JP2003128132A - カバーテープ - Google Patents
カバーテープInfo
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Abstract
制したキャリアテープ体、それに用いられるカバーテー
プを提供するものである。すなわち、これまでのように
発生した静電気を効率よく拡散、除電させることから、
電子部品とその包材であるカバーテープの摩擦や剥離と
いった現象により生じる帯電現象を抑制することにより
静電気による電子部品破壊等の問題を解消しようとする
ものである。 【解決手段】本発明は電子部品を収納したキャリアテー
プ体において、カバーテープの電子部品に向く面が、電
子部品のカバーテープに向く面に対し帯電列のプラス側
に帯電しやすい樹脂とマイナス側に帯電しやすい樹脂を
含有するキャリアテープ体である。
Description
キャリアテープ体、それに用いられるカバーテープに関
する。
ポケット部に収納され、カバーテープによりシールし蓋
をされキャリアテープ体となり、組立部門にてカバーテ
ープが剥がされ使用される。電子部品の中でも半導体は
微細化に伴う素子単体の縮小化と酸化膜の薄膜化により
破壊電圧の低下が問題となっており、静電気による破壊
を受けやすくなっている。静電気はキャリアテープ体に
梱包後の運搬時における振動、摩擦等及び収納物を取出
す際のカバーテープの剥離により発生する。静電気から
半導体を保護するために、低湿度環境下(例えば相対湿
度20%)においても高い導電性を示す104から109
Ωの表面抵抗値を有するキャリアテープ体が使用されて
いる。これは、発生した静電気を抵抗値の低い包装材料
を用い効率よく逃がすというものである。
されることはまれであるが、これらは総じて小型軽量化
が進んでおり、カバーテープを剥がした際に静電気によ
り部品がカバーテープ側に付着し、エンボステープ側に
残らなくなり、組立作業の効率低下に繋がることが問題
視されている。そのため、発生した静電気を効率よく逃
がしカバーテープ側への付着を防ぐために、高い導電性
を有するエンボステープとカバーテープの組合せにて梱
包される場合が多々見受けられる。
る帯電現象そのものを抑制したキャリアテープ体、それ
に用いられるカバーテープを提供するものである。すな
わち、これまでのように発生した静電気を効率よく拡
散、除電させることから、電子部品とその包材であるカ
バーテープの摩擦や剥離といった現象により生じる帯電
現象を抑制することにより静電気による電子部品破壊等
の問題を解消しようとするものである。
したキャリアテープ体において、カバーテープの電子部
品に向く面が、電子部品のカバーテープに向く面に対し
帯電列のプラス側に帯電しやすい樹脂とマイナス側に帯
電しやすい樹脂を含有するキャリアテープ体である。
本発明のキャリアテープ体に用いられるカバーテープの
電子部品に向く面は、電子部品のカバーテープに向く面
に対し帯電列のプラス側に帯電しやすい樹脂とマイナス
側に帯電しやすい樹脂を含有する。帯電列とは、物質を
互いに摩擦しプラスに帯電しやすい物質からマイナスに
帯電しやすい物質までを順に並べたものである。物質の
帯電極性は摩擦する相手によって変わり、帯電列のプラ
ス側の物質とマイナス側の物質を擦り合わせると、プラ
ス側の物質がプラスに、マイナス側の物質がマイナスに
帯電する。この順位は化学ポテンシャルやフェルミ準位
により説明され、フェルミ準位の高いものが帯電列のプ
ラス側に、低いものがマイナス側となる。
との振動、摩擦等による静電気により帯電し、その電荷
が基盤等に実装される際リード線や半田ボールを伝い流
れると電流が生じ、ゲート酸化膜や層間配線間の絶縁膜
が短絡することにより熱破壊や絶縁膜破壊等のESD
(Electrostatic Discharge)
破壊が生じる。従って電子部品そのものを帯電させない
ことがESD破壊を避けるに重要である。
面はモールド樹脂といわれる、クレゾールノボラック系
やビスフェノールA系のエポキシ樹脂とフェノールノボ
ラック系の硬化剤が使用されている。これらモールド樹
脂の中には更に結晶性シリカ、溶融性シリカ等のフィラ
ーが加えられるのが通常である。その他エポキシ樹脂の
硬化反応を促進するためのイミダゾールやりん化合物で
ある硬化促進剤等が加えられる。またこのような低圧ト
ランスファー成形法の他にキャスティング法、コーティ
ング法、ディッピング法、ポッティング法、粉体塗装法
ではシリコーンやフェノール樹脂が用いられる。
場合、帯電列で挟み込むような位置にある樹脂として
は、帯電列のプラス側の樹脂としてポリスチレン系樹
脂、ポリカーボネート樹脂、アクリル系樹脂等があり、
帯電列のマイナス側の樹脂としてポリエチレン系樹脂、
ポリ塩化ビニル樹脂等がある。
ン、ハイインパクトポリスチレン、スチレン−ブタジエ
ンランダム共重合物、スチレン−ブタジエンブロック共
重合物、スチレン−イソプレン共重合物、またαメチル
スチレン等スチレンモノマー誘導体とスチレンモノマー
の共重合物、無水マレイン酸やアクリル酸モノマーユニ
ットをスチレンモノマーユニットの半分以下で有する共
重合物等も挙げられる。ポリカーボネート樹脂としては
エチルカーボネート、t−ブチルカーボネート、シクロ
ヘキシルカーボネート等の脂肪族系ポリカーボネートと
2,2−ビス(4−ヒドロキシフェニル)プロパンから
なるビスフェノールA型ポリカーボネート等芳香族系ポ
リカーボネートが挙げられる。アクリル系樹脂として
は、アクリル酸、メタクリル酸のメチレート、エチレー
ト、ブチレートおよび2−エチルブチル、2−エチルヘ
キシル、オクチル、メトキシエチル、エトキシエチル、
3−エトキシプロピル、ヘキシル、シクロヘキシル、デ
シル等のエステルやこれらの共重合体やエチレン酢酸ビ
ニル共重合体等が挙げられる。
ン、及びプロペン、ブテン、ヘキセンなどC3以上の側
鎖を有するエチレン−αオレフィン共重合体、超低密度
ポリエチレン、直鎖状低密度ポリエチレン等が挙げられ
る。
脂を含有するには前記のような方法のみならず、それら
の構造を有する共重合物やグラフト物を用いることによ
ってもよい。このような樹脂としては例えばスチレン鎖
をポリエチレン鎖にグラフト重合したようなグラフト共
重合物が挙げられる。
脂はその重量比が77:23〜23:77の範囲で好適
に使用することができる。その際に各種酸化防止剤等の
安定剤をその添加する目的の範疇の量で加えることにお
いては本発明に何ら影響を与えるものではない。勿論そ
れと従来からの方法である包材等の帯電から保護する表
面抵抗率を下げることを併用することも可能である。
部品に向く面と電子部品とを、300往復/分、振幅巾
5mmの振動を1分間行ったときの電子部品側の帯電圧
が±1000V以下であるカバーテープを用いる事が好
ましい。ここで電子部品とはキャリアテープ体に収納す
る電子部品、あるいはNEC社製28□MQFPであ
る。
ムの片面にイソシアネート系アンカーコート処理を施
し、厚み15μmとなるように溶融低密度ポリエチレン
を押出し、厚さ40μmのフィルムを得た。このフィル
ムのポリエチレン側に、表1に記載の樹脂を溶融押出し
により厚さ30μmとなるように積層した。
いたこと以外は、実施例と同様に行った。
面を上方に向け、除電気にて帯電圧を±0.03kVに
したNEC社製28□MQFPのリード線が上方を向く
ように載せ、振幅巾5mm、300往復/分の振動を1
分間行った後、絶縁体のピンセットにて電子部品を取り
出し帯電圧の測定(非接触にてキーエンス社製帯電圧測
定器SK200による)をn=10にて行った。表には
測定平均の絶対値を記した。
以下の通りである。 スチレン−ブタジエンランダム共重合体:デンカクリア
レン(スチレン含量85wt%) C6直鎖状低密度ポリエチレン:日本ポリケム社製カー
ネルKC570S エチレン−グラフトスチレン重合体:日本油脂社製モデ
ィパーA1100(エチレン含量70wt%) エチレン−エチルアクリレート:日本ユニカー社製NU
C6221 低密度ポリエチレン:東ソー社製ペトロセン203 ハイインパクトポリスチレン:デンカHIE6(スチレ
ン含量92wt%) エチレン−酢酸ビニル共重合体:日本ユニカー社製NU
C3750
カバーテープが摩擦したり剥離したりする際に電子部品
そのものが帯電することを低減すると共に、電子部品の
静電気破壊を防止することが出来る。
Claims (2)
- 【請求項1】カバーテープの電子部品に向く面が、電子
部品のカバーテープに向く面に対し帯電列のプラス側に
帯電しやすい樹脂とマイナス側に帯電しやすい樹脂を含
有するキャリアテープ体。 - 【請求項2】カバーテープの電子部品に向く面と電子部
品とを、300往復/分、振幅巾5mmの振動を1分間
行ったときの電子部品側の帯電圧が±1000V以下で
あるカバーテープである請求項1のキャリアテープ体。
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2001
- 2001-10-16 JP JP2001317981A patent/JP3789343B2/ja not_active Expired - Lifetime
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