JP5693376B2 - Method for dividing ceramic chip capacitor sheet - Google Patents

Method for dividing ceramic chip capacitor sheet Download PDF

Info

Publication number
JP5693376B2
JP5693376B2 JP2011114915A JP2011114915A JP5693376B2 JP 5693376 B2 JP5693376 B2 JP 5693376B2 JP 2011114915 A JP2011114915 A JP 2011114915A JP 2011114915 A JP2011114915 A JP 2011114915A JP 5693376 B2 JP5693376 B2 JP 5693376B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cutting
alignment mark
chip capacitor
groove
capacitor sheet
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2011114915A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2012244057A (en
Inventor
珠貴 鈴木
珠貴 鈴木
成規 原田
成規 原田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Corp filed Critical Disco Corp
Priority to JP2011114915A priority Critical patent/JP5693376B2/en
Publication of JP2012244057A publication Critical patent/JP2012244057A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5693376B2 publication Critical patent/JP5693376B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Ceramic Capacitors (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Description

本発明は、セラミックスチップコンデンサシートを個々のチップコンデンサに分割するセラミックスチップコンデンサシートの分割方法に関する。   The present invention relates to a method for dividing a ceramic chip capacitor sheet in which a ceramic chip capacitor sheet is divided into individual chip capacitors.

セラミックスチップコンデンサシートは、セラミックス層と、セラミックス層の表面に形成され格子状に区画された複数個の電極を有する電極領域と該電極領域を囲繞し電極の位置を示すアライメントマークを有するアライメントマーク領域とを備えた電極層、とを交互に複数層(例えば200層程度)積層し、最上位にセラミックス層を積層して構成されている。   The ceramic chip capacitor sheet includes a ceramic layer, an electrode region having a plurality of electrodes formed on the surface of the ceramic layer and partitioned in a lattice pattern, and an alignment mark region having an alignment mark surrounding the electrode region and indicating the position of the electrode And a plurality of layers (for example, about 200 layers) are alternately stacked, and a ceramic layer is stacked on the uppermost layer.

このように構成されたセラミックスチップコンデンサシートは、最上位にセラミックス層が形成されているため、表面から電極の位置を確認することができないので、個々のチップコンデンサに分割するに際しては、何らかの方法で電極の位置を確認する必要がある。   Since the ceramic chip capacitor sheet thus configured has a ceramic layer formed on the uppermost layer, the position of the electrode cannot be confirmed from the surface. Therefore, when dividing into individual chip capacitors, some method is used. It is necessary to confirm the position of the electrode.

そこで、従来セラミックスチップコンデンサシートを分割する際には、先端がV形状に形成された所謂Vブレードでアライメントマーク領域を切削してV溝を形成し、V溝の側面に表出したアライメントマークを基に分割位置を検出していた(例えば、特開2004−39906号公報参照)。   Therefore, when the conventional ceramic chip capacitor sheet is divided, an alignment mark region is cut by a so-called V blade having a V-shaped tip to form a V groove, and the alignment mark exposed on the side surface of the V groove is formed. Based on this, the division position was detected (see, for example, JP-A-2004-39906).

分割位置検出後、先端がV形状でない通常の切削ブレードで検出した分割位置を切削して、セラミックスチップコンデンサシートを個々のチップコンデンサに分割していた。   After the division position was detected, the division position detected by a normal cutting blade whose tip was not V-shaped was cut to divide the ceramic chip capacitor sheet into individual chip capacitors.

特開2004−39906号公報JP 2004-39906 A

しかし、引用文献1に開示された方法では、Vブレードと通常のブレードとの二種類の切削ブレードが必要であり、アライメントマークを表出させた後、Vブレードから通常のブレードに交換する必要があるため、非常に手間がかかるという問題がある。代替案として、スピンドルを二つ備えた高価なデュアルダイサーを使用することも考えられるが、生産コストがかかるという問題がある。   However, the method disclosed in the cited document 1 requires two types of cutting blades, that is, a V blade and a normal blade. After the alignment mark is exposed, it is necessary to replace the V blade with a normal blade. Therefore, there is a problem that it is very time-consuming. As an alternative, it may be possible to use an expensive dual dicer having two spindles, but there is a problem that the production cost is high.

本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、スピンドルを一つ備えた通常の切削装置でも、容易にセラミックスチップコンデンサシートの分割が可能なセラミックスチップコンデンサシートの分割方法を提供することである。   The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide a ceramic chip capacitor sheet that can be easily divided even with a normal cutting device having one spindle. Is to provide a division method.

本発明によると、セラミックス層と、該セラミックス層の表面に形成され格子状に区画された複数個の電極を有する電極領域と該電極領域を囲繞し該電極の位置を示すアライメントマークを有するアライメントマーク領域とを備えた電極層とを交互に複数層積層し、最上位にセラミックス層を積層して構成したセラミックスチップコンデンサシートを格子状に区画された個々のチップコンデンサに分割するセラミックスチップコンデンサシートの分割方法であって、切削ブレードで該アライメントマーク領域を複数回切削して該切削ブレードの厚み以上の幅を有する切削溝を形成し、該切削溝の底部に該アライメントマークを表出させるアライメントマーク表出ステップと、該アライメントマーク表出ステップで表出された該アライメントマークに基づいて分割位置を検出するアライメントステップと、該アライメントステップで検出された該分割位置を該切削ブレードで切削して、セラミックスチップコンデンサシートを個々のチップコンデンサに分割する分割ステップと、を具備したことを特徴とするセラミックスチップコンデンサシートの分割方法が提供される。   According to the present invention, an alignment mark having a ceramic layer, an electrode region having a plurality of electrodes formed on the surface of the ceramic layer and partitioned in a lattice shape, and an alignment mark surrounding the electrode region and indicating the position of the electrode A ceramic chip capacitor sheet is formed by alternately laminating a plurality of electrode layers each having a region and laminating a ceramic chip capacitor sheet formed by laminating a ceramic layer on the uppermost layer into individual chip capacitors partitioned in a grid pattern. An alignment mark that is a dividing method, wherein the alignment mark region is cut a plurality of times with a cutting blade to form a cutting groove having a width greater than the thickness of the cutting blade, and the alignment mark is exposed at the bottom of the cutting groove. And the alignment marker expressed in the alignment mark exposing step. An alignment step for detecting a division position based on the chip, and a division step for dividing the ceramic chip capacitor sheet into individual chip capacitors by cutting the division position detected in the alignment step with the cutting blade. A method of dividing a ceramic chip capacitor sheet is provided.

好ましくは、前記アライメントマーク表出ステップは、前記アライメントマーク領域を前記切削ブレードで切削して第1切削溝を形成する第1切削ステップと、該第1切削ステップを実施した後、該第1切削溝から所定距離離れた位置を該切削ブレードで切削して該第1切削溝と平行な第2切削溝を形成するとともに、該第1切削溝と該第2切削溝との間に残存領域を形成する第2切削ステップと、該第2切削ステップを実施した後、該切削ブレードで該残存領域を切削して除去する第3切削ステップと、を含む。   Preferably, the alignment mark exposing step includes a first cutting step of cutting the alignment mark region with the cutting blade to form a first cutting groove, and the first cutting step after performing the first cutting step. A position apart from the groove by a predetermined distance is cut with the cutting blade to form a second cutting groove parallel to the first cutting groove, and a remaining region is formed between the first cutting groove and the second cutting groove. A second cutting step to be formed; and a third cutting step of cutting and removing the remaining region with the cutting blade after the second cutting step is performed.

本発明では、セラミックスチップコンデンサシートを個々のチップコンデンサへ分割する際に使用する切削ブレードで、アライメントマーク領域を複数回切削して切削ブレードの厚みより広い幅を有する切削溝を形成することで、切削溝の底部にアライメントマークを表出させ、アライメントを可能にした。   In the present invention, by cutting blades used when dividing the ceramic chip capacitor sheet into individual chip capacitors, by cutting the alignment mark region multiple times to form a cutting groove having a width wider than the thickness of the cutting blade, An alignment mark is exposed at the bottom of the cutting groove to enable alignment.

従って、一本のスピンドルを有する通常の切削装置でも容易にセラミックスチップコンデンサシートの分割が可能となる。   Therefore, it is possible to easily divide the ceramic chip capacitor sheet even with a normal cutting device having a single spindle.

請求項2記載の発明によると、アライメントマーク表出ステップで第1切削溝と第2切削溝の間に残存領域が残るようにしたので、切削ブレードの蛇行を防止することができる。   According to the second aspect of the present invention, since the remaining region remains between the first cutting groove and the second cutting groove in the alignment mark exposing step, the meandering of the cutting blade can be prevented.

本発明の分割方法を実施するのに適した切削装置の斜視図である。It is a perspective view of the cutting device suitable for implementing the division | segmentation method of this invention. セラミックスチップコンデンサシートの一部破断斜視図である。It is a partially broken perspective view of a ceramic chip capacitor sheet. 図2のA−A線断面図である。It is the sectional view on the AA line of FIG. アライメントマーク表出ステップを説明する平面図である。It is a top view explaining an alignment mark expression step. 第1実施形態のアライメントマーク表出ステップを説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the alignment mark exposure step of 1st Embodiment. 第2実施形態のアライメントマーク表出ステップを説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the alignment mark exposure step of 2nd Embodiment. 第3実施形態のアライメントマーク表出ステップを説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the alignment mark exposure step of 3rd Embodiment. アライメントステップを説明する平面図である。It is a top view explaining an alignment step. 分割ステップを説明する平面図である。It is a top view explaining a division step.

以下、本発明の実施形態を図面を参照して詳細に説明する。図1は、セラミックスチップコンデンサシートを切削して個々のチップコンデンサに分割することのできる切削装置2の外観を示している。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 shows the external appearance of a cutting device 2 that can cut a ceramic chip capacitor sheet and divide it into individual chip capacitors.

切削装置2の前面側には、オペレータが加工条件等の装置に対する指示を入力するための操作パネル4が設けられている。装置上部には、オペレータに対する案内画面や後述する撮像手段によって撮像された画像が表示されるCRT等の表示手段6が設けられている。   On the front side of the cutting apparatus 2, an operation panel 4 is provided for an operator to input instructions to the apparatus such as machining conditions. In the upper part of the apparatus, there is provided a display means 6 such as a CRT for displaying a guidance screen for an operator and an image taken by an imaging means described later.

図2に示すように、本発明のダイシング対象(切削対象)となるセラミックスチップコンデンサシート11は、ガラス板からなる矩形状のキャリア基板40の表面に分離層となるテープ42を介して搭載されている。   As shown in FIG. 2, a ceramic chip capacitor sheet 11 that is a dicing target (cutting target) of the present invention is mounted on a surface of a rectangular carrier substrate 40 made of a glass plate via a tape 42 that becomes a separation layer. Yes.

キャリア基板40上に搭載されたセラミックスチップコンデンサシート11はカセット8中に複数枚収容される。カセット8は上下動可能なカセットエレベータ9上に載置される。   A plurality of ceramic chip capacitor sheets 11 mounted on the carrier substrate 40 are accommodated in the cassette 8. The cassette 8 is placed on a cassette elevator 9 that can move up and down.

カセット8の後方にはカセット8から切削前のセラミックスチップコンデンサシート11を搬出するとともに、切削後のセラミックスチップコンデンサシート11をカセット8に搬入する搬出入手段10が配設されている。   A ceramic chip capacitor sheet 11 before cutting is unloaded from the cassette 8 and a loading / unloading means 10 for loading the ceramic chip capacitor sheet 11 after cutting into the cassette 8 is disposed behind the cassette 8.

カセット8と搬出入手段10との間には、搬出入対象のセラミックスチップコンデンサシート11が一時的に載置される領域である仮置き領域12が設けられており、仮置き領域12には、キャリア基板40上に搭載されたセラミックスチップコンデンサシート11を一定の位置に位置合わせする位置合わせ手段14が配設されている。   Between the cassette 8 and the loading / unloading means 10, a temporary placement area 12, which is an area on which the ceramic chip capacitor sheet 11 to be loaded / unloaded is temporarily placed, is provided. Positioning means 14 for positioning the ceramic chip capacitor sheet 11 mounted on the carrier substrate 40 at a certain position is provided.

仮置き領域12の近傍には、キャリア基板40上に搭載されたセラミックスチップコンデンサシート11を吸着して搬送する旋回アームを有する搬送手段16が配設されており、仮置き領域12に搬出されたセラミックスチップコンデンサシート11は、搬送手段16により吸着されてチャックテーブル18上に搬送される。   In the vicinity of the temporary placement area 12, a transport means 16 having a turning arm that sucks and transports the ceramic chip capacitor sheet 11 mounted on the carrier substrate 40 is disposed, and is transported to the temporary placement area 12. The ceramic chip capacitor sheet 11 is adsorbed by the conveying means 16 and conveyed onto the chuck table 18.

チャックテーブル18は、支持台20と、支持台20上に装着された矩形状の吸着チャック22と、吸着チャック22の二辺に沿って配設された三本の位置決めピン24を具備しており、吸着チャック22の表面である保持面上にキャリア基板40上に搭載されたセラミックスチップコンデンサシート11が載置される。   The chuck table 18 includes a support base 20, a rectangular suction chuck 22 mounted on the support base 20, and three positioning pins 24 arranged along two sides of the suction chuck 22. The ceramic chip capacitor sheet 11 mounted on the carrier substrate 40 is placed on the holding surface which is the surface of the suction chuck 22.

このとき、キャリア基板40の二辺を三本の位置決めピン24に当接することによってキャリア基板40が位置決めされ、図示しない吸引手段を作用させることによりセラミックスチップコンデンサシート11がキャリア基板40を介してチャックテーブル18の吸着チャック22により吸引保持される。   At this time, the carrier substrate 40 is positioned by bringing two sides of the carrier substrate 40 into contact with the three positioning pins 24, and the ceramic chip capacitor sheet 11 is chucked via the carrier substrate 40 by applying a suction means (not shown). It is sucked and held by the suction chuck 22 of the table 18.

チャックテーブル18は、回転可能且つX軸方向に往復動可能に構成されており、チャックテーブル18のX軸方向の移動経路の上方には、セラミックスチップコンデンサシート11の切削すべき位置を検出するアライメント手段26が配設されている。   The chuck table 18 is configured to be rotatable and reciprocally movable in the X-axis direction, and an alignment for detecting a position to be cut of the ceramic chip capacitor sheet 11 above the movement path of the chuck table 18 in the X-axis direction. Means 26 are provided.

アライメント手段26は、セラミックスチップコンデンサシート11の表面を撮像する撮像カメラ及び顕微鏡を有する撮像手段28を備えており、撮像により取得した画像に基づき、パターンマッチング等の画像処理によって切削すべき位置を検出することができる。撮像手段28によって取得された画像は、表示手段6に表示される。   The alignment means 26 includes an image pickup camera 28 that picks up an image of the surface of the ceramic chip capacitor sheet 11 and an image pickup means 28 having a microscope, and detects a position to be cut by image processing such as pattern matching based on an image acquired by image pickup. can do. The image acquired by the imaging unit 28 is displayed on the display unit 6.

アライメント手段26の左側には、チャックテーブル18に保持されたセラミックスチップコンデンサシート18に対して切削加工を施す切削手段30が配設されている。切削手段30はアライメント手段26と一体的に構成されており、両者が連動してY軸方向及びZ軸方向に移動する。   On the left side of the alignment means 26, a cutting means 30 for cutting the ceramic chip capacitor sheet 18 held on the chuck table 18 is disposed. The cutting means 30 is integrally formed with the alignment means 26, and both move in conjunction with each other in the Y-axis direction and the Z-axis direction.

切削手段30は、回転可能なスピンドル32の先端に切削ブレード34が装着されて構成され、Y軸方向及びZ軸方向に移動可能となっている。切削ブレード34は撮像手段28のX軸方向の延長線上に位置している。   The cutting means 30 is configured by attaching a cutting blade 34 to the tip of a rotatable spindle 32 and is movable in the Y-axis direction and the Z-axis direction. The cutting blade 34 is located on an extension line of the imaging means 28 in the X-axis direction.

切削加工の終了したセラミックスチップコンデンサシート11は、搬送手段36によってスピンナ洗浄ユニット38に搬送され、スピンナ洗浄ユニット38でスピン洗浄された後、スピン乾燥される。   The ceramic chip capacitor sheet 11 that has been subjected to the cutting process is transported to the spinner cleaning unit 38 by the transport means 36, spin-cleaned by the spinner cleaning unit 38, and then spin-dried.

図2に示すように、セラミックスチップコンデンサシート11は分離層となるテープ42を介してガラス製のキャリア基板40上に搭載されている。図2のA−A線断面である図3に示すように、キャリア基板40の表面に貼着されたテープ42上に生セラミックスが塗布され厚さ5μm程度の生セラミックス層13を形成し、この生セラミックス層13の表面に例えばパラジウム等の電極金属をスクリーン印刷して厚さ1μm程度の電極層15を形成する。   As shown in FIG. 2, the ceramic chip capacitor sheet 11 is mounted on a glass carrier substrate 40 with a tape 42 serving as a separation layer. As shown in FIG. 3 which is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG. 2, a raw ceramic is applied on a tape 42 attached to the surface of the carrier substrate 40 to form a raw ceramic layer 13 having a thickness of about 5 μm. An electrode metal 15 such as palladium is screen-printed on the surface of the raw ceramic layer 13 to form an electrode layer 15 having a thickness of about 1 μm.

この電極層15は、図2の破断部分に示すように、格子状に区画された複数個の電極17aを有する電極領域17と、電極領域17を囲繞し電極17aの位置を示すアライメントマーク19aを有する4個のアライメントマーク領域19とを備えている。   2, the electrode layer 15 includes an electrode region 17 having a plurality of electrodes 17a partitioned in a lattice pattern, and an alignment mark 19a surrounding the electrode region 17 and indicating the position of the electrode 17a. And four alignment mark regions 19.

このように形成された生セラミックス層13と電極層15を交互に200層程度積層し、最上位層に生セラミックス層13が形成されてセラミックスチップコンデンサシート11が構成されている。   The green ceramic layers 13 and the electrode layers 15 formed in this manner are alternately laminated by about 200 layers, and the green ceramic layer 13 is formed in the uppermost layer to constitute the ceramic chip capacitor sheet 11.

このように構成されたセラミックスチップコンデンサシート11を個々のチップコンデンサに分割するに際しては、電極17aの位置を検出する必要があるが、最上位層にセラミックス層13が形成されているため表面から電極17aの位置を確認することができない。   When dividing the thus configured ceramic chip capacitor sheet 11 into individual chip capacitors, it is necessary to detect the position of the electrode 17a. However, since the ceramic layer 13 is formed on the uppermost layer, the electrode is formed from the surface. The position of 17a cannot be confirmed.

そこで、本発明のセラミックスチップコンデンサシート11の分割方法では、切削ブレード34でアライメントマーク領域19を複数回切削して切削ブレード34の厚み以上の幅を有する切削溝を形成し、切削溝の底部にアライメントマーク19aを表出するアライメントマーク表出ステップを実施する。   Therefore, in the method for dividing the ceramic chip capacitor sheet 11 of the present invention, the alignment mark region 19 is cut a plurality of times by the cutting blade 34 to form a cutting groove having a width equal to or greater than the thickness of the cutting blade 34, and is formed at the bottom of the cutting groove. An alignment mark exposing step for exposing the alignment mark 19a is performed.

切削ブレード34を用いて切削溝を形成するに際しては、最上位層のセラミックス層13の表面に、電極層15のアライメントマーク領域19の両端部に対応する位置に2個のアライメントマーク21が形成されており、この2個のアライメントマーク21を検出して両者を結ぶ直線上を切削ブレード34で切削する。   When forming the cutting groove using the cutting blade 34, two alignment marks 21 are formed on the surface of the uppermost ceramic layer 13 at positions corresponding to both ends of the alignment mark region 19 of the electrode layer 15. The two alignment marks 21 are detected, and a straight line connecting the two alignment marks 21 is cut with a cutting blade 34.

最上位層のセラミックス層13にアライメントマーク21を設けるのは本発明の分割方法では必須ではなく、最上位層のセラミックス層13にアライメントマーク21が形成されていなくてもよい。この場合には、セラミックスチップコンデンサシート11の設計値に基づいて、切削ブレード34でアライメントマーク領域19を切削する。   The provision of the alignment mark 21 on the uppermost ceramic layer 13 is not essential in the dividing method of the present invention, and the alignment mark 21 may not be formed on the uppermost ceramic layer 13. In this case, the alignment mark region 19 is cut by the cutting blade 34 based on the design value of the ceramic chip capacitor sheet 11.

以下、切削装置2による本発明実施形態のセラミックスチップコンデンサシート11の分割方法について説明する。まず、キャリア基板40上に搭載されたセラミックスチップコンデンサシート11を複数枚収容したカセット8がカセットエレベータ9上に搭載される。次いで、カセットエレベータ9の上下動により搬出すべきセラミックスチップコンデンサシート11が搬出位置に位置付けられる。   Hereinafter, a method for dividing the ceramic chip capacitor sheet 11 of the embodiment of the present invention by the cutting device 2 will be described. First, the cassette 8 containing a plurality of ceramic chip capacitor sheets 11 mounted on the carrier substrate 40 is mounted on the cassette elevator 9. Next, the ceramic chip capacitor sheet 11 to be unloaded by the vertical movement of the cassette elevator 9 is positioned at the unloading position.

次いで、搬出入手段10によりカセット8内からセラミックスチップコンデンサシート11を搬出して仮置き領域12に載置する。仮置き領域12でキャリア基板40の位置合わせをした後、搬送手段16の旋回動作によってチャックテーブル18の吸着チャック22上にキャリア基板40上に搭載されたセラミックスチップコンデンサシート11を載置し、キャリア基板40の二辺を三本の位置決めピン24に当接することによってキャリア基板40を位置決めし、吸着チャック22によりキャリア基板40を吸引保持する。   Next, the ceramic chip capacitor sheet 11 is unloaded from the cassette 8 by the loading / unloading means 10 and placed in the temporary placement region 12. After the carrier substrate 40 is aligned in the temporary placement region 12, the ceramic chip capacitor sheet 11 mounted on the carrier substrate 40 is placed on the suction chuck 22 of the chuck table 18 by the turning operation of the transport means 16, and the carrier The carrier substrate 40 is positioned by bringing the two sides of the substrate 40 into contact with the three positioning pins 24, and the carrier substrate 40 is sucked and held by the suction chuck 22.

キャリア基板40を介してセラミックスチップコンデンサシート11を吸引保持したチャックテーブル18は、X軸方向に移動されて撮像手段28の直下に位置付けられる。チャックテーブル18が撮像手段28の直下に位置付けられたならば、撮像手段28により一つのアライメントマーク領域19に対応するセラミックスチップコンデンサシート11の表面を撮像し、該アライメントマーク領域に対応する2個のアライメントマーク21を検出し、それぞれの座標値を切削装置2のコントローラ2のメモリに格納する。   The chuck table 18 that sucks and holds the ceramic chip capacitor sheet 11 via the carrier substrate 40 is moved in the X-axis direction and positioned immediately below the imaging means 28. If the chuck table 18 is positioned immediately below the image pickup means 28, the image pickup means 28 picks up an image of the surface of the ceramic chip capacitor sheet 11 corresponding to one alignment mark area 19, and two pieces corresponding to the alignment mark area are obtained. The alignment mark 21 is detected, and each coordinate value is stored in the memory of the controller 2 of the cutting device 2.

次いで、検出した該2個のアライメントマーク21を結んだ直線がX軸方向に一致するようにチャックテーブル18を回転してから、切削ブレード34の延長線上に2個のアライメントマーク21を結んだ直線が一致するように切削ブレード34をY軸方向に移動する。   Next, after rotating the chuck table 18 so that the detected straight line connecting the two alignment marks 21 coincides with the X-axis direction, the straight line connecting the two alignment marks 21 on the extended line of the cutting blade 34. The cutting blade 34 is moved in the Y-axis direction so as to match.

次いで、切削ブレード34を回転させつつ、セラミックスチップコンデンサシート11を吸引保持したチャックテーブル18をX軸方向に切削送りすることにより、図4の拡大図に示すように、アライメントマーク領域19に第1切削溝23aを形成する。   Next, while rotating the cutting blade 34, the chuck table 18 that sucks and holds the ceramic chip capacitor sheet 11 is cut and fed in the X-axis direction, so that the first alignment mark area 19 is moved to the first alignment mark area 19 as shown in the enlarged view of FIG. A cutting groove 23a is formed.

次いで、図4及び図5に示すように、切削ブレード34で形成される切削溝が一部重なるように第2切削溝23b、第3切削溝23c、第4切削溝23d、第5切削溝23e、第6切削溝23fを形成し、これらの切削溝23a〜23fの全体で切削ブレード34の厚み以上の幅を有するアライメントマーク表出溝23を形成する。   Next, as shown in FIGS. 4 and 5, the second cutting groove 23b, the third cutting groove 23c, the fourth cutting groove 23d, and the fifth cutting groove 23e so that the cutting grooves formed by the cutting blade 34 partially overlap. Then, the sixth cutting groove 23f is formed, and the whole of the cutting grooves 23a to 23f is formed with the alignment mark exposing groove 23 having a width equal to or larger than the thickness of the cutting blade 34.

このように十分な幅を有するアライメントマーク表出溝23を形成することにより、アライメントマーク表出溝23の底部にアライメントマーク19aが表出される。   By forming the alignment mark exposing groove 23 having a sufficient width as described above, the alignment mark 19 a is exposed at the bottom of the alignment mark exposing groove 23.

このアライメントマーク表出ステップを電極領域17を囲繞して形成された4個のアライメントマーク領域19に実施することにより、各アライメントマーク表出溝23にアライメントマーク19aが表出する。   By performing this alignment mark exposing step on the four alignment mark regions 19 formed surrounding the electrode region 17, the alignment mark 19 a is exposed in each alignment mark exposing groove 23.

図6を参照すると、本発明第2実施形態のアライメントマーク表出ステップを説明する断面図が示されている。本実施形態のアライメントマーク表出ステップでは、まず図6(A)に示すように、各溝間に残存部25を設けて切削ブレード34でアライメントマーク領域19を切削して、全体でアライメントマーク表出溝幅23A´となる切削溝(1)〜(3)を形成する。   Referring to FIG. 6, there is shown a sectional view for explaining an alignment mark exposing step according to the second embodiment of the present invention. In the alignment mark exposing step of the present embodiment, first, as shown in FIG. 6A, the remaining portion 25 is provided between the grooves, and the alignment mark area 19 is cut by the cutting blade 34, so that the alignment mark table is entirely displayed. Cutting grooves (1) to (3) are formed to have a protruding groove width 23A '.

次いで、図6(B)に示すように、切削ブレード34で残存部25を切削して切削溝(4)及び(5)を形成し、全体でアライメントマーク表出溝23Aとする。この第2実施形態のアライメントマーク表出ステップによると、切削ブレード34の倒れを防止することができ、形成される切削溝の蛇行を防止することができる。   Next, as shown in FIG. 6B, the remaining portion 25 is cut by the cutting blade 34 to form the cutting grooves (4) and (5), which are used as the alignment mark exposing groove 23A as a whole. According to the alignment mark exposing step of the second embodiment, the cutting blade 34 can be prevented from falling down and meandering of the formed cutting groove can be prevented.

図7を参照すると、本発明第3実施形態のアライメントマーク表出ステップを説明する断面図が示されている。本実施形態のアライメントマーク表出ステップでは、まず図7(A)に示すように、残存部を残さないように切削ブレード34でアライメントマーク領域19を切削して切削溝(1)〜(3)を連続して形成する。図3(A)で23B´はアライメントマーク表出溝幅である。   Referring to FIG. 7, there is shown a sectional view for explaining the alignment mark exposing step of the third embodiment of the present invention. In the alignment mark exposing step of the present embodiment, first, as shown in FIG. 7A, the alignment mark region 19 is cut by the cutting blade 34 so as not to leave a remaining portion, and the cutting grooves (1) to (3). Are formed continuously. In FIG. 3 (A), 23B ′ is the alignment mark exposing groove width.

次いで、図7(B)に示すように、切削溝(1)と切削溝(2)の間に切削溝(4)を形成し、切削溝(2)と切削溝(3)の間に切削溝(5)を形成し、切削溝(3)に部分的に重なるように切削溝(6)を形成して、全体でアライメントマーク表出溝23Bとする。   Next, as shown in FIG. 7B, a cutting groove (4) is formed between the cutting groove (1) and the cutting groove (2), and cutting is performed between the cutting groove (2) and the cutting groove (3). A groove (5) is formed, a cutting groove (6) is formed so as to partially overlap the cutting groove (3), and the alignment mark exposing groove 23B is formed as a whole.

切削ブレード34は切削するにつれて先端にR形状が形成されるが、本実施形態のように切削することで、切削ブレード34の蛇行を防止できるとともに、アライメントマーク表出溝23Bの底面をより平坦にすることができる。   As the cutting blade 34 is cut, an R shape is formed at the tip. By cutting as in the present embodiment, meandering of the cutting blade 34 can be prevented and the bottom surface of the alignment mark exposing groove 23B can be made flatter. can do.

アライメントマーク表出ステップを実施した後、本発明の分割方法では、アライメントマーク表出ステップで表出されたアライメントマーク19aに基づいて分割位置を検出するアライメントステップを実施する。   After performing the alignment mark exposing step, in the dividing method of the present invention, the alignment step of detecting the dividing position based on the alignment mark 19a expressed in the alignment mark exposing step is performed.

このアライメントステップでは、チャックテーブル28を撮像手段28の直下に位置付ける。そして、上述したアライメントマーク表出ステップによってアライメントマーク表出溝23に表示されたアライメントマーク19aに基づいて、切削領域を設定するアライメントステップを実行する。   In this alignment step, the chuck table 28 is positioned directly below the imaging means 28. And based on the alignment mark 19a displayed on the alignment mark exposure groove | channel 23 by the alignment mark expression step mentioned above, the alignment step which sets a cutting area | region is performed.

即ち、撮像手段28で第1のアライメントマーク領域19を撮像して第1のアライメントマーク領域19の全てのアライメントマーク19aを検出してその座標値をメモリに格納する。   That is, the first alignment mark area 19 is imaged by the imaging means 28, all the alignment marks 19a in the first alignment mark area 19 are detected, and the coordinate values are stored in the memory.

次いで、第1のアライメントマーク領域19に対向する第2のアライメントマーク領域19を撮像手段28で撮像して第2のアライメントマーク領域19の全てのアライメントマーク19aを検出し、その座標値をメモリに格納する。   Next, the second alignment mark area 19 facing the first alignment mark area 19 is imaged by the imaging means 28 to detect all the alignment marks 19a in the second alignment mark area 19, and the coordinate values are stored in the memory. Store.

本実施形態のセラミックスチップコンデンサシート11では、隣接するアライメントマーク19aと19aの間を切削するため、第1のアライメントマーク領域19のアライメントマーク19aと、対向する第2のアライメントマーク領域19のアライメントマーク19aを検出したならば、第1番目(左端)のアライメントマーク19aを結ぶ直線を引き、この直線が切削ブレード34のX軸方向の延長線に一致するようにアライメントした後、隣接するアライメントマーク19aの間隔の1/2の位置を分割位置27に設定し、この分割位置27をメモリに格納する。   In the ceramic chip capacitor sheet 11 of the present embodiment, in order to cut between the adjacent alignment marks 19a and 19a, the alignment mark 19a in the first alignment mark area 19 and the alignment mark in the second alignment mark area 19 facing each other. If 19a is detected, a straight line connecting the first (leftmost) alignment mark 19a is drawn and aligned so that this straight line coincides with the extended line of the cutting blade 34 in the X-axis direction. A position that is ½ of the interval is set as the division position 27, and this division position 27 is stored in the memory.

第2番目のアライメントマーク19aについても同様な操作を実行して、分割位置27を検出し、この分割位置27をメモリに格納する。この操作を第1のアライメントマーク領域19と対向する第2のアライメントマーク領域19の全てのアライメントマーク19aについて実行して、第1の方向に伸長する分割位置27を設定する。   A similar operation is executed for the second alignment mark 19a to detect the division position 27 and store the division position 27 in the memory. This operation is executed for all the alignment marks 19a in the second alignment mark area 19 facing the first alignment mark area 19, and the division position 27 extending in the first direction is set.

次いで、チャックテーブル18を90度回転して、第3のアライメントマーク領域19と対向する第4のアライメントマーク領域19の全てのアライメントマーク19aについても同様な操作を実行して、第1の方向に伸長する分割位置27に直交する第2の方向に伸長する分割位置27を設定する。アライメントステップ終了後のセラミックスチップコンデンサシート11の平面図が図8に示されている。   Next, the chuck table 18 is rotated 90 degrees, and the same operation is performed on all the alignment marks 19a in the fourth alignment mark area 19 facing the third alignment mark area 19 in the first direction. A division position 27 that extends in a second direction orthogonal to the division position 27 that extends is set. A plan view of the ceramic chip capacitor sheet 11 after completion of the alignment step is shown in FIG.

アライメントステップ終了後、アライメントステップで検出された第1の方向に伸長する全ての分割位置27を切削ブレード34で切削して第1の方向に伸長する分割溝29を形成する。   After completion of the alignment step, all the division positions 27 extending in the first direction detected in the alignment step are cut by the cutting blade 34 to form the division grooves 29 extending in the first direction.

次いで、チャックテーブル18を90度回転してから、第2の方向に伸長する全ての分割位置27を切削ブレード34で切削して第2の方向に伸長する分割溝29を形成することにより、図9に示すように、セラミックスチップコンデンサシート11を個々のチップコンデンサへと分割する。   Next, after the chuck table 18 is rotated 90 degrees, all the dividing positions 27 extending in the second direction are cut by the cutting blade 34 to form the dividing grooves 29 extending in the second direction. As shown in FIG. 9, the ceramic chip capacitor sheet 11 is divided into individual chip capacitors.

上述した本発明実施形態の分割方法では、個々のチップコンデンサへの分割を行う切削ブレード34でアライメントマーク領域19を複数回切削して、切削ブレード34の厚みより広い幅を有するアライメントマーク表出溝23,23A,23Bを形成するようにしたので、アライメントマーク表出溝23,23A,23Bの底部にアライメントマーク19aを確実に表出させることができ、これらのアライメントマーク19aに基づいてアライメントを行うことができる。従って、図1に示したようなシングルスピンドルの切削装置2でも、容易にセラミックスチップコンデンサシート11の分割が可能となる。   In the dividing method of the embodiment of the present invention described above, the alignment mark region 19 is cut a plurality of times by the cutting blade 34 for dividing into individual chip capacitors, and the alignment mark exposing groove having a width wider than the thickness of the cutting blade 34. Since 23, 23A, and 23B are formed, the alignment mark 19a can be reliably exposed at the bottom of the alignment mark exposing grooves 23, 23A, and 23B, and alignment is performed based on these alignment marks 19a. be able to. Therefore, even with a single spindle cutting device 2 as shown in FIG. 1, the ceramic chip capacitor sheet 11 can be easily divided.

2 切削装置
11 セラミックスチップコンデンサシート
13 セラミックス層
15 電極層
17 電極領域
17a 電極
18 チャックテーブル
19 アライメントマーク領域
19a アライメントマーク
23,23A,23B アライメントマーク表出溝
23a〜23f 切削溝
25 残存部
27 分割位置
28 撮像手段
29 分割溝
34 切削ブレード
2 Cutting device 11 Ceramic chip capacitor sheet 13 Ceramic layer 15 Electrode layer 17 Electrode region 17a Electrode 18 Chuck table 19 Alignment mark region 19a Alignment mark 23, 23A, 23B Alignment mark display groove 23a-23f Cutting groove 25 Remaining portion 27 Dividing position 28 Imaging means 29 Dividing groove 34 Cutting blade

Claims (2)

セラミックス層と、該セラミックス層の表面に形成され格子状に区画された複数個の電極を有する電極領域と該電極領域を囲繞し該電極の位置を示すアライメントマークを有するアライメントマーク領域とを備えた電極層とを交互に複数層積層し、最上位にセラミックス層を積層して構成したセラミックスチップコンデンサシートを格子状に区画された個々のチップコンデンサに分割するセラミックスチップコンデンサシートの分割方法であって、
切削ブレードで該アライメントマーク領域を複数回切削して該切削ブレードの厚み以上の幅を有する切削溝を形成し、該切削溝の底部に該アライメントマークを表出させるアライメントマーク表出ステップと、
該アライメントマーク表出ステップで表出された該アライメントマークに基づいて分割位置を検出するアライメントステップと、
該アライメントステップで検出された該分割位置を該切削ブレードで切削して、セラミックスチップコンデンサシートを個々のチップコンデンサに分割する分割ステップと、
を具備したことを特徴とするセラミックスチップコンデンサシートの分割方法。
A ceramic layer, an electrode region having a plurality of electrodes formed on the surface of the ceramic layer and partitioned in a lattice shape, and an alignment mark region having an alignment mark surrounding the electrode region and indicating the position of the electrode A method of dividing a ceramic chip capacitor sheet, in which a plurality of electrode layers are alternately laminated, and a ceramic chip capacitor sheet formed by laminating ceramic layers on the uppermost layer is divided into individual chip capacitors partitioned in a grid pattern. ,
An alignment mark exposing step of cutting the alignment mark region a plurality of times with a cutting blade to form a cutting groove having a width equal to or greater than the thickness of the cutting blade, and exposing the alignment mark at the bottom of the cutting groove;
An alignment step of detecting a division position based on the alignment mark expressed in the alignment mark expressing step;
A division step of dividing the ceramic chip capacitor sheet into individual chip capacitors by cutting the division position detected in the alignment step with the cutting blade;
A method of dividing a ceramic chip capacitor sheet, comprising:
前記アライメントマーク表出ステップは、
前記アライメントマーク領域を前記切削ブレードで切削して第1切削溝を形成する第1切削ステップと、
該第1切削ステップを実施した後、該第1切削溝から所定距離離れた位置を該切削ブレードで切削して該第1切削溝と平行な第2切削溝を形成するとともに、該第1切削溝と該第2切削溝との間に残存領域を形成する第2切削ステップと、
該第2切削ステップを実施した後、該切削ブレードで該残存領域を切削して除去する第3切削ステップと、
を含む請求項1記載のセラミックスチップコンデンサシートの分割方法。
The alignment mark expression step includes:
A first cutting step of cutting the alignment mark region with the cutting blade to form a first cutting groove;
After performing the first cutting step, a position separated from the first cutting groove by a predetermined distance is cut by the cutting blade to form a second cutting groove parallel to the first cutting groove, and the first cutting A second cutting step for forming a remaining region between the groove and the second cutting groove;
After performing the second cutting step, a third cutting step of cutting and removing the remaining area with the cutting blade;
The method for dividing a ceramic chip capacitor sheet according to claim 1, comprising:
JP2011114915A 2011-05-23 2011-05-23 Method for dividing ceramic chip capacitor sheet Active JP5693376B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011114915A JP5693376B2 (en) 2011-05-23 2011-05-23 Method for dividing ceramic chip capacitor sheet

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011114915A JP5693376B2 (en) 2011-05-23 2011-05-23 Method for dividing ceramic chip capacitor sheet

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012244057A JP2012244057A (en) 2012-12-10
JP5693376B2 true JP5693376B2 (en) 2015-04-01

Family

ID=47465405

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011114915A Active JP5693376B2 (en) 2011-05-23 2011-05-23 Method for dividing ceramic chip capacitor sheet

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5693376B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6648690B2 (en) 2016-12-28 2020-02-14 株式会社村田製作所 Manufacturing method of multilayer electronic component and multilayer electronic component
JP6648689B2 (en) * 2016-12-28 2020-02-14 株式会社村田製作所 Manufacturing method of multilayer electronic component and multilayer electronic component

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3593887B2 (en) * 1998-06-17 2004-11-24 株式会社村田製作所 Manufacturing method and manufacturing apparatus for ceramic electronic components
JP3867499B2 (en) * 2001-01-05 2007-01-10 株式会社村田製作所 Dicing method for green ceramic body
JP3949934B2 (en) * 2001-10-31 2007-07-25 株式会社ディスコ Method for dividing ceramic chip capacitor sheet
JP3999584B2 (en) * 2002-07-04 2007-10-31 株式会社ディスコ Method for dividing ceramic chip capacitor sheet

Also Published As

Publication number Publication date
JP2012244057A (en) 2012-12-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5686545B2 (en) Cutting method
JP6408366B2 (en) Separation device and separation method
TWI603424B (en) Plate with alignment mark
JP6257291B2 (en) Processing method of package substrate
JP6061776B2 (en) Cutting groove detection method
JP5693376B2 (en) Method for dividing ceramic chip capacitor sheet
JP5373496B2 (en) Cutting groove detecting device and cutting machine
JP5589899B2 (en) Substrate dividing method and dividing apparatus
JP4654829B2 (en) Component mounting state inspection apparatus and method
JP6008419B2 (en) Component stacking accuracy measurement jig set, method of using the same, component stacking accuracy measuring device of component mounting machine, and method of producing three-dimensional mounting board
JP3999584B2 (en) Method for dividing ceramic chip capacitor sheet
JP2019096693A (en) Wafer processing method
JP2016160156A (en) Substrate processing device
JP5686542B2 (en) Detection method of line to be divided
JP2014096523A (en) Pickup method and pickup device
JP6037705B2 (en) Workpiece processing method
TWI575587B (en) Substrate cutting device and substrate cutting method
JP7162513B2 (en) processing equipment
JP4262171B2 (en) Semiconductor chip mounting apparatus and mounting method
JP7232077B2 (en) processing equipment
JP2013222835A (en) Method for dividing package substrate and dividing device
JP2020126873A (en) Alignment method
JP5829081B2 (en) Split method
JP3949934B2 (en) Method for dividing ceramic chip capacitor sheet
JP7431545B2 (en) Pick-up method, pick-up device, and test device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140416

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20141226

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150203

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150203

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5693376

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250