JP2003142334A - Method of dividing ceramic chip capacitor sheet - Google Patents
Method of dividing ceramic chip capacitor sheetInfo
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- 239000000919 ceramic Substances 0.000 title claims abstract description 107
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 title claims abstract description 101
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 34
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims abstract description 72
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 40
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 13
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 9
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 7
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 6
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 2
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 2
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 2
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
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- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Ceramic Capacitors (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、セラミックスチッ
プコンデンサーシートを個々のチップコンデンサーに分
割する分割方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a dividing method for dividing a ceramic chip capacitor sheet into individual chip capacitors.
【0002】[0002]
【従来の技術】セラミックスチップコンデンサーシート
は、セラミックス層と、該セラミックス層の表面に形成
され格子状に区画された複数個の電極を有する電極層と
を交互に積層し、最上位層にセラミック層を積層して構
成されている。このようなセラミックスチップコンデン
サーシートの製造法としては、次のような方法が一般に
行われている。即ち、板状のキャリアー基板の表面に分
離層となるテープを張り、その上に生セラミックスを塗
布して厚さ5μm程度の生セラミックス層を形成する。
この生セラミックス層の表面に例えばバラジウムなどの
電極金属をスクリーン印刷して厚さ1μm程度の電極層
を形成する。この生セラミックス層と電極層とを交互に
200層程度積層し、最上位層にセラミック層を積層し
てセラミックスチップコンデンサーシートを構成する。2. Description of the Related Art In a ceramic chip capacitor sheet, a ceramic layer and an electrode layer having a plurality of electrodes formed on the surface of the ceramic layer and partitioned in a grid pattern are alternately laminated, and the ceramic layer is the uppermost layer. Are laminated. As a method of manufacturing such a ceramic chip capacitor sheet, the following method is generally performed. That is, a tape serving as a separation layer is applied to the surface of a plate-shaped carrier substrate, and raw ceramics is applied on the tape to form a raw ceramics layer having a thickness of about 5 μm.
An electrode metal having a thickness of about 1 μm is formed on the surface of the raw ceramics layer by screen-printing an electrode metal such as baladium. About 200 layers of the raw ceramic layers and the electrode layers are alternately laminated, and a ceramic layer is laminated on the uppermost layer to form a ceramic chip capacitor sheet.
【0003】上記のようにして構成されたセラミックス
チップコンデンサーシートは最上位層にセラミック層が
形成されており、表面から電極の位置を確認することが
できないので、個々のチップコンデンサーに分割するに
際しては、電極の位置を確認するために次のような対策
がなされている。即ち、上記電極層を形成する際に、電
極領域を囲撓し電極の位置を示すアライメントマークを
有するアライメントマーク領域を形成し、このアライメ
ントマーク領域に外周の断面形状がV字状の切削ブレー
ドを用いてV溝を形成することにより、該V溝の壁面に
表出されたアライメントマークを認識するようにしてい
る。In the ceramic chip capacitor sheet constructed as described above, the ceramic layer is formed on the uppermost layer, and the position of the electrode cannot be confirmed from the surface, so when dividing into individual chip capacitors. The following measures are taken to confirm the position of the electrodes. That is, when the electrode layer is formed, an alignment mark region having an alignment mark indicating the position of the electrode is formed by surrounding the electrode region, and a cutting blade having a V-shaped cross section on the outer periphery is formed in the alignment mark region. By forming the V groove by using the V groove, the alignment mark exposed on the wall surface of the V groove is recognized.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】而して、上述したよう
にアライメントマーク領域に切削ブレードによってV溝
を形成することによりアライメントマークを認識する方
法においては、次のような問題がある。
(1)キャリアー基板の表面に装着する分離層となるテ
ープは個々のチップコンデンサーに分割した後に除去す
る関係から水溶性のものが使用されており、このためア
ライメントマーク領域にV溝を形成する際には乾式で切
削しなければならない。乾式で切削を行うと、セラミッ
クスの粉塵が飛散するので粉塵処理を行う必要があり、
生産性が低下する原因となる。
(2)上記(1)の問題を解決するために、アライメン
トマーク領域に湿式によってV溝を形成した後、直ちに
セラミックスチップコンデンサーシートに付着した切削
水を拭き取る方法のもあるが、僅かではあるが上記分離
層となるテープが切削水を吸収するのでセラミックスチ
ップコンデンサーシートがキャリアーから浮き上がると
いう問題がある。また、切削水がV溝に浸入してアライ
メントマークの検出が不可能となる場合がある。The method for recognizing the alignment mark by forming the V groove in the alignment mark area with the cutting blade as described above has the following problems. (1) The tape used as the separation layer to be mounted on the surface of the carrier substrate is a water-soluble tape because it is divided into individual chip capacitors and then removed. Therefore, when forming the V groove in the alignment mark area, Must be dry cut. When cutting with a dry type, dust of ceramics is scattered, so it is necessary to perform dust treatment,
This causes a decrease in productivity. (2) In order to solve the above-mentioned problem (1), there is also a method of forming V-grooves in the alignment mark region by a wet process and then immediately wiping off cutting water adhering to the ceramic chip capacitor sheet. There is a problem that the ceramic chip capacitor sheet floats up from the carrier because the tape serving as the separation layer absorbs cutting water. In addition, cutting water may infiltrate into the V-groove, making it impossible to detect the alignment mark.
【0005】本発明は上記事実に鑑みてなされたもので
あり、その主たる技術課題は、電極領域を囲撓して形成
されたアライメントマークを容易に表出することができ
るとともに確実に認識することができるセラミックスチ
ップコンデンサーシートの分割方法を提供することにあ
る。The present invention has been made in view of the above facts, and its main technical problem is to easily and surely recognize an alignment mark formed by surrounding and bending an electrode region. Another object of the present invention is to provide a method of dividing a ceramic chip capacitor sheet that can achieve the above.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】上記主たる技術課題を解
決するため、本発明によれば、セラミックス層と、該セ
ラミックス層の表面に形成され格子状に区画された複数
個の電極を有する電極領域と該電極領域を囲撓し該電極
の位置を示すアライメントマークを有するアライメント
マーク領域とを備えた電極層とを交互に積層し、最上位
層にセラミック層を積層して構成したセラミックスチッ
プコンデンサーシートを格子状に区画された個々のチッ
プコンデンサーに分割する分割方法であって、該アライ
メントマーク領域の所定個所に底面が円錐形状のアライ
メントマーク検出孔を形成する検出孔形成工程と、該検
出孔形成工程によって形成された該アライメントマーク
検出孔の円錐形状の底面に表出されたアライメントマー
クに基づいて切断個所を検出するアライメント工程と、
該アライメント工程によって検出された切断個所に基づ
いてセラミックスチップコンデンサーシートを切断して
個々のチップコンデンサーに分割する分割工程と、を含
む、ことを特徴とするセラミックスチップコンデンサー
シートの分割方法が提供される。In order to solve the above-mentioned main technical problems, according to the present invention, an electrode region having a ceramics layer and a plurality of electrodes formed on the surface of the ceramics layer and partitioned in a grid pattern. And a ceramic chip capacitor sheet formed by alternately laminating an electrode layer surrounding the electrode region and having an alignment mark region having an alignment mark indicating the position of the electrode, and laminating a ceramic layer on the uppermost layer. Is a division method for dividing the chip into individual chip capacitors divided into a grid pattern, and a detection hole forming step of forming an alignment mark detection hole having a conical bottom surface at a predetermined portion of the alignment mark area, and the detection hole forming step. Cutting based on the alignment mark exposed on the conical bottom surface of the alignment mark detection hole formed by the process And the alignment step of detecting a Tokoro,
And a dividing step of cutting the ceramic chip capacitor sheet based on the cutting points detected by the alignment step to divide the ceramic chip capacitor sheet into individual chip capacitors, the ceramic chip capacitor sheet dividing method is provided. .
【0007】上記アライメントマーク検出孔は、エンド
ミルまたはドリルによって形成される。上記アライメン
トマーク検出孔が形成される位置は、セラミックスチッ
プコンデンサーシートの設計図に基づいて割り出され
る。上記アライメント工程によって検出されたアライメ
ント情報は記憶手段に格納され、同一ロッドで製造され
たセラミックスチップコンデンサーシートについては該
アライメント情報に基づいて上記分割工程を遂行するこ
とが望ましい。また、上記分割工程は、複数個切削ブレ
ードがチップコンデンサーの間隔と一致するように組み
込まれたマルチ切削ブレードによって遂行することが望
ましく、更に、セラミックスチップコンデンサーシート
の切削すべき領域をマルチ切削ブレードで切削した後、
次の切削すべき領域をマルチ切削ブレードで切削する
際、切削基点をオフセットして切削を遂行することが望
ましい。The alignment mark detecting hole is formed by an end mill or a drill. The position where the alignment mark detection hole is formed is determined based on the design drawing of the ceramic chip capacitor sheet. The alignment information detected by the alignment process is stored in the storage means, and it is desirable to perform the dividing process on the ceramic chip capacitor sheet manufactured by the same rod based on the alignment information. In addition, it is desirable that the dividing step is performed by a multi-cutting blade in which a plurality of cutting blades are installed so as to match the intervals of the chip capacitors, and further, the area to be cut on the ceramic chip capacitor sheet is cut by the multi-cutting blades. After cutting
When cutting the next area to be cut with the multi-cutting blade, it is desirable to perform cutting by offsetting the cutting base point.
【0008】[0008]
【発明の実施の形態】以下、本発明によるセラミックス
チップコンデンサーシートの分割方法の好適な実施形態
について、添付図面を参照して詳細に説明する。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Preferred embodiments of a method for dividing a ceramic chip capacitor sheet according to the present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings.
【0009】図1は本発明によって個々のチップコンデ
ンサーに分割するセラミックスチップコンデンサーシー
トの斜視図、図2は図1におけるA−A線断面拡大図で
ある。なお、図1に示すセラミックスチップコンデンサ
ーシートは、最上位層のセラミック層が一部破断して示
されている。図1および図2に示すセラミックスチップ
コンデンサーシート2は、ガラス板からなる矩形状のキ
ャリアー基板3の表面に分離層となるテープ4を介して
形成されている。即ち、キャリアー基板3の表面に貼着
されたテープ4上に生セラミックスが塗布され厚さ5μ
m程度の生セラミックス層21を形成し、この生セラミ
ックス層21の表面に例えばバラジウムなどの電極金属
をスクリーン印刷して厚さ1μm程度の電極層22を形
成する。この電極層22は、格子状に区画された複数個
の電極221aを有する電極領域221と該電極領域2
21を囲撓し電極221aの位置を示すアライメントマ
ーク222aを有するアライメントマーク領域222と
を備えている。このように形成された生セラミックス層
21と電極層22を交互に数十乃至週百層積層し、最上
位層に生セラミック層21が形成されている。FIG. 1 is a perspective view of a ceramic chip capacitor sheet which is divided into individual chip capacitors according to the present invention, and FIG. 2 is an enlarged sectional view taken along line AA in FIG. In the ceramic chip capacitor sheet shown in FIG. 1, the uppermost ceramic layer is partially cut away. The ceramic chip capacitor sheet 2 shown in FIGS. 1 and 2 is formed on the surface of a rectangular carrier substrate 3 made of a glass plate with a tape 4 serving as a separation layer interposed therebetween. That is, the raw ceramics are applied on the tape 4 attached to the surface of the carrier substrate 3 to a thickness of 5 μm.
A raw ceramic layer 21 having a thickness of about m is formed, and an electrode metal such as barium is screen-printed on the surface of the raw ceramic layer 21 to form an electrode layer 22 having a thickness of about 1 μm. The electrode layer 22 includes an electrode region 221 having a plurality of electrodes 221a divided into a grid pattern and the electrode region 2
21 and an alignment mark region 222 having an alignment mark 222a that surrounds 21 and indicates the position of the electrode 221a. The raw ceramic layers 21 and the electrode layers 22 thus formed are alternately laminated for several tens to 100 weeks, and the raw ceramic layer 21 is formed as the uppermost layer.
【0010】上述したように形成されたセラミックスチ
ップコンデンサーシート2を個々のチップコンデンサー
に分割するには、先ず、図3に示すようにアライメント
マーク領域222の所定位置にアライメントマーク検出
孔5を形成する(検出孔形成工程)。なお、アライメン
トマーク検出孔5を形成する所定位置は、セラミックス
チップコンデンサーシート2を製造する際に使用する設
計図に基づいて割り出される。このアライメントマーク
検出孔5は、図4に示すように底面が円錐形状の凸面5
1または図5に示すように底面が円錐形状の凹面52と
なるように形成される。なお、図4に示すように底面が
円錐形状の凸面51になるようにアライメントマーク検
出孔5を形成するには、エンドミル6によって掘削する
ことができる。また、図5に示すように底面が円錐形状
の凹面52になるようにアライメントマーク検出孔5を
形成するには、ドリル7によって掘削することができ
る。このように形成されたアライメントマーク検出孔5
を上方から見ると、図6に示すように電極221aが円
錐形状の凸面51または円錐形状の凹面52に表出して
確認することができる。以上のように、検出孔形成工程
は、セラミックスチップコンデンサーシート2のアライ
メントマーク領域222をエンドミル6またはドリル7
によってアライメントマーク検出孔5を形成するので、
特定された狭い領域を乾式で掘削することができるた
め、粉塵が殆ど飛散することがなく、粉塵処理が容易と
なり生産性が向上する。また、検出孔形成工程は乾式で
掘削することができるので、分離層となるテープ4が水
分を吸収することがなく、セラミックスチップコンデン
サーシート2がキャリアー基板3から浮き上がるという
問題も解消する。In order to divide the ceramic chip capacitor sheet 2 formed as described above into individual chip capacitors, first, as shown in FIG. 3, the alignment mark detection hole 5 is formed at a predetermined position in the alignment mark area 222. (Detection hole forming step). The predetermined position where the alignment mark detection hole 5 is formed is determined based on a design drawing used when manufacturing the ceramic chip capacitor sheet 2. As shown in FIG. 4, the alignment mark detection hole 5 has a convex surface 5 having a conical bottom surface.
1 or as shown in FIG. 5, the bottom surface is formed to be a conical concave surface 52. In addition, as shown in FIG. 4, in order to form the alignment mark detection hole 5 so that the bottom surface becomes the conical convex surface 51, it is possible to excavate by the end mill 6. Further, as shown in FIG. 5, in order to form the alignment mark detection hole 5 so that the bottom surface becomes the conical concave surface 52, it is possible to excavate with the drill 7. Alignment mark detection hole 5 formed in this way
When viewed from above, the electrode 221a can be confirmed by being exposed on the conical convex surface 51 or the conical concave surface 52 as shown in FIG. As described above, in the detection hole forming step, the alignment mark area 222 of the ceramic chip capacitor sheet 2 is moved to the end mill 6 or the drill 7.
Since the alignment mark detection hole 5 is formed by
Since the specified narrow area can be excavated by dry method, the dust hardly scatters, the dust treatment is facilitated, and the productivity is improved. Further, since the detection hole forming step can be performed by dry digging, the tape 4 serving as the separation layer does not absorb moisture, and the problem that the ceramic chip capacitor sheet 2 is lifted from the carrier substrate 3 is solved.
【0011】上述したようにアライメントマーク領域2
22の所定位置にアライメントマーク検出孔5を形成し
たならば、セラミックスチップコンデンサーシート2を
ダイシング装置によって個々のチップコンデンサーに分
割する。ここで、ダイシング装置について図7を参照し
て説明する。図示の実施形態におけるダイシング100
は、略直方体状の装置ハウジング120を具備してい
る。この装置ハウジング120内には、被加工物を保持
するチャックテーブル130が切削送り方向である矢印
Xで示す方向に移動可能に配設されている。チャックテ
ーブル130は、吸着チャック支持台131と、該吸着
チャック支持台131上に装着された矩形状の吸着チャ
ック132と、該吸着チャック132の2辺に沿って配
設された3本の位置決めピン133とを具備しており、
該吸着チャック132の表面である載置面上に被加工物
である上記図3に示すようにアライメントマーク領域2
22の所定位置にアライメントマーク検出孔5が形成さ
れたセラミックスチップコンデンサーシート2が載置さ
れる。このとき、キャリアー基板3の2辺を上記3本の
位置決めピン133に当接することによって位置決めさ
れる。チャックテーブル130の吸着チャック132上
の所定位置にセラミックスチップコンデンサーシート2
が位置決めされたならば、図示しない吸引手段によって
保持するようになっている。なお、チャックテーブル1
30は、図示しない回転機構によって回動可能に構成さ
れている。As described above, the alignment mark area 2
After the alignment mark detection holes 5 are formed at predetermined positions 22, the ceramic chip capacitor sheet 2 is divided into individual chip capacitors by a dicing device. Here, the dicing device will be described with reference to FIG. Dicing 100 in the illustrated embodiment
Includes a device housing 120 having a substantially rectangular parallelepiped shape. In the device housing 120, a chuck table 130 for holding a workpiece is arranged so as to be movable in the direction indicated by arrow X, which is the cutting feed direction. The chuck table 130 includes a suction chuck support base 131, a rectangular suction chuck 132 mounted on the suction chuck support base 131, and three positioning pins arranged along two sides of the suction chuck 132. And 133,
On the mounting surface, which is the surface of the suction chuck 132, as shown in FIG.
The ceramic chip capacitor sheet 2 having the alignment mark detection holes 5 formed at predetermined positions 22 is placed. At this time, the two sides of the carrier substrate 3 are brought into contact with the above-mentioned three positioning pins 133 for positioning. The ceramic chip capacitor sheet 2 is placed at a predetermined position on the chuck 132 of the chuck table 130.
When is positioned, it is held by suction means (not shown). The chuck table 1
30 is configured to be rotatable by a rotation mechanism (not shown).
【0012】図示の実施形態におけるダイシング装置1
00は、切削手段としての2基のスピンドルユニット1
40、150を具備している。スピンドルユニット14
0、150は、図示しない移動基台に装着され割り出し
方向である矢印Yで示す方向および切り込み方向である
矢印Zで示す方向に移動調整されるスピンドルハウジン
グ141、151と、該スピンドルハウジング141、
151に回転自在に支持され図示しない回転駆動機構に
よって回転駆動される回転スピンドル142、152
と、該回転スピンドル142、152に装着された切削
ブレード143、153とを具備している。なお、一方
の切削ブレード143は、図8に示すように複数個切削
ブレードがチップコンデンサーの間隔と一致するように
組み込まれたマルチ切削ブレードからなっており、セラ
ミックスチップコンデンサーシート2のX軸ストリート
に沿って切削する。また、他方の切削ブレード153も
図9に示すように複数個切削ブレードがチップコンデン
サーの間隔と一致するように組み込まれたマルチ切削ブ
レードからなっており、セラミックスチップコンデンサ
ーシート2のY軸ストリートに沿って切削する。Dicing apparatus 1 in the illustrated embodiment
00 is two spindle units 1 as cutting means
40 and 150 are provided. Spindle unit 14
Reference numerals 0 and 150 denote spindle housings 141 and 151 that are mounted on a moving base (not shown) and are moved and adjusted in a direction indicated by an arrow Y that is an indexing direction and a direction indicated by an arrow Z that is a cutting direction, and the spindle housings 141 and 151.
Rotating spindles 142 and 152 that are rotatably supported by 151 and are rotationally driven by a rotational driving mechanism (not shown).
And cutting blades 143 and 153 mounted on the rotary spindles 142 and 152. It should be noted that one of the cutting blades 143 is a multi-cutting blade in which a plurality of cutting blades are incorporated so as to match the intervals of the chip capacitors as shown in FIG. Cut along. The other cutting blade 153 is also a multi-cutting blade in which a plurality of cutting blades are incorporated so as to match the intervals of the chip capacitors as shown in FIG. 9, and along the Y-axis street of the ceramic chip capacitor sheet 2. To cut.
【0013】図示の実施形態におけるダイシング装置1
00は、上記チャックテーブル130を構成する吸着チ
ャック132の表面に保持された被加工物である上記セ
ラミックスチップコンデンサーシート2のアライメント
マーク領域222に形成されたアライメントマーク検出
孔5を撮像したり、上記切削ブレード143、153に
よって切削すべき領域を検出したりするための撮像機構
160を具備している。この撮像機構160は顕微鏡や
CCDカメラ等の光学手段からなっている。また、ダイ
シング装置100は、撮像機構160によって撮像され
た画像を表示する表示手段170を具備している。The dicing apparatus 1 in the illustrated embodiment
Reference numeral 00 denotes an image of the alignment mark detection hole 5 formed in the alignment mark area 222 of the ceramic chip capacitor sheet 2 which is the workpiece held on the surface of the suction chuck 132 which constitutes the chuck table 130, and The imaging mechanism 160 for detecting the region to be cut by the cutting blades 143 and 153 is provided. The image pickup mechanism 160 is composed of optical means such as a microscope and a CCD camera. The dicing apparatus 100 also includes a display unit 170 that displays an image captured by the image capturing mechanism 160.
【0014】図示の実施形態におけるダイシング装置1
00は、被加工物である上記セラミックスチップコンデ
ンサーシート2をストックするカセット181と、該カ
セット181に収容された被加工物を被加工物載置領域
182に搬出する被加工物搬出手段183と、該被加工
物搬出手段183によって搬出された被加工物を上記チ
ャックテーブル130上に搬送する被加工物搬送手段1
84と、チャックテーブル130で切削加工された被加
工物を洗浄しスピン乾燥するする洗浄手段185と、チ
ャックテーブル130で切削加工された被加工物を洗浄
手段185へ搬送する洗浄搬送手段186を具備してい
る。また、ダイシング装置100は、上記チャックテー
ブル130、スピンドルユニット140、150、カセ
ット181の昇降手段、被加工物搬出手段183、被加
工物搬送手段184、洗浄手段185、洗浄搬送手段1
86等を制御する制御手段188を備えている。この制
御手段188は、制御プログラムに従って演算処理する
中央処理装置(CPU)と、制御プログラム等を格納す
るリードオンリメモリ(ROM)と、演算結果等を格納
する読み書き可能なランダムアクセスメモリ(RAM)
等を備えている。そして、制御手段188は、上記撮像
機構160によって撮像されたアライメント情報(切削
ブレード143、153によって切削すべき領域)をラ
ンダムアクセスメモリ(RAM)に一時格納し、このア
ライメント情報に基づいて上記スピンドルユニット14
0、150に制御信号を出力する。Dicing apparatus 1 in the illustrated embodiment
Reference numeral 00 denotes a cassette 181 that stocks the ceramic chip capacitor sheet 2 that is a workpiece, a workpiece unloading unit 183 that unloads the workpiece housed in the cassette 181 to a workpiece mounting area 182, Workpiece transfer means 1 for transferring the workout carried out by the workout carry-out means 183 onto the chuck table 130.
84, a cleaning unit 185 that cleans and spin-drys the workpiece machined by the chuck table 130, and a cleaning transport unit 186 that transports the workpiece machined by the chuck table 130 to the cleaning unit 185. is doing. Further, the dicing apparatus 100 includes the chuck table 130, the spindle units 140 and 150, the elevating means for the cassette 181, the workpiece unloading means 183, the workpiece conveying means 184, the cleaning means 185, and the cleaning conveying means 1.
The control means 188 for controlling 86 and the like is provided. This control means 188 is a central processing unit (CPU) that performs arithmetic processing according to a control program, a read-only memory (ROM) that stores control programs and the like, and a readable and writable random access memory (RAM) that stores arithmetic results and the like.
And so on. Then, the control means 188 temporarily stores the alignment information (areas to be cut by the cutting blades 143, 153) imaged by the imaging mechanism 160 in a random access memory (RAM), and based on this alignment information, the spindle unit. 14
The control signal is output to 0 and 150.
【0015】次に、上述したダイシング装置10を用い
て、上記検出孔形成工程によりアライメントマーク領域
222にアライメントマーク検出孔5が形成されたセラ
ミックスチップコンデンサーシート2の切削加工処理に
ついて説明する。先ず、アライメントマーク領域222
にアライメントマーク検出孔5が形成されたセラミック
スチップコンデンサーシート2(キャリアー基板3上に
設けられた状態)がカセット181内に収容される。カ
セット7の所定位置に収容されたセラミックスチップコ
ンデンサーシート2は、図示しない昇降手段によって上
下動せしめられることにより搬出位置に位置付けられ
る。次に、被加工物搬出手段183が進退作動して搬出
位置に位置付けられたセラミックスチップコンデンサー
シート2を被加工物載置領域182に搬出する。被加工
物載置領域182に搬出されたセラミックスチップコン
デンサーシート2は、被加工物搬送手段184の旋回動
作によって上記チャックテーブル130を構成する吸着
チャック132の載置面に搬送され、上述したようにキ
ャリアー基板3の2辺を3本の位置決めピン133に当
接することによって位置決めされた後に、吸着チャック
132に吸引保持される。このようにしてセラミックス
チップコンデンサーシート2を吸引保持したチャックテ
ーブル130は、撮像機構160の直下まで移動せしめ
られる。Next, a cutting process of the ceramic chip capacitor sheet 2 in which the alignment mark detection holes 5 are formed in the alignment mark region 222 by the above-described detection hole forming step using the above-mentioned dicing apparatus 10 will be described. First, the alignment mark area 222
The ceramic chip capacitor sheet 2 having the alignment mark detection holes 5 formed therein (state provided on the carrier substrate 3) is housed in the cassette 181. The ceramic chip capacitor sheet 2 accommodated in the predetermined position of the cassette 7 is moved to the up and down position by an elevating means (not shown) to be positioned at the carry-out position. Next, the work piece carrying-out means 183 moves forward and backward to carry out the ceramic chip capacitor sheet 2 positioned at the carry-out position to the work piece placing area 182. The ceramic chip capacitor sheet 2 carried out to the workpiece mounting area 182 is transported to the mounting surface of the suction chuck 132 constituting the chuck table 130 by the rotating operation of the workpiece transporting means 184, and as described above. After the two sides of the carrier substrate 3 are brought into contact with the three positioning pins 133 to be positioned, the carrier substrate 3 is sucked and held by the suction chuck 132. The chuck table 130 holding the ceramic chip capacitor sheet 2 by suction in this manner is moved to a position right below the imaging mechanism 160.
【0016】チャックテーブル130が撮像機構160
の直下に位置付けられたならば、撮像機構160によっ
てセラミックスチップコンデンサーシート2のアライメ
ントマーク領域222に形成されたアライメントマーク
検出孔5を撮像して切断個所(X軸ストリート)を検出
し、更に、チャックテーブル130を90度回動して撮
像機構160によりアライメントマーク検出孔5を撮像
して切断個所(Y軸ストリート)を検出する(アライメ
ント工程)。このようにして検出されたアライメント情
報は、制御手段188のランダムアクセスメモリ(RA
M)に一時格納される。次に、チャックテーブル130
を90度戻して回動し、一方のスピンドルユニット14
0を割り出し方向である矢印Y方向に移動調節して図8
に示すように切削ブレード143と切断個所(X軸スト
リート)との精密位置合わせ作業が行われる。その後、
切削ブレード143を所定の方向に回転させつつ、セラ
ミックスチップコンデンサーシート2を吸引保持したチ
ャックテーブル130を切削送り方向である矢印Xで示
す方向(切削ブレード143の回転軸と直交する方向)
に移動することにより、チャックテーブル130に保持
されたセラミックスチップコンデンサーシート2はX軸
ストリートに沿って切削される(分割工程)。即ち、切
削ブレード143は割り出し方向である矢印Yで示す方
向および切り込み方向である矢印Zで示す方向に移動調
整されて位置決めされたスピンドルユニット140に装
着され、回転駆動されているので、チャックテーブル1
30を切削ブレード143の下側に沿って切削送り方向
に移動することにより、チャックテーブル130に保持
されたセラミックスチップコンデンサーシート2は切削
ブレード143により所定のX軸ストリートに沿って切
削される。The chuck table 130 is an image pickup mechanism 160.
If it is positioned immediately below, the imaging mechanism 160 images the alignment mark detection hole 5 formed in the alignment mark area 222 of the ceramic chip capacitor sheet 2 to detect the cutting point (X-axis street), and further the chuck. The table 130 is rotated 90 degrees, and the imaging mechanism 160 images the alignment mark detection hole 5 to detect the cutting point (Y-axis street) (alignment step). The alignment information thus detected is used as the random access memory (RA of the control means 188).
It is temporarily stored in M). Next, the chuck table 130
Back by 90 degrees and rotate to rotate one spindle unit 14
8 is moved and adjusted in the direction of the arrow Y, which is the indexing direction, and FIG.
As shown in, the precision alignment work between the cutting blade 143 and the cutting point (X-axis street) is performed. afterwards,
While the cutting blade 143 is rotated in a predetermined direction, the chuck table 130 holding the ceramic chip capacitor sheet 2 by suction is in the cutting feed direction indicated by arrow X (direction orthogonal to the rotation axis of the cutting blade 143).
By moving to, the ceramic chip capacitor sheet 2 held on the chuck table 130 is cut along the X-axis street (division step). That is, since the cutting blade 143 is mounted on the spindle unit 140 that is moved and adjusted in the direction indicated by the arrow Y which is the indexing direction and the direction indicated by the arrow Z which is the cutting direction, and is rotationally driven, the chuck table 1
By moving 30 along the lower side of the cutting blade 143 in the cutting feed direction, the ceramic chip capacitor sheet 2 held on the chuck table 130 is cut by the cutting blade 143 along a predetermined X-axis street.
【0017】上記のようにして、X軸ストリートの全て
が切削されたならば、チャックテーブル130を90度
回動する。そして、上記のように予めアライメント工程
を実施してセラミックスチップコンデンサーシート2の
切断個所(Y軸ストリート)を検出し記憶されているア
ライメント情報に基づいて、他方のスピンドルユニット
150を割り出し方向である矢印Y方向に移動調節して
図9に示すように切削ブレード153と切断個所(Y軸
ストリート)との精密位置合わせ作業が行われる。その
後、切削ブレード153を所定の方向に回転させつつ、
セラミックスチップコンデンサーシート2を吸引保持し
たチャックテーブル130を切削送り方向である矢印X
で示す方向に移動することにより、チャックテーブル1
30に保持されたセラミックスチップコンデンサーシー
ト2はY軸ストリートに沿って切削される(分割工
程)。When all the X-axis streets have been cut as described above, the chuck table 130 is rotated 90 degrees. Then, as described above, the alignment step is performed in advance to detect the cut portion (Y-axis street) of the ceramic chip capacitor sheet 2, and based on the stored alignment information, the other spindle unit 150 is in the indexing direction. By adjusting the movement in the Y direction, as shown in FIG. 9, the precision alignment work of the cutting blade 153 and the cutting place (Y axis street) is performed. Then, while rotating the cutting blade 153 in a predetermined direction,
The chuck table 130 holding the ceramic chip capacitor sheet 2 by suction is indicated by an arrow X, which is the cutting feed direction.
By moving in the direction indicated by, the chuck table 1
The ceramic chip capacitor sheet 2 held by 30 is cut along the Y-axis street (dividing step).
【0018】上述したように、セラミックスチップコン
デンサーシート2をX軸ストリートおよびY軸ストリー
トに沿って切削することにより、個々のチップコンデン
サーに分割される。分割された個々のチップコンデンサ
ーは、テープ4の作用によってバラバラにはならず、キ
ャリアー基板3に支持されたセラミックスチップコンデ
ンサーシート2の状態が維持されている。このようにし
てセラミックスチップコンデンサーシート2の切断が終
了した後、セラミックスチップコンデンサーシート2を
保持したチャックテーブル130は、最初にセラミック
スチップコンデンサーシート2を吸引保持した位置に戻
され、ここでセラミックスチップコンデンサーシート2
の吸引保持を解除する。次に、セラミックスチップコン
デンサーシート2は、洗浄搬送手段186によって洗浄
手段185に搬送され、ここで洗浄され乾燥される。こ
のようにして洗浄されたセラミックスチップコンデンサ
ーシート2は、被加工物搬送手段184によって被加工
物載置領域182に搬出される。そして、セラミックス
チップコンデンサーシート2は、被加工物搬出手段18
3によってカセット181の所定位置に収納される。As described above, the ceramic chip capacitor sheet 2 is cut along the X-axis streets and the Y-axis streets to be divided into individual chip capacitors. The individual chip capacitors thus divided are not separated by the action of the tape 4, and the state of the ceramic chip capacitor sheet 2 supported by the carrier substrate 3 is maintained. After the cutting of the ceramic chip capacitor sheet 2 is completed in this way, the chuck table 130 holding the ceramic chip capacitor sheet 2 is returned to the position where the ceramic chip capacitor sheet 2 is first sucked and held, and the ceramic chip capacitor sheet 2 is held there. Sheet 2
Release the suction hold. Next, the ceramic chip capacitor sheet 2 is conveyed to the cleaning means 185 by the cleaning / conveying means 186, where it is cleaned and dried. The thus-cleaned ceramics chip capacitor sheet 2 is carried out to the work piece mounting area 182 by the work piece conveying means 184. Then, the ceramic chip capacitor sheet 2 is used as the workpiece carrying-out means 18
It is accommodated in a predetermined position of the cassette 181 by 3.
【0019】上述したセラミックスチップコンデンサー
シートの分割方法において、同一ロットで製造されたセ
ラミックスチップコンデンサーシート2は、チップの配
列の歪みが略同じであることから、最初に検出したアラ
イメント情報を制御手段188のランダムアクセスメモ
リ(RAM)に一時格納しておき、このアライメント情
報に基づいて同一ロットで製造された他のセラミックス
チップコンデンサーシート2の上記分割工程を実施する
ことによって、アライメント作業をを大幅に短縮するこ
とができる。また、切削ブレードとして図8および図9
に示すようなマルチ切削ブレードを使用して分割工程を
実施することにより、切削時間が短縮されるとともに、
湿式で切削を遂行しても分離層となるテープ4が水分を
吸収する前に分割工程を終了することができる。なお、
マルチ切削ブレードを使用して分割工程を実施する場
合、図10に示すように切削基点をオフセットすること
により、切削群が区別でき、不良品が発生した領域の位
置、即ち、名何番目の切削溝から名何番目の切削溝の間
に不良品が発生している等をロット毎に把握し易くな
り、品質管理が容易となる。In the ceramic chip capacitor sheet dividing method described above, since the ceramic chip capacitor sheets 2 manufactured in the same lot have substantially the same strain in the chip arrangement, the first detected alignment information is controlled by the control means 188. Random access memory (RAM) is temporarily stored, and by performing the above-mentioned division process of other ceramic chip capacitor sheets 2 manufactured in the same lot based on this alignment information, the alignment work is significantly shortened. can do. In addition, as a cutting blade, FIG. 8 and FIG.
By performing the dividing step using a multi-cutting blade as shown in, the cutting time is shortened and
Even if the cutting is performed by a wet method, the dividing step can be completed before the tape 4 serving as the separation layer absorbs moisture. In addition,
When performing the dividing step using the multi-cutting blade, the cutting groups can be distinguished by offsetting the cutting base point as shown in FIG. 10, and the position of the area where the defective product has occurred, that is, the number of cutting It becomes easy to grasp, for each lot, that defective products have occurred between the number of cutting grooves from the groove, and quality control becomes easy.
【0020】[0020]
【発明の効果】本発明によるセラミックスチップコンデ
ンサーシートの分割方法によれば、セラミックスチップ
コンデンサーシートのアライメントマーク領域の所定個
所に底面が円錐形状のアライメントマーク検出孔形成
し、このアライメントマーク検出孔の円錐形状の底面に
表出されたアライメントマークに基づいて切断個所を検
出するので、特定された狭い領域を乾式で掘削すること
ができるため、粉塵が殆ど飛散することがなく、粉塵処
理が容易となり生産性が向上する。また、検出孔形成工
程は乾式で掘削することができるので、キャリアー基板
上に分離層となるテープを介してセラミックスチップコ
ンデンサーシートを配設した場合に、テープが水分を吸
収することがなく、セラミックスチップコンデンサーシ
ートがキャリアー基板から浮き上がるという問題も解消
する。According to the method of dividing a ceramic chip capacitor sheet according to the present invention, an alignment mark detection hole having a conical bottom surface is formed at a predetermined portion of the alignment mark area of the ceramic chip capacitor sheet, and the cone of the alignment mark detection hole is formed. Since the cutting point is detected based on the alignment mark displayed on the bottom of the shape, the specified narrow area can be excavated by dry method, so that the dust hardly scatters and the dust treatment becomes easy and the production is completed. The property is improved. Further, since the detection hole forming step can be performed by dry digging, when the ceramic chip capacitor sheet is arranged on the carrier substrate via the tape serving as the separation layer, the tape does not absorb moisture, and the ceramic It also solves the problem that the chip capacitor sheet floats up from the carrier substrate.
【図1】本発明の分割方法によって分割されるセラミッ
クスチップコンデンサーシートの一部を破断して示す斜
視図。FIG. 1 is a perspective view showing a ceramic chip capacitor sheet divided by a dividing method according to the present invention, with a part thereof cut away.
【図2】図1におけるA−A線断面拡大図。2 is an enlarged cross-sectional view taken along the line AA in FIG.
【図3】図1に示すセラミックスチップコンデンサーシ
ートに検出孔形成工程を実施した状態示す斜視図。FIG. 3 is a perspective view showing a state in which a detection hole forming step has been performed on the ceramic chip capacitor sheet shown in FIG.
【図4】検出孔形成工程よってセラミックスチップコン
デンサーシートにけいせいされたアライメントマーク検
出孔の一実施形態を示す拡大断面図。FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view showing an embodiment of an alignment mark detection hole formed on a ceramic chip capacitor sheet by a detection hole forming step.
【図5】検出孔形成工程よってセラミックスチップコン
デンサーシートにけいせいされたアライメントマーク検
出孔の他の実施形態を示す拡大断面図。FIG. 5 is an enlarged cross-sectional view showing another embodiment of the alignment mark detection hole formed in the ceramic chip capacitor sheet by the detection hole forming step.
【図6】アライメントマーク検出孔を上方からみた拡大
図。FIG. 6 is an enlarged view of an alignment mark detection hole seen from above.
【図7】本発明によるセラミックスチップコンデンサー
シートの分割方法を実施するダイシング装置の斜視図。FIG. 7 is a perspective view of a dicing apparatus for carrying out the method for dividing a ceramic chip capacitor sheet according to the present invention.
【図8】図7に示すダイシング装置に装備されるX軸ス
トリート切削用のスピンドルユニットの要部拡大斜視
図。8 is an enlarged perspective view of a main part of a spindle unit for X-axis street cutting equipped in the dicing device shown in FIG.
【図9】図7に示すダイシング装置に装備されるY軸ス
トリート切削用のスピンドルユニットの要部拡大斜視
図。9 is an enlarged perspective view of a main part of a spindle unit for Y-axis street cutting equipped in the dicing device shown in FIG.
【図10】図7に示すダイシング装置によるセラミック
スチップコンデンサーシートの分割工程における切削基
点を示す説明図。10 is an explanatory view showing a cutting base point in a step of dividing the ceramic chip capacitor sheet by the dicing device shown in FIG.
2:セラミックスチップコンデンサーシート 3:キャリアー基板 4:テープ 21:生セラミックス層 22:電極層 221:電極領域 221a:電極 222:アライメントマーク領域 222a:アライメントマーク 5:アライメントマーク検出孔 51:円錐形状の凸面 52:円錐形状の凹面 6:エンドミル 7:ドリル 100:ダイシング 120:装置ハウジング 130:チャックテーブル 131:吸着チャック支持台 132:吸着チャック 133:位置決めピン 140:スピンドルユニット(X軸ストリート切削用) 150:スピンドルユニット(Y軸ストリート切削用) 160:撮像機構 170:表示手段 181:カセット 182:被加工物載置領域 183:被加工物搬出手段 184:被加工物搬送手段 185:洗浄手段 186:洗浄搬送手段 188:制御手段 2: Ceramic chip capacitor sheet 3: Carrier substrate 4: Tape 21: Raw ceramic layer 22: Electrode layer 221: Electrode area 221a: electrode 222: Alignment mark area 222a: alignment mark 5: Alignment mark detection hole 51: Conical convex surface 52: Conical concave surface 6: End mill 7: Drill 100: Dicing 120: Device housing 130: Chuck table 131: Support for suction chuck 132: suction chuck 133: Positioning pin 140: Spindle unit (for X-axis street cutting) 150: Spindle unit (for Y-axis street cutting) 160: Imaging mechanism 170: Display means 181: cassette 182: Workpiece mounting area 183: Workpiece unloading means 184: Workpiece conveying means 185: Cleaning means 186: Cleaning / conveying means 188: Control means
Claims (7)
表面に形成され格子状に区画された複数個の電極を有す
る電極領域と該電極領域を囲撓し該電極の位置を示すア
ライメントマークを有するアライメントマーク領域とを
備えた電極層とを交互に積層し、最上位層にセラミック
層を積層して構成したセラミックスチップコンデンサー
シートを格子状に区画された個々のチップコンデンサー
に分割する分割方法であって、 該アライメントマーク領域の所定個所に底面が円錐形状
のアライメントマーク検出孔を形成する検出孔形成工程
と、 該検出孔形成工程によって形成された該アライメントマ
ーク検出孔の円錐形状の底面に表出されたアライメント
マークに基づいて切断個所を検出するアライメント工程
と、 該アライメント工程によって検出された切断個所に基づ
いてセラミックスチップコンデンサーシートを切断して
個々のチップコンデンサーに分割する分割工程と、を含
む、 ことを特徴とするセラミックスチップコンデンサーシー
トの分割方法。1. An alignment having a ceramics layer, an electrode region having a plurality of electrodes formed on the surface of the ceramics layer and defined in a grid pattern, and an alignment mark surrounding the electrode region and indicating the position of the electrode. A method for dividing a ceramic chip capacitor sheet, which is configured by alternately stacking electrode layers having mark areas and a ceramic layer on the uppermost layer, into individual chip capacitors divided into a grid pattern. A detection hole forming step of forming an alignment mark detecting hole having a conical bottom surface at a predetermined portion of the alignment mark area, and a conical bottom surface of the alignment mark detecting hole formed by the detecting hole forming step. Alignment step of detecting a cutting point based on the alignment mark, and the alignment step And a step of dividing the ceramic chip capacitor sheet into individual chip capacitors based on the cut points, and dividing the ceramic chip capacitor sheet into individual chip capacitors.
ミルによって形成される、請求項1記載のセラミックス
チップコンデンサーシートの分割方法。2. The method of dividing a ceramic chip capacitor sheet according to claim 1, wherein the alignment mark detection hole is formed by an end mill.
によって形成される、請求項1記載のセラミックスチッ
プコンデンサーシートの分割方法。3. The method of dividing a ceramic chip capacitor sheet according to claim 1, wherein the alignment mark detection hole is formed by a drill.
る位置は、セラミックスチップコンデンサーシートの設
計図に基づいて割り出される、請求項1記載のセラミッ
クスチップコンデンサーシートの分割方法。4. The method for dividing a ceramic chip capacitor sheet according to claim 1, wherein the position where the alignment mark detection hole is formed is determined based on a design drawing of the ceramic chip capacitor sheet.
アライメント情報は記憶手段に格納され、同一ロッドで
製造されたセラミックスチップコンデンサーシートにつ
いては該アライメント情報に基づいて該分割工程を遂行
する、請求項1記載のセラミックスチップコンデンサー
シートの分割方法。5. The alignment information detected by the alignment step is stored in a storage means, and for the ceramic chip capacitor sheet manufactured by the same rod, the dividing step is performed based on the alignment information. Method of dividing ceramic chip capacitor sheet of.
ップコンデンサーの間隔と一致するように組み込まれた
マルチ切削ブレードによって遂行される、請求項1記載
のセラミックスチップコンデンサーシートの分割方法。6. The method of dividing a ceramic chip capacitor sheet according to claim 1, wherein the dividing step is performed by a multi-cutting blade in which a plurality of cutting blades are installed so as to match the intervals of the chip capacitors.
プコンデンサーシートの切削すべき領域をマルチ切削ブ
レードで切削した後、次の切削すべき領域をマルチ切削
ブレードで切削する際、切削基点をオフセットして切削
を遂行する、請求項6記載のセラミックスチップコンデ
ンサーシートの分割方法。7. In the dividing step, after cutting a region to be cut of a ceramic chip capacitor sheet with a multi-cutting blade, when cutting the next region to be cut with a multi-cutting blade, the cutting base point is offset and cut. 7. The method for dividing a ceramic chip capacitor sheet according to claim 6, wherein
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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