JP2003042939A - 分光光度計 - Google Patents

分光光度計

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JP2003042939A
JP2003042939A JP2001235775A JP2001235775A JP2003042939A JP 2003042939 A JP2003042939 A JP 2003042939A JP 2001235775 A JP2001235775 A JP 2001235775A JP 2001235775 A JP2001235775 A JP 2001235775A JP 2003042939 A JP2003042939 A JP 2003042939A
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辰巳 佐藤
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Abstract

(57)【要約】 【課題】微小試料、微小部位の透過、反射測定を行う際
に、容易に光束の大きさを変えることができる分光光度
計を提供することを目的とする。 【解決手段】光束絞り部Aと透過測定部B、拡散反射測
定位置C、鏡面反射測定部Dとは光学的共役関係にあ
り、光束絞り部Aの像は透過測定部B、拡散反射測定位
置C、鏡面反射測定部Dに結像する。すなわち、光束絞
り4の像が、透過測定部B、拡散反射測定位置C、鏡面
反射測定部Dに結像されるので、光束絞り4の開口部大
きさを小さくすると、比例して測定光束も小さくなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、紫外可視分光光度
計、紫外可視近赤外分光光度計に関し、特に固体試料の
透過、反射測定に利用される分光光度計に関する。
【0002】
【従来の技術】たとえば、ミラー、レンズ、プリズムな
どの光学素子、ガラスなどの光学的特性を問題とする材
料、蒸着あるいは塗布などによって形成された薄膜など
の固体試料の分光的な特性、例えば反射率、透過率を測
定する場合には、試料をセットしたときの試料に対する
光束の偏向の影響を抑えるために、一般に積分球が使用
される。積分球を使用することにより、試料によって反
射、透過された光は積分球内面でトラップされ、その積
分球の壁に配置された検出器により、トラップされた光
束の強度を精度良く測定できる。ここで、試料に入射す
る光束は、多くの場合小さいことと平行に近いことが望
まれるが、マスク等で光束を絞ると光量が損失し、また
平行光では光束は小さくできない。したがって、この両
者は光量の損失なしには原理的に両立しない。また、光
束が小さ過ぎると試料の場所むらが測定値に影響するた
め、最適な光束の大きさは測定の目的に依存する。
【0003】従来の分光光度計では、測定部の光束の平
行性を大きく失わない程度に光束を小さくし、かつ分光
器から射出した単色光を損失なく検出器へ導くことに主
眼を置いて設計されている。また、光学素子として色収
差のない鏡を多用するため、非点収差(縦方向と横方向
で結像性が異なる)を容認する設計となっていた。この
ため、各測定部の結像関係について配慮された設計とは
なっていなかった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】試料に入射する光束の
最適な大きさは、測定目的に依存するが、従来の装置で
は簡単に光束寸法を変えることはできず、ユーザが個別
に測定目的に合わせて対応していた。通常の透過測定で
は、試料の直前に光束の大きさを制限する光束絞りを用
意することで対応できるが、反射測定の場合には、測定
部の光学的共役の位置に光束絞りが必要で、光束絞り部
があらかじめ用意されていないと対応が困難な場合が多
い。また非点収差がある場合には、縦方向と横方向の光
束絞り位置が異なり、一層対応が困難となる。透過測定
でも、試料を可動ステージに載せ、試料の測定部位を変
えながら測定しようとする場合等には、試料の直前に置
かれた光束絞り及びそのホルダが、可動ステージと干渉
するため、やはり透過測定部の光学的共役の位置に光束
絞りを設置する必要性がある。なお、測定法が限られた
場合(例えば積分球付属装置など)には、あらかじめ光
束絞りを用意しているものもあるが、多目的な測定に対
して容易に光束寸法を変えられるようにしてあるものは
ない。さらに、「試料へ入射する光束の入射角はθ以
内」というように光束の平行性を要求される場合もある
が、従来装置では簡単に実現できない。
【0005】本発明は、上記に鑑みなされたもので、微
小試料、微小部位の透過、反射測定の際に容易に光束の
大きさを変えることができる分光光度計を提供すること
を目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するため、光源からの光束を光束絞り部で制限した
後、透過測定部、鏡面反射測定部、拡散反射測定部のい
ずれかに照射して試料からの光を検出する分光光度計に
おいて、光束絞り部と透過測定部、鏡面反射測定部、拡
散反射測定部のいずれかとを光学的共役の関係に配置し
てなることを特徴とする分光光度計を提供する。本発明
は、上記構成により、あらかじめ用意した1ヶ所の光束
絞り位置に光束絞りを入れることにより透過測定部、鏡
面反射測定部、拡散反射測定部の光束の大きさを変える
ことができる。ここで、「光学的共役の関係」とは、1
点Aから出た光束が反射、屈折をくりかえした後に別の
1点Bに交わる共心光線束となる関係をいう。本発明で
は、点Aは光束絞り部で、点Bは透過測定部、鏡面反射
測定部、拡散反射測定部である。また、AとBとを光学
的共役の関係にせしめる光学素子(光束絞り部、透過測
定部、鏡面反射測定部、拡散反射測定部)の焦点の位置
にさらに別の光束絞りを配置してもよい。これにより、
光束の平行度を変えることができる。
【0007】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図面に基づ
いて説明する。図1は、本発明に係る分光光度計の概略
図を示す。図1の実線で示した構成は、試料を透過測定
する場合の構成である。図1中の1は白色光を発する光
源で、光源1の光軸上に設けられた分光器2を通り単色
光となる。分光器2を出た光は、光束絞り部Aを通り、
反射鏡5で全反射した後、透過測定部Bに導かれる。反
射鏡5は光軸上に対して45°の角度で設置されてお
り、分光器2からの単色光は直角方向に屈曲する。光束
絞り部Aは、凹部を有する光束絞りホルダ3を備え、こ
の凹部に脱着・交換可能なように光束絞り4をセットす
る。光束絞り4は、中央に開口を有する板である。
【0008】また、光束の平行度を変えるため、さらに
光束絞り部Aの後段に光束絞り部Eを挿入してもよい。
光束絞り部Eは、凹部を有する光束絞りホルダ16を備
え、この凹部に脱着・交換可能なように光束絞り17を
セットする。光束絞り17は、中央に開口を有する板で
ある。光束絞り部Eは、反射鏡5の焦点位置と一致さ
せ、光束絞り17の開口部が小さいほど測定位置での光
束は平行に近くなるようにする。
【0009】透過測定部Bは、図示しない透明な可動ス
テージ上に試料7が設置されており、試料7を移動させ
ながら試料各点の透過測定を行える。光束絞り部Aと透
過測定部Bとは光学的共役関係にあり、光束絞り部Aの
像は透過測定部Bに結像する。すなわち、光束絞り4の
像が透過測定部Bに結像されるので、光束絞り4の開口
部大きさを小さくすると、比例して測定光束も小さくな
る。試料7を移動させながら試料各点の透過測定を行う
ときに、試料に入射する光束を小さくしたい場合でも、
試料7の直前に光束絞りを入れる必要がないので、可動
ステージとの干渉を避けて、所望の大きさの光束を得る
ことができる。
【0010】試料7を透過した光は、反射鏡8により積
分球10に入射する。反射鏡8は試料透過光の光軸上に
対して45°の角度で設置されており、透過光は直角方
向に屈曲する。積分球10の拡散反射位置Cには反射鏡
が取付けられており、拡散反射測定時には拡散反射測定
位置Cに試料11を設置する。拡散反射測定位置Cと透
過測定部Bは光学的共役関係があり(すなわちAとも共
役)、Cの光束は光束絞り4の開口部の大きさと比例関
係がある。拡散反射測定では、試料の直前に光束絞りを
入れると、光束絞りに当たった光の反射光も検出される
ため、測定誤差を生じる。本発明では、光束絞り4を挿
入するだけで、容易に微小部分の反射測定が可能であ
る。なお、積分球10で集められた光は、検出器15で
検出される。
【0011】鏡面反射測定をする場合は、図1の点線で
示す位置に鏡面反射測定用の光学系および試料保持部を
追加する。光学系は、反射鏡5で全反射した光をさらに
直角方向に屈曲させるための光軸上に対して45°の角
度で設置された反射鏡6、反射鏡6で反射された光を鏡
面反射測定部Dに集光させる凹面鏡12からなり、試料
13で反射した光は、反射鏡14、9により反射させて
積分球10に入射させる。光束絞り部Aと鏡面反射測定
部Dとは光学的共役関係にあり、光束絞り4の開口部を
小さくすると鏡面反射測定部Dの光束は小さくなる。
【0012】以上のように、本発明ではAとB、C、D
を光学的共役関係にしているので、光束絞り4を脱着、
交換するだけで、透過測定、鏡面反射測定、拡散反射測
定のいずれの場合にも、測定光束の大きさを制御するこ
とができ、容易に目的に合致した分光分析が実行でき
る。なお、以上の説明では、光束絞り部Aの後段に光束
絞り部Eを挿入しているが、これは光束を平行光に近く
する必要がないときは不要である。
【0013】
【発明の効果】本発明は、光束絞りを脱着、交換するだ
けで、透過測定、鏡面反射測定、拡散反射測定のいずれ
の場合にも、測定光束の大きさを制御することができ
る。これにより、微小試料或いは微小部分の透過、反射
測定が容易に行え、また測定光束を大きくして、試料の
比較的大きい部分の平均化された透過・反射測定が容易
に行える。さらに光束絞り部Aの後段に光束絞りを挿入
することにより測定光束が平行光束に近い状態での測定
が容易に行える。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の分光光度計の概略図
【符号の説明】
1:光源 2:分光器 10:積分球 A:光束絞り部 B:透過測定部 C:拡散反射測定位置 D:鏡面反射測定部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G020 BA18 CB05 CB21 CC01 CD12 CD13 CD22 2G059 BB08 BB15 DD13 EE01 EE02 EE12 JJ01 JJ16 JJ30 KK01 LL10

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光源からの光束を光束絞り部で制限した
    後、透過測定部、鏡面反射測定部、拡散反射測定部のい
    ずれかに照射して試料からの光を検出する分光光度計に
    おいて、光束絞り部と透過測定部、鏡面反射測定部、拡
    散反射測定部のいずれかとを光学的共役の関係に配置し
    てなることを特徴とする分光光度計。
  2. 【請求項2】請求項1の光束絞り部と透過測定部、鏡面
    反射測定部、拡散反射測定部とを光学的共役の関係にせ
    しめる光学素子の焦点の位置に別の光束絞り部を配置し
    てなる請求項1記載の分光光度計。
JP2001235775A 2001-08-03 2001-08-03 分光光度計 Expired - Lifetime JP3829663B2 (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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