JP2003057354A - 放射線モニタ - Google Patents
放射線モニタInfo
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- JP2003057354A JP2003057354A JP2001245418A JP2001245418A JP2003057354A JP 2003057354 A JP2003057354 A JP 2003057354A JP 2001245418 A JP2001245418 A JP 2001245418A JP 2001245418 A JP2001245418 A JP 2001245418A JP 2003057354 A JP2003057354 A JP 2003057354A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 外来ノイズが混入することを防止できる放射
線モニタを得る。 【解決手段】 放射線を検出してアナログ信号パルスを
出力する１個または複数の半導体センサをそれぞれ有
し、２つのグループに分けて備えられた第１及び第２の
半導体検出器１及び２と、第１及び第２の半導体検出器
から出力されるアナログ信号パルスを入力し、波高値が
所定の弁別レベル以上で、かつ非同時タイミングの条件
を満たすパルスを計数する非同時計数回路７とを備え
る。
線モニタを得る。 【解決手段】 放射線を検出してアナログ信号パルスを
出力する１個または複数の半導体センサをそれぞれ有
し、２つのグループに分けて備えられた第１及び第２の
半導体検出器１及び２と、第１及び第２の半導体検出器
から出力されるアナログ信号パルスを入力し、波高値が
所定の弁別レベル以上で、かつ非同時タイミングの条件
を満たすパルスを計数する非同時計数回路７とを備え
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、原子力発電所等
で使用する放射線モニタに関するものである。
で使用する放射線モニタに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】原子力発電所等では、従来から半導体検
出器を使用した放射線モニタが使用されている。図７
は、従来の半導体検出器を使用した放射線モニタの構成
を示すブロック図である。図７において、１は第１の半
導体検出器、２は第２の半導体検出器、３は波高弁別計
数回路、４は演算器、５はメモリ、６は表示器である。
出器を使用した放射線モニタが使用されている。図７
は、従来の半導体検出器を使用した放射線モニタの構成
を示すブロック図である。図７において、１は第１の半
導体検出器、２は第２の半導体検出器、３は波高弁別計
数回路、４は演算器、５はメモリ、６は表示器である。
【０００３】第１の半導体検出器１及び第２の半導体検
出器２は、入射した放射線のエネルギーを吸収し、吸収
したエネルギーに比例した電圧波高のアナログ信号パル
スに変換して出力する。第１の半導体検出器１及び第２
の半導体検出器２の出力は合流され、波高弁別計数回路
３に入力される。波高弁別計数回路３は、アナログ信号
パルスを入力して所定の弁別レベル以上の波高値のパル
スを計数する。演算器４は、波高弁別計数回路３とメモ
リ５及び表示器６を制御し、定周期で波高弁別計数回路
３の計数値を読み込んでメモリ５に格納し、メモリ５に
格納されている演算プログラム及びデータにより計数率
等の演算を実行し、演算結果をメモリ５に格納するとと
もに表示器６に表示する。ここで、第１の半導体検出器
１及び第２の半導体検出器２は、例えばＣｄＴｅ半導体
センサ、ＰＩＮ（Ｐ層、空乏層、Ｎ層の構造）型Ｓｉ半
導体センサが用いられ、それぞれ半導体センサを１個ま
たは複数個備えている。
出器２は、入射した放射線のエネルギーを吸収し、吸収
したエネルギーに比例した電圧波高のアナログ信号パル
スに変換して出力する。第１の半導体検出器１及び第２
の半導体検出器２の出力は合流され、波高弁別計数回路
３に入力される。波高弁別計数回路３は、アナログ信号
パルスを入力して所定の弁別レベル以上の波高値のパル
スを計数する。演算器４は、波高弁別計数回路３とメモ
リ５及び表示器６を制御し、定周期で波高弁別計数回路
３の計数値を読み込んでメモリ５に格納し、メモリ５に
格納されている演算プログラム及びデータにより計数率
等の演算を実行し、演算結果をメモリ５に格納するとと
もに表示器６に表示する。ここで、第１の半導体検出器
１及び第２の半導体検出器２は、例えばＣｄＴｅ半導体
センサ、ＰＩＮ（Ｐ層、空乏層、Ｎ層の構造）型Ｓｉ半
導体センサが用いられ、それぞれ半導体センサを１個ま
たは複数個備えている。
【０００４】図８は、図７に示すＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄにおけ
る信号波形を示すものである。図８において、ａ１、ａ
７は第１の半導体検出器１が放射線を検出した結果とし
てのアナログ信号パルス、ａ３は第１の半導体検出器１
の内部ノイズ、ａ５、ａ６は外来ノイズである。同様
に、ｂ４、ｂ８は第２の半導体検出器２が放射線を検出
した結果としてのアナログ信号パルス、ｂ２は第２の半
導体検出器２の内部ノイズ、ｂ５、ｂ６は外来ノイズで
ある。第１の半導体検出器１及び第２の半導体検出器２
の出力は合流して波高弁別計数回路３に入力される。
る信号波形を示すものである。図８において、ａ１、ａ
７は第１の半導体検出器１が放射線を検出した結果とし
てのアナログ信号パルス、ａ３は第１の半導体検出器１
の内部ノイズ、ａ５、ａ６は外来ノイズである。同様
に、ｂ４、ｂ８は第２の半導体検出器２が放射線を検出
した結果としてのアナログ信号パルス、ｂ２は第２の半
導体検出器２の内部ノイズ、ｂ５、ｂ６は外来ノイズで
ある。第１の半導体検出器１及び第２の半導体検出器２
の出力は合流して波高弁別計数回路３に入力される。
【０００５】このため、同時タイミングの波形ａ５とｂ
５、ａ６とｂ６は、それぞれ波高値が加算されてｃ５、
ｃ６となる。非同時タイミングの波形ａ１、ａ３、ａ
７、ｂ２、ｂ４、ｂ８は、そのままの波高値で、それぞ
れｃ１、ｃ３、ｃ７、ｃ２、ｃ４、ｃ８となる。波高弁
別計数回路３において、波高弁別レベルを超えたアナロ
グ信号パルスｃ１、ｃ４、ｃ７、ｃ８及び波高弁別レベ
ルを超えた外来ノイズｃ５、ｃ６はそれぞれデジタルパ
ルスｄ１、ｄ４、ｄ７、ｄ８、ｄ５、ｄ６に変換されて
計数される。第１の半導体検出器１の内部ノイズｄ３、
第２の半導体検出器２の内部ノイズｄ２は波高値が小さ
いため計数から除外される。
５、ａ６とｂ６は、それぞれ波高値が加算されてｃ５、
ｃ６となる。非同時タイミングの波形ａ１、ａ３、ａ
７、ｂ２、ｂ４、ｂ８は、そのままの波高値で、それぞ
れｃ１、ｃ３、ｃ７、ｃ２、ｃ４、ｃ８となる。波高弁
別計数回路３において、波高弁別レベルを超えたアナロ
グ信号パルスｃ１、ｃ４、ｃ７、ｃ８及び波高弁別レベ
ルを超えた外来ノイズｃ５、ｃ６はそれぞれデジタルパ
ルスｄ１、ｄ４、ｄ７、ｄ８、ｄ５、ｄ６に変換されて
計数される。第１の半導体検出器１の内部ノイズｄ３、
第２の半導体検出器２の内部ノイズｄ２は波高値が小さ
いため計数から除外される。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の放射線
モニタにおいて、第１及び第２の半導体検出器１及び２
に用いられる半導体検出器は、シンチレーション検出器
に比べて出力信号パルスの波高値が小さく、また、検出
感度を高める目的等で複数の検出器を並列接続した場合
に外来ノイズが増幅されるため、外来ノイズ対策として
ノイズを排除した測定が課題であった。
モニタにおいて、第１及び第２の半導体検出器１及び２
に用いられる半導体検出器は、シンチレーション検出器
に比べて出力信号パルスの波高値が小さく、また、検出
感度を高める目的等で複数の検出器を並列接続した場合
に外来ノイズが増幅されるため、外来ノイズ対策として
ノイズを排除した測定が課題であった。
【０００７】この発明は上述した従来例に係る問題点を
解消するためになされたもので、外来ノイズが混入する
ことを防止できる放射線モニタを得ることを目的とす
る。
解消するためになされたもので、外来ノイズが混入する
ことを防止できる放射線モニタを得ることを目的とす
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この発明に係る放射線モ
ニタは、放射線を検出してアナログ信号パルスを出力す
る１個または複数の半導体センサをそれぞれ有し、２つ
のグループに分けて備えられた第１及び第２の半導体検
出器と、前記第１及び第２の半導体検出器から出力され
るアナログ信号パルスを入力し、波高値が所定の弁別レ
ベル以上で、かつ非同時タイミングの条件を満たすパル
スを計数する非同時計数回路とを備えたものである。
ニタは、放射線を検出してアナログ信号パルスを出力す
る１個または複数の半導体センサをそれぞれ有し、２つ
のグループに分けて備えられた第１及び第２の半導体検
出器と、前記第１及び第２の半導体検出器から出力され
るアナログ信号パルスを入力し、波高値が所定の弁別レ
ベル以上で、かつ非同時タイミングの条件を満たすパル
スを計数する非同時計数回路とを備えたものである。
【０００９】また、前記第１及び第２の半導体検出器か
ら出力されるアナログ信号パルスを入力し、波高値が所
定の弁別レベル以上で、かつ同時タイミングの条件を満
たすパルスを計数する同時計数回路と、前記非同時計数
回路及び前記同時計数回路から出力される非同時出力パ
ルス及び同時出力パルスを定周期でそれぞれ計数し、今
回非同時計数値と前回非同時計数値または前回計測値か
ら求めた平均非同時計数値を基準値として比較し、その
比Ｋが所定値未満の時に、今回非同時計数値または今回
を含む最新の複数回の非同時計数値から今回計測値を演
算して出力し、前記比Ｋが所定値以上の時に、今回同時
計数値と今回非同時計数値を比較し、その比Ｐが所定値
未満の時に、今回非同時計数値または今回を含む最新の
複数回の非同時計数値から今回計測値を演算して出力
し、前記比Ｐが所定値以上の時に、今回非同時計数値を
廃棄し、前回非同時計数値または前回を含むそれ以前の
最新の複数回の非同時計数値から今回計測値を演算して
出力する演算器とを備えたものである。
ら出力されるアナログ信号パルスを入力し、波高値が所
定の弁別レベル以上で、かつ同時タイミングの条件を満
たすパルスを計数する同時計数回路と、前記非同時計数
回路及び前記同時計数回路から出力される非同時出力パ
ルス及び同時出力パルスを定周期でそれぞれ計数し、今
回非同時計数値と前回非同時計数値または前回計測値か
ら求めた平均非同時計数値を基準値として比較し、その
比Ｋが所定値未満の時に、今回非同時計数値または今回
を含む最新の複数回の非同時計数値から今回計測値を演
算して出力し、前記比Ｋが所定値以上の時に、今回同時
計数値と今回非同時計数値を比較し、その比Ｐが所定値
未満の時に、今回非同時計数値または今回を含む最新の
複数回の非同時計数値から今回計測値を演算して出力
し、前記比Ｐが所定値以上の時に、今回非同時計数値を
廃棄し、前回非同時計数値または前回を含むそれ以前の
最新の複数回の非同時計数値から今回計測値を演算して
出力する演算器とを備えたものである。
【００１０】さらに、前記演算器は、今回非同時計数値
の廃棄回数が所定の回数連続した時に、故障警報を発信
するものである。
の廃棄回数が所定の回数連続した時に、故障警報を発信
するものである。
【００１１】
【発明の実施の形態】実施の形態１．この発明の実施の
形態１を図に基づいて説明する。図１は、この発明の実
施の形態１に係る放射線モニタの構成を示すブロック図
である。図７に示す従来例と同一部分は同一符号を付し
てその説明は省略する。新たな符号として、７は非同時
計数回路であり、この非同時計数回路７は、第１の半導
体検出器１及び第２の半導体検出器２から出力されるア
ナログ信号パルスを入力し、波高値が所定の弁別レベル
以上で、かつ非同時タイミングの条件を満たすパルスを
計数する。なお、第１の半導体検出器１及び第２の半導
体検出器２は、それぞれ半導体センサを１個または複数
個備えたものである。また、非同時計数回路７の波高弁
別の条件は、波高値が所定の下限レベル以上かつ上限レ
ベル以下としても、あるいはそれを多重に積み上げた波
高分析条件としてもよいことは言うまでもない。
形態１を図に基づいて説明する。図１は、この発明の実
施の形態１に係る放射線モニタの構成を示すブロック図
である。図７に示す従来例と同一部分は同一符号を付し
てその説明は省略する。新たな符号として、７は非同時
計数回路であり、この非同時計数回路７は、第１の半導
体検出器１及び第２の半導体検出器２から出力されるア
ナログ信号パルスを入力し、波高値が所定の弁別レベル
以上で、かつ非同時タイミングの条件を満たすパルスを
計数する。なお、第１の半導体検出器１及び第２の半導
体検出器２は、それぞれ半導体センサを１個または複数
個備えたものである。また、非同時計数回路７の波高弁
別の条件は、波高値が所定の下限レベル以上かつ上限レ
ベル以下としても、あるいはそれを多重に積み上げた波
高分析条件としてもよいことは言うまでもない。
【００１２】図２は、図１に示すＡ、Ｂ、Ｅにおける信
号波形を示すもので、非同時計数回路７において、アナ
ログ信号パルスａ１、ａ７、ｂ４、ｂ８は波高値が弁別
レベル以上かつ非同時タイミングの条件を満たすので計
数される。外来ノイズａ５とｂ５は、破線で示す波高弁
別レベルを超えているものの同時タイミングのため計数
から除外される。外来ノイズａ６とｂ６、内部ノイズａ
３、ｂ２は破線で示す波高弁別レベル以下のため計数か
ら除外される。
号波形を示すもので、非同時計数回路７において、アナ
ログ信号パルスａ１、ａ７、ｂ４、ｂ８は波高値が弁別
レベル以上かつ非同時タイミングの条件を満たすので計
数される。外来ノイズａ５とｂ５は、破線で示す波高弁
別レベルを超えているものの同時タイミングのため計数
から除外される。外来ノイズａ６とｂ６、内部ノイズａ
３、ｂ２は破線で示す波高弁別レベル以下のため計数か
ら除外される。
【００１３】非同時計数回路７による計数値は、演算器
４に入力され、演算器４は、非同時計数回路７とメモリ
５及び表示器６を制御し、定周期で非同時計数回路７の
計数値を読み込んでメモリ５に格納し、メモリ５に格納
されている演算プログラム及びデータにより計数率等の
演算を実行し、演算結果をメモリ５に格納するとともに
表示器６に表示する。
４に入力され、演算器４は、非同時計数回路７とメモリ
５及び表示器６を制御し、定周期で非同時計数回路７の
計数値を読み込んでメモリ５に格納し、メモリ５に格納
されている演算プログラム及びデータにより計数率等の
演算を実行し、演算結果をメモリ５に格納するとともに
表示器６に表示する。
【００１４】従って、上記実施の形態１によれば、非同
時計数回路７により、非同時タイミングのアナログ信号
パルスを選択的に計数することにより、計数に外来ノイ
ズが混入することを防止できる。
時計数回路７により、非同時タイミングのアナログ信号
パルスを選択的に計数することにより、計数に外来ノイ
ズが混入することを防止できる。
【００１５】実施の形態２．この発明の実施の形態２を
図に基づいて説明する。図３は、この発明の実施の形態
２に係る放射線モニタの構成を示すブロック図である。
図１に示す実施の形態１と同一部分は同一符号を付して
その説明は省略する。新たな符号として、８は同時計数
回路であり、この同時計数回路８は、第１の半導体検出
器１及び第２の半導体検出器２から出力されるアナログ
信号パルスを入力し、波高値が所定の弁別レベル以上
で、かつ同時タイミングの条件を満たすパルスを計数す
る。なお、第１の半導体検出器１及び第２の半導体検出
器２は、それぞれ半導体センサを１個または複数個備え
たものである。また、同時計数回路８の波高弁別の条件
は、波高値が所定の下限レベル以上かつ上限レベル以下
としても、あるいはそれを多重に積み上げた波高分析条
件としてもよいことは言うまでもない。
図に基づいて説明する。図３は、この発明の実施の形態
２に係る放射線モニタの構成を示すブロック図である。
図１に示す実施の形態１と同一部分は同一符号を付して
その説明は省略する。新たな符号として、８は同時計数
回路であり、この同時計数回路８は、第１の半導体検出
器１及び第２の半導体検出器２から出力されるアナログ
信号パルスを入力し、波高値が所定の弁別レベル以上
で、かつ同時タイミングの条件を満たすパルスを計数す
る。なお、第１の半導体検出器１及び第２の半導体検出
器２は、それぞれ半導体センサを１個または複数個備え
たものである。また、同時計数回路８の波高弁別の条件
は、波高値が所定の下限レベル以上かつ上限レベル以下
としても、あるいはそれを多重に積み上げた波高分析条
件としてもよいことは言うまでもない。
【００１６】図４は、図３に示すＡ、Ｂ、Ｅ、Ｆにおけ
る信号波形を示すもので、同時計数回路８において、外
来ノイズａ５とｂ５は、波高弁別レベル以上かつ同時タ
イミングの条件を満たすため計数される。外来ノイズａ
６とｂ６は、波高弁別レベル以下のため計数から除外さ
れる。
る信号波形を示すもので、同時計数回路８において、外
来ノイズａ５とｂ５は、波高弁別レベル以上かつ同時タ
イミングの条件を満たすため計数される。外来ノイズａ
６とｂ６は、波高弁別レベル以下のため計数から除外さ
れる。
【００１７】このように、同時計数回路８により同時タ
イミングのパルスを計数することにより、外来ノイズの
侵入の程度を把握することできる。
イミングのパルスを計数することにより、外来ノイズの
侵入の程度を把握することできる。
【００１８】図５は、演算器４の演算処理フローを示す
ものである。ステップｆ１では、非同時計数回路７から
出力される今回非同時計数値を入力しメモリ５に記憶す
る。ステップｆ２では、同時計数回路８から出力される
今回同時計数値を入力しメモリ５に記憶する。ステップ
ｆ３では、今回非同時計数値と前回非同時計数値とを比
較する。前回非同時計数値の代わりに前回計測値に積算
時間を掛けた平均非同時計数値を基準値としてもよい。
ものである。ステップｆ１では、非同時計数回路７から
出力される今回非同時計数値を入力しメモリ５に記憶す
る。ステップｆ２では、同時計数回路８から出力される
今回同時計数値を入力しメモリ５に記憶する。ステップ
ｆ３では、今回非同時計数値と前回非同時計数値とを比
較する。前回非同時計数値の代わりに前回計測値に積算
時間を掛けた平均非同時計数値を基準値としてもよい。
【００１９】その比較結果して、今回非同時計数値≧Ｋ
・前回非同時計数値の場合は、ステップｆ４に進み、今
回非同時計数値＜Ｋ・前回非同時計数値の場合は、ステ
ップｆ６に進む。ステップｆ４では、今回同時計数値と
今回非同時計数値を比較し、その比較結果、今回同時計
数値≧Ｐ・今回非同時計数値の場合は、ステップｆ５に
進み、今回同時計数値＜Ｐ・今回非同時計数値の場合
は、ステップｆ６に進む。なお、Ｋは計測時間に関係す
る値で、計測時間が長くなれば１に近づく値であり、ま
た、Ｐはノイズ混入許容率である。
・前回非同時計数値の場合は、ステップｆ４に進み、今
回非同時計数値＜Ｋ・前回非同時計数値の場合は、ステ
ップｆ６に進む。ステップｆ４では、今回同時計数値と
今回非同時計数値を比較し、その比較結果、今回同時計
数値≧Ｐ・今回非同時計数値の場合は、ステップｆ５に
進み、今回同時計数値＜Ｐ・今回非同時計数値の場合
は、ステップｆ６に進む。なお、Ｋは計測時間に関係す
る値で、計測時間が長くなれば１に近づく値であり、ま
た、Ｐはノイズ混入許容率である。
【００２０】ステップｆ５では、今回非同時計数値を廃
却し、非同時計数値の最新値は前回値のままとする。ス
テップｆ６では、今回計測値の演算を行う。今回計測値
は、例えば今回計数値を積算時間で割って計数率として
求められる。また、最新の複数回の非同時計数値の平均
値として求められる。その平均値の演算方法としては、
積算時間が一定になるように移動平均してもよいし、ま
たは、積算計数値が一定になるように積算時間を制御し
てもよい。ステップｆ７では、ステップｆ６の演算結果
の今回計測値を表示器６により表示させる。
却し、非同時計数値の最新値は前回値のままとする。ス
テップｆ６では、今回計測値の演算を行う。今回計測値
は、例えば今回計数値を積算時間で割って計数率として
求められる。また、最新の複数回の非同時計数値の平均
値として求められる。その平均値の演算方法としては、
積算時間が一定になるように移動平均してもよいし、ま
たは、積算計数値が一定になるように積算時間を制御し
てもよい。ステップｆ７では、ステップｆ６の演算結果
の今回計測値を表示器６により表示させる。
【００２１】従って、上記実施の形態２によれば、外来
ノイズの侵入の程度を把握し、非同時計数値が急激に上
昇し、急激なノイズ侵入と同期している場合は、当該非
同時計数を計測値演算のデータから排除することによ
り、非同時タイミングのアナログ信号パルスを選択的に
計数しても排除しきれないような高周波ノイズに対し
て、指示上昇を防止できる。
ノイズの侵入の程度を把握し、非同時計数値が急激に上
昇し、急激なノイズ侵入と同期している場合は、当該非
同時計数を計測値演算のデータから排除することによ
り、非同時タイミングのアナログ信号パルスを選択的に
計数しても排除しきれないような高周波ノイズに対し
て、指示上昇を防止できる。
【００２２】実施の形態３．この発明の実施の形態３を
図に基づいて説明する。この実施の形態３では、実施の
形態２と同様な図３に示す構成を備え、演算器４は、実
施の形態２と同様に図５に示すフローに従って演算処理
を実行するが、図５に示すステップｆ７の処理内容が異
なる。
図に基づいて説明する。この実施の形態３では、実施の
形態２と同様な図３に示す構成を備え、演算器４は、実
施の形態２と同様に図５に示すフローに従って演算処理
を実行するが、図５に示すステップｆ７の処理内容が異
なる。
【００２３】図６は、この発明の実施の形態３に係る放
射線モニタの演算器４の演算処理フローを示すものであ
り、図５に示すステップｆ７に相当し、ステップｆ７
１，ｆ７２，ｆ７３を有する。ステップｆ７１では、今
回非同時計数値の廃棄回数と基準値Ｒを比較し、今回非
同時計数値の廃棄回数≧Ｒの場合は、ステップｆ７２に
進み、警報を発信し、今回非同時計数値の廃棄回数＜Ｒ
の場合は、ステップｆ７３に進み、今回計数値を表示す
ると共に、警報が発信された場合に警報を表示する。
射線モニタの演算器４の演算処理フローを示すものであ
り、図５に示すステップｆ７に相当し、ステップｆ７
１，ｆ７２，ｆ７３を有する。ステップｆ７１では、今
回非同時計数値の廃棄回数と基準値Ｒを比較し、今回非
同時計数値の廃棄回数≧Ｒの場合は、ステップｆ７２に
進み、警報を発信し、今回非同時計数値の廃棄回数＜Ｒ
の場合は、ステップｆ７３に進み、今回計数値を表示す
ると共に、警報が発信された場合に警報を表示する。
【００２４】従って、上記実施の形態３によれば、継続
するノイズ源の存在を報知することにより、トラブルを
未然に防止できる。
するノイズ源の存在を報知することにより、トラブルを
未然に防止できる。
【００２５】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、放射
線を検出してアナログ信号パルスを出力する複数の半導
体検出器を２つのグループに分け、その非同時出力パル
スを計数ようにしたので、計数に外来ノイズが混入する
ことを防止できる。
線を検出してアナログ信号パルスを出力する複数の半導
体検出器を２つのグループに分け、その非同時出力パル
スを計数ようにしたので、計数に外来ノイズが混入する
ことを防止できる。
【００２６】また、放射線を検出してアナログ信号パル
スを出力する複数の半導体検出器を２つのグループに分
け、その非同時出力パルス及び同時出力パルスを定周期
でそれぞれ計数し、今回非同時計数値と前回非同時計数
値または前回計測値から求めた平均非同時計数値を基準
値として比較し、その比Ｋが所定値未満の時に、今回非
同時計数値または今回を含む最新の複数回の非同時計数
値から今回計測値を演算して出力し、前記比Ｋが所定値
以上の時に、今回同時計数値と今回非同時計数値を比較
し、その比Ｐが所定値未満の時に、今回非同時計数値ま
たは今回を含む最新の複数回の非同時計数値から今回計
測値を演算して出力し、前記比Ｐが所定値以上の時に、
今回非同時計数値を廃棄し、前回非同時計数値または前
回を含むそれ以前の最新の複数回の非同時計数値から今
回計測値を演算して出力するようにしたので、非同時計
数で排除しきれない高周波ノイズに対しても指示上昇を
防止できる。
スを出力する複数の半導体検出器を２つのグループに分
け、その非同時出力パルス及び同時出力パルスを定周期
でそれぞれ計数し、今回非同時計数値と前回非同時計数
値または前回計測値から求めた平均非同時計数値を基準
値として比較し、その比Ｋが所定値未満の時に、今回非
同時計数値または今回を含む最新の複数回の非同時計数
値から今回計測値を演算して出力し、前記比Ｋが所定値
以上の時に、今回同時計数値と今回非同時計数値を比較
し、その比Ｐが所定値未満の時に、今回非同時計数値ま
たは今回を含む最新の複数回の非同時計数値から今回計
測値を演算して出力し、前記比Ｐが所定値以上の時に、
今回非同時計数値を廃棄し、前回非同時計数値または前
回を含むそれ以前の最新の複数回の非同時計数値から今
回計測値を演算して出力するようにしたので、非同時計
数で排除しきれない高周波ノイズに対しても指示上昇を
防止できる。
【００２７】さらに、今回非同時計数値の廃棄回数が所
定の回数連続した時に、故障警報を発信するようにした
ので、継続するノイズ源の存在を報知してトラブルを未
然に防止できる
定の回数連続した時に、故障警報を発信するようにした
ので、継続するノイズ源の存在を報知してトラブルを未
然に防止できる
【図１】 この発明の実施の形態１に係る放射線モニタ
の構成を示すブロック図である。
の構成を示すブロック図である。
【図２】 この発明の実施の形態１に係る放射線モニタ
の信号波形を示す図である。
の信号波形を示す図である。
【図３】 この発明の実施の形態２に係る放射線モニタ
の構成を示すブロック図である。
の構成を示すブロック図である。
【図４】 この発明の実施の形態１に係る放射線モニタ
の信号波形を示す図である。
の信号波形を示す図である。
【図５】 この発明の実施の形態３に係る放射線モニタ
の演算処理フローを示す図である。
の演算処理フローを示す図である。
【図６】 この発明の実施の形態３に係る放射線モニタ
の演算処理フローを示す図である。
の演算処理フローを示す図である。
【図７】 従来の半導体検出器を用いた放射線モニタの
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図８】 従来の半導体検出器を用いた放射線モニタの
信号波形を示す図である。
信号波形を示す図である。
１ 第１の半導体検出器、２ 第２の半導体検出器、４
演算器、５ メモリ、６ 表示器、７ 非同時計数回
路、８ 同時計数回路。
演算器、５ メモリ、６ 表示器、７ 非同時計数回
路、８ 同時計数回路。
Claims (3)
- 【請求項１】 放射線を検出してアナログ信号パルスを
出力する１個または複数の半導体センサをそれぞれ有
し、２つのグループに分けて備えられた第１及び第２の
半導体検出器と、 前記第１及び第２の半導体検出器から出力されるアナロ
グ信号パルスを入力し、波高値が所定の弁別レベル以上
で、かつ非同時タイミングの条件を満たすパルスを計数
する非同時計数回路とを備えた放射線モニタ。 - 【請求項２】 請求項１に記載の放射線モニタにおい
て、 前記第１及び第２の半導体検出器から出力されるアナロ
グ信号パルスを入力し、波高値が所定の弁別レベル以上
で、かつ同時タイミングの条件を満たすパルスを計数す
る同時計数回路と、 前記非同時計数回路及び前記同時計数回路から出力され
る非同時出力パルス及び同時出力パルスを定周期でそれ
ぞれ計数し、今回非同時計数値と前回非同時計数値また
は前回計測値から求めた平均非同時計数値を基準値とし
て比較し、その比Ｋが所定値未満の時に、今回非同時計
数値または今回を含む最新の複数回の非同時計数値から
今回計測値を演算して出力し、前記比Ｋが所定値以上の
時に、今回同時計数値と今回非同時計数値を比較し、そ
の比Ｐが所定値未満の時に、今回非同時計数値または今
回を含む最新の複数回の非同時計数値から今回計測値を
演算して出力し、前記比Ｐが所定値以上の時に、今回非
同時計数値を廃棄し、前回非同時計数値または前回を含
むそれ以前の最新の複数回の非同時計数値から今回計測
値を演算して出力する演算器とを備えたことを特徴とす
る放射線モニタ。 - 【請求項３】 請求項２に記載の放射線モニタにおい
て、 前記演算器は、今回非同時計数値の廃棄回数が所定の回
数連続した時に、故障警報を発信することを特徴とする
放射線モニタ。
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|---|---|---|---|
| JP2001245418A JP3750924B2 (ja) | 2001-08-13 | 2001-08-13 | 放射線モニタ |
Applications Claiming Priority (1)
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- 2001-08-13 JP JP2001245418A patent/JP3750924B2/ja not_active Expired - Fee Related
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