JP2003109795A - プラズマジェット発生装置 - Google Patents

プラズマジェット発生装置

Info

Publication number
JP2003109795A
JP2003109795A JP2001297850A JP2001297850A JP2003109795A JP 2003109795 A JP2003109795 A JP 2003109795A JP 2001297850 A JP2001297850 A JP 2001297850A JP 2001297850 A JP2001297850 A JP 2001297850A JP 2003109795 A JP2003109795 A JP 2003109795A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plasma jet
discharge tube
jet generator
nozzle
plasma
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001297850A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003109795A5 (ja
JP3768854B2 (ja
Inventor
Takanori Ichiki
隆範 一木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Japan Science and Technology Agency
Original Assignee
Japan Science and Technology Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Japan Science and Technology Corp filed Critical Japan Science and Technology Corp
Priority to JP2001297850A priority Critical patent/JP3768854B2/ja
Publication of JP2003109795A publication Critical patent/JP2003109795A/ja
Publication of JP2003109795A5 publication Critical patent/JP2003109795A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3768854B2 publication Critical patent/JP3768854B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Plasma Technology (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 高密度プラズマを細いノズルからジェット
状に噴出させ、被加工物の局所部位に溶断、エッチン
グ、薄膜堆積などの加工、表面処理を高速で行うプラズ
マジェット発生装置を提供する。 【解決手段】 放電管(2)と、放電管(2)付近に
配置されたソレノイドアンテナ(4)およびその電源
(9)から構成されている高周波誘導結合式のプラズマ
発生装置であって、放電管(2)の一端に放電管(2)
よりも内径の小さいノズル(6)を有し、放電管(2)
の内径が5mm以下であり且つVHF帯の高周波電源
(9)により駆動されることを特徴とするプラズマジェ
ット発生装置(1)。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この出願の発明は、プラズマ
ジェット発生装置に関するものである。さらに詳しく
は、この出願の発明は、高密度プラズマを細いノズルか
らジェット状に噴出させ、被加工物の材料を選ばず、被
加工物の局所部位に溶断、エッチング、薄膜堆積などの
加工、表面処理を高速で行うプラズマジェット発生装置
に関するものである。
【0002】
【従来の技術とその課題】従来より、プラズマジェット
は、被加工物に溶断、エッチング、薄膜堆積等の加工お
よび表面処理を行うのに有用とされており、また有害物
質の高温処理等他の様々な分野で利用されている。
【0003】このようなプラズマジェットに関し、現
在、直径2mm以下の精細プラズマジェットを発生させ
るには、直流アーク放電を用いる方法がよく知られてい
る。しかしながら、直流アーク放電を用いる方法は、電
極が劣化しやすいこと、反応性ガスの使用ができないこ
と、基板が導体に限定されることなどの様々な問題を有
している。また、その他のプラズマ発生装置として知ら
れている、無電極方式の高周波誘導結合式熱プラズマ発
生装置に関しては、口径が大きく、大電力の入力が必要
になることが知られており、大電力を入力する結果とし
て生成する多量の熱の制御が困難であるため、微小面積
にプラズマを照射できるものはこれまで存在していなか
った。
【0004】そこで、この出願の発明は、以上のとおり
の事情に鑑みてなされたものであり、従来技術の問題点
を解消し、高密度プラズマを細いノズルからジェット状
に噴出させ、被加工物の局所部位に溶断、エッチング、
薄膜堆積などの加工、表面処理を高速で行うことのでき
る、新しいプラズマジェット発生装置を提供することを
課題としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】この出願の発明は、上記
の課題を解決するものとして、まず第1には、放電管
と、放電管付近に配置されたアンテナおよびその電源か
ら構成される高周波誘導結合式のプラズマ発生装置にお
いて、放電管の一端に放電管よりも内径の小さいノズル
を有し、放電管の内径が5mm以下であり且つVHF帯
の高周波電源により駆動されることを特徴とするプラズ
マジェット発生装置を提供する。
【0006】第2には、第1の発明のプラズマジェット
発生装置において、ノズルの内径が2mm以下であるこ
とを特徴とするプラズマジェット発生装置を提供する。
【0007】第3には、第1または第2の発明のプラズ
マジェット発生装置において、アンテナがソレノイドア
ンテナであることを特徴とするプラズマジェット発生装
置を提供する。
【0008】さらに、第4には、第1ないし第3のいず
れかの発明のプラズマジェット発生装置において、放電
管が石英管から成ることを特徴とするプラズマジェット
発生装置を提供する。
【0009】また、第5には、第1ないし第4のいずれ
かの発明のプラズマジェット発生装置において、ノズル
がセラミックスから成ることを特徴とするプラズマジェ
ット発生装置をも提供する。
【0010】また、第6には、第1ないし第5のいずれ
かの発明のプラズマジェット発生装置において、プラズ
マジェットと反応性ガスを被加工物の局所部位に照射
し、エッチング、膜堆積などの加工、表面処理を行うよ
うになしたことを特徴とするプラズマジェット発生装置
を提供する。
【0011】第7には、第1ないし第5のいずれかの発
明のプラズマジェット発生装置において、大気圧で動作
させるようになしたことを特徴とするプラズマジェット
発生装置を提供する。
【0012】さらに第8には、第1ないし第5のいずれ
かの発明のプラズマジェット発生装置において、放電開
始時にアンテナ付近に高電界を印加するのための補助高
圧電源を有することを特徴とするプラズマジェット発生
装置を提供する。
【0013】
【発明の実施の形態】この出願の発明のプラズマジェッ
ト発生装置は、放電管と、放電管付近に配置されたアン
テナおよびその電源から構成される高周波誘導結合式の
プラズマ発生装置であって、放電管の一端に放電管より
も内径の小さいノズルを有し、放電管の内径を5mm以
下として小型化し、またノズルの内径を2mm以下とす
ることから、生成するプラズマの体積を小さくしてプラ
ズマ生成に必要な電力を低減することができる。尚、ノ
ズルの内径dと放電管内径Dの比d/Dは1〜1/10
0の範囲とする。
【0014】上記のように狭い放電管でのプラズマ生成
では放電管壁での電子の損失が問題となるため、交番電
界中での電子の捕捉効率を高めるために最適な周波数領
域であるVHF帯(30−300MHz)の高周波をア
ンテナに印加することで低電力でのプラズマ生成が可能
となる。このとき、アンテナとしてソレノイドアンテナ
を用いることができる。
【0015】この結果、発生する総熱量は抑えられ、高
密度プラズマを細いノズルの先端からジェット状に噴出
させることのできる無電極方式の高周波誘導結合式のプ
ラズマジェット発生装置が実現できる。
【0016】また、この発明のプラズマジェット発生装
置においては、放電管を石英管から成るものとし、放電
管よりも内径の小さいノズルを、石英と比べて熱に強い
アルミナや窒化水素等のセラミックスから成るものとす
ることでノズルを長時間使用することができる。
【0017】尚、ノズルの先端と放電管中心部の距離は
短い方がエネルギー損失は抑えられるが、距離が長い場
合(15cm程度)であっても動作させることは可能で
ある。
【0018】さらにまた、この発明のプラズマジェット
発生装置は、プラズマジェットと反応性ガスを被加工物
の局所部位に照射し、エッチング、膜堆積などの加工、
表面処理を行うことができる。つまり、反応性ガスが使
用可能なため反応性ガスの作用により被加工物に対する
加工において、加工精度を高めることができ、また加工
速度を増大させることができるなど様々な効果を得るこ
とができる。
【0019】さらにこの発明のプラズマジェット発生装
置は大気圧で動作させることが可能なため真空排気装置
が無くとも動作させることができる。
【0020】また、このプラズマジェット発生装置に、
放電開始時にアンテナ付近に高電界を印加するのための
補助高圧電源を加えることも可能である。補助高圧電源
として、たとえば市販のテスラコイルと言われる一種の
高圧パルス電源をアンテナ付近で動作させてアンテナ付
近にパルス放電電流を流すことによって放電のトリガー
とすることができる。
【0021】以下、添付した図面に沿って実施例を示
し、この出願の発明の実施の形態についてさらに詳しく
説明する。もちろん、この発明は以下の例に限定される
ものではなく、細部については様々な態様が可能である
ことは言うまでもない。
【0022】
【実施例】<実施例1>まず、図1のような小型化した
高周波誘導結合式のプラズマジェット発生装置(1)を
試作した。外径3mm、内径1.5mmの石英管から成
る放電管(2)に、冷却水(3)を内部に通すことで水
冷可能な外径2.5mmの銅管を3巻きし、ソレノイド
アンテナ(4)とした。放電管(2)の一端よりアルゴ
ンガス(5)を導入し、放電管(2)の他端に配置され
たノズル(6)を介して大気圧に開放し、VHF電源
(9)から100MHzのVHF帯の高周波を、マッチ
ング回路(7)を介してソレノイドアンテナ(4)に印
加するとフレーム状に伸びたプラズマジェット(8)を
生成することができた。
【0023】次に放電管(2)とノズル(6)の長さお
よび形状がプラズマジェット(8)に及ぼす影響を調べ
るため、発光分光法を用いて電子密度、励起温度を測定
した。
【0024】VHF電源(9)の電力が5−500Wの
範囲であり、且つアルゴンガス(5)の流量が0.2−
15リットル/分の範囲のとき、アルゴンプラズマジェ
ット(8)を生成することができ、電力とガス流量を増
加させると、プラズマジェット長は最大15mmまで伸
びた。
【0025】VHF電源(9)の電力を200Wで一定
とし、ガス流量を変化させて電子密度の空間分布を測定
した。その結果を図2に示す。
【0026】図2のグラフに示しているように、ソレノ
イドアンテナ(4)直下(X=7mm)では、ガス流量
6−10リットル/分で電子密度は1015cm-3以上と
なった。ガス流量を増加させると壁への熱伝導が抑制さ
れ高密度になること、またソレノイドアンテナ(4)直
下の高密度部が下流域に広がることが確認された。X=
25mmのジェット部分の電子密度はソレノイドアンテ
ナ(4)直下(X=7mm)の約半分になる。以降のプ
ラズマ計測は特に断らなければX=25mmの位置で行
った。
【0027】次にプラズマジェット(8)の径を絞るた
めのピンチノズルの効果について検討した。図3におけ
るグラフは、図3の挿し絵に示す(A)ノズルなしと、
(B)ノズル有りの場合のガス流量による電子密度の変
化を示す。どちらの場合もガス流量が増加すると電子密
度が上昇する傾向にあり、ノズル(6)を内径0.2m
mに絞った場合はさらに流速が増すため、電子密度は急
激に増加した。流速の効果以外に、ノズル有りの場合、
ノズル(6)の部分ではプラズマの体積が小さくなるた
め、エネルギー密度が増大するので電子密度が上昇する
とも考えられる。さらに電子密度の電力依存を調べたと
ころ、図4に示しているように、ガス流量を2リットル
/分で一定にすると、(B)ノズル有りの場合は(A)
ノズルなしの場合に比べ電子密度が約2倍になり、約3
00Wでは、1015cm-3程度の高密度が得られた。
【0028】また励起温度の電力依存を調べたところ、
図5に示しているように、(B)ノズル有りの場合が
(A)ノズルなしの場合に比べて高く、5000−60
00Kになった。この値は、サハの式から予測されるア
ルゴンプラズマの電子密度と温度の関係に矛盾しない。
【0029】長時間の装置稼動の際には石英管を細くひ
きのばして加工したノズルは熱により軟化しやすいた
め、ノズルはアルミナや窒化珪素などのセラミックスを
用いる方が実用的である。実際に、長さ20mm、内径
0.4mmφのセラミックノズルを使用することで、高
密度、高安定プラズマジェットを長時間生成することが
可能になった。
【0030】本装置を高精密プラズマ溶断に適用した例
の写真を図6に示す。図6(A)に示すように厚さ30
μmのステンレススチール薄板(10)に電力50Wで
5秒間アルゴンプラズマジェット(8)を照射し、図6
(B)に示すように開口径0.4mmφの円形穴(1
1)を加工できた。また、プラズマジェット(8)下で
被加工物であるステンレススチール薄板(10)を水平
方向に移動させることで、ステンレススチール薄板(1
0)を切断することができた。 <実施例2>反応性ガス雰囲気中でプラズマジェットを
被加工物に照射するために試作した実験装置を図7に示
す。プラズマジェット発生装置(1)はVHF電力供給
のための3巻きソレノイドアンテナ(4)と外径3.0
mm、内径1.0mmの石英管から成る放電管(2)と
その末端に配置された内径0.4mmのセラミックス製
ノズル(6)から構成され、プラズマジェット発生装置
(1)の真下に備え付けられたSUS製容器(12)内
に精細なプラズマジェット(8)を噴出する。プラズマ
ジェット(8)直下の基板ステージ(13)は水平面内
可動となっている。容器(12)内は大気圧であり、真
空排気装置が無くとも動作できることは実用上大きな利
点である。
【0031】VHF電源(9)の電力250W、 放電
管へのアルゴンガス(5)流量9リットル/分で精細プ
ラズマジェット(8)を発生させ、シリコン基板(1
4)上に3分間照射した。微量のSF62cc/分の添
加の有無による加工形状の違いを、レーザー顕微鏡を用
いて観察した結果を図8に示す。
【0032】図8(A)に示しているようにアルゴンガ
スのみでは蒸発により物理的エッチングが起こるため加
工面の荒れが激しく、加工深さは10μm以下であっ
た。一方、図8(B)に示しているようにSF6添加で
は化学的エッチングの効果により加工面は平滑で、プラ
ズマジェット(8)の径にほぼ等しい0.5mmの径で
等方的に深さ30μmの凹型形状が得られた。シリコン
のエッチング速度はSF 6の添加量とともに増大した。
さらにシリコン基板(14)に13.56MHzの基板
バイアスを印加し、プラズマ中のイオンをシリコン基板
(14)上に加速して照射するとエッチング速度が増大
し、1分間で1mm以上の加工深さが得られた。
【0033】SF6のようなエッチング反応をもたらす
ガスの変わりにメタンガスのような薄膜堆積の原料とな
るガスを導入すると、プラズマジェット(8)がシリコ
ン基板(14)に照射される局所面積にのみ薄膜堆積が
起こった。また、エッチングや薄膜堆積を行いながら、
シリコン基板(14)をプラズマジェット(8)下で移
動させることにより、2次元あるいは3次元の任意形状
を直接シリコン基板(14)上に加工することができ
た。
【0034】図7に示す実験装置に補助高圧電源を加え
た実験装置を図9に示す。図9では、高圧パルス電源
(16)をソレノイドアンテナ(4)付近で動作させて
ソレノイドアンテナ(4)付近にパルス放電電流を流す
ことによって放電のトリガーとしている。尚、図9は基
板ステージ(13)にプラズマ中のイオンを加速して照
射するための高周波電源(15)およびマッチング回路
(7)が備えられた図となっている。
【0035】
【発明の効果】以上のようにこの出願の発明によれば、
低電力の高周波放電により精細な高密度プラズマジェッ
トの発生が可能であり、直流放電の場合とは異なり、金
属、セラミックス、プラスチックなど被加工物の材料を
選ばず、局所部位への高速ドライエッチングや成膜など
の精密加工を施すために実用的なプラズマジェット発生
装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の高周波誘導結合式の精細プラズマジ
ェット発生装置の模式図である。
【図2】この発明のプラズマジェット発生装置内の電子
密度の空間分布を測定した結果である。
【図3】この発明のプラズマジェット発生装置におい
て、ノズルなしとノズル有りの場合の構造を示す図およ
び電子密度のガス流量依存性を示すグラフである。
【図4】この発明のプラズマジェット発生装置におい
て、ノズルなしとノズル有りの場合における電子密度の
電力依存性を示すグラフである。
【図5】この発明のプラズマジェット発生装置におい
て、ノズルなしとノズル有りの場合における励起温度の
電力依存性を示すグラフである。
【図6】この発明のプラズマジェット発生装置を高精密
プラズマ溶断に適用した例を示す写真である。
【図7】反応性ガス雰囲気中でプラズマジェットを被加
工物に照射するために試作した実験装置である。
【図8】SF6添加有無の場合にプラズマジェットを照
射したシリコン基板表面のレーザー顕微鏡像である。
【図9】図7の実験装置に、高圧パルス電源を加えた実
験装置である。
【符号の説明】
1 プラズマジェット発生装置 2 放電管 3 冷却水 4 ソレノイドアンテナ 5 アルゴンガス 6 ノズル 7 マッチング回路 8 プラズマジェット 9 VHF電源 10 ステンレススチール薄板 11 円形穴 12 容器 13 基板ステージ 14 シリコン基板 15 高周波電源 16 高圧パルス電源

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 放電管と、放電管付近に配置されたアン
    テナおよびその電源から構成される高周波誘導結合式の
    プラズマ発生装置において、放電管の一端に放電管より
    も内径の小さいノズルを有し、放電管の内径が5mm以
    下であり且つVHF帯の高周波電源により駆動されるこ
    とを特徴とするプラズマジェット発生装置。
  2. 【請求項2】 請求項1のプラズマジェット発生装置に
    おいて、ノズルの内径が2mm以下であることを特徴と
    するプラズマジェット発生装置。
  3. 【請求項3】 請求項1または請求項2のプラズマジェ
    ット発生装置において、アンテナがソレノイドアンテナ
    であることを特徴とするプラズマジェット発生装置。
  4. 【請求項4】 請求項1ないし請求項3のいずれかのプ
    ラズマジェット発生装置において、放電管が石英管から
    成ることを特徴とするプラズマジェット発生装置。
  5. 【請求項5】 請求項1ないし請求項4のいずれかのプ
    ラズマジェット発生装置において、ノズルがセラミック
    スから成ることを特徴とするプラズマジェット発生装
    置。
  6. 【請求項6】 請求項1ないし請求項5のいずれかのプ
    ラズマジェット発生装置において、プラズマジェットと
    反応性ガスを被加工物の局所部位に照射し、エッチン
    グ、膜堆積などの加工、表面処理を行うようになしたこ
    とを特徴とするプラズマジェット発生装置。
  7. 【請求項7】 請求項1ないし請求項5のいずれかのプ
    ラズマジェット発生装置において、大気圧で動作させる
    ようになしたことを特徴とするプラズマジェット発生装
    置。
  8. 【請求項8】 請求項1ないし請求項5のいずれかのプ
    ラズマジェット発生装置において、放電開始時にアンテ
    ナ付近に高電界を印加するのための補助高圧電源を有す
    ることを特徴とするプラズマジェット発生装置。
JP2001297850A 2001-09-27 2001-09-27 プラズマジェット発生装置 Expired - Lifetime JP3768854B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001297850A JP3768854B2 (ja) 2001-09-27 2001-09-27 プラズマジェット発生装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001297850A JP3768854B2 (ja) 2001-09-27 2001-09-27 プラズマジェット発生装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2003109795A true JP2003109795A (ja) 2003-04-11
JP2003109795A5 JP2003109795A5 (ja) 2004-12-24
JP3768854B2 JP3768854B2 (ja) 2006-04-19

Family

ID=19118850

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001297850A Expired - Lifetime JP3768854B2 (ja) 2001-09-27 2001-09-27 プラズマジェット発生装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3768854B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007287406A (ja) * 2006-04-14 2007-11-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd 大気圧プラズマ発生装置及び発生方法
JP2008181747A (ja) * 2007-01-24 2008-08-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd 大気圧プラズマ発生方法及び装置
JP2009170237A (ja) * 2008-01-16 2009-07-30 Hitachi Displays Ltd 局所プラズマ処理装置及び処理方法
JP2009202087A (ja) * 2008-02-27 2009-09-10 Toyota Gakuen 窒化処理法
WO2015030191A1 (ja) 2013-08-30 2015-03-05 独立行政法人産業技術総合研究所 マイクロ波プラズマ処理装置
JP2017188476A (ja) * 2010-05-05 2017-10-12 ペルキネルマー ヘルス サイエンシーズ, インコーポレイテッド 耐酸化性誘導装置
KR20190122609A (ko) * 2019-10-15 2019-10-30 주성엔지니어링(주) 기판형 태양 전지의 도핑 장치

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007287406A (ja) * 2006-04-14 2007-11-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd 大気圧プラズマ発生装置及び発生方法
JP4687543B2 (ja) * 2006-04-14 2011-05-25 パナソニック株式会社 大気圧プラズマ発生装置及び発生方法
JP2008181747A (ja) * 2007-01-24 2008-08-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd 大気圧プラズマ発生方法及び装置
JP2009170237A (ja) * 2008-01-16 2009-07-30 Hitachi Displays Ltd 局所プラズマ処理装置及び処理方法
JP2009202087A (ja) * 2008-02-27 2009-09-10 Toyota Gakuen 窒化処理法
JP2017188476A (ja) * 2010-05-05 2017-10-12 ペルキネルマー ヘルス サイエンシーズ, インコーポレイテッド 耐酸化性誘導装置
WO2015030191A1 (ja) 2013-08-30 2015-03-05 独立行政法人産業技術総合研究所 マイクロ波プラズマ処理装置
KR20190122609A (ko) * 2019-10-15 2019-10-30 주성엔지니어링(주) 기판형 태양 전지의 도핑 장치
KR102173465B1 (ko) * 2019-10-15 2020-11-03 주성엔지니어링(주) 기판형 태양 전지의 도핑 장치

Also Published As

Publication number Publication date
JP3768854B2 (ja) 2006-04-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Fanelli et al. Atmospheric pressure non-equilibrium plasma jet technology: general features, specificities and applications in surface processing of materials
US9885115B2 (en) Plasma treatment apparatus and plasma treatment method
US4585668A (en) Method for treating a surface with a microwave or UHF plasma and improved apparatus
WO2005079124A1 (ja) プラズマ発生装置
EP0388800A2 (en) Plasma reactor apparatus and method for treating a substrate
JP2003303814A (ja) プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法
JPWO2015030191A1 (ja) マイクロ波プラズマ処理装置
JP2003109795A (ja) プラズマジェット発生装置
JP2001168086A (ja) 半導体装置の製造方法および製造装置
JP3631269B2 (ja) 励起酸素の供給方法
Bardos et al. Superhigh‐rate plasma jet etching of silicon
JPH0740336A (ja) ダイヤモンドの加工方法
Yoshiki Generation of air microplasma jet and its application to local etching of polyimide films
Yoshiki et al. Localized removal of a photoresist by atmospheric pressure micro-plasma jet using RF corona discharge
JPH04214007A (ja) 酸化物超電導膜の製造方法および装置
JP5295055B2 (ja) 吸引型プラズマエッチング装置およびプラズマエッチング方法
JPH0794130A (ja) ラジカルの制御方法および装置
JP3722733B2 (ja) 放電プラズマ処理装置
JPH09223594A (ja) ビーム源及び微細加工方法
JPH09199485A (ja) プラズマ処理装置および方法
Buyle et al. Plasma systems for surface treatment
JPS58100431A (ja) プラズマ・エツチング方法及びその装置
JP2005072297A (ja) プラズマ処理方法及び装置
JP2006216590A (ja) Ecrプラズマエッチング装置およびそれを用いたエッチング方法
JPS62216638A (ja) 表面処理装置

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20031031

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040127

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040127

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20040129

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050930

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20051011

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20051212

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060110

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060202

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3768854

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100210

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110210

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120210

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130210

Year of fee payment: 7

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140210

Year of fee payment: 8

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250