JP2003150402A - 情報処理装置の消耗度把握方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 予測精度の高い情報処理装置の消耗度の計測
を可能とする。 【解決手段】 情報処理装置１の消耗度を寿命は装置へ
の通電時の温度又は上昇温度（発熱量）に略比例して短
くなることから、装置内温度又は発熱量の積算値を消耗
度を把握する情報として使用する。内部温度測定部１２
は、電源投入状態の内部温度を測定し測定電圧を出力し
電圧／数値変換部１３は前記測定電圧を数値情報に変換
し内部レジスタに格納する。消耗度積算演算部１４は、
前記内部レジスタに格納された数値を発振部１６のサン
プリングパルスで抽出し、抽出した数値とサンプリング
周期（時間）との積を計算し積算する。消耗度記憶部１
５は、消耗度積算演算部１４での積算結果を既に消耗度
記憶部１５に保持されている積算値と加算して記憶保持
する

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明が属する技術分野】本発明は情報処理装置の消耗
度把握方式に関し、特に、消耗度の予測精度の高い情報
処理装置の消耗度把握方式に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の情報処理装置の消耗度の把握方式
としては、情報処理装置に対する電源投入状態の期間で
ある通電時間を計測して評価する方式が知られている
（特開平６−２２２５５９号公報）。この方式は、情報
処理装置の電源投入状態で割り込み発生手段を用いて装
置使用時間を積算した積算使用時間をカウントするもの
であり、より具体的には、情報処理装置の電源投入状態
で一定時間毎に割り込みを発生する割込発生手段と、こ
の割込発生手段からの割込発生毎に記憶手段のカウンタ
エリアに一定値を加算して順次更新し、積算使用時間と
して記憶する時間蓄積手段とを備え、この積算使用時間
を装置の使用終了時毎に表示又は印字したり、前記記憶
手段のデバイス情報エリアに予め記憶しておいた各部品
の寿命使用時間から前記積算使用時間を減算して各部品
の残り時間を表示又は印字するものである。

【０００３】また、電源装置（電解コンデンサ）、電気
化学式ガスセンサ、蓄電池及び補助記憶装置等の寿命予
測又は劣化状態の診断において、通電時間と使用温度と
の積算値を算出して予測することが知られている（特開
平１−２６０３６９号公報、特開平８−２３３７７０号
公報、特開平９−２５３５３９号公報、特開平１１−２
７３３３０号公報）。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】従来の情報処理装置の
消耗度の把握方式は、情報処理装置の通電時間（使用時
間）の積算値を評価情報とするものであるが、使用時間
の積算値のみを評価情報とする方式では精度の高い消耗
度の予測を行うことは困難である。また、電源装置（電
解コンデンサ）等の寿命予測の方式は、通電時間と使用
温度の積算値を寿命予測に使用するものであるが、個々
の素子又はデバイスの寿命予測に関するものであり、電
源装置等をも含む多数の素子及びデバイス等を内蔵する
装置全体の消耗度の把握に関するものではない。

【０００５】（目的）本発明の目的は、予測精度の高い
情報処理装置の消耗度の計測を可能とする情報処理装置
の消耗度把握方式を提供することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】情報処理装置を構成する
部品及びデバイスは、例えば、ＩＣ、ＬＳＩの絶縁破壊
などから分かるように、通常の温度環境での使用におい
ては、装置への通電時の温度上昇に略比例して進行する
ことから、情報処理装置の寿命はこの温度又は上昇温度
（発熱量）に略比例して短くなる。本発明に係る情報処
理装置の消耗度把握方式は、装置内部の温度情報に基づ
き装置内温度又は発熱量の積算値を消耗度を把握する情
報として使用することを特徴とする。つまり、本発明の
情報処理装置の消耗度把握方式は、情報処理装置内部の
通電時の温度を測定する温度測定手段（例えば図１の１
２、１３）と、前記温度測定手段で測定した温度値を所
定時間間隔でサンプリングし、サンプリングした温度値
と前記所定時間間隔とを乗算した結果を順次積算する積
算手段（例えば図１の１４、１６）と、前記積算手段の
積算結果を合計して積算値として記憶し出力する記憶手
段（例えば図１の１５、１７）と、からなることを特徴
とする。また、前記温度測定手段は、情報処理装置の部
品及びデバイスの近傍の温度を検出するように複数設け
られること（例えば図４の４２−１、４２−２、４２−
３）を特徴とする。

【０００７】本発明の情報処理装置の消耗度把握方式
は、情報処理装置内部の通電時の発熱による上昇温度を
測定する温度検出手段（例えば図３の１２、１３、２
１、２２）と、前記温度検出手段で検出した温度値を所
定時間間隔でサンプリングし、サンプリングした温度値
と前記所定時間間隔とを乗算した結果を順次積算する積
算手段（例えば図３の１４、１６）と、前記積算手段の
積算結果を合計して積算値として記憶し出力する記憶手
段（例えば図３の１５、１７）と、からなることを特徴
とする。また、前記温度検出手段は、前記情報処理装置
の内部温度を測定する内部温度測定手段（例えば図３の
１２、１３）と、内部温度測定手段からの測定温度から
予め設定した装置の使用環境温度との差を検出する演算
手段（例えば図３の２１、２２）を備えることを特徴と
する。また、前記温度検出手段は、前記情報処理装置の
内部温度を測定する内部温度測定手段（例えば図４の１
２、１３）と、前記情報処理装置の外部温度を測定する
外部温度測定手段（例えば図４の３２、３３）と、前記
内部温度と外部温度の差を演算する演算手段（例えば図
４の３１、３４）を備えることを特徴とする。

【０００８】更に、前記内部温度測定手段は、情報処理
装置の部品及びデバイスの近傍の温度を検出するように
複数設けられること（例えば図５の４２−１、４２−
２、４２−３）を特徴とする。

【０００９】（作用）情報処理装置の寿命は、通電時の
温度、上昇温度（発熱量）等に略比例して短くなること
が知られており、かかる発熱に応じた装置内の上昇温度
を消耗度の把握に利用する。

【００１０】

【発明の実施の形態】（第１の実施の形態）次に、本発
明の情報処理装置の消耗度把握方式の実施の形態につい
て、以下図面を参照して説明する。図１は、本発明の情
報処理装置の消耗度把握方式の第１の実施の形態の構成
を示す図である。本実施の形態は、情報処理装置１の内
部に、温度を測定して測定電圧を出力する内部温度計測
部１２と、前記測定電圧を数値に変換して出力する電圧
／数値変換部１３と、前記数値を積算する消耗度積算演
算部１４と、前記数値の全積算値を記憶保持する消耗度
記憶部１５と、消耗度積算演算部１４に対する積算用の
サンプリングパルス信号を出力する発振部１６と、消耗
度記憶部１５に電源を供給する充電式電池１７とから構
成される。各部の構成及び機能はつぎのとおりである。

【００１１】内部温度測定部１２は、情報処理装置１の
電源投入状態において常時内部温度を測定し測定電圧を
出力する。電圧／数値変換部１３は前記測定電圧を数値
情報に変換し、電圧／数値変換部の内部レジスタに格納
する。消耗度積算演算部１４は、電圧／数値変換部１３
の内部レジスタに格納された数値を発振部１６から出力
されるサンプリングパルス信号の一定のサンプリング周
期で抽出し、抽出した数値とサンプリング周期（時間）
との積を計算し、内部回路において順次積算する。消耗
度記憶部１５は、消耗度積算演算部１４での積算結果を
既に消耗度記憶部１５に保持されている積算値と加算し
て記憶保持する。消耗度記憶部１５の記憶保持動作は、
電源投入状態における一定期間毎に自動的に又は読み出
し操作により又は電源オフ動作により実行される。ま
た、消耗度記憶部１５は充電式電池１７から供給される
電源電圧によって動作し、保持されている積算値は情報
処理装置１１の主電源のオフ状態でも保持可能とし、加
えてソフトウエアによる読み出しを可能とする。

【００１２】図２は、情報処理装置の使用状態での温度
の時間変化とその積算値を示す図である。消耗度積算演
算部１４においては、前記温度値をサンプリング周期
毎、例えば１時間毎に抽出し、当該サンプリング時点の
温度値とサンプリング周期との積を演算し、その値をサ
ンプリング時間毎に順次加算する。図２の斜線部分
（Ｓ）は積算結果に相当するものであり、この積算結果
を消耗度記憶部１５に転送し、消耗度記憶部１５におい
て消耗度の情報として保持する。

【００１３】情報処理装置１１の性能ないし機能は、内
部温度の積算値の増大に応じて低下することから、情報
処理装置の内部温度に関するこのような積算情報により
消耗度を予測することが可能であり、消耗度記憶部１５
に保持された積算値をソフトウエアによって外部から読
み出すことにより、随時、消耗度を把握することができ
る。

【００１４】第１の実施の形態では、情報処理装置の消
耗度を表す情報を装置内の温度に基づいて算出する例を
説明したが、情報処理装置の寿命は、通電時の上昇温度
（発熱量）に略比例して短くなることから、装置内部品
等からの発熱による上昇温度に基づいて消耗度を把握す
ることが可能である。

【００１５】（第２の実施の形態）図３は、本発明の情
報処理装置の消耗度把握方式の第２の実施の形態の構成
を示す図である。図１に示す同様の機能を有する情報処
理装置２の内部ブロックとして、内部温度計測部１２、
電圧／数値変換部１３、消耗度積算演算部１４、消耗度
記憶部１５、サンプリングパルス信号を出力する発振部
１６及び充電式電池１７を備え、更に本実施の形態で
は、情報処理装置２が使用される環境温度に相当する所
定の数値を設定する数値設定部２２と、電圧／数値変換
部１３の出力数値から前記数値設定部２２の出力数値を
減算した数値を前記消耗度積算演算部１４に出力する減
算部２１と、を備える。本実施の形態の構成及び機能は
つぎのとおりである。

【００１６】本実施の形態では、数値設定部２２は情報
処理装置２が使用される環境温度に相当する数値とし
て、常温温度又は年間の平均温度等に対応する数値又は
これらに所定係数をかけた数値を出力する。このため、
数値設定部２２には記憶部又は数値入力部を備え、前記
数値を予め固定的に記憶して設定可能とするか、又は外
部から適宜入力することにより設定可能とする。

【００１７】減算部２１においては、電圧／数値変換部
１３から出力される電源投入状態の装置内部温度に対応
する数値から、前記数値設定部２２から出力される環境
温度に対応する数値を減算する演算を行い、減算値を内
部レジスタに格納する。消耗度積算演算部１４は、減算
部２１の内部レジスタに格納された数値を発振部１６の
出力のサンプリング周期で抽出し、抽出した数値とサン
プリング周期（時間）との積を計算し、内部回路におい
て順次積算する。消耗度記憶部１５は、消耗度積算演算
部１４での積算結果を既に消耗度記憶部１５に保持され
ている積算値と加算して記憶保持する。

【００１８】本実施の形態では、情報処理装置２の性能
ないし機能を内部の発熱による上昇温度の積算値により
予測することによりより高い消耗度の把握を可能とする
ものであり、消耗度記憶部１５に保持された積算値をソ
フトウエアによって外部から読み出すことにより、随
時、消耗度を把握する。

【００１９】第２の実施の形態では、情報処理装置の消
耗度を表す部品等の発熱による上昇温度の積算値につい
て装置内の温度に基づいて算出する例を説明したが、装
置内の温度と装置の使用環境の温度である装置外温度と
からこのような上昇温度を算出するように構成すること
が可能である。

【００２０】（第３の実施の形態）図４は、このような
構成とした本発明の情報処理装置の消耗度把握方式の第
３の実施の形態を示す図である。同図において図４に示
す実施の形態と同一の機能を有するブロックは同一の符
号を付して詳細な説明は省略する。本実施の形態では、
情報処理装置３に対し内部温度測定部１２に加えて外部
温度測定部３２を設け、該外部温度測定部３２の出力を
数値に変換する電圧／数値変換部３３と、電圧／数値変
換部３３の出力に基づき装置の環境温度に対応する数値
を生成する数値設定部３４を設ける。

【００２１】外部温度測定部３２は、情報処理装置３の
使用環境である装置外の温度を測定し測定電圧を出力
し、電圧／数値変換部３３は前記測定電圧を数値に変換
して数値設定部３４に出力する。数値設定部３３は、装
置外の温度に対応する数値又は当該数値に例えば所定係
数を乗算した数値を減算用の設定値として減算部３１に
出力する。減算部３１は、内部温度測定部１２の測定電
圧を電圧／数値変換した数値から前記設定値を減算して
内部レジスタに格納する。

【００２２】以下、消耗度積算演算部１４は減算部３１
の内部レジスタに格納された数値を一定のサンプリング
周期で抽出し、抽出した数値とサンプリング周期（時
間）との積を計算して順次積算し、消耗度記憶部１５
は、前記積算結果を消耗度記憶部１５に保持されている
積算値と加算して記憶保持する。

【００２３】以上の実施の形態では情報処理装置の内部
温度を所定箇所に設置した単一の内部温度測定部により
計測する構成例で説明したが、内部温度測定部は複数の
箇所に設置することが可能である。内部温度測定部の設
置箇所を複数箇所に拡張することにより、情報処理装置
内部の測定する温度の情報量が増加するため、より精度
の高い情報処理装置の消耗度の把握を可能とする。

【００２４】（第４の実施の形態）図５は、複数の温度
測定部を使用する実施の形態の構成例を示す図である。
複数の温度測定部４２−１、４２−２、４２−３と、温
度測定部４２−１、４２−２、４２−３のそれぞれの測
定電圧を数値に変換する電圧／数値変換部４３−３、４
３−２、４３−３と、電圧／数値変換部４３−１、４３
−２、４３−３のそれぞれの出力の数値を変換する数値
変換部４４−１、４４−２、４４−３と、数値変換部４
４−１、４４−２、４４−３のそれぞれの出力の数値を
積算する消耗度積算演算部４５−１、４５−２、４５−
３と、消耗度積算演算部４５−１、４５−２、４５−３
にそれぞれ所望のサンプリング周期でサンプリングパル
ス信号を出力する発振部４６と、消耗度積算演算部４５
−１、４５−２、４５−３によるそれぞれの消耗度の積
算値を積算記憶する消耗度記憶部４７とから構成され
る。

【００２５】情報処理装置においては、電解コンデンサ
の電解液の蒸発、ＩＣ、ＬＳＩの絶縁破壊の進行、ファ
ンモータのグリスの劣化など素子、部品レベルの劣化に
加え、表示部、記憶部、ＣＰＵ、各種基板などの機能ブ
ロックレベルの劣化等、各種の要因による情報処理装置
としての性能、機能等の消耗が生じる。本実施の形態で
は、このような素子、部品単位又は機能ブロック単位に
対応して、必要箇所の近傍に複数の温度測定部４２−
１、４２−２、４２−３を設置して各箇所の温度を計測
して、各箇所の温度又は上昇温度の時間積算値を総合し
て情報処理装置の消耗度を把握することを可能とする。

【００２６】本実施の形態では、電圧／数値変換部４３
−１、４３−２、４３−３と消耗度積算演算部４５−
１、４５−２、４５−３との間にそれぞれ数値変換部４
４−１、４４−２、４４−３を設けて、各数値変換部に
おいて各温度測定部の出力に対して、その対応する部
品、機能ブロックの温度に対する寿命等の特性に応じて
所定の重み付けを行うように各入力数値に所定係数をか
けたり、図３、４に示すような減算演算を個別に施した
後、消耗度積算演算部４５−１、４５−２、４５−３で
それぞれ積算演算を行うように構成している。消耗度記
憶部４７では、複数の積算結果の入力を発振部４６から
のクロックにより時分割多重処理を行い、複数の積算結
果を個別に加算するほか、合計して加算して保存し、そ
れぞれの読み出し要求時に所定の積算値を出力する。

【００２７】以上の実施の形態において、消耗度記憶部
に記憶された積算値に対して所定の閾値を設定する設定
部と、前記積算値と前記閾値とを比較する比較部と、前
記積算値が前記閾値を超えたとき通報する通報手段とを
設けることにより、所定の消耗度又は寿命に達したこと
を通知する構成とすることが可能である。また、前記閾
値に加えて、所定の消耗度又は寿命に対応する一定の積
算値を設定する寿命設定部と、一定の積算値から前記積
算値を減算して表示出力するように構成することも可能
である。

【００２８】更に消耗度積算演算部はソフトウエアにて
実現することにより専用回路を削減するように構成する
ことができる。また、消耗度記憶部は、充電式電池の使
用に代えて、不揮発性のデバイス（例：フラッシュメモ
リー、ハードディスク、ＥＥＰＲＯＭ等）に変更するこ
とができることは云うまでもない。

【００２９】

【効果の説明】本発明によれば、情報処理装置がどの程
度の温度条件で使用されてきたのかという温度条件の履
歴に基づき、当該情報処理装置の消耗度を把握するよう
に構成しており、高い精度の消耗度の把握が可能であ
る。

【００３０】特に、各デバイスや部品の寿命に影響を与
える装置内部の当該情報処理装置の消耗度を把握する発
熱温度を電源投入後から積算して情報処理装置の消耗度
を予想する情報として使用するように構成しているから
高い精度の消耗度の把握が可能である。

【００３１】また、情報処理装置の内部に複数の素子、
部品や各デバイスに対応してその近傍の温度又は上昇温
度に基づき情報処理装置の消耗度を予想する情報を取得
することにより、より精度の高い消耗度の把握が可能で
ある。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の情報処理装置の消耗度把握方式の第
１の実施の形態を示す図である。

【図２】 情報処理装置の内部温度の経時的積算を示す
図である。

【図３】 本発明の情報処理装置の消耗度把握方式の第
２の実施の形態を示す図である。

【図４】 本発明の情報処理装置の消耗度把握方式の第
３の実施の形態を示す図である。

【図５】 本発明の情報処理装置の消耗度把握方式の第
４の実施の形態を示す図である。

【符号の説明】

１、２、３、４ 情報処理装置 １２ 内部温度測定部 １３、３３、４３−１、４３−２、４３−３ 電圧／数
値変換部 １４、４５−１、４５−２、４５−３ 消耗度積算演算
部 １５、４７ 消耗度記憶部 １６、４６ 発振部 １７ 充電式電池 ２１、３１ 減算部 ２２、３４ 数値設定値 ３２ 外部温度測定部 ４２−１、４２−２、４２−３ 温度測定部 ４４−１、４４−２、４４−３ 数値変換部

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 情報処理装置内部の通電時の温度を測定
   する温度測定手段と、前記温度測定手段で測定した温度
   値を所定時間間隔でサンプリングし、サンプリングした
   温度値と前記所定時間間隔とを乗算した結果を順次積算
   する積算手段と、前記積算手段の積算結果を合計して積
   算値として記憶し出力する記憶手段と、からなることを
   特徴とする情報処理装置の消耗度把握方式。
2. 【請求項２】 前記温度測定手段は、情報処理装置の部
   品及びデバイスの近傍の温度を検出するように複数設け
   られることを特徴とする請求項１記載の情報処理装置の
   消耗度把握方式。
3. 【請求項３】 情報処理装置内部の通電時の発熱による
   上昇温度を測定する温度検出手段と、前記温度検出手段
   で検出した温度値を所定時間間隔でサンプリングし、サ
   ンプリングした温度値と前記所定時間間隔とを乗算した
   結果を順次積算する積算手段と、前記積算手段の積算結
   果を合計して積算値として記憶し出力する記憶手段と、
   からなることを特徴とする情報処理装置の消耗度把握方
   式。
4. 【請求項４】 前記温度検出手段は、前記情報処理装置
   の内部温度を測定する内部温度測定手段と、内部温度測
   定手段からの測定温度から予め設定した装置の使用環境
   温度との差を検出する演算手段を備えることを特徴とす
   る請求項３記載の情報処理装置の消耗度把握方式。
5. 【請求項５】 前記温度検出手段は、前記情報処理装置
   の内部温度を測定する内部温度測定手段と、前記情報処
   理装置の外部温度を測定する外部温度測定手段と、前記
   内部温度と外部温度の差を演算する演算手段を備えるこ
   とを特徴とする請求項４記載の情報処理装置の消耗度把
   握方式。
6. 【請求項６】 内部温度測定手段は、情報処理装置の部
   品及びデバイスの近傍の温度を検出するように複数設け
   られることを特徴とする請求項５記載の情報処理装置の
   消耗度把握方式。