JP2003181631A - 鉛フリーはんだを用いたフローはんだ付け方法およびその装置並びに実装構造体 - Google Patents
鉛フリーはんだを用いたフローはんだ付け方法およびその装置並びに実装構造体Info
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Abstract
し、しかも接続部の高信頼性を確保できるようにした鉛
フリーはんだを使用して実装基板(挿入実装部品)への
フローはんだ付けを行う方法およびその装置を提供する
ことにある。 【解決手段】本発明は、実装部品のリードを上面側から
基板に形成されたスルーホールに挿入した実装基板11
の下面を、前記チャンバー1内に設けられたフローはん
だ付け部3において溶融した鉛フリーはんだ噴流との接
触によってフローはんだ付けを行うフローはんだ付け工
程と、該フローはんだ付け工程で鉛フリーによるフロー
はんだ付けされて搬送される実装基板の下面に、前記チ
ャンバー内の不活性ガス雰囲気を循環冷却して前記チャ
ンバー内に前記フローはんだ付け部に隣接して設けられ
た吹き付け部4aで吹き付けて冷却する冷却工程とを有
する鉛フリーはんだを用いたフローはんだ付け方法およ
びその装置である。
Description
リーはんだ合金を用いた電子回路基板の製造方法と、そ
の装置、及びこれを用いた実装構造体に関するものであ
る。この鉛フリーはんだ合金は、有機基板等の回路基板
への電子部品の接続に適用でき、220℃付近でのはん
だ付けに用いられているSn−37Pb(単位:質量
%)はんだの代替品である。
構成される一般的な鉛フリーはんだは、従来のSn−P
b系の鉛含有はんだと比べて回路基板上の銅電極への濡
れ性が悪く、これは鉛フリーはんだが大気中の酸素によ
る電極の酸化の影響を強く受けることが知られている。
基板に固定するスルーホールという銅電極を伴った貫通
穴の中のはんだの流れ込みのし易さに大きな影響を与え
ることも知られている。例えば、濡れが悪くなるとスル
ーホールへのはんだの流れ込み量が少なくなり、はんだ
はスルーホールを通して基板上面まで揚がらなくなり、
フローアップ率が低下することになる。このフローアッ
プ率は、基板下面からはんだが揚がったところまでの長
さを基板下面から基板上面までの長さで割った値で定義
される。このように、フローアップ率が低下すると、挿
入実装部品のリードを少ないはんだで固定することにな
るため、接続部の信頼性を低下させることになる。
信頼化をはかるためにはこのフローアップ率がおおむね
80%あれば良いとされている。そのため、鉛フリーは
んだ対応フローはんだ付け装置では、はんだ付けを酸素
濃度がおおむね1%以下の窒素等の不活性雰囲気で行う
必要があり、はんだ付け部は窒素等の不活性ガスを充満
させるための不活性ガス雰囲気チャンバー内で行うこと
が必要となる。
部品のフローはんだ付けを行うと、接続部のはんだが基
板の銅電極から剥がれるリフトオフという現象が起きる
ことがわかっており、これを抑制するためにははんだ付
け直後に基板を急冷する必要があるため大量の冷媒を吹
き付けなくてはいけないという課題がある。また、はん
だ付けを窒素等の不活性雰囲気内で行うため、この冷媒
はこの不活性雰囲気と同じ流体に限定されてしまうとい
う課題も有している。
部品のフローはんだ付けを行う装置において、多品種の
実装基板に対応できるように、フローはんだ付け条件を
頻繁に変更することも要求されてきてきる。
リフトオフという現象が生じるのを著しく低減し、しか
も接続部の高信頼性を確保できるようにした鉛フリーは
んだを使用して実装基板(挿入実装部品)へのフローは
んだ付けを行う方法およびその装置を提供することにあ
る。
いう現象が生じるのを著しく低減し、しかも接続部の高
信頼性を確保でき、しかも、多品種の実装基板に対応で
きるようにフローはんだ付け条件を頻繁に変更可能に1
枚の実装基板の生産時間をできるだけ短くした鉛フリー
はんだを使用して実装基板(挿入実装部品)へのフロー
はんだ付けを行う装置およびその方法を提供することに
ある。
いう現象が生じるのを著しく低減し、しかも接続部の高
信頼性を確保でき、しかも、窒素等の不活性ガス雰囲気
を形成するチャンバーを小型化した鉛フリーはんだを使
用して実装基板(挿入実装部品)へのフローはんだ付け
を行う装置およびその方法を提供することにある。
に、本発明は、実装部品を上面側から基板に実装した
(例えば実装部品のリードを上面側から基板に形成され
たスルーホールに挿入した)実装基板を鉛フリーはんだ
を用いて不活性ガス雰囲気のチャンバー内でフローはん
だ付けする方法において、前記実装基板を前記チャンバ
ーの入口から搬入する搬入工程と、該搬入工程で搬入さ
れた実装基板の下面を、前記チャンバー内に設けられた
予備加熱部において予備加熱する予備加熱工程と、該予
備加熱工程で予備過熱されて搬送される実装基板の下面
を、前記チャンバー内に設けられたフローはんだ付け部
において溶融した鉛フリーはんだ噴流との接触によって
フローはんだ付けを行うフローはんだ付け工程と、該フ
ローはんだ付け工程で鉛フリーによるフローはんだ付け
されて搬送される実装基板の下面に、前記チャンバー内
の不活性ガス雰囲気を循環冷却して前記チャンバー内に
前記フローはんだ付け部に隣接して設けられた吹き付け
部で吹き付けて冷却する冷却工程と、該冷却工程で下面
が冷却された実装基板を前記チャンバーの出口から搬出
する搬出工程とを有することを特徴とする鉛フリーはん
だを用いたフローはんだ付け方法である。
板に実装した(例えば、実装部品のリードを上面側から
基板に形成されたスルーホールに挿入した)実装基板を
鉛フリーはんだを用いて不活性ガス雰囲気のチャンバー
内でフローはんだ付けする装置において、前記実装基板
を、前記チャンバーの入口から出口へと搬送する搬送手
段を設け、該搬送手段で前記チャンバーの入口から搬入
された実装基板の下面を予備加熱する予備加熱部と、該
予備加熱部で予備過熱されて前記搬送手段で搬送される
実装基板の下面を溶融した鉛フリーはんだ噴流との接触
によってフローはんだ付けを行うフローはんだ付け部
と、該フローはんだ付け部で鉛フリーによるフローはん
だ付けされて前記搬送手段で搬送される実装基板の下面
に、前記チャンバー内の不活性ガス雰囲気を循環冷却し
て吹き付ける吹き付け部を有する冷却部とを前記チャン
バー内に設けたことを特徴とする鉛フリーはんだを用い
たフローはんだ付け装置である。
いたフローはんだ付け方法およびその装置において、更
に、前記搬入工程の前に、前記実装基板の下面にフラッ
クスを塗布するフラックス塗布工程を有することを特徴
とする。
いたフローはんだ付け方法およびその装置における、前
記冷却工程において、前記吹き付け部に隣接して不活性
ガスを吸い込む吸気口を設けて該吸気口から前記吹き付
け部へと前記チャンバー内の不活性ガス雰囲気を循環冷
却して吹き付けることを特徴とする。また、本発明は、
前記鉛フリーはんだを用いたフローはんだ付け方法およ
びその装置における、前記冷却工程において、前記吹き
付け部から前記実装基板の下面への冷却された不活性ガ
スの吹き付けを断続的に行うことを特徴とする。また、
本発明は、前記鉛フリーはんだを用いたフローはんだ付
け方法およびその装置における、前記冷却工程において、
前記不活性カ゛ス雰囲気の循環冷却を送風機および冷却装
置により行うことを特徴とする。また、本発明は、前記
鉛フリーはんだを用いたフローはんだ付け方法およびそ
の装置において、前記チャンバーの入口および出口に、
実装基板を搬送可能で、少なくとも冷却時には前記チャ
ンバー内に大気の流入を抑制する機構若しくは装置を設
けたことを特徴とする。また、本発明は、前記鉛フリー
はんだを用いたフローはんだ付け方法およびその装置に
おいて、前記チャンバーの入口および出口に、前記チャ
ンバー内に大気の流入を抑制する不活性ガスカーテンを
設けたことを特徴とする。また、本発明は、前記鉛フリ
ーはんだを用いたフローはんだ付け方法およびその装置
において、前記実装基板を搬送ホルダーに搭載して搬送
し、該搬送ホルダーが前記チャンバーの入口および出口
に位置するとき前記チャンバー内に大気の流入を抑制す
るように構成したことを特徴とする。
いたフローはんだ付け方法およびその装置において、前
記実装基板を搬送ホルダーに搭載して前記搬送手段によ
り搬送するように構成し、該搬送ホルダーが前記チャン
バーの入口および出口に待機できるステーションを設け
たことを特徴とする。また、本発明は、前記鉛フリーは
んだを用いたフローはんだ付け方法およびその装置にお
いて、前記実装基板を搬送ホルダーに搭載して前記搬送
手段として搬送コンベアにより搬送するように構成し、
前記搬送ホルダーにおいて前記搬送コンベアの移動に伴
って生じる形状の変化に倣う構造を有することを特徴と
する。
いたフローはんだ付け方法およびその装置において、前
記搬送ホルダーを搬送する搬送手段(搬送コンベア)の
たるみ等により搬送ホルダーと搬送手段との接触が不十
分となることによる搬送ホルダーのすべりを低減し、搬
送不良を防止するために、搬送ホルダーにおける搬送手
段との接触部分が搬送手段のたるみ等の形状(搬送手段
の移動に伴って生じる形状の変化)に倣う構造を有する
ことを特徴とする。また、本発明は、前記鉛フリーはん
だを用いたフローはんだ付け方法を用いてフローはんだ
付けを行った実装構造体である。
装基板の下面冷却時にチャンバー内に発生する不活性ガ
ス雰囲気の流れや、チャンバーの入口と出口付近の大気
の流れをできるだけ小規模化することができ、しかも実
装基板の下面の冷却を効率よく行うことができ、リフト
オフという現象が生じるのを著しく低減し、しかも接続
部の高信頼性を確保できる効果が得られる。
いたフローはんだ付け方法およびその装置の実施の形態
について、図面を用いて説明する。
に、不活性雰囲気チャンバー1内への大気吸い込みの主
原因となっている基板11の下面を冷却するときに、チ
ャンバー1内に発生する不活性雰囲気の流れや、チャン
バー1に設けられた基板11の入口1aと出口1bの付
近の大気の流れをできるだけ小規模化するものである。
いたフローはんだ付け装置は、挿入実装部品(図示せ
ず)のリードを基板の上面側より挿入された実装基板1
1を搬送する基板搬送コンベア21と、該基板搬送コン
ベア21で搬送される実装基板11の上面および下面を
取り囲むように、窒素ガス等の不活性ガス雰囲気で構成
されるチャンバー1とが設けられる。該チャンバー1の
入口1aおよび出口1bの各々の近傍には、上面側に櫛
歯状の拡散防止フィン1c、1dが設けられ、下面側に
櫛歯状の拡散防止フィン1e、1fが設けられている。
実装基板11の上面側には、挿入実装部品のリードが基
板に挿入されている関係で、実装基板11が通れるよう
に上面側の拡散防止フィン1c、1dの下端と基板搬送
コンベア21との間隙を広く形成している。下面側の拡
散防止フィン1e、1fの上端と基板搬送コンベア21
との間隙を狭く形成している。フラックス塗布工程でフ
ラックスが塗布された実装基板11は、基板搬送コンベ
ア21によって入口1aから不活性ガス雰囲気内のチャ
ンバー1内に搬入される。
スが塗布されて搬入された実装基板11の下面を予備加
熱するもので、チャンバー1内の実装基板11の下面側
に設けられる。
よって予備加熱された実装基板11の下面を鉛フリーの
はんだ噴流を用いてフローはんだ付けするものであり、
溶融はんだを噴出させてはんだ付け部を荒らす一次側の
ノズル部3aと、溶融はんだを形成する溶融はんだ部3
bとで構成される。即ち、フローはんだ付け部3は、溶
融した鉛フリーはんだ噴流を実装基板11の下面に接触
させてフローはんだ付けを行う。
3でフローはんだ付けされた実装基板11の下面にチャ
ンバー1内の不活性ガスを吹き付けて冷却するもので、
図1〜図5に示すように、チャンバー1に1つの吹き付
けノズル4aを2つの吸気口4bで挟み込んだもので構
成され、フローはんだ付け部3に隣接して取り付けられ
る。このように、基板下面冷却部4における吹き付けノ
ズル4a、および吸気口4bの開口部形状は、ともに長
方形となっている。
出た窒素等の不活性ガスは、実装基板11の下面を冷却
後、すぐに吹き付けノズル4aの両隣にある吸気口4b
から送風機4cによって回収され、チラー(冷却装置)4
d等によって冷却後、再び実装基板11の下面の冷却に
再利用されることになる。
フトオフを抑制するためには、冷媒が室温の窒素の場
合、毎分数m3程度の流量が必要であり、これを常時行
うことはチャンバー1内の不活性雰囲気を安定させるの
を妨げることになるため、この実装基板11の下面の冷
却は、実装基板11がフローはんだ付け部3にてはんだ
付けを行われた直後から一定時間行う断続使用とするこ
とが望ましい。
の断続使用に伴い、送風機4cのスイッチをオン・オフ
する必要が生じることになる。しかし、これによりスイ
ッチをオンにしてから風量が安定するまでの時間やスイ
ッチをオフにしてから風量が0になるまでの時間も使用
することになり、冷却効率が悪くなる。
けノズル4aにシャッター4eを設け、あらかじめ実装
基板11の下面の冷却部4に実装基板がさしかかる数秒
前に、送風機4cのスイッチをオンにしておき、実装基
板11の前縁が冷却部4にさしかかると同時に上記シャ
ッター4eを開き、実装基板11の後縁が冷却部4を通
過すると同時に上記シャッター4eを閉じ、送風機4c
のスイッチをオフにする構造とするのが望ましい。
て、図4に示すように、実装基板11が搬入されるチャ
ンバー1の入口1aや搬出される出口1bに大気の吸い
込みを抑制する開閉弁若しくは開閉シャッター1gを閉
じて、チャンバー1の内部を外部と遮断して密閉するこ
とにより、チャンバー1の入口1aと搬出される出口1
bの付近における大気の流れをできるだけ少なくして、
拡散防止フィン1c〜1fの基板搬送方向の長さを短く
して不活性ガス雰囲気にするチャンバー1を小規模にす
ることができる。
よび出口1bに、不活性ガス発生ノズル1hを設けて、
チャンバー1の内部を外部と遮断すべく、窒素等の不活
性ガスカーテンを構成したものである。
1を使用して基板11を搬送する場合は、図7に示すよ
うに、大気の吸い込みを抑制する弁101b等を上記基
板搬送ホルダー側に設け、基板搬送ホルダー101内の
実装基板11がはんだ付けされる際、他のホルダー10
1の内、2個のホルダー101がそれぞれチャンバー1
の入口1aおよび出口1bに設けられたステーション2
2にて待機するか、あるいは1個のホルダー101がチ
ャンバー1の入口1aあるいは出口1bに設けられたス
テーション22にて待機することにより、不活性ガス雰
囲気のチャンバー1の内部を外部から遮断することが可
能となる。
基板11がはんだ付け部3ではんだ付けされる際、2個
の基板搬送ホルダー101がそれぞれチャンバー1の入
口1aおよび出口1bに設けられたステーション22に
て待機している様子を示す。
ダー101がはんだ付け装置内の搬送コンベア21上で
発進、停止を繰り返す場合、基板搬送ホルダー101が
搬送コンベアの動きの変化に追従できず、基板搬送ホル
ダー101がすべりを起こすことが考えられる。これ
は、搬送コンベア21にたるみ等が発生するためであ
り、これにより基板搬送ホルダー101と搬送コンベア
21との接触が不十分となるからである。
はんだ付け部におきるショートを防止するために意図的
にはんだ付け部3の搬送コンベア21に登り勾配を設け
ている装置の場合に起きやすくなる。そこで、このすべ
りを防止するには、基板搬送ホルダー101における搬
送コンベア21との接触部分が、搬送コンベア21のた
るみ等の形状に倣う構造をもつ必要がある。また、基板
搬送ホルダー101を2本のチェーン型搬送コンベアを
使って搬送する場合には、各コンベアのたるみ量に差異
が生じ各コンベアの平行度が損なわれることもあり、こ
のことも基板搬送ホルダー101と上記チェーン型搬送
コンベアとの接触を不十分にする原因となる。
ダー101の搬送コンベア接触部101aの片方を、可
動式の接触部101cで構成することにより、2本の搬
送コンベアの平行度が損なわれた場合でも、基板搬送ホ
ルダー101と搬送コンベア21との接触を十分に確保
することが可能となる。
示す構成と相違する点は、吸気口4b’をフローはんだ
付け部3の真上の実装基板11の上面側に設け、該吸気
口4bを送風機4cと接続するように構成した。なお、
吹き付けノズル4aは、図1に示すのと同様に、フロー
はんだ付け部3に近接して設けた。その結果、チャンバ
ー1内の窒素等の不活性ガスは、フローはんだ付け部3
の直上の吸気口4b’から送風機4cによって回収さ
れ、チラー(冷却装置)4d等によって冷却後、実装基板
11の下面の冷却に利用されることになる。なお、この
構成においても、図2および図3に示すように、吸気口
4b’および吹き付けノズル4aにシャッター4eを設
けてもよい。また、図4および図5に示すように、チャ
ンバー1の入口1aおよび出口1bに開閉弁若しくは開
閉シャッター1gおよび/または不活性ガスシャワー1
hを設けてもよい。
さ1.6mm程度、層数12、スルーホール内径0.8
mm程度である。また、この基板11aには、先の工程
でQFP(Quad Flatpack Package)−LSI等が接続
されている。次に、フローはんだ付けされるプラスチッ
ク製コネクタ、400ピンPGA(Pin Grid Array pac
kage)−LSI等の端子を、基板11aの上面からスル
ーホールへと差し込み、取り付けた。以上により、フロ
ーはんだ付けされる実装基板11が用意され、フローは
んだ付け装置の前工程であるフラックス塗布工程におい
て実装基板11のフローはんだ付け部にフラックスが塗
布されることになる。
だ付け装置は、実装基板11をホルダーを介さず直接搬
送するタイプのものとし、実装基板11は、フラックス
塗布部(図示せず)、図10に示すように、フローはん
だ付け装置を構成すべくチャンバー1内に設けられた基
板予備加熱部2、フローはんだ付け部3、基板下面冷却
部4の順に通過するようになっている。また、チャンバ
ー1は、基板予備加熱部2、フローはんだ付け部3、お
よび基板下面冷却部4を包み込む構造となっている。
とおりである。フラックス塗布方法は、スプレー式と
し、基板単位面積当たりの塗布量は150cc/m2で
ある。基板予備加熱は、基板予備加熱部2において、3
00℃程度のシーズヒータにて約30秒間行われた。フ
ローはんだ付け部3において、フローはんだ付けに使用
したはんだ組成は、鉛フリーであるSn−3Ag−0.
5Cu(単位:mass%)、はんだ温度は250℃程
度である。
却風はチャンバー内の窒素雰囲気を利用して行うことと
し、冷却風は、図10に示すように、フローはんだ付け
部3の直上である実装基板11の上面側のチャンバーに
設けられた吸気口4b’から吸引したチャンバー内の窒
素雰囲気を送風機4cで送風し、チラー4dによって室
温まで冷却したものをフローはんだ付け部3に隣接して
設けられた冷却風吹き付けノズル4aから実装基板11
に吹き付けることとした。また、この冷却は、実装基板
11が冷却部4に存在する間行われ、その流量は2m3
/分程度とした。また、基板搬送コンベア21の速度は
全工程で1.2m/分とした。
ピンPGA−LSIの接続部のリフトオフ発生率は約
0.1%、プラスチック製コネクタでは約0.5%とな
ることがわかった。
酸素濃度は、目標10000ppm(1%)に対して約
8000ppmで、目標をかろうじて満足する結果が得
られた。その結果、濡れ性の指標である目標フローアッ
プ率80%に到達しない接続部が、約10%存在した。
フローアップ率は、スルーホールの長さ(ほぼ基板の板
厚に相当する。)を100%としたフローはんだの濡れ
性の指標である。目標フローアップ率80%は、スルー
ホールの長さの80%がフローはんだでぬれることを意
味する。そして、この濡れ性は、チャンバー内酸素濃度
に関係することになる。
上記第1の実施例と相違する点は、図2および図3に示
す基板下面冷却部4を使用したことにある。
300℃のシーズヒータにて約30秒間行われた。ま
た、第1の実施例と同様に、フローはんだ付けに使用し
たはんだ組成は、鉛フリーであるSn−3Ag−0.5
Cu(単位:mass%)、はんだ温度は250℃であ
る。
板下面冷却部4に使用される冷却風はチャンバー内の窒
素雰囲気を利用して行うこととし、冷却風は、チャンバ
ー1に接続された2つの吸気口4bから吸引した雰囲気
を送風機4cで送風し、チラー4dにて室温まで冷却し
たものをチャンバー1に接続された冷却風吹き付けノズ
ル4aから実装基板11の下面に吹き付けることとし、
冷却風吹き付けノズル4aは2つの吸気口4bに挟まれ
た構造となっている。また、この冷却は、第1の実施例
と同様に、実装基板11が冷却部4に存在する間行わ
れ、その流量は2m3/分とした。また、基板搬送コン
ベア21の速度は第1の実施例と同様にした。その結
果、フローはんだ付けされた400ピンPGA−LSI
の接続部のリフトオフ発生率は約0.1%、プラスチッ
ク製コネクタでは約0.5%となることがわかった。
ノズル4aの両側に設けたことにより、はんだ付け時の
チャンバー内酸素濃度は、目標10000ppm(1
%)に対して約5000ppmで、充分目標を満足させ
ることができた。その結果、めれ性の指標である目標フ
ローアップ率80%に到達しない接続部を、第1の実施
例に比べて、約5%と半減することができた。
第2の実施例と相違する点は、図4または図5に示すよ
うに、チャンバー1の入口1aと出口1bの両方に窒素
カーテン1hまたはシャッター1gを取り付けたことに
ある。
と同様に、300℃のシーズヒータにて約30秒間行わ
れた。そして、第1および第2の実施例と同様に、フロ
ーはんだ付けに使用したはんだ組成は、鉛フリーである
Sn−3Ag−0.5Cu(単位:mass%)、はん
だ温度は250℃である。実装基板11の下面の冷却
は、第2の実施例と同様に行われた。また、基板搬送コ
ンベア21の速度も、第1および第2の実施例と同様に
した。その結果、フローはんだ付けされた400ピンP
GA−LSIの接続部のリフトオフ発生率は約0.1
%、プラスチック製コネクタでは約0.5%となること
がわかった。
度は、チャンバー出口1aと入口1bに設置した窒素カ
ーテン1hを常時使用し、シャッター1gを常時開けた
状態で目標10000ppmに対して一桁低い約100
0ppmが得られ、チャンバー入口1aと出口1bに設
置した窒素カーテン1hを常時不使用とし、実装基板1
1または実装基板を搭載した基板搬送ホルダー101が
チャンバー入口1aと出口1bを通過する時のみシャッ
ター1gを開けると目標10000ppmに対して約5
%の低い約500ppmが得られた。その結果、濡れ性
の指標である目標フローアップ率80%に到達しない接
続部を、第2の実施例に比べて、約3%と更に低減する
ことができた。
第2の実施例と相違する点は、図8に示すように、実装
基板11を基板搬送ホルダー101で搬送する方式にし
て、チャンバー1の入口1aおよび出口1bにおいて待
機する基板搬送ホルダー101でチャンバー内に大気の
入り込みを抑制するように構成することにある。
11を基板搬送ホルダー101で搬送する方式のもので
ある。そして、基板装着部(図示せず)にて、実装基板
11を基板搬送ホルダー101に装着後、実装基板11
は基板搬送ホルダー101と共に搬送されてフラックス
塗布部(図示せず)を経て、チャンバー1の入口1aに
到達し、次いで、チャンバー1内の基板予備加熱部2、
フローはんだ付け部3、基板下面冷却部4を経てチャン
バー1の出口1bから搬出され、再び上記基板装着部に
戻るようになっている。
よび基板下面冷却の3つの工程は、図8に示すように、
一本の独立制御可能なコンベア21上で行われ、そして
このコンベア21は1つのチャンバー1によって囲まれ
ている。そして、コンベア21の両端すなわちチャンバ
ー入口1aと出口1bには、基板搬送ホルダー101が
停留できるステーション22が設けられている。これに
より、まず、フローはんだ付けを行う実装基板11を搬
送しているホルダー(これをホルダーAとする。)10
1がチャンバー1に入る前はチャンバー入口1aと出口
1bの2箇所のステーション22にホルダー101が存
在し、チャンバー1への大気の入り込みを抑制してい
る。
近づくと、チャンバー出口1bにて待機していたホルダ
ー101は基板装着部(図示せず)へ向けて動き出し、
チャンバー入口1aのステーション22にて待機してい
たホルダー101は、こんどはチャンバー出口1bへ向
けて動き出し、そこで待機する。また、ホルダーAの後
ろからは、別のホルダーがホルダーAの追従を開始す
る。
込み、フローはんだ付けが行われると、追従していたホ
ルダーはチャンバー入口1aのステーション22にて待
機する。そして、この追従していたホルダー101に実
装基板11が搬送されているなら、この後、チャンバー
内でホルダーAの場合と同様にフローはんだ付けが行わ
れていく。このため、ホルダー101がチャンバー1内
に存在するときには、低酸素濃度を維持してはんだ付け
を行うことが可能となる。
様に、300℃のシーズヒータにて行うこととし、この
シーズヒータ上に実装基板11を最短で30秒間、最長
で50秒間の任意の時間停留させることによって行う。
なお、停留時間は実装基板11の熱容量によって決まる
ものであり、熱容量が大きい実装基板ほど長くなる。フ
ローはんだ付けに使用したはんだ組成およびはんだ温度
は、第1〜第3の実施例と同様である。基板下面冷却
も、第2および第3の実施例と同様に行う。
面冷却部4までの基板搬送コンベアの速度は最低で1.
2m/分、最高で1.6m/分で任意の速度で搬送可能
にした。なお、この搬送速度は実装基板11の耐熱性に
よって決まるものであり、実装基板にフローはんだ付け
の熱影響を受けて壊れやすい部品等があると、基板搬送
速度を高くして実装基板が溶融はんだから受ける総熱量
を小さくしなければならない。
条件を表1に示す。
ムは約2分となり、約2分ごとに基板予備加熱条件や、
基板搬送速度条件の異なる多種の基板を連続的に生産す
ることができた。また、それぞれの実装基板にフローは
んだ付けされた400ピンPGA−LSIの接続部のリ
フトオフ発生率は約0.1%、プラスチック製コネクタ
では平均で約0.5%となることがわかった。そして、
はんだ付け時のチャンバー内酸素濃度を約5000pp
m以下にして、目標フローアップ率80%に到達しない
接続部を平均で約5%に抑えることが可能であることも
わかった。
第4の実施例と相違する点は、図9に示すように、基板
ホルダー101における搬送コンベアとの接触部分10
1aの片方を、可動式の接触部101cで構成すること
により、搬送コンベア21のたるみ等の形状(搬送コン
ベア21の移動に伴って生じる形状の変化)に倣う構造
を採用し、基板搬送ホルダー101を搬送する搬送コン
ベア21のたるみ等の形状の変化により基板搬送ホルダ
ーと搬送コンベアとの接触が不十分となることによる基
板搬送ホルダーのすべりを低減し、搬送不良を防止する
ことにある。
ーにすべりが生じ、基板搬送速度が不均一となることが
ある。そして、これがフローはんだ付け部3にてはんだ
付けが行われている最中に起きると、基板のある部分に
おいて遅い搬送速度ではんだ付けが行われてしまい、そ
の部分にはんだから過剰な熱量が供給されることにな
る。その結果、厚さ1.6mm、層数12、スルーホー
ル内径0.8mmであり、先の工程でQFP−LSI等
が接続されている基板に、基板搬送速度設定値を1.2
m/分とし、はんだ温度250℃でフローはんだ付けを
した場合、該QFP−LSIの剥がれが0.5%程度の
確率で発生した。
のSn、Agと、QFP−LSIのリードに含まれてい
るPbによって構成される低融点相が偏析しており、こ
の部分には、はんだから過剰な熱量が供給されているこ
とがわかった。そこで、前述の方法により改良を施した
基板搬送ホルダー101を用いてフローはんだ付けを行
った。その結果、該QFP−LSIの剥がれの発生確率
は0.1%以下に低減した。
形態によれば、実装基板下面に冷却風を吹き付ける吹き
付けノズル4aと、冷却用の窒素等の不活性雰囲気をチ
ャンバー1から吸引する吸気口4bとを隣接させる方法
や、チャンバー1の入口1aや出口1bに弁、シャッタ
ー1gあるいは窒素等の不活性ガスのカーテン1hを用
いる方法、さらには、チャンバー1の入口1aや出口1
bから大気が入り込むのを抑制する弁101b等を基板
搬送ホルダー101に設け、1個の基板搬送ホルダー内
の実装基板11がフローはんだ付けされる際、他のホル
ダーの内、2個のホルダーがそれぞれチャンバーの入口
1aおよび出口1bに設けられたステーション22にて
待機するか、あるいは1個のホルダー101がチャンバ
ーの入口1aあるいは出口1bに設けられたステーショ
ン22にて待機する方法により、鉛フリーはんだを使用
したフローはんだ付けに適した酸素濃度約1%以下の不
活性雰囲気をはんだ付け部にて実現することが可能とな
る。
安定した窒素等の不活性雰囲気の中でのはんだ付けやリ
フトオフ等の対策が必要な鉛フリーはんだのフローはん
だ付けに対応しながら、基板のはんだ付け条件変更を頻
繁に行う場合において、装置フローはんだ付け部を取り
囲む窒素等の不活性ガス雰囲気のチャンバーを上記の如
く小型化することによって、実装基板が装置内に長く留
まらないようにして、回路基板の多品種の生産を行うた
めに1枚の基板生産時間をできるだけ短くすることが可
能となる。
して実装基板(挿入実装部品)へのフローはんだ付けを
行う際、リフトオフという現象が生じるのを著しく低減
し、しかも接続部の高信頼性を確保することができる効
果を奏する。
はんだ付け装置の第2の実施例である一つの吹き付け部
(例えば吹き付けノズル)を2つの吸気口で挟み込んだ
構造の基板下面冷却部を持つ不活性ガス雰囲気チャンバ
ーの側面図である。
部を示す側面図である。
はんだ付け装置の第3の実施例である大気の吸い込みを
抑制する弁若しくはシャッターを不活性ガス雰囲気チャ
ンバーの入口と出口に取り付けた状態を示す側面図であ
る。
はんだ付け装置の第3の実施例である大気の吸い込みを
抑制する不活性ガスカーテンを不活性ガス雰囲気チャン
バーの入口と出口に取り付けた状態を示す側面図であ
る。
搬送ホルダーの概略図である。
はんだ付け装置の第3の実施例である大気の吸い込みを
抑制する弁を取り付けた基板搬送ホルダーが不活性ガス
雰囲気チャンバーの入口と出口のステーションにて待機
している様子を示した側面図である。
にも基板搬送ホルダーと搬送コンベアとの接触を十分に
確保するために片方の搬送コンベア接触部を可動式とし
た基板搬送ホルダーの概略図である。
ーはんだ付け装置の第1の実施例である基板下面冷却部
を持つ不活性ガス雰囲気チャンバーの側面図である。
入口、1b…チャンバーの出口、1c、1d、1e、1
f…拡散防止フィン、1g…弁またはシャッター、1h
…不活性ガスカーテン、2…基板予備加熱部、3…フロ
ーはんだ付け部、3a…溶融はんだ、4…基板下面冷却
部、4a…吹き付けノズル(吹き付け部)、4b…吸気
口、4c…送風機、4d…チラー、4e…シャッター、
11…実装基板、21…基板搬送コンベア(搬送手
段)、22…ステーション、101…基板搬送ホルダ
ー、101a…搬送コンベア接触部、101b…弁、1
01c…搬送コンベア可動式接触部。
Claims (19)
- 【請求項1】実装部品を上面側から基板に実装した実装
基板を鉛フリーはんだを用いて不活性ガス雰囲気のチャ
ンバー内でフローはんだ付けする方法において、 前記実装基板を、前記チャンバーの入口から搬入する搬
入工程と、 該搬入工程で搬入された実装基板の下面を、前記チャン
バー内に設けられた予備加熱部において予備加熱する予
備加熱工程と、 該予備加熱工程で予備過熱されて搬送される実装基板の
下面を、前記チャンバー内に設けられたフローはんだ付
け部において溶融した鉛フリーはんだ噴流との接触によ
ってフローはんだ付けを行うフローはんだ付け工程と、 該フローはんだ付け工程で鉛フリーによるフローはんだ
付けされて搬送される実装基板の下面に、前記チャンバ
ー内の不活性ガス雰囲気を循環冷却して前記チャンバー
内に前記フローはんだ付け部に近接あるいは隣接して設
けられた吹き付け部で吹き付けて冷却する冷却工程と、 該冷却工程で下面が冷却された実装基板を前記チャンバ
ーの出口から搬出する搬出工程とを有することを特徴と
する鉛フリーはんだを用いたフローはんだ付け方法。 - 【請求項2】更に、前記搬入工程の前に、前記実装基板
にフラックスを塗布するフラックス塗布工程を有するこ
とを特徴とする請求項1記載の鉛フリーはんだを用いた
フローはんだ付け方法。 - 【請求項3】前記冷却工程において、前記吹き付け部に
近接あるいは隣接して不活性ガスを吸い込む吸気口を設
けて該吸気口から前記吹き付け部へと前記チャンバー内
の不活性ガス雰囲気を循環冷却して吹き付けることを特
徴とする請求項1記載の鉛フリーはんだを用いたフロー
はんだ付け方法。 - 【請求項4】前記冷却工程において、前記吹き付け部か
ら前記実装基板の下面への冷却された不活性ガスの吹き
付けを断続的に行うことを特徴とする請求項1または2
または3記載の鉛フリーはんだを用いたフローはんだ付
け方法。 - 【請求項5】前記冷却工程において、前記不活性ガス雰
囲気の循環冷却を送風機および冷却装置により行うこと
を特徴とする請求項1または2または3または4記載の
鉛フリーはんだを用いたフローはんだ付け方法。 - 【請求項6】前記チャンバーの入口および出口に、実装
基板を搬送可能で、少なくとも冷却時には前記チャンバ
ー内に大気の流入を抑制する機構若しくは装置を設けた
ことを特徴とする請求項1または2または3または4記
載の鉛フリーはんだを用いたフローはんだ付け方法。 - 【請求項7】前記チャンバーの入口および出口に、前記
チャンバー内に大気の流入を抑制する不活性ガスカーテ
ンを設けたことを特徴とする請求項1または2または3
または4記載の鉛フリーはんだを用いたフローはんだ付
け方法。 - 【請求項8】前記実装基板を搬送ホルダーに搭載して搬
送し、該搬送ホルダーが前記チャンバーの入口および出
口に位置するとき前記チャンバー内に大気の流入を抑制
するように構成したことを特徴とする請求項1または2
または3または4記載の鉛フリーはんだを用いたフロー
はんだ付け方法。 - 【請求項9】請求項1乃至8の何れか一つに記載の鉛フ
リーはんだを用いたフローはんだ付け方法を用いてフロ
ーはんだ付けを行った実装構造体。 - 【請求項10】実装部品を上面側から基板に実装した実
装基板を鉛フリーはんだを用いて不活性ガス雰囲気のチ
ャンバー内でフローはんだ付けする装置において、 前記実装基板を、前記チャンバーの入口から出口へと搬
送する搬送手段を設け、 該搬送手段で前記チャンバーの入口から搬入された実装
基板の下面を予備加熱する予備加熱部と、該予備加熱部
で予備過熱されて前記搬送手段で搬送される実装基板の
下面を溶融した鉛フリーはんだ噴流との接触によってフ
ローはんだ付けを行うフローはんだ付け部と、該フロー
はんだ付け部で鉛フリーによるフローはんだ付けされて
前記搬送手段で搬送される実装基板の下面に、前記チャ
ンバー内の不活性ガス雰囲気を循環冷却して吹き付ける
吹き付け部を有する冷却部とを前記チャンバー内に設け
たことを特徴とする鉛フリーはんだを用いたフローはん
だ付け装置。 - 【請求項11】更に、前記チャンバーに実装基板を搬入
する前に、前記実装基板にフラックスを塗布するフラッ
クス塗布装置を設けたことを特徴とする請求項10記載
の鉛フリーはんだを用いたフローはんだ付け装置。 - 【請求項12】前記冷却部において、前記吹き付け部に
近接あるいは隣接して不活性ガスを吸い込む吸気口を設
けたことを特徴とする請求項10記載の鉛フリーはんだ
を用いたフローはんだ付け装置。 - 【請求項13】前記冷却部において、前記吹き付け部か
ら前記実装基板の下面への冷却された不活性ガスの吹き
付けを断続的に行うように構成したことを特徴とする請
求項10または11または12記載の鉛フリーはんだを
用いたフローはんだ付け装置。 - 【請求項14】前記冷却部において、前記不活性ガス雰
囲気の循環冷却を行うように送風機および冷却装置を設
けたことを特徴とする請求項10または11または12
または13記載の鉛フリーはんだを用いたフローはんだ
付け装置。 - 【請求項15】前記チャンバーの入口および出口に、実
装基板を搬送可能で、少なくとも冷却時には前記チャン
バー内に大気の流入を抑制する機構若しくは装置を設け
たことを特徴とする請求項10または11または12ま
たは13記載の鉛フリーはんだを用いたフローはんだ付
け装置。 - 【請求項16】前記チャンバーの入口および出口に、前
記チャンバー内に大気の流入を抑制する不活性ガスカー
テンを設けたことを特徴とする請求項10または12ま
たは13または14記載の鉛フリーはんだを用いたフロ
ーはんだ付け装置。 - 【請求項17】前記実装基板を搬送ホルダーに搭載して
前記搬送手段により搬送するように構成し、前記搬送ホ
ルダーが前記チャンバーの入口および出口に位置すると
き前記チャンバー内に大気の流入を抑制するように構成
したことを特徴とする請求項10または11または12
または13記載の鉛フリーはんだを用いたフローはんだ
付け装置。 - 【請求項18】前記実装基板を搬送ホルダーに搭載して
前記搬送手段により搬送するように構成し、前記搬送ホ
ルダーが前記チャンバーの入口および出口に待機できる
ステーションを設けたことを特徴とする請求項10また
は11または12または13記載の鉛フリーはんだを用
いたフローはんだ付け装置。 - 【請求項19】前記実装基板を搬送ホルダーに搭載して
前記搬送手段として搬送コンベアにより搬送するように
構成し、前記搬送ホルダーにおいて前記搬送コンベアの
移動に伴う形状の変化に倣う構造を有することを特徴と
する請求項10または11または12または13記載の
鉛フリーはんだを用いたフローはんだ付け装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001388814A JP3895169B2 (ja) | 2001-12-21 | 2001-12-21 | 鉛フリーはんだを用いたフローはんだ付け装置 |
US10/133,778 US7048173B2 (en) | 2001-12-21 | 2002-04-25 | Wave soldering method using lead-free solder, apparatus therefor, and wave-soldered assembly |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001388814A JP3895169B2 (ja) | 2001-12-21 | 2001-12-21 | 鉛フリーはんだを用いたフローはんだ付け装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003181631A true JP2003181631A (ja) | 2003-07-02 |
JP3895169B2 JP3895169B2 (ja) | 2007-03-22 |
Family
ID=19188209
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001388814A Expired - Fee Related JP3895169B2 (ja) | 2001-12-21 | 2001-12-21 | 鉛フリーはんだを用いたフローはんだ付け装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7048173B2 (ja) |
JP (1) | JP3895169B2 (ja) |
Cited By (1)
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---|---|---|---|---|
US7911062B2 (en) | 2006-03-07 | 2011-03-22 | Hitachi, Ltd. | Electronic component with varying rigidity leads using Pb-free solder |
Families Citing this family (9)
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---|---|---|---|---|
JP3895169B2 (ja) * | 2001-12-21 | 2007-03-22 | 株式会社日立製作所 | 鉛フリーはんだを用いたフローはんだ付け装置 |
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-
2001
- 2001-12-21 JP JP2001388814A patent/JP3895169B2/ja not_active Expired - Fee Related
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2002
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3895169B2 (ja) | 2007-03-22 |
US20030116352A1 (en) | 2003-06-26 |
US7048173B2 (en) | 2006-05-23 |
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