JP2003091964A

JP2003091964A - テープ巻装体の検査装置及び検査方法、並びにテープ巻取装置及びテープ巻取方法

Info

Publication number: JP2003091964A
Application number: JP2001286586A
Authority: JP
Inventors: Kunio Suzuki; 邦夫鈴木
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 2001-09-20
Filing date: 2001-09-20
Publication date: 2003-03-28

Abstract

(57)【要約】【課題】テープ巻き直し工程を経ることなくテープの
良・不良選別を行って、コストの低減及び製品歩留まり
の向上を図ることができるテープ巻装体の検査装置及び
検査方法、並びにテープ巻取装置及びテープ巻取方法を
提供すること。【解決手段】テープリールＲへ磁気テープＭを巻き付
ける前に、テープ検査装置１０によって供給パンケーキ
６の外観形状を測定する。不良テープ部は供給パンケー
キ６の外観形状に現れるので、これをレーザ変位センサ
１０１で検出し、不良テープ部の存在箇所を特定する。
製品カセットのテープ巻き付け長に満たない位置に不良
テープ部が存在する場合には、不良テープ回収手段によ
って回収する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えばテープ状記
録媒体である磁気テープを収容するテープカセットの製
造工程に用いて好適なテープ巻装体の検査装置及び検査
方法、並びにテープ巻取装置及びテープ巻取方法に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】従来より、テープカセットの製造プロセ
スにおける、カセット内に組み込まれたテープリールへ
磁気テープを巻き付ける工程には、例えば特開２０００
−９０６３６号公報に記載されているようなテープ巻取
装置（ワインダー）が用いられている。

【０００３】この種のテープ巻取装置は、所定幅に裁断
された長尺の磁気テープを供給する供給部と、上記テー
プリールを回転駆動可能な状態でカセットを支持する巻
取部とを備え、その間のテープパス経路には、供給され
る磁気テープを検尺する検尺装置を始めとして、磁気テ
ープの表裏面をクリーニングテープでクリーニングする
クリーニングユニットや、テープ張力を一定に保持する
テンション制御ユニット、更には、テープリールにあら
かじめ巻装されたリーダーテープを切断し、磁気テープ
と接合するテープスプライスユニット等が設けられてい
るのが一般的である。

【０００４】また、供給部に配置される磁気テープ巻装
体は、例えば内径７６．２ｍｍ、外径１１４．３ｍｍの
リールハブ上に、数千ｍの長さの磁気テープが巻装され
たパンケーキからなり、その最大径は例えば４１０ｍｍ
のものが用いられている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところで、供給パンケ
ーキは、前工程における各種調整不具合により、例えば
磁性層塗膜の厚みムラやピンホール、巻き形状不良な
ど、部分的に発生した品質低下部を含んでいる場合があ
る。このような品質低下部を部分的に含むパンケーキ
は、品質低下部発生部分の割合やテープ製品単価等に応
じて、パンケーキ中から良品テープ部を選別して製品に
供する良品部選別法と、良品テープ部も含めて全て廃棄
する全部廃棄法の、何れかの方法で処理されているのが
現状である。

【０００６】良品部選別法は、比較的高価格の製品に限
られており、いわゆるテープ巻き直し工程において作業
員が前工程の不良発生場所データで目視により不良部と
良品部とを選別し、不良部分を廃棄して良品部分を抜粋
する作業を伴う。この方法では、特別なテープ処理機を
作業員がつきっきりで操作する必要があるために、生産
性が悪く、また、追加費用の発生が大きな問題となって
いる。

【０００７】他方、比較的低価格の製品は全部廃棄法が
普通で、良品部選別は行われず、パンケーキのまま不良
廃棄されている。このため、廃棄数量が多くなると、未
回収の不良コストが発生するという問題を有している。

【０００８】本発明は上述の問題に鑑みてなされ、テー
プ巻き直し工程を経ることなく、テープの良・不良選別
を行って、コストの低減および生産性の向上を図ること
ができるテープ巻装体の検査装置及び検査方法、並びに
テープ巻取装置及びテープ巻取方法を提供することを課
題とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するに
当たり、本発明のテープ巻装体の検査装置は、テープ巻
装体の巻径位置におけるテープの外観形状を光学的に検
出するセンサ手段と、センサ手段をテープ巻装体の半径
方向へ移動させる第１の移動手段と、センサ手段を、テ
ープ巻装体の外周テープ面と正対する位置から、所定角
度範囲にわたってテープ巻装体の周りを揺動させる第２
の移動手段と、センサ手段の出力に基づいてテープ巻装
体の外観形状の良否を判別するコントローラとを備えた
ことを特徴としている。

【００１０】センサ手段は、第１，第２の移動手段によ
って、テープ巻装体に対して相対移動しながら、テープ
巻装体の巻径位置におけるテープの外観形状を検出す
る。第１の移動手段は、テープ巻装体のテープ繰り出し
による巻径の減少に追従して、センサ手段と外周テープ
面との間の相対距離を一定に保つ作用を行う。また、第
２の移動手段は、テープ巻装体の周りにセンサ手段を移
動させ、テープ巻装体の積層巻面の外観形状の測定を可
能とする。本発明は、テープ巻装体の外観形状から不良
テープ部を特定するようにしており、これにより、テー
プを繰り出すことなくテープの良・不良判別を行うこと
が可能となる。

【００１１】また、本発明のテープ巻装体の検査方法
は、少なくとも、テープ巻装体の外周テープ面の形状を
測定する工程と、テープ巻装体の積層巻面の形状を測定
する工程と、これら各工程の測定結果に基づいてテープ
巻装体の形状の良否を判別する工程とを有することを特
徴としている。

【００１２】外周テープ面の形状を測定する工程では、
テープ面の形状不良を検出するようにし、また、積層巻
面の形状を測定する工程では、テープの巻き乱れの部位
を検出してテープエッジの損傷の可能性を判断するとと
もに、良品テープの巻取可能長さを把握する。本発明の
方法により、テープ巻き直し工程を必要とすることなく
テープの良・不良選別が可能となる。

【００１３】一方、本発明のテープ巻取装置は、所定幅
に裁断された長尺のテープをリールハブに巻装してなる
テープ巻装体を有する供給部と、カセットを支持し、カ
セット内のテープリールを回転駆動させて、供給された
所定長のテープをテープリールへ巻き付ける巻取部とを
備えたテープ巻取装置であって、テープ巻装体の近傍に
配置されテープ巻装体の外観形状を検査するテープ検査
手段と、テープ検査手段によって不良と判別されたテー
プ部分を回収する不良テープ回収手段と、テープ検査手
段の検査結果に基づいて、テープの供給先を、巻取部と
不良テープ回収手段との間で切り替える切替手段とを備
えたことを特徴としている。

【００１４】本発明では、供給部に設けられるテープ巻
装体の外観形状を検査して、巻取部に巻き取るべきテー
プ長に相当する領域内のテープの良・不良判別を行う。
検査の結果、不良テープ部の存在が認められない場合に
は、巻取部での所定長のテープ巻取作用を行うが、不良
テープ部の存在が認められた場合には、切替手段によっ
てテープの供給先を巻取部から不良テープ回収手段へ切
り替え、当該不良テープ回収手段での不良テープ部の回
収作用を行う。これにより、テープ巻き直し工程を経る
ことなく、テープの良・不良選別を行いながら、良品テ
ープ部のみを抽出してカセットの製造を行うことが可能
となるので、カセット製造コストの低減が図られる。

【００１５】また、本発明のテープ巻取方法は、テープ
巻装体から所定長のテープを繰り出して、カセット内の
テープリールへ巻き付けるテープ巻取方法であって、テ
ープリールへのテープの巻き付け前に、テープ巻装体の
外観形状の検査工程を設けたことを特徴としている。

【００１６】本発明では、テープリールへのテープの巻
き付け前に、テープ巻装体の外周部形状の検査を行うよ
うにしている。これにより、テープリールへのテープの
巻き付けの前に、当該テープの良・不良情報を得ること
ができるので、良・不良テープを選別しながらカセット
の製造を行うことが可能となり、カセット製品コストの
低減と生産性の向上を図ることができる。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。

【００１８】図１は、本発明の実施の形態によるテープ
巻取装置の概略構成を示している。本実施の形態のテー
プ巻取装置１は、主として、所定幅（製品幅）に裁断さ
れた長尺の磁気テープＭを供給する供給部２と、カセッ
トＣを支持し当該カセットＣ内の一対のテープリール
Ｒ，Ｒのうち一方を回転駆動させて磁気テープＭを巻き
付ける巻取部３と、供給部２から供給される磁気テープ
Ｍのうち不良テープ部Ｍｚを回収する不良テープ回収部
４とを備えている。

【００１９】供給部２は、テープ巻装体として、リール
ハブ５，５に巻装された磁気テープパンケーキ（以下、
供給パンケーキという。）６，６を有し、これら供給パ
ンケーキ６，６のうち一方から巻取部３へ磁気テープＭ
を供給する。供給パンケーキ６の近傍には、リールハブ
５に巻装された磁気テープＭの外観形状の検査を主たる
目的として構成されたテープ検査装置１０が配置されて
いる。なお、テープ検査装置１０は、本発明に係るテー
プ巻装体の検査装置あるいはテープ検査手段に対応し、
その詳細については後述する。

【００２０】供給部２と巻取部３との間に形成されるテ
ープパス経路（以下、第１のテープパスともいう。）に
は、テープ張力を制御するためのテンション制御ユニッ
ト１１、走行する磁気テープＭに向けて照射された検査
光の透過光（あるいは反射光）を受光して、テープ面の
シワやキズ等の欠陥を検出するための欠陥検査ユニット
１９、及び、磁気テープＭの表裏面をクリーニングテー
プでクリーニングするクリーニングユニット（図示略）
などが配備されている。巻取部３の上方には、テープリ
ールＲ，Ｒにあらかじめ巻装された透明なリーダーテー
プを引き出して切断し、その各端部に磁気テープＭの始
端及び終端をそれぞれ接合する公知のテープスプライス
ユニット７が設けられている。

【００２１】不良テープ回収部４は、本実施の形態では
巻取リール８で構成され、巻取モータ（図示略）に接続
された巻取軸８ａを備えている。なお、不良テープ回収
部４は、本発明に係る不良テープ回収手段に対応する構
成要素である。

【００２２】巻取リール８の入口側には、この巻取リー
ル８と供給部２側とを結ぶテープパス経路（以下、第２
のテープパスともいう。）を、テープスプライスユニッ
ト７と協働して形成するスプライス部１２が設けられて
いる。スプライス部１２は、テープスプライスユニット
７の図１において右斜め上方に位置し、真空吸引力でテ
ープを吸着する吸着面１３ａを下面に有する吸着ブロッ
ク１３と、吸着ブロック１３をガイドレール１４に沿っ
て図示する位置から左斜め下方へスライド移動させるス
プライス本体１５とを有している。スプライス本体１５
もまたガイドレール１６に沿って、巻取装置１のフロン
トパネル１７に対して上下移動可能とされる。

【００２３】図２はテープスプライスユニット７の一構
成例を示す底面図である。テープスプライスユニット７
は、図２Ａに示すように２列のテープ吸着面７１ａ，７
１ｂを有する第１ブロック７１と、単列のテープ吸着面
７２ａを有する第２ブロック７２とを有し、両ブロック
７１，７２ともにガイドレール７３，７４に沿って移動
可能に構成されている。

【００２４】上記スプライス部１２の吸着ブロック１３
がガイドレール１４にガイドされて左斜め下方へ移動す
ると、図２Ｂに示すように第２ブロック７２が移動して
空いた空間位置に吸着ブロック１３が位置し、第１ブロ
ック７１の吸着面７１ａに吸着された供給部２からの磁
気テープＭの端部と、吸着ブロック１３の吸着面１３ａ
に吸着された不良テープ部Ｍｚの端部とが同一直線状に
対向配置される。そして、図示しない接合テープを貼着
することにより両テープの端部間が接合され、供給部２
と不良テープ回収部４の巻取リール８との間に形成され
る第２のテープパスが形成される。これらテープスプラ
イスユニット７及びスプライス部１２とにより、本発明
に係る切替手段が構成される。

【００２５】図１を参照して、巻取部３の直下方には、
所定長の磁気テープＭの巻き付けが完了したカセットＣ
の排出部９が設けられている。この排出部９は、磁気テ
ープＭの巻き付けが完了したカセットＣを巻取部３から
下方へ滑落させるシュート９１と、シュート９１から滑
落したカセットＣを一時的に保持する一対の保持部材９
２，９２とを有する。保持部材９２，９２に保持された
カセットＣは、後述するようにテープ検査装置１０及び
欠陥検査ユニット１９の出力に応じて、良品カセットを
次工程へ搬送するコンベヤ９Ａと、不良カセットを収容
する廃棄ボックス９Ｂの何れかに供給されるようになっ
ている。

【００２６】図３Ａは、排出部９の一構成例を示してい
る。保持部材９２，９２は、カセットＣの底部両側縁を
支持するように設けられ（図では一方側のみ示してい
る）、図３Ｂに示すように回動軸９３の周りに回動でき
るようになっている。この回動軸９３には、図示せずと
も駆動モータの駆動軸が取り付けられており、保持部材
９２の回動制御が可能となっている。カセットＣは、保
持部材９２の回動によって、コンベヤ９Ａに供給される
ようになっている。一方、保持部材９２の近傍には、シ
ュート９１を滑落するカセットＣのストッパ的な役割を
果たすゲート部材９４と、カセットＣをゲート部材９４
側に押し出すプッシャ９５が設けられている。ゲート部
材９４は図示しない駆動シリンダ等に連結され、図３Ｃ
に示すように上方移動可能となっている。また、プッシ
ャ９５は駆動シリンダ等から構成され、図３Ｃに示すよ
うに、開放されたゲート部材９４を介して、カセットＣ
を廃棄ボックス９Ｂへ向けて押圧するようになってい
る。以上のようにして、本発明に係るカセット選別手段
が構成される。

【００２７】次に、図４は、テープ検査装置１０を主要
構成要素として描いたテープ巻取装置１の概略構成を示
している。

【００２８】供給部２において、リールハブ５は、減速
器２２及びハブホルダ５ａを介して供給モータ２１によ
って回転駆動される。供給モータ２１のモータドライバ
２１Ｄには、テープ巻取装置１の運転制御をも司るコン
トローラ１８から供給モータ２１の回転速度指令及びト
ルク指令が与えられ、供給モータ２１が所要の回転速度
制御及びトルク制御をなされて駆動される。一方、供給
モータ２１のエンコーダ２１Ｅからは、供給モータ２１
の回転、すなわち供給パンケーキ６の回転に応じて発生
するパルス信号による回転角度信号がモータドライバ２
１Ｄに入力され、コントローラ１８からの回転速度の指
令に対する供給モータ２１のずれの調整がなされる。コ
ントローラ１８には、モータドライバ２１Ｄから供給モ
ータ２１の回転速度、発生トルク、回転角度の情報がフ
ィードバックされ、これによりモータドライバ２１Ｄへ
の指令の調整がなされるようになっている。

【００２９】また、巻取部３において、テープリールＲ
は、巻取モータ３１に対して減速器３２を介して連結さ
れるリールホルダ３３によって回転駆動される。巻取モ
ータ３１のモータドライバ３１Ｄには、コントローラ１
８から巻取モータ３１の回転速度指令及びトルク指令が
与えられ、巻取モータ３１が所要の回転速度制御及びト
ルク制御がなされて駆動される。一方、巻取モータ３１
のエンコーダ３１Ｅからは、巻取モータ３１の回転に応
じて発生するパルス信号による回転角度信号がモータド
ライバ３１Ｄに入力され、コントローラ１８からの回転
速度の指令に対する巻取モータ３１のずれの調整がなさ
れる。コントローラ１８には、モータドライバ３１Ｄか
ら巻取モータ３１の回転速度、発生トルク、回転角度の
情報がフィードバックされ、これによりモータドライバ
３１Ｄへの指令の調整がなされるようになっている。

【００３０】このとき、テンション制御ユニット１１の
張力検出器の検出信号がコントローラ１８に入力され、
所要の張力となるように、各モータドライバ２１Ｄ，３
１Ｄへの回転速度、トルク等の指令の調整がなされる。

【００３１】次に、本発明に係るテープ検査装置１０の
詳細について説明する。

【００３２】テープ検査装置１０には、供給パンケーキ
６の形状を非接触で測定するための変位センサ１０１
が、本発明に係るセンサ手段として設けられている。変
位センサ１０１は、本実施の形態では、例えばＣＣＤレ
ーザ式変位センサで構成され、分解能±１μｍの高精度
タイプのものが用いられている。また、標準距離３０ｍ
ｍにおける最小スポット径はφ３０μｍであり、測定可
能レンジ両端の２５ｍｍと３５ｍｍでは、スポット径は
φ２５０μｍまで大きくなる。なお、このような構成の
変位センサ１０１としては、例えば、株式会社キーエン
ス製ＣＣＤレーザ変位センサ（センサヘッドＬＫ−０３
０、アンプユニットＬＫ−２０００）が好適に用いられ
る。

【００３３】変位センサ１０１は、図５に示すように、
そのレーザ光Ｌの照射窓１０１ｗが供給パンケーキ６の
外周テープ面６Ａと所定の間隙をおいて正対し得る位置
に配置されている。そして、供給パンケーキ６の外周テ
ープ面６Ａで反射したレーザ光の反射光を受光し、その
出力をセンサアンプ１０１Ａ（図４）を介してコントロ
ーラ１８に供給することにより、供給パンケーキ６との
間の相対距離が測定されるようになっている。

【００３４】さて、図４に示すように、変位センサ１０
１は、断面略コの字形状の取付ブラケット１０２を介し
て、スライドベース１０３に支持されている。スライド
ベース１０３は、その底面部中央に、第１のボールネジ
１０４と螺合するネジ孔が穿設されたネジブロック１０
５が設けられ、このネジブロック１０５の両側には、静
止系に敷設された一対の直線レール１０６，１０６に対
して移動自在に支持されるガイドブロック１０７，１０
７がそれぞれ設けられている。第１のボールネジ１０４
及び一対の直線レール１０６，１０６は、供給パンケー
キ６の径方向に沿って互いに平行に延在し、第１のボー
ルネジ１０４の回転に応じてスライドベース１０３及び
これに支持される変位センサ１０１を供給パンケーキ６
に対して進退させるようになっている。

【００３５】これらの構成により、本発明に係る第１の
移動手段が構成される。

【００３６】一方、スライドベース１０３の上面には、
第１のボールネジ１０４及び直線レール１０６と直交す
る方向に直線レール１１０が敷設されている。そして、
このスライドベース１０３の直上方に、直線レール１１
０に対して移動自在に支持されるガイドブロック１１１
を底部に備えたスライドプッシャ１１２が配置されてい
る。スライドプッシャ１１２の底部にはまた、直線レー
ル１１０と平行に延在する第２のボールネジ１０８と螺
合するネジ孔が穿設されたネジブロック１０９を備えて
いる。スライドプッシャ１１２は、第２のボールネジ１
０８の回転に応じて、直線レール１１０に沿って供給パ
ンケーキ６の軸心方向へ移動されるようになっている。

【００３７】スライドベース１０３の上面の供給パンケ
ーキ６側には、その反対方向側が凸なる円弧レール１１
３が所定の曲率で敷設されており、この円弧レール１１
３に対して取付ブラケット１０２が移動自在に支持され
ている。また、スライドプッシャ１１２及び取付ブラケ
ット１０２には、両者の間でコイルバネからなる引張バ
ネ１１６を支持する支軸１１４及び１１５がそれぞれ立
設されている。一方の取付ブラケット１０２側の支軸１
１５には、カム部材１１７が回転可能に取り付けられて
おり、このカム部材１１７がスライドプッシャ１１２の
側面に当接して、一対の支軸１１４，１１５間の最接近
距離を規制している。

【００３８】したがって、スライドプッシャ１１２が直
線レール１１０上を図４において左方へ移動すると、取
付ブラケット１０２はカム部材１１７を介してスライド
プッシャ１１２に押圧されて円弧レール１１３の上を移
動する。一方、スライドプッシャ１１２が直線レール１
１０上を図４において右方へ移動すると、取付ブラケッ
ト１０２は引張バネ１１６を介してスライドプッシャ１
１２に引っ張られて円弧レール１１３の上を移動する。
これにより、変位センサ１０１は、供給パンケーキ６の
周りを所定量揺動（首振り）できるようになっている。

【００３９】以上、これらの構成により、本発明に係る
第２の移動手段が構成される。

【００４０】ここで、第１のボールネジ１０４は、第１
モータ１１８により駆動される。第１モータ１１８のモ
ータドライバ１１８Ｄには、コントローラ１８から第１
モータ１１８の回転速度指令及び回転角度指令が与えら
れ、第１モータ１１８が所要の回転速度制御及び回転角
度制御がなされて駆動される。また、第１モータ１１８
のエンコーダ１１８Ｅから、第１モータ１１８の回転に
応じて発生するパルス信号による回転角度信号がモータ
ドライバ１１８Ｄに入力される。コントローラ１８は、
モータドライバ１１８Ｄから第１モータ１１８の回転速
度、回転角度等の情報がフィードバックされ、モータド
ライバ１１８Ｄへの指令の調整がなされる。そして、供
給パンケーキ６の外周位置が、常に、変位センサ１０１
の検出可能範囲内にあるようになされる。

【００４１】一方、第２のボールネジ１０８は、第２モ
ータ１１９により駆動される。第２モータ１１９のモー
タドライバ１１９Ｄには、コントローラ１８から第２モ
ータ１１９の回転速度指令及び回転角度指令が与えら
れ、第２モータ１１９が所要の回転速度制御及び回転角
度制御がなされて駆動される。また、第２モータ１１９
のエンコーダ１１９Ｅから、第２モータ１１９の回転に
応じて発生するパルス信号による回転角度信号がモータ
ドライバ１１９Ｄに入力される。コントローラ１８は、
モータドライバ１１９Ｄから第２モータ１１９の回転速
度、回転角度等の情報がフィードバックされ、モータド
ライバ１１９Ｄへの指令の調整がなされる。

【００４２】なお、これら第２のボールネジ１０８、直
線レール１１０及び第２モータ１１９等により、本発明
の請求項３に係る駆動機構が構成される。

【００４３】さて、コントローラ１８は、第１，第２モ
ータ１１８，１１９の駆動を制御することにより、供給
パンケーキ６に対し、変位センサ１０１を図５に示す経
路に沿って移動させる。変位センサ１０１は、経路ｗ１
〜ｗ９を経て、供給パンケーキ６の所定部位にレーザ光
Ｌを照射し、その反射光を受光するようになっており、
その検出出力をセンサアンプ１０１Ａを介してコントロ
ーラ１８へ供給する。コントローラ１８は、変位センサ
１０１の出力に基づいて、供給パンケーキ６との相対距
離を測定し、供給パンケーキ６の上記所定部位の外観形
状の良否を判別するように構成されている。

【００４４】ここで、変位センサ１０１は、経路ｗ１〜
ｗ９のうち、ｗ１，ｗ５及びｗ９では第２モータ１１９
による首振り動作が行われ、ｗ２，ｗ３，ｗ４，ｗ６，
ｗ７及びｗ８では第１モータ１１８による前後の移動動
作が行われる。なお、図５において、ｗ１〜ｗ９の各動
線の終点から供給パンケーキ６に向かう細い実線は、変
位センサ１０１から照射されるレーザ光Ｌを示してい
る。例えば経路ｗ１の終点からは、供給パンケーキの積
層巻面６Ｂを斜めに見ていることを示している。このと
きの距離が３０ｍｍとなるように、変位センサ１０１の
首振り角度及び回転半径が設定される。経路ｗ３は積層
巻面６Ｂと平行であるため、スポット径が最小のφ３０
μｍ、つまり、変位センサ１０１の最高感度で、積層巻
面６Ｂの形状検査を行うことが可能となる。

【００４５】また、図５に示すように、変位センサ１０
１が供給パンケーキ６の外周テープ面６Ａと正対する位
置（首振り角ゼロの位置）では、変位センサ１０１と供
給パンケーキ６の距離は２９ｍｍに設定される。この位
置関係は、テープ巻取作業が行われて、供給パンケーキ
６の巻き径が減少していく間においても、第１モータ１
１８の駆動により変位センサ１０１を追従させることに
よって保持されるようになっている。したがって、テー
プ巻取作業中は、供給パンケーキ６の外周テープ面６Ａ
に対してレーザ光Ｌを照射し、変位センサ１０１による
測距作用を行うようにしている。

【００４６】コントローラ１８は、供給パンケーキ６の
１回転中のそれぞれの角度に対する直径Ｄｓを記憶し、
平均直径Ｄｓａｖを演算で求める。供給パンケーキ６の
平均直径Ｄｓａｖは磁気テープＭが繰り出されるに従っ
て減少するが、算出したＤｓａｖを用いて微小時間内の
供給長さを精度良く演算し、供給開始から停止までの累
積演算により、磁気テープＭの供給長さを求める作用を
行う。

【００４７】一方、コントローラ１８は、変位センサ１
０１を用いた供給パンケーキ６の外観形状データを以下
の手法で取得するように構成されている。

【００４８】図６及び図７は、供給パンケーキ６の外周
テープ面６Ａの形状検査を行う上で必要となる、外周テ
ープ面６Ａに関するデータの取得方法の一例を示してい
る。

【００４９】図６は、テープ検査装置１０の変位センサ
１０１と、供給パンケーキ６の外周テープ面６Ａとの相
対位置関係を示している。図６では、変位センサ１０１
の首振り角度がゼロのとき、供給パンケーキ６の外周テ
ープ面６Ａの幅方向における中心からやや下方へずれた
位置Ｋにレーザ光Ｌのスポットが当たる様子を示してい
る。磁気テープＭが必ずしもリールハブ５の中心に巻か
れるとは限らず、また、途中で巻き位置がずれれば図示
のようになり得るので、一般的な状況が図示にある状態
ということができる。

【００５０】図６を参照して、変位センサ１０１が円弧
レール１１３に沿って供給パンケーキ６の積層巻面６Ｂ
側へ移動する場合を考える。円弧レール１１３のカム部
材１１７は点Ｏから点Ｈへ移動するまでのスライドプッ
シャ１１２の移動量をＹとしたとき、角度ＯＣＨは図６
においてａで示され、ａ＝Arc sin（Ｙ／Ｒｏ）（１）の式で求められる。ここで、Ｃは、円弧レール１１３の
半径中心を意味し、円弧レール１１３上の変位センサ１
０１は、常に、点Ｃに向けてレーザ光Ｌを照射する。ま
た、Ｒｏは、カム部材１１７の中心と点Ｃ間の距離（Ｏ
Ｃ＝ＨＣ）である。

【００５１】変位センサ１０１のレーザ照射面１０１ｗ
の回転半径中心をＲｓとし、首振り角度ゼロで測定した
距離Ｖを用いて、外周テープ面６Ａ上の照射ポイントＰ
の幅位置ＰＫを求めると、次のようになる。ＰＫ＝（Ｒｓ−Ｖ）tan ａ（２）

【００５２】直線Ｌ−Ｌは、首振り角度ゼロにおけるレ
ーザ照射面１０１ｗに含まれる直線で、積層巻面６Ｂ，
６Ｆに対して垂直である。直線Ｌ−Ｌから照射ポイント
Ｐまでの距離ＦＰは、理想パンケーキ（テープ巻始めか
ら巻き終わりまで巻き乱れが全くなく、不良テープ部も
存在しないパンケーキ。）では距離Ｖ（＝ＪＫ）に等し
いが、変位センサ１０１で測定した距離Ｚ（＝ＳＰ）を
用いて計算すると、次のようになる。ＦＰ＝｛（Ｒｓ／cos ａ）−Ｒｓ＋Ｚ｝cos ａ（３）

【００５３】ここで、ＦＰ−Ｖは、照射ポイントＰにお
ける理想パンケーキ形状に対する凹凸の大きさを意味す
るため、これにより、Ｐ点におけるテープ外周面６Ａの
形状の検査を行うことが可能となる。本実施の形態で
は、ＦＰ−Ｖの値が所定以上である場合（例えば５０μ
ｍ以上）である場合は、外周テープ面６Ａの形状不良で
あると判断するようにしている。

【００５４】テープ外周面６Ａの後面側のテープエッジ
Ｐｂ（図７）の検出は、変位センサ１０１の受光出力の
不連続点で確認することができる。すなわち、円弧レー
ル１１３上の変位センサ１０１の更なる移動によって、
レーザ光Ｌの照射ポイントがテープ外周面６ａから積層
巻面６Ｂに至ると、変位センサ１０１による測定値Ｚの
推移が不連続的に変動するので、この点をテープエッジ
Ｐｂと判断するようにしている。

【００５５】なお、変位センサ１０１が円弧レール１１
３に沿って供給パンケーキ６の前面側の積層巻面６Ｆ側
へ移動する場合も、上記と同様な手法でテープ外周面６
Ａの形状検査が行われるとともに、前面側のテープエッ
ジＰｆ（図７）が検出されるようになっている。

【００５６】直線ＰｂＰｆの長さは、理想的には、検査
対象である磁気テープＭの幅Ｗ（図７）の大きさに相当
する。しかし、図７に誇張して示すように、直線ＰｂＰ
ｆの長さがＷにならない場合、つまり、テープ幅Ｗより
も大きくなる場合は、テープエッジが揃えられないで巻
かれた、いわゆる乱巻きの状態にあると考えられ、次式
からテープ外層部の乱巻き指数を得るようにしている。Ｑｏ＝｛（ＰｂＰｆ）−Ｗ｝／２（４）

【００５７】この指数Ｑｏが所定以上である場合には、
テープエッジ部分に折れ等の永久歪みがある蓋然性が高
く、製品として供することが不可能であるため、磁気テ
ープＭの巻き不良と判断する。本実施の形態では、Ｑｏ
≧１００μｍの場合は、外層部における磁気テープＭの
巻き不良と判断するようにしている。

【００５８】一方、供給パンケーキ６の積層巻面６Ｂ，
６Ｆの形状を測定、換算するためには、理想パンケーキ
のテープエッジを確定する必要があるので、首振り角度
ゼロのときのレーザ照射ポイントＫを基準とする後面側
の幅Ｗｂを、Ｗｂ＝（ＰｂＫ）−Ｑｏ（５）の式で算出し、前面側の幅Ｗｆを、Ｗｆ＝（ＫＰｆ）−Ｑｏ（６）の式で算出する。なお、磁気テープＭが良好に巻かれて
いる場合には、Ｑｏがほぼゼロとなるために、Ｗｂ＝
（ＰｂＫ）、Ｗｆ＝（ＫＰｆ）となる。

【００５９】次に、これら算出したＷｂ，Ｗｆを用い
て、積層巻面６Ｂ，６Ｆの形状検査を行う際の変位セン
サ１０１の首振り角度を求める。本実施の形態における
変位センサ１０１は、上述のように、Ｚ＝３０ｍｍのと
きが最高感度であるので、後面側の積層巻面６Ｂに対す
るレーザ光の照射角（変位センサ１０１の首振り角度）
Ａｂは、Ａｂ＝Arc sin｛Ｗｂ／（Ｒｓ−３０）｝（７）で求められ、同様に、前面側の積層巻面６Ｆに対するレ
ーザ光の照射角Ａｆは、Ａｆ＝Arc sin｛Ｗｆ／（Ｒｓ−３０）｝（８）で求められる。

【００６０】本発明では、供給パンケーキ６の積層巻面
６Ｂ，６Ｆの外観形状を検査するに当たり、レーザ光Ｌ
を積層巻面６Ｂ，６Ｆに対して斜め方向に照射するよう
にしている。図８Ａ，Ｂは、後面側の積層巻面６Ｂの形
状検査をレーザ光照射角Ａｂで行って得られるデータの
一例及びそのデータ処理方法の説明図である。また、直
線Ｂ−Ｂは、理想形状の供給パンケーキの積層巻面を示
しており、積層巻面６Ｂの形状を表す折れ線は、理想パ
ンケーキ形状からのテープの飛び出し及び凹みを模式的
に表している。更に、図８Ａ中の斜線は、積層巻面６Ｂ
上を移動しながら連続的に測定している変位センサ１０
１のレーザ光Ｌを示し、その間隔ｔは、コントローラ１
８のデータ取り込み周期に対応している。

【００６１】図８Ｂは、測定データに基づいて算出した
理想パンケーキに対する形状のズレ量を、積層巻面の層
厚方向に関してプロットしたものである。ここで、例え
ば、理想パンケーキ上のＰ点における形状の変位量Ｐ
Ｑ’は、直線ＰＱＲで示されるレーザ光Ｌｐによって測
定され、その変位量は、ＰＱ’＝ＰＱsin Ａｂ（９）で求めるようにしている。なお、図中の数値は、（９）
式で算出された各点における変位量の具体例である。本
実施の形態では、この変位量が１００μｍ以上の場合に
は、当該部位におけるテープのエッジの損傷の蓋然性が
高いために、不良テープ部であると判断するようにして
いる。

【００６２】この方法によれば、実測点（○印）が目標
点（□印）よりも手前となるため、積層巻面６Ｂの形状
を忠実に再現することは不可能である。しかし、本発明
における積層巻面の形状検査が、供給パンケーキの外層
から良品部分がカセットへの巻き込み長さ分あるかどう
かを調べることを主眼としており、奥側の巻きの飛び出
しが見えなくても、手前の巻きの飛び出し量が見え、そ
れが許容範囲内であれば良品、範囲外であれば不良と判
断できるため、問題にはならない。

【００６３】次に、以上のように構成される本実施の形
態の作用について説明する。

【００６４】図１０は、本実施の形態のテープ巻取装置
１の作用を示す工程フローである。図１を参照して、供
給部２のハブホルダ５ａに対し、所定幅に裁断された長
尺の磁気テープＭを巻装した供給パンケーキ６をセット
する（ＳＴ１）。この作業は、作業者の手作業で行われ
てもよいし、自動搬送によって行われてもよい。

【００６５】続いて、供給パンケーキ６から磁気テープ
Ｍを繰り出し、テンション制御ユニット１１、欠陥検査
ユニット１９、テープスプライスユニット７及びスプラ
イス部１２を介して、不良テープ回収部４の巻取リール
８へテープパスし、所定長の磁気テープＭを巻取リール
８で巻き取る（ＳＴ２，ＳＴ３）。これは、供給パンケ
ーキ６の保護層としての機能を果たす最外層テープ部分
を、製品として供することなく、供給パンケーキ６から
除去、廃棄するために行われる。

【００６６】次に、リールハブ５の回転が停止された
後、供給パンケーキ６の外観形状の検査工程が行われる
（ＳＴ４）。この検査工程は、供給パンケーキ６の外周
テープ面６Ａの形状を測定する工程と、供給パンケーキ
６の最外層テープの巻き乱れの程度を測定する工程と、
供給パンケーキ６の積層巻面６Ｂ，６Ｆの形状を測定す
る工程とからなる。

【００６７】外周テープ面６Ａの形状を測定する工程で
は、第２モータ１１９の駆動によりスライドプッシャ１
１２を直線レール１１０に沿って供給パンケーキ６の軸
心方向へ移動させ、変位センサ１０１を円弧レール１１
３に沿って供給パンケーキ６の周りを揺動させることに
よって行われる。これにより、変位センサ１０１からの
レーザ光Ｌは、外周テープ面６Ａをそのテープ幅方向へ
走査され、上記（１）〜（３）式を用いて、当該テープ
幅方向の各点における理想パンケーキに対する凹凸量
（ＦＰ−Ｖ）が測定される。

【００６８】そこで本実施の形態では、外周テープ面６
Ａの形状検査を行うに当たり、例えば図９Ａで示すよう
に、テープ外周面６Ａをそのテープ幅方向に複数の領域
に区画し、各領域ごとに測定した変位データの平均値に
基づいて外周テープ面６Ａの形状の良否を判別するよう
にしている。このとき、テープ外周面６Ａのテープエッ
ジ近傍領域におけるデータ計算区画（読み取り間隔）
を、テープ外周面６Ａの中央領域におけるデータ計算区
画よりも狭く設定して、テープエッジ近傍領域における
形状測定を比較的微細に行うようにしている。これは、
例えばテープ裁断工程において損傷を受けたテープエッ
ジがテープ巻装状態で外周テープ面６Ａの形状不良とな
って現れることに鑑み、当該部位を比較的微細に測定す
ることによって、テープの良・不良選別を間違いなく行
うことができるようにしたものである。

【００６９】具体的には、テープ幅が約１２．７ｍｍの
１／２インチテープの場合、図９Ａに示したようにテー
プ幅方向に関して例えば２０のブロックに分割し、各ブ
ロックに相当する読み込みデータの平均値、最大値、最
小値などを求め、テープ面の凹凸を数値化する。このと
き、テープ中心から１０．０ｍｍ幅の部位はデータ計算
区画を１．０ｍｍピッチで行う一方、テープエッジに向
かうにつれて、０．４ｍｍ及び０．２ｍｍと間隔を狭
め、最終的に、０．１５ｍｍピッチでデータ計算を行う
ようにすれば、例えば図９Ｂに示したようなテープエッ
ジ部分の形状の盛り上がり又はへたりが強調された変位
データを得ることができ、テープの良否の判断を間違い
なく行うことができるようになる。本実施の形態では、
図中一点鎖線で示す理想パンケーキの形状Ｐ１と比較
し、その凹凸の大きさｄが所定の大きさ（５０μｍ）以
上であれば不良テープ、それ未満ならば良品であると判
断する。

【００７０】上述のように、外周テープ面６Ａのテープ
幅方向に関して、変位センサ１０１によるデータ計算区
画を変更すると区画内のデータ数が減り、平均値の精度
が悪くなる。そこで、テープエッジ近傍におけるレーザ
光Ｌの走査速度をテープ中央部における走査速度よりも
低速とすることによってデータ数を確保することができ
る。その点、本実施の形態においては、変位センサ１０
１を円弧レール１１３に沿って移動させる構成であるの
で、第２モータ１１９の回転速度を一定としながらもテ
ープエッジ近傍における走査速度を低速化でき、狭幅の
区画でもデータ読み取り数を確保することができる。

【００７１】次に、最外層テープの巻き乱れの程度を測
定する工程では、乱巻き指数Ｑｏを上記（４）〜（６）
式を用いて算出し、これが所定値（本実施の形態では１
００μｍ）以上であれば、テープ不良であると判断す
る。

【００７２】更に、積層巻面６Ｂ，６Ｆの形状を測定す
る工程では、上記（７），（８）式を用いてレーザ光Ｌ
の照射角Ａｂ，Ａｆを決定し、上記（９）式を用いて理
想パンケーキに対する積層巻面６Ｂ，６Ｆの、供給パン
ケーキ６の外層から同じ深さの飛び出し量を算出する。
本実施の形態によれば、積層巻面６Ｂ，６Ｆに対して照
射するレーザ光Ｌが斜めであることと、コントローラ１
８によるデータ読み取り周期が数ｍ秒要するということ
で、積層巻面６Ｂ，６Ｆの形状を忠実に再現することは
できないが、理想パンケーキに対する飛び出し量の大小
比較は可能である。また、テープ良品部分が供給パンケ
ーキ６の外層部から連続していれば、奥側（リールハブ
５側）の飛び出し量を検出することができるので、特に
問題は生じない。

【００７３】以上の各工程は、変位センサ１０１がｗ１
〜ｗ９（図５）の経路を移動する間に行われる。例え
ば、破線で示す経路ｗ１，ｗ２，ｗ４，ｗ６，ｗ８及び
ｗ９は高速で単に移動させるのみとする一方、実線で示
す経路ｗ３，ｗ５及びｗ７は低速で供給パンケーキ６の
変位データ及び変位センサ１０１の位置データを取り込
みながら変位センサ１０１を移動させるようにすれば、
経路ｗ３の過程で積層巻面６Ｂの形状を測定する工程
が、経路ｗ５で外周テープ面６Ａの形状を測定する工程
が、そして、経路ｗ７で積層巻面６Ｆの形状を測定する
工程が、それぞれ行われることになる。また、最外層テ
ープの巻き乱れの程度を測定する工程は、上記各経路の
いずれにおいても行うことができる。

【００７４】以上の各検査工程は、供給パンケーキ６の
周面の例えば（３０°間隔で）１２箇所に対して各々行
われる。そして、テープ不良が検出された場合は、当該
不良テープ部Ｍｚを巻取リール８（図１）で巻き取る作
用が行われる（ＳＴ２，３）。

【００７５】一方、以上の各検査工程において、テープ
不良が検出されなかった場合は、供給部２と不良テープ
回収部４との間を連絡する第２のテープパスから、供給
部２と巻取部３との間を連絡する第１のテープパスへ切
り替え（ＳＴ５）、巻取部３へセットされたカセットＣ
のテープリールＲに対して、所定長の磁気テープＭを巻
き付ける工程が行われる（ＳＴ６）。

【００７６】ここで、巻取部３にセットされたカセット
Ｃは、テープスプライスユニット７によって一対のテー
プリールＲ，Ｒに予め巻装された透明なリーダーテープ
Ｌが切断され、供給部２側の磁気テープＭとの接合がな
される。これにより、第１のテープパスが形成される。
図２Ａは、切断されたリーダーテープＬの一方側の端部
が第１ブロック７１の吸着面７１ｂに吸着保持されてい
る状態を示している。

【００７７】供給パンケーキ６から繰り出される磁気テ
ープＭのテープ長は、テープ検査装置１０によって検出
される。上述のように、供給パンケーキ６の外周テープ
面６Ａは、変位センサ１０１の検出可能範囲内にあるよ
うになされるが、このとき、第１モータ１１８の回転に
よる変位センサ１０１の移動量と、変位センサ１０１か
らのパルス信号とによって、供給パンケーキ６の周面の
半径ｒをコントローラ１８によって演算する。同時に、
供給パンケーキ６を回転駆動させる供給モータ２１の回
転角情報をそのエンコーダ２１Ｅからのパルス数によっ
て得て、所定の回転角位置での供給パンケーキ６の半径
ｒの情報を取り出すようにする。これらの半径ｒの測定
点は、供給パンケーキ６の１回転に関して複数の等角度
間隔位置、例えば８箇所の位置でそれぞれ半径ｒ_iを測
定し、その算術平均による演算を行うようにして、供給
パンケーキ６の各１回転における平均半径の２倍とした
平均直径を算出する。そして、この１回転の平均直径に
よってこの１回転（もしくは所要回転角）における供給
パンケーキ６からの磁気テープＭの繰り出し長を測長す
る。

【００７８】所定長の磁気テープＭの繰り出しが確認さ
れると、テープリールＲに対する磁気テープＭの巻き付
けが完了とされ（ＳＴ７）、供給パンケーキ６及びテー
プリールＲの回転駆動が解除される。そして、テープス
プライスユニット７によって磁気テープＭの終端とリー
ダーテープの端部とを接合し、カセットＣを完成させ
る。完成したカセットＣは、巻取部３から排出部９へ排
出され（ＳＴ８）、シュート９１の下流側に設けられた
一対の保持部９２，９２によって保持される（図１，図
３Ａ）。

【００７９】保持部材９２，９２上で待機されたカセッ
トＣは、巻取部３にセットされた次なるカセットに巻き
付けられる供給パンケーキ６の磁気テープＭの検査結果
に応じて、良品カセットを搬送するコンベヤ９Ａと、不
良カセットを回収する廃棄ボックス９Ｂの何れかに供給
される。

【００８０】すなわち、供給パンケーキ６の外周テープ
面６Ａの形状を測定する工程において、外周テープ面６
Ａの凹凸量が所定値を超えていることを理由としてテー
プ不良と判断された場合には、既に繰り出された磁気テ
ープＭの対応部分にも同様な欠陥がある可能性が高いた
め、保持部材９２，９２に保持されているカセットＣに
は当該欠陥を有する磁気テープＭが混在しているとし
て、図３Ｃに示したように当該カセットＣを廃棄ボック
ス９Ｂへ供給する。また、欠陥検査ユニット１９（図
１）によって磁気テープＭのテープ面にシワやキズ、ピ
ンホール等の塗布欠陥が検出された場合にも、上記と同
様に、当該カセットＣを廃棄ボックス９Ｂへ排出する。
この欠陥検査ユニット１９は、テープ検査装置１０によ
るテープ検査では検出できない不良を検出する目的で装
備されている。一方、それ以外の場合には、図３Ｂに示
したように、カセットＣを供給コンベヤ９Ａへ供給す
る。これにより、製品カセット内への不良テープの混入
を低減することができる。

【００８１】以上の作用が繰り返されることによって、
カセットＣに対するテープ巻取工程が行われる。なお、
上方側の供給パンケーキ６からの磁気テープＭの繰り出
しが完了した後は、下方側の供給パンケーキ６からの磁
気テープＭの繰り出しが行われる。この場合、テープ検
査装置１０は、図１に示す状態から下方へ移動して、当
該下方側の供給パンケーキ６のテープ検査を行うように
なっている。

【００８２】以上、本実施の形態によれば、テープリー
ルＲへの磁気テープＭの巻き付け前に、供給パンケーキ
６の外周部形状の検査工程を設け、供給パンケーキ６の
外観形状から不良テープ部Ｍｚを特定するようにしてい
るので、従来必要とされていたテープ巻き直し工程を廃
止して、設備コスト及び工程コストの低減を図ることが
できるとともに、生産性を向上させることができる。ま
た、供給パンケーキ６中の不良テープ部Ｍｚの検出を自
動的に行うことができるので、高精度な良・不良選別を
行うことができる。

【００８３】また、本実施の形態では、第１のテープパ
スと第２のテープパスとの間でテープパス経路を切り替
える切替手段として、テープスプライスユニット７を用
いているので、既存の設備を利用して本発明を実施する
ことができる。また、不良テープ回収手段を巻取リール
８で構成しているので、不良テープ回収手段の構成を簡
素化でき、かつその占有面積も小さくできるので、設備
設置スペースの増大を抑制して、効率良く不良テープ部
Ｍｚの回収を行うことができる。

【００８４】以上、本発明の実施の形態について説明し
たが、勿論、本発明はこれに限定されることなく、本発
明の技術的思想に基づいて種々の変形が可能である。

【００８５】例えば以上の実施の形態では、巻取部３に
セットされるカセットＣのテープリールＲには全て同一
長の磁気テープＭが巻き付けられるようにしたが、これ
に代えて、供給パンケーキ６の不良テープ部Ｍｚの存在
箇所に応じて、テープリールＲへのテープ巻き付け長を
調整するようにしてもよい。

【００８６】図１１は、この場合の工程フローを示して
いる。すなわち、製品カセットとして、例えば、Ｔ−１
２０、Ｔ−９０及びＴ−８０の３種類を用意する。それ
ぞれの長さ規格は、およそ２４７ｍ、１８６ｍ及び１６
６ｍである。そこで、供給パンケーキ６の外観形状検査
工程（ＳＴ１１）において、不良テープ部Ｍｚが２４７
ｍよりも長いテープ長の場所に存在することが検出され
た場合には、Ｔ−１２０用のカセットＣを巻取部３へセ
ットし巻き付けを行う（ＳＴ１２，ＳＴ１３）。一方、
不良テープ部Ｍｚが２４７ｍ以下であって１８６ｍより
も長い位置にある場合には、Ｔ−９０用のカセットＣを
巻取部３へセットし巻き付けを行う（ＳＴ１４，ＳＴ１
５）。更に、不良テープ部Ｍｚが１８６ｍ以下であって
１６６ｍよりも長い位置にある場合には、Ｔ−８０用の
カセットＣを巻取部３へセットし巻き付けを行う（ＳＴ
１６，ＳＴ１７）。以上のような方法により、一種類の
テープ長のカセットを製造する場合に比べて、良品テー
プ部の利用率を高めることができ、良品テープ部分の有
効利用を図ることができる。なお、不良テープ部Ｍｚが
１６６ｍ以下の位置にある場合には、不良テープ回収部
４へ回収するようにする（ＳＴ１８）。

【００８７】また、以上の実施の形態では、不良テープ
回収手段として、巻取リール８で不良テープ部Ｍｚを巻
き取る構成を採用したが、これに代えて、第２のテープ
パスへ導いた不良テープ部Ｍｚを吸引力で回収する構成
にしてもよい。

【００８８】更に、供給パンケーキ６の外観形状検査工
程で得られたデータを、裁断工程や磁性層塗布工程等の
前工程へフィードバックして、これら各工程の設備の調
整に供することも可能である。

【００８９】また、以上の実施の形態では、テープ状記
録媒体としての磁気テープＭの巻き付け工程に本発明を
適用した例について説明したが、これに限らず、コンピ
ュータやワードプロセッサ等の印字用テープ、電子写真
の現像用カラーリボン等の他のテープ製造工程に対して
も、本発明は適用可能である。

【００９０】

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、以
下の効果を得ることができる。

【００９１】本発明のテープ巻装体の検査装置によれ
ば、テープ巻装体からテープを繰り出すことなくテープ
の良・不良判別を行うことができると同時に、テープ巻
き直し工程を経ることなく不良テープ部の存在箇所を検
出することができる。これにより、テープ製造コストの
低減を図ることができるとともに、生産性の向上を図る
ことができる。

【００９２】請求項２の発明によれば、テープ巻装体の
外観形状を非接触で測定することができる。

【００９３】請求項３及び請求項４の発明によれば、駆
動機構によるスライドプッシャの直線的な移動によっ
て、センサ手段をテープ巻装体の周りに揺動させること
ができ、装置構成を簡素化することができる。

【００９４】また、本発明のテープ巻装体の検査方法に
よれば、テープ面の凹凸及び、テープの巻き乱れを検出
することができ、これらの大きさによって不良テープ部
の存在を確認することができる。

【００９５】請求項６から請求項９の発明によれば、テ
ープ巻装体の外観形状を非接触で測定することができる
とともに、テープ巻装体の凹凸分布を高精度に検出する
ことができる。

【００９６】請求項１０の発明によれば、テープ巻装体
の外観形状をより高い正確性をもって測定することがで
きるので、不良テープ部の存在を高精度に検出すること
ができる。

【００９７】更に、本発明のテープ巻取装置によれば、
テープ巻き直し工程を経ることなくテープの良・不良選
別を行いながら、良品テープ部のみを抽出してカセット
の製造を行うことが可能となり、カセット製造コストの
低減と、テープ生産性の向上を図ることができる。

【００９８】請求項１２の発明によれば、既存の設備を
有効に用いることができるので、従来の巻取装置に大幅
な変更を加えることなく本発明を実施することができ
る。

【００９９】請求項１３の発明によれば、不良テープ回
収手段の構成を簡素化でき、かつ、その占有面積も小さ
くできるので、設備設置スペースの増大を抑制して、効
率良く不良テープ部の回収を行うことができる。

【０１００】請求項１４の発明によれば、不良テープ部
を含むカセットの次工程への供給を未然に防止して、製
品の信頼性を高めることができる。

【０１０１】そして、本発明のテープ巻取方法によれ
ば、テープリールへのテープの巻き付け前に、当該テー
プの良・不良情報を得ることができるので、良・不良テ
ープを選別しながらカセットの製造を行うことが可能と
なり、カセット製品コストの低減と生産性の向上を図る
ことができる。

【０１０２】請求項１６の発明によれば、テープ巻装体
の外観形状測定を非接触で行うことができるとともに、
高精度な検出データを得ることができる。

【０１０３】請求項１７の発明によれば、不良テープ部
の存在箇所に応じてテープ巻き付け長を調整するように
しているので、良品テープ部の利用率を高めることがで
きる。

【０１０４】請求項１８の発明によれば、一本のテープ
巻装体から製品カセットの製造と、不良テープ部の回収
を効率良く行うことができ、生産性の向上を図ることが
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態によるテープ巻取装置の概
略構成図である。

【図２】本発明の実施の形態におけるテープスプライス
ユニットの一構成例を示す底面図であり、Ａは第１のテ
ープパスを形成している状態を示し、Ｂは第２のテープ
パスへ切り替えた直後の状態を示している。

【図３】本発明の実施の形態における製品カセットの排
出部の構成を概略的に示す側断面図であり、Ａは保持部
材によってカセットが保持されている状態を示し、Ｂは
次工程へ連絡する供給コンベアへカセットを排出してい
る状態を示し、Ｃは不良カセットを収容する廃棄ボック
スへカセットを排出している状態を示している。

【図４】本発明の実施の形態によるテープ巻装体の検査
装置の構成を示す斜視図である。

【図５】テープ巻装体に対するセンサ手段の移動経路を
示す図である。

【図６】テープ巻装体の外周部とセンサ手段との間の相
対距離を算出する方法を説明する図である。

【図７】テープ巻装体の積層巻面の形状の一例を示す図
である。

【図８】本発明の実施の形態によるテープ巻装体の検査
装置の一作用を説明する図であり、Ａはテープ巻装体の
積層巻面の形状測定工程を示し、Ｂはその検出データを
示している。

【図９】本発明の実施の形態によるテープ巻装体の検査
装置の一作用を説明する図であり、Ａはテープ巻装体の
外周テープ面の形状測定工程におけるデータ計算区画の
一例を示し、Ｂはその検出データに基づく外周テープ面
の凹凸分布の一例を示している。

【図１０】本発明の実施の形態によるテープ巻取装置の
作用を説明する工程フロー図である。

【図１１】本発明の実施の形態の変形例によるテープ巻
取装置の作用を説明する工程フロー図である。

【符号の説明】

１…テープ巻取装置、２…供給部、３…巻取部、４…不
良テープ回収部、５…リールハブ、６…供給パンケーキ
（テープ巻装体）、７…テープスプライスユニット（切
替手段）、８…巻取リール、９…排出部（カセット選別
手段）、１０…テープ検査装置、１２…スプライス部
（切替手段）、１８…コントローラ、２１…供給モー
タ、３１…巻取モータ、８２…保持部材、８４…ゲート
部材、１０１…変位センサ（センサ手段）、１０２…取
付ブラケット、１０３…スライドベース、１０４…第１
のボールネジ、１０６，１１０…直線レール、１０８…
第２のボールネジ、１１２…スライドプッシャ、１１３
…円弧レール、１１４，１１５…支軸、１１６…引張バ
ネ、１１７…株部材、１１８…第１モータ、１１９…第
２モータ、Ｍ…磁気テープ、Ｍｚ…不良テープ部。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】所定幅に裁断された長尺のテープをリー
ルハブに巻装してなるテープ巻装体の検査装置であっ
て、前記テープ巻装体の巻径位置における前記テープの外観
形状を光学的に検出するセンサ手段と、前記センサ手段を、前記テープ巻装体の半径方向へ移動
させる第１の移動手段と、前記センサ手段を、前記テープ巻装体の外周テープ面と
正対する位置から、所定角度範囲にわたって前記テープ
巻装体の周りを揺動させる第２の移動手段と、前記センサ手段の出力に基づいて前記テープ巻装体の外
観形状の良否を判別するコントローラとを備えたことを
特徴とするテープ巻装体の検査装置。
【請求項２】前記センサ手段が、レーザー変位センサ
からなることを特徴とする請求項１に記載のテープ巻装
体の検査装置。
【請求項３】前記第２の移動手段が、前記センサ手段を支持する取付ブラケットと、前記第１の移動手段により前記テープ巻装体の半径方向
へ移動可能なスライドベースの上面に敷設され、前記取
付ブラケットを前記テープ巻装体の周りに移動可能に支
持する円弧レールと、前記取付ブラケットを、前記円弧レールに沿って移動さ
せるスライドプッシャと、前記スライドプッシャを、前記テープ巻装体の軸心方向
へ移動可能な駆動機構とを含むことを特徴とする請求項
１に記載のテープ巻装体の検査装置。
【請求項４】前記取付ブラケットには、前記スライド
プッシャからの押圧力を受けるカム部材を回転可能に支
持する支軸が立設され、前記支軸には、前記スライドプ
ッシャに一端が支持されるコイルバネの他端が係止され
ることを特徴とする請求項３に記載のテープ巻装体の検
査装置。
【請求項５】所定幅に裁断された長尺のテープをリー
ルハブに巻装してなるテープ巻装体の検査方法であっ
て、少なくとも、前記テープ巻装体の外周テープ面の形状を測定する工程
と、前記テープ巻装体の積層巻面の形状を測定する工程と、前記の各工程の測定結果に基づいて、前記テープ巻装体
の形状の良否を判別する工程とを有することを特徴とす
るテープ巻装体の検査方法。
【請求項６】前記外周テープ面の形状を測定する工程
が、前記テープ巻装体へレーザ光を照射し、その反射光
を受光して前記テープ巻装体との相対距離を測定するレ
ーザ変位センサを用いて行われるとともに、前記外周テープ面をそのテープ幅方向に複数の領域に区
画し、前記各領域ごとに測定した変位データの平均値に
基づいて、前記外周テープ面の形状の良否が判別される
ことを特徴とする請求項５に記載のテープ巻装体の検査
方法。
【請求項７】前記領域のうち、前記外周テープ面のテ
ープ幅方向の端部側に区画される領域が、前記外周テー
プ面のテープ幅方向中央部に区画される領域よりも狭く
設定されることを特徴とする請求項６に記載のテープ巻
装体の検査方法。
【請求項８】前記外周テープ面のテープ幅方向の端部
側におけるレーザ光の走査速度が、前記外周テープ面の
テープ中央部におけるレーザ光の走査速度よりも小とさ
れることを特徴とする請求項７に記載のテープ巻装体の
検査方法。
【請求項９】前記積層巻面の形状を測定する工程が、
前記テープ巻装体へレーザ光を照射し、その反射光を受
光して前記テープ巻装体との相対距離を測定するレーザ
変位センサを用いて行われ、前記積層巻面に対して斜め方向に照射したレーザ光を、
照射角一定で、前記積層巻面のテープ積層厚方向へ走査
させながら行われることを特徴とする請求項５に記載の
テープ巻装体の検査方法。
【請求項１０】前記の各工程が、前記テープ巻装体の
周方向に関して複数箇所で行われることを特徴とする請
求項５に記載のテープ巻装体の検査方法。
【請求項１１】所定幅に裁断された長尺のテープをリ
ールハブに巻装してなるテープ巻装体を有する供給部
と、カセットを支持し、前記カセット内のテープリール
を回転駆動させて、前記供給された所定長のテープを前
記テープリールへ巻き付ける巻取部とを備えたテープ巻
取装置であって、前記テープ巻装体の近傍に配置され、前記テープ巻装体
の外観形状を検査するテープ検査手段と、前記テープ検査手段によって不良と判別されたテープ部
分を回収する不良テープ回収手段と、前記テープ検査手段の検査結果に基づいて、前記テープ
の供給先を、前記巻取部と前記不良テープ回収手段との
間で切り替える切替手段とを備えたことを特徴とするテ
ープ巻取装置。
【請求項１２】前記切替手段が、前記巻取部の近傍に
配置され前記テープを切断及び接合可能なテープスプラ
イスユニットを含むことを特徴とする請求項１１に記載
のテープ巻取装置。
【請求項１３】前記不良テープ回収手段が、前記不良と判断されたテープ部分を巻き取る巻取軸を有
する巻取リールと、前記巻取リールを回転駆動する巻取モータとを含むこと
を特徴とする請求項１１に記載のテープ巻取装置。
【請求項１４】前記巻取部にて前記テープの巻き付け
を完了したカセットの排出先を、前記テープ検査手段か
らの出力に応じて切り替えるカセット選別手段を備えた
ことを特徴とする請求項１１に記載のテープ巻取装置。
【請求項１５】テープ巻装体から所定長のテープを繰
り出して、カセット内のテープリールへ巻き付けるテー
プ巻取方法であって、前記テープリールへの前記テープの巻き付け前に、前記テープ巻装体の外観形状の検査工程を設けたことを
特徴とするテープ巻取方法。
【請求項１６】前記検査工程が、静止した前記テープ
巻装体の外周テープ面及び積層巻面に対してレーザ光を
照射し、その反射光を受光して前記テープ巻装体との相
対距離を測定するレーザ変位センサを用いて行われるこ
とを特徴とする請求項１５に記載のテープ巻取方法。
【請求項１７】前記検査工程で検出された不良テープ
部の存在箇所に応じて、前記テープリールへのテープ巻
付け長を調整することを特徴とする請求項１５に記載の
テープ巻取方法。
【請求項１８】前記検査工程で検出された不良テープ
部を、回収手段で回収する工程を有することを特徴とす
る請求項１５に記載のテープ巻取方法。