JP2003069300A - 電子部品装着装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 部品装着前にリード浮き検査装置によりリー
ド浮き検査を実施するも、生産性低下を抑えながら融通
性のある検査モードの環境設定ができる電子部品装着装
置を提供すること。 【解決手段】 ＣＲＴ６４の「リード浮き検査間隔設
定」画面上で「検査実行モード指定」として「モード
１」を選択入力し、「新ロット内初回強制実行指定」と
して「実施する」とし、「連続実行回数」を「２」と
し、また「検査インターバル１」を「１／４」とし、
「検査インターバル２」を「１／２」として、所定の電
子部品について設定すると、「検査インターバル１」
（４回に１回検査）を進める過程で、リード浮き検査ユ
ニット５０による検査の結果、異常が発生すると、次に
連続実行回数（２回）だけ連続して検査を実行し、次い
で「検査インターバル２」（２回に１回検査）に移行す
るものである。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、移動可能な装着ヘ
ッドを設け、該装着ヘッドに電子部品を吸着してプリン
ト基板上に装着する吸着ノズルが設けられた電子部品装
着装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】特開２００１−１０２７９８号公報に
は、多ピンリード#付き部品のリフロー工程での半田付
け不良(いわゆるリード浮きで、足の上下曲りに起因)の
発生を防止するため、部品実装前にリード浮き検査を実
施して、曲りの許容値を超えるものは装着しないように
電子部品装着装置にリード浮き検査ユニットを設ける技
術が開示されている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】従来、前記検査の実施
の有無は、部品種毎に「実施する／しない」設定をして
おり、実施対象となった部品は、全数検査が実施され
る。そのため、装着前のリード浮き検査であるがゆえ
に、その検査処理時間がスループットに影響を与え、生
産性低下につながっていた。しかしながら実際のとこ
ろ、リード浮き不良の発生には部品のロット的な背景も
あり、必ずしも全数検査を必要ではない等の考えもあ
り、もっと融通性のある検査モードの環境設定が望まれ
ている。

【０００４】そこで本発明は、部品装着前にリード浮き
検査装置によりリード浮き検査を実施するも、生産性低
下を抑えながら融通性のある検査モードの環境設定がで
きる電子部品装着装置を提供することを目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】このため第１の発明は、
部品供給装置から供給される電子部品を取出した吸着ノ
ズルがプリント基板上に該電子部品を装着する前に、リ
ード浮き検査装置によりリード浮きを検査し、良品のみ
装着するようにした電子部品装着装置において、前記電
子部品の種類毎に設定された任意の取出し回数毎に前記
リード浮き検査装置により検査するように制御する制御
装置を設けたことを特徴とする。

【０００６】第２の発明は、同電子部品装着装置におい
て、前記電子部品の種類毎に前記リード浮き検査装置に
よる検査を所定取出し回数毎に行なうように設定するた
めの第１の設定装置と、前記電子部品の種類毎に前記リ
ード浮き検査装置による検査を前記第１の設定装置によ
り設定された頻度より高い頻度の所定取出し回数毎に行
なうように設定するための第２の設定装置と、前記電子
部品の種類毎に前記リード浮き検査装置による検査を所
定回数連続して行なうように設定するための第３の設定
装置と、通常は前記第１の設定装置で設定された所定取
出し回数毎に前記リード浮き検査装置による検査を行う
も、その検査結果が不良と判定されたときには前記第３
の設定装置で設定された所定回数連続して行ない、その
検査結果が良好である場合には前記第２の設定装置で設
定された所定取出し回数毎に前記リード浮き検査装置に
よる検査を行なうように制御する制御装置を設けたこと
を特徴とする。

【０００７】第３の発明は、同電子部品装着装置におい
て、前記電子部品の種類毎に前記リード浮き検査装置に
よる検査を所定回数連続して行なうように設定するため
の第１の設定装置と、前記電子部品の種類毎に前記リー
ド浮き検査装置による検査を所定取出し回数毎に行なう
ように設定するための第２の設定装置と、当初は前記第
１の設定装置で設定された所定回数連続して前記リード
浮き検査装置による検査を行ない、その検査結果が良好
である場合には前記第２の設定装置で設定された所定取
出し回数毎に前記リード浮き検査装置による検査を行な
うように制御する制御装置を設けたことを特徴とする。

【０００８】第４の発明は、新ロットに切換わった前記
電子部品を初めて取り出す場合には、強制的に該電子部
品について前記リード浮き検査装置により検査するよう
に制御する第２の制御装置を設けたことを特徴とする。

【０００９】

【発明の実施の形態】以下図面に基づき、本発明の実施
形態につき説明する。図１は電子部品装着装置の平面図
であり、図２は電子部品装着装置の右側面図であり、こ
の電子部品装着装置１は、電子部品をプリント基板９に
装着する装置本体２と、この装置本体２に比較的小さな
電子部品を供給する第１部品供給装置３と、装置本体２
に多リード部品など大きな電子部品を供給する第２部品
供給装置４、４とを備えている。

【００１０】そして、対向する前記第１部品供給装置３
と第２部品供給装置４、４間には、基板搬送機構５を構
成する供給コンベア６、位置決め部７及び排出コンベア
８が設けられている。供給コンベア６は上流側装置より
受けたプリント基板９を前記位置決め部７に搬送し、位
置決め部７で図示しない位置決め機構により位置決めさ
れた該基板９上に電子部品が装着された後、排出コンベ
ア８に搬送される。

【００１１】前記装置本体２は、基台１０と、該基台１
０の前後の中央部に設けられる前記基板搬送機構５と、
１つの装着ヘッド１１と基板認識カメラ（図示せず）と
を搭載したヘッドユニット１２と、該ヘッドユニット１
２をＸＹ方向に移動させるＸＹステージ１３とを備えて
いる。そして、前記ＸＹステージ１３の作動により、装
着ヘッド１１が第１部品供給装置３又は第２部品供給装
置４、４に臨んで電子部品をピックアップし、この電子
部品を位置決め部７上のプリント基板９上に装着する。

【００１２】前記第１の部品供給装置３は、部品供給側
の先端部がプリント基板９の搬送路に平行な基台１０の
一の辺に平行の辺に臨むように該基台１０に連結具１４
を介して着脱可能に配設され、連結具１４を解除して回
動させた把手１５を引くとキャスタ１６により移動でき
る構成である。そして、前記第１部品供給装置３はカセ
ット形式のテープフィーダ１７を多数並設したものであ
り、部品供給側の先端部が装着ヘッド１１をピックアッ
プ領域に臨むように配設されており、各テープフィーダ
１７はキャリアテープ（図示せず）に装填された電子部
品を先端から１つずつ供給する。

【００１３】尚、前記第１の部品供給装置３は、カセッ
ト形式のテープフィーダ１７を多数並設したものに限ら
ず、スティック形式の供給装置やバルク形式の供給装置
を使用してもよい。

【００１４】そして、第２部品供給装置４、４は、前記
第1部品供給装置３が臨む前記基台１０の一の辺に直角
に交わる他の一の辺に臨むように配設される。この第２
部品供給装置４、４では、多数個の電子部品をトレイＴ
の上に整列配置し、更にこのトレイＴを１個又は複数
個、パレットＰに搭載し、このパレットＰをピックアッ
プ領域に臨ませることで、電子部品を装置本体２に供給
する。

【００１５】次に、前記ヘッドユニット１２をＸＹ方向
に移動させるＸＹステージ１３について、説明する。即
ち、Ｘ方向に長いビーム２０がＹ軸モータの駆動により
ネジ軸（図示せず）を回転させ、左右一対のガイド２１
に沿ってＹ方向に移動し、該ビーム２０に対して装着ヘ
ッド１１はＸ軸モータによりＸ方向に移動することとな
る。

【００１６】尚、前記装着ヘッド１１には４本の吸着ノ
ズル２２を上下動させるための上下軸モータが搭載さ
れ、また鉛直軸周りに回転させるためのθ軸モータが搭
載されている。したがって、前記装着ヘッド１１の各吸
着ノズル２２はＸ方向及びＹ方向に移動可能であり、垂
直線回りに回転可能で、かつ上下動可能となっている。

【００１７】また、前記装着ヘッド１１には、電子部品
を吸着する吸着ノズル２２が着脱自在に装着されてい
る。ノズルストッカ２３には、交換のための吸着ノズル
２２が電子部品の種類に応じて複数個備えられている。

【００１８】前記ノズルストッカ２３の近傍には、吸着
ノズル２２に吸着された電子部品の位置認識を行う部品
認識カメラ２４が配設されている。即ち、吸着ノズル２
２の軸心に対するずれ量が検出されて、その検出結果に
基づきそのずれ量分だけ吸着ノズル２２を前記θ軸モー
タ、ＸＹステージ１３を駆動するＸ軸モータ及びＹ駆動
モータにより補正移動させる。

【００１９】次に、前記第２部品供給装置４について、
図３に基づき以下詳述する。該第２部品供給装置４は、
多数のパレットＰをストックすると共に、パレットＰを
所定の移動レベル位置である引き出しレベル位置、即ち
シュート３０の位置まで鉛直方向に搬送するエレベータ
機構３１と、パレットＰをエレベータ機構３１から装置
本体２のピックアップ領域まで水平方向に搬送するパレ
ット導入機構３２とで構成されている。

【００２０】前記エレベータ機構３１は、多数のパレッ
トＰを上下方向に多数収容するパレットストッカ３３
と、このパレットストッカ３３を介して各パレットＰを
昇降させる昇降機構３４とで構成されている。このパレ
ットストッカ３３は内部にパレットＰを載置する棚部材
２９を上下方向に多数段配設して構成され、内側は開口
され、この開口からパレットＰが装置本体２側に引き出
される。

【００２１】前記昇降機構３４は、パレットストッカ３
３を保持する図外のフレームと、このフレームの一部に
螺合してこれを昇降させるボールネジ３５と、このボー
ルネジ３５の両側に配設された前記フレームのガイドレ
ール３６と、前記ボールネジ３５を回転させる昇降モー
タ３７とで構成される。この昇降モータ３７を介してボ
ールネジ３５が正逆回転することにより、フレームがガ
イドレール３６に案内されて昇降し、パレットストッカ
３３が昇降するものである。

【００２２】このように構成されたエレベータ機構３１
による昇降動作では、パレットストッカ３３の所望の棚
部材２９のレベル位置と、パレット導入機構３２のシュ
ート３０のレベル位置とを合致させる。

【００２３】パレット導入機構３２は、装置本体２の基
台１０上に配設したシュート３０と、このシュート３０
に沿って進退する係止アーム４２と、該係止アーム４２
を進退させる駆動機構４３とで構成される。そして、係
止アーム４２の先端には、パレットＰに係脱するフック
４４が設けられており、駆動機構４３により係止アーム
４２を前進させて、このフック４４をエレベータ機構３
１に収容したパレットＰの先端に係止し、次に係止アー
ム４２を後退させて、パレットＰをシュート３０に沿っ
てピックアップ領域に導入する。

【００２４】また、前記基台１０上にはリード浮き検査
ユニット５０が設置されており、電子部品５１から突出
するリード端子（以下、リードという）５２の浮き（上
下方向への曲り）量が測定される。以下、リード浮き検
査ユニット５０について詳述する。

【００２５】部品供給装置４、４が供給する電子部品５
１には図４に示すようにリード５２が突出されているタ
イプ（ＱＦＰ等と呼ばれているものである。）がある
が、このリード５２の下端面は同一平面上になければな
らない。同一平面上になければ、プリント基板９に装着
された場合に基板面から離れて浮いてしまうリード５２
が発生し、そのような浮いたリード５２は基板９のラン
ドと半田接合されないこととなってしまうからである。
図４の場合はのリード５２が他のリード５２よりも上
方に曲っている。

【００２６】図５に示すリード浮き検査ユニット５０は
このリード５２の浮きの程度を検出するものであり、一
対のラインＣＣＤ５５が同一直線上に配設されている。
図５に示すように、このユニット５５にはＬＥＤ等の光
源５６が設けられ、この光源から発せられた光がライン
ＣＣＤ５５と同一方向に並ぶ1列のリード群に二方向か
ら照射され、各リード５２から反射された光がレンズ５
７を介してラインＣＣＤ５５上に照射され、各リード５
２について一対のラインＣＣＤ５５に検出された投影位
置の差がリード５２の浮き量として現れる。即ち、の
リード５２のみが上方に曲ってその下端位置が他のリー
ド５２より上にある場合、その下端位置が他のリード５
２の下端位置が形成する基準となる平面よりどれくらい
離れているかが、浮き量として検出されるものである。
左側ラインＣＣＤ５５ではのリード５２は左に寄って
映り、右側ラインＣＣＤ５５では反対に寄って映り、浮
き量とラインＣＣＤ５５の投影位置は、比例の関係にあ
るので浮き量が算出できるのである。

【００２７】本実施形態では、基準となる平面より上方
への曲りによる浮き量をプラスとして、下方への曲りに
よる浮き量をマイナスとして、算出している。このよう
にして算出された１個の電子部品５１における最大の浮
き量と最小の浮き量の差を算出し、所定の許容値を超え
ないものを良品（ＯＫ）としている。どちらかの値が許
容値を超える場合には、ＮＧと判定してプリント基板９
には装着しないようにしている。

【００２８】この算出及びＯＫ／ＮＧの判断はリード浮
き検査ユニット５０及び後述するＣＰＵ６０の両者が協
動して行っており、リード浮き検査ユニット５０は電子
部品に関する数値情報を検出する検出手段としての役割
を果たしている。

【００２９】次に、電子部品装着装置１の制御系の構成
について、図６に基づき説明する。電子部品装着装置１
の各要素はＣＰＵ６０が統括制御しており、制御上のプ
ログラムを格納するＲＯＭ６１及び各種プログラム及び
各種データを格納するＲＡＭ６２がバスライン６３を介
して接続されている。

【００３０】また、ＣＰＵ６０には操作画面等を表示す
るＣＲＴ６４及び該ＣＲＴ６４の表示画面に形成された
入力手段としてタッチパネル６５がインターフェース６
６を介して接続されている。タッチパネル６５はＣＲＴ
６４の画面上に任意にスイッチを表示する。また、浮き
量検査ユニット５０及び部品認識カメラ２４がインター
フェース６６を介してＣＰＵ６０に接続されている。

【００３１】そして、管理者がＣＲＴ６４の画面上でタ
ッチパネル６５を押圧して図７に示す電子部品の種類毎
に部品ライブラリ制御データ画面を表示して、リード浮
き検出を「実施する」とし、また許容値を「０．０５ｍ
ｍ」として「リード浮き検査間隔指定データ編集」キー
スイッチを押圧すると、図８に示す「リード浮き検査間
隔設定」画面が表示され、「検査実行モード指定」とし
て「モード１」を選択入力すると、「検査インターバル
１」で設定された間隔で、該当部品のリード浮き検査を
実行するモードとなる。本モードは、部品供給メーカー
の部品品質に対し、過去の実績から信頼性が見込めるよ
うな場合の適用で、全数チェックは過剰との判断に基づ
く運用スタンスである。

【００３２】ここで、「検査インターバル１」の設定例
について説明する。「１／１」と設定した場合は、装着
前に全数検査（毎回検査）が実施される。また、抜き取
り検査としたい場合には、１／３（３回に１回検査実
行）、１／４（４回に１回検査実行）のように設定すれ
ばよい。本画面例では、１／４（４回に１回検査実行）
と設定される。

【００３３】そして、全数検査設定（１／１）でない場
合、次のように検査環境のダイナミック変更指定が行え
る。即ち、所定間隔での抜き取り検査実行時に、リード
浮き異常が検出された場合、その後の検査運用パターン
をアレンジできるようにしている。すなわち、ＣＰＵ６
０がそれまでの検査間隔より監視を強化するべく、検査
間隔頻度を上げられるよう第二の設定である「検査イン
ターバル２」に自動移行させるものである。これは、部
品のロット的要因で発生したとの見地から、検査頻度を
上げて、ＮＧ部品（検査不良部品）の発見と、製品への
不良部品実装を食止めることを主目的とした展開であ
る。

【００３４】この場合の自動アレンジ動作を説明する。
検査間隔を切替える前に、集中的に連続検査を所定回数
義務付ける「連続実行回数」データもここで作用してく
る。このデータ値に従い、次の検査パターンになる。即
ち、連続実行回数が「１」の場合（設定データ範囲は１
から９９９まで可能）には異常検出された直後の同部品
のリード浮き検査を実行し、ＯＫの場合には、それ以降
の検査間隔を「検査インターバル２」に切替えて実行し
ていく。異常検出された場合は、管理を初期化して連続
検査を繰返す。

【００３５】そして、連続実行回数に「２以上」の値が
設定されている場合には、その後の同部品吸着毎にリー
ド浮き検査を指定回数継続して実行する。その間に異常
検出された場合は、それまでの検査回数を初期化して、
再度指定されている連続実行回数分の連続継続検査を行
う。指定回数分の連続検査が全てＯＫとなった場合は、
それ以降の検査間隔を「検査インターバル２」に切替え
て実行する。

【００３６】ここで、「検査インターバル１」と「検査
インターバル２」の関係であるが、後者の設定頻度の方
を高くして運用する。異常発生が起きた時点で、スポッ
ト的に集中検査を義務付け、それ以降は抜き取り検査頻
度を上げて、処方する運用スタイルである。連続実行回
数が「１」や「２以上」の値が設定されている場合、と
もに「検査インターバル２」に従う検査間隔に移行した
後に、その抜き取り検査で異常になった場合は、同様に
連続実行回数指定に基づく前述した例外検査が行われ
る。スポット集中検査で異常があれば、ふりだしからの
連続検査が義務付けられ、その後所定の検査回数に達す
るまで正常判定された場合には、再度「検査インターバ
ル２」による抜き取り検査に戻るものである。

【００３７】次に、「検査実行モード指定」が「モード
２」の場合について、以下説明する。この「モード２」
は、全数検査実行モードで、良品検出が安定して継続す
るようなら、検査間隔を間引いていくスタイルであり、
「モード１」とは逆のスタンスでの検査モードである。
初めて使用する部品や、部品メーカーに対し、部品品質
に対する経験値を持っていないような場合に適用される
運用パターンである。検査のインターバル設定データ
は、「モード１」と同じデータを使用するが、その運用
形態は少し異なる。

【００３８】先ず最初の検査手順は、「連続実行回数」
で設定された回数に従い、該当部品のリード浮き検査を
連続して実施する検査運用が義務付けられる。連続検査
回数の設定値に到達する前に、リード浮き異常が発生し
た場合には、それまで検査してきた回数をふりだしに戻
して（初期化して）、再度初めから連続検査回数に到達
するまで、連続検査を実行していくものである。

【００３９】そして、連続検査回数に到達するまで、継
続して該当部品が良品判定された場合に、全数検査か
ら、抜き取り検査に移行させてもよいとする場合には
「検査インターバル１」にて、その後の間引き検査頻度
を指定する。

【００４０】ここで、「検査インターバル１」の設定例
について説明すると、全数検査を常に継続実施したい場
合には、１／１設定にする。２回に１回の検査に間引き
たい場合は１／２、５回に１回に間引きたい場合は１／
５のように「検査インターバル１」を設定する。抜き取
り検査に移行後、異常検出された場合は、直ちに最初の
全数検査に戻し、同様の検査パターンを繰返していくも
のである。

【００４１】次に、「新ロット内初回強制実行指定」に
ついて説明するが、「実施する／実施しない」のいずれ
かを指定するものである。これは、検査インターバル設
定に基づいて行われる抜き取り検査において、トレイ供
給部品のように、同一トレイＴ内の部品を全て吸着後、
自動的に他の同一品種スペアである新しいトレイＴへ切
替えて、自動運転を継続していく際に、検査インターバ
ル設定の間隔設定に関係なく、新ロット内の初部品とい
うことで、強制的にこの最初の部品検査を義務付けるか
否かを指定するデータである。また、テープフィーダ１
７で供給する場合には、同一種類の電子部品を収納供給
する他のテープフィーダ１７に切替えるときに、新ロッ
ト内の初部品という扱いをすることとなる。

【００４２】「実施する」に設定された場合には、前述
した処理が実行されるが、この場合、それまで管理され
てきた検査間隔決定のための制御内部データは強制的に
初期化され、インターバル管理はふりだしに戻される。
「実施しない」設定の場合には、それまでのトレイＴ内
の全ての電子部品を取出しに至るまでに管理されてきた
検査間隔決定用の内部データをそのまま継続して、抜き
取り検査を繰返していく。このデータの設定は、「モー
ド１」／「モード２」設定に関わらず、双方に反映され
る。

【００４３】以上の構成により、以下動作について説明
するが、管理者がＣＲＴ６４の画面上でタッチパネル６
５を押圧して図７に示す電子部品の種類毎に部品ライブ
ラリ制御データ画面を表示し、リード浮き検出を「実施
する」とし、また許容値を「０．０５ｍｍ」として「リ
ード浮き検査間隔指定データ編集」キースイッチを押圧
すると、図８に示す「リード浮き検査間隔設定」画面が
表示される。この画面上で「検査実行モード指定」とし
て「モード１」を選択入力し、「新ロット内初回強制実
行指定」として「実施する」とし、「連続実行回数」を
「２」とし、また「検査インターバル１」を「１／４」
とし、「検査インターバル２」を「１／２」として、所
定の電子部品について設定したものとして図９〜図１３
のフローチャート（電子部品毎に管理される）に基づき
説明する。この設定は電子部品の種類毎に行なわれる
が、便宜上一種類の電子部品の設定についてのみ示す。

【００４４】先ず、ＣＰＵ６０はＲＡＭ６２に格納され
た装着データに従い、取出し装着すべき電子部品につい
ての「検査実行モード指定」が「モード１」か否かが判
断され、「モード１」なので初期化処理をしてモードを
「検査インターバル１」モードとすると共に仕掛かり管
理用フラグをオフにする。そして、管理用フラグがオフ
なのか否かが判断され、オフなのでオンして、「検査イ
ンターバル１」の設定データ値である「１／４」を代入
すると共に内部管理用カウンタＣＴ１を「０」とする。

【００４５】一方、プリント基板９が図示しない上流側
装置より供給コンベア６を介して位置決め部７に搬送さ
れ、位置決め機構により位置決め固定され、部品取出し
動作及び装着動作となる。即ち、装着ヘッド１１が装着
すべき電子部品を取出すべく移動するが、Ｘ軸モータ及
びＹ軸モータが駆動してＸＹステージ１３を移動させて
装着ヘッド１１を移動させ、上下モータを駆動させて吸
着ノズル２２を下降させて前記第２部品供給装置４から
電子部品を取出す。

【００４６】このとき、エレベータ機構３１の昇降動作
が制御されて、取出すべき電子部品を収納しているパレ
ットストッカ３３の棚部材２９のレベル位置と、パレッ
ト導入機構３２の既に上昇したシュート３０のレベル位
置とが合致されて、駆動機構４３により係止アーム４２
を前進させて、フック４４をエレベータ機構３１に収容
したパレットＰの先端に係止し、次に係止アーム４２を
後退させて、パレットＰをシュート３０に沿ってピック
アップ領域に導入し、前記吸着ノズル２２により電子部
品を吸着して取出すものである。

【００４７】次に、部品認識カメラ２４上に搬送され、
該カメラ２４が該電子部品５１を撮像し、その像に基づ
き電子部品５１の装着ヘッド１１に対する位置ずれ及び
各リード５２の水平面内での曲りが認識処理される。

【００４８】そして、シーケンスがリード浮き検査実行
プロセスタイミングになると、検査モードを判定し、
「モード１」の「連続検査実行モード」ではなく「抜き
取り検査実行モード」なので、また「検査インターバル
２」ではなく「検査インターバル１」であり、ＲＡＭ６
２内に設けられたカウンタＣＴ１が「０」なのでカウン
タＣＴ１を１インクリメントして「１」とし、リード浮
き検査を実行する。

【００４９】即ち、装着ヘッド１１は該電子部品５１を
リード浮き検査ユニット５０上に搬送し、該ユニット５
０は、各辺のリード列についてそのリード浮き量を前述
するようにして検出する。ＣＰＵ６０は、この１個の部
品５１の中で最大の浮き量と最小の浮き量の差を算出す
る。即ち、最大の浮き量がプラスの値で最小の浮き量が
マイナスであれば、両者の絶対値の和が差分値として算
出される。

【００５０】次に、ＣＰＵ６０はこの浮き量の差の値に
該当する電子部品の種類（部品ＩＤで示される。）及び
浮き量差分値の区間毎にＲＡＭ６２内に設けられたカウ
ンタを１加算する。即ち、ＲＡＭ６２内には部品ＩＤ毎
に０．０１ｍｍの幅で浮き量差分値の区間毎の度数をカ
ウントするカウンタが設けられており、このカウンタを
加算していくことで、浮き量差分値が部品種及び区間毎
に集計されるのである。

【００５１】次に、浮き量の差分値が許容値（０．０５
ｍｍ）内であった場合、即ち検査判定結果が良品（Ｏ
Ｋ）であった場合、次の同一部品吸着シーケンスにプロ
セスが移行するまではその移行までの判断を繰り返し、
装着ヘッド１１は電子部品５１をプリント基板９上に搬
送する。そして、その装着すべき位置に装着すべき角度
で位置決めされるよう、算出された装着ヘッド１１に対
する位置ずれ量が補正された後装着される。即ち、ＸＹ
方向の位置決めはＸＹテーブル１３のヘッド１１の移動
により位置ずれが補正されてなされ、角度位置決めは装
着ヘッド自体が鉛直軸線まわりに補正量を加味して回転
してなされる。

【００５２】そして、順次装着して次の（２回目）同一
部品吸着シーケンスにプロセスが移行すると、図９に示
すルーチンＡに移行してリード浮き検査実行プロセスタ
イミングか否かの判断がなされて、検査モードの判定等
をし、カウンタＣＴ１の内容が「０」でなく「１」なの
で、次に検査インターバル１の抜き取り検査回数プラス
１回の５回目に達していないので、カウンタＣＴ１を１
インクリメントして「２」とし、図１０に示すルーチン
Ｂに移行する。

【００５３】即ち、リード浮き検査を実行せずに、吸着
部品が新しいトレイＴ内における初回取出しでなけれ
ば、次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行する
まではその移行までの判断を繰り返し、装着ヘッド１１
は電子部品５１をプリント基板９上に搬送し装着する。
尚、このルーチンＢを進める過程で、吸着部品が新しい
トレイＴ内における初回取出しであれば、「新ロット内
初回強制実行指定」について「実施する」の設定がなさ
れているかが判断され、設定されていれば、次に「検査
インターバル１」か否かの判断がなされ、「検査インタ
ーバル１」であれば前記カウンタＣＴ１の内容を「０」
にクリアし前述の動作を繰り返す。即ち、「実施する」
に設定された場合には、それまで管理されてきた検査間
隔決定のための制御内部データは強制的に初期化され、
インターバル管理はふりだしに戻されることとなる。

【００５４】そして、次の（３回目）同一部品吸着シー
ケンスにプロセスが移行すると、図９に示すルーチンＡ
に移行し前述したようにカウンタＣＴ１を１インクリメ
ントして「３」とし、図１０に示すルーチンＢに移行す
るが、このように順次装着処理して、カウンタＣＴ１の
内容が「４」になると、このカウンタＣＴ１の「検査イ
ンターバル１」の抜き取り検査回数の４以上となるので
カウンタＣＴ１の内容を「１」とし、５回目に取出され
た電子部品のリード浮き検査を実行する。そして、良品
と判定されれば、装着ヘッド１１がプリント基板９上に
搬送し装着する。

【００５５】しかし、前記５回目に取出された電子部品
のリード浮き検査の結果が異常と判定されると、即ち検
出された浮き量差分値が許容値を超えて異常が発生した
場合には、この電子部品５１はプリント基板９に装着さ
れることなく図示しない所定の廃棄ステーションで廃棄
される。そして、ＣＰＵ６０は、「連続実行回数」の設
定値を判断し、その設定値が「２」であり「１」ではな
いので、検査モードを「連続検査モード」に切替え連続
実行回数値「２」を代入すると共に内部管理用カウンタ
ＣＴ１、ＣＴ２およびＣＴ３をクリアし「０」とし、次
の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行するまでは
その移行までの判断を繰り返す。そして、順次装着して
次の（６回目）同一部品吸着シーケンスにプロセスが移
行すると、ルーチンＡに移行してリード浮き検査実行プ
ロセスタイミングか否かの判断がなされて、検査モード
の判定をし、前述の如く「連続検査モード」に切替えら
れたため、図１１に示すルーチンＸに移行する。

【００５６】即ち、ＣＰＵ６０はカウンタＣＴ３が連続
実行回数値「２」より少ないので、このカウンタＣＴ３
の内容を「１」インクリメントとして「１」とし、リー
ド浮き検査を実行し、浮き量の差分値が許容値内であっ
た場合、次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行
するまではその移行までの判断を繰り返す。そして、順
次装着して次の（７回目）同一部品吸着シーケンスにプ
ロセスが移行すると、図９に示すルーチンＡに移行して
前記検査モードの判定をし、図１１に示すルーチンＸに
移行し、カウンタＣＴ３の内容を「１」インクリメント
として「２」とし、リード浮き検査を実行し、浮き量の
差分値が許容値内であった場合、次の同一部品吸着シー
ケンスにプロセスが移行するまではその移行までの判断
を繰り返し、順次装着して次の（８回目）同一部品吸着
シーケンスにプロセスが移行すると、ルーチンＡに移行
して前記検査モードの判定をし、ルーチンＸに移行す
る。

【００５７】このとき、カウンタＣＴ３の内容「２」が
連続実行回数の「２」より大きくはないので、カウンタ
ＣＴ３の内容を「１」インクリメントとして「３」と
し、リード浮き検査を実行し、浮き量の差分値が許容値
内であった場合、次の同一部品吸着シーケンスにプロセ
スが移行するまではその移行までの判断を繰り返す。そ
して順次装着して次の（９回目）同一部品吸着シーケン
スにプロセスが移行すると、カウンタＣＴ３の内容
「３」が連続実行回数の「２」より大きいので、ＣＰＵ
６０は検査間隔を「検査インターバル２」に切替え設定
データ値「１／２」を代入し各カウンタＣＴ１、ＣＴ２
及びＣＴ３を「０」にクリアし、検査を実行することな
くプリント基板９に電子部品を装着し、次の同一部品吸
着シーケンスにプロセスが移行するまではその移行まで
の判断を繰り返す。

【００５８】尚、前記カウンタＣＴ３の内容が「３」に
なる前に、リード浮き検査が実行されてその判定結果が
ＮＧ、即ち浮き量の差分値が許容値外であった場合には
カウンタＣＴ３を「０」にクリアし、カウンタＣＴ３の
内容が連続実行回数の「２」より大きくなるまで、前述
の検査を繰り返すこととなる。

【００５９】そして、順次装着して次の同一部品吸着シ
ーケンスにプロセスが移行すると、ルーチンＡに移行し
てリード浮き検査実行プロセスタイミングか否かの判断
がなされて、検査モードの判定をし、「連続検査モー
ド」ではなく、また「検査インターバル２」であるので
図１２に示すルーチンＹに移行する。

【００６０】即ち、前記カウンタＣＴ２の内容が「０」
かどうかが判断され、「０」であるので、カウンタＣＴ
２の内容を「１」インクリメントとして「１」とし、リ
ード浮き検査を実行し、浮き量の差分値が許容値内であ
った場合、次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移
行するまではその移行までの判断を繰り返す。そして、
順次装着して次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが
移行すると、図９に示すルーチンＡに移行して前記検査
モードの判定をし、再び図１２に示すルーチンＹに移行
し、カウンタＣＴ２の内容が「１」なので、次に「２以
上」に達していないので、カウンタＣＴ２を１インクリ
メントして「２」とし、図１３に示すルーチンＤに移行
する。

【００６１】即ち、リード浮き検査を実行せずに、吸着
部品が新しいトレイＴ内における初回取出しでなけれ
ば、次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行する
まではその移行までの判断を繰り返し、装着ヘッド１１
は電子部品５１をプリント基板９上に搬送し装着する。

【００６２】そして、順次装着して次の同一部品吸着シ
ーケンスにプロセスが移行すると、ルーチンＡに移行し
て前記検査モードの判定をし、再び図１２に示すルーチ
ンＹに移行し、カウンタＣＴ２の内容が「２」なので、
次に「検査インターバル２」の抜き取り検査回数２回目
以上に達したので、カウンタＣＴ２の内容を「１」とし
た後、今度はリード浮き検査を実行し、浮き量の差分値
が許容値内であった場合、次の同一部品吸着シーケンス
にプロセスが移行するまではその移行までの判断を繰り
返す。そして、順次装着して次の同一部品吸着シーケン
スにプロセスが移行すると、ルーチンＡに移行して前記
検査モードの判定をし、再びルーチンＹに移行し、カウ
ンタＣＴ２の内容が「１」なので、次にリード浮き検査
を実行せずにカウンタＣＴ２を１インクリメントして
［２］とし、ルーチンＤに移行するというように、１回
置きに検査を実行することとなる。

【００６３】尚、前記ルーチンＤを進める過程で、吸着
部品が新しいトレイＴ内における初回取出しであれば、
「新ロット内初回強制実行指定」について「実施する」
の設定がなされているかが判断され、設定されていれ
ば、次に「検査インターバル２」か否かの判断がなさ
れ、「検査インターバル２」であれば前記カウンタＣＴ
２の内容を「０」にクリアし前述の動作を繰り返す。即
ち、「実施する」に設定された場合には、それまで管理
されてきた検査間隔決定のための制御内部データは強制
的に初期化され、インターバル管理はふりだしに戻され
ることとなり、最初からのルーチンＹに戻るものであ
る。

【００６４】以上のように、「検査インターバル１」
（４回に１回検査）を進める過程で、検査の異常が発生
すると、次に連続実行回数（２回）だけ連続して検査を
実行し、次いで「検査インターバル２」（２回に１回検
査）に移行するものである。

【００６５】尚、前記「検査インターバル２」を進める
過程で、前記ルーチンＹにおけるリード浮き検査を実行
した結果がＮＧの場合には、連続実行回数の設定値を判
断し、連続実行回数設定値が「０」でなく「２」なので
検査モードを「連続検査モード」に切替え設定データ値
「２」を代入すると共にカウンタＣＴ１、ＣＴ２及びＣ
Ｔ２をクリアして「０」とし、次の同一部品吸着シーケ
ンスにプロセスが移行するまではその移行までの判断を
繰り返して、順次装着して次の同一部品吸着シーケンス
にプロセスが移行すると、ルーチンＡに移行し、リード
浮き検査を結果がＯＫでも連続して２回実行することと
なる。尚、前記連続実行回数設定値が「０」であれば、
「検査インターバル２」を維持し、その設定データ値を
代入すると共にカウンタＣＴ１、ＣＴ２及びＣＴ３を
「０」にクリアする。

【００６６】次に、管理者がある電子部品５１について
は、ＣＲＴ６４の画面上で「検査実行モード指定」とし
て全数検査型の「モード２」を選択入力し、「新ロット
内初回強制実行指定」として「実施する」とし、また許
容値を「０．０５ｍｍ」として「連続実行回数」を
「６」とし、また「検査インターバル１」を「１／２」
と設定したものとして、図９、図１４乃至図１６のフロ
ーチャートに基づき説明する。

【００６７】先ず、ＣＰＵ６０は、「検査実行モード指
定」が「モード１」か否かを判断し、「モード２」なの
で、図１４に示す「モード２」のルーチンに移行する。
そして、初期化処理をしてモードを「連続検査モード」
としてカウンタＣＴ３を「０」とすると共に連続実行回
数「６」を代入する。

【００６８】そして、リード浮き検査実行プロセスタイ
ミングとなると、検査モードの判定をし、「連続検査」
モードであるので、次にカウンタＣＴ３の内容「０」が
連続実行回数の「６」より小さいので、該カウンタＣＴ
３を１インクリメントして「１」とし、リード浮き検査
を実行する。この実行結果がＮＧであればカウンタＣＴ
３を「０」として連続検査の振り出し処置がなされる
が、ＯＫであれば装着ヘッド１１は電子部品５１をプリ
ント基板９上に搬送し装着すると共に同一部品吸着シー
ケンスにプロセスが移行したかの判断が繰り返される。

【００６９】そして、移行したならばその吸着部品は新
ロット内の初回取出しか否かの判断がなされ、初回取出
しでなければ、リード浮き検査実行プロセスタイミング
か否かの判断の戻り、前述したような動作をするが前記
カウンタＣＴ３を１インクリメントして「２」とし、リ
ード浮き検査を実行するというようにカウンタＣＴ３の
内容が連続実行回数の「６」プラス１の「７」となるま
で繰り返す。尚、この「モード２」の連続検査を進める
過程で、吸着部品が新しいトレイＴ内における初回取出
しであれば、「新ロット内初回強制実行指定」について
「実施する」の設定がなされているかが判断され、設定
されていれば、次に「検査インターバル１」か否かの判
断がなされ、「検査インターバル１」であれば前記カウ
ンタＣＴ１の内容を「０」にクリアし前述の動作を繰り
返す。即ち、「実施する」に設定された場合には、それ
まで管理されてきた検査間隔決定のための制御内部デー
タは強制的に初期化され、インターバル管理はふりだし
に戻されることとなる。

【００７０】そして、カウンタＣＴ３の内容が「７」と
なり、リード浮き検査実行タイミングが８回目になると
リード浮き検査を実行せずに検査間隔を「検査インター
バル１」に切替えると共にカウンタＣＴ１、ＣＴ２及び
ＣＴ３を「０」にクリアする。従って、９回目のリード
浮き検査実行タイミングとなり、検査モードを判定し、
モードが「連続検査モード」ではなく「検査インターバ
ル１」であるので、図１５に示すルーチンＺに移行す
る。

【００７１】即ち、カウンタＣＴ１が「０」であるの
で、１インクリメントして「１」とし、リード浮き検査
を実行し、その結果がＯＫであれば次の同一部品吸着シ
ーケンスにプロセスが移行するまではその移行までの判
断を繰り返して、順次装着して次の同一部品吸着シーケ
ンスにプロセスが移行すると図１４に示すルーチンＥに
移行する。そして、１０回目のリード浮き検査実行タイ
ミングとなって、検査モードを判定し、モードが「検査
インターバル１」であるので、前記ルーチンＺに移行す
るが、カウンタＣＴ１の内容が「０」でなく「１」なの
で、次にカウンタＣＴ１の内容が「２」以上か否かの判
断がされ、「１」なので１インクリメントされて「２」
としてリード浮き検査を実行せずに図１６に示すルーチ
ンＦに移行する。

【００７２】従って、吸着部品はトレイＴの新ロット内
の初回取出しか否かの判断をして、初回取出しでなけれ
ば次の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行するま
ではその移行までの判断を繰り返して、順次装着して次
の同一部品吸着シーケンスにプロセスが移行すると図１
４に示すルーチンＥに移行する。尚、このルーチンＦを
進める過程で、吸着部品が新しいトレイＴ内における初
回取出しであれば、「新ロット内初回強制実行指定」に
ついて「実施する」の設定がなされているかが判断さ
れ、設定されていれば、次に「検査インターバル１」か
否かの判断がなされ、「検査インターバル１」であれば
前記カウンタＣＴ１の内容を「０」にクリアし前述の動
作を繰り返す。即ち、「実施する」に設定された場合に
は、それまで管理されてきた検査間隔決定のための制御
内部データは強制的に初期化され、インターバル管理は
ふりだしに戻されることとなる。

【００７３】そして、１１回目のリード浮き検査実行タ
イミングとなって、検査モードを判定し、モードが「検
査インターバル１」であるので、前記ルーチンＺに移行
するが、カウンタＣＴ１の内容が「０」でなく「２」な
ので、次にカウンタＣＴ１の内容が「２」以上か否かの
判断がされ、「２」なのでカウンタＣＴ１の内容を
「１」としてリード浮き検査を実行する。この実行結果
がＯＫであれば、１２回目のリード浮き検査実行タイミ
ングでは検査を実行せず、次の１３回目では実行すると
いうように１回置きに検査を実行することとなる。

【００７４】しかしながら、図１５に示すように、この
「検査インターバル１」での１回置きに検査を実行する
過程で、検査がＮＧとなると、検査モードを「連続検査
モード」に切替え連続実行回数の設定値データの「６」
を代入すると共にカウンタＣＴ１、ＣＴ２及びＣＴ３を
「０」にクリアする。

【００７５】従って、次の同一部品吸着シーケンスにプ
ロセスが移行するとルーチンＥに移行し、次のリード浮
き検査実行プロセスタイミングか否かの判断がなされ
て、検査モードの判定をし、「連続検査モード」である
ので、次にカウンタＣＴ３の内容「０」が連続実行回数
の「６」より小さいので、該カウンタＣＴ３を１インク
リメントして「１」とし、リード浮き検査を実行すると
いうように、前述したように以後連続して６回リード浮
き検査を実行することとなる。

【００７６】また、この連続して６回リード浮き検査を
実行する過程で、検査実行結果がＮＧとなると、カウン
タＣＴ３が「０」にクリアされ連続検査がふりだし処置
されることとなり、連続して６回ＯＫとなるまで「検査
インターバル１」には移行しない。

【００７７】以上のようにして、電子部品５１がプリン
ト基板９に装着され、１枚のプリント基板９が完成する
毎に排出コンベア８に搬送され、次の基板９も同様にし
て電子部品５１の装着が続行される。

【００７８】尚、以上本発明の実施態様について説明し
たが、上述の説明に基づいて当業者にとって種々の代替
例、修正又は変形が可能であり、本発明はその趣旨を逸
脱しない範囲で前述の種々の代替例、修正又は変形を包
含するものである。

【００７９】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、部品装着
前にリード浮き検査装置によりリード浮き検査を実施す
るも、生産性低下を抑えながら融通性のある検査モード
の環境設定ができる電子部品装着装置を提供することが
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】電子部品装着装置の平面図である。

【図２】電子部品装着装置の右側面図である。

【図３】第２部品供給装置の正面図である。

【図４】リード浮き検査ユニットの検査原理を示す側面
図である。

【図５】リード浮き検査ユニットの側面図である。

【図６】制御ブロック図である。

【図７】部品ライブラリ制御データ画面を示す図であ
る。

【図８】リード浮き検査間隔設定画面を示す図である。

【図９】主としてモード１のフローチャートを示す図で
ある。

【図１０】ルーチンＢを示す図である。

【図１１】ルーチンＸを示す図である。

【図１２】ルーチンＹを示す図である。

【図１３】ルーチンＤを示す図である。

【図１４】モード２のフローチャートを示す図である。

【図１５】ルーチンＺを示す図である。

【図１６】ルーチンＦを示す図である。

【符号の説明】

１ 電子部品装着装置 ２ 装置本体 ３ 第１部品供給装置 ４ 第２部品供給装置 １１ 装着ヘッド ２２ 吸着ノズル ５０ リード浮き検査ユニット ６０ ＣＰＵ ６１ ＲＯＭ ６２ ＲＡＭ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 5E313 AA04 AA11 AA15 AA23 CC04 EE02 EE03 EE15 EE24 EE25 EE35 EE50 FF34 FG01

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 部品供給装置から供給される電子部品を
   取出した吸着ノズルがプリント基板上に該電子部品を装
   着する前に、リード浮き検査装置によりリード浮きを検
   査し、良品のみ装着するようにした電子部品装着装置に
   おいて、前記電子部品の種類毎に設定された任意の取出
   し回数毎に前記リード浮き検査装置により検査するよう
   に制御する制御装置を設けたことを特徴とする電子部品
   装着装置。
2. 【請求項２】 部品供給装置から供給される電子部品を
   取出した吸着ノズルがプリント基板上に該電子部品を装
   着する前に、リード浮き検査装置によりリード浮きを検
   査し、良品のみ装着するようにした電子部品装着装置に
   おいて、前記電子部品の種類毎に前記リード浮き検査装
   置による検査を所定取出し回数毎に行なうように設定す
   るための第１の設定装置と、前記電子部品の種類毎に前
   記リード浮き検査装置による検査を前記第１の設定装置
   により設定された頻度より高い頻度の所定取出し回数毎
   に行なうように設定するための第２の設定装置と、前記
   電子部品の種類毎に前記リード浮き検査装置による検査
   を所定回数連続して行なうように設定するための第３の
   設定装置と、通常は前記第１の設定装置で設定された所
   定取出し回数毎に前記リード浮き検査装置による検査を
   行うも、その検査結果が不良と判定されたときには前記
   第３の設定装置で設定された所定回数連続して行ない、
   その検査結果が良好である場合には前記第２の設定装置
   で設定された所定取出し回数毎に前記リード浮き検査装
   置による検査を行なうように制御する制御装置を設けた
   ことを特徴とする電子部品装着装置。
3. 【請求項３】 部品供給装置から供給される電子部品を
   取出した吸着ノズルがプリント基板上に該電子部品を装
   着する前に、リード浮き検査装置によりリード浮きを検
   査し、良品のみ装着するようにした電子部品装着装置に
   おいて、前記電子部品の種類毎に前記リード浮き検査装
   置による検査を所定回数連続して行なうように設定する
   ための第１の設定装置と、前記電子部品の種類毎に前記
   リード浮き検査装置による検査を所定取出し回数毎に行
   なうように設定するための第２の設定装置と、当初は前
   記第１の設定装置で設定された所定回数連続して前記リ
   ード浮き検査装置による検査を行ない、その検査結果が
   良好である場合には前記第２の設定装置で設定された所
   定取出し回数毎に前記リード浮き検査装置による検査を
   行なうように制御する制御装置を設けたことを特徴とす
   る電子部品装着装置。
4. 【請求項４】 新ロットに切換わった前記電子部品を初
   めて取り出す場合には、強制的に該電子部品について前
   記リード浮き検査装置により検査するように制御する第
   ２の制御装置を設けたことを特徴とする請求項１乃至請
   求項３のいずれかに記載の電子部品装着装置。