JP2003086657A - 搬送装置、ステージ装置及び露光装置 - Google Patents

搬送装置、ステージ装置及び露光装置

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JP2003086657A
JP2003086657A JP2001272457A JP2001272457A JP2003086657A JP 2003086657 A JP2003086657 A JP 2003086657A JP 2001272457 A JP2001272457 A JP 2001272457A JP 2001272457 A JP2001272457 A JP 2001272457A JP 2003086657 A JP2003086657 A JP 2003086657A
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manufacturing
force
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factory
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JP2001272457A
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Mahito Yamamoto
磨人 山本
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Canon Inc
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Manipulator (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 基板搬送中の位置ずれを、非接触無負荷で防
止する。 【解決手段】 基板2を保持して所定方向に移動する搬
送部としての回転ハンド1を有し、該ハンド1の移動時
の速度、及び加速度の少なくともどちらかに起因して基
板2が受ける移動時の力に応じて該移動時の力に抗する
方向から外力Fを該基板2に作用させる外力付加機構を
設け、該外力付与機構が、空気の吹き出し口11,12
を備え、外力Fとして気体圧を基板2に作用させる。移
動時の力としての遠心力Mrθ2 に抗して、回転中心O
の外側から基板2に外力Fを作用させ得るように、空気
の吹き出し口11,12は該基板2の外側から回転中心
Oに向けて配置してある。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば半導体製造
時のレチクル等の基板搬送に好適に使用され、基板を搬
送する搬送装置及びステージ装置、さらにはこれを用い
た露光装置やデバイス製造方法の技術分野に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】半導体のフォトリソグラフィ工程にはレ
チクルの微細パターンを感光剤の塗布されたウエハ上に
転写する露光装置が使用されている。
【0003】基板(レチクル)は、装置に投入されてか
ら、露光を行うためのスキャンステージ上まで搬送さ
れ、露光終了後に、スキャンステージから元の位置へ搬
送される。
【0004】この時、搬送するために生じる加速度と基
板の質量に応じた力が基板に掛かるため、この力に耐え
得る程度の保持力で基板を搬送装置に保持する必要があ
る。通常、基板は真空吸着力で装置に吸着保持されてい
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】装置全体の性能を向上
させ(処理スループットの向上、基板サイズの増大)生
産性を高めるためには、搬送装置は、搬送部の速度、及
び加速度が増大し、基板サイズの増大に伴う基板質量の
増大が避けられない。これらが大きくなるほどに、基板
の保持には大きな力を要するために、速度や、加速度に
抗して真空吸着力だけで基板を保持することが困難にな
ってきた。
【0006】本発明は、上述の課題を解決すべくなされ
たものであって、基板搬送中の位置ずれを、非接触無負
荷で防止し、大きな速度、加速度や、より大型の基板に
も対応できる保持機構を備えた搬送装置、ステージ装置
や、これを用いた高い生産性をもった露光装置やデバイ
ス製造装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記問題を解決するため
に、本発明に係る搬送装置は、基板を保持して所定方向
に移動する搬送部と、該搬送部の移動時の速度、及び加
速度の少なくともどちらかに起因して前記基板が受ける
移動時の力に応じて該移動時の力に抗する外力を該基板
に作用させる外力付加機構を設けたことを特徴とする。
ここで好ましくは、前記外力付加機構が、気体の吹き出
し口を備え、前記外力として気体圧を前記基板に作用さ
せる。
【0008】また、好ましくは、該吹き出し口を基板の
一辺に対して複数箇所設けることにより、基板の一辺に
分散して力を付加する。また、好ましくは、該吹き出し
口からの空気圧を電磁弁の駆動によって変化させて、基
板に付加する力を可変とする。また、好ましくは、加速
度に抗して基板の対向する二辺からそれぞれ基板に力を
作用させ得るように、前記機構を複数組配置する。
【0009】また、好ましくは、回転式の搬送部で、遠
心力に抗して、回転中心の外側から基板に力を作用させ
得るように、基板の外側から回転中心に向けて前記外力
付加機構を配置する。また、好ましくは、前記搬送部へ
の基板の保持は真空吸着力を用いて行う。
【0010】また、本発明に係るステージ装置は、前記
いずれかの搬送装置によって前記基板の供給及び回収の
少なくともどちらかのための搬送が行われる移動可能な
ステージを有することを特徴とし、本発明に係る露光装
置は、レチクル等の基板を高速で搬送する前記搬送装置
を用いたことを特徴とするものである。
【0011】また、本発明は、前記露光装置を含む各種
プロセス用の製造装置群を半導体製造工場に設置する工
程と、該製造装置群を用いて複数のプロセスによって半
導体デバイスを製造する工程とを有する半導体デバイス
製造方法にも適用される。前記製造装置群をローカルエ
リアネットワークで接続する工程と、前記ローカルエリ
アネットワークと前記半導体製造工場外の外部ネットワ
ークとの間で、前記製造装置群の少なくとも1台に関す
る情報をデータ通信する工程とをさらに有することが望
ましい。また、前記露光装置のベンダもしくはユーザが
提供するデータベースに前記外部ネットワークを介して
アクセスしてデータ通信によって前記製造装置の保守情
報を得る、もしくは前記半導体製造工場とは別の半導体
製造工場との間で前記外部ネットワークを介してデータ
通信して生産管理を行うことが好ましい。
【0012】また、本発明は、前記露光装置を含む各種
プロセス用の製造装置群と、該製造装置群を接続するロ
ーカルエリアネットワークと、該ローカルエリアネット
ワークから工場外の外部ネットワークにアクセス可能に
するゲートウェイを有し、前記製造装置群の少なくとも
1台に関する情報をデータ通信することを可能にした半
導体製造工場にも適用される。
【0013】また、本発明は、半導体製造工場に設置さ
れた前記露光装置の保守方法であって、前記露光装置の
ベンダもしくはユーザが、半導体製造工場の外部ネット
ワークに接続された保守データベースを提供する工程
と、前記半導体製造工場内から前記外部ネットワークを
介して前記保守データベースへのアクセスを許可する工
程と、前記保守データベースに蓄積される保守情報を前
記外部ネットワークを介して半導体製造工場側に送信す
る工程とを有することを特徴としてもよい。
【0014】また、本発明は、前記露光装置において、
ディスプレイと、ネットワークインタフェースと、ネッ
トワーク用ソフトウェアを実行するコンピュータとをさ
らに有し、露光装置の保守情報をコンピュータネットワ
ークを介してデータ通信することを可能にしたことを特
徴としてもよい。前記ネットワーク用ソフトウェアは、
前記露光装置が設置された工場の外部ネットワークに接
続され前記露光装置のベンダもしくはユーザが提供する
保守データベースにアクセスするためのユーザインタフ
ェースを前記ディスプレイ上に提供し、前記外部ネット
ワークを介して該データベースから情報を得ることを可
能にすることが好ましい。
【0015】
【発明の実施の形態】(第1の実施形態)本発明の実施
形態について、基板がレチクルである場合を例として説
明する。図1は本発明の第1の実施形態に係る基板とし
てのレチクルを搬送する搬送装置を示す底面図である。
【0016】同図において、1は搬送部を構成する搬送
用回転ハンドである。このハンド1は、その軸Oの両側
に基板としてのレチクル2の保持部が設けられており、
レチクル2の供給と回収が同時に行える構造となってい
る。基板(レチクル)2は、その質量をM、その中心を
R0とする。3から10までは回転ハンド1に取り付け
られ、いずれもレチクル2を保持するための爪である。
これらの爪3〜10は、表面に構成された真空吸着用の
パッドにより吸着力fでレチクルを吸着保持する。11
及び12は回転ハンド1の回転半径に対し垂直に設けら
れており、遠心力方向に加わる力に抗して外力Fが加わ
るように構成されている。ここで、軸Oとレチクル2の
中心R0との間の距離をrとする。
【0017】上記構成において、回転ハンド1が角速度
θで時計周り(以下CW方向)に回転すると、レチクル
2には遠心力が生じて回転中心から外向きにMrθ2
力が加わる。ここで、空気吹き出し口12からレチクル
2に対して空気圧の外力Fを加えることにより、レチク
ル2に掛かる遠心力は相殺される。
【0018】なお、空気圧によって、レチクル2に完全
に相殺する力を作用させなくても、遠心力に抗して、真
空吸着力fでレチクル2を保持できる程度の力まで相殺
し、軽減しても実用上は十分である。すなわち、外力付
加機構は、 f≧|Mrθ2−F| を満たす範囲内の外力Fをレチクル2に加えればよい。
【0019】一般に電磁弁の駆動に抗して空気の供給に
は時間的な遅れがあり、遠心力がfを超える瞬間と同時
に必要な空気圧を加えることは困難である。そこで、さ
らに上記条件に加えて、Fに次のような条件を追加す
る。 f≧F このときには、レチクル2の回転速度が減速し遠心力が
減衰しても、空気圧の外力Fが真空吸着力fを超えるこ
とはない。そのため、ハンド1の回転前に空気の供給を
開始しておいても、押し込みすぎにより、レチクル2が
ずれることはなく、空気供給の時間遅れの問題も解消さ
れる。
【0020】回転ハンド1が逆方向に回転する場合で
も、遠心力は同方向に掛かるので、上記手段で力の相殺
ができる。また、力を相殺するための外力付加機構とし
て、ハンド1上に機械的な駆動部を持たないため、装置
の構成は大型化せず、複雑化することもない。
【0021】上記機構を有する回転ハンド1を図2の搬
送装置に適用する。同図において、13はレチクル2の
プリアライメントステージ、14は露光を行うためのレ
チクルステージである。回転ハンド1によって、レチク
ル2の供給、及び回収が同時にできる構成となってい
る。さらにこの装置では、プリアライメント部によっ
て、平面方向(XYQ3軸)でミクロン単位のレチクル
の位置決めが行われている。よってプリアライメントス
テージ13からレチクルステージ14へレチクル2を供
給する際には、精度の保持が必要となる。
【0022】この時、上記機構では、レチクル2と回転
ハンド1との接点は回転ハンド1の下面の爪3,9等に
よる吸着のみであって、側面からの接点は持っていな
い。そのため、この搬送装置は、アライメントの精度を
損なうことなく、遠心力を相殺し、レチクル2を搬送す
ることができる。
【0023】(第2の実施形態)図3は本発明の第2の
実施形態に係る搬送装置としてレチクル搬送用のロボッ
トを示す斜視図である。この搬送用ロボット15は、回
転軸O’に固着したアーム21と、該アーム21の先端
にピン接合したリンク22とを有する関節を備え、リン
ク22の先端に搬送部としてのハンド1が連結されてお
り、該関節の伸縮によるX方向、回転軸O’を中心とし
たθ’方向、及びZ方向の駆動軸を持っている。レチク
ル2の下面に接するところには、真空吸着用の図示しな
いパッドがあり、レチクル2を真空吸着力f’で吸着保
持する。16から19まではこの装置の駆動時の加減速
によってレチクル2に掛かる移動時の力を相殺するため
の、空気の吹き出し口である。ここで、回転軸O’とレ
チクル2の中心R0間の距離をr’とする。
【0024】上記構成において、このロボット15のハ
ンド1が回転方向に角速度θ’で動作しているとき、レ
チクル2に掛かる遠心力を相殺するために付加する外力
F’の算定は、上述した手段と同様に次のようにして行
われる。すなわち、外力付加機構は、 f’≧|Mr’θ’2 −F’| を満たす範囲内の空気圧の外力F’を、遠心力に抗して
吹き出し口18,19からレチクル2に加えればよい。
【0025】また、上記構成において、搬送ロボット1
5は、回転軸O’の外側に向かって伸びる方向(紙面に
向かって右側、以後+側)にハンド1が加速度aで加速
されると、レチクル2にはロボット15に対しMaの力
が掛かる。ここで、空気の吹き出し口16,17からレ
チクル2に対して空気圧の外力F”を加えることによ
り、レチクル2に掛かる移動時の力Maは相殺される。
【0026】遠心力の相殺の場合と同様に、空気圧によ
ってレチクル2に完全に相殺する力を作用させなくて
も、真空吸着力f’でレチクル2を保持できる程度の力
まで相殺し、軽減しても実用上は十分である。すなわ
ち、外力付加機構は、 f’≧|Ma−F”| を満たす範囲内の空気圧による外力F”をレチクル2に
加えればよい。
【0027】同様にロボット15が+側に動作中に加速
度aで減速するときには、空気の吹き出し口18,19
からレチクル2に対して空気圧による外力F”を付加す
ることにより、レチクル2に掛かる移動時の力Maは相
殺される。
【0028】また、ロボット15のハンド1が−側に加
減速する場合は上記力とは逆向きの力がレチクル2に働
き、上記とは逆に空気の吹き出し口を切り替えることに
よって、力の相殺が可能となる。
【0029】(半導体生産システムの実施形態)次に、
本発明に係る装置を用いた半導体デバイス(ICやLS
I等の半導体チップ、液晶パネル、CCD、薄膜磁気ヘ
ッド、マイクロマシン等)の生産システムの例を説明す
る。これは半導体製造工場に設置された製造装置のトラ
ブル対応や定期メンテナンス、あるいはソフトウェア提
供などの保守サービスを、製造工場外のコンピュータネ
ットワークを利用して行うものである。
【0030】図4は全体システムをある角度から切り出
して表現したものである。図中、101は半導体デバイ
スの製造装置を提供するベンダ(装置供給メーカ)の事
業所である。製造装置の実例としては、半導体製造工場
で使用する各種プロセス用の半導体製造装置、例えば、
前工程用機器(露光装置、レジスト処理装置、エッチン
グ装置等のリソグラフィ装置、熱処理装置、成膜装置、
平坦化装置等)や後工程用機器(組立て装置、検査装置
等)を想定している。事業所101内には、製造装置の
保守データベースを提供するホスト管理システム10
8、複数の操作端末コンピュータ110、これらを結ん
でイントラネット等を構築するローカルエリアネットワ
ーク(LAN)109を備える。ホスト管理システム1
08は、LAN109を事業所の外部ネットワークであ
るインターネット105に接続するためのゲートウェイ
と、外部からのアクセスを制限するセキュリティ機能を
備える。
【0031】一方、102〜104は、製造装置のユー
ザとしての半導体製造メーカの製造工場である。製造工
場102〜104は、互いに異なるメーカに属する工場
であっても良いし、同一のメーカに属する工場(例え
ば、前工程用の工場、後工程用の工場等)であっても良
い。各工場102〜104内には、夫々、複数の製造装
置106と、それらを結んでイントラネット等を構築す
るローカルエリアネットワーク(LAN)111と、各
製造装置106の稼動状況を監視する監視装置としてホ
スト管理システム107とが設けられている。各工場1
02〜104に設けられたホスト管理システム107
は、各工場内のLAN111を工場の外部ネットワーク
であるインターネット105に接続するためのゲートウ
ェイを備える。これにより各工場のLAN111からイ
ンターネット105を介してベンダの事業所101側の
ホスト管理システム108にアクセスが可能となり、ホ
スト管理システム108のセキュリティ機能によって限
られたユーザだけにアクセスが許可となっている。具体
的には、インターネット105を介して、各製造装置1
06の稼動状況を示すステータス情報(例えば、トラブ
ルが発生した製造装置の症状)を工場側からベンダ側に
通知する他、その通知に対応する応答情報(例えば、ト
ラブルに対する対処方法を指示する情報、対処用のソフ
トウェアやデータ)や、最新のソフトウェア、ヘルプ情
報などの保守情報をベンダ側から受け取ることができ
る。各工場102〜104とベンダの事業所101との
間のデータ通信および各工場内のLAN111でのデー
タ通信には、インターネットで一般的に使用されている
通信プロトコル(TCP/IP)が使用される。なお、
工場外の外部ネットワークとしてインターネットを利用
する代わりに、第三者からのアクセスができずにセキュ
リティの高い専用線ネットワーク(ISDNなど)を利
用することもできる。また、ホスト管理システムはベン
ダが提供するものに限らずユーザがデータベースを構築
して外部ネットワーク上に置き、ユーザの複数の工場か
ら該データベースへのアクセスを許可するようにしても
よい。
【0032】さて、図5は本実施形態の全体システムを
図4とは別の角度から切り出して表現した概念図であ
る。先の例ではそれぞれが製造装置を備えた複数のユー
ザ工場と、該製造装置のベンダの管理システムとを外部
ネットワークで接続して、該外部ネットワークを介して
各工場の生産管理や少なくとも1台の製造装置の情報を
データ通信するものであった。これに対し本例は、複数
のベンダの製造装置を備えた工場と、該複数の製造装置
のそれぞれのベンダの管理システムとを工場外の外部ネ
ットワークで接続して、各製造装置の保守情報をデータ
通信するものである。図中、201は製造装置ユーザ
(半導体デバイス製造メーカ)の製造工場であり、工場
の製造ラインには各種プロセスを行う製造装置、ここで
は例として露光装置202、レジスト処理装置203、
成膜処理装置204が導入されている。なお図5では製
造工場201は1つだけ描いているが、実際は複数の工
場が同様にネットワーク化されている。工場内の各装置
はLAN206で接続されてイントラネットを構成し、
ホスト管理システム205で製造ラインの稼動管理がさ
れている。
【0033】一方、露光装置メーカ210、レジスト処
理装置メーカ220、成膜装置メーカ230などベンダ
(装置供給メーカ)の各事業所には、それぞれ供給した
機器の遠隔保守を行うためのホスト管理システム21
1,221,231を備え、これらは上述したように保
守データベースと外部ネットワークのゲートウェイを備
える。ユーザの製造工場内の各装置を管理するホスト管
理システム205と、各装置のベンダの管理システム2
11,221,231とは、外部ネットワーク200で
あるインターネットもしくは専用線ネットワークによっ
て接続されている。このシステムにおいて、製造ライン
の一連の製造機器の中のどれかにトラブルが起きると、
製造ラインの稼動が休止してしまうが、トラブルが起き
た機器のベンダからインターネット200を介した遠隔
保守を受けることで迅速な対応が可能であり、製造ライ
ンの休止を最小限に抑えることができる。
【0034】半導体製造工場に設置された各製造装置は
それぞれ、ディスプレイと、ネットワークインタフェー
スと、記憶装置にストアされたネットワークアクセス用
ソフトウェアならびに装置動作用のソフトウェアを実行
するコンピュータを備える。記憶装置としては内蔵メモ
リやハードディスク、あるいはネットワークファイルサ
ーバーなどである。上記ネットワークアクセス用ソフト
ウェアは、専用又は汎用のウェブブラウザを含み、例え
ば図6に一例を示す様な画面のユーザインタフェースを
ディスプレイ上に提供する。各工場で製造装置を管理す
るオペレータは、画面を参照しながら、製造装置の機種
401、シリアルナンバー402、トラブルの件名40
3、発生日404、緊急度405、症状406、対処法
407、経過408等の情報を画面上の入力項目に入力
する。入力された情報はインターネットを介して保守デ
ータベースに送信され、その結果の適切な保守情報が保
守データベースから返信されディスプレイ上に提示され
る。またウェブブラウザが提供するユーザインタフェー
スはさらに図示のごとくハイパーリンク機能410〜4
12を実現し、オペレータは各項目の更に詳細な情報に
アクセスしたり、ベンダが提供するソフトウェアライブ
ラリから製造装置に使用する最新バージョンのソフトウ
ェアを引出したり、工場のオペレータの参考に供する操
作ガイド(ヘルプ情報)を引出したりすることができ
る。ここで、保守データベースが提供する保守情報に
は、上記説明した本発明に関する情報も含まれ、また前
記ソフトウェアライブラリは本発明を実現するための最
新のソフトウェアも提供する。
【0035】次に上記説明した生産システムを利用した
半導体デバイスの製造プロセスを説明する。図7は半導
体デバイスの全体的な製造プロセスのフローを示す。ス
テップ1(回路設計)では半導体デバイスの回路設計を
行う。ステップ2(マスク製作)では設計した回路パタ
ーンを形成したマスクを製作する。一方、ステップ3
(ウエハ製造)ではシリコン等の材料を用いてウエハを
製造する。ステップ4(ウエハプロセス)は前工程と呼
ばれ、上記用意したマスクとウエハを用いて、リソグラ
フィ技術によってウエハ上に実際の回路を形成する。次
のステップ5(組み立て)は後工程と呼ばれ、ステップ
4によって作製されたウエハを用いて半導体チップ化す
る工程であり、アッセンブリ工程(ダイシング、ボンデ
ィング)、パッケージング工程(チップ封入)等の組立
て工程を含む。ステップ6(検査)ではステップ5で作
製された半導体デバイスの動作確認テスト、耐久性テス
ト等の検査を行う。こうした工程を経て半導体デバイス
が完成し、これを出荷(ステップ7)する。前工程と後
工程はそれぞれ専用の別の工場で行い、これらの工場毎
に上記説明した遠隔保守システムによって保守がなされ
る。また前工程工場と後工程工場との間でも、インター
ネットまたは専用線ネットワークを介して生産管理や装
置保守のための情報がデータ通信される。
【0036】図8は上記ウエハプロセスの詳細なフロー
を示す。ステップ11(酸化)ではウエハの表面を酸化
させる。ステップ12(CVD)ではウエハ表面に絶縁
膜を成膜する。ステップ13(電極形成)ではウエハ上
に電極を蒸着によって形成する。ステップ14(イオン
打込み)ではウエハにイオンを打ち込む。ステップ15
(レジスト処理)ではウエハに感光剤を塗布する。ステ
ップ16(露光)では上記説明した露光装置によってマ
スクの回路パターンをウエハに焼付露光する。ステップ
17(現像)では露光したウエハを現像する。ステップ
18(エッチング)では現像したレジスト像以外の部分
を削り取る。ステップ19(レジスト剥離)ではエッチ
ングが済んで不要となったレジストを取り除く。これら
のステップを繰り返し行うことによって、ウエハ上に多
重に回路パターンを形成する。各工程で使用する製造機
器は上記説明した遠隔保守システムによって保守がなさ
れているので、トラブルを未然に防ぐと共に、もしトラ
ブルが発生しても迅速な復旧が可能であり、従来に比べ
て半導体デバイスの生産性を向上させることができる。
【0037】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
搬送装置の速度、加減速に伴う移動時の力を相殺できる
ので、搬送装置の高速化や、基板サイズの大型化が図ら
れ、高性能の装置を提供することができる。また、移動
時の力を相殺するための外力付加機構として、ハンド上
に機械的な駆動部を持たないため、装置の構成も大型化
することがなく、複雑化することもない。さらに、外力
付加機構が基板に対し非接触であるため、基板の位置決
め精度を損なうことなく、力の相殺ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1の実施形態に係る搬送部として
のレチクル搬送用回転ハンドを説明するための底面図で
ある。
【図2】 本発明の実施形態に係る搬送装置へレチクル
搬送用回転ハンドを適用した例を説明するための立面図
である。
【図3】 本発明の第2の実施形態に係る搬送装置とし
てレチクル搬送用のロボットを説明するための斜視図で
ある。
【図4】 本発明に係る装置を用いた半導体デバイスの
生産システムをある角度から見た概念図である。
【図5】 本発明に係る装置を用いた半導体デバイスの
生産システムを別の角度から見た概念図である。
【図6】 ユーザインタフェースの具体例である。
【図7】 デバイスの製造プロセスのフローを説明する
図である。
【図8】 ウエハプロセスを説明する図である。
【符号の説明】
1:レチクル搬送用回転ハンド(搬送部)、2:レチク
ル(基板)、3,4,5,6,7,8,9,10:レチ
クル保持用の爪、11,12:空気吹き出し口、13:
レチクルプリアライメントステージ、14:レチクルス
テージ、15:レチクル搬送用ロボット、16,17,
18,19:空気吹き出し口、21:アーム、22:リ
ンク、F:外力、O:ハンドの軸、R0:レチクルの質
量中心、r:OとR0との間の距離、θ:ハンドの回転
角速度、101:ベンダの事業所、102,103,1
04:製造工場、105:インターネット、106:製
造装置、107:工場のホスト管理システム、108:
ベンダ側のホスト管理システム、109:ベンダ側のロ
ーカルエリアネットワーク(LAN)、110:操作端
末コンピュータ、111:工場のローカルエリアネット
ワーク(LAN)、200:外部ネットワーク、20
1:製造装置ユーザの製造工場、202:露光装置、2
03:レジスト処理装置、204:成膜処理装置、20
5:工場のホスト管理システム、206:工場のローカ
ルエリアネットワーク(LAN)、210:露光装置メ
ーカ、211:露光装置メーカの事業所のホスト管理シ
ステム、220:レジスト処理装置メーカ、221:レ
ジスト処理装置メーカの事業所のホスト管理システム、
230:成膜装置メーカ、231:成膜装置メーカの事
業所のホスト管理システム、401:製造装置の機種、
402:シリアルナンバー、403:トラブルの件名、
404:発生日、405:緊急度、406:症状、40
7:対処法、408:経過、410,411,412:
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フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G03F 7/20 521 G03F 7/20 521 H01L 21/027 H01L 21/30 502J Fターム(参考) 3C007 AS01 AS24 BS15 CT04 CT05 DS01 DS06 ES17 FS01 FU00 FU02 NS12 5F031 CA07 FA04 FA09 FA12 FA20 GA08 GA24 GA35 GA43 GA47 GA50 PA06 5F046 CC09 CC10 CD02 CD06

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板を保持して所定方向に移動する搬送
    部を有し、該搬送部の移動時の速度、及び加速度の少な
    くともどちらかに起因して前記基板が受ける移動時の力
    に応じて該移動時の力に抗する方向から外力を該基板に
    作用させる外力付加機構を設けたことを特徴とする搬送
    装置。
  2. 【請求項2】 前記外力付加機構が、気体の吹き出し口
    を備え、前記外力として気体圧を前記基板に作用させる
    ことを特徴とする請求項1に記載の搬送装置。
  3. 【請求項3】 前記吹き出し口を前記基板の一辺に対し
    て複数箇所設けることにより、該吹き出し口からの気体
    圧が、前記基板の一辺に分散して外力を付加することを
    特徴とする請求項2に記載の搬送装置。
  4. 【請求項4】 前記気体の吹き出し口からの気体圧を電
    磁弁の駆動によって変化させて、前記基板に付加する前
    記外力を可変とすることを特徴とする請求項2または3
    に記載の搬送装置。
  5. 【請求項5】 前記移動時の力に抗して前記基板の対向
    する二辺に対しそれぞれ該基板に前記外力を作用させ得
    るように、前記外力付加機構を複数組配置したことを特
    徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の搬送装置。
  6. 【請求項6】 前記移動時の力としての遠心力に抗し
    て、回転中心の外側から前記基板に前記外力を作用させ
    得るように、該基板の外側から回転中心に向けて前記外
    力付加機構を配置したことを特徴とする請求項1乃至5
    のいずれかに記載の搬送装置。
  7. 【請求項7】 請求項1乃至6のいずれかに記載の搬送
    装置によって前記基板の供給及び回収の少なくともどち
    らかのための搬送が行われる移動可能なステージを有す
    ることを特徴とするステージ装置。
  8. 【請求項8】 請求項1乃至6のいずれかに記載の搬送
    装置によって前記基板を高速に搬送することを特徴とす
    る露光装置。
  9. 【請求項9】 請求項8に記載の露光装置を含む各種プ
    ロセス用の製造装置群を半導体製造工場に設置する工程
    と、該製造装置群を用いて複数のプロセスによって半導
    体デバイスを製造する工程とを有することを特徴とする
    半導体デバイス製造方法。
  10. 【請求項10】 前記製造装置群をローカルエリアネッ
    トワークで接続する工程と、前記ローカルエリアネット
    ワークと前記半導体製造工場外の外部ネットワークとの
    間で、前記製造装置群の少なくとも1台に関する情報を
    データ通信する工程とをさらに有することを特徴とする
    請求項9に記載の半導体デバイス製造方法。
  11. 【請求項11】 前記露光装置のベンダもしくはユーザ
    が提供するデータベースに前記外部ネットワークを介し
    てアクセスしてデータ通信によって前記製造装置の保守
    情報を得る、もしくは前記半導体製造工場とは別の半導
    体製造工場との間で前記外部ネットワークを介してデー
    タ通信して生産管理を行うことを特徴とする請求項10
    に記載の半導体デバイス製造方法。
  12. 【請求項12】 請求項8に記載の露光装置を含む各種
    プロセス用の製造装置群と、該製造装置群を接続するロ
    ーカルエリアネットワークと、該ローカルエリアネット
    ワークから工場外の外部ネットワークにアクセス可能に
    するゲートウェイを有し、前記製造装置群の少なくとも
    1台に関する情報をデータ通信することを可能にしたこ
    とを特徴とする半導体製造工場。
  13. 【請求項13】 半導体製造工場に設置された請求項8
    に記載の露光装置の保守方法であって、前記露光装置の
    ベンダもしくはユーザが、半導体製造工場の外部ネット
    ワークに接続された保守データベースを提供する工程
    と、前記半導体製造工場内から前記外部ネットワークを
    介して前記保守データベースへのアクセスを許可する工
    程と、前記保守データベースに蓄積される保守情報を前
    記外部ネットワークを介して半導体製造工場側に送信す
    る工程とを有することを特徴とする露光装置の保守方
    法。
  14. 【請求項14】 請求項8に記載の露光装置において、
    ディスプレイと、ネットワークインタフェースと、ネッ
    トワーク用ソフトウェアを実行するコンピュータとをさ
    らに有し、露光装置の保守情報をコンピュータネットワ
    ークを介してデータ通信することを可能にしたことを特
    徴とする露光装置。
  15. 【請求項15】 前記ネットワーク用ソフトウェアは、
    前記露光装置が設置された工場の外部ネットワークに接
    続され前記露光装置のベンダもしくはユーザが提供する
    保守データベースにアクセスするためのユーザインタフ
    ェースを前記ディスプレイ上に提供し、前記外部ネット
    ワークを介して該データベースから情報を得ることを可
    能にすることを特徴とする請求項14に記載の露光装
    置。
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