成装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来技術として、特開２０００−１８７
１７１号公報に開示されている光ビ−ム走査装置は、１
つの偏向手段で２つの書込み系を走査し、繋ぎあわせる
事で、走査幅の広いコンパクトな走査光学系を実現す
る。

【０００３】また、特開２０００−２６７０２７号公報
に開示されている光走査装置及び画像形成装置は、２つ
のビ−ムの繋ぎ目部の副走査方向の位置を検出し、位置
を補正する。この技術では位置検出センサ（含む周辺回
路）の精度で光ビームの調整精度が決まってしまう為、
高精度のセンサを必要とした（しかも副走査方向の
み）。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上記特開２０００−２
６７０２７号公報に記載の技術においては、１つのポリ
ゴンで、２つの書込み系を走査し、画像のほぼ中央部か
ら光ビ−ム走査を開始し、主走査方向に光ビ−ムを繋ぎ
合わせる方式が提案されている。この事により、低コス
トで、コンパクトな広幅対応の書込み系が達成されてい
る。さらに、副走査方向の光ビ−ムの通過位置検出手段
（１個の１次元ＣＣＤ）を設け、温度変動によって生じ
る、走査線の副走査方向へのずれ（ハウジングやレンズ
系の熱膨張によって光路が微妙に変化する為に生じる）
を検出し、２本の繋ぎ目のずれを補正する事が提案され
ている。繋ぎ目のずれを調整するに当たり、２本の光ビ
ームの位置（書き込み開始位置）を正確に検出し、容易
に調整できることが重要となっている。

【０００５】本発明は、以上のような点に鑑みてなされ
たものであり、２本の光ビームの主、副方向の繋ぎ目の
ずれ調整を高精度かつ容易にすることのできる画像形成
装置を提供することを目的とする。

【０００６】特に、本発明の請求項１、２の目的は、光
ビ−ムの位置検出をリニアリティーの比較的低いセンサ
を使用しても高精度の位置測定が出来ることである。特
開２０００−２６７０２７号の技術では位置検出センサ
（含む周辺回路）の精度で光ビームの調整精度が決まっ
てしまう為、高精度のセンサを必要とした（しかも副走
査方向のみ）。

【０００７】また、本発明の請求項３の目的は、条件
（制御値）を変えた、２本の光ビ−ムの繋がり具合を複
数一度に表示し、繋がり具合を容易に視認することであ
る。

【０００８】また、本発明の請求項４の目的は、２本の
光ビ−ムの繋がり具合が最適な時の条件を容易に見つけ
出し入力できるようにし、繋がり調整の簡易化を行なう
ことである。

【０００９】また、請求項５の目的は、２本の光ビ−ム
の繋がり具合が最適な時のビ−ム点灯手段の制御値を一
度決めればその後調整を必要としないことである。

【００１０】

【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めに、請求項１記載の発明は、感光体上に２本の光ビー
ムを繋げて主走査方向に分割して走査する画像形成装置
において、各光ビ−ムに対応して光ビームの基準位置を
検出する同期検知手段と、同期検知手段から、画像書き
出し位置までの間にドットを点灯させかつドット点灯位
置と画像書き出し位置を移動させる光ビ−ム点灯手段
と、点灯されたドットの位置を検出する手段と、を有
し、一方の光ビーム画像書き出し位置を特定の位置に決
め、他方の光ビーム画像書き出し位置は２本の光ビーム
の繋がり状態から点灯位置を調整し、調整後の値が予め
決められた値から外れている場合は先に決めた光ビーム
画像書き出し位置を後者の光ビームの調整後の位置に関
連づけて変更し、再度後者の光ビームの書き出し位置を
光ビームの繋がり状態から点灯位置を調整することを特
徴としている。

【００１１】請求項２記載の発明は、請求項１記載の発
明において、一方の光ビーム画像書き出し位置を特定の
位置に決めるにあたり、ドットの位置を検出する手段の
受光面のほぼ中央でドットを点灯し、後者の光ビームの
調整後の位置に関連づけて変更する場合は、その調整後
の位置と基準点間距離の半分の距離だけ変更することを
特徴としている。

【００１２】請求項３記載の発明は、感光体上に２本の
光ビームを繋げて主走査方向に分割して走査する画像形
成装置において、各光ビ−ムに対応して光ビームの基準
位置を検出する同期検知手段と、同期検知手段から、画
像書き出し位置までの間にドットを点灯させかつドット
点灯位置と画像書き出し位置を移動させる光ビ−ム点灯
手段と、点灯されたドットの位置を検出する手段と、を
有し、光ビ−ム点灯手段により画像書き出し位置を複数
設定し、その各設定値に対応した複数の繋がり部分の画
像を一度に出力することを特徴としている。

【００１３】請求項４記載の発明は、請求項３記載の発
明において、複数の繋がり部分の画像に対応して識別記
号又は文字を出力する手段と、その画像の内の一つを特
定する入力手段と、をさらに有することを特徴としてい
る。

【００１４】請求項５記載の発明は、請求項４記載の発
明において、入力された識別記号又は文字すなわち各光
ビームの書き出し位置を決める設定値を記憶する不揮発
性メモリと、請求項３記載の光ビ−ム点灯手段の出力値
と記憶された値を使用して、書き込み時に光ビームの位
置を確定する手段をさらに有することを特徴としてい
る。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面を参照しながら詳細に説明する。まず、本発明の実
施の形態における画像形成装置について、前提となる基
本構成・動作を述べる。以下で、同一の部位に関しては
同一の記号を付与して区別することにする。

【００１６】まず図１１以下を参照して、本発明の適用
されるべき「２ビームにより、被走査面上の走査領域を
主走査方向に２分割して走査する光走査装置」について
説明する。この光走査装置は、図１１に示すように、第
１書込系と第２書込系とを有する。

【００１７】第１書込系について説明すると、「光源」
としての半導体レーザ１−１からは画像信号に応じて強
度変調されたレーザ光のビームが射出する。射出したビ
ームはカップリングレンズ２−１のコリメート作用によ
り平行ビームとされ、シリンダレンズ３−１により副走
査方向にのみ収束傾向を与えられ、「偏向手段」として
のポリゴンミラー４の１の偏向反射面近傍に、主走査方
向に長い線像として結像する。ポリゴンミラー４の回転
により等角速度的に偏向されたビームは「結像手段」と
してのｆθレンズを構成するレンズ５−１、６−１を透
過し、ミラー７−１、８−１および折り返しミラー９−
１により順次反射され、光導電性の感光体１０の感光面
（被走査面の実体をなす）上にビームスポットを形成
し、感光体１０の第１走査領域Ｓ１を等速的に走査す
る。

【００１８】第２書込系は「第１書込系」を、ポリゴン
ミラー４の回転軸を中心に１８０度回転させた位置に配
置されている。「光源」としての半導体レーザ１−２か
らは画像信号に応じて強度変調されたレーザ光のビーム
が射出し、カップリングレンズ２−２により平行ビーム
とされ、シリンダレンズ３−２により副走査方向にのみ
収束傾向を与えられてポリゴンミラー４の別の偏向反射
面の近傍に主走査方向に長い線像として結像する。ポリ
ゴンミラー４の回転により等角速度的に偏向されたビー
ムは「結像手段」としてのｆθレンズを構成するレンズ
５−２、６−２を透過し、ミラー７−２、８−２および
折り返しミラー９−２により順次反射されて感光体１０
の感光面上にビームスポットを形成し、感光体１０の第
２走査領域Ｓ２を等速的に走査する。

【００１９】第１、第２書込系は光学的に等価である。
第１、第２書込系による書き込みは、第１、第２走査領
域Ｓ１、Ｓ２の接合部、即ち、全走査領域の中央部Ｓ０
を起点として、互いに逆方向、即ち、走査領域の両端部
側へ向かって行われる。

【００２０】第１、第２書込系はそれぞれ同期検知ユニ
ット１１−１、１１−２を有する。各同期検知ユニット
１１−１、１１−２は、各走査ビームの画像領域外に設
けられ、１走査毎に各走査ビームの走査開始のタイミン
グを決定する。図示されない「書込制御回路」は決定さ
れたタイミングに従い、書込開始位置（上述の全走査領
域の中央部Ｓ０）から書込を開始する。このように各走
査ビームの書込開始位置Ｓ０が互いに共通で、同期検知
ユニット１１により良好に制御されるので、各走査ビー
ムの主走査方向の継ぎ目部分を、容易かつ良好に整合さ
せることができる。

【００２１】上記第１、第２走査領域Ｓ１、Ｓ２は、互
いに１本の直線として連結されるべきもので、設計的に
は「装置空間に固定的」に設定される。このように装置
空間に固定的に設定された理想の走査線は、被走査面上
の「２ビームにより同時に走査されるべき線」であり
「被走査面軸」である。即ち、第１、第２走査領域Ｓ
１、Ｓ２は理想的には「ともに被走査面軸に合致し、中
央部Ｓ０で互いに連結しあう」べきものである。

【００２２】図１２は、図１１に示す光走査装置を、ポ
リゴンミラー４の回転軸方向から見た状態を示してい
る。前述の「ビーム偏向面」は、図１２において、図面
に平行な面である。図１３は、図１２の状態を、被走査
面の実体をなす感光体１０の軸方向から見た状態を示し
ている。図１２に示されていないが、光走査装置は「ほ
こり等の付着」を防止するため光学箱内部に密閉され、
精度良く固定、配置されている。図１３において、符号
１２−１、１２−２は、上記光学箱に形成されたビーム
射出用開口をふさぐ「防塵ガラス」を示している。

【００２３】図１４に示すように、第１書込系における
ミラー７−１、８−１は、「空間的に副走査方向（図の
上下方向）に重なりあう」ように配備される。ミラー７
−１、８−１の「ビーム偏向面に対する傾き角」を、図
の如く角：α、β（ともにビーム偏向面から計り、時計
回りを「正」、反時計回りを「負」とする）とすると、
傾き角：α、βは関係：｜α−β｜＝９０度を満足して
いる。即ち、ミラー７−１、８−１は所謂「ダハミラ
ー」を構成し、ミラー７−１、８−１で順次に反射され
た偏向ビームが掃引する面は「ビーム偏向面と平行」に
なる。第２書込系におけるミラー７−２、８−２も同様
に構成されている。

【００２４】第１および第２書込系により共通の走査線
（「被走査面軸」）を等価に走査できるためには、一般
に、第１、第２書込系の光軸が被走査面軸（感光体１０
の軸と平行である）に直角に設定され、各書込系の結像
手段の光路長が等しい関係に有る必要がある。このよう
になっていれば、ビームスポット径が均一で良好な走査
を実現でき、良好な画像を得ることが出来る。

【００２５】上に説明した例では、結像手段はｆθレン
ズで構成される。図１２に示すように、レンズ５−１、
６−１で構成されるｆθレンズの光軸は、被走査面軸Ｓ
に対して傾き角：θ１を有し、レンズ５−２、６−２で
構成されるｆθレンズの光軸は、被走査面軸Ｓに対して
傾き角：θ２を有する。そこで、これら各ｆθレンズの
光軸を被走査面軸Ｓに直交させるために、２枚のミラー
（第１書込系においてミラー７−１、８−１、第２書込
系においてミラー７−２、８−２）が設けられている。

【００２６】第１書込系において、ｆθレンズの光軸が
「ミラー７−１に対してビーム偏向面内で」なす角：γ
１と、上記光軸が被走査面軸Ｓに対してなす角：θ１と
は、｜θ１｜＋２｜γ１｜＝９０°を満足する。同様
に、第２書込系において、ｆθレンズの光軸が「ミラー
７−２に対してビーム偏向面内で」なす角：γ２と、上
記光軸が被走査面軸Ｓに対してなす角：θ２とは、｜θ
１｜＋２｜γ１｜＝９０°を満足する。

【００２７】このようにして、各ｆθレンズの光軸に合
致するビームの主光線は、ミラー８−１あるいはミラー
８−２に反射されたのち（ビーム偏向面に射影すると）
ビーム偏向面に射影された被走査面軸に直交する。ミラ
ー８−１、８−２で反射された各ビームを、折り返しミ
ラー９−１、９−２で副走査方向に折り返して、最終的
に各ビーム被走査面軸Ｓに直交させる。

【００２８】図１２に示したのは、図２以下に即して説
明している光学配置に関するものであり、θ１＝θ２、
γ１＝γ２の場合である。第１、第２書込系の配置は図
１２の場合に限らない。図１５は別の配置例を示してい
る。図１５の光学配置は、θ１≠θ２、γ１≠γ２とし
た例である。この場合、第１書込系と第２書込系の「走
査する長さ」は同一にならない。角：γ１、γ２はそれ
ぞれ、角：θ１、θ２に応じて一義的に定まる。そし
て、角：θ１、角：θ２に応じて第１、第２書込系の走
査長さが定まる。従って、角：θ１、θ２を最適な値に
設定することにより、有効走査幅を最も広く取ることが
出来る。

【００２９】上記で説明したように「２ビームにより、
被走査面上の走査領域を主走査方向に２分割して走査す
る光走査装置」では、２つの書込系の走査ビームを精度
良く繋ぎ合せて１つの走査線の走査を行う。即ち、第
１、第２書込系の走査ビームの走査線は理想的には「被
走査面軸に合致すべきもの」である。第１、第２書込系
の光学配置は、組立て後、各書込系の走査ビームが被走
査面軸に合致した状態となるように調整され、使用の初
期には「この状態が保たれている」が、光走査装置を搭
載した画像形成装置の機内温度上昇や偏向手段の発熱等
で、光学系ハウジングの熱膨張やそれに伴うミラーや他
の光学素子の姿勢変化などにより「各書込系の走査ビー
ムの走査位置が、副走査方向にずれる現象」が発生す
る。そこで、このような「走査位置のずれ量」を検出
し、自動的に補正することが必要となってくる。

【００３０】以上の基本説明を踏まえて、次に、本発明
に特徴的な構成・動作について説明する。まず、２次元
位置センサの補正が終了し、そのセンサで光ビーム（レ
ーザービーム）位置調整する所を説明し、その後センサ
の補正方法を説明する。

【００３１】＜光ビーム位置調整＞図１に、本発明の実
施例における光走査装置を備える画像形成装置の構成図
を示す。第１書込み系によるレ−ザ−ビ−ムは、ポリゴ
ンミラ−４の回転によって偏向され、まず仮想感光体面
上に配置された同期検知板１１−１（前述したした同期
検知ユニット）に入射する。この時、レ−ザ−ビ−ム
は、図３のＬＤ点灯信号（ａ）に参照される様に、連続
点灯の状態で同期検知に入射する。同期検知に連続点灯
のレ−ザ−ビ−ムが入射すると、レ−ザ−ビ−ムの水平
同期をとるための同期検知信号（ｂ）が発生し、ＬＤ点
灯信号は一旦ＯＦＦになりＬＤは消灯する。

【００３２】同期検知板１１−１内には、同期検知セン
サ１１−１−１、同期検知センサ１１−１−１から画像
書き出し開始位置までの間に配置された２次元の位置セ
ンサ１１−１−２が配置されている。本例では、同一の
基板上に配置されているが、同期検知から、画像書き出
し位置までの間であれば、同一基板上でなくても良い。

【００３３】２次元の位置検出素子は、本例では、２次
元ＰＳＤ（公知技術である。詳細は省略する）を用いる
構成となっている。第２書込系についても、同期検知板
１１−２とそれに含まれる同期検知センサ１１−２−
１、位置センサ１１−２−２が配置されている。

【００３４】図２、３は同期検知センサ（１１−１−
１、１１−２−１）、位置センサ（１１−１−２、１１
−２−２）、レーザービームのドットと各信号の関係を
示す図である。第１書込系と第２書込系が書かれている
が、片方の説明だけでわかる場合は第１書込系について
説明する。ＬＤが一旦消灯した後、同期検知信号（ｂ）
から所定の画素クロック数（本例ではＮｏクロック）後
に再度ＬＤが点灯し、位置センサの上で１ドットを生成
する。このことにより、位置センサの上で、レーザービ
−ムは等価的に静止している状態になり、主走査及び副
走査のレーザービ−ム位置を同時に検出する事が可能と
なる。画素クロック（ｃ）は同期検知信号（ｂ）を基準
として発生し、同期検知から所定のクロック数（本例で
はＮｇクロック）後に画像デ−タに基づいた変調を開始
する。

【００３５】位置センサ（１１−１−２、１１−２−
２）からの信号は制御部を介して、Ｘ（主走査）方向位
置、及びＹ（副走査）方向位置に基づいたＸ１、Ｙ１電
圧を発生し、図示しない（図１０の書き込み制御部内に
有る）ＡＤコンバ−タ−、制御演算部等によって位置情
報に変換される。

【００３６】第２書込系においても、走査方向が逆にな
るだけで、第１書込系と動作は同じになり、位置の検出
が行われる。

【００３７】次に、図４、５、６に、同期検知の温度上
昇による信号遅延や書込系の温度上昇による主方向、及
び副走査方向にドットがずれた場合の概念図を示す。ま
ず、主走査方向のずれについて説明すると、レーザービ
−ムが同期検知に入射するまで、レーザービ−ムは連続
点灯している。常温の場合は図２、３（図５ｂ）に示し
たように、同期検知に入射したとほぼ同時（実際にはタ
イムラグは０ではない）に同期検知信号が発生したとす
ると、図５において温度上昇した場合、Δｔ（距離換算
でΔＸ１）だけ同期検知信号の発生が遅延してしまう現
象が発生するところを示している。また、レンズ系の温
度上昇によって倍率が変化し主走査方向にドットがずれ
てしまう現象も重なってくる。

【００３８】同期検知信号が遅延すると、同期検知を基
準として所定のクロック（Ｎｇ）後に書き出しを開始す
る為、画像の書き出し位置もΔＸ１だけのずれが生じ、
位置センサ上のビ−ム位置もΔＸ１だけずれる事にな
る。光学系の倍率誤差の影響を考慮すると、位置センサ
上のずれ量と、書き出し位置でのずれ量は同一ではなく
なるが、ここでは、簡略化の為に省略する。

【００３９】一例として、ΔＸ１だけ主走査方向にずれ
た場合の補正方法の例を図６に示す。図６（ａ）は、正
規のずれの無い場合のドット位置である。図６（ｂ）
は、ΔＸ１だけずれた場合のドット位置を示す。

【００４０】ΔＸ１だけドットが２次元位置検出素子上
でずれたとすると、Ｎ＊Ｐ−ΔＸ１の距離に相当する画
素クロックの位相を図示していないレーザービーム点灯
制御部により遅らせる。図６（ｃ）ここでＮはＮ＊Ｐ＞
ΔＸ１になる最小の整数Ｐはビ−ムのピッチ間隔とす
る。

【００４１】このことで、正規のドット位置の４番目の
画素と（ｃ）の１番目の主走査方向のドット位置が同一
になる。次に、図６（ｄ）に示すように、Ｎドット（本
例では３ドット）を先頭ドットの前に追加して、さらに
画像デ−タ−をＮドット前側にずらす処理が行われる。
実際には、同期検知信号から書き出し位置までのクロッ
ク数（Ｎｇ）をＮｇ−Ｎとすることと同じになる。

【００４２】以上の処理を第２書込系にも同様に行うこ
とで、主走査方向の繋ぎ目を所定の位置に合わせること
ができる。

【００４３】次に、副走査方向の補正について説明す
る。図８において、第１書込系では、副走査方向にΔＹ
１、第２書込系ではΔＹ２のずれが、２次元位置検出素
子上で検出される。これに対応して、書き出し位置にお
いてもそれぞれΔＹ１、ΔＹ２のずれが発生し、相対的
には、ΔＹだけレーザービ−ムが副走査方向に離れてし
まう。

【００４４】副走査方向へのずれの発生要因としては、
ハウジングの熱膨張などによって、ミラ−等の光学部品
の位置が微妙に変位してしまうことが主な原因として挙
げられる。

【００４５】上記の検出された副走査方向のずれに対応
する量だけ図１のスッテッピングモ−タ１４を回転させ
て折り返しミラー（９−１、９−２）の角度を変位さ
せ、副走査方向のずれ補正を行っている。

【００４６】＜画像書き込み開始位置調整＞２本のレー
ザービームを繋げて１本の走査線を構成する際、画像書
き込み書き込み開始点が隣り合っている場合について説
明する。隣り合った開始点の２つのドットは、規定の間
隔をもって書き込みが行われる様に設計されているが、
構造体や構成部品のバラツキによって、所望の間隔にな
らない。６００ＤＰＩの書き込みの場合、規定の間隔は
４２．３μｍである。たとえば、所望の間隔を４２．３
μｍ±２０μｍに決めたとしても実際は間隔が１１５μ
ｍとなり所望の間隔にならない場合である。

【００４７】ここで調整は２種類必要となる。初期調整
と、初期調整後、温度や経時により書き込み開始位置が
ずれた分を所望の間隔にするための調整である。

【００４８】初期調整に付いて説明する。図７（ａ）
は、第１書込み系のレーザービーム用の位置センサ１１
−１−２を含む同期検知板１１−１、図７（ｃ）は、第
２書込み系左走査のレーザービーム用の位置センサ１１
−２−２を含む同期検知板１１−２を示す。

【００４９】図８は、第２書込み系の書き込み開始ドッ
ト（第２書込み系側番号１）位置を最初は固定させてお
き、第１書込系の書き込み開始ドット（第１書込系側番
号１）位置を主走査方向に順次移動させてＮｏ１．〜Ｎ
ｏ８．の８通り状態をつくり、プリント出力させた調整
用シートである。移動間隔は制御上の可能な最小であ
る。調整シート上の線分に対応した識別記号又は文字の
例として、図８ではＮｏ１．〜Ｎｏ８．を記載してあ
る。図８は解りやすくする為、２本のレーザービームは
副走査（上下）方向にずらして描いてある（実際も副走
査方向調整後もずれは有る）。第２書込系側の１’は、
第１書込系側の書き込み開始ドットの理想位置（位置誤
差が零）を示す。Ｎｏ６．が最適（理想位置に一番近
い）であることが判明する。

【００５０】このＮｏ６．を図示していない入力手段
（図１０の操作部内に有る）により入力し装置側でＮｏ
６．が最適であることを認識する。Ｎｏ６．での位置セ
ンサ上のドット位置がそれぞれ、となったとする
（図７）。位置センサ１１−２−１上のは、後述する
センサの測定精度が高い破線矩形内（中央）にあるが、
位置センサ１１−１−２上のは、破線矩形外（中央か
ら主走査方向ΔＸ１−１）にある。が破線矩形外にあ
るとき再度調整が必要な旨を、操作部内の（図示してい
ない）表示部に表示する。なおこの時点でが破線矩形
内にある場合はこの状態での位置に対応したＸ１電
圧、位置に対応したＸ２電圧をデジタル値に変換後、
不揮発メモリ（図１０）に記憶させる。

【００５１】が破線矩形外にあるとき第２書込系の書
き込み開始位置をΔＸ１−１の１／２だけずらす。位置
センサ１１−２−２上のドット位置がからに移動す
る。なおΔＸ２≒１／２（ΔＸ１−１）とする。このよ
うに第２書込系の書き込み位置をずらした状態で再度調
整シートを出力させる。操作部の再度調整が必要との表
示に対応して、後者の調整シート内から繋ぎの状態が最
適なものを入力する。この状態での位置センサ１１−１
−２上のドットはほぼ１／２（ΔＸ１−１）だけ位置セ
ンサ１１−１−２の中心に近づき、センサの測定精度が
高い破線矩形内の位置に移動する。

【００５２】が破線矩形内にある場合はとに対応
する値をメモリに記憶させたが、が破線矩形外にある
場合はこの状態での位置に対応したＸ１電圧、（位置
から移動した）位置に対応したＸ２電圧をデジタル
値に変換後、不揮発メモリに記憶させる。

【００５３】図９は、位置センサ１１−１−２（位置セ
ンサ１１−２−２も同様）の特性を示すものである。中
心からの距離ΔＸH まで測定できるが、距離がΔＸL
（図７ａ、ｂの破線矩形に対応）より大きくなるとセン
サの測定精度（直線性）が悪くなっている。位置をか
らに移動することにより、測定精度を高めることがで
きる（なおセンサの原理と精度については他の公知資料
を参照のこと）。

【００５４】温度や経時により書き込み開始位置がずれ
た分を所望の間隔にするための調整は自動で以下のよう
に行われる。書き込み毎に、一度不揮発メモリに記憶さ
れた、（又は、）に対応した値を、呼び出し、
画像書き出し位置までの間にドットを点灯させかつドッ
ト点灯位置と画像書き出し位置を移動させる事ができる
光ビ−ム点灯手段により位置センサの出力が、（又
は、）に対応した値になる様に制御する。

【００５５】以上で説明は主に主走査方向について行な
ったが、副走査方向も同様に繋ぎ目調整が出来る。図１
０全体のブロック図である。各ブロック中の番号は文中
の番号と対応したものである。書き込み制御部は複数の
繋がり部分の画像に対応して識別記号又は文字を出力す
る手段を含む。

【００５６】以上により本発明の実施の形態について説
明した。なお、上述した実施形態は、本発明の好適な実
施形態の一例を示すものであり、本発明はそれに限定さ
れるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲内におい
て、種々変形実施が可能である。

【００５７】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
１及び２記載の発明によれば、光ビーム位置を位置セン
サ上の誤差の少ない部分で測定できるので、部分的に位
置精度の悪いセンサでも高精度名な光ビーム位置測定が
出来る。

【００５８】また、請求項３記載の発明によれば、条件
（制御値）を変えた、２本の光ビ−ムの繋がり具合を複
数一度に表示しているので、繋がり具合を容易に確認出
来る。

【００５９】また、請求項４記載の発明によれば、条件
（制御値）を変えた、２本の光ビ−ムの繋がり具合の例
を識別記号又は文字で識別されている複数一度に表示し
た出力シートを見ながら、最適な繋がり具合のものを選
択し入力することにより調整が出来るので、調整の容易
化が出来る。

【００６０】また、請求項５記載の発明によれば、２本
の光ビ−ムの繋がり具合が最適な時のビ−ム点灯手段の
制御値を記憶していて、書き込み時ごとに使用すること
により、常に繋がり具合が最適な状態での書き込みが出
来る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態における光走査装置を備え
る画像形成装置の構成を示す図である。

【図２】同期検知センサ（１１−１−１、１１−２−
１）、位置センサ（１１−１−２、１１−２−２）、レ
ーザービームのドットの関係を示す図である。

【図３】図２での各信号の関係を示す図である。

【図４】同期検知の温度上昇による信号遅延や書込系の
温度上昇による主方向及び副走査方向にドットがずれた
場合について説明するための、同期検知センサ、位置セ
ンサ、レーザービームのドットの関係を示す図である。

【図５】図４での各信号の関係を示す図である。

【図６】ΔＸ１だけ主走査方向にずれた場合の補正方法
の例を示す図である。

【図７】初期調整に付いて説明するための、同期検知板
１１−１、１１−２について示す図である。

【図８】副走査方向の補正について説明するための、調
整用シートについて示す図である。

【図９】位置センサ１１−１−２（位置センサ１１−２
−２も同様）の特性を示す図である。

【図１０】本発明の実施の形態における光走査装置を備
える画像形成装置の全体構成を示す図である。

【図１１】２ビームにより被走査面上の走査領域を主走
査方向に２分割して走査する光走査装置の構成を示す図
である。

【図１２】図１１の光走査装置をポリゴンミラー４の回
転軸方向から見た構成を示す図である。

【図１３】図１２の状態を、被走査面の実体をなす感光
体１０の軸方向から見た状態を示す図である。

【図１４】図１１の光走査装置でのミラーの配備を示す
図である。

【図１５】図１１の光走査装置での第１、第２書込系の
別の配置を示す図である。

【符号の説明】

１−１、１−２ 半導体レーザ ２−１、２−２ カップリングレンズ ３−１、３−２ シリンダレンズ ４ ポリゴンモータ ５−１、５−２ レンズ ６−１、６−２ レンズ ７−１、７−２ ミラー ８−１、８−２ ミラー ９−１、９−２ 折り返しミラー １０ 感光体 １１−１、１１−２ 同期検知ユニット １１−１−１、１１−２−１ 同期検知センサ １１−１−２、１１−２−２ 位置センサ １２−１、１２−２ 防塵ガラス １４ ステッピングモータ Ｓ０ 走査領域中央部 Ｓ１ 第１走査領域 Ｓ２ 第２走査領域 ３０ 制御手段

フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｈ０４Ｎ 1/036 Ｂ４１Ｊ 3/00 Ｄ 1/113 Ｈ０４Ｎ 1/04 １０４Ａ Ｆターム(参考） 2C362 AA07 AA10 BA49 BA70 BB38 2H045 AA01 BA22 BA36 CA88 CA97 DA02 2H076 AB06 AB12 AB16 AB18 AB66 AB67 EA24 5C051 AA02 CA07 DA02 DB22 DB24 DB30 DE07 5C072 AA03 HA02 HA06 HA10 HA13 HB08 HB13 XA05

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 感光体上に２本の光ビームを繋げて主走
   査方向に分割して走査する画像形成装置において、 各光ビ−ムに対応して光ビームの基準位置を検出する同
   期検知手段と、 前記同期検知手段から、画像書き出し位置までの間にド
   ットを点灯させかつドット点灯位置と画像書き出し位置
   を移動させる光ビ−ム点灯手段と、 前記点灯されたドットの位置を検出する手段と、を有
   し、 一方の光ビーム画像書き出し位置を特定の位置に決め、
   他方の光ビーム画像書き出し位置は２本の光ビームの繋
   がり状態から点灯位置を調整し、該調整後の値が予め決
   められた値から外れている場合は先に決めた光ビーム画
   像書き出し位置を後者の光ビームの調整後の位置に関連
   づけて変更し、再度後者の光ビームの書き出し位置を光
   ビームの繋がり状態から点灯位置を調整すること、を特
   徴とする画像形成装置。
2. 【請求項２】 前記一方の光ビーム画像書き出し位置を
   特定の位置に決めるにあたり、前記ドットの位置を検出
   する手段の受光面のほぼ中央でドットを点灯し、後者の
   光ビームの調整後の位置に関連づけて変更する場合は、
   その調整後の位置と基準点間距離の半分の距離だけ変更
   することを特徴とする請求項１記載の画像形成装置。
3. 【請求項３】 感光体上に２本の光ビームを繋げて主走
   査方向に分割して走査する画像形成装置において、 各光ビ−ムに対応して光ビームの基準位置を検出する同
   期検知手段と、 前記同期検知手段から、画像書き出し位置までの間にド
   ットを点灯させかつドット点灯位置と画像書き出し位置
   を移動させる光ビ−ム点灯手段と、 前記点灯されたドットの位置を検出する手段と、を有
   し、 前記光ビ−ム点灯手段により画像書き出し位置を複数設
   定し、その各設定値に対応した複数の繋がり部分の画像
   を一度に出力することを特徴とする画像形成装置。
4. 【請求項４】 前記複数の繋がり部分の画像に対応して
   識別記号又は文字を出力する手段と、その画像の内の一
   つを特定する入力手段と、をさらに有することを特徴と
   する請求項３記載の画像形成装置。
5. 【請求項５】 前記入力された識別記号又は文字すなわ
   ち各光ビームの書き出し位置を決める設定値を記憶する
   不揮発性メモリと、請求項３記載の光ビ−ム点灯手段の
   出力値と前記記憶された値を使用して、書き込み時に光
   ビームの位置を確定する手段をさらに有することを特徴
   とする請求項４記載の画像形成装置。