JP2003098554A - 液晶表示素子の製造方法及び液晶表示素子 - Google Patents

液晶表示素子の製造方法及び液晶表示素子

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 CDR方式の液晶表示素子を直流電圧を印加
してMDL処理すると、バイアス電圧の影響で印加電圧
−透過率特性の経時変化が現れ、表示ムラが発生して、
表示品位が低下する。 【解決手段】 MDL処理時にコレステリック相もしく
は等方性液体相から電場を印加しながなら冷却してカイ
ラルスメクティックC相の層構造を1種類に選択する過
程において、印加する電場を時間幅と振幅が正負非対称
に変調された電気信号により与えるようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は液晶表示素子の製造
方法及び液晶表示素子に関し、詳しくはCDR方式の液
晶を用いた液晶表示素子をMDL処理する際の改良技術
に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶表示素子は、省スペース・低消費電
力化のために開発が望まれているフラットパネルディス
プレイの中で将来性が期待されている表示デバイスの一
つである。この液晶表示素子に用いられる液晶として
は、従来よりネマティック液晶やスメクティック液晶な
どが知られているが、近年、能動素子として薄膜トラン
ジスタ(TFT)を併用し、且つカイラルスメクティッ
クC型液晶を用いた表示デバイスが提案されている。
【0003】具体的には、DHF(Distorted Helical F
erroelectric Liquid Crystal)方式(J. Funfschilling
and M. Schadt, J. Appl. Phys.66(8),15)、もしくはT
FLC(Twisted Ferroelectric Liquid Crystal)方式
(J.S. Patel, Appl. Phys. L-ett. 60 (3), p280)、単
安定強誘電性液晶 (K. Nito, E. Mastui, M. Miyashi-
ta, S. Arakawa, A. Yasuda, SID 93 DIGEST, 163 (199
3)) 、CDR(ContinuousDirector Rotation)方式 ( T. No
naka, J. Li, A. Ogawa, B. Hornung, W. Sch-midt, R.
Wingen, H-R. Duebal, Liq.Cryst. 26 (11) 1599(199
9) 、競合誘電性液晶の利用 (R. Hasegawa, H. Fujiwa
ra, H. Nagata, T. Saishu, R. Iida, Y.Hara, H. Akiy
ama, H. Okumura, K. Takatoh, AM-LCD 97 DIGEST, 119
(1997))、液晶ライトバルブ装置(特開平3−2426
24号公報)などが提案されている。
【0004】これらの方式の液晶表示素子は、能動素子
を併用しないものに比べてコストは高くなるが、以下に
示すような優れた特性を備えている。第一に、中間調の
表示の信頼性が優れていることである。これらの方式
は、印加電圧の強さに対する透過率の変化が比較的なだ
らかであり、また従来の表面安定化強誘電性液晶のよう
にドメイン反転をともなうスイッチングのために中間調
表示が困難になるといった問題は生じない。第2に、こ
れらの方式の液晶材料は低電圧( 5〜10V)での駆動が
可能であり、低消費電力での駆動が可能なことである。
以上述べたスメクティック系液晶を能動素子と併用する
液晶表示素子は、従来の液晶表示素子の欠点を克服し高
速応答・広視野角の液晶ディスプレイを実現することが
できる。
【0005】本発明は、これらの方式のうち、とくにC
DR方式の液晶を用いた液晶表示素子の製造方法及び液
晶表示素子に関わるものである。
【0006】ここで、CDR方式の液晶について説明す
る。この方式の液晶材料としては、スメクティックA相
を有せず、コレステリック相もしくは等方性液体相から
直接の相転移により形成されるカイラルスメクティック
C相を、室温を含む温度範囲で示すものが用いられる。
単純マトリックスの液晶素子に用いられてきた、いわゆ
るSSFLCでは、コレステリック液晶もしくは等方性
液体相から、スメクティックA相を経てスメクティック
C相に相転移する。これに対してCDR方式の液晶で
は、コレステリック相もしくは等方性液体相から冷却す
ることにより、スメクティックC相に直接に相転移させ
るものである。この際に、液晶分子の配列構造は2種類
の異なる層構造を示す。このような2種類の層構造が混
在している液晶表示素子では、電場をかけて液晶分子を
スイチィングさせた時に、正負1方向の電場の印加に対
して、1種類の層構造の層に属する液晶分子しか(50
%の液晶分子しか)スイチィングせず、十分なコントラ
ストが得られない。また、層構造の異なる2つの領域の
境目で欠陥を生じ光漏れを生じる。このためCDR方式
では、コレステリック相もしくは等方性液体相からスメ
クティックC相へ相転移させる際に直流電圧を印加する
ことにより、層構造を1種類だけ選択している。この方
法は、強誘電性液晶の研究の初期、1986年にPat
elらにより報告されている(J. S. Patel and J. W.
Goodby, J. Appl. Phys., 59 (7), 2355(1986) )。
【0007】このように、コレステリック相もしくは等
方性液体相からスメクティックC相へ相転移させる際
に、直流電圧を印加して1種類の層構造だけを形成させ
る(層構造を1方向に揃える)処理方法をMDL(mono
domain layer)処理と呼ぶ。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上記MDL処理では、
コレステリック相もしくは等方性液体相からカイラルス
メクティックC相に相転移させる過程で液晶材料に直流
電圧を印加することにより1種類の層構造のみを形成さ
せている。しかし、一般に液晶材料に直流電圧がかかる
と、液晶内に微量に存在するイオン性不純物が例えば液
晶材料と直接に接している配向膜と呼ばれる高分子膜表
面上に吸着し、吸着したイオンが電場を形成する現象が
発生する。MDL処理時に直流電圧を印加すると、MD
L処理後もこの現象によりいわゆるバイアス電圧が残
り、液晶材料に微小な電圧がかかり続ける如き状態とな
る。この状態は、数時間からはなはだしい場合には数日
間に及ぶことが観察されている。
【0009】この現象は、例えばMDL処理後における
液晶表示素子の印加電圧−透過率特性(V−T特性)の
経時変化として観察される。例えば、信号電圧の印加に
対して液晶分子が完全に応答する電圧を飽和電圧Vsa
t、飽和電圧印加時の透過率の1/10の透過率を示す
電圧をしきい値電圧Vthとすると、これらの値がMD
L処理後、時間経過とともに減少していくことが観察さ
れる。このように飽和電圧Vsatやしきい値電圧Vt
hが減少した液晶表示素子では、画面上に表示ムラが発
生しやすくなり、表示品位が低下するという問題点があ
った。
【0010】なお、直流電圧を使用しない例として、特
開2000−105377号公報には、矩形波交流電圧
を印加してスメクティック相に核を発生させ、この核を
電界印加方向に沿って拡大させることにより、ラビング
処理を施すことなく液晶を均一に配向させるようにした
液晶素子とその製造方法が提案されている。しかしなが
ら、ここに示された液晶素子では、配向を揃えるための
電極を同一基板上に配置しているため、素子構造が複雑
になるとともに、開口率が低くなるなどの難点がある。
【0011】本発明の目的は、MDL処理後のバイアス
電圧によるV−T特性の経時変化をなくして、良好な表
示品位を得ることができる液晶表示素子の製造方法及び
液晶表示素子を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1の発明は、コレステリック相もしくは等方
性液体相から直接相転移により形成されるカイラルスメ
クティックC相を、室温を含む温度範囲で示す液晶材料
を用いた液晶表示素子において、前記コレステリック相
もしくは等方性液体相から直接相転移により形成される
カイラルスメクティックC相の層構造を1種類に選択す
る過程で、時間幅と振幅が正負非対称に変調された電気
信号により与えられる電場を印加しながら冷却すること
を特徴とする液晶表示素子の製造方法である。
【0013】請求項2の発明は、請求項1において、前
記カイラルスメクティックC相の層構造を1種類に選択
する過程で与えられる電気信号が、信号電圧の正又は負
の符号が一定のパルス状信号であることを特徴とする。
【0014】好ましい形態として、パルス状信号の最大
値(Vsig+)は、例えば0.1V〜20V、好まし
くは0.5V〜10Vの範囲とする。
【0015】好ましい形態として、パルス状信号の時間
幅(パルス幅)は、信号を書き込むための選択期間内に
信号電圧が0Vに戻るような時間幅とする。例えば1μ
s〜10s、好ましくは5μs〜100μsの範囲とす
る。
【0016】好ましい形態として、信号電圧の周期は1
00s以内、好ましくは1s以内の範囲とする。
【0017】好ましい形態として、時間幅と周期の比
は、1/2〜1/10000、好ましくは1/100〜
1/2000とする。
【0018】請求項3の発明は、請求項1において、前
記カイラルスメクティックC相の層構造を1種類に選択
する過程で与えられる電気信号は、正負の最大電圧の絶
対値E+,E−がE+>E−もしくはE+<E−となる
矩形波状信号であることを特徴とする。
【0019】好ましい形態として、正の直流電圧の印加
で得られる層構造を形成しようとする時は、正の電圧を
高電圧とし、且つ負の電圧を低電圧とする事が有効であ
る場合と、正の電圧を印加するフレーム数を多くし、負
の電圧を印加するフレーム数を少なくする事が有効であ
る場合がある。電圧を高電圧にする事と、フレーム数を
多くすることのどちらが支配因子となるかは液晶材料・
セルの構成に依存して決まる。
【0020】請求項4の発明は、請求項1において、前
記カイラルスメクティックC相の層構造を1種類に選択
する過程で与えられる電気信号は、信号電圧の絶対値が
正の場合E+1, E+2,・・・E+n、信号電圧が負の場合E-1,
E-2, ・・・E-mであり、ぞれぞれの信号の時間の幅をt
+1, t+2, ・・・t+n、t-1, t-2, ・・・t-mとすると
き、 E+1×t+1+ E+2×t+2+・・・+E+n×t+n= E-1×t-1+ E-2
×t-2+・・・+E-m×t -m の関係を満たす矩形波状信号であることを特徴とする。
【0021】また上記課題を解決するため、請求項5の
発明は、少なくとも、互いに交差して配置された複数の
走査線及び信号線、これら両線の各交差部に配置された
画素電極、前記走査線に供給される走査信号によりオン
/オフ制御され、オン時に前記信号線と前記画素電極間
を導通させて前記信号線に供給された信号電圧を前記画
素電極に書き込む能動素子を含む第1基板と、前記画素
電極に対し所定間隔をもって対向配置された対向電極を
含む第2基板と、前記第1基板と第2基板との間に保持
された液晶とを備えた液晶表示素子において、前記液晶
は、コレステリック相もしくは等方性液体相から直接相
転移により形成されるカイラルスメクティックC相の層
構造を1種類に選択する過程で、請求項1,2,3又は
4の電気信号により与えられる電場を印加しながら冷却
されたものであることを特徴とする液晶表示素子であ
る。
【0022】好ましい形態として、前記能動素子は、例
えばアモルファスシリコン薄膜、ポリシリコン薄膜、も
しくは結晶シリコンにより半導体層が形成された薄膜ト
ランジスタ(TFT)により構成する。
【0023】
【発明の実施の形態】以下、本発明を能動素子を有する
アクティブマトリックス型駆動の液晶セルに適用した場
合の実施形態について説明する。
【0024】図5は、本実施形態に係わる液晶セルの回
路構成図である。アレイ基板18上には複数本の信号線
11及びこれと交差する複数本の走査線12が図示しな
い絶縁膜を介してマトリクス状に配置されており、両線
の各交差部には画素10が形成されている。信号線11
及び走査線12の端部は図示しない駆動回路にそれぞれ
接続されている。
【0025】画素10は、画素電極13、画素スイッチ
素子14、対向電極15、液晶層16及び補助容量17
により構成されている。
【0026】各画素10の画素スイッチ素子14のゲー
トは1水平ライン毎に共通に走査線12に接続され、ソ
ースは1垂直ライン毎に信号線11に共通に接続されて
いる。さらにドレインは画素電極13に接続されるとと
もに、この画素電極13と電気的に並列に配置された補
助容量17に接続されている。
【0027】画素電極13はアレイ基板18上に形成さ
れ、この画素電極13と相対する対向電極15は図示し
ない対向基板上に形成されている。対向電極15には、
図示しない外部回路から所定の対向電位が与えられてい
る。また画素電極13と対向電極15との間には液晶層
16が保持され、アレイ基板18と前記対向基板の周囲
は図示しないシール材により封止されている。
【0028】液晶層16としては、コレステリック相も
しくは等方性液体相から直接相転移により形成されるカ
イラルスメクティックC相を、室温を含む温度範囲で示
す液晶材料を用いる。液晶材料の封入が完了した液晶セ
ルには、MDL処理として、コレステリック相もしくは
等方性液体相から電場を印加しながなら冷却してカイラ
ルスメクティックC相の層構造を1種類に選択する処理
が実施される。この際に液晶層16に印加される電場
は、図示しない駆動回路から信号線11に供給される電
気信号により与えられる。この電気信号は、後述するパ
ルス状信号や矩形状信号のように、時間幅と振幅が正負
非対称に変調された信号電圧である。この電気信号によ
り与えられる電場を印加しながら液晶層16が所定温度
に達するまで冷却することにより、CDR方式の液晶に
対するMDL処理が完了する。
【0029】図5におけるアレイ基板18及び図示しな
い対向基板は、それぞれ本実施形態における第1基板及
び第2基板を構成している。また画素スイッチ素子14
は本実施形態における能動素子である。この画素スイッ
チ素子14は、例えばアモルファスシリコン薄膜、ポリ
シリコン薄膜、もしくは結晶シリコンにより半導体層が
形成された薄膜トランジスタ(TFT)で構成すること
ができる。
【0030】上記構成において、走査線12に走査信号
を出力して、各走査線12を一水平走査期間(以下、選
択期間という)毎に順にオンレベルとし、これと同期し
て信号線11に信号電圧を印加すると、オンレベルの走
査線12に接続する画素スイッチ素子14は信号線11
と画素電極13との間が導通して、信号線11に印加さ
れた信号電圧が画素スイッチ素子14を通じて画素電極
13に書き込まれる。この信号電圧は液晶層16及び補
助容量17に電荷として蓄積される。選択期間の終了後
は、信号線11と画素電極13との間が非導通となるの
で、蓄積された電荷に応じた電圧が選択期間後のフレー
ム周期の間(60Hzでは16ms)、液晶層16に掛
かることになる。
【0031】次に、MDL処理の際に与えられる電気信
号の具体例を図1及び図2を参照しながら説明する。
【0032】図1は、信号電圧の正又は負の符号が一定
となるパルス状信号の波形図である。ここに示すパルス
状信号は正又は負の符号が一定、すなわち正のみあるい
は負のみのパルスにより構成されるもので、図1では正
のみのパルスにより構成した例を示している。パルス状
信号の最大値(Vsig+)は、液晶材料により異な
り、液晶材料の自発分極、飽和電圧、粘度などで決定さ
れる。ただし、通常のTFT駆動に用いる液晶材料で
は、0.1V〜20V好ましくは0.5V〜10Vの範
囲の電圧である。この電圧が低すぎる場合は層構造が1
方向に決まらず、逆に高すぎる場合は、しばしば直流を
印加した場合と同様にバイアス電圧が残る現象が観察さ
れる。また、パルス状信号の時間幅(パルス幅)tは特
に限定されるものではないが、画素スイッチ素子14が
導通している間にパルス印加が完了する、すなわち選択
期間内に信号電圧が0Vに戻るような時間幅とする。例
えば1μs〜10s好ましくは5μs〜100μsの範
囲である。この時間幅が短すぎる場合は層構造が1方向
に決まらず、逆に長すぎる場合は、しばしば直流を印加
した場合と同様にバイアス電圧が残る現象が観察され
る。また、信号電圧の周期Tは100s以内、好ましく
は1s以内の範囲である。この周期が長くなりすぎると
MDL処理の効果が得られなくなる。さらに、時間幅と
周期の比t/Tは、1/2〜1/10000好ましくは
1/100〜1/2000である。この比率が小さ過ぎ
るとMDL処理の効果が不十分となり、大き過ぎると焼
き付きが発生する。
【0033】なお、図1は正のみのパルスで構成したパ
ルス状信号を示したが、負のみのパルスで構成したパル
ス状信号についても同じである。
【0034】図2は、正負の最大電圧の絶対値E+,E
−がE+>E−もしくはE+<E−となる矩形波状信号
の波形図である。図2では、正負の最大電圧の絶対値E
+,E−がE+>E−となる例を示している。この矩形
波状信号の場合、印加する電圧が支配因子となるか、印
加する時間が支配因子となるかは印加する電圧・印加す
る時間の大きさ及び用いる液晶材料によって変わってく
る。印加電圧と印加時間が下記のごとき関係を満たす場
合、正の印加電圧が高ければ負の印加電圧が低くなる
が、印加時間はこれと逆の関係となる。この場合、印加
電圧の大きさ、印加時間の長さ、液晶材料の種類によっ
て形成され得る2種類の層のうちいずれが形成されるか
が決まってくる。この時、正の信号の電圧をE+、その
時間幅t+とし、負の信号電圧をE−、その時間幅をt
−とすると、E+*t+=E−*t−の関係(正負の斜
線部分の面積が等しくなる)が成り立つことが好まし
い。図2において、時間幅t+をフレーム周期とする
と、時間幅t−は3フレーム周期分となり、4フレーム
周期の信号電圧印加でE+*t+=E−*t−が成り立
つことになる。
【0035】なお、図2では正負の最大電圧の絶対値E
+,E−がE+>E−となる矩形波状信号の例を示した
が、正負の最大電圧の絶対値E+,E−がE+<E−と
なる矩形波状信号を用いてもよい。この場合も形成され
うる2種類の層のうちいずれを選択するかは正負の電圧
の大きさ・正負の電圧を掛けるフレーム数・液晶材料に
より変わってくる。この時も、E+*t+=E−*t−
の関係が成り立つことが好ましい。
【0036】さらに、正負の信号電圧は図2のような規
則的な波形でなくてもよい。すなわち、信号電圧の絶対
値が正の場合 E+1, E+2, ・・・E+n、信号電圧が負の場
合E- 1, E-2, ・・・E-mであり、ぞれぞれの信号の時間
の幅をt+1, t+2, ・・・t+n、t-1, t-2, ・・・t-mとす
るとき、 E+1×t+1+ E+2×t+2+・・・+E+n×t+n= E-1×t-1+ E-2
×t-2+・・・+E-m×t-m の関係を満たす矩形波状信号であればよく、信号電圧の
波形に規則性をもたせる必要はない。なお、焼き付きの
発生を防止する観点からは、上記の関係が厳密に成り立
つことが好ましいが、MDL処理を行う時間によって
は、必ずしも厳密に成立する必要はない。
【0037】
【実施例】次に、図1及び図2に示すような電気信号を
与えながらMDL処理を行った場合の実施例について説
明する。
【0038】1.MDL処理時に与える電気信号 ここでは、図1に示すように選択期間内に信号電圧が0
Vに戻るようなパルス状信号を用いる方法(以下、方法
A)、及び図2に示すように正負の最大電圧が異なる非
対称の交流信号となる矩形波状信号を用いる方法(以
下、方法B)を設定した。
【0039】方法Aにおいては、一般的な選択期間であ
る10μsの間にパルス状信号をかける。この方法Aに
よれば、例えば時間幅数μsで振幅数V(0.1〜10
V程度)の信号が8ミリ秒毎(120Hzの場合)に液
晶材料に印加される。この方法Aにより液晶に曝される
電荷量は、従来の方法の1000分の1程度である。本
発明者らによれば、このような信号をかけることによ
り、コレステリック相もしくは等方性液体相からスメク
ティックC相に相転移する際に、バイアス電圧を残すこ
となく2つの層構造のうちの1つだけを選択できるこ
と、即ちMDL処理が完全に実現されることが確認され
ている。
【0040】一方、方法Bのように正負の最大電圧が異
なる非対称の交流信号となる矩形波状信号を用いる方法
では、信号のかけ方は通常のTFT素子の駆動方法と同
じである。この方法Bを単純な例により説明する。図2
において、最終的に液晶への印加電圧が3Vになるよう
に選択期間中に電圧の印加を行った。この後、画素スイ
ッチ素子のゲートが閉じると、フレーム周期(8ms)
の間、液晶材料には3Vが掛かり続けることになる。次
の選択期間で最終的に液晶への印加電圧が−1Vになる
ように選択期間中に電圧の印加を行った。ゲートが閉じ
た後のフレーム周期の間、液晶には−1Vが掛かり続け
る。続けて3フレーム周期分−1Vを書き込み、正負合
計で4フレーム周期分の信号を印加する。この場合、正
の信号が掛かっている場合と負の信号が掛かっている場
合で異なる方向の層構造が形成される可能性がある。し
かし、本発明者らによれば、正の直流電圧をかけたとき
と同じ層構造が形成されることが確認されている。この
場合、必要な正負の電圧の非対称性は液晶材料により決
まる。また、この場合は正の電圧により液晶材料に曝さ
れる電荷量と負の電圧により液晶材料に曝される電荷量
は等しくなる。このため、先に述べた焼き付き現象は発
生しない。
【0041】2.液晶セル 1 .5cm*1.75cmのガラス基板に1cm2
ITO電極を形成し、かつ電極を取り出せるように工夫
した基板を洗浄後、日本合成ゴム製ポリイミドAL10
51の5%溶液をスピンコーターで塗布し、溶剤乾燥
後、200度1時間加熱しポリイミド膜を形成した。得
られたポリイミド上をナイロン製ベルベット布でこする
ラビング処理を行った。このような処理を行った基板を
2枚用意した。2枚の内、一方の基板(下基板)に1.
5ミクロンの直径を有する球状のビーズを散布した。こ
のビーズは、基板間の距離を一定に保つためのものであ
る。他方の基板(上基板)に、液晶材料を注入するため
の隙間を残しエポキシ接着材を塗布した。2枚の基板
を、ポリイミド膜同志が向かい合うように張り合わせ
た。2枚の基板の両側から1kg/cm2の圧力をかけ
つつ、200度1時間加熱した。得られたセルにクラリ
アント社製LZ3061を注入した。この液晶材料はス
メクティックA相を示さず、コレステリック相から直接
スメクティックC相に転移する。転移温度は約65度で
ある。得られた液晶セルの概略を図3に示す。図3
(a)は液晶セルの概略平面図、図3(b)はその概略
断面図である。図3(a),(b)において、1は下基
板、2は下基板のITO電極、3は上基板、4は上基板
のITO電極、5はシール材、6は上基板のラビング方
向、7は下基板のラビング方向、8は配向膜である。な
お、図3に示す液晶セルは実験のために設計、作製した
ものであり、通常のディスプレイとしての機能は備えて
いない。
【0042】3.MDL処理の条件 液晶セルのITO電極2及び4から図示しないリード線
を取り出し、任意波形発生装置・オシロスコープに接続
して電気信号をオシロスコープでモニターしつつ印加で
きるようにした。このセルを温度可変装置(メトラーF
P80)内に固定し、電気信号による電場をかけながら
冷却し、層構造の形成される様子を顕微鏡により観察し
た。図4に、このMDL処理で使用した電気信号の基本
波形を示す。
【0043】なお、温度可変装置では、下表に示すよう
に信号電圧をかけながら70度から60度まで1分間1
度の速度で冷却した。得られたカイラルスメクティック
C相を偏光顕微鏡により観察することで、層の形成状況
を判断することができる。それぞれの場合の層形成状況
を下表に示す。ちなみに、MDL処理がうまくいかず2
種類の層が形成された場合、偏光顕微鏡の偏光子・検光
子を直交させた状態でセルを固定したステージを回転さ
せて一方の種類の層の暗視野が達成する位置に合わせる
と、他方の層構造の部分は暗視野とならないため2種類
の層構造が観察される。このような方法により、一種類
の均一な層構造が形成されているか、2種類の層構造が
形成されているかを区別して判断することができる。
【0044】4.MDL処理の結果 下表に記載した実施例のうち、実施例1〜9が方法Aに
相当し、実施例10〜13が方法Bに相当する。図4に
示す電気信号は、電圧及び時間的な条件を下記のように
変えている。
【0045】
【表1】 5.評価結果 実施例1〜13 得られた液晶セルの印加電圧−透過率特性を、MDL処
理後30分の時点から1時間ずつ測定した。実施例1〜
13の液晶セルでは、処理後30分、1時間後、2時間
後の印加電圧−透過率特性の変化は全く得られなかっ
た。以上の実施例1〜13から明らかなように、本発明
によれば均一な一種類の層構造を実現することが可能
で、かつMDL処理後の印加電圧−透過率の経時変化の
ないCDR方式の液晶セルを得ることができた。
【0046】比較例1 上記実施例と全く同じセル構成で以下に述べる比較例の
実験を行った。信号電圧をかけず冷却だけにより、コレ
ステリック相からカイラルスメクティックC相への相転
移を起こさせたところ、2種類の層がほぼ等しい面積で
形成された。この例では、CDR方式の液晶として必要
な単一安定性をもつ一種類の層構造を形成することはで
きなかった。
【0047】比較例2 2Vの直流電圧を印加しながら実施例1〜13の如くM
DL化処理を行った。出来上がった液晶セルを観察した
ところ、実施例1〜13と同様の均一な一種類の層が形
成された。また、得られたセルの印加電圧−透過率特性
をMDL処理後30分後、その後1時間ごとに測定した
ところ、測定のたびごとに測定値をプロットして得られ
た曲線に変化が見られた。すなわち、印加電圧−透過率
特性で飽和電圧の1/2の電圧を印加した時の透過率を
みていくと、測定のたびごとに低下していた。2回目の
透過率は1回目の透過率のほぼ半分となった後、変化の
度合いは少なくなっていくが当該透過率は徐々に減少
し、10時間後も続いた。
【0048】実施例14 この例では、図5のような画素スイッチ素子を有するア
クティブマトリクス型の液晶セルを使用した。5.8イ
ンチドット数400(水平方向)×234(垂直方向)
の薄膜トランジスタ(TFT)付き基板、及びそれに対
応するカラーフィルターを用いて、その他の構成は実施
例1〜13と全く同じにして液晶セルを組んだ。配向膜
としては、日本合成ゴム製ポリイミド AL1051の
5%溶液を用いた。ポリイミド膜上をナイロン製ベルベ
ット布でラビング処理を行った。TFTが形成された基
板に1.5ミクロンの直径を有する球状のビーズを散布
し、カラーフィルターを形成した基板にシール剤を印刷
し、2つの基板を組み合わせシール剤を硬化させること
で液晶セルを形成した。得られたセルにクラリアント社
製LZ3061を注入した。このようにして得られたセ
ルにTAB−ICを付け、駆動回路に接続することによ
り以下のような駆動を行った。
【0049】ここでは、先に説明した方法Aにより、選
択期間(33μs)内で振幅5V、時間幅30μsのパ
ルス状信号が液晶材料にかかるように駆動した。この
際、選択期間終了時に必ず電圧0Vとなるように制御し
た。このような駆動を行いながら、コレステリック相か
らカイラルスメクティックC相に相転移させた。得られ
た液晶を顕微鏡観察したところ、均一な1種類の層だけ
が形成された液晶となっていることがわかった。また、
セルの印加電圧−透過率特性の測定を1時間づつ10時
間に渡って行ったが、印加電圧−透過率特性が変化する
現象はみられず、焼き付きなどの現象は起きていないこ
とが確認された。
【0050】実施例15 実施例14と同じ液晶セルを用いた。特定の選択期間で
+4Vの信号を書き込み、その後の1フレーム周期(8
ms)の間+4Vが液晶材料にかかるようにした。次の
選択期間で−1Vの信号を書き込み、その後の1フレー
ム周期の間−1Vが液晶材料にかかるようにした。さら
に、後の3フレーム周期についても−1Vがかかるよう
にした。このパターンを繰り返すように液晶材料に信号
を印加した。このような駆動を行いながら、コレステリ
ック相からカイラルスメクティックC相に相転移させ
た。得られた液晶を顕微鏡観察したところ、均一な1種
類の層だけが形成された液晶となっていることがわかっ
た。また、セルの印加電圧−透過率特性の測定を1時間
づつ10時間に渡りおこなったが、印加電圧−透過率特
性が変化する現象は見られず、焼き付きなどの現象は起
きていないことが確認された。
【0051】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係わる液
晶表示素子の製造方法によれば、MDL処理時に液晶材
料に直流電圧を印加することなしに、CDR方式の液晶
として必要な1種類の層構造のみを形成することができ
る。また、本発明の製造方法により得られた液晶表示素
子では、直流電圧の印加によるバイアス電圧が液晶に残
ることがないため、印加電圧−透過率特性の経時変化を
生じることがなく、表示ムラのない良好な表示品位を得
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】MDL処理に用いるパルス状信号を示す波形
図。
【図2】MDL処理に用いる矩形波状信号を示す波形
図。
【図3】実施例における液晶セルの概略図。(a)は概
略平面図。(b)は概略断面図。
【図4】実施例のMDL処理で使用した電気信号の基本
波形図。
【図5】実施形態に係わる液晶セルの回路構成図。
【符号の説明】
10…画素、11…信号線、12…走査線、13…画素
電極、14…画素スイッチ素子、15…対向電極、16
…液晶層、17…補助容量、18…アレイ基板
フロントページの続き (72)発明者 山口 一 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株 式会社東芝研究開発センター内 (72)発明者 長谷川 励 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株 式会社東芝研究開発センター内 (72)発明者 最首 達夫 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株 式会社東芝研究開発センター内 (72)発明者 堀田 あいら 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株 式会社東芝研究開発センター内 Fターム(参考) 2H088 GA04 HA03 HA04 HA08 JA17 KA15 MA16 MA18 2H090 HB08Y HD14 KA13 LA04 MA05 MA17 MB14

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 コレステリック相もしくは等方性液体相
    から直接相転移により形成されるカイラルスメクティッ
    クC相を、室温を含む温度範囲で示す液晶材料を用いた
    液晶表示素子において、 前記コレステリック相もしくは等方性液体相から直接相
    転移により形成されるカイラルスメクティックC相の層
    構造を1種類に選択する過程で、時間幅と振幅が正負非
    対称に変調された電気信号により与えられる電場を印加
    しながら冷却することを特徴とする液晶表示素子の製造
    方法。
  2. 【請求項2】 前記カイラルスメクティックC相の層構
    造を1種類に選択する過程で与えられる電気信号は、信
    号電圧の正又は負の符号が一定のパルス状信号であるこ
    とを特徴とする請求項1に記載の液晶表示素子の製造方
    法。
  3. 【請求項3】 前記カイラルスメクティックC相の層構
    造を1種類に選択する過程で与えられる電気信号は、正
    負の最大電圧の絶対値E+,E−が、 E+>E−もしくはE+<E− となる矩形波状信号であることを特徴とする請求項1に
    記載の液晶表示素子の製造方法。
  4. 【請求項4】 前記カイラルスメクティックC相の層構
    造を1種類に選択する過程で与えられる電気信号は、信
    号電圧の絶対値が正の場合E+1, E+2,・・・E +n、信号電
    圧が負の場合E-1, E-2, ・・・E-mであり、ぞれぞれの
    信号の時間の幅をt+1, t+2, ・・・t+n、t-1, t-2, ・
    ・・t-mとするとき、 E+1×t+1+ E+2×t+2+・・・+E+n×t+n= E-1×t-1+ E-2
    ×t-2+・・・+E-m×t -m の関係を満たす矩形波状信号であることを特徴とする請
    求項1に記載の液晶表示素子の製造方法。
  5. 【請求項5】 少なくとも、互いに交差して配置された
    複数の走査線及び信号線、これら両線の各交差部に配置
    された画素電極、前記走査線に供給される走査信号によ
    りオン/オフ制御され、オン時に前記信号線と前記画素
    電極間を導通させて前記信号線に供給された信号電圧を
    前記画素電極に書き込む能動素子を含む第1基板と、前
    記画素電極に対し所定間隔をもって対向配置された対向
    電極を含む第2基板と、前記第1基板と第2基板との間
    に保持された液晶とを備えた液晶表示素子において、 前記液晶は、コレステリック相もしくは等方性液体相か
    ら直接相転移により形成されるカイラルスメクティック
    C相の層構造を1種類に選択する過程で、請求項1,
    2,3又は4の電気信号により与えられる電場を印加し
    ながら冷却されたものであることを特徴とする液晶表示
    素子。
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