JP2003149151A - 灰中未燃分計測装置 - Google Patents
灰中未燃分計測装置Info
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- JP2003149151A JP2003149151A JP2001347060A JP2001347060A JP2003149151A JP 2003149151 A JP2003149151 A JP 2003149151A JP 2001347060 A JP2001347060 A JP 2001347060A JP 2001347060 A JP2001347060 A JP 2001347060A JP 2003149151 A JP2003149151 A JP 2003149151A
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- ash
- exhaust gas
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ボイラ火炉から発生する排ガス中の未燃分を
計測する装置における、加熱構成を簡略化する。 【解決手段】 火炉１０１内の排ガスＧはサンプリング
ラインＬ１を介してイジェクタ１０３に供給される。搬
送空気供給ラインＬ２は、炉内空間１０２を通ってから
イジェクタ１０３に接続されている。このため、搬送空
気Ａ１は、搬送空気供給ラインＬ２のうち炉内空間１０
２の部分を通過する際に加熱されから、イジェクタ１０
３に供給される。このため、搬送空気Ａ１は、イジェク
タ１０３にて排ガスＧと混合されても、排ガスＧを冷却
させることなく、排ガス温度を高いまま保持することが
でき、排ガス中の粒子が凝固することはない。排ガスＧ
は、三方バルブ１０５を経てサイクロン１０６に送ら
れ、サイクロン１０６にて捕集・分離した凝固していな
い灰分がＬＩＢＳ装置１０７にて分析され、未燃分が計
測される。
計測する装置における、加熱構成を簡略化する。 【解決手段】 火炉１０１内の排ガスＧはサンプリング
ラインＬ１を介してイジェクタ１０３に供給される。搬
送空気供給ラインＬ２は、炉内空間１０２を通ってから
イジェクタ１０３に接続されている。このため、搬送空
気Ａ１は、搬送空気供給ラインＬ２のうち炉内空間１０
２の部分を通過する際に加熱されから、イジェクタ１０
３に供給される。このため、搬送空気Ａ１は、イジェク
タ１０３にて排ガスＧと混合されても、排ガスＧを冷却
させることなく、排ガス温度を高いまま保持することが
でき、排ガス中の粒子が凝固することはない。排ガスＧ
は、三方バルブ１０５を経てサイクロン１０６に送ら
れ、サイクロン１０６にて捕集・分離した凝固していな
い灰分がＬＩＢＳ装置１０７にて分析され、未燃分が計
測される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、火力プラント等の
ボイラに用いて好適な灰中未燃分計測装置に関し、装置
構成を簡略化することができるように工夫したものであ
る。
ボイラに用いて好適な灰中未燃分計測装置に関し、装置
構成を簡略化することができるように工夫したものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】従来から、微粉炭，フライアッシュ
（灰）等の発熱量，未燃分，成分組成を計測する装置と
して、化学分析装置が良く知られている。ところが、こ
れらの分析装置は試料を採取してから分析結果が得られ
るまでに、かなりの時間（２０〜１２０分）を必要とす
るため、計測結果を用いてボイラー等（火力プラントの
場合）の制御を行うことは困難であった。
（灰）等の発熱量，未燃分，成分組成を計測する装置と
して、化学分析装置が良く知られている。ところが、こ
れらの分析装置は試料を採取してから分析結果が得られ
るまでに、かなりの時間（２０〜１２０分）を必要とす
るため、計測結果を用いてボイラー等（火力プラントの
場合）の制御を行うことは困難であった。
【０００３】そこで、本発明者等は先に、特開平１０−
１８５８１７号公報等で提案したレーザ誘起ブレークダ
ウン法（Laser Induced Breakdown Spectroscopy :ＬＩ
ＢＳ法）を採用し、装置化することを想起した。
１８５８１７号公報等で提案したレーザ誘起ブレークダ
ウン法（Laser Induced Breakdown Spectroscopy :ＬＩ
ＢＳ法）を採用し、装置化することを想起した。
【０００４】このＬＩＢＳ法は、例えば図５に示すよう
に装置化される。即ち、各種プラント等の配管１内に
は、測定対象物が存在（流通）している。測定対象物と
しては、微粉炭，フライアッシュ等がある。この配管１
のうち測定場２の部分には、パージ空気通路３ａを備え
た計測窓３が設置されている。
に装置化される。即ち、各種プラント等の配管１内に
は、測定対象物が存在（流通）している。測定対象物と
しては、微粉炭，フライアッシュ等がある。この配管１
のうち測定場２の部分には、パージ空気通路３ａを備え
た計測窓３が設置されている。
【０００５】そして、ＬＩＢＳ装置４を構成するパルス
レーザ装置５から出力されたレーザ光は、レンズ６及び
計測窓３を介して測定場２に集光される。このため、測
定場２に存在する微粒子がプラズマ化し、プラズマ化し
た成分物質からはプラズマ光が発生する。
レーザ装置５から出力されたレーザ光は、レンズ６及び
計測窓３を介して測定場２に集光される。このため、測
定場２に存在する微粒子がプラズマ化し、プラズマ化し
た成分物質からはプラズマ光が発生する。
【０００６】発生したプラズマ光は、測定場２の計測窓
３から外部に出力され、ミラー７で反射され、さらにレ
ンズ８で集光されて分光器９に入射される。分光器９
は、波長が１９０nm〜５００ｎｍ（或いはこの範囲内の
一部の波長域）のプラズマ光を分光し、分光した光成分
をＣＣＤカメラ１０に入力する。
３から外部に出力され、ミラー７で反射され、さらにレ
ンズ８で集光されて分光器９に入射される。分光器９
は、波長が１９０nm〜５００ｎｍ（或いはこの範囲内の
一部の波長域）のプラズマ光を分光し、分光した光成分
をＣＣＤカメラ１０に入力する。
【０００７】高速ゲートが可能なＣＣＤカメラ１０は、
分光器９にて分光された分光プラズマ光を検出し、この
分光プラズマ光に応じた信号をコンピュータ１１に転送
する。なお、ＣＣＤカメラ１０は、同期ライン１２を介
してパルスレーザ装置５と接続されており、ＣＣＤカメ
ラ１０のゲート制御と、パルスレーザ装置５の発振とを
同期させている。
分光器９にて分光された分光プラズマ光を検出し、この
分光プラズマ光に応じた信号をコンピュータ１１に転送
する。なお、ＣＣＤカメラ１０は、同期ライン１２を介
してパルスレーザ装置５と接続されており、ＣＣＤカメ
ラ１０のゲート制御と、パルスレーザ装置５の発振とを
同期させている。
【０００８】コンピュータ１１は、転送されてきた信号
（各成分からの発光強度情報を有している）を情報処理
演算することにより、測定場２に存在する組成成分の種
類や濃度を検出することができ、この組成成分の種類・
濃度から微粉炭，フライアッシュの発熱量，未燃分，成
分組成等をリアルタイムで算出する。
（各成分からの発光強度情報を有している）を情報処理
演算することにより、測定場２に存在する組成成分の種
類や濃度を検出することができ、この組成成分の種類・
濃度から微粉炭，フライアッシュの発熱量，未燃分，成
分組成等をリアルタイムで算出する。
【０００９】このようにＬＩＢＳ装置４は、測定現場に
てリアルタイムで測定対象物の組成成分の計測ができる
ので、計測結果に基づき、プラント等の運転制御を良好
に実行することができるようになる。
てリアルタイムで測定対象物の組成成分の計測ができる
ので、計測結果に基づき、プラント等の運転制御を良好
に実行することができるようになる。
【００１０】そこで、本発明者は、前述したＬＩＢＳ装
置を用いてボイラにおける灰中の未燃分をリアルタイム
で計測することができる新規な灰中未燃分計測システム
を開発して出願した（特願２００１−１８４５１６）。
置を用いてボイラにおける灰中の未燃分をリアルタイム
で計測することができる新規な灰中未燃分計測システム
を開発して出願した（特願２００１−１８４５１６）。
【００１１】ここで、先に出願した特願２００１−１８
４５１６の内容を、説明する。図２は先に出願した灰中
未燃分計測システムの概略構成図、図３はその作用説明
図で同図（ａ）は通常モードの流路説明図、同図（ｂ）
は流量計測モードの流路説明図、図４は同じく作用説明
図で同図（ａ）はパージモードの流路説明図、同図
（ｂ）はサンプルモードの流路説明図である。
４５１６の内容を、説明する。図２は先に出願した灰中
未燃分計測システムの概略構成図、図３はその作用説明
図で同図（ａ）は通常モードの流路説明図、同図（ｂ）
は流量計測モードの流路説明図、図４は同じく作用説明
図で同図（ａ）はパージモードの流路説明図、同図
（ｂ）はサンプルモードの流路説明図である。
【００１２】図２に示すように、図示しないボイラの燃
焼ガス（排ガス）ラインから適宜弁装置を介して分岐し
た主サンプリングラインＡ中に、灰の入ったサンプルガ
スを吸引する第１のイジェクタ２０ａ，２０ｂと、該第
１イジェクタ２０ａ，２０ｂで吸引されたサンプルガス
中から灰分を分離・捕集する第１のサイクロン２１と、
該第１サイクロン２１で分離・捕集された灰分を吸引す
る第２のイジェクタ２２とがライン上流側から下流側に
順次介装されている。
焼ガス（排ガス）ラインから適宜弁装置を介して分岐し
た主サンプリングラインＡ中に、灰の入ったサンプルガ
スを吸引する第１のイジェクタ２０ａ，２０ｂと、該第
１イジェクタ２０ａ，２０ｂで吸引されたサンプルガス
中から灰分を分離・捕集する第１のサイクロン２１と、
該第１サイクロン２１で分離・捕集された灰分を吸引す
る第２のイジェクタ２２とがライン上流側から下流側に
順次介装されている。
【００１３】前記第１サイクロン２１と第２イジェクタ
２２との間のライン中には、当該ラインを流れる灰分に
レーザを照射してその組成成分をプラズマ化し、該プラ
ズマから発生するプラズマ光を分光器に入射し、分光器
にて分光したスペクトル光から灰中の未燃分を計測する
ＬＩＢＳ（Laser Induced Breakdown Spectroscopy）装
置４が介装される。
２２との間のライン中には、当該ラインを流れる灰分に
レーザを照射してその組成成分をプラズマ化し、該プラ
ズマから発生するプラズマ光を分光器に入射し、分光器
にて分光したスペクトル光から灰中の未燃分を計測する
ＬＩＢＳ（Laser Induced Breakdown Spectroscopy）装
置４が介装される。
【００１４】尚、前記第１サイクロン２１で遠心分離さ
れたガス成分は、第１の副サンプリングラインＡ1 を通
って、前記第２イジェクタ２２下流の主サンプリングラ
インＡ中に合流される。
れたガス成分は、第１の副サンプリングラインＡ1 を通
って、前記第２イジェクタ２２下流の主サンプリングラ
インＡ中に合流される。
【００１５】また、前記第１イジェクタ２０ａ，２０ｂ
の上流の主サンプリングラインＡの途中には、三方弁２
３ａ，２３ｂを介して第２の副サンプリングラインＡ2
が分離形成され、この第２副サンプリングラインＡ2 の
途中にサンプルガスの流量を計測する流量計２４が介装
される。
の上流の主サンプリングラインＡの途中には、三方弁２
３ａ，２３ｂを介して第２の副サンプリングラインＡ2
が分離形成され、この第２副サンプリングラインＡ2 の
途中にサンプルガスの流量を計測する流量計２４が介装
される。
【００１６】また、前記第１イジェクタ２０ａ，２０ｂ
は前，後二段に亙って設けられ、これら前段のイジェク
タ２０ａと後段のイジェクタ２０ｂとの間の主サンプリ
ングラインＡ中に、必要時に当該ラインを遮断する遮断
弁２５が介装される。
は前，後二段に亙って設けられ、これら前段のイジェク
タ２０ａと後段のイジェクタ２０ｂとの間の主サンプリ
ングラインＡ中に、必要時に当該ラインを遮断する遮断
弁２５が介装される。
【００１７】また、前記第２イジェクタ２２下流の主サ
ンプリングラインＡからは、三方弁２６を介して第３の
副サンプリングラインＡ3 が分岐され、この第３副サン
プリングラインＡ3 中に灰分を分離・捕集する第２のサ
イクロン２８がポット２９とともに介装される。前記第
３副サンプリングラインＡ3 の下流端は必要時に当該ラ
インを遮断する遮断弁２７を介して前記三方弁２６下流
の主サンプリングラインＡに接続される。
ンプリングラインＡからは、三方弁２６を介して第３の
副サンプリングラインＡ3 が分岐され、この第３副サン
プリングラインＡ3 中に灰分を分離・捕集する第２のサ
イクロン２８がポット２９とともに介装される。前記第
３副サンプリングラインＡ3 の下流端は必要時に当該ラ
インを遮断する遮断弁２７を介して前記三方弁２６下流
の主サンプリングラインＡに接続される。
【００１８】前記三方弁２３ａ，２３ｂ，２６及び遮断
弁２５，２７は、例えば電磁弁で構成され、図示しない
制御装置により後述する各種モードに応じて切換（開
閉）制御されるようになっている。また、前記第１イジ
ェクタ２０ａ，２０ｂ及び第２イジェクタ２２と主サン
プリングラインＡの第１サイクロン２１直下及びＬＩＢ
Ｓ装置４計測部の５箇所には図示しない流量計が設置さ
れ、当該部位を流れるサンプルガス及び灰の流量が適正
になるよう監視している。
弁２５，２７は、例えば電磁弁で構成され、図示しない
制御装置により後述する各種モードに応じて切換（開
閉）制御されるようになっている。また、前記第１イジ
ェクタ２０ａ，２０ｂ及び第２イジェクタ２２と主サン
プリングラインＡの第１サイクロン２１直下及びＬＩＢ
Ｓ装置４計測部の５箇所には図示しない流量計が設置さ
れ、当該部位を流れるサンプルガス及び灰の流量が適正
になるよう監視している。
【００１９】このように構成されるため、先ず、図３の
（ａ）に示す通常モードでは、三方弁２３ａ，２３ｂ，
２６は主サンプリングラインＡ側に切り換えられると共
に、遮断弁２５は開かれる一方遮断弁２７は閉じられ
る。
（ａ）に示す通常モードでは、三方弁２３ａ，２３ｂ，
２６は主サンプリングラインＡ側に切り換えられると共
に、遮断弁２５は開かれる一方遮断弁２７は閉じられ
る。
【００２０】これにより、第１イジェクタ２０ａ，２０
ｂで主サンプリングラインＡ中に吸引されたサンプルガ
スは第１サイクロン２１に導かれ、ここでガス中の灰分
が分離・捕集される。分離・捕集された灰分は第２イジ
ェクタ２２により吸引されてその後第１副サンプリング
ラインＡ1 を通ってきたガスと合流して主サンプリング
ラインＡ外へと排出される。
ｂで主サンプリングラインＡ中に吸引されたサンプルガ
スは第１サイクロン２１に導かれ、ここでガス中の灰分
が分離・捕集される。分離・捕集された灰分は第２イジ
ェクタ２２により吸引されてその後第１副サンプリング
ラインＡ1 を通ってきたガスと合流して主サンプリング
ラインＡ外へと排出される。
【００２１】そして、前記第１サイクロン２１で分離・
捕集された灰分は、同第１サイクロン２１から第２イジ
ェクタ２２に至る間に、ＬＩＢＳ装置４により、その灰
中未燃分が計測される。即ち、ＬＩＢＳ装置４では、灰
中の主成分であるSi,Al,Ca,Fe 及び未燃分に起因するC
成分を計測し、Si,Al,Ca,Fe とC の比より未燃分を算出
するのである。
捕集された灰分は、同第１サイクロン２１から第２イジ
ェクタ２２に至る間に、ＬＩＢＳ装置４により、その灰
中未燃分が計測される。即ち、ＬＩＢＳ装置４では、灰
中の主成分であるSi,Al,Ca,Fe 及び未燃分に起因するC
成分を計測し、Si,Al,Ca,Fe とC の比より未燃分を算出
するのである。
【００２２】ボイラでは、前記ＬＩＢＳ装置４の計測結
果に基づいて、例えば微粉炭の粉砕度を増減する等ボイ
ラ火炉における燃焼条件を変化させて未燃分を制御す
る。
果に基づいて、例えば微粉炭の粉砕度を増減する等ボイ
ラ火炉における燃焼条件を変化させて未燃分を制御す
る。
【００２３】次に、図３の（ｂ）に示す流量計測モード
では、三方弁２３ａ，２３ｂが第２副サンプリングライ
ンＡ2 側に切り換えられ、その他は図３の（ａ）の状態
と同様である。
では、三方弁２３ａ，２３ｂが第２副サンプリングライ
ンＡ2 側に切り換えられ、その他は図３の（ａ）の状態
と同様である。
【００２４】これにより、第１イジェクタ２０ａ，２０
ｂで吸引されるサンプルガスは第２副サンプリングライ
ンＡ2 を通り、流量計２４でその流量を計測されつつ第
１サイクロン２１に導かれる。
ｂで吸引されるサンプルガスは第２副サンプリングライ
ンＡ2 を通り、流量計２４でその流量を計測されつつ第
１サイクロン２１に導かれる。
【００２５】この結果、サンプルガスの流量をモニタリ
ングしながら灰中の未燃分を計測することができる。
尚、この流量計測モードは通常１時間位運転され、それ
以上の運転は流量計２４の詰まりなどの原因となるの
で、回避される。
ングしながら灰中の未燃分を計測することができる。
尚、この流量計測モードは通常１時間位運転され、それ
以上の運転は流量計２４の詰まりなどの原因となるの
で、回避される。
【００２６】次に、図４の（ａ）に示すパージモードで
は、遮断弁２５は閉じられると共に、三方弁２３ａ，２
３ｂ，２６は主サンプリングラインＡ側に切り換えられ
る一方遮断弁２７は閉じられる。
は、遮断弁２５は閉じられると共に、三方弁２３ａ，２
３ｂ，２６は主サンプリングラインＡ側に切り換えられ
る一方遮断弁２７は閉じられる。
【００２７】これにより、前段のイジェクタ２０ａより
導入されたエアは同イジェクタ２０ａ上流の主サンプリ
ングラインＡを逆流し（図中矢印参照）、同ラインの管
内壁や三方弁２３ａ，２３ｂの部品等に付着した灰をパ
ージする一方、後段のイジェクタ２０ｂより導入された
エアは同イジェクタ２０ｂ下流の主サンプリングライン
Ａと第１副サンプリングラインＡ1 とを流れ、同ライン
の管内壁や各種機器の部品等に付着した灰をパージす
る。
導入されたエアは同イジェクタ２０ａ上流の主サンプリ
ングラインＡを逆流し（図中矢印参照）、同ラインの管
内壁や三方弁２３ａ，２３ｂの部品等に付着した灰をパ
ージする一方、後段のイジェクタ２０ｂより導入された
エアは同イジェクタ２０ｂ下流の主サンプリングライン
Ａと第１副サンプリングラインＡ1 とを流れ、同ライン
の管内壁や各種機器の部品等に付着した灰をパージす
る。
【００２８】尚、このパージモードにおいて、三方弁２
３ａ，２３ｂ，２６と遮断弁２７を逆に切り換えること
で、第２副サンプリングラインＡ2 と第３副サンプリン
グラインＡ3 の灰もパージすることができる。また、こ
のパージモードはシステムのエラー発生時に自動的に当
該モードになると好適である。
３ａ，２３ｂ，２６と遮断弁２７を逆に切り換えること
で、第２副サンプリングラインＡ2 と第３副サンプリン
グラインＡ3 の灰もパージすることができる。また、こ
のパージモードはシステムのエラー発生時に自動的に当
該モードになると好適である。
【００２９】最後に、図４の（ｂ）に示すサンプルモー
ドでは、三方弁２３ａ，２３ｂは主サンプリングライン
Ａ側に切り換えられて遮断弁２５が開かれる一方、三方
弁２６は第３副サンプリングラインＡ3 側に切り換えら
れて遮断弁２７が開かれる。
ドでは、三方弁２３ａ，２３ｂは主サンプリングライン
Ａ側に切り換えられて遮断弁２５が開かれる一方、三方
弁２６は第３副サンプリングラインＡ3 側に切り換えら
れて遮断弁２７が開かれる。
【００３０】これにより、第１イジェクタ２０ａ，２０
ｂで主サンプリングラインＡ中に吸引されたサンプルガ
スは第１サイクロン２１に導かれ、ここでガス中の灰分
が分離・捕集される。分離・捕集された灰分は第２イジ
ェクタ２２により吸引されてその後第３副サンプリング
ラインＡ3 に導かれ、第２サイクロン２８で再びガス中
の灰分が分離されてポット２９内に捕集される。第２サ
イクロン２８で分離されたガス成分は遮断弁２７を経て
主サンプリングラインＡに合流される。
ｂで主サンプリングラインＡ中に吸引されたサンプルガ
スは第１サイクロン２１に導かれ、ここでガス中の灰分
が分離・捕集される。分離・捕集された灰分は第２イジ
ェクタ２２により吸引されてその後第３副サンプリング
ラインＡ3 に導かれ、第２サイクロン２８で再びガス中
の灰分が分離されてポット２９内に捕集される。第２サ
イクロン２８で分離されたガス成分は遮断弁２７を経て
主サンプリングラインＡに合流される。
【００３１】前記モードで約２時間運転した後、ポット
２９内に捕集・取得された灰は、化学分析装置やＸ線分
析装置で成分分析され、未燃分が計測される。この計測
結果と前記ＬＩＢＳ装置４の計測結果とを比較し、計測
値が異なっていればＬＩＢＳ装置４の計測値に較正をか
ければ良い。
２９内に捕集・取得された灰は、化学分析装置やＸ線分
析装置で成分分析され、未燃分が計測される。この計測
結果と前記ＬＩＢＳ装置４の計測結果とを比較し、計測
値が異なっていればＬＩＢＳ装置４の計測値に較正をか
ければ良い。
【００３２】
【発明が解決しようとする課題】ところで先に出願した
特願２００１−１８４５１６の灰中未燃分計測システム
では、次のような改良すべき点が残っていた。
特願２００１−１８４５１６の灰中未燃分計測システム
では、次のような改良すべき点が残っていた。
【００３３】即ち、ボイラ（火炉）から排出された排ガ
スの温度は３００°Ｃ程度であり、この排ガスを分岐し
て主サンプリングラインＡに導入したときの排ガスの温
度は低下するが１００°Ｃ以上（例えば１５０°Ｃ）に
なっている。この排ガス中には水分や粉体が含まれてお
り、ガス温度が低下すると（例えば１００°Ｃ以下にな
ると）、粉体に水分が吸収されて粉体が凝固してしま
う。粉体が凝固すると灰中未燃分の計測が正確にできな
くなる。そこで、先に出願した灰中未燃分計測システム
では、排ガス温度が低下しないように、各管路（サンプ
リングライン）を温めると共に、各イジェクタ２０ａ，
２０ｂ，２２に導入するエア（搬送空気）を、電気ヒー
タにより１００°Ｃ以上の温度に加熱してから供給して
いる。このため、各管路（サンプリングライン）やエア
（搬送空気）を加熱するための電気ヒータが必要にな
り、装置構成が複雑化・大型化するとともに、電気消費
量が多かった。
スの温度は３００°Ｃ程度であり、この排ガスを分岐し
て主サンプリングラインＡに導入したときの排ガスの温
度は低下するが１００°Ｃ以上（例えば１５０°Ｃ）に
なっている。この排ガス中には水分や粉体が含まれてお
り、ガス温度が低下すると（例えば１００°Ｃ以下にな
ると）、粉体に水分が吸収されて粉体が凝固してしま
う。粉体が凝固すると灰中未燃分の計測が正確にできな
くなる。そこで、先に出願した灰中未燃分計測システム
では、排ガス温度が低下しないように、各管路（サンプ
リングライン）を温めると共に、各イジェクタ２０ａ，
２０ｂ，２２に導入するエア（搬送空気）を、電気ヒー
タにより１００°Ｃ以上の温度に加熱してから供給して
いる。このため、各管路（サンプリングライン）やエア
（搬送空気）を加熱するための電気ヒータが必要にな
り、装置構成が複雑化・大型化するとともに、電気消費
量が多かった。
【００３４】ちなみに、イジェクタ（イジェクタ・ポン
プ：ejector pump）とは、圧縮空気である搬送空気が供
給されると、イジェクタ内において圧縮空気が末広がり
のノズルから吸引室に噴射される。このときに生ずる随
伴流により、イジェクタの上流側の気体を吸引し、この
吸引した空気を下流側に送って気体輸送をする真空ポン
プである。
プ：ejector pump）とは、圧縮空気である搬送空気が供
給されると、イジェクタ内において圧縮空気が末広がり
のノズルから吸引室に噴射される。このときに生ずる随
伴流により、イジェクタの上流側の気体を吸引し、この
吸引した空気を下流側に送って気体輸送をする真空ポン
プである。
【００３５】また、第２サイクロン２８及びポット２９
を用いて捕集・取得した灰を分析し、この分析結果を基
にＬＩＢＳ装置４の計測値に校正をかけているが、灰を
捕集・取得し、分析してから実際に校正をするまでに２
日くらいかかり、リアルタイムでの校正ができなかっ
た。
を用いて捕集・取得した灰を分析し、この分析結果を基
にＬＩＢＳ装置４の計測値に校正をかけているが、灰を
捕集・取得し、分析してから実際に校正をするまでに２
日くらいかかり、リアルタイムでの校正ができなかっ
た。
【００３６】本発明は、上記従来技術に鑑み、装置構成
を簡略化・小型化することができるとともに、不要な電
気消費がない灰中未燃分計測装置を提供することを目的
とする。
を簡略化・小型化することができるとともに、不要な電
気消費がない灰中未燃分計測装置を提供することを目的
とする。
【００３７】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する本発
明の構成は、ボイラの火炉から発生する排ガスをサンプ
リングして搬送するサンプリングラインと、このサンプ
リングラインが接続されて排ガスが供給されており、搬
送空気が供給されると排ガスを吸引して搬送空気と共に
下流側に送り出すイジェクタと、前記火炉内を通過して
から前記イジェクタに接続されるように配管されてお
り、搬送空気を前記イジェクタに供給する搬送空気供給
ラインと、前記イジェクタから送り出された排ガスが供
給され、排ガス中から灰分を分離・捕集するサイクロン
と、前記サイクロンで分離・捕集した灰分が供給され、
この灰分にレーザを照射してその組成成分をプラズマ化
し、このプラズマから発生するプラズマ光を分光器に入
射し、分光器にて分光したスペクトル光から灰中の未燃
分を計測する計測装置とを備えたことを特徴とする。
明の構成は、ボイラの火炉から発生する排ガスをサンプ
リングして搬送するサンプリングラインと、このサンプ
リングラインが接続されて排ガスが供給されており、搬
送空気が供給されると排ガスを吸引して搬送空気と共に
下流側に送り出すイジェクタと、前記火炉内を通過して
から前記イジェクタに接続されるように配管されてお
り、搬送空気を前記イジェクタに供給する搬送空気供給
ラインと、前記イジェクタから送り出された排ガスが供
給され、排ガス中から灰分を分離・捕集するサイクロン
と、前記サイクロンで分離・捕集した灰分が供給され、
この灰分にレーザを照射してその組成成分をプラズマ化
し、このプラズマから発生するプラズマ光を分光器に入
射し、分光器にて分光したスペクトル光から灰中の未燃
分を計測する計測装置とを備えたことを特徴とする。
【００３８】また本発明の構成は、ボイラの火炉から発
生する排ガスをサンプリングして搬送するサンプリング
ラインと、このサンプリングラインが接続されて排ガス
が供給されており、搬送空気が供給されると排ガスを吸
引して搬送空気と共に下流側に送り出すイジェクタと、
前記火炉内を通過してから前記イジェクタに接続される
ように配管されており、搬送空気を前記イジェクタに供
給する搬送空気供給ラインと、前記火炉内を通過してか
ら火炉外に出る状態で配管されて粉体用搬送空気を搬送
する粉体用搬送空気供給ラインと、この粉体用搬送空気
供給ラインに介装・接続されており組成成分の種類と組
成成分の濃度が予め分かっている粉体を粉体用搬送空気
に混入する粉体フィーダと、前記イジェクタから送り出
された排ガスと、前記粉体用搬送空気供給ラインから粉
体が混入した粉体用搬送空気が供給され、イジェクタか
ら送り出された排ガスと粉体が混入した粉体用搬送空気
の一方を切換・選択して送り出す三方バルブと、前記三
方バルブから供給された、排ガスまたは粉体用搬送空気
の中から灰分または粉体を分離・捕集するサイクロン
と、前記サイクロンで分離・捕集した灰分または粉体が
供給され、この灰分または粉体にレーザを照射してその
組成成分をプラズマ化し、このプラズマから発生するプ
ラズマ光を分光器に入射し、分光器にて分光したスペク
トル光から灰中の未燃分または組成成分を計測する計測
装置とを備えたことを特徴とする。
生する排ガスをサンプリングして搬送するサンプリング
ラインと、このサンプリングラインが接続されて排ガス
が供給されており、搬送空気が供給されると排ガスを吸
引して搬送空気と共に下流側に送り出すイジェクタと、
前記火炉内を通過してから前記イジェクタに接続される
ように配管されており、搬送空気を前記イジェクタに供
給する搬送空気供給ラインと、前記火炉内を通過してか
ら火炉外に出る状態で配管されて粉体用搬送空気を搬送
する粉体用搬送空気供給ラインと、この粉体用搬送空気
供給ラインに介装・接続されており組成成分の種類と組
成成分の濃度が予め分かっている粉体を粉体用搬送空気
に混入する粉体フィーダと、前記イジェクタから送り出
された排ガスと、前記粉体用搬送空気供給ラインから粉
体が混入した粉体用搬送空気が供給され、イジェクタか
ら送り出された排ガスと粉体が混入した粉体用搬送空気
の一方を切換・選択して送り出す三方バルブと、前記三
方バルブから供給された、排ガスまたは粉体用搬送空気
の中から灰分または粉体を分離・捕集するサイクロン
と、前記サイクロンで分離・捕集した灰分または粉体が
供給され、この灰分または粉体にレーザを照射してその
組成成分をプラズマ化し、このプラズマから発生するプ
ラズマ光を分光器に入射し、分光器にて分光したスペク
トル光から灰中の未燃分または組成成分を計測する計測
装置とを備えたことを特徴とする。
【００３９】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る灰中未燃分計
測装置の実施の形態を図面に基づき詳細に説明する。
測装置の実施の形態を図面に基づき詳細に説明する。
【００４０】図１は本発明の実施の形態にかかる灰中未
燃分計測装置を示す。同図において、１０１はボイラの
火炉であり、１０２は火炉内部の炉内空間である。この
炉内空間１０２は、火炉１０１の出口近くの空間であ
り、この炉内空間１０２に存在する排ガスの成分は、火
炉１０１の出口に接続された排気ダクトに存在する排ガ
スの成分と同じになっている。
燃分計測装置を示す。同図において、１０１はボイラの
火炉であり、１０２は火炉内部の炉内空間である。この
炉内空間１０２は、火炉１０１の出口近くの空間であ
り、この炉内空間１０２に存在する排ガスの成分は、火
炉１０１の出口に接続された排気ダクトに存在する排ガ
スの成分と同じになっている。
【００４１】火炉１０１の外部には、イジェクタ１０
３，粉体フィーダ１０４，三方バルブ１０５，サイクロ
ン１０６，ＬＩＢＳ装置１０７，イジェクタ１０８，１
０９が備えられている。
３，粉体フィーダ１０４，三方バルブ１０５，サイクロ
ン１０６，ＬＩＢＳ装置１０７，イジェクタ１０８，１
０９が備えられている。
【００４２】サンプリングラインＬ１の入口は炉内空間
１０２に存在しており、炉内空間１０２に存在する排ガ
スＧをサンプリングして、炉外のイジェクタ１０３に搬
送する。このイジェクタ１０３には、搬送空気供給ライ
ンＬ２を介して搬送空気Ａ１が供給される。
１０２に存在しており、炉内空間１０２に存在する排ガ
スＧをサンプリングして、炉外のイジェクタ１０３に搬
送する。このイジェクタ１０３には、搬送空気供給ライ
ンＬ２を介して搬送空気Ａ１が供給される。
【００４３】搬送空気供給ラインＬ２は、炉外空間から
炉内空間１０２に入り、炉内空間１０２にて反転してか
ら炉外空間に出るように、即ち、炉内空間１０２を通過
してからイジェクタ１０３に接続するように配管されて
いる。炉内空間１０２は３００°Ｃ程度の高温になって
いるため、搬送空気Ａ１は、炉内空間１０２内に存在す
る搬送空気供給ラインＬ２を通過する際に加熱され、１
００°Ｃ以上（例えば１５０°Ｃ）となって、イジェク
タ１０３に供給される。
炉内空間１０２に入り、炉内空間１０２にて反転してか
ら炉外空間に出るように、即ち、炉内空間１０２を通過
してからイジェクタ１０３に接続するように配管されて
いる。炉内空間１０２は３００°Ｃ程度の高温になって
いるため、搬送空気Ａ１は、炉内空間１０２内に存在す
る搬送空気供給ラインＬ２を通過する際に加熱され、１
００°Ｃ以上（例えば１５０°Ｃ）となって、イジェク
タ１０３に供給される。
【００４４】イジェクタ１０３は、搬送空気Ａ１が供給
されると、サンプリングラインＬ１からの排ガスＧを吸
引して、排ガスＧを搬送空気Ａ１と共に、三方バルブ１
０５に向かって搬送する。
されると、サンプリングラインＬ１からの排ガスＧを吸
引して、排ガスＧを搬送空気Ａ１と共に、三方バルブ１
０５に向かって搬送する。
【００４５】粉体用搬送空気供給ラインＬ３は、炉内空
間１０２を通過してから炉外に出て、三方バルブ１０５
に接続されている。このため、搬送空気Ａ２は、炉内空
間１０２内に存在する粉体用搬送空気供給ラインＬ３を
通過する際に加熱され、１００°Ｃ以上（例えば１５０
°Ｃ）となって、三方バルブ１０５に供給される。
間１０２を通過してから炉外に出て、三方バルブ１０５
に接続されている。このため、搬送空気Ａ２は、炉内空
間１０２内に存在する粉体用搬送空気供給ラインＬ３を
通過する際に加熱され、１００°Ｃ以上（例えば１５０
°Ｃ）となって、三方バルブ１０５に供給される。
【００４６】粉体供給フィーダ１０４は、粉体用搬送空
気供給ラインＬ３に介装・接続されており、組成成分の
種類と組成成分の濃度が予め分かっている、校正用の粉
体を搬送空気Ａ２に混入する。
気供給ラインＬ３に介装・接続されており、組成成分の
種類と組成成分の濃度が予め分かっている、校正用の粉
体を搬送空気Ａ２に混入する。
【００４７】三方バルブ１０５は、通常の計測モード
（未燃分計測モード）の時には、イジェクタ１０３から
送られてくる、搬送空気Ａ１が混入した排ガスＧを、サ
イクロン１０６に送るように、バルブの切換・選択をす
る。一方、校正モードの時には、粉体用搬送空気供給ラ
インＬ３から供給されてくる、搬送空気Ａ２に混入した
粉体（粉体フィーダ１０４から供給された粉体）を、サ
イクロン１０６に送るように、バルブの切換・選択をす
る。
（未燃分計測モード）の時には、イジェクタ１０３から
送られてくる、搬送空気Ａ１が混入した排ガスＧを、サ
イクロン１０６に送るように、バルブの切換・選択をす
る。一方、校正モードの時には、粉体用搬送空気供給ラ
インＬ３から供給されてくる、搬送空気Ａ２に混入した
粉体（粉体フィーダ１０４から供給された粉体）を、サ
イクロン１０６に送るように、バルブの切換・選択をす
る。
【００４８】サイクロン１０６は、搬送空気Ａ１が混入
した排ガスＧが供給された場合には、排ガスＧ中の灰分
を分離・捕集して灰分をＬＩＢＳ装置１０７に送る。ま
た、搬送空気Ａ２に混入した粉体が供給された場合に
は、搬送空気Ａ２から粉体を分離・捕集して粉体をＬＩ
ＢＳ装置１０７に送る。なお、灰分や粉体が分離された
気体は、イジェクタ１０９が介装された排出ラインＬ４
を介して炉内空間１０２に送られる。なお、イジェクタ
１０９には、炉内空間１０２を通過する状態で配置され
た搬送空気供給ラインＬ５により、搬送空気Ａ３が供給
される。この搬送空気Ａ３は、炉内空間１０２に存在す
る搬送空気供給ラインＬ５を通過する際に加熱される。
した排ガスＧが供給された場合には、排ガスＧ中の灰分
を分離・捕集して灰分をＬＩＢＳ装置１０７に送る。ま
た、搬送空気Ａ２に混入した粉体が供給された場合に
は、搬送空気Ａ２から粉体を分離・捕集して粉体をＬＩ
ＢＳ装置１０７に送る。なお、灰分や粉体が分離された
気体は、イジェクタ１０９が介装された排出ラインＬ４
を介して炉内空間１０２に送られる。なお、イジェクタ
１０９には、炉内空間１０２を通過する状態で配置され
た搬送空気供給ラインＬ５により、搬送空気Ａ３が供給
される。この搬送空気Ａ３は、炉内空間１０２に存在す
る搬送空気供給ラインＬ５を通過する際に加熱される。
【００４９】ＬＩＢＳ（Laser Induced Breakdown Spec
troscopy）装置１０７は、分離・捕集された灰分や粉体
に、レーザを照射してその組成成分をプラズマ化し、該
プラズマから発生するプラズマ光を分光器に入射し、分
光器にて分光したスペクトル光から灰中の未燃分を計測
したり、粉体の組成の同定や組成濃度を計測する。
troscopy）装置１０７は、分離・捕集された灰分や粉体
に、レーザを照射してその組成成分をプラズマ化し、該
プラズマから発生するプラズマ光を分光器に入射し、分
光器にて分光したスペクトル光から灰中の未燃分を計測
したり、粉体の組成の同定や組成濃度を計測する。
【００５０】ＬＩＢＳ装置１０７を通過した灰分や粉体
は、イジェクタ１０８が介装された排出ラインＬ６を介
して炉内空間１０２に送られる。なお、イジェクタ１０
８には、炉内空間１０２を通過する状態で配置された搬
送空気供給ラインＬ７により、搬送空気Ａ４が供給され
る。この搬送空気Ａ４は、炉内空間１０２に存在する搬
送空気供給ラインＬ７を通過する際に加熱される。
は、イジェクタ１０８が介装された排出ラインＬ６を介
して炉内空間１０２に送られる。なお、イジェクタ１０
８には、炉内空間１０２を通過する状態で配置された搬
送空気供給ラインＬ７により、搬送空気Ａ４が供給され
る。この搬送空気Ａ４は、炉内空間１０２に存在する搬
送空気供給ラインＬ７を通過する際に加熱される。
【００５１】通常の計測モードの時（未燃分計測時）に
は、イジェクタ１０３から送られてくる、搬送空気Ａ１
が混入した排ガスＧを、サイクロン１０６に送るよう
に、三方バルブ１０５の切換・選択をする。このため、
サイクロン１０６にて捕集・分離した灰分がＬＩＢＳ装
置１０７に送られて、灰中の未燃分の計測ができる。こ
のとき、イジェクタ１０３に供給する搬送空気Ａ１は、
炉内空間１０２内に存在する搬送空気供給ラインＬ２を
通過する際に加熱され、１００°Ｃ以上（例えば１５０
°Ｃ）となっている。このため、排ガスＧに混入しても
排ガスＧの温度を下げることはない。したがって、灰分
が水分を吸収することはなく、灰分が凝固することもな
い。これにより、ＬＩＢＳ装置１０７にて正確に未燃分
の計測ができる。
は、イジェクタ１０３から送られてくる、搬送空気Ａ１
が混入した排ガスＧを、サイクロン１０６に送るよう
に、三方バルブ１０５の切換・選択をする。このため、
サイクロン１０６にて捕集・分離した灰分がＬＩＢＳ装
置１０７に送られて、灰中の未燃分の計測ができる。こ
のとき、イジェクタ１０３に供給する搬送空気Ａ１は、
炉内空間１０２内に存在する搬送空気供給ラインＬ２を
通過する際に加熱され、１００°Ｃ以上（例えば１５０
°Ｃ）となっている。このため、排ガスＧに混入しても
排ガスＧの温度を下げることはない。したがって、灰分
が水分を吸収することはなく、灰分が凝固することもな
い。これにより、ＬＩＢＳ装置１０７にて正確に未燃分
の計測ができる。
【００５２】また、炉内空間１０２の熱を利用して搬送
空気Ａ１を加熱しているため、特別な電気ヒータは不要
になり、その分だけ装置構成が簡単になる。
空気Ａ１を加熱しているため、特別な電気ヒータは不要
になり、その分だけ装置構成が簡単になる。
【００５３】一方、校正モードの時には、粉体用搬送空
気供給ラインＬ３から供給されてくる、搬送空気Ａ２に
混入した粉体（粉体フィーダ１０４から供給された粉
体）を、サイクロン１０６に送るように、三方バルブ１
０５の切換・選択をする。このため、サイクロン１０６
にて捕集・分離した粉体がＬＩＢＳ装置１０７に送られ
て、粉体の組成の同定や組成濃度が計測される。この粉
体の組成や濃度は予め分かっているため、測定した組成
同定や組成濃度を、予め分かっている実際の組成や濃度
と合わせるようにＬＩＢＳ装置１０７の計測値に校正を
かけることができる。この校正調整はリアルタイムで行
うことができる。
気供給ラインＬ３から供給されてくる、搬送空気Ａ２に
混入した粉体（粉体フィーダ１０４から供給された粉
体）を、サイクロン１０６に送るように、三方バルブ１
０５の切換・選択をする。このため、サイクロン１０６
にて捕集・分離した粉体がＬＩＢＳ装置１０７に送られ
て、粉体の組成の同定や組成濃度が計測される。この粉
体の組成や濃度は予め分かっているため、測定した組成
同定や組成濃度を、予め分かっている実際の組成や濃度
と合わせるようにＬＩＢＳ装置１０７の計測値に校正を
かけることができる。この校正調整はリアルタイムで行
うことができる。
【００５４】また校正調整をするためには、粉体フィー
ダ１０４や粉体用搬送空気供給ラインＬ３を付加するだ
けでよいため、校正用の余分なサイクロン等が不要にな
り、校正用の装置構成が簡単になる。
ダ１０４や粉体用搬送空気供給ラインＬ３を付加するだ
けでよいため、校正用の余分なサイクロン等が不要にな
り、校正用の装置構成が簡単になる。
【００５５】尚、本発明は上記実施例に限定されず、本
発明の要旨を逸脱しない範囲で各種変更が可能であるこ
とはいうまでもない。
発明の要旨を逸脱しない範囲で各種変更が可能であるこ
とはいうまでもない。
【００５６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明では、ボイ
ラの火炉から発生する排ガスをサンプリングして搬送す
るサンプリングラインと、このサンプリングラインが接
続されて排ガスが供給されており、搬送空気が供給され
ると排ガスを吸引して搬送空気と共に下流側に送り出す
イジェクタと、前記火炉内を通過してから前記イジェク
タに接続されるように配管されており、搬送空気を前記
イジェクタに供給する搬送空気供給ラインと、前記イジ
ェクタから送り出された排ガスが供給され、排ガス中か
ら灰分を分離・捕集するサイクロンと、前記サイクロン
で分離・捕集した灰分が供給され、この灰分にレーザを
照射してその組成成分をプラズマ化し、このプラズマか
ら発生するプラズマ光を分光器に入射し、分光器にて分
光したスペクトル光から灰中の未燃分を計測する計測装
置とを備えた構成とした。 このような構成としたた
め、イジェクタに供給する搬送空気は、火炉内に配置し
た搬送空気供給ラインの中を通過する際に加熱されるた
め、測定対象である排ガスを冷却することはなく、灰分
の凝固が発生することなく、正確に未燃分の計測ができ
る。また、搬送空気を加熱する電気ヒータは不要にな
り、その分だけ装置構成が簡略化される。
ラの火炉から発生する排ガスをサンプリングして搬送す
るサンプリングラインと、このサンプリングラインが接
続されて排ガスが供給されており、搬送空気が供給され
ると排ガスを吸引して搬送空気と共に下流側に送り出す
イジェクタと、前記火炉内を通過してから前記イジェク
タに接続されるように配管されており、搬送空気を前記
イジェクタに供給する搬送空気供給ラインと、前記イジ
ェクタから送り出された排ガスが供給され、排ガス中か
ら灰分を分離・捕集するサイクロンと、前記サイクロン
で分離・捕集した灰分が供給され、この灰分にレーザを
照射してその組成成分をプラズマ化し、このプラズマか
ら発生するプラズマ光を分光器に入射し、分光器にて分
光したスペクトル光から灰中の未燃分を計測する計測装
置とを備えた構成とした。 このような構成としたた
め、イジェクタに供給する搬送空気は、火炉内に配置し
た搬送空気供給ラインの中を通過する際に加熱されるた
め、測定対象である排ガスを冷却することはなく、灰分
の凝固が発生することなく、正確に未燃分の計測ができ
る。また、搬送空気を加熱する電気ヒータは不要にな
り、その分だけ装置構成が簡略化される。
【００５７】また本発明では、ボイラの火炉から発生す
る排ガスをサンプリングして搬送するサンプリングライ
ンと、このサンプリングラインが接続されて排ガスが供
給されており、搬送空気が供給されると排ガスを吸引し
て搬送空気と共に下流側に送り出すイジェクタと、前記
火炉内を通過してから前記イジェクタに接続されるよう
に配管されており、搬送空気を前記イジェクタに供給す
る搬送空気供給ラインと、前記火炉内を通過してから火
炉外に出る状態で配管されて粉体用搬送空気を搬送する
粉体用搬送空気供給ラインと、この粉体用搬送空気供給
ラインに介装・接続されており組成成分の種類と組成成
分の濃度が予め分かっている粉体を粉体用搬送空気に混
入する粉体フィーダと、前記イジェクタから送り出され
た排ガスと、前記粉体用搬送空気供給ラインから粉体が
混入した粉体用搬送空気が供給され、イジェクタから送
り出された排ガスと粉体が混入した粉体用搬送空気の一
方を切換・選択して送り出す三方バルブと、前記三方バ
ルブから供給された、排ガスまたは粉体用搬送空気の中
から灰分または粉体を分離・捕集するサイクロンと、前
記サイクロンで分離・捕集した灰分または粉体が供給さ
れ、この灰分または粉体にレーザを照射してその組成成
分をプラズマ化し、このプラズマから発生するプラズマ
光を分光器に入射し、分光器にて分光したスペクトル光
から灰中の未燃分または組成成分を計測する計測装置と
を備えた構成とした。このような構成としたため、イジ
ェクタに供給する搬送空気は、火炉内に配置した搬送空
気供給ラインの中を通過する際に加熱されるため、測定
対象である排ガスを冷却することはなく、灰分の凝固が
発生することなく、正確に未燃分の計測ができる。ま
た、搬送空気を加熱する電気ヒータは不要になり、その
分だけ装置構成が簡略化される。更に、既知の粉体を用
いて校正をするため、計測装置の校正をリアルタイムで
行うことができる。
る排ガスをサンプリングして搬送するサンプリングライ
ンと、このサンプリングラインが接続されて排ガスが供
給されており、搬送空気が供給されると排ガスを吸引し
て搬送空気と共に下流側に送り出すイジェクタと、前記
火炉内を通過してから前記イジェクタに接続されるよう
に配管されており、搬送空気を前記イジェクタに供給す
る搬送空気供給ラインと、前記火炉内を通過してから火
炉外に出る状態で配管されて粉体用搬送空気を搬送する
粉体用搬送空気供給ラインと、この粉体用搬送空気供給
ラインに介装・接続されており組成成分の種類と組成成
分の濃度が予め分かっている粉体を粉体用搬送空気に混
入する粉体フィーダと、前記イジェクタから送り出され
た排ガスと、前記粉体用搬送空気供給ラインから粉体が
混入した粉体用搬送空気が供給され、イジェクタから送
り出された排ガスと粉体が混入した粉体用搬送空気の一
方を切換・選択して送り出す三方バルブと、前記三方バ
ルブから供給された、排ガスまたは粉体用搬送空気の中
から灰分または粉体を分離・捕集するサイクロンと、前
記サイクロンで分離・捕集した灰分または粉体が供給さ
れ、この灰分または粉体にレーザを照射してその組成成
分をプラズマ化し、このプラズマから発生するプラズマ
光を分光器に入射し、分光器にて分光したスペクトル光
から灰中の未燃分または組成成分を計測する計測装置と
を備えた構成とした。このような構成としたため、イジ
ェクタに供給する搬送空気は、火炉内に配置した搬送空
気供給ラインの中を通過する際に加熱されるため、測定
対象である排ガスを冷却することはなく、灰分の凝固が
発生することなく、正確に未燃分の計測ができる。ま
た、搬送空気を加熱する電気ヒータは不要になり、その
分だけ装置構成が簡略化される。更に、既知の粉体を用
いて校正をするため、計測装置の校正をリアルタイムで
行うことができる。
【図１】本発明の実施の形態にかかる灰中未燃分計測装
置を示す構成図である。
置を示す構成図である。
【図２】先に出願した灰中未燃分計測システムを示す構
成図。
成図。
【図３】先に出願した灰中未燃分計測システムの作用説
明図で同図（ａ）は通常モードの流路説明図、同図
（ｂ）は流量計測モードの流路説明図である。
明図で同図（ａ）は通常モードの流路説明図、同図
（ｂ）は流量計測モードの流路説明図である。
【図４】先に出願した灰中未燃分計測システムの作用説
明図で同図（ａ）はパージモードの流路説明図、同図
（ｂ）はサンプルモードの流路説明図である。
明図で同図（ａ）はパージモードの流路説明図、同図
（ｂ）はサンプルモードの流路説明図である。
【図５】ＬＩＢＳ装置の説明図である。
１０１ 火炉
１０２ 炉内空間
１０３ イジェクタ
１０４ 粉体フィーダ
１０５ 三方バルブ
１０６ サイクロン
１０７ ＬＩＢＳ装置
１０８，１０９ イジェクタ
Ｌ１ 搬送空気供給ライン
Ｌ２ サンプリングライン
Ｌ３ 粉体用搬送空気供給ライン
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
Ｆターム(参考） 2G043 AA01 BA02 BA03 BA07 CA01
CA06 DA01 DA05 DA08 EA10
GA07 GB07 GB21 HA01 HA02
JA01 KA02 KA03 KA08 KA09
LA03 MA03 NA01
2G052 AA02 AA39 AB00 AB27 AC25
AD04 AD24 AD52 BA03 BA14
CA02 CA03 CA04 CA14 EB11
ED17 GA11
Claims (2)
- 【請求項１】 ボイラの火炉から発生する排ガスをサン
プリングして搬送するサンプリングラインと、 このサンプリングラインが接続されて排ガスが供給され
ており、搬送空気が供給されると排ガスを吸引して搬送
空気と共に下流側に送り出すイジェクタと、 前記火炉内を通過してから前記イジェクタに接続される
ように配管されており、搬送空気を前記イジェクタに供
給する搬送空気供給ラインと、 前記イジェクタから送り出された排ガスが供給され、排
ガス中から灰分を分離・捕集するサイクロンと、 前記サイクロンで分離・捕集した灰分が供給され、この
灰分にレーザを照射してその組成成分をプラズマ化し、
このプラズマから発生するプラズマ光を分光器に入射
し、分光器にて分光したスペクトル光から灰中の未燃分
を計測する計測装置とを備えたことを特徴とする灰中未
燃分計測装置。 - 【請求項２】 ボイラの火炉から発生する排ガスをサン
プリングして搬送するサンプリングラインと、 このサンプリングラインが接続されて排ガスが供給され
ており、搬送空気が供給されると排ガスを吸引して搬送
空気と共に下流側に送り出すイジェクタと、 前記火炉内を通過してから前記イジェクタに接続される
ように配管されており、搬送空気を前記イジェクタに供
給する搬送空気供給ラインと、 前記火炉内を通過してから火炉外に出る状態で配管され
て粉体用搬送空気を搬送する粉体用搬送空気供給ライン
と、 この粉体用搬送空気供給ラインに介装・接続されており
組成成分の種類と組成成分の濃度が予め分かっている粉
体を粉体用搬送空気に混入する粉体フィーダと、 前記イジェクタから送り出された排ガスと、前記粉体用
搬送空気供給ラインから粉体が混入した粉体用搬送空気
が供給され、イジェクタから送り出された排ガスと粉体
が混入した粉体用搬送空気の一方を切換・選択して送り
出す三方バルブと、 前記三方バルブから供給された、排ガスまたは粉体用搬
送空気の中から灰分または粉体を分離・捕集するサイク
ロンと、 前記サイクロンで分離・捕集した灰分または粉体が供給
され、この灰分または粉体にレーザを照射してその組成
成分をプラズマ化し、このプラズマから発生するプラズ
マ光を分光器に入射し、分光器にて分光したスペクトル
光から灰中の未燃分または組成成分を計測する計測装置
とを備えたことを特徴とする灰中未燃分計測装置。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001347060A JP3530515B2 (ja) | 2001-11-13 | 2001-11-13 | 灰中未燃分計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001347060A JP3530515B2 (ja) | 2001-11-13 | 2001-11-13 | 灰中未燃分計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003149151A true JP2003149151A (ja) | 2003-05-21 |
| JP3530515B2 JP3530515B2 (ja) | 2004-05-24 |
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|---|---|---|---|
| JP2001347060A Expired - Fee Related JP3530515B2 (ja) | 2001-11-13 | 2001-11-13 | 灰中未燃分計測装置 |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3530515B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100823947B1 (ko) * | 2007-07-18 | 2008-04-22 | 구성테크닉스 주식회사 | 유량 조절이 가능한 습식 먼지 측정 시스템 |
| CN105136752A (zh) * | 2015-09-25 | 2015-12-09 | 清华大学 | 基于激光诱导击穿光谱的在线粉末检测装置及其测量方法 |
-
2001
- 2001-11-13 JP JP2001347060A patent/JP3530515B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100823947B1 (ko) * | 2007-07-18 | 2008-04-22 | 구성테크닉스 주식회사 | 유량 조절이 가능한 습식 먼지 측정 시스템 |
| CN105136752A (zh) * | 2015-09-25 | 2015-12-09 | 清华大学 | 基于激光诱导击穿光谱的在线粉末检测装置及其测量方法 |
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| JP3530515B2 (ja) | 2004-05-24 |
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