JP2003185603A - 耐熱鋼の高温損傷評価法 - Google Patents
耐熱鋼の高温損傷評価法Info
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Abstract
のクリープ損傷評価を可能とする耐熱鋼の高温損傷評価
法を提供するにある。 【解決手段】 焼戻しマルテンサイト鋼のクリープ損傷
評価法として、電子線後方散乱像のパターンクオリティ
が高くなるほど寿命が短いと評価することを特徴とす
る。
Description
評価法に関する。詳しくは、9〜12重量%Cr鋼すな
わち焼戻しマルテンサイト鋼についてのクリープ損傷評
価に関する方法に関するものである。
(低合金鋼、焼戻しマルテンサイト鋼等)のクリープ損
傷評価法としては、損傷部にクリープ過程で生成した粒
界上のクリープキャビティーを評価するAパラメータ
法、析出物の分布状況及び形態変化からクリープ損傷を
推定する金属組織学的手法、使用部位からミニチュアク
リープ試験片を採取し、任意の応力及び温度で実際にク
リープ試験を実施して余寿命を推定する破壊試験法があ
る。
Aパラメータ法は焼戻しマルテンサイト鋼ではクリープ
キャビティーが発生しないために適用できない。金属組
織学的手法は、脆性的に破壊する溶接熱影響部のみでし
か行われておらず、延性的に破壊する焼戻しマルテンサイト鋼
では適用できない。破壊試験は、試験に長時間を要する
うえに、高温機器からの材料採取量が多いために適用で
きる部位が非常に限られている。特に、蒸気タービンロ
ータでは、クリープ損傷が激しい部位からの破壊試験片
の採取は困難である。
明は、焼戻しマルテンサイト鋼のクリープ損傷を少ない
材料採取量で、短時間に精度よく評価することができる
手法であることを特徴とする。本発明の請求項1に係る
耐熱鋼の高温損傷評価法は、焼戻しマルテンサイト鋼の
クリープ損傷評価法として、電子線後方散乱像のパター
ンクオリティが高くなるほど寿命が短いと評価すること
を特徴とする。本発明の請求項2に係る耐熱鋼の高温損
傷評価法は、焼戻しマルテンサイト鋼のクリープ損傷評
価法として、結晶粒界におけるサブグレインの方位差が
大きくなるほど、寿命が短いと評価することを特徴とす
る本発明の請求項3に係る耐熱鋼の高温損傷評価法は、
焼戻しマルテンサイト鋼のクリープ損傷評価法として、
結晶粒界の数が減少すると、寿命が短いと評価すること
を特徴とする。
高温使用中に軟化が生じ、これは粒内のひずみ(転位密
度)の減少によるものである。本発明者は、粒内ひずみ
を評価する手法として、SEM(Scanning ElectronMic
roscopy;走査型電子顕微鏡)−EBSP(Electron Ba
ck-scattering Pattern;電子線後方散乱像)を利用し
たQ値(パターンクオリティ)と寿命比t/t rとの間
によい相関関係があることを見出した。例えば、Q値の
平均値と寿命比t/trとの関係は図1に示すように、
Q値の平均値が高くなるほど、つまり、転位密度が低く
なるほど、寿命比t/trが1に近づくことが認められ
る。
に、走査型電子顕微鏡の真空チャンバー10内に試料2
0を水平方向に対して70度で傾けて配置し、垂直上方
から電子線aを試料10に照射した際に形成されるもの
であり、得られたEBSPは高感度カメラ30で撮影さ
れ、図示しないコンピュータで画像処理することにより
菊池線を識別し結晶方位の数値付けが行われる。SEM
−EBSP観察は、3mm×3mm×1mm程度の小さ
い試験片で観察可能である。また、Q値(IQとも表
す)とは、結晶方位を求める際に得られる擬菊池パター
ンの明瞭さの指標であり、言い換えると、EBSPの鮮
明度のパラメータである。具体的には、試料の擬菊池パ
ターンから結晶方位を求める際にCCDカメラ上の濃淡
をA/D変換し、その後に数式処理により数値化したも
のである。
ほど低くなり、また、転位密度が低いほど高くなること
が知られている。そこで、本実施例では、実機でサンプ
リングした損傷材からQ値を測定し、図1のマスターカ
ーブを用いて寿命評価を行った。即ち、Q値の平均値が
高くなるほど、寿命比t/trが1に近づくことから、
寿命が少なくなったと評価するのである。
損傷評価として、結晶粒界に注目した例はほとんどな
い。本発明者は、図2に示すように、サブグレインの方
位差と寿命比の間にはよい相関があることを見出した。
例えば、図2に示すように、サブグレインの方位差が大
きくなると、寿命比t/trが1が近づくことから、寿
命が少なくなったと評価するのである。
SP又は細束X線を用いた結晶方位測定により、寿命評
価を行った。即ち、サブグレインの方位差が大きくなる
と、寿命比t/trが1が近づくことことから、寿命が
少なくなったと評価するのである。尚、サブグレインと
は、図5に示すように、結晶粒40の中に存在する細か
な粒界粒50のことを言う。
損傷評価として、結晶粒界に注目した例はほとんどな
い。本発明者は、図3に示すように、クリープ損傷の末
期に結晶粒界の数、特にΣ3粒界の数が減少することを
見出した。そこで、本実施例では、上記SEM−EBS
Pを利用して粒界の方位測定を行い、余寿命評価を行っ
た。即ち、結晶粒界の数、特にΣ3粒界の数が減少する
と、寿命が少なくなったと評価するのである。
サイト鋼に適用したものであったが、本発明はこれに限
るものではなく、焼戻しマルテンサイト鋼と同じく高温
使用中に軟化が生じるベイナイト鋼(CrMoV鋼、2.
25Cr鋼)に対しても適用可能である。これにより、
USCタービン、ボイラなどの高温機器の余寿命評価が
可能となる。
たように、本発明の請求項1に係る耐熱鋼の高温損傷評
価法は、焼戻しマルテンサイト鋼クリープ損傷評価法と
して、電子線後方散乱像のパターンクオリティが高くな
るほど寿命が短いと評価するので、従来では評価するこ
とのできなかった焼戻しマルテンサイト鋼のクリープ損
傷評価が可能となる。また、本発明の請求項2に係る耐
熱鋼の高温損傷評価法は、焼戻しマルテンサイト鋼のク
リープ損傷評価法として、結晶粒界におけるサブグレイ
ンの方位差が大きくなるほど、寿命が短いと評価するの
で、従来では評価することのできなかった焼戻しマルテ
ンサイト鋼のクリープ損傷評価が可能となる。また、本
発明の請求項3に係る耐熱鋼の高温損傷評価法は、焼戻
しマルテンサイト鋼のクリープ損傷評価法として、結晶
粒界の数が減少すると、寿命が短いと評価するので、従
来では評価することのできなかった焼戻しマルテンサイ
ト鋼のクリープ損傷評価が可能となる。
ある。
グラフである。
を示すグラフである。
説明図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 焼戻しマルテンサイト鋼のクリープ損傷
評価法として、電子線後方散乱像のパターンクオリティ
が高くなるほど寿命が短いと評価することを特徴とする
耐熱鋼の高温損傷評価法。 - 【請求項2】 焼戻しマルテンサイト鋼のクリープ損傷
評価法として、結晶粒界におけるサブグレインの方位差
が大きくなるほど、寿命が短いと評価することを特徴と
する耐熱鋼の高温損傷評価法 - 【請求項3】 焼戻しマルテンサイト鋼のクリープ損傷
評価法として、結晶粒界の数が減少すると、寿命が短い
と評価することを特徴とする耐熱鋼の高温損傷評価法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001382759A JP3854504B2 (ja) | 2001-12-17 | 2001-12-17 | 焼戻しマルテンサイト鋼のクリープ損傷評価法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2001382759A JP3854504B2 (ja) | 2001-12-17 | 2001-12-17 | 焼戻しマルテンサイト鋼のクリープ損傷評価法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003185603A true JP2003185603A (ja) | 2003-07-03 |
JP3854504B2 JP3854504B2 (ja) | 2006-12-06 |
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---|---|---|---|
JP2001382759A Expired - Fee Related JP3854504B2 (ja) | 2001-12-17 | 2001-12-17 | 焼戻しマルテンサイト鋼のクリープ損傷評価法 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP3854504B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007057240A (ja) * | 2005-08-22 | 2007-03-08 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | 破壊原因推定装置及び破壊原因推定方法 |
JP7409865B2 (ja) | 2019-12-24 | 2024-01-09 | 株式会社荏原製作所 | 材料の残存寿命を推定する方法および装置 |
-
2001
- 2001-12-17 JP JP2001382759A patent/JP3854504B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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