JP2003162837A - 光ディスク装置及び光ディスクの記録方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、光ディスク装置、光ディスクの記
録方法に関し、例えばＣＤ−Ｒ（compact disc Recorda
ble ）などの有機色素系記録メディアの記録に適用し
て、書き込み速度を高速度化しても、光ディスクに形成
されるピット形状等を正確にモニタすることができるよ
うにする。 【解決手段】 本発明は、レーザービームの走査後方側
の領域Ｃ、Ｄより得られる光量検出結果Ｓ０（Ｃ＋Ｄ）
を選択的に使用して、書き込み時の光量を制御する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク装置及
び光ディスクの記録方法に関し、例えばＣＤ−Ｒ（comp
act disc Recordable ）などの有機色素系記録メディア
等の記録に適用することができる。本発明は、レーザー
ビームの走査後方側の領域より得られる光量検出結果を
選択的に使用することにより、書き込み速度を高速度化
しても、光ディスクに形成されるピット形状等を正確に
モニタすることができるようにする。

【０００２】

【従来の技術】従来、光ディスク装置においては、光デ
ィスクより得られる戻り光を所定の受光素子により受光
して受光結果を処理することにより、光ディスクに形成
されたピット列に応じて信号レベルが変化する再生信号
を生成し、この再生信号を信号処理することにより、光
ディスクに記録されたデータを再生するようになされて
いる。これに対して書き込み時、この再生信号の信号レ
ベルを監視することにより、光ディスクに形成されるピ
ット形状を監視し、この監視結果に基づいて適切にレー
ザービームの光量を制御するようになされている。

【０００３】すなわち図４は、この種の光ディスク装置
を示すブロック図である。この光ディスク装置１におい
て、光ピックアップ２は、光ディスク３にレーザービー
ムを照射して戻り光を受光し、受光結果を出力する。

【０００４】ここで光ピックアップ２において、半導体
レーザー４は、レーザービームを出射し、グレーティン
グ５は、このレーザービームを回折させて０次、±１次
の回折光を生成する。ビームスプリッタ６は、このグレ
ーティング５より出射される０次、±１次の回折光によ
るレーザービームを透過及び反射することにより、２つ
の光束に分解する。

【０００５】受光素子７は、ビームスプリッタ６を透過
した側のレーザービームを受光し、レーザービームの光
量検出結果を出力する。光ディスク装置１では、この光
量検出結果により半導体レーザー４の駆動を制御し、こ
れにより温度変化、経時変化によりレーザービームの光
量が変化しないようになされている。

【０００６】コリメータレンズ８は、ビームスプリッタ
６で反射した側のレーザービームを平行光線により出射
する。ミラー９は、このコリメータレンズ８より出射さ
れるレーザービームを反射することにより、このレーザ
ービームを光ディスク３に向けて出射し、対物レンズ１
０は、このミラー９より得られるレーザービームを光デ
ィスク３の情報記録面に集光する。これにより光ピック
アップ２では、光ディスク３よりレーザービームの戻り
光が得られ、この戻り光がレーザービームの光路を逆に
辿ってビームスプリッタ６を透過するようになされてい
る。

【０００７】調整レンズ１１は、このビームスプリッタ
６を透過する戻り光の非点収差を補正して出力し、受光
素子１２は、この調整レンズ１１より出射される戻り光
を受光する。光ディスク装置１では、この受光素子１２
の受光結果を信号処理回路１３で処理して、各種制御に
必要な信号ＴＥ、ＦＥ、再生信号ＲＦを生成するように
なされている。

【０００８】すなわち図５に示すように、光ディスク装
置１において、０次の回折光（すなわちメインビームで
ある）によるビームスポットＳＰＭがジャストトラッキ
ングにより光ディスク３の記録トラックを走査すると
き、±１次の回折光（すなわちサイドビームである）に
よるビームスポットＳＰ１、ＳＰ−１がそれぞれ光ディ
スク３の内外周方向にほぼ１／２トラックピッチＰ／２
だけオフセットした位置であって、またそれぞれ円周方
向に先行及び後行する位置を走査するように、グレーテ
ィング５が設定される。

【０００９】これに対応して受光素子１２においては、
メインビームによる戻り光、サイドビームによる戻り光
をそれぞれ専用の受光面１２Ｍ、１２Ｓ１、１２Ｓ−１
により受光する。ここでメインビームの戻り光を受光す
る受光面１２Ｍにおいては、光ディスク３の円周方向及
び半径方向に対応する分割線により、受光面が４分割さ
れ、このように分割されてなる各領域Ａ〜Ｄの受光結果
をそれぞれ出力するようになされている。これに対して
サイドビームを受光する受光面１２Ｓ１、１２Ｓ−１に
おいては、それぞれ光ディスク３の円周方向に対応する
分割線により受光面が２分割され、このように分割され
てなる各領域Ｅ及びＦ、Ｇ及びＨの受光結果をそれぞれ
出力するようになされている。

【００１０】信号処理回路１３は、受光素子７の受光結
果、受光素子１２の各領域Ａ〜Ｈによる受光結果を電流
電圧変換処理した後、受光素子７の受光結果について
は、光量制御回路１４（図４）に出力する。これに対し
て領域Ａ〜Ｈによる受光結果については、所定の演算処
理により、トラッキングエラー信号ＴＥ、フォーカスエ
ラー信号ＦＥ、再生信号ＲＦを生成する。

【００１１】ここで受光面の各領域に付した符号Ａ〜Ｈ
により電流電圧変換処理してなる受光結果を表して、ト
ラッキングエラー信号ＴＥにおいては、（（Ａ＋Ｄ）−
（Ｂ＋Ｃ））−ｋ（（Ｆ−Ｅ）＋（Ｈ−Ｇ））により表
される演算処理により生成される。なおここでｋは、所
定の係数である。これにより光ディスク装置１では、い
わゆるＤＰＰ法によりトラッキングエラー信号ＴＥを生
成する。

【００１２】またフォーカスエラー信号ＦＥについて
は、メインビームの戻り光を受光する受光面１２Ｍにお
いて、対角線方向の領域間で受光結果を加算し、これら
の加算値の差分値を計算することにより、（（Ａ＋Ｃ）
−（Ｂ＋Ｄ））で表される演算処理により生成される。
また再生信号ＲＦについては、メインビームの戻り光を
受光する受光面１２Ｍの各受光結果を加算することによ
り、（Ａ＋Ｃ＋Ｂ＋Ｄ）により表される演算処理により
生成される。

【００１３】これらにより光ディスク装置１では（図
４）、これらトラッキングエラー信号ＴＥ及びフォーカ
スエラー信号ＦＥを基準にしてサーボ回路１５により対
物レンズ１０を可動して、トラッキング制御及びフォー
カス制御できるようになされている。また再生信号処理
回路１６により再生信号ＲＦを信号処理して、光ディス
ク３に記録されたデータを再生できるようになされてい
る。

【００１４】これに対して光量制御回路１４において
は、信号処理回路１３を介して得られる受光素子７の受
光結果に基づいて、ドライバ１７の動作を制御すること
により、温度変化、経時変化によりレーザービームの光
量が変化しないようにレーザービームの光量を自動調整
する。また書き込み時においては、書き込みパルスＷＰ
を基準にしたタイミングにより再生信号ＲＦをサンプリ
ングすることにより、光ディスク３に形成されるピット
の大きさに応じて変化する戻り光の光量を検出する。さ
らにこの光量検出結果によりドライバ１７の動作を制御
することにより、光ディスク３に形成されるピット形状
を制御する。

【００１５】ドライバ１７は、再生時、光量制御回路１
４の制御により一定光量によりレーザービームを出射す
るように半導体レーザー４を駆動するのに対し、書き込
み時においては、書き込みに供するデータを変調して生
成される書き込みパルスＷＰを基準にしてレーザービー
ムの光量を間欠的に書き込み時の光量に立ち上げるよう
に、半導体レーザー４を駆動する。

【００１６】このような光ディスク装置においては、近
年書き込みの速度が格段的に増大されるようになされて
いる。光ディスク装置においては、このように書き込み
の速度を高速度化すると、その分、光ディスク３を走査
するレーザービームの速度が高速度化することにより、
レーザービームの光量を増大して、短い時間によるレー
ザービームの走査によっても、確実に情報記録面を熱変
化させてピットを作成するようになされている。

【００１７】

【発明が解決しようとする課題】ところで、このように
書き込み速度を増大させると、従来の光ディスク装置に
おいては、光ディスク３に形成されるピット形状を正確
にモニタできなくなり、レーザービームの光量を適切に
制御できなくなる問題がある。

【００１８】すなわちこの種の光ディスクにおいては、
レーザービームの光量の立ち上げにより情報記録面の温
度が徐々に上昇し、この温度上昇により情報記録面が局
所的に所定温度以上になることにより、情報記録面が局
所的に熱変化してピットが形成される。これにより光デ
ィスクにおいては、レーザービームの光量を立ち上げて
ピットが作成されるまでの間で、時間的な遅れが発生す
る。

【００１９】書き込み速度を増大すると、この時間的な
遅れに対して相対的にレーザービームの走査が高速度化
し、情報記録面に熱的な変化が発生する前に、レーザー
ビームによるビームスポットが移動してしまい、これに
より光ディスク３に形成されるピット形状を正確にモニ
タできなくなると考えられる。

【００２０】具体的に、図６は、順次書き込みの光量を
変化させて８倍速によりＣＤ−Ｒに所望のデータを記録
した場合の、再生信号ＲＦをサンプリングして検出され
る光量測定結果を示す特性曲線図である。この測定結果
によれば、所定の書き込みパワー以上で、ランドの部分
に比して反射率が低下してなるピットの作成が開始さ
れ、このピットの大きさに応じて受光結果の信号レベル
が低下していることが観察される。これによりこの場合
には、適切に書き込み光量を制御することができる。

【００２１】光ディスク装置では、書き込み速度をさら
に高速度化すると、このような書き込み光量の増大によ
る受光結果出力の信号レベルの低下が観察されなくな
り、これにより光ディスク３に形成されるピット形状を
正確にモニタできなくなる。

【００２２】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、書き込み速度を高速度化しても、光ディスクに形成
されるピット形状等を正確にモニタすることができる光
ディスク装置及び光ディスクの記録方法を提案しようと
するものである。

【００２３】

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め請求項１の発明においては、光ディスク装置に適用し
て、受光素子の複数の領域の受光結果のうちの、レーザ
ービームの走査後方側に対応する領域より得られる受光
結果を基準にして書き込み時の光量を制御する。

【００２４】また請求項６の発明によれば、光ディスク
に照射するレーザービームの光量を間欠的に書き込み時
の光量に立ち上げて、光ディスクにピット列又はマーク
列を作成する光ディスクの記録方法に適用して、レーザ
ービームの戻り光を受光素子で受光し、受光素子のレー
ザービームの走査後方側の領域より得られる戻り光の受
光結果に基づいて、書き込み時の光量を制御する。

【００２５】光ディスクにおいては、レーザービームの
光量の立ち上げにより情報記録面の温度が徐々に上昇
し、この温度上昇により情報記録面が局所的に所定温度
以上になることにより、情報記録面が局所的に熱変化し
てピットが形成される。これにより光ディスクにおいて
は、レーザービームの光量を立ち上げてピットが作成さ
れるまでの間で、時間的な遅れが発生し、書き込み速度
を増大すると、この時間的な遅れに対してレーザービー
ムの走査が相対的に高速度化し、これにより光ディスク
３に形成されるピット形状を正確にモニタできなくな
る。しかしながらこのような場合でも、ビームスポット
の走査後方側においては、充分に情報記録面が熱的に変
化し、ピット、マークの作成をモニタすることができ
る。これにより請求項１の構成によれば、光ディスク装
置に適用して、受光素子の複数の領域の受光結果のうち
の、レーザービームの走査後方側に対応する領域より得
られる受光結果を基準にして書き込み時の光量を制御す
ることにより、書き込み速度を高速度化しても、光ディ
スクに形成されるピット形状等を正確にモニタして、書
き込み時の光量を制御することができる。

【００２６】またこれらにより請求項６の構成によれ
ば、書き込み速度を高速度化しても、光ディスクに形成
されるピット形状等を正確にモニタして、書き込み時の
光量を制御することができる光ディスクの記録方法を提
供することができる。

【００２７】

【発明の実施の形態】以下、適宜図面を参照しながら本
発明の実施の形態を詳述する。

【００２８】（１）第１の実施の形態 （１−１）第１の実施の形態の構成 図１は、本発明の第１の実施の形態に係る光ディスク装
置を図５との対比により示すブロック図である。この光
ディスク装置２１においては、信号処理回路１３、光量
制御回路１４に代えて、信号処理回路２３、光量制御回
路２４が適用される点を除いて、図４について上述した
光ディスク装置１と同一に構成される。

【００２９】ここで信号処理回路２３は、信号処理回路
１３と同様に、受光素子１２の各領域Ａ〜Ｈより得られ
る受光結果を処理して、トラッキングエラー信号ＴＥ、
フォーカスエラー信号ＦＥ、再生信号ＲＦを生成する。
また信号処理回路２３は、受光素子１２のメインビーム
による戻り光を受光する受光面１２Ｍのうち、レーザー
ビームの走査後方側に対応する領域Ｃ、Ｄより得られる
受光結果を加算して加算信号Ｓ０（Ｃ＋Ｄ）を出力す
る。

【００３０】光量制御回路２４は、このレーザービーム
の走査後方側より得られる加算信号Ｓ０（Ｃ＋Ｄ）によ
る受光結果を基準にして書き込み時の光量を制御する。
すなわち図６との対比により図２に示すように、受光素
子１２より得られる受光結果を詳細に観察したところ、
書き込み速度を高速度化して、再生信号ＲＦを基準にし
ては、光ディスク３に形成されるピット形状を正確にモ
ニタできなくなる場合には、走査開始側の領域Ａ及びＢ
より得られる受光結果Ａ、Ｂにおいても、ピット形成に
よるディスク反射率の低下の影響を受けないことによ
り、ピット形状を正確に反映するように信号レベルが変
化しなくなることが判った。すなわちこれらの場合、再
生信号ＲＦ、受光結果Ａ、Ｂにおいては、書き込み時の
光量の増大に対して、受光結果Ａ、Ｂがそのまま増大し
て回路系のダイナミックレンジを越えてしまい、信号レ
ベルの変化が飽和するようになる。

【００３１】しかしながら走査後方側の領域Ｃ、Ｄより
得られる受光結果Ｃ、Ｄにおいては、このような場合で
も、書き込み時の光量に応じて信号レベルが変化し、こ
れにより光ディスク３に形成されるピット形状を正しく
反映していることが判った。なおこの図２の測定結果
は、１６倍速による場合である。

【００３２】これはレーザービームの光量を立ち上げて
ピットが作成されるまでの間の時間的な遅れに対して、
レーザービームの走査が高速度化し、再生信号ＲＦによ
り光ディスク３に形成されるピット形状を正確にモニタ
できなくなった場合でも、ビームスポットの走査後方側
においては、充分に情報記録面が熱的に変化しているこ
とによるものと考えられる。

【００３３】これにより光ディスク装置２１において、
光量制御回路２４は、サンプルホールド回路２５におい
て、ライトパルス信号ＷＰを基準にして加算信号Ｓ０を
サンプルホールドすることにより、受光結果Ｓ０を、レ
ーザービームの間欠的な光量の立ち上げに応じたタイミ
ングによりサンプリングする。これにより光量制御回路
２４は、情報記録面が熱的に充分に変化してなるタイミ
ングにより戻り光の受光結果を取得する。光量制御回路
２４は、このようにして取得した受光結果が所定値とな
るように、ドライバ１７の動作を制御し、これにより間
欠的に立ち上げられるレーザービームの書き込み時の光
量を光ディスク３に適した適切な光量に設定する。

【００３４】（１−２）第１の実施の形態の動作 以上の構成において、この光ディスク装置２１では（図
４参照）、半導体レーザー４より出射されるレーザービ
ームがビームスプリッタ６により２つの光束に分解さ
れ、一方の光束が対物レンズ１０により光ディスク３の
情報記録面に集光され、その結果得られる戻り光が受光
素子１２により受光される。光ディスク装置２１では、
この受光結果によりトラッキングエラー信号ＴＥ、フォ
ーカスエラー信号ＦＥが生成され、これらトラッキング
エラー信号ＴＥ、フォーカスエラー信号ＦＥによりサー
ボ回路１５で対物レンズ１０がトラッキング制御、フォ
ーカス制御される。またこの受光素子１２の受光結果よ
り再生信号ＲＦが生成され、再生信号処理回路１６によ
る再生信号ＲＦの処理により光ディスク３に記録された
情報が再生される。

【００３５】またこのようにして光ディスク３に照射す
るレーザービームが、記録に供するデータに応じて間欠
的に立ち上げられ、これにより情報記録面の局所的な熱
的変化により、光ディスク３に順次ピット列が形成され
て、所望のデータが記録される。

【００３６】このようにして処理するにつき、光ディス
ク装置２１では、レーザービームの光量が受光素子７に
よりモニタされ、このモニタ結果による光量制御回路２
４による制御により、半導体レーザー４の温度変化、経
時変化によるレーザービームの光量の変化が補正され
る。

【００３７】また受光素子１２より得られる戻り光の受
光結果が、光量制御回路２４によりレーザービームの間
欠的な光量の立ち上げに応じたタイミングでサンプリン
グされ、これによりレーザービームの光量を立ち上げて
光ディスク３の情報記録面に形成されるピットの形状が
光量制御回路２４でモニタされる。これにより光ディス
ク装置２１では、このモニタ結果が所定値となるよう
に、レーザービームの書き込み時の光量が制御され、ピ
ット形状を制御することが可能となる。

【００３８】光ディスク装置２１では、このようにして
ピット形状のモニタに供する戻り光の受光結果が、レー
ザービームの走査後方側より得られることにより、レー
ザービームの光量を立ち上げて時間遅れしてピットが形
成される場合に、ビームスポットが移動した場合でも、
充分に情報記録面が熱変化してなる部位を選択的にモニ
タすることができ、これにより光ディスクに形成される
ピット形状を正確にモニタして、書き込み時の光量を適
切に制御することができる。

【００３９】（１−３）第１の実施の形態の効果 以上の構成によれば、レーザービームの走査後方側の領
域より得られる光量検出結果を選択的に使用して、光デ
ィスク３に形成されるピット形状をモニタすることによ
り、書き込み速度を高速度化しても、光ディスクに形成
されるピット形状を正確にモニタすることができる。こ
れにより光ディスク３に安定かつ確実に所望するデータ
を記録することができる。

【００４０】またこのようなレーザービームの走査後方
側の領域が、メインビームを受光して再生信号、トラッ
キングエラー信号等の生成に供する受光面の一部領域で
あることにより、従来構成を利用して光ディスクに形成
されるピット形状を正確にモニタすることができる。

【００４１】またメインビームを受光する受光面につい
て、走査後方側である内外周の領域Ｃ、Ｄの受光結果を
加算して処理することにより、その分、受光結果のＳＮ
比を向上して確実に光ディスクに形成されるピット形状
をモニタすることができる。

【００４２】（２）第２の実施の形態 図１との対比により示す図３は、本発明の第２の実施の
形態に係る光ディスク装置を示すブロック図である。こ
の光ディスク装置３１においては、光量制御回路２４に
代えて光量制御回路３４によりレーザービームの光量を
制御する。

【００４３】ここで光量制御回路３４は、再生時におい
ては、従来の光量制御回路１４と同様に、受光素子７よ
り得られる受光結果が所定値となるように、レーザービ
ームの光量を制御し、これにより半導体レーザー４の温
度変化、経時変化によるレーザービームの光量の変化を
補正する。

【００４４】光量制御回路３４は、この再生において、
再生信号ＲＦ、加算信号Ｓ０の信号レベルを所定のタイ
ミングによりサンプリングし、このサンプリング値を処
理することにより、メインビームを受光する受光面１２
Ｍにおいて、受光面１２Ｍ全体に入射する戻り光の光量
と、走査後方側の領域Ｃ、Ｄに入射する戻り光の光量と
の光量比（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）／（Ｃ＋Ｄ）を検出する。

【００４５】光量制御回路３４は、この光量比（Ａ＋Ｂ
＋Ｃ＋Ｄ）／（Ｃ＋Ｄ）をメモリに記録して保持し、書
き込み時、走査後方側の領域Ｃ、Ｄによる受光結果Ｃ＋
Ｄをレーザービームの間欠的な光量の立ち上げに応じた
タイミングでサンプリングした後、メモリに保持した光
量比（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）／（Ｃ＋Ｄ）とこのサンプリン
グ値とを乗算する。これにより光量制御回路３４は、再
生時における受光結果に基づいて、走査後方側の領域
Ｃ、Ｄによる受光結果を光量比（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）／
（Ｃ＋Ｄ）により補正し、フロントモニタ用である受光
素子７（図４参照）の受光結果に対応するように、これ
ら走査後方側の領域Ｃ、Ｄによる受光結果を受光素子１
２の全体領域Ａ〜Ｄで検出される受光結果に換算するよ
うになされている。

【００４６】これにより光ディスク装置３１では、メイ
ンビームの戻り光によるビームスポットが、走査開始側
の領域Ａ、Ｂと走査終了側の領域Ｃ、Ｄとに対して、何
れの側に偏っている場合でも、光ディスク３に形成され
るピット形状を正しく判断して、レーザービームの光量
を制御できるようになされている。

【００４７】すなわち光量制御回路３４は、このように
して換算して得られる光量検出結果をフロントモニタ用
の受光結果により割り算し、これにより光ディスクの反
射率を計算し、この反射率により光ディスク３に形成さ
れるピット形状をモニタする。ここでこの反射率におい
ては、光ディスク３にピットが形成されると、この実施
の形態では低下することになる。これにより光量制御回
路３４は、フロントモニタ用の受光結果を基準にして、
このようにして換算して得られる光量検出結果が所定値
となるように、ドライバ１７の動作を制御するようにな
されている。

【００４８】図３の構成によれば、受光面全体に入射す
る戻り光の光量と、走査後方側の領域に入射する戻り光
の光量との光量比により、走査後方側の領域より得られ
る受光結果を補正することにより、さらに一段と高い精
度により光ディスクに形成されるピット形状をモニタす
ることができる。

【００４９】（３）第３の実施の形態 この実施の形態においては、第２の実施の形態における
走査後方側の領域Ｃ、Ｄによる受光結果を光量比（Ａ＋
Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）／（Ｃ＋Ｄ）で補正する処理に代えて、フ
ロントモニタ用である受光素子７の受光結果を光量比
（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）／（Ｃ＋Ｄ）により補正する。これ
によりこの実施の形態では、受光素子７の受光結果に対
応するように、走査後方側の領域Ｃ、Ｄによる受光結果
を受光素子１２の全体領域Ａ〜Ｄで検出される受光結果
に換算する代わりに、走査後方側の領域Ｃ、Ｄによる受
光結果に対応するように、フロントモニタによる受光結
果を換算する。なおこの実施の形態においては、この換
算に係る処理が異なる点を除いて、第２の実施の形態と
同一に構成されることにより、重複した説明は省略す
る。

【００５０】すなわちこの実施の形態において、光量制
御回路は、第２の実施の形態に係る光量制御回路と同様
に、再生時、受光素子７より得られる受光結果が所定値
となるように、レーザービームの光量を制御し、また再
生信号ＲＦ、加算信号Ｓ０の信号レベルを所定のタイミ
ングによりサンプリングして光量比（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）
／（Ｃ＋Ｄ）を検出してメモリに保持する。

【００５１】また光量制御回路は、書き込み時、フロン
トモニタ用である受光素子７の受光結果を光量比（Ａ＋
Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）／（Ｃ＋Ｄ）で割り算し、これにより走査
後方側の領域Ｃ、Ｄによる受光結果に対応するように補
正する。光量制御回路は、この補正結果により走査後方
側の領域Ｃ、Ｄによる受光結果を割り算して光ディスク
の反射率を計算し、この反射率により光ディスク３に形
成されるピット形状をモニタし、これによりフロントモ
ニタ用の受光結果を基準にして、走査後方側の領域Ｃ、
Ｄによる光量検出結果が所定値となるように、ドライバ
１７の動作を制御するようになされている。

【００５２】この実施の形態のようにフロントモニタ用
の受光結果側を光量比により補正するようにしても、第
２の実施の形態と同様の効果を得ることができる。

【００５３】（４）他の実施の形態 なお上述の第２の実施の形態においては、走査後方側の
領域より得られる受光結果を単に光量比で乗算して補正
する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例
えば戻り光においては、レーザービームと同様の光量分
布を呈していることにより、この光量分布を反映するよ
うに、光量比より補正値を演算して、走査後方側の領域
より得られる受光結果を補正する場合等、種々の補正方
法を広く適用することができる。

【００５４】また上述の第２の実施の形態においては、
全体の受光結果を走査後方側の領域の受光結果で割り算
して光量比を計算する場合について述べたが、本発明は
これに限らず、走査後方側の領域と走査開始側の領域と
の光量比を計算することにより、間接的に、全体の受光
結果と走査後方側の領域との光量比を計算し、この計算
結果により補正するようにしてもよい。

【００５５】また上述の実施の形態においては、メイン
ビームを受光する領域より光ディスクに形成されるピッ
ト形状をモニタする場合について述べたが、本発明はこ
れに限らず、要は、走査後方側の領域の領域より得られ
る受光結果によりピット形状をモニタして、光ディスク
に形成されるピット形状を正しくモニタすることがで
き、例えば後行側のサイドビームを受光する受光面の受
光結果等を利用するようにしてもよい。

【００５６】また上述の実施の形態においては、３スポ
ット法によりトラッキング制御する構成の光ディスク装
置に本発明を適用する場合について述べたが、本発明は
これに限らず、種々のトラッキング制御方法、フォーカ
ス制御方法による光ディスク装置に広く適用することが
できる。

【００５７】また上述の実施の形態においては、いわゆ
るフロントモニタ方式による光ディスク装置に本発明を
適用する場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、リアモニタ方式による光ディスク装置にも広く適用
することができる。

【００５８】また上述の実施の形態においては、ＣＤ−
Ｒにデータを記録する光ディスク装置に本発明を適用す
る場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例え
ば相変化型の光ディスクにデータを記録する光ディスク
装置等、レーザービームの照射により情報記録面を局所
的に加熱して各種情報を記録する光ディスク装置に広く
適用することができる。

【００５９】

【発明の効果】上述のように本発明によれば、レーザー
ビームの走査後方側の領域より得られる光量検出結果を
選択的に使用することにより、書き込み速度を高速度化
しても、光ディスクに形成されるピット形状等を正確に
モニタすることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態に係る光ディスク装
置を示すブロック図である。

【図２】図１の光ディスク装置の動作の説明に供する特
性曲線図である。

【図３】本発明の第２の実施の形態に係る光ディスク装
置を示すブロック図である。

【図４】従来の光ディスク装置を示すブロック図であ
る。

【図５】図４の光ディスク装置における受光素子の周辺
構成を詳細に示すブロック図である。

【図６】図４の光ディスク装置における受光結果の説明
に供する特性曲線図である。

【符号の説明】

１、１１、２１……光ディスク装置、３……光ディス
ク、４……半導体レーザー、７、１２……受光素子、１
３、２３……信号処理回路、１４、２４、３４……光量
制御回路

フロントページの続き Ｆターム(参考） 5D090 AA01 BB03 CC01 DD03 EE03 FF21 LL01 5D119 AA23 AA24 BA01 BB02 DA01 EA02 EA03 EC07 EC41 FA05 HA04 HA13 HA17 HA45 JA02 JA11 JA22 JA43 JA57 KA04 KA17 KA19

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】光ディスクに照射するレーザービームの光
   量を間欠的に書き込み時の光量に立ち上げて、前記光デ
   ィスクにピット列又はマーク列を作成する光ディスク装
   置において、 前記レーザービームの戻り光を受光する受光素子と、 前記受光素子の受光結果に基づいて、前記レーザービー
   ムを前記光ディスクに集光する対物レンズをトラッキン
   グ制御、フォーカス制御するサーボ機構と、 前記受光素子の受光結果に基づいて、前記書き込み時の
   光量を制御する光量制御手段とを備え、 前記受光素子は、 それぞれ受光結果を出力する複数の領域により前記戻り
   光を受光し、 前記光量制御手段は、 前記受光素子の複数の領域の受光結果のうちの、前記レ
   ーザービームの走査後方側に対応する領域より得られる
   前記受光結果を基準にして前記書き込み時の光量を制御
   することを特徴とする光ディスク装置。
2. 【請求項２】前記光ディスク装置は、 前記レーザービームをメインビームとサイドビームとに
   より前記光ディスクに照射し、 前記受光素子は、 前記メインビームによる戻り光を受光する受光面が、前
   記光ディスクの半径方向及び円周方向に対応する方向に
   延長する分割線により分割されて前記複数の領域が形成
   されたことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装
   置。
3. 【請求項３】前記光量制御手段は、 前記受光結果を、前記レーザービームの間欠的な光量の
   立ち上げに応じたタイミングによりサンプリングし、該
   サンプリング結果を基準にして前記書き込み時の光量を
   制御することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク
   装置。
4. 【請求項４】前記光量制御手段は、 前記光ディスクにピット列又はマーク列を作成困難な前
   記レーザービームの光量により、前記複数の領域で検出
   される受光結果に対する、前記走査後方側に対応する領
   域より得られる前記受光結果の光量比を検出し、 前記光量比により、前記走査後方側に対応する領域より
   得られる前記受光結果を補正して、前記書き込み時の光
   量を制御することを特徴とする請求項２に記載の光ディ
   スク装置。
5. 【請求項５】前記レーザービームの光量を示すモニタ用
   光量検出結果を出力するモニタ用の受光素子を備え、 前記光量制御手段は、 前記光ディスクにピット列又はマーク列を作成困難な前
   記レーザービームの光量により、前記複数の領域で検出
   される受光結果に対する、前記走査後方側に対応する領
   域より得られる前記受光結果の光量比を検出し、 前記走査後方側に対応する領域より得られる前記受光結
   果に対応するように、前記モニタ用光量検出結果を前記
   光量比により補正し、 該補正した光量受光結果と前記走査後方側に対応する領
   域より得られる前記受光結果とにより、前記書き込み時
   の光量を制御することを特徴とする請求項２に記載の光
   ディスク装置。
6. 【請求項６】光ディスクに照射するレーザービームの光
   量を間欠的に書き込み時の光量に立ち上げて、前記光デ
   ィスクにピット列又はマーク列を作成する光ディスクの
   記録方法において、 前記レーザービームの戻り光を受光素子で受光し、 前記受光素子の前記レーザービームの走査後方側の領域
   より得られる前記戻り光の受光結果に基づいて、前記書
   き込み時の光量を制御することを特徴とする光ディスク
   の記録方法。