JP2003156390A - 赤外線センサ - Google Patents

赤外線センサ

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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 容易な方法で真空が破られ難く不良の少な
い、耐久性のある真空構造を有する赤外線センサを提供
する。 【解決手段】 断熱支持脚17及び該断熱支持脚17に
より支持されている感熱素子部13とを具備するセル
が、個々のセルを分離する水平アドレス線及び垂直信号
線14を埋め込んでなる枠体部と、この上に形成された
赤外線を透過する窓15を接着し、複数のセル102が
個別に真空封止された赤外線センサを提供する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は赤外線センサに関す
る。
【0002】
【従来の技術】近年、冷却装置を必要としない熱型赤外
線イメージセンサとしてマイクロマシニング技術を用い
た酸化バナジウムのボロメータ型や、BST(Bari
um−Strontium−Tianium)を用いた
焦電型のものが製品化されている。
【0003】これらの熱型赤外線イメージセンサは、赤
外線を吸収して温度を上昇させる感熱素子部と、この感
熱素子部を支持すると共にシリコン基板と熱的に分離す
るための断熱支持脚とからなるセルを具備し、このセル
をシリコン基板上に2次元的に複数配列し、これらのセ
ルを選択するための水平アドレス線と垂直信号線によっ
て構成されている。
【0004】このような構成によって、被写体から放射
される赤外線を感熱素子部で吸収し、その際に生じる感
熱素子部の温度上昇にともなう抵抗変化或いは容量変化
等をで検知することで被写体を撮像する。このため感熱
素子部が被写体以外からの温度変化を受けないようにす
るために、感熱素子部を支持する断熱支持脚の断熱効果
を高める必要がある。このために断熱支持脚は、断面積
を小さくし長さを長くする構造になっている。
【0005】このような基板からの熱伝導の影響を防ぐ
ほかに、赤外線センサは、空気の対流による熱伝導によ
り感熱素子部の温度変化を少なくする必要がある。
【0006】図8は、空気の対流による熱伝導を防ぐた
めの従来の素子全体を真空パッケージして実装したもの
である。81は真空パッケージ、82はセンサチップ、
83は真空排気ポート、84はボンディングワイヤー、
85はボンディングパッド、86は蓋、87は赤外線透
過窓である。赤外線透過窓87が形成された蓋86を真
空パッケージ81に取り付け、真空排気ポート83で真
空引きすることで真空封止する。
【0007】従来ワイヤーボンディング後にパッケージ
を真空に封じきるため、真空封止工程中にボンディング
ワイヤー84の短絡や断線といった不良が多くなる問題
がある。
【0008】図7にはイメージエリア全体をこのような
素子全体を真空パッケージした赤外線センサの断面図を
示す。この赤外線センサはRaytheonの文献
(“Advances in Amorphous S
ilicon UncooledIR System
s" , J.Brady, et al., Pro
c. SPIE Vol.3698(1999)p.1
61−167)に記載されている。
【0009】図7に示すように、この赤外線センサは、
シリコン基板21にはと、このシリコン基板21上に埋
め込み酸化膜203が形成され、この上にシリコン層2
04が形成されている。シリコン層204中には、CM
OSトランジスタ205が形成されている。シリコン基
板21上の酸化膜層203に配線24が埋め込まれ形成
されている。これらの配線24を外部と接続するための
ボンディングパッド22が酸化膜層203シリコン基板
21の周辺部に形成されている。また、シリコン基板2
1上にはこれらの配線24と接続されたCMOSトラン
ジスタが形成されている。
【0010】各CMOSトランジスタ205上には、感
熱素子部23が形成され、2次元的に配列されたセルに
よってイメージエリア26を構成している。感熱素子部
23は断熱支持部28によってセルごとに支持されてい
る。
【0011】また、イメージエリア26の外側にはイン
ジウム等の金属を用いたシールリング27が形成され赤
外線を透過させる蓋(赤外線透過窓)25を真空中で圧
接することによって、イメージエリア26を真空封止し
ている。このようにして形成されたチップは、汎用のパ
ッケージにマウントされている。
【0012】このような従来の赤外線センサは、イメー
ジエリア26全体を真空封止するために、赤外線透過窓
25の一部でも不良があるとイメージエリア26全体の
真空が保てなくなり空気による熱伝導が非常に大きなノ
イズ源となり素子として機能できなくなる。
【0013】また、赤外線透過窓25の一部でも不良が
あると素子として不良品となるために、歩留まりが低い
という問題がある。さらに赤外線透過窓25は使用中に
おいても破損されやすく、耐久性に問題がある。さら
に、従来ワイヤーボンディング後にパッケージを真空に
封じきるため、真空封止工程中にワイヤーの短絡や断線
といった不良が多くなる問題がある。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】従来の熱型赤外線イメ
ージセンサは、赤外線透過窓の一部でも不良があると真
空が破られ素子の不良が生じやすく、歩留まりが低いと
いう問題がある。
【0015】本発明は、上記問題点に鑑みてなされたも
ので、真空が破られ難く不良が生じ難い赤外線センサを
提供することを目的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、基板と、前記基板上に平面配置され、温
度変化を電気信号に変換する感熱素子部と前記感熱素子
部を前記基板上に支持する断熱支持脚とをそれぞれ備え
た複数のセルと、前記感熱素子部の電気信号を出力する
出力部と、前記複数のセルを個別に真空封止する封止部
材と、を具備することを特徴とする赤外線センサを提供
する。
【0017】このとき、前記封止部材は赤外線を透過す
る蓋部を備えることが好ましい。
【0018】また、本発明は、基板と、前記基板上に配
列され、温度変化を電気信号に変換する感熱素子部をそ
れぞれ備えた複数のセルと、前記複数のセルの間に設け
られ、前記複数のセルの各々を分離する枠体部と、前記
枠体部の上面に固着され、前記複数のセルを個別に真空
封止し且つ赤外線を透過する蓋部と、を具備することを
特徴とする赤外線センサを特徴とする。
【0019】このとき、前記複数のセルは複数の行およ
び列のマトリクス状に配列され、前記複数のセルの各行
または各列のいずれか一方における前記感熱素子部のそ
れぞれに対して接続される複数の選択線と、前記複数の
セルの各行または各列の他方における前記感熱素子部の
それぞれに対して接続される複数の信号線とを備え、前
記複数の選択線及び前記複数の信号線は前記枠体部中に
埋め込まれてなることが好ましい。
【0020】また、複数のセルのそれぞれは、前記感熱
素子部を前記基板上に支持する断熱支持脚を備えること
が好ましい。
【0021】また、前記蓋部上にレンズを備えることが
好ましい。
【0022】また、前記感熱素子部は、シリコン層に形
成されたpn接合ダイオードであることが好ましい。
【0023】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例について説
明する。
【0024】(実施形態1)図1は、本発明の実施形態
1に係る赤外線センサのチップの断面を示す図である。
【0025】この赤外線センサは、断熱支持脚17及び
この断熱支持脚17により支持されている感熱素子部1
3とを具備するセルがシリコン基板11上に複数個配列
され、感熱素子部13の温度変化を信号として順次出力
できるようになっている。図1中12は、外部と電気的
に接続するためのボンディングパッドである。また、1
01は埋め込み酸化膜である。
【0026】この赤外線センサは、個々のセルを分離す
る水平アドレス線及び垂直信号線14を埋め込んでいる
酸化シリコンからなる枠体部と、この上に形成された赤
外線を透過する蓋(赤外線透過窓)15によって、複数
のセルが個別に真空封止されている。103は、これら
を接着するための接着材である。また、102はひとつ
のセルを示す領域である。
【0027】次に、この赤外線センサの製造方法につい
て簡単に説明する。
【0028】先ず、通常のSi−CMOSプロセスによ
って、トランジスタが形成されたSOIシリコン基板1
1を準備する。このときボンディングパッド12は、S
i−CMOSプロセスにより素子構造を製造した後に、
最後に開孔する。その際、平坦化工程によりアルミ配線
上の酸化膜を平坦化しておく。
【0029】次に、このSOIシリコン基板11上に、
感熱素子部13となるpn接合ダイオードとトランジス
タを形成すべき領域を活性領域として残し、他の部分を
酸化シリコン領域にする。この酸化シリコン領域が感熱
素子部13を支持する断熱支持部17となる。次に活性
領域にイオン注入によってpn接合ダイオードとトラン
ジスタを犠牲層を形成する。犠牲層としては酸化シリコ
ン層等を用いることができる。次に、この犠牲層上に、
感熱素子部13及びこれを支持する断熱支持部17とな
る多結晶或いはアモルファスシリコン層を形成する。次
に、信号伝達用のアルミ配線とそれを保護するための酸
化膜(酸化シリコン)を形成する。その際平坦化工程に
よって、この酸化膜表面を平坦化しておく。ボンディン
グパッド12を開孔した後、断熱支持部と感熱素子部を
残すように溝をドライエッチングにより形成する。最後
にアルカリ溶液によりSOIシリコン基板のシリコン基
板部を異方性エッチングして感熱素子部をシリコン基板
と熱的に分離する。ここで、埋め込み絶縁膜をエッチン
グ除去してもよい。犠牲層をエッチングし、多結晶或い
はアモルファスシリコンからなる感熱素子部13及び断
熱支持脚17を、中空に分離するようにパターニングす
ることによって、感熱素子部13をシリコン基板11と
熱的に分離する。
【0030】シフトレジスタ回路や信号処理回路等を形
成したシリコン基板11と感熱素子部13とを、熱的に
分離するために断熱支持脚17は、その長さ及び断面積
を調整することによって、熱コンダクタンスが約2×1
−7W/K以下になっている。また、この工程におい
て、水平アドレス線及び垂直信号線等の配線部14のそ
れぞれは、各セルに接続されるとともに、各セルを囲む
ように残される。配線部14は前記酸化膜中に形成され
ている。
【0031】次に、チップを真空装置内に導入し1Pa
以下の真空に引いた後、Ge、Si、ZnS、ZnS
e、、カルコゲナイド系カルコパイライト系材料等の赤
外線透過窓15を、水平アドレス線及び垂直信号線14
を含む酸化シリコンの枠体部の上面に静電接着する。こ
うすることで個々のセルを分離して、個別に真空封止す
ることができる。
【0032】このとき赤外線透過窓15を接着する際、
真空用接着剤103を塗布し接着することで、個々のセ
ル内の真空度を向上させることも可能である。接着剤を
用いれば、赤外線透過窓15として、通常のプラスチッ
ク材も用いることができる。
【0033】次に、図2に、実施形態1に係る赤外線セ
ンサにおける一つのセル102(図1)の拡大図(a)
及びこの上面図(b)を示す。図2(b)のA−A'で
切り取ったものが図2(a)の断面図である。
【0034】図2(a)(b)に示すように、感熱素子
部13がセルの中央部に形成され、2本の断熱支持脚1
7によって、水平アドレス線及び垂直信号線を含む酸化
シリコンの枠体部の側壁に支持されている。こうするこ
とで感熱素子部13は、その周囲及び下に中空100に
設けることができシリコン基板11と熱的に分離するこ
とが可能となっている。ここで感熱素子部13は、シリ
コン膜20中にpn接合19が形成され、これらが配線
18によって直列に接続された構造となっている。
【0035】次に、図3に、実施形態1に係る赤外線セ
ンサの上面図を示す。
【0036】図3に示すように、この赤外線センサは、
シリコン基板11上にイメージエリア61が形成されて
いる。イメージエリア61上には赤外線透過窓62によ
り蓋がされている。
【0037】このイメージエリア61の周辺には、水平
アドレス線を駆動するための垂直シフトレジスタ63が
形成されている。また、イメージエリア63の周辺には
増幅回路66を介して、垂直信号線を駆動するための水
平シフトレジスタ67が形成されている。
【0038】また、シリコン基板11上には出力回路6
5が形成され、これと外部とを電気的に接続するための
ボンディングパッド64が形成されている。
【0039】このようにして作製された赤外線センサに
ついて、従来のイメージエリア全てを一括して真空封止
したものと比較した。その結果70℃における加速試験
においてセル内の圧力が1Paになるまでの平均時間が
従来のものは約5000時間であったものが、本実施形
態では約12000時間に向上した。
【0040】また、チップアセンブリ時に生じる赤外線
透過窓62の欠損等による不良率も従来のものが8%で
あったものが本実施形態では1%以下まで減少した。
【0041】(実施形態2)次に、本発明の実施形態2
に係る赤外線センサについて説明する。
【0042】図4は、実施形態2に係る赤外線センサの
チップの断面を示す図である。
【0043】実施形態2では、感熱素子部の周囲及び下
部を埋め込んで空洞化させないセルをリファレンス用セ
ンサ37として、赤外線透過窓15の接着面下に配置す
る点が実施形態1のものと異なる。また、赤外線を透過
する蓋15は接着材103によって接着した。また、埋
め込み絶縁膜は形成していないが、形成してもよい。そ
の他の構造は、実施形態1と同様であるので、その詳し
い説明は省略する。
【0044】本実施形態では、実施形態1で説明した効
果のほかに、空洞化されていないセルをリファレンス用
センサ37とすることによって、赤外線透過窓17の温
度をリファレンス用センサ37で測定することが可能に
なり雑音となるバックグラウンド信号を除去することが
できる。
【0045】(実施形態3)次に、本発明の実施形態3
に係る赤外線センサについて説明する。
【0046】図5は、実施形態3に係る赤外線センサの
チップの断面を示す図である。
【0047】実施形態3では、シリコン基板11上に通
常のSi−CMOSプロセスによって、トランジスタを
形成する。次に、セル領域対応する部分に選択的に犠牲
層を形成し、さらにこの上に感熱素子部13及び感熱支
持脚17となる膜を形成する。次に、エッチングホール
を形成して、犠牲層を除去して、感熱素子部13及び断
熱支持脚17を中空に形成する。
【0048】また、ここでは埋め込み絶縁膜は、形成し
ていない。また、赤外線を透過する蓋は接着材103で
接着した。その他の構造は、実施形態1と同様であるの
で、その詳しい説明は省略する。
【0049】このようにして作製した場合でも実施形態
1と同様の効果が得られる。
【0050】(実施形態4)次に、本発明の実施形態4
に係る赤外線センサについて説明する。
【0051】図6は、実施形態4に係る赤外線センサの
チップの断面を示す図である。
【0052】実施形態4では、赤外線透過窓15の表面
上に赤外線を感熱素子部13上に効率よく集光するため
のレンズ58が形成されたものである。
【0053】このレンズ58は、樹脂をモールドによっ
て成型することで、赤外線透過窓15表面上に予め形成
することができる。また、シリコンやゲルマニウム等の
半導体を用いる場合は、中心部が厚く、周辺部が薄くな
るように複数回フォトリソグラフィによるマスクエッチ
ングを行うことにより成形することができる。また、赤
外線を透過する蓋15は接着材103で接着した。
【0054】実施形態では、実施形態1と同様の効果を
奏するほかに、開口率が向上し感度を約2倍向上するこ
とができた。
【0055】従来は、ウエハからダイシングによってチ
ップ化した後、1チップずつ犠牲層をエッチングしるす
るか或いは異方性エッチングを行って感熱素子部及び断
熱支持脚の周囲及び下部を中空化していた。そのため赤
外線センサの大量生産は困難であった。
【0056】しかしながら、上記実施形態により説明し
た赤外線センサでは、チップが複数個形成されたウエハ
上に上記の如く赤外線透過窓を真空中で位置決めして接
着することにより、個々のセルが個別に真空封止される
ので、その後、ダイシングによりボンディングパッド部
を露出し、さらにチップ化しても真空が破れることがな
く歩留まりが落ちることはなかった。これにより、大量
生産が可能になる。
【0057】
【発明の効果】以上述べたように本発明により、従来の
技術では得られなかった安価で信頼性の高い赤外線セン
サが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施形態1に係る赤外線センサの断
面図。
【図2】 本発明の実施形態1に係る赤外線センサにお
ける一つのセルの(a)断面図及び(b)上面図。
【図3】 本発明の実施形態1に係る赤外線センサの上
面図。
【図4】 本発明の実施形態2に係る赤外線センサの断
面図。
【図5】 本発明の実施形態3に係る赤外線センサの断
面図。
【図6】 本発明の実施形態4に係る赤外線センサの断
面図。
【図7】 従来の赤外線センサの断面図。
【図8】 従来の赤外線センサを真空封止した真空封止
パッケージの構成図。
【符号の説明】
11…シリコン基板 12…ボンディングパッド 13…感熱素子部 14…配線 15…赤外線透過窓 16…中空 17…支持脚 37…リファレンスセンサ 46…溝 58…レンズ 61…イメージエリア 62…赤外線透過窓 63…垂直シフトレジスタ 64…ボンディングパッド 65…出力回路 66…増幅回路 67…水平シフトレジスタ 81…真空パッケージ 82…センサチップ 83…真空排気ポート 84…ボンディングワイヤー 85…ボンディングパッド 86…蓋 87…赤外線透過窓 101・・・埋め込み絶縁膜
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 27/146 H01L 27/14 A H04N 5/33 D K (72)発明者 真塩 尚哉 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株 式会社東芝研究開発センター内 Fターム(参考) 2G065 AA11 AB02 BA14 BA34 BB06 BE07 BE08 CA13 CA21 DA18 DA20 2G066 BA22 BA55 BA60 BB09 BB11 CA02 4M118 AA08 AA10 AB01 BA02 BA30 CA03 CA22 CB12 EA01 FC06 GA10 GB09 GD04 HA02 HA30 5C024 AX06 CY47 CY48 CY49 EX22 EX23 EX25 EX42 GX03 HX41

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板と、 前記基板上に平面配置され、温度変化を電気信号に変換
    する感熱素子部と前記感熱素子部を前記基板上に支持す
    る断熱支持脚とをそれぞれ備えた複数のセルと、 前記感熱素子部の電気信号を出力する出力部と、 前記複数のセルを個別に真空封止する封止部材と、を具
    備することを特徴とする赤外線センサ。
  2. 【請求項2】前記封止部材は赤外線を透過する蓋部を備
    えることを特徴とする請求項1記載の赤外線センサ。
  3. 【請求項3】基板と、 前記基板上に配列され、温度変化を電気信号に変換する
    感熱素子部をそれぞれ備えた複数のセルと、 前記複数のセルの間に設けられ、前記複数のセルの各々
    を分離する枠体部と、 前記枠体部の上面に固着され、前記複数のセルを個別に
    真空封止し且つ赤外線を透過する蓋部と、を具備するこ
    とを特徴とする赤外線センサ。
  4. 【請求項4】前記複数のセルは複数の行および列のマト
    リクス状に配列され、 前記複数のセルの各行または各列のいずれか一方におけ
    る前記感熱素子部のそれぞれに対して接続される複数の
    選択線と、 前記複数のセルの各行または各列の他方における前記感
    熱素子部のそれぞれに対して接続される複数の信号線と
    を備え、前記複数の選択線及び前記複数の信号線は前記
    枠体部中に埋め込まれてなることを特徴とする請求項3
    記載の赤外線センサ。
  5. 【請求項5】複数のセルのそれぞれは、前記感熱素子部
    を前記基板上に支持する断熱支持脚を備えることを特徴
    とする請求項3又は4に記載の赤外線センサ。
  6. 【請求項6】前記蓋部上にレンズを備えることを特徴と
    する請求項2乃至5のいずれかに記載の赤外線センサ。
  7. 【請求項7】前記感熱素子部は、シリコン層に形成され
    たpn接合ダイオードであることを特徴とする請求項1
    乃至6のいずれかに記載の赤外線センサ。
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