JP2003100839A - 基板搬送装置および熱処理装置 - Google Patents
基板搬送装置および熱処理装置Info
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Abstract
高い基板搬送装置および熱処理装置を提供する。 【解決手段】 基板Wの裏面側から有効領域EAの全域
に近接して基板Wを保持する長尺の板状であるととも
に、内部に冷却配管66を備える搬送アーム60が搬送
部50に設けられているため、基板Wの有効領域EAに
おける温度分布の均一性を高く保ちつつ基板Wの搬送お
よび冷却が行える。
Description
表示装置用ガラス基板、フォトマスク用ガラス基板、光
ディスク用基板等(以下、「基板」と称する)を保持し
て搬送する基板搬送装置およびそれを備えた熱処理装置
に関する。
ットプレートを備える熱処理装置と、そのような熱処理
装置に対して基板を受け渡す基板搬送装置が広く用いら
れている。そして、その様な装置間での基板の受け渡し
機構として、以下のようなものが提案されている。
置の搬送アームの様子を示す図である。図17に示すよ
うに、熱処理装置100には、熱処理装置100に進入
する基板搬送装置110の搬送アーム111との基板の
受け渡しのために、上端が同じ高さを保ちつつホットプ
レート101上を昇降する複数の支持ピン102が備え
られている。一方、基板搬送装置110は内部に冷媒の
通る配管(図示省略)が埋め込まれた板状の搬送アーム
111に複数のスリット状の切り込み112を備えると
ともに冷却機能を備えている。
置110に基板Wを渡す際には、複数の支持ピン102
の上端で基板Wを裏面から支えつつ、その基板Wの下方
に搬送アーム111が進入し、各支持ピン102がそれ
ら切り込み112に遊嵌し、搬送アーム111が進入し
終わると全支持ピン102が同時に下降することによっ
て、基板Wを搬送アーム111に渡し、その後搬送アー
ム111が後退することによって基板Wが熱処理装置1
00から搬出される。逆に搬送アーム111から熱処理
装置100に基板Wを渡す際には、この逆の手順で行
う。
受けた基板Wを冷却する際には搬送アーム111上に基
板Wを載置した状態で冷却するのである。
従来技術においては、基板搬送装置110の搬送アーム
111には冷却時や基板搬送時に、それら切り込みを通
じた熱拡散や切り込み112からの熱風の吹き込み等に
より、基板主面内、とりわけデバイス形成が行われる領
域である有効領域における温度分布の均一性が損なわれ
るという問題があった。
であり、基板主面のうちの少なくとも有効領域における
温度分布の均一性が高い基板搬送装置および熱処理装置
を提供することを目的とする。
め、請求項1の発明は、基板を保持して搬送する基板搬
送装置において、基板の裏面側から基板主面のうちの少
なくともデバイス形成が行われる有効領域の全域に当接
または近接して基板を保持する長尺の板状の搬送アーム
と、前記搬送アームを冷却する冷却手段と、を備えてい
る。
に係る基板搬送装置において、前記搬送アームの幅を基
板の大きさよりも狭くしている。
搬送する基板搬送装置において、基板の裏面側から当接
または近接して基板を保持する長尺の板状の搬送アーム
と、前記搬送アームを冷却する冷却手段と、を備え、前
記搬送アームの幅を基板の大きさよりも狭くしている。
求項3のいずれかの発明に係る基板搬送装置において、
前記搬送アームに対して基板を受け渡すためのピンが通
過する複数の孔を前記搬送アームに穿設している。
行う熱処理室と前記熱処理室に対して基板を搬出入する
搬送部とを備えた熱処理装置において、前記搬送部に、
請求項1から請求項4のいずれかの発明に係る基板搬送
装置を備えている。
の熱処理装置において、前記熱処理室に、前記基板搬送
装置との間で基板の受け渡しを行うときに基板の端縁部
を支持する複数の支持ピンを備え、前記基板搬送装置
に、前記熱処理室との間で基板の受け渡しを行うときに
前記搬送アームを前記複数の支持ピンの間に進入させて
いる。
実施の形態について詳細に説明する。
る基板搬送装置および熱処理装置を組み込んだ基板処理
装置の全体構成について説明する。図1は、基板処理装
置の全体構成の一例を示す平面図である。この基板処理
装置は、基板Wを払い出すためのインデクサIDと、各
種処理液を塗布するための回転式塗布処理装置(スピン
コータ)SC1,SC2と、本発明に係る熱処理装置L
OH1,LOH2と、基板Wに加熱処理を施すホットプ
レート部HP1,HP2と、基板Wに冷却処理を施すク
ールプレート部CP1,CP2と、これらの間で基板W
の搬送を行う搬送ロボットTRとを備えている。
能なカセットを複数載置することができるとともに、そ
のカセットと搬送ロボットTRとの間で基板Wの移載を
行う移載機構(図示省略)を備える。インデクサID
は、カセットに収納された未処理の基板Wを搬送ロボッ
トTRに払い出すとともに、処理が終了した基板Wを搬
送ロボットTRから受け取ってカセットに収納する機能
を有する。
もに略水平姿勢にて保持した基板Wを回転させつつ、各
種処理液をその基板Wに吐出することによりSOD(Sp
in-on-Dielectronics)やポリイミド等の低誘電体材料
の塗布処理を行う。
もSODやポリイミド等の低誘電体材料の処理液が塗布
された基板Wに低酸素雰囲気にて熱処理を施すことによ
って、その基板W上に層間絶縁膜を形成する機能を有す
る。なお、熱処理装置LOH1,LOH2については、
後に詳述する。
機構を有し、搬入された基板Wを所定温度にまで加熱す
る機能を有する。また、クールプレート部CP1,CP
2は、冷却機構を有し、搬入された基板Wを所定温度に
まで冷却するとともに、基板Wをその温度にて維持する
機能を有する。なお、ホットプレート部HP1,HP2
およびクールプレート部CP1,CP2はこの順序で上
から順に積層されているものであるが、図1においては
図示の便宜上、平面的に配置されているように記載して
いる。
SC1,SC2からなる処理部列と熱処理装置LOH
1,LOH2、ホットプレート部HP1,HP2、クー
ルプレート部CP1,CP2からなる処理部列との間の
搬送路に沿って矢印AR1にて示すように水平方向に移
動可能に構成されている。また、搬送ロボットTRは、
インデクサIDおよび上記の各処理部間で基板Wの搬送
を行うことができる。
タを用いて構成される制御部CRが設けられている。制
御部CRは、上述した各処理部と電気的に接続されてお
り、所定の処理プログラムに従って各処理部の動作や搬
送ロボットTRによる基板搬送を制御する。
の構成>次に、上記基板処理装置に組み込まれた熱処理
装置LOH1,LOH2の構成について説明する。ここ
では、熱処理装置LOH1について説明するが、熱処理
装置LOH2についても全く同様である。
主要部の断面図であり、図3は熱処理装置LOH1を上
面から見た断面図である。なお、図2および図3におい
ては、それらの方向関係を明確にするため、水平面をX
Y面とし、鉛直方向をZ方向とするXYZ直交座表系を
付している。
0と搬送部50とを備えている。加熱部10は加熱処理
を行う機能を有し、本発明に係る基板搬送装置である搬
送部50は基板Wを加熱部10に搬入したり、加熱部1
0から搬出する機能を有するとともに、基板Wを冷却す
る機能を有する。
タ30を配置して構成されている。チャンバ15は略直
方体形状の筐体であり、その天井部分13は円柱形状と
されている。チャンバ15は、その内部に搬入された基
板Wに熱処理を行う処理室である。
内部に抵抗加熱等による加熱源を有しており、予め設定
された所定温度を維持している。
貫通して支持ピン36が4本設けられている。4本の支
持ピン36はその下端で一体となってその下方に設けら
れた昇降駆動手段であるエアシリンダ35に連結されて
おり、エアシリンダ35の伸縮により同期して昇降す
る。
6はヒータ30上に支持される基板の端縁部、従って、
基板Wを保持した搬送アーム60が加熱部10に進入し
てヒータ30上方の進入位置IP1に位置する状態での
基板Wの端縁部で、しかも、搬送アーム60が進入位置
IP1に位置した状態で支持ピン36が昇降しても搬送
アーム60の両脇を通過して搬送アーム60と干渉しな
い平面的位置に配置されている。
同一高さとなるように設けられており、4本の支持ピン
36の上端で基板Wを支持した状態にてエアシリンダ3
5が支持ピン36を昇降させることにより、支持ピン3
6に支持された基板Wがヒータ30直上の加熱位置とそ
れよりも上方の基板受け渡し位置との間で鉛直方向に昇
降する。そのため、基板Wが支持ピン36によって加熱
位置に支持されているときには、その基板Wがヒータ3
0によって所定温度に加熱されることとなり、換言すれ
ば、ヒータ30はチャンバ15に搬入された基板Wを載
置して加熱する加熱手段であると言える。
るための開口41が設けられている。開口41は、ヒー
タ30に載置された基板W、すなわち支持ピン36によ
って加熱位置に支持された基板Wの一端側の側方に設け
られている。さらに、チャンバ15にはゲートバルブ4
0が設けられている。ゲートバルブ40は図示を省略す
る駆動機構によって昇降可能とされており、開口41は
ゲートバルブ40が上昇することによって遮蔽され、ゲ
ートバルブ40が下降することによって開放される。ゲ
ートバルブ40が下降して開口41が開放されていると
きには、開口41を介して搬送部50がチャンバ15へ
の基板Wの搬出入を行う。ゲートバルブ40が上昇して
開口41が遮蔽されているときには、チャンバ15の内
部に閉空間が形成される。
ガス供給口17が、ヒータ30の周囲に排気口45がそ
れぞれ設けられている。ガス供給口17は、図示しない
窒素ガス供給部に接続されており、窒素ガスをチャンバ
15内に上方から流入させる。また、チャンバ15の天
井部分13の内部には天板12が設けられている。天板
12は、ガス供給口17から流入した窒素ガスが通過す
るための通気孔を多数有する。そして、加熱部10での
基板Wの加熱処理中は、ガス供給口17および排気口4
5が開放され、チャンバ15内に窒素ガスのダウンフロ
ーが形成され、排気口45から排気される。
と、搬送アーム60を駆動するモータ70と、基板Wを
支持する横断面が円形の支持ピン63によって構成され
ている。搬送アーム60は、基板Wの主面のうちの少な
くともデバイス形成が行われる有効領域EAの全域を覆
うとともに、その幅(進退方向に垂直な方向(X方向)
の長さ)が基板Wの大きさ(直径)よりも狭い長尺の板
状の部材である(図3参照)。また、搬送アーム60に
は、複数の突起62が設けられるとともに、3つの丸い
貫通孔64が穿設されている。そして、複数の突起62
が基板Wの裏面に当接して支持することにより、搬送ア
ーム60は基板Wの裏面側から有効領域EAの全域に近
接して基板Wを保持することができる。
63それぞれが通過することができるよう、各貫通孔6
4の内径は支持ピン63の断面の直径より大きくなって
いる。
0が図3に示す搬送部50に退避した退避位置SP1に
位置する状態での3つの貫通孔64に対応する平面的位
置に配置されている。また、3本の支持ピン63は、そ
の下端で一体となりその下方に設けられた昇降駆動手段
であるエアシリンダ67に連結されており、エアシリン
ダ67の伸縮により昇降する。そして、3本の支持ピン
63はその上端が同一高さとなるように設けられてお
り、3本の支持ピン63の上端で基板Wを支持できるも
のとなっている。そのため、3本の支持ピン63の上端
で基板Wを支持した状態にてエアシリンダ67が支持ピ
ン63を昇降させることにより、基板Wを昇降させるこ
とができる。
63が配置されているため、搬送アーム60が退避位置
SP1に位置する状態で、支持ピン63が搬送アーム6
0の下方から上昇すると、3本の支持ピン63が搬送ア
ーム60の3つの貫通孔64を通過することができ、搬
送アーム60と干渉することがない。
示すように、冷却配管66が配設されている。冷却配管
66は、冷却水供給部65に接続されている。冷却水供
給部65から供給された冷却水は冷却配管66内を通過
して再び冷却水供給部65に帰還する。つまり、冷却水
供給部65は、冷却配管66に冷却水を循環させるので
ある。そして、冷却配管66内を冷却水が通過すること
によって、搬送アーム60のうち少なくともそれが保持
する基板Wに対向する領域はほぼ均一に冷却される。こ
れにより、搬送アーム60が保持する基板Wが冷却され
ることとなるのである。なお、冷却水供給部65および
冷却配管66が本発明の冷却手段に相当する。
リ73、従動プーリ72、ベルト71からなる駆動機構
によってY方向に移動することができる。モータ70の
モータ軸には駆動プーリ73が固設されている。従動プ
ーリ72は、回転自在に設けられている。駆動プーリ7
3と従動プーリ72とにはベルト71が巻き掛けられて
いる。これにより、モータ70が正または逆方向に回転
すると、その回転に伴って駆動プーリ73も回転するこ
ととなり、ベルト71が駆動プーリ73と従動プーリ7
2との間で回走する。
持部75が垂設されている。アーム支持部75はガイド
部材74に対して摺動自在とされている。そして、アー
ム支持部75とベルト71とは連結部材76によって連
結されている。従って、モータ70が回転してベルト7
1が回走すると、アーム支持部75はY方向にスライド
移動し、それに伴って搬送アーム60がチャンバ15に
対して進退移動を行うこととなる。このような搬送アー
ム60のチャンバ15に対する進退移動により、搬送ア
ーム60はチャンバ15への基板Wの搬入およびチャン
バ15からの基板Wの搬出を行うことができる。
冷却する手段としては冷却水供給に限定されるものでは
なく、例えばペルチェ素子等の他の冷却機構を用いるよ
うにしてもよい。
に、搬送ロボットTRの構成について説明する。図4は
搬送ロボットTRの平面図であり、図5は搬送ロボット
TRの側面図である。図4および図5においても、それ
らの方向関係を明確にするため、水平面をXY面とし、
鉛直方向をZ方向とするXYZ直交座表系を付してい
る。
a,80bを備えるとともに、基台81下方に設けられ
た水平駆動機構82、垂直駆動機構83および旋回駆動
機構84によって、X軸方向の並進、Z軸方向の昇降お
よびZ軸方向を軸としての旋回が自在なように構成され
ている。なお、水平駆動機構82、垂直駆動機構83お
よび旋回駆動機構84の構造は任意のものを用い得る。
例えば水平駆動機構82は床面に沿って設けられたボー
ルネジとそれを回転するモータとからなるもの、垂直駆
動機構83はエアシリンダ、旋回駆動機構84はサーボ
モータ等とすればよい。
が上記基板Wより若干大きい円弧状の基板保持部85が
形成された板状部材である。そして、上記基板保持部8
5の内周面には3本の支持ピン86が設けられており、
基板Wを保持する際にはこれら支持ピン86によって基
板Wを支持する。また、搬送アーム80aの先端部分、
すなわち基板保持部85の切り欠き部NPの幅は搬送部
50の3本の支持ピン63の配置されている間隔より広
く形成されており、支持ピン63が上昇した位置にある
場合でも、それら支持ピン63と干渉することなく、搬
送アーム80aが搬送部50に進入できるようになって
いる。なお、搬送アーム80bも同様の構造を有してい
る。
0bそれぞれに対して、搬送部50における搬送アーム
60が備えるモータ、プーリ、ベルト等からなる水平方
向の進退駆動機構と同様の機構が設けられており、搬送
アーム80a,80bは、それぞれ独立して水平方向
(Y方向)に進退自在とされている。また、上述した各
駆動機構が制御部CRにそれぞれ電気的に接続されてい
る。
Rは制御部CRの指示に従って、インデクサID、回転
式塗布処理装置SC1,SC2、熱処理装置LOH1,
LOH2、ホットプレート部HP1,HP2およびクー
ルプレート部CP1,CP2の各処理部間を基板Wを保
持して移動し、各処理部と基板Wの受け渡しを行うこと
によって基板Wを搬送する。
における基板の受け渡し動作>次に、熱処理装置LOH
1,LOH2における基板の受け渡し動作の詳細および
概略の処理手順を、図6から図9を用いつつ説明する。
図6から図9は、それぞれ、熱処理装置LOH1におけ
る加熱部10と搬送部50との基板の受け渡しの一工程
を示す図である。
いて説明するが、熱処理装置LOH1と熱処理装置LO
H2とは並列処理を行う関係にあり、熱処理装置LOH
2についても全く同様である。また、熱処理装置LOH
1における処理は、全て制御部CRの指示に従って行わ
れる。
装置LOH1に搬入する。具体的には、搬送ロボットT
Rが基板Wを搬送アーム60に渡す。なお、搬送ロボッ
トTRから搬送アーム60への基板Wの受け渡し動作に
ついては後述する。
たときの熱処理装置LOH1の状態を示す図である。搬
送アーム60に基板Wが渡された段階では、まだゲート
バルブ40が上昇して開口41が遮蔽されている。
1が開放され、基板Wを保持した搬送アーム60がチャ
ンバ15内に進入する。図7は、開口41が開放され、
基板Wを保持した搬送アーム60がチャンバ15内に進
入したときの熱処理装置LOH1の状態を示す図であ
る。チャンバ15内に進入した搬送アーム60は、チャ
ンバ15内の進入位置IP1にて停止する。
裏面端縁部に当接し、その基板Wを持ち上げて搬送アー
ム60から離間させる。つまり、搬送アーム60から支
持ピン36に基板Wが渡されるのである。このとき、4
本の支持ピン36は搬送アーム60の両脇を通過する。
換言すると、このとき搬送アーム60は4本の支持ピン
36の間に進入した状態にある。図8は、搬送アーム6
0から支持ピン36に基板Wが渡されたときの熱処理装
置LOH1の状態を示す図である。
退してチャンバ15から退出する。そして、ゲートバル
ブ40が上昇して開口41が遮蔽された後、基板Wを支
持する支持ピン36が下降し、その基板Wをヒータ30
直上の加熱位置まで下降させる。ヒータ30は既に所定
温度にまで昇温されているため、基板Wがヒータ30直
上の加熱位置まで下降されることによって直ちに基板W
の加熱処理が開始される。図9は、基板Wの加熱処理が
行われているときの熱処理装置LOH1の状態を示す図
である。基板Wの加熱処理中は、ゲートバルブ40が上
昇して開口41が遮蔽されている。
理が終了すると、支持ピン36が上昇し、基板Wをヒー
タ30直上の加熱位置から基板受け渡し位置まで上昇さ
せる。
41が開放される。そして、搬送アーム60が前進して
チャンバ15内に進入し、チャンバ15内の進入位置I
P1にて停止する。なお、前述のようにこの段階では既
に支持ピン36が上昇している状態であるので、搬送ア
ーム60は4本の支持ピン36の間に進入するのであ
る。また、このときには、冷却配管66内に冷却水が循
環されている。
下降し、基板Wが支持ピン36から搬送アーム60に渡
される(図7参照)。
ため、搬送アーム60に保持されている基板Wはチャン
バ15内において冷却されることとなる。また、冷却水
が循環される搬送アーム60上に基板Wを保持すること
によってその基板Wを冷却しているため、迅速に基板W
を冷却することができる。
温度以下にまで冷却された後、基板Wを保持する搬送ア
ーム60が後退してチャンバ15から退出する。すなわ
ち、搬送アーム60は、加熱後の基板Wを受け取った
後、基板Wの温度が所定温度以下となるまでチャンバ1
5内に基板Wを待機させた後に、チャンバ15から退出
するのである。
理後の基板Wを搬送アーム60から受け取り、熱処理装
置LOH1における一連の処理が終了する。なお、搬送
ロボットTRと搬送アーム60との基板Wの受け渡しは
後に詳述する。
基板Wを直ちに加熱することができるとともに、冷却水
が循環される搬送アーム60上に基板Wを保持すること
によって迅速に基板Wを冷却することができるため、熱
処理装置LOH1における処理に要する時間が短くな
り、高い処理効率を得ることができる。
と搬送ロボットTRとの基板の受け渡し動作>次に、熱
処理装置LOH1,LOH2と搬送ロボットTRとの基
板の受け渡し動作の詳細を、図10から図14を用いつ
つ説明する。図10から図14は、それぞれ、熱処理装
置LOH1における搬送部50と搬送ロボットTRとの
基板の受け渡しの一工程を示す図である。
明するが、前述のように熱処理装置LOH1と熱処理装
置LOH2とは並列処理を行う関係にあり、熱処理装置
LOH2についても全く同様である。また、搬送ロボッ
トTRの受け渡し動作については搬送アーム80aのみ
について説明するが、搬送アーム80bについても全く
同様である。さらに、搬送部50および搬送ロボットT
Rの動作は、全て制御部CRの指示に従って行われる。
ら搬送ロボットTRへの基板の受け渡し動作について説
明する。
Wが搬送部50の搬送アーム60上に支持された状態
で、支持ピン63は下降している。また搬送ロボットT
Rの搬送アーム80aは退避位置SP2に位置している
(図10)。
て支持位置に位置する。その際、支持ピン63はそれぞ
れ搬送アーム60の貫通孔64を通過した状態となる
(図11)。
aが前進して進入位置IP2に位置する。このとき、搬
送部50の支持ピン63は搬送アーム80aの切り欠き
部NP(図4参照)に位置するので搬送アーム80aと
干渉することがない(図12)。
(図13)。これにより、それまで支持ピン63で支持
されていた基板Wは搬送ロボットTRの搬送アーム80
aに保持された状態になる(図13)。
0aが退避位置SP2に後退することにより基板Wは搬
送ロボットTRに渡される(図14)。
OH1の搬送部50への基板Wの受け渡し動作は上記図
10〜図14の各部の動作を逆に行っていく。
アーム80aが基板Wを保持した状態で退避位置SP2
に位置する(図14)。
たまま、前進し、熱処理装置LOH1の搬送部50の進
入位置IP2に位置する(図13)。
80a上の基板Wを突き上げる(図12)。このとき
も、支持ピン63は搬送アーム80aの円弧状の基板保
持部85中を通過するため、支持ピン63の上昇と搬送
アーム80aとが干渉することがない。
位置SP2に位置する(図11)。このとき、搬送部5
0の支持ピン63は搬送アーム80aの切り欠き部NP
(図4参照)を通過するので搬送アーム80aと干渉す
ることがない。
ることによって搬送ロボットTRから搬送部50への基
板Wの受け渡しが終了する(図10)。
態によれば、搬送部50が、基板Wの裏面側から有効領
域EAの全域に近接して基板Wを保持する長尺の板状の
搬送アーム60を備えるため、基板Wの有効領域EAに
おける温度分布の均一性を高く保ちつつ基板Wの搬送お
よび冷却が行える。搬送アーム60が基板の少なくとも
有効領域EAの全域に近接する板状のものであるため、
スリット状の切り込み等の特別な加工を施す場合に比べ
て、加工再現性が高く、また搬送アーム60の水平度の
維持が容易である。また、搬送アーム60に切り込みが
ないので切り込みがある場合に比べてシール性が要求さ
れる部分が少なく、製造時の組み立ても容易である。
さよりも狭く形成してあるため、加熱部10との間で基
板Wの受け渡しを行う際に、基板Wの端縁部を支持ピン
36で支持した状態で受け渡すことができ、基板Wの中
心側の有効領域EAに悪影響を与えることが少ない。
け渡すための支持ピン63が通過する複数の貫通孔64
が搬送アーム60に穿設されているため、基板Wの中央
付近においても支持ピン63により支持して受け渡すこ
とができるので、受け渡しの自由度が高まる。
支持する複数の支持ピン36を備えるため、支持ピンと
して基板の中心部付近を支持するものを設ける場合に比
べて、ヒータパターンの形成が容易である。
形態の熱処理装置における搬送部51の平面図であり、
図16は第2実施形態の熱処理装置における搬送部51
を側面から見た主要部の断面図である。なお、図15お
よび図16においても、それらの方向関係を明確にする
ため、水平面をXY面とし、鉛直方向をZ方向とするX
YZ直交座表系を付している。また、図15および図1
6において、第1実施形態の搬送部50と共通する構成
要素には第1実施形態と同様の参照符号を付している。
施形態の搬送部50の搬送アーム60とほぼ同形状の搬
送アーム90を備えている。すなわち、基板Wの有効領
域EAの全域を覆うとともに、その幅(進退方向に垂直
な方向(X方向)の長さ)が基板Wの大きさ(直径)よ
りも狭い長尺の板状の部材である。そして、搬送アーム
90にも、複数の突起62が設けられている。ただし、
搬送アーム90には貫通孔が設けられていない点が搬送
アーム60と異なっている。
様の、基板Wの端縁部の4カ所をそれぞれ支持する4本
の支持ピン93を備えている。この4本の支持ピン93
もその下端で一体となりその下方に設けられた第1実施
形態と同様のエアシリンダ67に連結されており、エア
シリンダ67の伸縮により同期して昇降する。そして、
図15に示すように4本の支持ピン93は基板Wの端縁
部で、しかも、搬送アーム90が退避位置SP1に位置
した状態で支持ピン93が昇降しても搬送アーム90の
両脇を通過して搬送アーム90と干渉しない平面的位置
に配置されている。そして、搬送アーム90が基板Wを
保持する場合も第1実施形態の搬送アーム60と同様、
基板Wの裏面側から有効領域EAの全域に近接して基板
Wを保持する。
1実施形態と全く同様である。また、基板受け渡し動作
およびその手順についても支持ピン93による基板Wの
支持位置以外は第1実施形態と同様である。
明の第2実施形態によれば、第1実施形態における搬送
アーム60が貫通孔64を備えていることによる効果以
外の効果と同様の効果を得ることができる。
ので、より搬送アームの構造が簡単であり、加工や組み
立てが一層容易である。
施形態について説明したが、この発明はこれらの構成に
限定されるものではない。
も基板の有効領域全域を覆うものとしたが、必ずしも有
効領域全域を覆わなくてもよく、基板Wの中心部付近の
みを覆う長尺の板状のもの等としてもよい。
基板Wを支持するための突起62を備えるものとした
が、搬送アームを突起を備えないものとしてもよい。そ
の場合、搬送アームは基板Wの裏面側から有効領域EA
の全域に当接して基板Wを保持する。
の備える支持ピン63を横断面が円形とし、搬送アーム
の備える貫通孔64を丸いものとしたが、横断面が四角
形等の多角形や楕円形等その他の形状としてもよい。
OH1,LOH2を、SODやポリイミド等の低誘電体
材料の処理液が塗布された基板Wに熱処理を施すことに
よって、その基板W上に層間絶縁膜を形成するものとし
ていたが、これに限定されるものではなく、何らかの目
的にて基板Wに熱処理を行う装置であれば良い。
が、パーティクル対策や基板裏面の残存ガスの置換のた
めに基板裏面から窒素ガス等をブローする機構を設けて
もよい。その場合でも、搬送アームが少なくとも基板の
有効領域全域を覆うため、基板の有効領域における温度
分布の均一性を高く保つことができる。
請求項2の発明によれば、基板の裏面側から基板主面の
うちの少なくともデバイス形成が行われる有効領域の全
域に当接または近接して基板を保持する長尺の板状の搬
送アームを備えるため、基板主面のうちの少なくとも有
効領域における温度分布の均一性を高く保ちつつ基板の
搬送および冷却が行える。また、パーティクル対策や基
板裏面の残存ガスの置換のために基板裏面からのブロー
を設けた場合でも、少なくとも有効領域全域を覆うこと
になり、基板の有効領域における温度分布の均一性を高
く保つことができる。搬送アームが基板の少なくとも有
効領域の全域に当接または近接する板状のものであれば
よいため、搬送アームの構造が簡単で加工が容易であ
る。
れば、搬送アームの幅を基板の大きさよりも狭くするた
め、他の装置との間で基板の受け渡しを行う際に、端縁
部を支持した状態の基板を受け渡すことができ、基板の
中心側の有効領域に悪影響を与えることが少ない。
ムに対して基板を受け渡すためのピンが通過する複数の
孔を前記搬送アームに穿設するため、基板の中央付近に
おいてもピンにより支持して受け渡すことができるの
で、受け渡しの自由度が高まる。
れば、請求項1ないし請求項4のような基板搬送装置を
用いて、熱処理室との基板の受け渡しおよび冷却を行う
ことができるため、請求項1ないし請求項4による利点
を備えた熱処理装置とすることができる。とりわけ、請
求項1および請求項2の基板搬送装置を用いて基板の受
け渡し、冷却を行うことにより、温度分布の均一性を高
く保って、熱処理の結果を良好に保ちつつ受け渡しや冷
却を行うことができる。
装置が、熱処理室との間で基板の受け渡しを行うときに
搬送アームを熱処理室が備える複数の支持ピンの間に進
入させるため、基板の端縁部を支持して熱処理室と基板
を受け渡すことができ、基板の中心側の有効領域に悪影
響を与えることが少ない。さらに、熱処理室が、基板の
端縁部を支持する複数の支持ピンを備えるため、支持ピ
ンとして基板の中心部付近を支持するものを設ける場合
に比べて、熱処理室のヒータパターンの形成が容易であ
る。
ある。
面図である。
る。
部50との基板の受け渡しの一工程を示す図である。
部50との基板の受け渡しの一工程を示す図である。
部50との基板の受け渡しの一工程を示す図である。
部50との基板の受け渡しの一工程を示す図である。
送ロボットTRとの基板の受け渡しの一工程を示す図で
ある。
送ロボットTRとの基板の受け渡しの一工程を示す図で
ある。
送ロボットTRとの基板の受け渡しの一工程を示す図で
ある。
送ロボットTRとの基板の受け渡しの一工程を示す図で
ある。
送ロボットTRとの基板の受け渡しの一工程を示す図で
ある。
1の平面図である。
1を側面から見た主要部の断面図である。
ムの様子を示す図である。
Claims (6)
- 【請求項1】 基板を保持して搬送する基板搬送装置で
あって、 基板の裏面側から基板主面のうちの少なくともデバイス
形成が行われる有効領域の全域に当接または近接して基
板を保持する長尺の板状の搬送アームと、 前記搬送アームを冷却する冷却手段と、を備えることを
特徴とする基板搬送装置。 - 【請求項2】 請求項1記載の基板搬送装置において、 前記搬送アームの幅を基板の大きさよりも狭くすること
を特徴とする基板搬送装置。 - 【請求項3】 基板を保持して搬送する基板搬送装置で
あって、 基板の裏面側から当接または近接して基板を保持する長
尺の板状の搬送アームと、 前記搬送アームを冷却する冷却手段と、を備え、 前記搬送アームの幅を基板の大きさよりも狭くすること
を特徴とする基板搬送装置。 - 【請求項4】 請求項1から請求項3のいずれかに記載
の基板搬送装置において、 前記搬送アームに対して基板を受け渡すためのピンが通
過する複数の孔を前記搬送アームに穿設することを特徴
とする基板搬送装置。 - 【請求項5】 基板に熱処理を行う熱処理室と前記熱処
理室に対して基板を搬出入する搬送部とを備えた熱処理
装置であって、 前記搬送部は、請求項1から請求項4のいずれかに記載
の基板搬送装置を備えることを特徴とする熱処理装置。 - 【請求項6】 請求項5記載の熱処理装置において、 前記熱処理室は、前記基板搬送装置との間で基板の受け
渡しを行うときに基板の端縁部を支持する複数の支持ピ
ンを備え、 前記基板搬送装置は、前記熱処理室との間で基板の受け
渡しを行うときに前記搬送アームを前記複数の支持ピン
の間に進入させることを特徴とする熱処理装置。
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-
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