JP2003188452A - 光源装置及び光ピックアップ - Google Patents

光源装置及び光ピックアップ

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JP2003188452A JP2001380902A JP2001380902A JP2003188452A JP 2003188452 A JP2003188452 A JP 2003188452A JP 2001380902 A JP2001380902 A JP 2001380902A JP 2001380902 A JP2001380902 A JP 2001380902A JP 2003188452 A JP2003188452 A JP 2003188452A
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beam shaping
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elliptical
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Yuichiro Otoshi
祐一郎 大利
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Minolta Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 環境温度変化に伴う非点隔差の発生を抑えな
がら略円形発散ビームを射出できる製造容易な光源装
置、小型の光ピックアップを提供する。 【解決手段】 楕円発散ビームを射出する半導体レーザ
(P)と、楕円発散ビームを略円形発散ビームに変換する
単一・有限系のビーム整形素子(L)とを備え、ビーム整
形素子(L)がシリンダー面から成る第1面(S1)とアナモ
フィック面から成る第2面(S2)とを有する。楕円短軸方
向をX方向、楕円長軸方向をY方向、θX,θYを半導体
レーザ(P)からの楕円発散ビームのX,Y方向への広が
り角度、θX',θY'をビーム整形素子(L)からの略円形発
散ビームのX,Y方向への広がり角度、nをビーム整形
素子(L)の設計波長における屈折率としたとき、条件
式:θX<θX'<nθX,θY>θY'>(1/n)θYを満た
す。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は光源装置及び光ピッ
クアップに関するものであり、更に詳しくは、発光強度
分布が略円形状の発散ビームを射出する光源装置と、そ
れを用いた光ピックアップ(特に高密度光記録再生ピッ
クアップ)に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般的な光ピックアップには、光源とし
てLD(laser diode)等の半導体レーザが用いられる。
半導体レーザから射出される発散ビームは断面形状が楕
円形(つまり発光強度分布が楕円状)であるため、高い光
利用効率が要求される光記録再生装置においては、半導
体レーザからの楕円ビームを円形ビームに変換する必要
がある。ビーム断面形状を楕円形から円形に整形するビ
ーム整形素子としては、アナモフィックプリズムが実用
化されている。しかし、アナモフィックプリズムは平行
光束中で使用される必要があり、調整が困難であるとと
もに小型化にも限界がある。一方、発散ビームの断面形
状を楕円形から円形に整形する有限系タイプのビーム整
形素子として、アナモフィックレンズや回折光学素子を
用いたものが知られている。このようなビーム整形素子
は、半導体レーザ近傍への配置が可能であるため、集積
化・小型化に効果がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記アナモフ
ィックレンズ等で構成されたビーム整形素子には、半導
体レーザとビーム整形素子との光軸方向の位置決めに高
い精度が要求される。特に、次世代の青色半導体レーザ
を用いた高密度光記録再生装置用のビーム整形素子にお
いては、許容される波面収差の絶対量が短波長化のため
により一層厳しくなる。したがって、これまで以上に高
い光軸方向の位置決め精度が要求される。その高精度な
位置決めを達成することができたとしても、環境温度変
化に伴う非点隔差の発生を抑えることは困難である。環
境変化に対する安定化をねらったものとして、特開平6
−294940号公報で提案されている光源装置が挙げ
られる。しかしその光源装置では、ビーム整形素子と半
導体レーザとの間隔が極端に小さいため(数10μm程
度)製造が困難である。
【0004】本発明はこのような状況に鑑みてなされた
ものであって、その目的は、環境温度の変化に伴う非点
隔差の発生を抑えながら略円形発散ビームを射出するこ
とのできる製造容易な光源装置と、それを用いた小型の
光ピックアップを提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、第1の発明の光源装置は、発光強度分布が楕円状の
楕円発散ビームを射出する半導体レーザと、その半導体
レーザからの楕円発散ビームを発光強度分布が略円形状
の略円形発散ビームに変換する単一で有限系のビーム整
形素子と、を備えた光源装置であって、前記ビーム整形
素子が前記半導体レーザ側から順に、シリンダー面から
成る第1面とアナモフィック面から成る第2面とを有
し、楕円発散ビームの楕円短軸に対して平行な方向をX
方向とし、楕円発散ビームの楕円長軸に対して平行な方
向をY方向としたとき、以下の条件式(1)及び(2)を満足
することを特徴とする。 θX<θX'<nθX …(1) θY>θY'>(1/n)θY …(2) ただし、 θX:半導体レーザからの楕円発散ビームのX方向への
広がり角度、 θY:半導体レーザからの楕円発散ビームのY方向への
広がり角度、 θX':ビーム整形素子からの略円形発散ビームのX方向
への広がり角度、 θY':ビーム整形素子からの略円形発散ビームのY方向
への広がり角度、 n:ビーム整形素子の設計波長における屈折率、 である。
【0006】第2の発明の光源装置は、発光強度分布が
楕円状の楕円発散ビームを射出する半導体レーザと、そ
の半導体レーザからの楕円発散ビームを発光強度分布が
略円形状の略円形発散ビームに変換する単一で有限系の
ビーム整形素子と、を備えた光源装置であって、前記ビ
ーム整形素子が前記半導体レーザ側から順に、シリンダ
ー面から成る第1面とアナモフィック面から成る第2面
とを有し、以下の条件式(3),(4)及び(5)を満足すること
を特徴とする。 n>1.6 …(3) 1.1n<M<1.5n …(4) s/t≒(n−M/n)/(M−1) …(5) ただし、 n:ビーム整形素子の設計波長における屈折率、 M:ビーム整形素子の整形倍率、 s:半導体レーザの発光点からビーム整形素子の第1面
までの距離、 t:ビーム整形素子の芯厚、 である。
【0007】第3の発明の光源装置は、上記第1又は第
2の発明の構成において、前記ビーム整形素子により整
形された略円形発散ビームが球面波となっていることを
特徴とする。
【0008】第4の発明の光ピックアップは、上記第1
〜第3のいずれか1つの発明に係る光源装置を有するこ
とを特徴とする。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明を実施した光源装置
及び光ピックアップを、図面を参照しつつ説明する。な
お、各図中のX,Y,Zは互いに直交する方向を示して
おり、光軸(AX)に対して平行な方向をZ方向とし、楕円
発散ビームの楕円短軸に対して平行な方向をX方向と
し、楕円発散ビームの楕円長軸に対して平行な方向をY
方向としている。
【0010】《光源装置の実施の形態》図1に、光源装
置の実施の形態を示す。図1において、(A)はXZ断面
を示しており、(B)はYZ断面を示している。この光源
装置は、発光強度分布が楕円状の楕円発散ビームを射出
する半導体レーザ(P)と、その半導体レーザ(P)からの楕
円発散ビームを発光強度分布が略円形状の略円形発散ビ
ームに変換する単一で有限系のビーム整形素子(L)と、
それらを一体的に保持する保持部材(H)と、を備えてい
る。ビーム整形素子(L)はコリメート機能を持たない有
限系タイプの単レンズから成っているため、保持部材
(H)を介した半導体レーザ(P)との一体化により、集積・
小型化された光源ユニット構造を容易に構成することが
できる。そして、この光源装置を用いれば、光ピックア
ップの小型化を達成することができる。
【0011】ビーム整形素子(L)は、半導体レーザ(P)側
から順に、シリンダー面から成る第1面(S1)と、アナモ
フィック面から成る第2面(S2)とを有している。そし
て、XZ断面とYZ断面とで焦点距離が異なっており、
ビーム整形と同時にNA(numerical aperture)変換を行
う構成になっている。両面がシリンダー面から成る単一
のビーム整形素子では、Y方向(すなわち楕円長軸方向)
の広がり角度を変換することができないため、NA変換
機能を付加することができない。図1に示すように、第
1面(S1)をシリンダー面とし第2面(S2)をアナモフィッ
ク面とすれば、有限系タイプのビーム整形素子(L)にN
A変換機能を付加することができる。このような片面ア
ナモフィックタイプのビーム整形素子(L)には、両面ア
ナモフィックタイプに比べて製造を容易に行うことがで
きるというメリットがある。
【0012】第1面(S1)を曲率半径が極端に小さくない
球面状のシリンダー面とするのが望ましい。それにより
作製・評価が容易になり、また、両面にアナモフィック
面を有するビーム整形素子に比べて、第2面(S2)を構成
しているアナモフィック面との芯出しが容易になる。た
だし、第1面(S1)は非球面状のシリンダー面であっても
よい。第1面(S1)を非球面状のシリンダー面にすると、
製造・評価は球面状のシリンダー面に比べて厳しくなる
が、軸外の性能を向上させることが可能になる。したが
って、アライメントのトレランスが緩和されるととも
に、環境変動に対して安定的なビーム整形素子(L)を実
現することができる。
【0013】本実施の形態のようにシリンダー面とアナ
モフィック面を単一・有限系のビーム整形素子(L)に有
する光源装置においては、以下の条件式(1)及び(2)を満
足することが望ましい。 θX<θX'<nθX …(1) θY>θY'>(1/n)θY …(2) ただし、 θX:半導体レーザ(P)からの楕円発散ビームのX方向
(楕円短軸方向)への広がり角度、 θY:半導体レーザ(P)からの楕円発散ビームのY方向
(楕円長軸方向)への広がり角度(θY>θX)、 θX':ビーム整形素子(L)からの略円形発散ビームのX
方向(楕円短軸方向)への広がり角度、 θY':ビーム整形素子(L)からの略円形発散ビームのY
方向(楕円長軸方向)への広がり角度、 n:ビーム整形素子(L)の設計波長における屈折率、 である。
【0014】条件式(1)及び(2)を満たすことにより、所
望の整形倍率(=θY/θX)を得る上でビーム整形素子
(L)の材料選択の自由度が広がる。また、ビーム整形素
子(L)とそれを用いた光源装置の製造が容易になる。条
件式(1),(2)の条件範囲を外れると、所望の整形倍率を
確保することが困難になり、また、ビーム整形素子(L)
の曲率半径が小さくなったり、ビーム整形素子(L)と半
導体レーザ(P)との間隔が極端に小さくなったりして、
製造が困難になる。
【0015】また、本実施の形態のようにシリンダー面
とアナモフィック面を単一・有限系のビーム整形素子
(L)に有する光源装置においては、以下の条件式(3),(4)
及び(5)を満足することが望ましい。 n>1.6 …(3) 1.1n<M<1.5n …(4) s/t≒(n−M/n)/(M−1) …(5) ただし、 n:ビーム整形素子(L)の設計波長における屈折率、 M:ビーム整形素子(L)の整形倍率、 s:半導体レーザ(P)の発光点からビーム整形素子(L)の
第1面(S1)までの距離、 t:ビーム整形素子(L)の芯厚、 である。
【0016】環境温度変化による屈折率変化や環境温度
変化による波長変動に伴った屈折率変化等が発生して
も、上記条件式(3)〜(5)を満たすように屈折率nやs/
t比を最適な値にすれば、十分な整形倍率MとNA変換
機能を保持しながら、非点隔差の発生による波面収差の
劣化を効果的に抑えることができる。したがって、環境
温度の変化に伴う非点隔差の発生を抑えながら略円形発
散ビームを射出することが可能である。
【0017】上記条件式(3)〜(5)の条件範囲において
は、1.8〜2.4程度の実質的に十分な整形倍率Mが
得られるとともに、NA変換機能をあわせ持つ構成にす
ることができる。また、ビーム整形素子(L)の屈折率n
が大きいほど距離sを小さくする必要がなくなるので、
上記条件式(3)〜(5)の条件範囲では、整形倍率Mに近い
屈折率nの材料を選択することにより、s/tの比を
0.4以上にすることが可能である。したがって、適度
な芯厚t(1〜数mm)のビーム整形素子(L)の場合にお
いて、半導体レーザ(P)とビーム整形素子(L)との間隔s
が極端に小さくない構成にすることができるため、第1
面(S1)を構成しているシリンダー面の曲率半径をある程
度の大きさに確保すること(つまり曲率を緩くすること)
ができ、ビーム整形素子(L)の製造(成形,加工等)が容
易になる。
【0018】条件式(3)の条件範囲を外れると、整形倍
率Mを所定値以上に確保するためには、距離sが極端に
小さくなってしまう。したがって、ビーム整形素子(L)
の製造が困難になる。条件式(4)の下限を超えると十分
な整形倍率Mが得られなくなり、条件式(4)の上限を超
えると整形倍率Mが必要以上のものとなってビーム整形
素子(L)の材料の選択性が狭くなる。また、条件式(5)の
条件を満たさないと、略円形発散ビームを得ることが難
しくなる。
【0019】前記条件式(3)〜(5)を満たすためには、ビ
ーム整形素子(L)の構成材料としてガラス材料を用いる
ことが好ましい。アナモフィック面等を有するビーム整
形素子(L)は、精密な小径レンズ用金型を用いたガラス
モールド成形での量産が容易だからである。また、ビー
ム整形素子(L)により整形された略円形発散ビームは球
面波であることが望ましい。両面がシリンダー面から成
るビーム整形素子では、整形後のビームに僅かではある
が球面収差の発生が避けられない。第2面(S2)をアナモ
フィックな非球面とすることにより球面波が得られるよ
うにすれば、整形後のビームを無収差にすることができ
る。このことから、例えば半導体レーザ(P)と一体の構
成とした場合において、より汎用的に利用できるという
メリットが生じる。
【0020】前述したように条件式(3)〜(5)を満たした
光源装置においては、間隔sが極端に小さくならない構
成にすることができるとともに、半導体レーザ(P)とビ
ーム整形素子(L)との間隔sが環境変動等により変化し
た場合でも、ビーム整形素子(L)の芯厚tを一定値以下
(例えば、数mm以下)にすることで、間隔sの変化に起
因する非点隔差の発生に伴う波面収差の量を十分に小さ
く抑えることができる。本実施の形態との比較のため、
図2にコリメート機能付きビーム整形素子を備えた光ピ
ックアップ光学系の従来例を示す。図2中、10は半導体
レーザの発光点、11はカバーガラス、12はコリメート機
能を有するビーム整形素子、13は対物レンズ、14は光デ
ィスクである。
【0021】コリメート機能を有するビーム整形素子(1
2)では、コリメート後のビーム径の大きさを約4mm程
度にする必要がある。これは、後段の高NA対物レンズ
(13)でビームを微小スポットに絞るために、入射ビーム
幅が必要となるからである。コリメート後のビーム径が
小さいと、高NA対物レンズ(13)の焦点距離が短くなり
すぎてしまい、対物レンズ(13)の作製が困難になる。図
2の従来例において、例えば、射出ビーム径を4mm、
X方向のNAを0.1、Y方向のNAを0.2程とし、
さらに芯厚tを上記条件式(5)の範囲内とした場合の取
り込み角度のビーム整形素子(12)においては、XZ断面
の焦点距離としては20mm、YZ断面の焦点距離とし
ては10mmが必要になる。この場合、収差補正上の制
限からビーム整形素子(12)の芯厚tをあまり小さくする
ことができない(t≒10mm)。
【0022】《光ピックアップの実施の形態》図3に、
前述した実施の形態に係る光源装置を備えた光ピックア
ップのシステム構成例を示す。図3中、20は前記実施の
形態に係る光源装置、21はPBS(Polarizing Beam Spl
itter)プリズム、22はコリメータレンズ、23は対物レン
ズ、24は光ディスク、25はフォトダイオードである。半
導体レーザ(P)からは発光強度分布が楕円状の楕円発散
ビームが射出され、その楕円発散ビームはビーム整形素
子(L)で発光強度分布が略円形状の略円形発散ビームに
変換される。したがって、光源装置(20)からは略円形発
散ビームが射出され、それと同時に環境温度の変化に伴
う非点隔差の発生が抑制される。また、集積・小型化さ
れた光源装置(20)の使用により、光ピックアップは小型
化が達成されている。
【0023】光源装置(20)から射出した略円形発散ビー
ムは、PBSプリズム(21)を通過した後、コリメータレ
ンズ(22)で平行光となる。その平行光は、対物レンズ(2
3)によってその焦点位置で微小スポットに絞り込まれ
る。そして、対物レンズ(23)の焦点位置にある光ディス
ク(24)の記録面で反射され、再び対物レンズ(23)に入射
する。対物レンズ(23)で収束したビームは、PBSプリ
ズム(21)で反射されてフォトダイオード(25)に入射す
る。フォトダイオード(25)は光量変化等を電気信号に変
換して出力する。
【0024】
【実施例】以下、本発明を実施した光源装置の光学構成
を、コンストラクションデータを挙げて更に具体的に説
明する。ここで挙げる実施例1〜3は、前述した実施の
形態に対応しており、実施例1〜3の概略構成は図1に
示す通りである。各コンストラクションデータにおい
て、S0は物体面{半導体レーザ(P)の発光点位置に相当す
る。}、S1はビーム整形素子(L)の第1面、S2はビーム整
形素子(L)の第2面であり、RDXi(i=0,1,2),RDYi(i=0,
1,2)は面Si(i=0,1,2)のX,Y方向の曲率半径(mm)であ
り、軸上面間隔(mm)は前述したs,tである。各実施例
の設計波長λ0は青紫色半導体レーザの405nmであ
り、各実施例の整形倍率M=2である。設計波長λ0に
おける屈折率nと共に他の波長λa,λbに対応した屈折
率をあわせて示し、また、表1に各条件式の対応値及び
関連データを示す。
【0025】ビーム整形素子(L)の各面(S1,S2)は、以下
の式(AAS)で定義される面形状のシリンダー面やアナモ
フィック面であり、対応する各データを曲率半径(RDXi,
RDYi)等とあわせて示す。 Z=(CUX・X2+CUY・Y2)/[1+√{1-(1+KX)CUX2・X2-(1+KY)CUY2・Y2}]+[AR{(1-AP )X2+(1+AP)Y2}2+BR{(1-BP)X2+(1+BP)Y2}3+CR{(1-CP)X2+(1+CP)Y2}4+DR{(1-DP)X2 +(1+DP)Y2}5] …(AAS) ただし、 Z:Z方向の基準面からの変位量(sag)、 CUX:X方向の近軸曲率(=1/RDXi)、 CUY:Y方向の近軸曲率(=1/RDYi)、 KX:X方向のコーニック定数、 KY:Y方向のコーニック定数、 AR,BR,CR,DR:円錐からの4次,6次,8次,10次の変形係数
の回転対称成分、 AP,BP,CP,DP:円錐からの4次,6次,8次,10次の変形係数
の非回転対称成分、 である。
【0026】 《実施例1》 [面] [曲率半径] [軸上面間隔] S0 RDX0=∞,RDY0=∞ s= 0.670000 S1 RDX1=-0.23938,RDY1=∞ KX=0.000000,KY=0.000000 AR=0.000000,BR=0.000000,CR=0.000000,DR=0.000000 AP=0.000000,BP=0.000000,CP=0.000000,DP=0.000000 t= 1.000000 S2 RDX2=-1.06500,RDY2=-3.13117 KX=0.000000,KY=0.000000 AR=0.341015×10-2,BR=-0.682480×10-1,CR=0.000000,DR=0.000000 AP=0.209514×10,BP=-0.153341,CP=0.100000×10,DP=0.100000×10 [屈折率] 1.797682(λa=410.00nm),1.798952(λ0=405.00nm),1.800272(λb=400.00nm)
【0027】 《実施例2》 [面] [曲率半径] [軸上面間隔] S0 RDX0=∞,RDY0=∞ s= 0.670000 S1 RDX1=-0.23938,RDY1=∞ KX=0.000000,KY=0.000000 AR=0.546620,BR=-0.556547×10,CR=0.000000,DR=0.000000 AP=-0.100000×10,BP=-0.100000×10,CP=0.000000,DP=0.000000 t= 1.000000 S2 RDX2=-1.06500,RDY2= -3.13117 KX=0.000000,KY=0.000000 AR=0.167891×10-2,BR=-0.813509×10-2,CR=0.000000,DR=0.000000 AP=0.323028×10,BP=-0.444868,CP=0.100000×10,DP=0.100000×10 [屈折率] 1.797682(λa=410.00nm),1.798952(λ0=405.00nm),1.800272(λb=400.00nm)
【0028】 《実施例3》 [面] [曲率半径] [軸上面間隔] S0 RDX0=∞,RDY0=∞ s= 0.830000 S1 RDX1=-0.50802,RDY1=∞ KX=0.000000,KY=0.000000 AR=0.542347×10-1,BR=0.194762×10-1,CR=0.000000,DR=0.000000 AP=-0.100000×10,BP=-0.100000×10,CP=0.000000,DP=0.000000 t= 2.000000 S2 RDX2=-2.34500,RDY2=-4.39503 KX=0.000000,KY=0.000000 AR=0.498650×10-3,BR=0.294163×10-3,CR=0.000000,DR=0.000000 AP=0.226462×10,BP=0.429160,CP=0.100000×10,DP=0.100000×10 [屈折率] 1.636877(λa=410.00nm),1.637693(λ0=405.00nm),1.638540(λb=400.00nm)
【0029】
【表1】
【0030】実施例1では、半導体レーザ(P)からの楕
円発散ビームは、広がり角度の小さいX方向についてN
Aが0.10から0.14に変換され、広がり角度の大
きいY方向についてNAが0.20から0.14程度に
変換される。このときの残存波面収差は、0.001λ
(RMS値)以下であり、十分な性能を有している。
【0031】実施例2では、第1面(S1)が非球面状のシ
リンダー面で構成されている。半導体レーザ(P)からの
楕円発散ビームは、広がり角度の小さいX方向について
NAが0.10から0.14に変換され、広がり角度の
大きいY方向についてNAが0.20から0.14程度
に変換される。このときの残存波面収差は、0.001
λ(RMS値)以下であり、十分な性能を有している。ま
た、画角0.5度の残存波面収差も0.003λ(RM
S値)以下であり、軸外性能においても十分な性能を有
している。
【0032】実施例3では、半導体レーザ(P)からの楕
円発散ビームは、広がり角度の小さいX方向についてN
Aが0.10から0.14に変換され、広がり角度の大
きいY方向についてNAが0.20から0.14程度に
変換される。このときの残存波面収差は、0.001λ
(RMS値)以下であり、十分な性能を有している。ま
た、画角0.5度の残存波面収差も0.002λ(RM
S値)以下であり、軸外性能においても十分な性能を有
している。
【0033】
【発明の効果】以上説明したように本発明の光源装置に
よれば、環境温度の変化に伴う非点隔差の発生を抑えな
がら略円形発散ビームを射出することができ、その製造
も容易に行うことができる。そして、本発明に係る光源
装置を用いることにより、光ピックアップの小型化を達
成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】光源装置の実施の形態を示す断面図。
【図2】コリメータ機能付きビーム整形素子を備えた光
ピックアップ光学系の従来例を示す光学構成図。
【図3】光ピックアップの実施の形態を示すシステム構
成図。
【符号の説明】
P …半導体レーザ L …ビーム整形素子 S1 …第1面 S2 …第2面 20 …光源装置 21 …PBSプリズム 22 …コリメータレンズ 23 …対物レンズ 24 …光ディスク 25 …フォトダイオード
フロントページの続き Fターム(参考) 2H087 KA13 LA01 LA24 LA25 LA28 PA01 PA03 PA17 PB01 PB03 QA01 QA03 QA05 QA07 QA12 QA13 QA21 QA25 QA33 QA41 QA45 RA05 RA07 RA13 RA41 RA44 RA45 5D119 AA11 AA22 AA33 AA38 BA01 EB02 EB03 EC01 FA05 FA30 HA67 JA06 JB01 JB02 JB03 JB05 JB06 5D789 AA11 AA22 AA33 AA38 BA01 EB02 EB03 EC01 FA05 FA30 HA67 JA06 JB01 JB02 JB03 JB05 JB06 5F073 AB27 BA04 EA19 EA20 EA29

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 発光強度分布が楕円状の楕円発散ビーム
    を射出する半導体レーザと、その半導体レーザからの楕
    円発散ビームを発光強度分布が略円形状の略円形発散ビ
    ームに変換する単一で有限系のビーム整形素子と、を備
    えた光源装置であって、前記ビーム整形素子が前記半導
    体レーザ側から順に、シリンダー面から成る第1面とア
    ナモフィック面から成る第2面とを有し、楕円発散ビー
    ムの楕円短軸に対して平行な方向をX方向とし、楕円発
    散ビームの楕円長軸に対して平行な方向をY方向とした
    とき、以下の条件式(1)及び(2)を満足することを特徴と
    する光源装置; θX<θX'<nθX …(1) θY>θY'>(1/n)θY …(2) ただし、 θX:半導体レーザからの楕円発散ビームのX方向への
    広がり角度、 θY:半導体レーザからの楕円発散ビームのY方向への
    広がり角度、 θX':ビーム整形素子からの略円形発散ビームのX方向
    への広がり角度、 θY':ビーム整形素子からの略円形発散ビームのY方向
    への広がり角度、 n:ビーム整形素子の設計波長における屈折率、 である。
  2. 【請求項2】 発光強度分布が楕円状の楕円発散ビーム
    を射出する半導体レーザと、その半導体レーザからの楕
    円発散ビームを発光強度分布が略円形状の略円形発散ビ
    ームに変換する単一で有限系のビーム整形素子と、を備
    えた光源装置であって、前記ビーム整形素子が前記半導
    体レーザ側から順に、シリンダー面から成る第1面とア
    ナモフィック面から成る第2面とを有し、以下の条件式
    (3),(4)及び(5)を満足することを特徴とする光源装置; n>1.6 …(3) 1.1n<M<1.5n …(4) s/t≒(n−M/n)/(M−1) …(5) ただし、 n:ビーム整形素子の設計波長における屈折率、 M:ビーム整形素子の整形倍率、 s:半導体レーザの発光点からビーム整形素子の第1面
    までの距離、 t:ビーム整形素子の芯厚、 である。
  3. 【請求項3】 前記ビーム整形素子により整形された略
    円形発散ビームが球面波となっていることを特徴とする
    請求項1又は2記載の光源装置。
  4. 【請求項4】 請求項1〜3のいずれか1項に記載の光
    源装置を有することを特徴とする光ピックアップ。
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