JP3949934B2 - Method for dividing ceramic chip capacitor sheet - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、セラミックスチップコンデンサーシートを個々のチップコンデンサーに分割する分割方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
セラミックスチップコンデンサーシートは、セラミックス層と、該セラミックス層の表面に形成され格子状に区画された複数個の電極を有する電極層とを交互に積層し、最上位層にセラミック層を積層して構成されている。このようなセラミックスチップコンデンサーシートの製造法としては、次のような方法が一般に行われている。即ち、板状のキャリアー基板の表面に分離層となるテープを張り、その上に生セラミックスを塗布して厚さ5μm程度の生セラミックス層を形成する。この生セラミックス層の表面に例えばバラジウムなどの電極金属をスクリーン印刷して厚さ1μm程度の電極層を形成する。この生セラミックス層と電極層とを交互に200層程度積層し、最上位層にセラミック層を積層してセラミックスチップコンデンサーシートを構成する。
【0003】
上記のようにして構成されたセラミックスチップコンデンサーシートは最上位層にセラミック層が形成されており、表面から電極の位置を確認することができないので、個々のチップコンデンサーに分割するに際しては、電極の位置を確認するために次のような対策がなされている。即ち、上記電極層を形成する際に、電極領域を囲撓し電極の位置を示すアライメントマークを有するアライメントマーク領域を形成し、このアライメントマーク領域に外周の断面形状がV字状の切削ブレードを用いてV溝を形成することにより、該V溝の壁面に表出されたアライメントマークを認識するようにしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
而して、上述したようにアライメントマーク領域に切削ブレードによってV溝を形成することによりアライメントマークを認識する方法においては、次のような問題がある。
(1)キャリアー基板の表面に装着する分離層となるテープは個々のチップコンデンサーに分割した後に除去する関係から水溶性のものが使用されており、このためアライメントマーク領域にV溝を形成する際には乾式で切削しなければならない。乾式で切削を行うと、セラミックスの粉塵が飛散するので粉塵処理を行う必要があり、生産性が低下する原因となる。
(2)上記(1)の問題を解決するために、アライメントマーク領域に湿式によってV溝を形成した後、直ちにセラミックスチップコンデンサーシートに付着した切削水を拭き取る方法のもあるが、僅かではあるが上記分離層となるテープが切削水を吸収するのでセラミックスチップコンデンサーシートがキャリアーから浮き上がるという問題がある。また、切削水がV溝に浸入してアライメントマークの検出が不可能となる場合がある。
【0005】
本発明は上記事実に鑑みてなされたものであり、その主たる技術課題は、電極領域を囲撓して形成されたアライメントマークを容易に表出することができるとともに確実に認識することができるセラミックスチップコンデンサーシートの分割方法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記主たる技術課題を解決するため、本発明によれば、セラミックス層と、該セラミックス層の表面に形成され格子状に区画された複数個の電極を有する電極領域と該電極領域を囲撓し該電極の位置を示すアライメントマークを有するアライメントマーク領域とを備えた電極層とを交互に積層し、最上位層にセラミック層を積層して構成したセラミックスチップコンデンサーシートを格子状に区画された個々のチップコンデンサーに分割する分割方法であって、
該アライメントマーク領域の所定個所に底面が円錐形状のアライメントマーク検出孔を形成する検出孔形成工程と、
該検出孔形成工程によって形成された該アライメントマーク検出孔の円錐形状の底面に表出されたアライメントマークに基づいて切断個所を検出するアライメント工程と、
該アライメント工程によって検出された切断個所に基づいてセラミックスチップコンデンサーシートを切断して個々のチップコンデンサーに分割する分割工程と、を含み、
該分割工程は、複数個の切削ブレードがチップコンデンサーの間隔と一致するように組み込まれたマルチ切削ブレードによって遂行され、セラミックスチップコンデンサーシートの切削すべき領域をマルチ切削ブレードで切削した後、次の切削すべき領域をマルチ切削ブレードで切削する際、切削基点をオフセットして切削を遂行する、
ことを特徴とするセラミックスチップコンデンサーシートの分割方法が提供される。
【0008】
【発明の実施の形態】
以下、本発明によるセラミックスチップコンデンサーシートの分割方法の好適な実施形態について、添付図面を参照して詳細に説明する。
【0009】
図1は本発明によって個々のチップコンデンサーに分割するセラミックスチップコンデンサーシートの斜視図、図2は図1におけるA−A線断面拡大図である。なお、図1に示すセラミックスチップコンデンサーシートは、最上位層のセラミック層が一部破断して示されている。
図1および図2に示すセラミックスチップコンデンサーシート2は、ガラス板からなる矩形状のキャリアー基板3の表面に分離層となるテープ4を介して形成されている。即ち、キャリアー基板3の表面に貼着されたテープ4上に生セラミックスが塗布され厚さ5μm程度の生セラミックス層21を形成し、この生セラミックス層21の表面に例えばバラジウムなどの電極金属をスクリーン印刷して厚さ1μm程度の電極層22を形成する。この電極層22は、格子状に区画された複数個の電極221aを有する電極領域221と該電極領域221を囲撓し電極221aの位置を示すアライメントマーク222aを有するアライメントマーク領域222とを備えている。このように形成された生セラミックス層21と電極層22を交互に数十乃至週百層積層し、最上位層に生セラミック層21が形成されている。
【0010】
上述したように形成されたセラミックスチップコンデンサーシート2を個々のチップコンデンサーに分割するには、先ず、図3に示すようにアライメントマーク領域222の所定位置にアライメントマーク検出孔5を形成する(検出孔形成工程)。なお、アライメントマーク検出孔5を形成する所定位置は、セラミックスチップコンデンサーシート2を製造する際に使用する設計図に基づいて割り出される。このアライメントマーク検出孔5は、図4に示すように底面が円錐形状の凸面51または図5に示すように底面が円錐形状の凹面52となるように形成される。なお、図4に示すように底面が円錐形状の凸面51になるようにアライメントマーク検出孔5を形成するには、エンドミル6によって掘削することができる。また、図5に示すように底面が円錐形状の凹面52になるようにアライメントマーク検出孔5を形成するには、ドリル7によって掘削することができる。
このように形成されたアライメントマーク検出孔5を上方から見ると、図6に示すように電極221aが円錐形状の凸面51または円錐形状の凹面52に表出して確認することができる。以上のように、検出孔形成工程は、セラミックスチップコンデンサーシート2のアライメントマーク領域222をエンドミル6またはドリル7によってアライメントマーク検出孔5を形成するので、特定された狭い領域を乾式で掘削することができるため、粉塵が殆ど飛散することがなく、粉塵処理が容易となり生産性が向上する。また、検出孔形成工程は乾式で掘削することができるので、分離層となるテープ4が水分を吸収することがなく、セラミックスチップコンデンサーシート2がキャリアー基板3から浮き上がるという問題も解消する。
【0011】
上述したようにアライメントマーク領域222の所定位置にアライメントマーク検出孔5を形成したならば、セラミックスチップコンデンサーシート2をダイシング装置によって個々のチップコンデンサーに分割する。ここで、ダイシング装置について図7を参照して説明する。
図示の実施形態におけるダイシング100は、略直方体状の装置ハウジング120を具備している。この装置ハウジング120内には、被加工物を保持するチャックテーブル130が切削送り方向である矢印Xで示す方向に移動可能に配設されている。チャックテーブル130は、吸着チャック支持台131と、該吸着チャック支持台131上に装着された矩形状の吸着チャック132と、該吸着チャック132の2辺に沿って配設された3本の位置決めピン133とを具備しており、該吸着チャック132の表面である載置面上に被加工物である上記図3に示すようにアライメントマーク領域222の所定位置にアライメントマーク検出孔5が形成されたセラミックスチップコンデンサーシート2が載置される。このとき、キャリアー基板3の2辺を上記3本の位置決めピン133に当接することによって位置決めされる。チャックテーブル130の吸着チャック132上の所定位置にセラミックスチップコンデンサーシート2が位置決めされたならば、図示しない吸引手段によって保持するようになっている。なお、チャックテーブル130は、図示しない回転機構によって回動可能に構成されている。
【0012】
図示の実施形態におけるダイシング装置100は、切削手段としての2基のスピンドルユニット140、150を具備している。スピンドルユニット140、150は、図示しない移動基台に装着され割り出し方向である矢印Yで示す方向および切り込み方向である矢印Zで示す方向に移動調整されるスピンドルハウジング141、151と、該スピンドルハウジング141、151に回転自在に支持され図示しない回転駆動機構によって回転駆動される回転スピンドル142、152と、該回転スピンドル142、152に装着された切削ブレード143、153とを具備している。なお、一方の切削ブレード143は、図8に示すように複数個切削ブレードがチップコンデンサーの間隔と一致するように組み込まれたマルチ切削ブレードからなっており、セラミックスチップコンデンサーシート2のX軸ストリートに沿って切削する。また、他方の切削ブレード153も図9に示すように複数個切削ブレードがチップコンデンサーの間隔と一致するように組み込まれたマルチ切削ブレードからなっており、セラミックスチップコンデンサーシート2のY軸ストリートに沿って切削する。
【0013】
図示の実施形態におけるダイシング装置100は、上記チャックテーブル130を構成する吸着チャック132の表面に保持された被加工物である上記セラミックスチップコンデンサーシート2のアライメントマーク領域222に形成されたアライメントマーク検出孔5を撮像したり、上記切削ブレード143、153によって切削すべき領域を検出したりするための撮像機構160を具備している。この撮像機構160は顕微鏡やCCDカメラ等の光学手段からなっている。また、ダイシング装置100は、撮像機構160によって撮像された画像を表示する表示手段170を具備している。
【0014】
図示の実施形態におけるダイシング装置100は、被加工物である上記セラミックスチップコンデンサーシート2をストックするカセット181と、該カセット181に収容された被加工物を被加工物載置領域182に搬出する被加工物搬出手段183と、該被加工物搬出手段183によって搬出された被加工物を上記チャックテーブル130上に搬送する被加工物搬送手段184と、チャックテーブル130で切削加工された被加工物を洗浄しスピン乾燥するする洗浄手段185と、チャックテーブル130で切削加工された被加工物を洗浄手段185へ搬送する洗浄搬送手段186を具備している。また、ダイシング装置100は、上記チャックテーブル130、スピンドルユニット140、150、カセット181の昇降手段、被加工物搬出手段183、被加工物搬送手段184、洗浄手段185、洗浄搬送手段186等を制御する制御手段188を備えている。この制御手段188は、制御プログラムに従って演算処理する中央処理装置(CPU)と、制御プログラム等を格納するリードオンリメモリ(ROM)と、演算結果等を格納する読み書き可能なランダムアクセスメモリ(RAM)等を備えている。そして、制御手段188は、上記撮像機構160によって撮像されたアライメント情報(切削ブレード143、153によって切削すべき領域)をランダムアクセスメモリ(RAM)に一時格納し、このアライメント情報に基づいて上記スピンドルユニット140、150に制御信号を出力する。
【0015】
次に、上述したダイシング装置10を用いて、上記検出孔形成工程によりアライメントマーク領域222にアライメントマーク検出孔5が形成されたセラミックスチップコンデンサーシート2の切削加工処理について説明する。
先ず、アライメントマーク領域222にアライメントマーク検出孔5が形成されたセラミックスチップコンデンサーシート2(キャリアー基板3上に設けられた状態)がカセット181内に収容される。カセット7の所定位置に収容されたセラミックスチップコンデンサーシート2は、図示しない昇降手段によって上下動せしめられることにより搬出位置に位置付けられる。次に、被加工物搬出手段183が進退作動して搬出位置に位置付けられたセラミックスチップコンデンサーシート2を被加工物載置領域182に搬出する。被加工物載置領域182に搬出されたセラミックスチップコンデンサーシート2は、被加工物搬送手段184の旋回動作によって上記チャックテーブル130を構成する吸着チャック132の載置面に搬送され、上述したようにキャリアー基板3の2辺を3本の位置決めピン133に当接することによって位置決めされた後に、吸着チャック132に吸引保持される。このようにしてセラミックスチップコンデンサーシート2を吸引保持したチャックテーブル130は、撮像機構160の直下まで移動せしめられる。
【0016】
チャックテーブル130が撮像機構160の直下に位置付けられたならば、撮像機構160によってセラミックスチップコンデンサーシート2のアライメントマーク領域222に形成されたアライメントマーク検出孔5を撮像して切断個所(X軸ストリート)を検出し、更に、チャックテーブル130を90度回動して撮像機構160によりアライメントマーク検出孔5を撮像して切断個所(Y軸ストリート)を検出する(アライメント工程)。このようにして検出されたアライメント情報は、制御手段188のランダムアクセスメモリ(RAM)に一時格納される。次に、チャックテーブル130を90度戻して回動し、一方のスピンドルユニット140を割り出し方向である矢印Y方向に移動調節して図8に示すように切削ブレード143と切断個所(X軸ストリート)との精密位置合わせ作業が行われる。その後、切削ブレード143を所定の方向に回転させつつ、セラミックスチップコンデンサーシート2を吸引保持したチャックテーブル130を切削送り方向である矢印Xで示す方向(切削ブレード143の回転軸と直交する方向)に移動することにより、チャックテーブル130に保持されたセラミックスチップコンデンサーシート2はX軸ストリートに沿って切削される(分割工程)。即ち、切削ブレード143は割り出し方向である矢印Yで示す方向および切り込み方向である矢印Zで示す方向に移動調整されて位置決めされたスピンドルユニット140に装着され、回転駆動されているので、チャックテーブル130を切削ブレード143の下側に沿って切削送り方向に移動することにより、チャックテーブル130に保持されたセラミックスチップコンデンサーシート2は切削ブレード143により所定のX軸ストリートに沿って切削される。
【0017】
上記のようにして、X軸ストリートの全てが切削されたならば、チャックテーブル130を90度回動する。そして、上記のように予めアライメント工程を実施してセラミックスチップコンデンサーシート2の切断個所(Y軸ストリート)を検出し記憶されているアライメント情報に基づいて、他方のスピンドルユニット150を割り出し方向である矢印Y方向に移動調節して図9に示すように切削ブレード153と切断個所(Y軸ストリート)との精密位置合わせ作業が行われる。その後、切削ブレード153を所定の方向に回転させつつ、セラミックスチップコンデンサーシート2を吸引保持したチャックテーブル130を切削送り方向である矢印Xで示す方向に移動することにより、チャックテーブル130に保持されたセラミックスチップコンデンサーシート2はY軸ストリートに沿って切削される(分割工程)。
【0018】
上述したように、セラミックスチップコンデンサーシート2をX軸ストリートおよびY軸ストリートに沿って切削することにより、個々のチップコンデンサーに分割される。分割された個々のチップコンデンサーは、テープ4の作用によってバラバラにはならず、キャリアー基板3に支持されたセラミックスチップコンデンサーシート2の状態が維持されている。このようにしてセラミックスチップコンデンサーシート2の切断が終了した後、セラミックスチップコンデンサーシート2を保持したチャックテーブル130は、最初にセラミックスチップコンデンサーシート2を吸引保持した位置に戻され、ここでセラミックスチップコンデンサーシート2の吸引保持を解除する。次に、セラミックスチップコンデンサーシート2は、洗浄搬送手段186によって洗浄手段185に搬送され、ここで洗浄され乾燥される。このようにして洗浄されたセラミックスチップコンデンサーシート2は、被加工物搬送手段184によって被加工物載置領域182に搬出される。そして、セラミックスチップコンデンサーシート2は、被加工物搬出手段183によってカセット181の所定位置に収納される。
【0019】
上述したセラミックスチップコンデンサーシートの分割方法において、同一ロットで製造されたセラミックスチップコンデンサーシート2は、チップの配列の歪みが略同じであることから、最初に検出したアライメント情報を制御手段188のランダムアクセスメモリ(RAM)に一時格納しておき、このアライメント情報に基づいて同一ロットで製造された他のセラミックスチップコンデンサーシート2の上記分割工程を実施することによって、アライメント作業をを大幅に短縮することができる。また、切削ブレードとして図8および図9に示すようなマルチ切削ブレードを使用して分割工程を実施することにより、切削時間が短縮されるとともに、湿式で切削を遂行しても分離層となるテープ4が水分を吸収する前に分割工程を終了することができる。なお、マルチ切削ブレードを使用して分割工程を実施する場合、図10に示すように切削基点をオフセットすることにより、切削群が区別でき、不良品が発生した領域の位置、即ち、名何番目の切削溝から名何番目の切削溝の間に不良品が発生している等をロット毎に把握し易くなり、品質管理が容易となる。
【0020】
【発明の効果】
本発明によるセラミックスチップコンデンサーシートの分割方法によれば、セラミックスチップコンデンサーシートのアライメントマーク領域の所定個所に底面が円錐形状のアライメントマーク検出孔形成し、このアライメントマーク検出孔の円錐形状の底面に表出されたアライメントマークに基づいて切断個所を検出するので、特定された狭い領域を乾式で掘削することができるため、粉塵が殆ど飛散することがなく、粉塵処理が容易となり生産性が向上する。また、検出孔形成工程は乾式で掘削することができるので、キャリアー基板上に分離層となるテープを介してセラミックスチップコンデンサーシートを配設した場合に、テープが水分を吸収することがなく、セラミックスチップコンデンサーシートがキャリアー基板から浮き上がるという問題も解消する。
また、本発明によるセラミックスチップコンデンサーシートの分割方法によれば、切削ブレードとしてマルチ切削ブレードを使用して分割工程を実施することにより、切削時間が短縮されるとともに、湿式で切削を遂行しても分離層となるテープが水分を吸収する前に分割工程を終了することができる。そして、マルチ切削ブレードを使用して分割工程を実施する際に、切削基点をオフセットすることにより、切削群が区別でき、不良品が発生した領域の位置、即ち、名何番目の切削溝から名何番目の切削溝の間に不良品が発生している等をロット毎に把握し易くなり、品質管理が容易となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の分割方法によって分割されるセラミックスチップコンデンサーシートの一部を破断して示す斜視図。
【図2】図1におけるA−A線断面拡大図。
【図3】図1に示すセラミックスチップコンデンサーシートに検出孔形成工程を実施した状態示す斜視図。
【図4】検出孔形成工程よってセラミックスチップコンデンサーシートにけいせいされたアライメントマーク検出孔の一実施形態を示す拡大断面図。
【図5】検出孔形成工程よってセラミックスチップコンデンサーシートにけいせいされたアライメントマーク検出孔の他の実施形態を示す拡大断面図。
【図6】アライメントマーク検出孔を上方からみた拡大図。
【図7】本発明によるセラミックスチップコンデンサーシートの分割方法を実施するダイシング装置の斜視図。
【図8】図7に示すダイシング装置に装備されるX軸ストリート切削用のスピンドルユニットの要部拡大斜視図。
【図9】図7に示すダイシング装置に装備されるY軸ストリート切削用のスピンドルユニットの要部拡大斜視図。
【図10】図7に示すダイシング装置によるセラミックスチップコンデンサーシートの分割工程における切削基点を示す説明図。
【符号の説明】
2:セラミックスチップコンデンサーシート
3:キャリアー基板
4:テープ
21:生セラミックス層
22:電極層
221:電極領域
221a:電極
222:アライメントマーク領域
222a:アライメントマーク
5:アライメントマーク検出孔
51:円錐形状の凸面
52:円錐形状の凹面
6:エンドミル
7:ドリル
100:ダイシング
120:装置ハウジング
130:チャックテーブル
131:吸着チャック支持台
132:吸着チャック
133:位置決めピン
140:スピンドルユニット(X軸ストリート切削用)
150:スピンドルユニット(Y軸ストリート切削用)
160:撮像機構
170:表示手段
181:カセット
182:被加工物載置領域
183:被加工物搬出手段
184:被加工物搬送手段
185:洗浄手段
186:洗浄搬送手段
188:制御手段
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a dividing method for dividing a ceramic chip capacitor sheet into individual chip capacitors.
[0002]
[Prior art]
The ceramic chip capacitor sheet is constructed by alternately laminating a ceramic layer and an electrode layer having a plurality of electrodes formed on the surface of the ceramic layer and partitioned in a lattice pattern, and laminating the ceramic layer on the uppermost layer. Has been. As a method for producing such a ceramic chip capacitor sheet, the following method is generally performed. That is, a tape serving as a separation layer is stretched on the surface of a plate-like carrier substrate, and raw ceramics are applied thereon to form a raw ceramic layer having a thickness of about 5 μm. An electrode layer having a thickness of about 1 μm is formed on the surface of the raw ceramic layer by screen printing of an electrode metal such as palladium. About 200 layers of this raw ceramic layer and electrode layer are alternately laminated, and a ceramic layer is laminated on the uppermost layer to constitute a ceramic chip capacitor sheet.
[0003]
The ceramic chip capacitor sheet configured as described above has a ceramic layer formed on the uppermost layer, and the position of the electrode cannot be confirmed from the surface. Therefore, when dividing into individual chip capacitors, The following measures are taken to confirm the position. That is, when forming the electrode layer, an alignment mark region having an alignment mark that surrounds the electrode region and indicates the position of the electrode is formed, and a cutting blade having a V-shaped outer periphery is formed in the alignment mark region. By using this to form a V-groove, the alignment mark exposed on the wall surface of the V-groove is recognized.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
Thus, as described above, the method of recognizing the alignment mark by forming the V-groove with the cutting blade in the alignment mark region has the following problems.
(1) A water-soluble tape is used as a separation layer to be mounted on the surface of the carrier substrate because it is removed after being divided into individual chip capacitors. For this reason, when forming a V-groove in the alignment mark region It must be cut dry. When dry cutting is performed, ceramic dust is scattered, so that it is necessary to perform dust treatment, which causes a decrease in productivity.
(2) In order to solve the above problem (1), there is a method of wiping off the cutting water adhering to the ceramic chip capacitor sheet immediately after forming the V-groove in the alignment mark region by a wet method. Since the tape as the separation layer absorbs cutting water, there is a problem that the ceramic chip capacitor sheet is lifted from the carrier. In addition, the cutting water may enter the V-groove and the alignment mark may not be detected.
[0005]
The present invention has been made in view of the above-mentioned facts, and the main technical problem thereof is ceramics that can easily expose and reliably recognize alignment marks formed by surrounding electrode regions. The object is to provide a chip capacitor sheet dividing method.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above main technical problem, according to the present invention, a ceramic layer, an electrode region having a plurality of electrodes formed on the surface of the ceramic layer and partitioned in a lattice shape, Electrode layers having alignment mark regions having alignment marks indicating the positions of the electrodes are alternately laminated, and ceramic chip capacitor sheets formed by laminating ceramic layers on the uppermost layer are individually divided in a lattice pattern. A dividing method for dividing into chip capacitors,
A detection hole forming step of forming an alignment mark detection hole having a conical bottom surface at a predetermined position of the alignment mark region;
An alignment step of detecting a cutting point based on the alignment mark exposed on the conical bottom surface of the alignment mark detection hole formed by the detection hole forming step;
Seen including a dividing step of dividing into individual chip capacitor by cutting the ceramic chip capacitor sheet based on cutting point detected by said alignment step, a
The dividing step is performed by a multi-cutting blade in which a plurality of cutting blades are incorporated so as to coincide with the interval of the chip capacitor. After cutting the region to be cut of the ceramic chip capacitor sheet with the multi-cutting blade, When cutting the area to be cut with a multi-cutting blade, the cutting base point is offset to perform cutting.
A method of dividing a ceramic chip capacitor sheet is provided.
[0008]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, a preferred embodiment of a method for dividing a ceramic chip capacitor sheet according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
[0009]
FIG. 1 is a perspective view of a ceramic chip capacitor sheet divided into individual chip capacitors according to the present invention, and FIG. 2 is an enlarged sectional view taken along line AA in FIG. The ceramic chip capacitor sheet shown in FIG. 1 is shown with the uppermost ceramic layer partially broken.
The ceramic chip capacitor sheet 2 shown in FIGS. 1 and 2 is formed on the surface of a rectangular carrier substrate 3 made of a glass plate via a tape 4 serving as a separation layer. That is, a raw ceramic is applied on the tape 4 adhered to the surface of the carrier substrate 3 to form a raw ceramic layer 21 having a thickness of about 5 μm, and an electrode metal such as barium is screened on the surface of the raw ceramic layer 21. The electrode layer 22 having a thickness of about 1 μm is formed by printing. The electrode layer 22 includes an electrode region 221 having a plurality of electrodes 221a partitioned in a lattice shape, and an alignment mark region 222 having an alignment mark 222a that surrounds the electrode region 221 and indicates the position of the electrode 221a. Yes. The green ceramic layer 21 and the electrode layer 22 formed in this way are alternately stacked several tens to hundreds of weeks, and the green ceramic layer 21 is formed as the uppermost layer.
[0010]
In order to divide the ceramic chip capacitor sheet 2 formed as described above into individual chip capacitors, first, as shown in FIG. 3, alignment mark detection holes 5 are formed at predetermined positions in the alignment mark region 222 (detection holes). Forming step). The predetermined position where the alignment mark detection hole 5 is formed is determined based on a design drawing used when the ceramic chip capacitor sheet 2 is manufactured. The alignment mark detection hole 5 is formed such that the bottom surface is a convex surface 51 having a conical shape as shown in FIG. 4 or the concave surface 52 having a bottom surface having a conical shape as shown in FIG. In order to form the alignment mark detection hole 5 so that the bottom surface is a conical convex surface 51 as shown in FIG. Further, as shown in FIG. 5, in order to form the alignment mark detection hole 5 so that the bottom surface becomes a conical concave surface 52, the drill 7 can be used for excavation.
When the alignment mark detection hole 5 formed in this way is viewed from above, the electrode 221a can be confirmed by appearing on the conical convex surface 51 or the conical concave surface 52 as shown in FIG. As described above, in the detection hole forming process, the alignment mark detection hole 5 is formed in the alignment mark region 222 of the ceramic chip capacitor sheet 2 by the end mill 6 or the drill 7, so that the specified narrow region can be excavated dry. Therefore, almost no dust is scattered, dust processing becomes easy, and productivity is improved. Further, since the detection hole forming process can be excavated by a dry method, the tape 4 serving as the separation layer does not absorb moisture, and the problem that the ceramic chip capacitor sheet 2 is lifted from the carrier substrate 3 is also solved.
[0011]
If the alignment mark detection hole 5 is formed at a predetermined position in the alignment mark region 222 as described above, the ceramic chip capacitor sheet 2 is divided into individual chip capacitors by a dicing apparatus. Here, the dicing apparatus will be described with reference to FIG.
The dicing 100 in the illustrated embodiment includes a device housing 120 having a substantially rectangular parallelepiped shape. In the apparatus housing 120, a chuck table 130 that holds a workpiece is disposed so as to be movable in a direction indicated by an arrow X that is a cutting feed direction. The chuck table 130 includes a suction chuck support base 131, a rectangular suction chuck 132 mounted on the suction chuck support base 131, and three positioning pins disposed along two sides of the suction chuck 132. 133, and an alignment mark detection hole 5 is formed at a predetermined position of the alignment mark region 222 as shown in FIG. 3 as a workpiece on the mounting surface which is the surface of the suction chuck 132. A ceramic chip capacitor sheet 2 is placed. At this time, positioning is performed by bringing the two sides of the carrier substrate 3 into contact with the three positioning pins 133. When the ceramic chip capacitor sheet 2 is positioned at a predetermined position on the suction chuck 132 of the chuck table 130, it is held by a suction means (not shown). The chuck table 130 is configured to be rotatable by a rotation mechanism (not shown).
[0012]
The dicing apparatus 100 in the illustrated embodiment includes two spindle units 140 and 150 as cutting means. The spindle units 140 and 150 are mounted on a moving base (not shown) and are adjusted to move in a direction indicated by an arrow Y as an indexing direction and a direction indicated by an arrow Z as a cutting direction, and the spindle housing 141 , 151 are rotatably supported by a rotary drive mechanism (not shown) and are rotated by a rotary drive mechanism (not shown), and cutting blades 143 and 153 mounted on the rotary spindles 142 and 152. One of the cutting blades 143 is a multi-cutting blade in which a plurality of cutting blades are incorporated so as to coincide with the distance between the chip capacitors as shown in FIG. Cut along. Further, as shown in FIG. 9, the other cutting blade 153 is composed of a multi-cutting blade in which a plurality of cutting blades are incorporated so as to coincide with the interval between the chip capacitors, and is along the Y-axis street of the ceramic chip capacitor sheet 2. And cut.
[0013]
The dicing apparatus 100 in the illustrated embodiment includes an alignment mark detection hole formed in the alignment mark region 222 of the ceramic chip capacitor sheet 2 that is a workpiece held on the surface of the suction chuck 132 constituting the chuck table 130. 5 and an imaging mechanism 160 for detecting an area to be cut by the cutting blades 143 and 153. The imaging mechanism 160 is composed of optical means such as a microscope and a CCD camera. In addition, the dicing apparatus 100 includes a display unit 170 that displays an image picked up by the image pickup mechanism 160.
[0014]
The dicing apparatus 100 in the illustrated embodiment includes a cassette 181 that stocks the ceramic chip capacitor sheet 2 that is a workpiece, and a workpiece that carries the workpiece accommodated in the cassette 181 to the workpiece placement region 182. A workpiece unloading means 183, a workpiece conveying means 184 for conveying the workpiece unloaded by the workpiece unloading means 183 onto the chuck table 130, and a workpiece cut by the chuck table 130. A cleaning unit 185 for cleaning and spin-drying and a cleaning / conveying unit 186 for transporting the workpiece cut by the chuck table 130 to the cleaning unit 185 are provided. The dicing apparatus 100 controls the chuck table 130, the spindle units 140 and 150, the lifting / lowering means of the cassette 181, the workpiece unloading means 183, the workpiece conveying means 184, the cleaning means 185, the cleaning conveying means 186, and the like. Control means 188 is provided. The control means 188 includes a central processing unit (CPU) that performs arithmetic processing according to a control program, a read-only memory (ROM) that stores a control program, and a readable / writable random access memory (RAM) that stores arithmetic results. It has. The control unit 188 temporarily stores alignment information (area to be cut by the cutting blades 143 and 153) imaged by the imaging mechanism 160 in a random access memory (RAM), and the spindle unit is based on the alignment information. A control signal is output to 140 and 150.
[0015]
Next, the cutting process of the ceramic chip capacitor sheet 2 in which the alignment mark detection hole 5 is formed in the alignment mark region 222 by the detection hole forming process will be described using the dicing apparatus 10 described above.
First, the ceramic chip capacitor sheet 2 (the state provided on the carrier substrate 3) in which the alignment mark detection hole 5 is formed in the alignment mark region 222 is accommodated in the cassette 181. The ceramic chip capacitor sheet 2 accommodated in a predetermined position of the cassette 7 is positioned at the carry-out position by being moved up and down by an elevating means (not shown). Next, the workpiece unloading means 183 moves forward and backward to unload the ceramic chip capacitor sheet 2 positioned at the unloading position to the workpiece placement region 182. The ceramic chip capacitor sheet 2 carried out to the workpiece placement region 182 is conveyed to the placement surface of the suction chuck 132 constituting the chuck table 130 by the turning operation of the workpiece conveyance means 184, and as described above. After being positioned by contacting the two sides of the carrier substrate 3 with the three positioning pins 133, the carrier substrate 3 is sucked and held by the suction chuck 132. Thus, the chuck table 130 that sucks and holds the ceramic chip capacitor sheet 2 is moved to a position directly below the imaging mechanism 160.
[0016]
If the chuck table 130 is positioned immediately below the image pickup mechanism 160, the image pickup mechanism 160 takes an image of the alignment mark detection hole 5 formed in the alignment mark region 222 of the ceramic chip capacitor sheet 2 and cuts it (X-axis street). Further, the chuck table 130 is rotated 90 degrees, and the imaging mark 160 is used to image the alignment mark detection hole 5 to detect a cutting point (Y-axis street) (alignment process). The alignment information detected in this way is temporarily stored in a random access memory (RAM) of the control means 188. Next, the chuck table 130 is turned back by 90 degrees, and one spindle unit 140 is moved and adjusted in the direction of the arrow Y, which is the indexing direction, so that the cutting blade 143 and the cutting point (X-axis street) as shown in FIG. And precise positioning work. Thereafter, while rotating the cutting blade 143 in a predetermined direction, the chuck table 130 that sucks and holds the ceramic chip capacitor sheet 2 is moved in a direction indicated by an arrow X that is a cutting feed direction (a direction orthogonal to the rotation axis of the cutting blade 143). By moving, the ceramic chip capacitor sheet 2 held on the chuck table 130 is cut along the X-axis street (division step). That is, the cutting blade 143 is mounted on the spindle unit 140 that is moved and adjusted in the direction indicated by the arrow Y that is the indexing direction and the direction indicated by the arrow Z that is the cutting direction, and is rotationally driven. Is moved in the cutting feed direction along the lower side of the cutting blade 143, so that the ceramic chip capacitor sheet 2 held on the chuck table 130 is cut along the predetermined X-axis street by the cutting blade 143.
[0017]
As described above, when all the X-axis streets are cut, the chuck table 130 is rotated 90 degrees. An arrow indicating the direction in which the other spindle unit 150 is indexed based on the alignment information stored by detecting the cutting position (Y-axis street) of the ceramic chip capacitor sheet 2 by performing the alignment process in advance as described above. By adjusting the movement in the Y direction, as shown in FIG. 9, a precise alignment operation between the cutting blade 153 and the cutting point (Y-axis street) is performed. Thereafter, while the cutting blade 153 is rotated in a predetermined direction, the chuck table 130 holding the ceramic chip capacitor sheet 2 by suction is moved in the direction indicated by the arrow X which is the cutting feed direction, thereby being held on the chuck table 130. The ceramic chip capacitor sheet 2 is cut along the Y-axis street (division process).
[0018]
As described above, the ceramic chip capacitor sheet 2 is divided into individual chip capacitors by cutting along the X-axis street and the Y-axis street. The divided individual chip capacitors are not separated by the action of the tape 4, and the state of the ceramic chip capacitor sheet 2 supported by the carrier substrate 3 is maintained. After the cutting of the ceramic chip capacitor sheet 2 is completed in this way, the chuck table 130 holding the ceramic chip capacitor sheet 2 is first returned to the position where the ceramic chip capacitor sheet 2 is sucked and held. The suction holding of the sheet 2 is released. Next, the ceramic chip capacitor sheet 2 is transported to the cleaning means 185 by the cleaning transport means 186, where it is cleaned and dried. The ceramic chip capacitor sheet 2 cleaned in this way is carried out to the workpiece placement region 182 by the workpiece conveying means 184. Then, the ceramic chip capacitor sheet 2 is stored in a predetermined position of the cassette 181 by the workpiece unloading means 183.
[0019]
In the ceramic chip capacitor sheet dividing method described above, since the ceramic chip capacitor sheets 2 manufactured in the same lot have substantially the same chip array distortion, the alignment information detected first is randomly accessed by the control means 188. By temporarily storing in a memory (RAM) and performing the above-described dividing process of other ceramic chip capacitor sheets 2 manufactured in the same lot based on this alignment information, alignment work can be greatly shortened. it can. In addition, by using a multi-cutting blade as shown in FIG. 8 and FIG. 9 as a cutting blade and performing the dividing step, the cutting time is shortened, and a tape that becomes a separation layer even if wet cutting is performed. The dividing step can be completed before 4 absorbs moisture. In addition, when the dividing process is performed using a multi-cutting blade, the cutting group can be distinguished by offsetting the cutting base point as shown in FIG. 10, and the position of the region where the defective product is generated, that is, what number It is easy to grasp for each lot that a defective product is generated between the first and second cutting grooves, and quality control is facilitated.
[0020]
【The invention's effect】
According to the method for dividing a ceramic chip capacitor sheet according to the present invention, the alignment mark detection hole having a conical bottom surface is formed at a predetermined position in the alignment mark region of the ceramic chip capacitor sheet, and the alignment mark detection hole is exposed on the conical bottom surface. Since the cut portion is detected based on the alignment mark that has been extracted, the specified narrow area can be excavated dry, so that dust hardly scatters, dust processing is facilitated, and productivity is improved. In addition, since the detection hole forming process can be excavated by a dry method, when the ceramic chip capacitor sheet is disposed on the carrier substrate through the tape serving as the separation layer, the tape does not absorb moisture, and the ceramic The problem that the chip capacitor sheet floats from the carrier substrate is also eliminated.
In addition, according to the method for dividing a ceramic chip capacitor sheet according to the present invention, the cutting time is shortened by performing a dividing step using a multi-cutting blade as a cutting blade, and even if cutting is performed wet. The dividing step can be completed before the tape as the separation layer absorbs moisture. When the dividing process is performed using the multi-cutting blade, the cutting group can be distinguished by offsetting the cutting base point, and the position of the area where the defective product is generated, that is, the name from the number of the cutting grooves. It is easy to grasp for each lot that a defective product is generated between the number of cutting grooves, and quality control is facilitated.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a perspective view showing a part of a ceramic chip capacitor sheet divided by the dividing method of the present invention.
FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view taken along line AA in FIG.
3 is a perspective view showing a state in which a detection hole forming step has been performed on the ceramic chip capacitor sheet shown in FIG. 1. FIG.
FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view showing an embodiment of an alignment mark detection hole formed in a ceramic chip capacitor sheet by a detection hole forming step.
FIG. 5 is an enlarged cross-sectional view showing another embodiment of the alignment mark detection hole formed in the ceramic chip capacitor sheet by the detection hole forming step.
FIG. 6 is an enlarged view of the alignment mark detection hole as viewed from above.
FIG. 7 is a perspective view of a dicing apparatus for performing the method for dividing a ceramic chip capacitor sheet according to the present invention.
8 is an enlarged perspective view of a main part of a spindle unit for X-axis street cutting provided in the dicing apparatus shown in FIG.
9 is an enlarged perspective view of a main part of a spindle unit for Y-axis street cutting provided in the dicing apparatus shown in FIG.
FIG. 10 is an explanatory view showing a cutting base point in a ceramic chip capacitor sheet dividing step by the dicing apparatus shown in FIG. 7;
[Explanation of symbols]
2: Ceramic chip capacitor sheet 3: Carrier substrate 4: Tape 21: Raw ceramic layer 22: Electrode layer 221: Electrode region 221a: Electrode 222: Alignment mark region 222a: Alignment mark 5: Alignment mark detection hole 51: Conical convex surface 52: Conical concave surface 6: End mill 7: Drill 100: Dicing 120: Device housing 130: Chuck table 131: Suction chuck support 132: Suction chuck 133: Positioning pin 140: Spindle unit (for X-axis street cutting)
150: Spindle unit (for Y-axis street cutting)
160: Imaging mechanism 170: Display means 181: Cassette 182: Workpiece placement area 183: Workpiece unloading means 184: Workpiece conveyance means 185: Cleaning means 186: Cleaning conveyance means 188: Control means

Claims (1)

セラミックス層と、該セラミックス層の表面に形成され格子状に区画された複数個の電極を有する電極領域と該電極領域を囲撓し該電極の位置を示すアライメントマークを有するアライメントマーク領域とを備えた電極層とを交互に積層し、最上位層にセラミック層を積層して構成したセラミックスチップコンデンサーシートを格子状に区画された個々のチップコンデンサーに分割する分割方法であって、
該アライメントマーク領域の所定個所に底面が円錐形状のアライメントマーク検出孔を形成する検出孔形成工程と、
該検出孔形成工程によって形成された該アライメントマーク検出孔の円錐形状の底面に表出されたアライメントマークに基づいて切断個所を検出するアライメント工程と、
該アライメント工程によって検出された切断個所に基づいてセラミックスチップコンデンサーシートを切断して個々のチップコンデンサーに分割する分割工程と、を含み、
該分割工程は、複数個切削ブレードがチップコンデンサーの間隔と一致するように組み込まれたマルチ切削ブレードによって遂行され、セラミックスチップコンデンサーシートの切削すべき領域をマルチ切削ブレードで切削した後、次の切削すべき領域をマルチ切削ブレードで切削する際、切削基点をオフセットして切削を遂行する、
ことを特徴とするセラミックスチップコンデンサーシートの分割方法。
A ceramic layer, an electrode region having a plurality of electrodes formed on the surface of the ceramic layer and partitioned in a lattice shape, and an alignment mark region having an alignment mark that surrounds the electrode region and indicates the position of the electrode A method of dividing the ceramic chip capacitor sheet formed by alternately laminating the electrode layers and the ceramic layer on the uppermost layer into individual chip capacitors partitioned in a grid pattern,
A detection hole forming step of forming an alignment mark detection hole having a conical bottom surface at a predetermined position of the alignment mark region;
An alignment step of detecting a cutting point based on the alignment mark exposed on the conical bottom surface of the alignment mark detection hole formed by the detection hole forming step;
Seen including a dividing step of dividing into individual chip capacitor by cutting the ceramic chip capacitor sheet based on cutting point detected by said alignment step, a
The dividing step is performed by a multi-cutting blade in which a plurality of cutting blades are incorporated so as to coincide with the interval of the chip capacitor. After cutting a region to be cut of the ceramic chip capacitor sheet with the multi-cutting blade, the next cutting is performed. When cutting the area to be cut with a multi-cutting blade, the cutting base point is offset to perform cutting.
A method for dividing a ceramic chip capacitor sheet.
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