JP2003194501A - 測定機の較正用の基準ゲージおよび測定機の較正方法 - Google Patents
測定機の較正用の基準ゲージおよび測定機の較正方法Info
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- Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 測定機の測定ピンの直径を問わず、現在の
ゲージよりも正確な較正を可能にする基準ゲージを得
る。 【解決手段】 三つのブロックゲージ１と基台２とキャ
ップ３を主要要素とし、較正された較正用フォーク体１
０は、三つのブロックゲージ１の重ね合わせ、中央のブ
ロックゲージを他の二つに対して大幅にずらすことで、
較正された較正用フォーク体１０を構成する。三つのブ
ロックゲージ１の集合体は、較正された較正用フォーク
体１０に対して対照的に位置し、中央にブロックゲージ
の突出体１３を呈する。該三つのブロックゲージ１の集
合体により、基準寸法は、測定された較正用フォーク体
の内寸によっても、突出体の外寸によっても測定するこ
とができる。
ゲージよりも正確な較正を可能にする基準ゲージを得
る。 【解決手段】 三つのブロックゲージ１と基台２とキャ
ップ３を主要要素とし、較正された較正用フォーク体１
０は、三つのブロックゲージ１の重ね合わせ、中央のブ
ロックゲージを他の二つに対して大幅にずらすことで、
較正された較正用フォーク体１０を構成する。三つのブ
ロックゲージ１の集合体は、較正された較正用フォーク
体１０に対して対照的に位置し、中央にブロックゲージ
の突出体１３を呈する。該三つのブロックゲージ１の集
合体により、基準寸法は、測定された較正用フォーク体
の内寸によっても、突出体の外寸によっても測定するこ
とができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は測定機の較正のため
の基準ゲージに関するものである。本発明は、本発明に
よる基準ゲージに組み合わされた較正方法にも関するも
のである。
の基準ゲージに関するものである。本発明は、本発明に
よる基準ゲージに組み合わされた較正方法にも関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】測定機は、一つまたは複数の方向に移動
自在なアームを有し、その位置は、例えば、容量型、誘
導型、磁気抵抗型、または光電型などの測定システムに
よって精密決定される。可動性アームの先端には、一般
的に球形の測定ピンが取り付けられている。測定機のア
ームは、例えば被測定物の表面、角または正確な点など
の特定の測定点まで所定の軌跡にそって空間内を移動さ
れる。この点の座標は、操作員によるマニュアルで、あ
るいは例えば測定機に取り付けられたソフトウェアによ
って読みとられる。かかるソフトウェアは、ついで、例
えば作業を行う床等の接地面の表面あるいはその他一切
の基準面に対する測定点の高さの決定、物体の寸法計
算、あるいは場合によっては、一連の測定点によって二
次元または三次元で被測定物を表すことを可能にする。
自在なアームを有し、その位置は、例えば、容量型、誘
導型、磁気抵抗型、または光電型などの測定システムに
よって精密決定される。可動性アームの先端には、一般
的に球形の測定ピンが取り付けられている。測定機のア
ームは、例えば被測定物の表面、角または正確な点など
の特定の測定点まで所定の軌跡にそって空間内を移動さ
れる。この点の座標は、操作員によるマニュアルで、あ
るいは例えば測定機に取り付けられたソフトウェアによ
って読みとられる。かかるソフトウェアは、ついで、例
えば作業を行う床等の接地面の表面あるいはその他一切
の基準面に対する測定点の高さの決定、物体の寸法計
算、あるいは場合によっては、一連の測定点によって二
次元または三次元で被測定物を表すことを可能にする。
【０００３】測定精度を保証するために、測定機は規則
的に較正して、環境条件の変動、測定ピンの直径の変化
などに由来する一時的な誤差を補正しなければならな
い。較正は最低限、測定機の新たな使用開始の都度、お
よび測定を実施できる前までに行わなければならない。
的に較正して、環境条件の変動、測定ピンの直径の変化
などに由来する一時的な誤差を補正しなければならな
い。較正は最低限、測定機の新たな使用開始の都度、お
よび測定を実施できる前までに行わなければならない。
【０００４】測定機の較正に通常用いられる道具は、基
準ゲージである。基準ゲージは、一般的に較正された較
正用フォーク体を有し、該較正用フォーク体は特定の軸
に沿って測定機を較正するのに役立つ。較正用フォーク
体は、測定ピンの周囲に配置される。測定機のアーム
は、測定ピンが較正用フォーク体の第一の面と接触する
まで所定の軸に沿って移動され、それにより第一の測定
点を決定する。ついで測定機のアームは、較正用フォー
ク体の他の面に接触するまで反対方向に移動され、それ
により第二の測定点を決定する。測定機のソフトウェア
は、較正された較正用フォーク体の正確な寸法、その移
動、また場合によっては測定ピンの正確な寸法を把握す
ると、そのとき例えば方向転換の際のこのような機械シ
ステムに存在するたわみやヒステリシスのような、較正
パラメータを計算することができる。較正手順は、測定
機の各起動の後、および測定を実施できる前に反復しな
ければならない。
準ゲージである。基準ゲージは、一般的に較正された較
正用フォーク体を有し、該較正用フォーク体は特定の軸
に沿って測定機を較正するのに役立つ。較正用フォーク
体は、測定ピンの周囲に配置される。測定機のアーム
は、測定ピンが較正用フォーク体の第一の面と接触する
まで所定の軸に沿って移動され、それにより第一の測定
点を決定する。ついで測定機のアームは、較正用フォー
ク体の他の面に接触するまで反対方向に移動され、それ
により第二の測定点を決定する。測定機のソフトウェア
は、較正された較正用フォーク体の正確な寸法、その移
動、また場合によっては測定ピンの正確な寸法を把握す
ると、そのとき例えば方向転換の際のこのような機械シ
ステムに存在するたわみやヒステリシスのような、較正
パラメータを計算することができる。較正手順は、測定
機の各起動の後、および測定を実施できる前に反復しな
ければならない。
【０００５】較正した較正用フォーク体の測定の品質を
向上させるためには、測定機のアームの行程を制限し、
したがって較正用フォーク体自体の寸法を制限するのが
有利である。このような縮小がもつ欠点は、較正される
較正用フォーク体の寸法とほぼ同じかそれを越える直径
の測定ピンの使用を妨げることである。したがって較正
用フォーク体の寸法は、所望の測定精度と通常の測定ピ
ンの最大での基準ゲージを使用する可能性の追求の結果
となる。したがって現在使用されているゲージは、採用
した測定システムによれば、２０ミリメートル、あるい
は２５．４ミリメートル（１インチ）の一切の基準寸法
である。
向上させるためには、測定機のアームの行程を制限し、
したがって較正用フォーク体自体の寸法を制限するのが
有利である。このような縮小がもつ欠点は、較正される
較正用フォーク体の寸法とほぼ同じかそれを越える直径
の測定ピンの使用を妨げることである。したがって較正
用フォーク体の寸法は、所望の測定精度と通常の測定ピ
ンの最大での基準ゲージを使用する可能性の追求の結果
となる。したがって現在使用されているゲージは、採用
した測定システムによれば、２０ミリメートル、あるい
は２５．４ミリメートル（１インチ）の一切の基準寸法
である。
【０００６】
【従来の技術】特許文献１（特開２０００−３９３０４
号公報）には、極小径のノズル径を測定する形状測定装
置が記載されている（図３、図４、図５参照）。
号公報）には、極小径のノズル径を測定する形状測定装
置が記載されている（図３、図４、図５参照）。
【０００７】
【特許文献１】 特開２０００−３９３０４号公報
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】本発明が解決しようと
する課題は、測定機の測定ピンの直径を問わず、現在の
ゲージよりも正確な較正を可能にする基準ゲージを提案
することである。
する課題は、測定機の測定ピンの直径を問わず、現在の
ゲージよりも正確な較正を可能にする基準ゲージを提案
することである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明の課題を解決する
ための手段は、次のとおりである。
ための手段は、次のとおりである。
【００１０】第１に、測定機の所与の座標内で較正する
ための少なくとも一つの基準寸法（ｄ）を有する基準ゲ
ージにおいて、前記少なくとも一つの基準寸法（ｄ）が
較正された較正用フォーク体（１０）の内面（１１，１
２）の一方と他方の内面との間の距離の測定によって、
あるいは突出体（１３）の外面（１４，１５）の一方と
他方の外面との間の較正された距離の測定によって測定
可能であることを特徴とする、基準ゲージ。
ための少なくとも一つの基準寸法（ｄ）を有する基準ゲ
ージにおいて、前記少なくとも一つの基準寸法（ｄ）が
較正された較正用フォーク体（１０）の内面（１１，１
２）の一方と他方の内面との間の距離の測定によって、
あるいは突出体（１３）の外面（１４，１５）の一方と
他方の外面との間の較正された距離の測定によって測定
可能であることを特徴とする、基準ゲージ。
【００１１】第２に、基準ゲージにおいて、前記少なく
とも一つの基準寸法（ｄ）が１５ミリメートル未満であ
ることを特徴とする、上記第１に記載の基準ゲージ。
とも一つの基準寸法（ｄ）が１５ミリメートル未満であ
ることを特徴とする、上記第１に記載の基準ゲージ。
【００１２】第３に、基準ゲージにおいて、前記少なく
とも一つの基準寸法（ｄ）がブロックゲージ（１）によ
って決定されることを特徴とする、上記第１に記載の基
準ゲージ。
とも一つの基準寸法（ｄ）がブロックゲージ（１）によ
って決定されることを特徴とする、上記第１に記載の基
準ゲージ。
【００１３】第４に、基準ゲージにおいて、前記較正さ
れた較正用フォーク体（１０）と前記突出体（１３）
が、二つの平坦表面間のブロックゲージ（１）の取り付
けによって形成されることを特徴とする、上記第１に記
載の基準ゲージ。
れた較正用フォーク体（１０）と前記突出体（１３）
が、二つの平坦表面間のブロックゲージ（１）の取り付
けによって形成されることを特徴とする、上記第１に記
載の基準ゲージ。
【００１４】第５に、基準ゲージにおいて、前記較正さ
れた較正用フォーク体（１０）と前記突出体（１３）
が、三つのブロックゲージ（１）の重ね合わせによって
形成されることを特徴とする、上記第１に記載の基準ゲ
ージ。
れた較正用フォーク体（１０）と前記突出体（１３）
が、三つのブロックゲージ（１）の重ね合わせによって
形成されることを特徴とする、上記第１に記載の基準ゲ
ージ。
【００１５】第６に、測定機の所与の座標内で較正する
ための少なくとも一つの基準寸法（ｄ）を有する基準ゲ
ージにおいて、前記少なくとも一つの基準寸法（ｄ）が
１５ミリメートル未満であることを特徴とする、基準ゲ
ージ。
ための少なくとも一つの基準寸法（ｄ）を有する基準ゲ
ージにおいて、前記少なくとも一つの基準寸法（ｄ）が
１５ミリメートル未満であることを特徴とする、基準ゲ
ージ。
【００１６】第７に、基準ゲージにおいて、基礎（２
０）が前記基準ゲージに平坦表面上で安定した位置を取
ることを可能にする基台（２）を有することを特徴とす
る、上記第１に記載の基準ゲージ。すなわち、平坦表面
上で安定した位置を取ることを可能にする基礎を備えた
基台（２）を有することを特徴とする、上記第１に記載
の基準ゲージ。
０）が前記基準ゲージに平坦表面上で安定した位置を取
ることを可能にする基台（２）を有することを特徴とす
る、上記第１に記載の基準ゲージ。すなわち、平坦表面
上で安定した位置を取ることを可能にする基礎を備えた
基台（２）を有することを特徴とする、上記第１に記載
の基準ゲージ。
【００１７】第８に、基準ゲージにおいて、前記少なく
とも一つの基準寸法（ｄ）が、前記基台（２）の基礎
（２０）に対して垂直に向けられることを特徴とする、
上記第７に記載の基準ゲージ。
とも一つの基準寸法（ｄ）が、前記基台（２）の基礎
（２０）に対して垂直に向けられることを特徴とする、
上記第７に記載の基準ゲージ。
【００１８】第９に、基準ゲージにおいて、前記少なく
とも一つの基準寸法（ｄ）が、前記基台（２）の基礎
（２０）に対して水平に向けられることを特徴とする、
上記第７に記載の基準ゲージ。
とも一つの基準寸法（ｄ）が、前記基台（２）の基礎
（２０）に対して水平に向けられることを特徴とする、
上記第７に記載の基準ゲージ。
【００１９】第１０に、１５ミリメートル未満の基準寸
法（ｄ）の測定からなる測定機の較正方法。
法（ｄ）の測定からなる測定機の較正方法。
【００２０】第１１に、突出体（１３）の二つの外面
（１４，１５）の一方と他方の外面との間の較正された
寸法の測定からなる測定機の較正方法。
（１４，１５）の一方と他方の外面との間の較正された
寸法の測定からなる測定機の較正方法。
【００２１】本発明における課題は、その基準寸法をそ
の内寸によっても、その外寸によっても測定することが
できる基準ゲージを提案することによって達成される。
基準寸法の測定が実施できるのは、上述のごとく、較正
された較正用フォーク体を限定する二つのブロックゲー
ジの間における基準表面間で、測定機のアームの線形移
動を測定するか、あるいは突出したブロックゲージの片
面上の第一の測定点と同じブロックゲージの反対面上の
第二の測定点との間の距離を測定することによる。基準
寸法に選択された寸法は、２０ミリメートル未満、有利
には１５ミリメートル未満、そして好適には７ミリメー
トル未満である。
の内寸によっても、その外寸によっても測定することが
できる基準ゲージを提案することによって達成される。
基準寸法の測定が実施できるのは、上述のごとく、較正
された較正用フォーク体を限定する二つのブロックゲー
ジの間における基準表面間で、測定機のアームの線形移
動を測定するか、あるいは突出したブロックゲージの片
面上の第一の測定点と同じブロックゲージの反対面上の
第二の測定点との間の距離を測定することによる。基準
寸法に選択された寸法は、２０ミリメートル未満、有利
には１５ミリメートル未満、そして好適には７ミリメー
トル未満である。
【００２２】本発明による基準ゲージには、次の二つの
大きな利点がある。１．基準寸法は、現在のゲージの寸
法に対して大幅に縮小され、それにより較正の際の測定
機のアームの移動が制限される。２．基準寸法は、測定
された較正用フォーク体の内寸によっても、突出体の外
寸によっても測定することができるので、同一の基準ゲ
ージが、あらゆる直径の測定ピンを使用する測定機の較
正に使用できるようになる。
大きな利点がある。１．基準寸法は、現在のゲージの寸
法に対して大幅に縮小され、それにより較正の際の測定
機のアームの移動が制限される。２．基準寸法は、測定
された較正用フォーク体の内寸によっても、突出体の外
寸によっても測定することができるので、同一の基準ゲ
ージが、あらゆる直径の測定ピンを使用する測定機の較
正に使用できるようになる。
【００２３】
【実施例】本発明は、付属の図面を参照し、かつ例とし
て挙げた以下の説明を読むことによっていっそうよく理
解できるだろう。
て挙げた以下の説明を読むことによっていっそうよく理
解できるだろう。
【００２４】図１は、高さの測定コラムの較正に適合し
た本発明による基準ゲージの斜視図である。
た本発明による基準ゲージの斜視図である。
【００２５】図２は、図１に示した基準ゲージの縦断面
図である。
図である。
【００２６】本発明による基準ゲージの推奨実施態様
は、高さの測定コラムの較正を目的とした基準ゲージで
ある。高さの測定コラムは、垂直軸に沿った距離だけを
測定する測定機である。高さの測定コラムは、一般的に
完全に平坦な測定コラムの接地面である作業表面上に置
かれ、それにより二つの測定点間の垂直距離、あるいは
この作業表面に対する測定点の高さの正確な測定を可能
にする。高さの測定コラムの較正を目的とする基準ゲー
ジの基準寸法は、したがって作業表面に対して垂直な平
面内に向けられる。
は、高さの測定コラムの較正を目的とした基準ゲージで
ある。高さの測定コラムは、垂直軸に沿った距離だけを
測定する測定機である。高さの測定コラムは、一般的に
完全に平坦な測定コラムの接地面である作業表面上に置
かれ、それにより二つの測定点間の垂直距離、あるいは
この作業表面に対する測定点の高さの正確な測定を可能
にする。高さの測定コラムの較正を目的とする基準ゲー
ジの基準寸法は、したがって作業表面に対して垂直な平
面内に向けられる。
【００２７】本発明の好適な実施態様による基準ゲージ
を構成する主要要素は、三つのブロックゲージ１と基台
２とキャップ３である。
を構成する主要要素は、三つのブロックゲージ１と基台
２とキャップ３である。
【００２８】ブロックゲージ１は、好適には平面六面体
である直方体の機械部品であり、該部品は硬質で環境変
動に余り影響されない材料で加工され、その少なくとも
一つの寸法は、その相対する面の二つのきわめて正確な
加工によって最高の精度で決められている。本発明の好
適な実施態様において、簡便化とコストの削減のため
に、三つのブロックゲージ１は同一である。選択された
基準寸法ｄは、６．３５ミリメートル（１／４インチ）
に等しく、インペリアルシステムなどのメートル系にお
ける計算に適した寸法である。較正された較正用フォー
ク体１０は、三つのブロックゲージ１の重ね合わせから
なり、中央のブロックゲージは他の二つに対して大幅に
ずらされる。このようにして、三つのブロックゲージ１
の集合体は、較正された較正用フォーク体１０に対して
対照的に位置し、中央のブロックゲージの突出体１３を
呈する。該三つのブロックゲージ１の集合体は、較正さ
れた較正用フォーク体１０に挿入されるには大きすぎる
直径の測定ピンを使用して測定機を較正するためのもの
である。
である直方体の機械部品であり、該部品は硬質で環境変
動に余り影響されない材料で加工され、その少なくとも
一つの寸法は、その相対する面の二つのきわめて正確な
加工によって最高の精度で決められている。本発明の好
適な実施態様において、簡便化とコストの削減のため
に、三つのブロックゲージ１は同一である。選択された
基準寸法ｄは、６．３５ミリメートル（１／４インチ）
に等しく、インペリアルシステムなどのメートル系にお
ける計算に適した寸法である。較正された較正用フォー
ク体１０は、三つのブロックゲージ１の重ね合わせから
なり、中央のブロックゲージは他の二つに対して大幅に
ずらされる。このようにして、三つのブロックゲージ１
の集合体は、較正された較正用フォーク体１０に対して
対照的に位置し、中央のブロックゲージの突出体１３を
呈する。該三つのブロックゲージ１の集合体は、較正さ
れた較正用フォーク体１０に挿入されるには大きすぎる
直径の測定ピンを使用して測定機を較正するためのもの
である。
【００２９】基台２は、基礎２０を有し、それにより基
準ゲージは作業表面である接地面と接触している。基台
２は、ゲージに安定性を与える。基台２は、重く、高さ
が基準寸法ｄに対して比較的大きな寸法である。基台２
の高さは、較正された較正用フォーク体１０または突出
体１３と作業表面との間の距離を決定するが、この距離
は測定コラムのアームがその垂直行程の端に移動しなく
ても較正された較正用フォーク体を測定できるように、
十分大きくなければならない。好適には、基台２の高さ
は、高さの測定コラムの高さの５％と２０％の間とす
る。基台２の基礎２０は、作業表面に対する較正された
較正用フォーク体１０と突出体１３の方向も決定する。
準ゲージは作業表面である接地面と接触している。基台
２は、ゲージに安定性を与える。基台２は、重く、高さ
が基準寸法ｄに対して比較的大きな寸法である。基台２
の高さは、較正された較正用フォーク体１０または突出
体１３と作業表面との間の距離を決定するが、この距離
は測定コラムのアームがその垂直行程の端に移動しなく
ても較正された較正用フォーク体を測定できるように、
十分大きくなければならない。好適には、基台２の高さ
は、高さの測定コラムの高さの５％と２０％の間とす
る。基台２の基礎２０は、作業表面に対する較正された
較正用フォーク体１０と突出体１３の方向も決定する。
【００３０】キャップ３は、基台２にブロックゲージ１
を維持するが、較正された較正用フォーク体１０と突出
体１３の周囲にかなり大きな面を取り除き、較正の際に
測定ピンが容易にそこに接近できるようにする。キャッ
プ３は、二本のねじ５およびキャップ３とブロックゲー
ジ１の間に挿入されたバネ４によって基台２にねじ止め
され、ブロックゲージ１に対する一定の圧力を確保し、
それにより基準ゲージの一切の狂いを防止する。
を維持するが、較正された較正用フォーク体１０と突出
体１３の周囲にかなり大きな面を取り除き、較正の際に
測定ピンが容易にそこに接近できるようにする。キャッ
プ３は、二本のねじ５およびキャップ３とブロックゲー
ジ１の間に挿入されたバネ４によって基台２にねじ止め
され、ブロックゲージ１に対する一定の圧力を確保し、
それにより基準ゲージの一切の狂いを防止する。
【００３１】本発明による基準ゲージの推奨実施態様
は、重ねられた三つのブロックゲージ１を使用し、該ブ
ロックゲージの中央のものは他のものに対してずれてお
り、それにより較正された較正用フォーク体１０を形成
し、および突出した中央のブロックゲージ１の一部であ
る突出体１３を残すことを可能にする。また、この推奨
実施態様の図示されていない変型において、上下のブロ
ックゲージを、例えば、片方の表面だけが完全に平坦で
ある機械部品に交換することも可能である。これら部品
のそれぞれの完全に平坦な表面は、中央のブロックゲー
ジと接触し、それにより表面が完全に平坦な較正された
較正用フォーク体を形成する。これら部品の寸法は、し
かしながら、ブロックゲージの一部が該部品に対して突
き出たままになるようにしなければならない。さらに、
基台の上面、あるいはキャップの下面、あるいは両面を
最大精度で加工することも可能で、それによりこれらの
表面の一方あるいは両面が、較正された較正用フォーク
体の一つの側を限定する表面の役割を果たすようにす
る。
は、重ねられた三つのブロックゲージ１を使用し、該ブ
ロックゲージの中央のものは他のものに対してずれてお
り、それにより較正された較正用フォーク体１０を形成
し、および突出した中央のブロックゲージ１の一部であ
る突出体１３を残すことを可能にする。また、この推奨
実施態様の図示されていない変型において、上下のブロ
ックゲージを、例えば、片方の表面だけが完全に平坦で
ある機械部品に交換することも可能である。これら部品
のそれぞれの完全に平坦な表面は、中央のブロックゲー
ジと接触し、それにより表面が完全に平坦な較正された
較正用フォーク体を形成する。これら部品の寸法は、し
かしながら、ブロックゲージの一部が該部品に対して突
き出たままになるようにしなければならない。さらに、
基台の上面、あるいはキャップの下面、あるいは両面を
最大精度で加工することも可能で、それによりこれらの
表面の一方あるいは両面が、較正された較正用フォーク
体の一つの側を限定する表面の役割を果たすようにす
る。
【００３２】本発明の推奨実施態様による基準ゲージの
使用は、高さ測定コラムの較正によって例として上述の
ごとく説明された。当業者は、かかるゲージは二次元ま
たは三次元の一切の測定機の垂直軸に沿った較正にも使
用できることを、容易に理解できよう。
使用は、高さ測定コラムの較正によって例として上述の
ごとく説明された。当業者は、かかるゲージは二次元ま
たは三次元の一切の測定機の垂直軸に沿った較正にも使
用できることを、容易に理解できよう。
【００３３】本発明による基準ゲージの図示されていな
い第二の変型において、較正用フォーク体と突出体によ
って具体化された推奨実施態様における較正された基準
寸法は、水平面内に方向付けられ、それにより水平面内
に位置づけられた一切の軸に沿って一次、二次、または
三次元の測定機の較正が可能になる。
い第二の変型において、較正用フォーク体と突出体によ
って具体化された推奨実施態様における較正された基準
寸法は、水平面内に方向付けられ、それにより水平面内
に位置づけられた一切の軸に沿って一次、二次、または
三次元の測定機の較正が可能になる。
【００３４】第三の変型において、基準ゲージは較正さ
れた較正用フォーク体と突出体によって同時にそれぞれ
が表される較正寸法を少なくとも二つ有し、少なくとも
二つの較正された寸法のうち一つが垂直面内に向けら
れ、少なくとも二つの較正された寸法のもう一方が水平
面に向けられ、それにより同一の基準ゲージを用いて、
垂直軸および少なくとも一つの水平軸に沿って、二次元
または三次元の測定機の較正をすることが可能になる。
れた較正用フォーク体と突出体によって同時にそれぞれ
が表される較正寸法を少なくとも二つ有し、少なくとも
二つの較正された寸法のうち一つが垂直面内に向けら
れ、少なくとも二つの較正された寸法のもう一方が水平
面に向けられ、それにより同一の基準ゲージを用いて、
垂直軸および少なくとも一つの水平軸に沿って、二次元
または三次元の測定機の較正をすることが可能になる。
【００３５】本発明による基準ゲージの使用に結びつけ
られた測定機の較正方法は、二つの変型を有する。
られた測定機の較正方法は、二つの変型を有する。
【００３６】測定機の測定ピンの直径が、較正された寸
法ｄより大幅に小さい場合、較正された較正用フォーク
体を限定する二つの内面１１と内面１２は、測定機が較
正されなければならない軸に沿って測定ピンの両側に位
置づけられる。測定機のアームは、ついで、測定ピンが
第一の内面１１または内面１２と接触するまで、この軸
にそって移動され、それにより第一の測定点が決定され
る。測定機のアームは、つぎに、較正された較正用フォ
ーク体１０を限定する別の内面１２または内面１１と接
触するまで同じ軸にそって反対方向に移動され、それに
より第二の測定点が決定される。較正パラメータは、つ
ぎに、既知の較正された寸法ｄ、測定機のアームの移動
の測定、および正確にわかっている場合は測定ピンの直
径によって計算される。
法ｄより大幅に小さい場合、較正された較正用フォーク
体を限定する二つの内面１１と内面１２は、測定機が較
正されなければならない軸に沿って測定ピンの両側に位
置づけられる。測定機のアームは、ついで、測定ピンが
第一の内面１１または内面１２と接触するまで、この軸
にそって移動され、それにより第一の測定点が決定され
る。測定機のアームは、つぎに、較正された較正用フォ
ーク体１０を限定する別の内面１２または内面１１と接
触するまで同じ軸にそって反対方向に移動され、それに
より第二の測定点が決定される。較正パラメータは、つ
ぎに、既知の較正された寸法ｄ、測定機のアームの移動
の測定、および正確にわかっている場合は測定ピンの直
径によって計算される。
【００３７】測定機の測定ピンの直径が、較正された寸
法ｄにほぼ等しいか、それより大きい場合、突出体は厳
密に決定された位置で測定ピンの近傍に置かれ、その外
面１４または外面１５は、測定機が較正されなければな
らない軸に垂直な平面内で方向付けられる。つぎに、測
定機のアームは、測定ピンが第一の外面１４または外面
１５と接触するまで、この軸にそって移動され、それに
より第一の測定点が決定される。測定機のアームは、つ
ぎに、基準ゲージの後退を可能にするために反対方向に
わずかに移動され、ついで再度初期の方向に、ｄよりは
るかに大きな距離だけ移動される。ゲージは、正確にそ
の初期位置に置かれる。このとき測定機のアームは、突
出体１３を限定する別の外面１５または外面１４と接触
するまで同一軸に沿って反対方向に移動され、それによ
り第二の測定点が決定される。較正パラメータは、つぎ
に、既知の較正された寸法ｄ、二つの測定点の間で測定
された距離、および正確にわかっている場合は測定ピン
の直径によって計算される。
法ｄにほぼ等しいか、それより大きい場合、突出体は厳
密に決定された位置で測定ピンの近傍に置かれ、その外
面１４または外面１５は、測定機が較正されなければな
らない軸に垂直な平面内で方向付けられる。つぎに、測
定機のアームは、測定ピンが第一の外面１４または外面
１５と接触するまで、この軸にそって移動され、それに
より第一の測定点が決定される。測定機のアームは、つ
ぎに、基準ゲージの後退を可能にするために反対方向に
わずかに移動され、ついで再度初期の方向に、ｄよりは
るかに大きな距離だけ移動される。ゲージは、正確にそ
の初期位置に置かれる。このとき測定機のアームは、突
出体１３を限定する別の外面１５または外面１４と接触
するまで同一軸に沿って反対方向に移動され、それによ
り第二の測定点が決定される。較正パラメータは、つぎ
に、既知の較正された寸法ｄ、二つの測定点の間で測定
された距離、および正確にわかっている場合は測定ピン
の直径によって計算される。
【００３８】
【発明の効果】本発明によると、基準寸法は、測定され
た較正用フォーク体の内寸によっても、突出体の外寸に
よっても測定することができるので、同一の基準ゲージ
が、あらゆる直径の測定ピンを使用する測定機の較正に
使用できる。すなわち、測定機の測定ピンの直径を問わ
ず、現在のゲージよりも正確な較正を可能にする基準ゲ
ージを得ることができる。
た較正用フォーク体の内寸によっても、突出体の外寸に
よっても測定することができるので、同一の基準ゲージ
が、あらゆる直径の測定ピンを使用する測定機の較正に
使用できる。すなわち、測定機の測定ピンの直径を問わ
ず、現在のゲージよりも正確な較正を可能にする基準ゲ
ージを得ることができる。
【図１】本発明による基準ゲージの斜視図
【図２】図１に示した基準ゲージの縦断面図
１ ブロックゲージ
２ 基台
３ キャップ
４ バネ
５ ねじ
１０ 較正用フォーク体
１１ 内面
１２ 内面
１３ 突出体
１４ 外面
１５ 外面
２０ 基礎
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 アドリアノ ザニエ
スイス連邦，1008 プリリー，アヴニュ
デ ユタン ９
(72)発明者 シャルル−アッシュ． ズフレイ
スイス連邦，1976 エルド，ルート デゥ
セクス−リオン
Ｆターム(参考） 2F061 AA26 EE31 GG01 TT03 TT07
TT14 VV05
Claims (11)
- 【請求項１】 測定機の所与の座標内で較正するための
基準寸法を有する基準ゲージであって、基準寸法が、較
正された較正用フォーク体の内面の一方と他方の内面と
の間の距離の測定によって、あるいは突出体の外面の一
方と他方の外面との間の較正された距離の測定によって
測定可能であることを特徴とする、測定機の較正用の基
準ゲージ。 - 【請求項２】 前記基準寸法が、１５ミリメートル未満
であることを特徴とする、請求項１に記載の基準ゲー
ジ。 - 【請求項３】 前記基準寸法が、ブロックゲージによっ
て決定されることを特徴とする、請求項１に記載の基準
ゲージ。 - 【請求項４】 前記較正された較正用フォーク体と前記
突出体が、ブロックゲージによって形成されることを特
徴とする、請求項１に記載の基準ゲージ。 - 【請求項５】 前記較正された較正用フォーク体と前記
突出体が、三つのブロックゲージの重ね合わせによって
形成されることを特徴とする、請求項１に記載の基準ゲ
ージ。 - 【請求項６】 測定機の所与の座標内で較正するための
基準寸法を有する基準ゲージであって、基準寸法が、１
５ミリメートル未満であることを特徴とする、基準ゲー
ジ。 - 【請求項７】 平坦表面上で安定した位置を取ることを
可能にする基礎を備えた基台を有することを特徴とす
る、請求項１に記載の基準ゲージ。 - 【請求項８】 基準寸法が、前記基台の基礎に対して垂
直に向けられることを特徴とする、請求項７に記載の基
準ゲージ。 - 【請求項９】 基準寸法が、前記基台の基礎に対して水
平に向けられることを特徴とする、請求項７に記載の基
準ゲージ。 - 【請求項１０】 １５ミリメートル未満の基準寸法の測
定からなる、測定機の較正方法。 - 【請求項１１】 突出体の二つの外面の一方と他方の外
面との間の較正された寸法の測定からなる、測定機の較
正方法。
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|---|---|---|---|
| EP01811220A EP1320000B1 (fr) | 2001-12-12 | 2001-12-12 | Méthode de calibrage d'une machine à mesurer |
| EP01811220.1 | 2001-12-12 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003194501A true JP2003194501A (ja) | 2003-07-09 |
| JP4234411B2 JP4234411B2 (ja) | 2009-03-04 |
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|---|---|---|---|
| JP2002360076A Expired - Fee Related JP4234411B2 (ja) | 2001-12-12 | 2002-12-12 | 測定機の較正用の基準ゲージおよび測定機の較正方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2019190854A (ja) * | 2018-04-18 | 2019-10-31 | 株式会社ディスコ | ブロックゲージ用治具及び移動部材 |
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| US7036236B1 (en) * | 2005-04-07 | 2006-05-02 | United Technologies Corporation | Method for certifying and calibrating multi-axis positioning coordinate measuring machines |
| DE202005014635U1 (de) * | 2005-09-15 | 2007-02-01 | Jeromin, Johannes | Kalibrierlehre zur Kalibrierung eines Messschiebers |
| US7249421B2 (en) * | 2005-12-22 | 2007-07-31 | Hexagon Metrology Ab | Hysteresis compensation in a coordinate measurement machine |
| US7752003B2 (en) * | 2008-06-27 | 2010-07-06 | Hexagon Metrology, Inc. | Hysteresis compensation in a coordinate measurement machine |
| DE102009003503A1 (de) * | 2009-02-18 | 2010-08-19 | Vistec Semiconductor Systems Gmbh | Verfahren zur Kalibrierung eines Messtisches einer Koordinaten-Messmaschine |
| NL1041084B9 (nl) * | 2014-12-08 | 2017-06-19 | Iac Geometrische Ingenieurs B V | Een methode en apparaten voor het snel en nauwkeurig centreren en opspannen van zowel cilindrische als conische objecten zoals kalibers, glad of met schroefdraad, inwendig en uitwendig, voor het nauwkeurig meten van met name buitendiameters, kerndiameters en flankdiameters met behulp van een bekende 2 dimensionale scannende meetmachine. |
| US9952044B2 (en) * | 2015-02-02 | 2018-04-24 | Rolls-Royce North American Technologies, Inc. | Multi-axis calibration block |
| CN105698842B (zh) * | 2016-04-22 | 2017-10-31 | 浙江德福精密驱动制造有限公司 | 一种三销轴叉球道检测工装 |
| EP3620745B1 (en) * | 2018-09-06 | 2021-06-02 | TESA Sàrl | Portable measuring device with autoconfiguration |
| CN110487141A (zh) * | 2019-07-31 | 2019-11-22 | 重庆望江工业有限公司 | 测量两对称斜面交点至侧面距离的量规及方法 |
| RU2767709C1 (ru) * | 2021-06-09 | 2022-03-18 | Общество с ограниченной ответственностью "Инженерно-метрологический центр "Микро" (ООО "ИМЦ "Микро") | Компаратор для поверки плоскопараллельных концевых мер длины |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2636279A (en) * | 1943-07-01 | 1953-04-28 | Skf Svenska Kullagerfab Ab | Adjustable gauge block |
| GB595190A (en) * | 1943-07-01 | 1947-11-28 | Skf Svenska Kullagerfab Ab | Improvements in or relating to precision gauging sets |
| US2840916A (en) * | 1953-06-10 | 1958-07-01 | Hahn & Kolb Werkzeugmaschinen | Gauges and process for making the same |
| US2831256A (en) * | 1954-10-14 | 1958-04-22 | Otto P Werle | Multiple block distance gauge |
| US3162955A (en) * | 1961-04-04 | 1964-12-29 | Henry O Egli | Gage block assembly fastening devices |
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-
2001
- 2001-12-12 EP EP01811220A patent/EP1320000B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 2001-12-12 DE DE60128574T patent/DE60128574T2/de not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-12-09 US US10/314,832 patent/US7043846B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-12-11 CN CN02151590.5A patent/CN1217249C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2002-12-12 JP JP2002360076A patent/JP4234411B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-09-26 HK HK03106966A patent/HK1054797A1/xx not_active IP Right Cessation
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