JP2003176936A - 環境試験器の温度制御装置及びその温度制御方法 - Google Patents
環境試験器の温度制御装置及びその温度制御方法Info
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- JP2003176936A JP2003176936A JP2001376554A JP2001376554A JP2003176936A JP 2003176936 A JP2003176936 A JP 2003176936A JP 2001376554 A JP2001376554 A JP 2001376554A JP 2001376554 A JP2001376554 A JP 2001376554A JP 2003176936 A JP2003176936 A JP 2003176936A
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】 温度制御部での温度の異常上昇または異常降
下を防止しつつ、温度測定点での温度上昇速度または降
下温度速度の向上をはかることができる環境試験器の温
度制御方法を提供する。 【解決手段】 温度上昇又は下降時に、目標温度設定値
ＳＶ１にオフセット値βを加えたものを温度設定値ＳＶ
として用い、環境試験器１内４ｂで測定された第２実測
温度測定値ＰＶ２が目標温度設定値ＳＶ１に近づくと、
オフセット値βをゼロまで減少させ温度設定値ＳＶを目
標温度設定値ＳＶ１に切り換える温度設定値演算手段５
ａと、温度上昇又は下降時に、温度制御部近傍４ａで測
定された第１実測温度測定値ＰＶ１を温度測定値ＰＶに
用い、第２実測温度測定値ＰＶ２が目標温度設定値ＳＶ
１に近づくと、温度測定値ＰＶを第２実測温度測定値Ｐ
Ｖ２に切り換える温度測定値演算手段５ｂと、を備える
ことを特徴とする環境試験器１の温度制御装置とする。
下を防止しつつ、温度測定点での温度上昇速度または降
下温度速度の向上をはかることができる環境試験器の温
度制御方法を提供する。 【解決手段】 温度上昇又は下降時に、目標温度設定値
ＳＶ１にオフセット値βを加えたものを温度設定値ＳＶ
として用い、環境試験器１内４ｂで測定された第２実測
温度測定値ＰＶ２が目標温度設定値ＳＶ１に近づくと、
オフセット値βをゼロまで減少させ温度設定値ＳＶを目
標温度設定値ＳＶ１に切り換える温度設定値演算手段５
ａと、温度上昇又は下降時に、温度制御部近傍４ａで測
定された第１実測温度測定値ＰＶ１を温度測定値ＰＶに
用い、第２実測温度測定値ＰＶ２が目標温度設定値ＳＶ
１に近づくと、温度測定値ＰＶを第２実測温度測定値Ｐ
Ｖ２に切り換える温度測定値演算手段５ｂと、を備える
ことを特徴とする環境試験器１の温度制御装置とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、恒温器等の環境試
験器の温度制御装置及びその温度制御方法に関し、特に
槽内温度分布の向上が求められる環境試験器、および試
料付近の温度制御が求められる環境試験器の温度制御装
置及びその温度制御方法に関する。
験器の温度制御装置及びその温度制御方法に関し、特に
槽内温度分布の向上が求められる環境試験器、および試
料付近の温度制御が求められる環境試験器の温度制御装
置及びその温度制御方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、試料を収容する試験槽に、加熱
源、冷却源及び槽内空気攪拌部を有する温度制御部を設
け、この温度制御部によって前記試験槽内の温度を制御
する環境試験器が知られている。
源、冷却源及び槽内空気攪拌部を有する温度制御部を設
け、この温度制御部によって前記試験槽内の温度を制御
する環境試験器が知られている。
【０００３】この環境試験器においては、試験を行う試
験槽を所定の目標温度にして試験を行うことが必要であ
るため、一つまたは複数の温度測定点の温度を測定する
ことにより温度制御が行われている。従来の環境試験器
では、温度制御部（加熱源、冷却源、槽内空気攪拌部）
近傍に温度測定点が設けられており、その温度を目標温
度にコントロールすることを行っていたが、温度制御部
より離れた点や温度制御部より離れた試料近傍において
は、目標温度に対してオフセットが発生したり、あるい
はその雰囲気に到達するまでの所要時間が長いという問
題点があった。
験槽を所定の目標温度にして試験を行うことが必要であ
るため、一つまたは複数の温度測定点の温度を測定する
ことにより温度制御が行われている。従来の環境試験器
では、温度制御部（加熱源、冷却源、槽内空気攪拌部）
近傍に温度測定点が設けられており、その温度を目標温
度にコントロールすることを行っていたが、温度制御部
より離れた点や温度制御部より離れた試料近傍において
は、目標温度に対してオフセットが発生したり、あるい
はその雰囲気に到達するまでの所要時間が長いという問
題点があった。
【０００４】ＵＳＰ４９２５０８９には、環境試験器の
試験槽における温度制御に対する反応を迅速化するた
め、カスケード接続された目標温度と装置の温度に対し
て必須温度を演算する第一の制御要素と、前記必須温度
と実際の温度から設定温度を演算する第二の制御要素
の、二つの制御要素を用いる環境試験器の反応制御装置
および方法が開示されている。しかし、温度上昇や温度
下降に対する応答性に改善の必要がある。
試験槽における温度制御に対する反応を迅速化するた
め、カスケード接続された目標温度と装置の温度に対し
て必須温度を演算する第一の制御要素と、前記必須温度
と実際の温度から設定温度を演算する第二の制御要素
の、二つの制御要素を用いる環境試験器の反応制御装置
および方法が開示されている。しかし、温度上昇や温度
下降に対する応答性に改善の必要がある。
【０００５】
【発明の解決しようとする課題】本発明は上記の点に鑑
みてなされたものであり、温度測定点を環境試験器の温
度制御部（加熱源、冷却源、槽内空気攪拌部）近傍以外
において設けることによって、槽内温度分布の向上を図
ることができ、かつ、温度制御部での温度の異常上昇ま
たは異常降下を防止しつつ、温度制御部より離れた点や
温度制御部より離れた試料近傍における温度測定点での
温度上昇速度または温度降下速度の向上をはかることが
できる環境試験器の温度制御方法を提供することを目的
とするものである。
みてなされたものであり、温度測定点を環境試験器の温
度制御部（加熱源、冷却源、槽内空気攪拌部）近傍以外
において設けることによって、槽内温度分布の向上を図
ることができ、かつ、温度制御部での温度の異常上昇ま
たは異常降下を防止しつつ、温度制御部より離れた点や
温度制御部より離れた試料近傍における温度測定点での
温度上昇速度または温度降下速度の向上をはかることが
できる環境試験器の温度制御方法を提供することを目的
とするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に本発明の請求項１に記載の環境試験器の温度制御装置
は、温度測定点における実測温度測定値ＰＶ１及びＰＶ
２と、目標温度設定値ＳＶ１とに基づいて、温度測定値
ＰＶと温度設定値ＳＶとを温度制御回路において演算し
ながら環境試験器の温度制御部を制御する環境試験器の
温度制御装置であって、前記温度測定点は、前記温度制
御部の近傍に設けられ、第１実測温度測定値ＰＶ１を出
力する第１温度測定点と、前記温度制御部から離れた環
境試験器内に設けられ、第２実測温度測定値ＰＶ２を出
力する第２温度測定点とを有してなり、温度上昇又は下
降時に、前記目標温度設定値ＳＶ１にオフセット値βを
加えたものを温度設定値ＳＶとして用い、前記第２実測
温度測定値ＰＶ２が目標温度設定値ＳＶ１に近づくと、
前記オフセット値βをゼロまで減少させ前記温度設定値
ＳＶを前記目標温度設定値ＳＶ１に切り換える温度設定
値演算手段と、温度上昇又は下降時に、前記第１実測温
度測定値ＰＶ１を温度測定値ＰＶに用い、前記第２実測
温度測定値ＰＶ２が目標温度設定値ＳＶ１に近づくと、
前記温度測定値ＰＶを前記第２実測温度測定値ＰＶ２に
切り換える温度測定値演算手段と、を備えることを特徴
としている。
に本発明の請求項１に記載の環境試験器の温度制御装置
は、温度測定点における実測温度測定値ＰＶ１及びＰＶ
２と、目標温度設定値ＳＶ１とに基づいて、温度測定値
ＰＶと温度設定値ＳＶとを温度制御回路において演算し
ながら環境試験器の温度制御部を制御する環境試験器の
温度制御装置であって、前記温度測定点は、前記温度制
御部の近傍に設けられ、第１実測温度測定値ＰＶ１を出
力する第１温度測定点と、前記温度制御部から離れた環
境試験器内に設けられ、第２実測温度測定値ＰＶ２を出
力する第２温度測定点とを有してなり、温度上昇又は下
降時に、前記目標温度設定値ＳＶ１にオフセット値βを
加えたものを温度設定値ＳＶとして用い、前記第２実測
温度測定値ＰＶ２が目標温度設定値ＳＶ１に近づくと、
前記オフセット値βをゼロまで減少させ前記温度設定値
ＳＶを前記目標温度設定値ＳＶ１に切り換える温度設定
値演算手段と、温度上昇又は下降時に、前記第１実測温
度測定値ＰＶ１を温度測定値ＰＶに用い、前記第２実測
温度測定値ＰＶ２が目標温度設定値ＳＶ１に近づくと、
前記温度測定値ＰＶを前記第２実測温度測定値ＰＶ２に
切り換える温度測定値演算手段と、を備えることを特徴
としている。
【０００７】この請求項１の構成によると、環境試験器
の温度制御部近傍の点および温度制御部から離れた点の
双方において温度を測定することが可能となる。したが
って、温度制御部より離れた温度測定点での温度雰囲気
が目標温度設定値でコントロール可能となり、槽内温度
分布の向上を図ることができる。また、温度制御部より
離れた温度測定点の温度上昇速度または降下速度を向上
させることができるとともに、温度制御部近傍の温度異
常上昇または異常降下の防止も可能である。
の温度制御部近傍の点および温度制御部から離れた点の
双方において温度を測定することが可能となる。したが
って、温度制御部より離れた温度測定点での温度雰囲気
が目標温度設定値でコントロール可能となり、槽内温度
分布の向上を図ることができる。また、温度制御部より
離れた温度測定点の温度上昇速度または降下速度を向上
させることができるとともに、温度制御部近傍の温度異
常上昇または異常降下の防止も可能である。
【０００８】請求項２に記載の発明は、請求項１に記載
の環境試験器の温度制御装置であって、前記温度設定値
演算手段は、下記式で行われる。 ＳＶ＝（ＳＶ１±β）×α／１００＋（ＳＶ１×（１０
０−α）／１００） 上記式において、αは０〜１００％の補正比率である。
また、βは温度上昇時は＋、温度降下時は−として加え
られるオフセット値である。
の環境試験器の温度制御装置であって、前記温度設定値
演算手段は、下記式で行われる。 ＳＶ＝（ＳＶ１±β）×α／１００＋（ＳＶ１×（１０
０−α）／１００） 上記式において、αは０〜１００％の補正比率である。
また、βは温度上昇時は＋、温度降下時は−として加え
られるオフセット値である。
【０００９】この請求項２の構成によると、目標温度設
定値ＳＶ１にオフセット値βを加えたものを温度設定値
ＳＶとすることにより、温度制御のための出力値を増加
させ、温度制御部から離れた点での実測温度測定値ＰＶ
２の温度上昇（降下）速度を速めることができる。
定値ＳＶ１にオフセット値βを加えたものを温度設定値
ＳＶとすることにより、温度制御のための出力値を増加
させ、温度制御部から離れた点での実測温度測定値ＰＶ
２の温度上昇（降下）速度を速めることができる。
【００１０】請求項３に記載の発明は、請求項１に記載
の環境試験器の温度制御装置であって、前記温度測定値
演算手段は、下記式で行われる。 ＰＶ＝（ＰＶ１×α／１００）＋（ＰＶ２×（１００−
α）／１００） 上記式において、αは０〜１００％の補正比率である。
の環境試験器の温度制御装置であって、前記温度測定値
演算手段は、下記式で行われる。 ＰＶ＝（ＰＶ１×α／１００）＋（ＰＶ２×（１００−
α）／１００） 上記式において、αは０〜１００％の補正比率である。
【００１１】この請求項３の構成によると、温度上昇
（降下）開始時に温度制御部近傍の温度異常上昇または
異常降下を防止することができるとともに、目標温度設
定値に至るまでの状態において温度制御部より離れた温
度測定点の温度上昇速度または降下速度を向上させるこ
とも可能である。さらに、目標温度付近の状態において
は、温度制御部より離れた温度測定点での温度雰囲気が
目標温度設定値でコントロール可能となり、槽内温度分
布の向上を図ることができる。
（降下）開始時に温度制御部近傍の温度異常上昇または
異常降下を防止することができるとともに、目標温度設
定値に至るまでの状態において温度制御部より離れた温
度測定点の温度上昇速度または降下速度を向上させるこ
とも可能である。さらに、目標温度付近の状態において
は、温度制御部より離れた温度測定点での温度雰囲気が
目標温度設定値でコントロール可能となり、槽内温度分
布の向上を図ることができる。
【００１２】請求項４に記載の環境試験器の温度制御方
法は、温度測定点における実測温度測定値ＰＶ１及びＰ
Ｖ２と、目標温度設定値ＳＶ１とに基づいて、温度測定
値ＰＶと温度設定値ＳＶとを温度制御回路において演算
しながら環境試験器の温度制御部を制御する環境試験器
の温度制御方法であって、前記温度測定点は、前記温度
制御部の近傍に設けられ、第１実測温度測定値ＰＶ１を
出力する第１温度測定点と、前記温度制御部から離れた
環境試験器内に設けられ、第２実測温度測定値ＰＶ２を
出力する第２温度測定点を有してなり、温度上昇又は下
降時に、前記目標温度設定値ＳＶ１にオフセット値βを
加えたものを温度設定値ＳＶとして用いるとともに、前
記第１実測温度測定値ＰＶ１を温度測定値ＰＶとして用
いて温度制御を行い、前記第２実測温度測定値ＰＶ２が
目標温度設定値ＳＶ１に近づくと、前記オフセット値β
をゼロまで減らしていき前記温度設定値ＳＶを前記目標
温度設定値ＳＶ１に切り換えるとともに、前記温度測定
値ＰＶを前記第２実測温度測定値ＰＶ２に切り換えて温
度制御を行うことを特徴としている。
法は、温度測定点における実測温度測定値ＰＶ１及びＰ
Ｖ２と、目標温度設定値ＳＶ１とに基づいて、温度測定
値ＰＶと温度設定値ＳＶとを温度制御回路において演算
しながら環境試験器の温度制御部を制御する環境試験器
の温度制御方法であって、前記温度測定点は、前記温度
制御部の近傍に設けられ、第１実測温度測定値ＰＶ１を
出力する第１温度測定点と、前記温度制御部から離れた
環境試験器内に設けられ、第２実測温度測定値ＰＶ２を
出力する第２温度測定点を有してなり、温度上昇又は下
降時に、前記目標温度設定値ＳＶ１にオフセット値βを
加えたものを温度設定値ＳＶとして用いるとともに、前
記第１実測温度測定値ＰＶ１を温度測定値ＰＶとして用
いて温度制御を行い、前記第２実測温度測定値ＰＶ２が
目標温度設定値ＳＶ１に近づくと、前記オフセット値β
をゼロまで減らしていき前記温度設定値ＳＶを前記目標
温度設定値ＳＶ１に切り換えるとともに、前記温度測定
値ＰＶを前記第２実測温度測定値ＰＶ２に切り換えて温
度制御を行うことを特徴としている。
【００１３】この請求項４の構成によると、環境試験器
の温度制御部近傍の点および温度制御部から離れた点の
双方において温度を測定することが可能となる。したが
って、温度制御部より離れた温度測定点での温度雰囲気
が目標温度設定値でコントロール可能となり、槽内温度
分布の向上を図ることができる。また、温度制御部より
離れた温度測定点の温度上昇速度または降下速度を向上
させることができるとともに、温度制御部近傍の温度異
常上昇または異常降下の防止も可能である。
の温度制御部近傍の点および温度制御部から離れた点の
双方において温度を測定することが可能となる。したが
って、温度制御部より離れた温度測定点での温度雰囲気
が目標温度設定値でコントロール可能となり、槽内温度
分布の向上を図ることができる。また、温度制御部より
離れた温度測定点の温度上昇速度または降下速度を向上
させることができるとともに、温度制御部近傍の温度異
常上昇または異常降下の防止も可能である。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明に
係る環境試験器の温度制御装置の一実施例について説明
する。図１は、本発明に係る環境試験器の温度制御装置
の一例を示したものであり、環境試験器及び温度制御回
路の概略図である。
係る環境試験器の温度制御装置の一実施例について説明
する。図１は、本発明に係る環境試験器の温度制御装置
の一例を示したものであり、環境試験器及び温度制御回
路の概略図である。
【００１５】図１に示すように、環境試験器１は、温度
制御部２と、試験槽３とを有している。温度制御部２
は、図示しない加熱源、冷却源および槽内空気攪拌部か
ら構成されている。試験槽３は、試料を収容して環境試
験を行う。温度制御回路５は、第１温度測定点４ａおよ
び第２温度測定点４ｂとを有している。
制御部２と、試験槽３とを有している。温度制御部２
は、図示しない加熱源、冷却源および槽内空気攪拌部か
ら構成されている。試験槽３は、試料を収容して環境試
験を行う。温度制御回路５は、第１温度測定点４ａおよ
び第２温度測定点４ｂとを有している。
【００１６】第１温度測定点４ａは、温度制御部２の近
傍に設けられており、温度センサなどにより温度制御部
２の近傍の温度ＰＶ１を測定する。第１温度測定点４ａ
において測定された第１実測温度測定値ＰＶ１は、温度
制御回路５に送られ演算処理される。一方、第２温度測
定点４ｂは、温度制御部２から離れたところに設けられ
ており、温度センサなどにより周囲の温度ＰＶ２を測定
する。第２温度測定点４ｂにおいて測定された第２実測
温度測定値ＰＶ２は、温度制御回路５に送られ演算処理
される。
傍に設けられており、温度センサなどにより温度制御部
２の近傍の温度ＰＶ１を測定する。第１温度測定点４ａ
において測定された第１実測温度測定値ＰＶ１は、温度
制御回路５に送られ演算処理される。一方、第２温度測
定点４ｂは、温度制御部２から離れたところに設けられ
ており、温度センサなどにより周囲の温度ＰＶ２を測定
する。第２温度測定点４ｂにおいて測定された第２実測
温度測定値ＰＶ２は、温度制御回路５に送られ演算処理
される。
【００１７】また、温度制御回路５は、第１温度測定点
４ａにおける第１実測温度測定値ＰＶ１及び第２温度測
定点４ｂにおける第２実測温度測定値ＰＶ２と、目標温
度設定値ＳＶ１とを演算しながら、環境試験器１の温度
制御部２を制御する。温度制御回路５は、温度測定値演
算手段５ａと、温度設定値演算手段５ｂと、制御出力値
演算手段５ｃとから構成されている。
４ａにおける第１実測温度測定値ＰＶ１及び第２温度測
定点４ｂにおける第２実測温度測定値ＰＶ２と、目標温
度設定値ＳＶ１とを演算しながら、環境試験器１の温度
制御部２を制御する。温度制御回路５は、温度測定値演
算手段５ａと、温度設定値演算手段５ｂと、制御出力値
演算手段５ｃとから構成されている。
【００１８】温度測定値演算手段５ａは、第１実測温度
測定値ＰＶ１と、第２実測温度測定値ＰＶ２とから温度
制御のために用いるための温度測定値ＰＶを演算する。
温度設定値演算手段５ｂは、あらかじめ設定された目標
温度設定値ＳＶ１と、第２実測温度測定値ＰＶ２とから
温度制御に用いるための温度設定値ＳＶを演算する。制
御出力値演算手段５ｃは、温度制御のために用いるため
の温度測定値ＰＶおよび温度制御に用いるための温度設
定値ＳＶから制御出力値ＭＶを算出する。
測定値ＰＶ１と、第２実測温度測定値ＰＶ２とから温度
制御のために用いるための温度測定値ＰＶを演算する。
温度設定値演算手段５ｂは、あらかじめ設定された目標
温度設定値ＳＶ１と、第２実測温度測定値ＰＶ２とから
温度制御に用いるための温度設定値ＳＶを演算する。制
御出力値演算手段５ｃは、温度制御のために用いるため
の温度測定値ＰＶおよび温度制御に用いるための温度設
定値ＳＶから制御出力値ＭＶを算出する。
【００１９】次に、温度制御回路５における各演算手段
５ａ、５ｂ、５ｃの作用について説明する。
５ａ、５ｂ、５ｃの作用について説明する。
【００２０】温度上昇（下降）開始時は、温度測定値Ｐ
Ｖとして第１実測温度測定値ＰＶ１を用いて温度制御を
行う。第２実測温度測定値ＰＶ２の温度上昇（下降）速
度を速めるため、温度設定値ＳＶは目標温度設定値ＳＶ
１にオフセット値βを加え、温度制御のための出力値Ｍ
Ｖを増加させる。
Ｖとして第１実測温度測定値ＰＶ１を用いて温度制御を
行う。第２実測温度測定値ＰＶ２の温度上昇（下降）速
度を速めるため、温度設定値ＳＶは目標温度設定値ＳＶ
１にオフセット値βを加え、温度制御のための出力値Ｍ
Ｖを増加させる。
【００２１】第２実測温度測定値ＰＶ２が目標温度設定
値ＳＶ１に近づいてきたら、温度設定値ＳＶを目標温度
設定値ＳＶ１に切り替えていき、かつ対象とする温度測
定値ＰＶを第２実測温度測定値ＰＶ２に切り替えてい
く。
値ＳＶ１に近づいてきたら、温度設定値ＳＶを目標温度
設定値ＳＶ１に切り替えていき、かつ対象とする温度測
定値ＰＶを第２実測温度測定値ＰＶ２に切り替えてい
く。
【００２２】前記の目標温度設定値ＳＶ１への切り替え
および第２実測温度測定値ＰＶ２への切り替えは、次の
算出式により行う。 ＰＶ＝（ＰＶ１×α／１００）＋（ＰＶ２×（１００−
α）／１００） ＳＶ＝（ＳＶ１±β）×α／１００＋（ＳＶ１×（１０
０−α）／１００） なお、αは補正比率（０％〜１００％）であり、βは設
定値オフセット値（温度上昇時は＋、温度下降時は−と
し、装置の特性にあわせ、任意に設定する）である。こ
こで、補正比率αは、図２のように目標温度設定値ＳＶ
１と第２実測温度測定値ＰＶ２により算出する。図２に
おけるＳＶ２、ＳＶ３は、装置の特性にあわせ、任意に
設定する。
および第２実測温度測定値ＰＶ２への切り替えは、次の
算出式により行う。 ＰＶ＝（ＰＶ１×α／１００）＋（ＰＶ２×（１００−
α）／１００） ＳＶ＝（ＳＶ１±β）×α／１００＋（ＳＶ１×（１０
０−α）／１００） なお、αは補正比率（０％〜１００％）であり、βは設
定値オフセット値（温度上昇時は＋、温度下降時は−と
し、装置の特性にあわせ、任意に設定する）である。こ
こで、補正比率αは、図２のように目標温度設定値ＳＶ
１と第２実測温度測定値ＰＶ２により算出する。図２に
おけるＳＶ２、ＳＶ３は、装置の特性にあわせ、任意に
設定する。
【００２３】即ち、図２に示すように、温度上昇（下
降）開始時は、補正比率αを１００％とすることによっ
て、温度測定値ＰＶが第１実測温度測定値ＰＶ１とな
る。その後、補正比率αを１００％から徐々に減じてい
き、第２実測温度測定値ＰＶ２が目標温度設定値ＳＶ１
に近づいてきたら、最終的に補正比率αを０％とするこ
とによって、対象とする温度測定値ＰＶが第２実測温度
測定値ＰＶ２に切り替わる。
降）開始時は、補正比率αを１００％とすることによっ
て、温度測定値ＰＶが第１実測温度測定値ＰＶ１とな
る。その後、補正比率αを１００％から徐々に減じてい
き、第２実測温度測定値ＰＶ２が目標温度設定値ＳＶ１
に近づいてきたら、最終的に補正比率αを０％とするこ
とによって、対象とする温度測定値ＰＶが第２実測温度
測定値ＰＶ２に切り替わる。
【００２４】制御出力値演算手段５ｃでは、温度測定値
ＰＶと温度設定値ＳＶとの偏差から制御出力値ＭＶを演
算し、温度測定値ＰＶを迅速に温度設定値ＳＶに追従さ
せるためにＰＩＤ制御が行われる。
ＰＶと温度設定値ＳＶとの偏差から制御出力値ＭＶを演
算し、温度測定値ＰＶを迅速に温度設定値ＳＶに追従さ
せるためにＰＩＤ制御が行われる。
【００２５】前記の温度制御回路５における演算手段５
ａ、５ｂ、５ｃによると、温度制御に用いるための温度
設定値ＳＶと、温度制御に用いるための温度測定値ＰＶ
は、図３のように遷移しながら温度制御が行われる。
ａ、５ｂ、５ｃによると、温度制御に用いるための温度
設定値ＳＶと、温度制御に用いるための温度測定値ＰＶ
は、図３のように遷移しながら温度制御が行われる。
【００２６】即ち、図３に示すように、温度上昇（下
降）開始時は、目標温度設定値ＳＶ１にオフセット値β
を加えたものを温度設定値ＳＶとすることによって、温
度測定値ＰＶである第１実測温度測定値ＰＶ１と温度設
定値ＳＶとの偏差から出力制御値ＭＶを演算して温度制
御を行う。
降）開始時は、目標温度設定値ＳＶ１にオフセット値β
を加えたものを温度設定値ＳＶとすることによって、温
度測定値ＰＶである第１実測温度測定値ＰＶ１と温度設
定値ＳＶとの偏差から出力制御値ＭＶを演算して温度制
御を行う。
【００２７】その後、オフセット値βを徐々に減じてい
き、第２実測温度測定値ＰＶ２が目標温度設定値ＳＶ１
に近づいてきたら、最終的にオフセット値βを０とする
ことによって、対象とする温度設定値ＳＶが目標温度測
定値ＳＶ１に切り替わり、温度測定値ＰＶである第２実
測温度測定値ＰＶ２と温度設定値である目標温度設定値
ＳＶ１との偏差から出力制御値ＭＶ演算して温度制御を
行う。
き、第２実測温度測定値ＰＶ２が目標温度設定値ＳＶ１
に近づいてきたら、最終的にオフセット値βを０とする
ことによって、対象とする温度設定値ＳＶが目標温度測
定値ＳＶ１に切り替わり、温度測定値ＰＶである第２実
測温度測定値ＰＶ２と温度設定値である目標温度設定値
ＳＶ１との偏差から出力制御値ＭＶ演算して温度制御を
行う。
【００２８】このように本実施例に係る環境試験器１に
よれば、温度上昇（下降）開始時は、オフセット値βの
分だけ偏差が増加することから出力制御値ＭＶも大きく
なり、第１実測温度測定値ＰＶ１の温度勾配の傾斜が大
きくなる。一方、第２実測温度測定値ＰＶ２は、温度制
御部２より離れているため、第１実測温度測定値ＰＶ１
の温度勾配の傾斜よりも緩やかな温度勾配の傾斜で温度
上昇（下降）していくが、出力制御値ＭＶが大きいこと
から、第２実測温度測定値ＰＶ２の温度上昇（下降）速
度を向上させることができる。更に、温度測定値ＰＶを
第１実測測定値ＰＶ１としていることから、温度制御部
２付近の温度異常上昇（下降）の防止も可能である。
よれば、温度上昇（下降）開始時は、オフセット値βの
分だけ偏差が増加することから出力制御値ＭＶも大きく
なり、第１実測温度測定値ＰＶ１の温度勾配の傾斜が大
きくなる。一方、第２実測温度測定値ＰＶ２は、温度制
御部２より離れているため、第１実測温度測定値ＰＶ１
の温度勾配の傾斜よりも緩やかな温度勾配の傾斜で温度
上昇（下降）していくが、出力制御値ＭＶが大きいこと
から、第２実測温度測定値ＰＶ２の温度上昇（下降）速
度を向上させることができる。更に、温度測定値ＰＶを
第１実測測定値ＰＶ１としていることから、温度制御部
２付近の温度異常上昇（下降）の防止も可能である。
【００２９】また、第２実測温度測定値ＰＶ２が目標温
度設定値ＳＶ１に近づいてきたら、最終的に、温度制御
部２から離れている第２実測温度測定値ＰＶ２を温度測
定値ＰＶとし、かつ、目標温度設定値ＳＶ１を温度設定
値ＳＶとしていることから、温度制御部より離れた温度
測定点での温度雰囲気が、目標温度設定値でコントロー
ル可能となる。
度設定値ＳＶ１に近づいてきたら、最終的に、温度制御
部２から離れている第２実測温度測定値ＰＶ２を温度測
定値ＰＶとし、かつ、目標温度設定値ＳＶ１を温度設定
値ＳＶとしていることから、温度制御部より離れた温度
測定点での温度雰囲気が、目標温度設定値でコントロー
ル可能となる。
【００３０】なお、本発明にかかる環境試験器の温度制
御方法の実施例は、前記実施例に限定されるものではな
く、特許請求の範囲に記載した限りにおいてさまざまな
設計変更が可能である。
御方法の実施例は、前記実施例に限定されるものではな
く、特許請求の範囲に記載した限りにおいてさまざまな
設計変更が可能である。
【００３１】例えば、前記実施例は、温度制御部近郊の
点と温度制御部から離れた点に温度測定点を設置する構
成であるが、図４に示すように温度制御部近郊の点と試
料近傍の点に温度測定点を設置する構成にしてもよい。
図４に示すように、環境試験器１１は、温度制御部１２
と、試験槽１３とを有している。温度制御部１２は、図
示されない加熱源、冷却源および槽内空気攪拌部から構
成されている。試験槽１３は、試料１６を収容して環境
試験を行う。図示されない温度制御回路は、第１温度測
定点１４ａおよび第２温度測定点１４ｂとを有してい
る。第１温度測定点１４ａは温度制御部１２の近傍に設
けられ、一方、第２温度測定点１４ｂは温度制御部１２
から離れた試料１６近傍に設けられている。
点と温度制御部から離れた点に温度測定点を設置する構
成であるが、図４に示すように温度制御部近郊の点と試
料近傍の点に温度測定点を設置する構成にしてもよい。
図４に示すように、環境試験器１１は、温度制御部１２
と、試験槽１３とを有している。温度制御部１２は、図
示されない加熱源、冷却源および槽内空気攪拌部から構
成されている。試験槽１３は、試料１６を収容して環境
試験を行う。図示されない温度制御回路は、第１温度測
定点１４ａおよび第２温度測定点１４ｂとを有してい
る。第１温度測定点１４ａは温度制御部１２の近傍に設
けられ、一方、第２温度測定点１４ｂは温度制御部１２
から離れた試料１６近傍に設けられている。
【００３２】この場合は、第２温度測定点１４ｂでの温
度雰囲気をコントロールすることが可能となり、試料１
６近傍の温度雰囲気を目標温度設定値に温度制御するこ
とが可能となる。また、第２温度測定点１４ｂの温度上
昇速度または降下速度を向上させることができるととも
に、第１温度測定点１４ａの温度異常上昇または異常降
下の防止も可能である。
度雰囲気をコントロールすることが可能となり、試料１
６近傍の温度雰囲気を目標温度設定値に温度制御するこ
とが可能となる。また、第２温度測定点１４ｂの温度上
昇速度または降下速度を向上させることができるととも
に、第１温度測定点１４ａの温度異常上昇または異常降
下の防止も可能である。
【００３３】
【発明の効果】本発明の環境試験器の温度制御装置及び
その温度制御方法によると、温度制御部より離れた温度
測定点での温度雰囲気が目標温度設定値でコントロール
可能となり、槽内温度分布の向上を図ることができる。
また、温度制御部より離れた温度測定点の温度上昇速度
または降下速度を向上させることができるとともに、温
度制御部近傍の温度異常上昇または異常降下の防止も可
能である。さらに、応用分野として温度測定部を試料近
傍に設置することにより、試料温度制御も行うことが可
能となる。
その温度制御方法によると、温度制御部より離れた温度
測定点での温度雰囲気が目標温度設定値でコントロール
可能となり、槽内温度分布の向上を図ることができる。
また、温度制御部より離れた温度測定点の温度上昇速度
または降下速度を向上させることができるとともに、温
度制御部近傍の温度異常上昇または異常降下の防止も可
能である。さらに、応用分野として温度測定部を試料近
傍に設置することにより、試料温度制御も行うことが可
能となる。
【図１】本発明に係る環境試験器の温度制御装置の実施
例の一例を示したものであり、環境試験器及び温度制御
回路の概略図である。
例の一例を示したものであり、環境試験器及び温度制御
回路の概略図である。
【図２】補正比率αの算出について示したグラフであ
る。
る。
【図３】温度制御に用いるための温度設定値ＳＶと、温
度制御に用いるための温度測定値ＰＶの時間推移につい
て示したグラフである。
度制御に用いるための温度測定値ＰＶの時間推移につい
て示したグラフである。
【図４】本発明に係る環境試験器の温度制御装置の実施
例の別の一例を示したものであり、環境試験器及び温度
制御回路の概略図である。
例の別の一例を示したものであり、環境試験器及び温度
制御回路の概略図である。
１ 環境試験器
２ 温度制御部
４ａ 第１温度測定点（温度制御部の近傍点）
４ｂ 第２温度測定点（温度制御部から離れた点）
５ 温度制御回路
５ａ 温度測定値演算手段
５ｂ 温度設定値演算手段
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
Ｆターム(参考） 3L054 BE02
3L060 AA06 CC02 DD05 EE23 EE24
EE45
Claims (4)
- 【請求項１】 温度測定点における実測温度測定値ＰＶ
１及びＰＶ２と、目標温度設定値ＳＶ１とに基づいて、
温度測定値ＰＶと温度設定値ＳＶとを温度制御回路にお
いて演算しながら環境試験器の温度制御部を制御する環
境試験器の温度制御装置であって、 前記温度測定点は、前記温度制御部の近傍に設けられ、
第１実測温度測定値ＰＶ１を出力する第１温度測定点
と、前記温度制御部から離れた環境試験器内に設けら
れ、第２実測温度測定値ＰＶ２を出力する第２温度測定
点とを有してなり、 温度上昇又は下降時に、前記目標温度設定値ＳＶ１にオ
フセット値βを加えたものを温度設定値ＳＶとして用
い、前記第２実測温度測定値ＰＶ２が目標温度設定値Ｓ
Ｖ１に近づくと、前記オフセット値βをゼロまで減少さ
せ前記温度設定値ＳＶを前記目標温度設定値ＳＶ１に切
り換える温度設定値演算手段と、 温度上昇又は下降時に、前記第１実測温度測定値ＰＶ１
を温度測定値ＰＶに用い、前記第２実測温度測定値ＰＶ
２が目標温度設定値ＳＶ１に近づくと、前記温度測定値
ＰＶを前記第２実測温度測定値ＰＶ２に切り換える温度
測定値演算手段と、を備えることを特徴とする環境試験
器の温度制御装置。 - 【請求項２】 前記温度設定値演算手段は、下記式で行
われる請求項１に記載の環境試験器の温度制御装置。 ＳＶ＝（ＳＶ１±β）×α／１００＋（ＳＶ１×（１０
０−α）／１００） 上記式において、αは０〜１００％の補正比率である。
また、βは温度上昇時は＋、温度降下時は−として加え
られるオフセット値である。 - 【請求項３】 前記温度測定値演算手段は、下記式で行
われる請求項１に記載の環境試験器の温度制御装置。 ＰＶ＝（ＰＶ１×α／１００）＋（ＰＶ２×（１００−
α）／１００） 上記式において、αは０〜１００％の補正比率である。 - 【請求項４】 温度測定点における実測温度測定値ＰＶ
１及びＰＶ２と、目標温度設定値ＳＶ１とに基づいて、
温度制御値ＰＶと温度設定値ＳＶとを温度制御回路にお
いて演算しながら環境試験器の温度制御部を制御する環
境試験器の温度制御方法であって、 前記温度測定点は、前記温度制御部の近傍に設けられ、
第１実測温度測定値ＰＶ１を出力する第１温度測定点
と、前記温度制御部から離れた環境試験器内に設けら
れ、第２実測温度測定値ＰＶ２を出力する第２温度測定
点を有してなり、 温度上昇又は下降時に、前記目標温度設定値ＳＶ１にオ
フセット値βを加えたものを温度設定値ＳＶとして用い
るとともに、前記第１実測温度測定値ＰＶ１を温度測定
値ＰＶとして用いて温度制御を行い、 前記第２実測温度測定値ＰＶ２が目標温度設定値ＳＶ１
に近づくと、前記オフセット値βをゼロまで減らしてい
き前記温度設定値ＳＶを前記目標温度設定値ＳＶ１に切
り換えるとともに、前記温度測定値ＰＶを前記第２実測
温度測定値ＰＶ２に切り換えて温度制御を行うことを特
徴とする環境試験器の温度制御方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001376554A JP2003176936A (ja) | 2001-12-11 | 2001-12-11 | 環境試験器の温度制御装置及びその温度制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001376554A JP2003176936A (ja) | 2001-12-11 | 2001-12-11 | 環境試験器の温度制御装置及びその温度制御方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003176936A true JP2003176936A (ja) | 2003-06-27 |
Family
ID=19184717
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001376554A Pending JP2003176936A (ja) | 2001-12-11 | 2001-12-11 | 環境試験器の温度制御装置及びその温度制御方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003176936A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010276237A (ja) * | 2009-05-27 | 2010-12-09 | Daikin Ind Ltd | 空気調和機 |
| JP2012167924A (ja) * | 2012-05-07 | 2012-09-06 | Daikin Industries Ltd | 空気調和機 |
| JP2013096644A (ja) * | 2011-11-01 | 2013-05-20 | Espec Corp | 制御方法、制御装置および環境試験装置 |
| JP2014240756A (ja) * | 2013-06-11 | 2014-12-25 | エスペック株式会社 | 環境試験装置および環境試験装置の制御方法 |
| CN106016619A (zh) * | 2016-06-13 | 2016-10-12 | 安徽省恒胜机电工程股份有限公司 | 一种中央空调智能检测方法 |
-
2001
- 2001-12-11 JP JP2001376554A patent/JP2003176936A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010276237A (ja) * | 2009-05-27 | 2010-12-09 | Daikin Ind Ltd | 空気調和機 |
| JP2013096644A (ja) * | 2011-11-01 | 2013-05-20 | Espec Corp | 制御方法、制御装置および環境試験装置 |
| JP2012167924A (ja) * | 2012-05-07 | 2012-09-06 | Daikin Industries Ltd | 空気調和機 |
| JP2014240756A (ja) * | 2013-06-11 | 2014-12-25 | エスペック株式会社 | 環境試験装置および環境試験装置の制御方法 |
| CN106016619A (zh) * | 2016-06-13 | 2016-10-12 | 安徽省恒胜机电工程股份有限公司 | 一种中央空调智能检测方法 |
| CN106016619B (zh) * | 2016-06-13 | 2019-06-04 | 合肥智权信息科技有限公司 | 一种中央空调智能检测方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060619 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060816 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20061226 |