JP2003203346A - 記録パワー調整方法及びそれを用いた光学情報記録装置 - Google Patents

記録パワー調整方法及びそれを用いた光学情報記録装置

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JP2003203346A JP2002316108A JP2002316108A JP2003203346A JP 2003203346 A JP2003203346 A JP 2003203346A JP 2002316108 A JP2002316108 A JP 2002316108A JP 2002316108 A JP2002316108 A JP 2002316108A JP 2003203346 A JP2003203346 A JP 2003203346A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 高密度条件、特に狭トラックピッチにおける
最適記録パワーの調整方法及び相変化光ディスクに好適
な記録パワー調整方法を提供する。 【解決手段】 テスト領域内の隣接する3トラックのう
ち中心トラックに記録パワーを変化させながら所定パタ
ーンの信号を記録し、両側に隣接するトラックに所定パ
ターンの信号を記録パワーを同一タイミングで変化させ
ながら記録する。また、中心トラックを再生して再生信
号特性を測定し、再生信号特性に基づいて最適記録パワ
ーを調整する。これにより、クロス消去の影響を含めて
最適記録パワーを調整でき、高密度記録条件下、特に、
狭トラックピッチ条件において効率よく記録パワーを調
整できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光学情報記録媒体
に情報を記録する半導体レーザ等の光源の記録パワーを
最適記録パワーに調整する方法及びそれを用いた光学情
報記録装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、レーザ光照射によって情報の記
録・再生を行う光学情報記録媒体としては、CD−RやDVD
−R等の追記型媒体、光磁気ディスク、CD−RWやDVD−RA
M、DVD−RW等の相変化光ディスクが知られている。これ
らの媒体を用いた記録は、いずれの場合もレーザ光照射
に伴う温度上昇を利用した熱記録であるので、信号品質
を確保するためにはレーザ光照射時の媒体の温度上昇を
厳しく管理する必要がある。
【0003】そのため、例えば、環境温度が上昇した場
合には、それに応じて記録パワーを適切に低減しなけれ
ばならない。環境変化に応じて記録パワーを制御するた
めには、記録パワー調整領域を別途設けて試し書きを行
い、ある条件(例えば、ジッターを測定して、ジッター
が最小となる条件)で記録パワーの最適化を行うのが一
般的である。
【0004】
【特許文献1】特開平11−25491号公報
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の記録
パワー調整方法では、自己トラックにのみ記録を行って
記録パワーの調整を行うのが一般的である。しかしなが
ら、記録容量を大きくするために、トラックピッチを狭
めた場合、自己トラックで最適となる記録パワーが必ず
しも最適であるとは限らない。これは、トラックピッチ
を狭めた場合には、あるトラックで記録を行った際に隣
接するトラックのデータを意図せずに消去してしまうク
ロス消去の問題が書き換え型の光ディスクにおいて顕著
となるからである。
【0005】クロス消去を考慮した記録パワー決定手法
としては、光磁気ディスクに対して自己トラックのみな
らず隣接トラックにも記録を行って最適記録パワーを決
定する方法が、例えば、上記
【特許文献1】で提案されている。しかしながら、この
手法では、ディスクのトラックにテストパワーで記録を
行った後、再度記録パワーを変化させて記録を行うた
め、記録パワーの決定に時間がかかってしまうという問
題があった。
【0006】例えば、記録パワーを4通りに変化させる
場合には、自己トラック、両側隣接トラックの合計3ト
ラックに4回記録を行う必要があり、最低でもディスク
を4×3=12回転させる必要がある。更に、この手法
は、光磁気ディスクを対象としており、隣接トラックに
1回しか記録を行わないため、クロス消去の影響を特に
相変化光ディスクに対して正確に見積もることは困難で
ある。相変化光ディスクにおいては、クロス消去が記録
非晶質マークの結晶化過程によって生じるため、隣接ト
ラックにおける記録回数が増加するほど結晶化が進行
し、クロス消去の影響が大きくなる可能性があった。
【0007】本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされ
たもので、その目的は、記録媒体のトラックを狭トラッ
クピッチ化した場合であっても、且つ、クロス消去の影
響を含めて、相変化記録媒体であっても、効率良く短時
間で記録パワーを調整することが可能な記録パワー調整
方法及びそれを用いた光学情報記録装置を提供すること
にある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するため、光学情報記録媒体に光源から光ビームを照
射して情報を記録するに当り、前記光源の記録パワーを
調整する方法において、前記記録媒体の隣接する3トラ
ックのうち中心トラックにテストパターンの信号を記録
パワーを変化させながら記録するステップと、前記中心
トラックの両側に隣接するトラックにそれぞれ前記中心
トラックにおいてテストパターンを記録した領域とトラ
ック走査方向において略重なりあう位置で記録パワーを
変化させながらテストパターンの信号を記録するステッ
プと、前記中心トラックを再生して再生信号の信号特性
を測定するステップと、測定した再生信号特性に基づい
て前記光源の記録パワーを調整するステップと、を含む
ことを特徴としている。
【0009】また、本発明は上記目的を達成するため、
光学情報記録媒体に光源から光ビームを照射して情報を
記録するに当り、前記光源の記録パワーを調整する方法
において、前記記録媒体に中心トラックとその両側に隣
接するトラックの3トラックを一組とする複数のテスト
領域が配置されており、前記複数のテスト領域にテスト
領域毎に記録パワーを変化させて、中心トラックにテス
トパターンの信号を1回、両側に隣接するトラックにテ
ストパターンの信号を2回以上記録するステップと、前
記複数のテスト領域の中心トラックを再生してテスト領
域毎に再生信号の信号特性を測定するステップと、テス
ト領域毎に測定した再生信号特性に基づいて前記光源の
記録パワーを調整するステップとを含むことを特徴とし
ている。
【0010】更に、本発明は上記目的を達成するため、
光学情報記録媒体に光源から光ビームを照射して情報を
記録する光学情報記録装置において、前記記録媒体の隣
接する3トラックのうち中心トラックにテストパターン
の信号を記録パワーを変化させながら記録する手段と、
前記中心トラックの両側に隣接するトラックにそれぞれ
前記中心トラックと略同一タイミングで記録パワーを変
化させながらテストパターンの信号を記録する手段と、
前記中心トラックを再生して再生信号の信号特性を測定
する手段と、測定した再生信号特性に基づいて前記光源
の記録パワーを調整する手段とを備えたことを特徴とし
ている。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。図1は本発明の光学
情報記録装置の一実施形態の構成を示すブロック図であ
る。図1において、101は情報記録媒体であるところ
の光ディスクである。本実施形態では光ディスク101
として相変化光ディスクを用いた場合を例として説明す
るが、本発明は、その他に光磁気ディスク等であっても
記録パワーを調整することが可能である。
【0012】また、102は光ディスク101に情報を
記録、再生する光ヘッドである。光ヘッド102内に
は、記録、再生用光源である半導体レーザ(図示せ
ず)、半導体レーザから出射した光ビームを光ディスク
101上に集光する対物レンズ(図示せず)、光ディス
ク101からの反射光を検出する光センサ(図示せず)
等各種の光学素子が設けられている。
【0013】103は光ヘッド102内の半導体レーザ
を駆動するレーザドライバー、104は装置全体を制御
するCPU、105はCPU104からの記録データを
変調処理し、記録信号としてレーザドライバー103に
供給する記録回路である。また、106は光ヘッド10
1からの再生信号の信号特性を測定する信号特性測定回
路、107は光ヘッド102からの再生信号を用いてテ
ストの信号処理を行い、再生データを生成する再生回路
である。
【0014】信号特性測定回路106は詳しく後述する
ように記録パワー調整時に再生信号の振幅あるいはジッ
ターを測定し、CPU104はその測定結果に基づいて
光源である半導体レーザの記録パワーの調整を行う。記
録パワーの調整方法については図面を参照して詳しく後
述する。また、CPU104は光ヘッド102内の半導
体レーザのパワー設定の他に記録タイミング制御、再生
タイミング制御等統括的に装置内の制御を行い、光ディ
スク101にデータの記録あるいは再生を行う。
【0015】次に、本実施形態の記録パワー調整方法に
ついて説明する。図2は本発明の記録パワー調整方法の
一実施形態を示すフローチャートである。図2におい
て、光ディスク101が装置内に挿入されると、CPU
104は予め決められた光ディスク101のテスト領域
に光ヘッド102を移動させて、予め設定された記録デ
ータを記録回路105に供給し、テスト領域の隣接する
3トラックのうち中央に位置する中心トラックT0に予
め設定されたテストパターンの信号を記録パワーを変化
させながら記録する(ステップ101)。
【0016】図3(a)はこの時記録する記録マークの
一例を示す。T0はテスト領域の中心トラック、T1及
びT2は中心トラックT0の両側に隣接するトラックで
ある。本実施形態では、図3(a)に示すように中心ト
ラックT0に記録パワーをPw1、Pw2、Pw3とい
うように変化させながらテストパターンの信号の記録を
行う。図3(a)に示すように記録パワーの変化に伴
い、記録ピットの大きさが変化している。
【0017】中心トラックT0に記録を完了すると、図
3(b)に示すように両側に隣接するトラックT1、T
2にそれぞれ記録パワーを変化させながらテストパター
ンの信号の記録を行う(ステップ102)。この場合、
トラックT1、T2に信号を記録する時は図3(b)に
示すように中心トラックT0と同一タイミングで記録パ
ワーを変化させて信号の記録を行う。また、隣接トラッ
クT1、T2に記録する時は、詳しく後述するように2
回以上記録するのが望ましい。
【0018】ここで、光ディスク101にスパイラル状
に案内溝が形成されている場合は、ディスク回転1周分
が1トラックに相当する。本実施形態では、同一記録ト
ラックにおいて異なる記録パワーで記録を行っている
が、これは、テスト領域をできるだけ少なくし、ユーザ
ーが自由にデータを記録できるデータ記録領域を多く確
保するためである。
【0019】中心トラックT0と両側に隣接するトラッ
クT1、T2で記録パワーを変化させるタイミングを揃
えるためには、光ディスク基板に予め形成されているプ
リピットを利用することができる。例えば、図4に示す
ように光ディスク基板に予め形成されているプリピット
(あるいは案内溝が形成されていないミラー)を基準と
して、テスト領域の各トラックにピットを記録する開始
タイミングを調節することで、テスト領域の3トラック
で記録パワーの変化のタイミングが同一となるように調
節することが可能である。
【0020】光ディスクの場合はアドレス情報等のプリ
ピットが予め形成されているのが一般的であるので、こ
のプリピットを利用して記録のタイミングを調節するこ
とができる。但し、隣接するトラックにおいて必ずしも
プリピットが隣接して存在するとは限らず、図5に示す
ようにプリピットがずれて配置されている場合がある。
その場合は、図5に示すように隣接するプリピット間の
距離のずれ量を予め計算しておき、それに基づいて各ト
ラックへの記録開始のタイミングを調節すれば良い。
【0021】両側に隣接するトラックT1、T2の記録
を完了すると、CPU104はレーザドライバー103
を制御し、光ヘッド102内の半導体レーザの光ビーム
を再生パワーとして中心トラックT0の再生を行う。こ
の時、光ヘッド102から再生信号が出力され、信号特
性測定回路106に入力される。信号特性回路106で
は再生信号の振幅を記録パワーの変化に対応して測定
し、CPU104に出力する(ステップ103)。
【0022】CPU104では、記録パワーと信号振幅
を対応させてメモリ(図示せず)に記憶させておき、そ
れに基づいて再生信号振幅が最大となる時の記録パワー
を最適記録パワーとして決定する(ステップ104)。
また、CPU104はレーザドライバー103を制御
し、光ヘッド102内の半導体レーザの記録パワーを決
定した記録パワーに調整する。以下、この最適記録パワ
ーで光ディスク101に情報の記録を行う。なお、記録
パワーの調整を光ディスク101の挿入時に行うと説明
したが、これに限ることなく、例えば、光学情報記録装
置の稼働時においても定期的に実行してもよい。
【0023】ここで、図3に示す中心トラックT0に
は、単一パターンの繰り返しパターン(例えば、nTパ
ターン:Tはウインド幅、nは1以上16以下の整数、
あるいはkTマーク、lTスペース、mTマーク、nT
スペースの繰り返し;k、l、m、nは1以上16以下
の整数)、あるいはランダムデータを記録し、同様に両
側の隣接トラックT1、T2には中心トラックT0と同
じパターンの信号を記録しても良い。その後、中心トラ
ックT0を再生して再生信号振幅が最大となる時の記録
パワーを最適記録パワーとして決定する。
【0024】また、信号特性測定回路106により再生
信号のジッターを測定してジッターが最小となる記録パ
ワーを最適記録パワーとして決定してもよい。更に、再
生信号のジッターを直接測定せずに再生信号をパルス化
してパルスの立ち上がり位置及び立ち下がり位置と基準
クロックとのずれ時間を測定し、ずれ時間が基準クロッ
クから決定される基準時間(ウインド幅)より大きいず
れをカウントし、このカウント値が一番小さい時の記録
パワーを最適記録パワーとして決定することも可能であ
る。
【0025】いずれの場合も、両側に隣接するトラック
T1、T2には、中心トラックT0と同様にランダムデ
ータ(中心トラックと同じデータである必要はない)、
もしくは単一パターンの繰り返しパターンを記録すれば
よい。ランダムデータを記録するのが実際の使用状態に
近いが、隣接記録の影響をより顕著にするには、k、
l、m、nの組み合わせとして、7以上の整数と、3以
下の整数の組み合わせ(例えば、8Tマーク、2Tスペ
ース、2Tマーク、2Tスペース)を用いるのが良い。
これは、長マーク(7T以上)によりクロストークの影
響を顕著にし、短マーク(3T以下)によりクロス消去
の影響を顕著にできるからである。
【0026】クロス消去は熱蓄積による現象であるた
め、隣接トラックの書き換え回数が増えるほどクロス消
去の影響は顕著となる。従って、記録パワー調整時に
は、隣接トラックに少なくとも2回以上記録を行うこと
が望ましい。但し、実際の装置では、隣接トラックのみ
を100回以上書き換えることはほとんど無いこと、不
必要に多数回記録を行うと記録パワー調整に長い時間を
要することから、最大でも50回程度記録を行えば十分
である。
【0027】なお、1回の記録パワー調整において、テ
スト領域のトラックすべてを使用する必要はなく、セク
タ単位、あるいはシンクフレーム単位で行えば十分であ
る。ここで、クロス消去後の中心トラックの再生信号の
ジッターを測定して最適記録パワー条件を決定する場合
を考える。
【0028】この時、セクタ長を2KByteとする
と、1セクタには16000bit分のデータを記録で
きるので、記録パワーを4通りに変化させたとしても、
あるパワーに対して4000bit程度のデータを記録
することが可能である。なお、本願発明者等の実験によ
れば、1000bit程度の母数があれば記録パワーの
調整が十分可能であることを確かめており、1セクタ内
で記録パワーを変化させて記録を行い、最適記録パワー
条件を決定することは十分可能である。
【0029】また、同一セクタ内で同じ記録パワーで記
録し、セクタが変わった時に記録パワーを変化させて記
録を行ってもよいが、記録パワー調整に使用する領域を
できるだけ少なくし、ユーザーが使用できる領域をでき
るだけ多く確保するためには、同一セクタ内で記録パワ
ーを変化させることが望ましい。
【0030】本実施形態では、隣接する3トラックを利
用して記録パワーの調整を行うので、テスト領域の配置
管理は3トラックを一つの単位として扱う。このように
3トラックを一つの単位として使用すると、ある3トラ
ックに記録を行った後は、1〜3トラックずらした領域
を新たなテスト領域として使用することとなる。但し、
未記録トラックと記録済みトラックでは記録感度が変化
している場合があるので、3トラックずつずらして記録
パワーを調整する方が望ましい。この場合には、テスト
領域として3の整数倍のトラックを割り当てることとな
る。
【0031】なお、記録パワーを変化させるタイミング
は、中心トラックと隣接するトラックで同一であること
が望ましい(換言すれば、中心トラックとその隣接トラ
ックとで記録パワーが同一であることが望ましい)。こ
れは、クロス消去という現象が、隣接トラックに記録を
行った際に、予め中心トラックに記録されていたマーク
が結晶化することにより生じる現象であるためである。
すなわち、隣接トラックに記録パワーが照射され(中心
トラックでの温度上昇がこの場合に最も高くなる)、か
つ、中心トラックに記録マークが存在する(クロス消去
は、記録マークの結晶化によって生じる)場合にクロス
消去の影響が最も顕著となるからである。ただし、図6
に示すように、記録パワーを変化させるタイミングが中
心トラックと隣接トラックで多少異なっても(例えば
(1−7)変調で記録を行う場合の最長データである8
T程度の位置ずれが生じても)大きな問題にはならな
い。図6には、同一トラック内で記録パワーをPw1,Pw2,
Pw3の3通りに変化させながら記録を行った領域を網掛
けで示しており(各々の網掛けの領域内では、記録パワ
はPw1あるいはPw2あるいはPw3で一定)、中心トラック
と隣接トラックでは、図6に示した拡大図から分かるよ
うに、記録開始位置(記録パワを変化させるタイミン
グ)がずれている。この場合でも、中心トラックに記録
マークが存在する領域の両側の隣接トラックには、大半
の場合に記録マークが存在(隣接トラックで記録パワが
照射された領域に相当)しており、クロス消去の影響を
定量的に調べることが可能である。また、図6におい
て、網掛けで示された中心トラックの各領域の最後尾の
領域では隣接トラックに記録パワが照射されないことに
なるので、この領域ではクロス消去は生じないことにな
るが、1000ビット以上のデータを用いて記録パワ調
整を行うので、8T(8ビットに相当)程度のデータが
クロス消去を受けなかったとしても、記録パワ調整の結
果には大きな影響を及ぼすこともない。ただし、中心ト
ラック、隣接トラックとも単一周期のデータパタンの繰
り返し(例えば、8Tマーク、8Tスペースの繰り返
し)を用いて記録を行う場合は、記録パワを変化させる
タイミングは正確に制御する必要がある。これは、図6
に示すように、単一周期のデータを記録する際には、最
悪の場合、隣接トラックで記録パワが照射される際、中
心トラックには記録マークが存在しないことになるため
である。クロス消去が生じるのは、隣接トラックに記録
パワーが照射され(温度上昇が最も高く)、かつ、中心
トラックに記録マークが存在する(クロス消去は、記録
マークの結晶化によって生じる)場合であるため、この
最悪の条件では、クロス消去の影響を測定することはで
きない。中心トラックに存在するマークの少なくとも半
分以上の領域で、隣接トラックで記録パワが照射される
ことが、望ましいので、8Tマーク/8Tスペースの繰
り返しパタンで記録パワ調整を行う場合には、記録開始
位置タイミングを4T程度の精度で制御する必要があ
る。
【0032】
【実施例】次に、本願発明者等は実際に光ディスクを作
製し、それを用いて記録パワーを調整する実験を試み
た。以下、これを実施例1、2として説明する。 (実施例1)実施例1では、厚さ1.2mmのポリカー
ボネート基板上に、Alを100nm、ZnS−SiO
2を20nm、GeSbTeを13nm、ZnS−Si
O2を50nmを順次スパッタリングにより積層した。
更に、その上に紫外線硬化樹脂層を0.1mm形成し
た。ポリカーボネート基板に形成された案内溝は溝深さ
40nm、ピッチ0.3 mmであった。
【0033】このディスクを線速5m/sで回転させ、
波長405nm、対物レンズのNA=0.85の光ヘッ
ドを用いて、紫外線硬化樹脂層側から光を入射して、記
録及び再生を行い、記録パワーの調整を行った。
【0034】具体的に説明すると、まず、光ディスクの
中心トラックT0に記録パワーを3.2、3.4、3.
6、3.8、4.0mWと変化させながら、各記録パワ
ーで2000bitのデータを記録した。クロック周波
数は60MHzとし、図7に示すように案内溝間(ここ
ではランドと規定)のみに記録を行った。その後、中心
トラックT0の両側に隣接する隣接トラックT1、T2
に中心トラックT0と同様に記録パワーを変化させなが
ら記録を行った。次いで、中心トラックT0の再生を行
い、得られた再生信号のジッターを測定した。
【0035】ここで、中心トラックT0にのみ記録を行
った場合の中心トラックT0におけるジッターの測定結
果を図8に示す。図8から明らかなように記録パワー
3.8mW以上でジッターが最も良い値となっている。
これに対し、中心トラックT0の両側の隣接トラックT
1、T2に1回記録を行った場合、2回記録を行った場
合、5回記録を行った場合の中心トラックT0における
ジッターの測定結果を図9に示す。
【0036】図9から明らかなように隣接トラックT
1、T2に1回のみ記録を行った場合は記録パワー3.
6mWでジッターが最小となっており、これが最適記録
パワーであることが分かる。一方、隣接トラックT1、
T2に2回以上記録を行った場合には、最適記録パワー
は3.4mWとなっている。即ち、隣接トラックに2回
以上記録を行うと、最適記録パワーは0.2mW低下し
ており、クロス消去をより反映していることがわかる。
【0037】従って、クロス消去まで考慮すると、最適
記録パワーは3.4 mWということになる。なお、図9に
おいては隣接トラックに100回記録を行った場合のジ
ッターの測定結果を示しているが、2回あるいは5回記
録を行った場合に比べてクロス消去の影響が大きくなる
ためジッターが大きくなっているが、最適記録パワー自
身は変化していない。 (実施例2)実施例2では、厚さ1.2mmのポリカー
ボネート基板上に、Alを100nm、ZnS−SiO
2を20nm、GeSbTeを13nm、ZnS−Si
O2を50nmを順次スパッタリングにより積層した。
更に、その上に紫外線硬化樹脂層を0.1mm形成し
た。ポリカーボネート基板に形成された案内溝は溝深さ
40nm、ピッチ0.6mmであり、図10に示すよう
に案内溝部(ここではグルーブと規定)及び案内溝間の
両方に記録を行った。
【0038】このディスクを線速5m/sで回転させ、
波長405nm、対物レンズのNA=0.85の光ヘッ
ドを用いて、紫外線硬化樹脂層側から光を入射して、記
録及び再生を行い、記録パワーの調整を行った。
【0039】まず、ランド部において記録パワーを3.
2、3.4、3.6、3.8、4.0mWと変化させな
がら、各記録パワーで1000bitのデータを記録し
た。クロック周波数は実施例1と同様に60MHzとし
た。その後、このランド部に隣接する両側のグルーブに
それぞれランド部と同様に記録パワーを変化させながら
記録を行った。次いで、ランド部を再生し、再生信号の
ジッターを測定した。この場合も実施例1と同様に両側
の隣接トラックに1回記録を行った場合の最適記録パワ
ーは3.6mWであったのに対し、両側隣接トラックに
2回以上記録を行った場合の最適記録パワーは3.4m
Wであった。
【0040】ここで、中心トラックをランド部としたの
は、ランド部の方がクロス消去の影響を受けやすいため
である。なお、本実施例では紫外線硬化樹脂層側から光
を入射して記録再生を行う場合について説明したが、D
VD−RAMの様に基板側から光を入射して記録再生を
行う場合は、案内溝部(グルーブ)の方がクロス消去の
影響が顕著となるので、グルーブに記録を行った後、両
側ランドに記録を行って記録パワーを調整する。
【0041】なお、以上の実施形態では、1つのトラッ
クの範囲内で記録パワーを変化させて中心トラックと両
側隣接トラックにテストパターンの信号を記録すると説
明したが、本発明はこれに限ることなく、トラック毎に
記録パワーを変化させてもよい。具体的には、光ディス
クに中心トラックとその両側に隣接するトラックの3ト
ラックを一組とするテスト領域を複数配置しておき、そ
の内の1つのテスト領域の中心トラックにテストパター
ンの信号を記録し、両側に隣接するトラックにそれと同
じ記録パワーでテストパターンの信号を記録する。
【0042】次いで、他のテスト領域の中心トラックに
前回とは記録パワーを変化させてテストパターンの信号
を記録し、両側に隣接するトラックにそれと同じ記録パ
ワーでテストパターンの信号を記録する。以下、テスト
領域毎に記録パワーを変化させて中心トラックと両側隣
接トラックにテストパターンの信号を記録する。その
後、各テスト領域の中心トラックを再生して再生信号特
性を測定し、それに基づいて最適記録パワーを調整す
る。
【0043】各テスト領域の中心トラックと両側隣接ト
ラックに記録するテストパターンの信号や、テスト領域
毎の再生信号の信号特性(再生信号振幅やジッター)の
測定方法は先の実施形態と同様である。また、最適記録
パワーを決定は、先の実施形態と同様に行う。
【0044】即ち、テスト領域毎に再生された再生信号
振幅のうち信号振幅が最大となる記録パワー、あるいは
再生信号のジッターが最小となる記録パワーを最適記録
パワーとして決定する。なお、各々のテスト領域の両側
隣接トラックには、前述のように信号を2回以上記録す
るのが望ましい。このような方法であっても、光ディス
クのユーザー使用領域は減少するが、クロス消去を含め
て最適記録パワーを決定できる。
【0045】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、記
録媒体のトラックが狭トラックピッチ化された場合であ
っても、クロス消去の影響を含めて最適記録パワーを効
率よく短時間で決定することができ、信頼性の高い高密
度記録を行うことができる。また、1トラック内で記録
パワーを変化させながらテスト記録を行うため、少ない
テスト領域で記録パワーを決定でき、ユーザーが自由に
記録できる領域を十分に確保することができる。更に、
中心トラックの両側に隣接するトラックに2回以上記録
することにより、相変化記録媒体の記録パワー調整に好
適に用いることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の光学情報記録装置の一実施形態を示
すブロック図である。
【図2】 本発明の記録パワー調整方法の一実施形態を
示すフローチャートである。
【図3】 図2の記録パワー調整方法の調整過程でテス
ト領域のトラックに記録する記録マークの一例を示す図
である。
【図4】 光ディスクに形成されているプリピットを用
いてテスト領域のトラックに記録を開始する場合の例を
説明する図である。
【図5】 光ディスクに形成されているプリピットが隣
接するトラック間でずれている時のテスト領域のトラッ
クに記録開始する場合の例を説明する図である。
【図6】 中心トラックと隣接トラックの記録マークの
重なり方を説明する図である。
【図7】 本発明の実施例1におけるテスト領域のトラ
ックへの信号の記録を説明する図である。
【図8】 実施例1の中心トラックのみに記録を行った
場合の記録パワーに対するジッターの変化の測定結果を
示す図である。
【図9】 実施例1の両側隣接トラックに1回、2回、
5回、100回記録を行った場合の中心トラックにおけ
るジッターの測定結果を示す図である。
【図10】 本発明の実施例2におけるテスト領域のト
ラックへの信号の記録を説明する図である。
【符号の説明】
101 光ディスク 102 光ヘッド 103 レーザドライバー 104 CPU 105 記録回路 106 信号特性測定回路 107 再生回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5D090 AA01 BB05 CC01 CC18 DD03 EE03 JJ12 KK03 5D119 AA23 BA01 BB04 DA01 HA17 HA19 HA44

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光学情報記録媒体に光源から光ビームを
    照射して情報を記録するに当り、前記光源の記録パワー
    を調整する方法において、前記光学情報記録媒体の隣接
    する3トラックのうち中心トラックに、テストパターン
    の信号を記録パワーを変化させながら記録するステップ
    と、前記中心トラックの両側に隣接するトラックに、そ
    れぞれ前記中心トラックにおいて前記テストパターンを
    記録した領域とトラック走査方向において略重なり合う
    位置に、記録パワーを変化させながらテストパターンの
    信号を記録するステップと、前記中心トラックを再生し
    て再生信号の信号特性を測定するステップと、測定した
    再生信号特性に基づいて前記光源の記録パワーを調整す
    るステップと、を含むことを特徴とする記録パワー調整
    方法。
  2. 【請求項2】前記中心トラックの両側に隣接するトラッ
    クに、それぞれ2回以上記録を行って記録パワーを調整
    することを特徴とする請求項1記載の記録パワー調整方
    法。
  3. 【請求項3】前記3トラックにおけるテストパターンの
    記録が前記光学情報記録媒体のトラック走査方向におい
    て略同一のデータ長となるよう記録することを特徴とす
    る請求項1又は2記載の記録パワー調整方法。
  4. 【請求項4】前記3トラックに信号を記録する場合の記
    録パワーの変化のタイミングを前記光学情報記録媒体の
    トラック走査方向において略同一タイミングに揃えるこ
    とを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の
    記録パワー調整方法。
  5. 【請求項5】前記中心トラックの再生信号の信号振幅を
    測定し、該信号振幅を基に記録パワーを決定することを
    特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の記録
    パワー調整方法。
  6. 【請求項6】前記中心トラックの再生信号のジッターを
    測定し、該ジッターを基に記録パワーを調整することを
    特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の記録
    パワー調整方法。
  7. 【請求項7】前記中心トラックに記録するテストパター
    ンはランダムデータであり、前記隣接トラックに記録す
    るテストパターンはランダムデータ又はある周期の繰り
    返しパターンであることを特徴とする請求項1乃至6の
    いずれか1項に記載の記録パワー調整方法。
  8. 【請求項8】前記中心トラックに記録するテストパター
    ンはある周期の繰り返しパターンデータであり、前記隣
    接トラックに記録するテストパターンはランダムデータ
    又はある周期の繰り返しパターンであることを特徴とす
    る請求項1乃至6のいずれか1項に記載の記録パワー調
    整方法。
  9. 【請求項9】光学情報記録媒体に光源から光ビームを照
    射して情報を記録するに当り、前記光源の記録パワーを
    調整する方法において、前記光学情報記録媒体に中心ト
    ラックとその両側に隣接するトラックの3トラックを一
    組とする複数のテスト領域が配置されており、前記複数
    のテスト領域にテスト領域毎に記録パワーを変化させ
    て、中心トラックにテストパターンの信号を1回、両側
    に隣接するトラックにテストパターンの信号を2回以上
    記録するステップと、前記複数のテスト領域の中心トラ
    ックを再生してテスト領域毎に再生信号の信号特性を測
    定するステップと、テスト領域毎に測定した再生信号特
    性に基づいて前記光源の記録パワーを調整するステップ
    と、を含むことを特徴とする記録パワー調整方法。
  10. 【請求項10】前記光学情報記録媒体に3の整数倍のト
    ラックが記録パワーの調整のためのテスト領域として配
    置されていることを特徴とする請求項1乃至8のいずれ
    か1項に記載の記録パワー調整方法。
  11. 【請求項11】前記光情報記録媒体に形成されているプ
    リピットを利用して前記3トラックに信号を記録する場
    合の記録パワーの変化のタイミングを前記光学情報記録
    媒体のトラック走査方向で略同一タイミングとする記録
    パワー調整方法であって、前記光学情報記録媒体に形成
    されているプリピットが隣接するトラック間でずれてい
    る時は隣接するトラック間のプリピットのずれ量を予め
    計算し、それに基づいて前記テスト領域の3トラックに
    信号を記録する場合の記録パワーの変化のタイミングを
    略同一タイミングに揃えることを特徴とする請求項1乃
    至8のいずれか1項に記載の記録パワー調整方法。
  12. 【請求項12】前記光学情報記録媒体は、相変化記録媒
    体であることを特徴とする請求項1乃至11のいずれか
    1項に記載の記録パワー調整方法。
  13. 【請求項13】光学情報記録媒体に光源から光ビームを
    照射して情報を記録する光学情報記録装置において、該
    記録媒体の隣接する3トラックのうち中心トラックにテ
    ストパターンの信号を記録パワーを変化させながら記録
    する手段と、該中心トラックの両側に隣接するトラック
    にそれぞれ該中心トラックに記録したテストパターンと
    該記録媒体のトラック走査方向において略同一の領域に
    記録パワーを変化させながらテストパターンの信号を記
    録する手段と、該中心トラックを再生して再生信号の信
    号特性を測定する手段と、測定した再生信号特性に基づ
    いて該光源の記録パワーを調整する手段とを備えたこと
    を特徴とする光学情報記録装置。
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