JP2003053791A - Semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor device manufactured thereby - Google Patents

Semiconductor manufacturing apparatus and semiconductor device manufactured thereby

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JP2003053791A
JP2003053791A JP2001251447A JP2001251447A JP2003053791A JP 2003053791 A JP2003053791 A JP 2003053791A JP 2001251447 A JP2001251447 A JP 2001251447A JP 2001251447 A JP2001251447 A JP 2001251447A JP 2003053791 A JP2003053791 A JP 2003053791A
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semiconductor manufacturing
manufacturing apparatus
mold
unit
package
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至 松尾
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor manufacturing apparatus equipped with an efficient resin sealing mold assembly capable of using a mold in common even if the thickness of the mold or the thickness of a lead frame is different. SOLUTION: A movable member is moved to a fixed member corresponding to the mold thickness of a package by a cavity depth adjusting mechanism 8 to regulate the depth of a cavity. The movable member 12 is moved to the fixed member 10 corresponding to the thickness of the lead frame to be loaded by a substrate thickness adjusting mechanism 6 to regulate the position of the loading surface of the lead frame.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製造装置及
びこの装置により製造される半導体装置に関し、さらに
詳しくは、半導体製造装置のユニット構成、搬送系及び
半導体樹脂封止金型装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus and a semiconductor device manufactured by this apparatus, and more particularly to a unit structure of a semiconductor manufacturing apparatus, a transport system and a semiconductor resin sealing mold apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】図14は従来の半導体樹脂封止金型装置
を示しており、下金型100と、下金型100に対し上
下動自在に取り付けられた上金型102とを備えてい
る。下金型100はフレーム搭載面100aを有し、下
金型100に対向する上金型102の下面には所定の形
状のキャビティ102aが形成されている。
2. Description of the Related Art FIG. 14 shows a conventional semiconductor resin-sealed mold device, which comprises a lower mold 100 and an upper mold 102 which is attached to the lower mold 100 so as to be vertically movable. . The lower mold 100 has a frame mounting surface 100a, and a cavity 102a having a predetermined shape is formed on the lower surface of the upper mold 102 facing the lower mold 100.

【0003】上記構成の従来の半導体樹脂封止金型装置
において、ボンディングワイヤを介して半導体素子と接
続されたリードフレーム104を下金型100のフレー
ム搭載面100aに載置した後、上金型102を下金型
100に密着させ、キャビティ102a内にランナ10
4から封止用樹脂を圧入することにより樹脂封止は行わ
れる。
In the conventional semiconductor resin-sealed mold device having the above structure, the lead frame 104 connected to the semiconductor element via the bonding wire is mounted on the frame mounting surface 100a of the lower mold 100, and then the upper mold is formed. 102 is closely attached to the lower mold 100, and the runner 10 is placed in the cavity 102a.
Resin sealing is performed by press-fitting the sealing resin from 4.

【0004】なお、図14は、一対のリードフレーム1
04に対し一つのモールド樹脂を使用して、4対のリー
ドフレーム104を同時に樹脂封止する場合を示してい
る。
Incidentally, FIG. 14 shows a pair of lead frames 1.
In contrast to 04, one mold resin is used to simultaneously seal four pairs of lead frames 104 with resin.

【0005】また、図15乃至図17は、複数のプレス
ユニットが増設できる半導体製造装置の平面ユニット構
成を示しており、図15は1台の材料供給・製品排出ユ
ニット112に搬送ユニット114及びプレスユニット
116をそれぞれ1台ずつ並設した構成を、図16は図
15の構成に加えて、搬送レールユニット118とプレ
スユニット116の組み合わせを並設した構成を、図1
7は図16の構成にさらに2組の搬送レールユニット1
18とプレスユニット116の組み合わせを並設した構
成をそれぞれ示している。
FIGS. 15 to 17 show a plane unit structure of a semiconductor manufacturing apparatus in which a plurality of press units can be added. FIG. 15 shows one material supply / product discharge unit 112, a transport unit 114 and a press. 16 shows a configuration in which one unit 116 is installed in parallel, and FIG. 16 shows a configuration in which a combination of the transport rail unit 118 and the press unit 116 is installed in parallel in FIG.
7 is the structure of FIG. 16 and further two sets of carrier rail units 1
18 and the combination of the press unit 116 are shown in parallel.

【0006】上記図15乃至図17の構成においては、
図18に示されるように、材料供給・製品排出ユニット
112に設けられたフレーム供給マガジン122に複数
のリードフレーム124が上下方向に載置されており、
各リードフレーム124を複数のエンドレスベルト12
6や複数のプーリ128を使用して、所定の位置まで搬
送する、所謂フリーフロー搬送が一般的に採用されてい
る。
In the configurations shown in FIGS. 15 to 17,
As shown in FIG. 18, a plurality of lead frames 124 are vertically mounted on a frame supply magazine 122 provided in the material supply / product discharge unit 112.
Each lead frame 124 is connected to a plurality of endless belts 12.
A so-called free-flow conveyance, which conveys to a predetermined position using six or a plurality of pulleys 128, is generally adopted.

【0007】一方、モールド後上金型が開放されると、
図19に示されるように、下金型100に載置されたモ
ールド後のICパッケージ108及びカル110は、複
数の吸着パッド132により押圧、吸着されて搬出され
る。
On the other hand, when the upper mold is opened after molding,
As shown in FIG. 19, the molded IC package 108 and the cull 110 placed on the lower die 100 are pressed and sucked by a plurality of suction pads 132, and are carried out.

【0008】また、図20及び図21は、図15及び図
17に示される平面ユニット構成の概略斜視図を示して
おり、同図に示されるように、従来構成では、樹脂投
入、メンテナンス及び金型交換を1側面を介して、フレ
ーム投入及び製品排出を隣接する側面を介して、また、
廃材の排出を次に隣接する側面を介して行っている。す
なわち、人のアクセスとユーティリティ接続面が隣接す
る3側面に設けられているので、必要に応じ、残りの1
側面を利用して複数のプレスユニットを増設している。
FIGS. 20 and 21 are schematic perspective views of the plane unit configuration shown in FIGS. 15 and 17, and as shown in the same figure, in the conventional configuration, resin injection, maintenance and money are not necessary. Mold exchange through one side, frame loading and product ejection through adjacent sides,
The waste material is discharged through the next adjacent side surface. That is, since the human access and the utility connection surface are provided on three adjacent side surfaces, the remaining 1
Multiple press units are added using the side surface.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】従来の技術で述べたも
ののうち図14に示される構成では、ICパッケージ1
08のモールド平面外形が同じでもモールド厚さが異な
ったり、フレーム104の平面外形が同じでも厚さが異
なったりすると、モールド金型を共用することができ
ず、新規金型投資が必要であった。
In the configuration shown in FIG. 14 among those described in the prior art, the IC package 1
If the mold planar shape of 08 is the same and the mold thickness is different, or if the frame 104 has the same planar external shape but the thickness is different, the mold dies cannot be shared and a new mold investment is required. .

【0010】特開平4−348536号公報には、電子
部品の樹脂封止高さが品種によって異なっても、共用す
ることが可能な樹脂モールド金型が開示されているが、
キャビティ底と兼用のノックアウトピンの位置を寸法の
異なるスペーサを取り替えて調整することによりキャビ
ティ深さを変更しており、金型の構成が複雑であるばか
りでなく、リードフレームの厚さが異なった場合につい
ては何ら開示されていない。
Japanese Unexamined Patent Publication (Kokai) No. 4-348536 discloses a resin mold die which can be shared even if the resin sealing height of electronic parts varies depending on the product type.
The cavity depth is changed by adjusting the position of the knockout pin, which also serves as the cavity bottom, by replacing the spacers with different dimensions, which not only complicates the mold structure but also the lead frame thickness. No case is disclosed.

【0011】一方、特開平8−57906号公報には、
キャビティ寸法を変更した後、リードフレームを搭載す
るようにしたモールド金型が開示されているが、異なる
厚さのリードフレームを樹脂封止する技術については触
れていない。
On the other hand, in Japanese Patent Laid-Open No. 8-57906,
Although a molding die in which a lead frame is mounted after changing the cavity size is disclosed, a technique for resin-sealing a lead frame having a different thickness is not mentioned.

【0012】また、図15乃至図17に示される複数の
プレスユニット116が増設できる半導体製造装置にあ
っては、材料供給・製品搬出ユニット112の処理能力
が、増設可能な最大のプレスユニット数(例えば、4
台)の生産能力に合わせて用意されており、最大数未満
の場合、装置占有スペースや装置費用の点で利用効率が
悪かった。
Further, in the semiconductor manufacturing apparatus shown in FIGS. 15 to 17, in which a plurality of press units 116 can be added, the processing capacity of the material supply / product unloading unit 112 is the maximum number of press units that can be added ( For example, 4
It is prepared according to the production capacity of each unit, and if it is less than the maximum number, the utilization efficiency was poor in terms of the occupied space of the device and the device cost.

【0013】一方、複数の上下金型を用い、樹脂封止に
必要な機能毎にユニットを分割・独立させ、各ユニット
の作業を並行して行うようにしたモールド方法も既に行
われているが(例えば、特開平11−309751号公
報あるいいは特開平8−224753号公報参照)、材
料供給・製品搬出ユニットの処理能力とプレスユニット
の生産能力とのマッチングを図り、装置の利用効率を高
める技術についての検討はまだまだ十分ではなかった。
On the other hand, a molding method in which a plurality of upper and lower molds are used and the units are divided / independent for each function required for resin sealing and the work of each unit is performed in parallel has already been carried out. (See, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-309751 or Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-224753), the matching of the processing capacity of the material supply / product unloading unit and the production capacity of the press unit to improve the utilization efficiency of the apparatus The examination of technology was not enough.

【0014】さらに、図18に示される半導体製造装置
の材料や治工具のフリーフロー搬送では、搬送対象物が
エンドレスベルト126やプーリ128の繋ぎ目やガイ
ドレール130の繋ぎ目に干渉して、搬送できないこと
があった。また、半導体製造装置の搬送系においては、
搬送目的位置までに多数のフリーフロー搬送があり、コ
スト高であった。
Further, in the free flow transfer of the materials and jigs and tools of the semiconductor manufacturing apparatus shown in FIG. 18, the transfer target interferes with the joints of the endless belt 126 and the pulley 128 and the joints of the guide rails 130, and the convey is carried out. There were things I couldn't do. Also, in the transport system of the semiconductor manufacturing equipment,
Since there were many free-flow conveyances to the conveyance target position, the cost was high.

【0015】一方、図19に示されるように、複数の吸
着パッド132を使用した押圧吸着搬送では、モールド
後のパッケージ面を押圧吸着するため、特に、薄型ウェ
ハや薄型パッケージにおいて、チップやパッケージにク
ラック発生などのダメージがあった(例えば、特開平1
0−4105号公報参照)。
On the other hand, as shown in FIG. 19, in the pressure suction conveyance using a plurality of suction pads 132, since the package surface after molding is pressure-sucked, especially in a thin wafer or a thin package, a chip or a package is formed. There was damage such as cracks (for example, Japanese Patent Laid-Open No.
0-4105).

【0016】また、モールド後のカル110を押圧吸着
するため、カル110とランナー106が押圧力により
分離され、分離したランナー106が装置内に飛散した
り、ゲート部が押圧力によりパッケージ108の本来の
分離個所以外の個所から分離され、ゲート残り(外形不
良)が発生することがあった。さらに、金型上への材料
の搬入ユニットとモールド後のフレーム104とカル1
10の搬出ユニットを個別に用意する必要があり、コス
ト高であった。
Further, since the cull 110 after molding is pressed and adsorbed, the cull 110 and the runner 106 are separated by the pressing force, the separated runner 106 is scattered in the apparatus, and the gate part is originally pressed by the pressing force of the package 108. There was a case where the gate remained (outer shape defect) due to the separation from the parts other than the separation part. Further, a material carrying-in unit onto the mold, a frame 104 after molding, and a cull 1
It was necessary to separately prepare 10 carry-out units, which was expensive.

【0017】また、図20及び図21に示されるよう
に、相対する2側面以外の面にも、人のアクセスとユー
ティリティ接続面があることから、1側面を除いて隣接
据付ができないため、装置の据付床面の利用効率が悪か
った。
Also, as shown in FIGS. 20 and 21, since there are human access and utility connection surfaces on the surfaces other than the two opposite side surfaces, it is not possible to install adjacently except for one side surface. The usage efficiency of the installation floor surface was poor.

【0018】本発明は、従来技術の有するこのような問
題点に鑑みてなされたものであり、モールド厚さやリー
ドフレームの厚さが異なってもモールド金型を共用する
ことができる効率的な樹脂封止金型装置を備えた半導体
製造装置を提供することを目的としている。
The present invention has been made in view of the above problems of the prior art, and is an efficient resin that can be used as a molding die even if the molding thickness and the lead frame thickness are different. An object of the present invention is to provide a semiconductor manufacturing apparatus equipped with a sealing die device.

【0019】また、本発明の別の目的は、プレスユニッ
トの接続台数や生産能力に応じて、材料供給・製品排出
ユニットの接続台数を調節することにより据付面の利用
効率を最大化することのできる半導体製造装置を提供す
ることである。
Another object of the present invention is to maximize the use efficiency of the installation surface by adjusting the number of connected material supply / product discharge units according to the number of connected press units and the production capacity. An object of the present invention is to provide a semiconductor manufacturing apparatus capable of performing the same.

【0020】本発明のさらに別の目的は、リードフレー
ムに反りがあった場合でも、リードフレームやパッケー
ジにダメージを与えることなく円滑に搬送することので
きる信頼性の高い安価な搬送系を有する半導体製造装置
を提供することである。
Still another object of the present invention is to provide a semiconductor having a highly reliable and inexpensive carrier system capable of smoothly carrying the lead frame and the package without damage even when the lead frame is warped. It is to provide a manufacturing apparatus.

【0021】本発明のまた別の目的は、信頼性の高い安
価な半導体装置を提供することである。
Another object of the present invention is to provide a highly reliable and inexpensive semiconductor device.

【0022】[0022]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のうちで請求項1に記載の発明は、下金型と
上金型の少なくとも一方にキャビティが形成された半導
体樹脂封止金型装置を備えた半導体製造装置であって、
上記下金型と上金型との間の接離面と上記キャビティの
底面との距離が可変であることを特徴とする。
In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 of the present invention is a semiconductor resin encapsulation in which a cavity is formed in at least one of a lower mold and an upper mold. A semiconductor manufacturing apparatus provided with a stopper mold device,
The distance between the contact surface between the lower mold and the upper mold and the bottom surface of the cavity is variable.

【0023】また、請求項2に記載の発明は、上記上金
型に、固定部材と、該固定部材に対し摺動自在に取り付
けられた可動部材と、該可動部材を摺動させるキャビテ
ィ深さアジャスト機構を設け、パッケージのモールド厚
さに応じて上記キャビティ深さアジャスト機構により上
記可動部材を上記固定部材に対し移動させて上記キャビ
ティの深さを調節するようにしたことを特徴とする。
In the invention according to claim 2, a fixed member, a movable member slidably attached to the fixed member, and a cavity depth for sliding the movable member are attached to the upper mold. An adjusting mechanism is provided, and the depth of the cavity is adjusted by moving the movable member with respect to the fixed member by the cavity depth adjusting mechanism according to the mold thickness of the package.

【0024】さらに、請求項3に記載の発明は、モール
ド後、上記キャビティ深さアジャスト機構により上記可
動部材を上記下金型と上金型との間の接離面に向かって
移動させてパッケージを離型するようにしたことを特徴
とする。
Further, in the invention described in claim 3, after the molding, the movable member is moved toward the contact / separation surface between the lower mold and the upper mold by the cavity depth adjusting mechanism, and the package is manufactured. It is characterized in that the mold is released.

【0025】また、請求項4に記載の発明は、パッケー
ジのモールド厚さに応じて上記下金型と上記上金型の少
なくとも一方にスペーサを取り付けることにより上記キ
ャビティの深さを調節するようにしたことを特徴とす
る。
In the invention according to claim 4, the depth of the cavity is adjusted by attaching a spacer to at least one of the lower mold and the upper mold according to the mold thickness of the package. It is characterized by having done.

【0026】また、請求項5に記載の発明は、パッケー
ジのモールド側面の金型抜き角を略0度に設定したこと
を特徴とする。
Further, the invention according to claim 5 is characterized in that the die cutting angle on the side surface of the mold of the package is set to approximately 0 degree.

【0027】さらに、請求項6に記載の発明は、下金型
と上金型の少なくとも一方にキャビティが形成された半
導体樹脂封止金型装置を備えた半導体製造装置であっ
て、上記下金型と上金型との間の接離面とリードフレー
ム搭載面との距離が可変であることを特徴とする。
Further, the invention according to claim 6 is a semiconductor manufacturing apparatus including a semiconductor resin-sealed mold device in which a cavity is formed in at least one of a lower mold and an upper mold. It is characterized in that the distance between the contact / separation surface between the die and the upper die and the lead frame mounting surface is variable.

【0028】また、請求項7に記載の発明は、上記下金
型に、固定部材と、該固定部材に対し摺動自在に取り付
けられた上記リードフレーム搭載面を有する可動部材
と、該可動部材を摺動させる基材厚さアジャスト機構を
設け、搭載されるリードフレームの厚さに応じて上記基
材厚さアジャスト機構により上記可動部材を上記固定部
材に対し移動させて上記リードフレーム搭載面の位置を
調節するようにしたことを特徴とする。
In the invention according to claim 7, a fixing member, a movable member having the lead frame mounting surface slidably attached to the fixing member, and the movable member are attached to the lower mold. Is provided with a base material thickness adjusting mechanism, and the base material thickness adjusting mechanism moves the movable member with respect to the fixed member in accordance with the thickness of the lead frame to be mounted. The feature is that the position is adjusted.

【0029】また、請求項8に記載の発明は、樹脂封止
するためのリードフレームを供給するとともに、モール
ド後のパッケージを排出するための材料供給・製品排出
ユニットと、リードフレーム及びパッケージを搬送する
ための搬送ユニットと、リードフレームを樹脂封止する
ための下金型と上金型を有するプレスユニットとを備
え、上記材料供給・製品排出ユニットの接続数が可変で
あることを特徴とする。
Further, the invention according to claim 8 supplies a lead frame for resin encapsulation, conveys the lead frame and the package, and a material supply / product discharge unit for discharging the package after molding. And a press unit having a lower mold and an upper mold for resin-sealing the lead frame, and the number of connections of the material supply / product discharge unit is variable. .

【0030】また、請求項9に記載の発明は、上記プレ
スユニットの接続台数に応じて、上記材料供給・製品排
出ユニットの接続数を調節するようにしたことを特徴と
する。
The invention according to claim 9 is characterized in that the number of connected material supply / product discharge units is adjusted according to the number of connected press units.

【0031】また、請求項10に記載の発明は、相対す
る2側面にのみ、アクセスとユーティリティ接続面を設
けたことを特徴とする。
The invention according to claim 10 is characterized in that the access and utility connection surfaces are provided only on two opposing side surfaces.

【0032】また、請求項11に記載の発明は、上記搬
送ユニットにチャッキング手段を設け、該チャッキング
手段によりモールド前のリードフレームの両側面あるい
はモールド後のパッケージの両側面を把持するようにし
たことを特徴とする。
Further, in the invention described in claim 11, chucking means is provided in the carrying unit, and the chucking means holds both side surfaces of the lead frame before molding or both side surfaces of the package after molding. It is characterized by having done.

【0033】また、請求項12に記載の発明は、上記搬
送ユニットにチャッキング手段を設け、該チャッキング
手段によりモールド後のカルを把持して上記材料供給・
製品排出ユニットに搬送するようにしたことを特徴とす
る。
According to a twelfth aspect of the present invention, the conveying unit is provided with a chucking means, and the cull after molding is gripped by the chucking means to supply the material.
It is characterized in that it is conveyed to the product discharge unit.

【0034】また、請求項13に記載の発明は、モール
ド前のリードフレームの上記プレスユニットの下金型へ
の搬送と、モールド後のパッケージとカルの上記プレス
ユニットからの搬出を同一搬送ユニットで行うようにし
たことを特徴とする。
According to a thirteenth aspect of the present invention, the transfer of the lead frame before molding to the lower mold of the press unit and the transfer of the package after molding and cull from the press unit are performed by the same transfer unit. It is characterized in that it is done.

【0035】また、請求項14に記載の発明は、上記搬
送ユニットが上記材料供給・製品排出ユニットに載置さ
れたリードフレームを直接受け取るとともに、上記プレ
スユニットの下金型まで搬送するようにしたことを特徴
とする。
In the fourteenth aspect of the present invention, the transport unit directly receives the lead frame placed on the material supply / product discharge unit and transports it to the lower die of the press unit. It is characterized by

【0036】なお、特開平7−290488号公報に
は、フレーム供給マガジンからリードフレームを1枚ず
つ送り出すようにしたオートモールド機構が開示されて
いるが、搬送ユニットにより直接受け取ったリードフレ
ームをプレスユニットの下金型まで搬送するようにした
構成や、モールド前のリードフレームの下金型への搬送
と、モールド後のパッケージのプレスユニットからの搬
出を同一搬送ユニットで行うようにした構成は開示され
ていない。
Japanese Patent Laid-Open No. 7-290488 discloses an auto-molding mechanism in which the lead frames are fed from the frame supply magazine one by one, but the lead frames directly received by the carrying unit are pressed into the press unit. It is disclosed that the configuration is such that it is carried to the lower mold of the mold, and that the lead frame before molding is carried to the lower mold and the package after molding is carried out from the press unit by the same carrying unit. Not not.

【0037】また、請求項15に記載の発明は、モール
ド後のパッケージを上記搬送ユニットにより把持して上
記プレスユニットから搬出し、把持したままカルをパッ
ケージより分離するようにしたことを特徴とする。
The invention as set forth in claim 15 is characterized in that the molded package is held by the carrying unit and carried out from the press unit, and the cull is separated from the package while being held. .

【0038】なお、特開平8−222593号公報に
は、モールド後パンチを突き上げることにより、カルを
パッケージから取り除く技術が開示されているが、請求
項15に記載の発明とは全く異なる技術である。
Incidentally, Japanese Patent Laid-Open No. 8-222593 discloses a technique for removing cull from a package by pushing up a punch after molding, but it is a technique completely different from the invention described in claim 15. .

【0039】また、請求項16に記載の発明は、カルを
パッケージより分離した後、パッケージを上記搬送ユニ
ットより上記材料供給・製品排出ユニットに設けられた
製品搬出マガジンに直接投入するようにしたことを特徴
とする。
According to the sixteenth aspect of the present invention, after the cull is separated from the package, the package is directly loaded from the transport unit into a product unloading magazine provided in the material supply / product discharge unit. Is characterized by.

【0040】また、請求項17に記載の発明は、請求項
1乃至16のいずれか1項に記載の半導体製造装置によ
り製造された半導体装置である。
The invention according to claim 17 is a semiconductor device manufactured by the semiconductor manufacturing apparatus according to any one of claims 1 to 16.

【0041】[0041]

【発明の実施の形態】実施の形態1.図1は本発明にか
かる半導体樹脂封止金型装置を示しており、下金型2
と、下金型2に対し上下動自在に取り付けられた上金型
4とを備えている。下金型2には基材厚さアジャスト機
構6が設けられており、上金型4にはキャビティ深さア
ジャスト機構8が設けられている。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiment 1. FIG. 1 shows a semiconductor resin-sealed mold device according to the present invention.
And an upper mold 4 attached to the lower mold 2 so as to be vertically movable. The lower mold 2 is provided with a base material thickness adjusting mechanism 6, and the upper mold 4 is provided with a cavity depth adjusting mechanism 8.

【0042】図2に示されるように、下金型2は、所定
の間隔で配設された複数の固定部材10と、固定部材の
間に摺動自在に設けられた可動部材12とを有し、固定
部材10には、駆動源(図示せず)に電気的に接続され
た直結駆動モータ14がモータサポート16を介して保
持されている。直結駆動モータ14にはボールネジ18
が回動自在に取り付けられており、ボールネジ18は、
可動部材12にブラケット20を介して保持されたボー
ルネジナット22と螺合している。このように、基材厚
さアジャスト機構6は、可動部材12、直結駆動モータ
14、ボールネジ18、ボールネジナット22等により
構成されている。
As shown in FIG. 2, the lower mold 2 has a plurality of fixed members 10 arranged at predetermined intervals and a movable member 12 slidably provided between the fixed members. The fixed member 10 holds a direct drive motor 14 electrically connected to a drive source (not shown) via a motor support 16. The direct drive motor 14 has a ball screw 18
Is rotatably attached, and the ball screw 18 is
A ball screw nut 22 held by the movable member 12 via a bracket 20 is screwed. As described above, the base material thickness adjusting mechanism 6 includes the movable member 12, the direct drive motor 14, the ball screw 18, the ball screw nut 22, and the like.

【0043】一方、上金型4は、図3に示されるよう
に、固定部材24と、固定部材24に所定の間隔で配設
された複数の可動部材26とを有し、可動部材26は可
動部材サポート28に一体的に保持されており、可動部
材サポート28にはボールネジナット30が取り付けら
れている。また、固定部材24には、モータサポート3
2を介して直結駆動モータ34が保持されており、直結
駆動モータ34に回動自在に取り付けられたボールネジ
36はボールネジナット30と螺合している。このよう
に、キャビティ深さアジャスト機構8は、可動部材2
6、直結駆動モータ34、ボールネジ36、ボールネジ
ナット30等により構成されている。
On the other hand, as shown in FIG. 3, the upper mold 4 has a fixed member 24 and a plurality of movable members 26 arranged on the fixed member 24 at predetermined intervals. It is held integrally with the movable member support 28, and a ball screw nut 30 is attached to the movable member support 28. Further, the motor support 3 is attached to the fixing member 24.
The direct coupling drive motor 34 is held via the ball screw 2, and the ball screw 36 rotatably attached to the direct coupling drive motor 34 is screwed into the ball screw nut 30. As described above, the cavity depth adjusting mechanism 8 includes the movable member 2
6, a direct drive motor 34, a ball screw 36, a ball screw nut 30 and the like.

【0044】上記構成の本発明にかかる半導体樹脂封止
金型装置において、ボンディングワイヤを介して半導体
素子と接続されたリードフレームは、下金型2の可動部
材12の上に載置され、上金型4を下金型2に密着させ
た後、キャビティ38内にゲートから封止用樹脂を圧入
することにより樹脂封止は行われる。また、樹脂封止
後、上金型4の可動部材26を直結駆動モータ34を介
して下方に移動させることにより、パッケージは離型さ
れる。
In the semiconductor resin-sealed mold device of the present invention having the above-mentioned structure, the lead frame connected to the semiconductor element via the bonding wire is placed on the movable member 12 of the lower mold 2 and After the mold 4 is brought into close contact with the lower mold 2, resin is sealed by press-fitting a sealing resin into the cavity 38 from the gate. Further, after the resin sealing, the movable member 26 of the upper mold 4 is moved downward via the direct coupling drive motor 34, so that the package is released.

【0045】ここで、パッケージのモールド側面の金型
抜き角は略0度に設定されており、パッケージの離型は
円滑に行われる。
Here, the die cutting angle on the side surface of the mold of the package is set to approximately 0 degree, and the package is smoothly released from the mold.

【0046】なお、上記構成において、可動部材12の
位置(下金型2と上金型4との間の接離面とリードフレ
ーム搭載面との距離)は、駆動源より直結駆動モータ1
4を駆動することにより調整することができるととも
に、可動部材26の位置(下金型2と上金型4との間の
接離面とキャビティ底面との距離)は、駆動源より直結
駆動モータ34を駆動することにより調整することがで
きるので、可動部材12に載置されるリードフレームの
厚さが変わったり、キャビティ38の深さ(パッケージ
のモールド厚さ)が変わっても、適宜対応することがで
きる。
In the above structure, the position of the movable member 12 (the distance between the contact / separation surface between the lower mold 2 and the upper mold 4 and the lead frame mounting surface) is directly connected to the drive motor 1 from the drive source.
4 and the position of the movable member 26 (the distance between the contact surface between the lower die 2 and the upper die 4 and the bottom surface of the cavity) can be adjusted by driving the direct drive motor. Since it can be adjusted by driving 34, even if the thickness of the lead frame mounted on the movable member 12 changes or the depth of the cavity 38 (mold thickness of the package) changes, it is possible to respond appropriately. be able to.

【0047】また、キャビティ38の深さは、図3の上
金型4を使用する代わりに、図4に示されるような上金
型4Aを使用して変更することもできる。
Further, the depth of the cavity 38 can be changed by using an upper mold 4A as shown in FIG. 4 instead of using the upper mold 4 of FIG.

【0048】さらに詳述すると、図4に示される上金型
4Aには、キャビティ深さアジャスト機構は設けられて
いないが、キャビティ38の外形(輪郭)と同一の角孔
40aが穿設されたスペーサ40を上金型4Aの下面に
取り付けることができる構成となっている。したがっ
て、所望のキャビティ深さに応じて、複数のキャビティ
38が形成された上金型4Aに所定の厚さのスペーサ4
0を取り付けることにより、種々のキャビティ深さに対
応することができる。
More specifically, the upper mold 4A shown in FIG. 4 is not provided with a cavity depth adjusting mechanism, but is provided with a square hole 40a having the same outer shape (contour) as the cavity 38. The spacer 40 can be attached to the lower surface of the upper mold 4A. Therefore, according to the desired cavity depth, the spacer 4 having a predetermined thickness is formed on the upper mold 4A having the plurality of cavities 38 formed therein.
By attaching 0, various cavity depths can be accommodated.

【0049】しかしながら、この構成では、エジェクト
用のピンを上金型4Aに設ける必要があり、樹脂封止
後、エジェクト用ピンを下降させることによりパッケー
ジの離型は行われる。
However, in this structure, it is necessary to provide the ejecting pin on the upper mold 4A, and the package is released by lowering the ejecting pin after resin sealing.

【0050】実施の形態2.図5乃至図7は、複数のプ
レスユニットが増設できる半導体製造装置の平面ユニッ
ト構成を示しており、図5は1台の材料供給・製品排出
ユニット42に搬送ユニット44及びプレスユニット4
6をそれぞれ1台ずつ並設した構成を、図6は図5の構
成に加えて、材料供給・製品排出ユニット42と搬送レ
ールユニット48とプレスユニット46の組み合わせを
並設した構成を、図7は図6の構成に加えて、さらに2
組の材料供給・製品排出ユニット42と搬送レールユニ
ット48とプレスユニット46の組み合わせを並設した
構成をそれぞれ示している。
Embodiment 2. 5 to 7 show a planar unit configuration of a semiconductor manufacturing apparatus in which a plurality of press units can be added. FIG. 5 shows one material supply / product discharge unit 42, a transport unit 44 and a press unit 4.
6 shows a configuration in which one unit 6 is arranged in parallel, and FIG. 6 shows a configuration in which a combination of the material supply / product discharge unit 42, the transport rail unit 48, and the press unit 46 is arranged in parallel in FIG. 2 in addition to the configuration of FIG.
The configurations in which a combination of the material supply / product discharge unit 42, the transport rail unit 48, and the press unit 46 are arranged in parallel are shown.

【0051】このように、本発明にかかる平面ユニット
構成は、プレスユニット46の接続台数や生産能力に応
じて、材料供給・製品排出ユニット数が可変であるた
め、過不足なく、材料供給・製品排出ユニット数を選択
することができる。
As described above, in the plane unit structure according to the present invention, the number of material supply / product discharge units can be changed according to the number of connected press units 46 and the production capacity. The number of discharge units can be selected.

【0052】図7の構成を、図8乃至図10を参照して
さらに詳述する。図8に示されるように、材料供給・製
品搬送ユニット42は、フレーム供給マガジン50と製
品排出マガジン52とを備えており、その上方にはモー
ルド樹脂供給ユニット53が設けられている。
The configuration of FIG. 7 will be described in more detail with reference to FIGS. 8 to 10. As shown in FIG. 8, the material supply / product transport unit 42 includes a frame supply magazine 50 and a product discharge magazine 52, and a mold resin supply unit 53 is provided above the frame supply magazine 50.

【0053】また、図9に示されるように、材料供給・
製品搬送ユニット42には、フレーム供給マガジン50
に載置されたリードフレーム54を所定の位置に搬送す
るための自走式シャトル搬送ユニット55と、樹脂封止
後のリードフレーム54からカル(樹脂廃材)を分離す
るための折り畳み自在のブレーク板56とが設けられて
いる。自走式シャトル搬送ユニット55は、各々一つの
リードフレーム54を保持するための二つのフレーム保
持部55aと、二つのフレーム保持部55aの間に設け
られた複数の第1チャッキング手段55bとを備えてお
り、各フレーム保持部55aには、第2チャッキング手
段55cが設けられている。
Further, as shown in FIG.
The product feeding unit 42 includes a frame supply magazine 50.
A self-propelled shuttle transport unit 55 for transporting the lead frame 54 placed on the substrate to a predetermined position, and a foldable break plate for separating cull (resin waste material) from the lead frame 54 after resin sealing. And 56 are provided. The self-propelled shuttle transport unit 55 includes two frame holding parts 55a for holding one lead frame 54, respectively, and a plurality of first chucking means 55b provided between the two frame holding parts 55a. Each frame holding portion 55a is provided with a second chucking means 55c.

【0054】さらに、材料供給・製品搬送ユニット42
の1側面と所定距離離間した位置には、複数組(例え
ば、4組)のプレスユニット46が1列に配設されてお
り、材料供給・製品搬送ユニット42とプレスユニット
46との間には、搬送ユニット44と搬送レールユニッ
ト48とが設けられている。
Further, the material supply / product transport unit 42
A plurality of sets (for example, four sets) of press units 46 are arranged in a row at a position separated from one side surface of the press unit 46 by a predetermined distance, and between the material supply / product transport unit 42 and the press unit 46. A transport unit 44 and a transport rail unit 48 are provided.

【0055】図10に示されるように、搬送ユニット4
4は略矩形状の筐体57を備え、その両側には複数のピ
ニオン58が回動自在に取り付けられるとともに、複数
のカムフォロワ60が立設されている。
As shown in FIG. 10, the transport unit 4
The reference numeral 4 includes a substantially rectangular housing 57, and a plurality of pinions 58 are rotatably attached to both sides of the housing 57 and a plurality of cam followers 60 are provided upright.

【0056】一方、搬送レールユニット48は略矩形状
の筐体62を備え、筐体62の1側面にはサーボモータ
64に駆動されるタイミングベルト66の一部が押え板
68により取り付けられている。また、タイミングベル
ト66が取り付けられている筐体62の側面及びその反
対側の側面には、筐体62を搬送するためのLM(リニ
アモーション)ガイド70が配設されている。さらに、
筐体62の下面には、LMガイド70と直交する方向に
延びる一対のカム溝72が所定距離離間して取り付けら
れるとともに、各カム溝72の内側には、搬送ユニット
のピニオン58と嵌合するラック74が取り付けられて
いる。
On the other hand, the transport rail unit 48 is provided with a substantially rectangular casing 62, and a part of a timing belt 66 driven by a servomotor 64 is attached to one side surface of the casing 62 by a holding plate 68. . An LM (linear motion) guide 70 for transporting the housing 62 is provided on the side surface of the housing 62 to which the timing belt 66 is attached and the side surface opposite to the side surface. further,
A pair of cam grooves 72 extending in a direction orthogonal to the LM guide 70 are attached to the lower surface of the housing 62 so as to be separated from each other by a predetermined distance, and inside each of the cam grooves 72, a pinion 58 of the transport unit is fitted. A rack 74 is attached.

【0057】上記構成の半導体製造装置Mにおいて、ボ
ンディングワイヤを介して半導体素子(図示せず)に接
続された複数のリードフレーム54は、材料供給・製品
排出ユニット42に設けられたフレーム供給マガジン5
0の上下方向に一定の間隔でまず載置される。次に、シ
ャトル搬送ユニット55をフレーム供給マガジン50の
前方に設けられた回転機構(図示せず)まで走行させて
載置し、一方のフレーム保持部55aをフレーム供給マ
ガジン50と位置決めして、フレーム供給マガジン50
に載置されたリードフレーム54の一つを摺動自在の押
板51によりフレーム保持部55aの第2チャッキング
手段55cに移送する。
In the semiconductor manufacturing apparatus M having the above-mentioned structure, the plurality of lead frames 54 connected to the semiconductor element (not shown) via the bonding wires include the frame supply magazine 5 provided in the material supply / product discharge unit 42.
First, they are placed at regular intervals in the vertical direction of 0. Next, the shuttle transport unit 55 is moved to and placed on a rotating mechanism (not shown) provided in front of the frame supply magazine 50, and one frame holding portion 55a is positioned with respect to the frame supply magazine 50 to set the frame. Supply magazine 50
One of the lead frames 54 placed on is transferred to the second chucking means 55c of the frame holding portion 55a by the slidable push plate 51.

【0058】その後、回転機構を180°回転させると
ともに、フレーム供給マガジン50を昇降させて、他方
のフレーム保持部55aの第2チャッキング手段55c
に別のリードフレーム54を移送する。さらに、モール
ド樹脂供給ユニット53のフィーダ53aに載置された
複数の円筒状モールド樹脂76を一つずつクランプ53
bで把持して、シャトル搬送ユニット55に設けられた
複数の第1チャッキング手段55bに順番に移送する。
Thereafter, the rotation mechanism is rotated by 180 ° and the frame supply magazine 50 is moved up and down to move the second chucking means 55c of the other frame holding portion 55a.
Another lead frame 54 is transferred to. Further, the plurality of cylindrical mold resins 76 placed on the feeder 53a of the mold resin supply unit 53 are clamped one by one to the clamp 53.
It is gripped by b and is sequentially transferred to the plurality of first chucking means 55b provided in the shuttle transport unit 55.

【0059】次に、二つのフレーム保持部55aの第2
チャッキング手段55cにより両側面が把持されたリー
ドフレーム54と複数の第1チャッキング手段55bに
把持されたモールド樹脂76とを有するシャトル搬送ユ
ニット55を搬送ユニット44の下方まで走行させ、搬
送ユニット44に設けられたチャッキング手段(図示せ
ず)によりシャトル搬送ユニット55を把持する。この
時、搬送ユニット44のカムフォロワ60は、搬送レー
ルユニット48の対応するカム溝72に嵌入するととも
に、搬送ユニット44のピニオン58は搬送レールユニ
ット48の対応するラック74と噛合しており、シャト
ル搬送ユニット55を下方に保持した状態で、ピニオン
58が駆動されて第1のプレスユニット46に向かって
移動する。
Next, the second of the two frame holding portions 55a
The shuttle transport unit 55 having the lead frame 54 whose both sides are gripped by the chucking means 55c and the mold resin 76 gripped by the plurality of first chucking means 55b is caused to travel to a position below the transport unit 44 to transport the transport unit 44. The shuttle transport unit 55 is gripped by a chucking means (not shown) provided in the. At this time, the cam follower 60 of the transport unit 44 is fitted into the corresponding cam groove 72 of the transport rail unit 48, and the pinion 58 of the transport unit 44 is meshed with the corresponding rack 74 of the transport rail unit 48, so that the shuttle transport is performed. With the unit 55 held downward, the pinion 58 is driven to move toward the first press unit 46.

【0060】図10に示されるように、プレスユニット
46の各々には搬送ユニット44のピニオン58と噛合
するラック78が所定の間隔で設けられており、第1の
プレスユニット46に向かって移動した搬送ユニット4
4は、そのピニオン58が今度は第1のプレスユニット
46のラック78と噛合して、第1のプレスユニット4
6の下金型の所定位置まで搬送される。次に、搬送ユニ
ット44の下方に保持されたシャトル搬送ユニット55
は、第1チャッキング手段55bによるモールド樹脂7
6のチャッキングと、第2チャッキング手段55cによ
るリードフレーム54のチャッキングを解除して、複数
のモールド樹脂76と二つのリードフレーム54を下金
型の所定位置に配置する。
As shown in FIG. 10, racks 78 that mesh with the pinions 58 of the transport unit 44 are provided at predetermined intervals in each of the press units 46, and moved toward the first press unit 46. Transport unit 4
4, the pinion 58 now meshes with the rack 78 of the first press unit 46,
6 is conveyed to a predetermined position of the lower mold. Next, the shuttle transport unit 55 held below the transport unit 44.
Is the mold resin 7 formed by the first chucking means 55b.
The chucking 6 and the chucking of the lead frame 54 by the second chucking means 55c are released, and the plurality of mold resins 76 and the two lead frames 54 are arranged at predetermined positions of the lower mold.

【0061】モールド樹脂76とリードフレーム54を
解放したシャトル搬送ユニット55は、モールド樹脂7
6とリードフレーム54の第1プレスユニット46への
供給時と同じ径路を逆方向に搬送ユニット44により搬
送され、フレーム供給マガジン50に向かって移動す
る。
The shuttle transport unit 55, which has released the mold resin 76 and the lead frame 54, is
6 and the lead frame 54 are conveyed by the conveying unit 44 in the opposite direction along the same path as when supplying the first press unit 46, and move toward the frame supply magazine 50.

【0062】シャトル搬送ユニット55は、同様にし
て、二つのリードフレーム54と複数の円筒状モールド
樹脂76を材料供給・製品排出ユニット42から受け取
り、搬送レールユニット48に保持された搬送ユニット
44のチャッキング手段により把持される。
Similarly, the shuttle transport unit 55 receives the two lead frames 54 and the plurality of cylindrical mold resins 76 from the material supply / product discharge unit 42, and chucks the transport unit 44 held by the transport rail unit 48. It is gripped by the king means.

【0063】次に、搬送レールユニット48の筐体62
が、サーボモータ64により駆動されLMガイド70に
沿って第2のプレスユニット46まで移動する。さら
に、搬送ユニット44のピニオン58が駆動されて、搬
送レールユニット48のラック74から第2のプレスユ
ニット46のラック78へと順次噛合し、以下第1のプ
レスユニット46と同様にして、複数のモールド樹脂7
6と二つのリードフレーム54が第2のプレスユニット
46の下金型の所定位置に配置される。
Next, the casing 62 of the transport rail unit 48.
Is driven by the servo motor 64 and moves to the second press unit 46 along the LM guide 70. Further, the pinion 58 of the transport unit 44 is driven to sequentially mesh with the rack 74 of the transport rail unit 48 to the rack 78 of the second press unit 46. Mold resin 7
6 and two lead frames 54 are arranged at predetermined positions of the lower mold of the second press unit 46.

【0064】以下、第2のプレスユニット46と同様に
して、複数のモールド樹脂76と二つのリードフレーム
54は、第3及び第4のプレスユニット46へと搬送さ
れる。
Thereafter, similar to the second press unit 46, the plurality of mold resins 76 and the two lead frames 54 are conveyed to the third and fourth press units 46.

【0065】第1乃至第4のプレスユニット46の各々
に搬送されたモールド樹脂76は、上金型が下金型に向
かって移動して加圧することにより溶融し、溶融した樹
脂がランナ及びゲートを介して複数のキャビティ内に注
入される。その結果、各キャビティ内に配置されたリー
ドフレーム54が半導体素子やボンディングワイヤとと
もにモールド樹脂76で封止される。
The mold resin 76 conveyed to each of the first to fourth press units 46 is melted by moving the upper mold toward the lower mold and applying pressure, and the melted resin is the runner and gate. Is injected into the plurality of cavities via the. As a result, the lead frame 54 arranged in each cavity is sealed with the molding resin 76 together with the semiconductor element and the bonding wire.

【0066】樹脂封止後、上金型が開放されると、搬送
ユニット44に保持されたシャトル搬送ユニット55
が、製品としての複数のパッケージ(半導体装置)上に
配置され、図11に示されるように、第2チャッキング
手段55cによりパッケージの両側面を把持するととも
に、第1チャッキング手段55bによりカル(樹脂廃
材)を把持した状態で、材料供給・製品排出ユニット4
2に設けられたブレーク板56の上方まで搬送される。
When the upper mold is opened after the resin sealing, the shuttle transfer unit 55 held by the transfer unit 44.
Are arranged on a plurality of packages (semiconductor devices) as products, and as shown in FIG. 11, both side surfaces of the package are held by the second chucking means 55c, and the cull ( Material supply / product discharge unit 4 while gripping resin waste material)
It is conveyed to a position above the break plate 56 provided on the No. 2.

【0067】次に、ブレーク板56が上昇して、第2チ
ャッキング手段55cによりパッケージが把持されたま
まの状態でブレーク板56に載置されると、図12に示
されるように、ブレーク板56がその中心線を境に折り
畳まれて、カル、ランナ、ゲートをパッケージより分離
する。分離されたパッケージは、その一方の列が製品排
出マガジン52にまず投入された後、180°回転し
て、他方のパッケージ列も同様に製品排出マガジン52
に投入される。
Next, when the break plate 56 rises and is placed on the break plate 56 while the package is held by the second chucking means 55c, as shown in FIG. 56 is folded around the center line to separate the cull, runner, and gate from the package. One of the separated packages is first inserted into the product discharge magazine 52 and then rotated by 180 °.
Be thrown into.

【0068】上記構成の半導体製造装置は、図13に示
されるように、相対する2側面に人のアクセスとユーテ
ィリティ接続面が全く設けられておらず、他の相対する
2側面にのみ直材投入や製品・廃材の排出、及び、メン
テナンスや金型交換等の人のアクセスとユーティリティ
接続面を設けたので、各ユニット同志を隣接して据え付
けることが可能となっている。
As shown in FIG. 13, the semiconductor manufacturing apparatus having the above-described structure has no human access and utility connection surfaces on the two opposing side surfaces, and only the other two opposing side surfaces are directly charged. It is possible to install each unit next to each other because the access and utility connection surface for people such as the discharge of products and waste materials, maintenance, and mold replacement are provided.

【0069】以上、半導体製造装置に4組のプレスユニ
ット46が設けられている場合につき、その動作を説明
したが、搬送レールユニット48のタイミングベルト6
6の長さ及びLMガイド70の長さを適宜選定すること
により複数のプレスユニット46に対応することができ
る。
The operation of the semiconductor manufacturing apparatus provided with four sets of press units 46 has been described above. The timing belt 6 of the transport rail unit 48 has been described above.
By appropriately selecting the length of 6 and the length of the LM guide 70, a plurality of press units 46 can be supported.

【0070】ただし、プレスユニット46が1組の場
合、図5に示されるように、搬送レールユニット48を
設ける必要はなく、カム溝72及びラック74を所定位
置に設けて、搬送ユニット44を材料供給・製品排出ユ
ニット42とプレスユニット46との間で移動させるよ
うにすればよい。
However, when the press unit 46 is one set, as shown in FIG. 5, it is not necessary to provide the transport rail unit 48, and the cam groove 72 and the rack 74 are provided at predetermined positions, and the transport unit 44 is made of material. It may be moved between the supply / product discharge unit 42 and the press unit 46.

【0071】[0071]

【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、以下に記載されるような効果を奏する。本
発明のうちで請求項1に記載の発明によれば、下金型と
上金型との間の接離面とキャビティの底面との距離を可
変にしたので、モールド厚さが異なってもモールド金型
を共用することができ、効率的な樹脂封止金型装置ひい
ては効率的な半導体製造装置を提供することができる。
Since the present invention is constructed as described above, it has the following effects. According to the first aspect of the present invention, the distance between the contact / separation surface between the lower mold and the upper mold and the bottom surface of the cavity is variable, so that the mold thickness is different. Since the molding die can be shared, an efficient resin-sealed die device and thus an efficient semiconductor manufacturing device can be provided.

【0072】また、請求項2に記載の発明によれば、パ
ッケージのモールド厚さに応じてキャビティ深さアジャ
スト機構により可動部材を固定部材に対し移動させてキ
ャビティの深さを調節するようにしたので、モールド厚
さが異なっても迅速に対応することができる。
According to the second aspect of the invention, the cavity depth is adjusted by moving the movable member with respect to the fixed member by the cavity depth adjusting mechanism according to the mold thickness of the package. Therefore, it is possible to quickly respond even if the mold thickness is different.

【0073】さらに、請求項3に記載の発明によれば、
モールド後、キャビティ深さアジャスト機構により可動
部材を両金型間の接離面に向かって移動させてパッケー
ジを離型するようにしたので、エジェクト用のピン等を
設ける必要がなく、樹脂封止装置の効率を向上させるこ
とができる。
Further, according to the invention described in claim 3,
After molding, the cavity depth adjusting mechanism moves the movable member toward the contact / separation surface between the two molds to release the package.Therefore, it is not necessary to provide eject pins, etc. The efficiency of the device can be improved.

【0074】また、請求項4に記載の発明によれば、パ
ッケージのモールド厚さに応じて両金型の少なくとも一
方にスペーサを取り付けることによりキャビティの深さ
を調節するようにしたので、簡素な構成で樹脂封止金型
装置の共用化を達成することができる。
Further, according to the invention described in claim 4, the depth of the cavity is adjusted by attaching a spacer to at least one of the two molds according to the mold thickness of the package, which is simple. With the configuration, it is possible to achieve common use of the resin-sealed mold device.

【0075】また、請求項5に記載の発明によれば、パ
ッケージのモールド側面の金型抜き角を略0度に設定し
たので、パッケージの離型を円滑に行うことができ、樹
脂封止金型装置の効率化を達成することができる。
Further, according to the invention described in claim 5, since the die cutting angle on the side surface of the mold of the package is set to about 0 degree, the package can be released smoothly, and the resin sealing metal Efficiency of the mold device can be achieved.

【0076】また、請求項6に記載の発明によれば、両
金型間の接離面とリードフレーム搭載面との距離を可変
にしたので、リードフレームの厚さが異なってもモール
ド金型を共用することができ、効率的な樹脂封止金型装
置ひいては効率的な半導体製造装置を提供することがで
きる。
According to the invention of claim 6, since the distance between the contact / separation surface between the two molds and the lead frame mounting surface is variable, the molding mold is different even if the thickness of the lead frame is different. Therefore, it is possible to provide an efficient resin-sealed mold device and an efficient semiconductor manufacturing device.

【0077】また、請求項7に記載の発明によれば、搭
載されるリードフレームの厚さに応じて基材厚さアジャ
スト機構により可動部材を固定部材に対し移動させてリ
ードフレーム搭載面の位置を調節するようにしたので、
リードフレームの厚さが異なっても迅速に対応すること
ができる。
According to the invention described in claim 7, the movable member is moved with respect to the fixed member by the base material thickness adjusting mechanism according to the thickness of the lead frame to be mounted, and the position of the lead frame mounting surface is adjusted. I adjusted the
Even if the thickness of the lead frame is different, it can be dealt with promptly.

【0078】さらに、請求項8に記載の発明によれば、
材料供給・製品排出ユニットの接続数が可変であるの
で、装置の据付面の利用効率を向上させることができ
る。
Further, according to the invention described in claim 8,
Since the number of connected material supply / product discharge units is variable, it is possible to improve the utilization efficiency of the installation surface of the device.

【0079】また、請求項9に記載の発明によれば、プ
レスユニットの接続台数に応じて、材料供給・製品排出
ユニットの接続数を調節するようにしたので、装置の据
付面の利用効率を最大化することができる。
According to the invention described in claim 9, since the number of connected material supply / product discharge units is adjusted according to the number of connected press units, the utilization efficiency of the installation surface of the apparatus is improved. Can be maximized.

【0080】また、請求項10に記載の発明によれば、
相対する2側面にのみ、アクセスとユーティリティ接続
面を設けたので、他の2側面のいずれにも他のユニット
を隣接配置することができ、装置の据付面の利用効率を
さらに向上させることができる。
According to the invention described in claim 10,
Since the access and utility connection surfaces are provided only on the two opposite side surfaces, another unit can be arranged adjacent to any of the other two side surfaces, and the efficiency of using the installation surface of the device can be further improved. .

【0081】また、請求項11に記載の発明によれば、
従来のように押圧吸着機構を使用することなく、搬送ユ
ニットのチャッキング手段によりモールド前のリードフ
レームの両側面あるいはモールド後のパッケージの両側
面を把持するようにしたので、パッケージ、カルあるい
はゲート部へのダメージがなく、ゲート残りが発生する
こともない。その結果、製品としての半導体装置の信頼
性が向上する。
According to the invention described in claim 11,
Since the chucking means of the transfer unit is used to grip both sides of the lead frame before molding or both sides of the package after molding, unlike the conventional case, the chucking means of the transfer unit is used. There is no damage to the gate and no remaining gates occur. As a result, the reliability of the semiconductor device as a product is improved.

【0082】また、請求項12に記載の発明によれば、
搬送ユニットのチャッキング手段によりモールド後のカ
ルを把持して材料供給・製品排出ユニットに搬送するよ
うにしたので、パッケージ、カルあるいはゲート部への
ダメージがなく、ゲート残りが発生することもない。そ
の結果、製品としての半導体装置の信頼性が向上する。
According to the invention described in claim 12,
Since the cull after molding is grasped by the chucking means of the transport unit and transported to the material supply / product discharge unit, there is no damage to the package, cull, or gate portion, and no gate residue occurs. As a result, the reliability of the semiconductor device as a product is improved.

【0083】また、請求項13に記載の発明によれば、
モールド前のリードフレームのプレスユニットの下金型
への搬送と、モールド後のパッケージとカルのプレスユ
ニットからの搬出を同一搬送ユニットで行うようにした
ので、搬送時の信頼性が向上するとともに安価な搬送系
を提供することができる。
According to the invention described in claim 13,
Transporting the lead frame before molding to the lower mold of the press unit and unloading the package and cull after molding from the press unit are performed in the same transport unit, so the reliability during transport is improved and the cost is low. It is possible to provide various transport systems.

【0084】また、請求項14に記載の発明によれば、
従来のようにフリーフロー搬送がなく、搬送ユニットが
材料供給・製品排出ユニットに載置されたリードフレー
ムを直接受け取るとともに、プレスユニットの下金型ま
で搬送するようにしたので、搬送時の信頼性が向上する
とともに安価な搬送系を提供することができる。
According to the invention described in claim 14,
Since there is no free-flow transport as in the past, the transport unit directly receives the lead frame placed on the material supply / product discharge unit and transports it to the lower die of the press unit, so reliability during transport It is possible to provide a low-priced transport system with improved efficiency.

【0085】また、請求項15に記載の発明によれば、
モールド後のパッケージを搬送ユニットにより把持して
プレスユニットから搬出し、把持したままカルをパッケ
ージより分離するようにしたので、パッケージ、カルあ
るいはゲート部へのダメージがなく、ゲート残りが発生
することもない。その結果、製品としての半導体装置の
信頼性が向上する。
According to the invention described in claim 15,
Since the package after molding is gripped by the transport unit and carried out from the press unit, and the cull is separated from the package while gripping it, there is no damage to the package, cull, or the gate part, and gate residue may occur. Absent. As a result, the reliability of the semiconductor device as a product is improved.

【0086】また、請求項16に記載の発明によれば、
カルをパッケージより分離した後、パッケージを搬送ユ
ニットより材料供給・製品排出ユニットに設けられた製
品搬出マガジンに直接投入するようにしたので、搬送時
の信頼性が向上するとともに安価な搬送系を提供するこ
とができる。
According to the invention described in claim 16,
After the cull is separated from the package, the package is directly loaded from the transport unit to the product unloading magazine provided in the material supply / product discharge unit, improving the reliability during transport and providing an inexpensive transport system. can do.

【0087】さらに、請求項17に記載の発明によれ
ば、請求項1乃至16のいずれか1項に記載の半導体製
造装置により半導体装置を製造するようにしたので、信
頼性の高い安価な半導体装置を提供することができる。
According to the seventeenth aspect of the present invention, since the semiconductor device is manufactured by the semiconductor manufacturing apparatus according to any one of the first to sixteenth aspects, the semiconductor device is highly reliable and inexpensive. A device can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明にかかる半導体樹脂封止金型装置の概
略斜視図である。
FIG. 1 is a schematic perspective view of a semiconductor resin-sealed mold device according to the present invention.

【図2】 図1の半導体樹脂封止金型装置に設けられた
基材厚さアジャスト機構の概略縦断面図である。
2 is a schematic vertical cross-sectional view of a substrate thickness adjusting mechanism provided in the semiconductor resin-sealed mold device of FIG.

【図3】 図1の半導体樹脂封止金型装置に設けられた
キャビティ深さアジャスト機構の概略縦断面図である。
FIG. 3 is a schematic vertical sectional view of a cavity depth adjusting mechanism provided in the semiconductor resin-sealed mold device of FIG.

【図4】 図3のキャビティ深さアジャスト機構の代わ
りに、上金型に取り付けられるスペーサの縦断面図であ
る。
FIG. 4 is a vertical cross-sectional view of a spacer attached to an upper mold instead of the cavity depth adjusting mechanism of FIG.

【図5】 本発明にかかる半導体製造装置の概略平面図
である。
FIG. 5 is a schematic plan view of a semiconductor manufacturing apparatus according to the present invention.

【図6】 本発明にかかる別の半導体製造装置の概略平
面図である。
FIG. 6 is a schematic plan view of another semiconductor manufacturing apparatus according to the present invention.

【図7】 本発明にかかるさらに別の半導体製造装置の
概略平面図である。
FIG. 7 is a schematic plan view of still another semiconductor manufacturing apparatus according to the present invention.

【図8】 図7の半導体製造装置の概略斜視図である。8 is a schematic perspective view of the semiconductor manufacturing apparatus in FIG.

【図9】 図5乃至図7の半導体製造装置に設けられた
シャトル搬送ユニットの斜視図である。
FIG. 9 is a perspective view of a shuttle transport unit provided in the semiconductor manufacturing apparatus of FIGS.

【図10】 図6及び図7の半導体製造装置に設けられ
た搬送レールユニットの概略分解斜視図である。
10 is a schematic exploded perspective view of a carrier rail unit provided in the semiconductor manufacturing apparatus of FIGS. 6 and 7. FIG.

【図11】 図5乃至図7の半導体製造装置において、
モールド後のパッケージを把持して搬送している状態を
示す概略斜視図である。
FIG. 11 is a plan view showing the semiconductor manufacturing apparatus of FIGS.
It is a schematic perspective view which shows the state which hold | grips and conveys the package after molding.

【図12】 図5乃至図7の半導体製造装置において、
モールド後のパッケージをブレークしている状態を示す
ブレーク板の側面図である。
FIG. 12 is a plan view showing the semiconductor manufacturing apparatus of FIGS.
It is a side view of a break plate showing a state where the package after molding is broken.

【図13】 図7の半導体製造装置の概略斜視図であ
る。
13 is a schematic perspective view of the semiconductor manufacturing apparatus in FIG.

【図14】 従来の半導体樹脂封止金型装置の概略斜視
図である。
FIG. 14 is a schematic perspective view of a conventional semiconductor resin-sealed mold device.

【図15】 従来の半導体製造装置の概略平面図であ
る。
FIG. 15 is a schematic plan view of a conventional semiconductor manufacturing apparatus.

【図16】 従来の別の半導体製造装置の概略平面図で
ある。
FIG. 16 is a schematic plan view of another conventional semiconductor manufacturing apparatus.

【図17】 従来のさらに別の半導体製造装置の概略平
面図である。
FIG. 17 is a schematic plan view of still another conventional semiconductor manufacturing apparatus.

【図18】 従来の半導体製造装置において、フレーム
供給マガジンからリードフレームを搬送している状態を
示す概略斜視図である。
FIG. 18 is a schematic perspective view showing a state where the lead frame is conveyed from the frame supply magazine in the conventional semiconductor manufacturing apparatus.

【図19】 従来の半導体製造装置において、モールド
後のパッケージを押圧吸着して搬送している状態を示す
概略斜視図である。
FIG. 19 is a schematic perspective view showing a state in which a package after molding is pressed and adsorbed and conveyed in a conventional semiconductor manufacturing apparatus.

【図20】 図15の半導体製造装置の概略斜視図であ
る。
20 is a schematic perspective view of the semiconductor manufacturing apparatus in FIG.

【図21】 図17の半導体製造装置の概略斜視図であ
る。
21 is a schematic perspective view of the semiconductor manufacturing apparatus in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 下金型、 4,4A 上金型、 6 基材厚さアジ
ャスト機構、8 キャビティ深さアジャスト機構、 1
0 固定部材、 12 可動部材、14 直結駆動モー
タ、 16 モータサポート、 18 ボールネジ、2
0 ブラケット、 22 ボールネジナット、 24
固定部材、26 可動部材、 28 可動部材サポー
ト、 30 ボールネジナット、32 モータサポー
ト、 34 直結駆動モータ、 36 ボールネジ、3
8 キャビティ、 40 スペーサ、 40a 角孔、
42 材料供給・製品排出ユニット、 44 搬送ユニ
ット、46 プレスユニット、 48 搬送レールユニ
ット、50 フレーム供給マガジン、 51 押板、
52 製品排出マガジン、53 モールド樹脂供給ユニ
ット、 53a フィーダ、53b クランプ、 54
リードフレーム、55 シャトル搬送ユニット、 5
5a フレーム保持部、55b 第1チャッキング手
段、 55c 第2チャッキング手段、56 ブレーク
板、 57 筐体、 58 ピニオン、60 カムフォ
ロワ、 62 筐体、 64 サーボモータ、66 タ
イミングベルト、 68 押え板、 70 LMガイ
ド、72 カム溝、 74 ラック、 76 モールド
樹脂、 78 ラック
2 Lower mold, 4, 4A Upper mold, 6 Base material thickness adjusting mechanism, 8 Cavity depth adjusting mechanism, 1
0 fixed member, 12 movable member, 14 direct drive motor, 16 motor support, 18 ball screw, 2
0 bracket, 22 ball screw nut, 24
Fixed member, 26 movable member, 28 movable member support, 30 ball screw nut, 32 motor support, 34 direct drive motor, 36 ball screw, 3
8 cavities, 40 spacers, 40a square holes,
42 material supply / product discharge unit, 44 transfer unit, 46 press unit, 48 transfer rail unit, 50 frame supply magazine, 51 push plate,
52 product discharge magazine, 53 mold resin supply unit, 53a feeder, 53b clamp, 54
Lead frame, 55 shuttle transport unit, 5
5a frame holding part, 55b first chucking means, 55c second chucking means, 56 break plate, 57 housing, 58 pinion, 60 cam follower, 62 housing, 64 servo motor, 66 timing belt, 68 holding plate, 70 LM guide, 72 cam groove, 74 rack, 76 mold resin, 78 rack

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4F202 AH33 CB01 CB12 CK17 CK27 CK52 CK73 CK89 CM03 CM11 CM21 4F206 AH37 JA02 JB17 JF05 JQ81 JW23 5F061 AA01 CA21 DA06 DA11    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    F term (reference) 4F202 AH33 CB01 CB12 CK17 CK27                       CK52 CK73 CK89 CM03 CM11                       CM21                 4F206 AH37 JA02 JB17 JF05 JQ81                       JW23                 5F061 AA01 CA21 DA06 DA11

Claims (17)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 下金型と上金型の少なくとも一方にキャ
ビティが形成された半導体樹脂封止金型装置を備えた半
導体製造装置であって、 上記下金型と上金型との間の接離面と上記キャビティの
底面との距離が可変であることを特徴とする半導体製造
装置。
1. A semiconductor manufacturing apparatus comprising a semiconductor resin-sealed mold device in which a cavity is formed in at least one of a lower mold and an upper mold, wherein A semiconductor manufacturing apparatus, wherein a distance between a contact surface and a bottom surface of the cavity is variable.
【請求項2】 上記上金型に、固定部材と、該固定部材
に対し摺動自在に取り付けられた可動部材と、該可動部
材を摺動させるキャビティ深さアジャスト機構を設け、
パッケージのモールド厚さに応じて上記キャビティ深さ
アジャスト機構により上記可動部材を上記固定部材に対
し移動させて上記キャビティの深さを調節するようにし
た請求項1に記載の半導体製造装置。
2. The upper mold is provided with a fixed member, a movable member slidably attached to the fixed member, and a cavity depth adjusting mechanism for sliding the movable member,
2. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the movable member is moved with respect to the fixed member by the cavity depth adjusting mechanism according to the mold thickness of the package to adjust the depth of the cavity.
【請求項3】 モールド後、上記キャビティ深さアジャ
スト機構により上記可動部材を上記下金型と上金型との
間の接離面に向かって移動させてパッケージを離型する
ようにした請求項2に記載の半導体製造装置。
3. After the molding, the movable member is moved toward the contact / separation surface between the lower die and the upper die by the cavity depth adjusting mechanism to release the package. 2. The semiconductor manufacturing apparatus according to item 2.
【請求項4】 パッケージのモールド厚さに応じて上記
下金型と上記上金型の少なくとも一方にスペーサを取り
付けることにより上記キャビティの深さを調節するよう
にした請求項1に記載の半導体製造装置。
4. The semiconductor manufacturing according to claim 1, wherein a depth of the cavity is adjusted by attaching a spacer to at least one of the lower mold and the upper mold according to a mold thickness of a package. apparatus.
【請求項5】 パッケージのモールド側面の金型抜き角
を略0度に設定した請求項1乃至4のいずれか1項に記
載の半導体製造装置。
5. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the die cutting angle on the side surface of the mold of the package is set to approximately 0 degree.
【請求項6】 下金型と上金型の少なくとも一方にキャ
ビティが形成された半導体樹脂封止金型装置を備えた半
導体製造装置であって、上記下金型と上金型との間の接
離面とリードフレーム搭載面との距離が可変であること
を特徴とする半導体製造装置。
6. A semiconductor manufacturing apparatus provided with a semiconductor resin-sealed mold device in which a cavity is formed in at least one of a lower mold and an upper mold, wherein the semiconductor manufacturing device is provided between the lower mold and the upper mold. A semiconductor manufacturing apparatus characterized in that the distance between the contact surface and the lead frame mounting surface is variable.
【請求項7】 上記下金型に、固定部材と、該固定部材
に対し摺動自在に取り付けられた上記リードフレーム搭
載面を有する可動部材と、該可動部材を摺動させる基材
厚さアジャスト機構を設け、搭載されるリードフレーム
の厚さに応じて上記基材厚さアジャスト機構により上記
可動部材を上記固定部材に対し移動させて上記リードフ
レーム搭載面の位置を調節するようにした請求項6に記
載の半導体製造装置。
7. A fixed member, a movable member having the lead frame mounting surface slidably attached to the fixed member, and a base material thickness adjust for sliding the movable member on the lower mold. A mechanism is provided, and the position of the lead frame mounting surface is adjusted by moving the movable member with respect to the fixed member by the base material thickness adjusting mechanism according to the thickness of the mounted lead frame. 6. The semiconductor manufacturing apparatus according to item 6.
【請求項8】 樹脂封止するためのリードフレームを供
給するとともに、モールド後のパッケージを排出するた
めの材料供給・製品排出ユニットと、リードフレーム及
びパッケージを搬送するための搬送ユニットと、リード
フレームを樹脂封止するための下金型と上金型を有する
プレスユニットとを備え、上記材料供給・製品排出ユニ
ットの接続数が可変であることを特徴とする半導体製造
装置。
8. A material supply / product discharge unit for supplying a lead frame for resin sealing and discharging a package after molding, a transfer unit for transferring the lead frame and the package, and a lead frame. A semiconductor manufacturing apparatus comprising: a lower mold for resin-sealing a lower mold; and a press unit having an upper mold, wherein the number of connected material supply / product discharge units is variable.
【請求項9】 上記プレスユニットの接続台数に応じ
て、上記材料供給・製品排出ユニットの接続数を調節す
るようにした請求項8に記載の半導体製造装置。
9. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 8, wherein the number of connected material supply / product discharge units is adjusted according to the number of connected press units.
【請求項10】 相対する2側面にのみ、アクセスとユ
ーティリティ接続面を設けた請求項8あるいは9に記載
の半導体製造装置。
10. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 8, wherein the access and utility connection surfaces are provided only on the two opposite side surfaces.
【請求項11】 上記搬送ユニットにチャッキング手段
を設け、該チャッキング手段によりモールド前のリード
フレームの両側面あるいはモールド後のパッケージの両
側面を把持するようにした請求項8乃至10のいずれか
1項に記載の半導体製造装置。
11. The conveying unit is provided with a chucking means, and the chucking means holds both side surfaces of a lead frame before molding or both side surfaces of a package after molding. The semiconductor manufacturing apparatus according to item 1.
【請求項12】 上記搬送ユニットにチャッキング手段
を設け、該チャッキング手段によりモールド後のカルを
把持して上記材料供給・製品排出ユニットに搬送するよ
うにした請求項8乃至10のいずれか1項に記載の半導
体製造装置。
12. The conveying unit is provided with a chucking means, and the chuck after the molding is grasped by the chucking means and conveyed to the material supply / product discharge unit. The semiconductor manufacturing apparatus according to item.
【請求項13】 モールド前のリードフレームの上記プ
レスユニットの下金型への搬送と、モールド後のパッケ
ージとカルの上記プレスユニットからの搬出を同一搬送
ユニットで行うようにした請求項8乃至12のいずれか
1項に記載の半導体製造装置。
13. The same transport unit transports the lead frame before molding to the lower die of the press unit and unloads the package and cull after molding from the press unit in the same transport unit. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 1.
【請求項14】 上記搬送ユニットが上記材料供給・製
品排出ユニットに載置されたリードフレームを直接受け
取るとともに、上記プレスユニットの下金型まで搬送す
るようにした請求項8乃至13のいずれか1項に記載の
半導体製造装置。
14. The transport unit directly receives the lead frame placed on the material supply / product discharge unit, and transports the lead frame to a lower mold of the press unit. The semiconductor manufacturing apparatus according to item.
【請求項15】 モールド後のパッケージを上記搬送ユ
ニットにより把持して上記プレスユニットから搬出し、
把持したままカルをパッケージより分離するようにした
請求項8乃至14のいずれか1項に記載の半導体製造装
置。
15. The package after molding is gripped by the transport unit and carried out from the press unit,
15. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 8, wherein the cull is separated from the package while being held.
【請求項16】 カルをパッケージより分離した後、パ
ッケージを上記搬送ユニットより上記材料供給・製品排
出ユニットに設けられた製品搬出マガジンに直接投入す
るようにした請求項15に記載の半導体製造装置。
16. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 15, wherein after the cull is separated from the package, the package is directly loaded into the product unloading magazine provided in the material supply / product discharge unit from the transport unit.
【請求項17】 請求項1乃至16のいずれか1項に記
載の半導体製造装置により製造された半導体装置。
17. A semiconductor device manufactured by the semiconductor manufacturing apparatus according to claim 1. Description:
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