JP2003075714A - 焦点検出装置、および、焦点検出機能を備えた顕微鏡 - Google Patents

焦点検出装置、および、焦点検出機能を備えた顕微鏡

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JP2003075714A
JP2003075714A JP2001266135A JP2001266135A JP2003075714A JP 2003075714 A JP2003075714 A JP 2003075714A JP 2001266135 A JP2001266135 A JP 2001266135A JP 2001266135 A JP2001266135 A JP 2001266135A JP 2003075714 A JP2003075714 A JP 2003075714A
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reflected light
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Aiichi Ishikawa
愛一 石川
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Abstract

(57)【要約】 【課題】検出範囲の広い焦点検出装置を提供する。 【解決手段】被検物体71からの反射光を集光する光学
系59と、光学系59によって集光された反射光を検出
する検出部61と、反射光の光路の一部の領域を遮光す
るために光学系59と検出部61との間に配置された遮
光手段62とを有する。遮光手段62は、遮光する状態
と、遮光しない状態とを切り替え可能である。これによ
り、被検物体71の裏面からの反射光を遮光し、表面か
らの反射光のみを検出する。表面からの反射光が遮光手
段62に遮光される状態となった場合には、遮光手段
を、遮光しない状態に切り替え、表面からの反射光と裏
面からの反射光をともに検出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、焦点検出装置およ
び焦点検出装置を備えた顕微鏡に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の焦点検出装置を図1を用いて説明
する。LED光源1が発する赤外光は、コレクタレンズ
2で集光され、スリット状の開口を有するスリット板3
に照射される。スリット板3を通過した光束は、コリメ
ータレンズ6aを通過した後、コレクタレンズ2の光軸
50を含む面を境に2分され、一方の光束はハーフスト
ップ4で遮光される。他方の光束はハーフミラー5を透
過し、ダイクロイックミラー7で反射され、対物レンズ
8の左半分を通過して集光され、被検物体71のガラス
基板の表面上に照射される。被検物体71の表面で反射
された光束eは、対物レンズ8の右側半分を通過し、ダ
イクロイックミラー7、ハーフミラー5で反射され、フ
ィールドレンズ6bで集光される。フィールドレンズ6
bで集光された光束は、ハーフミラー13で2光束に分
離される。ハーフミラー13を透過した光束は、シリン
ドリカルレンズ9aで図1の紙面に垂直な方向について
集光され、ライン状の第1CCD11で受光される。ま
た、ハーフミラー13で反射された光束は、シリンドリ
カルレンズ9bで同様に集光され、ライン状の第2CC
D12で受光される。
【0003】第1CCD11の受光面は、対物レンズ8
の物体面と共役な位置に配置されており、フィールドレ
ンズ6bの光軸52と受光面とが交差する位置を境とし
て、第1の検出領域gと第2の検出領域hとに分割され
ている。第2の検出領域hの側には、第2の検出領域h
から所定の距離iだけ離れた位置に、ナイフエッジ10
が配置され、光束を遮る。このナイフエッジ10は、被
検物体71の裏面からの反射光束dを遮る作用をする。
これにより、図2のようにナイフエッジ10が配置され
ていない第1の検出領域g側にて、被検物体71の表面
からの反射光束eのみを検出し、反射光束eの検出信号
Eを得ることができる。具体的には、図4の前ピン状態
B、合焦状態Cの場合には、第1CCD11では、被検
物体71の裏面から反射光束dを受光することなく、被
検物体71の表面からの反射光束eを選択的に検出する
ことができる。
【0004】しかしながら、第1CCD11で光を受光
できる範囲は、被検物体71の表面からの反射光束e
が、ナイフエッジ10と第1CCD11との間に再結像
する範囲である。このため、図4に示した前ピン状態A
のように、ナイフエッジ10よりも手前側で反射光束e
が再結像する場合には、ナイフエッジ10で反射光束e
が蹴られてしまうため、第1CCD11で反射光束eを
受光できなくなる。このような第1CCD11の不感帯
の範囲では、第2CCD12の検出する信号を用いる。
第2CCD12には、ナイフエッジ10は配置されてい
ないため、第2CCD12では、被検物体71の表面か
らの反射光束eの検出信号Eと裏面からの反射光束dの
検出信号Dとの合成信号(E+D)が検出される。
【0005】ライン状の第1CCD11または第2CC
D12からの時系列の出力信号(CCDの長手方向に沿
った出力信号)は、不図示の処理回路によって、図3の
ように予め設定しておいた任意の合焦位置を境に領域g
またはg’側と領域hまたはh’側とについてそれぞれ
積分した結果A、Bが求められる。さらに、それらの差
S=A−Bを求め、被検物体を対物レンズ8に対して近
づけたり離したりするモータの駆動信号、すなわち合焦
信号として用いる。モータは、前ピン状態のときの合焦
信号S=A−B<0が入力された場合に、被検物体71
を対物レンズ8に近づける方向に回転し、後ピン状態の
ときの合焦信号S=A−B>0の信号が入力された場合
には、モータは被検物体を対物レンズ8から遠ざける方
向に回転するように構成されている。処理回路は、第1
CCD11の出力信号が得られなくなったら(図4の状
態A)、第2CCD12の出力信号に切り替えて信号S
を求め、モータに出力する。状態Aの場合には、第2C
CD12からの出力信号(E+D)の積分結果A、Bが
A<Bであるため、合焦信号S=A−B<0となり、前
ピン状態を示す信号となるため、第2CCD12の出力
を合焦信号に用いることができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の合焦検
出装置は、第1CCD11と第2CCD12の2つを用
いるため、光学部材の数も増え、構成が複雑である。こ
のため、光軸調整等の調整箇所が増え、コストアップに
つながる。また、処理回路においても、第1CCD11
と第2CCD12との出力を切り替えるスイッチが必要
である。
【0007】このようにCCDを2つ設けることによる
問題があった。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記問題を解決するため
に、本願によれば以下のような焦点検出装置が提供され
る。
【0009】すなわち、被検物体からの反射光を集光す
る光学系と、該光学系によって集光された前記反射光を
検出する検出部と、前記反射光の光路の一部の領域を遮
光するために前記光学系と前記検出部との間に配置さ
れ、遮光する状態と遮光しない状態とを切り替え可能な
遮光手段とを有することを特徴とする焦点検出装置であ
る。
【0010】
【発明の実施の形態】本発明の一実施の形態について図
面を用いて説明する。
【0011】まず、本実施の形態の焦点検出装置100
を備えた顕微鏡について、図5を用いて説明する。
【0012】焦点検出装置100は、コレクタレンズ5
2の光軸50上に順に配置された、LED光源51、コ
レクタレンズ52、スリット板53、コリメータレンズ
56、ハーフストップ54、ハーフミラー55、およ
び、ダイクロイックミラー57を有している。また、ハ
ーフミラー55によって分離される光路上にフィールド
レンズ59が配置され、フィールドレンズ59の光軸6
4上には、シリンドリカルレンズ60、ラインCCD6
1が配置されている。また、ラインCCD61とシリン
ドリカルレンズ60との間には、光路の一部の領域を遮
光するためにナイフエッジ62と、ナイフエッジ62を
光路に挿脱させるモータ63とが備えられている。
【0013】ナイフエッジ62は、図6のように、上面
にラック162が備えられ、モータ63の軸に取り付け
られた歯車163と噛み合っている。よって、モータ6
3を回転させることにより、ナイフエッジ62は、先端
62aが光軸64に接する位置から、先端62aが光軸
64から大きく退避した位置に移動する。また、モータ
63を逆回転させることにより、ナイフエッジ62は、
退避した位置から、先端62aが光軸64に接する位置
まで移動する。
【0014】また、図5に示すように焦点検出装置10
0は、顕微鏡200のステージ72を上下させるための
ノブ74を回転させるモータ76と、モータ76とノブ
74とを連結する連結具75とを含んでいる。
【0015】また、焦点検出装置100は、図9に示し
た制御回路を有している。制御回路は、CCD61、モ
ータ76およびモータ63に接続されている。制御回路
は、CCD61の出力を順に処理してオートフォーカス
の駆動信号を作成するためのプリアンプ81,オートゲ
インコントロール回路82、積分回路83、サンプルホ
ールド回路84,85,引算回路86を有している。引
算回路86の出力するオートフォーカス駆動信号は、ス
イッチ93を介してモータ76を駆動するドライバ89
に入力される。また、制御回路は、この他に、制御回路
の各部の動作を制御するCPU88、プリアンプ81の
出力をCPU88に入力するA/D変換器90、CPU
88の出力するナイフエッジ駆動信号をモータ63のド
ライバ92に受け渡すD/A変換器91、マニュアルの
合焦動作を操作者から受け付ける受付部94,マニュア
ル合焦のためのCPU88から駆動信号を、スイッチ9
3を介してドライバ89に受け渡すD/A変換器87を
含んでいる。
【0016】図5に示すように顕微鏡200は、対物レ
ンズ58、結像レンズ66、プリズム67、接眼レンズ
68を含んでいる。対物レンズ58と結像レンズ66
は、両レンズの光軸65上に配置され、これらの間には
平行光路が形成される。焦点検出装置100のダイクロ
イックミラー57は、対物レンズ58と結像レンズ66
の間の平行光路中に挿入される。また、顕微鏡200
は、観察用の照明光を被検物体71に向かって照射する
観察用光源(不図示)を含んでいる。ダイクロイックミ
ラー57は、観察用照明光の波長を透過し、LED光源
51の出射する赤外光を反射するものを用いる。また、
ステージ72には、ノブ74の回転により、ステージ7
2を光軸65に沿って上下動させる機構部73が備えら
れている。
【0017】つぎに、焦点検出装置100の各部の動作
について図5を用いて説明する。
【0018】LED光源51が発する赤外光は、コレク
タレンズ52で集光され、スリット状の開口を有するス
リット板53に照射される。スリット板53を通過した
光束は、コリメータレンズ52を通過することにより平
行光束となった後、コリメータレンズ52の光軸50を
含む面を境に、片側の光束はハーフストップ54で遮光
される。他側の光束はハーフミラー55を透過し、ダイ
クロイックミラー57で反射されることにより対物レン
ズ58の光軸65に沿って進み、対物レンズ58の片側
(図5の紙面左側)半分を通過して集光され、被検物体
71の表面上に照射される。被検物体71の表面で反射
された光束eは、対物レンズ58の他側(図5の紙面右
側)半分を通過し、ダイクロイックミラー57、ハーフ
ミラー55で反射され、フィールドレンズ59で集光さ
れる。フィールドレンズ59で集光された光束は、シリ
ンドリカルレンズ60で図5の紙面に垂直な方向につい
て集光され、ラインCCD61で受光される。なお、C
CD61の受光面は、後述の顕微鏡200の対物レンズ
58の物体面と共役な位置に配置されている。CCD6
1とナイフエッジ62との距離は、被検物体71の裏面
からの反射光束dをナイフエッジ62で遮ることのでき
る距離に定められている。
【0019】CPU88は、内蔵するメモリに予め格納
されているプログラムを読み込んで実行することによ
り、図10のフローチャートのように図10のブロック
図の各部を制御する。まず、CPU88は、ナイフエッ
ジ62を挿入させるための駆動信号をD/A変換器91
に出力する。この信号は、D/A変換器91でアナログ
信号に変換され、ドライバ92に入力される。ドライバ
92は、ナイフエッジ用モータ63を回転駆動させ、ナ
イフエッジ62の先端62aが光軸64に達する位置
(図5の位置)まで挿入させる(図10のステップ10
1)。つぎに、CPU88は、この状態でCCD61か
らの出力をプリアンプ81およびA/D変換器90を介
して受け取り、CCD61からの出力があるかどうか、
すなわち、CCD61が光を受光しているかどうか判断
する。CCD61が受光していない場合には、ナイフエ
ッジ62よりも手前で被検物体71の表面からの反射光
束eが結像し、ナイフエッジ62で反射光束eが蹴られ
ているか、もしくか、被検物体71が焦点検出範囲外に
位置していると考えられるので、ステップ104に進
む。CCD61から出力が得られている場合には、その
出力からつぎにようにAF駆動信号を生成する。
【0020】すなわち、CCD61の長手方向に沿って
時系列に出力された信号は、プリアンプ81およびオー
トゲインコントロール回路82により増幅された後、積
分回路83で積分される。このうち予め設定しておいた
任意の合焦位置を境に、領域g側についての積分結果A
(図3参照)は、第1サンプルホールド回路84にホー
ルドされ、領域h側について積分した結果Bは、第2サ
ンプルホールド回路85にホールドされ、引算回路86
は、それらの差S=A−Bを求めて出力する。引算回路
86の出力Sは、被検物体71を対物レンズ58に対し
て近づけたり離したりするモータの駆動信号、すなわち
合焦信号として、スイッチ93を介して、ドライバ89
に入力される。ドライバ89は、前ピン状態を示す合焦
信号S=A−B<0の信号が入力された場合には、被検
物体71を対物レンズ58に近づける方向(すなわちス
テージ72を上昇させる方向)にノブ74を回転させる
向きにモータ76を回転させる。一方、ドライバ89
は、後ピン状態を示す合焦信号S=A−B>0の信号が
入力された場合には、被検物体71を対物レンズ58か
ら遠ざける方向(すなわちステージ72を下降させる方
向)にノブ74を回転させる向きにモータ76を回転さ
せる。よって、ステップ102,103を繰り返すこと
により、被検物体71の表面が合焦位置にあることを示
す合焦信号S=A−B=0となるまで、モータ76が駆
動される。これにより、被検物体71の表面に対物レン
ズ58の焦点位置合わせをすることができる。
【0021】一方、先のステップ102で、CCD61
から出力が得られない場合には、ステップ104に進
む。ステップ104では、CPU88は、ナイフエッジ
62を光路から退避させる駆動信号をD/A変換器91
に出力する。これにより、ドライバ92は、モータ63
をステップ101とは逆向きに回転させ、ナイフエッジ
62を予め定めておいた位置まで光軸64から遠ざけ、
反射光束eの光路からはずす。これにより、ステップ1
02においてナイフエッジ62で反射光束eが蹴られて
いた場合には、ステップ104でナイフエッジ62が光
路から退避したことにより、CCD61により受光でき
るようになるため、ステップ107に進んで、ステップ
103と同様に合焦動作を行う。ステップ107では、
CCD61にはナイフエッジ62が配置されていないた
め、CCD61は、従来の図4の前ピン状態Aの第2C
CD12と同様に、被検物体の表面からの光束eによる
出力信号Eの他に、被検物体の裏面からの光束dによる
出力信号Dも出力し、出力信号はこれらの合成信号(E
+D)となる。しかしながら、この図4の状態Aの場合
には、出力信号(E+D)から求めた積分結果A、Bが
A<Bであるため、合焦信号S=A−B<0となり、前
ピン状態を示す信号となるため、ナイフエッジ62を退
避させたCCD61の出力を用いて、図9の制御回路で
合焦制御を行うことができる。
【0022】ステップ107で合焦動作を行ったなら
ば、予め定めた時間経過するのを待ち、ステップ101
に戻り、ナイフエッジ62を挿入し、ステップ102,
103に進む。
【0023】一方、ステップ105でCCD61から出
力が得られない場合には、被検物体71が検出範囲外に
位置していると考えられるので、操作者に不図示の表示
装置や音声で、マニュアルで合焦動作をするように促
す。そして、スイッチ93をD/A変換器87側に切り
替え、受付部94で操作者から受け付けたマニュアルの
合焦動作を示す駆動信号をD/A変換器87に出力する
(ステップ106)。この駆動信号は、D/A変換器8
7およびスイッチ93を介して、ドライバ89に受け渡
され、モータ76が駆動される。この後、スイッチ89
を引算回路86側に切り替え、ステップ105に戻る。
ステップ105でCCD61から出力が得られていれ
ば、ステップ107で合焦動作を行う。
【0024】上述したきたように、本実施の形態の焦点
検出装置100では、ナイフエッジ62を光路から挿脱
することにより、一つのCCD61で、被検物体71の
表面に焦点位置合わせをすることができる。よって、従
来のように二つのCCDに光束を分ける必要がなく、反
射光束eの強度を弱めることなくそのままCCD61で
受光することができるため、検出範囲の広い焦点検出装
置100が実現できる。したがって、焦点検出装置10
0を搭載した顕微鏡200は、広範囲について焦点位置
合わせを自動で行うことが可能である。
【0025】また、本実施の形態の焦点検出装置100
は、従来の二つのCCDを用いるものと比較して、ハー
フミラーおよびCCDが削減でき、削減されたCCD用
の信号処理回路も不要となる。よって、本実施の形態の
焦点検出装置100は、構成が簡単であり、光軸調整の
箇所も少なく、低コストに製造することができる。
【0026】また、上述の実施の形態はナイフエッジ6
2をモータ63で挿脱する構成であったが、被検物体7
1の裏面からの光束dを遮ることができ、しかも、光路
を遮光する状態と遮光しない状態とが切り替え可能な構
成であれば、ナイフエッジ62とモータ63以外のもの
を用いることもできる。例えば、2枚のガラス基板の間
に挟まれた液晶層と、この液晶層に電圧を印加する電極
とを含む図7のような液晶素子116を用いることがで
きる。液晶素子116は、光軸64を境に左右二つの領
域に分割され、領域116bは透明なままであり、領域
116aは電極に電圧を印加するかしないかにより、透
過と不透過とを電気的に選択できるように構成されてい
る。よって、図10のステップ101ではナイフエッジ
を挿入する代わりに図7の液晶素子116の領域116
aを不透過に変化させ、ステップ104ではナイフエッ
ジを光路からはずす代わりに図7の液晶素子116の領
域116aを透過に変化させることにより、上述の実施
の形態と同様に焦点検出装置100を実現することがで
きる。液晶素子116を用いた場合には、瞬時に透過と
不透過とを切り替えることができるため、高速に焦点位
置合わせを行うことが可能である。
【0027】また、図8(a),(b)のような形状
の、LED光源51の光を透過しない板状部材117を
回転させる構成を、ナイフエッジ62とモータ63の代
わりに用いることもできる。板状部材117は、外周の
4箇所に90度おきに遮光部117aが突出し、その間
が切り欠き117bとなった歯車形状であり、中心11
7cにモータ118の軸が差し込まれている。板状部材
117は、遮光部117aの先端が光軸64に接するよ
うに配置される。モータ118により、遮光部117a
がCCD61の領域hの前面に位置する角度まで板状部
材117を回転させて停止させると、ナイフエッジ62
を挿入した状態を実現できる。この状態から、ナイフエ
ッジ62を光路からはずには、板状部材117を45度
回転させ、2つの遮光部117aの間の切り欠き117
bをCCD61の領域hの前面に配置する。さらに、こ
の状態から再びナイフエッジ62を光路に挿入した状態
にするには、板状部材117を45度回転させればよ
い。このように板状部材117を45度ずつ一方向に回
転させることにより、ナイフエッジ62を挿入した状態
とはずした状態とを高速に実現できるため、高速に焦点
位置合わせを行うことが可能である。
【0028】また、上述の焦点検出装置100において
は、ナイフエッジ62の挿入量は一定であったが、本発
明はこれに限定されるものではない。というのは、顕微
鏡200が、複数の対物レンズ58がレボルバに取り付
けられたものを用い、レボルバを回転させることによ
り、光軸65上に配置する対物レンズ58を選択する構
成である場合、レボルバの回転のぶれや対物レンズのレ
ボルバへの取付け誤差が存在するために、選択した対物
レンズ58によって反射光束eの光軸64にズレが生じ
る。本実施の形態の場合には、ナイフエッジ62を挿脱
する構成であるため、選択した対物レンズ58ごとにナ
イフエッジ62の挿入量を変化させることにより、対物
レンズごとの反射光束eの光軸64にナイフエッジ62
の先端62aを一致させることが可能である。これによ
り、レボルバの回転のぶれや対物レンズごとにレボルバ
への取付け誤差が存在する場合であっても、被検物体7
1の裏面からの反射光束dを高精度にナイフエッジ62
で除去することができる。また、ナイフエッジ62に代
えて図7の液晶素子116を用いる場合には、領域11
6aと領域116bとの境界付近の電極を複数の電極に
分割しておくことにより、境界位置を可変にできるた
め、ナイフエッジ62の挿入量を変化させるのと同様の
効果が得られる。また、図8(a),(b)の板状部材
117を用いる場合には、遮光部117a先端から中心
117cまでの距離を4枚の遮光部117aごとに異な
る長さに設定しておくことにより、どの遮光部117a
を挿入するかを選択することによって、ナイフエッジ6
2の挿入量を変化させるのと同様の効果が得られる。
【0029】
【発明の効果】上述してきたように、本発明によれば、
簡単な構成の焦点検出装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の焦点検出装置の構成を示す説明図。
【図2】図1の従来の焦点検出装置において、被検物体
71の表面から反射光束eが第1CCD11に入射し、
裏面からの反射光束dがナイフエッジ10により遮られ
る状態を示す説明図。
【図3】図1の従来の焦点検出装置において、第1およ
び第2CCD11,12の出力信号を示すグラフ。
【図4】図1の従来の焦点検出装置において、合焦状態
とそのときの第1および第2CCD11,12の出力信
号の形状を示す説明図。
【図5】本発明の一実施の形態の焦点検出装置100を
備えた顕微鏡200の光学系の構成を示す説明図。
【図6】図5の焦点検出装置100のナイフエッジ62
とモータ63の構造を示す斜視図。
【図7】図5の焦点検出装置100のナイフエッジ62
の代わりに用いることのできる液晶素子116を示す説
明図。
【図8】(a)図5の焦点検出装置100のナイフエッ
ジ62の代わりに用いることのできる板状部材の正面
図、(b)図5の焦点検出装置100のナイフエッジ6
2の代わりに用いることのできる板状部材の側面図。
【図9】本発明の一実施の形態の焦点検出装置100を
備えた顕微鏡200の制御系の構成を示す説明図。
【図10】本発明の一実施の形態の焦点検出装置100
を備えた顕微鏡200の制御系のCPU88の動作を示
すフローチャート。
【符号の説明】
1…LED光源、2…コレクタレンズ、3…スリット、
4…ハーフストップ、5…ハーフミラー、6a…コリメ
ータレンズ、6b…フィールドレンズ、7…ダイクロイ
ックミラー、8…対物レンズ、9…シリンドリカルレン
ズ、10…ナイフエッジ、11…第1のCCD、12…
第2のCCD、13…ハーフミラー、50…光軸、51
…LED光源、52…コレクタレンズ、53…スリッ
ト、54…ハーフストップ、55…ハーフミラー、56
…コリメータレンズ、57…ダイクロイックミラー、5
8…対物レンズ、59…フィールドレンズ、60…シリ
ンドリカルレンズ、61…CCD、62…ナイフエッ
ジ、65…光軸、66…欠像レンズ、67…プリズム、
68…接眼レンズ、71…被検物体、72…ステージ、
73…機構部、74…ノブ、75…連結部、76…モー
タ、81…プリアンプ、82…オートゲインコントロー
ル回路、83…積分回路、84…第1のサンプルホール
ド回路、85…第2のサンプルホールド回路、86…引
算回路、87…D/A変換器、88…CPU、89…ド
ライバ、90…A/D変換器、91…D/A変換器、9
2…ドライバ、93…スイッチ、94…受付部、100
…焦点検出装置、116…液晶素子、117…板状部
材、118…モータ、162…ラック、163…歯車、
200…顕微鏡。

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被検物体からの反射光を集光する光学系
    と、該光学系によって集光された前記反射光を検出する
    検出部と、前記反射光の光路の一部の領域を遮光するた
    めに前記光学系と前記検出部との間に配置され、遮光す
    る状態と遮光しない状態とを切り替え可能な遮光手段と
    を有することを特徴とする焦点検出装置。
  2. 【請求項2】請求項1に記載の焦点検出装置において、
    前記遮光手段を前記光路中に挿脱するための駆動部とを
    有することを特徴とする焦点検出装置。
  3. 【請求項3】請求項2に記載の焦点検出装置において、
    前記検出部で検出した反射光の受光状態により、前記駆
    動部を制御する制御部を有することを特徴とする焦点検
    出装置。
  4. 【請求項4】請求項1に記載の焦点検出装置において、
    前記遮光手段は、前記光路中に配置された、前記反射光
    を透過させない状態と透過させる状態とを電気的に切り
    替え可能な液晶素子を含むことを特徴とする焦点検出装
    置。
  5. 【請求項5】請求項1に記載の焦点検出装置において、
    前記遮光手段は、外周部に切り欠きを有し、前記外周部
    が前記光路の前記領域に挿入される板状部材と、前記板
    状部材を回転させる駆動部とを有することを特徴とする
    焦点検出装置。
  6. 【請求項6】被検物体を搭載するステージと、前記ステ
    ージに対向する位置に配置された対物レンズと、観察光
    学系と、焦点検出部とを有し、 前記焦点検出部は、前記対物レンズを通過した前記被検
    物体からの反射光を集光する集光光学系と、該集光光学
    系によって集光された前記反射光を検出する検出部と、
    前記反射光の光路の一部の領域を遮光するために前記集
    光光学系と前記検出部との間に配置された遮光手段とを
    含み、 該遮光手段は、遮光する状態と、遮光しない状態とを切
    り替え可能であることを特徴とする焦点検出機能を備え
    た顕微鏡。
  7. 【請求項7】請求項5に記載の焦点検出装置において、
    複数の対物レンズを搭載し、そのうちの一つを前記対物
    レンズとして前記ステージに対向する位置に選択的に配
    置するレボルバを含み、 前記遮光手段が遮光する前記領域の大きさは、前記複数
    の対物レンズごとに可変であることを特徴とする焦点検
    出機能を備えた顕微鏡。
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