JP2003080152A - 塗布方法及び装置 - Google Patents

塗布方法及び装置

Info

Publication number
JP2003080152A
JP2003080152A JP2001275716A JP2001275716A JP2003080152A JP 2003080152 A JP2003080152 A JP 2003080152A JP 2001275716 A JP2001275716 A JP 2001275716A JP 2001275716 A JP2001275716 A JP 2001275716A JP 2003080152 A JP2003080152 A JP 2003080152A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
coating
tip
backup roll
die nozzle
gap
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001275716A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazutada Yamamoto
一公 山本
Tomohito Shimizu
智仁 清水
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP2001275716A priority Critical patent/JP2003080152A/ja
Publication of JP2003080152A publication Critical patent/JP2003080152A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【課題】 基材のダイ型塗布方法において、基材表面又
はバックアップロール外周表面を基準として計測基準を
設定、距離計測手段先端のプローブを直接ダイノズルリ
ップ先端に当てて塗工ギャップを測定、塗布ギャップの
直接測定により、作業者の勘が介入する方法によるばら
つきが発生せず、高精度なコーティングギャップの測定
によって高精度で再現性の高い塗膜を得る塗布方法、塗
布装置を提供する。 【解決手段】 基材の背面をバックアップロールで支持
するダイ型塗布方法において、ダイノズルリップ先端と
対向するバックアップロールに支持された基材表面を基
準、または、ダイノズルリップ先端と対向するバックア
ップロール外周表面を基準としたダイノズルリップ下流
側先端とバックアップロールに支持された基材とのコー
ティングギャップで塗布することを特徴とした塗布方法
を主たる構成にした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、塗布装置に関し、
さらに詳しくは、プラスチックフィルム、紙、金属箔等
の可撓性支持体又は被塗布体(以下基材と称する)に、
種々の塗料を塗布するダイ型塗布方法及び塗布装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】基材に塗布液を塗布する塗布装置として
は、ロール型塗布装置、ビード型塗布装置、スライドコ
ート型塗布装置、バー塗布装置、ダイ型塗布装置等があ
るが、本発明が対象とするのはダイ型塗布装置のうち基
材の背面をバックアップロールで支持するダイ型塗工方
法及び装置である。基材の背面をバックアップロールで
支持するダイ型塗布方法及び装置ではコーティングギャ
ップの大きさは、均一に歩留りよく塗布膜を形成するた
めに重要な因子である。これまでのコーティングギャッ
プ測定方法は、バックアップロールとダイノズルとの間
隙にその厚さの分かっているPETフィルム等の樹脂フ
ィルムを挿入し、作業者の勘に基づき、塗工幅方向が均
一なフィルム挿入抵抗となるように調定した後、特開平
7−313917号公報に開示されているように、高さ
調整モータ、ネジジャッキ及びマグネスケールなどの計
測手段によりコーティングギャップの測定・調整をし、
塗工幅方向に均一挿入抵抗となった状態をそのフィルム
の厚さに相当するコーティングギャップとし、これを基
準として、ギャップ調整装置により狙いのコーティング
ギャップに設定して塗工を行っていた。しかし、この方
法では、作業者の勘によるフィルム挿入抵抗には作業者
間でばらつきが発生し、コーティングギャップを正確に
測定することができないため、塗工開始後微調整が必要
となっていた。また、近年膜厚は薄膜、高均一化の傾向
にあり、このようなコーティングギャップの測定、設定
方法では要求される高精度塗工が困難となってきてい
る。本来であれば、直接ノズルリップ下流側先端とバッ
クアップロールに支持された基材表面または、バックア
ップロール外周表面とのギャップつまりコーティングギ
ャップ測定を行うことが望ましいが、この場合には、以
下のような問題を抱えていた。1.バックアップロール
の外形がφ200〜400mmと大きいためにマイクロ
メーターとバックアップロールが干渉してしまい直接コ
ーティングギャップの測定が出来なかった。2.レーザ
式のギャップ計測装置の場合にはバックアップロール表
面が一般的にはハードクロムめっきされた鏡面となって
おり、更には外形がφ200〜400mmと大きいため
レーザ光がバックアップロール表面に干渉し正確な測定
できなかった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】そこで、本発明の課題
は、このような問題点を解決し、基材表面又はバックア
ップロール外周表面を基準として計測基準を設定し、距
離計測手段先端のプローブを直接ダイノズルリップ先端
に当てて塗工ギャップを測定し、コーティングギャップ
を直接測定することにより、作業者の勘が介入する方法
によるばらつきが発生せず、高精度なコーティングギャ
ップの測定によって高精度かつ再現性の高い塗膜を得る
ことができる塗布方法、及び塗布装置を提供することを
目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の上記課題は、下
記の手段により達成される。請求項1記載の発明によれ
ば、ダイノズルとバックアップロールの間にシート状基
材を通過させ、ダイノズルから塗料を排出して前記基材
表面に塗料を塗布する塗布方法において、バックアップ
ロールの外周面または前記基材表面を基準とし、ダイノ
ズルリップ下流側先端と前記外周面または前記基材表面
との間隙をコーティングギャップとして測定し、前記基
準に基づくコーティングギャップ測定値により前記基材
を塗布する塗布方法を最も主要な特徴とする。請求項2
記載の発明によれば、前記ダイノズルの幅をバックアッ
プロール面長より大ならしめた請求項1記載の塗布方法
を主要な特徴とする。請求項3記載の発明によれば、前
記ダイノズルの幅がバックアップロール面長より小さ
く、ダイノズルリップ先端との位置ずれを予め測定して
あるコーティングギャップ測定用アームを用い、コーテ
ィングギャップを測定する請求項1記載の塗布方法を主
要な特徴とする。請求項4記載の発明によれば、基材の
背面をバックアップロールで支持しながら塗布する塗布
装置において、バックアップロール表面又はバックアッ
プロールに支持された基材表面に接触でき、かつ脱着可
能な、バックアップロール外周表面又は基材基準位置測
定用プレートを、バックアップロール外周表面上又は基
材表面上のロール長手方向に沿って、下流側ダイリップ
に対向する線上に配置し、測定器のプローブの先端が、
ダイノズルリップ先端位置に接触するよう設置されたダ
イヤルゲージ等距離計測手段を備え、ダイノズルリップ
先端とバックアップロールに支持された基材との塗工ギ
ャップ測定を、ダイノズルリップ先端と対向するバック
アップロールに支持された基材表面またはダイノズルリ
ップ先端と対向するバックアップロール外周表面を基準
とし、コーティングギャップを測定し塗布する塗布装置
を最も主要な特徴とする。
【0005】請求項5記載の発明によれば、ダイヤルゲ
ージ等コーティングギャップ計測手段設置位置をバック
アップロール両端面の外側近傍とし、ダイヤルゲージ等
コーティングギャップ計測手段固定部材は、塗布装置本
体の固定部に設置されている請求項4記載の塗布装置を
主要な特徴とする。請求項6記載の発明によれば、ダイ
ヤルゲージ等コーティングギャップ計測手段先端プロー
ブのダイノズルリップ先端接触位置を微調整できるスラ
イド機構を具備した請求項5記載の塗布装置を主要な特
徴とする。請求項7記載の発明によれば、基材又はバッ
クアップロール外周表面基準位置測定用プレートの基材
は、バックアップロールとの接触面がバックアップロー
ルに支持された基材表面又はバックアップロール外周表
面の曲率と概ね同じ曲率で湾曲している請求項5記載の
塗布装置を主要な特徴とする。請求項8記載の発明によ
れば、ダイノズル幅をバックアップロール面長より大き
くした請求項5又は請求項6記載の塗布装置を主要な特
徴とする。請求項9記載の発明によれば、ダイノズル幅
がバックアップロール面長より小さく、ダイノズルリッ
プ先端との位置ずれを予め測定してあるコーティングギ
ャップ測定用アームを設けた請求項5記載の塗布装置を
主要な特徴とする。請求項10記載の発明によれば、基
材の背面をバックアップロールで支持する塗布方法にお
いて、ダイノズルリップ先端とバックアップロールに支
持された基材とのコーティングギャップに、ダイノズル
リップ先端を基準として塗布する塗布方法を最も主要な
特徴とする。
【0006】請求項11記載の発明によれば、基材の背
面をバックアップロールで支持する塗布装置において、
ダイノズルリップ先端を基準とするために、ダイノズル
リップ先端に接触でき、かつ脱着可能なダイノズルリッ
プ先端基準位置測定用プレートをダイノズルリップ先端
に備え、バックアップロール表面上又は基材外周表面上
の下流側ダイリップに対向する線上にその先端のプロー
ブが配置され、かつ基材表面またはバックアップロール
表面に接触するようダイノズル両端の外側に設置された
ダイヤルゲージ等コーティングギャップ計測手段を備え
ダイノズルリップ先端とバックアップロールに支持され
た基材との塗工ギャップを測定し、塗布する塗布装置を
最も主要な特徴とする。請求項12記載の発明によれ
ば、ダイヤルゲージ等コーティングギャップ計測手段先
端のプローブのダイノズルリップ先端接触位置が微調整
可能なスライド機構を具備した請求項11記載の塗布装
置を主要な特徴とする。請求項13記載の発明によれ
ば、脱着可能なダイノズルリップ先端基準位置測定用プ
レートは、測定基準となるノズルリップへの突き当て部
を持つ請求項11又は請求項12記載の塗布装置を主要
な特徴とする。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の態様を図面
に基づいて具体的に説明する。図16に基材の背面をバ
ックアップロールで支持するダイ型塗布方法の塗工状態
概略正面図、図17にその左側面図が示されている。ダ
イノズル2のダイノズルリップ先端11とバックアップ
ロール1に支持された基材12とのコーティングギャッ
プ13の測定は以下のように行う。先ず、図1に示した
本発明に係る概略正面図及び左側面図である図2から明
らかなように、バックアップロール1の外周表面にバッ
クアップロール外周表面基準位置測定用プレート5を突
き当て、バックアップロール1の外周表面を基準とし
て、ダイヤルゲージ等距離計測手段7を用い測定原点を
設定する。次に、図5の概略正面図に示す様にダイノズ
ル2を所定の塗工ギャップ13(図16参照)の方向位
置に移動し、ダイヤルゲージ等距離計測手段7先端のプ
ローブ8を直接ダイノズルリップ先端11に当てること
でバックアップロール1の外周表面とダイノズルリップ
先端11とのギャップ14を測定する。ギャップ14よ
り塗工基材12の厚さ15を減ずることでコーティング
ギャップ13の測定値を得ることができる。又、図17
に示す様に、バックアップロール1に巻き付けた基材1
2を基準とした場合には、ダイヤルゲージ等距離計測手
段7の先端のプローブ8を直接ダイノズルリップ先端1
1に当てることで直接コーティングギャップ13の測定
値を得ることができる。
【0008】この様にして、コーティングギャップ13
を直接的に測定することが可能となる。この結果、これ
までのコーティングギャップ測定方法のように、バック
アップロールとダイノズルとの間隙にその厚さの分かっ
ているPETフィルム等の樹脂フィルムを挿入し、作業
者の勘で塗工幅方向均一なフィルム挿入抵抗となる様な
調整、及びテスト塗工によるギャップ調整装置が不要と
なり、測定、設定精度の作業者間でのばらつきなくなる
ことにより正確かつ再現性の高いコーティングギャップ
設定により再現性が高く、かつ高精度な膜厚を持つ塗工
が可能となる。この場合、ダイヤルゲージ等コーティン
グギャップ計測手段には通常コーティングギャップ測定
精度が1〜2μm程度必要となるため、測定精度1〜2
μm程度以下の高精度ダイヤルゲージ又は指針測微器
(ミツトヨ製:ハイケータ等)もしくはSONY製マグネス
ケール、又は非接触高精度変位計を用いることで高精度
のコーティングギャップの測定・設定が可能となる。計
測結果を示すコーティングギャップ表示は、ダイノズル
機側に限定されることなく、塗布操作上適した場所にあ
っても問題ない。本発明におけるバックアップロール1
の基準のダイノズル相対配置位置は、バックアップロー
ルの下方又は横方向いずれでもかまわない。請求項2記
載の塗布方法によれば、図5に示す様にダイノズル2の
幅をバックアップロール1の面長より大きくしたこと
で、ダイヤルゲージ等コーティングギャップ計測手段7
の先端測定用プローブ8を直接ダイノズルリップ先端1
1に接触させることができ、この結果、高精度なコーテ
ィングギャップ13の測定が可能となる。
【0009】請求項3記載の塗布方法によれば、図7に
示す様にダイノズル2の幅がバックアップロール1の面
長より小さい場合には、このままではダイヤルゲージ等
コーティングギャップ計測手段7の先端測定用プローブ
8を直接ダイノズルリップ先端11に当てることができ
ないが、ダイノズルリップ先端11との位置ずれを予め
測定してあるダイノズル側面に固定されたコーティング
ギャップ測定用アーム10を用い、ダイノズルリップ先
端11の代わりにコーティングギャップ13を測定す
る。測定方法は、請求項1記載の塗布方法と同様に、先
ず、ダイノズルリップ先端11と対向するバックアップ
ロール1の外周表面を基準として、ダイヤルゲージ等距
離計測手段7を用い測定原点を設定する。 次に、ダイ
ノズル2を所定の塗工ギャップ13となる方向位置に移
動し、ダイヤルゲージ等コーティングギャップ計測手段
7の先端のプローブ8をコーティングギャップ測定用ア
ーム10に当てることでバックアップロール1の外周表
面とコーティングギャップ測定用アーム10とのギャッ
プの測定が可能となり、予め測定してあるダイノズルリ
ップ先端11とコーティングギャップ測定用アーム10
との位置ずれ分を補正することでギャップ14の測定が
できる。ギャップ14より塗工基材12の厚さ15分を
減ずることでコーティングギャップ13測定値を得るこ
とができる。図17に示すようにバックアップロール1
に巻き付けた基材12を基準とした場合には、ダイヤル
ゲージ等距離計測手段7の先端のプローブ8をコーティ
ングギャップ測定用アーム10に当て、その測定値を予
め測定してあるダイノズルリップ先端11との位置ずれ
分補正することで直接コーティングギャップ13の測定
値を得られ、正確かつ再現性の高いコーティングギャッ
プ13の設定ができ、この結果、再現性が高く、かつ高
精度な膜厚を持つ塗工が可能となる。
【0010】請求項4記載の塗布装置によれば、図16
に塗工状態の概略正面図及び図17にその左側面図を示
すように、基材12の背面をバックアップロール1で支
持するダイ型塗布装置において、ダイノズル2のダイノ
ズルリップ先端11とバックアップロール1に支持され
た基材12とのコーティングギャップ13の測定は以下
の様に行なう。バックアップロール1に接触できかつ脱
着可能なバックアップロール外周表面基準位置測定用プ
レート5をバックアップロール1の外周表面最下面位置
に備え、図2又は図4の本発明を示す左側面図の様に、
概ねバックアップロール1の中心を通り鉛直方向に設置
され、その先端のプローブ8がダイノズルリップ先端1
1位置に接触するよう設置されたダイヤルゲージ等コー
ティングギャップ計測手段7を、図5の概略正面図に示
す様にダイノズル2を所定の塗工ギャップ13となる昇
降方向位置に移動し、ダイヤルゲージ等コーティングギ
ャップ計測手段7の先端測定用プローブ8を直接ダイノ
ズルリップ先端11に当てギャップ14を測定する。ギ
ャップ14より塗工基材の厚さ15分を減ずることでコ
ーティングギャップ13測定値を得ることができる。図
16に示すようにバックアップロール1に巻き付けた基
材12を基準とした場合には、ダイヤルゲージ等距離計
測手段7先端のプローブ8を直接ダイノズルリップ先端
11に当てることで直接コーティングギャップ13測定
値を得ることができる。この様にして、本塗工装置によ
りコーティングギャップ13を直接的に測定することが
可能となる。この結果、正確かつ再現性の高いコーティ
ングギャップ13設定により再現性が高く、かつ高精度
な膜厚を持つ塗工が可能となる。
【0011】請求項5記載の塗布装置によれば、図5、
図6に示すようにダイヤルゲージ等コーティングギャッ
プ計測手段7の設置位置をバックアップロール1の両端
面の外側近傍とすることで、請求項2記載の塗布方法の
場合にバックアップロール1の面長に対するダイノズル
幅の張出し量が小さくなりダイノズル2の軽量化、低コ
スト化が計れる。請求項6記載の塗布装置によれば、コ
ーティングギャップ13の測定の精度は、通常1〜2μ
m程度となるため、コーティングギャップ測定計測器に
は測定精度1〜2μm程度以下の高精度ダイヤルゲージ
又は指針測微器(ミツトヨ製:ハイケータ等)を用いる
ことがある。この場合、測定範囲が1mmから30μm
と狭くなる。通常、量産型塗布機における塗工幅は50
0〜2000mm程度であるため、バックアップロール
1の面長はこれより更に50〜100mm大きくなる。
この様に寸法の大きな塗布機において位置精度30μm
〜1mmの精度でダイヤルゲージ等を設置することは技
術的には不可能ではないものの高い加工精度が必要とな
り経済的ではなくなる。この為に図4に示す様にダイヤ
ルゲージ等コーティングギャップ計測手段7の先端のプ
ローブ8のダイノズルリップ先端11接触位置をコーテ
ィングギャップ方向に微調整できる昇降機構として、が
たの少ないスライドテーブル等のスライド機構9を具備
することにより低コストでかつ高精度のコーティングギ
ャップ13の測定が可能な塗布装置となる。請求項7記
載の塗布方法によれば、図2に示す様に基材12又はバ
ックアップロール1の外周表面基準位置測定用プレート
5が平面形状の場合には、ブレードのわずかな傾きがあ
っても測定値に大きな誤差が生じる。本発明では、図4
に示す様にバックアップロール1に支持された基材12
の表面及びバックアップロール1との接触面がバックア
ップロール1に支持された基材12の表面及びバックア
ップロール外周表面の曲率と概ね同じ曲率で湾曲してい
るために、基材12又はバックアップロール外周表面基
準位置測定用プレート5が傾斜することがなく高精度の
測定が可能となる。基材12又はバックアップロール1
の外周表面基準位置測定用プレート5は、その加工精度
を確保するために幅は通常の研削砥石幅である30mm
程度以下が望ましい。
【0012】請求項8記載の塗布方法によれば、図5に
示す様にダイノズル2の幅をバックアップロール1の面
長より大きくしたことで、ダイヤルゲージ等コーティン
グギャップ計測手段7の先端測定用プローブ8を直接ダ
イノズルリップ先端11に接触させることができ、この
結果、高精度なコーティングギャップ13の測定が可能
となる。請求項9記載の塗布方法によれば、図7に示す
様にダイノズル2の幅がバックアップロール1の面長よ
り小さい場合には、このままではダイヤルゲージ等コー
ティングギャップ計測手段先端7の測定用プローブ8を
直接ダイノズルリップ先端11に当てることができない
が、ダイノズルリップ先端11との高さ方向位置ずれを
予め測定してあり、ダイノズル2側面に固定されたコー
ティングギャップ測定用アーム10を用い、ダイノズル
リップ先端11の代わりにコーティングギャップ13を
測定する。測定方法は、請求項1記載の塗布方法と同様
に、先ず、ダイノズルリップ先端11と対向するバック
アップロール1の外周表面にバックアップロール1外周
表面基準位置測定用プレート5を突き当て、バックアッ
プロール1の外周表面を基準として、ダイヤルゲージ等
距離計測手段7を用い測定原点を設定する。次に、図7
の本発明を示す概略正面図のように、ダイノズル2を所
定の塗工ギャップ13となる方向位置に移動し、ダイヤ
ルゲージ等コーティングギャップ計測手段7の先端のプ
ローブ8をコーティングギャップ測定用アーム10に当
てることでバックアップロール1の外周表面とコーティ
ングギャップ測定用アーム10とのギャップの測定が可
能となり、予め測定してあるダイノズルリップ先端11
との位置ずれ分を補正することでギャップ14の測定が
できる。ギャップ14より塗工基材の厚さ15を減ずる
ことでコーティングギャップ13の測定値を得ることが
できる。バックアップロール1に巻き付けた基材12を
基準とした場合には、ダイヤルゲージ等距離計測手段7
の先端のプローブ8をコーティングギャップ測定用アー
ム10に当て、その測定値を予め測定してあるダイノズ
ルリップ先端11との位置ずれ分補正することで直接コ
ーティングギャップ13の測定値を得られ、正確かつ再
現性の高いコーティングギャップ13の設定ができ、こ
の結果、再現性が高く、かつ高精度な膜厚を持つ塗工が
可能となる。
【0013】請求項10記載の塗布方法によれば、図1
6、図17に示すような基材12の背面をバックアップ
ロール1で支持するダイ型塗布方法において、ダイノズ
ルリップ先端11とバックアップロール1に支持された
基材12とのコーティングギャップ13の測定を、図9
の本発明を示す概略正面図および図9の左側面図を示す
図10のように、先ず、ダイヤルゲージ等コーティング
ギャップ計測手段7の先端のプローブ8を、塗工ギャッ
プ測定原点とするダイノズルリップ先端11よりダイノ
ズルリップ先端基準位置測定用プレート20に当て、ダ
イノズルリップ先端11基準を設定し、次に、ダイノズ
ルリップ先端基準位置測定用プレート20を取り外し、
図11の本発明を示す概略正面図および図11の左側面
図を示す図12の様にダイノズル2を所定の塗工ギャッ
プ13となる方向位置に移動し、ダイヤルゲージ等コー
ティングギャップ計測手段7先端のプローブを直接基材
表面12又はバックアップロール1表面に当て、コーテ
ィングギャップ13を測定する。図11は、直接バック
アップロール表面にプローブ8を突き当てた状態を示
す。ダイヤルゲージ等コーティングギャップ計測手段7
の先端のプローブを直接バックアップロール1表面に当
てる場合には、測定ギャップ14の値より塗工基材の厚
さ15を減ずることでコーティングギャップ13の測定
値とし、正確かつ再現性の高いコーティングギャップ1
3の設定ができ、この結果、再現性が高く、かつ高精度
な膜厚を持つ塗工が可能となる。計測結果を示すコーテ
ィングギャップ13表示は、ダイノズル機側に限定され
ることなく、塗布操作上適した場所にあっても問題な
い。本発明によれば、ダイヤルゲージ等コーティングギ
ャップ計測手段先端7のプローブ8を直接バックアップ
ロール1の表面に当てて測定しながら塗工することも可
能である。ダイヤルゲージ等コーティングギャップ計測
手段7は、図13の本発明を示す概略正面図および図1
3の左側面図を示す図14の様にダイノズル側面だけで
なく、ダイノズル脱着フレーム25などに固定してもよ
い。
【0014】請求項11記載の塗布装置によれば、図1
6、図17に示すような基材の背面をバックアップロー
ルで支持するダイ型塗布方法において、ダイノズルリッ
プ先端11とバックアップロール1に支持された基材と
のコーティングギャップ13測定は以下の様に行う。図
9の本発明を示す概略正面図および図9の左側面図を示
す図10の様に概ねバックアップロール1の中心を通り
鉛直方向上向きに設置され、その先端のプローブ8がダ
イノズルリップ先端11位置に接触するよう設置された
ダイヤルゲージ等コーティングギャップ計測手段7によ
り、先ず、ダイヤルゲージ等コーティングギャップ計測
手段7の先端のプローブをダイノズルリップ先端11に
接触させたダイノズルリップ先端基準位置測定用プレー
ト20に当て、ダイノズルリップ先端11基準を設定
し、次に、ダイノズルリップ先端基準位置測定用プレー
ト20を取り外し、図11の概略正面図及び図12の左
側面図に示す様にダイノズル2を所定の塗工ギャップ1
3となる方向位置に移動し、ダイヤルゲージ等コーティ
ングギャップ計測手段7の先端のプローブ8をバックア
ップロール1の表面に当て、ギャップ14を測定し、測
定ギャップ値より塗工基材の厚さ15を減ずることでコ
ーティングギャップ13の測定値とし、正確かつ再現性
の高いコーティングギャップ13設定ができ、この結
果、再現性が高く、かつ高精度な膜厚を持つ塗工が可能
となる。本発明によれば、ダイヤルゲージ等コーティン
グギャップ計測手段7先端のプローブを直接バックアッ
プロール1表面に当てて測定しながら塗工することも可
能である。
【0015】請求項12記載の塗布方法によれば、コー
ティングギャップ13測定の精度は、通常1〜2μm程
度となるため、コーティングギャップ測定計測器には測
定精度1〜2μm程度以下の高精度ダイヤルゲージ又は
指針測微器(ミツトヨ製:ハイケータ等)を用いること
がある。この場合、測定範囲が1mmから30μmと狭
くなる。通常、量産型塗布機における塗工幅は500〜
2000mm程度であるため、バックアップロール面長
はこれより更に50〜100mm大きくなる。この様に
寸法の大きな塗布機において位置精度30μm〜1mm
の精度でダイヤルゲージ等コーティングギャップ計測手
段を設置することは技術的には不可能ではないものの高
い加工精度が必要となり経済的ではなくなる。この為に
図9に示す様にダイヤルゲージ等コーティングギャップ
計測手段7の先端のプローブのダイノズルリップ先端1
1接触位置をコーティングギャップ方向に微調整できる
スライド機構として、がたの少ないスライドテーブル等
のスライド機構9を具備することにより、低コストでか
つ高精度のコーティングギャップ測定が可能な塗布装置
となる。
【0016】請求項13記載の塗布装置によれば、脱着
可能なダイノズルリップ先端基準位置測定用プレート2
1をダイノズルリップ先端11に押付ける場合には、基
準位置を精度良く設定する必要があるが、コーティング
ギャップ測定精度を1μm程度とするためにはプレート
を安定保持しなければならない。しかし、通常ダイノズ
ルリップ先端11は幅1〜3mm程度の幅しかないため
プレートを安定させることが作業者によっては困難な場
合がある。このような場合に、図15に示す様にダイノ
ズルリップ先端基準位置測定用プレート22の断面形状
に測定基準となるノズルリップへの突き当て部を設ける
ことにより、図10のダイノズルリップ先端基準位置測
定用プレート20と比較して、ダイノズルリップ先端基
準位置測定用プレート22を安定して保持することが可
能となる。本発明におけるダイヤルゲージ等コーティン
グギャップ計測手段には通常コーティングギャップ測定
精度が1〜2μm程度必要となるため、測定精度1〜2
μm程度の高精度ダイヤルゲージ又は指針測微器(ミツ
トヨ製:ハイケータ等)もしくはSONY製マグネスケー
ル、又は非接触高精度変位計を用いることで高精度のコ
ーティングギャップの測定・設定が可能となる。計測結
果を示すコーティングギャップ表示は、ダイノズル機側
に限定されることなく、塗布操作上適した場所にあって
も問題ない。塗工液が溶剤系ではない場合には、ダイヤ
ルゲージに変えてレーザ変位計を使用してもよい。ダイ
ヤルゲージ等コーティングギャップ計測手段先端位置設
定用プレートのプローブ接触面は、測定精度及び測定再
現性確保のために表面粗さはできるだけ鏡面に近いもの
が望ましくRmax1.6μm以下がよい、また、硬度も
できるだけ高いものがよく、少なくともHrc30以上
が望ましい。スライド機構を含むダイヤルゲージ等コー
ティングギャップ計測手段7は、コーティングギャップ
13測定・設定後取り外し可能とすることで塗布液によ
る汚損を避けることもできる。バックアップロール1基
準のダイノズル相対配置位置は、バックアップロール1
の下方又は横方向いずれでもかまわない。
【0017】
【発明の効果】請求項1によれば、コーティングギャッ
プを直接測定することが可能となり、これまでのコーテ
ィングギャップ測定方法のように、テスト塗工によるギ
ャップ調整装置が不要となり、測定、設定精度の作業者
間でのばらつきがなくなることにより正確かつ再現性の
高いコーティングギャップ設定により再現性が高く、か
つ高精度な膜厚を持つ塗工が可能となる。請求項2によ
れば、測定用プローブを直接ダイノズルリップ先端に接
触させることができ、この結果、高精度なコーティング
ギャップの測定が可能となる。請求項3によれば、正確
かつ再現性の高いコーティングギャップ設定ができ、こ
の結果、再現性が高く、かつ高精度な膜厚を持つ塗工が
可能となる。請求項4によれば、正確かつ再現性の高い
コーティングギャップ設定により再現性が高く、かつ高
精度な膜厚を持つ塗工が可能となる。請求項5によれ
ば、バックアップロール面長に対するダイノズル幅の張
出し量が小さくなりダイノズルの軽量化、低コスト化が
計れる。請求項6によれば、微調整できる昇降機構とし
て、がたの少ないスライドテーブル等を具備することに
より低コストでかつ高精度のコーティングギャップ測定
が可能な塗布装置となる。請求項7によれば、基材又は
バックアップロール外周表面基準位置測定用プレートが
傾斜することがなく高精度の測定が可能となる。請求項
8によれば、測定用プローブを直接ダイノズルリップ先
端に接触させることができ、この結果、高精度なコーテ
ィングギャップの測定が可能となる。請求項9によれ
ば、測定ギャップ値より塗工基材の厚さ分及びダイノズ
ルリップ先端との位置ずれ分を補正することでコーティ
ングギャップ測定値が得られ、正確かつ再現性の高いコ
ーティングギャップ設定ができ、この結果、再現性が高
く、かつ高精度な膜厚を持つ塗工が可能となる。
【0018】請求項10によれば、計測手段先端のプロ
ーブを直接バックアップロール表面に当てる場合には測
定ギャップ値より塗工基材の厚さ分を減ずることでコー
ティングギャップ測定値とし、正確かつ再現性の高いコ
ーティングギャップ設定ができ、この結果、再現性が高
く、かつ高精度な膜厚を持つ塗工が可能となる。請求項
11によれば、計測手段先端のプローブを直接バックア
ップロール表面に当てる場合には測定ギャップ値より塗
工基材の厚さ分を減ずることでコーティングギャップ測
定値とし、正確かつ再現性の高いコーティングギャップ
設定ができ、この結果、再現性が高く、かつ高精度な膜
厚を持つ塗工が可能となる。請求項12によれば、がた
の少ないスライドテーブル等を具備することにより低コ
ストでかつ高精度のコーティングギャップ測定が可能な
塗布装置となる。請求項13によれば、測定基準となる
ノズルリップへの突き当て部を設けることにより、ダイ
ノズルリップ先端基準位置測定用プレートを安定して保
持することが可能となる。以上の説明で明らかなよう
に、本発明によれば、作業者間でばらつきが発生せず、
高精度なコーティングギャップの測定による高精度かつ
再現性の高い均一塗膜を得ることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のダイ型塗布装置のバックアップロール
等を示す概略正面図である。
【図2】本発明のダイ型塗布装置のバックアップロール
等を示す概略左側面図である。
【図3】本発明のダイ型塗布装置のバックアップロール
等を示す概略正面図である。
【図4】本発明の塗布装置のロールに対する計測プロー
ブを示す概略左側面図である。
【図5】本発明の塗布装置のロール、ダイノズル等を示
す概略正面図である。
【図6】本発明の塗布装置のロール、ドクターノズル等
を示す概略左側面図である。
【図7】本発明の塗布装置のロール、測定用アーム等を
示す概略正面図である。
【図8】本発明の塗布装置のロール、ギャップ測定用ア
ーム等を示す左側面図である。
【図9】本発明の塗布装置のロール、ギャップ測定用手
段等を示す概略正面図である。
【図10】本発明の塗布装置のロール、ギャップ測定用
手段等を示す概略左側面図である。
【図11】本発明の塗布装置の距離測定のための上記測
定手段移動を示す正面図である。
【図12】本発明の塗布装置の距離測定のための上記測
定手段移動を示す左側面図である。
【図13】本発明の塗布装置のノズル基準位置測定用プ
レート保持を示す正面図である。
【図14】本発明の塗布装置の上記基準位置測定用プレ
ート保持を示す左側面図である。
【図15】本発明の塗布装置の他の基準位置測定用プレ
ート保持を示す左側面図である。
【図16】ダイ型塗布方法及び装置における塗工状態を
示す概略正面図である。
【図17】ダイ型塗布方法及び装置における塗工状態を
示す概略正面図の左側面図である。
【符号の説明】
1.バックアップロール 2.ダイノズル 3.ドクターノズル 4.フロントノズル 5.バックアップロール外周表面基準位置測定用プレー
ト 6.バックアップロール外周表面基準位置測定用湾曲プ
レート 7.ダイヤルゲージ 8.ダイヤルゲージ先端プローブ 9.スライド機構 10.コーティングギャップ測定用アーム 11.ダイノズルリップ先端 12.基材 13.コーティングギャップ 14.ギャップ 15.基材厚さ 21.ダイリップ先端基準位置測定用プレート 22.ダイリップ先端基準位置測定用プレート 25.ダイノズル脱着フレーム
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4D075 AC02 AC05 AC72 AC80 AC93 CA48 DA04 DB01 DB18 DB31 EA07 4F041 AA12 AB02 BA05 BA12 BA23 CA02 CA12 CA22

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ダイノズルとバックアップロールの間に
    シート状基材を通過させ、ダイノズルから塗料を排出し
    て前記基材表面に塗料を塗布する塗布方法において、バ
    ックアップロールの外周面または前記基材表面を基準と
    し、ダイノズルリップ先端と前記外周面または前記基材
    表面との間隙をコーティングギャップとして測定し、前
    記基準に基づくコーティングギャップ測定値により前記
    基材を塗布することを特徴とした塗布方法。
  2. 【請求項2】 前記ダイノズルの幅をバックアップロー
    ル面長より大ならしめたことを特徴とした請求項1記載
    の塗布方法。
  3. 【請求項3】 前記ダイノズルの幅がバックアップロー
    ル面長より小さく、ダイノズルリップ先端との位置ずれ
    を予め測定してあるコーティングギャップ測定用アーム
    を用い、コーティングギャップを測定することを特徴と
    した請求項1記載の塗布方法。
  4. 【請求項4】 基材の背面をバックアップロールで支持
    しながら塗布する塗布装置において、バックアップロー
    ル表面又はバックアップロールに支持された基材表面に
    接触でき、かつ脱着可能な、バックアップロール外周表
    面又は基材基準位置測定用プレートを、バックアップロ
    ール外周表面上又は基材表面上のロール長手方向に沿っ
    て、下流側ダイリップに対向する線上に配置し、測定器
    のプローブの先端が、ダイノズルリップ先端位置に接触
    するよう設置されたダイヤルゲージ等距離計測手段を備
    え、ダイノズルリップ先端とバックアップロールに支持
    された基材との塗工ギャップ測定を、ダイノズルリップ
    先端と対向するバックアップロールに支持された基材表
    面またはダイノズルリップ先端と対向するバックアップ
    ロール外周表面を基準とし、コーティングギャップを測
    定し塗布することを特徴とする塗布装置。
  5. 【請求項5】 ダイヤルゲージ等コーティングギャップ
    計測手段設置位置をバックアップロール両端面の外側近
    傍とし、ダイヤルゲージ等コーティングギャップ計測手
    段固定部材は、塗布装置本体の固定部に設置されている
    ことを特徴とする請求項4記載の塗布装置。
  6. 【請求項6】 ダイヤルゲージ等コーティングギャップ
    計測手段先端プローブのダイノズルリップ先端接触位置
    を微調整できるスライド機構を具備したことを特徴とす
    る請求項5記載の塗布装置。
  7. 【請求項7】 基材又はバックアップロール外周表面基
    準位置測定用プレートの基材は、バックアップロールと
    の接触面がバックアップロールに支持された基材表面又
    はバックアップロール外周表面の曲率と概ね同じ曲率で
    湾曲していることを特徴とした請求項5記載の塗布装
    置。
  8. 【請求項8】 ダイノズル幅をバックアップロール面長
    より大きくしたことを特徴とした請求項5又は6記載の
    塗布装置。
  9. 【請求項9】 ダイノズル幅がバックアップロール面長
    より小さく、ダイノズルリップ先端との位置ずれを予め
    測定してあるコーティングギャップ測定用アームを設け
    たことを特徴とした請求項5記載の塗布装置。
  10. 【請求項10】 基材の背面をバックアップロールで支
    持する塗布方法において、ダイノズルリップ先端とバッ
    クアップロールに支持された基材とのコーティングギャ
    ップに、ダイノズルリップ先端を基準として塗布するこ
    とを特徴とした塗布方法。
  11. 【請求項11】 基材の背面をバックアップロールで支
    持する塗布装置において、ダイノズルリップ先端を基準
    とするために、ダイノズルリップ先端に接触でき、かつ
    脱着可能なダイノズルリップ先端基準位置測定用プレー
    トをダイノズルリップ先端に備え、バックアップロール
    表面上又は基材外周表面上の下流側ダイリップに対向す
    る線上にその先端のプローブが配置され、かつ基材表面
    またはバックアップロール表面に接触するようダイノズ
    ル両端の外側に設置されたダイヤルゲージ等コーティン
    グギャップ計測手段を備えダイノズルリップ先端とバッ
    クアップロールに支持された基材との塗工ギャップを測
    定し、塗布することを特徴とした塗布装置。
  12. 【請求項12】 ダイヤルゲージ等コーティングギャッ
    プ計測手段先端のプローブのダイノズルリップ先端接触
    位置が微調整可能なスライド機構を具備した請求項11
    記載の塗布装置。
  13. 【請求項13】 脱着可能なダイノズルリップ先端基準
    位置測定用プレートは、測定基準となるノズルリップへ
    の突き当て部を持つ請求項11又は請求項12記載の塗
    布装置。
JP2001275716A 2001-09-11 2001-09-11 塗布方法及び装置 Pending JP2003080152A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001275716A JP2003080152A (ja) 2001-09-11 2001-09-11 塗布方法及び装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001275716A JP2003080152A (ja) 2001-09-11 2001-09-11 塗布方法及び装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003080152A true JP2003080152A (ja) 2003-03-18

Family

ID=19100531

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001275716A Pending JP2003080152A (ja) 2001-09-11 2001-09-11 塗布方法及び装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003080152A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006297317A (ja) * 2005-04-22 2006-11-02 Dainippon Printing Co Ltd 塗工方法
JP2017094749A (ja) * 2017-02-15 2017-06-01 セイコーエプソン株式会社 インクジェット記録装置
JP2020138147A (ja) * 2019-02-28 2020-09-03 株式会社豊田自動織機 塗工装置及び塗工装置の位置合わせ方法
WO2020196355A1 (ja) * 2019-03-28 2020-10-01 株式会社ニコン 塗布装置、並びにヘッドユニット

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006297317A (ja) * 2005-04-22 2006-11-02 Dainippon Printing Co Ltd 塗工方法
JP2017094749A (ja) * 2017-02-15 2017-06-01 セイコーエプソン株式会社 インクジェット記録装置
JP2020138147A (ja) * 2019-02-28 2020-09-03 株式会社豊田自動織機 塗工装置及び塗工装置の位置合わせ方法
JP7077994B2 (ja) 2019-02-28 2022-05-31 株式会社豊田自動織機 塗工装置及び塗工装置の位置合わせ方法
WO2020196355A1 (ja) * 2019-03-28 2020-10-01 株式会社ニコン 塗布装置、並びにヘッドユニット
JPWO2020196355A1 (ja) * 2019-03-28 2020-10-01
JP7375812B2 (ja) 2019-03-28 2023-11-08 株式会社ニコン 塗布装置、並びにヘッドユニット

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3468352B2 (ja) 石英ガラス製基板表面の平坦度測定装置
JPH11351857A (ja) 薄板の表面形状測定方法および薄板の表面形状測定装置
JP3404318B2 (ja) 表面形状測定方法
JP2008080212A (ja) 塗布装置及び塗布方法
JP2003080152A (ja) 塗布方法及び装置
CN103499276A (zh) 一种印刷刮刀刃口均匀性检测系统、检测方法及调整方法
Ito et al. Uncertainty analysis of slot die coater gap width measurement by using a shear mode micro-probing system
US10886114B2 (en) Sputtering gap measurement apparatus and magnetron sputtering device
US6014886A (en) Gauge block holder apparatus
JP4599728B2 (ja) 非接触膜厚測定装置
JP2000346635A (ja) 塗膜厚制御装置及び制御方法
JP2008238196A (ja) プレス金型の芯出し装置およびそれを用いたプレス金型の芯出し方法
CN219200272U (zh) 狭缝结构开度的测量装置
JP2968956B2 (ja) 厚みおよび/または反り測定装置とその使用方法
JP2004224007A (ja) 熱転写方法及び熱転写装置
JPH05223526A (ja) 板厚測定装置
JP2004205447A (ja) ロールと対象物との距離測定用治具および距離測定方法
CN112805532A (zh) 光学膜的卷曲的分析方法和分析装置
CN217222161U (zh) 涂布间隙调整装置
JPH11183106A (ja) 炉蓋のシールプレートのナイフエッジ検査器
TW527260B (en) System and method for inspecting emery wheel profile
JPS614911A (ja) 核燃料ペレツトの寸法測定方法及びその装置
JP6923126B1 (ja) 塗工装置及びブレード測定器
JP2008275468A (ja) 測定方法及び測定冶具
JPH0435761Y2 (ja)