JP2003078109A - 積層型メモリ装置 - Google Patents
積層型メモリ装置Info
- Publication number
- JP2003078109A JP2003078109A JP2001265617A JP2001265617A JP2003078109A JP 2003078109 A JP2003078109 A JP 2003078109A JP 2001265617 A JP2001265617 A JP 2001265617A JP 2001265617 A JP2001265617 A JP 2001265617A JP 2003078109 A JP2003078109 A JP 2003078109A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory device
- bga package
- stacking
- substrate
- stacking substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/14—Structural association of two or more printed circuits
- H05K1/144—Stacked arrangements of planar printed circuit boards
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/10—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers
- H01L25/105—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2225/00—Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2225/03—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
- H01L2225/10—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers
- H01L2225/1005—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
- H01L2225/1011—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement
- H01L2225/1047—Details of electrical connections between containers
- H01L2225/107—Indirect electrical connections, e.g. via an interposer, a flexible substrate, using TAB
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/153—Connection portion
- H01L2924/1531—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
- H01L2924/15311—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【課題】 BGAパッケージを用いた積層型メモリ装置
を提供する。 【解決手段】 複数のBGAパッケージを積層した積層
型メモリ装置において、それぞれがボールバンプ2を有
する第1及び第2BGAパッケージ3と、積層用基板で
あって、前記第1及び第2BGAパッケージ3の前記ボ
ールバンプ2に接続された配線パターンを含む第1積層
用基板4及び第2積層用基板5と、積層配置された前記
第1積層用基板4及び前記第2積層用基板5との間に設
けられ、前記第1積層用基板4及び前記第2積層用基板
に含まれる前記配線パターンを接続する接続用基板6
と、前記第2積層用基板5の、前記第2BGAパッケー
ジ搭載面と対向する面に設けられ、前記第2積層用基板
5に含まれる前記配線パターンに接続されたボールバン
プ7とを含む。
を提供する。 【解決手段】 複数のBGAパッケージを積層した積層
型メモリ装置において、それぞれがボールバンプ2を有
する第1及び第2BGAパッケージ3と、積層用基板で
あって、前記第1及び第2BGAパッケージ3の前記ボ
ールバンプ2に接続された配線パターンを含む第1積層
用基板4及び第2積層用基板5と、積層配置された前記
第1積層用基板4及び前記第2積層用基板5との間に設
けられ、前記第1積層用基板4及び前記第2積層用基板
に含まれる前記配線パターンを接続する接続用基板6
と、前記第2積層用基板5の、前記第2BGAパッケー
ジ搭載面と対向する面に設けられ、前記第2積層用基板
5に含まれる前記配線パターンに接続されたボールバン
プ7とを含む。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、積層型メモリ装置
に関し、特に、BGA型パッケージを積層した積層型メ
モリ装置に関する。
に関し、特に、BGA型パッケージを積層した積層型メ
モリ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図7は、全体が700で表される、従来
の積層型メモリ装置の側面図である。積層型メモリ装置
700は、パッケージ701の両側に、ライン状にピン
702が設けられた、複数のTSOP(Thin Small Onl
ine Package)710を含む。積層されたTSOP71
0の間は、例えば、図7の左側に示すように、ピン70
2間を半田で固定することにより接続される。または、
図7の右側に示すように、配線パターンが設けられた基
板703により接続される。
の積層型メモリ装置の側面図である。積層型メモリ装置
700は、パッケージ701の両側に、ライン状にピン
702が設けられた、複数のTSOP(Thin Small Onl
ine Package)710を含む。積層されたTSOP71
0の間は、例えば、図7の左側に示すように、ピン70
2間を半田で固定することにより接続される。または、
図7の右側に示すように、配線パターンが設けられた基
板703により接続される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、ピン702の
数の増加に伴い、パッケージの主流がTSOPからBG
A(Ball Grid Allay)パッケージに移行すると、図7
に示すような積層方法を採ることができなくなった。即
ち、BGAパッケージでは、パッケージの一面にボール
バンプがマトリックス状に配置されているため、図7の
ような積層構造とすることができない。
数の増加に伴い、パッケージの主流がTSOPからBG
A(Ball Grid Allay)パッケージに移行すると、図7
に示すような積層方法を採ることができなくなった。即
ち、BGAパッケージでは、パッケージの一面にボール
バンプがマトリックス状に配置されているため、図7の
ような積層構造とすることができない。
【0004】そこで、本発明は、BGAパッケージ型メ
モリを積層した積層型メモリ装置の提供を目的とする。
モリを積層した積層型メモリ装置の提供を目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、複数のBGA
パッケージを積層した積層型メモリ装置であって、それ
ぞれがボールバンプを有する第1BGAパッケージ及び
第2BGAパッケージと、該第1BGAパッケージのボ
ールバンプに接続された配線パターンを含む第1積層用
基板と、該第2BGAパッケージのボールバンプに接続
された配線パターンを含む第2積層用基板と、積層配置
された該第1積層用基板と該第2積層用基板との間に設
けられ、各積層用基板に含まれる配線パターンを接続す
る接続用基板と、該第2積層用基板の、該第2BGAパ
ッケージ搭載面と対向する面に設けられ、該第2積層用
基板に含まれる配線パターンに接続されたボールバンプ
とを含むことを特徴とする積層型メモリ装置である。か
かる積層型メモリ装置では、BGAパッケージを積層配
置し、大容量のメモリ装置を得ることができる。
パッケージを積層した積層型メモリ装置であって、それ
ぞれがボールバンプを有する第1BGAパッケージ及び
第2BGAパッケージと、該第1BGAパッケージのボ
ールバンプに接続された配線パターンを含む第1積層用
基板と、該第2BGAパッケージのボールバンプに接続
された配線パターンを含む第2積層用基板と、積層配置
された該第1積層用基板と該第2積層用基板との間に設
けられ、各積層用基板に含まれる配線パターンを接続す
る接続用基板と、該第2積層用基板の、該第2BGAパ
ッケージ搭載面と対向する面に設けられ、該第2積層用
基板に含まれる配線パターンに接続されたボールバンプ
とを含むことを特徴とする積層型メモリ装置である。か
かる積層型メモリ装置では、BGAパッケージを積層配
置し、大容量のメモリ装置を得ることができる。
【0006】上記第1積層用基板は、上記第2BGAパ
ッケージに含まれる樹脂パッケージの上面に接着された
ことが好ましい。積層型メモリ装置の構造が安定するか
らである。
ッケージに含まれる樹脂パッケージの上面に接着された
ことが好ましい。積層型メモリ装置の構造が安定するか
らである。
【0007】また、本発明は、複数のBGAパッケージ
を積層した積層型メモリ装置であって、それぞれがボー
ルバンプを有する第1BGAパッケージ及び第2BGA
パッケージと、両面に配線パターンを有する積層用基板
と、該積層用基板の片面に、該配線パターンに接続して
設けられた外部接続手段とを含み、該第1BGAパッケ
ージと該第2BGAパッケージとが、該積層用基板を挟
んで該積層用基板の両面に対向配置され、該第1BGA
パッケージ及び該第2BGAパッケージに含まれるボー
ルバンプと、該積層用基板に含まれる該配線パターンと
が接続されたことを特徴とする積層型メモリ装置でもあ
る。かかる積層型メモリ装置でも、BGAパッケージを
積層させて大容量のメモリを得ることができる。
を積層した積層型メモリ装置であって、それぞれがボー
ルバンプを有する第1BGAパッケージ及び第2BGA
パッケージと、両面に配線パターンを有する積層用基板
と、該積層用基板の片面に、該配線パターンに接続して
設けられた外部接続手段とを含み、該第1BGAパッケ
ージと該第2BGAパッケージとが、該積層用基板を挟
んで該積層用基板の両面に対向配置され、該第1BGA
パッケージ及び該第2BGAパッケージに含まれるボー
ルバンプと、該積層用基板に含まれる該配線パターンと
が接続されたことを特徴とする積層型メモリ装置でもあ
る。かかる積層型メモリ装置でも、BGAパッケージを
積層させて大容量のメモリを得ることができる。
【0008】上記外部接続手段は、半田ボールであって
も良い。
も良い。
【0009】上記半田ボールの直径は、上記BGAパッ
ケージの厚みより大きいことが好ましい。積層型メモリ
装置を実装基板に実装しやすくするためである。
ケージの厚みより大きいことが好ましい。積層型メモリ
装置を実装基板に実装しやすくするためである。
【0010】上記外部接続手段は、リードであっても良
い。
い。
【0011】また、本発明は、複数のBGAパッケージ
を積層した積層型メモリ装置であって、それぞれがボー
ルバンプを有する第1BGAパッケージ及び第2BGA
パッケージと、該第1BGAパッケージのボールバンプ
に接続された配線パターンを含む第1積層用基板と、該
第2BGAパッケージのボールバンプに接続された配線
パターンを含む第2積層用基板と、該第1積層用基板と
該第2積層用基板とを積層配置して固定するクリップリ
ードとを含み、該第1積層用基板及び該第2積層用基板
に含まれる配線パターンが、該クリップリードに接続さ
れたことを特徴とする積層型メモリ装置でもある。かか
る積層型メモリ装置を用いることにより、3つ以上のB
GAパッケージの積層が可能となり、大容量のメモリを
得ることができる。
を積層した積層型メモリ装置であって、それぞれがボー
ルバンプを有する第1BGAパッケージ及び第2BGA
パッケージと、該第1BGAパッケージのボールバンプ
に接続された配線パターンを含む第1積層用基板と、該
第2BGAパッケージのボールバンプに接続された配線
パターンを含む第2積層用基板と、該第1積層用基板と
該第2積層用基板とを積層配置して固定するクリップリ
ードとを含み、該第1積層用基板及び該第2積層用基板
に含まれる配線パターンが、該クリップリードに接続さ
れたことを特徴とする積層型メモリ装置でもある。かか
る積層型メモリ装置を用いることにより、3つ以上のB
GAパッケージの積層が可能となり、大容量のメモリを
得ることができる。
【0012】上記第1積層用基板と上記第2積層用基板
は、上記クリップリードに設けられたクリップ部に挟ま
れて、該クリップリードに固定されたことが好ましい。
かかる構造では積層基板の脱着が容易となる。
は、上記クリップリードに設けられたクリップ部に挟ま
れて、該クリップリードに固定されたことが好ましい。
かかる構造では積層基板の脱着が容易となる。
【0013】上記第1積層用基板及び/又は上記第2積
層用基板が、上記配線パターン上に設けられたソケット
を含み、上記第1BGAパッケージ及び/又は上記第2
BGAパッケージのボールバンプが、該ソケットに挿入
されて該配線パターンに接続されたものであっても良
い。このようなソケットを用いることにより、BGAパ
ッケージの取り付け工程が簡単になる。また、BGAパ
ッケージの脱着を容易に行うことができる。
層用基板が、上記配線パターン上に設けられたソケット
を含み、上記第1BGAパッケージ及び/又は上記第2
BGAパッケージのボールバンプが、該ソケットに挿入
されて該配線パターンに接続されたものであっても良
い。このようなソケットを用いることにより、BGAパ
ッケージの取り付け工程が簡単になる。また、BGAパ
ッケージの脱着を容易に行うことができる。
【0014】本発明は、複数のBAGパッケージを含む
メモリモジュールであって、請求項1〜9のいずれかに
記載の積層型メモリ装置と、該積層型メモリ装置が載置
されたマザー基板とを含むことを特徴とするメモリモジ
ュールでもある。かかるメモリモジュールでは、BGA
パッケージをマザー基板に積層し、大容量のメモリモジ
ュールを得ることができる。
メモリモジュールであって、請求項1〜9のいずれかに
記載の積層型メモリ装置と、該積層型メモリ装置が載置
されたマザー基板とを含むことを特徴とするメモリモジ
ュールでもある。かかるメモリモジュールでは、BGA
パッケージをマザー基板に積層し、大容量のメモリモジ
ュールを得ることができる。
【0015】
【発明の実施の形態】実施の形態1.図1は、全体が1
00で表される、本実施の形態にかかる積層型メモリ装
置の側面図である。積層型メモリ装置100は、半導体
素子が封止されたモールド樹脂1と、モールド樹脂1の
裏面にマトリックス状に設けられたボールバンプ2とか
らなるBGA(Ball Grid Allay)パッケージ3を含
む。積層型メモリ装置100は、2つのBGAパッケー
ジ3を含む。
00で表される、本実施の形態にかかる積層型メモリ装
置の側面図である。積層型メモリ装置100は、半導体
素子が封止されたモールド樹脂1と、モールド樹脂1の
裏面にマトリックス状に設けられたボールバンプ2とか
らなるBGA(Ball Grid Allay)パッケージ3を含
む。積層型メモリ装置100は、2つのBGAパッケー
ジ3を含む。
【0016】2つのBGAパッケージ3は、それぞれ積
層用基板3、4に載置されている。積層用基板3、4に
は、配線パターンやスルーホール(図示せず)が設けら
れ、BGAパッケージ3のボールバンプ2と接続され
る。積層用基板4は、BGAパッケージ(第2BGAパ
ッケージ)3の裏面に、銀ペースト等で接着されてい
る。
層用基板3、4に載置されている。積層用基板3、4に
は、配線パターンやスルーホール(図示せず)が設けら
れ、BGAパッケージ3のボールバンプ2と接続され
る。積層用基板4は、BGAパッケージ(第2BGAパ
ッケージ)3の裏面に、銀ペースト等で接着されてい
る。
【0017】また、積層用基板4、5の間には、接続用
基板6が設けられている。接続用基板6には、配線パタ
ーンやスルーホールが設けられている。積層用基板4に
接続されたBGAパッケージ(第1BGAパッケージ)
3と、積層用基板5に接続されたBGAパッケージ(第
2BGAパッケージ)3とは、接続用基板6を介して電
気的に接続される。接続用基板6を接続するために、積
層用基板4、5の面積は、第1、第2BGAパッケージ
3の面積よりやや広いことが好ましい。なお、接続用基
板6に代えて、接続用コネクタ等を用いてもかまわな
い。
基板6が設けられている。接続用基板6には、配線パタ
ーンやスルーホールが設けられている。積層用基板4に
接続されたBGAパッケージ(第1BGAパッケージ)
3と、積層用基板5に接続されたBGAパッケージ(第
2BGAパッケージ)3とは、接続用基板6を介して電
気的に接続される。接続用基板6を接続するために、積
層用基板4、5の面積は、第1、第2BGAパッケージ
3の面積よりやや広いことが好ましい。なお、接続用基
板6に代えて、接続用コネクタ等を用いてもかまわな
い。
【0018】積層用基板5の、BGAパッケージ3を搭
載した面と反対側の面には、ボールバンプ7が設けられ
ている。ボールバンプ7は、BGAパッケージ3に含ま
れるボールバンプ2と同様の配置にしても構わない。ボ
ールバンプ7は、積層用基板5に設けられた配線パター
ンを介して、2つのBGAパッケージ3に電気的に接続
されている。従って、ボールバンプ7を用いて、積層型
メモリ装置100を実装基板50に搭載することによ
り、積層された2つのBGAパッケージを実装基板50
に実装することができる。
載した面と反対側の面には、ボールバンプ7が設けられ
ている。ボールバンプ7は、BGAパッケージ3に含ま
れるボールバンプ2と同様の配置にしても構わない。ボ
ールバンプ7は、積層用基板5に設けられた配線パター
ンを介して、2つのBGAパッケージ3に電気的に接続
されている。従って、ボールバンプ7を用いて、積層型
メモリ装置100を実装基板50に搭載することによ
り、積層された2つのBGAパッケージを実装基板50
に実装することができる。
【0019】このように、本実施の形態1にかかる積層
型メモリ装置100では、BGAパッケージ3を用い
て、同一実装面積において2倍の記憶容量を有する積層
型メモリ装置を実現できる。
型メモリ装置100では、BGAパッケージ3を用い
て、同一実装面積において2倍の記憶容量を有する積層
型メモリ装置を実現できる。
【0020】なお、特開平11−220088号公報に
は、BGAパッケージを積層した積層構造が記載されて
いる。しかし、かかる積層構造は、ソルダーボールが半
導体チップの周囲にのみ形成されている場合に適用され
るもので、本実施の形態のように、ソルダーボール(ボ
ールバンプ7)がマトリックス状に形成された半導体チ
ップには適用できない。
は、BGAパッケージを積層した積層構造が記載されて
いる。しかし、かかる積層構造は、ソルダーボールが半
導体チップの周囲にのみ形成されている場合に適用され
るもので、本実施の形態のように、ソルダーボール(ボ
ールバンプ7)がマトリックス状に形成された半導体チ
ップには適用できない。
【0021】実施の形態2.図2は、全体が200で表
される、本実施の形態にかかる積層型メモリ装置の側面
図である。積層型メモリ装置200は、それぞれが、モ
ールド樹脂1とボールバンプ2を有する第1及び第2の
BGAパッケージ3を含む。第1及び第2のBGAパッ
ケージ3は積層用基板8の両面に、積層用基板8を挟ん
で対向するように設けられている。ボールバンプ2は、
積層用基板8に設けられた配線パターンに接続されてい
る。
される、本実施の形態にかかる積層型メモリ装置の側面
図である。積層型メモリ装置200は、それぞれが、モ
ールド樹脂1とボールバンプ2を有する第1及び第2の
BGAパッケージ3を含む。第1及び第2のBGAパッ
ケージ3は積層用基板8の両面に、積層用基板8を挟ん
で対向するように設けられている。ボールバンプ2は、
積層用基板8に設けられた配線パターンに接続されてい
る。
【0022】また、積層用基板8の片面には、積層用基
板8の配線パターンに接続された半田ボール9が設けら
れている。かかる半田ボール9を用いて、積層型メモリ
装置200が実装基板50の上に実装される。
板8の配線パターンに接続された半田ボール9が設けら
れている。かかる半田ボール9を用いて、積層型メモリ
装置200が実装基板50の上に実装される。
【0023】なお、半田ボール9を設けるために、積層
用基板8の面積は、モールド樹脂1の面積より大きいこ
とが好ましい。また、実装基板50の上に固定するため
に、半田ボール9の直径は、BGAパッケージ3の厚み
(モールド樹脂1の厚みと、ボールバンプ2の直径との
和)より大きいことが好ましい。
用基板8の面積は、モールド樹脂1の面積より大きいこ
とが好ましい。また、実装基板50の上に固定するため
に、半田ボール9の直径は、BGAパッケージ3の厚み
(モールド樹脂1の厚みと、ボールバンプ2の直径との
和)より大きいことが好ましい。
【0024】図3は、全体が300で表される、本実施
の形態にかかる他の積層型メモリ装置の側面図である。
図3中、図2と同一符号は、同一又は相当箇所を示す。
積層型メモリ装置300では、外部接続手段として、図
2に示す積層型メモリ装置200の半田バンプ9の代わ
りにリード10が用いられている。
の形態にかかる他の積層型メモリ装置の側面図である。
図3中、図2と同一符号は、同一又は相当箇所を示す。
積層型メモリ装置300では、外部接続手段として、図
2に示す積層型メモリ装置200の半田バンプ9の代わ
りにリード10が用いられている。
【0025】このように、本実施の形態2にかかる積層
型メモリ装置200、300では、BGAパッケージ3
を用いて、同一実装面積において2倍の記憶容量を有す
る積層型メモリ装置を実現できる。
型メモリ装置200、300では、BGAパッケージ3
を用いて、同一実装面積において2倍の記憶容量を有す
る積層型メモリ装置を実現できる。
【0026】実施の形態3.図4は、全体が400で表
される、本発明の実施の形態3にかかる積層型メモリ装
置の側面図である。積層型メモリ装置400は、複数の
積層用基板11を含む。積層用基板11には、BGAパ
ッケージ3が載置されている。BGAパッケージ3のボ
ールバンプ2は、積層用基板11に設けられた配線パタ
ーンと接続されている。
される、本発明の実施の形態3にかかる積層型メモリ装
置の側面図である。積層型メモリ装置400は、複数の
積層用基板11を含む。積層用基板11には、BGAパ
ッケージ3が載置されている。BGAパッケージ3のボ
ールバンプ2は、積層用基板11に設けられた配線パタ
ーンと接続されている。
【0027】複数の積層用基板11は、クリップリード
12により積層状態に固定されている。クリップリード
12には、複数のクリップ部13が設けられ、かかるク
リップ部13に積層用基板11を差し込んで固定する。
クリップリード12は導電性材料からなり、クリップ部
13と積層基板11の配線パターンとを接触させること
により、クリップリード12と配線パターンが接続され
る。
12により積層状態に固定されている。クリップリード
12には、複数のクリップ部13が設けられ、かかるク
リップ部13に積層用基板11を差し込んで固定する。
クリップリード12は導電性材料からなり、クリップ部
13と積層基板11の配線パターンとを接触させること
により、クリップリード12と配線パターンが接続され
る。
【0028】図4に示すように、積層型メモリ装置40
0は、クリップリード12を実装基板50に接続するこ
とにより、実装される。
0は、クリップリード12を実装基板50に接続するこ
とにより、実装される。
【0029】図5は、全体が500で表される、本実施
の形態にかかる他の積層型メモリ装置である。図5中、
図4と同一記号は、同一又は相当箇所を示す。図5に示
すように、積層型メモリ装置500は、積層用基板11
の上に、導電性材料からなる複数のソケット14が設け
られている。ソケット14は、積層用基板11に設けら
れた配線パターンに接続されている。
の形態にかかる他の積層型メモリ装置である。図5中、
図4と同一記号は、同一又は相当箇所を示す。図5に示
すように、積層型メモリ装置500は、積層用基板11
の上に、導電性材料からなる複数のソケット14が設け
られている。ソケット14は、積層用基板11に設けら
れた配線パターンに接続されている。
【0030】積層用メモリ装置500では、BGAパッ
ケージ3のボールバンプ2をソケット14に差し込むこ
とにより、積層用基板11にBGAパッケージ3が固定
される。このため、積層用基板11へのBGAパッケー
ジ3の取り付け、取り外しを容易に行うことができる。
ケージ3のボールバンプ2をソケット14に差し込むこ
とにより、積層用基板11にBGAパッケージ3が固定
される。このため、積層用基板11へのBGAパッケー
ジ3の取り付け、取り外しを容易に行うことができる。
【0031】このように、本実施の形態3にかかる積層
型メモリ装置400、500では、BGAパッケージ3
を用いて、同一実装面積において2倍以上の記憶容量を
有する積層型メモリ装置を実現できる。
型メモリ装置400、500では、BGAパッケージ3
を用いて、同一実装面積において2倍以上の記憶容量を
有する積層型メモリ装置を実現できる。
【0032】実施の形態4.図6は、全体が600で表
される、本実施の形態にかかるメモリージュールの上面
図である。メモリモジュール600では、マザー基板3
0の上に、実施の形態1にかかる積層型メモリ装置10
0が、複数、載置されている。積層型メモリ装置100
は、ボールバンプ7により、マザー基板30に設けられ
た配線パターン(図示せず)に接続されている。
される、本実施の形態にかかるメモリージュールの上面
図である。メモリモジュール600では、マザー基板3
0の上に、実施の形態1にかかる積層型メモリ装置10
0が、複数、載置されている。積層型メモリ装置100
は、ボールバンプ7により、マザー基板30に設けられ
た配線パターン(図示せず)に接続されている。
【0033】なお、積層型メモリモジュール600に
は、実施の形態2、3にかかる積層型メモリ装置20
0、300、400、500を載置しても構わない。
は、実施の形態2、3にかかる積層型メモリ装置20
0、300、400、500を載置しても構わない。
【0034】このように、本実施の形態にかかるメモリ
モジュール600では、BGAパッケージを用いた、大
容量のメモリモジュールを形成することができる。
モジュール600では、BGAパッケージを用いた、大
容量のメモリモジュールを形成することができる。
【0035】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
にかかる積層型メモリ装置では、BGAパッケージを積
層し、大容量のメモリ装置を得ることができる。
にかかる積層型メモリ装置では、BGAパッケージを積
層し、大容量のメモリ装置を得ることができる。
【0036】また、本発明にかかるメモリモジュールで
は、BGAパッケージをマザー基板に積層し、大容量の
メモリモジュールを得ることができる。
は、BGAパッケージをマザー基板に積層し、大容量の
メモリモジュールを得ることができる。
【図1】 本発明の実施の形態1にかかる積層型メモリ
装置の側面図である。
装置の側面図である。
【図2】 本発明の実施の形態2にかかる積層型メモリ
装置の側面図である。
装置の側面図である。
【図3】 本発明の実施の形態2にかかる他の積層型メ
モリ装置の側面図である。
モリ装置の側面図である。
【図4】 本発明の実施の形態3にかかる積層型メモリ
装置の側面図である。
装置の側面図である。
【図5】 本発明の実施の形態3にかかる他の積層型メ
モリ装置の側面図である。
モリ装置の側面図である。
【図6】 本発明の実施の形態4にかかるメモリモジュ
ールの上面図である。
ールの上面図である。
【図7】 従来の積層型メモリ装置の側面図である。
1 モールド樹脂、2 ボールバンプ、3 BGAパッ
ケージ、4、5 積層用基板、6 接続用基板、7 ボ
ールバンプ、50 実装基板、100 積層型メモリ装
置。
ケージ、4、5 積層用基板、6 接続用基板、7 ボ
ールバンプ、50 実装基板、100 積層型メモリ装
置。
Claims (10)
- 【請求項1】 複数のBGAパッケージを積層した積層
型メモリ装置であって、 それぞれがボールバンプを有する第1BGAパッケージ
及び第2BGAパッケージと、 該第1BGAパッケージのボールバンプに接続された配
線パターンを含む第1積層用基板と、 該第2BGAパッケージのボールバンプに接続された配
線パターンを含む第2積層用基板と、 積層配置された該第1積層用基板と該第2積層用基板と
の間に設けられ、各積層用基板に含まれる配線パターン
を接続する接続用基板と、 該第2積層用基板の、該第2BGAパッケージ搭載面と
対向する面に設けられ、該第2積層用基板に含まれる配
線パターンに接続されたボールバンプとを含むことを特
徴とする積層型メモリ装置。 - 【請求項2】 上記第1積層用基板が、上記第2BGA
パッケージに含まれる樹脂パッケージの上面に接着され
たことを特徴とする請求項1に記載の積層型メモリ装
置。 - 【請求項3】 複数のBGAパッケージを積層した積層
型メモリ装置であって、 それぞれがボールバンプを有する第1BGAパッケージ
及び第2BGAパッケージと、 両面に配線パターンを有する積層用基板と、 該積層用基板の片面に、該配線パターンに接続して設け
られた外部接続手段とを含み、 該第1BGAパッケージと該第2BGAパッケージと
が、該積層用基板を挟んで該積層用基板の両面に対向配
置され、該第1BGAパッケージ及び該第2BGAパッ
ケージに含まれるボールバンプと、該積層用基板に含ま
れる該配線パターンとが接続されたことを特徴とする積
層型メモリ装置。 - 【請求項4】 上記外部接続手段が、半田ボールからな
ることを特徴とする請求項3に記載の積層型メモリ装
置。 - 【請求項5】 上記半田ボールの直径が、上記BGAパ
ッケージの厚みより大きいことを特徴とする請求項4に
記載の積層型メモリ装置。 - 【請求項6】 上記外部接続手段が、リードからなるこ
とを特徴とする請求項3に記載の積層型メモリ装置。 - 【請求項7】 複数のBGAパッケージを積層した積層
型メモリ装置であって、 それぞれがボールバンプを有する第1BGAパッケージ
及び第2BGAパッケージと、 該第1BGAパッケージのボールバンプに接続された配
線パターンを含む第1積層用基板と、 該第2BGAパッケージのボールバンプに接続された配
線パターンを含む第2積層用基板と、 該第1積層用基板と該第2積層用基板とを積層配置して
固定するクリップリードとを含み、 該第1積層用基板及び該第2積層用基板に含まれる配線
パターンが、該クリップリードに接続されたことを特徴
とする積層型メモリ装置。 - 【請求項8】 上記第1積層用基板と上記第2積層用基
板が、上記クリップリードに設けられたクリップ部に挟
まれて、該クリップリードに固定されたことを特徴とす
る請求項7に記載の積層型メモリ装置。 - 【請求項9】 上記第1積層用基板及び/又は上記第2
積層用基板が、上記配線パターン上に設けられたソケッ
トを含み、上記第1BGAパッケージ及び/又は上記第
2BGAパッケージのボールバンプが、該ソケットに挿
入されて該配線パターンに接続されたことを特徴とする
請求項7又は8に記載の積層型メモリ装置。 - 【請求項10】 複数のBAGパッケージを含むメモリ
モジュールであって、 請求項1〜9のいずれかに記載の積層型メモリ装置と、 該積層型メモリ装置が載置されたマザー基板とを含むこ
とを特徴とするメモリモジュール。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001265617A JP2003078109A (ja) | 2001-09-03 | 2001-09-03 | 積層型メモリ装置 |
US10/207,849 US20030043650A1 (en) | 2001-09-03 | 2002-07-31 | Multilayered memory device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001265617A JP2003078109A (ja) | 2001-09-03 | 2001-09-03 | 積層型メモリ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003078109A true JP2003078109A (ja) | 2003-03-14 |
Family
ID=19092056
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001265617A Pending JP2003078109A (ja) | 2001-09-03 | 2001-09-03 | 積層型メモリ装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20030043650A1 (ja) |
JP (1) | JP2003078109A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100668847B1 (ko) * | 2005-06-27 | 2007-01-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | 패키지 스택 |
US7282791B2 (en) | 2004-07-09 | 2007-10-16 | Elpida Memory, Inc. | Stacked semiconductor device and semiconductor memory module |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7242082B2 (en) | 2002-02-07 | 2007-07-10 | Irvine Sensors Corp. | Stackable layer containing ball grid array package |
JP2007521631A (ja) * | 2003-08-08 | 2007-08-02 | アービン センサーズ コーポレーション | 積層可能な層及びその製造方法 |
WO2006088270A1 (en) * | 2005-02-15 | 2006-08-24 | Unisemicon Co., Ltd. | Stacked package and method of fabricating the same |
FR2884048A1 (fr) * | 2005-04-01 | 2006-10-06 | 3D Plus Sa Sa | Module electronique de faible epaisseur comprenant un empilement de boitiers electroniques a billes de connexion |
FR2884049B1 (fr) * | 2005-04-01 | 2007-06-22 | 3D Plus Sa Sa | Module electronique de faible epaisseur comprenant un empilement de boitiers electroniques a billes de connexion |
US7714426B1 (en) | 2007-07-07 | 2010-05-11 | Keith Gann | Ball grid array package format layers and structure |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10294423A (ja) * | 1997-04-17 | 1998-11-04 | Nec Corp | 半導体装置 |
US6313522B1 (en) * | 1998-08-28 | 2001-11-06 | Micron Technology, Inc. | Semiconductor structure having stacked semiconductor devices |
-
2001
- 2001-09-03 JP JP2001265617A patent/JP2003078109A/ja active Pending
-
2002
- 2002-07-31 US US10/207,849 patent/US20030043650A1/en not_active Abandoned
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7282791B2 (en) | 2004-07-09 | 2007-10-16 | Elpida Memory, Inc. | Stacked semiconductor device and semiconductor memory module |
KR100668847B1 (ko) * | 2005-06-27 | 2007-01-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | 패키지 스택 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20030043650A1 (en) | 2003-03-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6713854B1 (en) | Electronic circuit module with a carrier having a mounting pad array | |
US6487078B2 (en) | Electronic module having a three dimensional array of carrier-mounted integrated circuit packages | |
US7279797B2 (en) | Module assembly and method for stacked BGA packages | |
JP4731883B2 (ja) | ダブルスタックされたbgaパッケージ及び多重スタックされたbgaパッケージ | |
KR0147259B1 (ko) | 적층형 패키지 및 그 제조방법 | |
US6545868B1 (en) | Electronic module having canopy-type carriers | |
JP3762844B2 (ja) | 対向マルチチップ用パッケージ | |
JP2002204053A (ja) | 回路実装方法、回路実装基板及び半導体装置 | |
KR20080073739A (ko) | 적층형 마이크로전자 패키지 | |
JP2001077294A (ja) | 半導体装置 | |
JP2003078109A (ja) | 積層型メモリ装置 | |
JP2004031650A (ja) | リードレスパッケージおよび半導体装置 | |
US6765152B2 (en) | Multichip module having chips on two sides | |
JP2003204039A (ja) | 半導体装置 | |
JPH08130288A (ja) | 半導体装置 | |
US20070096333A1 (en) | Optimal stacked die organization | |
JP4016587B2 (ja) | 電子部品及びその製造方法 | |
JP2001168227A (ja) | 多ピン・ボールグリッドアレイ・パッケージ用の基板、多ピン・ボールグリッドアレイ・パッケージ及び半導体装置 | |
JP2001319988A (ja) | 半導体装置 | |
JPH0969587A (ja) | Bga型半導体装置及びbgaモジュール | |
JP3064379U (ja) | 集積回路パッケ―ジ立体組立構造 | |
KR20040046020A (ko) | 스택형 반도체 패키지 및 그 제조 방법 | |
JPH07120744B2 (ja) | Icパッケージ | |
WO2007136917A2 (en) | Managed memory component |