JP2003109999A - Substrate treatment device - Google Patents

Substrate treatment device

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JP2003109999A
JP2003109999A JP2001303703A JP2001303703A JP2003109999A JP 2003109999 A JP2003109999 A JP 2003109999A JP 2001303703 A JP2001303703 A JP 2001303703A JP 2001303703 A JP2001303703 A JP 2001303703A JP 2003109999 A JP2003109999 A JP 2003109999A
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JP
Japan
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boat
substrate
wafer
cassette
substrate transfer
Prior art date
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Pending
Application number
JP2001303703A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Ikuhiro Maeda
育寛 前田
Masashi Yoneda
昌司 米田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Kokusai Electric Inc
Original Assignee
Hitachi Kokusai Electric Inc
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Publication date
Application filed by Hitachi Kokusai Electric Inc filed Critical Hitachi Kokusai Electric Inc
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent the breakage of a wafer and turn-over of boat and cassette in advance by stopping a substrate transfer device before such accident occurs in case when a substrate placement plate is brought into contact with the wafer, boat and cassette. SOLUTION: This substrate treatment device is provided with a substrate transfer device 1 that is provided with a substrate placement plate 11 to place a substrate 21, and it is also provided with an collision sensor 13 to detect any vibration during collision of the substrate transfer device.

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は半導体ウェーハ等の
基板に薄膜を生成し、或は不純物の拡散等の処理をして
半導体装置を製造する基板処理装置、特に基板を基板保
持具により所定枚数保持して処理するバッチ式の基板処
理装置に関するものである。 【0002】 【従来の技術】基板を処理する反応炉として、縦型炉を
有するバッチ式の基板処理装置では、基板保持具である
ボートに半導体ウェーハ例えばシリコンウェーハが水平
姿勢で多段に保持され、前記ボートが前記反応炉に装入
され、該反応炉内に処理ガスが導入され、更に加熱され
て所要の処理がなされる。 【0003】前記ボートに対し、前記反応炉から引出さ
れた状態での未処理ウェーハの装填、基板処理後前記反
応炉から引出された状態での処理済ウェーハの払出し
は、基板移載機によってなされる。該基板移載機は基板
処理装置外部より搬入され、基板処理装置内に収納され
たカセットと前記ボート間でウェーハの移載を行うもの
であり、ウェーハの移載を行う為に進退、昇降、回転す
る機能を有している。 【0004】前記ボート、カセットはウェーハの周縁を
支持する為の溝が所要ピッチで形成されており、前記基
板移載機は前記ボート、カセットの溝に対してウェーハ
の装填、払出しを行う様になっている。 【0005】即ち、前記ボート、カセットにウェーハを
装填する場合は、基板載置プレートにウェーハを載せ、
回転して前記ボート、カセットに正対し、前記基板載置
プレートを前記ボート、カセットの溝に挿入し、若干降
下して、ウェーハを前記ボート、カセットの溝に移載す
る。又、該ボート、カセットからウェーハを払出す場合
は、目的とするウェーハに接触しない様に、僅かに下方
位置から基板載置プレートを前記ボート、カセットに挿
入し、更に若干上昇して基板載置プレートにウェーハを
載置し、後退する。 【0006】 【発明が解決しようとする課題】上記した前記ボート、
カセットの製作誤差で、ウェーハの保持位置に誤差を生
じている場合、或はウェーハに反りがある場合、ウェー
ハの移載動作中に該ウェーハと前記基板載置プレートと
が接触する場合がある。 【0007】又、基板移載機に所定の動作をさせる為
に、オペレータがウェーハの位置を装置に記憶させるテ
ィーチング作業があるが、このティーチング作業での作
業ミスでウェーハと基板載置プレートとの接触が発生す
ることもある。 【0008】ウェーハと基板載置プレートが、僅かに接
触する場合では、ウェーハが浮上がる等して結果的に接
触による不具合は生じないが、場合によっては前記ウェ
ーハと前記基板載置プレートとの接触により、ウェーハ
が破損したり、基板移載機がボート、カセットを倒して
しまうことも考えられる。 【0009】ウェーハが破損し、更にボート、カセット
が転倒した場合は、基板処理装置が停止すると共に破損
したウェーハの処理、転倒したボート、カセットの処理
に多大な時間を要し、基板処理装置の稼働率を大幅に低
下させるという問題があった。 【0010】本発明は斯かる実情に鑑み、基板載置プレ
ートがウェーハ、ボート、カセットに接触した場合、ウ
ェーハが破損し、或はボート、カセットが転倒する前に
基板移載機を停止させ、ウェーハの破損事故、ボート、
カセットの転倒事故を未然に防いで基板処理装置の稼働
率を向上させるものである。 【0011】 【課題を解決するための手段】本発明は、基板を載置す
る基板載置プレートを有する基板移載機を具備する基板
処理装置に於いて、前記基板移載機に衝突時の振動を検
知する衝突センサを設けた基板処理装置に係るものであ
る。 【0012】 【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態を説明する。 【0013】図1〜図3は本実施の形態の要部を示して
おり、基板移載機1とボート2との関連を示し、基板処
理装置を構成する他の装置、反応炉、カセットを収納す
るカセット棚等は省略している。 【0014】前記基板移載機1は筐体3に前記ボート2
と対向する様に立設され、該ボート2は図示しないボー
トエレベータに昇降可能に支持されている。前記ボート
2の上方に反応炉(図示せず)が立設され、前記ボート
エレベータの昇降により前記ボート2が反応炉に対して
装入、引出しされる様になっている。 【0015】前記基板移載機1について略述する。 【0016】前記筐体3の底板4に鉛直ガイド5が立設
され、該鉛直ガイド5に昇降ステージ6が回転可能に設
けられ、該昇降ステージ6は前記鉛直ガイド5の上端に
設けられた昇降モータ7により回転されるスクリューロ
ッド(図示せず)を介して昇降可能となっている。 【0017】前記昇降ステージ6には回転ステージ8が
回転可能に設けられ、該回転ステージ8には水平方向に
進退可能な進退ユニット9が設けられている。該進退ユ
ニット9には基板載置プレート11がプレートホルダ1
2を介して支持されている。又、前記進退ユニット9は
装置のシステム構成に対応し、所要枚数の前記基板載置
プレート11を支持可能であり、該基板載置プレート1
1が複数枚の場合(図示では5枚)では前記プレートホ
ルダ12は個々に昇降可能となっており、更に前記基板
載置プレート11のピッチが可変となっている。 【0018】最上段の前記プレートホルダ12には衝突
センサ13が固着されている。該衝突センサ13は前記
基板載置プレート11が障害物と接触した場合等、所定
値以上の振動を検知した場合に信号を発するものであ
る。 【0019】前記ボート2は前記ボートエレベータから
水平に延びる昇降アーム14にボートキャップ15を介
して載置されている。 【0020】前記ボート2は底板16から上方に延びる
3本の支柱18に天板17が支持され、前記支柱18に
刻設された溝にウェーハ21が装填される様になってい
る。 【0021】前記ボート2に対する前記ウェーハ21の
装填、払出しは前記ボート2が降下した状態で行われ
る。 【0022】ボート傾き検出器22が前記筐体3の構成
部材23(例えばクリーンユニットの枠体等)に支持金
具24を介して取付けられている。前記ボート傾き検出
器22は降下した状態の前記ボート2の前記天板17と
同じレベルの高さに位置し、更に前記基板載置プレート
11の基板移載動作方向の延長上に位置している。 【0023】前記ボート傾き検出器22は前記ボート2
が所定量傾斜した時に作動する様になっており、前記基
板載置プレート11が前記ウェーハ21又はボート2に
接触して傾斜した場合に該ボート2が傾斜したことを検
知する。 【0024】前記ボート傾き検出器22について説明す
る。 【0025】L字状のスライド金具25が螺子26によ
り、垂直部が前記ボート2側となる様に前記支持金具2
4に固定される。前記螺子26が貫通する孔は前記ボー
ト2の中心に向って長孔となっており、前記スライド金
具25は前記ボート2に対して近接離反方向に位置調整
可能となっている。前記垂直部のボート2側には当て板
31が取付けられ、該当て板31の前記ボート2側面は
前記天板17と同半径の円弧面となっている。 【0026】前記スライド金具25にマイクロスイッチ
27が取付けられ、該マイクロスイッチ27は作動レバ
ー28の前記ボート2の中心方向の変位で作動する様に
なっている。前記スライド金具25の垂直部、前記当て
板31を貫通してピン29が前記ボート2の半径方向に
摺動自在に設けられ、該ピン29は図示しないスプリン
グ等により前記ボート2の中心側に向って付勢されてお
り、前記ピン29の一端は前記ボート2の所定位置、図
3では前記支柱18の上端部に対して僅かな隙間、例え
ば2mm、を明けて設けられ、他端は前記作動レバー28
に当接している。 【0027】而して、前記ボート2が傾き前記天板17
が前記当て板31に当接すると、前記ピン29が前記天
板17により押されて変位し、前記ピン29の変位で前
記作動レバー28が回転し前記マイクロスイッチ27が
動作する様になっている。尚、前記当て板31は前記天
板17に同曲率の面で当接するので、局部的に衝撃力が
作用することがない。又、前記ボート2は反応炉から引
出された状態では高温となっているので、前記当て板3
1の材質としては、緩衝作用のある弗化樹脂等の耐熱合
成樹脂とするのが好ましい。又、前記スライド金具25
を、前記マイクロスイッチ27を収納する様箱形とし、
材質を断熱性の高いものを選択することで、遮熱部材と
しても機能させることができる。 【0028】前記衝突センサ13は前記プレートホルダ
12に取付けられるものであればどの様なものでもよい
が、本実施の形態では、薄型の衝突センサ13である2
軸加速度センサをシングルICチップに集積したものを
使用している。即ち、シリコンウェーハ上に差動コンデ
ンサ回路を形成し、シリコンウェーハのポリシリコン層
をスプリングとして機能させたものであり、振動が作用
した場合に差動コンデンサ回路から出力される波形、位
相を基に振動(加速度)の大きさ、方向を検出するもの
である。 【0029】次に、前記基板移載機1を駆動する場合、
基板移載機1の駆動源であるモータが回転することで振
動が発生する。従って、前記基板移載機1が正常に動作
している場合に発生する振動と前記基板載置プレート1
1とボート2、ウェーハ21とが衝突した場合に発生す
る振動とを識別する必要がある。識別方法としては、前
記基板移載機1が正常に動作した場合の振動周期と、衝
突して発生する振動周期とは異なるので振動周期(周波
数)により判断する方法。又、前記基板移載機1が正常
に動作した場合の振動の振幅(大きさ)と衝突した場合
の振動の振幅(大きさ)とは当然異なり、振幅の大きさ
で識別する方法とがある。 【0030】本実施の形態では、精度、信頼性を向上す
る為、振動周期と振幅とで識別している。即ち、振動周
波数の閾値、振幅の閾値を設定する。 【0031】前記基板移載機1の動作時の振動周波数は
モータの回転に基づくものであり、比較的低く150Hz
〜300Hz程度であり、衝突時の振動周波数は構成部材
の弾性振動に基づくものであり、比較的高く700Hz〜
900Hzに達する。従って、振動周波数の閾値は300
Hzから700Hzの間の値としている。又、前記基板移載
機1が動作する時に発生する振動の大きさは、0.2G
程度であり、衝突時に発生する振動の大きさは0.7G
以上である。従って、振動の大きさの閾値は0.2G〜
0.7Gの間に設定する。 【0032】前記衝突センサ13は検出した振動が、振
動周波数、振動の大きさ共に閾値を越えている場合に、
「衝突」の信号を出力する。尚、信号処理を容易にする
為、該衝突センサ13自体で、信号処理を行い、該衝突
センサ13から出力されるものは衝突の有無の2値信号
としている。 【0033】図4に本実施の形態の制御系の概略を示
す。 【0034】図中、33は基板処理装置の主制御装置、
34は前記基板移載機1を駆動制御する駆動制御部、3
5はモニタである。 【0035】前記主制御装置33からの指令に基づき前
記駆動制御部34が前記基板移載機1を動作させ、前記
ウェーハ21の移載を行わせる。又、前記衝突センサ1
3からは衝突した場合、検知した振動に基づき衝突の信
号を前記駆動制御部34に発する。又、前記ボート傾き
検出器22は前記ボート2が傾斜して前記マイクロスイ
ッチ27が動作した場合にボート傾斜の信号を前記駆動
制御部34に発する。 【0036】以下、作動について説明する。 【0037】図示しないウェーハカセットから前記基板
載置プレート11にウェーハ21を受載し、前記昇降ス
テージ6の昇降、前記回転ステージ8の回転、前記進退
ユニット9の進退の協働により、前記基板載置プレート
11のウェーハ21を前記ボート2に移載する。 【0038】予定した枚数のウェーハ21が前記ボート
2に装填されると、図示しないボートエレベータにより
前記ボート2が反応炉(図示せず)に装入され、所要の
処理がなされる。 【0039】処理後前記ボート2が引出され、処理済の
ウェーハ21が前記基板移載機1によりウェーハカセッ
トに払出される。 【0040】上記基板移載機1によるウェーハ21の移
載動作で、前記基板載置プレート11が前記ボート2に
衝突し、或は該ボート2に装填されたウェーハ21に衝
突すると、前記衝突センサ13が衝突時の振動を検知
し、前記駆動制御部34に信号を発する。又、前記ボー
ト傾き検出器22は衝突により前記ボート2が傾斜した
場合に動作し前記駆動制御部34に信号を発する。該駆
動制御部34は、前記衝突センサ13、ボート傾き検出
器22の少なくとも1つから信号が入力されると、前記
基板移載機1を直ちに停止し、ウェーハ21の破損、ボ
ート2の転倒を防止する。更に、衝突したこと、ボート
2が傾斜したこと、前記基板移載機1を停止したことは
前記主制御装置33に入力する。該主制御装置33はこ
れら情報について前記モニタ35に表示し、オペレータ
に状況を知らせる。 【0041】尚、上記ボート傾き検出器22は衝突に限
らず、ボートの設置が正確でなく傾いていた場合でも傾
斜を検出することは言う迄もない。又、前記衝突センサ
13は各基板載置プレート11それぞれに設けてもよ
い。又、前記衝突センサ13の設ける位置も前記プレー
トホルダ12に限らず衝突時の振動を検知し得る位置で
あればよい。 【0042】 【発明の効果】以上述べた如く本発明によれば、基板を
載置する基板載置プレートを有する基板移載機を具備す
る基板処理装置に於いて、前記基板移載機に衝突時の振
動を検知する衝突センサを設けたので、接触した時点で
直ちに基板移載機を停止することができ、ボートを倒し
たり、ウェーハを損傷させることが防止されるという優
れた効果を発揮する。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate processing apparatus for producing a semiconductor device by forming a thin film on a substrate such as a semiconductor wafer or performing a process such as diffusion of impurities. More particularly, the present invention relates to a batch type substrate processing apparatus for processing a substrate by holding a predetermined number of substrates with a substrate holder. 2. Description of the Related Art In a batch type substrate processing apparatus having a vertical furnace as a reaction furnace for processing a substrate, semiconductor wafers, for example, silicon wafers are held in multiple stages in a horizontal posture on a boat as a substrate holder. The boat is charged into the reactor, a processing gas is introduced into the reactor, and the boat is further heated to perform required processing. [0003] Loading of unprocessed wafers in the state of being pulled out of the reactor and loading of processed wafers in the state of being pulled out of the reactor after substrate processing is performed by the substrate transfer machine. You. The substrate transfer machine is carried in from the outside of the substrate processing apparatus, and transfers a wafer between the cassette and the boat housed in the substrate processing apparatus. It has the function of rotating. [0004] The boat and the cassette are formed with grooves for supporting the peripheral edge of the wafer at a required pitch, and the substrate transfer machine loads and unloads wafers from and into the grooves of the boat and the cassette. Has become. That is, when loading a wafer into the boat or cassette, the wafer is placed on a substrate mounting plate,
The wafer is rotated to face the boat and the cassette, and the substrate mounting plate is inserted into the groove of the boat and the cassette. The wafer is slightly lowered, and the wafer is transferred to the groove of the boat and the cassette. When unloading wafers from the boat or cassette, insert the substrate mounting plate into the boat or cassette from a slightly lower position so as not to come into contact with the target wafer. The wafer is placed on the plate and retracted. [0006] The above-mentioned boat,
When an error occurs in the wafer holding position due to a manufacturing error of the cassette, or when the wafer is warped, the wafer may come into contact with the substrate mounting plate during the wafer transfer operation. In order to cause the substrate transfer device to perform a predetermined operation, there is a teaching operation in which the operator stores the position of the wafer in the apparatus. However, an error in the teaching operation causes the wafer and the substrate mounting plate to move between the wafer and the substrate mounting plate. Contact may also occur. In the case where the wafer and the substrate mounting plate are slightly in contact with each other, no problem occurs due to the contact as a result of the wafer being lifted. However, in some cases, the contact between the wafer and the substrate mounting plate may occur. As a result, it is conceivable that the wafer may be damaged, or the substrate transfer machine may defeat the boat or the cassette. If the wafer is damaged and the boat or cassette falls over, the substrate processing apparatus stops and the processing of the damaged wafer and the falling boat and cassette take a great amount of time. There was a problem that the operating rate was significantly reduced. The present invention has been made in view of such circumstances, and when a substrate mounting plate comes into contact with a wafer, a boat, or a cassette, the wafer is damaged or the substrate transfer machine is stopped before the boat or the cassette falls, Wafer damage accident, boat,
An object of the present invention is to prevent the cassette from falling over and improve the operation rate of the substrate processing apparatus. According to the present invention, there is provided a substrate processing apparatus provided with a substrate transfer machine having a substrate mounting plate on which a substrate is mounted. The present invention relates to a substrate processing apparatus provided with a collision sensor for detecting vibration. Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIGS. 1 to 3 show a main part of the present embodiment, showing the relationship between a substrate transfer machine 1 and a boat 2, and including other devices, a reaction furnace, and a cassette constituting a substrate processing apparatus. The cassette shelves and the like to be stored are omitted. The substrate transfer machine 1 includes a housing 3 and the boat 2
The boat 2 is supported by a boat elevator (not shown) so as to be able to move up and down. A reaction furnace (not shown) is erected above the boat 2, and the boat 2 is inserted into and pulled out of the reaction furnace by raising and lowering the boat elevator. The substrate transfer machine 1 will be briefly described. A vertical guide 5 is provided upright on the bottom plate 4 of the housing 3, and an elevating stage 6 is rotatably provided on the vertical guide 5. The elevating stage 6 is provided at an upper end of the vertical guide 5. It can be moved up and down via a screw rod (not shown) rotated by the motor 7. The elevating stage 6 is provided with a rotatable stage 8 rotatably, and the rotatable stage 8 is provided with an advancing / retreating unit 9 capable of moving in a horizontal direction. The forward / backward unit 9 includes the substrate mounting plate 11 and the plate holder 1.
2 are supported. The advance / retreat unit 9 corresponds to the system configuration of the apparatus, and can support a required number of the substrate mounting plates 11.
When there are a plurality of sheets 1 (five sheets in the figure), the plate holders 12 can be individually raised and lowered, and the pitch of the substrate mounting plate 11 is variable. A collision sensor 13 is fixed to the uppermost plate holder 12. The collision sensor 13 emits a signal when a vibration of a predetermined value or more is detected, for example, when the substrate mounting plate 11 comes into contact with an obstacle. The boat 2 is mounted via a boat cap 15 on a lifting arm 14 extending horizontally from the boat elevator. In the boat 2, a top plate 17 is supported by three columns 18 extending upward from a bottom plate 16, and a wafer 21 is loaded into a groove formed in the column 18. The loading and unloading of the wafers 21 from and to the boat 2 are performed while the boat 2 is lowered. A boat tilt detector 22 is attached to a constituent member 23 of the housing 3 (for example, a frame of a clean unit) via a support 24. The boat tilt detector 22 is located at the same level as the top plate 17 of the boat 2 in a lowered state, and is further positioned on an extension of the substrate mounting operation direction of the substrate mounting plate 11. . The boat tilt detector 22 is connected to the boat 2
Is activated when it is tilted by a predetermined amount, and detects that the boat 2 has tilted when the substrate mounting plate 11 is tilted by contact with the wafer 21 or the boat 2. The boat tilt detector 22 will be described. The L-shaped slide member 25 is screwed by the support member 2 so that the vertical portion is on the boat 2 side.
Fixed to 4. The hole through which the screw 26 passes is elongated toward the center of the boat 2, and the position of the slide fitting 25 can be adjusted in the direction of approaching and separating from the boat 2. A contact plate 31 is attached to the boat 2 side of the vertical portion, and the side surface of the boat 2 of the plate 31 is an arc surface having the same radius as the top plate 17. A micro switch 27 is mounted on the slide fitting 25, and the micro switch 27 is operated by a displacement of an operation lever 28 in the direction of the center of the boat 2. A pin 29 is provided slidably in the radial direction of the boat 2 through the vertical portion of the slide fitting 25 and the backing plate 31, and the pin 29 is directed toward the center of the boat 2 by a spring (not shown) or the like. One end of the pin 29 is provided at a predetermined position of the boat 2, in FIG. 3, with a slight gap, for example, 2 mm, from the upper end of the support column 18. Lever 28
Is in contact with The boat 2 tilts and the top plate 17
When the pin abuts against the backing plate 31, the pin 29 is pushed and displaced by the top plate 17, and the displacement of the pin 29 causes the operation lever 28 to rotate and the micro switch 27 to operate. . Since the abutment plate 31 abuts on the top plate 17 with the same curvature, no impact force acts locally. Also, since the boat 2 is hot when pulled out of the reaction furnace,
As the material of (1), it is preferable to use a heat-resistant synthetic resin such as a fluorinated resin having a buffering action. Also, the slide fitting 25
Into a box shape to accommodate the microswitch 27,
By selecting a material having a high heat insulating property, the material can also function as a heat shielding member. The collision sensor 13 may be of any type as long as it can be attached to the plate holder 12. In this embodiment, the collision sensor 13 is a thin type.
An axial acceleration sensor integrated on a single IC chip is used. That is, a differential capacitor circuit is formed on a silicon wafer, and the polysilicon layer of the silicon wafer functions as a spring. Based on the waveform and phase output from the differential capacitor circuit when a vibration is applied, It detects the magnitude and direction of vibration (acceleration). Next, when driving the substrate transfer machine 1,
Vibration is generated by rotation of a motor that is a driving source of the substrate transfer machine 1. Therefore, the vibration generated when the substrate transfer machine 1 is operating normally and the substrate mounting plate 1
It is necessary to identify the vibration generated when the boat 1 collides with the boat 2 and the wafer 21. As an identification method, a vibration cycle when the substrate transfer machine 1 operates normally and a vibration cycle generated by collision differ from each other, and thus the method is determined based on the vibration cycle (frequency). Further, the amplitude (magnitude) of the vibration when the substrate transfer device 1 operates normally and the amplitude (magnitude) of the vibration when the substrate transfer machine 1 collides are naturally different, and there is a method of identifying the amplitude based on the amplitude. . In the present embodiment, in order to improve the accuracy and reliability, the vibration period and the amplitude are identified. That is, the threshold of the vibration frequency and the threshold of the amplitude are set. The vibration frequency during the operation of the substrate transfer machine 1 is based on the rotation of the motor, and is relatively low at 150 Hz.
300300 Hz, the vibration frequency at the time of collision is based on the elastic vibration of the constituent members,
Reaches 900Hz. Therefore, the vibration frequency threshold is 300
Hz to 700 Hz. The magnitude of the vibration generated when the substrate transfer machine 1 operates is 0.2 G
And the magnitude of vibration generated at the time of collision is 0.7 G
That is all. Therefore, the threshold value of the magnitude of the vibration is 0.2 G to
Set between 0.7G. When the vibration detected by the collision sensor 13 exceeds the threshold value in both the vibration frequency and the magnitude of the vibration,
The signal of "collision" is output. In order to facilitate signal processing, the collision sensor 13 itself performs signal processing, and a signal output from the collision sensor 13 is a binary signal indicating the presence or absence of a collision. FIG. 4 schematically shows a control system according to this embodiment. In the figure, reference numeral 33 denotes a main controller of the substrate processing apparatus.
Reference numeral 34 denotes a drive control unit for controlling the drive of the substrate transfer machine 1;
5 is a monitor. The drive controller 34 operates the substrate transfer machine 1 based on a command from the main controller 33 to transfer the wafer 21. The collision sensor 1
3, when a collision occurs, a collision signal is issued to the drive control unit 34 based on the detected vibration. The boat tilt detector 22 outputs a boat tilt signal to the drive control unit 34 when the boat 2 tilts and the micro switch 27 operates. The operation will be described below. A wafer 21 is received on the substrate mounting plate 11 from a wafer cassette (not shown), and the substrate mounting plate 11 is moved up and down, the rotary stage 8 is rotated, and the advance / retreat unit 9 is moved forward / backward. The wafer 21 on the mounting plate 11 is transferred to the boat 2. When a predetermined number of wafers 21 are loaded into the boat 2, the boat 2 is loaded into a reaction furnace (not shown) by a boat elevator (not shown), and required processing is performed. After the processing, the boat 2 is pulled out, and the processed wafers 21 are discharged to the wafer cassette by the substrate transfer machine 1. In the transfer operation of the wafer 21 by the substrate transfer machine 1, when the substrate mounting plate 11 collides with the boat 2 or collides with the wafer 21 loaded in the boat 2, the collision sensor 13 detects vibration at the time of collision and sends a signal to the drive control unit 34. The boat tilt detector 22 operates when the boat 2 tilts due to a collision, and sends a signal to the drive control unit 34. When a signal is input from at least one of the collision sensor 13 and the boat tilt detector 22, the drive control unit 34 immediately stops the substrate transfer machine 1, and damages the wafer 21 and falls the boat 2. To prevent. Further, the collision, the inclination of the boat 2, and the stop of the substrate transfer machine 1 are input to the main controller 33. The main controller 33 displays the information on the monitor 35 to inform the operator of the situation. It is needless to say that the boat tilt detector 22 detects not only the collision but also the tilt even if the boat is not correctly positioned and tilted. Further, the collision sensor 13 may be provided on each of the substrate mounting plates 11. Further, the position where the collision sensor 13 is provided is not limited to the plate holder 12, but may be any position where vibration at the time of collision can be detected. As described above, according to the present invention, in a substrate processing apparatus provided with a substrate transfer machine having a substrate mounting plate for mounting a substrate, the substrate processing machine collides with the substrate transfer machine. A collision sensor that detects vibrations at the time is provided, so that the substrate transfer machine can be stopped immediately upon contact, and the excellent effect of preventing the boat from falling down and damaging the wafer is exhibited. .

【図面の簡単な説明】 【図1】本発明の実施の形態の要部を示す立面図であ
る。 【図2】図1のA矢視図である。 【図3】図1のB矢視図である。 【図4】本発明の実施の形態の概略制御ブロック図であ
る。 【符号の説明】 1 基板移載機 2 ボート 11 基板載置プレート 12 プレートホルダ 13 衝突センサ 21 ウェーハ 22 ボート傾き検出器 27 マイクロスイッチ 31 当て板
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is an elevation view showing a main part of an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a view taken in the direction of arrow A in FIG. 1; FIG. 3 is a view taken in the direction of arrow B in FIG. 1; FIG. 4 is a schematic control block diagram of the embodiment of the present invention. [Description of Signs] 1 Substrate transfer machine 2 Boat 11 Substrate mounting plate 12 Plate holder 13 Collision sensor 21 Wafer 22 Boat tilt detector 27 Micro switch 31 Backing plate

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4F042 AA02 AA07 DF01 DF11 DF25 DF30 5F031 CA02 FA01 FA09 FA12 FA25 GA04 GA36 GA42 GA47 GA49 HA61 HA67 JA08 JA13 JA32 JA45 JA51 LA12 PA02 PA20   ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page    F term (reference) 4F042 AA02 AA07 DF01 DF11 DF25                       DF30                 5F031 CA02 FA01 FA09 FA12 FA25                       GA04 GA36 GA42 GA47 GA49                       HA61 HA67 JA08 JA13 JA32                       JA45 JA51 LA12 PA02 PA20

Claims (1)

【特許請求の範囲】 【請求項1】 基板を載置する基板載置プレートを有す
る基板移載機を具備する基板処理装置に於いて、前記基
板移載機に衝突時の振動を検知する衝突センサを設けた
ことを特徴とする基板処理装置。
Claims: 1. In a substrate processing apparatus including a substrate transfer device having a substrate mounting plate on which a substrate is mounted, a collision detecting a vibration at the time of collision with the substrate transfer device. A substrate processing apparatus provided with a sensor.
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