JP2003190142A - 非アキシャル断層画像作成方法およびｘ線断層撮影装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】非アキシャル断層画像を高速に且つ大きな記憶
容量を必要としないで作成する。 【解決手段】逆投影処理過程の資源の一部を前処理過程
に配分する。断層位置が異なる複数のアキシャル断層面
で順に被検体をＸ線走査して取得したデータＡ１，Ａ
２，Ａ３，Ａ４に対して順に前処理を行う。各アキシャ
ル断層面のデータＡ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４の前処理が終
わる毎に、アキシャル断層面と非アキシャル断層面の交
差ラインａ，ｂ，ｃ，ｄの逆投影処理したデータを順に
算出する。最後に交差ラインａ，ｂ，ｃ，ｄのデータを
基にライン間a-b，b-c，c-dを補間処理により算出し、
非アキシャル断層画像を作成する。 【効果】非アキシャル断層画像を高速に且つ大きな記憶
容量を必要としないで作成できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、非アキシャル（ax
ial）断層画像作成方法およびＸ線断層撮影装置に関
し、さらに詳しくは、複数のアキシャル断層面と交わる
平面の画像である非アキシャル断層画像を高速に且つ大
きな記憶容量を必要としないで作成することが出来る非
アキシャル断層画像作成方法およびＸ線断層撮影装置に
関する。

【０００２】

【従来の技術】図９は、従来のＸ線断層撮影装置におけ
る非アキシャル断層画像作成方法を示すタイムチャート
である。「アキシャル断層面データに対する前処理」を
行う資源（前処理用プロセッサなど）は、断層位置が異
なる複数のアキシャル断層面で順に被検体をＸ線走査し
て取得したデータＡ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４に対して、順
に前処理（検出器感度補正など）を行う。「アキシャル
断層面データに対する逆投影処理」を行う資源（逆投影
処理用プロセッサなど）は、順に前処理した各アキシャ
ル断層面のデータＡ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４に対して、順
に逆投影処理（Filterd Back Projection）を行う。
「アキシャル断層面データに対する後処理」を行う資源
（後処理用プロセッサなど）は、順に逆投影処理した各
アキシャル断層面のデータＡ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４に対
して、順に後処理（補間処理など）を行う。以上によ
り、図１０に示すような断層位置が異なる複数のアキシ
ャル断層画像Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４が作成される。

【０００３】ここで、図１１に示すように、所望の非ア
キシャル断層面Ｍ１が各アキシャル断層面Ａ１，Ａ２，
Ａ３，Ａ４と交差するラインをａ，ｂ，ｃ，ｄとする。
図９に戻り、「非アキシャル断層画像のための後処理」
を行う資源（並行処理しないため、逆投影処理用プロセ
ッサなどを利用できる）は、各アキシャル断層画像Ａ
１，Ａ２，Ａ３，Ａ４からラインａ，ｂ，ｃ，ｄの画像
データを読み出す（必要なら補間処理により算出する）
と共に、ライン間a-b，b-c，c-dを補間処理により算出
し、図１２に示す如き非アキシャル断層画像Ｍ１を作成
する。

【０００４】一つのアキシャル断層面についての「アキ
シャル断層面データに対する前処理」の所要時間をＴpr
eとし、「アキシャル断層面データに対する逆投影処
理」の所要時間をＴfbpとし、「アキシャル断層面デー
タに対する後処理」の所要時間をＴpostとし、一つの非
アキシャル断層面についての「非アキシャル断層画像の
ための後処理」の所要時間をτpostとするとき、「アキ
シャル断層面データに対する前処理」の開始から最初の
非アキシャル断層画像Ｍ１が得られるまでの時間Ｔm1
は、 Ｔm1＝４・Ｔpre＋Ｔfbp＋Ｔpost＋τpost …（１） となる。

【０００５】なお、全てのアキシャル断層画像を記憶し
ているため、別の非アキシャル断層面を指定すれば、直
ちに別の非アキシャル断層画像を作成できる。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】上記従来のＸ線断層撮
影装置では、次の問題点がある。 (１)アキシャル断層画像Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４を全て
作成した後から非アキシャル断層画像Ｍ１を作成するた
め、非アキシャル断層画像Ｍ１が得られるまでの時間Ｔ
m1が長くかかる。 (２)非アキシャル断層画像Ｍ１だけを得たい場合でも、
全てのアキシャル断層画像Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４（説
明の都合上、４枚のアキシャル断層画像Ａ１，Ａ２，Ａ
３，Ａ４としているが、実際には数１０以上である）を
記憶しておく必要があり、大きな記憶容量が必要とな
る。 そこで、本発明の目的は、非アキシャル断層画像を高速
に且つ大きな記憶容量を必要としないで作成することが
出来る非アキシャル断層画像作成方法およびＸ線断層撮
影装置を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】第１の観点では、本発明
は、被検体を異なる断層位置でＸ線走査して順に取得し
た各アキシャル断層面のデータに対して順に前処理を行
う前処理過程と、各アキシャル断層面のデータを前処理
する毎に各アキシャル断層面に所望の非アキシャル断層
面が交差するライン上の逆投影処理したデータを算出す
る逆投影処理過程と、所望の非アキシャル断層面が各ア
キシャル断層面と交差するライン上の逆投影処理したデ
ータに対して後処理を行う後処理過程とを行うことを特
徴とする非アキシャル断層画像作成方法を提供する。上
記第１の観点による非アキシャル断層画像作成方法で
は、アキシャル断層面全体についての逆投影処理したデ
ータを算出するのではなく、アキシャル断層面に所望の
非アキシャル断層面が交差するライン上の逆投影処理し
たデータのみを算出する。従って、逆投影処理の時間が
短縮される。また、アキシャル断層面についての後処理
をしないため、この所要時間が必要なくなる。従って、
従来より高速に最初の非アキシャル断層画像を作成でき
る。また、全てのアキシャル断層画像を記憶しておく必
要がないため、大きな記憶容量を必要としなくなる。

【０００８】第２の観点では、本発明は、上記構成の非
アキシャル断層画像作成方法において、前処理過程と逆
投影処理過程とを並行して行うことを特徴とする非アキ
シャル断層画像作成方法を提供する。上記第２の観点に
よる非アキシャル断層画像作成方法では、前処理過程と
逆投影処理過程とを並行して行うことで処理時間を短縮
できる。

【０００９】第３の観点では、本発明は、上記構成の非
アキシャル断層画像作成方法において、逆投影処理過程
のための資源の一部を前処理過程に配分することを特徴
とする非アキシャル断層画像作成方法を提供する。上記
第３の観点による非アキシャル断層画像作成方法では、
逆投影処理過程の負荷が小さくなった分の資源を前処理
過程に配分することで前処理過程の所要時間を短縮でき
るため、さらに処理時間を短縮できる。

【００１０】第４の観点では、本発明は、上記構成の非
アキシャル断層画像作成方法において、全てのアキシャ
ル断層面のデータに対する前処理過程を終わった後、逆
投影処理過程を行うことを特徴とする非アキシャル断層
画像作成方法を提供する。上記第４の観点による非アキ
シャル断層画像作成方法では、前処理過程と逆投影処理
過程とを並行処理しないため、逆投影処理の資源のほと
んどを前処理過程に配分することで前処理過程の所要時
間をさらに短縮できるため、全体としての処理時間を短
縮できる。

【００１１】第５の観点では、本発明は、被検体を異な
る断層位置でＸ線走査して順に取得した各アキシャル断
層面のデータに対して順に前処理を行う前処理過程と、
各アキシャル断層面内の所定間隔を空けた複数のライン
上の逆投影処理したデータを各アキシャル断層面のデー
タを前処理する毎に算出する逆投影処理過程と、各アキ
シャル断層面内の所定間隔を空けた複数のライン上の逆
投影処理したデータを基に所望の非アキシャル断層面が
各アキシャル断層面と交差するライン上の逆投影処理し
たデータを算出する補間処理過程と、所望の非アキシャ
ル断層面が各アキシャル断層面と交差するライン上の逆
投影処理したデータに対して後処理を行う後処理過程と
を行うことを特徴とする非アキシャル断層画像作成方法
を提供する。上記第５の観点による非アキシャル断層画
像作成方法では、アキシャル断層面全体についての逆投
影処理したデータを算出するのではなく、アキシャル断
層面内の所定間隔を空けた複数のライン上の逆投影処理
したデータのみを算出する。従って、逆投影処理の時間
が短縮される。また、アキシャル断層面についての後処
理をしないため、この所要時間が必要なくなる。従っ
て、従来より高速に最初の非アキシャル断層画像を作成
できる。また、全てのアキシャル断層画像を記憶してお
く必要がないため、大きな記憶容量を必要としなくな
る。なお、各アキシャル断層画像内の所定間隔を空けた
複数のライン上の逆投影処理したデータを記憶している
ため、別の非アキシャル断層面を指定すれば、直ちに別
の非アキシャル断層画像を作成できる。

【００１２】第６の観点では、本発明は、被検体を異な
る断層位置でＸ線走査して順に取得した各アキシャル断
層面のデータに対して順に前処理を行う前処理手段と、
各アキシャル断層面のデータを前処理する毎に各アキシ
ャル断層面に所望の非アキシャル断層面が交差するライ
ン上の逆投影処理したデータを算出する逆投影処理手段
と、所望の非アキシャル断層面が各アキシャル断層面と
交差するライン上の逆投影処理したデータに対して後処
理を行う後処理手段とを行うことを特徴とするＸ線断層
撮影装置を提供する。上記第６の観点によるＸ線断層撮
影装置では、上記第１の観点による非アキシャル断層画
像作成方法を好適に実施できる。

【００１３】第７の観点では、本発明は、上記構成のＸ
線断層撮影装置において、前処理手段と逆投影処理手段
とが並行動作することを特徴とするＸ線断層撮影装置を
提供する。上記第７の観点によるＸ線断層撮影装置で
は、上記第２の観点による非アキシャル断層画像作成方
法を好適に実施できる。

【００１４】第８の観点では、本発明は、上記構成のＸ
線断層撮影装置において、逆投影処理手段の資源の一部
を前処理手段として配分することを特徴とするＸ線断層
撮影装置を提供する。上記第８の観点によるＸ線断層撮
影装置では、上記第３の観点による非アキシャル断層画
像作成方法を好適に実施できる。

【００１５】第９の観点では、本発明は、上記構成のＸ
線断層撮影装置において、全てのアキシャル断層面のデ
ータに対する前処理を終わった後、逆投影処理を行うこ
とを特徴とするＸ線断層撮影装置を提供する。上記第９
の観点によるＸ線断層撮影装置では、上記第４の観点に
よる非アキシャル断層画像作成方法を好適に実施でき
る。

【００１６】第１０の観点では、本発明は、被検体を異
なる断層位置でＸ線走査して順に取得した各アキシャル
断層面のデータに対して順に前処理を行う前処理手段
と、各アキシャル断層面内の所定間隔を空けた複数のラ
イン上の逆投影処理したデータを各アキシャル断層面の
データを前処理する毎に算出する逆投影処理手段と、各
アキシャル断層面内の所定間隔を空けた複数のライン上
の逆投影処理したデータを基に所望の非アキシャル断層
面が各アキシャル断層面と交差するライン上の逆投影処
理したデータを算出する補間処理手段と、所望の非アキ
シャル断層面が各アキシャル断層面と交差するライン上
の逆投影処理したデータに対して後処理を行う後処理手
段とを行うことを特徴とするＸ線断層撮影装置を提供す
る。上記第１０の観点によるＸ線断層撮影装置では、上
記第５の観点による非アキシャル断層画像作成方法を好
適に実施できる。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下、図に示す本発明の実施形態
により本発明をさらに詳細に説明する。なお、これによ
り本発明が限定されるものではない。

【００１８】−第１の実施形態− 図１は、本発明の第１の実施形態にかかるＸ線断層撮影
装置を示す構成図である。このＸ線断層撮影装置１００
は、スキャナ装置１と，処理装置２と，大容量記憶装置
３と，表示モニタ４と，入力装置５とを具備して構成さ
れている。

【００１９】前記スキャナ装置１は、被検体に対してＸ
線管および検出器を被検体の体軸にに沿って相対移動
し、所望の断層位置で止め、体軸の周りにＸ線管および
検出器を回転させてアキシャル断層画像の作成に必要な
全ビューのデータを収集する。なお、Ｘ線管のみ回転さ
せ、検出器を回転させない場合もある。

【００２０】前記処理装置２は、データ取得部２ａと，
前処理部２ｂと，逆投影処理部２ｃと，後処理部２ｄ
と、画像表示部２ｅとを具備している。

【００２１】いま、図２に示すように、アキシャル断層
面をＡ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４とし、所望の非アキシャル
断層面をＭ１とし、断層面が交差するラインをａ，ｂ，
ｃ，ｄとする。

【００２２】図３は、第１の実施形態にかかる非アキシ
ャル断層画像作成方法を示すタイムチャートである。
「アキシャル断層面データに対する前処理」を行う資源
（前処理用プロセッサなど）は、断層位置が異なる複数
のアキシャル断層面で順に被検体をＸ線走査して取得し
たデータＡ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４に対して、順に前処理
（検出器感度補正など）を行う。「アキシャル断層面と
非アキシャル断層面の交差ラインデータのための逆投影
処理」を行う資源（逆投影処理用プロセッサなど）は、
各アキシャル断層面のデータＡ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４の
前処理が終わる毎に、交差ラインａ，ｂ，ｃ，ｄの逆投
影処理したデータを順に算出する。「非アキシャル断層
画像のための後処理」を行う資源（並行処理しないた
め、逆投影処理用プロセッサなどを利用できる）は、交
差ラインａ，ｂ，ｃ，ｄのデータを基にライン間a-b，b
-c，c-dを補間処理により算出する。これにより、図１
２に示す如き非アキシャル断層画像Ｍ１を作成できる。

【００２３】一つのアキシャル断層面についての「アキ
シャル断層面データに対する前処理」の所要時間をＴpr
eとし、「アキシャル断層面と非アキシャル断層面の交
差ラインデータのための逆投影処理」の所要時間をＴfb
p_1とし、一つの非アキシャル断層面についての「非ア
キシャル断層画像のための後処理」の所要時間をτpost
とするとき、「アキシャル断層面データに対する前処
理」の開始から最初の非アキシャル断層画像Ｍ１が得ら
れるまでの時間Ｔm1は、 Ｔm1＝４・Ｔpre＋τfbp_1＋τpost …（２） となる。上記（２）式の時間Ｔm1と先述した（１）式の
時間Ｔm1とを比較すれば、本発明により処理時間が短縮
されることが判る。

【００２４】また、全てのアキシャル断層画像Ａ１，Ａ
２，Ａ３，Ａ４を記憶しておく必要がないため、大きな
記憶容量を必要としなくなる。

【００２５】−第２の実施形態− 第２の実施形態は、基本的に第１の実施形態と同じであ
るが、逆投影処理過程の負荷が小さくなった分の資源を
前処理過程に配分することで前処理過程の所要時間を短
縮する。

【００２６】図４は、第２の実施形態にかかる非アキシ
ャル断層画像作成方法を示すタイムチャートである。
「アキシャル断層面データに対する前処理」を行う資源
（前処理用プロセッサなど）および新たに配分された資
源（逆投影処理用プロセッサなど）は、断層位置が異な
る複数のアキシャル断層面で順に被検体をＸ線走査して
取得したデータＡ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４に対して、順に
前処理を行う。「アキシャル断層面と非アキシャル断層
面の交差ラインデータのための逆投影処理」を行う資源
（逆投影処理用プロセッサなど）は、各アキシャル断層
面のデータＡ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４の前処理が終わる毎
に、交差ラインａ，ｂ，ｃ，ｄの逆投影処理したデータ
を順に算出する。「非アキシャル断層画像のための後処
理」を行う資源（並行処理しないため、逆投影処理用プ
ロセッサなどを利用できる）は、交差ラインａ，ｂ，
ｃ，ｄのデータを基にライン間a-b，b-c，c-dを補間処
理により算出する。これにより、図１２に示す如き非ア
キシャル断層画像Ｍ１を作成できる。

【００２７】一つのアキシャル断層面についての「アキ
シャル断層面データに対する前処理」の所要時間をＴpr
e_2とし、「アキシャル断層面と非アキシャル断層面の
交差ラインデータのための逆投影処理」の所要時間をＴ
fbp_2とし、一つの非アキシャル断層面についての「非
アキシャル断層画像のための後処理」の所要時間をτpo
stとするとき、「アキシャル断層面データに対する前処
理」の開始から最初の非アキシャル断層画像Ｍ１が得ら
れるまでの時間Ｔm1は、 Ｔm1＝４・Ｔpre_2＋τfbp_2＋τpost …（３） となる。上記（２）式の時間Ｔm1と先述した（１）式の
時間Ｔm1とを比較すれば、本発明により処理時間が短縮
されることが判る。

【００２８】また、全てのアキシャル断層画像Ａ１，Ａ
２，Ａ３，Ａ４を記憶しておく必要がないため、大きな
記憶容量を必要としなくなる。

【００２９】−第３の実施形態− 第３の実施形態は、前処理過程と逆投影処理過程を並行
処理しないことで、両方の資源で前処理過程と逆投影処
理過程とを行い、所要時間を短縮する。

【００３０】図５は、第３の実施形態にかかる非アキシ
ャル断層画像作成方法を示すタイムチャートである。
「アキシャル断層面データに対する前処理」を行う資源
（前処理用プロセッサなど）および新たに配分された資
源（逆投影処理用プロセッサなど）は、断層位置が異な
る複数のアキシャル断層面で順に被検体をＸ線走査して
取得したデータＡ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４に対して、順に
前処理を行う。「アキシャル断層面と非アキシャル断層
面の交差ラインデータのための逆投影処理」を行う資源
（逆投影処理用プロセッサなど）および新たに配分され
た資源（前処理用プロセッサなど）は、全てのアキシャ
ル断層面のデータＡ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４の前処理が終
わった後、交差ラインａ，ｂ，ｃ，ｄの逆投影処理した
データを算出する。「非アキシャル断層画像のための後
処理」を行う資源（並行処理しないため、逆投影処理用
プロセッサなどを利用できる）は、交差ラインａ，ｂ，
ｃ，ｄのデータを基にライン間a-b，b-c，c-dを補間処
理により算出する。これにより、図１２に示す如き非ア
キシャル断層画像Ｍ１を作成できる。

【００３１】一つのアキシャル断層面についての「アキ
シャル断層面データに対する前処理」の所要時間をＴpr
e_3とし、「アキシャル断層面と非アキシャル断層面の
交差ラインデータのための逆投影処理」の所要時間をＴ
fbp_3とし、一つの非アキシャル断層面についての「非
アキシャル断層画像のための後処理」の所要時間をτpo
stとするとき、「アキシャル断層面データに対する前処
理」の開始から最初の非アキシャル断層画像Ｍ１が得ら
れるまでの時間Ｔm1は、 Ｔm1＝４・Ｔpre_３＋τfbp_3＋τpost …（３） となる。上記（２）式の時間Ｔm1と先述した（１）式の
時間Ｔm1とを比較すれば、本発明により処理時間が短縮
されることが判る。

【００３２】また、全てのアキシャル断層画像Ａ１，Ａ
２，Ａ３，Ａ４を記憶しておく必要がないため、大きな
記憶容量を必要としなくなる。

【００３３】−第４の実施形態− 第４の実施形態は、アキシャル断層面内の所定間隔を空
けた複数のライン上の逆投影処理したデータのみを算出
し、これを基に非アキシャル断層画像を作成する。

【００３４】いま、図６に示すように、アキシャル断層
面をＡ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４とし、アキシャル断層面Ａ
１内の所定間隔を空けた複数のラインをｌ1i（i=1,2,
…）とし、アキシャル断層面Ａ２内の所定間隔を空けた
複数のラインをｌ2i（i=1,2,…）とし、アキシャル断層
面Ａ３内の所定間隔を空けた複数のラインをｌ3i（i=1,
2,…）とし、アキシャル断層面Ａ４内の所定間隔を空け
た複数のラインをｌ4i（i=1,2,…）とする。また、図７
に示すように、所望の非アキシャル断層面をＭ１とし、
断層面が交差するラインをａ，ｂ，ｃ，ｄとする。

【００３５】図８は、第４の実施形態にかかる非アキシ
ャル断層画像作成方法を示すタイムチャートである。
「アキシャル断層面データに対する前処理」を行う資源
（前処理用プロセッサなど）は、断層位置が異なる複数
のアキシャル断層面で順に被検体をＸ線走査して取得し
たデータＡ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４に対して、順に前処理
（検出器感度補正など）を行う。「アキシャル断層面内
の所定間隔のラインデータのための逆投影処理」を行う
資源（逆投影処理用プロセッサなど）は、各アキシャル
断層面のデータＡ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４の前処理が終わ
る毎に、ラインｌ1i，ｌ2i，ｌ3i，ｌ4iの逆投影処理し
たデータを順に算出する。「非アキシャル断層画像のた
めの後処理」を行う資源（並行処理しないため、逆投影
処理用プロセッサなどを利用できる）は、ラインｌ1iの
データを基に補間処理により交差ラインａのデータを算
出し、ラインｌ2iのデータを基に補間処理により交差ラ
インｂのデータを算出し、ラインｌ3iのデータを基に補
間処理により交差ラインｃのデータを算出し、ラインｌ
4iのデータを基に補間処理により交差ラインｄのデータ
を算出する。そして、交差ラインａ，ｂ，ｃ，ｄのデー
タを基にライン間a-b，b-c，c-dを補間処理により算出
する。これにより、図１２に示す如き非アキシャル断層
画像Ｍ１を作成できる。

【００３６】一つのアキシャル断層面についての「アキ
シャル断層面データに対する前処理」の所要時間をＴpr
eとし、「アキシャル断層面内の所定間隔のラインデー
タのための逆投影処理」の所要時間をＴfbp_4とし、一
つの非アキシャル断層面についての「非アキシャル断層
画像のための後処理」の所要時間をτpostとするとき、
「アキシャル断層面データに対する前処理」の開始から
最初の非アキシャル断層画像Ｍ１が得られるまでの時間
Ｔm1は、 Ｔm1＝４・Ｔpre＋τfbp_4＋τpost …（４） となる。上記（４）式の時間Ｔm1と先述した（１）式の
時間Ｔm1とを比較すれば、本発明により処理時間が短縮
されることが判る。

【００３７】また、全てのアキシャル断層画像Ａ１，Ａ
２，Ａ３，Ａ４を記憶しておく必要がないため、大きな
記憶容量を必要としなくなる。ただし、各アキシャル断
層画像内のラインｌ1i，ｌ2i，…のデータを記憶してい
るため、別の非アキシャル断層面を指定すれば、直ちに
別の非アキシャル断層画像を作成できる。

【００３８】

【発明の効果】本発明の非アキシャル断層画像作成方法
およびＸ線断層撮影装置によれば、複数のアキシャル断
層面と交わる平面の画像である非アキシャル断層画像を
高速に且つ大きな記憶容量を必要としないで作成するこ
とが出来る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施形態にかかるＸ線断層撮影
装置の構成図である。

【図２】アキシャル断層面と非アキシャル断層面の交差
ラインの説明図である。

【図３】第１の実施形態にかかる非アキシャル断層画像
作成方法を示すタイムチャートである。

【図４】第２の実施形態にかかる非アキシャル断層画像
作成方法を示すタイムチャートである。

【図５】第３の実施形態にかかる非アキシャル断層画像
作成方法を示すタイムチャートである。

【図６】アキシャル断層面内の所定間隔を空けた複数の
ラインを示す説明図である。

【図７】アキシャル断層面と非アキシャル断層面の交差
ラインの説明図である。

【図８】第４の実施形態にかかる非アキシャル断層画像
作成方法を示すタイムチャートである。

【図９】従来の非アキシャル断層画像作成方法を示すタ
イムチャートである。

【図１０】複数のアキシャル断層画像の説明図である。

【図１１】アキシャル断層面と非アキシャル断層面の交
差ラインの説明図である。

【図１２】非アキシャル断層画像の説明図である。

【符号の説明】

１００ Ｘ線断層撮影装置 １ スキャナ装置 ２ 処理装置 ２ａ データ取得部 ２ｂ 前処理部 ２ｃ 逆投影処理部 ２ｄ 後処理部 ２ｅ 画像表示部 ３ 大容量記憶装置 ４ 表示モニタ ５ 入力装置

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 瀬川 晃司 東京都日野市旭ケ丘４丁目７番地の127 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 内 (72)発明者 萩原 明 東京都日野市旭ケ丘４丁目７番地の127 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 内 Ｆターム(参考） 4C093 AA22 BA03 CA28 CA32 FE12 FE14 FE22 FE24

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被検体を異なる断層位置でＸ線走査して
   順に取得した各アキシャル断層面のデータに対して順に
   前処理を行う前処理過程と、各アキシャル断層面のデー
   タを前処理する毎に各アキシャル断層面に所望の非アキ
   シャル断層面が交差するライン上の逆投影処理したデー
   タを算出する逆投影処理過程と、所望の非アキシャル断
   層面が各アキシャル断層面と交差するライン上の逆投影
   処理したデータに対して後処理を行う後処理過程とを行
   うことを特徴とする非アキシャル断層画像作成方法。
2. 【請求項２】 請求項１に記載の非アキシャル断層画像
   作成方法において、前処理過程と逆投影処理過程とを並
   行して行うことを特徴とする非アキシャル断層画像作成
   方法。
3. 【請求項３】 請求項２に記載の非アキシャル断層画像
   作成方法において、逆投影処理過程のための資源の一部
   を前処理過程に配分することを特徴とする非アキシャル
   断層画像作成方法。
4. 【請求項４】 請求項１に記載の非アキシャル断層画像
   作成方法において、全てのアキシャル断層面のデータに
   対する前処理過程を終わった後、逆投影処理過程を行う
   ことを特徴とする非アキシャル断層画像作成方法。
5. 【請求項５】 被検体を異なる断層位置でＸ線走査して
   順に取得した各アキシャル断層面のデータに対して順に
   前処理を行う前処理過程と、各アキシャル断層面内の所
   定間隔を空けた複数のライン上の逆投影処理したデータ
   を各アキシャル断層面のデータを前処理する毎に算出す
   る逆投影処理過程と、各アキシャル断層面内の所定間隔
   を空けた複数のライン上の逆投影処理したデータを基に
   所望の非アキシャル断層面が各アキシャル断層面と交差
   するライン上の逆投影処理したデータを算出する補間処
   理過程と、所望の非アキシャル断層面が各アキシャル断
   層面と交差するライン上の逆投影処理したデータに対し
   て後処理を行う後処理過程とを行うことを特徴とする非
   アキシャル断層画像作成方法。
6. 【請求項６】 被検体を異なる断層位置でＸ線走査して
   順に取得した各アキシャル断層面のデータに対して順に
   前処理を行う前処理手段と、所望の非アキシャル断層面
   が各アキシャル断層面と交差するライン上の逆投影処理
   したデータを各アキシャル断層面のデータを前処理する
   毎に算出する逆投影処理手段と、所望の非アキシャル断
   層面が各アキシャル断層面と交差するライン上の逆投影
   処理したデータに対して後処理を行う後処理手段とを行
   うことを特徴とするＸ線断層撮影装置。
7. 【請求項７】 請求項６に記載のＸ線断層撮影装置にお
   いて、前処理手段と逆投影処理手段とが並行動作するこ
   とを特徴とするＸ線断層撮影装置。
8. 【請求項８】 請求項７に記載のＸ線断層撮影装置にお
   いて、逆投影処理手段の資源の一部を前処理手段として
   配分することを特徴とするＸ線断層撮影装置。
9. 【請求項９】 請求項６に記載のＸ線断層撮影装置にお
   いて、全てのアキシャル断層面のデータに対する前処理
   を終わった後、逆投影処理を行うことを特徴とするＸ線
   断層撮影装置。
10. 【請求項１０】 被検体を異なる断層位置でＸ線走査し
    て順に取得した各アキシャル断層面のデータに対して順
    に前処理を行う前処理手段と、各アキシャル断層面のデ
    ータを前処理する毎に各アキシャル断層面に所望の非ア
    キシャル断層面が交差するライン上の逆投影処理したデ
    ータを算出する逆投影処理手段と、各アキシャル断層面
    内の所定間隔を空けた複数のライン上の逆投影処理した
    データを基に所望の非アキシャル断層面が各アキシャル
    断層面と交差するライン上の逆投影処理したデータを算
    出する補間処理手段と、所望の非アキシャル断層面が各
    アキシャル断層面と交差するライン上の逆投影処理した
    データに対して後処理を行う後処理手段とを行うことを
    特徴とするＸ線断層撮影装置。