JP2003185801A - 光学部材及びその製造方法 - Google Patents

光学部材及びその製造方法

Info

Publication number
JP2003185801A
JP2003185801A JP2001384186A JP2001384186A JP2003185801A JP 2003185801 A JP2003185801 A JP 2003185801A JP 2001384186 A JP2001384186 A JP 2001384186A JP 2001384186 A JP2001384186 A JP 2001384186A JP 2003185801 A JP2003185801 A JP 2003185801A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layers
layer
optical member
substrate
thin film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001384186A
Other languages
English (en)
Inventor
Masashi Suzuki
將史 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2001384186A priority Critical patent/JP2003185801A/ja
Publication of JP2003185801A publication Critical patent/JP2003185801A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【課題】 耐湿性の向上などの、本来的な光学特性以外
の種々の機能を付加する。 【解決手段】 光学部材1は、ガラス基板2と、その上
に積層された光学薄膜3とを備える。光学薄膜3は、高
屈折率物質の層Hと低屈折率物質の層Lとが交互に積層
されることにより構成される。光学薄膜3を構成する層
のうちの最上層が、他の層に比べて密な構造を持ってい
る。光学薄膜3の各層が、ガラス基板2上に、スパッタ
法等により成膜される。最上層の成膜時と、他の層の成
膜時とで、膜厚及び膜材料以外の成膜条件のパラメータ
のうちの少なくとも1つのパラメータを変え、これらの
パラメータは、最上層が他の層に比べて密な構造を持つ
ように設定される。したがって、最上層が密な構造を持
つので、耐湿性が向上する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基体と該基体上に
積層された複数層で構成される光学薄膜とを有する光学
部材、及びその製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来から、基体と該基体上に積層された
複数層で構成される光学薄膜とを有する光学部材とし
て、例えば、干渉フィルタ、プリズム、レンズなど、種
々のものが提供されている。
【0003】従来は、このような光学部材では、その本
来的な光学特性(例えば、干渉フィルタでは、分光透過
率特性)のみが追求され、他の機能について格別の配慮
がなされていなかった。そして、光学薄膜の各層は、通
常、同一のチャンバ内においてスパッタ法等により連続
的に成膜されるが、従来の光学部材では、膜厚及び材料
以外の成膜条件のパラメータは、光学薄膜の各層につい
て同一とされていた。したがって、従来の光学部材で
は、光学薄膜の各層の疎密の程度は実質的に同一であっ
た。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】光学部材に、本来的な
光学特性以外の種々の機能を付加することができれば、
その価値が一段と高まる。例えば、表面からの水分の浸
入を抑制して耐湿性の向上を図ったり、光学薄膜と基体
との密着性を高めて光学薄膜の剥離強度を高めたりする
ことができれば、光学部材の価値は一段と高まる。
【0005】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たもので、本来的な光学特性以外の機能を付加すること
ができる光学部材の製造方法を提供することを目的とす
る。
【0006】また、本発明は、表面からの水分の浸入を
抑制して耐湿性の向上を図ることができる光学部材及び
その製造方法を提供することを目的とする。
【0007】さらに、本発明は、光学薄膜と基体との密
着性を高めて光学薄膜の剥離強度を高めることができる
光学部材及びその製造方法を提供することを目的とす
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するた
め、本発明の第1の態様による光学部材の製造方法は、
基体と、該基体上に積層された複数層で構成される光学
薄膜と、を有する光学部材の製造方法であって、前記複
数層のうちの少なくとも1つの層の成膜時と他の層の成
膜時とで、膜厚及び膜材料以外の成膜条件のパラメータ
のうちの少なくとも1つのパラメータを変えるものであ
る。
【0009】本発明の第2の態様による光学部材の製造
方法は、前記第1の態様において、前記複数層はスパッ
タ法により成膜されるものである。この場合、前記複数
層を同一のチャンバー内で連続的に成膜することが好ま
しい。もっとも、前記第1の態様では、真空蒸着法等に
より前記複数層を成膜してもよい。
【0010】本発明の第3の態様による光学部材の製造
方法は、前記第2の態様において、前記少なくとも1つ
のパラメータは、真空度、スパッタガス圧、基体温度、
スパッタ出力、基体のバイアスの正負、及び、基体とタ
ーゲットとの間の距離のうちの1つ以上を含むものであ
る。
【0011】本発明の第4の態様による光学部材の製造
方法は、前記第1乃至第3のいずれかの態様において、
前記少なくとも1つの層は最上層を含み、前記少なくと
も1つのパラメータは、前記少なくとも1つの層が前記
他の層に比べて密な構造を持つように設定されるもので
ある。
【0012】本発明の第5の態様による光学部材の製造
方法は、前記第1乃至第3のいずれかの態様において、
前記少なくとも1層が最下層を含み、前記少なくとも1
つのパラメータは、前記少なくとも1つの層が前記他の
層に比べて密な構造を持つように設定されるものであ
る。
【0013】本発明の第6の態様による光学部材は、基
体と、該基体上に積層された複数層で構成される光学薄
膜と、を備え、前記複数層のうちの最上層を含む少なく
とも1つの層が、他の層に比べて密な構造を持つもので
ある。
【0014】本発明の第7の態様による光学部材は、基
体と、該基体上に積層された複数層で構成される光学薄
膜と、を備え、前記複数層のうちの最下層を含む少なく
とも1つの層が、他の層に比べて密な構造を持つもので
ある。
【0015】なお、本明細書において、最上層とは最も
基体と反対側の層(最表層)をいい、最下層とは最も基
体側の層をいう。一般的に、スパッタ法等により複数層
を基体に成膜する際に同一の成膜条件を設定しても、各
層の疎密の程度はばらつく場合がある。本明細書におい
て、ある層が他の層に比べて密な構造を持つとは、両層
間で、そのような疎密の程度のばらつきを越えた疎密の
差を持つことを意味する。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明による光学部材及び
その製造方法について、図面を参照して説明する。
【0017】図1は、本発明の一実施の形態による光学
部材1を模式的に示す概略断面図である。本実施の形態
による光学部材1は、基体としてのガラス基板2と、ガ
ラス基板2上に積層された光学薄膜3とを備え、所望の
分光透過率特性を有する干渉フィルタとして構成されて
いる。本実施の形態では、光学薄膜3は、図1に示すよ
うに、高屈折率物質の層Hと低屈折率物質の層Lとが交
互に積層されることにより構成され、その全体の層数は
例えば数十層とされる。高屈折率物質としては例えばN
を用いることができ、低屈折率物質としては例
えばSiOを用いることができる。もっとも、本発明
では、光学薄膜を構成する層の数や、物質の種類及びそ
の数などは、何ら限定されるものではない。また、本実
施の形態では、光学部材が干渉フィルタとして構成され
ているが、本発明は、これに限定されるものではなく、
プリズムやレンズやその他の種々の光学部材に適用する
ことができる。
【0018】本実施の形態では、光学薄膜3を構成する
層のうちの最上層が、他の層に比べて実質的に密な構造
を持っている。本実施の形態によれば、最上層が密な構
造を持っているので、水分が光学薄膜3へ浸入し難くな
り、耐湿性が向上する。
【0019】次に、本実施の形態による光学部材1は、
例えば、ガラス基板2を用意し、例えば、公知のスパッ
タ装置を用いてスパッタ法により、ガラス基板2上に光
学薄膜3を構成する層H,Lを順次成膜することによっ
て、製造することができる。このとき、各層の成膜は、
同一のチャンバー内で連続的に行うことが好ましい。
【0020】そして、各層のスパッタによる成膜の際に
は、最上層の成膜時と、他の層の成膜時とで、膜厚及び
膜材料以外の成膜条件のパラメータのうちの少なくとも
1つのパラメータを変える。このパラメータの設定は、
最上層が他の層に比べて実質的に密な構造を持つように
設定する。
【0021】前記パラメータの例として、チャンバ内の
真空度、スパッタガス圧、基体温度、スパッタ出力、基
体のバイアスの正負、及び、基体とターゲットとの間の
距離を挙げることができる。
【0022】例えば、スパッタガス圧が低いほど、成膜
された層は緻密な繊維構造となって密な構造となる一
方、スパッタガス圧が高いほど、多孔性の柱状構造に近
くなっていき、疎な構造となっていく。これは、スパッ
タガス圧が高くなるにつれて、スパッタ粒子の運動エネ
ルギーが低くなることと、スパッタ粒子の基板到着時の
入射角度の分散が大きくなることが原因である。また、
スパッタ時の基板温度が高いほど、スパッタ粒子の基板
遊泳が活発になるため、成膜された層は緻密になってい
く。さらに、スパッタ出力が高いと、スパッタ粒子の運
動エネルギーが高くなるため、密な膜ができ易くなる。
ただし、スパッタ出力が高過ぎると、成膜レートが速過
ぎて逆効果となる場合もある。また、基板バイアスにつ
いては、基板に負のバイアスをかけると密な膜ができ易
くなり、基板に正のバイアスをかけると疎な膜ができ易
くなる。さらに、基体とターゲットとの間の距離は短い
方が、スパッタ粒子が高エネルギーで真っ直ぐ基板に飛
んでくるため、密な膜ができ易くなる。実際のパラメー
タの設定は、これらの事項を勘案して、前述したよう
に、最上層が他の層に比べて実質的に密な構造を持つよ
うに設定すればよい。
【0023】次に、本発明の他の実施の形態として、前
述した実施の形態による光学部材1の種々の変形例につ
いて、説明する。
【0024】第1に、前記実施の形態において、最上層
のみならず最上層側の複数層(例えば、最上層とその直
下の層)が、他の層に比べて密な構造を持っていてもよ
い。この場合も、前記実施の形態と同様に、耐湿性が向
上する。
【0025】第2に、前記実施の形態において、最下層
が他の層に比べて密な構造を持っていてもよい。最下層
が密な構造を持てば、最下層と基板との間の密着性が高
まり、光学薄膜の剥離強度が高まって、光学薄膜の剥離
が防止される。
【0026】第3に、前記実施の形態において、最上層
及び最下層が他の層に比べて密な構造を持ってもよい。
この場合、耐湿性が向上するとともに、光学薄膜の剥離
が防止される。
【0027】第4に、前記実施の形態において、中間付
近の層が他の層に比べて疎な構造を持ってもよい。この
場合、光学薄膜の内部圧縮応力を緩和することができ
る。従来のように光学薄膜の各層の成膜条件が全て同一
であれば、成膜時に光学薄膜の各層に内部応力が存在す
る場合、層を重ねるほど全体の内部圧縮応力が増幅され
る一方である。これに対し、本例のように中間付近の層
が他の層に比べて疎な構造を持っていれば、光学薄膜の
内部圧縮応力が緩和され、好ましい。
【0028】第5に、前記実施の形態において、最上層
及び最下層が他の層に比べて密な構造を持つとともに、
中間付近の層が他の層に比べて疎な構造を持っていても
よい。この場合、耐湿性が向上するとともに、光学薄膜
の剥離が防止され、かつ、光学薄膜の内部応力を緩和す
ることができる。
【0029】なお、これらの変形例に係る光学部材は、
基本的に前記実施の形態による光学部材1と同様に製造
することができる。ただし、他の層に比べて密な構造を
持たせる層の成膜時と、他の層の成膜時とで、膜厚及び
膜材料以外の成膜条件のパラメータのうちの少なくとも
1つのパラメータを変え、これらのパラメータの設定
は、密な構造を持たせるべき層が、他の層に比べて実質
的に密な構造を持つように、前述したパラメータに関す
る効果を勘案して、設定する。疎な構造を持たせる場合
も同様である。
【実施例】本発明の実施例1の光学部材として、前記実
施の形態による光学部材1と同様の構造を持つ光学部材
を作成した。ガラス基板2上に積層した光学薄膜3は、
高屈折率物質としてのNbの層Hと低屈折率物質
としてのSiOの層Lとを交互に積層した合計21層
とした。最下層は層Hとした。全ての層H,Lの厚さ
は、それぞれ2.0μmとした。
【0030】実施例1では、光学薄膜3の各層を、RF
スパッタリング法で同一チャンバ内で連続的に成膜し
た。このとき、全層に渡り、スパッタリングガスはAr
ガス、その流量は100sccm、成膜時の基板温度は
150℃、成膜出力は1000Wとした。材料以外の成
膜条件は、最上層の成膜時と他の層の成膜時とで、チャ
ンバー内の真空度のみ変え、最上層の成膜時には1.5
mTorr、他の層の成膜時には3.0mTorrとし
た。これにより、最上層は他の層に比べて密な構造を持
つ。
【0031】実施例1と比較される比較例1の光学部材
として、次の点を除いて、実施例1の光学部材と同一の
構造を持つ光学部材を同一の製造方法で作製した。両者
の相違は、比較例1では、光学薄膜3の最上層の成膜時
のチャンバー内の真空度を3.0mTorrとし、全層
に渡り、材料以外の成膜条件を同一にした点のみであ
る。これにより、比較例1では、最上層も他の層と同じ
疎密状態となる。
【0032】実施例1の光学部材及び比較例1の光学部
材に、温度85℃及び湿度95%の環境下に250時間
置く耐環境試験を施した。この耐環境試験の前後で、実
施例1の光学部材及び比較例1の光学部材の分光透過率
をそれぞれ測定した。その結果を、図2及び図3に示
す。図2は実施例1の光学部材の分光透過率を示し、図
3は比較例1の分光透過率を示す。図2中の曲線A及び
図3中の曲線Cは耐環境試験の前の分光透過率を示し、
図2中の曲線B及び図4中の曲線Dは耐環境試験の後の
分光透過率を示す。
【0033】実施例1の光学部材では、図2に示すよう
に、耐環境試験の前後の透過率変化は、最大でも0.3
2%と非常に小さく、耐湿性が非常に優れていることが
わかる。一方、比較例1の光学部材では、図3に示すよ
うに、耐環境試験の前後の透過率変化は、最大で0.9
6%とかなり大きく、耐湿性が劣っていることがわか
る。なお、実施例1と比較例1との間で、光学特性に差
はなく、最上層の成膜条件を他の層に対して変化させた
ことによる光学特性への影響がないことが、確認され
た。
【0034】また、本発明の実施例2の光学部材とし
て、前記実施の形態による光学部材1と同様の構造を持
つ光学部材を作成した。ガラス基板2上に積層した光学
薄膜3は、高屈折率物質としてのNbの層Hと低
屈折率物質としてのSiOの層Lとを交互に積層した
合計95層(全体の膜厚は50μm)とした。最下層は
層Hとした。
【0035】実施例2では、光学薄膜3の各層を、RF
スパッタリング法で同一チャンバ内で連続的に成膜し
た。このとき、全層に渡り、スパッタリングガスはAr
ガス、その流量は100sccm、成膜時の基板温度は
150℃、成膜出力は1000Wとした。材料以外の成
膜条件は、最下層の成膜時と他の層の成膜時とで、チャ
ンバー内の真空度のみ変え、最下層の成膜時には1.5
mTorr、他の層の成膜時には3.0mTorrとし
た。これにより、最下層は他の層に比べて密な構造を持
つ。
【0036】実施例2と比較される比較例2の光学部材
として、次の点を除いて、実施例2の光学部材と同一の
構造を持つ光学部材を同一の製造方法で作製した。両者
の相違は、比較例2では、光学薄膜3の最下層の成膜時
のチャンバー内の真空度を3.0mTorrとし、全層
に渡り、材料以外の成膜条件を同一にした点のみであ
る。これにより、比較例2では、最下層も他の層と同じ
疎密状態となる。
【0037】実施例2の光学部材及び比較例2の光学部
材に対して、同じ剥離強度試験を行った。この剥離強度
試験では、光学薄膜3に、ニチバン株式会社製のセロハ
ン粘着テープ(JIS−468006、テープ幅18m
m)を貼り付けた後、テープに3回強く指のひらで擦り
付け、素早く(0.5秒以内で)垂直方向に剥がした。
その結果、実施例2では、光学薄膜3はガラス基板2か
ら剥離するようなことがなく、光学薄膜3の剥離強度が
高いことが確認された。これに対し、比較例2では、光
学薄膜3がテープと共にガラス基板2から剥がれてしま
い、光学薄膜3の剥離強度が低いことが確認された。な
お、実施例2と比較例2との間で、光学特性に差はな
く、最下層の成膜条件を他の層に対して変化させたこと
による光学特性への影響がないことが、確認された。
【0038】以上、本発明の実施の形態及びその変形例
並びに実施例について説明したが、本発明はこれらに限
定されるものではない。
【0039】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
本来的な光学特性以外の機能を付加することができる光
学部材の製造方法を提供することができる。
【0040】また、本発明によれば、表面からの水分の
浸入を抑制して耐湿性の向上を図ることができる。
【0041】さらに、本発明によれば、光学薄膜と基体
との密着性を高めて光学薄膜の剥離強度を高めることが
できる光学部材及びその製造方法を提供することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態による光学部材を模式的
に示す概略断面図である。
【図2】耐環境試験の前後での、実施例1の分光透過率
を示す図である。
【図3】耐環境試験の前後での、比較例1の分光透過率
を示す図である。
【符号の説明】
1 光学部材 2 ガラス基板 3 光学薄膜 H 高屈折率物質の層 L 低屈折率物質の層
フロントページの続き Fターム(参考) 2H048 GA04 GA12 GA33 GA60 2K009 BB02 CC03 DD04 DD09 EE00 4G059 AA11 AB11 AB17 AC04 AC09 GA01 GA04 4K029 BB02 BC07 CA05 CA13 EA00 EA01 EA03 EA08 EA09

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基体と、該基体上に積層された複数層で
    構成される光学薄膜と、を有する光学部材の製造方法で
    あって、 前記複数層のうちの少なくとも1つの層の成膜時と他の
    層の成膜時とで、膜厚及び膜材料以外の成膜条件のパラ
    メータのうちの少なくとも1つのパラメータを変えるこ
    とを特徴とする光学部材の製造方法。
  2. 【請求項2】 前記複数層はスパッタ法により成膜され
    ることを特徴とする請求項1記載の光学部材の製造方
    法。
  3. 【請求項3】 前記少なくとも1つのパラメータは、真
    空度、スパッタガス圧、基体温度、スパッタ出力、基体
    のバイアスの正負、及び、基体とターゲットとの間の距
    離のうちの1つ以上を含むことを特徴とする請求項2記
    載の光学部材の製造方法。
  4. 【請求項4】 前記少なくとも1つの層は最上層を含
    み、前記少なくとも1つのパラメータは、前記少なくと
    も1つの層が前記他の層に比べて密な構造を持つように
    設定されることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか
    に記載の光学部材の製造方法。
  5. 【請求項5】 前記少なくとも1層が最下層を含み、前
    記少なくとも1つのパラメータは、前記少なくとも1つ
    の層が前記他の層に比べて密な構造を持つように設定さ
    れることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載
    の光学部材の製造方法。
  6. 【請求項6】 基体と、該基体上に積層された複数層で
    構成される光学薄膜と、を備え、 前記複数層のうちの最上層を含む少なくとも1つの層
    が、他の層に比べて密な構造を持つことを特徴とする光
    学部材。
  7. 【請求項7】 基体と、該基体上に積層された複数層で
    構成される光学薄膜と、を備え、 前記複数層のうちの最下層を含む少なくとも1つの層
    が、他の層に比べて密な構造を持つことを特徴とする光
    学部材。
JP2001384186A 2001-12-18 2001-12-18 光学部材及びその製造方法 Pending JP2003185801A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001384186A JP2003185801A (ja) 2001-12-18 2001-12-18 光学部材及びその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001384186A JP2003185801A (ja) 2001-12-18 2001-12-18 光学部材及びその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003185801A true JP2003185801A (ja) 2003-07-03

Family

ID=27593976

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001384186A Pending JP2003185801A (ja) 2001-12-18 2001-12-18 光学部材及びその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003185801A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005108640A1 (ja) * 2004-05-10 2005-11-17 National Institute For Materials Science コンビナトリアル成膜方法とその装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005108640A1 (ja) * 2004-05-10 2005-11-17 National Institute For Materials Science コンビナトリアル成膜方法とその装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107012422B (zh) 沉积方法、含添加物的氮化铝膜及包括该膜的压电器件
KR101113028B1 (ko) 흡수형 다층막 nd 필터
CN111796353B (zh) 光学滤波器及其形成方法
TW201732324A (zh) 光學濾波器及感測器系統
JP2011515714A (ja) 誘電体層及び金属層の対を使用する強固な光学フィルター
US9105846B2 (en) Method of manufacturing a boundary acoustic wave device
CN100580485C (zh) 光学滤波器和光学滤波器的制造方法
JP4623349B2 (ja) 薄膜型ndフィルタおよびその製造方法
JP2003185801A (ja) 光学部材及びその製造方法
JP2003098340A (ja) 光学多層干渉膜とその製造方法および光学多層干渉膜を用いたフィルター
JP2011118251A (ja) Ndフィルタの製造方法およびndフィルタ
TW200905283A (en) A plasmonic reflection filter
CN211375107U (zh) 一种低雾度的叠层滤光片薄膜
CN201576105U (zh) 一种防反射色差补正成膜滤光片
JP2007093804A (ja) 紫外線/赤外線カットフィルタ、及びその製造方法
JPH052101A (ja) 光学部品
WO2017107181A1 (zh) 增透膜及其制备方法
CN109581549B (zh) 一种反射防止膜及包含该反射防止膜的光学部件
US20200036099A1 (en) Method for fabricating a hyperbolic metamaterial having a near-zero refractive index in the optical regime
JP2013109004A (ja) 光学フィルタおよびその製造方法
JP3110491B2 (ja) ダイヤモンド状膜を用いた表面弾性波素子
JP2002277629A (ja) 多層膜光学フィルター用ガラス基板、多層膜光学フィルターおよびその製造方法
JP2546203B2 (ja) TiOx薄膜を用いた光学素子
JP2003277911A (ja) 光学薄膜
CN111378934B (zh) 提升电子束蒸镀薄膜元件的光谱和应力时效稳定性的镀膜方法